JPH07139931A - Apparatus for irradiating laser in laser scan microscope - Google Patents

Apparatus for irradiating laser in laser scan microscope

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JPH07139931A
JPH07139931A JP29046593A JP29046593A JPH07139931A JP H07139931 A JPH07139931 A JP H07139931A JP 29046593 A JP29046593 A JP 29046593A JP 29046593 A JP29046593 A JP 29046593A JP H07139931 A JPH07139931 A JP H07139931A
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JP
Japan
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laser
light
sample
laser beam
objective lens
Prior art date
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Pending
Application number
JP29046593A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Hirako
進一 平子
Muneo Tokita
宗雄 時田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP29046593A priority Critical patent/JPH07139931A/en
Publication of JPH07139931A publication Critical patent/JPH07139931A/en
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Abstract

PURPOSE:To uniform an amount of a laser light cast to a sample at all positions in a scanning area on a surface of the sample by providing a photodetecting means for monitoring an intensity of the laser light taken out by a light-splitting means. CONSTITUTION:A laser beam 15 from a laser oscillator 1 enters an adjuster 2 adjusting an amount of light, and then is deflected by a deflecting part 3 so as to scan an image-forming surface L in two dimensions. Further, the beam 15 is split. by a beam splitter (light splitting means) 4. Passing beams are brought into a pupil 5 of an objective lens 6 to intensively scan a sample 8 on a slide glass 7. Meanwhile, beams reflected at the splitter 4 are monitored by a photodetecting means 10 through an aperture 9. An output signal from the photodetecting means 10 is input, to a control part 11, whereby a transmittance of the adjuster 2 is adjusted by the control part 11 so that an amount of light entering the photodetecting means 10 is constant while the light is deflected and scanned. The aperture 9 is placed at an equivalent position to the pupil 5 and therefore, an intensity of the beam cast onto the sample 8 is also constant during the scanning.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ走査顕微鏡のレ
ーザ照射装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser irradiation device for a laser scanning microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装
置の一例を図3に示す。図3において、光源であるレー
ザ発振器50から放射したレーザビーム70は、光偏向
素子である音響光学偏向素子(AOD)51により、図
3では紙面に平行に偏向光ビーム71,72のように一
次元方向に偏向され、リレーレンズ52、波長選択ミラ
ー53、リレーレンズ54を順に透過し、ガルバノ式偏
向用ミラー55に入射する。偏向用ミラー55は、図3
に示す例では紙面に平行な軸について回転可能になって
いる。偏向用ミラー55で偏向されたレーザビームは、
リレーレンズ56で結像面L上に結像した後、対物レン
ズ59の瞳58を経て、対物レンズ59でスライドグラ
ス上の試料60に集光照射される。なお、試料60とし
ては、通常蛍光染色した細胞等が用いられる。
2. Description of the Related Art FIG. 3 shows an example of a conventional laser irradiation apparatus for a laser scanning microscope. In FIG. 3, a laser beam 70 emitted from a laser oscillator 50, which is a light source, is linearly reflected by an acousto-optic deflecting element (AOD) 51, which is an optical deflecting element, as shown in FIG. The light is deflected in the original direction, passes through the relay lens 52, the wavelength selection mirror 53, and the relay lens 54 in order, and enters the galvano-type deflection mirror 55. The deflecting mirror 55 is shown in FIG.
In the example shown in (1), it is possible to rotate about an axis parallel to the paper surface. The laser beam deflected by the deflection mirror 55 is
After the image is formed on the image forming plane L by the relay lens 56, the sample 60 on the slide glass is condensed and irradiated by the objective lens 59 through the pupil 58 of the objective lens 59. In addition, as the sample 60, cells and the like which are usually fluorescently stained are used.

【0003】二次元レーザスポットで走査された、スラ
イドグラス上の試料60からの蛍光は、対物レンズ59
で集光され、レーザビームと同じ経路を進行し、リレー
レンズ54を透過した後、波長選択ミラー53で反射さ
れて、蛍光検出器61で電気信号に変換される。なお、
この例において、対物レンズ59の瞳58、偏向用ミラ
ー55及びAOD51の位置は互いに共役である。従っ
て、AOD51、偏向用ミラー55で偏向されたレーザ
ビームは常に対物レンズ59の瞳58に入射する構成と
なっている。又、この例では、レーザビームの二次元の
偏向走査に音響光学偏向素子(AOD)51とガルバノ
式偏向用ミラー55を用いているが、偏向素子としてA
OD、ガルバノ式偏向ミラー、ポリゴンミラー、レゾナ
ント式偏向ミラー、ホログラム式スキャナー等を用いて
二次元走査する形式のレーザ顕微鏡もある。
The fluorescence from the sample 60 on the slide glass scanned by the two-dimensional laser spot is converted into the objective lens 59.
The laser beam is focused on, travels along the same path as the laser beam, passes through the relay lens 54, is reflected by the wavelength selection mirror 53, and is converted into an electric signal by the fluorescence detector 61. In addition,
In this example, the positions of the pupil 58 of the objective lens 59, the deflecting mirror 55, and the AOD 51 are conjugate with each other. Therefore, the laser beam deflected by the AOD 51 and the deflecting mirror 55 is always incident on the pupil 58 of the objective lens 59. Further, in this example, the acousto-optic deflecting element (AOD) 51 and the galvano-deflecting mirror 55 are used for the two-dimensional deflection scanning of the laser beam.
There is also a laser microscope of a type that performs two-dimensional scanning using an OD, a galvano deflection mirror, a polygon mirror, a resonant deflection mirror, a hologram scanner, or the like.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来のレーザ走査
顕微鏡のレーザ照射装置では、特に光偏向素子としてA
OD51を用いる場合、AOD51の特性としてレーザ
ビームの回折効率が偏向角によって変化するため、スラ
イドグラス上の試料60に照射されるレーザ強度が走査
位置により変化するという問題がある。
In the conventional laser irradiating device of the laser scanning microscope described above, A
When the OD51 is used, the diffraction efficiency of the laser beam changes depending on the deflection angle as a characteristic of the AOD51, so that there is a problem that the laser intensity applied to the sample 60 on the slide glass changes depending on the scanning position.

【0005】図4は従来例でのスライドグラス上のレー
ザスポット強度を示す図である。図4において、Z軸は
レーザスポットの光強度、X軸はAODによる走査方向
位置、Y軸はガルバノ式偏向ミラーによる走査方向位置
を示す。図4から分かるように、X軸上の位置aに比べ
て位置bのレーザスポット強度が強いため、X=b軸の
近くにある細胞からの蛍光強度は、X=a軸の近くの細
胞より強くなり、細胞の発する蛍光量を正確に測定する
ことができないという問題点がある。
FIG. 4 is a diagram showing a laser spot intensity on a slide glass in a conventional example. In FIG. 4, the Z axis indicates the light intensity of the laser spot, the X axis indicates the scanning direction position by AOD, and the Y axis indicates the scanning direction position by the galvano-type deflection mirror. As can be seen from FIG. 4, since the laser spot intensity at the position b is stronger than the position a on the X axis, the fluorescence intensity from the cells near the X = b axis is higher than that at the cells near the X = a axis. There is a problem that the fluorescence becomes strong and the amount of fluorescence emitted by the cell cannot be accurately measured.

【0006】従って、本発明は、上記問題点に鑑みなさ
れたもので、レーザ走査顕微鏡において試料に照射する
レーザ光の光量を試料面上の走査範囲内の全ての位置で
一様とするレーザ照射装置を提供することを目的とす
る。
Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and laser irradiation for making the amount of laser light irradiating a sample in a laser scanning microscope uniform at all positions within the scanning range on the sample surface. The purpose is to provide a device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明のレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置は、光
源であるレーザ発振器と、このレーザ発振器からのレー
ザを走査するレーザビーム偏向部と、走査レーザビーム
を試料に集光照射する対物レンズとを備えたレーザ走査
顕微鏡のレーザ照射装置において、前記対物レンズに入
射するレーザビームの一部を取り出す光分割手段と、こ
の光分割手段によって取り出されたレーザビームの強度
をモニタするための光検出手段と、この光検出手段によ
るモニタ結果に基づいて前記対物レンズに入射するレー
ザビームの強度を調整するレーザ光量調整手段とを備え
ることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a laser irradiation apparatus for a laser scanning microscope according to the present invention comprises a laser oscillator which is a light source, and a laser beam deflecting unit which scans a laser from the laser oscillator. In a laser irradiation device of a laser scanning microscope equipped with an objective lens for converging and irradiating a sample with a scanning laser beam, a light splitting means for taking out a part of the laser beam incident on the objective lens, and a light splitting means for taking out the light by this light splitting means. And a laser light amount adjusting means for adjusting the intensity of the laser beam incident on the objective lens based on the monitoring result by the light detecting means. To do.

【0008】[0008]

【作用】このレーザ照射装置によると、対物レンズに入
射するレーザビームの一部が光分割手段により取り出さ
れ、この取り出されたレーザビームの強度を光検出手段
でモニタし、モニタ出力が一定となるようにレーザ光量
調整手段によって、光検出手段に入射するレーザビーム
の強度、即ち対物レンズに入射するレーザビームの強度
を調整することにより、試料面上のレーザ走査範囲内の
全ての位置でのレーザ強度が一定となる。このため、測
定精度が高くなり、正確な画像が得られる。
According to this laser irradiation device, a part of the laser beam incident on the objective lens is taken out by the light splitting means, the intensity of the taken-out laser beam is monitored by the light detecting means, and the monitor output becomes constant. As described above, by adjusting the intensity of the laser beam incident on the light detecting unit, that is, the intensity of the laser beam incident on the objective lens by the laser light amount adjusting unit, the laser beam at all positions within the laser scanning range on the sample surface is adjusted. The strength is constant. Therefore, the measurement accuracy is high, and an accurate image can be obtained.

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明のレーザ照射装置を実施例に基
づいて説明する。図1に、本発明の装置の原理図を示
す。図1において、レーザ発振器1からのレーザビーム
15は、光量調整器2に入射し、その後にレーザビーム
偏向部3により結像面Lで二次元走査されるように偏向
される。更に、レーザビーム15は、ビームスプリッタ
(光分割手段)4で分割され、ビームスプリッタ4を透
過したレーザビームは、対物レンズ6の瞳5に入射し、
対物レンズ6でスライドグラス7上の試料8上に集光走
査される。
EXAMPLES A laser irradiation apparatus of the present invention will be described below based on examples. FIG. 1 shows the principle of the device of the present invention. In FIG. 1, a laser beam 15 from a laser oscillator 1 is incident on a light quantity adjuster 2 and is then deflected by a laser beam deflecting unit 3 so that an image plane L is two-dimensionally scanned. Further, the laser beam 15 is split by the beam splitter (light splitting means) 4, and the laser beam transmitted through the beam splitter 4 enters the pupil 5 of the objective lens 6,
The objective lens 6 focuses and scans the sample 8 on the slide glass 7.

【0010】一方、ビームスプリッタ4で反射したレー
ザビームは、開口9を経て、光検出手段10で電気信号
に変換される。光検出手段10の出力信号は制御部11
に入力され、光検出手段10に入射する光量がレーザビ
ームの偏向走査中も一定となるように、制御部11によ
り光量調整器2のレーザビームの透過率が調整される。
但し、ここでは、光量調整器2と制御部11でレーザ光
量調整手段が構成される。
On the other hand, the laser beam reflected by the beam splitter 4 passes through the opening 9 and is converted into an electric signal by the photo-detecting means 10. The output signal of the light detection means 10 is the control unit 11
The light transmittance of the laser beam of the light amount adjuster 2 is adjusted by the control unit 11 so that the light amount that is input to the light detection unit 10 is constant during the deflection scanning of the laser beam.
However, here, the light amount adjuster 2 and the control unit 11 constitute a laser light amount adjusting means.

【0011】ここで、開口9は、対物レンズ6の瞳5と
等価な位置、即ち対物レンズ6の瞳5に入射するレーザ
ビームの瞳5の面上の強度分布が、開口9の面上の強度
分布と絶対強度を除いて同じ形状となる位置に配置され
ているため、試料8上を照射するレーザスポットの強度
も走査中一定となる。上記構成で、光源であるレーザ発
振器1としては、He−Neレーザ、Arレーザ等のガ
スレーザ、Ne−YAGレーザのような固体レーザ、或
いは色素レーザ、レーザダイオード等を適用できる。光
源として半導体レーザを用いた場合は、直接変調が可能
となり、専用の光量調整器2が不要となるので、装置の
構成が簡略となる。光量調整器2としては、音響光度調
素子(AOM)、電気光学変調素子(EOM)、液晶を
利用した光変調素子等を適用できる。レーザビーム偏向
部3としては、AOD、ポリゴンミラー、ガルバノ式ミ
ラー、ホログラフィック素子、レゾナント式ミラー等を
適用できる。
Here, the opening 9 has a position equivalent to the pupil 5 of the objective lens 6, that is, the intensity distribution on the surface of the pupil 5 of the laser beam incident on the pupil 5 of the objective lens 6 is on the surface of the opening 9. Since they are arranged at the positions having the same shape except the intensity distribution and the absolute intensity, the intensity of the laser spot irradiating the sample 8 is constant during the scanning. In the above configuration, as the laser oscillator 1 serving as a light source, a gas laser such as a He-Ne laser or an Ar laser, a solid-state laser such as a Ne-YAG laser, a dye laser, a laser diode or the like can be applied. When a semiconductor laser is used as the light source, direct modulation is possible, and the dedicated light quantity adjuster 2 is not needed, so the configuration of the device is simplified. As the light quantity adjuster 2, an acousto-optic adjusting element (AOM), an electro-optical modulating element (EOM), an optical modulating element using liquid crystal, or the like can be applied. As the laser beam deflection unit 3, an AOD, a polygon mirror, a galvano mirror, a holographic element, a resonant mirror, or the like can be applied.

【0012】又、ビームスプリッタ4、即ち光分割手段
としては、プレートビームスプリッタ、キュービックプ
リズム式ビームスプリッタ、ペリクル等を適用できる。
光検出手段10としては、シリコンフォトダイオード、
アバランチフォトダイオード等の半導体光検出素子が安
価で望ましい。更に、図1においては、開口9の大きさ
は特に限定していないが、対物レンズ6の瞳5に入射す
るレーザビームの径が瞳5の大きさより大きい場合は、
開口9の大きさは対物レンズ6の瞳5の大きさと等価で
あることが望ましい。又、開口9と光検出手段10の検
出面とは、密着又はできるだけ接近していることが望ま
しい。
Further, a plate beam splitter, a cubic prism type beam splitter, a pellicle or the like can be applied as the beam splitter 4, that is, the light splitting means.
As the light detection means 10, a silicon photodiode,
A semiconductor photodetector element such as an avalanche photodiode is inexpensive and desirable. Further, although the size of the aperture 9 is not particularly limited in FIG. 1, when the diameter of the laser beam incident on the pupil 5 of the objective lens 6 is larger than the size of the pupil 5,
The size of the opening 9 is preferably equivalent to the size of the pupil 5 of the objective lens 6. Further, it is desirable that the opening 9 and the detection surface of the light detection means 10 are in close contact or as close as possible.

【0013】次に、図2を参照してより具体的な実施例
を説明する。但し、この実施例では、試料として蛍光染
色した細胞を用いる。図2において、レーザ発振器(こ
の実施例では空冷Arレーザ)20からのレーザビーム
47は、光量調整器としての音響光度調素子22を経
て、ビームエキスパンダー23に入射し、ビーム径が適
正な寸法に拡大される。更に、レーザビーム47は、シ
リンドリカルレンズ24、音響光偏向素子25、補正シ
リンドリカルレンズ26、シリンドリカルレンズ27、
及び球面レンズ28より構成される一次元偏向光学系に
より、図2の矢印m方向に集光且つ一次元走査される。
続いて、レーザビーム47は、波長選択ミラー29、リ
レーレンズ30を透過し、ガルバノ式偏向用ミラー31
に入射する。
Next, a more specific embodiment will be described with reference to FIG. However, in this example, fluorescently stained cells are used as the sample. In FIG. 2, a laser beam 47 from a laser oscillator (an air-cooled Ar laser in this embodiment) 20 is incident on a beam expander 23 via an acousto-optic adjusting element 22 as a light quantity adjuster, and the beam diameter becomes an appropriate size. Expanded. Further, the laser beam 47 includes a cylindrical lens 24, an acoustic light deflecting element 25, a correction cylindrical lens 26, a cylindrical lens 27,
A one-dimensional deflection optical system composed of a spherical lens 28 and a spherical lens 28 condenses and one-dimensionally scans in the direction of arrow m in FIG.
Subsequently, the laser beam 47 passes through the wavelength selection mirror 29 and the relay lens 30, and the galvano deflection mirror 31.
Incident on.

【0014】偏向用ミラー31はガルバノメータ32に
連結されており、ガルバノメータ32の駆動により矢印
pの方向に回転可能である。偏向用ミラー31で偏向走
査されたレーザビームは、リレーレンズ33で結像面L
上に結像された後、ビームスプリッタ(この実施例では
プリズムビームスプリッタ)34に入射する。この実施
例では、ビームスプリッタ34は、これに入射するレー
ザビームの80%を透過するものである。ビームスプリ
ッタ34を透過したレーザビームの成分は、対物レンズ
36の瞳35に入射し、対物レンズ36でスライドグラ
ス37上の試料38上に集光走査される。
The deflecting mirror 31 is connected to the galvanometer 32 and can be rotated in the direction of arrow p by driving the galvanometer 32. The laser beam deflected and scanned by the deflecting mirror 31 is imaged on the image plane L by the relay lens 33.
After being focused on the image, it is incident on a beam splitter (a prism beam splitter in this embodiment) 34. In this embodiment, the beam splitter 34 transmits 80% of the laser beam incident on it. The component of the laser beam that has passed through the beam splitter 34 enters the pupil 35 of the objective lens 36, and is focused and scanned by the objective lens 36 onto the sample 38 on the slide glass 37.

【0015】一方、ビームスプリッタ34で反射された
レーザビームは、開口39を経て、光減衰用フィルタ4
0で光量が減衰された後、光検出手段(この実施例では
シリコンフォトダイオード)41に入射し、電気信号に
変換される。シリコンフォトダイオード41の出力電気
信号は制御部42に入力される。この制御部42によ
り、音響光度調素子22のレーザビーム透過率が調節さ
れ、シリコンフォトダイオード41に入射する光量、即
ち試料38上に集光されるレーザスポットの強度が走査
中一定となるように制御される。この実施例では、レー
ザスポットは試料38を二次元走査している。
On the other hand, the laser beam reflected by the beam splitter 34 passes through the opening 39 and is then passed through the optical attenuation filter 4.
After the amount of light is attenuated by 0, the light is incident on the light detecting means (a silicon photodiode in this embodiment) 41 and converted into an electric signal. The output electric signal of the silicon photodiode 41 is input to the control unit 42. The control unit 42 adjusts the laser beam transmittance of the acousto-optic adjusting element 22 so that the amount of light incident on the silicon photodiode 41, that is, the intensity of the laser spot focused on the sample 38 becomes constant during scanning. Controlled. In this embodiment, the laser spot scans the sample 38 two-dimensionally.

【0016】試料38の発する蛍光は対物レンズ36で
集光され、ビームスプリッタ34を透過した成分は、結
像面Lで結像した後、偏向用ミラー31で反射され、波
長選択ミラー29で蛍光成分が選択透過され、透過され
た蛍光成分が蛍光検出器43で電気信号に変換される。
この実施例では、蛍光成分は蛍光検出器43上を図2の
矢印n方向に一次元走査される。
The fluorescence emitted from the sample 38 is condensed by the objective lens 36, and the component transmitted through the beam splitter 34 forms an image on the image plane L, is reflected by the deflecting mirror 31, and is emitted by the wavelength selection mirror 29. The components are selectively transmitted, and the transmitted fluorescence component is converted into an electric signal by the fluorescence detector 43.
In this embodiment, the fluorescence component is one-dimensionally scanned on the fluorescence detector 43 in the direction of arrow n in FIG.

【0017】蛍光検出器43からの出力電気信号は、デ
ータ処理装置(図示せず)のメモリにレーザスポットの
走査位置に対応して記憶され、データ処理後にCRT等
に蛍光画像として表示される。図2に示す構成におい
て、対物レンズ36の瞳35とガルバノ式偏向用ミラー
31は、リレーレンズ33について互いに共役な位置に
あり、また偏向用ミラー31と音響光偏向素子25も、
コリメートレンズ28,30について互いに共役な位置
にある。従って、音響光偏向素子25、ガルバノ式偏向
用ミラー31、対物レンズ36の瞳35を通るレーザビ
ームの位置は、レーザビームを走査しても不動である。
The output electric signal from the fluorescence detector 43 is stored in a memory of a data processing device (not shown) in correspondence with the scanning position of the laser spot, and after data processing is displayed as a fluorescence image on a CRT or the like. In the configuration shown in FIG. 2, the pupil 35 of the objective lens 36 and the galvano-deflecting mirror 31 are at positions conjugate with each other with respect to the relay lens 33, and the deflecting mirror 31 and the acoustic light deflecting element 25 are also
The collimating lenses 28 and 30 are at positions conjugate with each other. Therefore, the position of the laser beam passing through the acoustic light deflecting element 25, the galvano-deflecting mirror 31, and the pupil 35 of the objective lens 36 does not move even if the laser beam is scanned.

【0018】又、この実施例では、対物レンズ36で集
光した蛍光のうち、ビームスプリッタ34で反射した成
分は、試料38から反射したレーザビームをカットする
フィルタ44を透過し、接眼レンズ45に入射して、肉
眼で蛍光像を観察するのに供されている。勿論、蛍光像
は肉眼ではなく、TVカメラ等で観察してもよいし、ビ
ームスプリッタ34は波長選択性を有していても差し支
えない。
Further, in this embodiment, of the fluorescence collected by the objective lens 36, the component reflected by the beam splitter 34 is transmitted through the filter 44 for cutting the laser beam reflected from the sample 38 and is passed to the eyepiece lens 45. It is used for observing a fluorescent image with the naked eye after incidence. Of course, the fluorescence image may be observed with a TV camera or the like instead of the naked eye, and the beam splitter 34 may have wavelength selectivity.

【0019】なお、上記実施例では、蛍光信号は蛍光検
出器43上を一次元走査されるが、蛍光検出器43の検
出面上に、一次元走査する蛍光信号のみを通過させるス
リットを設置して、一次元共焦点レーザ顕微鏡の構成と
する場合は、より高分解能の蛍光画像を得ることができ
る。
In the above embodiment, the fluorescence signal is one-dimensionally scanned on the fluorescence detector 43. However, the detection surface of the fluorescence detector 43 is provided with a slit for passing only the one-dimensionally scanned fluorescence signal. Thus, when a one-dimensional confocal laser scanning microscope is used, a higher resolution fluorescence image can be obtained.

【0020】[0020]

【発明の効果】本発明のレーザ照射装置は、以上説明し
たように光分割手段、光検出手段及びレーザ光量調整手
段を備えるため、下記の効果を有する。 (1)試料に照射するレーザスポット強度が走査位置に
よらず一定となるため、蛍光染色した試料を観測する場
合、試料本来の強度分布の蛍光画像を得ることができ
る。 (2)試料の観察面上を等しいレーザスポット強度で走
査するため、試料の蛍光画像は試料本来の蛍光強度を正
確に反映している。従って、レーザ照射の不均一さを補
正するための標準サンプルの測定と蛍光画像取得後の補
正が不要になり、最終画像を得るまでの時間が短縮され
る。 (3)特に細胞の蛍光像から個々の細胞に含まれるDN
A量を求める等の試料の蛍光量を測定する場合は、精度
の高い測定結果を得ることができる。 (4)蛍光色素がレーザ励起強度に依存して退色した
り、蛍光強度がレーザ励起に対し飽和を示したりする場
合でも、レーザ照射強度が走査範囲内で一定であるの
で、試料の蛍光物質の分布を正確に反映した画像を得る
ことができる。
Since the laser irradiation apparatus of the present invention includes the light splitting means, the light detecting means, and the laser light amount adjusting means as described above, it has the following effects. (1) Since the intensity of the laser spot applied to the sample is constant irrespective of the scanning position, when observing the fluorescently stained sample, a fluorescent image of the original intensity distribution of the sample can be obtained. (2) Since the observation surface of the sample is scanned with the same laser spot intensity, the fluorescence image of the sample accurately reflects the original fluorescence intensity of the sample. Therefore, the measurement of the standard sample for correcting the non-uniformity of laser irradiation and the correction after the fluorescence image acquisition are not necessary, and the time to obtain the final image is shortened. (3) DN contained in individual cells based on the fluorescence image of the cells
When measuring the fluorescence amount of the sample such as obtaining the A amount, a highly accurate measurement result can be obtained. (4) Even when the fluorescent dye is discolored depending on the laser excitation intensity or the fluorescence intensity is saturated with respect to the laser excitation, the laser irradiation intensity is constant within the scanning range. An image that accurately reflects the distribution can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のレーザ照射装置の原理を説明するため
の図である。
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of a laser irradiation apparatus of the present invention.

【図2】一実施例に係るレーザ照射装置の構成図であ
る。
FIG. 2 is a configuration diagram of a laser irradiation apparatus according to an embodiment.

【図3】従来例に係るレーザ照射装置の構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of a laser irradiation apparatus according to a conventional example.

【図4】従来のレーザ照射装置における試料上の走査レ
ーザスポットの強度分布を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an intensity distribution of a scanning laser spot on a sample in a conventional laser irradiation device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ発振器 2 光量調整器 3 レーザビーム偏向部 4 ビームスプリッタ(光分割手段) 5 対物レンズの瞳 6 対物レンズ 8 試料 9 開口 10 光検出手段 11 制御部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 laser oscillator 2 light quantity adjuster 3 laser beam deflector 4 beam splitter (light splitting means) 5 pupil of objective lens 6 objective lens 8 sample 9 aperture 10 light detecting means 11 control section

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光源であるレーザ発振器と、このレーザ発
振器からのレーザを走査するレーザビーム偏向部と、走
査レーザビームを試料に集光照射する対物レンズとを備
えたレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置において、 前記対物レンズに入射するレーザビームの一部を取り出
す光分割手段と、この光分割手段によって取り出された
レーザビームの強度をモニタするための光検出手段と、
この光検出手段によるモニタ結果に基づいて前記対物レ
ンズに入射するレーザビームの強度を調整するレーザ光
量調整手段とを備えることを特徴とするレーザ走査顕微
鏡のレーザ照射装置。
1. A laser irradiation apparatus for a laser scanning microscope, comprising a laser oscillator as a light source, a laser beam deflector for scanning a laser from the laser oscillator, and an objective lens for converging and irradiating a sample with a scanning laser beam. In, a light splitting means for extracting a part of the laser beam incident on the objective lens, and a light detecting means for monitoring the intensity of the laser beam extracted by the light splitting means,
A laser irradiation device for a laser scanning microscope, comprising: a laser light amount adjusting means for adjusting the intensity of a laser beam incident on the objective lens based on a monitoring result by the light detecting means.
【請求項2】前記光分割手段は、前記レーザビーム偏向
部と対物レンズの瞳との間に配置されていることを特徴
とする請求項1記載のレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装
置。
2. The laser irradiation apparatus for a laser scanning microscope according to claim 1, wherein the light splitting means is arranged between the laser beam deflector and the pupil of the objective lens.
【請求項3】前記対物レンズの瞳と等価な位置に開口を
備え、この開口は前記光分割手段と光検出手段との間に
配置されていることを特徴とする請求項1又は請求項2
記載のレーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置。
3. The method according to claim 1, wherein an opening is provided at a position equivalent to a pupil of the objective lens, and the opening is arranged between the light splitting means and the light detecting means.
A laser irradiation device of the laser scanning microscope described.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000029876A3 (en) * 1998-11-16 2001-01-04 Leica Microsystems Method for operating a preferably confocal laser scanning microscope
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