JPH07333189A - Error factor detecting method of automatic analyzer - Google Patents

Error factor detecting method of automatic analyzer

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JPH07333189A
JPH07333189A JP6128649A JP12864994A JPH07333189A JP H07333189 A JPH07333189 A JP H07333189A JP 6128649 A JP6128649 A JP 6128649A JP 12864994 A JP12864994 A JP 12864994A JP H07333189 A JPH07333189 A JP H07333189A
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養親 石橋
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Abstract

PURPOSE:To detect the error factor of analytical data being output from an automatic analyzer, when an unknown sample is analyzed by the automatic analyzer, by pseudo-analyzing a known sample by the automatic analyzer, and by comparing the pseudo-analyzed data with the analytical data of the unknown sample. CONSTITUTION:A standard solution in which the ion concentration is previously known is used as a sample, and this standard solution is introduced into a flow cell 11 in the same procedure as the concentration measurement of a sample for obtaining measurement data. By comparing the measurement data obtained with the measurement data of unknown data, the factor of the measurement error is estimated. A CPU 23 instructs proper data correction, abnormal mark setting, or the like to a data processing unit 20 on the basis of the result of the cause estimation and the mutual comparison. The CPU carries out the analysis of the respective samples inside sample vessels with high accuracy, and when occasion demands, it carries out such a control as to instruct the temporary stop of various syringes, pumps, agitators, or the like and also to instruct the redoing of analysis, so that highly efficient sample analysis can be carried out without a waste of analysis.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、未知試料を自動分析装
置で分析したときに自動分析装置から出力される分析デ
ータの誤差要因を検出する方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting an error factor of analytical data output from an automatic analyzer when an unknown sample is analyzed by the automatic analyzer.

【0002】[0002]

【従来の技術】電解質溶液を自動分析する手段として、
試料としての電解質溶液を測定セルに導入し、この測定
セル内に設けられたイオン選択電極と参照電極との電位
差から電解質溶液の成分を自動分析する電解質溶液自動
分析装置が知られている。
2. Description of the Related Art As means for automatically analyzing an electrolyte solution,
An electrolyte solution automatic analyzer is known in which an electrolyte solution as a sample is introduced into a measurement cell and the components of the electrolyte solution are automatically analyzed from the potential difference between an ion selective electrode and a reference electrode provided in the measurement cell.

【0003】このような自動分析装置は種々の工程を経
て試料の分析データを得ているため、分析データに誤差
が存在する場合にその原因を推定することは容易ではな
い。このような自動分析装置から出力される分析データ
の誤差要因を推定する方法としては、従来、装置の自己
診断機能を用いて不良原因を告知する方法(特開昭60
−164244号公報)や、電極間のインピーダンスを
測定して流路の気泡の存在を推定する方法(特開昭61
−173150号公報)などが提案されている。
Since such an automatic analyzer obtains the analytical data of the sample through various steps, it is not easy to estimate the cause when the analytical data has an error. As a method of estimating the error factor of the analysis data output from such an automatic analyzer, conventionally, a method of notifying the cause of the defect by using the self-diagnosis function of the device (Japanese Patent Laid-Open No. Sho 60).
No. 164244) or a method of estimating the presence of bubbles in the flow path by measuring the impedance between the electrodes (Japanese Patent Laid-Open No. 61-61246)
No. 173150) has been proposed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た方法は特定の原因に対してのみ有効であり、種々の工
程を経て得られる分析データの誤差要因を推定するには
不向きであった。また、分析装置には分析精度の試験機
能として、試験検体を連続して分析し、標準偏差等の統
計数値を自動的に計算して表示する方法があり、分析精
度不良の問題解決に使用できるが、そのデータ解析に
は、上述のように多くの要因が関与しているため、問題
解決には熟練を要した。このため、分析精度上の問題に
直面した時には、装置のオペレータは多くの場合、試行
錯誤により、疑わしい部品の交換や保守を行い、原因に
辿り着くまでに多くの時間を費やしているのが現状であ
る。
However, the above-mentioned method is effective only for a specific cause, and is not suitable for estimating the error factor of analytical data obtained through various steps. In addition, there is a method of analyzing the test sample continuously in the analyzer as a test function of analysis accuracy, and a method of automatically calculating and displaying statistical values such as standard deviation, which can be used to solve problems of poor analysis accuracy. However, since many factors were involved in the data analysis as described above, it took skill to solve the problem. For this reason, when faced with problems in analysis accuracy, the operator of the device often spends a lot of time trying to find the cause by exchanging and maintaining suspicious parts by trial and error. Is.

【0005】本発明は上記のような点に鑑みてなされた
もので、その目的は未知試料を自動分析装置で分析した
ときに自動分析装置から出力される分析データの誤差要
因を検出することのできる自動分析装置の誤差要因検出
方法を提供しようとするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to detect an error factor of analysis data output from an automatic analyzer when an unknown sample is analyzed by the automatic analyzer. It is intended to provide a method of detecting an error factor of an automatic analyzer which can be performed.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明は、未知試料を自動分析装置で分析する
際に、既知試料を自動分析装置で疑似分析し、その疑似
分析データと前記未知試料の分析データとを比較して前
記未知試料の分析データに含まれる誤差要因を検出する
ことを特徴とするものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention, when analyzing an unknown sample with an automatic analyzer, pseudo-analyzes a known sample with the automatic analyzer, It is characterized in that an error factor included in the analysis data of the unknown sample is detected by comparing with the analysis data of the unknown sample.

【0007】[0007]

【作用】上記の方法において、自動分析装置から出力さ
れる既知試料の分析データと未知試料の分析データとを
比較すると、未知試料の分析データに含まれる誤差要因
を推定することができる。
In the above method, by comparing the analysis data of the known sample and the analysis data of the unknown sample output from the automatic analyzer, the error factor contained in the analysis data of the unknown sample can be estimated.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。イオン選択電極を用いた電解質自動分析装置の
概略的な構成を図1に示す。同図において、1は試料容
器、2は試料容器1に収容された未知の電解質溶液を含
む試料を所定量だけ採取する試料採取ノズルであり、こ
の試料採取ノズル2により試料容器1から採取された試
料は、希釈容器4に分注された後、希釈液容器5、希釈
液吸引器6、希釈液送液管7および希釈液注入ノズル8
を経て希釈容器4に分注される希釈液(測定すべき電解
質を含まないもの)によって所定の濃度に希釈されるよ
うになっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. A schematic configuration of an electrolyte automatic analyzer using an ion selective electrode is shown in FIG. In the figure, 1 is a sample container, 2 is a sample collecting nozzle for collecting a predetermined amount of a sample containing an unknown electrolyte solution contained in the sample container 1, and the sample collecting nozzle 2 collects the sample from the sample container 1. After the sample is dispensed into the diluting container 4, the diluting liquid container 5, the diluting liquid suction device 6, the diluting liquid feeding pipe 7, and the diluting liquid injection nozzle 8 are provided.
It is designed to be diluted to a predetermined concentration by a diluting liquid (which does not contain an electrolyte to be measured) that is dispensed into the diluting container 4 via the above.

【0009】また、9は希釈容器4に分注された試料を
吸引する吸引ノズルであり、この吸引ノズル9により希
釈容器4から吸引された試料は、吸引ホース10および
フローセル11を流通して吸引ポンプ12に流入するよ
うになっている。
Further, 9 is a suction nozzle for sucking the sample dispensed in the dilution container 4, and the sample sucked from the dilution container 4 by the suction nozzle 9 flows through a suction hose 10 and a flow cell 11 and is sucked. It is designed to flow into the pump 12.

【0010】前記フローセル11は吸引ポンプ12に流
入する試料のイオン濃度を測定するためのもので、この
フローセル11の内部には、1または2種類以上の電解
質に関するイオン濃度を測定するためのイオン選択電極
13と参照電極14が設けられている。電極13及び1
4で得た出力はデータ処理部20に送られ、数値化され
た後、表示手段としてのCRT21に画面表示されると
共にプリンタ22にて所定の用紙に記録される。
The flow cell 11 is for measuring the ion concentration of the sample flowing into the suction pump 12. Inside the flow cell 11, ion selection for measuring the ion concentration of one or more kinds of electrolytes is performed. An electrode 13 and a reference electrode 14 are provided. Electrodes 13 and 1
The output obtained in 4 is sent to the data processing unit 20, digitized, and then displayed on the screen of the CRT 21 as a display unit and recorded on a predetermined paper by the printer 22.

【0011】前記吸引ポンプ12は、その動作のオン・
オフによりフローセル11内に試料を静止させたり、移
動させることができる。測定後の試料等は、吸引ポンプ
12によってフローセル11から排液貯蔵部24へ回収
される。
The suction pump 12 is turned on / off.
By turning off, the sample can be made to stand still in the flow cell 11 or moved. The sample or the like after the measurement is collected from the flow cell 11 to the drainage storage unit 24 by the suction pump 12.

【0012】また、15は標準液容器、16は標準液容
器15に収容された既知量の電解質を含む標準液を吸引
する標準液吸引器であり、この標準液吸引器16により
標準液容器15から吸引された標準液は、標準液送液管
17および標準液注入ノズル18を経て希釈容器4に分
注されるようになっている。
Further, 15 is a standard solution container, 16 is a standard solution suction device for sucking a standard solution containing a known amount of electrolyte contained in the standard solution container 15, and the standard solution container 15 is used by the standard solution container 15. The standard solution sucked from is passed through the standard solution feed pipe 17 and the standard solution injection nozzle 18 and is dispensed into the dilution container 4.

【0013】さらに、19は攪拌機で、例えば図1に示
すように攪拌機の先端にプロペラを設けたものを所定回
転速度で回転させることで液体を混和するものである。
CPU23は、データ処理部20で得た数値に基いて異
常を判定すると共に、装置全体を制御している。
Further, 19 is a stirrer, for example, a stirrer having a propeller at the tip thereof as shown in FIG. 1 is rotated at a predetermined rotation speed to mix the liquids.
The CPU 23 determines an abnormality based on the numerical value obtained by the data processing unit 20 and controls the entire device.

【0014】なお、25は試料容器1に収容された試料
を希釈容器4に注入する注入ポンプである。図2は試料
容器1に収容された試料のイオン濃度を測定するときの
測定手順を示すフローチャートで、同図に示すように、
試料容器1に収容された試料のイオン濃度を測定する場
合には、まず試料容器1に収容された試料を試料採取ノ
ズル2で採取し、採取された試料を希釈容器4に分注す
る。次に、希釈容器4に分注された試料を希釈液で希釈
し、図示しない攪拌機で攪拌した後、希釈された試料を
吸引ノズル9および吸引ホース10を経てフローセル1
1に導入し、試料のイオン濃度をイオン選択電極13と
参照電極14との電位差から測定する。次に、標準液を
希釈容器4に分注した後、フローセル11に導入し、標
準液の電位を測定する。測定された電位差より式1に従
って濃度を求める。そして、上述した工程を10回繰り
返して行なうことにより、表1に示すような測定データ
がプリントアウトされる。
Reference numeral 25 denotes an injection pump for injecting the sample contained in the sample container 1 into the dilution container 4. FIG. 2 is a flowchart showing the measurement procedure when measuring the ion concentration of the sample contained in the sample container 1. As shown in FIG.
When measuring the ion concentration of the sample contained in the sample container 1, first, the sample contained in the sample container 1 is sampled by the sample collection nozzle 2, and the collected sample is dispensed into the dilution container 4. Next, after diluting the sample dispensed in the diluting container 4 with a diluting liquid and stirring with a stirrer (not shown), the diluted sample is passed through the suction nozzle 9 and the suction hose 10 to the flow cell 1
1, and the ion concentration of the sample is measured from the potential difference between the ion selection electrode 13 and the reference electrode 14. Next, the standard solution is dispensed into the dilution container 4, then introduced into the flow cell 11, and the potential of the standard solution is measured. From the measured potential difference, the concentration is calculated according to equation 1. Then, the measurement data as shown in Table 1 is printed out by repeating the above steps 10 times.

【0015】[0015]

【表1】 なお、試料のイオン濃度は次式によって求められる。[Table 1] The ion concentration of the sample is calculated by the following equation.

【0016】[0016]

【数1】 [Equation 1]

【0017】以上が試料容器1に収容された未知試料の
イオン濃度を測定する場合の手順(以下、分析Aとい
う)であるが、この発明の一実施例では、試料容器1に
収容された未知試料のイオン濃度を測定するときに図3
ないし図5に示すような疑似分析B〜Dを行なう。
The above is the procedure for measuring the ion concentration of the unknown sample contained in the sample container 1 (hereinafter referred to as analysis A). In one embodiment of the present invention, the unknown concentration contained in the sample container 1 is unknown. When measuring the ion concentration of the sample
Through pseudo analyzes B to D shown in FIG.

【0018】図3は試料採取ノズル2に起因する測定誤
差を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示すよう
に、この疑似分析Bでは、まず標準液容器15に収容さ
れた標準液を希釈容器4に分注する。次に、希釈容器4
に分注された標準液を希釈液で希釈し、さらに図示しな
い攪拌機で攪拌した後、希釈された標準液を吸引ノズル
9および吸引ホース10を経てフローセル11に導入
し、標準液のイオン濃度をイオン選択電極13と参照電
極14との電位差から測定する。次に、標準液を希釈容
器4に分注した後、フローセル11に導入し、標準液の
電位を測定する。測定された電位差より式1に従って濃
度を求める。そして、上述した工程を10回繰り返して
行なうことにより、表2に示すような測定データがプリ
ントアウトされる。なお、表2に示す測定データを2倍
して表3に示すような測定データをプリントアウトして
も良い。
FIG. 3 is a diagram showing a method for finding a measurement error caused by the sampling nozzle 2. As shown in FIG. 3, in the pseudo analysis B, the standard solution contained in the standard solution container 15 is first analyzed. Dispense into the dilution container 4. Next, the dilution container 4
The standard solution dispensed into is diluted with a diluting solution and further stirred with a stirrer (not shown). It is measured from the potential difference between the ion selection electrode 13 and the reference electrode 14. Next, the standard solution is dispensed into the dilution container 4, then introduced into the flow cell 11, and the potential of the standard solution is measured. From the measured potential difference, the concentration is calculated according to equation 1. Then, the measurement data as shown in Table 2 is printed out by repeating the above steps 10 times. The measurement data shown in Table 2 may be doubled and the measurement data shown in Table 3 may be printed out.

【0019】図3に示した疑似分析Bでは、通常最大の
誤差要因である試料採取量の誤差が分析結果に含まれて
いないため、表1に示された測定データと表2に示され
た測定データとを比較することにより、試料採取ノズル
2に起因する測定誤差を見つけ出すことができる。
In the pseudo-analysis B shown in FIG. 3, since the error of the sampling amount, which is usually the largest error factor, is not included in the analysis result, the measurement data shown in Table 1 and Table 2 are shown. By comparing with the measurement data, the measurement error caused by the sampling nozzle 2 can be found.

【0020】なお、疑似分析Bでは標準液の分注誤差が
加わるが、通常、試料採取量の誤差に比べ非常に少な
く、無視し得る。図4は希釈液注入ノズル8に起因する
測定誤差を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示
すように、この疑似分析Cでは、標準液容器15に収容
された標準液を希釈容器4に分注した後、希釈容器4に
分注された標準液を吸引ノズル9および吸引ホース10
を経てフローセル11に導入し、標準液のイオン濃度を
イオン選択電極13と参照電極14との電位差から測定
する。次に、標準液を希釈容器4に分注した後、フロー
セル11に導入し、標準液の電位を測定する。測定され
た電位差より式1に従って濃度を求める。そして、上述
した工程を10回繰り返して行なうことにより、表4に
示すような測定データが画面表示されるとともにプリン
トアウトされる。
In the pseudo-analysis B, a standard solution dispensing error is added, but it is usually much smaller than the error in the sampling amount and can be ignored. FIG. 4 is a diagram showing a method for finding a measurement error caused by the diluent injection nozzle 8. As shown in FIG. 4, in this pseudo analysis C, the standard solution contained in the standard solution container 15 is used as the dilution container 4 And then the standard liquid dispensed in the dilution container 4 is sucked into the suction nozzle 9 and the suction hose 10.
And then introduced into the flow cell 11, and the ion concentration of the standard solution is measured from the potential difference between the ion selection electrode 13 and the reference electrode 14. Next, the standard solution is dispensed into the dilution container 4, then introduced into the flow cell 11, and the potential of the standard solution is measured. From the measured potential difference, the concentration is calculated according to equation 1. Then, by repeating the above steps 10 times, the measurement data as shown in Table 4 is displayed on the screen and printed out.

【0021】図4に示した疑似分析Cでは、試料の希釈
工程と攪拌工程が省略されているので、表3に示された
測定データと表4に示された測定データとを比較するこ
とにより、希釈液注入ノズル8に起因する測定誤差や攪
拌機19による攪拌誤差の有無を判定し、見つけ出すこ
とができる。こうして得た判定結果をCRT21に表示
されるとともに、プリンタ22によりプリントアウトさ
れる。
In the pseudo-analysis C shown in FIG. 4, since the sample dilution step and the stirring step are omitted, the measurement data shown in Table 3 and the measurement data shown in Table 4 are compared. The presence or absence of a measurement error caused by the diluent injection nozzle 8 or a stirring error caused by the stirrer 19 can be determined and found. The determination result thus obtained is displayed on the CRT 21 and is printed out by the printer 22.

【0022】図5はフローセル11に起因する測定誤差
を見つけ出すための手法を示す図で、同図に示すよう
に、この疑似分析Dでは、標準液容器15に収容された
標準液を希釈容器4に分注した後、希釈容器4に分注さ
れた標準液を吸引ノズル9および吸引ホース10を経て
フローセル11に導入する。標準液のイオン濃度をイオ
ン選択電極13と参照電極14との電位差から測定す
る。さらに、もう1回電位測定を繰り返す。フローセル
11から標準液を排出することなしに上述した2重測定
を10回繰り返して行なうことにより、表5に示すよう
な測定データがプリントアウトされる。
FIG. 5 is a diagram showing a method for finding a measurement error due to the flow cell 11. As shown in FIG. 5, in this pseudo analysis D, the standard solution contained in the standard solution container 15 is diluted with the dilution container 4 Then, the standard liquid dispensed in the diluting container 4 is introduced into the flow cell 11 via the suction nozzle 9 and the suction hose 10. The ion concentration of the standard solution is measured from the potential difference between the ion selection electrode 13 and the reference electrode 14. Furthermore, the potential measurement is repeated once again. By repeating the above-described double measurement 10 times without discharging the standard solution from the flow cell 11, the measurement data as shown in Table 5 is printed out.

【0023】図5に示した疑似分析Dでは、フローセル
11に導入された標準液のイオン濃度測定を10回繰り
返して行なうので、表4に示された測定データと表5に
示された測定データとを比較することにより、フローセ
ル11への吸引過程に起因する測定誤差を見つけ出すこ
とができる。疑似分析Dで得られたデータが悪い場合に
は、電気系、外来ノイズが測定誤差要因と考えられる。
In the pseudo-analysis D shown in FIG. 5, since the ion concentration of the standard solution introduced into the flow cell 11 is repeatedly measured 10 times, the measurement data shown in Table 4 and the measurement data shown in Table 5 are obtained. By comparing with, the measurement error due to the suction process to the flow cell 11 can be found. When the data obtained in the pseudo analysis D is bad, the electrical system and external noise are considered to be the measurement error factors.

【0024】なお、上述した分析Aから分析Dの結果
は、それぞれ独立して表示(または記録)されても良い
し、まとめて一覧表で表示(または記録)されても良
い。また、疑似分析B〜Dでの変動係数(Cv値)の基
準値は、結果とともに表示されるので、オペレータはど
の疑似分析で基準値を超えたかどうかで、分析精度不良
の原因の所在の推定が可能となる。
The results of analysis A to analysis D described above may be displayed (or recorded) independently of each other, or may be displayed (or recorded) collectively in a list. In addition, since the reference value of the coefficient of variation (Cv value) in the pseudo analyzes B to D is displayed together with the result, the operator estimates the location of the cause of poor analysis accuracy depending on which pseudo analysis the reference value was exceeded. Is possible.

【0025】例えば分析精度が不良で、疑似分析Bも基
準値を超えているが、疑似分析Cでは基準値以内である
といった場合は、主に希釈液の分注精度に問題があるこ
とが推定できる。これは疑似分析Bと疑似分析Cの相違
が主に希釈液を分注するかしないかだけであるため、原
因箇所の切り分けが簡単につくためである。
For example, when the analysis accuracy is poor and the pseudo analysis B exceeds the reference value, but the pseudo analysis C is within the reference value, it is estimated that there is a problem mainly in the diluting liquid dispensing accuracy. it can. This is because the difference between the pseudo-analysis B and the pseudo-analysis C is mainly whether or not the diluting liquid is dispensed, and the cause can be easily separated.

【0026】さらに、表6で示すように、基準値を超え
たかどうかの判断を装置に行わせ、判定結果のみ打ち出
しても良い。また、疑似分析B〜Dの測定結果を相互比
較し、その結果により、表7に示すように、結果を一覧
表で示すとともに、次に採るべき処置を同時に表示(ま
たは記録)しても良い。
Further, as shown in Table 6, the device may judge whether or not the reference value is exceeded, and only the judgment result may be output. Further, the measurement results of the pseudo analyzes B to D may be compared with each other, and the results may be shown in a list as shown in Table 7, and the action to be taken next may be displayed (or recorded) at the same time. .

【0027】[0027]

【表2】 [Table 2]

【0028】CPU23は、以上のような原因の推定や
相互比較による結果に基いてデータ処理部20に対して
適宜のデータ補正や異常マーク設定等を指示すること
で、試料容器中の各試料を高精度に分析したり、場合に
よっては各種シリンジ、ポンプ、攪拌機等の一時停止や
分析のやり直しを指示するような制御を行なうことで、
分析の無駄がない効率の高い試料分析を行なっても良
い。
The CPU 23 instructs each of the samples in the sample container by instructing the data processing section 20 to perform appropriate data correction and abnormal mark setting based on the results of the above-described estimation of causes and mutual comparison. By performing highly accurate analysis, and in some cases, performing controls such as temporary suspension of various syringes, pumps, stirrers, etc., and instruction to restart analysis,
Highly efficient sample analysis without waste of analysis may be performed.

【0029】このように分注精度上の問題が発生したと
きに、特定の誤差要因を含まない疑似分析を行うことに
より、原因の所在の推定が容易に行うことができる。ま
た、この発明の一実施例では、分析結果の統計値、例え
ば標準偏差を計算し、それを正常な装置の期待値と比
べ、その結果オペレータ問題点解決に向け色々なメッセ
ージを発することができるため、オペレータの熟練や技
量が低くても迅速な問題解決が期待できる。
In this way, when a problem in dispensing accuracy occurs, a pseudo analysis that does not include a specific error factor is performed, so that the location of the cause can be easily estimated. Further, in one embodiment of the present invention, a statistical value of an analysis result, for example, a standard deviation is calculated and compared with an expected value of a normal device, and as a result, various messages can be issued to solve an operator problem. Therefore, prompt problem solving can be expected even if the operator's skill and skill are low.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、未知試料を自動分析装置で分析したときに自動分析
装置から出力される分析データの誤差要因を検出するこ
とのできる自動分析装置の誤差要因検出方法を提供でき
る。
As described above, according to the present invention, when an unknown sample is analyzed by an automatic analyzer, an automatic analyzer capable of detecting an error factor of analysis data output from the automatic analyzer. An error factor detection method can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】イオン選択電極を用いた電解質自動分析装置の
概略構成図。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an automatic electrolyte analyzer using an ion selective electrode.

【図2】試料のイオン濃度を測定するときの測定手順を
示すフローチャート。
FIG. 2 is a flowchart showing a measurement procedure when measuring the ion concentration of a sample.

【図3】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、試料採取ノズルに起
因する測定誤差を見つけ出すための手法を示すフローチ
ャート。
FIG. 3 is a diagram for explaining an error factor detection method of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention, and is a flowchart showing a method for finding a measurement error caused by a sampling nozzle.

【図4】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、希釈液注入ノズルに
起因する測定誤差を見つけ出すための手法を示すフロー
チャート。
FIG. 4 is a diagram for explaining an error factor detection method of the automatic analyzer according to the embodiment of the present invention, and is a flowchart showing a method for finding a measurement error caused by the diluent injection nozzle.

【図5】本発明の一実施例に係る自動分析装置の誤差要
因検出方法を説明するための図で、フローセルに起因す
る測定誤差を見つけ出すための手法を示すフローチャー
ト。
FIG. 5 is a diagram for explaining an error factor detection method of an automatic analyzer according to an embodiment of the present invention, and is a flowchart showing a method for finding a measurement error caused by a flow cell.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…試料容器 2…試料採取ノズル 4…希釈容器 5…希釈液吸引器 8…希釈液注入ノズル 9…吸引ノズル 11…フローセル 12…吸引ポンプ 13…イオン選択電極 14…参照電極 15…標準容器 16…標準液吸引器 18…標準液注入ノズル DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Sample container 2 ... Sampling nozzle 4 ... Diluting container 5 ... Diluting liquid suction device 8 ... Diluting liquid injection nozzle 9 ... Suction nozzle 11 ... Flow cell 12 ... Suction pump 13 ... Ion selection electrode 14 ... Reference electrode 15 ... Standard container 16 … Standard solution suction device 18… Standard solution injection nozzle

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 未知試料を自動分析装置で分析する際
に、既知試料を自動分析装置で疑似分析し、その疑似分
析データと前記未知試料の分析データとを比較して前記
未知試料の分析データに含まれる誤差要因を検出するこ
とを特徴とする自動分析装置の誤差要因検出方法。
1. When analyzing an unknown sample with an automatic analyzer, a known sample is pseudo-analyzed with the automatic analyzer, and the pseudo-analysis data is compared with the analysis data of the unknown sample to analyze the unknown sample. A method for detecting an error factor in an automatic analyzer, comprising detecting an error factor included in
【請求項2】 疑似分析を複数回行なって得た複数個の
分析データを用いる請求項1記載の自動分析装置の誤差
要因検出方法。
2. The method of detecting an error factor in an automatic analyzer according to claim 1, wherein a plurality of analysis data obtained by performing the pseudo analysis a plurality of times are used.
【請求項3】 既知試料の希釈または導入工程のいずれ
かを省略して繰り返し分析する請求項2記載の自動分析
装置の誤差要因検出方法。
3. The method of detecting an error factor in an automatic analyzer according to claim 2, wherein either the known sample dilution step or the introduction step is omitted and the analysis is repeated.
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