JPH08123027A - Photo-soldering resist - Google Patents

Photo-soldering resist

Info

Publication number
JPH08123027A
JPH08123027A JP27848994A JP27848994A JPH08123027A JP H08123027 A JPH08123027 A JP H08123027A JP 27848994 A JP27848994 A JP 27848994A JP 27848994 A JP27848994 A JP 27848994A JP H08123027 A JPH08123027 A JP H08123027A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
meth
photo
acid
solder resist
epoxy resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27848994A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eiichi Okazaki
栄一 岡崎
Hiroyuki Ota
博之 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toagosei Co Ltd
Original Assignee
Toagosei Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toagosei Co Ltd filed Critical Toagosei Co Ltd
Priority to JP27848994A priority Critical patent/JPH08123027A/en
Publication of JPH08123027A publication Critical patent/JPH08123027A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Epoxy Resins (AREA)
  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

PURPOSE: To obtain a photo-soldering resist giving an uncured coating film readily soluble in an aq. alkali soln. and highly sensitive to active energy beams and giving a cured coating film excellent in hardness, adhesion and heat, solvent and chemical resistances. CONSTITUTION: This photo-soldering resist is made of a polymerizable compsn. having 40-100mgKOH/g acid value obtd. by allowing a dipentaerythritol deriv. having 4.0-5.6 (meth)acryloyl qroups and 0.4-2.0 hydroxyl groups on average in one molecule to react with phthalic anhydride or maleic anhydride.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、写真製版法によってソ
ルダーレジスト膜を形成させることができるフォトソル
ダーレジスト材(以下単にフォトソルダーレジストとい
う)に関するものであり、さらに詳しくは、プリント配
線板等の基材表面に気泡を生じることなく塗布でき、活
性エネルギー線で硬化させた皮膜が耐熱性、電気絶縁性
および耐溶剤性に優れる、という特性を有する硬化性組
成物からなるフォトソルダーレジストに関するものであ
る。本発明のフォトソルダーレジストは、プリント配線
板製造および金属精密加工などに使用することができ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photo solder resist material (hereinafter simply referred to as a photo solder resist) capable of forming a solder resist film by a photoengraving method. More specifically, it relates to a printed wiring board and the like. The present invention relates to a photo solder resist comprising a curable composition having a property that it can be applied on the surface of a base material without generating bubbles, and a film cured with an active energy ray has excellent heat resistance, electric insulation and solvent resistance. is there. The photo solder resist of the present invention can be used for printed wiring board production, metal precision processing, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】ソルダーレジストは、プリント基板等に
塗布され耐熱で絶縁性の皮膜を形成し、プリント基板に
部品をハンダ付けする際にブリッジ防止及び回路の絶縁
性の安定化という機能を担うものである。従来ソルダー
レジストは、スクリーン印刷によりパターン皮膜を形成
させるという方法で用いられてきたが、プリント配線板
が高密度化されるにつれて、スクリーン印刷によるパタ
ーン形成では回路の露出(エッジ切れ)や不要な部分へ
のカブリ(ニジミ)が問題となってきた。
2. Description of the Related Art A solder resist is applied to a printed circuit board or the like to form a heat-resistant and insulative film, and has a function of preventing bridges and stabilizing circuit insulation when soldering components to the printed circuit board. Is. Conventionally, solder resist has been used by the method of forming a pattern film by screen printing, but as the density of printed wiring boards becomes higher, circuit pattern exposure by patterning by screen printing (edge cuts) and unnecessary parts are unnecessary. Fogging on the face has become a problem.

【0003】上記問題の解決のために、パターン皮膜を
写真製版法によって形成するフォトソルダーレジスト、
あるいはドライフィルム型ソルダーレジストが開発され
た。そのうちフォトソルダーレジストの使用方法は、液
状のレジスト材をロールコーター等で基材表面の全体に
塗布した後、写真製版法によって硬化皮膜のパターンを
形成させるという方法であり、レジスト材のコーティン
グが簡便でかつ回路間への埋め込み性も良好である。か
かる理由により、フォトソルダーレジストは近年需要が
増加している。フォトソルダーレジストにおいては、未
硬化の部分すなわち非露光部分を現像液で洗い流すこと
が行われ、その現像液として有機溶剤またはアルカリ水
溶液が用いられているが、後者を用いる方が安全でしか
も省資源であるために主流となっている。
In order to solve the above problem, a photo solder resist for forming a pattern film by a photoengraving method,
Alternatively, a dry film type solder resist has been developed. Among them, the method of using the photo solder resist is to apply a liquid resist material to the entire surface of the base material with a roll coater or the like, and then form a pattern of the cured film by photoengraving method. In addition, the embeddability between circuits is also good. For these reasons, the demand for photo solder resist has increased in recent years. In the photo solder resist, an uncured portion, that is, an unexposed portion is washed away with a developing solution, and an organic solvent or an alkaline aqueous solution is used as the developing solution, but the latter is safer and saves resources. Therefore, it is the mainstream.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、アルカリ水
溶液によって現像されるフォトソルダーレジストであっ
て、しかも得られる硬化膜が密着性、電気絶縁性、ハン
ダ耐熱性、耐溶剤性、耐アルカリ性、耐酸性および耐メ
ッキ性に優れるソルダーレジストの提供を課題とした。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention is a photo solder resist developed by an alkaline aqueous solution, wherein the resulting cured film has adhesion, electrical insulation, solder heat resistance, solvent resistance, alkali resistance, The object was to provide a solder resist having excellent acid resistance and plating resistance.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記課題
を解決するため鋭意検討した結果、本発明を完成するに
至った。すなわち、本発明は、1分子中に平均で4.0〜
5.6個の(メタ)アクリロイル基と0.4〜2.0個の水酸
基を有するジペンタエリスリトール誘導体と、無水フタ
ル酸または無水マレイン酸を反応させて得られる、酸価
が40〜100mgKOH/gの重合性組成物からなるフ
ォトソルダーレジストであり、さらには上記重合性組成
物、エポキシ樹脂、エポキシ樹脂の硬化剤、光重合開始
剤および希釈剤を必須成分とするフォトソルダーレジス
トである。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have completed the present invention as a result of extensive studies to solve the above problems. That is, the present invention has an average of 4.0 to 1 molecule.
5.6 (meth) acryloyl groups and a dipentaerythritol derivative having 0.4 to 2.0 hydroxyl groups are obtained by reacting phthalic anhydride or maleic anhydride with an acid value of 40 to 100 mgKOH / g is a photosolder resist composed of the polymerizable composition, and further is a photosolder resist containing the above polymerizable composition, an epoxy resin, a curing agent for the epoxy resin, a photopolymerization initiator and a diluent as essential components.

【0006】以下、本発明についてさらに詳しく説明す
る。本発明におけるジペンタエリスリトール誘導体は、
ジペンタエリスリトール中に含まれる6個の水酸基のう
ち平均で4.0〜5.6個の水酸基が(メタ)アクリロイル
基に転換された化合物であり、ジペンタエリスリトール
と(メタ)アクリル酸とのエステル化反応によって合成
される。上記反応に際しては、ジペンタエリスリトール
1モル当たり(メタ)アクリル酸6〜8モルの割合で反
応器に仕込むことが好ましく、また反応は通常有機溶剤
中で行われる。有機溶剤としては、ベンゼン、トルエ
ン、キシレン、酢酸エチル、酢酸ブチルおよびメチルイ
ソブチルケトン等が挙げられ、さらに硫酸、メタンスル
ホン酸、p−トルエンスルホン酸等の酸性触媒ならびに
ハイドロキノン、ハイドロキノンモノメチルエーテル、
カテコール、ピロガロール、フェノチアジン、N−ニト
ロソフェニールヒドロキシルアミンアルミニウム塩等の
重合禁止剤を反応系に添加することが好ましい。
The present invention will be described in more detail below. The dipentaerythritol derivative in the present invention is
An average of 4.0 to 5.6 hydroxyl groups among the 6 hydroxyl groups contained in dipentaerythritol are converted to (meth) acryloyl groups, which is a compound of dipentaerythritol and (meth) acrylic acid. It is synthesized by an esterification reaction. In the above reaction, it is preferable to charge the reactor at a ratio of 6 to 8 mol of (meth) acrylic acid per mol of dipentaerythritol, and the reaction is usually carried out in an organic solvent. Examples of the organic solvent include benzene, toluene, xylene, ethyl acetate, butyl acetate, methyl isobutyl ketone, and the like. Further, acidic catalysts such as sulfuric acid, methanesulfonic acid, and p-toluenesulfonic acid, and hydroquinone, hydroquinone monomethyl ether,
It is preferable to add a polymerization inhibitor such as catechol, pyrogallol, phenothiazine and N-nitrosophenylhydroxylamine aluminum salt to the reaction system.

【0007】エステル化反応の反応率は、エステルの生
成に伴う脱水の量によって確認することができ、ジペン
タエリスリトール1モル当たり4.0〜5.6モルの脱水量
が得られた時点で反応を停止させると共に、過剰の(メ
タ)アクリル酸をアルカリ水で抽出除去することによ
り、ジペンタエリスリトール誘導体は得られる。なお、
上記反応によって得られるジペンタエリスリトール誘導
体は、(メタ)アクリロイル基または水酸基の個数が互
いに異なる化合物の含まれる混合物であり、その水酸基
の個数は滴定法等によって求められるものである。
The reaction rate of the esterification reaction can be confirmed by the amount of dehydration accompanying the formation of ester, and the reaction is carried out when a dehydration amount of 4.0 to 5.6 mol per mol of dipentaerythritol is obtained. And the excess (meth) acrylic acid is extracted and removed with alkaline water to obtain a dipentaerythritol derivative. In addition,
The dipentaerythritol derivative obtained by the above reaction is a mixture containing compounds having different numbers of (meth) acryloyl groups or hydroxyl groups, and the number of hydroxyl groups is determined by a titration method or the like.

【0008】ジペンタエリスリトール誘導体における
(メタ)アクリロイル基が4個未満であると、重合性組
成物が活性エネルギー線に対する感応性に劣り、さらに
得られる硬化塗膜の耐薬品性が劣る。一方、ジペンタエ
リスリトール誘導体における(メタ)アクリロイル基が
5.6個を越える場合すなわち水酸基が0.4個未満である
と、ジペンタエリスリトール誘導体に付加させる酸無水
物の量が少な過ぎ、得られる重合性組成物の未硬化皮膜
がアルカリ水溶液に可溶性にならない。
When the number of (meth) acryloyl groups in the dipentaerythritol derivative is less than 4, the polymerizable composition is inferior in sensitivity to active energy rays and the cured coating film obtained is inferior in chemical resistance. On the other hand, the (meth) acryloyl group in the dipentaerythritol derivative is
When it exceeds 5.6, that is, when the number of hydroxyl groups is less than 0.4, the amount of the acid anhydride added to the dipentaerythritol derivative is too small, and the uncured film of the resulting polymerizable composition is soluble in an alkaline aqueous solution. do not become.

【0009】本発明における重合性組成物は、上記ジペ
ンタエリスリトール誘導体と無水フタル酸あるいは無水
マレイン酸とを反応させることにより得られる、酸価が
40〜100mgKOH/gの重合性組成物であり、紫外
線または電子線等の活性エネルギー線の照射により重合
し硬化物を形成する。無水フタル酸あるいは無水マレイ
ン酸以外の脂肪族や脂環式の酸無水物とジペンタエリス
リトール誘導体の反応では、得られる組成物の紫外線へ
の感応性が劣り、硬度の高い硬化物が得られない。重合
性組成物の酸価が、40mgKOH/g未満であると該組
成物がアルカリ水溶液に対して可溶性とならず、一方1
00mgKOH/gを越えるとレジストパターンの解像度
が劣り、さらに硬化塗膜が耐アルカリ性に劣る。
The polymerizable composition in the present invention is a polymerizable composition having an acid value of 40 to 100 mgKOH / g, which is obtained by reacting the dipentaerythritol derivative with phthalic anhydride or maleic anhydride. It is polymerized by irradiation with active energy rays such as ultraviolet rays or electron rays to form a cured product. In the reaction of an aliphatic or alicyclic acid anhydride other than phthalic anhydride or maleic anhydride with a dipentaerythritol derivative, the sensitivity of the resulting composition to ultraviolet light is poor and a hardened product cannot be obtained. . When the acid value of the polymerizable composition is less than 40 mgKOH / g, the composition does not become soluble in an alkaline aqueous solution, while 1
If it exceeds 00 mgKOH / g, the resolution of the resist pattern is poor and the cured coating film is also poor in alkali resistance.

【0010】ジペンタエリスリトール誘導体と無水フタ
ル酸あるいは無水マレイン酸(以下これらを酸無水物と
総称することがある)の反応においては、ジペンタエリ
スリトール誘導体中の水酸基と酸無水物が等モルで反応
し、反応した酸無水物と等モルのカルボキシル基がジペ
ンタエリスリトール誘導体に導入される。
In the reaction of the dipentaerythritol derivative with phthalic anhydride or maleic anhydride (these may be collectively referred to as an acid anhydride hereinafter), the hydroxyl group in the dipentaerythritol derivative and the acid anhydride are reacted in equimolar amounts. Then, a carboxyl group equimolar to the reacted acid anhydride is introduced into the dipentaerythritol derivative.

【0011】得られる重合性組成物の酸価は、ジペンタ
エリスリトール誘導体中の水酸基と反応させる酸無水物
の量によって制御される。例えば、酸価が80mgKOH
/g程度の硬化性組成物を得るには、水酸基を1.0〜2.
0個有するジペンタエリスリトール誘導体1モル当た
り、厳密には用いるジペンタエリスリトール誘導体中の
水酸基の数によって多少異なるが、0.9モル程度の酸無
水物を反応させればよい。なお、酸無水物の使用量は、
用いるジペンタエリスリトール誘導体中の水酸基の等量
を上限とすることが好ましい。水酸基の量を上回る酸無
水物を使用すると、反応生成物中に過剰の酸無水物が残
る。
The acid value of the resulting polymerizable composition is controlled by the amount of acid anhydride reacted with the hydroxyl group in the dipentaerythritol derivative. For example, acid value is 80mgKOH
In order to obtain a curable composition of about / g, hydroxyl groups of 1.0 to 2.
Strictly speaking, it depends on the number of hydroxyl groups in the dipentaerythritol derivative to be used per 1 mol of the dipentaerythritol derivative having 0, but about 0.9 mol of acid anhydride may be reacted. The amount of acid anhydride used is
It is preferable to set the equivalent amount of the hydroxyl group in the dipentaerythritol derivative used to the upper limit. The use of acid anhydride in excess of the amount of hydroxyl groups leaves excess acid anhydride in the reaction product.

【0012】上記反応は、N,N−ジメチルベンジルア
ミン、トリエチルアミン、N,N−ジメチルアニリン等
の3級アミン類;テトラジエチルアンモニウムクロリ
ド、テトラブチルアンモニウムブロミド、ベンジルトリ
メチルアンモニウムクロリド等の4級アンモニウム塩
類;ジエチルアンモニウムクロリド等の2級アミンの塩
酸塩類;またはトリフェニルフォスフィン等のリン化合
物類の存在下に、70℃〜140℃で攪拌下に行われ
る。アミン類を用いた場合には、反応後に酸性水溶液で
洗浄し、抽出除去することができる。アミンを除去する
ことにより、生成物の保存安定性を一段と向上させるこ
とができる。
In the above reaction, tertiary amines such as N, N-dimethylbenzylamine, triethylamine, N, N-dimethylaniline; quaternary ammonium salts such as tetradiethylammonium chloride, tetrabutylammonium bromide and benzyltrimethylammonium chloride. It is carried out at 70 ° C. to 140 ° C. under stirring in the presence of secondary amine hydrochlorides such as diethylammonium chloride; or phosphorus compounds such as triphenylphosphine. When amines are used, they can be extracted and removed by washing with an acidic aqueous solution after the reaction. By removing the amine, the storage stability of the product can be further improved.

【0013】上記方法によって得られる重合性組成物
は、紫外線および電子線等の活性エネルギー線に対する
感応性が高くかつ硬化塗膜が各種物性に優れるために、
それ単独でもフォトソルダーレジストとして好適である
が、該重合性組成物に、エポキシ樹脂、エポキシ樹脂の
硬化剤、光重合開始剤および希釈剤を混合した組成物も
フォトソルダーレジストとして極めて好適である。
The polymerizable composition obtained by the above method has high sensitivity to active energy rays such as ultraviolet rays and electron beams, and the cured coating film has various physical properties.
Although it is also suitable as a photo solder resist by itself, a composition obtained by mixing the polymerizable composition with an epoxy resin, a curing agent for an epoxy resin, a photopolymerization initiator and a diluent is also very suitable as a photo solder resist.

【0014】上記重合性組成物に添加されるエポキシ樹
脂としては、クレゾールノボラックエポキシ樹脂、ビス
フェノールA型エポキシ樹脂およびイソシアヌール酸骨
格を有するエポキシ樹脂等が好ましい。上記エポキシ樹
脂の具体例を挙げると、以下のとおりである。 クレゾールノボラックエポキシ樹脂:住友化学工業
(株)製のスミエポキシESCN220HH、東都化成
(株)のエポトートYDCN704、エポトートYDP
N638、ダウケミカル社製のDEN−431、DEN
−438等。 ビスフェノールA型エポキシ樹脂:油化シェルエポキシ
(株)のエピコート828、エピコート1001、東都
化成(株)のエポトートYD128等。 イソシアヌール酸骨格を有するエポキシ樹脂:日産化学
(株)のTEPIC等。 エポキシ樹脂の好ましい使用量は、前記硬化性組成物1
00重量部当たり、10〜100重量部である。
As the epoxy resin added to the above-mentioned polymerizable composition, cresol novolac epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin and epoxy resin having an isocyanuric acid skeleton are preferable. Specific examples of the epoxy resin are as follows. Cresol novolac epoxy resin: Sumi Epoxy ESCN220HH manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., Epototo YDCN704, Epotote YDP manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd.
N638, DEN-431, DEN made by Dow Chemical Company
-438 etc. Bisphenol A type epoxy resin: Epi-coat 828, Epi-coat 1001 of Yuka Shell Epoxy Co., Ltd., Epotote YD128 of Toto Kasei Co., Ltd., etc. Epoxy resin having isocyanuric acid skeleton: TEPIC manufactured by Nissan Kagaku Co., Ltd. The preferable amount of the epoxy resin used is the curable composition 1 described above.
It is 10 to 100 parts by weight per 00 parts by weight.

【0015】上記エポキシ樹脂用の硬化剤としては、ジ
シアンジアミド、メラミン、ベンゾグアナミン、アセト
グアナミンおよび2−メチルイミダゾールならびにそれ
らの誘導体等が挙げられる。硬化剤の使用量は、エポキ
シ樹脂100重量部当たり、1〜10重量部が適当であ
る。
Examples of the curing agent for the epoxy resin include dicyandiamide, melamine, benzoguanamine, acetoguanamine, 2-methylimidazole and their derivatives. The amount of the curing agent used is appropriately 1 to 10 parts by weight per 100 parts by weight of the epoxy resin.

【0016】光重合開始剤としては、ベンゾイン、ベン
ゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベ
ンゾインイソプロピルエーテル等のベンゾインとそのア
ルキルエーテル類;アセトフェノン、2,2−ジメトキ
シ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシ
−2−フェニルアセトフェノン、1,1−ジクロロアセ
トフェノン、1−ヒドロキシアセトフェノン、1−ヒド
ロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−1
−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ
−プロパン−1−オン等のアセトフェノン類;2−メチ
ルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−タ
ーシャリ−ブチルアントラキノン、1−クロロアントラ
キノン、2−アミルアントラキノン等のアントラキノン
類;2,4−ジメチルチオキサントン、2,4−ジエチ
ルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、2,4
−ジイソピルチオキサントン等のチオキサントン類;ア
セトフェノンジメチルケタール、ベンジルジメチルケタ
ール等のケタール類;ベンゾフェノン等のベンゾフェノ
ン類またはキサントン類等が挙げられる。光重合開始剤
は、単独または2種以上併用で使用できる。光重合開始
剤の好ましい使用量は、重合性組成物100重量部当た
り、0.2〜20重量部であり、さらに好ましくは1〜1
0重量部である。
Examples of the photopolymerization initiator include benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, and other benzoins and alkyl ethers thereof; acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxy. 2-phenylacetophenone, 1,1-dichloroacetophenone, 1-hydroxyacetophenone, 1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, 2-methyl-1
Acetophenones such as-[4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan-1-one; 2-methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone, 2-tert-butylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2-amylanthraquinone And the like anthraquinones; 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2,4
Examples include thioxanthones such as diisopyrthioxanthone; ketals such as acetophenone dimethyl ketal and benzyl dimethyl ketal; benzophenones such as benzophenone or xanthones. The photopolymerization initiators can be used alone or in combination of two or more. The preferred amount of the photopolymerization initiator used is 0.2 to 20 parts by weight, more preferably 1 to 1 per 100 parts by weight of the polymerizable composition.
0 parts by weight.

【0017】希釈剤としては、以下に具体例を挙げて説
明する有機溶剤および/または紫外線硬化性単量体が使
用できる。有機溶剤の好ましい使用量は、重合性組成
物、エポキシ樹脂、該樹脂の硬化剤および光重合開始剤
の合計量100重量部当たり、10〜100重量部であ
り、また紫外線硬化性単量体の好ましい使用量は、同一
の基準で10〜20重量部である。有機溶剤の使用量
が、10重量部未満であると得られるフォトソルダーレ
ジストの粘度が高すぎて塗装性が損なわれ易く、一方1
00重量部を越えると粘度が低くなり混練の手段として
三本ロール等が適用し難くなる。
As the diluent, an organic solvent and / or a UV-curable monomer described below with reference to specific examples can be used. The preferable amount of the organic solvent used is 10 to 100 parts by weight, based on 100 parts by weight of the total amount of the polymerizable composition, the epoxy resin, the curing agent for the resin and the photopolymerization initiator, and the amount of the ultraviolet curable monomer. The preferred amount used is 10 to 20 parts by weight on the same basis. When the amount of the organic solvent used is less than 10 parts by weight, the viscosity of the obtained photo solder resist is too high and the coatability is easily impaired.
If it exceeds 100 parts by weight, the viscosity becomes low, and it becomes difficult to apply a three-roll roll as a kneading means.

【0018】有機溶剤としては、酢酸エチル、酢酸ブチ
ル等の酢酸エステル類、メチルエチルケトン、シクロヘ
キサノン等のケトン類、トルエン、キシレン等の芳香族
炭化水素類、セロソルブ、セロソルブアセテート、ブチ
ルセロソルブ等のセロソルブ類、カルビトール、カルビ
トールアセテート、ブチルカルビトール、エチルカルビ
トールアセテート等のカルビトール類等が挙げられ、好
ましくはセロソルブ類またはカルビトール類である。
Examples of the organic solvent include acetic acid esters such as ethyl acetate and butyl acetate, ketones such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, cellosolve, cellosolve acetate and cellosolve such as butyl cellosolve, and carbicarb. Examples thereof include carbitols such as Tol, carbitol acetate, butyl carbitol, and ethyl carbitol acetate, and preferably cellosolves or carbitols.

【0019】紫外線硬化性単量体としては、2−ヒドロ
キシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロ
ピル(メタ)アクリレート等のヒドロキシアルキル(メ
タ)アクリレート類;エチレングリコールのモノまたは
ジ(メタ)アクリレート、メトキシエチレングリコール
のモノ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコー
ルのモノまたはジ(メタ)アクリレート、トリプロピレ
ングリコールのモノまたはジ(メタ)アクリレート等
の、グリコールのモノまたはジ(メタ)アクリレート
類;トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレー
ト、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレートお
よびペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート
等の、トリオールまたはテトラオールの(メタ)アクリ
ル酸付加物類等が挙げられる。
Examples of the UV-curable monomer include hydroxyalkyl (meth) acrylates such as 2-hydroxyethyl (meth) acrylate and 2-hydroxypropyl (meth) acrylate; mono or di (meth) acrylate of ethylene glycol, Mono or di (meth) acrylates of glycols, such as mono (meth) acrylate of methoxyethylene glycol, mono or di (meth) acrylate of tetraethylene glycol, mono or di (meth) acrylate of tripropylene glycol; trimethylolpropane Examples include triol or tetraol (meth) acrylic acid adducts such as tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, and pentaerythritol tetra (meth) acrylate. That.

【0020】重合性組成物からなるフォトソルダーレジ
スト、または重合性組成物、エポキシ樹脂、エポキシ樹
脂の硬化剤、光開始剤および希釈剤からなるフォトソル
ダーレジストには、さらに必要に応じて硫酸バリウム、
酸化珪素、タルク、クレー、炭酸カルシウム等の充填
剤、フタロシアニン・ブルー、フタロシアニン・グリー
ン、酸化チタン、カーボンブラック等の着色用顔料、密
着性付与剤またはレベリング剤等の各種添加剤あるいは
ハイドロキノン、ハイドロキノンモノメチルエーテル、
ターシャリブチルカテコール、フェノチアジンン、N−
ニトロソフェニルヒドロキシルアミンアルミニウム塩等
の重合禁止剤を加えてもよい。
A photosolder resist comprising a polymerizable composition or a photosolder resist comprising a polymerizable composition, an epoxy resin, a curing agent for an epoxy resin, a photoinitiator and a diluent may further contain barium sulfate, if necessary.
Fillers such as silicon oxide, talc, clay and calcium carbonate, coloring pigments such as phthalocyanine blue, phthalocyanine green, titanium oxide and carbon black, various additives such as adhesion promoters and leveling agents, hydroquinone and hydroquinone monomethyl. ether,
Tertiary butyl catechol, phenothiazine, N-
A polymerization inhibitor such as nitrosophenylhydroxylamine aluminum salt may be added.

【0021】以下に実施例および比較例を挙げて、本発
明をさらに具体的に説明する。
The present invention will be described more specifically below with reference to Examples and Comparative Examples.

【実施例1】攪拌器、冷却管、水分離器(ディーンスタ
ークトラップ)を備えたフラスコにジペンタエリスリト
ール254g(1.0モル)、アクリル酸432g
(6.0モル)、トルエン600g、p−トルエンスル
ホン酸12gおよびハイドロキノン0.12gを仕込
み、加熱攪拌しトルエンを還流させて、水分離器より9
0g(5.0モル)の水を系外に除いた。冷却後、80
0gの10%NaOH水を注ぎ、30分間攪拌した。そ
の後、分液ロートへ反応液を移し、水層を分離除去して
過剰のアクリル酸を除き、1分子中にアクリロイル基が
5個付き、水酸基が1個付いたジペンタエリスリトール
誘導体のトルエン溶液を得た。
[Example 1] 254 g (1.0 mol) of dipentaerythritol and 432 g of acrylic acid were placed in a flask equipped with a stirrer, a condenser and a water separator (Dean Stark trap).
(6.0 mol), 600 g of toluene, 12 g of p-toluenesulfonic acid and 0.12 g of hydroquinone were charged, and the mixture was heated and stirred to reflux the toluene.
0 g (5.0 mol) of water was removed from the system. 80 after cooling
0 g of 10% aqueous NaOH was poured and the mixture was stirred for 30 minutes. Then, the reaction solution was transferred to a separating funnel, the aqueous layer was separated and removed to remove excess acrylic acid, and a toluene solution of a dipentaerythritol derivative having 5 acryloyl groups and 1 hydroxyl group in one molecule was removed. Obtained.

【0022】上記トルエン溶液をフラスコに移し、無水
フタル酸74g(0.5モル)、トリエチルアミン6g
およびハイドロキノン0.12gを加え、80℃で4時
間攪拌した。冷却後、580gの10%硫酸アンモニウ
ム水溶液を注ぎ入れ、30分間攪拌した後、分液ロート
へ反応液を移し、水層を除去した。油層をフラスコに移
し、溶剤を減圧で留去することにより、本発明における
重合性組成物を得た。該組成物の酸価は47mgKOH
/gであった。得られた組成物(以下樹脂A−1とい
う)は、それに45gのエチルカルビトールアセテート
を加えて、固形分93重量%の樹脂溶液(640g)を
調製し、以後樹脂A−1の取扱に際しては、上記溶液を
用いた。なお、この溶液の25℃における粘度は47,
000cpsであった。
The above toluene solution was transferred to a flask, and 74 g (0.5 mol) of phthalic anhydride and 6 g of triethylamine were added.
And 0.12 g of hydroquinone were added, and the mixture was stirred at 80 ° C. for 4 hours. After cooling, 580 g of a 10% ammonium sulfate aqueous solution was poured in, the mixture was stirred for 30 minutes, the reaction solution was transferred to a separating funnel, and the aqueous layer was removed. The oil layer was transferred to a flask and the solvent was distilled off under reduced pressure to obtain the polymerizable composition of the present invention. The acid value of the composition is 47 mgKOH
/ G. The obtained composition (hereinafter referred to as resin A-1) was added with 45 g of ethyl carbitol acetate to prepare a resin solution (640 g) having a solid content of 93% by weight. The above solution was used. The viscosity of this solution at 25 ° C. was 47,
It was 000 cps.

【0023】上記樹脂A−1に以下の成分を配合して、
三本ロールで混練してソルダーレジスト用組成物B−1
を得た。なお、光重合開始剤としては、2−メチル−1
−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ
−プロパン−1−オン(チバガイギー社;商品名イルガ
キュアー907)を使用した。 樹脂A−1(固形分として) 100部 エポキシ樹脂〔日産化学(株)製TEPIC〕 25部 エポキシ樹脂〔東都化成(株)製YDCN−704〕 30部 メラミン 2部 光重合開始剤 5部 エチルカルビトールアセテート 15部 着色顔料(フタロシアニングリン) 1部 炭酸カルシウム 30部 タルク 10部 レベリング剤 2部
The following components are blended with the above resin A-1,
Composition for solder resist B-1 by kneading with three rolls
I got As the photopolymerization initiator, 2-methyl-1
-[4- (Methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan-1-one (Ciba Geigy; trade name Irgacure 907) was used. Resin A-1 (as solid content) 100 parts Epoxy resin [TEPIC manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.] 25 parts Epoxy resin [YDCN-704 manufactured by Tohto Kasei Co., Ltd.] 30 parts Melamine 2 parts Photopolymerization initiator 5 parts Ethylcarbi Tall acetate 15 parts Coloring pigment (phthalocyanine phosphorus) 1 part Calcium carbonate 30 parts Talc 10 parts Leveling agent 2 parts

【0024】得られた組成物B−1を、銅ガラスエポキ
シ基板、スルーホール基板およびパターンが形成してあ
るプリント配線基板にスクリーン印刷し、80℃で30
分乾燥して3種のテストピースを作成した。これらのテ
ストピースのうち銅ガラスエポキシ基板にはステップタ
ブレットフィルムを置き、スルーホール基板にはそのま
ま、またプリント配線基板にはレジストパターンフィル
ムを置き、各々3kW超高圧水銀灯により紫外線を40
0mJ/cm2照射した。
The composition B-1 obtained was screen-printed on a copper glass epoxy substrate, a through-hole substrate and a printed wiring board on which a pattern was formed, and the composition B-1 was heated at 80 ° C. for 30 minutes.
Three kinds of test pieces were prepared by minute drying. Of these test pieces, a step tablet film was placed on the copper glass epoxy substrate, the through hole substrate was left as it was, and a resist pattern film was placed on the printed wiring board.
It was irradiated with 0 mJ / cm 2 .

【0025】次いで1%炭酸ナトリウム水溶液で現像し
た後、150℃で30分加熱硬化した。その結果、銅ガ
ラスエポキシ基板における感光性はステップタブレット
段数で9であり、スルーホール基板での現像性は良好で
穴埋まりはなく、またプリント配線基板での鉛筆硬度は
6Hで、密着性も良好であった。さらに、プリント配線
基板における硬化塗膜について、260℃のハンダ浴、
塩化メチレン、10%水酸化ナトリウム、10%硫酸お
よび10%塩酸に対する耐久性を評価した。これらの評
価結果は、表1〜3にまとめて示した。
Then, after developing with a 1% sodium carbonate aqueous solution, it was heat-cured at 150 ° C. for 30 minutes. As a result, the photosensitivity of the copper glass epoxy substrate is 9 in the step tablet stage, the developability of the through-hole substrate is good and the holes are not filled, and the pencil hardness of the printed wiring board is 6H and the adhesion is also good. Met. Furthermore, regarding the cured coating film on the printed wiring board, a solder bath at 260 ° C.,
The durability against methylene chloride, 10% sodium hydroxide, 10% sulfuric acid and 10% hydrochloric acid was evaluated. The evaluation results are summarized in Tables 1 to 3.

【0026】[0026]

【実施例2〜4】実施例1と同様な反応により以下の酸
価を有する樹脂A−2〜A−4を合成し、さらにそれら
を実施例1における樹脂A−1と同様に他の成分と混合
してソルダーレジスト組成物B−2(実施例2)〜B−
4(実施例4)を得た。得られた組成物B−2〜B−4
について、実施例1の組成物B−1と同様に各種物性を
測定し、その結果を表1〜3に示した。 樹脂A−2;アクリロイル基を5.2個と水酸基を0.8個
有するジペンタエリスリトール誘導体と無水フタル酸を
反応させて得た、酸価が57mgKOH/g(以下単位
を省略する)の樹脂(組成物B−2に配合)。
Examples 2 to 4 Resins A-2 to A-4 having the following acid values were synthesized by the same reaction as in Example 1, and further they were treated with other components in the same manner as the resin A-1 in Example 1. And solder resist compositions B-2 (Example 2) to B-
4 (Example 4) was obtained. Obtained compositions B-2 to B-4
Was measured for various physical properties in the same manner as the composition B-1 of Example 1, and the results are shown in Tables 1 to 3. Resin A-2: Resin having an acid value of 57 mgKOH / g (the unit is omitted below) obtained by reacting a dipentaerythritol derivative having 5.2 acryloyl groups and 0.8 hydroxyl groups with phthalic anhydride. (Combined with composition B-2).

【0027】樹脂A−3;アクリロイル基を4.8個と水
酸基を1.2個有するジペンタエリスリトール誘導体と無
水マレイン酸を反応させて得た、酸価が59の樹脂(組
成物B−3に配合)。 樹脂A−4;アクリロイル基を4.9個と水酸基を1.1個
有するジペンタエリスリトール誘導体と無水マレイン酸
を反応させて得た、酸価が90の樹脂(組成物B−4に
配合)。
Resin A-3: A resin having an acid value of 59 (composition B-3 obtained by reacting a dipentaerythritol derivative having 4.8 acryloyl groups and 1.2 hydroxyl groups with maleic anhydride. Blended with). Resin A-4: Resin having an acid value of 90 obtained by reacting a maleic anhydride with a dipentaerythritol derivative having 4.9 acryloyl groups and 1.1 hydroxyl groups (blended with composition B-4) .

【0028】[0028]

【比較例1〜4】実施例1と同様な反応により以下の樹
脂M−1〜M−4を合成し、さらに他の成分と混合して
ソルダーレジスト組成物N−1(比較例1)〜N−4
(比較例4)を得た。組成物N−1〜N−4についての
物性値も表1〜3に併記した。 樹脂M−1;アクリロイル基を4.0個と水酸基を2.0個
有するジペンタエリスリトール誘導体と無水フタル酸を
反応させて得た、酸価が120の樹脂(組成物N−1に
配合)。 樹脂M−2;アクリロイル基を5.8個と水酸基を0.2個
有するジペンタエリスリトール誘導体と無水マレイン酸
を反応させて得た、酸価が19mgの樹脂(組成物N−
2に配合)。
Comparative Examples 1 to 4 The following resins M-1 to M-4 were synthesized by the same reaction as in Example 1 and further mixed with other components to prepare a solder resist composition N-1 (Comparative Example 1). N-4
(Comparative example 4) was obtained. Physical properties of the compositions N-1 to N-4 are also shown in Tables 1 to 3. Resin M-1: Resin having an acid value of 120 obtained by reacting a dipentaerythritol derivative having 4.0 acryloyl groups and 2.0 hydroxyl groups with phthalic anhydride (blended with composition N-1) . Resin M-2: Resin having an acid value of 19 mg (composition N-, obtained by reacting maleic anhydride with a dipentaerythritol derivative having 5.8 acryloyl groups and 0.2 hydroxyl groups.
2).

【0029】樹脂M−3;アクリロイル基を4.9個と水
酸基を1.1個有するジペンタエリスリトール誘導体と無
水テトラヒドロフタル酸を反応させて得た、酸価が84
の樹脂(組成物N−3に配合)。 樹脂M−4;アクリロイル基を3個と水酸基を1個有す
るペンタエリスリトール誘導体と無水ヘキサヒドロフタ
ル酸を反応させて得た、酸価が74の樹脂(組成物N−
4に配合)。
Resin M-3: A dipentaerythritol derivative having 4.9 acryloyl groups and 1.1 hydroxyl groups and tetrahydrophthalic anhydride were reacted to obtain an acid value of 84.
Resin (blended with composition N-3). Resin M-4: Resin having an acid value of 74 obtained by reacting a pentaerythritol derivative having three acryloyl groups and one hydroxyl group with hexahydrophthalic anhydride (composition N-
4)).

【0030】[0030]

【表1】 [Table 1]

【0031】なお、表1中の各物性の評価は下記の方法
で行った。 a.乾燥性───レジストを塗装し80℃で30分乾燥
した後、硬化塗膜表面のタックを指触で評価した。結果
は以下の記号によって示した。 ◎:タックがないもの,○:僅かにタックがあるもの,
△:タックがあるもの,×:顕著にタックがあるもの。 b.感光性────銅ガラスエポキシ基板に塗装した塗
膜について、コダック社製ステップタブレットNo.2
(21段)により評価した。 c.現像性────スルーホール基板で現像後の穴埋ま
り性を観察した。 ◎:穴埋まりが全くないもの,○:わずかに穴埋まりが
あるもの,△:10〜50%穴埋まりがあるもの,×:
穴が埋まっているもの。 d.鉛筆硬度───JISK−5400の試験法におけ
る手かき法による。 e.密着性───JISD−0202の試験法(碁盤目
試験)による。
Each physical property in Table 1 was evaluated by the following methods. a. Dryability: After coating the resist and drying at 80 ° C. for 30 minutes, the tack of the surface of the cured coating film was evaluated by touch with a finger. The results are indicated by the following symbols. ◎: No tack, ○: Slight tack,
Δ: There is tack, ×: There is noticeable tack. b. Photosensitivity ──── For the coating film coated on the copper glass epoxy substrate, Kodak Step Tablet No. Two
(21 steps) c. Developability ─── The through hole substrate was observed for hole filling after development. ◎: No hole filling at all, ○: Slight hole filling, △: 10 to 50% hole filling, ×:
A hole is filled. d. Pencil hardness: According to the hand scraping method in the test method of JISK-5400. e. Adhesion: According to JIS D-0202 test method (cross-cut test).

【0032】[0032]

【表2】 [Table 2]

【0033】表2中の各物性の評価は下記の方法で行っ
た。 f.ハンダ耐熱───JISC−6481の試験法に従
い、260℃のハンダ浴において30秒フロートを3回
繰り返した後、塗膜に対しセロテープでピーリング試験
を行い塗膜の剥がれを観察した。 ◎:全く剥がれないもの,○:わずかに剥がれたもの,
△:10%程度が剥がれたもの,×:全面的剥がれたも
の。
Evaluation of each physical property in Table 2 was carried out by the following methods. f. Solder heat resistance: According to the test method of JISC-6481, after repeating a 30-second float three times in a solder bath at 260 ° C, a peeling test was performed on the coating film with cellophane tape to observe the peeling of the coating film. ⊚: No peeling, ○: Slight peeling,
Δ: About 10% peeled off, ×: Whole peeled off.

【0034】g.耐溶剤性───テストピースを塩化メ
チレン中に20℃で1時間浸漬させた後、塗膜に対しセ
ロテープでピーリング試験を行い塗膜の剥がれを観察し
た。 h.耐薬品性───テストピースを各薬液中に20℃で
1時間浸漬させた後、塗膜に対しセロテープでピーリン
グ試験を行い塗膜の剥がれを観察した。
G. Solvent resistance: The test piece was immersed in methylene chloride at 20 ° C. for 1 hour, and then a peeling test was performed on the coating film with cellophane tape to observe the peeling of the coating film. h. Chemical resistance: The test piece was immersed in each chemical solution at 20 ° C. for 1 hour, and then a peeling test was performed on the coating film with cellophane tape to observe the peeling of the coating film.

【0035】[0035]

【表3】 [Table 3]

【0036】表3における絶縁抵抗は、以下の測定方法
による値である。 i.絶縁抵抗───JISZ−3197に従い、テスト
ピースの常温での絶縁性(初期値)と、55℃、95%
RH、96時間吸湿させた後の絶縁性(吸湿後)をDC
−500V、1分値で測定したもの。
The insulation resistance in Table 3 is a value measured by the following measuring method. i. Insulation resistance --- According to JISZ-3197, insulation of test piece at room temperature (initial value), 55 ° C, 95%
RH, insulation after absorbing moisture for 96 hours (after moisture absorption) DC
Measured at -500V for 1 minute.

【0037】ソルダーレジスト硬化塗膜の絶縁抵抗は、
通常1×1010Ω以上であれば問題がない。従って表3に
記載のとおり、実施例1〜4および比較例1〜4のソレ
ダーレジストは、いずれも絶縁抵抗に関して十分な水準
にある。
The insulation resistance of the solder resist cured coating film is
Usually, there is no problem if it is 1 × 10 10 Ω or more. Therefore, as shown in Table 3, the solder resists of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4 are all at a sufficient level with respect to insulation resistance.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明における重合性組成物は、基板に
対して優れた密着性で皮膜を形成させることができ、活
性エネルギー線への感応性が高くかつ未硬化皮膜がアル
カリ水溶液に易溶性であり、しかも硬化皮膜が硬度、密
着性、耐熱性、耐溶剤性および耐薬品性等に優れてい
る。従って、該重合性組成物からなるフォトソルダーレ
ジストは、従来からあるフォトソルダーレジストと比較
して、全体的な物性のバランスが極めて優れている。
INDUSTRIAL APPLICABILITY The polymerizable composition of the present invention can form a film with excellent adhesion to a substrate, has a high sensitivity to active energy rays, and an uncured film is easily soluble in an alkaline aqueous solution. Moreover, the cured film is excellent in hardness, adhesion, heat resistance, solvent resistance, chemical resistance and the like. Therefore, the photo solder resist comprising the polymerizable composition has an extremely excellent balance of physical properties as compared with the conventional photo solder resist.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G03F 7/028 7/032 501 H05K 3/18 D 7511−4E 3/28 D ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI Technical display location G03F 7/028 7/032 501 H05K 3/18 D 7511-4E 3/28 D

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 1分子中に平均で4.0〜5.6個の(メ
タ)アクリロイル基と0.4〜2.0個の水酸基を有するジ
ペンタエリスリトール誘導体と、無水フタル酸または無
水マレイン酸とを反応させて得られる、酸価が40〜1
00mgKOH/gの重合性組成物からなるフォトソルダ
ーレジスト。
1. A dipentaerythritol derivative having an average of 4.0 to 5.6 (meth) acryloyl groups and 0.4 to 2.0 hydroxyl groups in one molecule, and phthalic anhydride or maleic anhydride. The acid value obtained by reacting with an acid is 40 to 1
A photo solder resist comprising a polymerizable composition of 00 mg KOH / g.
【請求項2】 請求項1記載の重合性組成物、エポキシ
樹脂、エポキシ樹脂の硬化剤、光重合開始剤および希釈
剤を必須成分とするフォトソルダーレジスト。
2. A photo solder resist comprising the polymerizable composition according to claim 1, an epoxy resin, a curing agent for the epoxy resin, a photopolymerization initiator and a diluent as essential components.
JP27848994A 1994-10-18 1994-10-18 Photo-soldering resist Pending JPH08123027A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27848994A JPH08123027A (en) 1994-10-18 1994-10-18 Photo-soldering resist

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27848994A JPH08123027A (en) 1994-10-18 1994-10-18 Photo-soldering resist

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08123027A true JPH08123027A (en) 1996-05-17

Family

ID=17598044

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27848994A Pending JPH08123027A (en) 1994-10-18 1994-10-18 Photo-soldering resist

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08123027A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006137903A (en) * 2004-11-15 2006-06-01 Toyo Ink Mfg Co Ltd Curable high refractive index material and laminated body from the curable high refractive index material
EP1975702A2 (en) 2007-03-29 2008-10-01 Fujifilm Corporation Colored photocurable composition for solid state image pick-up device, color filter and method for production thereof, and solid state image pick-up device
US8785087B2 (en) 2006-12-27 2014-07-22 Fujifilm Corporation Pigment-dispersed composition, curable composition, color filter and production method thereof

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006137903A (en) * 2004-11-15 2006-06-01 Toyo Ink Mfg Co Ltd Curable high refractive index material and laminated body from the curable high refractive index material
US8785087B2 (en) 2006-12-27 2014-07-22 Fujifilm Corporation Pigment-dispersed composition, curable composition, color filter and production method thereof
EP1975702A2 (en) 2007-03-29 2008-10-01 Fujifilm Corporation Colored photocurable composition for solid state image pick-up device, color filter and method for production thereof, and solid state image pick-up device
US8163447B2 (en) 2007-03-29 2012-04-24 Fujifilm Corporation Colored photocurable composition for solid state image pick-up device, color filter and method for production thereof, and solid state image pick-up device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2877659B2 (en) Resist ink composition and cured product thereof
JPH11140144A (en) Resin composition and cured product thereof
JP2868190B2 (en) Resin composition, solder resist resin composition and cured product thereof
JP2878486B2 (en) Resin composition, solder resist resin composition and cured product thereof
JP2862313B2 (en) Solder resist ink composition and cured product thereof
JP3058747B2 (en) Resin composition, solder resist resin composition and cured product thereof
JP4258203B2 (en) Alkali development type photosensitive resin composition
JPH01203424A (en) Curable composition
JPH08123027A (en) Photo-soldering resist
JPH08160616A (en) Manufacture of resist resin composition
JP2001264977A (en) Photosensitive resin composition
JP2786533B2 (en) Unsaturated group-containing polycarboxylic acid resin, resin composition containing the same, solder resist resin composition, and cured product thereof
JPH08123028A (en) Photo-soldering resist
JP3395993B2 (en) Resin composition, resist ink composition and cured product thereof
JPH06192387A (en) Curable resin with activation energy
JP3351556B2 (en) Resin composition, solder resist resin composition and cured product thereof
JPH11327139A (en) Resin composition and its hardened material
JPH11140145A (en) Resin composition, permanent resist resin composition, and cured product thereof
JP3436788B2 (en) Resin composition, resist ink composition and cured product thereof
JP2000235261A (en) Photosensitive resin composition
JP2817901B2 (en) Unsaturated group-containing polycarboxylic acid resin, resin composition using the same, solder resist resin composition and cured product
JPH06228253A (en) Resin composition, solder resist resin composition and their hardened product
JP3319620B2 (en) Unsaturated group-containing polycarboxylic acid resin, resin composition and cured product thereof
JP3436787B2 (en) Resin composition, resist ink composition and cured product thereof
JPH07233319A (en) Resin composition, resist ink composition and its cured product