JPH0795071B2 - Tip changer - Google Patents

Tip changer

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JPH0795071B2
JPH0795071B2 JP27405789A JP27405789A JPH0795071B2 JP H0795071 B2 JPH0795071 B2 JP H0795071B2 JP 27405789 A JP27405789 A JP 27405789A JP 27405789 A JP27405789 A JP 27405789A JP H0795071 B2 JPH0795071 B2 JP H0795071B2
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chip
holder
tip
groove
actuator
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和夫 横山
正敏 高尾
英行 田中
勲勇 住田
富博 橋詰
利夫 桜井
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は走査トンネル顕微鏡などに使用するチップ交換
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tip exchanging device used for a scanning tunneling microscope or the like.

従来の技術 走査トンネル顕微鏡(STM)は、物質表面の構造を原子
オーダの分解能で観察できる装置として近年急速に発展
してきている。まず走査トンネル顕微鏡の測定原理につ
いて述べる。測定したい試料表面に、極めて鋭くて尖ら
せた金属探針を10Å程度の距離まで近付け、試料と探針
の間に10mV〜2Vのバイアス電圧を加えると、数nAのトン
ネル電流が流れる。この電流は試料と探針の間の距離に
極めて敏感であるので帰還制御を用いてこの距離を一定
に保つことができる。一方、探針は3軸方向に微動する
ピエゾ素子よりなるアクチュエータに取りつけてあり、
xy方向にラスタースキャンするときにz方向に帰還制御
のために印加する電圧が表面の凹凸をあらわすことにな
る。
2. Description of the Related Art A scanning tunneling microscope (STM) has been rapidly developed in recent years as an apparatus capable of observing the structure of a material surface with atomic resolution. First, the measurement principle of the scanning tunneling microscope will be described. An extremely sharp and pointed metal probe is brought to the surface of the sample to be measured up to a distance of about 10 Å, and a bias voltage of 10 mV to 2 V is applied between the sample and the probe, and a tunnel current of several nA flows. Since this current is extremely sensitive to the distance between the sample and the probe, feedback control can be used to keep this distance constant. On the other hand, the probe is attached to an actuator composed of a piezo element that makes fine movements in three axis directions.
The voltage applied for feedback control in the z direction when raster-scanning in the xy direction represents unevenness on the surface.

このような走査トンネル顕微鏡の技術は、原子間力顕微
鏡(AFM)、近接視野光学顕微鏡(NFOM)などの観察装
置、さらに原子、分子操作を可能とする超微細加工機な
どの周辺技術を生み出しつつある。これらの技術は探針
(チップ)を原子オーダの距離でなぞることが共通して
おり、観察装置においてはこれらを、近接視野顕微鏡
(NFM)あるいは走査プローブ顕微鏡(SPM)と総称して
いる。
Such scanning tunneling microscope technology is creating peripheral technologies such as atomic force microscope (AFM) and near-field optical microscope (NFOM) observation devices, as well as ultrafine processing machines that enable atomic and molecular manipulation. is there. These techniques have a common feature of tracing a probe (tip) at a distance on the order of atoms, and in the observation device, these are collectively referred to as a near field microscope (NFM) or a scanning probe microscope (SPM).

本発明はこれらの装置においてアクチュエータに取りつ
けられたチップを交換する装置に関するものである。
The present invention relates to a device for exchanging a chip attached to an actuator in these devices.

チップを原子オーダの距離でなぞるためには、この距離
の変動に影響する機械振動をまず徹底して除去する必要
がある。本発明のチップ交換装置についてもまず第一に
この観点からの考慮が要請される。さらに物質の表面物
性の研究、半導体のプロセス解析、原子オーダの材料創
製などには超高真空中で走査トンネル顕微鏡技術を駆使
する必要があり、真空中での機構に制約のある中でチッ
プ交換にも信頼性のある機構方式が要請される。
In order to trace the tip at a distance on the order of atoms, it is necessary to first thoroughly eliminate mechanical vibrations that affect variations in this distance. First of all, it is required to consider the chip changer of the present invention from this viewpoint. Furthermore, it is necessary to make full use of the scanning tunneling microscope technology in ultra-high vacuum for research on the surface properties of materials, semiconductor process analysis, and material creation on the order of atoms. Also, a reliable mechanism system is required.

これに対して最近、超高真空用STMに適用するチップホ
ルダの例として、探針のホルダをアクチュエータにきっ
ためねじにねじ込む機構(杉原ら:応用物理学会講演予
稿集、4a檗*V−2(1988))、探針を溶接した板状の
ホルダを、アクチュエータにとりつけた板バネに挟み込
む機構(富取ら:応用物理学会講演予稿集、4a−N−3
(1989))などが発表されている。
On the other hand, recently, as an example of a tip holder applied to STM for ultra-high vacuum, a mechanism for screwing a holder of a probe into an actuator for engaging a screw (Sugihara et al .: Proc. (1988)), a mechanism in which a plate-shaped holder with a welded probe is sandwiched between plate springs attached to an actuator (Tomitori et al .: Proceedings of the Japan Society of Applied Physics, 4a-N-3).
(1989)) has been announced.

発明が解決しようとする課題 しかしながら上記の機構では、チップホルダの剛性を保
って小型、軽量化するには限度があり、高い共振周波数
と高速応答性を要求されるチップホルダとして課題が残
っているとともに、チップホルダをアクチュエータに装
着する動きが複雑で超高真空用STMに適用するに当たっ
て機構を構成するのに制約があったり、装着動作が確実
でないなどの課題があった。
However, with the above mechanism, there is a limit to the size and weight reduction of the chip holder while maintaining the rigidity of the chip holder, and there remains a problem as a chip holder that requires a high resonance frequency and high-speed response. At the same time, the movement of mounting the chip holder to the actuator is complicated, and there are problems such as restrictions on the structure of the mechanism for applying it to the STM for ultra-high vacuum, and uncertain mounting operation.

本発明はこれらの課題に鑑み、これを解決して超高真空
用STMに適用して、高速走査時の機械的安定性が高く、
機構構成上の制約が少なく動作が確実なチップ交換装置
を提供するものである。
In view of these problems, the present invention solves this problem and applies it to an STM for ultra-high vacuum, which has high mechanical stability during high-speed scanning,
(EN) Provided is a chip exchanging device which has few mechanical structure restrictions and operates reliably.

課題を解決するための手段 上記課題を解決するために本発明は、一端にチップを固
定した段付きピンよりなるチップホルダを、その軸方向
に移動させる手段と、当接部材と薄板バネにより上記チ
ップホルダをアクチュエータの可動部に挟持する手段を
有し、挿入時には上記薄板バネの先端が段付きピンの溝
部に落ち込むラチェット動作をし、引抜き時には突起に
よりラチェットを解除しつつピンの溝部で引っかけてチ
ップホルダを引抜くことにより、一軸方向の運動のみで
チップホルダの着脱を可能とする構成を備えたものであ
る。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention provides a chip holder including a stepped pin having a chip fixed at one end, a means for moving the chip holder in the axial direction, an abutting member, and a thin leaf spring. It has a means to clamp the chip holder to the movable part of the actuator.When inserting, the tip of the thin leaf spring falls into the groove of the stepped pin to perform ratchet operation, and when pulling out, the ratchet is released by the projection and hooked in the groove of the pin. By pulling out the tip holder, the tip holder can be attached and detached only by uniaxial movement.

さらに、上記当接部材がV溝構造であり、チップホルダ
ピンをこのV溝に薄板バネで押圧する構成とする。
Further, the contact member has a V-groove structure, and the chip holder pin is pressed against the V-groove by a thin leaf spring.

作用 本発明は上記した構成によってチップホルダをピン構造
とすることにより、チップホルダとクランプ部を含めた
アクチュエータの可動部を、高い剛性を保って小型、軽
量化することができ、この結果、 (1)共振周波数が高く、メカニカルノイズ(Mechanic
al Noise)に強い。
The present invention can make the movable part of the actuator including the chip holder and the clamp part small in size and light in weight while maintaining high rigidity by forming the chip holder with the pin structure having the above-described configuration. 1) Resonance frequency is high and mechanical noise (Mechanic)
strong against al Noise).

(2)高速応答性に優れる。(2) Excellent in high-speed response.

(3)チップホルダが誘導ノイズを受けにくく、エレク
トリカルノイズ(Electrical Noise)に強い。
(3) The chip holder is less susceptible to inductive noise and is resistant to electrical noise.

という効果があるとともに、段付きピンと薄板バネによ
るラチェット機構により、一方向のみ(ピンの軸方向)
の運動でチップの着脱ができるため、特に機構の構成上
制約のある超高真空中用STMに適用いて有用であるとと
もに、特別のスキルを要することなくチップの着脱が確
実にできる。
In addition to the effect, the ratchet mechanism with the stepped pin and the thin leaf spring allows only one direction (axial direction of the pin).
Since the chip can be attached and detached by the movement of, it is particularly useful when applied to the STM for ultra-high vacuum in which the structure of the mechanism is restricted, and the tip can be attached and removed surely without requiring special skill.

さらにチップホルダをV溝に薄板バネで押圧する構成の
ため、チップホルダを安定でかつ高い剛性で保持するこ
とができるとともに、チップ交換に伴うチップホルダの
位置再現性が良い。
Further, since the chip holder is pressed against the V groove by the thin leaf spring, the chip holder can be held stably and with high rigidity, and the position reproducibility of the chip holder due to chip replacement is good.

実施例 以下本発明の一実施例のチップ交換装置について、図面
を参照しながら説明する。
Embodiment A chip exchange apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第5図は本発明のチップ交換装置を適用したSTMユニッ
トを示す。このSTMユニットは超高真空中での表面研究
を目的に考案されたSTM機構であって、デムース型(Dem
uth型)STM機構と呼ばれている。(J.E.Demuth,et al:
J.Vac.Sci.Technol.A4(3)1320(1986)(デムース
等:ジャーナル オブ バキューム サイエンス アン
ド テクノロジィA4(3),1320(1986))) 第5図(a)において、x,y走査用ピエゾアクチュエー
タ1およびz駆動用ピエゾアクチュエータ2がトライポ
ット状にブロック3およびブロック4に取りつけられて
おり、さらにアクチュエータ上に探針5が取り付けられ
ている。一方、試料6は試料ホルダ7に取りつけられ、
さらにこのホルダーは試料アーム8に取りつけられる。
試料アーム8は軸9の回りに回転し、ベースプレート10
に取りつけられたボールブッシュ11に摺動するキャリッ
ジロッド12の上下により試料を探針に近付けたり、遠避
けたりすることができる。即ち、キャリッジロッド12が
上方に移動すると、試料アーム8はキャッチ13に当たっ
て第5図(b)のように試料6は探針5から遠避かる。
またキャリッジロッド12が下方に移動すると試料アーム
8はストッパ14に当たった後、試料6は下方に並行移動
しながら探針5に近づき、フット15に当接する。試料6
がフット15に当接した後、さらにキャリッジロッド12を
下方に移動させると、試料アーム8はストッパ14から離
れ、試料6とフット15の当接点を支点として縮小テコ微
動機構により試料6は探針5に接近する。
FIG. 5 shows an STM unit to which the chip exchanging device of the present invention is applied. This STM unit is a STM mechanism devised for the purpose of surface research in ultra-high vacuum.
uth type) STM mechanism. (JEDemuth, et al:
J.Vac.Sci.Technol.A4 (3) 1320 (1986) (Demoose et al .: Journal of Vacuum Science and Technology A4 (3), 1320 (1986))) For x, y scanning in Fig. 5 (a) A piezo actuator 1 and a z-driving piezo actuator 2 are attached to blocks 3 and 4 in a tripot shape, and a probe 5 is attached on the actuator. On the other hand, the sample 6 is attached to the sample holder 7,
Furthermore, this holder is attached to the sample arm 8.
The sample arm 8 rotates about an axis 9 and the base plate 10
The sample can be moved closer to or away from the probe by the upper and lower sides of the carriage rod 12 sliding on the ball bush 11 attached to the. That is, when the carriage rod 12 moves upward, the sample arm 8 hits the catch 13 and the sample 6 moves away from the probe 5 as shown in FIG.
When the carriage rod 12 moves downward, the sample arm 8 hits the stopper 14, and the sample 6 moves downward in parallel while approaching the probe 5 and comes into contact with the foot 15. Sample 6
When the carriage rod 12 is further moved downward after the contact with the foot 15, the sample arm 8 is separated from the stopper 14 and the sample 6 is probed by the reduction lever fine movement mechanism with the contact point between the sample 6 and the foot 15 as a fulcrum. Approaching 5

試料ホルダ7はドブテイル型スライダ16により試料アー
ム8に取りつける。この取りつけ取り外しは真空装置に
設けたフィードスルーにより真空中で行われる。
The sample holder 7 is attached to the sample arm 8 by the dovetail type slider 16. This attachment / detachment is performed in vacuum by a feedthrough provided in the vacuum device.

次に、第1図(a)および(b)は本発明のチップ交換
装置のチップ取りつけ用治具の断面図および側面図を示
す。例えばタングステン<111>または<110>方向の単
結晶の先端を尖らせた細い針をチップ(探針)20とし、
これを段付きのロッド状のチップホルダ21に取りつけて
ある。チップホルダ21には、チップホルダの取りつけ、
取り外しの際に、治具の薄板バネでチッホルダ21を引っ
かけるための溝22と、薄板バネでチップホルダをアクチ
ュエータに取りつけるための溝23を設けてある。チップ
ホルダ21は、ドブテイル型スライダ24にナット25で取り
つけたチップホルダ保持用円筒部材26と、この円筒部材
にネジ27で取りつけられた薄板バネ28により挟持されて
いる。
Next, FIGS. 1 (a) and 1 (b) show a cross-sectional view and a side view of a chip mounting jig of a chip exchanging device of the present invention. For example, a thin needle with a sharpened tip of a single crystal of tungsten <111> or <110> direction is used as a tip (probe) 20,
This is attached to a stepped rod-shaped tip holder 21. Attach the tip holder to the tip holder 21,
At the time of removal, a groove 22 for hooking the chip holder 21 with a thin leaf spring of the jig and a groove 23 for attaching the chip holder to the actuator with the thin leaf spring are provided. The chip holder 21 is sandwiched by a chip holder holding cylindrical member 26 attached to a dovetail type slider 24 with a nut 25 and a thin leaf spring 28 attached to the cylindrical member with a screw 27.

第2図(a),(b)、(c)および(d)は上記第1
図で説明したチップ取りつけ用治具でチップホルダ21を
アクチュエータに取りつける動作の説明図である。同図
(a)はチップ取りつけ用治具にセットされたチップホ
ルダ21がアクチュエータ上のチップ取りつけ部に接近す
るところ、同(b)は取りつけられた瞬間、同(c)は
取りつけを終わって治具が離れて行く様子を示してい
る。同(d)はアクチュエータ上のチップ取りつけ部の
平面図である。
2 (a), (b), (c) and (d) are the first
FIG. 9 is an explanatory diagram of an operation of attaching the chip holder 21 to the actuator by the jig for attaching chips explained in the figure. In the same figure (a), when the chip holder 21 set on the chip mounting jig approaches the chip mounting portion on the actuator, the same (b) is mounted at the moment, and the same (c) is mounted and cured. It shows how the ingredients go away. FIG. 7D is a plan view of the chip mounting portion on the actuator.

アクチュエータ上にはチップホルダ21を保持するために
V溝29を切った当接部材30と、薄板バネ31をねじ32で取
りつけたブロック33とが、ベース板34の上に接着してあ
る。同(a)図のようにチップホルダ21がアクチュエー
タ上のチップ取りつけ部に近づき、同(b)図のように
チップホルダの先端がベース板34まで到達すると、チッ
プホルダ取りつけ用薄板バネ31がチップホルダの溝23に
落ち込み、ラチェットアクションをしてチップホルダ21
2を引き抜けない状態にするとともに、薄板ばね31がチ
ップホルダ21を当接部材30のV溝29の側壁に強く押しつ
け、チップホルダを強固に保持する。この後、治具を上
記の挿入方向と逆に移動させると、同(c)図のように
治具のチップホルダを保持していた薄板バネ28は、チッ
プホルダの溝22から外れ、チップホルダがアクチュエー
タ上に取りつけられた状態となる。
On the actuator, an abutting member 30 having a V groove 29 cut to hold the chip holder 21 and a block 33 having a thin leaf spring 31 attached by a screw 32 are adhered onto a base plate 34. When the tip holder 21 approaches the tip mounting part on the actuator as shown in FIG. 7A and the tip of the tip holder reaches the base plate 34 as shown in FIG. 7B, the thin spring 31 for mounting the tip holder causes the tip holder mounting thin spring 31 to move. Fall into the groove 23 of the holder, take the ratchet action and
The thin plate spring 31 presses the tip holder 21 against the side wall of the V groove 29 of the contact member 30 firmly while holding the tip holder firmly. After that, when the jig is moved in the direction opposite to the above insertion direction, the thin leaf spring 28 holding the chip holder of the jig is disengaged from the groove 22 of the chip holder as shown in FIG. Is mounted on the actuator.

以上の操作は、第1図に示したチップ取りつけ用治具
を、第5図に示した試料ホルダの代わりに試料アーム8
に取りつけることにより、デムース型のSTM機構を使っ
て行うことができる。
The above operation is performed by using the chip mounting jig shown in FIG. 1 instead of the sample holder shown in FIG.
It can be done using the STM mechanism of the smooth type.

次に第3図(a)および(b)は本発明のチップ交換装
置のチップホルダ取り外し用治具の断面図および側面図
を示す。同図では第1図に示した部材と同一の形状およ
び機能を持つ部材には同じ番号を付記してあり、チップ
ホルダ取り外し用の薄板バネ35のみが第1図と構造を異
にしている。
Next, FIGS. 3 (a) and 3 (b) show a sectional view and a side view of the jig for removing the chip holder of the chip exchanging device of the present invention. In the figure, members having the same shapes and functions as those shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and only the thin leaf spring 35 for removing the chip holder has a different structure from that shown in FIG.

第4図(a)、(b)および(c)はチップホルダ取り
外し用治具によってチップホルダをアクチュエータから
取り外す動作の説明図である。同図(a)の如く、チッ
プホルダ取り外し用治具がアクチュエータ上のチップホ
ルダ取りつけ部に接近し、同図(b)のようにチップホ
ルダ21の先端がベース板34に到達すると、チップ取り外
し用薄板バネ35の先端36がアクチュエータのチップホル
ダ取りつけ用薄板バネ31をチップホルダの溝23から押し
除けるとともに、チップホルダ取り外し用の薄板バネ35
のチップホルダ引き抜き用引っかけ部37がチップホルダ
の溝22に落ち込む。この結果、同(c)図に示す様にチ
ップホルダ取り外し用治具をアクチュエータから引き離
すとチップホルダ21は上記引っかけ部37で引っかけられ
てチップ取り外し治具に回収される。
4 (a), (b) and (c) are explanatory views of an operation of removing the chip holder from the actuator by the jig for removing the chip holder. When the tip holder removal jig approaches the tip holder mounting part on the actuator as shown in FIG. 9A and the tip of the tip holder 21 reaches the base plate 34 as shown in FIG. The tip 36 of the thin leaf spring 35 can push the thin leaf spring 31 for attaching the chip holder of the actuator away from the groove 23 of the tip holder, and at the same time, the thin leaf spring 35 for removing the tip holder 35
The tip holder withdrawing hook 37 of (3) falls into the groove 22 of the tip holder. As a result, when the chip holder removing jig is pulled away from the actuator as shown in FIG. 7C, the chip holder 21 is hooked by the hooking portion 37 and is recovered by the chip removing jig.

以上の操作は、チップ取りつけの場合と同様、第3図に
示したチップ取り外し用治具を、第5図に示した試料ホ
ルダの代わりに試料アーム8に取りつけることにより、
デムース型のSTM機構を使って行うことができる。
The above operation is carried out by attaching the chip removing jig shown in FIG. 3 to the sample arm 8 instead of the sample holder shown in FIG.
This can be done using the smooth type STM mechanism.

このようにチップ交換治具と試料ホルダに互換性を持た
せることにより、新たな機構を付加することなくチップ
交換することができる。
By making the tip exchange jig and the sample holder compatible with each other in this manner, the tip exchange can be performed without adding a new mechanism.

以上の実施例の如く、チップホルダをピン構造とするこ
とにより、チップホルダとクランプ部を含めたアクチュ
エータの可動部を、高い剛性を保って小型、軽量化する
ことができる。実施例ではチップホルダピンとして直径
1.5mm、長さ7mmのステンレスロッドを用いた。
As in the above embodiments, the tip holder having the pin structure makes it possible to reduce the size and weight of the movable portion of the actuator including the tip holder and the clamp portion while maintaining high rigidity. In the example, the diameter of the tip holder pin is
A 1.5 mm, 7 mm long stainless steel rod was used.

この結果、(1)共振周波数が高く、メカニカルノイズ
(Mechanical Noise)に強い、(2)高速応答性に優れ
る、(3)チップホルダが誘導ノイズを受けにくく、エ
レクトリカルノイズ(Electrical Noise)に強いという
効果が得られた。
As a result, (1) high resonance frequency and strong mechanical noise (Mechanical Noise), (2) excellent high-speed response, (3) chip holder is less susceptible to inductive noise, it is said to be strong against electrical noise (Electrical Noise) The effect was obtained.

さらに以上詳細に説明したように、段付きピンと薄板バ
ネによるラチェット機構により、一方向のみ(ピンの軸
方向)の運動でチップの着脱ができるため、特に機構の
構成上制約のある超高真空中用STMに適用して有用であ
る。また、特別のスキルを要することなくチップの着脱
が確実にできる。
As described in more detail above, the ratchet mechanism with stepped pins and thin leaf springs allows the chip to be attached and detached by movement in only one direction (the axial direction of the pin). It is useful when applied to STM. In addition, it is possible to securely attach and detach the chip without requiring special skills.

さらにチップホルダをV溝に薄板バネで押圧する構成の
ため、チップホルダを安定でかつ高い剛性で保持するこ
とができるとともに、チップ交換に伴うチップホルダの
位置再現性が良い。
Further, since the chip holder is pressed against the V groove by the thin leaf spring, the chip holder can be held stably and with high rigidity, and the position reproducibility of the chip holder due to chip replacement is good.

本チップ交換装置は、電界イオン顕微鏡複合型STM(FI
−STM)に適用することによりさらに大きな効果を発揮
する。すなわちFI−STMではSTMに用いる針状チップの先
端の原子構造を観察、キャラクタライズすることは勿
論、電界蒸発によりチップ先端を原子オーダで加工する
ことができ、本チップ交換機構と併用して超高真空中で
望み通りのチップを使用することを可能とし、効果は絶
大である。
This chip changer is a field ion microscope combined STM (FI
-STM) exerts a greater effect. In other words, in FI-STM, not only can the atomic structure at the tip of the needle-shaped tip used in STM be observed and characterized, but the tip of the tip can also be processed in atomic order by field evaporation. It is possible to use the desired chip in a high vacuum, and the effect is great.

尚、以上の説明では、主に走査トンネル顕微鏡(STM)
に適用するチップ交換装置について述べたが、STMから
派生しつつある各種の観察装置、加工装置のチップ交換
装置として有効なことは勿論である。
In the above description, the scanning tunneling microscope (STM) is mainly used.
Although the tip exchanging device applied to the above has been described, it is needless to say that it is effective as a tip exchanging device for various observation devices and processing devices that are being derived from STM.

発明の効果 本発明によれば、比較的簡単な動きで確実にチップ交換
でき、機械的ノイズ、電気的ノイズに強く安定な、STM
技術用のチップ交換装置を提供することができる。
EFFECTS OF THE INVENTION According to the present invention, an STM that can reliably replace a chip with a relatively simple movement, is stable against mechanical noise and electrical noise, and is stable.
A technical tip changer can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図(a)および(b)は本発明の一実施例における
チップ交換装置を構成するチップ取りつけ用治具の断面
図および側面図、第2図(a),(b)および(c)は
同チップ取りつけ用治具の動作を説明する断面図、同
(d)はアクチュエータ上のチップ取りつけ部の平面
図、第3図(a)および(b)は本発明の一実施例にお
けるチップ交換装置を構成するチップホルダ取り外し用
治具の断面図および側面図、第4図(a)、(b)およ
び(c)は同チップ取り外し治具の動作を説明する断面
図、第5図(a)および(b)は本発明を適用したSTM
機構を示す側面図である。 20……チップ、21……チップホルダ(ピン)、22、23…
…チップホルダの溝、30……当接部材、31……薄板バ
ネ、29……当接部材のV溝。
1 (a) and 1 (b) are a sectional view and a side view of a chip mounting jig which constitutes a chip exchanging device according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 (a), 2 (b) and 2 (c). Is a cross-sectional view for explaining the operation of the chip mounting jig, FIG. 3D is a plan view of the chip mounting portion on the actuator, and FIGS. 3A and 3B are chip replacement in one embodiment of the present invention. A sectional view and a side view of a jig for removing a chip holder constituting the device, FIGS. 4A, 4B and 4C are sectional views for explaining the operation of the jig for removing the chip, and FIG. 5A. ) And (b) are STM to which the present invention is applied.
It is a side view which shows a mechanism. 20 …… Tips, 21 …… Tip holders (pins), 22, 23…
… Chip holder groove, 30… Contact member, 31… Thin leaf spring, 29… V groove of contact member.

フロントページの続き (72)発明者 住田 勲勇 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 橋詰 富博 神奈川県横浜市栄区小菅谷町2000―10,6 ―108 (72)発明者 桜井 利夫 東京都世田谷区池尻1―3 三宿住宅2― 103 (56)参考文献 実開 平2−93705(JP,U)Front Page Continuation (72) Inventor Isamu Sumida 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Researcher Toshio Sakurai 1-3, Ikejiri, Setagaya-ku, Tokyo 2-103 Sanjuku Residence (56) References

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】一端にチップを固定した段付きピンよりな
るチップホルダをその軸方向に移動させる手段と、当接
部材と薄板バネにより上記チップホルダをアクチュエー
タの可動部に挟持する手段を有し、挿入時には前記薄板
バネの先端が前記段付きピンの溝部に落ち込むラチェッ
ト動作をし、引抜き時には突起によりラチェットを解除
しつつ前記段付きピンの溝部との係合を介してチップホ
ルダを引抜くことにより、一軸方向の運動のみでチップ
ホルダの着脱が可能なよう構成したことを特徴とするチ
ップ交換装置。
1. A means for axially moving a chip holder comprising a stepped pin having a chip fixed to one end, and means for holding the chip holder in a movable portion of an actuator by means of an abutting member and a thin leaf spring. During insertion, the tip of the thin leaf spring falls into the groove of the stepped pin to perform ratchet operation, and when withdrawn, the projection is used to release the ratchet and pull out the chip holder through the engagement with the groove of the stepped pin. Thus, the tip exchange device is configured such that the tip holder can be attached and detached only by uniaxial movement.
【請求項2】当接部材がV溝構造であり、チップホルダ
ピンをこのV溝に薄板バネで押圧するよう構成したこと
を特徴とする請求項1に記載のチップ交換装置。
2. The chip exchanging device according to claim 1, wherein the abutting member has a V-groove structure, and the chip holder pin is pressed against the V-groove by a thin leaf spring.
JP27405789A 1989-10-20 1989-10-20 Tip changer Expired - Lifetime JPH0795071B2 (en)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3553318B2 (en) * 1997-05-20 2004-08-11 日本電子株式会社 Holder holding device
EP2312326B1 (en) * 2009-10-16 2014-12-10 SPECS Surface Nano Analysis GmbH Mount for a scanning probe sensor package, scanning probe microscope and method of mounting or dismounting a scanning probe sensor package.
JP6931589B2 (en) * 2017-11-01 2021-09-08 日本電子株式会社 Sample holder

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