JPH0740210Y2 - Magnetic particle flaw detector - Google Patents
Magnetic particle flaw detectorInfo
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- JPH0740210Y2 JPH0740210Y2 JP1988039342U JP3934288U JPH0740210Y2 JP H0740210 Y2 JPH0740210 Y2 JP H0740210Y2 JP 1988039342 U JP1988039342 U JP 1988039342U JP 3934288 U JP3934288 U JP 3934288U JP H0740210 Y2 JPH0740210 Y2 JP H0740210Y2
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- circuit
- light
- signal
- light source
- discharge
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は磁粉探傷装置、特に被検査体に蛍光磁粉をふ
りかけその磁粉模様を光源からのストロボ照射によりTV
カメラにて監視する磁粉探傷装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial field of application] This invention is a magnetic particle flaw detector, and in particular, a fluorescent magnetic powder is sprinkled on an object to be inspected, and the magnetic powder pattern is radiated from a light source to a TV to illuminate the TV.
The present invention relates to a magnetic particle flaw detector that is monitored by a camera.
［従来の技術］ 従来、金属加工物の機械加工時に生じる割れ及び傷の検
査は、人の目による判断で行われており、このため欠陥
の見落としや評価の客観性に欠ける等の問題があった。[Prior Art] Conventionally, inspections for cracks and scratches that occur during machining of metal work have been performed by the judgment of human eyes, and therefore there are problems such as oversight of defects and lack of objectivity in evaluation. It was
これらの課題を解決するために、工業用TVカメラを用い
て磁粉模様を紫外線ランプ照明の下で観察し自動検査を
行う装置が開発されており、例えば全自動疵見疵取シス
テム（鉄と鋼 第70年（1984）第９号）や自動乾式磁粉
探傷装置の開発（第１回産業における画像センシング技
術シンポジウム（予稿集）昭和61年６月）において提案
されている。In order to solve these problems, an apparatus for observing a magnetic powder pattern using an industrial TV camera under UV lamp illumination and performing an automatic inspection has been developed. For example, a fully automatic flaw detection flaw removal system (iron and steel 70th (1984) No. 9) and development of automatic dry magnetic particle flaw detector (1st Image Sensing Technology Symposium in Industry (Proceedings), June 1986).
［考案が解決しようとする課題］ 従来の課題 しかしながら、被検査体を照明する紫外線ランプにより
映し出される磁粉模様は光源からの光量によってTVカメ
ラに撮像される磁粉模様の信号レベルが変化するため
に、欠陥検出力に影響が生じるという問題があった。[Problems to be Solved by the Invention] Conventional Problems However, since the magnetic powder pattern projected by the ultraviolet lamp illuminating the object to be inspected changes the signal level of the magnetic powder pattern captured by the TV camera depending on the light amount from the light source, There is a problem that the defect detection power is affected.
考案の目的 この考案は係る課題を解決するために為されたもので、
被検査体を照射するストロボ光源からの照度を一定化
し、欠陥検出精度の安定化を入り得る磁粉探傷装置の提
供を目的とする。Purpose of the invention This invention was made to solve the above problems.
An object of the present invention is to provide a magnetic particle flaw detector capable of stabilizing the illuminance from a strobe light source for irradiating an object to be inspected and stabilizing the defect detection accuracy.
［課題を解決するための手段］ 前記目的を達成するために、本考案は、被検査体に蛍光
磁粉をふりかけ傷の存在する部分に現われる磁粉模様を
光源からのストロボ照射によりTVカメラにて監視する磁
粉探傷装置において、被検査体に照射される光量を検出
する光量検出回路と、該検出回路にて検出された光量か
ら照射エネルギーを演算する積分回路と、前記積分値を
予め設定された基準値と比較し積分値が基準値に達した
ときに放電停止信号を出力する比較回路と、該比較回路
からの放電停止信号に基づき光源のストロボ放電を停止
させる放電制御回路と、光源から発光された信号のピー
ク値が基準のピーク値より小さい場合にランプ交換信号
を送出するピーク検出器と、を備えたことを特徴とす
る。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention monitors a magnetic powder pattern appearing in a portion where a scratch exists by sprinkling fluorescent magnetic powder on an object to be inspected with a TV camera by strobe irradiation from a light source. In the magnetic particle flaw detector, a light amount detection circuit for detecting the amount of light emitted to the object to be inspected, an integration circuit for calculating irradiation energy from the light amount detected by the detection circuit, and a reference value for presetting the integrated value. A comparison circuit that outputs a discharge stop signal when the integrated value reaches a reference value and a discharge control circuit that stops the strobe discharge of the light source based on the discharge stop signal from the comparison circuit; A peak detector that sends a lamp replacement signal when the peak value of the signal is smaller than the reference peak value.
［作用］ 前記構成により、本考案は、被検査体に存在する傷等の
部分に生じる蛍光磁粉模様をTVカメラにて監視する際
に、磁粉模様を映し出すためのストロボ光源からの光量
を光量検出回路にて検出し、このときの検出光量は積分
回路にて照射エネルギーとして演算される。更に、この
積分値は比較回路において、予め設定された基準値と比
較され積分値が基準値に達したときには該比較回路から
放電停止信号が出力される。[Operation] With the above configuration, the present invention detects the amount of light from the strobe light source for displaying the magnetic powder pattern when monitoring the fluorescent magnetic powder pattern generated on the portion such as a scratch existing on the inspection object with the TV camera. The amount of light detected by the circuit is calculated as irradiation energy by the integrating circuit. Further, the integrated value is compared with a preset reference value in the comparison circuit, and when the integrated value reaches the reference value, the comparison circuit outputs a discharge stop signal.
そして、放電制御回路では、比較回路から放電停止信号
が出力されると、この信号に基づき光源のストロボ放電
を停止させて被検査体表面における光量を一定に保持
し、監視カメラによる検出力を安定化させる制御を行う
ものである。Then, in the discharge control circuit, when the discharge stop signal is output from the comparison circuit, the strobe discharge of the light source is stopped based on this signal to keep the light amount on the surface of the object to be inspected constant and stabilize the detection power of the surveillance camera. The control is performed to convert the information into a realization.
尚、光源からの照射エネルギーが予め設定された基準の
光量よりも小さい場合等には、光量不足として検査を中
断し光源が交換される。When the irradiation energy from the light source is smaller than a preset reference light amount, the light amount is insufficient and the inspection is interrupted and the light source is replaced.
［実施例］ 以下、図面に基づき本考案の好適な実施例を説明する。[Embodiment] A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第１図には本考案に係る磁粉探傷装置の全体構成が示さ
れている。FIG. 1 shows the overall structure of a magnetic particle flaw detector according to the present invention.
同図において、被検査体10を磁化しながらこれに１μ程
度の微細な蛍光磁粉をふりかけると、被検査体10に傷や
ひび或いは巣等の欠陥部があると、その部分に漏れ磁束
を生じて磁極が現れ磁粉が付着する。In the figure, when magnetizing the object to be inspected 10 and sprinkling fine fluorescent magnetic powder of about 1 μ on it, if the object to be inspected 10 has a defect such as a scratch, a crack or a nest, a leakage magnetic flux is generated at that part. The magnetic pole appears and the magnetic powder adheres.
従って、その磁粉模様から傷の大きさや形状を検出する
ことができる。Therefore, the size and shape of the scratch can be detected from the magnetic powder pattern.
本実施例では、紫外線ランプ12により映し出された蛍光
磁粉模様14をTVカメラ又はラインカメラ16等でとらえ、
自動的に検査が行われる。In this embodiment, the fluorescent magnetic powder pattern 14 projected by the ultraviolet lamp 12 is captured by a TV camera or a line camera 16, etc.
The inspection is done automatically.
本考案の特徴的なことは、被検査体に照射される光量を
検出する光量検出回路と、該検出回路にて検出された光
量から照射エネルギーを演算する積分回路と、前記積分
値を予め設定された基準値と比較し積分値が基準値に達
したときに放電停止信号を出力する比較回路と、該比較
回路からの放電停止信号に基づき光源のストロボ放電を
停止させる放電制御回路とを備えていることである。A feature of the present invention is that a light amount detection circuit for detecting the amount of light emitted to an object to be inspected, an integration circuit for calculating irradiation energy from the light amount detected by the detection circuit, and the integrated value being preset A comparison circuit that outputs a discharge stop signal when the integrated value reaches the reference value when compared with the reference value, and a discharge control circuit that stops the strobe discharge of the light source based on the discharge stop signal from the comparison circuit. It is that.
即ち、この種の磁粉探傷装置は、光源の照度の変動によ
り欠陥検出精度が大きく変化するため、本実施例におい
ては、コンデンサチャージ電荷の放出に伴ないストロボ
光源から照射される光量を測定し、その光量に応じて光
源に対する電力供給を制御することにより、被検査体表
面における照度を一定に保持して欠陥部の検出精度を安
定化するものである。That is, this type of magnetic particle testing apparatus, since the defect detection accuracy greatly changes due to the fluctuation of the illuminance of the light source, in this embodiment, the amount of light emitted from the strobe light source accompanying the discharge of the capacitor charge is measured, By controlling the power supply to the light source according to the amount of light, the illuminance on the surface of the object to be inspected is kept constant and the detection accuracy of the defective portion is stabilized.
本実施例において、第１図及び第２図に示されるよう
に、前記光量検出回路20はフォトダイオード等の光電変
換素子18とI/V変換回路19を含み、紫外線ランプ12によ
り被検査体10に照射された光は光電変換素子18−1,18−
２により受光され、その光量信号はI/V変換回路19に送
り込まれて電圧に変換される。この光量検出回路20で検
出された光量信号は、ストロボ開始信号（ａ）が入力さ
れると、A/D変換回路24と加算回路26を含む積分回路22
で積分され、照射エネルギーが演算される。In this embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2, the light quantity detection circuit 20 includes a photoelectric conversion element 18 such as a photodiode and an I / V conversion circuit 19, and an ultraviolet lamp 12 is used to detect the object 10 to be inspected. The light emitted to the photoelectric conversion elements 18-1, 18-
The light quantity signal is received by 2, and the light quantity signal is sent to the I / V conversion circuit 19 and converted into a voltage. When the strobe start signal (a) is input, the light amount signal detected by the light amount detecting circuit 20 is an integrating circuit 22 including an A / D converting circuit 24 and an adding circuit 26.
And the irradiation energy is calculated.
第３図には、ストロボ発光信号の閃光強度と時間との関
係が示されており、この発光信号はA/D変換回路24によ
りデジタル信号に変換されて時間ｎでサンプリングさ
れ、このサンプリングデータが前記加算回路26により加
算されることにより照射エネルギーが求められる。FIG. 3 shows the relationship between the flash intensity of the strobe light emission signal and time. This light emission signal is converted into a digital signal by the A / D conversion circuit 24 and sampled at time n. The irradiation energy is obtained by the addition by the addition circuit 26.
こうして求められた光量の積分値は比較回路28に送付さ
れ、ここで予め設定された基準データ30と比較される。
そして、前記積分値が基準データ30に達したときには、
比較回路28から放電制御回路32に向け放電停止信号
（ｂ）が出力される。放電制御回路32ではこの放電停止
信号（ｂ）に基づき光源12のストロボ放電が停止され
る。The integrated value of the amount of light thus obtained is sent to the comparison circuit 28, where it is compared with preset reference data 30.
Then, when the integrated value reaches the reference data 30,
A discharge stop signal (b) is output from the comparison circuit 28 to the discharge control circuit 32. In the discharge control circuit 32, the strobe discharge of the light source 12 is stopped based on this discharge stop signal (b).
また、ピーク検出器34において光源から発光された信号
のピーク値が、前記基準データ30とは別個に設けられた
基準のピーク値よりも小さい場合には、光量不足として
ランプ交換信号（ｃ）が送出され検査が中断される。Further, when the peak value of the signal emitted from the light source in the peak detector 34 is smaller than the reference peak value provided separately from the reference data 30, the lamp replacement signal (c) indicates that the light amount is insufficient. It is sent out and the inspection is interrupted.
第４図には紫外線ストロボランプによる放電制御回路32
の詳細が示されている。FIG. 4 shows a discharge control circuit 32 using an ultraviolet strobe lamp.
Details are shown.
同図において、入力端子Saにストロボ開始信号（ａ）が
入力されると、サイリスタSC1がオン作動してキセノン
管12にトリガが加えられ、コンデンサＣのチャージ電荷
によりキセノン管12は放電して光を放出する。このと
き、前述した比較回路28から入力端子Sbに放電停止信号
（ｂ）が入力されると、サイリスタSC2がオン状態とな
り、これによってコンデンサＣの電荷は放電してしま
い、キセノン管12の放電はストップして発光が停止され
る。In the figure, when the strobe start signal (a) is input to the input terminal Sa, the thyristor SC 1 is turned on, a trigger is applied to the xenon tube 12, and the xenon tube 12 is discharged by the charge of the capacitor C. Emits light. At this time, when the discharge stop signal (b) is input from the comparison circuit 28 to the input terminal Sb, the thyristor SC 2 is turned on, which causes the charge of the capacitor C to be discharged and the xenon tube 12 to be discharged. Stops and the light emission is stopped.
従って、ストロボ開始信号（ａ）と放電停止信号（ｂ）
との入力時間差により、被検査体10に照射される光量が
制御される。Therefore, the strobe start signal (a) and the discharge stop signal (b)
The amount of light with which the object to be inspected 10 is irradiated is controlled by the input time difference between and.
以上により、本考案の実施例によれば、光源からの放射
光量を他の影響を受けずに直接受光して正確に検出する
ことができ、これによって被検査体10の表面の光量を一
定に保持することができる。また、本実施例によれば、
発光信号のピーク値をも検出することにより、光源が劣
化した場合にもランプ交換信号を出力するなど迅速な対
応が可能となる。As described above, according to the embodiment of the present invention, the amount of light emitted from the light source can be directly received and accurately detected without being affected by other factors, and thus the amount of light on the surface of the DUT 10 can be made constant. Can be held. Further, according to the present embodiment,
By detecting the peak value of the light emission signal as well, even when the light source is deteriorated, it is possible to promptly respond such as outputting a lamp replacement signal.
［考案の効果］ 以上説明した通り、本考案は、被検査体に照射される光
量を直接検出し、このときの照射エネルギーが予め設定
された基準値に達したときに放電停止信号を出力する回
路を備えたことにより、被検査体表面の照度を一定化し
検出力の安定を図ることができる。[Effects of the Invention] As described above, the present invention directly detects the amount of light emitted to the object to be inspected and outputs a discharge stop signal when the irradiation energy at this time reaches a preset reference value. By providing the circuit, it is possible to stabilize the illuminance on the surface of the object to be inspected and stabilize the detection power.
また、光源からの発光信号のピーク値を検出し基準のピ
ーク値に達しないときにランプ交換信号を出力するよう
にしたので、光源の劣化等を察知しランプ交換など迅速
な対応が可能となる。Further, since the peak value of the light emission signal from the light source is detected and the lamp replacement signal is output when the peak value of the reference is not reached, it is possible to detect deterioration of the light source and quickly respond to the replacement of the lamp. .
第１図は本考案に係る磁粉探傷装置の全体構成を示す
図、 第２図はその回路構成ブロック図、 第３図はストロボランプの閃光強度と時間との関係を示
す図、 第４図は放電制御回路の回路構成を示す図である。 10…被検査体 12…紫外線ランプ 14…磁粉模様 16…TVカメラ 18…光電変換素子 20…光量検出回路 22…積分回路 28…比較回路 32…放電制御回路 34…ピーク検出器FIG. 1 is a diagram showing the overall configuration of a magnetic particle flaw detector according to the present invention, FIG. 2 is a circuit configuration block diagram thereof, FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the flash intensity of a strobe lamp and time, and FIG. It is a figure which shows the circuit structure of a discharge control circuit. 10 ... Inspected object 12 ... UV lamp 14 ... Magnetic powder pattern 16 ... TV camera 18 ... Photoelectric conversion element 20 ... Light amount detection circuit 22 ... Integration circuit 28 ... Comparison circuit 32 ... Discharge control circuit 34 ... Peak detector
Claims (1)
る部分に現われる磁粉模様を光源からのストロボ照射に
よりTVカメラにて監視する磁粉探傷装置において、 被検査体に照射される光量を検出する光量検出回路と、 該検出回路にて検出された光量から照射エネルギーを演
算する積分回路と、 前記積分値を予め設定された基準値と比較し積分値が基
準値に達したときに放電停止信号を出力する比較回路
と、 該比較回路からの放電停止信号に基づき光源のストロボ
放電を停止させる放電制御回路と、 光源から発光された信号のピーク値が基準のピーク値よ
り小さい場合にランプ交換信号を送出するピーク検出器
と、 を備えたことを特徴とする磁粉探傷装置。1. A magnetic particle flaw detector that monitors a magnetic powder pattern appearing in a portion where a flaw exists by sprinkling fluorescent magnetic powder on the object to be inspected by a TV camera by strobe irradiation from a light source, and detects the amount of light emitted to the object to be inspected. A light amount detection circuit, an integration circuit that calculates irradiation energy from the light amount detected by the detection circuit, and the discharge is stopped when the integrated value reaches a reference value by comparing the integrated value with a preset reference value. A comparison circuit that outputs a signal, a discharge control circuit that stops the strobe discharge of the light source based on the discharge stop signal from the comparison circuit, and a lamp replacement when the peak value of the signal emitted from the light source is smaller than the reference peak value. A magnetic particle flaw detector, comprising: a peak detector for transmitting a signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988039342U JPH0740210Y2 (en) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | Magnetic particle flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988039342U JPH0740210Y2 (en) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | Magnetic particle flaw detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01141460U JPH01141460U (en) | 1989-09-28 |
| JPH0740210Y2 true JPH0740210Y2 (en) | 1995-09-13 |
Family
ID=31265848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988039342U Expired - Lifetime JPH0740210Y2 (en) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | Magnetic particle flaw detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0740210Y2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012122957A (en) * | 2010-12-10 | 2012-06-28 | Marktec Corp | Pulse black light |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51107183A (en) * | 1975-03-17 | 1976-09-22 | Konan Camera Res Inst | Jidotanshohoho oyobi sochi |
| JPS59112225U (en) * | 1983-01-20 | 1984-07-28 | 旭光学工業株式会社 | Flash control device |
-
1988
- 1988-03-24 JP JP1988039342U patent/JPH0740210Y2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012122957A (en) * | 2010-12-10 | 2012-06-28 | Marktec Corp | Pulse black light |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01141460U (en) | 1989-09-28 |
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