JPH07147541A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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JPH07147541A
JPH07147541A JP29345993A JP29345993A JPH07147541A JP H07147541 A JPH07147541 A JP H07147541A JP 29345993 A JP29345993 A JP 29345993A JP 29345993 A JP29345993 A JP 29345993A JP H07147541 A JPH07147541 A JP H07147541A
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JP
Japan
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analog signal
analog
digital
signal
input
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Application number
JP29345993A
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Japanese (ja)
Inventor
Emiko Takemoto
栄美子 竹本
Yoshikazu Sato
由和 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

PURPOSE:To convert a digital signal into an analog signal of multi-channel by inputting an analog signal converted by a single D/A converter section to lots of sample-and-hold circuits and applying alternative sampling to the sample- and-hold circuits. CONSTITUTION:A circuit controlled by analog signals V01-V0n is connected to analog signal output terminals 2C1-2Cn. When a CPU 2f is driven, whether or not it is required to control the connected circuit is discriminated. When all of the analog signals V01-V0n are latched as they are, all sampling switches SP1-SPn are turned off and sample-and-hold circuits 2d1-2dn hold the signals. When the signal V01 is changed, the sampling switches SP1-SPn are all turned off by a switch control signal SC and a predetermined digital signal 2e is inputted to a D/A converter section 1 succeedinhly. Then only a SPi corresponding to the terminal 2Ci is closed to change the analog signal V0i to control the connected circuit.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、デジタル信号を多チャ
ンネルのアナログ信号に変換する半導体集積回路、及び
多チャンネルのアナログ信号をデジタル信号に変換する
半導体集積回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit for converting a digital signal into a multi-channel analog signal and a semiconductor integrated circuit for converting a multi-channel analog signal into a digital signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、デジタル/アナログ変換部(以下
D/A 変換部という)を内蔵している半導体集積回路は、
アナログ信号を取扱う分野における信号処理のデジタル
化にともなって、数多く使用されてきている。また、各
システム内で取扱うデジタル信号のチャンネル数も増加
する傾向にあり、多数のチャンネルのアナログ信号を出
力できる多数のアナログ信号出力端子を備えている半導
体集積回路も多種類で実用されている。
2. Description of the Related Art In recent years, digital / analog converters (hereinafter referred to as
A semiconductor integrated circuit with a built-in D / A converter)
With the digitization of signal processing in the field of handling analog signals, it has been widely used. In addition, the number of digital signal channels handled in each system tends to increase, and various types of semiconductor integrated circuits having a large number of analog signal output terminals capable of outputting analog signals of a large number of channels are in practical use.

【0003】図5は、例えば8ビットのデジタル信号の
値をアナログ信号の値に変換する電流加算方式と呼ばれ
ている単チャンネルのD/A 変換部の構成を示すブロック
図である。このD/A 変換部1は、抵抗回路1aとオペアン
プ回路1bとからなっている。抵抗回路1aは、9個の抵抗
1 ,R2 …R9 が直列接続され、その直列回路の一側
端子には基準電圧VR が与えられており、他側端子は接
地されている。
FIG. 5 is a block diagram showing the structure of a single-channel D / A conversion unit called a current addition method for converting the value of an 8-bit digital signal into the value of an analog signal, for example. The D / A conversion unit 1 is composed of a resistance circuit 1a and an operational amplifier circuit 1b. In the resistance circuit 1a, nine resistors R 1 , R 2 ... R 9 are connected in series, a reference voltage V R is applied to one terminal of the series circuit, and the other terminal is grounded.

【0004】この直列回路の一側端子は抵抗R10を介し
てスイッチS1 の共通端子と、抵抗R1 とR2 との接続
部は抵抗R11を介してスイッチS2 の共通端子と、抵抗
2とR3 との接続部は抵抗R12を介してスイッチS3
の共通端子と、抵抗R3 とR4 との接続部は抵抗R13
介してスイッチS4 の共通端子と、抵抗R4 とR5 との
接続部は抵抗R14を介してスイッチS5 の共通端子と、
抵抗R5 とR6 との接続部は抵抗R15を介してスイッチ
6 の共通端子と、抵抗R6 とR7 との接続部は抵抗R
16を介してスイッチS7 の共通端子と、抵抗R7 とR8
との接続部は抵抗R17を介してスイッチS8 の共通端子
と夫々接続されている。スイッチS1 ,S2 〜S8 の一
側切換端子は共通に接続されており、一方、他側切換端
子は共通に接続されて接地されている。
One terminal of this series circuit is connected to the common terminal of the switch S 1 via the resistor R 10 , and the connecting portion between the resistors R 1 and R 2 is connected to the common terminal of the switch S 2 via the resistor R 11 . The connection between the resistors R 2 and R 3 is connected to the switch S 3 via the resistor R 12.
Of the common terminal of the switch S 4 via the resistor R 13 and the connection between the resistors R 3 and R 4 of the common terminal of the switch S 4 and the connection of the resistors R 4 and R 5 via the resistor R 14 to the switch S 5 Common terminal of
The connection between the resistors R 5 and R 6 is connected to the common terminal of the switch S 6 via the resistor R 15 , and the connection between the resistors R 6 and R 7 is connected to the resistor R 5.
16 through the common terminal of switch S 7 and resistors R 7 and R 8
The connecting portions with and are respectively connected to the common terminal of the switch S 8 via the resistor R 17 . The switches S 1 , S 2 to S 8 have one-side switching terminals commonly connected, while the other-side switching terminals are commonly connected and grounded.

【0005】一方、オペアンプ回路1bは、オペアンプOA
の負入力端子−と出力端子との間に抵抗R20を介装させ
ており、オペアンプOAの正入力端子+は接地されてい
る。抵抗回路1aとオペアンプ回路1bとは、スイッチ
1 ,S2 〜S8 の一側切換端子を共通に接続した接続
部と、オペアンプOAの負入力端子−とを接続して接続さ
れている。オペアンプOAの出力端子はアナログ信号出力
端子1cと接続されている。なお、スイッチS1 ,S2
8 は8ビットのデジタル信号A1 〜A8 により切換動
作させられるようになっている。
On the other hand, the operational amplifier circuit 1b is an operational amplifier OA.
A resistor R 20 is interposed between the negative input terminal-and the output terminal of the operational amplifier OA, and the positive input terminal + of the operational amplifier OA is grounded. The resistor circuit 1a and the operational amplifier circuit 1b, a connection portion which connects the one side switching terminal of the switch S 1, S 2 ~S 8 in common, the negative input terminal of the operational amplifier OA - are connected by connecting the. The output terminal of the operational amplifier OA is connected to the analog signal output terminal 1c. In addition, the switches S 1 , S 2 ...
S 8 is adapted to be is switched operation by the 8-bit digital signal A 1 to A 8.

【0006】次にこのD/A 変換部の動作を説明する。基
準電圧VR により抵抗R1 ,R2 〜R9 の直列回路には
電流I0 が流れる。また8ビットのデジタル信号A1
8の値によってスイッチS1 〜S8 を切換動作させる
と、デジタル信号に応じて電流成分Ia が変化させられ
てアナログ信号が抵抗回路1aから出力される。このアナ
ログ信号がオペアンプOAへ入力され、電流成分Ia と抵
抗R20とによりアナログ信号の値が求まり、デジタル/
アナログ変換(以下D/A 変換という)したアナログ信号
の値V0 がアナログ信号出力端子1cへ出力される。
Next, the operation of this D / A converter will be described. Due to the reference voltage V R , a current I 0 flows in the series circuit of the resistors R 1 and R 2 to R 9 . In addition, 8-bit digital signal A 1 ~
When the switches S 1 to S 8 are switched according to the value of A 8 , the current component I a is changed according to the digital signal and the analog signal is output from the resistance circuit 1 a. This analog signal is input to the operational amplifier OA, the value of the analog signal is obtained by the current component I a and the resistor R 20, and digital / digital
The value V 0 of the analog signal subjected to analog conversion (hereinafter referred to as D / A conversion) is output to the analog signal output terminal 1c.

【0007】図6は、このような単チャンネルのD/A 変
換部1を多数用いて、多チャンネルのデジタル信号をア
ナログ信号に変換し、変換したアナログ信号を出力する
従来の半導体集積回路のブロック図である。半導体集積
回路3にはチャンネルが異なる8ビットのデジタル信号
1 ,D2 ,D3 …Dn が各別に入力される抵抗回路1a
1 ,1a2 ,1a3 〜1an と、抵抗回路1a1 ,1a2 ,1a3
1an から出力される電流成分が入力されるオペアンプ1b
1 ,1b2 ,1b3 〜1bn とを内蔵しており、オペアンプ1b
1 ,1b2 ,1b3 〜1bn が出力するアナログ信号の値
01,V02,V03〜V0nが出力されるアナログ信号出力
端子1c1 ,1c2 ,1c3 〜1cn を備えて構成されている。
これにより多チャンネルのデジタル信号D1 ,D2 ,D
3 …Dn がD/A 変換部1へ入力されると、D/A 変換部1
は入力されたチャンネルのデジタル信号を前述したよう
にしてアナログ信号に変換し、入力されているチャンネ
ルのデジタル信号を変換したアナログ信号の値V01,V
02,V03〜V0nをアナログ信号出力端子1c1 ,1c2 ,1c
3 〜1cn へ各別に出力することになる。このような半導
体集積回路は現在のカラーテレビジョン受像機では10種
類程度のアナログコントロールを行う、例えば音量, 色
の濃さ, 明るさ, コントラスト, 色合い, シャープネ
ス, 低音, 高音, バランス, 音量, 等の調整を行うため
に用いられる。
FIG. 6 is a block diagram of a conventional semiconductor integrated circuit for converting a multi-channel digital signal into an analog signal by using a large number of such single-channel D / A converters 1 and outputting the converted analog signal. It is a figure. Digital signal 8-bit channels are different D 1 to the semiconductor integrated circuit 3, D 2, D 3 ... resistor circuit 1a to D n is input to each another
1 , 1a 2 , 1a 3 to 1a n and resistor circuit 1a 1 , 1a 2 , 1a 3 to
Operational amplifier 1b to which the current component output from 1a n is input
1 , 1b 2 , 1b 3 to 1b n are built in, and the operational amplifier 1b
1 , 1b 2 , 1b 3 to 1b n are provided with analog signal values V 01 , V 02 , V 03 to V 0n and analog signal output terminals 1c 1 , 1c 2 , 1c 3 to 1c n are provided. It is configured.
As a result, multi-channel digital signals D 1 , D 2 , D
3 ... When D n is input to the D / A conversion unit 1, the D / A conversion unit 1
Is the analog signal value V 01 , V obtained by converting the digital signal of the input channel into an analog signal as described above and converting the digital signal of the input channel.
02 , V 03 to V 0n are analog signal output terminals 1c 1 , 1c 2 , 1c
It will be output to 3 to 1c n separately. Such a semiconductor integrated circuit performs about 10 kinds of analog control in the current color television receiver, for example, volume, color density, brightness, contrast, hue, sharpness, bass, treble, balance, volume, etc. It is used to make adjustments.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで前述したよう
にデジタル信号を多チャンネルのアナログ信号に変換す
る従来の半導体集積回路は、アナログ信号のチャンネル
数と同数のD/A 変換部を必要としている。そして、この
ようなD/A 変換部は多数の抵抗からなる抵抗回路を多数
用いて構成されているため、D/A 変換部は広いパターン
占有面積を要する。そのため、このような半導体集積回
路は大型化が余儀なくされるという問題がある。
The conventional semiconductor integrated circuit for converting a digital signal into a multi-channel analog signal as described above requires as many D / A converters as the number of channels of the analog signal. Since such a D / A conversion unit is configured by using a large number of resistance circuits composed of a large number of resistors, the D / A conversion unit requires a large pattern occupation area. Therefore, there is a problem that such a semiconductor integrated circuit must be upsized.

【0009】本発明は斯かる問題に鑑み、単一のデジタ
ル/アナログ変換部を用いてデジタル信号を多チャンネ
ルのアナログ信号に変換する半導体集積回路、及び単一
のデジタル/アナログ変換部を用いて多チャンネルのア
ナログ信号をデジタル信号に変換し、またデジタル信号
を多チャンネルのアナログ信号に変換する半導体集積回
路を提供することを目的とする。
In view of the above problems, the present invention uses a semiconductor integrated circuit for converting a digital signal into a multi-channel analog signal by using a single digital / analog converter, and a single digital / analog converter. It is an object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit which converts a multi-channel analog signal into a digital signal and converts a digital signal into a multi-channel analog signal.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】第1発明に係る半導体集
積回路は、デジタル信号をアナログ信号に変換する単一
のデジタル/アナログ変換部と、デジタル信号をアナロ
グ信号に変換したアナログ信号の値をサンプルホールド
する多数のサンプルホールド回路と、このサンプルホー
ルド回路と対応した同数のアナログ信号出力端子とを備
えて構成する。第2発明に係る半導体集積回路は、逐次
比較するためのアナログ信号に変換されるデジタル信
号、及びデジタル信号を多チャンネルのアナログ信号に
変換すべき当該デジタル信号が入力される単一のデジタ
ル/アナログ変換部と、該デジタル/アナログ変換部が
変換したアナログ信号を入力すべきサンプルホールド回
路と、該サンプルホールド回路と対応して接続されてい
る多数のアナログ出力端子とを備えて構成する。
A semiconductor integrated circuit according to a first aspect of the present invention provides a single digital / analog converter for converting a digital signal into an analog signal, and an analog signal value obtained by converting the digital signal into an analog signal. A large number of sample-hold circuits for sample-holding and the same number of analog signal output terminals corresponding to the sample-hold circuits are provided. A semiconductor integrated circuit according to the second invention is a single digital / analog to which a digital signal to be converted into an analog signal for successive comparison and a digital signal to be converted into a multi-channel analog signal are input. It is configured to include a conversion unit, a sample hold circuit to which the analog signal converted by the digital / analog conversion unit is input, and a large number of analog output terminals connected corresponding to the sample hold circuit.

【0011】[0011]

【作用】第1発明では、複数のデジタル信号のうち、ア
ナログ信号に変換してアナログ信号出力端子へ出力した
い所定のデジタル信号を、デジタル/アナログ変換部へ
入力する。デジタル/アナログ変換されたアナログ信号
を、所定のサンプルホールド回路を選択して、選択した
サンプルホールド回路へ入力する。サンプルホールド回
路は入力されたアナログ信号をサンプリングしてホール
ドする。ホールドしたアナログ信号は所定チャンネルの
アナログ信号出力端子へ出力される。また、他のデジタ
ル信号をデジタル/アナログ変換部へ入力する場合は、
全てのサンプルホールド回路を非選択状態にし、アナロ
グ信号出力端子へ出力しているアナログ信号が変化しな
いようにする。他のデジタル信号をデジタル/アナログ
変換したアナログ信号を、他の所定のサンプルホールド
回路を選択して選択した他の所定のサンプルホールド回
路へ入力する。他の所定のサンプルホールド回路は、入
力されたアナログ信号をサンプリングしてホールドす
る。ホールドしたアナログ信号を他の所定チャンネルの
アナログ信号出力端子へ出力する。これにより、デジタ
ル/アナログ変換部を複数必要とせず、デジタル/アナ
ログ変換部のパターン占有面積が小さくなり、半導体集
積回路を小型化できる。
According to the first aspect of the invention, of the plurality of digital signals, a predetermined digital signal to be converted into an analog signal and output to the analog signal output terminal is input to the digital / analog converter. A predetermined sample-hold circuit is selected and the analog-to-analog converted analog signal is input to the selected sample-hold circuit. The sample hold circuit samples and holds the input analog signal. The held analog signal is output to the analog signal output terminal of a predetermined channel. When inputting other digital signals to the digital / analog converter,
All the sample and hold circuits are deselected so that the analog signal output to the analog signal output terminal does not change. An analog signal obtained by performing digital / analog conversion on another digital signal is input to the other predetermined sample and hold circuit selected by selecting another predetermined sample and hold circuit. The other predetermined sample hold circuit samples and holds the input analog signal. The held analog signal is output to the analog signal output terminal of another predetermined channel. As a result, a plurality of digital / analog converters are not required, the pattern occupation area of the digital / analog converters is reduced, and the semiconductor integrated circuit can be downsized.

【0012】第2発明では、アナログ信号をデジタル信
号に変換する場合、逐次比較するためのアナログ信号に
変換されるデジタル信号をデジタル/アナログ変換部へ
入力する。デジタル/アナログ変換部から出力されるア
ナログ信号と、デジタル信号に変換すべきアナログ信号
とを逐次比較して、アナログ信号をデジタル信号に変換
する。アナログ信号に変換すべきデジタル信号を多チャ
ンネルのアナログ信号に変換する場合、複数のデジタル
のうち、所定のデジタル信号をデジタル/アナログ変換
部へ入力する。デジタル/アナログ変換されたアナログ
信号を、選択した所定のサンプルホールド回路へ入力す
る。サンプルホールド回路は、入力されたアナログ信号
をサンプリングしてホールドし、ホールドしたアナログ
信号を所定チャンネルのアナログ信号出力端子へ出力す
る。これにより、デジタル/アナログ変換部を複数必要
とせず、デジタル/アナログ変換部のパターン占有面積
を小さくできて、半導体集積回路を小型化できる。
In the second aspect of the present invention, when converting an analog signal into a digital signal, the digital signal converted into an analog signal for successive comparison is input to the digital / analog converter. The analog signal output from the digital / analog converter is sequentially compared with the analog signal to be converted into a digital signal to convert the analog signal into a digital signal. When converting a digital signal to be converted into an analog signal into a multi-channel analog signal, a predetermined digital signal among a plurality of digital signals is input to the digital / analog converter. The digital signal / analog converted analog signal is input to the selected predetermined sample hold circuit. The sample hold circuit samples and holds the input analog signal, and outputs the held analog signal to an analog signal output terminal of a predetermined channel. As a result, a plurality of digital / analog converters are not required, the pattern occupation area of the digital / analog converters can be reduced, and the semiconductor integrated circuit can be downsized.

【0013】[0013]

【実施例】以下本発明をその実施例を示す図面により詳
述する。図1は本発明に係る半導体集積回路の構成を示
すブロック図である。アナログ信号に変換すべき例えば
8ビットのデジタル信号2eは、D/A 変換部1の抵抗回路
1aへ入力される。D/A 変換部1は抵抗回路1aとオペアン
プ回路1bとからなっており、抵抗回路1aでD/A 変換され
たアナログ信号はオペアンプ回路1bへ入力され、オペア
ンプ回路1bにより求めたアナログ信号の値はサンプルホ
ールド回路2d1 ,2d2 ,2d3 ,2d4 〜2dn へ入力され、
サンプリングスイッチSP1 ,SP2 ,SP3 ,SP4 〜SPn
介してコンデンサC1 ,C2 ,C3 ,C4 〜Cn へ与え
られる。サンプルホールド回路2d1 ,2d2 ,2d3 ,2d4
〜2dn のコンデンサC1 ,C2 ,C3 ,C4 〜Cn がホ
ールドしているアナログ信号の値V01,V02,V03,V
04〜V0nは、サンプルホールド回路2d1 ,2d2 ,2d3
2d4 〜2dn と対応して同数で設けられているアナログ信
号出力端子2c1 ,2c2 ,2c3 ,2c4 〜2cn へ各別に出力
されるようになっている。
The present invention will be described in detail below with reference to the drawings showing the embodiments thereof. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a semiconductor integrated circuit according to the present invention. For example, an 8-bit digital signal 2e to be converted into an analog signal is a resistance circuit of the D / A converter 1.
Input to 1a. The D / A converter 1 is composed of a resistance circuit 1a and an operational amplifier circuit 1b. The analog signal D / A converted by the resistance circuit 1a is input to the operational amplifier circuit 1b and the value of the analog signal obtained by the operational amplifier circuit 1b. Is input to the sample hold circuits 2d 1 , 2d 2 , 2d 3 , 2d 4 to 2d n ,
Sampling switches SP 1, SP 2, SP 3 , SP 4 capacitor C 1 via the ~SP n, C 2, C 3 , given the C 4 -C n. Sample and hold circuit 2d 1 , 2d 2 , 2d 3 , 2d 4
The value of the analog signal V 01 , V 02 , V 03 , V held by the capacitors C 1 , C 2 , C 3 , C 4 to C n of up to 2d n
04 to V 0n are the sample hold circuits 2d 1 , 2d 2 , 2d 3 ,
Corresponding to 2d 4 to 2d n , the same number of analog signal output terminals 2c 1 , 2c 2 , 2c 3 , and 2c 4 to 2c n are separately output.

【0014】サンプリングスイッチSP1 ,SP2 ,SP3
SP4 …SPn は、CPU 2fから出力されるスイッチ制御信号
SCにより各別にオン, オフ動作させるようになってい
る。そしてこれらによりデジタル信号を多チャンネルの
アナログ信号に変換する半導体集積回路3が構成されて
いる。
Sampling switches SP 1 , SP 2 , SP 3 ,
SP 4 ... SP n is a switch control signal output from CPU 2f
It is designed to be turned on and off separately by SC. A semiconductor integrated circuit 3 for converting a digital signal into a multi-channel analog signal is constituted by them.

【0015】次にこのように構成した半導体集積回路の
動作をCPU 2fの制御内容を示す図2のフローチャートと
ともに説明する。先ず、アナログ信号出力端子2c1 ,2c
2 ,2c3 ,2c4 〜2cn には、アナログ信号の値V01,V
02,V03,V04〜V0nにより制御される回路(図示せ
ず)を接続する。さて、CPU 2fを駆動させると、アナロ
グ信号出力端子2c1 ,2c2 ,2c3 ,2c4 〜2cn に接続し
ている回路を制御する必要があるか否か、即ち、信号出
力端子2c1 〜2cn のアナログ信号の値V01〜V0nを変化
させる必要があるか否かをCPU 2fにより判別する(S1)
。ここでアナログ信号の値V01〜V0nを変更せず現状
のまま保持する場合は、CPU 2fにより出力されるスイッ
チ制御信号SCを出力させずサンプリングスイッチSP1
SPn の全てをオフにする(S2)。そうするとアナログ信号
出力端子2c1 ,2c2 ,2c3 ,2c4 〜2cn の各アナログ信
号の値は、サンプルホールド回路2d1 ,2d2 ,2d3 ,2d
4 〜2dn がホールドしているアナログ信号の値に保持さ
れる。
Next, the operation of the semiconductor integrated circuit thus configured will be described with reference to the flowchart of FIG. 2 showing the control contents of the CPU 2f. First, the analog signal output terminals 2c 1 and 2c
2 , 2c 3 , 2c 4 to 2c n are analog signal values V 01 , V
A circuit (not shown) controlled by 02 , V 03 , V 04 to V 0n is connected. Now, when driving the CPU 2f, the analog signal output terminal 2c 1, 2c 2, 2c 3 , 2c 4 whether or not it is necessary to control the circuit connected to the ~2C n, i.e., the signal output terminal 2c 1 It is determined by the CPU 2f whether or not it is necessary to change the analog signal values V 01 to V 0n of 2 to 2c n (S1).
. Here, when the analog signal values V 01 to V 0n are not changed and are kept as they are, the switch control signal SC output by the CPU 2f is not output and the sampling switches SP 1 to
Turn off all SP n (S2). Then the value of each analog signal of the analog signal output terminal 2c 1, 2c 2, 2c 3 , 2c 4 ~2c n is the sample and hold circuit 2d 1, 2d 2, 2d 3 , 2d
4 to 2d n is held at the held analog signal value.

【0016】次に、例えばアナログ信号出力端子2c1
接続された回路を制御すべくアナログ信号出力端子2c1
のアナログ信号の値V01を変化させると判別した場合
(S1)には、スイッチ制御信号SCによりサンプリングス
イッチSP1 〜SPn を全てオフにする(S3) 。続いて8ビ
ットの所定のデジタル信号2eをD/A 変換部1へ入力する
(S4) 。そしてアナログ信号出力端子2c1 と対応してい
るサンプルホールド回路2d1 のサンプリングスイッチSP
1 のみをオンさせて(S5) 、ステップ(S1) へ戻る。そ
うするとD/A 変換部1で変換されたアナログ信号の値が
サンプリングされてコンデンサC1 にホールドされ、ア
ナログ信号出力端子2c1 へ出力され、アナログ信号出力
端子2c1 のアナログ信号の値V01が変化して、アナログ
信号出力端子2c1 に接続された回路が制御される。この
とき、他のサンプリングスイッチSP2 〜SPn はオフした
ままであり、他のアナログ信号出力端子2c2 〜2cn のア
ナログ信号の値V02〜V0nは変化しない。次に例えばア
ナログ信号出力端子2c2 に接続された回路を制御すべく
アナログ信号出力端子2c2 のアナログ信号の値V02を変
化させると判別した場合(S1) には、スイッチ制御信号
SCによりサンプリングスイッチSP1 〜SPn を全てオフに
する(S3) 。続いて8ビットの所定のデジタル信号2eを
D/A 変換部1へ入力する(S4) 。そしてアナログ信号出
力端子2c2 と対応しているサンプルホールド回路2d2
サンプリングスイッチSP1 のみをオンさせて(S5) 、ス
テップ(S1) へ戻る。これによりD/A 変換部1で変換さ
れたアナログ信号の値がサンプリングされてコンデンサ
2 にホールドされ、アナログ信号出力端子2c2 へ出力
され、アナログ信号出力端子2c2 のアナログ信号の値V
02が変化して、アナログ信号出力端子2c2 に接続された
回路が制御される。このとき他のサンプリングスイッチ
SP1 ,SP3 〜SPn はオフしたままであり、他のアナログ
信号出力端子2c1 ,2c3 〜2cnのアナログ信号の値
01,V03〜V0nは変化しない。このようにして、いず
れのアナログ信号出力端子のアナログ信号の値も前記同
様に変化させることができる。そしてn個のデジタル信
号は時分割にD/A 変換され、各アナログ信号出力端子か
らアナログ信号の値として出力されることになる。
Next, for example, the analog signal output terminal 2c 1 to control the circuit connected to the analog signal output terminal 2c 1
In a case where it is determined that changing the value V 01 of the analog signal (S1), all to turn off the sampling switch SP 1 to SP n by the switch control signal SC (S3). Then, an 8-bit predetermined digital signal 2e is input to the D / A converter 1 (S4). And the sampling switch SP of the sample and hold circuit 2d 1 corresponding to the analog signal output terminal 2c 1
Turn on only 1 (S5) and return to step (S1). Then the value of the analog signal converted by the D / A converter section 1 is held in the capacitor C 1 is sampled, is output to the analog signal output terminal 2c 1, the value V 01 of the analog signal output terminal 2c 1 of the analog signal changes, connected circuits are controlled in the analog signal output terminal 2c 1. At this time, the other sampling switches SP 2 to SP n remains turned off, the value V 02 ~V 0n the other analog signal output terminal 2c 2 ~2c n analog signal does not change. Then for example if it is determined that changing the value V 02 of the analog signal of the analog signal output terminal 2c 2 to control the circuit connected to the analog signal output terminal 2c 2 (S1), the switch control signal
Turn off all sampling switches SP 1 to SP n by SC (S3). Then, the predetermined 8-bit digital signal 2e
Input to D / A converter 1 (S4). Then, only the sampling switch SP 1 of the sample hold circuit 2d 2 corresponding to the analog signal output terminal 2c 2 is turned on (S5) and the process returns to step (S1). Thus the value of the analog signal converted by the D / A converter 1 is sampled is held in the capacitor C 2, is outputted to the analog signal output terminal 2c 2, the analog signal of the analog signal output terminal 2c 2 value V
02 changes to control the circuit connected to the analog signal output terminal 2c 2 . At this time, another sampling switch
SP 1, SP 3 ~SP n remains turned off, the value V 01 of the analog signals of the other analog signal output terminal 2c 1, 2c 3 ~2c n, V 03 ~V 0n does not change. In this way, the value of the analog signal at any analog signal output terminal can be changed in the same manner as described above. Then, the n digital signals are time-divisionally D / A converted and output as analog signal values from the respective analog signal output terminals.

【0017】なお、本実施例ではデジタル信号を8ビッ
トとしたが、8ビットに限定されるものではない。また
D/A 変換部の変換方式、サンプルホールド回路の回路構
成は、同様の機能を有するものであればよく、実施例の
ものに限定されるものではない。
Although the digital signal is 8 bits in this embodiment, it is not limited to 8 bits. Also
The conversion method of the D / A conversion unit and the circuit configuration of the sample hold circuit are not limited to those of the embodiment, as long as they have the same functions.

【0018】更に実施例に示しているサンプルホールド
回路2d1 〜2dn は、コンデンサC1〜Cn によりアナロ
グ信号の値をホールドしているため、定期的にデータの
サンプリングをする必要があり、CPU によるオートスキ
ャン機能によって自動的に時分割にサンプリングをする
ようになしているが、サンプルホールド回路にホールド
しているアナログ信号の値のリフレッシュを必要としな
い方式を採用しても同様の効果が得られる。
Further, since the sample hold circuits 2d 1 to 2d n shown in the embodiment hold the value of the analog signal by the capacitors C 1 to C n, it is necessary to periodically sample the data. Although the automatic scan function of the CPU automatically performs time-division sampling, the same effect can be obtained by adopting a method that does not require refreshing the analog signal value held by the sample-hold circuit. can get.

【0019】図3は単一のD/A 変換部を備え、多チャン
ネルのアナログ信号をデジタル信号に変換し、デジタル
信号を多チャンネルのアナログ信号に変換する半導体集
積回路の構成を示すブロック図である。半導体集積回路
3のアナログ信号入力端子VI1,VI2〜VImに入力され
たアナログ信号はサンプルホールド回路3c1 ,3c2 〜3c
m へ各別に入力される。サンプルホールド回路3c1 ,3c
2 〜3cm から出力されるアナログ信号の値は、それを択
一的に選択するセレクタSEL を介してコンパレータCPの
一入力端子へ入力され、コンパレータCPから出力される
アナログ信号の値はアナログ/デジタル制御回路ADC へ
入力される。
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of a semiconductor integrated circuit having a single D / A converter, converting a multi-channel analog signal into a digital signal and converting the digital signal into a multi-channel analog signal. is there. The analog signals input to the analog signal input terminals V I1 , V I2 to V Im of the semiconductor integrated circuit 3 are sample hold circuits 3c 1 and 3c 2 to 3c.
Input to m separately. Sample and hold circuit 3c 1 and 3c
The value of the analog signal output from 2 to 3 cm is input to one input terminal of the comparator CP via the selector SEL that selectively selects it, and the value of the analog signal output from the comparator CP is analog / Input to digital control circuit ADC.

【0020】アナログ/デジタル制御回路ADC から出力
される制御信号SCNT は逐次近似レジスタRST へ与えら
れる。逐次近似レジスタRST のデジタル信号の値は入力
データ切換部3fを介してD/A 変換部1へ入力される。D/
A 変換部1がD/A 変換したアナログ信号の値はコンパレ
ータCPの他入力端子へ入力され、またサンプルホールド
回路2d1 ,2d2 〜2dn へ入力される。サンプルホールド
回路2d1 ,2d2 〜2dnがホールドしたアナログ信号の値
はアナログ信号出力端子VOUT1,VOUT2〜VOUTnへ各別
に出力される。逐次近似レジスタRST のデジタル信号の
値はデジタル信号入出力兼用端子DIOへ出力される。デ
ジタル信号入出力兼用端子DIOに入力されたデジタル信
号の値はデータレジスタ3eへ入力され、データレジスタ
3eのデジタル信号の値は入力データ切換部3fを介してD/
A 変換部1へ入力される。なお、破線で取り囲んだ部分
はA/D 変換回路3bとなっている。
The control signal S CNT output from the analog / digital control circuit ADC is applied to the successive approximation register RST. The value of the digital signal of the successive approximation register RST is input to the D / A conversion unit 1 via the input data switching unit 3f. D /
The value of the analog signal A conversion unit 1 is D / A converted is inputted to the other input terminal of the comparator CP, also is input to a sample-and-hold circuit 2d 1, 2d 2 ~2d n. The values of the analog signals held by the sample hold circuits 2d 1 and 2d 2 to 2d n are individually output to the analog signal output terminals V OUT1 and V OUT2 to V OUTn . The digital signal value of the successive approximation register RST is output to the digital signal input / output terminal D IO . The value of the digital signal input to the digital signal input / output terminal D IO is input to the data register 3e,
The value of the digital signal of 3e is changed to D / via the input data switching unit 3f.
Input to A converter 1. The part surrounded by the broken line is the A / D conversion circuit 3b.

【0021】このように構成した半導体集積回路3は、
入力データ切換部3fを逐次近似レジスタRST を選択する
ように切換えた場合は、逐次近似レジスタRST から、変
換すべきアナログ信号と比較するためのアナログ信号に
変換されるデジタル信号がD/A 変換部1へ入力される。
そしてホールド回路3c1 〜3cm に入力されてホールドし
ているアナログ信号をセレクタSEL が選択したアナログ
信号と、D/A 変換部1から出力されたアナログ信号とが
コンパレータCPで比較される。その比較結果がアナログ
/デジタル制御回路ADC へ入力され、逐次比較動作によ
って、セレクタSEL が選択したアナログ信号を所定ビッ
トのデジタル信号に変換し、変換したデジタル信号を逐
次近似レジスタRST に格納する。変換が終了すると、逐
次近似レジスタRST に格納したデジタル信号をデジタル
信号入出力兼用端子DI0へ出力する。またセレクタSEL
により他のサンプルホールド回路3c1 〜3cm のアナログ
信号を選択してデジタル信号に変換でき、多チャンネル
のアナログ信号をデジタル信号に変換できる。
The semiconductor integrated circuit 3 having the above structure is
When the input data switching unit 3f is switched to select the successive approximation register RST, the digital signal converted from the successive approximation register RST into an analog signal for comparison with the analog signal to be converted is the D / A conversion unit. Input to 1.
And the analog signal an analog signal selector SEL has selected that is input to the hold circuit 3c 1 ~3c m have been held, and the analog signal output from D / A converter section 1 is compared by the comparator CP. The comparison result is input to the analog / digital control circuit ADC, the analog signal selected by the selector SEL is converted into a digital signal of a predetermined bit by the successive approximation operation, and the converted digital signal is stored in the successive approximation register RST. When the conversion is completed, the digital signal stored in the successive approximation register RST is output to the digital signal input / output shared terminal D I0 . Also selector SEL
The Select analog signals of the other sample-and-hold circuit 3c 1 ~3c m can be converted into a digital signal, it converts the analog signals of multiple channels into digital signals.

【0022】一方、入力データ切換部3fをデータレジス
タ3eを選択するように切換えた場合は、データ入出力兼
用端子DI0から入力されデータレジスタ3eに格納してい
るデジタル信号がD/A 変換部1へ入力されてアナログ信
号に変換される。変換されたアナログ信号はサンプルホ
ールド回路2d1 〜2dn へ入力されて図1におけるD/A変
換動作と同様の動作により、アナログ信号をアナログ信
号出力端子VOUT1〜VOUTnへ出力する。つまり、この半
導体集積回路は、多チャンネルのアナログ信号をデジタ
ル信号に変換し、デジタル信号を多チャンネルのアナロ
グ信号に変換する。図5は半導体集積回路の他の実施例
の構成を示すブロック図である。サンプルホールド回路
2d1 ,2d2 〜2dn がホールドしているアナログ信号がセ
レクタSELへ入力されるようになっており、それ以外の
構成は図3に示した半導体集積回路の構成と同様となっ
ている。そして同一構成部分には同一符号を付してい
る。この半導体集積回路3は図3に示した半導体集積回
路3と同様の動作をする。またサンプルホールド回路2d
1 〜2dn から出力されたアナログ信号をセレクタSEL に
より選択し、選択したアナログ信号を、アナログ入力端
子VI1〜VInから入力されたアナログ信号と同様に逐次
比較動作によりA/D 変換できる。それによりサンプルホ
ールド回路2d1 〜2dn から出力されたアナログ信号の誤
差、つまり、アナログ信号出力端子VOUT1〜VOUTnに接
続される外部回路の動作に起因して変化するそのアナロ
グ信号の誤差を検出できる。
On the other hand, when the input data switching section 3f is switched to select the data register 3e, the digital signal input from the data input / output terminal D I0 and stored in the data register 3e is converted into the D / A conversion section. 1 is input and converted into an analog signal. The converted analog signal is input to the sample hold circuits 2d 1 to 2d n , and the analog signal is output to the analog signal output terminals V OUT1 to V OUTn by the same operation as the D / A conversion operation in FIG. That is, this semiconductor integrated circuit converts a multi-channel analog signal into a digital signal and converts the digital signal into a multi-channel analog signal. FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of another embodiment of the semiconductor integrated circuit. Sample hold circuit
The analog signals held by 2d 1 and 2d 2 to 2d n are input to the selector SEL, and other configurations are similar to those of the semiconductor integrated circuit shown in FIG. The same components are designated by the same reference numerals. This semiconductor integrated circuit 3 operates similarly to the semiconductor integrated circuit 3 shown in FIG. Sample hold circuit 2d
The analog signal output from 1 to 2d n can be selected by the selector SEL, and the selected analog signal can be A / D converted by the successive approximation operation similarly to the analog signal input from the analog input terminals V I1 to V In . As a result, the error of the analog signal output from the sample hold circuits 2d 1 to 2d n , that is, the error of the analog signal that changes due to the operation of the external circuit connected to the analog signal output terminals V OUT1 to V OUTn , Can be detected.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上詳述したように第1発明によれば、
単一のデジタル/アナログ変換部を用いて、デジタル信
号を多チャンネルのアナログ信号に変換できるから、従
来のように、チャンネル数と同数のデジタル/アナログ
変換部を備える必要がない。そのためデジタル/アナロ
グ変換部のパターン専有面積を大幅に縮小し得て、デジ
タル信号を多チャンネルのアナログ信号に変換する半導
体集積回路の小型化が図れる。
As described above in detail, according to the first invention,
Since a single digital / analog converter can be used to convert a digital signal into a multi-channel analog signal, it is not necessary to provide the same number of digital / analog converters as in the conventional case. Therefore, the area occupied by the pattern of the digital / analog converter can be significantly reduced, and the semiconductor integrated circuit for converting a digital signal into a multi-channel analog signal can be downsized.

【0024】第2発明によれば、単一のデジタル/アナ
ログ変換部を共用して、デジタル信号を多チャンネルの
アナログ信号に変換でき、また多チャンネルのアナログ
信号を逐次比較動作によりデジタル信号に変換できる。
それにより、デジタル/アナログ変換部のパターン専有
面積を大幅に縮小できて、デジタル信号を多チャンネル
のアナログ信号に、また多チャンネルのアナログ信号を
デジタル信号に変換する半導体集積回路の小型化が図れ
る、等の優れた効果を奏する。
According to the second invention, a single digital / analog converter can be shared to convert a digital signal into a multi-channel analog signal, and the multi-channel analog signal can be converted into a digital signal by a successive approximation operation. it can.
As a result, the area occupied by the pattern of the digital / analog converter can be significantly reduced, and the semiconductor integrated circuit for converting a digital signal into a multi-channel analog signal and a multi-channel analog signal into a digital signal can be downsized. And so on.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1発明に係る半導体集積回路の構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor integrated circuit according to a first invention.

【図2】CPU の制御内容を示すフローチャートである。FIG. 2 is a flowchart showing the control contents of the CPU.

【図3】第2発明に係る半導体集積回路の構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a semiconductor integrated circuit according to a second invention.

【図4】半導体集積回路の他の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 4 is a block diagram showing another configuration of a semiconductor integrated circuit.

【図5】デジタル/アナログ変換部のブロック図であ
る。
FIG. 5 is a block diagram of a digital / analog converter.

【図6】多チャンネルのデジタル信号を多チャンネルの
アナログ信号に変換する従来の半導体集積回路のブロッ
ク図である。
FIG. 6 is a block diagram of a conventional semiconductor integrated circuit that converts a multi-channel digital signal into a multi-channel analog signal.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 デジタル/アナログ変換部 2a 抵抗回路 2d1 ,2d2 〜2dn サンプルホールド回路 2c1 ,2c2 〜2cn アナログ信号出力端子 SEL セレクタ1 Digital / analog converter 2a Resistor circuit 2d 1 , 2d 2 to 2d n Sample and hold circuit 2c 1 , 2c 2 to 2c n Analog signal output terminal SEL selector

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 デジタル信号を、多チャンネルのアナロ
グ信号に変換する半導体集積回路において、前記デジタ
ル信号を入力すべき単一のデジタル/アナログ変換部
と、該デジタル/アナログ変換部で変換したアナログ信
号を入力すべき多数のサンプルホールド回路と、該サン
プルホールド回路と対応している多数のアナログ信号出
力端子とを備え、前記サンプルホールド回路を択一的に
サンプリング動作させて、サンプルホールド回路がホー
ルドしているアナログ信号を時分割に所定のアナログ信
号出力端子へ出力すべく構成してあることを特徴とする
半導体集積回路。
1. In a semiconductor integrated circuit for converting a digital signal into a multi-channel analog signal, a single digital / analog converter to which the digital signal is to be input, and an analog signal converted by the digital / analog converter. A plurality of sample and hold circuits to be input and a plurality of analog signal output terminals corresponding to the sample and hold circuits, the sample and hold circuits are selectively operated for sampling and held by the sample and hold circuits. The semiconductor integrated circuit is configured to output the analog signal being output to a predetermined analog signal output terminal in a time division manner.
【請求項2】 逐次比較方式により、アナログ信号をデ
ジタル信号に変換する半導体集積回路において、逐次比
較するためのアナログ信号に変換されるデジタル信号及
びデジタル信号を多チャンネルのアナログ信号に変換す
べき当該デジタル信号が入力される単一のデジタル/ア
ナログ変換部と、該デジタル/アナログ変換部が変換し
たアナログ信号を入力すべきサンプルホールド回路と、
該サンプルホールド回路と対応して接続されている多数
のアナログ信号出力端子とを備えていることを特徴とす
る半導体集積回路。
2. In a semiconductor integrated circuit for converting an analog signal into a digital signal by a successive approximation method, a digital signal converted into an analog signal for successive comparison and a digital signal to be converted into a multi-channel analog signal. A single digital / analog converter to which a digital signal is input, and a sample and hold circuit to which the analog signal converted by the digital / analog converter should be input,
A semiconductor integrated circuit comprising: a plurality of analog signal output terminals connected corresponding to the sample and hold circuit.
【請求項3】 サンプルホールド回路から出力されたア
ナログ信号と、デジタル/アナログ変換部から出力され
たアナログ信号とを比較できる構成にしてあることを特
徴とする請求項2記載の半導体集積回路。
3. The semiconductor integrated circuit according to claim 2, wherein the analog signal output from the sample hold circuit can be compared with the analog signal output from the digital / analog converter.
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