JPH08139232A - Hybrid integrated circuit device, its socket and their connection structure - Google Patents

Hybrid integrated circuit device, its socket and their connection structure

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Publication number
JPH08139232A
JPH08139232A JP6295682A JP29568294A JPH08139232A JP H08139232 A JPH08139232 A JP H08139232A JP 6295682 A JP6295682 A JP 6295682A JP 29568294 A JP29568294 A JP 29568294A JP H08139232 A JPH08139232 A JP H08139232A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
substrate
memory module
index
integrated circuit
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6295682A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masachika Masuda
正親 増田
Michiaki Sugiyama
道昭 杉山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi ULSI Engineering Corp, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi ULSI Engineering Corp
Priority to JP6295682A priority Critical patent/JPH08139232A/en
Publication of JPH08139232A publication Critical patent/JPH08139232A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE: To eliminate an alignment hole by ensuring alignment of a substrate with a socket. CONSTITUTION: At the outer circumference of a memory module substrate 15 whereupon a plurality of memory ICs 11 are mounted, only an index beveling part 20 is formed at the corner on the first pin side on the alignment edge side of a terminal 18 and no alignment hole is provided on the substrate. On one edge side of the main body 31 of a memory module connecting socket 30, a mounting part 32 whereupon contacts 33 are arranged is formed, an index protruding part 36 which meshes with the beveling part 20 is formed at one edge of the mounting part 32, and claws 37 and 38 are formed on the edge side opposite to the mounting part so as to hold the outer circumference edge of the substrate 15. Thus, alignment of the memory module with the socket is ensured by the holding of the substrate outer circumference edge by the holding claws and the meshing of the index beveling part with the protruding part, and the memory IC is electrically connected to the contact of the socket through the terminal. The memory IC mounting area is increased by the elimination of the alignment hole, and density and degree of freedom of electric wiring are improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の混成集積
回路装置、特に、混成集積回路装置とソケットとの接続
技術に関し、例えば、メモリーモジュールに利用して有
効なものに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a hybrid integrated circuit device for a semiconductor device, and more particularly to a technique for connecting the hybrid integrated circuit device and a socket, which is effective for use in a memory module, for example.

【0002】[0002]

【従来の技術】混成集積回路装置の一例であるメモリー
モジュールとして、メモリーとして構成された半導体装
置が複数台、長方形に形成された基板の第1主面および
第2主面上に実装されており、各半導体装置が基板の一
端辺に配列された複数個の端子に電気的に接続されてい
るもの、がある。
2. Description of the Related Art As a memory module which is an example of a hybrid integrated circuit device, a plurality of semiconductor devices configured as memories are mounted on a first main surface and a second main surface of a rectangular substrate. , Each semiconductor device is electrically connected to a plurality of terminals arranged on one end side of the substrate.

【0003】このメモリーモジュールがコンピュータに
搭載される際や電気的特性検査を受ける際には、メモリ
ーモジュールをコンピュータやテスタにソケットを介し
て電気的に接続させることが、一般的に実施されてい
る。このような場合に、メモリーモジュールの端子とソ
ケットのコンタクトとを確実に電気接続させるために、
メモリーモジュールの基板側に位置合わせ孔が少なくと
も一対開設され、ソケット側に位置合わせ突起が突設さ
れ、この孔と突起との嵌合によってモジュールとソケッ
トとの位置合わせが確保されている。
When this memory module is mounted on a computer or undergoes an electrical characteristic test, it is generally practiced to electrically connect the memory module to a computer or a tester via a socket. . In such a case, in order to securely electrically connect the terminals of the memory module and the contacts of the socket,
At least one pair of alignment holes are opened on the substrate side of the memory module, and alignment protrusions are projected on the socket side, and the alignment between the module and the socket is ensured by fitting the holes and the protrusions.

【0004】なお、このような混成集積回路装置を述べ
てある例としては、特開平5−101854号公報があ
る。
As an example in which such a hybrid integrated circuit device is described, there is JP-A-5-101854.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ようなメモリーモジュールにおいては、基板に位置合わ
せのための孔が開設されているため、基板における半導
体装置の実装面積がその分減少されしまい、また、基板
表面の配線や基板内部の層間配線の配線自由度が減少さ
れてしまうという問題点がある。
However, in the above-mentioned memory module, since the holes for alignment are formed in the substrate, the mounting area of the semiconductor device on the substrate is reduced accordingly, and However, there is a problem that the wiring freedom of the wiring on the surface of the substrate and the interlayer wiring inside the substrate is reduced.

【0006】本発明の目的は、基板とソケットとの位置
合わせを確保しつつ、位置合わせ孔を省略することがで
きる混成集積回路装置とソケットとの接続技術を提供す
ることにある。
It is an object of the present invention to provide a technique for connecting a hybrid integrated circuit device and a socket, which is capable of omitting the alignment hole while ensuring the alignment between the substrate and the socket.

【0007】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
The typical ones of the inventions disclosed in the present application will be outlined below.

【0009】すなわち、混成集積回路装置は、複数の半
導体装置が四辺形に形成された基板の主面の全体にわた
って実装されており、基板の外周部には方向を示すイン
デックス面取り部だけが、各半導体装置と電気的に接続
する端子が配置された端辺における一方のコーナ部に形
成されていることを特徴とする。
That is, in the hybrid integrated circuit device, a plurality of semiconductor devices are mounted over the entire main surface of a substrate on which a quadrilateral is formed, and only the index chamfer indicating the direction is provided on the outer peripheral portion of the substrate. It is characterized in that it is formed at one corner portion on the end side where the terminal electrically connected to the semiconductor device is arranged.

【0010】この混成集積回路装置が接続されるソケッ
トは、前記基板の半導体装置実装主面と略等しい大きさ
の四辺形に形成された本体を備えており、この本体の一
端辺には前記端子に電気的に接続するコンタクトが複数
配置されているとともに、各コンタクトは各端子に押接
するように構成されており、この本体のコンタクト群の
片側にはインデックス凸部が前記インデックス面取り部
に噛合する形状に形成されており、この本体のコンタク
ト群配列端辺と反対側の端辺には押さえ爪が前記基板の
外周縁を押さえるように形成されていることを特徴とす
る。
The socket to which the hybrid integrated circuit device is connected includes a quadrilateral body having a size substantially equal to the semiconductor device mounting main surface of the substrate, and the terminal is provided on one end side of the body. A plurality of contacts to be electrically connected to each other are arranged, and each contact is configured to press against each terminal, and an index convex portion meshes with the index chamfered portion on one side of the contact group of the main body. The main body is formed in a shape, and a holding claw is formed on an end side opposite to the contact group arrangement end side of the main body so as to press the outer peripheral edge of the substrate.

【0011】[0011]

【作用】前記混成集積回路装置と前記ソケットとの接続
に際して、混成集積回路装置の基板がソケットの本体に
重合された状態で、インデックス面取り部がインデック
ス凸部に噛合されるとともに、押さえ爪によって基板の
外周縁が押さえられて、ソケットの各コンタクトが基板
の各端子にそれぞれ押接されると、混成集積回路装置の
基板はソケットの本体に保持されるとともに、各端子が
各コンタクトに電気的に接続された状態になる。
When the hybrid integrated circuit device and the socket are connected, the index chamfered portion is engaged with the index convex portion while the substrate of the hybrid integrated circuit device is superposed on the body of the socket, and the substrate is held by the pressing claw. When the outer peripheral edge of the socket is pressed and the contacts of the socket are pressed against the terminals of the board, the board of the hybrid integrated circuit device is held by the body of the socket, and the terminals are electrically connected to the contacts. It will be connected.

【0012】前記した手段によれば、混成集積回路装置
とソケットとの位置決め保持は、押さえ爪の基板外周縁
の押さえ、インデックス面取り部と凸部との噛合によっ
て確保されるため、混成集積回路装置の基板への位置決
め孔の開設を省略することが可能になる。そして、混成
集積回路装置の基板への位置決め孔の開設を省略するこ
とにより、基板における半導体装置の実装面積を増加す
ることができるとともに、電気配線密度およびレイアウ
トの自由度を高めることができる。
According to the above-mentioned means, the positioning and holding of the hybrid integrated circuit device and the socket are ensured by the pressing of the outer peripheral edge of the substrate by the pressing claws and the meshing between the index chamfered portion and the convex portion. It is possible to omit the opening of the positioning hole in the substrate. By omitting the formation of the positioning hole in the substrate of the hybrid integrated circuit device, the mounting area of the semiconductor device on the substrate can be increased, and the electric wiring density and the degree of freedom of layout can be increased.

【0013】[0013]

【実施例】図1は本発明の一実施例であるメモリーモジ
ュールとソケットの接続構造体を示す分解斜視図であ
る。図2は本発明の一実施例であるメモリーモジュール
を示しており、(a)は正面図、(b)は底面図、
(c)は拡大側面図、(d)は拡大側面断面図である。
図3は本発明の一実施例であるソケットを示しており、
(a)は正面図、(b)は平面図、(c)は拡大側面図
である。図4は本発明の一実施例であるメモリーモジュ
ールとソケットの接続構造体の組立状態を示しており、
(a)は正面図、(b)は平面図、(c)は拡大側面断
面図である。
1 is an exploded perspective view showing a connection structure of a memory module and a socket according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows a memory module according to an embodiment of the present invention, (a) is a front view, (b) is a bottom view,
(C) is an enlarged side view and (d) is an enlarged side sectional view.
FIG. 3 shows a socket which is an embodiment of the present invention.
(A) is a front view, (b) is a plan view, and (c) is an enlarged side view. FIG. 4 shows an assembled state of a connection structure of a memory module and a socket which is an embodiment of the present invention.
(A) is a front view, (b) is a plan view, and (c) is an enlarged side sectional view.

【0014】本実施例において、本発明に係る混成集積
回路装置は、メモリーモジュールとして構成されてい
る。メモリーモジュール10はメモリーが構成された半
導体集積回路装置(以下、メモリーICという。)11
が複数台(本実施例では、8台とする。)、基板を介し
て機械的かつ電気的に接続されたモジュールである。
In this embodiment, the hybrid integrated circuit device according to the present invention is configured as a memory module. The memory module 10 is a semiconductor integrated circuit device (hereinafter referred to as a memory IC) 11 having a memory.
Is a module that is mechanically and electrically connected to a plurality of units (eight units in this embodiment) via a substrate.

【0015】本実施例において、メモリーモジュール1
0を構成するメモリーIC11のパッケージ12はスモ
ール・アウトライン・パッケージ(以下、SOPとい
う。)に形成されている。SOP12は絶縁性の樹脂が
用いられて長方形の平盤形状に形成された樹脂封止体1
3と、樹脂封止体13から突出されてガル・ウイング形
状に屈曲された複数本(本実施例では、12本とす
る。)のアウタリード14とを備えており、12本のア
ウタリード14は樹脂封止体13の両方の長辺の側面に
6本ずつに分配されてそれぞれ一列横隊に整列されてい
る。そして、アウタリード14は樹脂封止体13の内部
に樹脂封止されたインナリードおよびボンディングワイ
ヤを介して、メモリーが作り込まれた半導体ペレット
(いずれも図示せず。)に電気的に接続されている。
In this embodiment, the memory module 1
The package 12 of the memory IC 11 forming 0 is formed into a small outline package (hereinafter referred to as SOP). The SOP 12 is a resin sealing body 1 formed of an insulating resin in a rectangular flat plate shape.
3 and a plurality of (12 in this embodiment) outer leads 14 protruding from the resin encapsulant 13 and bent in a gull-wing shape. The twelve outer leads 14 are made of resin. Six pieces are distributed on each of the long side surfaces of the sealing body 13 and arranged in a row. The outer lead 14 is electrically connected to a semiconductor pellet (not shown) in which a memory is formed via an inner lead and a bonding wire which are resin-sealed inside the resin sealing body 13. There is.

【0016】複数台のメモリーIC11をモジュール化
するための基板15は、ガラス・エポキシ樹脂板やセラ
ミック板等の絶縁基板が用いられて長方形の平板形状に
形成された本体16を備えている。本体16の第1主面
(正面)および第2主面(背面)には、実装されるメモ
リーIC11のアウタリード14の本数に対応する本数
のランド17が規則的に配置されて形成されている。す
なわち、1台のメモリーIC11のアウタリード14の
本数に対応する個数(本実施例では12個)のランド1
7群によって一組が構成されており、複数組(本実施例
では4組)が本体16の第1主面および第2主面におい
て本体16の長手方向に一列に並ぶように配置されてい
る。各組において、ランド17群は一列のアウタリード
14の本数に対応する個数(本実施例では6個)に分配
されて、本体16の短手方向に一列に並ぶように配置さ
れている。列の両端にそれぞれ位置する一対の組のラン
ド群におけるそれぞれ外側のランド列は、本体16の両
方の短辺にきわめて近接する位置にそれぞれ配置されて
いる。
A substrate 15 for modularizing a plurality of memory ICs 11 includes a main body 16 formed in a rectangular flat plate shape using an insulating substrate such as a glass / epoxy resin plate or a ceramic plate. The first main surface (front surface) and the second main surface (back surface) of the main body 16 are formed by regularly arranging as many lands 17 as the number of outer leads 14 of the mounted memory IC 11. That is, the number of lands 1 corresponding to the number of outer leads 14 of one memory IC 11 (12 in this embodiment).
One set is composed of seven groups, and a plurality of sets (four sets in this embodiment) are arranged in a line in the longitudinal direction of the main body 16 on the first main surface and the second main surface of the main body 16. . In each set, the group of lands 17 is distributed in a number corresponding to the number of outer leads 14 in a row (6 in this embodiment), and is arranged in a row in the lateral direction of the main body 16. The outer land rows in the pair of land groups located at both ends of the row are arranged at positions extremely close to both short sides of the main body 16.

【0017】そして、各ランド17にははんだめっき等
のはんだ濡れ性を高めるための表面処理(図示せず)が
それぞれ施されている。メモリーIC11の基板15へ
の実装に際して、ランド17群にははんだペースト(図
示せず)がスクリーン印刷法等の適当な手段により塗布
される。メモリーIC11は各アウタリード14を各ラ
ンド17にそれぞれ整合されてはんだペーストによって
接着された状態でリフローはんだ付け処理されることに
より、基板15にはんだ付けされる。
Then, each land 17 is subjected to surface treatment (not shown) such as solder plating to improve solder wettability. When mounting the memory IC 11 on the substrate 15, a solder paste (not shown) is applied to the group of lands 17 by an appropriate means such as a screen printing method. The memory IC 11 is soldered to the substrate 15 by reflow soldering in a state where the outer leads 14 are aligned with the respective lands 17 and adhered by the solder paste.

【0018】このようしてはんだ付けされて実装された
状態において、基板15の第1主面および第2主面に4
台ずつ実装された8台のメモリーIC11は、アウタリ
ード14の列が本体16の短手方向と平行になった状態
で互いに近接して一列に並んでいる。しかも、基板15
の第1主面および第2主面にそれぞれ実装された4台ず
つのメモリーIC11は、基板15の第1主面および第
2主面の全面にわたって実装された状態になっている。
つまり、基板15の第1主面および第2主面にはメモリ
ーIC実装面がランド17群によって全体にわたって形
成されていることになる。
In the state of being soldered and mounted in this way, the first main surface and the second main surface of the substrate 15 are provided with 4
The eight memory ICs 11 mounted one by one are arranged close to each other in a row with the rows of the outer leads 14 parallel to the lateral direction of the main body 16. Moreover, the substrate 15
The four memory ICs 11, which are respectively mounted on the first main surface and the second main surface, are mounted on the entire surfaces of the first main surface and the second main surface of the substrate 15.
That is, the memory IC mounting surface is formed over the entire first and second main surfaces of the substrate 15 by the group of lands 17.

【0019】基板本体16の長方形における一方の長辺
(以下、下端辺とする。)には端子18が多数個、等し
いピッチをもって下端辺に沿うように一列に配列されて
おり、各端子18は本体16の第1主面、下端辺の側面
および第2主面にわたって断面がコ字形状に形成されて
いる。例えば、端子18は基板本体16に予め接着され
た銅箔にリソグラフィー処理を加えて形成する方法や、
スクリーン印刷法、メタルマスクを使用した蒸着法やめ
っき法等の適当な手段によりそれぞれ形成されている。
A large number of terminals 18 are arranged on one long side (hereinafter referred to as the lower end side) of the rectangular shape of the substrate body 16 in a line along the lower end side with an equal pitch, and each terminal 18 is arranged. The main body 16 has a U-shaped cross section over the first main surface, the side surface of the lower end side, and the second main surface. For example, the terminal 18 is formed by applying a lithographic process to a copper foil that is previously bonded to the substrate body 16, or
It is formed by an appropriate means such as a screen printing method, a vapor deposition method using a metal mask, or a plating method.

【0020】基板本体16の第1主面や第2主面および
本体内部には電気配線19(図2に内部配線のみが代表
的に示されている。)がそれぞれ形成されており、この
電気配線19は各端子18と各ランド17とを適宜電気
的に接続するように配線されている。この電気配線19
は基板本体16に予め接着された銅箔にリソグラフィー
処理を加えて形成する方法や、スクリーン印刷法、メタ
ルマスクを使用した蒸着法やめっき法等の適当な手段に
よりそれぞれ形成されている。
Electric wirings 19 (only internal wirings are representatively shown in FIG. 2) are formed on the first main surface, the second main surface of the substrate body 16 and inside the main body, respectively. The wiring 19 is wired so as to electrically connect each terminal 18 and each land 17 appropriately. This electrical wiring 19
Is formed by a suitable method such as a method of forming a copper foil previously bonded to the substrate body 16 by performing a lithographic process, a screen printing method, a vapor deposition method using a metal mask, a plating method, or the like.

【0021】基板本体16の端子18群が配置された下
端辺における一方のコーナ部には、メモリーモジュール
10の方向を示すインデックス面取り部20が所謂C面
取り(直角二等辺三角形)形状に形成されている。この
インデックス面取り部20が配置された基板本体16の
コーナ部は、端子18群のうちでメモリーモジュール1
0の所謂第1ピンが位置する側のコーナ部である。ま
た、インデックス面取り部20の大きさは、最直近の端
子18(通例、第1ピン)に干渉しない範囲内で最大の
大きさであって、基板本体16における残りの3箇所の
コーナ部、すなわち、基板本体16に成形上の理由や応
力集中防止のために一般的に形成される面取り部との識
別が可能な最小の大きさに設定されている。
An index chamfered portion 20 indicating the direction of the memory module 10 is formed in a so-called C chamfer (right-angled isosceles triangle) shape at one corner portion on the lower end side where the terminals 18 of the substrate body 16 are arranged. There is. The corner portion of the substrate body 16 on which the index chamfered portion 20 is arranged is the memory module 1 among the terminals 18 group.
The corner portion on the side where the so-called first pin of 0 is located. Further, the size of the index chamfered portion 20 is the maximum size within a range that does not interfere with the nearest terminal 18 (usually the first pin), and the remaining three corner portions of the substrate body 16, that is, The size of the substrate body 16 is set to the minimum size that can be distinguished from the chamfered portion that is generally formed for the reason of molding and the prevention of stress concentration.

【0022】以上のように構成されたメモリーモジュー
ル10が接続されるソケット30は、エポキシ樹脂等の
絶縁材料が用いられて一体成形された本体31を備えて
いる。ソケット本体31はメモリーモジュール10の基
板本体16よりも若干大きめの長方形の平板形状に形成
されている。ソケット本体31の長方形における一方の
長辺(以下、下端辺とする。)には、チャンネル形状
(側溝形状)のコンタクト取付部32が第1主面側(以
下、前側とする。)に突設されている。コンタクト取付
部32の溝長さはソケット本体31の全長と等しく設定
されており、その溝幅はモジュール基板15の厚さより
もコンタクトが取り付けられる分だけ大きくされてい
る。また、コンタクト取付部32のソケット本体31と
反対側の側壁の高さは、メモリーモジュール10の端子
18の高さと略等しく、正面側に実装されたメモリーI
C11の樹脂封止体13の下端面に干渉しない高さに設
定されている。
The socket 30 to which the memory module 10 configured as described above is connected has a main body 31 integrally formed with an insulating material such as epoxy resin. The socket body 31 is formed in a rectangular flat plate shape slightly larger than the substrate body 16 of the memory module 10. On one long side (hereinafter, referred to as a lower end side) of the rectangle of the socket body 31, a channel-shaped (side groove-shaped) contact attachment portion 32 is provided so as to project on the first main surface side (hereinafter, referred to as a front side). Has been done. The groove length of the contact mounting portion 32 is set to be equal to the entire length of the socket body 31, and the groove width thereof is larger than the thickness of the module substrate 15 by the amount to which the contact is mounted. The height of the side wall of the contact mounting portion 32 opposite to the socket main body 31 is substantially equal to the height of the terminal 18 of the memory module 10, and the memory I mounted on the front side.
The height is set so as not to interfere with the lower end surface of the resin sealing body 13 of C11.

【0023】コンタクト取付部32の溝内には端子18
に電気的に接続するコンタクト33が端子18群と同数
本、溝長さ方向(以下、左右方向とする。)に等しいピ
ッチをもって一列に配列されて固定されている。コンタ
クト33は燐青銅等のばね性を有する導電性材料が用い
られて一体的に屈曲成形されており、端子18と接触す
る端子接触部34と、コンピュータやテスタ等の外部端
子と接触するピン部35とを備えている。端子接触部3
4は側面から見て略竪琴の枠形状に形成されており、端
子18を上端開口から押し入れられた状態で正面、背面
および底面の三方から端子18を弾性力によって挟み込
んだ状態になって、端子18との接触を維持するように
なっている。ピン部35は端子接触部34から垂直方向
下向きに突設されており、コンタクト取付部32の底壁
を貫通して下方に突出された状態で、コンタクト取付部
32に固定されている。
The terminal 18 is placed in the groove of the contact mounting portion 32.
The same number of contacts 33 electrically connected to the terminal 18 are arranged and fixed in a line with a pitch equal to the groove length direction (hereinafter, left and right direction). The contact 33 is integrally bent and formed using a conductive material having a spring property such as phosphor bronze, and has a terminal contact portion 34 that comes into contact with the terminal 18 and a pin portion that comes into contact with an external terminal such as a computer or a tester. And 35. Terminal contact part 3
4 is formed in a substantially lyre frame shape when viewed from the side, and when the terminal 18 is pushed in from the upper end opening, the terminal 18 is sandwiched by elastic forces from the three sides of the front, back and bottom, It is designed to maintain contact with 18. The pin portion 35 is provided so as to protrude vertically downward from the terminal contact portion 34, and is fixed to the contact mounting portion 32 in a state of penetrating the bottom wall of the contact mounting portion 32 and protruding downward.

【0024】コンタクト取付部32の溝底における左端
部には直角二等辺三角形の角柱形状に形成されたインデ
ックス凸部36が、斜面を内側に向けて水平に配されて
突設されている。このインデックス凸部36が配置され
たコンタクト取付部32の左端部は、コンタクト33群
のうちでソケット30の所謂第1ピンが位置する側の端
部である。また、インデックス凸部36の大きさは、最
直近のコンタクト33に干渉しない範囲内で最大の大き
さであって、メモリーモジュール10に形成されたイン
デックス面取り部20に対応するように設定されてい
る。
At the left end of the bottom of the groove of the contact mounting portion 32, an index convex portion 36 formed in the shape of a right-angled isosceles triangular prism is horizontally provided with its slope facing inward. The left end portion of the contact mounting portion 32 on which the index convex portion 36 is arranged is the end portion of the socket 30 on the side where the so-called first pin is located. Further, the size of the index convex portion 36 is set to a maximum size within a range where it does not interfere with the closest contact 33 and corresponds to the index chamfered portion 20 formed in the memory module 10. .

【0025】また、ソケット本体31のコンタクト取付
部32と反対側である上端辺には、縦用押さえ爪37お
よび横用押さえ爪38が一対ずつ左右両端部に配されて
前方に突設されている。縦用押さえ爪37および横用押
さえ爪38はいずれも断面が長方形の角柱形状に形成さ
れて、ソケット本体31の第1主面(正面)と直角をな
すように立脚されている。縦用押さえ爪37の内側面す
なわち下面は、第1主面から離れるに(前方に行く)し
たがってコンタクト取付部32に近づく(下がる)傾斜
面に形成されており、ソケット30にメモリーモジュー
ル10が装着された状態においてモジュール基板本体1
6の上端辺前側縁を上方かつ前方から係合することによ
り押さえるようになっている。横用押さえ爪38の内側
側面は、第1主面から離れるに(前方に行く)したがっ
て反対側の横用押さえ爪に近づく傾斜面に形成されてお
り、ソケット30にメモリーモジュール10が装着され
た状態においてモジュール基板本体16の横端辺前側縁
を側方かつ前方から係合することにより押さえるように
なっている。
Further, a pair of vertical pressing claws 37 and horizontal pressing claws 38 are arranged at both left and right ends on the upper end side opposite to the contact mounting portion 32 of the socket body 31, and project forward. There is. Each of the vertical pressing claw 37 and the horizontal pressing claw 38 is formed in a prismatic shape having a rectangular cross section, and is erected so as to form a right angle with the first main surface (front surface) of the socket body 31. The inner side surface of the vertical pressing claw 37, that is, the lower surface, is formed as an inclined surface that approaches (falls down) the contact mounting portion 32 as it moves away from the first main surface (goes forward), and the memory module 10 is mounted in the socket 30. Module substrate body 1 in the assembled state
The front side edge of the upper end side of 6 is pressed by being engaged from above and from the front. The inner side surface of the horizontal pressing claw 38 is formed as an inclined surface which approaches the front side lateral pressing claw away from the first main surface (goes forward), and the memory module 10 is mounted in the socket 30. In this state, the front side edge of the lateral end side of the module board body 16 is pressed laterally and from the front side.

【0026】次に、前記構成に係るメモリーモジュール
10のソケット30への装着作業をを説明する。この説
明により、本発明の一実施例であるメモリーモジュール
とソケットの接続構造体の構成が明らかにされる。
Next, a mounting operation of the memory module 10 having the above-described structure in the socket 30 will be described. This description clarifies the structure of the connection structure of the memory module and the socket, which is an embodiment of the present invention.

【0027】メモリーモジュール10とソケット30と
の接続に際して、メモリーモジュール10の端子18群
が配列された下端辺はソケット30のコンタクト取付部
32の溝内に、インデックス面取り部20がインデック
ス凸部36に係合するように配されて挿入される。この
挿入に際して、メモリーモジュール基板15は上端辺に
おけるソケット30の一対2組の縦用押さえ爪37およ
び横用押さえ爪38との干渉を避けるために上側が若干
前傾され、挿入後に、上側が後方に押されてメモリーモ
ジュール基板本体16の上端の左右コーナ部が左右の縦
用押さえ爪37および横用押さえ爪38の内側に押し込
まれる。
When the memory module 10 and the socket 30 are connected, the lower end side of the memory module 10 in which the terminals 18 are arranged is in the groove of the contact mounting portion 32 of the socket 30, and the index chamfered portion 20 is the index convex portion 36. It is arranged and inserted so as to be engaged. At the time of this insertion, the memory module board 15 is slightly tilted upward to avoid interference with the pair of vertical pressing claws 37 and horizontal pressing claws 38 of the socket 30 at the upper end side, and the upper side is rearward after the insertion. Then, the left and right corners of the upper end of the memory module substrate body 16 are pushed into the left and right vertical pressing claws 37 and the horizontal pressing claws 38.

【0028】モジュール基板15がソケット本体31に
重ね合わされた状態になると、モジュール基板15のイ
ンデックス面取り部20がソケット本体31のインデッ
クス凸部36に噛合されるとともに、一対2組の縦用押
さえ爪37および横用押さえ爪38によってモジュール
基板本体16の外周縁が押さえられ、さらに、ソケット
30の各コンタクト33がモジュール基板15の各端子
18に押接された状態になる。この状態において、縦用
押さえ爪37および横用押さえ爪38の弾性変形による
弾発力や、コンタクト33の弾発力によってモジュール
基板本体16の外周縁が縦用押さえ爪37および横用押
さえ爪38の傾斜面に押接されるため、モジュール基板
15はソケット30に弾性力をもって保持された状態に
なる。
When the module board 15 is placed on the socket body 31, the index chamfered portions 20 of the module board 15 are engaged with the index protrusions 36 of the socket body 31, and a pair of vertical pressing claws 37 are provided. The lateral pressing claws 38 press the outer peripheral edge of the module board body 16, and the contacts 33 of the socket 30 are pressed against the terminals 18 of the module board 15. In this state, due to the elastic force of the elastic deformation of the vertical pressing claw 37 and the horizontal pressing claw 38 and the elastic force of the contact 33, the outer peripheral edge of the module substrate body 16 causes the vertical pressing claw 37 and the horizontal pressing claw 38 to move. Since it is pressed against the inclined surface of the module substrate 15, the module substrate 15 is held in the socket 30 with an elastic force.

【0029】このようにしてモジュール基板15がソケ
ット30に保持された状態において、インデックス面取
り部20とインデックス凸部36とが噛合されているた
め、各端子18は予め指定されたコンタクト33におけ
る端子接触部34にそれぞれ挟み込まれて電気的に接続
された状態になっている。したがって、メモリーモジュ
ール10に実装されたメモリーIC11はアウタリード
14、ランド17、電気配線19、端子18およびコン
タクト33を通じて外部に電気的に取り出すことがで
き、メモリーモジュールとソケットの接続構造体40が
得られる。
Since the index chamfered portion 20 and the index convex portion 36 are meshed with each other in the state where the module substrate 15 is held in the socket 30 in this way, each terminal 18 is brought into contact with the contact 33 which is designated in advance. The parts are respectively sandwiched by the parts 34 and are in an electrically connected state. Therefore, the memory IC 11 mounted on the memory module 10 can be electrically taken out to the outside through the outer lead 14, the land 17, the electric wiring 19, the terminal 18 and the contact 33, and the connection structure 40 of the memory module and the socket can be obtained. .

【0030】ちなみに、このメモリーモジュール10に
対して電気的特性検査が実施される場合に際しては、ソ
ケット30の各コンタクト33のピン部35が電気的特
性検査装置(テスタ)のテスティングボード(図示せ
ず)に接続されることになる。また、このメモリーモジ
ュール10がコンピュータに外部記憶装置等として搭載
される場合に際しては、ソケット30の各コンタクト3
3のピン部35がコンピュータのプリント配線基板や拡
張メモリーボード等(図示せず)に接続されることにな
る。
Incidentally, when the electrical characteristic inspection is performed on the memory module 10, the pin portion 35 of each contact 33 of the socket 30 has a testing board (not shown) of an electrical characteristic inspection device (tester). No)) will be connected. Further, when the memory module 10 is installed in a computer as an external storage device, each contact 3 of the socket 30 is used.
The pin portion 35 of No. 3 is connected to a printed wiring board of a computer, an expansion memory board or the like (not shown).

【0031】そして、電気的特性検査が実施される使用
に際しては、検査対象物であるメモリーモジュール10
はテスタに対して検査対象物毎に順次交換されることに
なる。その検査対象物としてのメモリーモジュール10
の交換に際しては、ソケット30がテスティングボード
に接続された状態のままで、ソケット30からメモリー
モジュール10が取り外されることになる。この場合、
モジュール基板15をコンタクト33の弾発力に抗して
若干押し下げながら、上側を手前に引いて左右の縦用押
さえ爪37および横用押さえ爪38との係合を解除する
ことにより、メモリーモジュール10はソケット30か
ら簡単に取り外すことができる。
In use in which the electrical characteristic inspection is performed, the memory module 10 which is the inspection object is used.
Are to be sequentially replaced with respect to the tester for each inspection object. Memory module 10 as the inspection object
At the time of replacement, the memory module 10 is removed from the socket 30 while the socket 30 is still connected to the testing board. in this case,
While slightly pushing down the module substrate 15 against the elastic force of the contacts 33, the upper side is pulled toward you to release the engagement with the left and right vertical pressing claws 37 and the horizontal pressing claws 38, so that the memory module 10 Can be easily removed from the socket 30.

【0032】また、メモリーモジュール10がコンピュ
ータの外部記憶装置等として搭載される場合に際して
は、メモリーモジュール10の交換が頻繁に実施される
ことはない。しかし、交換される場合に際しては、電気
的特性検査が実施される場合と同様の作業によって、メ
モリーモジュール10はソケット30から取り外すこと
ができる。なお、メモリーモジュール10とソケット3
0とが一緒に、コンピュータのプリント配線基板や拡張
メモリーボードから取り外される場合もある。
Further, when the memory module 10 is mounted as an external storage device of a computer, the memory module 10 is not frequently replaced. However, in the case of replacement, the memory module 10 can be removed from the socket 30 by the same operation as in the case where the electrical characteristic inspection is performed. In addition, the memory module 10 and the socket 3
0 and 0 may be removed together from the printed wiring board or the expansion memory board of the computer.

【0033】前記実施例によれば次の効果が得られる。 (1) メモリーモジュールの基板外周部に方向を示す
インデックス面取り部だけを所定のコーナ部に形成する
ことにより、メモリーモジュール基板への位置決め孔の
開設を省略することができるため、メモリーモジュール
基板におけるメモリーICの実装面積を少なくとも位置
決め孔の面積分増加することができるとともに、位置決
め孔を避ける必要がなくなることにより、電気配線密度
や電気配線のレイアウトの自由度を高めることができ
る。
According to the above embodiment, the following effects can be obtained. (1) By forming only the index chamfered portion that indicates the direction on the outer peripheral portion of the memory module substrate in a predetermined corner portion, it is possible to omit the opening of the positioning hole in the memory module substrate. The mounting area of the IC can be increased by at least the area of the positioning holes, and the positioning holes need not be avoided, so that the degree of freedom of the electrical wiring density and the layout of the electrical wiring can be increased.

【0034】(2) メモリーモジュールが接続される
ソケットにメモリーモジュール基板と略等しい大きさの
本体を設け、この本体の一端辺にはメモリーモジュール
のインデックス面取り部に噛合するインデックス凸部を
形成するとともに、この本体の反対側の端辺にはメモリ
ーモジュール基板の外周縁を押さえる押さえ爪を形成す
ることにより、メモリーモジュールとソケットとの位置
決め保持は押さえ爪の基板外周縁の押さえ、インデック
ス面取り部と凸部との噛合によって確保することができ
るため、メモリーモジュールに実装された各メモリーI
Cをメモリーモジュール基板の端子群を通じてソケット
のコンタクト群に適正に電気接続させることができる。
(2) The socket to which the memory module is connected is provided with a main body having a size substantially equal to that of the memory module board, and an index convex portion that meshes with the index chamfered portion of the memory module is formed on one end side of the main body. By forming a pressing claw that presses the outer peripheral edge of the memory module board on the opposite side of the main body, the memory module and the socket are positioned and held by pressing the outer peripheral edge of the pressing claw, and the index chamfer and the convex portion. Each memory I mounted on the memory module can be secured by meshing with the memory module.
C can be properly electrically connected to the socket contact group through the terminal group of the memory module substrate.

【0035】(3) また、メモリーモジュールとソケ
ットとの位置決め保持は、押さえ爪の基板外周縁の押さ
えの解除によって簡単に解除することができるため、メ
モリーモジュールをソケットから容易に取り外すことが
できる。
(3) Further, the positioning and holding of the memory module and the socket can be easily released by releasing the pressing of the outer peripheral edge of the substrate by the pressing claw, so that the memory module can be easily removed from the socket.

【0036】(4) 前記(2)および(3)により、
メモリーモジュールを電気的特性検査装置やコンピュー
タ等にソケットを通じて電気的に接続することができる
とともに、電気的特性検査装置やコンピュータ等からの
メモリーモジュールの取り外しも可能であるため、メモ
リーモジュールの交換を確保することができる。
(4) By the above (2) and (3),
The memory module can be electrically connected to the electrical characteristic inspection device, computer, etc. through the socket, and the memory module can be removed from the electrical characteristic inspection device, computer, etc., ensuring the replacement of the memory module. can do.

【0037】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the embodiments and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.

【0038】例えば、インデックス面取り部は、C面取
りによって構成するに限らず、R面取りによって構成し
てもよい。
For example, the index chamfer is not limited to the C chamfer, but may be the R chamfer.

【0039】モジュール基板に実装される半導体装置
は、メモリーICに限らず、ロジック(ロジカル・デバ
イス)IC等その他のICやトランジスタアレー等の能
動素子(装置)、コンデンサやインダクタ等の受動素子
であってもよい。
The semiconductor device mounted on the module substrate is not limited to a memory IC, but may be another IC such as a logic (logical device) IC, an active element (device) such as a transistor array, or a passive element such as a capacitor or an inductor. May be.

【0040】半導体装置は基板の第1主面および第2主
面の両面に実装するに限らず、一方の主面だけに実装し
てもよい。また、基板に実装される半導体装置の数や、
パッケージの形態、大きさ、アウタリードの本数等は、
求められる条件に対応して適宜選定することができる。
The semiconductor device is not limited to being mounted on both the first main surface and the second main surface of the substrate, but may be mounted on only one main surface. In addition, the number of semiconductor devices mounted on the board,
The form, size, number of outer leads, etc. of the package are
It can be appropriately selected according to the required conditions.

【0041】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるメモリ
ーモジュールとソケットの接続技術に適用した場合につ
いて説明したが、それに限定されるものではなく、同一
の基板に同一種類の半導体装置または異なる種類の半導
体装置が複数実装されたモジュール等の混成集積回路装
置全般およびそのソケット並びにその接続技術全般に適
用することができる。
In the above description, the case where the invention made by the present inventor is mainly applied to the connection technology of the memory module and the socket which is the background field of application has been described, but the invention is not limited thereto and the same. The present invention can be applied to general hybrid integrated circuit devices such as modules in which a plurality of semiconductor devices of the same type or a plurality of semiconductor devices of different types are mounted on the substrate, sockets thereof, and connection techniques thereof.

【0042】[0042]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0043】複数の半導体装置が主面の全体にわたって
実装された四辺形の基板の外周部には方向を示すインデ
ックス面取り部だけを形成することにより、基板への位
置決め孔の開設を省略することができるため、基板にお
ける半導体装置の実装面積を増加することができるとと
もに、電気配線密度や電気配線のレイアウトの自由度を
高めることができる。
By forming only the index chamfer indicating the direction on the outer peripheral portion of the quadrilateral board on which a plurality of semiconductor devices are mounted over the entire main surface, it is possible to omit the formation of the positioning hole in the board. Therefore, the mounting area of the semiconductor device on the substrate can be increased and the degree of freedom of the electric wiring density and the layout of the electric wiring can be increased.

【0044】ソケットに基板と略等しい大きさの本体を
設け、この本体の一端辺には基板のインデックス面取り
部に噛合するインデックス凸部を形成するとともに、こ
の本体の反対側の端辺には基板の外周縁を押さえる押さ
え爪を形成することにより、基板とソケットとの位置決
め保持は押さえ爪の基板外周縁の押さえ、インデックス
面取り部と凸部との噛合によって確保することができる
ため、基板に実装された各半導体装置を基板の端子群を
通じてソケットのコンタクト群に適正に電気接続させる
ことができる。
The socket is provided with a main body having a size substantially equal to that of the substrate. An index convex portion that engages with an index chamfered portion of the substrate is formed on one end side of the main body, and a substrate is provided on the opposite end side of the main body. By forming the pressing claw that presses the outer peripheral edge of the board, the positioning and holding of the board and the socket can be secured by pressing the outer peripheral edge of the board by the pressing claw and engaging the index chamfered part and the convex part. Each of the semiconductor devices thus formed can be properly electrically connected to the contact group of the socket through the terminal group of the substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例であるメモリーモジュールと
ソケットの接続構造体を示す分解斜視図である。
FIG. 1 is an exploded perspective view showing a connection structure of a memory module and a socket which is an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例であるメモリーモジュールを
示しており、(a)は正面図、(b)は底面図、(c)
は拡大側面図、(d)は拡大側面断面図である。
FIG. 2 shows a memory module according to an embodiment of the present invention, (a) is a front view, (b) is a bottom view, and (c).
Is an enlarged side view and (d) is an enlarged side sectional view.

【図3】本発明の一実施例であるソケットを示してお
り、(a)は正面図、(b)は平面図、(c)は拡大側
面図である。
FIG. 3 shows a socket which is an embodiment of the present invention, (a) is a front view, (b) is a plan view, and (c) is an enlarged side view.

【図4】本発明の一実施例であるメモリーモジュールと
ソケットの接続構造体の組立状態を示しており、(a)
は正面図、(b)は平面図、(c)は拡大側面断面図で
ある。
FIG. 4 shows an assembled state of a connection structure of a memory module and a socket, which is an embodiment of the present invention, (a)
Is a front view, (b) is a plan view, and (c) is an enlarged side sectional view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…メモリーモジュール(混成集積回路装置)、11
…メモリーIC(半導体装置)、12…SOP、13…
樹脂封止体、14…アウタリード、15…基板、16…
基板本体、17…ランド、18…端子、19…電気配
線、20…インデックス面取り部、30…ソケット、3
1…ソケット本体、32…コンタクト取付部、33…コ
ンタクト、34…端子接触部、35…ピン部、36…イ
ンデックス凸部、37…縦用押さえ爪、38…横用押さ
え爪、40…メモリーモジュールとソケットの接続構造
体。
10 ... Memory module (hybrid integrated circuit device), 11
... Memory IC (semiconductor device), 12 ... SOP, 13 ...
Resin sealing body, 14 ... Outer leads, 15 ... Substrate, 16 ...
Substrate body, 17 ... Land, 18 ... Terminal, 19 ... Electrical wiring, 20 ... Index chamfer, 30 ... Socket, 3
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Socket main body, 32 ... Contact mounting part, 33 ... Contact, 34 ... Terminal contact part, 35 ... Pin part, 36 ... Index convex part, 37 ... Vertical pressing claw, 38 ... Horizontal pressing claw, 40 ... Memory module And socket connection structure.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉山 道昭 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 日 立超エル・エス・アイ・エンジニアリング 株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Michiaki Sugiyama 5-20-1 Kamimizuhonmachi, Kodaira-shi, Tokyo Hitate Cho-LS Engineering Co., Ltd.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 四辺形に形成された基板の主面上に複数
の半導体装置が実装されており、各半導体装置が基板の
一端辺に配列された複数個の端子に電気的に接続されて
いる混成集積回路装置において、 前記半導体装置群が前記基板主面の全体にわたって実装
されており、 前記基板の外周部には方向を示すインデックス面取り部
だけが、端子群配列端辺における一方のコーナ部に形成
されていることを特徴とする混成集積回路装置。
1. A plurality of semiconductor devices are mounted on a main surface of a quadrilateral substrate, and each semiconductor device is electrically connected to a plurality of terminals arranged on one side of the substrate. In the hybrid integrated circuit device, the semiconductor device group is mounted over the entire main surface of the substrate, and only the index chamfer indicating the direction is provided on the outer peripheral portion of the substrate at one corner of the terminal group arrangement end side. And a hybrid integrated circuit device.
【請求項2】 請求項1に記載の混成集積回路装置が接
続されるソケットであって、 前記基板の半導体装置実装主面と略等しい大きさの四辺
形に形成された本体を備えており、 この本体の一端辺には前記端子に電気的に接続するコン
タクトが複数配置されているとともに、各コンタクトは
各端子に押接するように構成されており、 この本体のコンタクト群の片側にはインデックス凸部が
前記インデックス面取り部に噛合する形状に形成されて
おり、 また、この本体のコンタクト群配列端辺と反対側の端辺
には押さえ爪が前記基板の外周縁を押さえるように形成
されていることを特徴とするソケット。
2. A socket to which the hybrid integrated circuit device according to claim 1 is connected, comprising a quadrilateral body having a size substantially equal to a main surface of a semiconductor device mounting surface of the substrate, A plurality of contacts electrically connected to the terminals are arranged on one end side of the main body, and each contact is configured to press against each terminal. One side of the contact group of the main body has an index protrusion. The portion is formed in a shape that meshes with the index chamfered portion, and a pressing claw is formed on an edge of the main body opposite to the contact group arrangement edge so as to press the outer peripheral edge of the substrate. A socket characterized by that.
【請求項3】 請求項1に記載の混成集積回路装置と請
求項2に記載のソケットとの接続構造体であって、 前記混成集積回路装置の基板が前記ソケットの本体に重
合された状態で、前記インデックス面取り部が前記イン
デックス凸部に噛合されているとともに、前記押さえ爪
が前記基板の外周縁を押さえており、 前記ソケットの各コンタクトが前記基板の各端子にそれ
ぞれ押接されて電気的に接続されていることを特徴とす
る混成集積回路装置とソケットの接続構造体。
3. A connection structure of the hybrid integrated circuit device according to claim 1 and the socket according to claim 2, wherein a substrate of the hybrid integrated circuit device is superposed on a body of the socket. , The index chamfer is meshed with the index protrusion, the pressing claw presses the outer peripheral edge of the board, and each contact of the socket is pressed against each terminal of the board to electrically A connection structure for a hybrid integrated circuit device and a socket, wherein the connection structure is connected to a socket.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0840198A3 (en) * 1996-10-31 1999-04-21 Compaq Computer Corporation Method and apparatus for increasing computer memory capacity

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