JPH0795022B2 - Material testing machine - Google Patents
Material testing machineInfo
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- JPH0795022B2 JPH0795022B2 JP60297922A JP29792285A JPH0795022B2 JP H0795022 B2 JPH0795022 B2 JP H0795022B2 JP 60297922 A JP60297922 A JP 60297922A JP 29792285 A JP29792285 A JP 29792285A JP H0795022 B2 JPH0795022 B2 JP H0795022B2
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- JP
- Japan
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- load
- calibration
- detection device
- measurement
- measurement range
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、荷重や変位量を検出する検出装置を用いて材
料試験を行ない、得られたデータを校正する場合等に用
いる測定値の校正装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] The present invention calibrates measured values used when calibrating the obtained data by performing a material test using a detection device that detects a load and a displacement amount. Regarding the device.
[従来技術] 材料試験機では荷重検出器(ロードセル)からの荷重信
号を荷重増幅器で増幅し、A/D変換器でA/D変換し、デー
タ処理装置で演算処理して荷重値を求めている。そし
て、前記荷重増幅器には荷重測定倍率(レンジ)を数段
用意して適正に荷重測定を行なっているのが一般的であ
る。[Prior Art] In the material testing machine, the load signal from the load detector (load cell) is amplified by the load amplifier, A / D converted by the A / D converter, and the load value is calculated by the data processing device. There is. In general, the load amplifier is provided with several load measurement magnifications (ranges) to properly perform load measurement.
このような材料試験機において、例えば、実荷重をロー
ドセルに与えて荷重増幅器で荷重校正を行なう場合、通
常は第2図に示すように校正用可変抵抗1を用いて校正
倍率1点のみで測定前に1回校正を行なっている。そし
て、測定レンジ2を切換えて他の測定倍率に設定しても
同じ増幅率によって校正するようにしている。しかしな
がら、実際にはロードセル固有の直線性特性を補正する
ため、第3図に示すように、各測定レンジごとに校正用
可変抵抗1を設けて調整必要があった。これは第4図に
示すロードセルの特性曲線において、例えば×1のレン
ジで校正し、×2のレンジを使用して×2のフルスケー
ル実荷重を与えると出力は49×2=98となり、ロードセ
ルの直線性を保つために+2の補正が必要となるからで
ある。In such a material testing machine, for example, when an actual load is applied to a load cell to perform load calibration with a load amplifier, normally, measurement is performed with only one calibration magnification using a calibration variable resistor 1 as shown in FIG. It has been calibrated once before. Even if the measurement range 2 is switched and another measurement magnification is set, the calibration is performed with the same amplification factor. However, in actuality, in order to correct the linearity characteristic peculiar to the load cell, it was necessary to provide a calibration variable resistor 1 for each measurement range for adjustment as shown in FIG. In the characteristic curve of the load cell shown in Fig. 4, this is calibrated in the x1 range, and when the x2 range is used to apply a full-scale actual load of x2, the output is 49 x 2 = 98, and the load cell is This is because the correction of +2 is necessary to maintain the linearity of.
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記のような校正では、校正用可変抵抗
等を設けることから回路が複雑になるとともに、校正精
度の低下をもたらすといった問題点があった。しかも、
1つの荷重増幅器に対して複数個のロードセルを切換的
に使用する場合、個々のロードセルの直線性特性が異な
るため、上記のように校正用可変抵抗等による校正では
各々のロードセルに対する適切な校正が得られないとい
う問題点もあった。[Problems to be Solved by the Invention] However, in the above-described calibration, there are problems that the circuit becomes complicated because the calibration variable resistor and the like are provided and that the calibration accuracy is reduced. Moreover,
When a plurality of load cells are used in a switching manner for one load amplifier, the linearity characteristics of each load cell are different. Therefore, in the calibration using the variable resistance for calibration, the appropriate calibration for each load cell is required. There was also a problem that it could not be obtained.
そこで本発明は、校正用可変抵抗等を用いて行なう従来
の調整操作を不要にして校正精度を向上させるととも
に、複数個のロードセル等の検出装置を使用する場合で
も個々の検出装置で測定された測定値を校正することが
できる材料試験機を提供することを目的とする。Therefore, the present invention improves calibration accuracy by eliminating the conventional adjustment operation performed using a calibration variable resistor or the like, and is measured by each detection device even when a plurality of detection devices such as load cells are used. An object is to provide a material testing machine capable of calibrating measured values.
[問題点を解決するための手段] 本発明は上記問題点を解決するため、次のような構成を
採用した。[Means for Solving Problems] The present invention adopts the following configuration in order to solve the above problems.
すなわち、本発明は、複数の検出装置を切換的に使用し
て、荷重または伸びなどの変化量を検出する材料試験機
において、検出装置の種別と各々の検出装置の各測定レ
ンジを記憶するとともに、各検出装置及び当該検出装置
の各測定レンジごとに対応する校正係数を記憶する記憶
手段と、測定に使用する検出装置の種別を指示する手段
及び使用測定レンジを指示する手段と、これら指示手段
からの指令によって、検出装置の種別及び当該検出装置
の各測定レンジに対応した校正係数を呼び出し、この校
正係数を検出装置からの出力信号に掛け合わせて測定値
を校正する演算手段とを備えたことを特徴とする。That is, the present invention, in a material testing machine for detecting the amount of change such as load or elongation by switchingly using a plurality of detection devices, stores the type of the detection device and each measurement range of each detection device. Storage means for storing each detection device and a calibration coefficient corresponding to each measurement range of the detection device, means for instructing the type of the detection device used for measurement, and means for instructing the used measurement range, and these instructing means The calibration coefficient corresponding to the type of the detection device and each measurement range of the detection device is called by a command from the device, and the output signal from the detection device is multiplied by the calibration coefficient to calibrate the measurement value. It is characterized by
[作用] 複数の検出装置を使用する場合でも、各検出装置の各測
定レンジごとに校正係数が記憶されており、測定に使用
する検出装置からの検出信号に所定の校正係数が掛け合
わされて演算処理されるので、使用装置の測定レンジを
マイクロコンピュータに指示するだけで測定値ごとに適
切な校正が行なわれる。[Operation] Even when a plurality of detection devices are used, the calibration coefficient is stored for each measurement range of each detection device, and the detection signal from the detection device used for measurement is multiplied by the predetermined calibration coefficient to calculate. Since it is processed, an appropriate calibration is performed for each measured value simply by instructing the microcomputer of the measuring range of the device used.
[実施例] 以下本発明を実施例にしたがって説明する。[Examples] The present invention will be described below with reference to Examples.
第1図は、本発明の校正装置を示すブロック図で、ロー
ドセル5(No.1からNo.nまでのn個切換的に使用され
る。)からの荷重信号は荷重増幅器6で増幅されA/D変
換器7に入力される。ここでA/D変換された荷重信号X
はCPU8に入力され演算処理される。CPU8で演算処理され
た荷重値Xoutがレコーダ13に出力され、レコーダ13で記
録される。FIG. 1 is a block diagram showing a calibration device of the present invention, in which a load signal from a load cell 5 (n pieces from No. 1 to No. n are used in a switching manner) is amplified by a weight amplifier 6. It is input to the / D converter 7. A / D converted load signal X here
Is input to the CPU 8 and processed. The load value Xout calculated by the CPU 8 is output to the recorder 13 and recorded by the recorder 13.
CPU8のメモリ10には、使用するNo.1〜No.nまでのロード
セルの種別と、ロードセルごとに測定レンジ並に測定レ
ンジに対応する校正係数が記憶されており、荷重値Xout
を求める際に適宜必要な校正係数が読み出される。The memory 10 of the CPU8 stores the type of load cell used from No. 1 to No. n, the measurement range for each load cell, and the calibration coefficient corresponding to the measurement range.
A necessary calibration coefficient is read out when calculating
演算処理は、荷重信号のA/D変換値Xに対して校正係数
をJxとすると、荷重値XoutをXout=Jx・Xとして算出す
るように行なわれる。The calculation process is performed to calculate the load value Xout as Xout = Jx · X, where Jx is the calibration coefficient for the A / D converted value X of the load signal.
ここで校正係数Jxは、荷重増幅器7の最高感度測定レン
ジ例えば×100において、そのフルスケール実荷重を与
えた時、Xoutがフルスケール値fになるように設定され
るものである。かかるレンジ以外で、その設定フルスケ
ール荷重をロードセルに与えた場合を仮定すればXoutは
ロードセルの直線性の影響からf+αを示すことにな
る。すなわち、フルスケールに対してαの誤差を生じる
ことになる。そこで、このレンジにおける校正係数をJx
・f/(f+α)とすれば、Xoutはフルスケール値fとな
る このようにして求められる校正係数を当該測定レンジに
対応した係数として、各ロードセルの測定レンジごとに
メモリ10に記憶させるものである。第1表は実施例にお
けるメモリ10での記憶状態を示す。Here, the calibration coefficient Jx is set so that Xout becomes the full-scale value f when the full-scale actual load is applied in the maximum sensitivity measurement range of the load amplifier 7, for example, × 100. If the set full-scale load is applied to the load cell in a range other than this range, Xout will show f + α due to the influence of the linearity of the load cell. That is, an error of α occurs with respect to full scale. Therefore, the calibration factor in this range is Jx
・ If f / (f + α) is set, Xout will be the full-scale value f. The calibration coefficient thus obtained is stored in the memory 10 for each measurement range of each load cell as a coefficient corresponding to the measurement range. is there. Table 1 shows the storage state in the memory 10 in the embodiment.
CPU8のメモリ10には、上記のように各ロードセルの測定
レンジごとに校正係数が記憶されているが、校正に際し
て必要な校正係数を読み出すには、ロードセル5の種別
を指示すロードセル種別指示手段11と荷重検出器6にお
ける測定レンジを指示する測定レンジ指示手段12とから
の指令に基づいて行なわれる。これらの指示手段11、12
としては、例えば切換スイッチ等を利用することができ
る。 The memory 10 of the CPU 8 stores the calibration coefficient for each measurement range of each load cell as described above. To read the calibration coefficient necessary for calibration, the load cell type instructing means 11 which indicates the type of the load cell 5 is read. And the measurement range instructing means 12 for instructing the measurement range in the load detector 6 are used. These indicating means 11, 12
For example, a changeover switch or the like can be used.
このように材料試験を行なう際に、使用するロードセル
とその測定レンジとがCPU8で判別され、必要な校正係数
が読み出され、測定荷重値ごとに校正が行なわれること
になる。In this way, when the material test is performed, the load cell to be used and its measurement range are discriminated by the CPU 8, the necessary calibration coefficient is read out, and the calibration is performed for each measured load value.
上記実施例では材料試験機のロードセルの荷重増幅器の
出力校正について説明したが、伸び計およびその伸び増
幅器の出力校正に関しても同様な構成を用いて実施でき
る。Although the output calibration of the load amplifier of the load cell of the material testing machine has been described in the above embodiment, the output calibration of the extensometer and its extension amplifier can be carried out using the same configuration.
[発明の効果] 上記説明から明らかなように、本発明は、校正用可変抵
抗等を用いて行なわれる調整操作なしに測定値の校正が
行なえるので精度を高めることができ、しかも複数個の
検出装置を切換えて使用する場合でも検出装置の各々に
対して、増幅器の測定レンジごとに適性かつ確実な校正
を行なうことができる材料試験機を提供する。[Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the present invention, the measurement value can be calibrated without the adjustment operation performed using the calibration variable resistor or the like, so that the accuracy can be increased, and moreover, a plurality of Provided is a material testing machine capable of performing appropriate and reliable calibration for each measuring range of an amplifier for each of the detecting devices even when the detecting devices are switched and used.
第1図は、本発明の構成を示すブロック図、第2図乃至
第4図は従来の校正を説明する図である。 5……ロードセル、6……荷重増幅器 7……A/D変換器、8……CPU 10……メモリ、11……ロードセル種別指示手段 12……測定レンジ指示手段FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the present invention, and FIGS. 2 to 4 are diagrams for explaining conventional calibration. 5 …… Load cell, 6 …… Weight amplifier 7 …… A / D converter, 8 …… CPU 10 …… Memory, 11 …… Load cell type indicating means 12 …… Measuring range indicating means
Claims (1)
または伸びなどの変化量を検出する材料試験機におい
て、検出装置の種別と各々の検出装置の各測定レンジを
記憶するとともに、各検出装置及び当該検出装置の各測
定レンジごとに対応する校正係数を記憶する記憶手段
と、測定に使用する検出装置の種別を指示する手段及び
使用測定レンジを指示する手段と、これら指示手段から
の指令によって、検出装置の種別及び当該検出装置の各
測定レンジに対応した校正係数を呼び出し、この校正係
数を検出装置からの出力信号に掛け合わせて測定値を校
正する演算手段とを備えたことを特徴とする材料試験
機。1. A material testing machine for detecting a change amount such as load or elongation by using a plurality of detecting devices in a switching manner, storing the type of the detecting device and each measuring range of each detecting device, Storage means for storing each detection device and a calibration coefficient corresponding to each measurement range of the detection device, means for instructing the type of the detection device used for measurement, and means for instructing the measurement range used, and from these instructing means By calling the calibration coefficient corresponding to the type of the detection device and each measurement range of the detection device, and multiplying the calibration coefficient with the output signal from the detection device to calibrate the measurement value. Material testing machine characterized by.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60297922A JPH0795022B2 (en) | 1985-12-28 | 1985-12-28 | Material testing machine |
CN 86108566 CN86108566A (en) | 1985-12-28 | 1986-12-27 | The bearing calibration of measured value |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60297922A JPH0795022B2 (en) | 1985-12-28 | 1985-12-28 | Material testing machine |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62167432A JPS62167432A (en) | 1987-07-23 |
JPH0795022B2 true JPH0795022B2 (en) | 1995-10-11 |
Family
ID=17852825
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60297922A Expired - Lifetime JPH0795022B2 (en) | 1985-12-28 | 1985-12-28 | Material testing machine |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0795022B2 (en) |
CN (1) | CN86108566A (en) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01137440U (en) * | 1988-03-16 | 1989-09-20 | ||
JP3526767B2 (en) * | 1998-12-11 | 2004-05-17 | 日本たばこ産業株式会社 | Material testing machine |
JP2008267935A (en) * | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Shimadzu Corp | Material testing machine and calibration method |
JP2008267936A (en) * | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Shimadzu Corp | Material testing machine and data correction method |
JP5098995B2 (en) * | 2008-12-19 | 2012-12-12 | 株式会社島津製作所 | Sensor characteristic correction device and material testing machine |
CN102062668A (en) * | 2010-12-06 | 2011-05-18 | 中颖电子股份有限公司 | Pressure sensor system calibrating circuit and method |
JP6202224B2 (en) * | 2014-12-05 | 2017-09-27 | 株式会社村田製作所 | Sensor module |
CN109100125B (en) * | 2018-06-28 | 2020-06-23 | 中国直升机设计研究所 | Method for correcting output signal of rotary amplifier |
CN110657833B (en) * | 2019-10-12 | 2023-02-10 | 湖南银河电气有限公司 | Novel calibration method for high-precision source meter integrated measuring equipment |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5454661A (en) * | 1977-10-11 | 1979-05-01 | Shimadzu Corp | Method and apparatus for calibration of detection circuits |
-
1985
- 1985-12-28 JP JP60297922A patent/JPH0795022B2/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-12-27 CN CN 86108566 patent/CN86108566A/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN86108566A (en) | 1988-05-18 |
JPS62167432A (en) | 1987-07-23 |
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