JPH0810849Y2 - Optical pickup device - Google Patents
Optical pickup deviceInfo
- Publication number
- JPH0810849Y2 JPH0810849Y2 JP1985055082U JP5508285U JPH0810849Y2 JP H0810849 Y2 JPH0810849 Y2 JP H0810849Y2 JP 1985055082 U JP1985055082 U JP 1985055082U JP 5508285 U JP5508285 U JP 5508285U JP H0810849 Y2 JPH0810849 Y2 JP H0810849Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- photodetector
- receiving element
- tracking
- pickup device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 （イ） 産業上の利用分野 本考案は記録媒体に情報を光学的に記録若しくは記録
媒体に記録された情報を光学的に再生する光学式ピック
アップ装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Field of Industrial Application The present invention relates to an optical pickup device for optically recording information on a recording medium or optically reproducing information recorded on the recording medium.
（ロ） 従来の技術 ディスク状記録媒体に記録された情報を光学的に再生
する装置は公知であり、これらの装置にはレーザを光源
とする光学式ピックアップ装置が適用される（例えば、
「無線と実験」昭和57年11月号第18〜27頁参照）。(B) Prior Art Devices for optically reproducing information recorded on a disc-shaped recording medium are known, and an optical pickup device using a laser as a light source is applied to these devices (for example,
See "Wireless and Experiments" November 1982, pages 18-27).
第３図は一般的な光学ヘッド装置の例を示すもので、
（１）は半導体レーザ、（２）は回折格子、（３）はハ
ーフプリズム、（４）は対物レンズ、（５）は凹レン
ズ、（６）はシリンドリカルレンズ、（７）は光検出器
である。FIG. 3 shows an example of a general optical head device.
(1) is a semiconductor laser, (2) is a diffraction grating, (3) is a half prism, (4) is an objective lens, (5) is a concave lens, (6) is a cylindrical lens, and (7) is a photodetector. .
尚、（８）はディスクである。この例はトラッキング
制御方式が３ビーム方式となっており、光検出器（７）
に形成された一対のトラッキング用受光素子（7a）（7
b）によりトラッキングエラー信号が検出される。又、
フォーカス制御方式は非点収差方式となっており、４分
割受光素子（7c）により、フォーカスエラー信号が検出
される。情報（RF）信号は４分割受光素子（7c）により
検出される。Incidentally, (8) is a disk. In this example, the tracking control system is a 3-beam system, and the photodetector (7)
A pair of tracking photo detectors (7a) (7
The tracking error signal is detected by b). or,
The focus control system is an astigmatism system, and a focus error signal is detected by the four-division light receiving element (7c). The information (RF) signal is detected by the four-division light receiving element (7c).
さて、このような光学式ピックアップ装置には、受光
素子を樹脂、例えば、透明のエポキシ樹脂（7d）をモー
ルドした型の光検出器（７）が使用されるが、受光素子
（7a、7b、7c）の表面と光検出器（７）の受光表面〔即
ちモールド樹脂（7d）の表面〕とは平行となっており、
且つ、光検出器（７）に入射する光の光軸と光検出器
（７）の受光表面は直角となっているのが、通常であ
る。Now, in such an optical pickup device, a photodetector (7) of a type in which a light receiving element is molded with resin, for example, a transparent epoxy resin (7d) is used, but the light receiving element (7a, 7b, The surface of 7c) and the light receiving surface of the photodetector (7) [that is, the surface of the mold resin (7d)] are parallel,
Moreover, the optical axis of the light incident on the photodetector (7) and the light-receiving surface of the photodetector (7) are normally at a right angle.
二つのトラッキング用受光素子（7a、7b）の出力信号
の差に基いてトラッキングエラー信号が作成されるので
あるが、素子（7a）（7b）の出力信号の直流成分を夫々
DC（7a）、DC（7b）とし、交流成分を夫々AC（7a）、AC
（7b）とすると、トラッキングエラー信号（TE）は、以
下の通りとなる。A tracking error signal is created based on the difference between the output signals of the two tracking light receiving elements (7a, 7b). The DC components of the output signals of the elements (7a) (7b) are
DC (7a), DC (7b), AC components are AC (7a) and AC, respectively
Assuming (7b), the tracking error signal (TE) is as follows.
TE＝｛AC（7a）−AC（7b）｝＋｛DC（7a）−DC（7b）｝ 上式に於いて、第１項はトラッキングエラー信号の振
幅（TEp−ｐ）を示し、第２項は直流オフセット（Δ）
を示している（第４図参照）。この直流オフセットが大
きい場合、トラッキングサーボが不安定となる。従来の
ピックアップ装置では、常温に於いて直流オフセット
（Δ）を零に設定しておいても温度変化により直流オフ
セット（Δ）が発生し、サーボ制御範囲を超えることが
ある。第２図は常温より温度が変化した場合に於けるト
ラッキングエラー信号の直流オフセットの変化を示すも
のである。ここで、トラッキングエラー信号の振幅（TE
p−ｐ）と、DCオフセット（Δ）の比を中点づれ（ΔT
E）と定義し、縦軸に（ΔTE）をとっている。TE = {AC (7a) -AC (7b)} + {DC (7a) -DC (7b)} In the above equation, the first term represents the amplitude (TEp-p) of the tracking error signal, and the second term Term is DC offset (Δ)
Is shown (see FIG. 4). If this DC offset is large, the tracking servo becomes unstable. In the conventional pickup device, even if the DC offset (Δ) is set to zero at room temperature, the DC offset (Δ) may be generated due to the temperature change, and the servo control range may be exceeded. FIG. 2 shows the change in the DC offset of the tracking error signal when the temperature changes from room temperature. Here, the amplitude of the tracking error signal (TE
p-p) and the DC offset (Δ) ratio are divided by the middle point (ΔT
E) and the vertical axis is (ΔTE).
ΔTE＝Δ/TEp−ｐ この中点づれの変化量（常温を基準として）が10％以
上となると、サーボ制御が不安定となる。従来のピック
アップ装置にあっては、変化量は最大15〜20％となり、
また、10〜15℃の一定周期で変化することが分った（第
２図破線参照）。この原因は、光検出器（７）の内部に
於ける光の干渉にあることが分った。ΔTE = Δ / TEp-p If the amount of change in each midpoint (based on room temperature) is 10% or more, servo control becomes unstable. In the conventional pickup device, the maximum change amount is 15 to 20%,
It was also found that the temperature changes at a constant cycle of 10 to 15 ° C (see the broken line in Fig. 2). It was found that the cause was interference of light inside the photodetector (7).
第５図はこの現象の説明に供する図であり、光検出器
（７）に入射する入射光（Ｂ0）の一部は、受光素子（7
a〜7c）の表面に於いて反射して反射光（Ｂ1）となり、
更に光検出器（７）のモールド樹脂表面にて反射し、再
び受光素子（7a〜7c）に戻る。入射光（Ｂ0）がモール
ド樹脂（7d）表面に直角に入射した場合には、入射光
（Ｂ0）と反射光（Ｂ1）の間隔（Ｄ）は極めて狭く、従
ってモールド樹脂（7d）表面に於いて入射光（Ｂ0）と
反射光（Ｂ1）の光路差が1/2波長となると干渉を生じ、
受光素子（7a〜7c）表面上での強度が変化することにな
る。もちろん、常温に於いて斯かる1/2波長の光路差が
生じないようにモールド樹脂（7d）の巾（Ｔ）は決定さ
れるのであるが、温度変化により巾（Ｔ）が（ΔＴ）だ
け変化すると、この変化により1/2波長の光路差が生じ
る場合がある。モールド樹脂（7d）の巾（ΔＴ）を0.6m
m、その膨張係数を5.2×10-5／℃、入射光の波長を0.8
μｍとすると、常温より10〜15℃の温度差を生じると、
光路差が略1/2波長程度となり、干渉を生じることとな
る。このことは、第２図に於いて破線で示す特性と一致
している。FIG. 5 is a diagram for explaining this phenomenon, in which a part of the incident light (B 0 ) incident on the photodetector (7) is a light receiving element (7).
a to 7c) is reflected on the surface to become reflected light (B 1 ),
Further, the light is reflected by the mold resin surface of the photodetector (7) and returns to the light receiving elements (7a to 7c) again. When the incident light (B 0 ) is incident on the surface of the mold resin (7d) at a right angle, the interval (D) between the incident light (B 0 ) and the reflected light (B 1 ) is extremely narrow, and therefore the mold resin (7d). When the optical path difference between the incident light (B 0 ) and the reflected light (B 1 ) on the surface becomes 1/2 wavelength, interference occurs,
The intensity on the surface of the light receiving element (7a to 7c) changes. Of course, the width (T) of the molding resin (7d) is determined so that the optical path difference of 1/2 wavelength does not occur at room temperature, but the width (T) is only (ΔT) due to temperature change. If changed, this change may cause an optical path difference of 1/2 wavelength. The width (ΔT) of the mold resin (7d) is 0.6m
m, its expansion coefficient is 5.2 × 10 -5 / ℃, the wavelength of incident light is 0.8
μm, if there is a temperature difference of 10 to 15 ℃ from room temperature,
The optical path difference is about 1/2 wavelength, which causes interference. This agrees with the characteristic shown by the broken line in FIG.
（ハ） 考案が解決しようとする問題点 本考案は、上記の点に鑑み、温度変化によるモールド
樹脂の巾の変化に基づくトラッキングエラー信号の直流
オフセット発生（光検出器のモールド樹脂内で発生する
干渉）を低減せんとするものである。(C) Problems to be solved by the present invention In view of the above points, the present invention is directed to generating a DC offset of a tracking error signal based on a change in the width of the mold resin due to a temperature change (generated in the mold resin of the photodetector). Interference).
（ニ） 問題点を解決する為の手段 受光素子を樹脂モールドした構成を有する光検出器
を、入射光の光軸に対して光検出器の受光表面即ちモー
ルド樹脂表面が傾斜する如く配置する。(D) Means for Solving the Problems A photodetector having a configuration in which a light receiving element is resin-molded is arranged so that the light receiving surface of the photodetector, that is, the molding resin surface, is inclined with respect to the optical axis of the incident light.
（ホ） 作用 受光表面に対して入射光が傾斜して入射すると、第５
図に示す距離（Ｄ）が長くなる即ち入射光（Ｂ0）と反
射光（Ｂ1）が離間するので、干渉が抑えられる。更
に、距離（Ｄ）が長くなるので、入射光（Ｘ）と反射点
（ｙ）とに於けるモールド樹脂（7d）表面の状態の差
（モールド樹脂の表面の不均一性に基因する）の影響が
出てくる可能性が大きくなり、更に干渉が抑えられる。(E) Action When the incident light is obliquely incident on the light receiving surface, the fifth
Since the distance (D) shown in the figure becomes long, that is, the incident light (B 0 ) and the reflected light (B 1 ) are separated from each other, interference is suppressed. Furthermore, since the distance (D) becomes long, the difference in the condition of the surface of the mold resin (7d) between the incident light (X) and the reflection point (y) (due to the nonuniformity of the surface of the mold resin) There is a greater possibility of impact, and interference is further suppressed.
（ヘ） 実施例 第１図は、本考案に係る光学式ピックアップ装置を示
すものであり、入射光の光軸に対して光検出器（７）の
受光表面は傾斜している。モールド樹脂（7d）の受光表
面（Ａ）と受光素子（7a〜7c）の表面（Ｂ）は平行とな
っている。傾斜角度（θ）は略２°〜６°の範囲とする
と良い。更に、一対のトラッキング用受光素子の並列配
置方向と直交する方向に於いて光検出器を傾斜させる
と、一対のトラッキング用受光素子に対する光ビームの
非点収差、干渉性の低下割合等が同等となる為、光検出
器を傾斜させたことに基因する常温時に於ける中点づれ
の量を抑えることができる。(F) Embodiment FIG. 1 shows an optical pickup device according to the present invention, in which the light receiving surface of the photodetector (7) is inclined with respect to the optical axis of the incident light. The light receiving surface (A) of the mold resin (7d) and the surface (B) of the light receiving elements (7a to 7c) are parallel to each other. The inclination angle (θ) is preferably in the range of approximately 2 ° to 6 °. Furthermore, when the photodetector is tilted in the direction orthogonal to the parallel arrangement direction of the pair of tracking light receiving elements, the astigmatism of the light beam with respect to the pair of tracking light receiving elements, the reduction rate of coherence, etc. become equal. Therefore, it is possible to suppress the amount of midpoint deviation at normal temperature due to tilting of the photodetector.
尚、光検出器を傾斜させる為には、光検出器が取付け
られた基板をピックアップ本体に傾斜させて取付ける或
いは光検出器を基板に対して傾斜させて取付け、この基
板をピックアップ本体に対して平行に取付ける等すれば
良い。In order to incline the photodetector, the substrate on which the photodetector is attached is inclined and attached to the pickup body, or the photodetector is attached and inclined with respect to the substrate, and this substrate is attached to the pickup body. It may be installed in parallel.
（ト） 考案の効果 以上述べた本考案に依れば、光検出器の受光素子表面
を入射光軸に対して傾斜させて配置するという簡単な構
成で、トラッキングエラー信号の温度特性を改善するこ
とができる。即ち、第２図の実線にて示す通り、温度特
性が大巾に改善されるものである。更に、一対のトラッ
キング用受光素子の並列配置方向と直交する方向に於い
て光検出器の受光素子表面を入射光軸に対して夫々同一
角度で傾斜させることにより、斯かる傾斜に基因する中
点づれを抑えることができる。(G) Effect of the Invention According to the present invention described above, the temperature characteristic of the tracking error signal is improved with a simple configuration in which the light receiving element surface of the photodetector is arranged to be inclined with respect to the incident optical axis. be able to. That is, as shown by the solid line in FIG. 2, the temperature characteristics are greatly improved. Furthermore, by tilting the light-receiving element surface of the photodetector at the same angle with respect to the incident optical axis in the direction orthogonal to the parallel arrangement direction of the pair of tracking light-receiving elements, the midpoint caused by such inclination is obtained. It is possible to suppress the deviation.
第１図は本考案に係るピックアップ装置を示す図、第２
図はトラッキングエラー信号の温度特性図、第３図は従
来のピックアップ装置を示す図、第４図はトラッキング
エラー信号の波形図、第５図は、光干渉の説明に供する
図である。 （７）は光検出器、（7a、7b）はトラッキング用受光素
子、（7d）はエポキシ樹脂（モールド樹脂）。FIG. 1 is a view showing a pickup device according to the present invention, and FIG.
FIG. 4 is a temperature characteristic diagram of a tracking error signal, FIG. 3 is a diagram showing a conventional pickup device, FIG. 4 is a waveform diagram of a tracking error signal, and FIG. 5 is a diagram used for explaining optical interference. (7) is a photodetector, (7a, 7b) is a light receiving element for tracking, and (7d) is an epoxy resin (mold resin).
Claims (1)
側に一対のトラッキング用受光素子を並列配置して樹脂
によりモールドし、モールド樹脂の受光表面（Ａ）と受
光素子の表面（Ｂ）とが平行になった光検出器を有する
光学式ピックアップ装置であって、前記光検出器を、モ
ールド樹脂の内部で発生する入射光と反射光の干渉を抑
え且つ温度変化によるモールド樹脂の巾の変化で発生す
る干渉を抑えるため、入射光の光軸に対して受光表面を
傾斜させると共に一対のトラッキング用受光素子の並列
配置方向と直交する方向において傾斜して配置したこと
を特徴とするピックアップ装置。1. A light-receiving element for information signals and a pair of light-receiving elements for tracking arranged in parallel on both sides of the light-receiving element and molded with a resin, and a light-receiving surface (A) of a molding resin and a surface (B) of the light-receiving element. An optical pickup device having a photodetector in which is parallel to each other, wherein the photodetector suppresses interference between incident light and reflected light generated inside the mold resin and reduces the width of the mold resin due to temperature change. In order to suppress the interference caused by the change, the light receiving surface is tilted with respect to the optical axis of the incident light and the pair of tracking light receiving elements is tilted in a direction orthogonal to the parallel arrangement direction. .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985055082U JPH0810849Y2 (en) | 1985-04-12 | 1985-04-12 | Optical pickup device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985055082U JPH0810849Y2 (en) | 1985-04-12 | 1985-04-12 | Optical pickup device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61170119U JPS61170119U (en) | 1986-10-22 |
| JPH0810849Y2 true JPH0810849Y2 (en) | 1996-03-29 |
Family
ID=30577422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985055082U Expired - Lifetime JPH0810849Y2 (en) | 1985-04-12 | 1985-04-12 | Optical pickup device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0810849Y2 (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6213Y2 (en) * | 1981-03-20 | 1987-01-06 | ||
| JPS6040538A (en) * | 1983-08-15 | 1985-03-02 | Toshiba Corp | Optical information reader |
-
1985
- 1985-04-12 JP JP1985055082U patent/JPH0810849Y2/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 発明協会公開技報，Ｖｏｌ．７−３７、▲○１１▼公技番号８２−９３２３ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61170119U (en) | 1986-10-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5404344A (en) | Recording/reproducing optical head producing focusing error signal from zero-th order diffracted light and tracking error signal from first order diffracted light | |
| CA1269163A (en) | Photocell embedded in transparent resin body | |
| JPH0810849Y2 (en) | Optical pickup device | |
| US4853917A (en) | Optical tracking apparatus with photodetector disposed outside part of the effective diameter of the lens system | |
| JP2003162831A (en) | Optical pickup | |
| JPH07107742B2 (en) | Optical disc head focus shift detector | |
| JP3123500B2 (en) | Optical disk drive | |
| JPS586212B2 (en) | optical recording and reproducing device | |
| JPS6329337B2 (en) | ||
| JPH0529969B2 (en) | ||
| JPS63247925A (en) | Optical head | |
| JP2595937B2 (en) | Optical head device | |
| JPH07101517B2 (en) | Photo detector | |
| JP2638778B2 (en) | Optical head device | |
| JPH0534732B2 (en) | ||
| JP2538214B2 (en) | Optical information recording / reproducing device | |
| US5706263A (en) | Method and apparatus for high-density reproduction | |
| JP2594903B2 (en) | Focus error detector | |
| JPS6223376B2 (en) | ||
| JPH0327978B2 (en) | ||
| JP2640023B2 (en) | Optical head device | |
| JPH0656670B2 (en) | Photo detector | |
| JPH0519852Y2 (en) | ||
| JPH011124A (en) | optical head | |
| JPH07302436A (en) | Optical pickup device |