JPH0814538B2 - Icp発光分析装置 - Google Patents
Icp発光分析装置Info
- Publication number
- JPH0814538B2 JPH0814538B2 JP62318389A JP31838987A JPH0814538B2 JP H0814538 B2 JPH0814538 B2 JP H0814538B2 JP 62318389 A JP62318389 A JP 62318389A JP 31838987 A JP31838987 A JP 31838987A JP H0814538 B2 JPH0814538 B2 JP H0814538B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- icp emission
- emission spectrometer
- solution
- standard
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明はICP(高周波誘導結合プラズマ)発光分析装
置に関する。
置に関する。
(ロ)従来の技術 ICP発光分析装置においては、試料を溶液にし、霧化
器で霧化し、キャリヤガスの流れに乗せてプラズマ炎に
導入して発光させ、この光を分光して測光して試料成分
を分析している。
器で霧化し、キャリヤガスの流れに乗せてプラズマ炎に
導入して発光させ、この光を分光して測光して試料成分
を分析している。
このような従来のICP分析装置では測光量から試料成
分を定量するために内標準法が一般に用いられている。
即ち、被検試料溶液に標準試料を一定量添加し、この標
準試料を定量する被検試料と同時に発光させてスペクト
ルのピークを求め、濃度既知の標準試料のピークとの比
から試料成分の濃度を定量する。
分を定量するために内標準法が一般に用いられている。
即ち、被検試料溶液に標準試料を一定量添加し、この標
準試料を定量する被検試料と同時に発光させてスペクト
ルのピークを求め、濃度既知の標準試料のピークとの比
から試料成分の濃度を定量する。
(ハ)解決すべき問題点 上述の内標準法では例えば10ppmの濃度の標準試料を
作り、測定する試料溶液にピペットで計量して添加す
る。従って作業能率が悪い上に、ピペッティングエラー
が発生して測定精度を低下させる問題があった。
作り、測定する試料溶液にピペットで計量して添加す
る。従って作業能率が悪い上に、ピペッティングエラー
が発生して測定精度を低下させる問題があった。
(ニ)問題点を解決するための手段 本発明においては、プラズマトーチに被検試料と標準
試料を同時にかつ別々に供給する二つの試料供給管を備
えると共に、試料溶液を霧化する霧化器を前記二つの試
料供給管の各々に対応して設けることにより、上記の問
題点を解決する。
試料を同時にかつ別々に供給する二つの試料供給管を備
えると共に、試料溶液を霧化する霧化器を前記二つの試
料供給管の各々に対応して設けることにより、上記の問
題点を解決する。
(ホ)作用 標準試料溶液と被検試料溶液を別々の霧化器によって
霧化し、これら霧化した試料を同時にプラズマトーチに
供給して発光させることができる。
霧化し、これら霧化した試料を同時にプラズマトーチに
供給して発光させることができる。
(ヘ)実施例 第1図は本発明の一実施例を示すICP発光分析装置の
構成を示す。本図でプラズマトーチ1は四重管で、2a,2
bは試料供給管、3は中間管、4は外套管である。中間
管3には入口13からプラズマ炎を構成するプラズマガス
が導入され、外套管4には入口14から冷却ガスが導入さ
れる。これらのガスは全てアルゴンガスである。5はプ
ラズマ炎、6はプラズマ炎5にエネルギーを供給する高
周波コイル、7a,7bはプラズマトーチ1の下部に配置し
た気化チェンバ、8,9はネブライザ(霧化器)、10,11は
夫々標準試料溶液,被検試料溶液を入れる試料容器であ
る。ネブライザ8,9は結合部12a,12bを貫通して夫々チェ
ンバ7a,7bに取付けられている。
構成を示す。本図でプラズマトーチ1は四重管で、2a,2
bは試料供給管、3は中間管、4は外套管である。中間
管3には入口13からプラズマ炎を構成するプラズマガス
が導入され、外套管4には入口14から冷却ガスが導入さ
れる。これらのガスは全てアルゴンガスである。5はプ
ラズマ炎、6はプラズマ炎5にエネルギーを供給する高
周波コイル、7a,7bはプラズマトーチ1の下部に配置し
た気化チェンバ、8,9はネブライザ(霧化器)、10,11は
夫々標準試料溶液,被検試料溶液を入れる試料容器であ
る。ネブライザ8,9は結合部12a,12bを貫通して夫々チェ
ンバ7a,7bに取付けられている。
容器10の標準試料は例えば濃度10ppmの溶液で、配管2
0からネブライザ8に供給され、入口21から供給される
キャリヤガス(アルゴンガス)と共にチェンバ7aへ霧と
なって噴出される。他方、容器11の被検試料溶液は配管
22を介してネブライザ9に供給され、入口23から供給さ
れるキャリヤガスと共にチェンバ7bへ噴射される。これ
ら標準試料と被検試料の噴射供給量は同一であり、チェ
ンバ7a,7bで気化し、夫々試料供給管2a,2bを通ってプラ
ズマ炎5に達して発光し、図示しない分光測定装置によ
りスペクトルが求められる。
0からネブライザ8に供給され、入口21から供給される
キャリヤガス(アルゴンガス)と共にチェンバ7aへ霧と
なって噴出される。他方、容器11の被検試料溶液は配管
22を介してネブライザ9に供給され、入口23から供給さ
れるキャリヤガスと共にチェンバ7bへ噴射される。これ
ら標準試料と被検試料の噴射供給量は同一であり、チェ
ンバ7a,7bで気化し、夫々試料供給管2a,2bを通ってプラ
ズマ炎5に達して発光し、図示しない分光測定装置によ
りスペクトルが求められる。
本実施例では容器10に標準試料溶液を、容器11に被検
試料溶液を入れたが、容器10に標準試料と第1の被検試
料の混合溶液を、容器11に第2の被検試料溶液を入れ、
これらを順次霧化してプラズマトーチへ供給する方法
等、種々の利用方法が可能である。
試料溶液を入れたが、容器10に標準試料と第1の被検試
料の混合溶液を、容器11に第2の被検試料溶液を入れ、
これらを順次霧化してプラズマトーチへ供給する方法
等、種々の利用方法が可能である。
(ト)効果 本発明によると、ICP発光分析における内標準法の操
作が簡単になり、能率と共に精度が向上するという優れ
た効果を奏する。
作が簡単になり、能率と共に精度が向上するという優れ
た効果を奏する。
第1図は本発明のICP発光分析装置の一実施例を示す構
成図である。 1……プラズマトーチ、5……プラズマ炎 2a,2b……試料供給管 6……高周波コイル、8,9……霧化器 7a,7b……気化チェンバ 10,11……試料容器
成図である。 1……プラズマトーチ、5……プラズマ炎 2a,2b……試料供給管 6……高周波コイル、8,9……霧化器 7a,7b……気化チェンバ 10,11……試料容器
Claims (1)
- 【請求項1】プラズマトーチに被検試料と標準試料を同
時にかつ別々に供給する二つの試料供給管を備えると共
に、試料溶液を霧化する霧化器を前記二つの試料供給管
の各々に対応して設けたことを特徴とするICP発光分析
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62318389A JPH0814538B2 (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | Icp発光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62318389A JPH0814538B2 (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | Icp発光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01161132A JPH01161132A (ja) | 1989-06-23 |
JPH0814538B2 true JPH0814538B2 (ja) | 1996-02-14 |
Family
ID=18098606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62318389A Expired - Lifetime JPH0814538B2 (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | Icp発光分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0814538B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4926021A (en) * | 1988-09-09 | 1990-05-15 | Amax Inc. | Reactive gas sample introduction system for an inductively coupled plasma mass spectrometer |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6184550U (ja) * | 1984-11-07 | 1986-06-04 |
-
1987
- 1987-12-16 JP JP62318389A patent/JPH0814538B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01161132A (ja) | 1989-06-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4926021A (en) | Reactive gas sample introduction system for an inductively coupled plasma mass spectrometer | |
WO2014140179A1 (en) | Method and apparatus for control of a plasma for spectrometry | |
CN106932524B (zh) | 液相薄层色谱-质谱联用装置、用途及检测方法 | |
Robin | ICP-AES at the beginning of the eighties | |
JPH0814538B2 (ja) | Icp発光分析装置 | |
JPH0221242A (ja) | 原子吸収スペクトロメータ | |
JPH0789102B2 (ja) | Icp発光分析装置 | |
US9620343B1 (en) | Balanced sample introduction system | |
US20020001540A1 (en) | ICP analyzer | |
EP0510127B1 (en) | Method and apparatus for analytical sample preparation | |
JPH06222005A (ja) | Icp発光分光分析方法 | |
Camuna-Aguilar et al. | A comparative study of three microwave induced plasma sources for atomic emission spectrometry—I. Excitation of mercury and its determination after on-line continuous cold vapour generation | |
Frentiu et al. | Quenching of the OH and nitrogen molecular emission by methane addition in an Ar capacitively coupled plasma to remove spectral interference in lead determination by atomic fluorescence spectrometry | |
Rosenberg et al. | Atomic absorption spectrometry (AAS) and atomic emission spectrometry (AES) | |
JP2600220B2 (ja) | Icp発光分光分析方法 | |
JPH0619084Y2 (ja) | 誘導結合プラズマ発光分光分析装置 | |
WO2020088463A1 (zh) | 仪器分析中通用水载流输液系统、水载流仪器分析方法及水载流分析装置 | |
CN214174166U (zh) | 一种实现电感耦合等离子体光谱仪的单雾化器进样系统 | |
JPH052846Y2 (ja) | ||
JPH09199076A (ja) | 誘導結合プラズマ質量分析装置及びその方法 | |
Cheung | Discrete Sample Introduction Devices in Analytical Optical Emission Spectrometry | |
Oberdier | Spectroscopic methods of analysis: atomic absorption and emission spectrophotometry | |
Malhotra | Atomic Emission Spectroscopy | |
Williams III | Fundamental Studies and Applications in Microwave-Induced Plasma Optical Emission Spectrometry | |
SU1038815A1 (ru) | Устройство дл атомноабсорбционного спектрального анализа |