JPH07326810A - Semiconductor laser device - Google Patents

Semiconductor laser device

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JPH07326810A
JPH07326810A JP11647494A JP11647494A JPH07326810A JP H07326810 A JPH07326810 A JP H07326810A JP 11647494 A JP11647494 A JP 11647494A JP 11647494 A JP11647494 A JP 11647494A JP H07326810 A JPH07326810 A JP H07326810A
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JP
Japan
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semiconductor laser
light
light receiving
laser device
receiving element
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Application number
JP11647494A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Tajiri
敦志 田尻
Kazushi Mori
和思 森
Keiichi Yoshitoshi
慶一 吉年
Takao Yamaguchi
隆夫 山口
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH07326810A publication Critical patent/JPH07326810A/en
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Abstract

PURPOSE:To provide a semiconductor laser device capable of monitor operation of high precision. CONSTITUTION:Each of the outputted lights from a multi-beam semiconductor laser chip 13 is converged with a condenser means 12, and introduced into each of the four independent photo detection parts 14a... which are formed in a light receiving element 14 for monitoring use. In the condenser means 12, hologram surfaces 12b... which have converging action are formed on a lateral line on one plane of a rectangular parallelopiped transparent block 12a.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザ装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、半導体レーザ装置では、半導
体レーザチップから出射されるレーザビームをAPC
(Automatic Power Control)
駆動するために、半導体レーザの後方に出射される後方
出射光又は前方に出射されるレーザビームの一部をフォ
トダイオードで受光しモニタするようにしている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor laser device, a laser beam emitted from a semiconductor laser chip is APC.
(Automatic Power Control)
In order to drive, a rear emission light emitted rearward of the semiconductor laser or a part of a laser beam emitted frontward is received by a photodiode and monitored.

【0003】また、図11に示すように、マルチビーム
半導体レーザチップ51を備える半導体レーザ装置で
は、光ガイド52によって各々の出射光を複数設けられ
たフォトダイオード53…の各々に導いてモニタするよ
うにしている。
Further, as shown in FIG. 11, in a semiconductor laser device having a multi-beam semiconductor laser chip 51, each emitted light is guided to a plurality of photodiodes 53 ... I have to.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の半導体レーザ装置では、半導体レーザチップの個々
に発散光の垂直θと水平θにばらつきがあるため、フォ
トダイオードの受光面からはみ出る光量にもばらつきが
生じる。従って、光強度が同じであっても上記のはみ出
し光量分によってモニタ受光量に差が生じたり、また、
マルチビーム半導体レーザでは、モニタ用光ガイドを備
えてもクロストークが生じて高精度なモニタ動作を行う
ことが困難である。
However, in the above-mentioned conventional semiconductor laser device, since the vertical θ and the horizontal θ of the divergent light vary among the semiconductor laser chips, the amount of light protruding from the light receiving surface of the photodiode also varies. Occurs. Therefore, even if the light intensity is the same, there is a difference in the amount of light received by the monitor due to the above-mentioned amount of protruding light, and
In a multi-beam semiconductor laser, crosstalk occurs even if it has an optical guide for monitoring, and it is difficult to perform highly accurate monitoring operation.

【0005】また、マルチビーム半導体レーザチップの
光量モニタ用に備えられる光ガイドは、図11に示した
ように、Si板に溝52a…を形成し、これら溝52a
…の内面を高反射率材料でコートしたものであるが、小
型化のために隣合う溝52a,52aの間隔をあまりに
狭くすると、十分な強度が得られない。十分な強度を得
るためには、溝を平行に形成する場合であれば溝間の壁
の厚みとしては数十μm以上が必要になる。更に、かか
る強度保持のため、図のごとく溝52a…の形成方向を
放射状(非平行)にして溝間の厚みを確保すると、溝の
長さに相違が生じ、これが光路長の違いとなるため、光
量のロス量に差が生じる。従って、各レーザチップの光
強度が同じであっても上記ロス量の差異によってモニタ
受光量に差が生じ、高精度なモニタ動作を行うことがで
きないか、或いは精度を得るための調整に多くの時間が
必要になりコスト高を招くことになる。マルチビーム半
導体レーザでは、ビーム数が多くなる程、個々のビーム
を独立してモニタすることが困難になり、上述した問題
は重大となる。
As shown in FIG. 11, the light guide provided for monitoring the light quantity of the multi-beam semiconductor laser chip has grooves 52a ... Formed in a Si plate, and these grooves 52a are formed.
The inner surface of ... Is coated with a high-reflectance material, but if the space between the adjacent grooves 52a, 52a is made too narrow for size reduction, sufficient strength cannot be obtained. In order to obtain sufficient strength, when the grooves are formed in parallel, the wall thickness between the grooves must be several tens of μm or more. Further, in order to maintain the strength, if the formation directions of the grooves 52a are made radial (non-parallel) as shown in the figure to secure the thickness between the grooves, a difference occurs in the length of the grooves, which causes a difference in the optical path length. However, there is a difference in the amount of light loss. Therefore, even if the light intensity of each laser chip is the same, the difference in the amount of light received by the monitor causes a difference in the amount of light received by the monitor, and it is not possible to perform a highly accurate monitor operation, or there are many adjustments for obtaining accuracy. This requires time and increases costs. In the multi-beam semiconductor laser, as the number of beams increases, it becomes more difficult to monitor each beam independently, and the above-mentioned problem becomes more serious.

【0006】本発明は、上記の事情に鑑み、単ビーム方
式およびマルチビーム方式の双方において高精度なモニ
タ動作を可能とする半導体レーザ装置を提供することを
目的とする。
In view of the above circumstances, it is an object of the present invention to provide a semiconductor laser device capable of highly accurate monitor operation in both the single beam system and the multi beam system.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の第1の構成は、
上記の課題を解決するために、半導体レーザチップの出
射光を集光してモニタ用受光素子に導く集光手段が設け
られていることを特徴とする。
The first structure of the present invention is as follows.
In order to solve the above-mentioned problems, it is characterized in that a condensing means for condensing the emitted light of the semiconductor laser chip and guiding it to the monitor light receiving element is provided.

【0008】第2の構成は、マルチビーム半導体レーザ
チップの各々の出射光を集光して複数設けられたモニタ
用受光素子の各々に導く集光手段が設けられていること
を特徴とする。
The second configuration is characterized in that a condensing means for condensing the emitted light from each of the multi-beam semiconductor laser chips and guiding it to each of a plurality of monitor light receiving elements is provided.

【0009】第3の構成は、上記第1又は第2の構成に
おいて、集光手段がホログラム素子から成るものでもよ
い。
In the third configuration, the condensing means may be a hologram element in the first or second configuration.

【0010】第4の構成は、上記第2の構成において、
集光手段が一つのブロックの面に複数のホログラム面を
形成した部材から成るものでもよい。
A fourth configuration is the same as the above second configuration,
The condensing means may be composed of a member in which a plurality of hologram surfaces are formed on the surface of one block.

【0011】第5の構成は、上記第2の構成において、
モニタ用受光素子の複数の受光面が2列以上に配置形成
されていてもよい。
A fifth configuration is the same as the second configuration,
A plurality of light receiving surfaces of the monitor light receiving element may be arranged and formed in two or more rows.

【0012】第6の構成は、上記第1乃至第5のいずれ
かの構成において、集光手段が半導体レーザチップの前
方出射光をモニタ用受光素子に導くように配置されてい
てもよい。
In the sixth configuration, in any one of the first to fifth configurations, the condensing means may be arranged so as to guide the forward emission light of the semiconductor laser chip to the monitor light receiving element.

【0013】第7の構成は、上記第1乃至第6のいずれ
かの構成において、モニタ受光素子がサブマウント上に
形成されていてもよい。
In the seventh configuration, in any one of the first to sixth configurations, the monitor light receiving element may be formed on the submount.

【0014】[0014]

【作用】上記第1の構成によれば、半導体レーザチップ
の出射光が集光されてモニタ用受光素子に導かれるの
で、出射光がモニタ用受光素子からはみ出るのが防止さ
れ、高精度なモニタ動作を行うことができる。また、半
導体レーザチップの照射光は集光されてモニタ用受光素
子に導かれるので、半導体レーザチップとモニタ用受光
素子との配置間隔を広げることも可能であり、半導体レ
ーザ装置の設計自由度を高めることもできる。
According to the first structure, the emitted light of the semiconductor laser chip is condensed and guided to the monitor light receiving element, so that the emitted light is prevented from protruding from the monitor light receiving element, and a highly accurate monitor is provided. You can take action. Further, since the irradiation light of the semiconductor laser chip is condensed and guided to the monitor light receiving element, it is also possible to widen the arrangement interval between the semiconductor laser chip and the monitor light receiving element, which increases the design flexibility of the semiconductor laser device. It can also be increased.

【0015】第2の構成によれば、マルチビーム方式に
おいて、上記と同様の作用を得ることができる。
According to the second structure, in the multi-beam system, the same operation as described above can be obtained.

【0016】第3の構成によれば、集光手段がホログラ
ムから成るので、小型化のためにビーム間隔を狭めたと
しても、従来の溝から成る光ガイドを用いる場合のよう
な強度低下や光路長の相違によるモニタ精度の低下とい
った問題は生じない。また、斯る構成では、回折・集光
できるので、モニタ用受光素子の位置を適宜設定するこ
とが可能であり、半導体レーザ装置の設計自由度が増
す。
According to the third structure, since the light converging means is composed of a hologram, even if the beam interval is narrowed for downsizing, the reduction in intensity and the optical path as in the case of using the conventional light guide consisting of the groove. There is no problem of deterioration of monitor accuracy due to the difference in length. Further, in such a configuration, the position of the monitor light receiving element can be appropriately set because diffraction and focusing can be performed, and the degree of freedom in designing the semiconductor laser device increases.

【0017】第4の構成によれば、集光手段が一つのブ
ロックの面に複数のホログラム面を形成した部材から成
るので、マルチビームの各々について個別にホログラム
素子を設ける構成に比べ、部品点数の削減を図ることが
できる。
According to the fourth structure, since the condensing means is composed of a member in which a plurality of hologram surfaces are formed on the surface of one block, the number of parts is smaller than that in the structure in which the hologram element is individually provided for each of the multi-beams. Can be reduced.

【0018】第5の構成によれば、モニタ用受光素子の
複数の受光面が2列以上に配置形成されているので、多
くの受光面を横一列に配置形成するために受光面積が小
さくなることによるビームスポットのずれ等は起こり難
く、部品配置精度の緩和による組み立ての容易化等が図
れる。
According to the fifth structure, since the plurality of light-receiving surfaces of the monitor light-receiving element are arranged and formed in two or more rows, many light-receiving surfaces are arranged and formed in one horizontal row, so that the light-receiving area becomes small. Due to this, deviation of the beam spot is unlikely to occur, and ease of assembly can be achieved by relaxing the accuracy of component placement.

【0019】第6の構成によれば、前方出射光を受光し
てモニタするので、後方出射光をモニタする場合に比べ
て各ビームの強度検出の精度向上が図れる。
According to the sixth structure, since the front emission light is received and monitored, the accuracy of the intensity detection of each beam can be improved as compared with the case where the rear emission light is monitored.

【0020】第7の構成によれば、モニタ用受光素子が
サブマウント上に形成されているので、半導体レーザチ
ップやモニタ用受光素子をほぼ同一面上に配置すること
ができ、ワイヤボンディングの引き出し等の作製が容易
になり低コスト化が図れる。
According to the seventh structure, since the monitor light-receiving element is formed on the submount, the semiconductor laser chip and the monitor light-receiving element can be arranged on substantially the same surface, and the wire bonding can be led out. Etc. can be easily manufactured and the cost can be reduced.

【0021】[0021]

【実施例】【Example】

(実施例1)以下、本発明をその実施例を示す図に基づ
いて説明する。
(Embodiment 1) The present invention will be described below with reference to the drawings showing the embodiment.

【0022】図1は、キャップを取り外した状態の半導
体レーザ装置を示す斜視図である。第1のステム1(チ
ップ等取り付け用ブロック)上には、サブマウント2が
配置される。このサブマウント2上には、半導体レーザ
チップ3および集光手段4が載置固定されている。半導
体レーザチップ3は、その後方光出射面側を集光手段4
に向けて配置される。
FIG. 1 is a perspective view showing the semiconductor laser device with the cap removed. The submount 2 is arranged on the first stem 1 (block for mounting chips and the like). The semiconductor laser chip 3 and the condensing means 4 are placed and fixed on the submount 2. The semiconductor laser chip 3 has a light-collecting means 4 on the rear light emitting surface side.
Will be placed towards.

【0023】集光手段4は、直方体形状の透明ブロック
4aの一平面にホログラム面4bが形成されたものであ
り、このホログラム面4bを上記の後方光出射面に向け
て配置されている。上記のホログラム面4bは、入射し
た光を集光させるようなホログラムパターンを有する。
The condensing means 4 has a hologram surface 4b formed on one plane of a transparent block 4a having a rectangular parallelepiped shape, and is arranged with the hologram surface 4b facing the above-mentioned rear light emitting surface. The hologram surface 4b has a hologram pattern that collects incident light.

【0024】モニタ用受光素子5は、上記集光手段4の
ホログラム面4bの作用により集光されたビームを受け
る位置にその受光面5aが向くように前記第1のステム
1上に配置固定されている。
The monitor light-receiving element 5 is arranged and fixed on the first stem 1 so that the light-receiving surface 5a thereof faces the position where the beam condensed by the action of the hologram surface 4b of the light-collecting means 4 is received. ing.

【0025】また、上記第1のステム1は、第2のステ
ム6(支持台)に配置固定されている。第2のステム6に
は、外部との電気的接続を行うためのリード部材7…が
差し込み固着されており、その突出する先端部が前記モ
ニタ用受光素子5や半導体レーザチップ3に図示しない
ワイヤボンディングによって接続される。
The first stem 1 is arranged and fixed to the second stem 6 (support base). A lead member 7 ... For making an electrical connection to the outside is inserted and fixed to the second stem 6, and a protruding tip portion thereof is a wire (not shown) for the monitor light receiving element 5 or the semiconductor laser chip 3. Connected by bonding.

【0026】図2の(a)は、上記構成の半導体レーザ
装置において、半導体レーザ5の後方出射光が集光手段
4のホログラム面4bにより集光されてモニタ用受光素
子5の受光面5aに入光する様子を示した平面図であ
り、同図(b)は同様の様子を示した側面図である。
FIG. 2 (a) shows that in the semiconductor laser device having the above structure, the backward emission light of the semiconductor laser 5 is condensed by the hologram surface 4b of the condensing means 4 and is incident on the light receiving surface 5a of the monitor light receiving element 5. It is a plan view showing how light enters, and FIG. 7B is a side view showing a similar state.

【0027】上記の構成によれば、半導体レーザチップ
3の出射光が集光されてモニタ用受光素子5に導かれる
ので、出射光がモニタ用受光素子5からはみ出るのが防
止され、高精度なモニタ動作を行うことができる。ま
た、半導体レーザチップの照射光は集光されてモニタ用
受光素子5に導かれるので、半導体レーザチップ3とモ
ニタ用受光素子5との配置間隔を広げることも可能とな
り、半導体レーザ装置の設計自由度を高めることもでき
る。
According to the above configuration, the emitted light of the semiconductor laser chip 3 is collected and guided to the monitor light receiving element 5, so that the emitted light is prevented from protruding from the monitor light receiving element 5 and is highly accurate. A monitor operation can be performed. Further, since the irradiation light of the semiconductor laser chip is condensed and guided to the monitor light-receiving element 5, it is possible to widen the arrangement interval between the semiconductor laser chip 3 and the monitor light-receiving element 5, and it is possible to freely design the semiconductor laser device. You can also increase the degree.

【0028】(実施例2)以下、本発明の他の実施例を
図3に基づいて説明する。
(Embodiment 2) Another embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

【0029】本実施例の半導体レーザ装置は、図3
(a)(b)に示すように、透明ブロック11aの一平
面にホログラム面11bが形成された集光手段11が、
半導体レーザチップ3の後方出射光を、サブマウント2
上に形成したモニタ用受光素子5に、回折集光して導く
ように構成されている。
The semiconductor laser device of this embodiment is shown in FIG.
As shown in (a) and (b), the condensing means 11 in which the hologram surface 11b is formed on one plane of the transparent block 11a is
The rear emission light of the semiconductor laser chip 3 is transmitted to the submount 2
The monitor light receiving element 5 formed above is configured to diffract and focus light.

【0030】かかる構成によれば、モニタ用受光素子5
がサブマウント2上に形成されるので、半導体レーザチ
ップ3やモニタ用受光素子5をほぼ同一面上に配置する
ことができ、半導体レーザチップ3やモニタ用受光素子
5のワイヤボンディングの引き出し等の作製が容易にな
り低コスト化が図れる。
According to this structure, the monitor light receiving element 5
Are formed on the submount 2, the semiconductor laser chip 3 and the monitor light-receiving element 5 can be arranged on substantially the same plane, and the semiconductor laser chip 3 and the monitor light-receiving element 5 can be pulled out by wire bonding. Manufacturing is facilitated and cost can be reduced.

【0031】なお、集光手段11として透過型のホログ
ラムを用いたが、反射型ホログラムを用いることもでき
る。例えば、反射型ホログラム面が、サブマウント2上
に形成したモニタ用受光素子5の受光面5aおよび半導
体レーザチップ3の後方光出射面に対して傾斜して向く
ように配置することにより、半導体レーザチップ3の後
方出射光を、サブマウント2上に形成したモニタ用受光
素子5に、反射回折集光して導くことができる。
Although the transmissive hologram is used as the light collecting means 11, a reflective hologram may be used. For example, by arranging the reflection hologram surface so as to be inclined with respect to the light receiving surface 5a of the monitor light receiving element 5 formed on the submount 2 and the rear light emitting surface of the semiconductor laser chip 3, the semiconductor laser is provided. The backward emission light of the chip 3 can be reflected, diffracted, and guided to the monitor light-receiving element 5 formed on the submount 2.

【0032】(実施例3)以下、本発明の他の実施例を
図4及び図5に基づいて説明する。
(Embodiment 3) Another embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

【0033】本実施例のビーム数が4本でそれぞれ独立
駆動可能なマルチビーム半導体レーザ装置は、図4に示
すように、マルチビーム半導体レーザチップ13の各々
の出射光を、集光手段12によって各々集光し、モニタ
用受光素子14の4つ形成された独立受光部14a…の
各々に導くように構成してある。上記の集光手段12
は、一つの直方体形状の透明ブロック12aの一平面に
集光作用を有するホログラム面12b…が横一列に形成
されたものである。
In the multi-beam semiconductor laser device of the present embodiment, which has four beams and can be independently driven, as shown in FIG. 4, light emitted from each of the multi-beam semiconductor laser chips 13 is condensed by the condensing means 12. Each of them is condensed and guided to each of the four independent light receiving portions 14a of the monitor light receiving element 14 formed. The light collecting means 12
Is a rectangular parallelepiped transparent block 12a in which one surface has hologram surfaces 12b, ...

【0034】上記の構成により、図5(a)(b)に示
すように、マルチビーム半導体レーザチップ13の出射
光が集光されてモニタ用受光素子14の独立受光部14
a…の各々に導かれるので、出射光が上記独立受光部1
4a…からはみ出るのを防止して高精度なモニタ動作を
行うことができる。また、マルチビーム半導体レーザチ
ップ13とモニタ用受光素子14との配置間隔を広げる
ことが可能となるので設計の自由度が高まる。
With the above-described structure, as shown in FIGS. 5A and 5B, the emitted light of the multi-beam semiconductor laser chip 13 is condensed and the independent light receiving portion 14 of the monitor light receiving element 14 is collected.
Since the light is guided to each of the a ...
4a ... Can be prevented from protruding and a highly accurate monitor operation can be performed. Further, since the arrangement interval between the multi-beam semiconductor laser chip 13 and the monitor light receiving element 14 can be widened, the degree of freedom in design is increased.

【0035】更に、集光手段12がホログラムから成る
ので、小型化のためにビーム間隔を狭めたとしても、従
来の溝から成る光ガイドを用いる場合のような強度低下
や光路長の相違によるモニタ精度の低下及びビーム間の
クロストークといった問題は生じない。更に、集光手段
12は、一つのブロック12aの平面に複数のホログラ
ム面12b…を形成したものであるので、マルチビーム
の各々について個別にホログラム素子を設ける構成に比
べ、部品点数の削減を図ることができる。
Further, since the light condensing means 12 is composed of a hologram, even if the beam interval is narrowed for downsizing, the monitor is caused by a decrease in intensity and a difference in optical path length as in the case of using a conventional optical guide consisting of a groove. The problems of reduced accuracy and crosstalk between beams do not occur. Further, since the light condensing means 12 has a plurality of hologram surfaces 12b ... Formed on the plane of one block 12a, the number of parts is reduced as compared with the configuration in which the hologram element is individually provided for each of the multi-beams. be able to.

【0036】(実施例4)以下、本発明の他の実施例を
図6及び図7に基づいて説明する。
(Embodiment 4) Another embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 6 and 7.

【0037】本実施例の半導体レーザ装置は、上記実施
例3と同様、マルチビーム半導体レーザチップの各々の
出射光を、集光手段によって各々集光し、モニタ用受光
素子の複数の独立受光部の各々に導くように構成してあ
る点で共通するものであるが、図6に示すように、集光
手段15は、直方体形状の透明ブロック15aの一平面
に回折(1次回折)集光作用を有する複数のホログラム
面15aを有して構成される。また、上記の透明ブロッ
ク15aの背面側には、ホログラム面15aからの透過
光を遮蔽するための黒塗りの遮光部15cが形成されて
いる。
In the semiconductor laser device of this embodiment, as in the case of the above-mentioned third embodiment, the emitted light from each of the multi-beam semiconductor laser chips is collected by the light collecting means, and a plurality of independent light receiving portions of the light receiving element for monitoring are provided. In common with the point that the light collecting means 15 is configured so as to lead to each of the above, as shown in FIG. 6, the condensing means 15 condense diffraction (first-order diffraction) on one plane of the transparent block 15a having a rectangular parallelepiped shape. It is configured to have a plurality of hologram surfaces 15a having an action. Further, on the back side of the transparent block 15a, a black light shielding portion 15c for shielding the transmitted light from the hologram surface 15a is formed.

【0038】上記の構成によれば、図7に示すように、
マルチビーム半導体レーザチップ13の各々の後方出射
光は、集光手段15によって回折・集光され、モニタ用
受光素子14の複数の独立受光部14a…の各々に導か
れ、実施例3と同様の作用が得られることになる。
According to the above configuration, as shown in FIG.
The backward emission light of each of the multi-beam semiconductor laser chips 13 is diffracted and condensed by the condensing means 15, is guided to each of the plurality of independent light receiving portions 14a of the monitor light receiving element 14, and is the same as in the third embodiment. The action will be obtained.

【0039】(実施例5)以下、本発明の他の実施例を
図8に基づいて説明する。
(Embodiment 5) Another embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

【0040】本実施例は、実施例3の構成をマルチビー
ム対応の構成としたものである。即ち、図8(a)
(b)に示すように、サブマウント2上には4つの独立
受光部14a…が形成されており、集光手段16によっ
て各独立受光部14a…にマルチビーム半導体レーザチ
ップ13の後方出射光を各々を回折集光して導くように
なっている。
In this embodiment, the structure of the third embodiment is adapted for multi-beam. That is, FIG. 8 (a)
As shown in (b), four independent light receiving portions 14a ... Are formed on the submount 2, and the backward emission light of the multi-beam semiconductor laser chip 13 is directed to each independent light receiving portion 14a. Each is diffracted and condensed and guided.

【0041】(実施例6)以下、本発明の他の実施例を
図9に基づいて説明する。
(Embodiment 6) Another embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

【0042】本実施例は、実施例3の構成において、ビ
ーム数が8本でそれぞれ独立駆動可能なマルチビーム半
導体レーザチップ20を用いる構成としたものであり、
モニタ用受光素子21には、8個の独立受光部21a…
が横方向に4個ずつ2列に配置形成されている。また、
集光手段22は、直方体形状の透明ブロック22aの一
平面に8個のホログラム面22b…を形成して成るもの
であり、各ホログラム面22b…によって上記の2列に
形成された8個の独立受光部21aの各々にマルチビー
ム半導体レーザチップ20の8本のビームが回折集光さ
れて導かれる。
In this embodiment, the multi-beam semiconductor laser chip 20 which has eight beams and can be independently driven in the structure of the third embodiment is used.
The monitor light receiving element 21 includes eight independent light receiving portions 21a ...
Are arranged and formed in two rows of four in the lateral direction. Also,
The light converging means 22 is formed by forming eight hologram surfaces 22b ... On one plane of a rectangular parallelepiped transparent block 22a, and eight independent hologram surfaces 22b ... Are formed in the above two rows. Eight beams of the multi-beam semiconductor laser chip 20 are diffracted and condensed and guided to each of the light receiving portions 21a.

【0043】このように、8個の独立受光部21a…が
横方向に4個ずつ2列に配置形成されているので、各独
立受光部21aの横幅は、ビーム数が4本であるときの
横幅と同じ幅が維持され、独立受光部21aの受光面積
が小さくなることによるビームスポットのずれ等が起こ
りにくくなり、部品配置精度の緩和による組み立ての容
易化等が図れる。
As described above, since the eight independent light receiving portions 21a are arranged and formed in two rows, four in the horizontal direction, the width of each independent light receiving portion 21a is 4 when the number of beams is four. The same width as the lateral width is maintained, the deviation of the beam spot due to the reduction of the light receiving area of the independent light receiving portion 21a is less likely to occur, and the assembly accuracy can be facilitated by relaxing the component placement accuracy.

【0044】なお、サブマウント2上に8個の独立受光
部21a…を横方向に4個ずつ2列に配置形成し、実施
例5の構成を用いて各独立受光部21aに後方出射光を
回折集光して導くようにしてもよいものである。8本を
越えるビーム数のマルチビーム半導体レーザ装置につい
ても、本実施例と同様に複数列の受光部と、各々ビーム
に対応したホログラム面を有するホログラム素子を用い
て、クロストーク等の問題なく、モニタ動作させること
ができる。
It should be noted that eight independent light receiving portions 21a ... Are arranged on the submount 2 in four rows in the lateral direction in two rows, and backward emission light is emitted to each independent light receiving portion 21a using the configuration of the fifth embodiment. Alternatively, the light may be diffracted and condensed and guided. Also in a multi-beam semiconductor laser device having more than eight beams, a plurality of rows of light receiving portions and a hologram element having a hologram surface corresponding to each beam are used similarly to the present embodiment, and there is no problem such as crosstalk. The monitor can be operated.

【0045】(実施例7)以下、本発明の他の実施例を
図10に基づいて説明する。
(Embodiment 7) Another embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

【0046】本実施例の半導体レーザ装置では、直方体
形状の透明ブロック26aの一平面に複数のホログラム
面26b…が形成された集光手段26、および複数の受
光面27a…が形成されたモニタ用受光素子27は、マ
ルチビーム半導体レーザチップ25の前方側において、
第1のステム1上に配置される。上記の集光手段26
は、そのホログラム面26b…が、マルチビーム半導体
レーザチップ25の前方光出射面側に向くように配置さ
れており、前方出射光をそれぞれ回折集光して受光面2
7a…に導くようになっている。
In the semiconductor laser device of this embodiment, a condenser means 26 having a plurality of hologram surfaces 26b ... Formed on one plane of a transparent block 26a having a rectangular parallelepiped shape, and a monitor having a plurality of light receiving surfaces 27a ... The light receiving element 27 is provided on the front side of the multi-beam semiconductor laser chip 25.
It is arranged on the first stem 1. The light collecting means 26
Are arranged so that their hologram surfaces 26b ... Are directed toward the front light emission surface side of the multi-beam semiconductor laser chip 25, and the front emission light is diffracted and condensed respectively, and the light receiving surface 2
It is designed to lead to 7a.

【0047】かかる構成によっても、実施例3と同様の
作用が得られる。更に、前方出射光を受光してモニタす
るので、後方出射光をモニタする場合に比べて各ビーム
の強度検出の精度向上が図れる。
With this structure, the same operation as that of the third embodiment can be obtained. Further, since the front emission light is received and monitored, the accuracy of intensity detection of each beam can be improved as compared with the case where the rear emission light is monitored.

【0048】なお、以上の実施例において、サブマウン
ト2上にモニタ用受光素子を形成する構成以外の構成で
は、当該モニタ用受光素子を第1のステム2上に配置し
ているが、サブマウント2上に配置するようにしてもよ
く、また、第2のステム6等の他の場所に配置するよう
にしてもよい。この場合において、モニタ用受光素子が
半導体レーザチップから比較的離れた位置に配置された
としても、半導体レーザチップの照射光は集光されてモ
ニタ用受光素子に導かれるので、モニタ用受光素子の受
光面からはみ出ることはない。
It should be noted that, in the above-described embodiments, the monitor light-receiving element is arranged on the first stem 2 in a structure other than the structure in which the monitor light-receiving element is formed on the submount 2. It may be arranged on the second stem 6, or may be arranged on another place such as the second stem 6. In this case, even if the monitor light receiving element is arranged at a position relatively distant from the semiconductor laser chip, the irradiation light of the semiconductor laser chip is condensed and guided to the monitor light receiving element. It does not protrude from the light receiving surface.

【0049】また、集光手段としてホログラム以外の光
学部材を用いることもできるが、ホログラムによればそ
のパターンの設定で比較的任意の方向に集光させること
が可能であり、前記の実施例6で示したモニタ用受光素
子21の独立受光部21a…を2列以上形成するような
場合にも容易に対応できる。また、ホログラムのパター
ンの設定で各モニタ光の強度を揃えたり、その逆に重み
を付けること等も可能である。更に、透明ブロックにホ
ログラム面を形成して成る集光部材は、例えばガラス基
板に多数のホログラム面を所定パターンに形成した後に
適宜切断することによって簡単に得られるので、安価に
作製することができる。
Although an optical member other than the hologram can be used as the light converging means, the hologram can condense light in a relatively arbitrary direction by setting the pattern, and the above-mentioned embodiment 6 is used. It is possible to easily deal with the case where the independent light receiving portions 21a ... Of the monitor light receiving element 21 shown by are formed in two or more rows. Further, it is possible to make the intensities of the respective monitor lights uniform by setting the hologram pattern, or vice versa. Further, the light condensing member formed by forming the hologram surface on the transparent block can be easily obtained by, for example, simply forming a plurality of hologram surfaces on a glass substrate in a predetermined pattern and appropriately cutting the hologram surface, and thus can be manufactured at low cost. .

【0050】[0050]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、モニタ
の高精度化、設計の高自由度化、部品点数の削減、組み
立ての容易化、並びに低コスト化等が図れるという効果
を奏する。
As described above, according to the present invention, it is possible to improve the accuracy of the monitor, increase the degree of freedom of design, reduce the number of parts, facilitate the assembly, and reduce the cost. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の半導体レーザ装置の斜視図である。FIG. 1 is a perspective view of a semiconductor laser device of the present invention.

【図2】同図(a)は図1の半導体レーザ装置の主要部
の平面図であり、同図(b)はその側面図である。
2 (a) is a plan view of a main part of the semiconductor laser device of FIG. 1, and FIG. 2 (b) is a side view thereof.

【図3】同図(a)は本発明の他の実施例における半導
体レーザ装置の主要部の側面図であり、同図(b)はそ
の平面図である。
3A is a side view of a main part of a semiconductor laser device according to another embodiment of the present invention, and FIG. 3B is a plan view thereof.

【図4】本発明の他の実施例の半導体レーザ装置の斜視
図である。
FIG. 4 is a perspective view of a semiconductor laser device according to another embodiment of the present invention.

【図5】同図(a)は図4の半導体レーザ装置の主要部
の平面図であり、同図(b)はその側面図である。
5A is a plan view of a main part of the semiconductor laser device of FIG. 4, and FIG. 5B is a side view thereof.

【図6】本発明の他の実施例の半導体レーザ装置に用い
る集光手段の斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view of a condensing unit used in a semiconductor laser device according to another embodiment of the present invention.

【図7】図6の集光手段を用いた半導体レーザ装置の主
要部の側面図である。
FIG. 7 is a side view of a main part of a semiconductor laser device using the condensing unit of FIG.

【図8】同図(a)は本発明の他の実施例における半導
体レーザ装置の主要部の側面図であり、同図(b)はそ
の平面図である。
8A is a side view of a main part of a semiconductor laser device according to another embodiment of the present invention, and FIG. 8B is a plan view thereof.

【図9】本発明の他の実施例の半導体レーザ装置の主要
部の斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view of a main part of a semiconductor laser device according to another embodiment of the present invention.

【図10】同図(a)は本発明の他の実施例の半導体レ
ーザ装置に用いる集光手段の斜視図であり、同図(b)
は上記集光手段を用いた半導体レーザ装置の主要部の側
面図である。
FIG. 10A is a perspective view of a focusing means used in a semiconductor laser device of another embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 4 is a side view of a main part of a semiconductor laser device using the above-mentioned condensing means.

【図11】従来の光ガイドを用いた半導体レーザ装置の
主要部の平面図である。
FIG. 11 is a plan view of a main part of a semiconductor laser device using a conventional light guide.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 第1のステム 2 サブマウント 3 半導体レーザチップ 4 集光手段 4b ホログラム面 5 モニタ用受光素子 11 集光手段 12 集光手段 13 マルチビーム半導体レーザチップ 14 モニタ用受光素子 15 集光手段 16 集光手段 20 マルチビーム半導体レーザチップ 21 モニタ用受光素子 22 集光手段 1 1st stem 2 Submount 3 Semiconductor laser chip 4 Condensing means 4b Hologram surface 5 Monitor light-receiving element 11 Condensing means 12 Condensing means 13 Multi-beam semiconductor laser chip 14 Monitoring light-receiving element 15 Condensing means 16 Condensing Means 20 Multi-beam semiconductor laser chip 21 Light receiving element for monitor 22 Condensing means

フロントページの続き (72)発明者 山口 隆夫 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内Front page continuation (72) Inventor Takao Yamaguchi 2-5-5 Keihan Hondori, Moriguchi City, Osaka Sanyo Electric Co., Ltd.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体レーザチップの出射光を集光して
モニタ用受光素子に導く集光手段が設けられていること
を特徴とする半導体レーザ装置。
1. A semiconductor laser device comprising: a condensing unit that condenses light emitted from a semiconductor laser chip and guides it to a light receiving element for monitoring.
【請求項2】 マルチビーム半導体レーザチップの各々
の出射光を集光して複数設けられたモニタ用受光素子の
各々に導く集光手段が設けられていることを特徴とする
半導体レーザ装置。
2. A semiconductor laser device comprising a condensing means for condensing emitted light from each of the multi-beam semiconductor laser chips and guiding it to each of a plurality of monitor light receiving elements.
【請求項3】 集光手段がホログラム素子から成ること
を特徴とする請求項1又は2に記載の半導体レーザ装
置。
3. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein the condensing means is a hologram element.
【請求項4】 集光手段が一つのブロックの平面に複数
のホログラム面を形成した部材から成ることを特徴とす
る請求項2に記載の半導体レーザ装置。
4. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein the light converging means comprises a member having a plurality of hologram surfaces formed on the plane of one block.
【請求項5】 モニタ用受光素子の複数の受光面が2列
以上に配置形成されていていることを特徴とする請求項
2に記載の半導体レーザ装置。
5. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein a plurality of light receiving surfaces of the monitor light receiving element are arranged and formed in two or more rows.
【請求項6】 集光手段が半導体レーザチップの前方出
射光をモニタ受光素子に導くように配置されていること
を特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の半導体
レーザ装置。
6. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein the condensing means is arranged so as to guide the front emission light of the semiconductor laser chip to the monitor light receiving element.
【請求項7】 モニタ用受光素子がサブマウント上に形
成されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれ
かに記載の半導体レーザ装置。
7. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein the monitor light-receiving element is formed on the submount.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002523910A (en) * 1998-08-31 2002-07-30 ディジタル・オプティックス・コーポレイション Diffractive power monitor and system for vertical cavity surface emitting laser

Cited By (2)

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JP2011009782A (en) * 1998-08-31 2011-01-13 Digital Optics Corp Diffractive power monitor for vertical cavity surface emitting laser

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