JPH0760360B2 - Driving method and driving device for discriminating key board - Google Patents

Driving method and driving device for discriminating key board

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JPH0760360B2
JPH0760360B2 JP11812192A JP11812192A JPH0760360B2 JP H0760360 B2 JPH0760360 B2 JP H0760360B2 JP 11812192 A JP11812192 A JP 11812192A JP 11812192 A JP11812192 A JP 11812192A JP H0760360 B2 JPH0760360 B2 JP H0760360B2
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key
light
reflected
modulated
amplitude
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直弘 丹野
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直弘 丹野
ツオイス株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、キ−の打ち込みを電
気信号に変換し、電気信号から、打ち込まれたキ−を判
別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別方法および打ち込
みキ−判別装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention converts a key input into an electric signal and discriminates the key input from the electric signal. Regarding the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】パ−ソナルコンピュ−タ(パソコン)等
のコンピュ−タやワ−ドプロセッサ(ワ−プロ)等の入
力手段として、たとえば、プッシュボタンのような、多
数のキ−を数行にわたって規則的に整列させたキ−ボ−
ドが知られている。キ−ボ−ドでは、一般に、操作者が
キ−を任意に打ち込む(押し込む)ことによって入力さ
れる。
2. Description of the Related Art As input means for a computer such as a personal computer (personal computer) or a word processor (word processor), for example, a large number of keys such as push buttons are provided in several lines. Keyboards regularly aligned over
Do is known. In the keyboard, generally, an operator manually inputs (pushes) a key for input.

【0003】このようなキ−ボ−ドにおいては、通常、
打ち込みキ−判別装置がキ−ボ−ドに内蔵され、打ち込
みキ−判別装置によって、キ−の打ち込みが電気信号に
変換され、電気信号から、打ち込まれたキ−が判別され
る。そして、打ち込みキ−判別装置からの信号が、キ−
ボ−ドからの入力情報として、パソコン本体等の中央演
算処理装置(CPU) に入力され、適宜処理される。
In such a keyboard, normally,
A driving key discriminating device is built in the keyboard, and the driving key discriminating device converts the driving of the key into an electric signal and discriminates the driven key from the electric signal. Then, the signal from the driving key discrimination device is
As input information from the board, it is input to a central processing unit (CPU) such as a personal computer main body and appropriately processed.

【0004】キ−の打ち込みを電気信号に変換する打ち
込みキ−判別装置として、たとえば、互に接触可能な一
対の接点を、各キ−ごとに、キ−側とキ−ボ−ドベ−ス
側とにそれぞれ設けた接点式の構成が知られている。
As a driving key discriminating device for converting the driving of a key into an electric signal, for example, a pair of contacts which can contact each other are provided, for each key, on the side of the key and the side of the keyboard side. A contact-type configuration provided in each of and is known.

【0005】このような構成では、キ−の打ち込みによ
る一対の接点間の接触によって、キ−の打ち込みが電気
信号に変換され、電気信号から、打ち込まれたキ−が判
別される。
In such a structure, the driving of the key is converted into an electric signal by the contact between the pair of contacts due to the driving of the key, and the driven key is discriminated from the electric signal.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】接点式の打ち込みキ−
判別装置においては、キ−の打ち込み毎に、一対の接点
が接触、離反を繰り返すため、一対の接点が消耗しやす
い。特に、使用頻度の高いキ−においては、接触面の変
形、劣化等による接触不良を生じやすい。接点の接触不
良は、キ−の打ち込み時において、たとえば、信号の未
入力や重複入力等の誤動作(誤入力)を生じ、操作性が
低下する。
[Problems to be Solved by the Invention] Contact type driving key
In the discriminating device, the pair of contacts repeatedly come into contact with and separate from each other every time a key is driven, so that the pair of contacts is easily worn. Particularly, in a key that is frequently used, contact failure is likely to occur due to deformation, deterioration or the like of the contact surface. The contact failure of the contact causes a malfunction (erroneous input) such as non-input of a signal or duplicate input at the time of driving a key, which deteriorates operability.

【0007】また、公知の構成においては、一対の接点
が各キ−ごとに設けられている。つまり、1つのキ−ボ
−ドにおいて、一対の接点は、キ−ボ−ド上のキ−と同
じ数だけ必要となり、かなりの数となる。
Further, in the known structure, a pair of contacts is provided for each key. That is, in one keyboard, a pair of contacts are required in the same number as the keys on the keyboard, which is a considerable number.

【0008】ここで、キ−の打ち込みによって生じた電
気信号の出力経路を形成するために、キ−ボ−ドベ−ス
側の接点は、プリント基板等に、はんだ付けによって配
設、固定されている。そして、キ−ボ−ドの組立工程に
おいて、プリント基板への接点のはんだ付けは、キ−と
同数の作業工程数を要し、キ−ボ−ドの組立工程が煩雑
化する。
Here, in order to form an output path of an electric signal generated by driving a key, the contacts on the keyboard side are mounted and fixed on a printed circuit board or the like by soldering. There is. In the process of assembling the keyboard, soldering the contacts to the printed circuit board requires the same number of working steps as the key, which complicates the process of assembling the keyboard.

【0009】そして、一対の接点を接触、離反可能とし
ているため、および、電気信号を出力可能とするための
構成部材が、キ−に対応する数だけそれぞれ必要とな
る。そのため、キ−ボ−ドを構成するための部品点数が
多くなり、構成的に複雑化してキ−ボ−ドが高価とな
る。
Since a pair of contacts can be brought into contact with and separated from each other, and a number of constituent members for outputting an electric signal are required respectively in a number corresponding to the key. Therefore, the number of parts for constructing the keyboard increases, and the configuration becomes complicated and the keyboard becomes expensive.

【0010】この発明は、接点を接触させずに電気信号
を生じさせるキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別方法の提供
を目的としている。また、この発明は、接点を接触させ
ずに電気信号を生じる簡単な構成のキ−ボ−ドの打ち込
みキ−判別方法の提供を別の目的としている。
It is an object of the present invention to provide a method for determining a key for driving a keyboard that generates an electric signal without contacting the contacts. Another object of the present invention is to provide a method for determining the driving key of a keyboard having a simple structure for generating an electric signal without bringing the contacts into contact with each other.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この発明においては、周波数シフトした光ビ−ムを
2つの光ビ−ム(参照光、反射信号光)に分割し、それ
らを周波数シフト光ヘテロダイン検波してビ−ト信号を
生じさせ、ビ−ト周波数から、反射信号光を生じたキ
−、つまり、打ち込みキ−が判別されている。
To achieve this object, in the present invention, a frequency-shifted optical beam is divided into two optical beams (reference light and reflected signal light), and these are divided. Frequency-shifted optical heterodyne detection is performed to generate a beat signal, and the key that generated the reflected signal light, that is, the driving key is discriminated from the beat frequency.

【0012】ビ−ト周波数の代わりに、振幅変調した参
照光、反射信号光の光路差による時間ズレから生じる振
幅変調信号光の位相差を検出し、この位相差から、打ち
込みキ−を判別してもよい。
Instead of the beat frequency, the phase difference of the amplitude-modulated signal light caused by the time shift due to the optical path difference between the amplitude-modulated reference light and the reflected signal light is detected, and the driving key is discriminated from this phase difference. May be.

【0013】反射信号光は、全反射させてもよいし、透
過する光ビ−ムをシャッタ−で遮り、それ以降の反射信
号光を消滅させてもよい。
The reflected signal light may be totally reflected, or the transmitted light beam may be blocked by a shutter so that the reflected signal light thereafter may be extinguished.

【0014】[0014]

【実施例】以下、図面を参照しながらこの発明の実施例
について詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0015】図1、図2に示すように、この発明に係る
キ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置10において、光源12
からの光ビ−ムを反射可能なキ−反射板14が、キ−16と
一体的に昇降可能に設けられ、キ−の打ち込みによっ
て、光源からの光ビ−ムを所定方向に反射させるように
構成されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, a light source 12 is provided in a key board driving key discriminating apparatus 10 according to the present invention.
A key reflection plate 14 capable of reflecting the light beam from the light source is provided so as to be able to move up and down integrally with the key 16, and the light beam from the light source is reflected in a predetermined direction by driving the key. Is configured.

【0016】キ−ボ−ド11は、一般に、パ−ソナルコン
ピュ−タ(パソコン)、ワ−ドプロセッサ(ワ−プロ)
等の入力手段とされ、図3に示すように、パソコン等の
本体への種々の命令を入力する多数のキ−16が、キ−ボ
−ドベ−ス18に、数段にわたってほぼ規則的に整列され
ている。キ−16は、図2に示すように、たとえば、下端
に支持ロッド20を有して形成され、挿通孔22への支持ロ
ッドの遊挿によって、キ−がキ−ボ−ドベ−ス18に取付
けられている。
The keyboard 11 is generally a personal computer (personal computer), word processor (word processor).
As shown in FIG. 3, a large number of keys 16 for inputting various commands to the main body of a personal computer, etc. are arranged on the keyboard board 18 substantially regularly over several stages. Are aligned. As shown in FIG. 2, the key 16 is formed, for example, with a support rod 20 at the lower end, and the key is inserted into the insertion hole 22 by loosely inserting the support rod into the key board base 18. Installed.

【0017】たとえば、キ−ボ−ドベ−ス18の上方で支
持ロッド20に巻装されたリタ−ンばね24によって、キ−
16は上方に偏倚されるとともに、キ−ボ−ドベ−スの下
方で支持ロッドに設けられたストッパ26によって、上方
へのキ−の離脱が防止されている。
For example, a key is provided by a return spring 24 wound around a support rod 20 above the keyboard base 18.
16 is biased upward, and a key 26 is prevented from being disengaged upward by a stopper 26 provided on a support rod below the keyboard board.

【0018】リタ−ンばね24として、たとえば、圧縮コ
イルばねが利用される。しかし、リタ−ンばね24は、圧
縮コイルばねに限定されず、たとえば、ねじりばね、板
ばねからリタ−ンばねを形成してもよい。
As the return spring 24, for example, a compression coil spring is used. However, the return spring 24 is not limited to the compression coil spring, and the return spring may be formed of, for example, a torsion spring or a leaf spring.

【0019】このように、キ−16は、リタ−ンばね24の
偏倚力に抗して、上方から打ち込み(押込み)可能に構
成され、操作者がキ−を任意に打ち込むことによって、
キ−ボ−ド11が操作され、パソコン等の本体に種々の情
報が入力される。そして、キ−16を打ち込んだ後、キ−
への操作力を除くと、キ−は、リタ−ンばね24の偏倚力
のもとで上方に偏倚されて、初期位置に自動的に復帰さ
れる。
As described above, the key 16 is constructed so that it can be driven (pushed) from above against the biasing force of the return spring 24, and the operator can drive the key as desired.
The keyboard 11 is operated and various information is input to the body of a personal computer or the like. And after hitting key-16, key
Excluding the operating force to the key, the key is biased upward under the biasing force of the return spring 24 and automatically returns to the initial position.

【0020】なお、このようなキ−16は、キ−ボ−ドベ
−ス18に対して打ち込み可能であれば足りるため、図示
の構成に限定されない。ここで、キ−自体の構成は公知
であり、その構成自体はこの発明の趣旨でないため、そ
の詳細な説明は省略する。
The key 16 is not limited to the structure shown in the figure, as long as it can be driven into the key board base 18. Here, the configuration of the key itself is publicly known, and since the configuration itself is not the gist of the present invention, its detailed description is omitted.

【0021】キ−反射板14が、支持ロッド20の下端に固
定され、キ−16と一体的に昇降可能に構成されている。
図2、図4を見るとわかるように、キ−反射体14は、た
とえば、支持ロッド20の下端に固着された基部14a の一
サイドの表面に、アルミ蒸着等によって形成されてい
る。なお、キ−反射体14は、光源12からの光ビ−ム28を
反射可能に、光源サイドに配置されている(図2参
照)。
A key reflection plate 14 is fixed to the lower end of the support rod 20 and is configured to be movable up and down integrally with the key 16.
As can be seen from FIGS. 2 and 4, the key reflector 14 is formed, for example, by aluminum vapor deposition on the surface of one side of the base portion 14a fixed to the lower end of the support rod 20. The key reflector 14 is arranged on the light source side so as to reflect the light beam 28 from the light source 12 (see FIG. 2).

【0022】図1に示すように、光源12として、たとえ
ば、単一指向性の光ビ−ム(レ−ザビ−ム)28をキ−の
配列部、つまりはキ−列方向に照射可能な半導体レ−ザ
発振器が利用される。なお、半導体レ−ザ発振器(光
源)12の出力は 2mW以上にするとよい。
As shown in FIG. 1, as the light source 12, for example, a unidirectional light beam (laser beam) 28 can be irradiated in the key arrangement portion, that is, in the key row direction. A semiconductor laser oscillator is used. The output of the semiconductor laser oscillator (light source) 12 is preferably 2 mW or more.

【0023】半導体レ−ザ発振器(光源)12は、たとえ
ば、電流変調電源30を介して波形発振機32に接続され、
それによって、周波数シフトされた光ビ−ム28が照射可
能となっている。
The semiconductor laser oscillator (light source) 12 is connected to a waveform oscillator 32 via a current modulation power source 30, for example.
Thereby, the frequency-shifted optical beam 28 can be irradiated.

【0024】半導体レ−ザ発振器12からの光ビ−ム28
は、光アイソレ−タ34を介してレンズ系36に照射され、
レンズ系によって集束されて、キ−配列部(キ−列)方
向に伝搬、照射されている。
Optical beam 28 from semiconductor laser oscillator 12
Is irradiated onto the lens system 36 through the optical isolator 34,
The light is focused by a lens system and propagated and irradiated in the key arrangement portion (key row) direction.

【0025】この発明では、半導体レ−ザ発振器12から
の光ビ−ム28を2分割し、一方を参照光(基準光)、他
方をキ−反射板で反射された反射信号光とし、参照光、
反射4号光を周波数シフト光ヘテロダイン検波して、ビ
−ト信号を発生させ、ビ−ト周波数から打ち込まれたキ
−を判別している。
In the present invention, the optical beam 28 from the semiconductor laser oscillator 12 is divided into two, one of which is the reference light (reference light) and the other of which is the reflected signal light reflected by the key reflector, and the reference light is used. light,
The reflected No. 4 light is subjected to frequency shift optical heterodyne detection to generate a beat signal, and the key input from the beat frequency is discriminated.

【0026】図1に示すように、分割手段38はハ−フミ
ラ−からなり、ハ−フミラ−は、たとえば、薄い被膜を
介して重ね合された2個のプリズム38a、38b の一対の重
合面で光ビ−ム28を反射、透過して分割する半透明反射
面となっている。このような2個のプリズム38a、38b を
組合せてなるハ−フミラ−38は、通常、ハ−フミラ−キ
ュ−ブと称される。薄い透明ガラスやプラスチック板の
片面に薄い被膜を成形した半透明反射板からハ−フミラ
−を形成してもよい。
As shown in FIG. 1, the dividing means 38 is composed of a half mirror, and the half mirror is, for example, a pair of superposed surfaces of two prisms 38a and 38b superposed with a thin film. Is a semi-transparent reflection surface that reflects, transmits, and divides the light beam 28. The half mirror 38, which is a combination of the two prisms 38a and 38b, is usually called a half mirror tube. The half mirror may be formed from a semitransparent reflection plate in which a thin film is formed on one surface of thin transparent glass or a plastic plate.

【0027】ハ−フミラ−38に、半導体レ−ザ発振器12
からの光ビ−ム28が照射されると、ハ−フミラ−38によ
って、反射した第1ビ−ム28a および透過した第2ビ−
ム28b に光ビ−ムが分割され、各光ビ−ムが、プリズム
38a、38b を介して、それぞれの方向に伝搬、照射され
る。この発明では、周波数シフトした光ビ−ム28を使用
しているため、第1ビ−ム28、 第2ビ−ム28b が光ビ−
ム28から容易に分離できる。
A semiconductor laser oscillator 12 is attached to the half mirror 38.
When the light beam 28 from the above is irradiated, the first beam 28a reflected and the second beam transmitted by the half mirror 38 are transmitted.
The optical beam is divided into the beam 28b, and each optical beam is a prism.
It is propagated and irradiated in each direction via 38a and 38b. In the present invention, since the frequency-shifted optical beam 28 is used, the first beam 28 and the second beam 28b are optical beams.
It can be easily separated from the 28.

【0028】ここで、プリズム38a の一面にアルミ蒸着
等を施し全反射鏡として、反射体42を形成し、第1ビ−
ム28a を透過させることなく、反射体でハ−フミラ−方
向に折り返し反射している。
Here, aluminum is vapor-deposited on one surface of the prism 38a to form a reflector 42 as a total reflection mirror.
The light is reflected by the reflector in the direction of the half mirror without passing through the beam 28a.

【0029】このような構成では、反射体42によって全
反射された第1ビ−ム28a が、参照光として、受光体と
なるハ−フミラ−38に再度照射されている。反射体42は
第1ビ−ム28a を全反射することが好ましいとはいえ、
部分的に透過させてもよい。
In such a structure, the first beam 28a totally reflected by the reflector 42 is again radiated as the reference light to the half mirror 38 serving as a light receiver. Although it is preferable that the reflector 42 totally reflects the first beam 28a,
It may be partially transparent.

【0030】また、図1、図2に示すように、ハ−フミ
ラ−38で分割された第2ビ−ム28bは、打ち込まれたキ
−のキ−反射体14(14-4)でのみ反射されるように、キ−
列方向(図中左方)に照射されている。そして、打ち込
まれたキ−のキ−反射体14(14-4)で反射された第2ビ−
ム28b は、反射信号光として、たとえば、受光体となる
ハ−フミラ−38に再度照射されている。
Also, as shown in FIGS. 1 and 2, the second beam 28b divided by the harmylar 38 is formed only by the key reflector 14 (14-4) of the key which is driven in. Key to be reflected
It is irradiated in the row direction (left in the figure). Then, the second beam reflected by the key reflector 14 (14-4) of the key that was driven in.
The beam 28b is again irradiated as reflected signal light to, for example, the half mirror 38 serving as a light receiving body.

【0031】ここで、ハ−フミラ−38に折り返し反射さ
れた参照光28a 、反射信号光38b を、ハ−フミラ−で干
渉させると、参照光(第1ビ−ム)、反射信号光(第2
ビ−ム)の照射距離の違いから、干渉信号光40が生じ
る。
Here, when the reference light 28a and the reflected signal light 38b reflected and reflected by the half mirror 38 are interfered by the half mirror, the reference light (first beam) and the reflected signal light (first beam). Two
The interference signal light 40 is generated due to the difference in the irradiation distance of the beam.

【0032】そして、ハ−フミラ−38で生じた干渉信号
光40は、図1に示すように、たとえば、レンズ系44によ
って集束され、光検出手段46でビ−ト周波数が検出され
ている。
The interference signal light 40 generated by the half mirror 38 is focused by a lens system 44, for example, as shown in FIG. 1, and the beat frequency is detected by the light detecting means 46.

【0033】光検出手段46として、たとえば、光ヘテロ
ダイン検波の可能な2乗検波光検出器が利用される。そ
して、光検出手段46は、たとえば、アンプ48を介して、
出力手段50に接続され、ビ−ト周波数に対応した電気信
号が出力されている。
As the photodetecting means 46, for example, a square-law detection photodetector capable of optical heterodyne detection is used. Then, the light detection means 46, for example, via the amplifier 48,
It is connected to the output means 50 and outputs an electric signal corresponding to the beat frequency.

【0034】出力手段50は、たとえば、キ−16の打ち込
みによって発生、検出されるキ−毎に異なる干渉信号光
40のビ−ト周波数を中心周波数とする多段のバンドパス
フィルタとされる。そして、対応するバンドパスフィル
タのオン、オフによって生じる電気信号の有無によっ
て、打ち込みキ−が判別される。
The output means 50 is, for example, an interference signal light which is different for each key generated and detected by driving the key 16.
It is a multi-stage bandpass filter whose center frequency is 40 beat frequencies. Then, the implantation key is determined by the presence or absence of an electric signal generated by turning on / off the corresponding bandpass filter.

【0035】出力手段50は、検出ビ−ト周波数に応じて
電気信号を出力すれば足り、バンドパスフィルタに限定
されず、たとえば、走査型フィルタから出力手段を構成
してもよい。
The output means 50 need only output an electric signal in accordance with the detected beat frequency, and is not limited to a bandpass filter. For example, the output means may be composed of a scanning filter.

【0036】たとえば、光ヘテロダイン検波によるビ−
ト周波数fは、 f=4ΔL・δν・fm /c によって算出される。
For example, a beam by optical heterodyne detection
The frequency f is calculated by f = 4ΔL · δν · fm / c.

【0037】ただし、上記の数式において、fはビ−ト
周波数、ΔLは参照光と反射信号光との照射距離の差
(光路差)、δνは周波数シフト量、fm は周波数シフ
トの繰り返し周波数、cは光速度である。
In the above mathematical expression, f is the beat frequency, ΔL is the difference in the irradiation distance between the reference light and the reflected signal light (optical path difference), δν is the frequency shift amount, and fm is the frequency shift repetition frequency, c is the speed of light.

【0038】ここで、たとえば、δν=30GHz、fm=500H
z とすると、上記数式により、ΔL=20mm、500mm、1000m
m に対し、f=4KHz、100KHz、200KHzとなる。
Here, for example, δν = 30 GHz, fm = 500H
z = ΔL = 20mm, 500mm, 1000m
For m, f = 4KHz, 100KHz, 200KHz.

【0039】つまり、キ−間隔の最小を20mmとした場合
においては、出力手段50のバンドパスフィルタを4KHz毎
に形成すれば、打ち込みキ−に対応する電気信号の出力
が可能となる。
That is, when the minimum key interval is 20 mm, if the bandpass filter of the output means 50 is formed every 4 KHz, it is possible to output an electric signal corresponding to the driving key.

【0040】なお、この構成における、最小距離分解能
δL は、δL =c/4δνで決まるため、δν=30GHで
あれば、δL =2.5mm となる。
Since the minimum distance resolution δL in this configuration is determined by δL = c / 4δν, when δν = 30GH, δL = 2.5 mm.

【0041】図1に示すように、ハ−フミラ−38が基準
点L0となり、基準点L0からキ−列のキ−ポジションL1〜
Lnまでの距離に対応した干渉信号光40が、参照光28a、反
射信号光28b の重畳から生じる。
As shown in FIG. 1, the half mirror 38 becomes the reference point L0, and from the reference point L0 the key positions L1 to
The interference signal light 40 corresponding to the distance to Ln is generated from the superposition of the reference light 28a and the reflected signal light 28b.

【0042】つまり、図1、図2に示すように、キ−16
(16-4)の打ち込みによって、対応するキ−反射体14(14-
4)が下降して第2ビ−ム28b の光路に介在されると、第
2ビ−ムがキ−反射体14-4によって反射される。する
と、反射信号光(第2ビ−ム)28b が、基準点L0からキ
−ポジションL4までの距離に応じた時間ズレを生じなが
ら、ハ−フミラ−38に再度照射される。
That is, as shown in FIGS. 1 and 2, the key 16
By pressing (16-4), the corresponding key reflector 14 (14-
When (4) descends and enters the optical path of the second beam 28b, the second beam is reflected by the key reflector 14-4. Then, the reflected signal light (second beam) 28b is irradiated on the half mirror 38 again with a time lag corresponding to the distance from the reference point L0 to the key position L4.

【0043】そして、参照光(第1ビ−ム)28a、反射信
号光(第2ビ−ム)28b がハ−フミラ−38で干渉されて
干渉信号光40を生じ、光検出器46でビ−ト周波数が検出
され、出力手段50で対応する電気信号が出力されて、打
ち込まれたキ−が判別される。
Then, the reference beam (first beam) 28a and the reflected signal beam (second beam) 28b are interfered by the half mirror 38 to generate an interference signal beam 40, and the beam is detected by the photodetector 46. -The frequency is detected, the corresponding electric signal is output by the output means 50, and the driven key is determined.

【0044】上記のように、この発明のキ−ボ−ドの打
ち込みキ−判別方法によれば、打ち込んだキ−のキ−反
射体14で反射された反射信号光28a と参照光28a とから
干渉信号光40を生じさせ、ビ−ト周波数から、打ち込み
キ−を判別している。つまり、一対の接点の接触によっ
て、キ−の打ち込みを電気信号に変換する公知の構成に
対して、この発明の打ち込みキ−判別方法は、接点を接
触させることのない無接触式となっている。
As described above, according to the key board driving key discriminating method of the present invention, the reflected signal light 28a and the reference light 28a reflected by the key reflector 14 of the driven key are detected. The interference signal light 40 is generated, and the driving key is discriminated from the beat frequency. That is, in contrast to the known configuration in which the key driving is converted into an electric signal by the contact of the pair of contacts, the driving key determining method of the present invention is a non-contact type in which the contacts are not contacted. .

【0045】そのため、接点の変形、劣化等に起因する
接触不良が防止でき、接点不良によって生じる誤入力
(誤動作)が確実に阻止され、キ−ボ−ド11の操作性が
改善される。
Therefore, contact failure due to contact deformation, deterioration, etc. can be prevented, erroneous input (malfunction) caused by contact failure can be reliably prevented, and operability of the keyboard 11 is improved.

【0046】また、接点がなく、半導体レ−ザ発振器12
からの光ビ−ム28を反射、受光すれば足りるため、キ−
16の使用頻度の影響を受けず、使用頻度の高い英字、数
字、記号等の、いわゆる、アルファ−ニュ−メリックキ
−の打ち込みキ−判別方法として、この発明の方法が特
に有効に利用できる。
Further, since there is no contact, the semiconductor laser oscillator 12
Since it is sufficient to reflect and receive the light beam 28 from the
The method of the present invention can be particularly effectively utilized as a method for determining the so-called alpha-numeric key type key for frequently used English characters, numbers, symbols, etc. without being affected by the frequency of use.

【0047】キ−16を最下位置まで打ち込んで、一対の
接点間を接触させる公知の構成に対して、この発明で
は、第2ビ−ム28b を反射させる位置まで、キ−反射体
14を下降させればよいため、キ−の打ち込み力、つまり
は操作力に影響を受けることなく、打ち込みキ−の検
出、判別が行える。そのため、軽いタッチでのキ−ボ−
ド操作が可能となる。
In contrast to the known structure in which the key 16 is driven to the lowermost position to bring the pair of contacts into contact with each other, according to the present invention, the key reflector is moved to the position where the second beam 28b is reflected.
Since it suffices to lower 14, the driving key can be detected and determined without being affected by the driving force of the key, that is, the operating force. Therefore, the keyboard with a light touch
Operation becomes possible.

【0048】キ−反射体14は、第2ビ−ム28b をハ−フ
ミラ−38に折り返し反射させればよいため、支持ロッド
20の軸線方向における、キ−16、キ−反射体等の加工公
差、組立公差等が比較的大きくとれる。
The key reflector 14 has only to reflect the second beam 28b back to the half mirror 38 so that it can be reflected by the support rod.
The machining tolerance and the assembly tolerance of the key 16, the key reflector, etc. in the axial direction of 20 can be made relatively large.

【0049】さらに、キ−16と一体的に昇降可能なキ−
反射体14を設けるとともに、キ−列に対応する位置に半
導体レ−ザ発振器12、ハ−フミラ−38等を設ければよ
い。そのため、キ−ボ−ド11、光学系が一体的して平面
的に配設でき、構成が簡素化される。従って、組立時の
作業性が高く、キ−ボ−ド11の全体的なコストダウンが
十分に期待できる。また、構成の簡素化によって、故障
も少なくなり、メンテナンスも容易に行える。
Furthermore, a key that can be raised and lowered integrally with the key 16
The reflector 14 may be provided, and the semiconductor laser oscillator 12, the half mirror 38, etc. may be provided at positions corresponding to the key rows. Therefore, the keyboard 11 and the optical system can be integrally arranged in a plane, and the configuration is simplified. Therefore, the workability at the time of assembly is high, and the overall cost reduction of the keyboard 11 can be expected sufficiently. Further, due to the simplification of the configuration, breakdowns are reduced and maintenance can be easily performed.

【0050】また、透明プラスチック等を光ビ−ムの伝
達媒体にしたり、光ビ−ムを分散したりする必要がな
く、構成が簡素化できる。
Further, it is not necessary to use transparent plastic or the like as a transmission medium for the optical beam or to disperse the optical beam, so that the structure can be simplified.

【0051】この発明では、周波数シフト光ヘテロダイ
ン検波しているため、多段のバンドパスフィルタや走査
型フィルタのような出力手段50によって、打ち込まれた
キ−が確実、迅速に判別できる。
In the present invention, since the frequency-shifted optical heterodyne detection is performed, the driven key can be surely and quickly discriminated by the output means 50 such as a multistage bandpass filter or a scanning filter.

【0052】そして、キ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装
置10によれば、簡単な構成にも拘らず、上記の打ち込み
キ−判別方法が適切に遂行できる。
According to the key board driving key discriminating apparatus 10, the above-mentioned driving key discriminating method can be properly executed in spite of its simple structure.

【0053】光路の末端に全反射体を設け、常時反射さ
せてその信号周波数を光路監視用に使用すれば、異変が
容易に検知でき、好ましい。
It is preferable that a total reflection member is provided at the end of the optical path, and the signal frequency is constantly reflected to be used for monitoring the optical path because an abnormality can be easily detected.

【0054】実施例では、ハ−フミラ−38が、参照光28
a 、反射信号光28b を受光する受光体を兼ねているた
め、構成的に一層簡素化できる。しかし、ハ−フミラ−
38と別体の受光体で、参照光、反射信号光を受光しても
よい。
In the embodiment, the Hafmirra 38 is used as the reference beam 28.
Since it also serves as a light receiving body for receiving the reflected signal light 28b, the structure can be further simplified. However, Hafmirah
The reference light and the reflected signal light may be received by a light receiver separate from 38.

【0055】また、ハ−フミラ−38がハ−フミラ−キュ
−ブから形成されているため、光ビ−ム28の分割が適切
に行えるとともに、第1ビ−ム28a を反射させる反射体
42がプリズム38a の一面へのアルミ蒸着によって容易に
形成でき、簡単な構成のハ−フミラ−が得られる。しか
し、プリズム以外の部材からハ−フミラ−38を形成して
もよい。
Further, since the harmylar 38 is formed from the harmylar cube, the light beam 28 can be appropriately divided and a reflector for reflecting the first beam 28a.
42 can be easily formed by aluminum vapor deposition on one surface of the prism 38a, and a half mirror having a simple structure can be obtained. However, the half mirror 38 may be formed from a member other than the prism.

【0056】また、実施例において、キ−反射体14は、
平面状の鏡面から形成されているが、これに限定され
ず、たとえば、図5に示すように、凹面状の鏡面として
もよい。このような、凹面状の反射鏡面によれば、上下
方向へのキ−反射体のブレや長距離の照射等によって分
散された第2ビ−ム28b が集束されてハ−フミラ−38に
折り返し照射されるため、光ビ−ムの強度低下が十分に
防止できる。
Further, in the embodiment, the key reflector 14 is
Although it is formed of a flat mirror surface, it is not limited to this and may be, for example, a concave mirror surface as shown in FIG. With such a concave reflecting mirror surface, the second beam 28b dispersed due to the vertical movement of the key reflector or long-distance irradiation is focused and folded back to the half mirror 38. Since the irradiation is performed, it is possible to sufficiently prevent the decrease in the intensity of the light beam.

【0057】そのため、キ−反射体14の成形やキ−自体
の取付け等に高い精度が要求されず、組立時の作業性が
向上される。この凹面鏡面のキ−反射体14は、ハ−フミ
ラ−38、キ−16間の距離の長い構成において、特に効果
的に利用できる。
Therefore, high precision is not required for molding the key reflector 14 or mounting the key itself, and the workability during assembly is improved. The concave mirror-finished key reflector 14 can be used particularly effectively in the configuration in which the distance between the half mirror 38 and the half mirror 16 is long.

【0058】キ−反射体14は、基部表面にアルミ蒸着さ
れた鏡面として具体化されているが、光ビ−ム、つま
り、第2ビ−ム28b をハ−フミラ−方向に反射可能であ
れば足り、これに限定されない。たとえば、キ−の支持
ロッド20の下端に、直角プリズム(図6参照)やコ−ナ
−キュ−ブプリズム(図7参照)を固定し、これらのプ
リズムで第2ビ−ム28b を反射させてもよい。
The key reflector 14 is embodied as a mirror surface of which aluminum is vapor-deposited on the surface of the base, but it should be capable of reflecting the light beam, that is, the second beam 28b in the half mirror direction. It is sufficient, but not limited to this. For example, a right angle prism (see FIG. 6) or a corner cube prism (see FIG. 7) is fixed to the lower end of the supporting rod 20 of the key, and the second beam 28b is reflected by these prisms. Good.

【0059】コ−ナ−キュ−ブプリズムをキ−反射体14
とした構成では、コ−ナ−キュ−ブプリズムの受光面が
上下方向、または、左右方向にブレても、受光した第2
ビ−ム28b がハ−フミラ−方向に確実に折り返し反射さ
れる。そのため、光ビ−ム28b の強度低下が確実に防止
できるとともに、キ−反射体の成形やキ−自体の取付け
等の精度が緩和される。
The corner-curve prism is used as a key reflector 14.
In the above configuration, even if the light receiving surface of the corner-curve prism moves vertically or horizontally, the second light is received.
The beam 28b is reliably reflected and reflected in the direction of the half mirror. Therefore, the strength of the optical beam 28b can be surely prevented from being lowered, and the accuracy of molding the key reflector and mounting the key itself can be eased.

【0060】実施例においては、図1に示すように、横
1列のキ−列を1ブロックとし、1ブロック毎に打ち込
みキ−を判別する構成として、打ち込みキ−判別装置10
が例示されている。しかし、これに限定されず、半導体
レ−ザ発振器12からの光ビ−ム28を多段のキ−列56で共
有する構成としてもよい。
In the embodiment, as shown in FIG. 1, the driving key discriminating apparatus 10 has a structure in which one horizontal row of keys is one block and the driving key is discriminated for each block.
Is illustrated. However, the configuration is not limited to this, and the optical beam 28 from the semiconductor laser oscillator 12 may be shared by the multi-stage key row 56.

【0061】たとえば、図8に示すように、半導体レ−
ザ発振器12からの光ビ−ム28を多段のキ−列56(56-1 〜
56-3) の全てのキ−反射体に連続して照射可能に、キ−
列56を配置してもよい。
For example, as shown in FIG.
The optical beam 28 from the oscillator 12 is connected to the multi-stage key row 56 (56-1 ~
All the key reflectors in (56-3) can be continuously illuminated,
The rows 56 may be arranged.

【0062】図8では、ハ−フミラ−38からの第2ビ−
ム28b を反射させる全反射体であるコ−ナ−反射体58(5
8-1 〜58-5) が、多段のキ−列56(56-1 〜56-3) の各コ
−ナ−に配設されて、第2ビ−ム28b を次段のキ−列方
向に伝搬、照射している。
In FIG. 8, the second beam from the harf mirror 38 is shown.
The corner reflector 58 (5
8-1 to 58-5) are arranged in the respective corners of the multi-stage key row 56 (56-1 to 56-3), and the second beam 28b is connected to the next row of key rows. It propagates and irradiates in the direction.

【0063】半導体レ−ザ発振器12からの光ビ−ム28が
ハ−フミラ−38によって2分割されると、ハ−フミラ−
を透過した第2ビ−ム28b が、同一列のキ−列56-1に直
進して伝搬、照射される。そして、キ−列56-1を通過し
た第2ビ−ム28b は、コ−ナ−反射体58-1、58-2 でそれ
ぞれ反射されて、次段のキ−列58-2に伝搬、照射され
る。同様に、キ−列56-2を通過した第2ビ−ム28b は、
コ−ナ−反射体58-3、58-4 を介して隣接するキ−列56-3
に伝搬、照射され、最終のコ−ナ−反射体58-5に反射さ
れる。
When the optical beam 28 from the semiconductor laser oscillator 12 is divided into two by the half mirror 38, the half mirror 38
The second beam 28b that has passed through is transmitted straight to the key row 56-1 in the same row and is propagated and irradiated. Then, the second beam 28b passing through the key row 56-1 is reflected by the corner reflectors 58-1 and 58-2 and propagates to the next key row 58-2, Is irradiated. Similarly, the second beam 28b passing through the key row 56-2 is
Key rows 56-3 adjacent to each other via corner reflectors 58-3 and 58-4
Is reflected on the final corner reflector 58-5.

【0064】この構成では、第2ビ−ム28b が略S形の
一筆書き状に連続して、全てのキ−列に伝搬、照射され
る。そして、キ−16が任意に打ち込まれ、対応するキ−
反射体14が下降すると、第2ビ−ム28b がそのキ−反射
体に反射されて、ハ−フミラ−38からの伝搬と逆方向に
進行し、反射信号光としてハ−フミラ−に再度照射され
る。
In this structure, the second beam 28b is continuously propagated and irradiated to all the key rows in a substantially S-shaped one-stroke writing pattern. Then key 16 is typed in arbitrarily and the corresponding key
When the reflector 14 descends, the second beam 28b is reflected by the key reflector, travels in the direction opposite to the propagation from the half mirror 38, and irradiates the half mirror again as reflected signal light. To be done.

【0065】そのため、各キ−列毎に半導体レ−ザ発振
器12を設けることなく、キ−列56(56-1 〜56-3) への第
2ビ−ム28b の照射が得られ、部品点数が削減されて、
打ち込みキ−判別装置10が構成的に一層簡素化できる。
Therefore, it is possible to irradiate the second beam 28b to the key row 56 (56-1 to 56-3) without providing the semiconductor laser oscillator 12 for each key row, and The points are reduced,
The driving key discrimination device 10 can be structurally further simplified.

【0066】また、一筆書き状に連続して照射する代わ
りに、図9に示すように、半導体レ−ザ発振器12からの
光ビ−ム28を分岐して、多段の各キ−列にそれぞれ伝
搬、照射させてもよい。
Further, instead of continuously irradiating in a single-stroke form, as shown in FIG. 9, the optical beam 28 from the semiconductor laser oscillator 12 is branched so as to be divided into each multi-stage key row. It may be propagated or irradiated.

【0067】たとえば、分岐手段60(60-1、60-2) および
反射手段61が、多段のキ−列56(56-1 〜56-3) に配設さ
れ、反射手段61は最終のキ−列56-3のコ−ナ−に、分岐
手段60は、最終のキ−列を除くキ−列(56-1、56-2) のコ
−ナ−にハ−フミラ−38とそれぞれ同列に設けられてい
る。たとえば、分岐手段は光ビ−ムの反射、透過の可能
な半透明反射面(ハ−フミラ−キュ−ブ)とされ、反射
手段61は光ビ−ムを反射させる全反射面となっている。
For example, the branching means 60 (60-1, 60-2) and the reflecting means 61 are arranged in a multi-stage key row 56 (56-1 to 56-3), and the reflecting means 61 is the final key. -To the corner of the row 56-3, the branching means 60 is arranged in the same row as the half mirror 38 in the corners of the key rows (56-1, 56-2) excluding the final key row. It is provided in. For example, the branching means is a semitransparent reflecting surface (Half-Miller-Cube) capable of reflecting and transmitting the light beam, and the reflecting means 61 is a total reflection surface for reflecting the light beam. .

【0068】そのため、半導体レ−ザ発振器12からの光
ビ−ム28がハ−フミラ−(分割手段)38で2分割される
と、ハ−フミラ−を透過した第2ビ−ム28b が、まず、
分岐手段60-1で、キ−列56-1方向と次段の分岐手段60-2
方向とに分岐される。また、分岐手段60-2に照射された
第2ビ−ム28b は、キ−列56-2方向と次段の反射手段61
方向とにさらに分岐され、反射手段61に照射された第2
ビ−ムは、キ−列56-3に照射される。
Therefore, when the optical beam 28 from the semiconductor laser oscillator 12 is split into two by the half mirror (splitting means) 38, the second beam 28b transmitted through the half mirror is First,
In the branching means 60-1, the direction of the key row 56-1 and the branching means 60-2 in the next stage
Direction and branched into. The second beam 28b emitted to the branching means 60-2 is reflected by the reflecting means 61 in the direction of the key row 56-2.
The second direction, which is further branched to
Beams illuminate key row 56-3.

【0069】そして、キ−列56-1〜56-3に照射された第
2ビ−ム28b は、打ち込まれたキ−16のキ−反射体14で
反射され逆方向に進行して反射信号光としてハ−フミラ
−に再度照射される。
Then, the second beam 28b irradiated on the key rows 56-1 to 56-3 is reflected by the key reflector 14 of the driven key 16 and travels in the opposite direction to give a reflected signal. The half mirror is irradiated again as light.

【0070】この構成においても、各キ−列毎に半導体
レ−ザ発振器12を設けることなく、各キ−列毎の第2ビ
−ム28b の照射が得られ、構成的に簡素化できる。
Also in this configuration, the irradiation of the second beam 28b for each key column can be obtained without providing the semiconductor laser oscillator 12 for each key column, and the configuration can be simplified.

【0071】そして、この構成では、分岐手段60(60-1、
60-2) および反射手段61が配設されるため、各キ−列毎
の第2ビ−ム28b の照射距離が抑制され、キ−反射体14
のブレや第2ビ−ム28b の分散化等による反射信号光の
強度低下が阻止される。
In this configuration, the branching means 60 (60-1, 60-1,
60-2) and the reflection means 61 are arranged, the irradiation distance of the second beam 28b for each key row is suppressed, and the key reflector 14 is provided.
The reduction of the intensity of the reflected signal light due to the blurring of the second beam 28b and the dispersion of the second beam 28b is prevented.

【0072】分岐手段60(60-1、60-2) 、反射手段61によ
って第2ビ−ム28b をキ−列56(56-1 〜56-3) に光ビ−
ムを照射しているが、これに限定されず、たとえば、前
記半透明反射板と全反射板とを組合せて、キ−ボ−ドの
打ち込みキ−判別装置10を構成してもよい。
The branching means 60 (60-1, 60-2) and the reflecting means 61 cause the second beam 28b to be optically beamed to the key row 56 (56-1 to 56-3).
However, the present invention is not limited to this, and for example, the semi-transparent reflection plate and the total reflection plate may be combined to form the key board driving key determination device 10.

【0073】実施例では、キ−列56を三段としている
が、三段に限らないことはいうまでもない。
In the embodiment, the key row 56 has three stages, but needless to say, it is not limited to three stages.

【0074】実施例において、キ−反射体14は、第2ビ
−ム28b を全反射させる構成として例示されているが、
これに限定されず、たとえば、部分的に透過させ、第2
ビ−ムをシャッタ−で遮断する構成としてもよい。
In the embodiment, the key reflector 14 is exemplified as a structure for totally reflecting the second beam 28b.
The present invention is not limited to this, and, for example, partially transmitting the second
The beam may be blocked by a shutter.

【0075】たとえば、図10に示すこの発明の別実施例
のキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置10-2では、シャッ
タ−62が支持ロッド20を介してキ−16に一体的に設けら
れるとともに、キ−反射板64が隣接するキ−間にそれぞ
れ配設されている。
For example, in a keyboard key deciding device 10-2 of another embodiment of the present invention shown in FIG. 10, a shutter 62 is integrally provided on a key 16 via a supporting rod 20. In addition, the key reflectors 64 are arranged between the adjacent keys.

【0076】キ−反射板64は、たとえば、光ビ−ム、つ
まりは第2ビ−ム28b を透過、反射可能な反射体とさ
れ、キ−ボ−ド11の固定プレ−ト66に固定されている。
そして、ハ−フミラ−38によって分割された第2ビ−ム
28b が、ハ−フミラ−サイド(図中右方)の反射板64-1
から順次反射、透過され、キ−16の打ち込みに伴う、シ
ャッタ−62の下降によって、第2ビ−ムが遮断可能とな
っている。
The key reflector 64 is, for example, a reflector capable of transmitting and reflecting the light beam, that is, the second beam 28b, and is fixed to the fixed plate 66 of the keyboard 11. Has been done.
Then, the second beam divided by the half mirror 38
28b is a reflector on the half mirror side (right side in the figure) 64-1
The second beam can be blocked by descending the shutter 62 as the key 16 is driven.

【0077】シャッタ−62の非下降時においては、第2
ビ−ム28が全ての反射板62に反射され、それぞれの反射
信号光がハ−フミラ−38に照射され、各反射信号光に対
応するビ−ト周波数が検出される。そして、キ−16が打
ち込まれ、たとえば、対応するシャッタ−62-3が第2ビ
−ム28b の光路に下降すると、第2ビ−ムがシャッタ−
62-3によって遮断され、シャッタ−62-3より図中左方に
位置するキ−反射板64-4、64-5 からの反射信号光がそれ
ぞれ消滅する。
When the shutter 62 is not descending, the second
The beam 28 is reflected by all the reflection plates 62, the respective reflected signal lights are applied to the half mirror 38, and the beat frequencies corresponding to the respective reflected signal lights are detected. Then, when the key 16 is driven and the corresponding shutter 62-3 descends to the optical path of the second beam 28b, the second beam is released.
The reflected signal lights from the key reflectors 64-4 and 64-5 located on the left side of the shutter 62-3 in the figure are blocked by the shutter 62-3, respectively.

【0078】つまり、この構成では、光検出器46および
出力手段50における、反射板64-4、64-5 からの反射信号
光に対応する干渉信号光40の消滅が検出されて、打ち込
まれたキ−が判別される。
That is, in this configuration, the disappearance of the interference signal light 40 corresponding to the reflected signal light from the reflection plates 64-4 and 64-5 in the photodetector 46 and the output means 50 is detected and injected. The key is determined.

【0079】この構成のキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別
装置10-2によれば、第2ビ−ム28bが固定のキ−反射板6
4で反射されるため、キ−反射板にブレ等が生じること
もなく、ハ−フミラ−38への反射信号光の折り返しの反
射が確実に得られる。
According to the key board driving key discriminating apparatus 10-2 of this construction, the key reflector 6 having the second beam 28b fixed thereto.
Since the light is reflected at 4, the key reflection plate is not shaken, and the reflected reflection of the reflected signal light to the half mirror 38 can be reliably obtained.

【0080】また、シャッタ−62は、第2ビ−ム28b を
遮断すれば足り、シャッタ−自体に高い精度は要求され
ない。
Further, the shutter 62 only needs to block the second beam 28b, and the shutter itself is not required to have high accuracy.

【0081】上記の各実施例では、ハ−フミラ−38によ
って分割された第1ビ−ム28a 、第2ビ−ム28b をハ−
フミラ−で干渉させ、干渉によって発生するビ−ト周波
数から打ち込みキ−を判別可能に構成されている。しか
し、ビ−ト周波数によらず、第1ビ−ム、第2ビ−ムの
光路差に起因する位相差から、打ち込みキ−を判別する
こともできる。
In each of the above embodiments, the first beam 28a and the second beam 28b divided by the harmylar 38 are harbored.
The humming mirror is used for interference, and the driving key can be discriminated from the beat frequency generated by the interference. However, regardless of the beat frequency, the driving key can be discriminated from the phase difference caused by the optical path difference between the first beam and the second beam.

【0082】図11に示すように、キ−ボ−ドの打ち込み
キ−判別装置110 においては、第1ビ−ム28a 、第2ビ
−ム28b の振幅変調信号の位相をそれぞれ検出可能な第
1、第2の光検出器68、70 が設けられている。
As shown in FIG. 11, in the key board driving key discriminating apparatus 110, the first beam 28a and the second beam 28b are capable of detecting the phases of the amplitude modulation signals respectively. First and second photodetectors 68 and 70 are provided.

【0083】たとえば、波形発振器32が振幅変調電源13
0 を介して半導体レ−ザ発振器12に接続され、半導体レ
−ザを1MHz程度の正弦波信号で変調した光ビ−ム28をハ
−フミラ−(分割手段)38で参照光28a、反射信号光28b
に分割したとき、光検出器68で検出される参照光の出力
Irは、半導体レ−ザの変調周波数をfmとおけば、以
下の式から求められる。 Ir=I・sin(2πfm・t)
For example, the waveform oscillator 32 is the amplitude modulation power supply 13
The optical beam 28, which is connected to the semiconductor laser oscillator 12 via 0 and is obtained by modulating the semiconductor laser with a sine wave signal of about 1 MHz, uses a half mirror 38 as a reference beam 28a and a reflected signal. Light 28b
When divided into, the output Ir of the reference light detected by the photodetector 68 is obtained from the following equation, where the modulation frequency of the semiconductor laser is fm. Ir = I · sin (2πfm · t)

【0084】これに対して、反射信号光28b の位相は、
図12に示すように、光路差相当分(2Ln)だけ遅れ、光検
出器68、70 がハ−フミラ−38から等距離にあれば、光検
出器70における反射信号光28b の出力Inは以下となる
(C:光速度)。 In=I・sin(2πfm(t−2Ln/c)
On the other hand, the phase of the reflected signal light 28b is
As shown in FIG. 12, if the photodetectors 68, 70 are equidistant from the half mirror 38 by delaying by an amount equivalent to the optical path difference (2Ln), the output In of the reflected signal light 28b at the photodetector 70 is as follows. (C: speed of light). In = I · sin (2πfm (t-2Ln / c)

【0085】そのため、参照光28a、反射信号光28b の信
号の位相を比較して得られる位相差φ、および、それか
ら求められる距離Lnは以下のようになる。 φ =2πfm(2Ln/c) Ln=φ・c/4πfm このように、参照光28a、反射信号光28b の振幅変調光の
位相差φを検出すれば、距離Lnが求められ、打ち込ま
れたキ−が判別される。
Therefore, the phase difference φ obtained by comparing the phases of the reference light 28a and the reflected signal light 28b, and the distance Ln obtained therefrom are as follows. φ = 2πfm (2Ln / c) Ln = φ · c / 4πfm In this way, if the phase difference φ between the amplitude-modulated lights of the reference light 28a and the reflected signal light 28b is detected, the distance Ln can be obtained and the key entered − Is determined.

【0086】実施例では、第1、第2の光検出器68、70
で検出された参照光28a 、反射信号光28b の振幅変調光
の位相は、各光検出器に接続された位相比較器72で比較
される。位相比較器72は、たとえば、図13に示す公知の
構成とされ、参照光28a 、反射信号光28b の振幅変調光
の位相差に相当する電圧値を出力し、位相比較器に接続
された出力手段74によって、その電圧値に対応する電気
信号が出力されて、打ち込まれたキ−14が判別されてい
る。
In the embodiment, the first and second photodetectors 68, 70
The phases of the amplitude-modulated lights of the reference light 28a and the reflected signal light 28b detected in 1 are compared by the phase comparator 72 connected to each photodetector. The phase comparator 72 has, for example, a well-known configuration shown in FIG. 13, outputs a voltage value corresponding to the phase difference between the amplitude modulated lights of the reference light 28a and the reflected signal light 28b, and outputs the voltage connected to the phase comparator. An electric signal corresponding to the voltage value is output by the means 74 and the driven key 14 is discriminated.

【0087】このように、振幅変調した参照光28a 、反
射信号光28b の位相差の検出によって、打ち込みキ−が
判別でき、この構成においても、ビ−ト周波数による上
記実施例と同様な効果が得られる。
As described above, the driving key can be discriminated by detecting the phase difference between the amplitude-modulated reference light 28a and the reflected signal light 28b. Also in this configuration, the same effect as that of the above embodiment by the beat frequency can be obtained. can get.

【0088】図14に別実施例を示す。この実施例では、
参照光を出力する代わりに、波形発振器32または振幅変
調電源130 からの変調信号の位相を基準として比較し、
前記実施例と同様に打ち込みキ−を判別している。この
構成では、光検出器が1つで足り、部品点数を削減でき
る利点がある。
FIG. 14 shows another embodiment. In this example,
Instead of outputting the reference light, the phase is compared with the modulation signal from the waveform oscillator 32 or the amplitude modulation power supply 130,
The driving key is determined in the same manner as in the above embodiment. This configuration has the advantage that one photodetector is sufficient and the number of parts can be reduced.

【0089】図15に示す実施例では、半導体レ−ザ発振
器12から出力される直線偏光(光電界ベクトルは紙面に
平行)の光ビ−ム28が、光路上の偏光ビ−ムスプリッタ
−75、四分の一波形板76を通過して円偏光となって反射
板14で反射されている。反射された円偏光光ビ−ムが、
四分の一波形板76に戻ると、紙面に垂直な直線偏光とな
り、直線偏光は、受光体である偏光ビ−ムスプリッタ−
75を直進せずに反射され、光検出器68に入射する反射信
号光28b となる。
In the embodiment shown in FIG. 15, the linearly polarized light beam 28 (optical field vector is parallel to the paper surface) output from the semiconductor laser oscillator 12 is a polarization beam splitter 75 on the optical path. The circularly polarized light passes through the quarter corrugated plate 76 and is reflected by the reflector 14. The reflected circularly polarized light beam
Returning to the quarter corrugated plate 76, it becomes a linearly polarized light which is perpendicular to the paper surface, and the linearly polarized light is a polarized beam splitter which is a light receiving body.
It becomes reflected signal light 28b which is reflected without going straight through 75 and is incident on the photodetector 68.

【0090】この実施例では、半導体レ−ザ発振器12へ
の戻り光が生じない。また、反射信号光28b がハ−フミ
ラ−で損失することなく光検出器68で受光できる。
In this embodiment, no light returns to the semiconductor laser oscillator 12. Further, the reflected signal light 28b can be received by the photodetector 68 without being lost by the half mirror.

【0091】図14、図15に示す実施例では、第1ビ−ム
を必要としないで第2ビ−ムのみを使用しているにすぎ
ず、他の実施例においても、これらの実施例の技術思想
が適用できる。
In the embodiments shown in FIGS. 14 and 15, only the second beam is used without the need for the first beam, and in other embodiments, these embodiments are also used. The technical idea of can be applied.

【0092】光ビ−ムの輝度の高く、集光性のよい発光
ダイオ−ドやス−パ−ルミネッセントダイオ−ドを使用
した発振器も、半導体レ−ザ発振器に含まれることはい
うまでもない。
It goes without saying that the semiconductor laser oscillator also includes an oscillator using a light emitting diode or a super luminescent diode having a high light beam brightness and good light-collecting property. Nor.

【0093】なお、この発明に係るキ−ボ−ドの打ち込
みキ−判別方法および打ち込みキ−判別装置は、パソコ
ン、ワ−プロ等のキ−ボ−ドに適するとはいえ、これに
限定されず、たとえば、電子ピアノ、エレクト−ン、シ
ンセサイザ−等の楽器用のキ−ボ−ドにも応用できる。
The method and apparatus for discriminating the driving key of the keyboard according to the present invention are suitable for the keyboards of personal computers, word processors, etc., but are not limited thereto. Instead, it can be applied to a keyboard for musical instruments such as an electronic piano, an electon, and a synthesizer.

【0094】上述した実施例は、この発明を説明するた
めのものであり、この発明を何等限定するものでなく、
この発明の技術範囲内で変形、改造等の施されたものも
全てこの発明に包含されることはいうまでもない。
The above-mentioned embodiments are for explaining the present invention, and do not limit the present invention in any way.
It goes without saying that the present invention includes all those which are modified or modified within the technical scope of the present invention.

【0095】[0095]

【発明の効果】上記のように、この発明に係るキ−ボ−
ドの打ち込みキ−判別方法によれば、接点の接触しない
無接触式とされ、接点の変形、劣化等に起因する接触不
良が防止でき、接点不良によって生じる誤入力が確実に
阻止される。
As described above, the keyboard according to the present invention is used.
According to the method of discriminating the driving of the contact, the contact is made non-contact without contact, contact failure due to contact deformation, deterioration, etc. can be prevented, and erroneous input caused by contact failure can be reliably prevented.

【0096】打ち込まれたキ−が、ビ−ト周波数から判
別される場合でも、位相差から判別される場合でも、構
成的に簡素化でき、キ−ボ−ドの打ち込みキ−判別方法
が、簡単な構成のキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置で
遂行できる。
Whether the entered key is determined from the beat frequency or the phase difference can be structurally simplified, and the key board driving key determination method is as follows. This can be performed by a key board driving key discriminating device having a simple structure.

【0097】周波数シフトした光ビ−ムを使用している
ため、第1ビ−ム、 第2ビ−ムが光ビ−ムから容易に分
離できる。
Since the frequency-shifted optical beam is used, the first beam and the second beam can be easily separated from the optical beam.

【0098】周波数シフト光ヘテロダイン検波すれば、
ビ−ト周波数が、キ−反射体までの距離と半導体レ−ザ
の周波数シフト量に依存し、ベ−スバンド周波数が任意
に選択、設計できる。
Frequency shift optical heterodyne detection,
The beat frequency depends on the distance to the key reflector and the frequency shift amount of the semiconductor laser, and the base band frequency can be arbitrarily selected and designed.

【0099】キ−列の各コ−ナ−に配設したコ−ナ−反
射体によって、光ビ−ム(第2ビ−ム)を全てのキ−に
対して、一筆書き状に連続して照射可能とすれば、各キ
−列毎にレ−ザ−発振器等を設けることなく、各キ−列
への光ビ−ムの照射が行える。
By means of the corner reflectors arranged in the respective corners of the key row, the light beam (second beam) is continuously applied to all the keys in a one-stroke form. If it is possible to irradiate each key row, it is possible to irradiate each key row with an optical beam without providing a laser oscillator or the like.

【0100】コ−ナ−に設けた分岐手段で第2ビ−ムを
キ−列毎に分岐すれば、各キ−列毎の光ビ−ムの照射距
離が十分に抑制され、キ−反射体のブレや光ビ−ムの分
散化等による反射信号光の強度低下が十分に防止でき
る。
If the second beam is branched for each key row by the branching means provided in the corner, the irradiation distance of the optical beam for each key row is sufficiently suppressed and the key reflection is performed. It is possible to sufficiently prevent the decrease in the intensity of the reflected signal light due to the blurring of the body or the dispersion of the light beam.

【0101】また、キ−と一体的なキ−反射板で全反射
する代わりに、隣接するキ−間に固定され、第2ビ−ム
を透過可能なキ−反射板からの反射信号光を、キ−の打
ち込みに伴うシャッタ−の下降によって遮断しても、打
ち込まれたキ−が判別できる。
Further, instead of totally reflecting by the key reflector which is integral with the key, the reflected signal light from the key reflector which is fixed between the adjacent keys and which can transmit the second beam is transmitted. Even if the shutter is shut down by lowering the shutter as the key is driven, the driven key can be identified.

【0102】反射板をコ−ナ−キュ−ブプリズムから形
成すれば、コ−ナ−キュ−ブプリズムの受光面が上下方
向、または、左右方向にブレても、受光した第2ビ−ム
がハ−フミラ−方向に確実に折り返し反射されるため、
光ビ−ムの強度低下が一層確実に防止できる。
If the reflecting plate is formed of a corner-curve prism, even if the light-receiving surface of the corner-curve prism is vertically or horizontally deviated, the second beam that has received the light will be reflected. -Because it is reliably reflected and reflected in the direction of Fumira,
The decrease in the intensity of the light beam can be prevented more reliably.

【0103】また、ハ−フミラ−を分割手段とし、ハ−
ムミラ−をハ−フミラ−キュ−ブとすれば、光ビ−ムの
分割が適切に行えるとともに、第1ビ−ムを反射させる
反射体が、プリズムの一面へのアルミ蒸着によって容易
に形成でき、構成が簡素化できる。
Further, the harf mirror is used as a dividing means, and
If the mullar mirror is a half mirror cuvette, the light beam can be appropriately divided, and a reflector for reflecting the first beam can be easily formed by vapor-depositing aluminum on one surface of the prism. , The configuration can be simplified.

【0104】ハ−フミラ−が受光体を兼ねる構成とすれ
ば、部品点数の増加が防止され、構成が一層簡素化され
る。
If the half mirror also serves as a light receiving body, an increase in the number of parts can be prevented and the structure can be further simplified.

【0105】さらに、キ−反射板を凹面状とすれば、キ
−反射板のブレや長距離の照射等によって分散された光
ビ−ムが集束されるため、光ビ−ムの強度低下が十分に
防止できる。
Further, if the key reflecting plate is made concave, the light beams dispersed by the blurring of the key reflecting plate and the irradiation of a long distance are focused, so that the intensity of the light beam is lowered. Can be fully prevented.

【0106】キ−反射体をコ−ナ−キュ−ブプリズムと
すれば、受光面が上下左右にブレても、受光した第2ビ
−ムが確実に折り返し反射され、光ビ−ムの強度低下が
確実に防止できる。
If the key reflector is a corner-curve prism, even if the light receiving surface is vertically or horizontally deviated, the received second beam is reliably reflected and reflected, and the intensity of the optical beam is reduced. Can be reliably prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明に係るキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別
装置の概略ブロック図である。
FIG. 1 is a schematic block diagram of a key board driving key determining device according to the present invention.

【図2】キ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置のキ−の部
分縦断面図である。
FIG. 2 is a partial vertical cross-sectional view of a key of the key board driving key determining device.

【図3】キ−ボ−ドの概略斜視図である。FIG. 3 is a schematic perspective view of a keyboard.

【図4】キ−反射板の概略斜視図である。FIG. 4 is a schematic perspective view of a key reflector.

【図5】キ−反射板の変形例である。FIG. 5 is a modification of the key reflector.

【図6】キ−反射板の変形例である。FIG. 6 is a modification of the key reflector.

【図7】キ−反射板の変形例である。FIG. 7 is a modification of the key reflector.

【図8】第2ビ−ムを一筆書き状に連続して照射させた
キ−列の概略配置図である。
FIG. 8 is a schematic layout diagram of a key row in which a second beam is continuously irradiated in a one-stroke writing pattern.

【図9】第2ビ−ムをキ−列毎に平行に照射させたキ−
列の概略配置図である。
FIG. 9: Keys in which a second beam is irradiated in parallel for each key row
It is a schematic layout drawing of a row.

【図10】シャッタ−で遮断可能とした、この発明の変
形例におけるキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置のキ−
の部分縦断面図である。
FIG. 10 is a key of a key board driving key discriminating device according to a modification of the present invention, which can be shut off by a shutter.
FIG.

【図11】位相差より打ち込みキ−を判別する、この発
明の他の実施例におけるキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別
装置の概略ブロック図である。
FIG. 11 is a schematic block diagram of a key board driving key discriminating apparatus in another embodiment of the present invention for discriminating a driving key from a phase difference.

【図12】参照光、反射信号光の出力の位相差を示す図
である。
FIG. 12 is a diagram showing a phase difference between outputs of reference light and reflected signal light.

【図13】位相比較器のブロック図である。FIG. 13 is a block diagram of a phase comparator.

【図14】位相差より打ち込みキ−を判別する、この発
明の他の実施例におけるキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別
装置の概略ブロック図である。
FIG. 14 is a schematic block diagram of a keyboard key driving key determining device for determining a driving key based on a phase difference in another embodiment of the present invention.

【図15】位相差より打ち込みキ−を判別する、この発
明の他の実施例におけるキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別
装置の概略ブロック図である。
FIG. 15 is a schematic block diagram of a key board driving key judging device for judging a driving key based on a phase difference in another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、110 キ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置 11 キ−ボ−ド 12 光源(半導体レ−ザ発振器) 14 キ−反射板 16 キ− 28 光ビ−ム(レ−ザビ−ム) 28a 第1ビ−ム(参照光) 28b 第2ビ−ム(反射信号光) 30 電流変調電源 32 波形発振器 38 分割手段(ハ−フミラ−) 46 光検出手段 50 出力手段(多段のバンドパスフィルタ−) 58 コ−ナ−反射体 60 分岐手段 61 反射手段 62 シャッタ− 64 キ−反射板 68 第1光検出器 70 第2光検出器 72 位相比較器 74 出力手段 130 振幅変調電源 10, 110 Key board driving key discrimination device 11 Key board 12 Light source (semiconductor laser oscillator) 14 Key reflector 16 key 28 Optical beam (laser beam) 28a First beam (reference light) 28b Second beam (reflected signal light) 30 Current modulation power supply 32 Waveform oscillator 38 Dividing means (Half mirror) 46 Optical detecting means 50 Output means (Multi-stage bandpass filter) ) 58 Corner reflector 60 Branching means 61 Reflecting means 62 Shutter-64 Key reflecting plate 68 First photodetector 70 Second photodetector 72 Phase comparator 74 Output means 130 Amplitude modulation power supply

Claims (25)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 キ−の打ち込みを電気信号に変換し、電
気信号から、打ち込まれたキ−を判別するキ−ボ−ドの
打ち込みキ−判別方法において、 振幅変調した光ビ−ムを第1ビ−ム、第2ビ−ムに分割
し、 第1ビ−ムを反射させて、参照光とするとともに、 第2ビ−ムをキ−の配列部方向に伝搬、照射させ、キ−
反射板で反射させて反射信号光とし、 参照光、反射信号光を周波数シフト光ヘテロダイン検波
してビ−ト信号を発生させ、 ビ−ト周波数を電気的に処理して打ち込まれたキ−を判
別することを特徴とするキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別
方法。
1. A method for determining a key board driven key in which a key driving is converted into an electric signal and the key driven is discriminated from the electric signal. The beam is divided into a first beam and a second beam, the first beam is reflected to serve as a reference beam, and the second beam is propagated and irradiated in the direction of the arrangement of the keys to form a key.
The reflected light is reflected by a reflector to generate reflected signal light, and the reference light and reflected signal light are frequency-shifted by optical heterodyne detection to generate a beat signal. A method for discriminating a key board driving key, characterized by discriminating.
【請求項2】 キ−の打ち込みを電気信号に変換し、電
気信号から、打ち込まれたキ−を判別するキ−ボ−ドの
打ち込みキ−判別方法において、 振幅変調した光ビ−ムを第1ビ−ム、第2ビ−ムに分割
し、 第1ビ−ムを反射させて、参照光とするとともに、 第2ビ−ムをキ−の配列部方向に伝搬、照射させ、キ−
反射板で反射させて反射信号光とし、 参照光、反射信号光の位相を比較し、位相差に相当する
出力から、打ち込まれたキ−を判別することを特徴とす
るキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別方法。
2. A key board driving key discrimination method for converting a key driving to an electric signal and discriminating a driven key from the electric signal, wherein an amplitude-modulated optical beam is used as a second signal. The beam is divided into a first beam and a second beam, the first beam is reflected to serve as a reference beam, and the second beam is propagated and irradiated in the direction of the arrangement of the keys to form a key.
The reflected light is reflected by a reflector to compare the phases of the reference light and the reflected signal light, and the driven key is discriminated from the output corresponding to the phase difference. Driving key identification method.
【請求項3】 キ−の打ち込みを電気信号に変換し、電
気信号から、打ち込まれたキ−を判別するキ−ボ−ドの
打ち込みキ−判別方法において、 振幅変調した光ビ−ムをキ−の配列方向に伝搬、照射さ
せ、キ−反射体で反射させて反射信号光とし、 振幅変調の電気信号、反射信号光の電気信号の位相を比
較し、位相差に相当する出力から、打ち込まれたキ−を
判別することを特徴とするキ−ボ−ドの打ち込みキ−判
別方法。
3. A key board driving key discrimination method for converting a key driving to an electric signal and discriminating the driven key from the electric signal, wherein an amplitude-modulated optical beam is scanned. -Propagate and irradiate in the array direction, and reflect it with a key reflector as reflected signal light.Compare the phases of the amplitude-modulated electric signal and the electric signal of the reflected signal light, and input from the output corresponding to the phase difference. A key board driving key discrimination method, which is characterized by discriminating a stored key.
【請求項4】 多段に配設されたキ−列の各コ−ナ−反
射体を介して、第2ビ−ムを全てのキ−のキ−反射板
に、一筆書き状に連続して照射させている請求項1ない
し3のいずれか記載のキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別方
法。
4. A second beam is continuously applied to the key reflectors of all the keys in a one-stroke form via the corner reflectors of the key rows arranged in multiple stages. The method for discriminating a key board driven key according to claim 1, wherein the irradiation is performed.
【請求項5】 多段に配設されたキ−列に第2ビ−ムを
分岐して平行に照射させている請求項1ないし4のいず
れか記載のキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別方法。
5. A key board driving key discrimination according to any one of claims 1 to 4, wherein the second beam is branched and radiated in parallel to the key rows arranged in multiple stages. Method.
【請求項6】 第2ビ−ムが、打ち込んだキ−のキ−反
射板で全反射されている請求項1ないし5のいずれか記
載のキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別方法。
6. The method of discriminating a key board driving key according to any one of claims 1 to 5, wherein the second beam is totally reflected by the key reflecting plate of the key pressed.
【請求項7】 第2ビ−ムが、キ−間のキ−反射板で反
射されて反射信号光となるとともに、キ−反射板を透過
し、 キ−反射板を透過した第2ビ−ムを、打ち込んだキ−の
シャッタ−で遮断して当該キ−以降の反射信号光を消滅
させている請求項1ないし6のいずれか記載のキ−ボ−
ドの打ち込みキ−判別方法。
7. The second beam which is reflected by the key reflector between the keys to be reflected signal light and which is transmitted through the key reflector and transmitted through the key reflector. 7. The keyboard according to any one of claims 1 to 6, wherein the shutter of the key that is driven in is used to block the reflected signal light after the key.
How to determine the key to drive the key.
【請求項8】 周波数シフトされた光ビ−ムを照射する
半導体レ−ザ発振器と、 半導体レ−ザ発振器からの光
ビ−ムを第1ビ−ム、第2ビ−ムに分割し、各光ビ−ム
を特定の方向にそれぞれ伝搬する分割手段と、 第1ビ−ムを反射し、受光体に照射させて参照光とする
反射体と、 キ−と一体的に設けられ、キ−の打ち込みに伴う、第2
ビ−ムの光路への下降によって、第2ビ−ムを反射し、
受光体に照射させて反射信号光とするキ−反射板と、 受光体で重畳し干渉した参照光と反射信号光との干渉信
号光よりビ−ト周波数を検出する周波数シフトヘテロダ
イン検波可能な光検出手段と、 光検出手段からの入力信号を処理してビ−ト周波数に対
応した電気信号を出力する出力手段と、 を具備し、出力手段からの電気信号から、打ち込まれた
キ−を判別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
8. A semiconductor laser oscillator for irradiating a frequency-shifted optical beam, and an optical beam from the semiconductor laser oscillator is divided into a first beam and a second beam, The dividing means for propagating each light beam in a specific direction, the reflector for reflecting the first beam and irradiating the light receiver as a reference light, and the key are provided integrally with the key. Second, due to the
As the beam descends into the optical path, it reflects the second beam,
A frequency-shiftable heterodyne-detectable light that detects the beat frequency from the key reflection plate that illuminates the photoreceptor to generate reflected signal light and the interference signal light between the reference light and the reflected signal light that are superimposed and interfered by the photoreceptor The detection means and the output means for processing the input signal from the light detection means and outputting the electric signal corresponding to the beat frequency are provided, and the driven key is discriminated from the electric signal from the output means. A key board driving key discriminating device.
【請求項9】 振幅変調された光ビ−ムを照射する半導
体レ−ザ発振器と、 半導体レ−ザ発振器からの光ビ−ムを第1ビ−ム、第2
ビ−ムに分割し、各光ビ−ムを特定の方向にそれぞれ伝
搬する分割手段と、 第1ビ−ムを反射し、参照光として受光体に照射させる
反射体と、 隣接するキ−間で第2ビ−ムの光路にそれぞれ配設され
て第2ビ−ムを透過、反射させ、反射した第2ビ−ムを
反射信号光として受光体に照射するキ−反射体と、 キ−と一体的に設けられ、キ−の打ち込みに伴う、第2
ビ−ムの光路への下降によって、当該キ−以降の反射信
号光を遮断するシャッタ−と、 受光体で重畳し干渉した参照光と反射信号光との干渉信
号光よりビ−ト周波数を検出する周波数シフトヘテロダ
イン検波可能な光検出手段と、 光検出手段からの入力信号を処理してビ−ト周波数に対
応した電気信号を出力する出力手段と、 を具備し、出力手段からの電気信号から、打ち込まれた
キ−を判別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
9. A semiconductor laser oscillator for irradiating an amplitude-modulated optical beam, and an optical beam from the semiconductor laser oscillator for a first beam and a second beam.
Splitting means for splitting the light beam into each beam and propagating each light beam in a specific direction, a reflector for reflecting the first beam and irradiating it as a reference light to a light receiving body, and between adjacent keys And a key reflector which is respectively disposed in the optical path of the second beam, transmits and reflects the second beam, and irradiates the reflected second beam as a reflected signal light to the light receiver, and a key. The second, which is provided integrally with the
The beat frequency is detected from the interference signal light of the reference light and the reflected signal light which are overlapped by the light receiver and interfered by the reflected signal light after the key when the beam descends to the optical path. And a means for processing an input signal from the light detecting means to output an electric signal corresponding to the beat frequency, the electric signal from the output means , A key board driving key discriminating device for discriminating the driven key.
【請求項10】 振幅変調された光ビ−ムを照射する半
導体レ−ザ発振器と、 半導体レ−ザ発振器からの光ビ−ムを第1ビ−ム、第2
ビ−ムに分割し、各光ビ−ムを特定の方向にそれぞれ伝
搬する分割手段と、 第1ビ−ムを反射し、参照光として受光体に照射させる
反射体と、 キ−と一体的に設けられ、キ−の打ち込みに伴う、第2
ビ−ムの光路への下降によって、第2ビ−ムを反射し、
反射信号光として受光体に照射させるキ−反射板と、 参照光、反射信号光の振幅変調光をそれぞれ検出する第
1、第2の光検出器と、 第1、第2の光検出器で検出
した参照光、反射信号光の振幅変調信号の位相を比較す
る位相比較器と、 位相比較器で検出した位相差に対応する電気信号を出力
する出力手段と、 を具備し、出力手段からの電気信号から、打ち込まれた
キ−を判別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
10. A semiconductor laser oscillator for irradiating an amplitude-modulated optical beam, and an optical beam from the semiconductor laser oscillator for a first beam and a second beam.
A dividing means for dividing the beam into beams and propagating each of the optical beams in a specific direction, a reflector for reflecting the first beam and irradiating the photoreceptor as a reference beam, and a key. Second, which is provided in the
As the beam descends into the optical path, it reflects the second beam,
A key reflector for irradiating a photoreceptor as reflected signal light, first and second photodetectors for detecting reference light and amplitude-modulated light of reflected signal light, respectively, and a first and second photodetector. A phase comparator that compares the phases of the amplitude-modulated signals of the detected reference light and reflected signal light, and output means that outputs an electrical signal corresponding to the phase difference detected by the phase comparator, are provided. A key board driving key discriminating device for discriminating a driven key from an electric signal.
【請求項11】 振幅変調された光ビ−ムを照射する半
導体レ−ザ発振器と、 半導体レ−ザ発振器からの光ビ−ムを第1ビ−ム、第2
ビ−ムに分割し、各光ビ−ムを特定の方向にそれぞれ伝
搬する分割手段と、 第1ビ−ムを反射し、参照光として受光体に照射させる
反射体と、 隣接するキ−間で第2ビ−ムの光路にそれぞれ配設され
て第2ビ−ムを透過、反射させ、反射した第2ビ−ムを
反射信号光として受光体に照射するキ−反射体と、 キ−と一体的に設けられ、キ−の打ち込みに伴う、第2
ビ−ムの光路への下降によって、当該キ−以降の反射信
号光を遮断するシャッタ−と、 参照光、反射信号光の振幅変調光をそれぞれ検出する第
1、第2の光検出器と、 第1、第2の光検出器で検出した参照光、反射信号光の
振幅変調信号を比較する位相比較器と、 位相比較器で検出した位相差に対応する電気信号を出力
する出力手段と、 を具備し、出力手段からの電気信号から、打ち込まれた
キ−を判別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
11. A semiconductor laser oscillator for irradiating an amplitude-modulated optical beam, and an optical beam from the semiconductor laser oscillator for a first beam and a second beam.
Splitting means for splitting the light beam into each beam and propagating each light beam in a specific direction, a reflector for reflecting the first beam and irradiating it as a reference light to a light receiving body, and between adjacent keys. And a key reflector which is respectively disposed in the optical path of the second beam, transmits and reflects the second beam, and irradiates the reflected second beam as a reflected signal light to the light receiver, and a key. The second, which is provided integrally with the
A shutter that blocks the reflected signal light after the key by the descending of the beam to the optical path, first and second photodetectors that respectively detect the reference light and the amplitude-modulated light of the reflected signal light, A phase comparator for comparing the amplitude modulation signals of the reference light and the reflected signal light detected by the first and second photodetectors, and output means for outputting an electric signal corresponding to the phase difference detected by the phase comparator, And a key board driving key discriminating apparatus for discriminating the driven key from the electric signal from the output means.
【請求項12】 振幅変調電源によって振幅変調された
光ビ−ムを照射する半導体レ−ザ発振器と、 半導体レ−ザ発振器、キ−間の光路に配設したハ−フミ
ラ−と、 キ−と一体的にも設けられ、キ−の打ち込みに伴う光路
への下降によって光ビ−ムを反射し、反射信号光として
ハ−フミラ−で反射し受光体に照射させるキ−反射体
と、 反射信号光の振幅変調光を検出する光検出器と、 振幅変調電源からの変調電気信号と光検出器からの変調
電気信号との位相を比較する位相比較器と、 位相比較器で検出した位相差に対応する電気信号を出力
する出力手段と、 を具備し、出力手段からの電気信号から、打ち込まれた
キ−を判別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
12. A semiconductor laser oscillator for irradiating an optical beam amplitude-modulated by an amplitude-modulating power supply, a semiconductor laser oscillator, a half mirror arranged in an optical path between the keys, and a key. And a key reflector that reflects the light beam as it descends to the optical path when the key is driven, and is reflected by the half mirror as reflected signal light to irradiate the photoreceptor. A photodetector that detects the amplitude-modulated light of the signal light, a phase comparator that compares the phases of the modulated electrical signal from the amplitude-modulated power supply and the modulated electrical signal from the photodetector, and the phase difference detected by the phase comparator. And an output means for outputting an electric signal corresponding to the above, and a key board driving key discriminating apparatus for discriminating a driven key from the electric signal from the output means.
【請求項13】 振幅変調電源によって振幅変調された
光ビ−ムを照射する半導体レ−ザ発振器と、 半導体レ−ザ発振器、キ−間の光路に配設したハ−フミ
ラ−と、 隣接するキ−間で光路にそれぞれ配設されて光ビ−ムを
透過、反射させ、反射した光ビ−ムを反射信号光として
ハ−フミラ−で反射し受光体に照射するキ−反射体と、 キ−と一体的にも設けられ、キ−の打ち込みに伴う光路
への下降によって、当該キ−以降の反射信号光を遮断す
るシャッタ−と、 反射信号光の振幅変調光を検出する光検出器と、 振幅変調電源からの変調電気信号と光検出器からの変調
電気信号との位相を比較する位相比較器と、 位相比較器で検出した位相差に対応する電気信号を出力
する出力手段と、 を具備し、出力手段からの電気信号から、打ち込まれた
キ−を判別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
13. A semiconductor laser oscillator for irradiating an optical beam amplitude-modulated by an amplitude-modulating power source, a semiconductor laser oscillator, and a half mirror arranged in an optical path between the keys are adjacent to each other. Key reflectors which are respectively arranged in the optical path between the keys to transmit and reflect the light beam, and the reflected light beam is reflected by the half mirror as reflected signal light to irradiate the light receiver, A shutter that is also provided integrally with the key and that shuts off the reflected signal light after the key when the key is driven down into the optical path, and a photodetector that detects the amplitude-modulated light of the reflected signal light. A phase comparator for comparing the phases of the modulated electric signal from the amplitude modulation power source and the modulated electric signal from the photodetector, and an output means for outputting an electric signal corresponding to the phase difference detected by the phase comparator, Equipped with, from the electrical signal from the output means, Key - to determine the key - board - de implantation key - discriminating device.
【請求項14】 振幅変調電源によって振幅変調された
直線偏光の光ビ−ムを照射する半導体レ−ザ発振器と、 半導体レ−ザ発振器、キ−間の光路に配設した偏光ビ−
ムスプリッタ−と、 キ−、変光ビ−ムスプリッタ−間の光路に配設した四分
の一波長板と、 キ−と一体的にも設けられ、キ−の打ち込みに伴う光ビ
−ムの光路への下降によって光ビ−ムを反射し、反射信
号光として四分の一波長板を経て偏光ビ−ムスプリッタ
−で反射し受光体に照射させるキ−反射体と、 反射信号光の振幅変調光を検出する光検出器と、 振幅変調電源からの変調電気信号と光検出器からの変調
電気信号との位相を比較する位相比較器と、 位相比較器で検出した位相差に対応する電気信号を出力
する出力手段と、 を具備し、出力手段からの電気信号から、打ち込まれた
キ−を判別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
14. A semiconductor laser oscillator for irradiating a linearly polarized light beam amplitude-modulated by an amplitude modulation power source, and a polarization beam arranged in the optical path between the semiconductor laser oscillator and the key.
Optical beam which is provided integrally with the key splitter and the quarter wavelength plate disposed in the optical path between the key splitter and the variable beam splitter. Of the reflected signal light, which reflects the optical beam as it descends to the optical path of the reflected light, passes through the quarter-wave plate as reflected signal light and is reflected by the polarizing beam splitter to irradiate the light receiver. Corresponds to the phase difference detected by the photodetector that detects the amplitude-modulated light, the phase comparator that compares the phase of the modulated electrical signal from the amplitude-modulated power supply with the modulated electrical signal from the photodetector, and the phase difference detected by the phase comparator. An input key discriminating apparatus for a keyboard, which comprises an output unit for outputting an electric signal, and discriminates a driven key from an electric signal from the output unit.
【請求項15】 振幅変調電源によって振幅変調された
直線偏光の光ビ−ムを照射する半導体レ−ザ発振器と、 半導体レ−ザ発振器、キ−間の光路に配設した偏光ビ−
ムスプリッタ−と、 キ−、偏光ビ−ムスプリッタ−間の光路に配設した四分
の一波長板と、 隣接するキ−間で光路にそれぞれ配設されて光ビ−ムを
透過、反射させ、反射した光ビ−ムを反射信号光として
四分の一波長板を経て偏光ビ−ムスプリッタ−で反射し
受光体に照射させるキ−反射体と、 キ−と一体的にも設けられ、キ−の打ち込みに伴う光路
への下降によって、当該キ−以降の反射信号光を遮断す
るシャッタ−と、 反射信号光の振幅変調光を検出する光検出器と、 半導体レ−ザ発振器からの変調電気信号と光検出器から
の変調電気信号との位相を比較する位相比較器と、 位相比較器で検出した位相差に対応する電気信号を出力
する出力手段と、 を具備し、出力手段からの電気信号から、打ち込まれた
キ−を判別するキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
15. A semiconductor laser oscillator for irradiating a linearly polarized light beam amplitude-modulated by an amplitude-modulating power source, and a polarization beam arranged in the optical path between the semiconductor laser oscillator and the key.
1/4 wavelength plate disposed in the optical path between the beam splitter and the key / polarization beam splitter, and in the optical path between the adjacent keys, respectively transmitting and reflecting the optical beam. And a key reflector for reflecting the reflected light beam as a reflected signal light through a quarter-wave plate through a quarter-wave plate and irradiating the photoreceptor with the key, and is also provided integrally with the key. , A shutter that blocks the reflected signal light after the key due to the descent to the optical path due to the input of the key, a photodetector that detects the amplitude modulated light of the reflected signal light, and a semiconductor laser oscillator A phase comparator for comparing the phases of the modulated electric signal and the modulated electric signal from the photodetector, and an output means for outputting an electric signal corresponding to the phase difference detected by the phase comparator are provided. Of the keyboard that identifies the key that was driven in from the electrical signal of Driving key discrimination device.
【請求項16】 半導体レ−ザ発振器は、電流変調のも
とで振幅変調した光ビ−ムを照射し、分割手段がハ−フ
ミラ−からなる請求項8または9記載のキ−ボ−ドの打
ち込みキ−判別装置。
16. The keyboard according to claim 8 or 9, wherein the semiconductor laser oscillator irradiates an optical beam whose amplitude is modulated under current modulation, and the dividing means is a half mirror. Drive key discrimination device.
【請求項17】 半導体レ−ザ発振器は、電流変調のも
とで振幅変調した光ビ−ムを照射し、分割手段がハ−フ
ミラ−からなる請求項10または11記載のキ−ボ−ド
の打ち込みキ−判別装置。
17. A keyboard according to claim 10 or 11, wherein the semiconductor laser oscillator irradiates an optical beam whose amplitude is modulated under current modulation, and the dividing means is a half mirror. Drive key discrimination device.
【請求項18】 半導体レ−ザ発振器は、電流変調のも
とで周波数シフトした光ビ−ムを照射し、 分割手段がハ−フミラ−からなり、ハ−フミラ−が、光
ビ−ムを特定方向に分散可能に、プリズムを組合せて形
成されるとともに、 第1ビ−ムを反射する反射体が、プリズムの一面へのア
ルミ蒸着によって形成された8または9記載のキ−ボ−
ドの打ち込みキ−判別装置。
18. A semiconductor laser oscillator irradiates a frequency-shifted optical beam under current modulation, and the dividing means is a hum mirror, and the hum mirah emits the optical beam. The keyboard according to claim 8 or 9, which is formed by combining prisms so as to be dispersible in a specific direction, and wherein the reflector for reflecting the first beam is formed by aluminum vapor deposition on one surface of the prism.
A device for driving key input.
【請求項19】 ハ−フミラ−が、参照光、反射信号光
の受光体を兼ねている請求項18記載のキ−ボ−ドの打
ち込みキ−判別装置。
19. The driving key discriminating apparatus for a keyboard according to claim 18, wherein the half mirror also serves as a light receiving body for the reference light and the reflected signal light.
【請求項20】 出力手段が、キ−の打ち込みによって
発生、検出される各ビ−ト周波数を中心周波数とする多
段のバンドパスフィルタから形成され、各フィルタから
の出力信号の有無により、打ち込まれたキ−が判別され
る請求項18または19記載のキ−ボ−ドの打ち込みキ
−判別装置。
20. The output means is formed of a multi-stage bandpass filter having a center frequency of each beat frequency generated and detected by key input, and is input depending on the presence or absence of an output signal from each filter. 20. The key board driving key discriminating device according to claim 18, wherein the key is discriminated.
【請求項21】 位相比較器は参照光、反射信号光の振
幅変調信号の位相差に相当する電圧値を出力し、出力手
段がその電圧値に対応する電気信号を出力している請求
項10ないし15のいずれか記載のキ−ボ−ドの打ち込
みキ−判別装置。
21. The phase comparator outputs a voltage value corresponding to the phase difference between the amplitude modulation signals of the reference light and the reflected signal light, and the output means outputs an electric signal corresponding to the voltage value. 15. The key board driving key discriminating apparatus according to any one of items 1 to 15.
【請求項22】 多段のキ−列の各コ−ナ−に、光ビ−
ムをキ−列方向に全反射するコ−ナ−反射体を配設し、 各キ−列のコ−ナ−反射体を介して、全てのキ−列に一
筆書き状に連続して光ビ−ムを照射させた請求項8ない
し21のいずれか記載のキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別
装置。
22. An optical beam is provided to each corner of the multi-stage key row.
A corner reflector that totally reflects the beams in the key row direction is provided, and all the key rows are continuously illuminated in a single stroke through the corner reflectors of each key row. 22. The key board driving key discriminating device according to claim 8, wherein the beam is irradiated.
【請求項23】 多段のキ−列の各コ−ナ−に、光ビ−
ムをキ−列方向に分岐して反射するとともに、次段のキ
−列方向に透過させる分岐手段をそれぞれ設け、 多段のキ−列の最終段のコ−ナ−に、光ビ−ムをキ−列
方向に全反射する反射手段を配設し、 分岐手段、反射体手段を介して、光ビ−ムが、各キ−列
毎にそれぞれ照射される請求項8ないし22のいずれか
記載のキ−ボ−ドの打ち込みキ−判別装置。
23. An optical beam is provided to each corner of the multi-stage key row.
A branching means for branching the beam in the key row direction and reflecting it and transmitting it in the next key row direction is provided respectively, and an optical beam is applied to the final stage corner of the multi-row key row. 23. A reflecting means for totally reflecting in the key row direction is provided, and an optical beam is irradiated to each key row via the branching means and the reflector means. Key board driving key discriminating device.
【請求項24】 キ−反射板が凹面状の反射鏡面である
請求項8ないし23のいずれか記載のキ−ボ−ドの打ち
込みキ−判別装置。
24. The key board driving key discriminating apparatus according to claim 8, wherein the key reflecting plate is a concave reflecting mirror surface.
【請求項25】 キ−反射板がコ−ナ−キュ−ブプリズ
ムである請求項8ないし23のいずれか記載のキ−ボ−
ドの打ち込みキ−判別装置。
25. The keyboard according to claim 8, wherein the key reflector is a corner-curve prism.
A device for driving key input.
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