JPH0785055B2 - Band sequence pattern automatic reading method and device - Google Patents
Band sequence pattern automatic reading method and deviceInfo
- Publication number
- JPH0785055B2 JPH0785055B2 JP60241548A JP24154885A JPH0785055B2 JP H0785055 B2 JPH0785055 B2 JP H0785055B2 JP 60241548 A JP60241548 A JP 60241548A JP 24154885 A JP24154885 A JP 24154885A JP H0785055 B2 JPH0785055 B2 JP H0785055B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- band
- pattern
- grayscale data
- memory
- detected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Character Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はバンド配列パターン自動読取り方法および装置
に係り、特にX線フィルタに像影された遺伝子の塩基バ
ンド配列パターンの読取りに好適なバンド配列パターン
自動読取り方法および装置に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a band sequence pattern automatic reading method and apparatus, and more particularly to a band sequence pattern suitable for reading a base band sequence pattern of a gene imaged on an X-ray filter. The present invention relates to an automatic reading method and device.
生物の遺伝子は、デオキシリボ核酸(DNA)なる物質よ
りなり、アデニン(A),シトシン(C),グアニン
(G),チミン(T)の4種類の有機塩基が2重螺旋状
に配列された構造を有することが解明され、一般に知ら
れている。このDNAの塩基配列を決定する方法にショッ
トガン法がある。この方法では、各塩基を化学的に切断
する試薬でDNAの鎖をばらばらにし、電気泳動法により
各塩基を長さの違いにより配列させ各塩基をフィルム上
にX線像影する。第2図Aに示すように、このX線像影
されたフィルム3上には塩基コードA,C,G,Tのそれぞれ
に対して、一つのレーン内に、レーンにほぼ垂直を方向
に延在する各バンド4が複数配列されており、このフィ
ルム上の塩基配列を解析することにより、遺伝子を解析
することができる。The gene of an organism is composed of a substance called deoxyribonucleic acid (DNA), and has a structure in which four kinds of organic bases of adenine (A), cytosine (C), guanine (G) and thymine (T) are arranged in a double helix. Has been elucidated and is generally known. The shotgun method is a method for determining the nucleotide sequence of this DNA. In this method, DNA strands are disassembled with a reagent that chemically cleaves each base, and each base is arrayed according to a length difference by electrophoresis, and each base is imaged on a film by an X-ray image. As shown in FIG. 2A, each of the base codes A, C, G, and T on the film 3 on which the X-ray image was projected extends in a direction substantially perpendicular to the lane within one lane. A plurality of each existing band 4 is arranged, and the gene can be analyzed by analyzing the base sequence on this film.
この解析のため、フィルム上の塩基配列パターンをコン
ピュータへ入力する。このための入力装置としては、従
来、デジタイザを用い、上記X線フィルム3をこのデジ
タイザの上に置き、ペン又はカーソルでフィルム上のバ
ンド4の位置を順次指してデジタイザの出力信号をコン
ピュータに入力する装置がある。For this analysis, the base sequence pattern on the film is input to the computer. Conventionally, a digitizer has been used as an input device for this purpose, the X-ray film 3 is placed on the digitizer, and the position of the band 4 on the film is sequentially pointed with a pen or a cursor to input the output signal of the digitizer to a computer. There is a device to do.
しかし、従来の装置においてはX線フィルム上のバンド
をペン等で順次指すことにより入力を行なうため、X線
フィルム上の全バンドを入力するのに手間がかかり、長
時間の入力操作を行なうと入力ミスも多くなる。However, in the conventional apparatus, since input is performed by sequentially pointing the bands on the X-ray film with a pen or the like, it takes time and effort to input all the bands on the X-ray film, and if input operation is performed for a long time. There are many typos.
このため、塩基配列パターンの自動読取装置の開発が要
望されていた。Therefore, there has been a demand for the development of an automatic reader for nucleotide sequence patterns.
本願発明の目的はバンド位置自動読取り方法および装置
を提供することにある。An object of the present invention is to provide a band position automatic reading method and apparatus.
本願第1の発明においては、複数のレーン内にそれぞれ
複数のバンドを有するパターンを光電変換し、光電変換
された各絵素の濃淡データに基づき、レーン垂直方向の
複数の点をそれぞれ通過する線上にある画素の濃淡デー
タ(画素データ)の和(ヒストグラム)を検出し、該ヒ
ストグラムから、各レーン存在域を代表する点、たとえ
ば、各レーンの中心位置を検出し、検出された各レーン
の中心位置上の絵素の濃淡データを集めて、各レーンの
スペクトルを得て、該スペクトルから、その複数の極大
位置をバンド位置として検出する。In the first invention of the present application, a pattern having a plurality of bands in a plurality of lanes is photoelectrically converted, and on a line passing through a plurality of points in the lane vertical direction based on the grayscale data of each photoelectrically converted pixel. The sum (histogram) of the gray-scale data (pixel data) of the pixel is detected, the point representing each lane existence area, for example, the center position of each lane is detected from the histogram, and the detected center of each lane is detected. The grayscale data of the picture elements on the position is collected to obtain the spectrum of each lane, and the plurality of maximum positions are detected as band positions from the spectrum.
こうすることにより、レーン位置が正確に求まるので、
バンド代表位置たとえば中心位置を正確に求めることが
できる。By doing this, the lane position can be accurately determined.
The band representative position, for example, the center position can be accurately obtained.
特に好ましい、本願発明の実施態様においては、レーン
垂直方向のヒストグラムをレーン方向の微小区間ごとに
求め、その区間ごとにレーン域代表点の位置、たとえば
中心位置を求める。こうすることにより、レーンが必ら
ずしも直線でない場合でも、バンド位置を正確に求める
ことができる。In a particularly preferred embodiment of the present invention, a histogram in the lane vertical direction is obtained for each minute section in the lane direction, and the position of the lane area representative point, for example, the center position is obtained for each section. By doing so, the band position can be accurately obtained even when the lane is not necessarily a straight line.
さらに、本願発明の実施態様においては、レーン域を代
表する点として、レーン中心点、レーンの両端点の位置
を求め、これに基づき、各バンドの中心位置および両端
位置を求める。これにより、バンドがレーン方向に対し
て傾いても正しくバンド位置を求めることができる。Further, in the embodiment of the present invention, the positions of the lane center point and the both end points of the lane are obtained as the points representing the lane area, and the center position and both end positions of each band are obtained based on these. Thereby, even if the band is inclined with respect to the lane direction, the band position can be accurately obtained.
さらに、本願第2の発明においては本願第1の発明を実
施するのに好適な装置として、レーン垂直方向の異なる
位置に対する記憶位置を有する第1のメモリと、光電変
換された画素データを、パターンの各画素の二次元位置
に対応して記憶する第2のメモリと、パターンのレーン
垂直方向の一つの線上の画素が光電変換されるのに同期
して、該一つの線上の各画素データと該第1のメモリに
書き込み済みの対応するレーン垂直方向位置のデータを
加算して結果を再度第1のメモリに書き込み、レーン垂
直方向位置の各々に対するヒストグラムデータを形成す
る手段と、該第1のメモリのヒストグラムに基づき、各
レーンの存在域を代表する点の位置を検出し、この検出
点を通る線上の画素に対する画素データを該第2のメモ
リから読み出し、各レーンについてのスペクトルデータ
を得、該スペクトルデータの極大位置を各レーンのバン
ド位置として検出する手段を有する。Further, in the second invention of the present application, as a device suitable for carrying out the first invention of the present application, a first memory having storage locations for different positions in the vertical direction of the lane and pixel data photoelectrically converted A second memory for storing the two-dimensional position of each pixel, and the pixel data on the one line in synchronization with the photoelectric conversion of the pixel on one line in the lane vertical direction of the pattern. Means for adding corresponding lane vertical position data already written to the first memory and writing the result again to the first memory to form histogram data for each lane vertical position; Based on the histogram of the memory, the position of a point representing the existence area of each lane is detected, pixel data for pixels on a line passing through this detection point is read from the second memory, The resulting spectral data for lanes, comprising means for detecting the maximum position of the spectral data as a band position of each lane.
こうすることにより、パターン上の複数のレーン内のバ
ンド位置を高速に検出できる。By doing so, the band positions in a plurality of lanes on the pattern can be detected at high speed.
さらに、本発明の実施態様においては、上記加算手段
は、レーン方向の所定区間ごとに、上記ヒストグラムを
求める。この際第2のメモリは、2つの区間内の画素デ
ータを記憶する二つの領域からなり、新たな区間につい
てヒストグラムを求める際、この二つの領域が順次切り
換えて使用される。Further, in the embodiment of the present invention, the adding means obtains the histogram for each predetermined section in the lane direction. At this time, the second memory is composed of two areas for storing the pixel data in the two sections, and when the histogram is obtained for the new section, these two areas are sequentially switched and used.
こうすることにより、第2のメモリは、パターン上の全
画素データを記憶する必要がなく、装置が簡単化され
る。By doing so, the second memory does not need to store all pixel data on the pattern, which simplifies the device.
第1図(A),(B)はそれぞれ本発明になるバンド配
置パターン読取装置の一実施例のブロック系統図および
イメージスキャナ(5)の概略構成を示す。第1図
(A)において、イメージスキャナ5には例えばA3サイ
ズ程度の透明ガラス2が設けられている。1 (A) and 1 (B) show a block system diagram of an embodiment of a band arrangement pattern reading device according to the present invention and a schematic configuration of an image scanner (5), respectively. In FIG. 1A, the image scanner 5 is provided with, for example, a transparent glass 2 of about A3 size.
遺伝子の塩基配列がX線像影されているX線フィルム3
は透明ガラス2上に載置される。X線フィルム3には第
2(A)図に示す如く、ショットガン法により配列決定
された4種の塩基コードA,C,G,Tに夫々対応した実線で
示すバンド4が配列されて像影されている。通常X線フ
ィルム3には塩基コードA,C,D,G,Tを1組みとしてX軸
方向に複数組の塩基コードが像影されているが第2
(A)図においてはそのうちの1組のみを示している。
上記のX線フィルム3は塩基コードA,C,G,T夫々の有効
範囲であるレーンの長手方向がイメージスキャナ5のY
軸方向とほぼ一致するように位置決めされている。X-ray film 3 in which the base sequences of genes are imaged by X-ray images
Is placed on the transparent glass 2. As shown in FIG. 2 (A), the X-ray film 3 has an image in which bands 4 shown by solid lines corresponding to four kinds of base codes A, C, G and T sequenced by the shotgun method are arranged. It is shadowed. Normally, the X-ray film 3 has a plurality of base codes imaged in the X-axis direction with one base code A, C, D, G, T as one set.
Only one set is shown in FIG.
In the X-ray film 3 described above, the longitudinal direction of the lane which is the effective range of each of the base codes A, C, G and T is Y of the image scanner 5.
It is positioned so as to substantially coincide with the axial direction.
透明ガラス2位置に対応して1次元イメージセンサ6が
設けられている。一次元発光素子7よりの光がX線フィ
ルム3に照射され、X線フィルム3のX軸方向1ライン
分の反射光がイメージセンサ6に入射する。イメージセ
ンサ6はこの1ライン分の反射光を画素単位で光電変換
した後内蔵するチャージ・カップルド・ディバイス(CC
D)(図示せず)等を用いてシリアルに取り出し、取り
出した電気信号を例えば8ビットのディジタル信号にA/
D変換して出力する。このイメージセンサ6とは発光素
子7は駆動機構(図示せず)によりY軸方向に等速で移
動せしめられてX線フィルム3の読み取り検出を行な
う。また、読取装置にはスタートキー等の操作キー9が
設けられている。A one-dimensional image sensor 6 is provided corresponding to the position of the transparent glass 2. The light from the one-dimensional light emitting element 7 is applied to the X-ray film 3, and the reflected light of one line of the X-ray film 3 in the X-axis direction is incident on the image sensor 6. The image sensor 6 photoelectrically converts the reflected light for one line in pixel units, and then incorporates the charge coupled device (CC
D) (not shown) or the like and serially take out the electric signal thus taken out to, for example, an 8-bit digital signal A /
D-convert and output. The image sensor 6 and the light emitting element 7 are moved at a constant speed in the Y-axis direction by a drive mechanism (not shown) to detect and read the X-ray film 3. Further, the reading device is provided with operation keys 9 such as a start key.
上記イメージスキャナ5及び操作キー7は第1図(A)
に示すインターフェース回路8に接続されている。この
インターフェース回路8はイメージスキャナ5とCPU12
とのインターフェースをとるための回路である。The image scanner 5 and the operation keys 7 are shown in FIG.
The interface circuit 8 shown in FIG. The interface circuit 8 includes an image scanner 5 and a CPU 12
It is a circuit to interface with.
上記インターフェース回路8、CPU12、ROM14、RAM150、
ディスク装置16、インターフェース部17夫々はバスライ
ン13を介して相互に接続されている。The interface circuit 8, CPU12, ROM14, RAM150,
The disk device 16 and the interface unit 17 are connected to each other via a bus line 13.
インターフェース回路8は第1図(C)に示す構成であ
る。第1図(C)において制御回路30は、CPU12よりバ
ス13を介して端子31,32に入力されたアドレス信号及び
制御信号に応じてインターフェース回路8内の他回路の
動作制御信号を生成する。コマンドレジスタ33は、端子
34に入力されるイメージスキャナ5及びその駆動機構に
対するCPU12からの制御信号を記憶し、制御回路30より
の動作信号に応じてこれを端子35よりイメージスキャナ
5及びその駆動機構に供給する。ステータスレジスタ36
は端子37より入力されるイメージスキャナ5及びその駆
動機構のステータス信号と、制御回路30及びアドレスカ
ウンタ38等のインターフェース回路8内部のステータス
信号を記憶し、制御回路30に制御されてこれを端子39よ
りバスライン13を介してCPU12に供給する。The interface circuit 8 has the configuration shown in FIG. In FIG. 1C, the control circuit 30 generates operation control signals for other circuits in the interface circuit 8 according to the address signals and control signals input from the CPU 12 to the terminals 31, 32 via the bus 13. Command register 33 is a terminal
A control signal from the CPU 12 for the image scanner 5 and its driving mechanism input to the memory 34 is stored, and this is supplied to the image scanner 5 and its driving mechanism from a terminal 35 in accordance with an operation signal from the control circuit 30. Status register 36
Stores the status signals of the image scanner 5 and its driving mechanism input from the terminal 37 and the status signals inside the interface circuit 8 such as the control circuit 30 and the address counter 38. It is supplied to the CPU 12 via the bus line 13.
アドレスカウンタ38は制御回路30より供給されるクロッ
クを計数してX軸方向1ライン上における画素位置に対
応したアドレスを生成するXカウンタ38aと、Xカウン
タのキャリーを計数してY軸方向の画素位置に対したア
ドレスを生成するYカウンタ38bとより構成されてい
る。Xカウンタ38a及びYカウンタ38bの出力アドレスは
画像父メモリ40に供給され、Xカウンタ38aの出力アド
レスはさらに加算メモリ41にも供給される。The address counter 38 counts the clock supplied from the control circuit 30 to generate an address corresponding to the pixel position on one line in the X-axis direction, and the carry of the X counter to count the pixels in the Y-axis direction. It is composed of a Y counter 38b which generates an address corresponding to a position. The output addresses of the X counter 38a and the Y counter 38b are supplied to the image memory 40, and the output address of the X counter 38a is further supplied to the addition memory 41.
画像メモリ40は、端子42から入力されるイメージセンサ
6の出力画素データを上記アドレスに応じて記憶し、ま
た制御回路30の制御により記憶した画素データを読み出
し端子43よりCPU12に供給する。また、端子42に入力さ
れる画素データは加算器44に供給されて、ここで加算メ
モリ41より読み出され、ラッチ回路45にラッチされてい
る加算画素データと加算される。加算器44が出力する加
算画素データは再び加算メモリ41に記憶される。また、
加算メモリ41に記憶された加算画素データは制御回路30
の制御により読み出し端子46よりCPU12に供給する。The image memory 40 stores the output pixel data of the image sensor 6 input from the terminal 42 according to the address, and supplies the pixel data stored under the control of the control circuit 30 to the CPU 12 from the read terminal 43. Further, the pixel data input to the terminal 42 is supplied to the adder 44, where it is read from the addition memory 41 and added to the addition pixel data latched by the latch circuit 45. The added pixel data output by the adder 44 is stored in the addition memory 41 again. Also,
The addition pixel data stored in the addition memory 41 is the control circuit 30.
Is supplied to the CPU 12 from the read terminal 46 under the control of.
第3図はCPU12で実行されるバンド配列読み取りプログ
ラムの一実施例のフローチャートを示す。操作キー7内
のスタートキーの押動により発生された操作信号がイン
ターフェース回路8を介してCPU12に供給されると、CPU
12は第3図(A)に示す処理の実行を開始しイメージセ
ンサ6によるX線フィルム3の読み取り及びスペクトル
収集の処理が実行される(ステップ100)。FIG. 3 shows a flow chart of an embodiment of the band array reading program executed by the CPU 12. When the operation signal generated by pressing the start key in the operation key 7 is supplied to the CPU 12 via the interface circuit 8, the CPU
12 starts execution of the process shown in FIG. 3 (A), and the process of reading the X-ray film 3 by the image sensor 6 and the process of spectrum collection are executed (step 100).
ステップ100においては、第3図(B)に示す処理が実
行される。同図中、ステップ130においてCPU12はインタ
ーフェース回路8を介してイメージセンサ6に制御信号
を供給し、これによってイメージセンサ6は駆動機構に
よりY軸方向に距離d1(d1は例えば数十mm)だけ一定速
度で移動せしめられる。イメージセンサ5は微小距離d2
(例えばd2=1/16mm)移動する毎にX軸方向1ライン分
の画素データ(検出データ)をシリアルに出力する。こ
の画素データはインターフェース回路8に供給され、イ
ンターフェース回路8に内蔵される画像メモリに順次書
き込まれる。また、この画素データはインターフェース
回路8内の加算器44により、加算メモリ41の、X軸方向
1ラインの各検出位置に対応したアドレスから読み出さ
れた加算画素データと加算されて上記加算メモリ4の読
み出しと同じアドレスに記憶される。In step 100, the process shown in FIG. 3 (B) is executed. In the figure, in step 130, the CPU 12 supplies a control signal to the image sensor 6 via the interface circuit 8, whereby the image sensor 6 is moved by the drive mechanism in the Y-axis direction at a distance d 1 (d 1 is, for example, several tens of mm). Only you can move at a constant speed. The image sensor 5 has a small distance d 2
Every time it moves (for example, d 2 = 1/16 mm), pixel data (detection data) for one line in the X-axis direction is serially output. The pixel data is supplied to the interface circuit 8 and sequentially written in the image memory built in the interface circuit 8. Further, this pixel data is added by the adder 44 in the interface circuit 8 to the addition pixel data read from the address of the addition memory 41 corresponding to each detection position of one line in the X-axis direction, and the addition memory 4 is added. It is stored in the same address as the reading of.
つまりイメージセンサ6が距離d1間の画素データ読み取
るのと同時並列に加算メモリ41のX軸方向1ラインの各
検出位置に対応したアドレスに、Y軸方向の微小距離d2
毎の画素データの和である加算データが記憶され,ヒス
トグラムが得られる。That is, the image sensor 6 reads the pixel data for the distance d 1 at the same time in parallel to the address corresponding to each detection position of one line in the X-axis direction of the addition memory 41 at the minute distance d 2 in the Y-axis direction.
The addition data, which is the sum of the pixel data for each, is stored and a histogram is obtained.
以下、上記ステップ130の処理をより詳細に説明する。Hereinafter, the process of step 130 will be described in more detail.
この第4図(A)に示すごとくシリアル伝送された画素
データは第1図(C)に示す端子42に入力され、画像メ
モリ40及び加算器44に供給される。この画素データと同
期してアドレスカウンタ38のXカウンタ38aはその出力
アドレス値を第4図(B)に示すごとく変化させる。ま
た、制御回路30は第4図(C)に示すごとき動作制御信
号(ライトストローブ)を加算メモリ41に供給し、加算
メモリ41はライトストローブのローレベル期間に書き込
みを行ない、ハイレベル期間に読み出しを行なう。画像
メモリ40にも第4図(C)と同一のライトストローブが
供給され、そのローレベル期間に画像メモリ40の書き込
みが行なわれる。The pixel data serially transmitted as shown in FIG. 4 (A) is input to the terminal 42 shown in FIG. 1 (C) and supplied to the image memory 40 and the adder 44. In synchronization with this pixel data, the X counter 38a of the address counter 38 changes its output address value as shown in FIG. 4 (B). Further, the control circuit 30 supplies an operation control signal (write strobe) as shown in FIG. 4 (C) to the addition memory 41, and the addition memory 41 writes in the low level period of the write strobe and reads in the high level period. Do. The same write strobe as in FIG. 4 (C) is supplied to the image memory 40, and the image memory 40 is written during the low level period.
加算メモリ41はX軸方向1ラインの各検出位置に対応し
たアドレスを有しており、CPU12がイメージセンサ6に
対して読取開始を指示するときに、全アドレスの内容が
ゼロクリアされている。この後、加算メモリ41は第4図
(C)に示すライトストローブのローレベル期間にXカ
ウンタ38aより指示されたアドレスに記憶されている加
算画像データを読み出す。ラッチ回路45は第4図(D)
に示すごとくライトストローブを反転したラッチパルス
を制御回路30より供給されて、このラッチパルスの立上
がり時点、つまり加算メモリ41の読み出し終了時点で上
記の加算画素データのラッチを行なう。これによってラ
ッチ回路45より加算器44に供給される。加算画素データ
は第4図(E)に示すごとく変化する。従って加算器44
で得られた端子44よりの画素データとラッチ回路45より
の加算画素データとの加算値である加算画素データは第
4図(F)に示すごとく変化し、この加算画素データの
うち斜線で示す加算画素データが、第4図(C)に示す
ストローブのローレベル期間に加算メモリ41に書き込ま
れる。The addition memory 41 has an address corresponding to each detection position of one line in the X-axis direction, and when the CPU 12 instructs the image sensor 6 to start reading, the contents of all addresses are cleared to zero. Thereafter, the addition memory 41 reads the addition image data stored at the address designated by the X counter 38a during the low level period of the write strobe shown in FIG. 4 (C). The latch circuit 45 is shown in FIG. 4 (D).
A latch pulse with the write strobe inverted is supplied from the control circuit 30 as shown in (4), and the above-mentioned added pixel data is latched at the rising edge of this latch pulse, that is, at the end of reading from the addition memory 41. As a result, the data is supplied from the latch circuit 45 to the adder 44. The added pixel data changes as shown in FIG. 4 (E). Therefore, the adder 44
The addition pixel data, which is the addition value of the pixel data from the terminal 44 and the addition pixel data from the latch circuit 45 obtained in step (4), changes as shown in FIG. The addition pixel data is written in the addition memory 41 during the low level period of the strobe shown in FIG.
これによってイメージセンサ6が距離d1だけ移動したと
きX軸方向の各画素位置(検出位置)に対応した加算メ
モリ41の各アドレスには、Y軸方向の微小距離d1ごとの
画素データの総和である加算画素データつまりヒストグ
ラムが記憶されている。Thus each pixel position in the X-axis direction when moving the image sensor 6 by a distance d 1 to the address of the addition memory 41 corresponding to the (detected position), the sum of pixel data for each small distance d 1 in the Y-axis direction The added pixel data, that is, the histogram is stored.
ところで画像メモリ40はYカウンタ38bの出力アドレス
の最上位ビットに応じて第1の領域41と第2の領域42と
に区分されており、最初にCPU12がイメージセンサ6に
対して読取を指示するとき上記最上位ビットの値は“0"
で第1の領域41が選択され、その後読取指示のたびにこ
の値が変化する。画像メモリ40に供給されるアドレスカ
ウンタ38のアドレスは端子42より画素データが入力され
るたびにインクリメントされ、上記のごとくイメージセ
ンサ6が最初に距離d1だけ移動する間に得られた画素デ
ータ(例えば、第2図の部分領域31内のデータ)はすべ
て第1の領域41に記憶される。なお、次にイメージセン
サ6が距離d1だけ移動する間に得られた画素データ(例
えば、第2図の部分領域32内のデータ)はすべて第2の
領域42に記憶される。The image memory 40 is divided into a first area 41 and a second area 42 according to the most significant bit of the output address of the Y counter 38b, and the CPU 12 first instructs the image sensor 6 to read. When the value of the above most significant bit is “0”
The first area 41 is selected with, and this value changes each time the reading instruction is given. The address of the address counter 38 supplied to the image memory 40 is incremented each time pixel data is input from the terminal 42, and the pixel data (while the image sensor 6 is initially moved by the distance d 1 as described above) ( For example, all the data in the partial area 31 in FIG. 2) is stored in the first area 41. Note that all pixel data (for example, data in the partial area 32 in FIG. 2) obtained while the image sensor 6 moves the distance d 1 is stored in the second area 42 next.
このように、X線フィルム3からの画素データを読み取
り画像メモリ40へ書き込むと同時に、X軸方向の各画素
位置単位毎にY軸方向の所定区間(距離d1間)の画素デ
ータの加算が行なわれて加算メモリ41に書き込まれヒス
トグラムの生成が行なわれる。以上がステップ130の内
容である。上記ヒストグラムの生成は加算器44等のハー
ドウェアで高速に行なわれ、これによって画像メモリ40
への画素データの書き込みと同時並列に処理することが
できる。In this way, the pixel data from the X-ray film 3 is read and written in the image memory 40, and at the same time, the pixel data in the predetermined section (distance d 1 ) in the Y-axis direction is added for each pixel position unit in the X-axis direction. Then, it is written in the addition memory 41 and a histogram is generated. The above is the contents of step 130. The generation of the above histogram is performed at high speed by hardware such as the adder 44, whereby the image memory 40
It can be processed in parallel with the writing of the pixel data to the pixel.
また、上記ヒストグラムの生成は加算メモリ41と単一の
加算器44、およびこれに付随するラッチ回路45により行
なわれ、部品点数が少なくその回路構成は簡単である。Further, the histogram is generated by the addition memory 41, the single adder 44, and the latch circuit 45 attached thereto, and the number of parts is small and the circuit configuration is simple.
加算メモリ41に記憶されている。ヒストグラムはアナロ
グ量に換算すると第5図(A)に示す如き波形となる。
ステップ131において、CPU12は加算メモリ41のヒストグ
ラムをX方向に関して微分して、そのアナログ換算値が
第5図(B)に示す如き波形となる微分値を得、これを
RAM15内の作業領域(図示せず)に記憶する。更に微分
値の正の最大値、負の最大値夫々を基準にして、例えば
夫々の1/2の値である正の基準値THH、負の基準値THL夫
々を設定する。この後微分値が正の基準値THHを超える
点及び負の基準THL未満となる点xLA,xRA,xLC,xRC,xLG,x
RG,xLT,xRT夫々の値を求め、部分領域31(第2図)にお
ける塩基コードA,C,G,T夫々のレーンのX軸方向の左端
と右端の位置として認識する(ステップ131)。これに
続いて点xLA,xRA,xLC,xRC,xLGとxRG,xLTとxRT夫々の中
点xMA,xMC,xMG,xMC夫々の値を計算する。これらの点xLi
〜xRi(i=A,C,G,T)をサンプリング点として認識する
(ステップ132)。It is stored in the addition memory 41. When converted into an analog amount, the histogram has a waveform as shown in FIG.
In step 131, the CPU 12 differentiates the histogram of the addition memory 41 in the X direction to obtain a differential value whose analog conversion value has a waveform as shown in FIG.
It is stored in a work area (not shown) in the RAM 15. Further, with reference to the maximum positive value and the maximum negative value of the differential value, for example, a positive reference value THH and a negative reference value THL, which are half the respective values, are set. After this point, the point where the differential value exceeds the positive reference value THH and the point where it is less than the negative reference THL x LA , x RA , x LC , x RC , x LG , x
The values of RG , x LT , and x RT are calculated and recognized as the positions of the left and right ends in the X-axis direction of the lanes of the base codes A, C, G, and T in the partial area 31 (FIG. 2) (step 131). ). Subsequently, the values of the midpoints x MA , x MC , x MG , x MC of the points x LA , x RA , x LC , x RC , x LG and x RG , x LT and x RT are calculated. These points x Li
.About.x Ri (i = A, C, G, T) is recognized as a sampling point (step 132).
この後、CPU12はイメージセンサ6を更にY軸方向に距
離d1だけ移動させ、イメージセンサ6の出力する画素デ
ータを画像メモリ40の第2の領域42に順次記憶させ、か
つ加算メモリ41にヒストグラムとしての加算画素データ
を記憶させる(ステップ133)。この後ステップ131と同
様にして各レーンの左端と右端と右端x′Li,x′Ri(i
=A,C,G,T)夫々の値を求め各塩基コードのレーンの位
置として認識する(ステップ134)。更に上記各点の値
に基づいて第2の部分領域32(第2図)における各レー
ンの中点x′Mi(i=A,C,G,T)を求め全サンプリング
点x′Li,Mi,Ri(i=A,G,C,T)の値が求められる。After that, the CPU 12 moves the image sensor 6 further in the Y-axis direction by the distance d 1 so that the pixel data output from the image sensor 6 is sequentially stored in the second area 42 of the image memory 40, and the histogram is stored in the addition memory 41. The added pixel data as is stored (step 133). Thereafter, as in step 131, the left end, the right end, and the right end of each lane x ′ Li , x ′ Ri (i
= A, C, G, T) and each value is recognized as the position of the lane of each base code (step 134). Further, the midpoint x'Mi (i = A, C, G, T) of each lane in the second partial area 32 (Fig. 2) is calculated based on the values of the above points, and all sampling points x'Li, Mi , Ri (i = A, G, C, T) values are obtained.
ここで、加算した領域において、特定のレーンに、1つ
も抽出すべきバンドがなくても、レーン内の濃淡値の方
が背景の濃淡値より大きいため、加算ヒストグラムで
は、有意な差が得られ、レーンを求めることができる。
しかし、この濃淡値の差が検出器の感度以下の場合など
で、加算ヒストグラムで差が求まらない場合は、その前
に求まったレーンの境界値とすれば良い。また、レーン
の求まらない小区間が第1の小区間であれば、求まった
他の塩基に該当するレーンの間を、比例配分すれば良
い。つまり、2本のレーンが求まらなければ、求まらな
い区間を2分割し、その中央をレーンの中心とすれば良
い。Here, even if there is no band to be extracted in a specific lane in the added area, the gray value in the lane is larger than the gray value of the background, and therefore a significant difference is obtained in the addition histogram. , You can ask for a lane.
However, if the difference in gray value is less than the sensitivity of the detector and the difference cannot be found in the addition histogram, the boundary value of the lane found before that may be used. If the small section for which the lane is not found is the first small section, the lanes corresponding to the other found bases may be proportionally distributed. In other words, if two lanes cannot be found, a section that cannot be found may be divided into two and the center thereof may be the center of the lane.
上記のサンプリング点xLi,xMi,xRi及びx′Li,x′Mi,
x′Ri(i=A,C,G,T)はY軸方向距離d1の間の加算値に
基づいて得られたものであるから第1及び第2の部分領
域31,32のY軸方向の中央位置における各レーンの左
端,中心,右端の位置pLi,pMi,pRi,p′Li,p′Mi,p′Ri,
p′Ri(i=A,C,G,T)とみなすことができる。したがっ
て、点pLiとp′Ri,pMiとp′Mi,p′Riとp′Miを結ぶ
線上の画素データを画像メモリ40から読み出せば、それ
ぞれ、レーンの左端、中央、右端における画素データ列
(スペクトル)が得られる。The sampling points x Li , x Mi , x Ri and x'Li , x ' Mi ,
Since x ′ Ri (i = A, C, G, T) is obtained based on the added value during the Y-axis direction distance d 1 , the Y-axis of the first and second partial regions 31 and 32 is Positions of the left, center, and right ends of each lane at the center position in the direction p Li , p Mi , p Ri , p ' Li , p' Mi , p ' Ri ,
It can be regarded as p ′ Ri (i = A, C, G, T). Therefore, if the pixel data on the line connecting the points p Li and p ′ Ri , p Mi and p ′ Mi , and p ′ Ri and p ′ Mi are read from the image memory 40, the pixels at the left end, the center, and the right end of the lane are respectively read. A data string (spectrum) is obtained.
ところで、この時点において、画像メモリ40の第1及び
第2の領域41,42にはフィルム3のそれぞれ第1,第2の
部分領域31,32(第2図)の画素データが記憶されてい
る。このため、CPU12は、点pLiとp′Liを結ぶ直線上に
対応する位置(アドレス)の画素データを点pLiより点
p′Li方向に順次読み出して、RAM15内の所定アドレス
に順次書込んで点pLA,p′LA間のスペクトル収集を行な
う。同様にして点pMA,p′MA間、点pRA,p′RA間夫々のス
ペクトル収集を行なう。同様のことを他のレーンについ
て行なう。(ステップ136)。これによって各塩基コー
ドA,C,G,T夫々はバンドの両端及び中央の3点でスペク
トル収集される。この後画像メモリ40の第1の領域41と
第2の領域42とが切換えて使用される(ステップ13
7)。次にイメージセンサ6が第1図(A)に示す透明
ガラス2の右端まで走査してX線フィルム3の全面のス
ペクトル収集が終了したかどうかが判別され(ステップ
138)、終了していない場合にはステップ133に移動す
る。ここでステップ137において画像メモリ40の第1の
領域41と第2の領域42が切換えられているため、ステッ
プ133では前回画素データが書き込まれた画像メモリ40
内の領域(例えば第2の領域42)と異なる領域(例えば
第1の領域41)に次の距離d1の領域33(第2図)の画素
データが順次書込まれる。このようにしてステップ33〜
37を繰り返し実行することによりX線フィルム3の全面
のスペクトル収集が行なわれる。こうしてステップ100
が終了する。By the way, at this point, the pixel data of the first and second partial regions 31 and 32 (FIG. 2) of the film 3 are stored in the first and second regions 41 and 42 of the image memory 40, respectively. . Therefore, CPU 12 sequentially reads the point p Li and p 'point than the point p Li pixel data of the corresponding position on the straight line connecting the Li (address) p' Li direction, sequentially writing the predetermined address in the RAM15 Then, the spectra are collected between the points p LA and p ′ LA . Similarly, spectra are collected between points p MA and p ′ MA and between points p RA and p ′ RA . Do the same for the other lanes. (Step 136). As a result, each base code A, C, G, T is spectrally collected at both ends and the center of the band. Thereafter, the first area 41 and the second area 42 of the image memory 40 are switched and used (step 13).
7). Next, the image sensor 6 scans to the right end of the transparent glass 2 shown in FIG. 1 (A) to determine whether or not the spectrum acquisition of the entire surface of the X-ray film 3 is completed (step
138), and if not completed, move to step 133. Here, since the first area 41 and the second area 42 of the image memory 40 are switched in step 137, in step 133 the image memory 40 in which the previous pixel data was written.
The pixel data of the area 33 (FIG. 2) at the next distance d 1 is sequentially written in an area (for example, the first area 41) different from the internal area (for example, the second area 42). In this way, step 33 ~
By repeating 37, the spectrum of the entire surface of the X-ray film 3 is collected. Thus step 100
Ends.
上記ステップ100において、各塩基コードA,C,G,T夫々に
対して3種類で合計12種類のスペクトルSLi,SMi,S
Ri(i=A,C,G,T)が収集されてRAM15に各画素のY軸位
置順に記憶されている。次のステップ200ではスペクト
ルSLi,SMi,SRi(i=A,C,G,T)夫々を解析してバンド位
置検出が行なわれる。第3図(C)はこの処理200の詳
細なフローチャートを示す。ところでスペクトルSLi,S
Mi,SRi(i=A,C,G,T)は、それぞれアナログ量S
(y)に換算すると第6図(A)に示す如き波形であ
る。第3図(C)のステップ230においては、CPU12は各
スペクトルS(y)をRAM15より読み出し、その微分を
行ない、アナログ換算値が第6図(B)に示す波形とな
る微分スペクトルS′(y)を求める。この後微分スペ
クトルS′(y)の正の最大値、負の最大値夫々を基準
として、例えば正の最大値、負の最大値夫々の1/2の値
である正の基準値THH、負の基準値THL夫々を設定する
(ステップ131)。In the above step 100, 12 kinds of spectra S Li , S Mi , S in total of 3 kinds for each base code A, C, G, T
Ri (i = A, C, G, T) is collected and stored in the RAM 15 in the order of the Y-axis position of each pixel. In the next step 200, band positions are detected by analyzing the spectra S Li , S Mi and S Ri (i = A, C, G, T). FIG. 3C shows a detailed flowchart of this process 200. By the way, the spectrum S Li , S
Mi and S Ri (i = A, C, G, T) are analog quantities S
When converted into (y), the waveform is as shown in FIG. 6 (A). In step 230 of FIG. 3 (C), the CPU 12 reads each spectrum S (y) from the RAM 15 and differentiates the spectrum S (y) so that the analog conversion value becomes a waveform shown in FIG. 6 (B). y) is calculated. After that, with reference to the maximum positive value and the maximum negative value of the differential spectrum S ′ (y) as a reference, for example, a positive reference value THH that is a half value of the maximum positive value and a maximum negative value, and a negative reference value THH Each of the reference values THL of is set (step 131).
次に微分スペクトルS′(y)が正の基準値THH以上の
値から正の基準値THH未満に変化するY軸方向の値y1,
y4,y7,……,及び微分スペクトルS′(y)が負の基準
値THL以上の値から負の基準値THL未満の値に変化するY
軸方向の値y3,y6,y9,……が求められピーク存在範囲y1
〜y3,y4〜y6,y7〜y9,……が検出される(ステップ13
2)。この後上記ピーク存在範囲y1〜y3について微分ス
ペクトルS′(y)が0であり、したがって、スペクト
ルS(y)が極大となるY軸方向の値y2が求められ、同
様して各ピーク存在範囲y4〜y6,y7〜y9,……夫々におい
て微分スペクトルS′(y)が0で、したがって、スペ
クトルS(y)が極大となるY軸方向の値y5,y8,……が
求められる(ステップ133)。ここで求められた値y3,
y5,y8,……がピーク点の位置である。こうして、バンド
位置を表わす解析スペクトルSS(y)が得られる。解析
スペクトルSS(y)はY軸方向の画素単位でアドレスが
付されバンド存在位置の値が例えば“1"、バンド非存在
位置の値が“0"とされたテーブルとして、RAM15に記憶
される。このように、微分スペクトルS′(y)を用い
てバンド存在範囲を検出し、更にこのバンド存在範囲内
で微分スペクトルS′(y)が0で、したがって、スペ
クトルS(y)が最大となる点をバンド位置として検出
することにより、バンドの濃淡及びバンド幅の大小に拘
らずバンドの存在位置を正確に特定することができる。Next, the value y 1 in the Y-axis direction in which the differential spectrum S ′ (y) changes from a value equal to or greater than the positive reference value THH to less than the positive reference value THH,
Y 4 , y 7 , ..., And the differential spectrum S ′ (y) changes from a value equal to or greater than the negative reference value THL to a value less than the negative reference value THL.
The values y 3 , y 6 , y 9 , ... in the axial direction are obtained and the peak existing range y 1
〜Y 3 , y 4 〜y 6 , y 7 〜y 9 , ... are detected (step 13
2). After that, the differential spectrum S ′ (y) is 0 for the peak existence range y 1 to y 3 , and therefore the value y 2 in the Y-axis direction at which the spectrum S (y) is maximized is obtained. peak existence range y 4 ~y 6, y 7 ~y 9, a differential spectrum S '(y) is 0 at ...... respectively, thus, Y-axis direction of the value y 5 to spectrum S (y) is the maximum, y 8 ... Is required (step 133). The value obtained here y 3 ,
The positions of peak points are y 5 , y 8 , .... In this way, the analysis spectrum SS (y) representing the band position is obtained. The analysis spectrum SS (y) is stored in the RAM 15 as a table in which an address is added in pixel units in the Y-axis direction, the value of the band existence position is “1”, and the value of the band non-existence position is “0”. . Thus, the differential spectrum S '(y) is used to detect the band existence range, and the differential spectrum S' (y) is 0 within this band existence range, and therefore the spectrum S (y) becomes maximum. By detecting the point as the band position, the existence position of the band can be accurately specified regardless of the density of the band and the size of the band width.
上記ピーク検出の後、正の基準値THHが所定の値αと比
較され(ステップ134)、正の基準値THHが大なる場合ス
テップ135に移行する。ステップ135では正の基準値TH
H、負の基準値THL夫々が今までの値の例えば1/2に更新
され、ステップ132に移行する。これによって新たな正
の基準値THH及び負の基準値THLを用いてピーク検出が繰
返される(ステップ133)が、前回のステップ132で求め
られた存在範囲y1〜y3,y4〜y6,y7〜y9においてはピーク
検出処理は行なわれない。ステップ134で正の基準値THH
が所定値αより小と判別されると一つのスペクトルにつ
いての第3図(C)の処理が終了する。この第3図
(C)の処理はスペクトルSLi,SMi,SRi(i=A,C,G,T)
すべてに対して行なわれバンド検出情報である解析スペ
クトルSSLi,SSMi,SSRi(i=A,C,G,T)が得られる。After the peak is detected, the positive reference value THH is compared with a predetermined value α (step 134), and when the positive reference value THH is large, the routine proceeds to step 135. In step 135, the positive reference value TH
Each of H and the negative reference value THL is updated to, for example, 1/2 of the value so far, and the process proceeds to step 132. As a result, peak detection is repeated using the new positive reference value THH and negative reference value THL (step 133), but the existing range y 1 to y 3 , y 4 to y 6 obtained in the previous step 132 is repeated. , y 7 to y 9 are not subjected to peak detection processing. Positive reference value THH in step 134
When is smaller than the predetermined value α, the processing of FIG. 3 (C) for one spectrum is completed. The processing of FIG. 3 (C) is performed by the spectrum S Li , S Mi , S Ri (i = A, C, G, T).
Analysis spectra SS Li , SS Mi , and SS Ri (i = A, C, G, T) that are performed for all the bands and are band detection information are obtained.
次のステップ300ではバンド位置の正規化が、第3図
(D)に示すルーチンで行なわれる。In the next step 300, the band position is normalized by the routine shown in FIG. 3 (D).
第3図(D)において、塩基コードCについてはRAM15
内の解析スペクトルSSMCがY軸方向順にサーチされて、
値が“1"である解析スペクトルSSMCのアドレスつまり第
6図に示すY軸方向位置の値y51が求められる(ステッ
プ330)。ステップ331では値が“1"の解析スペクトルに
SSMCがサーチされたかが判別され、サーチされた場合ス
テップ332へ移行する。ステップ332ではこのサーチで求
められた値y51近傍(Y軸方向)で解析スペクトルSSLC,
SSLR夫々の値が“1"となる点の値Y座標y41,y61夫々が
求められ、バンドCの左端、中央、右端の位置(y41,y
51,y61)の検出が行なわれる。勿論値y41,y61が求めら
れない場合、値y51は誤りと認識されてバンドCの存在
は検出されない。この後、検出されたバンドC1上の3点
のy41,y51,y61を通る直線の傾きθC1が算出される(ス
テップ333)。In FIG. 3 (D), the base code C is RAM15.
The analysis spectrum SS MC in is searched in order of the Y-axis direction,
The address of the analysis spectrum SS MC having the value "1", that is, the value y 51 of the position in the Y-axis direction shown in FIG. 6 is obtained (step 330). In step 331, the analysis spectrum with the value "1" is displayed.
It is determined whether SS MC has been searched, and if searched, the process proceeds to step 332. In step 332, the analysis spectrum SS LC , in the vicinity of the value y 51 obtained in this search (Y-axis direction)
The value Y coordinate y 41 , y 61 of the point where each value of SS LR becomes “1” is obtained, and the left end, center, and right end positions (y 41 , y) of band C are obtained.
51 , y 61 ) is detected. Of course, when the values y 41 and y 61 cannot be obtained, the value y 51 is recognized as an error and the existence of the band C is not detected. After that, the inclination θ C1 of the straight line passing through the three points y 41 , y 51 , and y 61 on the detected band C 1 is calculated (step 333).
次に値y51とな傾きθC1を用いて、塩基コードC,Gの境界
II(第7図)における、バンドC1のy軸方向位置CINの
値(正規化値)が算出される(ステップ334)。この後
ステップ330に移行してステップ330〜334が繰り返し実
行され、正規化値C2N,……が求められる。スペクトルSS
MCのサーチが終了すると塩基コードCに対する第3図
(D)の処理が終了し、この後塩基コードGに対して第
3図(D)の処理が未実行が判定され(ステップ33
5)、同様にして正規化位置g1N,g2N,……が求められ
る。その後、塩基コードAについては解析スペクトルSS
MAのサーチがRAM15に対して行なわれ(ステップ336)、
解析スペクトルSSMAのY軸方向位置の値、例えば、y21
が求められたときには(ステップ337)、解析スペクト
ルSSLA,SSRA夫々の値が“1"となる値y11,y31夫々が求め
られバンドA1の位置(y11,y21,y31)の検出が行なわれ
る(ステップ338)。更にステップ338でバンドA1の3点
の値y11,y21,y31を通る直線の傾きθa1が求められ(ス
テップ339)、更に値y31と傾きθa1を用いて塩基コード
A,Cの境界Iにおける準正規化値α1が算出される(ス
テップ340)。Next, using the slope y C1 with the value y 51 , the boundary between the base codes C and G
The value (normalized value) of the y-axis direction position C IN of band C 1 in II (FIG. 7) is calculated (step 334). After that, the process proceeds to step 330, and steps 330 to 334 are repeatedly executed to obtain the normalized value C 2N , ... Spectrum SS
When the MC search is completed, the process of FIG. 3 (D) for the base code C is completed, and thereafter it is determined that the process of FIG. 3 (D) is not executed for the base code G (step 33).
5), the normalized positions g 1N , g 2N , ... Are similarly obtained. After that, for base code A, the analysis spectrum SS
The MA is searched for in RAM15 (step 336),
The value of the Y axis direction position of the analysis spectrum SS MA , for example, y 21
Is obtained (step 337), the values y 11 and y 31 at which the values of the analysis spectra SS LA and SS RA are “1” are obtained and the position of the band A 1 (y 11 , y 21 , y 31) is obtained. ) Is detected (step 338). Further, in step 338, the slope θ a1 of the straight line passing through the three values y 11 , y 21 , and y 31 of band A 1 is obtained (step 339), and the base code is calculated using the value y 31 and the slope θ a1.
A quasi-normalized value α 1 at the boundary I between A and C is calculated (step 340).
ここで境界は、先に求めたレーンの境界であるため、傾
いている場合もある。その場合でも、ステップ339で求
めたバンドを値きθa1の直線とみなせるため、2直線の
交点を求めることで容易に準正規化値α1を求めること
ができる。Here, since the boundary is the boundary of the lane obtained earlier, it may be inclined. Even in that case, the band obtained in step 339 can be regarded as a straight line with a value of θ a1 , so that the quasi-normalized value α 1 can be easily obtained by finding the intersection of two straight lines.
次に、y軸方向位置の値である準正規化値α1よりy軸
方向の大なる部分、小なる部分夫々で準正規化値α1に
最も新い位置における塩基コードCのバンドCi(本例で
はC1)の傾きθci(本例ではθc1)が見つけられ、これ
らを用いて塩基コードCの(レーン)の準を規化値α1
に対応する位置の傾きθac1が求められる(ステップ34
1)。更に準正規化値α1と傾きθac1を用いて境界IIに
おけるバンドA1の正規化位置aINのY座標が求められる
(ステップ342)。この後ステップ335に移行してステッ
プ336〜342が繰り返し実行され、バンドA2,A3の正規化
位置a2N,a3N,……のY座標が求められる。その終了後
(ステップ343)、同様にして塩基コードTに対する第
3図(E)の処理が実行されて正規化値t1N,……が求め
られる。Next, the band Ci (of the base code C at the position most recent to the quasi-normalized value α 1 in the large part and the small part in the y-axis direction from the quasi-normalized value α 1 which is the value at the y-axis direction is Ci ( In this example, the gradient θc i (θc 1 in this example) of C 1 ) is found, and using these, the lane of the base code C is normalized to α 1
The inclination θ a c 1 of the position corresponding to is calculated (step 34
1). Further, the Y coordinate of the normalized position a IN of the band A 1 on the boundary II is obtained using the quasi-normalized value α 1 and the slope θ a c 1 (step 342). After that, the process shifts to step 335 and steps 336 to 342 are repeatedly executed, and the Y coordinates of the normalized positions a 2N , a 3N , ... Of the bands A 2 and A 3 are obtained. After that (step 343), the process of FIG. 3 (E) is similarly performed on the base code T to obtain the normalized value t 1N , ....
上記第3図(D),(E)の処理で得られた正規化値a
1N,c1N,g1N,t1N等は境界II上におけるY軸方向の値であ
る。RAM15内の領域SDは境界II上のY軸方向に対したア
ドレスが付されており、領域SDの上記正規化位置a1N…
…に対応するアドレスに塩基コードデータ「A」が記憶
され、同様に正規化位置c1N,……及びg1N,……及びt1N,
……夫々に対するアドレスに塩基コードデータ「C」
「G」「T」夫々が記憶される。Normalized value a obtained by the processing of FIGS. 3 (D) and (E)
1N , c 1N , g 1N , t 1N, etc. are values in the Y-axis direction on the boundary II. The area SD in the RAM 15 has an address in the Y-axis direction on the boundary II, and the normalized position a 1N ...
The base code data "A" is stored in the address corresponding to ..., and similarly the normalized positions c 1N , ... and g 1N , ... and t 1N ,
…… Base code data “C” in the address for each
"G" and "T" are stored respectively.
このように塩基コードA,C,G,T夫々のバンド4はバンド
夫々の傾きに応じて境界II上に正規化されるので、バン
ド夫々が傾いている場合においても各塩基コードのバン
ド配列順序を正確に読み取ることができる。In this way, the band 4 of each of the base codes A, C, G, T is normalized on the boundary II according to the inclination of each band, so that even if each band is inclined, the band arrangement order of each base code is Can be read accurately.
こうして、第3図(A)のステップ22が終了する。Thus, step 22 in FIG. 3 (A) is completed.
この後、第3図(A)のステップ400でRAM15内の領域SD
の塩基コードデータの補正が行なわれる。第3図(E)
はこの塩基コードデータの補正処理の詳細なフローチャ
ートを示す。ところでショットガン法で像影されたX線
フィルム3より読み取られ、第7図の破壊IIに示す境界
線上に正規化された相隣るバンドのバンド間隔(Y軸方
向)とY軸方向位置の値とは第8図に示す如き関係にあ
る。第3図(E)のステップ430においては、上記領域S
Dの塩基コードデータが記憶されたアドレスの差から相
隣るバンドのバンド間隔が順次求められ、このバンド間
隔が第8図における最小バンド間隔Dminと比較される。
ここで求められたバンド間隔が最小バンド間隔Dminより
小なる場合、バンド間隔を求めた相隣るバンドのうちY
軸方向位置の値つまり領域SDのアドス値が小なるバンド
の塩基コードデータは雑音であるとして領域SDより消去
される。上記の雑音消去される。上記の雑音消去処理は
領域SDの全域について行なわれる。After this, in step 400 of FIG. 3A, the area SD in the RAM 15 is
The base code data of is corrected. Figure 3 (E)
Shows a detailed flowchart of the correction processing of the base code data. By the way, the band interval (Y-axis direction) and the Y-axis direction position of adjacent bands which are read from the X-ray film 3 imaged by the shotgun method and normalized on the boundary line shown in the destruction II of FIG. The value has a relationship as shown in FIG. In step 430 of FIG. 3 (E), the area S
The band intervals of adjacent bands are sequentially obtained from the difference in the addresses where the base code data of D is stored, and this band interval is compared with the minimum band interval D min in FIG.
When the band interval obtained here is smaller than the minimum band interval D min, Y of the adjacent bands for which the band interval is obtained is determined.
The value of the axial position, that is, the base code data of the band in which the address value of the area SD is small is erased from the area SD as noise. The above noise is canceled. The noise canceling process is performed on the entire area SD.
次に、雑音消去処理が行なわれた領域SDを用いて、Y軸
方向位置の値つまりアドレスを順次増大させて相隣るバ
ンドのバンド間隔が求められる。得られたバンドのバン
ド間隔に応じて第7図の特性をY軸方向(第7図におけ
る左右方向)に平行移動したバンド間隔特性が算出さ
れ、RAM15内のY軸方向に対応したアドレスを有するバ
ンド間隔関数用の領域Bに基準バンド間隔として順次記
憶される(ステップ431)。Next, using the area SD in which the noise elimination processing has been performed, the value of the position in the Y-axis direction, that is, the address is sequentially increased, and the band interval between adjacent bands is obtained. The band spacing characteristics obtained by translating the characteristics of FIG. 7 in the Y-axis direction (left-right direction in FIG. 7) according to the band spacing of the obtained bands are calculated, and have the addresses corresponding to the Y-axis direction in the RAM 15. The reference band intervals are sequentially stored in the area B for the band interval function (step 431).
このようにバンド間隔関数BYを求めるのは、透明ガラス
2上のX線フィルム3の載置位置等により第7図におけ
るY軸方向の値が変化するからである。The band spacing function BY is obtained in this way because the value in the Y-axis direction in FIG. 7 changes depending on the mounting position of the X-ray film 3 on the transparent glass 2.
次に領域SDのアドレスを順次増大させて相隣るバンドの
バンド間隔が求められ、この相隣るバンドの中点のY軸
方向位置の値に対応するアドレスの領域Bより読み出さ
れた基準バンド間隔に所定の定数を乗じて得た許容バン
ド間隔と比較される(ステップ432)。個々で領域SDの
アドレスよりもとめたバンド間隔が許容バンド間隔より
大なるとき、バンド検出洩れがあるとしてステップ433,
434において以下のようにして、バンドの再検出が行な
われる。ステップ433では領SDの相隣るバンドの中点で
ある補正点のY軸方向位置に対応する塩基コードA,C,G,
T夫々のバンドの傾きが前述のバンド位置を検出するの
と同一手法により求められ、上記補正点に対応する塩基
コードA,C,G,T夫々のバンド中央(第4図(A)におけ
るXMA,XMC,XMG,XMT)に対するY軸方向位置の値(逆正
規化補正点)が求められる。Next, the address of the area SD is sequentially increased to obtain the band interval between the adjacent bands, and the reference read from the area B of the address corresponding to the value of the midpoint of the adjacent bands in the Y-axis direction. It is compared with an allowable band interval obtained by multiplying the band interval by a predetermined constant (step 432). When the band interval obtained from the address of the area SD individually is larger than the allowable band interval, it is determined that there is a band detection omission, and the step 433,
Band rediscovery is performed at 434 as follows. In step 433, the base codes A, C, G, which correspond to the positions of the correction points, which are the midpoints of the bands adjacent to each other in the area SD, in the Y-axis direction.
The inclination of each band of T is obtained by the same method as that for detecting the band position described above, and the center of each band of the base codes A, C, G and T corresponding to the above correction point (X in FIG. 4 (A)) The value of the Y-axis direction position (inverse normalization correction point) for MA , X MC , X MG , X MT ) is obtained.
この後ステップ434においてスペクトルS2の逆正規化補
正点の値が、この逆正規化補正点近傍におけるバンドと
認識されたスペクトルS2の値、例えばX2の値と比較さ
れ、上記逆正規化補正点の値が大なるとき逆正規化補正
点を塩基コードAのバンド候補点とする。同様にしてス
ペクトルS5,S8,S11夫々について塩基コードC,G,T夫々の
バンド候補点が求められる。このようにして複数のバン
ド候補点が得られた場合、夫々のバンド候補点における
スペクトルの値が比較される。これによってスペクトル
の値が最大である塩基コードが補正塩基コードとして決
定され、領域SDの補正点に相当するアドレスに補正塩基
コードデータが記憶される。なお、ここで、前後のバン
ドの内容によってスペクトル値が増減することがあらか
じめ、フィルムの性質上分っている場合においては、そ
の条件を考慮した判定が有効である。例えば、隣りのバ
ンドがAの場合、隣接するCの値が30%小さくなるなど
とか、ゴーストが出る(30%値が大きくなる)などの条
件が分っている場合は、Cの値を補正した上で比較する
ことになる。ステップ432で領域SDのアドレスより求め
られたバンド間隔が許容バンド間隔より小と判別された
場合、又はステップ434が終了した後ステップ435に移行
して、ここでY軸方向全域に対するバンド間隔チェック
が終了したかどうかが判別され、終了していない場合ス
テップ432に移行する。このようにしてステップ432〜43
4を繰り返すことによりY軸方向全域に対するバンド間
隔チェックが実行され、第3図(E)の処理が終了す
る。The value of the denormalization correction points of the spectrum S 2 in step 434 after which, the value of the spectrum S 2 recognized a band in the denormalization correction point near, is compared with the value of example X 2, the denormalization When the value of the correction point is large, the inverse normalization correction point is set as the band candidate point of the base code A. Similarly, the band candidate points of the base codes C, G, T are obtained for the spectra S 5 , S 8 , S 11 , respectively. When a plurality of band candidate points are obtained in this way, the spectrum values at the respective band candidate points are compared. As a result, the base code having the maximum spectrum value is determined as the corrected base code, and the corrected base code data is stored at the address corresponding to the correction point in the area SD. In addition, here, when it is known in advance from the nature of the film that the spectrum value increases or decreases depending on the contents of the bands before and after, it is effective to make a determination in consideration of the condition. For example, when the adjacent band is A, the value of adjacent C is reduced by 30%, or when the ghost appears (the value of 30% increases), the value of C is corrected. I will compare it after doing it. When it is determined in step 432 that the band interval obtained from the address of the area SD is smaller than the allowable band interval, or after step 434 is completed, the process proceeds to step 435, where the band interval check for the entire Y-axis direction is performed. It is determined whether or not the process is completed, and if not completed, the process proceeds to step 432. In this way steps 432-43
By repeating step 4, the band interval check is executed for the entire Y-axis direction, and the process of FIG. 3 (E) ends.
ステップ500では上記の存在確率に基づいて領域SDの塩
基コードデータを調べ、誤検出された塩基コードデータ
を消去し、かつ検出もれの塩基コードデータの補正を行
なう。In step 500, the base code data of the area SD is checked based on the above-mentioned existence probability, the erroneously detected base code data is erased, and the base code data of the missed detection is corrected.
この後、上記領域SDに記憶された塩基コードデータをY
軸方向に対応したアドレスの順に読み出しディスク装置
16に格納すると共に、インターフェース回路17より外部
コンピュータ(図示せず)へ送出する。After this, the base code data stored in the area SD is set to Y
Disk device that reads in the order of addresses corresponding to the axial direction
The data is stored in 16 and sent from an interface circuit 17 to an external computer (not shown).
なお、上記実施例ではX線像影された遺伝子の塩基コー
ドのバンド配列情報の読み取りを一例として説明した
が、これに限らずアミノ酸等のクロマトグラフにおける
バンド配列情報の読み取りを行なうものであっても良
く、また、電気泳動法等により移動するバンドを固定さ
れたセンサにより直接検出するものであっても良い。In the above example, the reading of the band sequence information of the base code of the X-ray imaged gene was described as an example, but the present invention is not limited to this, and the reading of the band sequence information in a chromatograph of amino acids and the like is performed. Alternatively, a band that moves by electrophoresis or the like may be directly detected by a fixed sensor.
上述の如く、本発明によればバンド配列パターンを自動
的に読取ることができる。さらに、レーンの長手方向の
一定区間毎にヒストグラムを得て、それよりバンド位置
を検出する方法では各レーンが蛇行していても夫々のレ
ーン内のバンド位置を正確に検出することができる等の
特長を有している。また、本願発明による装置では、濃
淡データの収集と並行してヒストグラムを得ることがで
きるので処理の高速化が図れる。As described above, according to the present invention, the band arrangement pattern can be automatically read. Furthermore, in the method of obtaining a histogram for each constant section in the longitudinal direction of the lane and detecting the band position from it, it is possible to accurately detect the band position in each lane even if each lane meanders. It has features. Further, in the apparatus according to the present invention, since the histogram can be obtained in parallel with the collection of the grayscale data, the processing speed can be increased.
第1図(A)は本発明によるバンド配列パターンの自動
読取装置のブロック図、 第1図(B)は、第1図(A)の装置に用いるイメージ
スキャナの要部を示す図、 第1図(C)は、第1図(A)の装置のインターフェー
ス回路のブロック図、 第2図(A)は、第1図(A)の装置で読みとられるバ
ンド配列パターンの一例を示す図、 第2図(B)は、第3図(A)のバンド配列パターンの
他の例を示す図、 第3図(A)から(E)は第1図(A)の装置の動作フ
ロー図、 第4図は、第1図(C)の回路のタイムチャート、 第5図は、第1図(A)の装置によるレーン位置代表点
の検出方法を説明する図、 第6図は、第1図(A)装置によるレーン内のバンド位
置検出方法を説明する図、 第7図は、第1図(A)の装置によるバンド位置の正規
化を説明する図、 第8図は、第1図(A)の装置によるバンド位置検出エ
ラーの補正を説明する図。 2……ガラス板、3……フィルム、4……バンド、6…
…光電変換回路、7……光源FIG. 1 (A) is a block diagram of an automatic reading device for a band array pattern according to the present invention, and FIG. 1 (B) is a diagram showing a main part of an image scanner used in the device of FIG. 1 (A). FIG. 1C is a block diagram of an interface circuit of the device of FIG. 1A, and FIG. 2A is a diagram showing an example of a band array pattern read by the device of FIG. 1A. 2 (B) is a diagram showing another example of the band arrangement pattern of FIG. 3 (A), FIGS. 3 (A) to 3 (E) are operation flow diagrams of the apparatus of FIG. 1 (A), FIG. 4 is a time chart of the circuit of FIG. 1 (C), FIG. 5 is a diagram for explaining a method of detecting a lane position representative point by the device of FIG. 1 (A), and FIG. FIG. 7A is a diagram for explaining the band position detection method in the lane by the device, and FIG. 7 is a band position by the device of FIG. 1A. Diagram for explaining the normalization, FIG. 8 is a diagram for explaining the apparatus correction band position detection error due to the first view (A). 2 ... glass plate, 3 ... film, 4 ... band, 6 ...
… Photoelectric conversion circuit, 7… Light source
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 栗栖 哲男 神奈川県横浜市中区尾上町6丁目81番地 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会 社内 (56)参考文献 特開 昭57−204437(JP,A) 特開 昭57−139646(JP,A) 特開 昭58−45540(JP,A) 特開 昭57−91444(JP,A) 特開 昭60−253848(JP,A) 特公 昭55−34383(JP,B2) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Tetsuo Kurisu 6-81, Onoe-cho, Naka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Hitachi Software Engineering Co., Ltd. (56) Reference JP-A-57-204437 (JP, A) Special Kai 57-139646 (JP, A) JP 58-45540 (JP, A) JP 57-91444 (JP, A) JP 60-253848 (JP, A) JP 55-34383 (JP JP, B2)
Claims (9)
沿って配置されてなるレーンを上記第1の方向とは垂直
な関係を有する第2の方向に複数個隣接配置されてなる
2次元的に配置されたバンド配列パターン自動読取り方
法において、 任意のレーンの上記第1の方向に光源からの出射光を照
射して濃淡データを発生させ、 上記濃淡データを記憶すると共に上記第2の方向に対し
所定の基準を満たす上記濃淡データの発生頻度を計数し
て所定期間ごとにヒストグラムを作成し、 上記所定期間ごとのヒストグラムの特徴点を検出し、 上記特徴点を結んだ線上と交差する上記バンドパターン
に対応する濃淡データを上記記憶された濃淡データから
検出して上記第1の方向に沿っての上記バンドパタンの
位置情報を得ることを特徴とするバンド配列パターン自
動読取り方法。1. A two-dimensional arrangement in which a plurality of lanes each having a plurality of band patterns arranged substantially along a first direction are arranged adjacent to each other in a second direction having a vertical relationship with the first direction. In the automatically arranged band array pattern reading method, light emitted from a light source is irradiated in the first direction of an arbitrary lane to generate grayscale data, the grayscale data is stored, and the grayscale data is stored in the second direction. On the other hand, the frequency of occurrence of the grayscale data satisfying a predetermined criterion is counted to create a histogram for each predetermined period, the characteristic points of the histogram for each predetermined period are detected, and the histogram intersects the line connecting the characteristic points. A band arrangement characterized in that grayscale data corresponding to a band pattern is detected from the stored grayscale data to obtain position information of the band pattern along the first direction. Automatic column pattern reading method.
の方向の長さの中点位置を代表する点であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項に記載のバンド配列パター
ン自動読取り方法。2. The above-mentioned characteristic point is the above-mentioned second of the above-mentioned arbitrary lane.
The band array pattern automatic reading method according to claim 1, wherein the point is a point representing a midpoint position of the length in the direction of.
意のレーンの上記第2の方向の長さの両端部位置を代表
する点である特許請求の範囲第1項に記載のバンド配列
パターン自動読取り方法。3. The band arrangement according to claim 1, wherein the characteristic points of the arbitrary lane are points that represent positions of both ends of the length of the arbitrary lane in the second direction. Automatic pattern reading method.
め、上記微分曲線の性の最大値及び負の最大値を検出
し、上記正の最大値および上記負の最大値に対して一定
の関係を有する正の基準値および負の基準値を算出し、
上記微分曲線の中で上記正の基準値及び上記負の基準値
を示す点のそれぞれを上記両端部位置を代表する点と
し、上記両端部位置を代表する点の中点を上記中点位置
を代表する点とすることを特徴とする特許請求の範囲第
3項に記載のバンド配列パターン自動読取り方法。4. A differential curve is obtained by differentiating the histogram, the sex maximum value and the negative maximum value of the differential curve are detected, and a constant relationship is established with respect to the positive maximum value and the negative maximum value. Calculating a positive reference value and a negative reference value having
Each of the points indicating the positive reference value and the negative reference value in the differential curve is set as a point representing the both end positions, and the middle point of the points representing the both end positions is set as the middle point position. The band array pattern automatic reading method according to claim 3, characterized in that it is a representative point.
持って上記バンドパタンの位置情報とすることを特徴と
する特許請求の範囲第1項から第4項のいずれかに記載
のバンド配列パターン自動読取り方法。5. The band arrangement pattern according to any one of claims 1 to 4, wherein the position of the maximum grayscale data of the grayscale data is used as position information of the band pattern. Automatic reading method.
沿って配置されてなるレーンを上記第1の方向とは垂直
な関係を有する第2の方向に複数個隣接配置されてなる
2次元的に配置されたバンド配列を有する被検体と、 上記第2の方向に配列されて上記第1の方向に走査する
複数個の光源と、 上記光源の出射光を用いて上記被検体の濃淡データを出
力する光電変換手段と、上記濃淡データを記憶する第1
のメモリと、 所定のタイミングで上記複数個の光源に対応する濃淡デ
ータと上記第1のメモリに記憶されたデータとを加算し
て、上記第1の方向に配置されたバンドパターンに対応
する濃淡データの出現頻度を示すヒストグラムを上記第
1のメモリに形成する加算手段と、 上記光電変換手段による光電変換と同期して上記バンド
パターンに対応する濃淡データを順次記憶する第2のメ
モリと、 上記ヒストグラムから上記第2の方向に関する上記バン
ドパターンに対応する濃淡データの位置の代表点を検出
し、上記第1の方向に並んだ上記代表点を結ぶ線上に交
差する上記バンドパターンに対応する濃淡データを上記
第2のメモリから読みだして、上記バンドパターンの上
記第1の方向に沿っての位置を検出する処理手段と、 からなることを特徴とするバンド配列パターン自動読取
り装置。6. A two-dimensional structure in which a plurality of lanes, each of which has a plurality of band patterns arranged substantially along a first direction, are arranged adjacent to each other in a second direction which is perpendicular to the first direction. Object having a band array arranged in a uniform manner, a plurality of light sources arranged in the second direction and scanning in the first direction, and grayscale data of the object using the light emitted from the light source. And a photoelectric conversion means for outputting
Memory and the grayscale data corresponding to the plurality of light sources at a predetermined timing and the data stored in the first memory are added to obtain the grayscale corresponding to the band pattern arranged in the first direction. An adding means for forming a histogram showing the appearance frequency of data in the first memory; a second memory for sequentially storing the grayscale data corresponding to the band pattern in synchronization with the photoelectric conversion by the photoelectric converting means; The representative point at the position of the grayscale data corresponding to the band pattern in the second direction is detected from the histogram, and the grayscale data corresponding to the band pattern intersecting on the line connecting the representative points arranged in the first direction. From the second memory, and processing means for detecting the position of the band pattern along the first direction. Characteristic band array pattern automatic reader.
上記第1の方向に並置される複数の区間の一つの区間内
の上記バンドパターンに対応する濃淡データの組をそれ
ぞれ保持する第1及び第2の領域と、 上記光電変換手段により、上記複数区間のそれぞれの濃
淡データの組が出力されるのに同期して、上記第1及び
第2の記憶領域に交互に上記複数区間内の濃淡データの
組を書き込む手段とを有し、 上記第1のメモリは、上記光電変換手段により上記複数
の区間のそれぞれの濃淡データの組が出力されるのに同
期して、その記憶内容をリセットする手段であって、一
つの区間内の複数の上記バンドパターンに対応する濃淡
データに関するヒストグラムを上記第1のメモリに保持
せしめる物を有し、 上記処理手段は、上記光電変換手段により上記複数の区
間のそれぞれの濃淡データの組が出力されるのに同期し
て、それぞれの区間内の、上記任意のレーンの位置を大
表する点の位置を検出し、検出された一つの区間内の上
記任意のレーン位置を代表する第1の点と先に検出され
た上記一つの区間より一つ前の区間の上記任意のレーン
の位置を代表する第2の点を結ぶ線上にある上記バンド
パターンの位置を検出し、上記検出された位置の上記バ
ンドパターンに対する濃淡データを上記第1及び上記第
2の領域から読みだし、上記複数の区間について上記第
2のメモリから読みだされた上記バンドパターンに対応
する濃淡データに基づき、上記任意のレーン内のバンド
パターンの、上記第1の方向に沿っての位置を検出する
手段であることを特徴とする特許請求の範囲第6項に記
載のバンド配列パターン自動読取り装置。7. The first memory holds a set of grayscale data corresponding to the band pattern in one section of a plurality of sections arranged in the first direction by the photoelectric conversion, respectively. And a second area, and in synchronization with the output of the grayscale data of each of the plurality of sections by the photoelectric conversion means, in the plurality of sections alternately in the first and second storage areas. And a means for writing a grayscale data set, wherein the first memory resets the stored contents thereof in synchronization with the output of the grayscale data set for each of the plurality of sections by the photoelectric conversion means. Means for holding the histogram relating to the grayscale data corresponding to a plurality of the band patterns in one section in the first memory, and the processing means includes the photoelectric conversion means. In synchronization with the output of each grayscale data set of the plurality of sections, the position of a point that represents the position of the arbitrary lane in each section is detected, and the detected one section Which is on a line connecting a first point representing the arbitrary lane position in the above and a second point representing the position of the arbitrary lane in the section one previous to the one section previously detected. The position of the band pattern is detected, the grayscale data for the band pattern at the detected position is read from the first and second regions, and the plurality of sections read from the second memory are read. 7. The device according to claim 6, which is means for detecting the position of the band pattern in the arbitrary lane along the first direction based on the grayscale data corresponding to the band pattern. Band alignment pattern automatic reader.
より上記第2の方向の一つの直線上の上記バンドパター
ンに照射された光が光電変換されるのに同期して、順次
記憶したデータを出力するものであり、 上記加算手段では、上記光電変換手段により出力された
上記第2の方向の一つの直線上の複数の上記バンドパタ
ーンに照射された光が光電変換されて得られた濃淡デー
タと、上記第1のメモリから順次読みだされたデータと
がそれぞれ順次入力されることを特徴とする特許請求の
範囲第7項に記載のバンド配列パターン自動読取り装
置。8. The first memory is sequentially stored in synchronization with the photoelectric conversion of light applied to the band pattern on one straight line in the second direction by the photoelectric conversion means. Data is output, and the adding means photoelectrically converts the light emitted by the photoelectric converting means and applied to the plurality of band patterns on one straight line in the second direction. 8. The automatic band array pattern reader according to claim 7, wherein the grayscale data and the data sequentially read from the first memory are sequentially input.
ンド配列パターンであることを特徴とする特許請求の範
囲第6項から第8項のいずれかに記載のバンド配列パタ
ーン自動読取り装置。9. The automatic band sequence pattern reader according to any one of claims 6 to 8, wherein the band sequence pattern is a base band sequence pattern of a gene.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60241548A JPH0785055B2 (en) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | Band sequence pattern automatic reading method and device |
DE8686115046T DE3686803T2 (en) | 1985-10-30 | 1986-10-29 | METHOD AND DEVICE FOR READING A TAPE PATTERN. |
EP86115046A EP0220732B1 (en) | 1985-10-30 | 1986-10-29 | Method of and apparatus for automatically reading band arrayal pattern |
US06/924,788 US4841443A (en) | 1985-10-30 | 1986-10-30 | Method of and apparatus for automatically reading 5 band arrayal pattern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60241548A JPH0785055B2 (en) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | Band sequence pattern automatic reading method and device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62102375A JPS62102375A (en) | 1987-05-12 |
JPH0785055B2 true JPH0785055B2 (en) | 1995-09-13 |
Family
ID=17075994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60241548A Expired - Lifetime JPH0785055B2 (en) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | Band sequence pattern automatic reading method and device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0785055B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07318534A (en) * | 1994-05-27 | 1995-12-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | Sampling method for separation/development data of biological polymer substance |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5534383A (en) * | 1978-09-04 | 1980-03-10 | Teac Co | Time display unit of tape recorder |
JPS5791444A (en) * | 1980-11-28 | 1982-06-07 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | Method for reading cataphoresis diagram |
JPS57204437A (en) * | 1981-06-11 | 1982-12-15 | Hiranuma Sangyo Kk | Measuring method for interval of inspection body in concentration measuring apparatus |
JPS5845540A (en) * | 1981-09-14 | 1983-03-16 | Toyo Kagaku Sangyo Kk | Detecting method for central part of inspection body in densitometer |
-
1985
- 1985-10-30 JP JP60241548A patent/JPH0785055B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62102375A (en) | 1987-05-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8703422B2 (en) | Methods and processes for calling bases in sequence by incorporation methods | |
JP3641485B2 (en) | Recording method and apparatus | |
US4162482A (en) | Pre-processing and feature extraction system for character recognition | |
US6454419B2 (en) | Indicated position detection by multiple resolution image analysis | |
CA2689626A1 (en) | Methods and processes for calling bases in sequence by incorporation methods | |
JP2005327246A (en) | Local positioning using fast image match | |
JPH03163674A (en) | Method and device for removing noise | |
EP0587301A2 (en) | Bending point extraction method for optical character recognition | |
EP0220732B1 (en) | Method of and apparatus for automatically reading band arrayal pattern | |
US8005262B2 (en) | System and method for video object identification | |
US20070071300A1 (en) | Method and system for automatic vision inspection and classification of microarray slides | |
JPH0785055B2 (en) | Band sequence pattern automatic reading method and device | |
EP0113676A2 (en) | Signal processing method in autoradiography | |
JPH0785056B2 (en) | Band position correction method for band arrangement pattern | |
EP1095357B1 (en) | Automatic masking of objects in images | |
US5471536A (en) | Figure digitizing system | |
CN112149675B (en) | Method for acquiring chart information data, electronic equipment and readable storage medium | |
AU601707B2 (en) | Method and device for storing and reproducing graphical patterns or signatures | |
JP2753427B2 (en) | Binary threshold setting device | |
US6907146B2 (en) | Methods, systems and computer software for detecting pixel stutter | |
JPS596418B2 (en) | Character reading method | |
WO2000004497A1 (en) | Automatic masking of objects in images | |
JP2798013B2 (en) | Two-dimensional code reading method and apparatus | |
JPH0721383A (en) | Picture processor | |
CN113850200A (en) | Gene chip interpretation method, device, equipment and storage medium |