JPH07209411A - レーダ用縮小模型 - Google Patents
レーダ用縮小模型Info
- Publication number
- JPH07209411A JPH07209411A JP6000807A JP80794A JPH07209411A JP H07209411 A JPH07209411 A JP H07209411A JP 6000807 A JP6000807 A JP 6000807A JP 80794 A JP80794 A JP 80794A JP H07209411 A JPH07209411 A JP H07209411A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- model
- reduced
- good conductor
- specific gravity
- plating
- Prior art date
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- Withdrawn
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- Aerials With Secondary Devices (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 RCS計測用の軽量で製作容易なレーダ用縮
小模型を得る。 【構成】 反射断面積計測用のレーダ用縮小模型におい
て、計測対象物に対し所定の縮小割合の形状に比重の軽
い合成樹脂で形成される縮小模型本体1、同縮小模型本
体の表面に所定の厚みで形成される良導体製模3とを設
ける。
小模型を得る。 【構成】 反射断面積計測用のレーダ用縮小模型におい
て、計測対象物に対し所定の縮小割合の形状に比重の軽
い合成樹脂で形成される縮小模型本体1、同縮小模型本
体の表面に所定の厚みで形成される良導体製模3とを設
ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は航空機等のレーダ反射断
面積(RCS)の評価に対するレーダ用縮小模型に関す
る。
面積(RCS)の評価に対するレーダ用縮小模型に関す
る。
【0002】
【従来の技術】レーダは電波を送信して、目標からの反
射波によって、目標の存在とそこまでの距離を探知する
ものである。従って目標の電波を反射する電波的断面積
(RCS)を知ることが重要である。航空機のような物
体はレーダアンテナとの相対角度により大巾にRCS値
が変化するため、この特性を把握し最大探知距離計算を
行う必要がある。
射波によって、目標の存在とそこまでの距離を探知する
ものである。従って目標の電波を反射する電波的断面積
(RCS)を知ることが重要である。航空機のような物
体はレーダアンテナとの相対角度により大巾にRCS値
が変化するため、この特性を把握し最大探知距離計算を
行う必要がある。
【0003】RCSを計測するには、目標(ここでは縮
小模型)を支柱の上の回転台(ポジショナ)上に取付
け、目標を周方向および上下方向に回転させ、送信アン
テナから電波を送信し、目標からの反射波を各回転角度
毎に受信アンテナにより測定する。これにより各方向か
らのRCS特性データの取得が行える。
小模型)を支柱の上の回転台(ポジショナ)上に取付
け、目標を周方向および上下方向に回転させ、送信アン
テナから電波を送信し、目標からの反射波を各回転角度
毎に受信アンテナにより測定する。これにより各方向か
らのRCS特性データの取得が行える。
【0004】欧米においては、航空機、飛昇体、車、船
等の実物について測定する屋外設備もあるが、非常に測
定距離/面積を必要とするため、測定対象物を縮小した
模型(縮小比1/n)を用いて小規模の設備で計測する
のが一般的である。
等の実物について測定する屋外設備もあるが、非常に測
定距離/面積を必要とするため、測定対象物を縮小した
模型(縮小比1/n)を用いて小規模の設備で計測する
のが一般的である。
【0005】但し、測定周波数は縮小比の逆数(n倍)
となり周波数が高く(波長は短かく)なるので、模型の
精度(表面粗さ)と高周波電流の流れる導電性皮膜(sk
indepth 表皮深さ)が重要となる。(表面が粗いと電波
が不要散乱し、正確なRCS測定が困難となる。)従来
は堅木で縮小模型を作り、その外表面に銅またはアルミ
メタリコン処理(高温吹き付け)を行なっていたが、溶
着時の粒子が粗く、表面が粗くなり、電波の不要散乱が
生じる欠点がある。(1/10縮小の場合、表面粗さは
実機の10倍精度を上げる必要がある。)又、メタリコ
ン後に表面研摩を行っても、内部に収縮による巣があ
り、▽▽(25S)〜▽▽▽(6.3S)の表面粗さは
達成できなかった。
となり周波数が高く(波長は短かく)なるので、模型の
精度(表面粗さ)と高周波電流の流れる導電性皮膜(sk
indepth 表皮深さ)が重要となる。(表面が粗いと電波
が不要散乱し、正確なRCS測定が困難となる。)従来
は堅木で縮小模型を作り、その外表面に銅またはアルミ
メタリコン処理(高温吹き付け)を行なっていたが、溶
着時の粒子が粗く、表面が粗くなり、電波の不要散乱が
生じる欠点がある。(1/10縮小の場合、表面粗さは
実機の10倍精度を上げる必要がある。)又、メタリコ
ン後に表面研摩を行っても、内部に収縮による巣があ
り、▽▽(25S)〜▽▽▽(6.3S)の表面粗さは
達成できなかった。
【0006】その後軽量金属のAlまたはMgを使用
し、削り出しで模型を作り、表面研摩を行っていた(図
4、図5参照)。しかし、長さ2m程度の縮小模型02
で、重量を約40Kg以下にすることは困難であった。
し、削り出しで模型を作り、表面研摩を行っていた(図
4、図5参照)。しかし、長さ2m程度の縮小模型02
で、重量を約40Kg以下にすることは困難であった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、実機を
用いてRCS計測を行うことは、寸法及び重量の面から
規模が大きくなるため、通常は1/10程度の縮小模型
を用いている。RCS測定に於いては、アンテナより電
波を送信し、設定した角度毎の模型からの反射波を受信
し、全周方向のRCS値へ信号処理を行う。この模型を
アジマス(Az)、エレベーション(EL)方向に回転
し、姿勢角を設定する装置(アジマス・エレベーション
・ポジショナ)、すなわち回転台に取付ける支柱は、電
波的な影響(反射)の少ない、高発泡倍率(密度の低
い)のスチロール材料がよく使用されている。但し、発
泡倍率を上げると、逆に材料の強度が低下するため、支
柱の静的たわみ、又は、折れにつながることになる。
用いてRCS計測を行うことは、寸法及び重量の面から
規模が大きくなるため、通常は1/10程度の縮小模型
を用いている。RCS測定に於いては、アンテナより電
波を送信し、設定した角度毎の模型からの反射波を受信
し、全周方向のRCS値へ信号処理を行う。この模型を
アジマス(Az)、エレベーション(EL)方向に回転
し、姿勢角を設定する装置(アジマス・エレベーション
・ポジショナ)、すなわち回転台に取付ける支柱は、電
波的な影響(反射)の少ない、高発泡倍率(密度の低
い)のスチロール材料がよく使用されている。但し、発
泡倍率を上げると、逆に材料の強度が低下するため、支
柱の静的たわみ、又は、折れにつながることになる。
【0008】実機の大型化に対応でき、より精度をあげ
るためには、支柱に搭載する模型はできる限り重量を軽
減する必要があった。
るためには、支柱に搭載する模型はできる限り重量を軽
減する必要があった。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため次の手段を講ずる。
するため次の手段を講ずる。
【0010】すなわち、反射断面積計測用のレーダ用縮
小模型において、計測対象物に対し所定の縮小割合の形
状に比重の軽い合成樹脂で形成される縮小模型本体と、
同縮小模型本体の表面に所定の厚みで形成される良導体
製模とを設ける。
小模型において、計測対象物に対し所定の縮小割合の形
状に比重の軽い合成樹脂で形成される縮小模型本体と、
同縮小模型本体の表面に所定の厚みで形成される良導体
製模とを設ける。
【0011】
【作用】上記手段において、計測対象物の大きさと実験
設備の関係に応じて、計測対象物に対し所定の縮小割合
で相似形の縮小模型本体が、比重の軽い合成樹脂で精密
に形成される。さらにその表面に使用周波数で決まる表
皮深さ以上の所定の膜厚の良導体製膜が形成される。こ
うして精密に作られたレーダ用縮小模型は、極めて軽量
であり、計測設備内に所定の姿勢角でセットすることが
できる。その後各姿勢角でRCSを計測する。レーダ波
が照射されると、電波は良導体製膜で、反射される。こ
のとき、良導体製膜の厚さが使用周波数の電波の表皮深
さ以上の所定の膜厚になるように形成されているので、
忠実に反射される。
設備の関係に応じて、計測対象物に対し所定の縮小割合
で相似形の縮小模型本体が、比重の軽い合成樹脂で精密
に形成される。さらにその表面に使用周波数で決まる表
皮深さ以上の所定の膜厚の良導体製膜が形成される。こ
うして精密に作られたレーダ用縮小模型は、極めて軽量
であり、計測設備内に所定の姿勢角でセットすることが
できる。その後各姿勢角でRCSを計測する。レーダ波
が照射されると、電波は良導体製膜で、反射される。こ
のとき、良導体製膜の厚さが使用周波数の電波の表皮深
さ以上の所定の膜厚になるように形成されているので、
忠実に反射される。
【0012】このようにして、レーダ用縮小模型によ
り、容易にRCSが精度よく測定できる。
り、容易にRCSが精度よく測定できる。
【0013】
【実施例】上記記載の本発明の一実施例を図1〜図3に
より説明する。
より説明する。
【0014】RCS計測用航空機の大きさと、実験設備
の大きさとの関係から縮小率を決める。例えば縮小率1
/10として、図1のような模型本体1を、比重の小さ
い合成樹脂、例えばメッキとの親和性のよいABS樹脂
(比重約1)で作る。この場合、長さ約2m、重量約2
0kgとなり、従来例の約半分となった。
の大きさとの関係から縮小率を決める。例えば縮小率1
/10として、図1のような模型本体1を、比重の小さ
い合成樹脂、例えばメッキとの親和性のよいABS樹脂
(比重約1)で作る。この場合、長さ約2m、重量約2
0kgとなり、従来例の約半分となった。
【0015】模型本体1の製作には切削加工または真空
成形加工を行い、外表面は研磨を行う。仕上げ精度は▽
▽(12.5S)〜▽▽▽(32S)とした。
成形加工を行い、外表面は研磨を行う。仕上げ精度は▽
▽(12.5S)〜▽▽▽(32S)とした。
【0016】次に模型本体1の上に下地として良導体の
銅2を厚さ約20μmの常温無電解メッキする(図2参
照)。無電解メッキは通常行われているように、脱脂処
理、酸処理、中和処理等の工程を経て行われる。この処
理は常温で行われるため、熱変形が発生しない。
銅2を厚さ約20μmの常温無電解メッキする(図2参
照)。無電解メッキは通常行われているように、脱脂処
理、酸処理、中和処理等の工程を経て行われる。この処
理は常温で行われるため、熱変形が発生しない。
【0017】この上に、約厚み20μmの良導体製のニ
ッケルメッキ3(電解メッキ)を行う。メッキには外表
面の平滑化作用があるため、工数のかかる鏡面研磨が不
要となる。このときの表面精度は▽▽(25S)〜▽▽
▽(6.3S)が得られる。またニッケルの膜厚は使用
周波数による表皮深さδに対して十分厚くとっている
(例えば×バンドでδは約1.4μm)。
ッケルメッキ3(電解メッキ)を行う。メッキには外表
面の平滑化作用があるため、工数のかかる鏡面研磨が不
要となる。このときの表面精度は▽▽(25S)〜▽▽
▽(6.3S)が得られる。またニッケルの膜厚は使用
周波数による表皮深さδに対して十分厚くとっている
(例えば×バンドでδは約1.4μm)。
【0018】なお表皮深さδは次式で与えられる。
【0019】δ=(2/ωμσ)1/2 ここでω:角周波数 μ:透磁率 σ:導電率 以上の縮小模型01は、従来例で述べたように、発泡ス
チロールの支柱の上に回転台を介して取付けられ、RC
Sが計測される。
チロールの支柱の上に回転台を介して取付けられ、RC
Sが計測される。
【0020】参考のために、上記とほぼ同様にして作っ
た100×100mmのニッケルメッキABS樹脂平板
(メッキ厚さ10μm)と100×100のアルミ平板
のRCS測定結果を図3に比較して示す。使用電波の周
波数は94GHzである。この結果よりアルミ板との有
意差なく計られており、計算結果ともよく一致している
ことが分る。
た100×100mmのニッケルメッキABS樹脂平板
(メッキ厚さ10μm)と100×100のアルミ平板
のRCS測定結果を図3に比較して示す。使用電波の周
波数は94GHzである。この結果よりアルミ板との有
意差なく計られており、計算結果ともよく一致している
ことが分る。
【0021】このようにして縮小模型を支持する支柱を
高発泡倍率にすることが可能となり、これの電波的反
射、散乱を小さくすることで背景ノイズを低減できる。
従ってRCSが精度よく計測できる。また周波数の高い
ミリ波帯域での背景ノイズを、非常に小さい値に抑える
ことで、ステルス評価に要求される低いRCS値での定
量評価が可能となる。さらに従来のアルミ合金製と比べ
て、原材料が安く、且つ切削加工時間の短縮化が図れ、
コスト的にも従来の約半分以下となる。
高発泡倍率にすることが可能となり、これの電波的反
射、散乱を小さくすることで背景ノイズを低減できる。
従ってRCSが精度よく計測できる。また周波数の高い
ミリ波帯域での背景ノイズを、非常に小さい値に抑える
ことで、ステルス評価に要求される低いRCS値での定
量評価が可能となる。さらに従来のアルミ合金製と比べ
て、原材料が安く、且つ切削加工時間の短縮化が図れ、
コスト的にも従来の約半分以下となる。
【0022】
【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
従来の金属性のものと同程度の表面精度が容易に得られ
る。また電波的にも同特性が得られる。さらに大幅に軽
量化でき、RCS計測上非常に有利となる。また材料、
成形、コストも大幅に低下できる。
従来の金属性のものと同程度の表面精度が容易に得られ
る。また電波的にも同特性が得られる。さらに大幅に軽
量化でき、RCS計測上非常に有利となる。また材料、
成形、コストも大幅に低下できる。
【図1】本発明の一実施例の斜視図である。
【図2】同実施例の図1のA−A断面図である。
【図3】同実施例の作用説明図である。
【図4】従来例の金属製模型の側面図である。
【図5】同従来例の縦断面図である。
01,02 縮小模型 1 模型本体 2 無電解銅メッキ 3 ニッケルメッキ 4 電波
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 横田 昭和 愛知県名古屋市中村区岩塚町字九反所60番 地の1 中菱エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 中筋 克己 愛知県名古屋市中村区岩塚町字九反所60番 地の1 中菱エンジニアリング株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 反射断面積計測用のレーダ用縮小模型に
おいて、計測対象物に対し所定の縮小割合の形状に比重
の軽い合成樹脂で形成される縮小模型本体と、同縮小模
型本体の表面に所定の厚みで形成される良導体製模とを
備えてなることを特徴とするレーダ用縮小模型。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6000807A JPH07209411A (ja) | 1994-01-10 | 1994-01-10 | レーダ用縮小模型 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6000807A JPH07209411A (ja) | 1994-01-10 | 1994-01-10 | レーダ用縮小模型 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07209411A true JPH07209411A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=11483960
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6000807A Withdrawn JPH07209411A (ja) | 1994-01-10 | 1994-01-10 | レーダ用縮小模型 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07209411A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013113603A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-06-10 | Kyushu Univ | マイクロ波イメージングシステム及びイメージング処理方法 |
JP2015087266A (ja) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | 富士重工業株式会社 | 電波反射特性を測定するための供試体の製造方法、および、供試体 |
-
1994
- 1994-01-10 JP JP6000807A patent/JPH07209411A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013113603A (ja) * | 2011-11-25 | 2013-06-10 | Kyushu Univ | マイクロ波イメージングシステム及びイメージング処理方法 |
JP2015087266A (ja) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | 富士重工業株式会社 | 電波反射特性を測定するための供試体の製造方法、および、供試体 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010403 |