JPH0760978B2 - Power amplifier - Google Patents

Power amplifier

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JPH0760978B2
JPH0760978B2 JP2415585A JP41558590A JPH0760978B2 JP H0760978 B2 JPH0760978 B2 JP H0760978B2 JP 2415585 A JP2415585 A JP 2415585A JP 41558590 A JP41558590 A JP 41558590A JP H0760978 B2 JPH0760978 B2 JP H0760978B2
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voltage
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bias
power mosfet
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は電力増幅器に関し、特に
パワーMOSFETを使用したAB級の電力増幅器に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a power amplifier, and more particularly to a class AB power amplifier using a power MOSFET.

【0002】[0002]

【従来の技術】図1に従来のパワーMOSFETを使用
したAB級増幅器を特にゲートバイアス電圧制御回路を
中心にして示す。図1において、TR1はソース接地さ
れた電力増幅器を構成するパワーMOSFETである。
加減算回路11および抵抗R3〜R6で構成される回路
は利得1の差動増幅器であり、電源電圧VCCを抵抗R
2、可変抵抗RV1で分割した電圧EとVCCを抵抗
R1と温度センサー12で分割した電圧のE差E
をTR1にゲートバイアス電圧VGSとして与え
る。ここに可変抵抗RV1は、TR1のゲートバイアス
電圧VGSを調節してTR1に適性なドレインアイドル
電流を流すためのものであり、又、温度センサー12は
TR1の放熱器に取付けられたサーミスタやダイオード
から成り、放熱器の温度を検出してTR1のバイアス電
圧を制御することにより、負の温度係数をもつMOSF
ETの温度変化による利得変動を補償している。
2. Description of the Related Art FIG. 1 shows a conventional class AB amplifier using a power MOSFET, particularly a gate bias voltage control circuit. In FIG. 1, TR1 is a power MOSFET that constitutes a power amplifier whose source is grounded.
The circuit configured by the adder / subtractor circuit 11 and the resistors R3 to R6 is a differential amplifier having a gain of 1, and supplies the power supply voltage V CC to the resistor R.
2. E c difference E a − of voltage E a and V CC divided by the variable resistor RV1 divided by resistor R1 and the temperature sensor 12.
E c is applied to TR1 as the gate bias voltage V GS . Here, the variable resistor RV1 is for adjusting the gate bias voltage V GS of TR1 to allow an appropriate drain idle current to flow through TR1, and the temperature sensor 12 is a thermistor or diode attached to the radiator of TR1. MOSF having a negative temperature coefficient by detecting the temperature of the radiator and controlling the bias voltage of TR1.
The gain fluctuation due to the temperature change of ET is compensated.

【0003】一般にMOSFETによるAB級電力増幅
回路では、大きいアイドル電流に信号電流を重畳させて
いるので、アイドル電流を変化させることにより信号電
流のピーク値を変化させることが出来るため、バイアス
電圧を制御することにより見かけ上利得を制御すること
が可能である。
Generally, in a class AB power amplifier circuit using MOSFETs, a signal current is superimposed on a large idle current. Therefore, the peak value of the signal current can be changed by changing the idle current, so that the bias voltage is controlled. By doing so, it is possible to control the gain apparently.

【0004】トランジスタTR2はバイアス電圧をオン
オフするためのものである。一般にパワーMOSFET
では良好な直線性を得ようとした場合、ドレインの動作
点電流(アイドル電流)が大きいことが多いので、アイ
ドル電流を流したままにしておくと増幅器に入力信号が
与えられているときでも大きい電力が損失する事にな
り、無駄である。このため、入力信号の有無を検出した
信号や電鍵信号により、TR2をオンオフしバイアス電
圧をオンオフすることによりアイドル電流をオンオフし
ている。
The transistor TR2 is for turning on and off the bias voltage. Power MOSFET in general
However, when trying to obtain good linearity, the operating point current (idle current) of the drain is often large, so leaving the idle current flowing is large even when the input signal is applied to the amplifier. Power is lost, and it is useless. Therefore, the idle current is turned on / off by turning on / off the TR2 and turning on / off the bias voltage by the signal detecting the presence or absence of the input signal or the electronic key signal.

【0005】しかし前述の回路では次に述べるような問
題がある。すなわち、この回路では無信号時TR1の内
部損失はゼロであるから、TR1の接合部温度は低い。
この状態において入力信号が与えられるとバイアス電圧
がオンになり、アイドル電流に重畳した信号電流がドレ
インに流れて大きい内部損失が発生し、その結果接合部
温度は上昇する。一般的なパワーMOSFETの場合、
AB級直線増幅回路でのアイドル電流は大きく、これに
よる内部損失が大きいので、信号電流が小さい場合でも
接合部温度は上昇して、利得の減少をもたらす。
However, the above-mentioned circuit has the following problems. That is, in this circuit, since the internal loss of TR1 is zero when there is no signal, the junction temperature of TR1 is low.
When an input signal is applied in this state, the bias voltage turns on, the signal current superimposed on the idle current flows to the drain, and a large internal loss occurs, resulting in an increase in junction temperature. In the case of general power MOSFET,
Since the idle current in the class AB linear amplifier circuit is large and the internal loss due to this is large, the junction temperature rises and the gain decreases even when the signal current is small.

【0006】上記の状態を接合部温度の時間的変化とい
う点から考えると次のようになる。すなわち、TR1が
取り付けられている放熱器は大きい熱容量を持つために
熱時定数が相当大きく、急な温度変化はしないが、TR
1の内部熱抵抗(ケース−接合部間)や接触熱抵抗(ケ
ース−放熱器間)とTR1の熱容量により形成されてい
る熱時定数は小さいため、接合部の温度は損失が発生し
てから比較的短時間で上昇する。この熱時定数は、TR
1のサイズや放熱システムの具合によっても異なるが、
大きいものでも2〜3秒である。更に損失が続く場合に
は、やがて放熱器の温度が分単位の熱小定数により上昇
して来る。
Considering the above state from the viewpoint of the temporal change of the junction temperature, the following is obtained. That is, since the radiator to which TR1 is attached has a large heat capacity, the thermal time constant is considerably large and the temperature does not change suddenly.
Since the thermal time constant formed by the internal thermal resistance of 1 (between the case and the junction), the contact thermal resistance (between the case and the radiator) and the heat capacity of TR1 is small, the temperature at the junction will not decrease after the loss occurs. Rise in a relatively short time. This thermal time constant is TR
Depending on the size of 1 and the heat dissipation system,
Even large ones take 2-3 seconds. When the loss continues, the temperature of the radiator rises due to the small thermal constant in minutes.

【0007】図1の回路では放熱器に取付けた温度セン
サー12がバイアス電圧を制御しているが、このセンサ
ーではゆっくりとした放熱器の温度変化しか捉らえる事
が出来ないので、信号の立ち上がり時に急上昇する温度
変化による利得の変化を補償する事が出来ない。
In the circuit of FIG. 1, the temperature sensor 12 attached to the radiator controls the bias voltage. However, since this sensor can detect only the slow temperature change of the radiator, the signal rises. It is not possible to compensate for changes in gain due to changes in temperature that sometimes rise sharply.

【0008】図2はこれらの時間関係を示した図であ
り、(a)は入力信号、(b)は入力信号に同期したバ
イアスオンオフ信号、(c)はTR1の接合部の温度変
化、(d)はTR1の利得変化、(e)はTR1の出力
の変化をそれぞれ示すものである。
FIG. 2 is a diagram showing these time relationships. (A) is the input signal, (b) is the bias on / off signal synchronized with the input signal, (c) is the temperature change at the junction of TR1, (d) shows a change in gain of TR1 and (e) shows a change in output of TR1.

【0009】今、バイアス(b)がオンになると短い時
間tで接合部温度(c)が△T上昇し、その後放熱器
の温度上昇に伴ない△Tが上昇する。前述したよう
に、図1の回路では△Tを補償する事は可能である
が、△Tによる温度変化分を補償する事は出来ない。
一般にMOSFETは大きい負の温度係数を持っている
ため、TR1の利得は(d)に示すように、立ち上がり
のt秒間は大→小と急激に変化する。すなわち、電力増
幅器の定格出力がt秒以降の熱的に安定した出力レベル
であるとするなら、立ち上がり時のt秒間は異常に大き
い出力が発生することになる。従ってこのt秒間には出
力電圧が飽和して歪が発生してTR1に過電流が流れる
ことにより、TR1にダメージを与えたり、電源部の過
電流保護回路が作動するなど、不具合が多々発生する。
Now, when the bias (b) is turned on, the junction temperature (c) rises by ΔT A in a short time t, and then ΔT B rises as the temperature of the radiator rises. As described above, the circuit of FIG. 1 can compensate ΔT B , but cannot compensate the temperature change due to ΔT A.
In general, since the MOSFET has a large negative temperature coefficient, the gain of TR1 rapidly changes from large to small during the rising t seconds as shown in (d). That is, if the rated output of the power amplifier is a thermally stable output level after t seconds, an abnormally large output is generated for t seconds at the time of rising. Therefore, during this t seconds, the output voltage is saturated, distortion is generated, and an overcurrent flows in TR1, which causes damage to TR1 and the operation of the overcurrent protection circuit of the power supply unit, which causes many problems. .

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】したがって本発明は、
立上り時のt秒間の出力が、t秒以降の熱的に安定した
定格出力と可及的に同じになるような電力増幅器を得よ
うとするものである。より具体的にいえば、MOSFE
Tの熱的特性のうち、従来見逃してきた内部熱抵抗など
による熱時定数の小さい温度上昇を補償することのでき
る電力増幅器を得ようとするものである。
Therefore, the present invention is
It is intended to obtain a power amplifier in which the output for t seconds at the time of start-up is as similar as possible to the thermally stable rated output after t seconds. More specifically, MOSFE
Among the thermal characteristics of T, it is intended to obtain a power amplifier capable of compensating for a temperature rise having a small thermal time constant due to an internal thermal resistance or the like, which has been overlooked in the past.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は、TR1の接合
部の温度変化分を熱時定数の長い放熱器の分△Tと熱
時定数の短かい内部温度変化分△Tとに分離して、各
々別個の補償回路によりTR1の内部温度変化がもたら
す利得変化を補償する構成を有している。すなわち本発
明によれば、パワーMOSFETと、このパワーMOS
FETに取りつけられた温度センサーと、バイアス制御
電圧を所望の電圧のバイアスオンオフ信号に変えるオン
オフ信号発生手段と、第1の入力端子に前記温度センサ
ーの出力信号を受け第2の入力端子に前記バイアスオン
オフ信号受け、これら入力した2つの信号の差電圧を前
記パワーMOSFETへゲートバイアス電圧として供給
する加減算回路とを備え、前記パワーMOSFETの温
度変化による利得変動を補償するように構成したAB級
電力増幅回路に於いて、前記オンオフ信号発生手段に並
列に、前記バイアス制御電圧を所定の電圧のオンオフ信
号に変える手段およびこの所定の電圧のオンオフ信号に
前記パワーMOSFETの持つ内部温度変化の熱時定数
にあった時定数を与える積分回路(時定数回路)を含む
もう1つのオンオフ信号発生手段を設け、該時定数を与
えられたオンオフ信号を前記バイアスオンオフ信号とと
もに前記第2の入力端子に入力するようにしたことを特
徴とする電力増幅器が得られる。
According to the present invention, the temperature change of the junction portion of TR1 is divided into the heat sink ΔT B having a long thermal time constant and the internal temperature change ΔT A having a short thermal time constant. Separately, it has a configuration in which the gain change caused by the internal temperature change of TR1 is compensated by each separate compensation circuit. That is, according to the present invention, a power MOSFET and this power MOS
A temperature sensor attached to the FET, an on / off signal generating means for changing a bias control voltage into a bias on / off signal of a desired voltage, a first input terminal for receiving an output signal of the temperature sensor, and a second input terminal for the bias. A class AB power amplifier configured to receive an on / off signal and add / subtract a circuit for supplying a difference voltage between these two input signals to the power MOSFET as a gate bias voltage, and to compensate a gain variation due to a temperature change of the power MOSFET. In the circuit, a means for changing the bias control voltage into an on / off signal of a predetermined voltage in parallel with the on / off signal generating means and a thermal time constant of an internal temperature change of the power MOSFET for the on / off signal of the predetermined voltage. Another on / off circuit that includes an integrator circuit (time constant circuit) that gives a given time constant. A signal generating means is provided, the power amplifier is obtained, characterized in that the on-off signal applied to the time constant was set to be input to the second input terminal with said bias on-off signal.

【0012】また本発明によれば、先に説明したような
パワーMOSFETの温度変化による利得変動を補償す
るように構成したAB級電力増幅回路に於いて、前記加
減算回路から前記パワーMOSFETへゲートバイアス
電圧を供給する経路に、該ゲートバイアス電圧に前記パ
ワーMOSFETの持つ内部温度変化の熱時定数にあっ
た時定数を与える積分回路(時定数回路)を設けたこと
を特徴とする電力増幅器が得られる。
Further, according to the present invention, in the class AB power amplifier circuit configured to compensate the gain variation due to the temperature change of the power MOSFET as described above, the gate bias from the adder / subtractor circuit to the power MOSFET. A power amplifier characterized in that an integrator circuit (time constant circuit) that gives a time constant matching a thermal time constant of an internal temperature change of the power MOSFET to the gate bias voltage is provided in a path for supplying a voltage. To be

【0013】[0013]

【実施例】図3は本発明の一実施例の回路構成図を示
す。R7,R8はVCCを分割してTR1の内部温度変
化分△Tを補償する補償電圧Eをつくり、R9とコ
ンデンサC1は積分回路である。13は利得1のボルテ
ージフォロアであり、E電圧をR9,C1で積分した
補償電圧を加減算回路11に与える。積分回路R9,C
1の時定数をTR1のもつ内部温度変化の熱時定数に合
せておき、バイアス制御信号によりTR3でE電圧を
オンオフすれば、ボルテージフォロア13にはTR1の
内部温度変化に見合った補償電圧を出力する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 3 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention. R7 and R8 divide V CC to form a compensation voltage E b for compensating the internal temperature change ΔT B of TR1, and R9 and capacitor C1 are an integrating circuit. Reference numeral 13 is a voltage follower having a gain of 1, and provides the adder / subtractor circuit 11 with a compensation voltage obtained by integrating the Eb voltage with R9 and C1. Integrator circuit R9, C
If the time constant of 1 is matched with the thermal time constant of the internal temperature change of TR1, and the Eb voltage is turned on / off by TR3 by the bias control signal, the voltage follower 13 is provided with a compensation voltage commensurate with the internal temperature change of TR1. Output.

【0014】又、TR1の内部温度変化がもたらす利得
変化量を補償するためのバイアス電圧分Eについては
次のように考える。すなわち、MOSFETを使用した
AB級直線増幅器の場合、ドレインアイドル電流が大き
いため、図4に示すように増幅器出力が定格時でも無信
号時(アイドル電流のみのとき)でも、TR1が損失す
る電力は大幅には変化しない。従って、TR1の内部温
度はバイアス電圧がオンかオフか(アイドル電流がある
かないか)に大きく依存するので、この差を補償するの
に見合ったバイアス電圧分Eを定めておけば、おおよ
そTR1の内部温度変化がもたらす利得の変化分を補償
する事が出来る。
Further, the bias voltage component E b for compensating the gain change amount caused by the change in the internal temperature of TR1 is considered as follows. That is, in the case of a class AB linear amplifier using a MOSFET, since the drain idle current is large, as shown in FIG. 4, TR1 loses power even when the amplifier output is rated or when there is no signal (only idle current). Does not change significantly. Therefore, the internal temperature of TR1 largely depends on whether the bias voltage is on or off (whether or not there is an idle current). Therefore, if the bias voltage Eb commensurate with compensating for this difference is determined, then TR1 will be approximately It is possible to compensate for the change in gain caused by the change in internal temperature.

【0015】図5は本発明回路による各部の時間関係を
示したものであり、バイアス制御信号(f)がオンにな
ると、ゲートバイアス電圧VGSは(h)のようにアイ
ドル電流を流すための固定バイアス電圧Eが先ず立ち
上がり、R9,C1の積分回路による電圧Eがt秒間
に上昇し、更にその後放熱器の温度変化の補償電圧E
が加わる。このようにして本回路により補償されたV
GSをTR1に与えることにより、TR1の接合部温度
変化(g)がもたらす利得変化を補償する事が出来るの
で、増幅器の出力は(i)のように一定になり、入力信
号の立ち上がりに出力が過大になる現象を解消出来る。
FIG. 5 shows the time relationship of each part according to the circuit of the present invention. When the bias control signal (f) is turned on, the gate bias voltage V GS is for flowing an idle current as shown in (h). The fixed bias voltage E a rises first, the voltage E b by the integrating circuit of R9 and C1 rises for t seconds, and then the compensation voltage E c for the temperature change of the radiator.
Is added. In this way, V compensated by this circuit
By applying GS to TR1, it is possible to compensate for the gain change caused by the junction temperature change (g) of TR1, so that the output of the amplifier becomes constant as shown in (i), and the output changes at the rising edge of the input signal. It is possible to eliminate the phenomenon that becomes excessive.

【0016】図6は本発明の第2の実施例の回路構成を
示す図である。CDはツェナーダイオードでそのツェナ
ー電圧はEであり、R11はCDのもれ電流を流すた
めの抵抗であって抵抗値は大きく、R10≪R11なら
ば本積分回路の時定数はR10×Cである。この図6に
おいて、TR2がバイアス制御信号に応じてオンオフす
ると、加減算回路11の出力Eは図7の(j)のよう
に立ち上がる。E<Eであるなら、加減算回路11
の電圧Eの立ち上がりにおいて、その出力電圧がE
を越えるまではCDが非導通であるためにC2に充電電
流が流れるが、Eを越えると充電が開始されR10×
C2の時定数で電圧が上昇する。又加減算器11の出力
がオフとなる電圧の立ち下がり時には、C2の電荷はC
D,R10を通じて放電するので、CDのカソード端子
電圧、即ちTR1のゲートバイアス電圧Vは、図7の
(h)のようになり、図5の(i)と同じ電圧を得る事
が出来る。
FIG. 6 is a diagram showing a circuit configuration of the second embodiment of the present invention. CD is a Zener diode, the Zener voltage is E Z , R11 is a resistance for flowing the leakage current of CD, and the resistance value is large. If R10 << R11, the time constant of this integration circuit is R10 × C. is there. In FIG. 6, when TR2 is turned on and off in response to a bias control signal, an output E B of the adding and subtracting circuit 11 rises as shown in FIG. 7 of the (j). If E Z <E B , the adder / subtractor circuit 11
In the rise of the voltage E B, the output voltage E Z
The charge current flows to C2 because the CD is non-conducting until the temperature exceeds the threshold, but when EZ is exceeded, charging starts and R10 ×
The voltage rises with the time constant of C2. When the voltage at which the output of the adder / subtractor 11 is turned off falls, the charge of C2 becomes C
Since the discharge is performed through D and R10, the cathode terminal voltage of CD, that is, the gate bias voltage V G of TR1 is as shown in (h) of FIG. 7, and the same voltage as (i) of FIG. 5 can be obtained.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上説明したように、本発明ではパワー
MOSFETの接合部の温度変化分を、熱時定数の長い
放熱器の変化分△Tと熱時定数の短かい内部温度変化
分△Tとに分離して、各々別個の補償回路によりパワ
ーMOSFETの内部温度変化がもたらす利得変化を補
償することにより、増幅器の出力を一定にすることがで
き、これにより入力信号の立上りの出力が過大になる現
象を回避することができ、パワートランジスタのダメー
ジを防止できる。
As described above, according to the present invention, the temperature change of the junction portion of the power MOSFET is calculated by the change ΔT B of the radiator having a long thermal time constant and the internal temperature change Δ of the short thermal time constant Δ. The output of the amplifier can be made constant by separating into T A and compensating the gain change caused by the internal temperature change of the power MOSFET by each separate compensating circuit. It is possible to avoid an excessive phenomenon and prevent damage to the power transistor.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】従来のパワーMOSFETを使用したAB級増
幅器を特にゲートバイアス電圧制御回路を中心にして示
した図である。
FIG. 1 is a diagram showing a class AB amplifier using a conventional power MOSFET, particularly focusing on a gate bias voltage control circuit.

【図2】図1の装置における入力信号、バイアスオンオ
フ信号、接合部温度、利得、出力信号をそれぞれ示した
図である。
2 is a diagram showing an input signal, a bias on / off signal, a junction temperature, a gain, and an output signal in the device of FIG. 1, respectively.

【図3】本発明の一実施例の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a configuration of an exemplary embodiment of the present invention.

【図4】本発明の回路における入力と出力の関係を示す
図である。
FIG. 4 is a diagram showing a relationship between inputs and outputs in the circuit of the present invention.

【図5】本発明の回路における各部の時間関係を示す図
である。
FIG. 5 is a diagram showing a time relationship of each part in the circuit of the present invention.

【図6】本発明の第2の実施例の回路構成を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing a circuit configuration of a second exemplary embodiment of the present invention.

【図7】第2の実施例における加減算回路出力とゲート
バイアス電圧の波形を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing waveforms of an output of an addition / subtraction circuit and a gate bias voltage in the second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 加減算回路 12 温度センサー 13 ボルテージフォロア TR1 パワーMOSFET TR2 バイアス電圧オンオフ用トランジスタ RV 加変抵抗 CD ツェナーダイオード 11 Addition / subtraction circuit 12 Temperature sensor 13 Voltage follower TR1 Power MOSFET TR2 Bias voltage on / off transistor RV Addition / change resistance CD Zener diode

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パワーMOSFETと、このパワーMO
SFETに取りつけられた温度センサーと、バイアス制
御電圧を所望の電圧のバイアスオンオフ信号に変えるオ
ンオフ信号発生手段と、第1の入力端子に前記温度セン
サーの出力信号を受け第2の入力端子に前記バイアスオ
ンオフ信号受け、これら入力した2つの信号の差電圧を
前記パワーMOSFETへゲートバイアス電圧として供
給する加減算回路とを備え、前記パワーMOSFETの
温度変化による利得変動を補償するように構成したAB
級電力増幅回路において、前記オンオフ信号発生手段に
並列に、前記バイアス制御電圧を所定の電圧のオンオフ
信号に変える手段およびこの所定の電圧のオンオフ信号
に前記パワーMOSFETの持つ内部温度変化の熱時定
数にあった時定数を与える積分回路(時定数回路)を含
むもう1つのオンオフ信号発生手段を設け、該時定数を
与えられたオンオフ信号を前記バイアスオンオフ信号と
ともに前記第2の入力端子に入力するようにしたことを
特徴とする電力増幅器。
1. A power MOSFET and this power MO
A temperature sensor attached to the SFET, an on / off signal generating means for changing a bias control voltage into a bias on / off signal of a desired voltage, a first input terminal for receiving an output signal of the temperature sensor, and a second input terminal for the bias. And an adder / subtractor circuit that receives an on / off signal and supplies a difference voltage between these two input signals to the power MOSFET as a gate bias voltage, and is configured to compensate the gain variation due to the temperature change of the power MOSFET.
In the class power amplifier circuit, a means for changing the bias control voltage into an on / off signal of a predetermined voltage in parallel with the on / off signal generating means, and a thermal time constant of an internal temperature change of the power MOSFET for the on / off signal of the predetermined voltage. Another on / off signal generating means including an integrator circuit (time constant circuit) for giving a time constant that matches the above is provided, and the on / off signal given the time constant is input to the second input terminal together with the bias on / off signal. A power amplifier characterized in that
【請求項2】 パワーMOSFETと、このパワーMO
SFETに取り付けられた温度センサーと、バイアス制
御電圧を所望の電圧のバイアスオンオフ信号に変えるオ
ンオフ信号発生手段と、第1の入力端子に前記温度セン
サーの出力信号を受け第2の入力端子に前記バイアスオ
ンオフ信号受け、これら入力した2つの信号の差電圧を
前記パワーMOSFETへゲートバイアス電圧として供
給する加減算回路とを備え、前記パワーMOSFETの
温度変化による利得変動を補償するように構成したAB
級電力増幅回路において、 前記加減算回路から前記パワーMOSFETへゲートバ
イアス電圧を供給する経路に、該ゲートバイアス電圧に
前記パワーMOSFETの持つ内部温度変化の熱時定数
にあった時定数を与える積分回路を設けたことを特徴と
する電力増幅器。
2. A power MOSFET and this power MO
A temperature sensor attached to the SFET, an on / off signal generating means for changing a bias control voltage into a bias on / off signal of a desired voltage, a first input terminal for receiving an output signal of the temperature sensor, and a second input terminal for the bias. And an adder / subtractor circuit that receives an on / off signal and supplies a difference voltage between these two input signals to the power MOSFET as a gate bias voltage, and is configured to compensate the gain variation due to the temperature change of the power MOSFET.
In the class power amplifier circuit, an integration circuit that gives a time constant that matches the thermal time constant of the internal temperature change of the power MOSFET to the gate bias voltage is provided in the path for supplying the gate bias voltage from the addition / subtraction circuit to the power MOSFET. A power amplifier characterized by being provided.
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