JPH07234184A - Glow discharge emission spectrophotometer - Google Patents
Glow discharge emission spectrophotometerInfo
- Publication number
- JPH07234184A JPH07234184A JP4789094A JP4789094A JPH07234184A JP H07234184 A JPH07234184 A JP H07234184A JP 4789094 A JP4789094 A JP 4789094A JP 4789094 A JP4789094 A JP 4789094A JP H07234184 A JPH07234184 A JP H07234184A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- glow discharge
- resin
- analysis
- seal member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、試料をスパッタリン
グしながら、発生した光を分析するグロー放電発光分光
分析装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a glow discharge optical emission spectrometer for analyzing generated light while sputtering a sample.
【0002】[0002]
【従来の技術】気体圧力が4〜10Torr程度のアルゴン
(Ar)雰囲気中で、二つの電極間に直流または高周波
の高電圧を印加すると、グロー放電が起こり、Arイオ
ンが生成される。生成したArイオンは高電界で加速さ
れ、陰極表面に衝突し、そこに存在する物質をたたき出
す。この現象をスパッタリングと呼ぶが、スパッタされ
た粒子(原子、分子、イオン)はプラズマ中で励起さ
れ、基底状態に戻る際にその元素に固有の波長の光を放
出する。この発光を分光器で分光して元素を同定する分
析法が、グロー放電発光分光分析方法と呼ばれている。2. Description of the Related Art In an argon (Ar) atmosphere having a gas pressure of about 4 to 10 Torr, when a high voltage of direct current or high frequency is applied between two electrodes, glow discharge occurs and Ar ions are generated. The generated Ar ions are accelerated by a high electric field, collide with the cathode surface, and knock out the substances present therein. This phenomenon is called sputtering. Sputtered particles (atoms, molecules, ions) are excited in plasma and emit light of a wavelength peculiar to the element when returning to the ground state. An analysis method of spectrally analyzing the emitted light with a spectroscope to identify an element is called a glow discharge emission spectral analysis method.
【0003】上述のグロー放電発光分光分析方法を具現
化した分析装置におけるグロー放電管として、図5に示
すような中空陽極型のグリムグロー放電管1が一般的に
用いられている。このグリムグロー放電管1は、陰極と
なる支持ブロック2と陽極ブロック3とが、絶縁物であ
るテフロンワッシャ4を介して接合されている。陽極ブ
ロック3は、アルゴンガス供給孔3aと、第1および第
2真空排気孔3b,3cとを有しおり、管内Vがアルゴ
ンの希ガス雰囲気(4〜10Torr)とされている。陽極
ブロック3には、中空陽極管3dが一体形成されてお
り、この陽極管3dは、テフロンワッシャ4を貫通し
て、試料5の表面5aに近接している。この試料5は、
その表面5aにおける分析面を囲む環状形状となったO
リングなどのシール部材6を介して、支持ブロック2に
気密状態で押し付けられている。As a glow discharge tube in an analyzer that embodies the glow discharge emission spectral analysis method described above, a hollow anode type grim glow discharge tube 1 as shown in FIG. 5 is generally used. In this grim glow discharge tube 1, a support block 2 serving as a cathode and an anode block 3 are joined via a Teflon washer 4 which is an insulator. The anode block 3 has an argon gas supply hole 3a and first and second vacuum exhaust holes 3b and 3c, and the inside V of the tube is a rare gas atmosphere of argon (4 to 10 Torr). A hollow anode tube 3d is formed integrally with the anode block 3, and the anode tube 3d penetrates the Teflon washer 4 and is close to the surface 5a of the sample 5. This sample 5
An annular O surrounding the analysis surface on the surface 5a
It is pressed against the support block 2 in an airtight state via a seal member 6 such as a ring.
【0004】このグリムグロー放電管1は、陽極ブロッ
ク3と支持ブロック2との間に電源部9により高電圧を
印加してグロー放電を発生させるとともに、一般に銅か
らなる支持ブロック2を通じ試料5に負電圧を印加し、
グロー放電の発生により生成されるアルゴンの陽イオン
を試料5の表面5aに衝突させて、試料5をスパッタリ
ングするものである。また、冷却液Kを、支持ブロック
2の冷却液導入路2aからジャケット2b内に導入して
冷却液排出路2cまで送給することにより、支持ブロッ
ク2を介し試料5と中空陽極管3dを冷却している。In this Grimm glow discharge tube 1, a high voltage is applied between an anode block 3 and a support block 2 by a power source section 9 to generate a glow discharge, and a sample 5 is passed through a support block 2 generally made of copper. Apply a negative voltage,
Argon cations generated by the generation of glow discharge collide with the surface 5a of the sample 5 to sputter the sample 5. Further, the cooling liquid K is introduced from the cooling liquid introduction passage 2a of the support block 2 into the jacket 2b and fed to the cooling liquid discharge passage 2c, thereby cooling the sample 5 and the hollow anode tube 3d through the support block 2. are doing.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のグロ
ー放電発光分光分析装置は、試料5の表面5aを、支持
ブロック2に埋設されたシール部材6で真空シールして
支持ブロック2に気密状態に押し付けて、その試料5に
より中空陽極管3dを収納する支持ブロック2の内方空
間(グロー放電空間)を閉塞し、この内方空間を真空引
きするようになっている。したがって、分析対象となる
試料5は、内方空間に対向する分析面を含む表面5aが
平面であるとともに、その表面5aが環状のシール部材
6に対し気密に接触できる粗度になっている必要があ
る。By the way, in the above-mentioned glow discharge emission spectroscopy analyzer, the surface 5a of the sample 5 is vacuum-sealed by the seal member 6 embedded in the support block 2 to make the support block 2 airtight. The sample 5 is pressed to close the inner space (glow discharge space) of the support block 2 that houses the hollow anode tube 3d, and the inner space is evacuated. Therefore, the sample 5 to be analyzed needs to have a flat surface 5a including the analysis surface facing the inner space, and the surface 5a needs to have a roughness that allows airtight contact with the annular seal member 6. There is.
【0006】しかしながら、表面5aが平面となった試
料5であっても、その表面5aが以下のような場合には
正常な分析が不可能となる。すなわち、図6に示すよう
に、たとえばミクロン単位の周期で細かい凹凸5bが存
在するような表面状態であったり、または、表面5aが
多孔質であったり、或いは気密性の悪い表面処理が施さ
れているような試料5については、この試料5の表面5
aをOリング6を介して支持ブロック2に完全な気密状
態に接触させることができない。そのため、内方空間を
真空引きしたときに、同図に矢印で示すように、試料5
の表面5aとOリング6との僅かな隙間から真空漏れが
生じてしまい、正常な分析を行うことができない。However, even if the sample 5 has a flat surface 5a, normal analysis becomes impossible if the surface 5a is as follows. That is, as shown in FIG. 6, for example, the surface condition is such that fine irregularities 5b are present at a cycle of a micron unit, or the surface 5a is porous, or a surface treatment having poor airtightness is applied. For the sample 5 as shown in FIG.
It is not possible to bring a into contact with the support block 2 via the O-ring 6 in a completely airtight state. Therefore, when the inner space is evacuated, as shown by the arrow in FIG.
Vacuum leakage occurs from a slight gap between the surface 5a of the and the O-ring 6, and normal analysis cannot be performed.
【0007】そこで本発明は、分析面を含む表面全体が
細かい凹凸面や多孔質の面になった試料であっても、簡
単な構成で分析を正確に行えるグロー放電発光分光分析
装置を提供することを目的とするものである。Therefore, the present invention provides a glow discharge emission spectroscopic analyzer capable of accurately performing analysis with a simple structure even for a sample having a fine uneven surface or a porous surface on the entire surface including the analysis surface. That is the purpose.
【0008】[0008]
【課題を解決しようとするための手段】上記目的を達成
するために、本発明に係るグロー放電発光分光分析装置
は、グロー放電管のグロー放電空間の下部に、シール部
材を介して試料が押し付けられるグロー放電発光分光分
析装置において、試料の分析面の外周における、少なく
とも上記シール部材との接触面を含む面に、液状の樹脂
が塗布されて硬化している構成になっている。In order to achieve the above object, in the glow discharge emission spectroscopy analyzer according to the present invention, a sample is pressed against the lower part of the glow discharge space of a glow discharge tube via a seal member. In such a glow discharge emission spectroscopic analyzer, a liquid resin is applied and cured on a surface including at least a contact surface with the seal member on the outer periphery of the analysis surface of the sample.
【0009】[0009]
【作用】たとえば、シール部材が、試料の分析面の外周
よりも大きな径のOリングである場合、このOリングの
形状に対応して、液状の樹脂が試料の表面にその分析面
の外周を囲んで環状形に塗布され、硬化した上記環状の
樹脂をOリングに接触させて試料の表面がグロー放電管
の下部に押し付けられる。したがって、分析面を含む表
面全体が細かい凹凸面や多孔質の面となった試料であっ
ても、液状で塗布されたことによって完全な平滑表面と
なっている樹脂が、Oリングに対し確実な気密状態で接
触するため、試料は、樹脂およびOリングを介してグロ
ー放電管の下部に押し付けらて、内方のグロー放電空間
を確実に密閉する。また、試料の表面における環状の樹
脂の内方側の分析面は、樹脂で覆われることなく、その
ままの状態でグロー放電空間に対向するので、この試料
の分析を支障無く行える。For example, when the sealing member is an O-ring having a diameter larger than the outer circumference of the analysis surface of the sample, the liquid resin is applied to the surface of the sample along the outer circumference of the analysis surface corresponding to the shape of the O-ring. The ring-shaped resin, which is surrounded and applied in a ring shape, is brought into contact with the O-ring, and the surface of the sample is pressed against the lower portion of the glow discharge tube. Therefore, even in the case of a sample in which the entire surface including the analysis surface is a fine uneven surface or a porous surface, the resin, which is a completely smooth surface due to being applied in a liquid state, can be reliably attached to the O-ring. Since they contact each other in an airtight state, the sample is pressed against the lower part of the glow discharge tube via the resin and the O-ring to reliably seal the inner glow discharge space. Further, the analysis surface on the inner side of the annular resin on the surface of the sample faces the glow discharge space as it is without being covered with the resin, so that the analysis of this sample can be performed without any trouble.
【0010】[0010]
【実施例】以下、本発明の好適な実施例について図面を
参照しながら説明する。本発明の一実施例に係るグロー
放電発光分光分析装置は、図1に示すように、グロー放
電を利用したスパッタリングにより元素に固有の波長の
光を発生するグリムグロー放電管10から放出されて、
その窓板13を透過した光Lが、分光器15に入射す
る。分光器15は、入射スリット14、この入射スリッ
ト14から入射した光Lを波長に応じて異った回折角度
で回折する回折格子16、回折光を通過させる出射スリ
ット17および回折光の強度を測定する光電子増倍管1
8を備えている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. As shown in FIG. 1, a glow discharge emission spectroscopic analyzer according to an embodiment of the present invention emits light of a wavelength peculiar to an element by sputtering using glow discharge, and is emitted from a grim glow discharge tube 10.
The light L transmitted through the window plate 13 enters the spectroscope 15. The spectroscope 15 measures the incident slit 14, the diffraction grating 16 that diffracts the light L incident from the incident slit 14 at different diffraction angles according to the wavelength, the exit slit 17 that allows the diffracted light to pass, and the intensity of the diffracted light. Photomultiplier tube 1
Eight.
【0011】図2は図1の分析装置におけるグリムグロ
ー放電管10の一例を示す。図2において、図5と同等
のものには同一の符号を付してある。相違する点は、図
2の要部の拡大図である図3および試料5の斜視図であ
る図4に明示するように、試料5の表面5aにおける微
細な凹凸5bが存在する分析面5cの外周を囲む環状の
面に、液状の樹脂7が塗布されて硬化しており、試料5
が、樹脂7を図2のシール部材6に接触させて支持ブロ
ック2に押しつけられた構成のみである。FIG. 2 shows an example of the Grim glow discharge tube 10 in the analyzer of FIG. 2, the same parts as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals. The difference is that, as clearly shown in FIG. 3 which is an enlarged view of an essential part of FIG. 2 and FIG. 4 which is a perspective view of the sample 5, the analysis surface 5c of the surface 5a of the sample 5 on which the fine unevenness 5b exists is present. The liquid resin 7 is applied and cured on the annular surface surrounding the outer periphery of the sample 5
However, only the structure in which the resin 7 is brought into contact with the seal member 6 of FIG. 2 and pressed against the support block 2.
【0012】上記樹脂7としては、硬化したのち粘着性
を有しないもの、たとえば、エポキシ系やアロンアルフ
ァ(商標名)などの接着剤、または、加熱して溶融した
ポリエチレンなどが用いられる。また、図2ないし図4
に示すように、この実施例では、樹脂7の使用量を節約
するために、樹脂7をシール部材6の形状にほぼ正確に
対応させて環状に塗布した場合を例示したが、使用する
樹脂7によって、このような形状に樹脂7を塗布するの
が困難または面倒である場合には、試料5の表面5aに
おける分析面5cの外周の外側部分のほぼ全体に塗布し
てもよい。すなわち、樹脂7を、試料5の表面5aにお
ける分析面5cを除く面であって、少なくともシール部
材6との接触面全体を含む面に塗布すればよい。As the resin 7, a resin which does not have tackiness after being hardened, for example, an adhesive such as an epoxy type or Aron Alpha (trademark), or polyethylene which is heated and melted is used. 2 to 4
As shown in FIG. 4, in this embodiment, in order to save the usage amount of the resin 7, the resin 7 is applied in an annular shape so as to correspond to the shape of the seal member 6 in a precise manner. Therefore, when it is difficult or troublesome to apply the resin 7 in such a shape, the resin 7 may be applied to almost the entire outer portion of the outer periphery of the analysis surface 5c of the surface 5a of the sample 5. That is, the resin 7 may be applied to the surface of the surface 5a of the sample 5 excluding the analysis surface 5c, including at least the entire contact surface with the seal member 6.
【0013】上記樹脂7は、液状の状態で試料5に塗布
されるので、図3に明示するように、試料5の細かい凹
凸5bに対しこれを埋めるように入り込む。また、試料
5の表面5aが多孔質の場合にはその微細な孔に対し埋
め込むように入り込む。この樹脂7の塗布時に試料5が
水平状態に保持されていれば、塗布された樹脂7は、自
体の性質により、表面5aに沿った正確な平滑表面とな
り、この形状を保持して硬化する。Since the resin 7 is applied to the sample 5 in a liquid state, as shown in FIG. 3, it enters the fine irregularities 5b of the sample 5 so as to fill it. Further, when the surface 5a of the sample 5 is porous, it enters so as to be embedded in the fine pores. If the sample 5 is held in a horizontal state at the time of applying the resin 7, the applied resin 7 becomes an accurate smooth surface along the surface 5a due to its own property, and retains this shape and cures.
【0014】したがって、図3に示すように、環状の樹
脂7の平滑表面は、シール部材6に対し押し付けられて
確実な気密状態で接触するので、試料5は、樹脂7およ
びシール部材6を介してグロー放電管10内方空間を確
実に密閉する状態で支持ブロック2に押し付けられる。
この試料5表面における環状の樹脂7の内方側の分析面
5cは、そのままの状態でグロー放電空間に対向する。
したがって、分析面5cが凹凸面や多孔質の面となった
試料5であっても、正常に分析を行える。Therefore, as shown in FIG. 3, the smooth surface of the annular resin 7 is pressed against the seal member 6 and comes into contact with it in a reliable airtight state, so that the sample 5 passes through the resin 7 and the seal member 6. The inner space of the glow discharge tube 10 is pressed against the support block 2 with certainty.
The analysis surface 5c on the inner side of the annular resin 7 on the surface of the sample 5 faces the glow discharge space as it is.
Therefore, even if the analysis surface 5c is the sample 5 having an uneven surface or a porous surface, the analysis can be normally performed.
【0015】つぎに、上記構成の動作を説明する。図2
の支持ブロック2と陽極ブロック3との間に、電源部9
により数百〜数千ボルトの高電圧を印加すると、グロー
放電を生じ、アルゴンの陽イオンが生成される。生成さ
れたArイオンは、陰極である試料5の分析面5cに衝
突して、この分析面5cをスパッタリングする。それに
より、試料5の分析面5cからたたき出されて剥離した
原子は、Arイオンまたは電子によって励起され、再び
基底状態に戻る際に元素固有の光を放出する。この光L
は、窓板13を透過し、図1の入射スリット14を通し
て、分光器15の回析格子16に向かう。この回析格子
16は、所定の波長の光を回析させ、出射スリット17
を通して、光電子増倍管18に入射させる。光電子増倍
管18は入射した光の強度を測定する。Next, the operation of the above configuration will be described. Figure 2
Between the support block 2 and the anode block 3 of the power source unit 9
When a high voltage of several hundred to several thousand volts is applied, a glow discharge is generated and argon cations are generated. The generated Ar ions collide with the analysis surface 5c of the sample 5, which is the cathode, and sputter the analysis surface 5c. As a result, the atoms knocked out from the analysis surface 5c of the sample 5 and peeled off are excited by Ar ions or electrons, and emit light specific to the element when returning to the ground state again. This light L
Passes through the window plate 13 and goes toward the diffraction grating 16 of the spectroscope 15 through the entrance slit 14 of FIG. The diffractive grating 16 diffracts light of a predetermined wavelength, and the exit slit 17
To enter the photomultiplier tube 18. The photomultiplier tube 18 measures the intensity of the incident light.
【0016】[0016]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のグロー放
電発光分光分析装置によると、試料の分析面の外周にお
ける、少なくともシール部材との接触面を含む面に、液
状の樹脂が塗布されて硬化しているので、液状で塗布さ
れたことによって完全な平滑表面となっている樹脂が、
シール部材に確実な気密状態で接触するため、分析面を
含む表面全体が細かい凹凸面や多孔質の面となった試料
であっても、この試料を樹脂およびシール部材を介して
グロー放電管の下部に押し付けて、試料で内方のグロー
放電空間を確実に密閉できるとともに、試料の分析面
は、そのままの状態でグロー放電空間に対向するので、
上述のような試料の分析を支障無く正確に行える。ま
た、試料に樹脂を塗布して硬化するだけの簡単で安価な
構成で上記分析を達成できる利点がある。As described above, according to the glow discharge emission spectroscopy analyzer of the present invention, the liquid resin is applied to the outer periphery of the analysis surface of the sample, at least the surface including the contact surface with the seal member. Since it has been hardened, the resin that has a completely smooth surface due to being applied in liquid form
Since it contacts the sealing member in a reliable airtight state, even if the sample including the analysis surface is a fine uneven surface or a porous surface, this sample is applied to the glow discharge tube through the resin and the sealing member. By pressing it to the lower part, it is possible to securely seal the inner glow discharge space with the sample, and since the analysis surface of the sample faces the glow discharge space as it is,
The above-mentioned sample analysis can be performed accurately without any trouble. Further, there is an advantage that the above analysis can be achieved with a simple and inexpensive structure in which a resin is applied to a sample and then cured.
【図1】本発明の一実施例に係る分析装置の概略構成図
である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an analyzer according to an embodiment of the present invention.
【図2】同上分析装置に係るグリムグロー放電管の一例
を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of a Grimm glow discharge tube according to the same analyzer.
【図3】同上放電管の要部の拡大図である。FIG. 3 is an enlarged view of a main part of the above discharge tube.
【図4】同上装置に用いる試料の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a sample used in the same apparatus.
【図5】従来の分析装置におけるグリムグロー放電管の
断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of a Grim glow discharge tube in a conventional analyzer.
【図6】同上放電管に表面に微細な凹凸が存在する試料
を押し付けた状態の断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which a sample having fine irregularities on its surface is pressed against the same discharge tube.
5…試料、5c…試料の分析面、6…シール部材、7…
樹脂、10…グロー放電管。5 ... sample, 5c ... analysis surface of sample, 6 ... sealing member, 7 ...
Resin, 10 ... glow discharge tube.
Claims (1)
に、シール部材を介して試料が押し付けられるグロー放
電発光分光分析装置において、 試料の分析面の外周における、少なくとも上記シール部
材との接触面を含む面に、液状の樹脂が塗布されて硬化
しているグロー放電発光分光分析装置。1. A glow discharge emission spectroscopic analyzer in which a sample is pressed under a glow discharge space of a glow discharge tube via a seal member, wherein at least the contact surface with the seal member at the outer periphery of the analysis surface of the sample. A glow discharge emission spectroscopic analyzer in which a liquid resin is applied and cured on the surface containing the resin.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4789094A JPH07234184A (en) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | Glow discharge emission spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4789094A JPH07234184A (en) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | Glow discharge emission spectrophotometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07234184A true JPH07234184A (en) | 1995-09-05 |
Family
ID=12788006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4789094A Pending JPH07234184A (en) | 1994-02-22 | 1994-02-22 | Glow discharge emission spectrophotometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07234184A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015197295A (en) * | 2014-03-31 | 2015-11-09 | 株式会社堀場製作所 | Glow discharge emission analysis method |
-
1994
- 1994-02-22 JP JP4789094A patent/JPH07234184A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015197295A (en) * | 2014-03-31 | 2015-11-09 | 株式会社堀場製作所 | Glow discharge emission analysis method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Lazik et al. | Electrical and optical characteristics of a radio frequency glow discharge atomic emission source with dielectric sample atomization | |
US20210285820A1 (en) | Spark emission spectrometer with separable spark chamber | |
JPH07234184A (en) | Glow discharge emission spectrophotometer | |
JPH08193953A (en) | Glow discharge emission spectroscopic analyzer | |
JP2723457B2 (en) | Glow discharge optical emission spectrometer and analysis method | |
JP3345490B2 (en) | Glow discharge emission spectrometer | |
JP2723455B2 (en) | Glow discharge emission spectrometer | |
JPH09329552A (en) | Glow discharge emission spectral analyzer | |
JP5435389B2 (en) | Sample container for glow discharge optical emission spectrometry and glow discharge optical emission spectrometer equipped with the same | |
JP3790363B2 (en) | Glow discharge optical emission spectrometer | |
JP2010197067A (en) | Glow discharge emission spectroscopic analysis device, and analysis method using the same | |
JP3284186B2 (en) | Glow discharge emission spectroscopy sample, method for producing the same, and glow discharge emission spectrometer | |
JP2001074660A (en) | Glow discharge emission spectrum analyzer | |
JPH10170440A (en) | Glow discharge emission spectrophotometer | |
JP3842437B2 (en) | Glow discharge optical emission spectrometer | |
JP3603121B2 (en) | Glow discharge tube support and glow discharge emission spectrometer using the same | |
JP2001004548A (en) | Glow discharge analyzer | |
JP3934815B2 (en) | Glow discharge analyzer | |
JPS6159834A (en) | Detecting method of end point of etching | |
JP4146777B2 (en) | Glow discharge analysis method | |
JP2000028529A (en) | Glow discharge emission spectral analysis method and its apparatus | |
JP2001091465A (en) | Glow discharge emission spectral analysis method | |
JP2015014553A (en) | Adjustment sample for glow discharge emission spectral analysis and glow discharge emission spectral analysis method using the same | |
JPH1194744A (en) | Sample holder for glow-discharge emission spectral analysis and glow-discharge emission spectral analyzer using the same | |
JP3034861B2 (en) | Glow discharge emission spectrometer |