JPH07110299A - Glow discharge emission spectral analyzer - Google Patents

Glow discharge emission spectral analyzer

Info

Publication number
JPH07110299A
JPH07110299A JP5277759A JP27775993A JPH07110299A JP H07110299 A JPH07110299 A JP H07110299A JP 5277759 A JP5277759 A JP 5277759A JP 27775993 A JP27775993 A JP 27775993A JP H07110299 A JPH07110299 A JP H07110299A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
block
glow discharge
sample
anode
cathode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5277759A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2723455B2 (en
Inventor
Noboru Yamashita
昇 山下
Hisamasa Kono
久征 河野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rigaku Corp
Original Assignee
Rigaku Industrial Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rigaku Industrial Corp filed Critical Rigaku Industrial Corp
Priority to JP5277759A priority Critical patent/JP2723455B2/en
Publication of JPH07110299A publication Critical patent/JPH07110299A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2723455B2 publication Critical patent/JP2723455B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a glow discharge emission spectral analyzer whose discharge efficiency does not decrease even if a high-frequency power is supplied. CONSTITUTION:An electrically insulated support block 7 consisting of polyimide resin is allowed to contact one end face of an anode block 3 and a sample 5 consisting of a cathode block 2 with cooling means 2a and 2b is pressed to one end face of the support block 7. A voltage is applied between the sample 5 and the anode block 3 via the cathode block 2 and a feeder means 10 for performing glow discharge is provided. Since the support block 7 which has an electrical insulation property and can be formed thickly is included between the anode block 3 and the cathode block 2, the distance between anodes increases, the capacitance can be suppressed to a small level, and a high discharge efficiency can be maintained.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、試料をスパッタリン
グしながら、発生した光を分析するグロー放電発光分光
分析装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a glow discharge optical emission spectrometer for analyzing generated light while sputtering a sample.

【0002】[0002]

【従来の技術】気体圧力が4〜10Torr程度のアルゴン
(Ar)雰囲気中で、二つの電極間に直流高電圧を印加
すると、グロー放電が起こり、Arイオンが生成され
る。生成したArイオンは高電界で加速され、陰極表面
に衝突し、そこに存在する物質をたたき出す。この現象
をスパッタリングと呼ぶが、スパッタされた粒子(原
子、分子、イオン)はプラズマ中で励起され、基底状態
に戻る際にその元素に固有の波長の光を放出する。この
発光を分光器で分光して元素を同定する分析法が、グロ
ー放電発光分光分析方法と呼ばれている。
2. Description of the Related Art When a DC high voltage is applied between two electrodes in an argon (Ar) atmosphere having a gas pressure of about 4 to 10 Torr, glow discharge occurs and Ar ions are generated. The generated Ar ions are accelerated by a high electric field, collide with the cathode surface, and knock out the substances present therein. This phenomenon is called sputtering. Sputtered particles (atoms, molecules, ions) are excited in plasma and emit light of a wavelength peculiar to the element when returning to the ground state. An analysis method of spectrally analyzing the emitted light with a spectroscope to identify an element is called a glow discharge emission spectral analysis method.

【0003】上述のグロー放電発光分光分析方法を具現
化した分析装置におけるグロー放電管として、図4に示
すような中空陽極型のグリムグロー放電管1が一般的に
用いられている。このグリムグロー放電管1は、陰極ブ
ロック2と陽極ブロック3とが、絶縁物であるテフロン
ワッシャ4を介して接合されている。陽極ブロック3
は、アルゴンガス供給孔3aと、第1および第2真空排
気孔3b,3cとを有しており、管内Vがアルゴンの希
ガス雰囲気(4〜10Torr)とされている。陽極ブロッ
ク3には、中空陽極管3dが一体形成されており、この
陽極管3dは、テフロンワッシャ4を貫通して、試料5
の表面5aに近接している。この試料5は、Oリング6
を介し陰極ブロック2に気密状態で押し付けられてい
る。
A hollow anode type grim glow discharge tube 1 as shown in FIG. 4 is generally used as a glow discharge tube in an analyzer that embodies the glow discharge emission spectral analysis method described above. In this grim glow discharge tube 1, a cathode block 2 and an anode block 3 are joined via a Teflon washer 4 which is an insulator. Anode block 3
Has an argon gas supply hole 3a and first and second vacuum exhaust holes 3b and 3c, and the inside V of the tube is a rare gas atmosphere of argon (4 to 10 Torr). A hollow anode tube 3d is formed integrally with the anode block 3, and the anode tube 3d penetrates the Teflon washer 4 to form a sample 5
Is close to the surface 5a. This sample 5 is an O-ring 6
It is pressed against the cathode block 2 in an airtight manner via.

【0004】上記グリムグロー放電管1は、陽極ブロッ
ク3と陰極ブロック2との間に直流高電圧を印加してグ
ロー放電を発生させるとともに、一般に銅からなる陰極
ブロック2を通じ試料5に負電圧を印加し、グロー放電
の発生により生成されるアルゴンの陽イオンを試料5の
表面に衝突させて、試料5をスパッタリングするもので
ある。また、冷却液Kを、陰極ブロック2の冷却液導入
路2aからジャケット2b内に導入して冷却液排出路2
cまで送給して、陰極ブロック2および陰極ブロック2
を介し試料5と中空陽極管3dを冷却している。
The Grim glow discharge tube 1 applies a high DC voltage between the anode block 3 and the cathode block 2 to generate glow discharge, and at the same time applies a negative voltage to the sample 5 through the cathode block 2 which is generally made of copper. The sample 5 is applied to cause argon cations generated by the generation of glow discharge to collide with the surface of the sample 5 to sputter the sample 5. In addition, the cooling liquid K is introduced into the jacket 2b from the cooling liquid introduction passage 2a of the cathode block 2 and the cooling liquid discharge passage 2
Feeding to c, cathode block 2 and cathode block 2
The sample 5 and the hollow anode tube 3d are cooled via the.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来では、陽極ブロッ
ク3と陰極ブロック2との間に直流高電圧を印加して導
電性の試料5の分析を行っていたが、近年、高周波電力
を利用して絶縁性試料を分析する方法が確立されつつあ
る。しかしながら、高周波電力を上記構造のグロー放電
管1の陽極ブロック3と陰極ブロック2との間に供給し
た場合、以下のような問題が生じる。
Conventionally, a high DC voltage was applied between the anode block 3 and the cathode block 2 to analyze the conductive sample 5, but in recent years, high frequency power has been utilized. A method for analyzing insulating samples is being established. However, when high frequency power is supplied between the anode block 3 and the cathode block 2 of the glow discharge tube 1 having the above structure, the following problems occur.

【0006】陽極ブロック3と陰極ブロック2との間の
静電容量Cは、互いに向かい合う対向電極部の面積を
S、電極間の距離をd、電極間の誘電率をεとした場
合、C=εS/dの式で求められる。ところが、上記グ
ロー放電管1では、陽極ブロック3と陰極ブロック2と
の対向面積、つまり対向電極の面積Sが大きく、また、
テフロンワッシャ4が薄いことにより電極間の距離dが
小さい。したがって、上記式から明らかなように、静電
容量Cが大きくなり、テフロンワッシャ4を挟んだ陽極
ブロック3と陰極ブロック2とが、大容量のコンデンサ
として機能してしまい、高周波電力に対するテフロンワ
ッシャ4の電気絶縁性が著しく低下して、陽極ブロック
3と陰極ブロック2間に大きな電流が流れる。そのた
め、グロー放電に寄与する電力が減少して放電効率が低
下する問題がある。
The electrostatic capacitance C between the anode block 3 and the cathode block 2 is C = where S is the area of the opposing electrode portions facing each other, d is the distance between the electrodes, and ε is the dielectric constant between the electrodes. It is calculated by the formula εS / d. However, in the glow discharge tube 1, the facing area between the anode block 3 and the cathode block 2, that is, the area S of the facing electrode is large, and
Since the Teflon washer 4 is thin, the distance d between the electrodes is small. Therefore, as is apparent from the above formula, the electrostatic capacitance C becomes large, and the anode block 3 and the cathode block 2 sandwiching the Teflon washer 4 function as a large-capacity capacitor, and the Teflon washer 4 for high-frequency power is used. The electrical insulation property of is significantly reduced, and a large current flows between the anode block 3 and the cathode block 2. Therefore, there is a problem that the electric power that contributes to the glow discharge decreases and the discharge efficiency decreases.

【0007】そこで、この発明は、高周波電力を供給し
ても放電効率が低下しないグロー放電発光分光分析装置
を提供することを目的とするものである。
Therefore, an object of the present invention is to provide a glow discharge emission spectroscopic analyzer in which the discharge efficiency does not decrease even when high frequency power is supplied.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明に係るグロー放電発光分光分析装置は、陽
極ブロックと、この陽極ブロックの一端面に接触するポ
リイミド系樹脂からなる電気絶縁性の支持ブロックと、
この支持ブロックの一端面に接触する試料と、この試料
に接触する陰極ブロックと、この陰極ブロックを冷却す
る冷却手段と、上記陽極ブロックと試料との間に電圧を
印加してグロー放電を発生させる給電手段とを備えてい
る。
In order to achieve the above object, a glow discharge emission spectroscopic analyzer according to the present invention comprises an anode block and an electrical insulating property made of a polyimide resin in contact with one end surface of the anode block. Support block of
A sample is in contact with one end surface of the support block, a cathode block is in contact with the sample, a cooling means for cooling the cathode block, and a voltage is applied between the anode block and the sample to generate glow discharge. And a power feeding means.

【0009】[0009]

【作用】陰極ブロックを通じて試料と陽極ブロックとの
間に高周波電圧を供給してグロー放電を行わせる場合、
陽極ブロックに接合されている支持ブロックは電気絶縁
性のポリイミド樹脂で構成されて陰極として機能せず、
陽極ブロックと陰極ブロックとの間には、樹脂からなり
大きな厚みに形成できる支持ブロックが介在しているた
め、電極間距離を大きくできる。したがって、静電容量
が大きくなることはなく、高い放電効率を維持できる。
また、支持ブロックの素材であるポリイミド系樹脂は耐
熱性が高いため、グロー放電による温度上昇に伴う熱的
ダメージを受けることがない。一方、陰極ブロックは、
試料に対する電力供給と、試料の押し付け保持と、試料
の冷却との三つの機能を兼備している。
[Operation] When a high frequency voltage is supplied between the sample and the anode block through the cathode block to perform glow discharge,
The support block joined to the anode block is made of electrically insulating polyimide resin and does not function as a cathode.
Since the support block made of resin and having a large thickness is interposed between the anode block and the cathode block, the distance between the electrodes can be increased. Therefore, the electrostatic capacity does not increase, and high discharge efficiency can be maintained.
In addition, since the polyimide resin, which is the material of the support block, has high heat resistance, it is not thermally damaged due to temperature rise due to glow discharge. On the other hand, the cathode block is
It has three functions: power supply to the sample, holding and pressing the sample, and cooling the sample.

【0010】[0010]

【実施例】以下、この発明の好適な実施例について図面
を参照しながら説明する。図1は本発明のグロー放電発
光分光分析装置の一実施例におけるグロー放電管17を
示し、同図において図4と同一若しくは相当部分には同
一の符号を付してある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a glow discharge tube 17 in an embodiment of the glow discharge emission spectral analyzer of the present invention. In the figure, the same or corresponding parts as in FIG. 4 are designated by the same reference numerals.

【0011】既存のグロー放電管1において陰極ブロッ
ク2が設けられていたカソードの部分に、ポリイミド系
樹脂からなる電気絶縁性の支持ブロック7を設けてい
る。そして、銅製の陰極ブロック2は、絶縁物8を介し
て押さえ機構9により試料5の背面に押し付けられてい
る。この陰極ブロック2には、既存のものと同様に、冷
却Kを冷却液導入路2aからジャケット2bに導入して
冷却液排出路2cまで送給する冷却手段が設けられてい
る。また、陽極ブロック3と陰極ブロック2とに高周波
電源(給電手段)10が接続されている。
An electrically insulating support block 7 made of polyimide resin is provided at the cathode portion of the existing glow discharge tube 1 where the cathode block 2 was provided. The copper cathode block 2 is pressed against the back surface of the sample 5 by the pressing mechanism 9 via the insulator 8. This cathode block 2 is provided with a cooling means for introducing the cooling K from the cooling liquid introducing passage 2a to the jacket 2b and feeding it to the cooling liquid discharging passage 2c, as in the existing one. A high frequency power source (power feeding means) 10 is connected to the anode block 3 and the cathode block 2.

【0012】図2は本発明のグロー放電発光分光分析装
置の全体の概略構成を示し、同図および図1を参照しな
がら作用について説明する。陰極ブロック2を通じて試
料5と陽極ブロック3との間に、高周波電源10により
数百〜数千ボルトの高周波電圧を印加すると、グロー放
電を生じ、アルゴンの陽イオンが生成される。生成され
たArイオンは、陰極である試料5に衝突し、試料5の
表面5aから原子をたたき出す。たたき出されて剥離し
た原子は、Arイオンまたは電子により励起され、再び
基底状態に戻る際に元素特有の光Lを放出する。
FIG. 2 shows an overall schematic structure of the glow discharge emission spectral analyzer of the present invention, and the operation will be described with reference to FIG. 1 and FIG. When a high-frequency voltage of several hundred to several thousand volts is applied from the high-frequency power source 10 between the sample 5 and the anode block 3 through the cathode block 2, glow discharge is caused and argon cations are generated. The generated Ar ions collide with the sample 5, which is the cathode, and knock out atoms from the surface 5 a of the sample 5. The atoms that are knocked out and peeled off are excited by Ar ions or electrons, and emit light L unique to the element when returning to the ground state again.

【0013】こうして放出された光Lは、グロー放電管
17の窓板11を透過し、入射スリット12を通して、
分光器13の回折格子14に向かう。分光器13に入射
した光Lは、回折格子14で所定の波長の光が回折され
て波長ごとに分光され、出射スリット16を通して、光
電子増倍管15に入射し、その強度が測定される。試料
5の表面5aは、スパッタリングされ、その厚さが時間
とともに徐々に薄くなる。測定強度をスパッタリング時
間の経過とともに測定して、分析元素のスペクトルを
得、このスペクトルから、試料の厚さ方向に沿った元素
の分析を周知の方法で行う。
The light L thus emitted passes through the window plate 11 of the glow discharge tube 17, passes through the entrance slit 12, and
It goes to the diffraction grating 14 of the spectroscope 13. The light L that has entered the spectroscope 13 is diffracted into light having a predetermined wavelength by the diffraction grating 14, is separated into each wavelength, and enters the photomultiplier tube 15 through the exit slit 16, and the intensity thereof is measured. The surface 5a of the sample 5 is sputtered, and its thickness gradually decreases with time. The measured intensity is measured with the lapse of sputtering time to obtain a spectrum of the analysis element, and from this spectrum, the analysis of the element along the thickness direction of the sample is performed by a known method.

【0014】このように、陽極ブロック3と陰極ブロッ
ク2との間に、樹脂であって図1に示すように既存のテ
フロンワッシャ4に比し格段に大きな厚みに形成できる
支持ブロック7が介在しているので、電極間距離が大き
くなり、静電容量が大きくなることはなく、したがっ
て、高い放電効率を維持できる。
In this way, between the anode block 3 and the cathode block 2, the support block 7 which is made of resin and can be formed to have a remarkably large thickness as compared with the existing Teflon washer 4 is interposed as shown in FIG. Therefore, the distance between the electrodes does not increase and the electrostatic capacitance does not increase, so that high discharge efficiency can be maintained.

【0015】また、支持ブロック7の素材であるポリイ
ミド系樹脂は、使用可能温度が約300°であって樹脂
中で最も耐熱性が高いため、グロー放電による温度上昇
に伴う熱的ダメージを受けることがない。しかも、ポリ
イミド系樹脂は、機械加工性に優れているため、機械的
精度を容易に得られる利点もある。なお、絶縁性物質と
してはセラミックスが一般的に用いられているが、この
セラミックスは、誘電率が高く、割れが生じ易い欠点を
有しているため、この発明では、支持ブロック7の素材
としてポリイミド系樹脂を用いている。なお、図1のグ
ロー放電管17において、高周波電源10を直流電源と
取り替えても支障なく駆動するのは言うまでもない。
Further, since the polyimide resin, which is the material of the support block 7, has a usable temperature of about 300 ° and has the highest heat resistance among the resins, it is thermally damaged due to temperature rise due to glow discharge. There is no. Moreover, since the polyimide-based resin has excellent machinability, it has an advantage that mechanical accuracy can be easily obtained. Although ceramics are generally used as the insulating material, this ceramic has a defect that the dielectric constant is high and cracks easily occur. Therefore, in the present invention, polyimide is used as the material of the support block 7. A system resin is used. Needless to say, in the glow discharge tube 17 of FIG. 1, the high frequency power supply 10 can be driven without any problem even if the high frequency power supply 10 is replaced with a direct current power supply.

【0016】また、前記グロー放電管17における陰極
ブロック2は、試料5に対する電源供給と、試料5の押
し付け保持と、試料4の冷却との三つの機能を兼備して
いるから、部品点数の増加が極力抑制される。この陰極
ブロック2は銅を素材として形成されており、したがっ
て、導電性および熱伝導性の両方に優れている。
Further, since the cathode block 2 in the glow discharge tube 17 has three functions of supplying power to the sample 5, holding the sample 5 by pressing, and cooling the sample 4, the number of parts is increased. Is suppressed as much as possible. The cathode block 2 is formed of copper as a material, and therefore has excellent electrical conductivity and thermal conductivity.

【0017】次に、支持ブロック7は、図1に示すよう
に比較的大きな径に形成されているが、その目的につい
て、図3を参照しながら説明する。中空陽極管3dの先
端部面31および内周面32には、試料5がスパッタリ
ングされて削られたスパッタ粉が付着するので、このス
パッタ付着物を、本体18に回転切削刃19を装着した
自動クリーニング装置20で除去している。ところが、
自動クリーニング装置20の平面切削部19aを中空陽
極管3dの先端面31に直接接触させると、この先端面
31が削られてしまう。また、自動クリーニング装置2
0の本体18を支持ブロック7における試料5が押し付
けられる試料保持面7aに接触させると、この試料保持
面7aが損傷するおそれがある。
Next, the support block 7 is formed to have a relatively large diameter as shown in FIG. 1, and its purpose will be described with reference to FIG. Since the sputtered powder scraped by the sample 5 being sputtered adheres to the tip end surface 31 and the inner peripheral surface 32 of the hollow anode tube 3d, the spatter deposit is automatically attached to the main body 18 with the rotary cutting blade 19. It is removed by the cleaning device 20. However,
If the plane cutting portion 19a of the automatic cleaning device 20 is brought into direct contact with the tip surface 31 of the hollow anode tube 3d, the tip surface 31 will be scraped. In addition, the automatic cleaning device 2
When the main body 18 of 0 is brought into contact with the sample holding surface 7a of the support block 7 against which the sample 5 is pressed, the sample holding surface 7a may be damaged.

【0018】そこで、支持ブロック7を大径に形成し
て、試料保持面7aの径方向外方に接触面7bを設け、
他方、自動クリーニング装置20の平面切削部19aと
本体前面18aとの距離D1が、支持ブロック7の試料
保持面7aと中空陽極管3dとの距離Dに等しくなるよ
うに設定している。この状態で、自動クリーニング装置
20でスパッタ付着物を除去する場合、同図に仮想線で
示すように、本体前面18aが支持ブロック7の外側の
接触面7bに接触して平面切削部19aが中空陽極管3
dの先端面31よりも内方に入らないよう位置決めさ
れ、かつ、円柱状切削部18bが中空陽極管3dの中空
部に挿入されて、回転切削刃19の回転により、中空陽
極管3dの先端面31および内周面32のスパッタ付着
物が除去される。
Therefore, the support block 7 is formed to have a large diameter, and the contact surface 7b is provided radially outward of the sample holding surface 7a.
On the other hand, the distance D1 between the plane cutting portion 19a of the automatic cleaning device 20 and the front surface 18a of the main body is set to be equal to the distance D between the sample holding surface 7a of the support block 7 and the hollow anode tube 3d. In this state, when the sputter deposit is removed by the automatic cleaning device 20, the front surface 18a of the main body comes into contact with the contact surface 7b on the outer side of the support block 7 and the flat cutting portion 19a is hollow, as shown by a phantom line in FIG. Anode tube 3
It is positioned so that it does not go inward from the tip surface 31 of d, the cylindrical cutting portion 18b is inserted into the hollow portion of the hollow anode tube 3d, and the tip of the hollow anode tube 3d is rotated by the rotation of the rotary cutting blade 19. Sputter deposits on the surface 31 and the inner peripheral surface 32 are removed.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上のように、この発明に係るグロー放
電発光分光分析装置によれば、陽極ブロックと陰極ブロ
ックとの間に、樹脂であって大きな厚みに形成できる支
持ブロックが介在しているため、電極間距離が大きくな
る。したがって、陽極ブロックと陰極ブロック間の静電
容量が大きくなることはなくなり、高い放電効率を維持
できる。また、支持ブロックの素材であるポリイミド系
樹脂は耐熱性が高いため、グロー放電による温度上昇に
伴う熱的ダメージを受けることがない。さらに、陰極ブ
ロックは、試料に対する電力供給と、試料の押し付け保
持と、試料の冷却との三つの機能を兼備できる。
As described above, according to the glow discharge emission spectroscopy analyzer of the present invention, the support block, which is made of resin and can be formed with a large thickness, is interposed between the anode block and the cathode block. Therefore, the distance between the electrodes becomes large. Therefore, the capacitance between the anode block and the cathode block does not increase, and high discharge efficiency can be maintained. In addition, since the polyimide resin, which is the material of the support block, has high heat resistance, it is not thermally damaged due to temperature rise due to glow discharge. Further, the cathode block can have the three functions of supplying power to the sample, holding the sample by pressing, and cooling the sample.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例に係るグロー放電発光分光
分析装置のグリムグロー放電管を示す縦断面図である。
FIG. 1 is a vertical cross-sectional view showing a grim glow discharge tube of a glow discharge emission spectral analyzer according to an embodiment of the present invention.

【図2】同グロー放電発光分光分析装置の概略構成図で
ある。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of the same glow discharge emission spectral analyzer.

【図3】同実施例におけるスパッタ付着物を除去する状
態を示す縦断面図である。
FIG. 3 is a vertical cross-sectional view showing a state where sputter deposits are removed in the example.

【図4】従来装置におけるグリムグロー放電管を示す断
面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a Grim glow discharge tube in a conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…陰極ブロック、2a…冷却液導入路(冷却手段)、
2b…ジャケット(冷却手段)、3…陽極ブロック、5
…試料、7…支持ブロック、10…高周波電源(給電手
段)。
2 ... Cathode block, 2a ... Coolant introducing passage (cooling means),
2b ... Jacket (cooling means), 3 ... Anode block, 5
... sample, 7 ... support block, 10 ... high frequency power source (power supply means).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 陽極ブロックと、 この陽極ブロックの一端面に接触するポリイミド系樹脂
からなる電気絶縁性の支持ブロックと、 この支持ブロックの一端面に接触する試料と、 この試料に接触する陰極ブロックと、 この陰極ブロックを冷却する冷却手段と、 上記陽極ブロックと試料との間に電圧を印加してグロー
放電を発生させる給電手段とを備えてなるグロー放電発
光分光分析装置。
1. An anode block, an electrically insulating support block made of a polyimide resin that contacts one end surface of this anode block, a sample that contacts one end surface of this support block, and a cathode block that contacts this sample. A glow discharge emission spectroscopy analyzer comprising: a cooling unit for cooling the cathode block; and a power supply unit for applying a voltage between the anode block and the sample to generate glow discharge.
JP5277759A 1993-10-08 1993-10-08 Glow discharge emission spectrometer Expired - Fee Related JP2723455B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5277759A JP2723455B2 (en) 1993-10-08 1993-10-08 Glow discharge emission spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5277759A JP2723455B2 (en) 1993-10-08 1993-10-08 Glow discharge emission spectrometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07110299A true JPH07110299A (en) 1995-04-25
JP2723455B2 JP2723455B2 (en) 1998-03-09

Family

ID=17587943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5277759A Expired - Fee Related JP2723455B2 (en) 1993-10-08 1993-10-08 Glow discharge emission spectrometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2723455B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100453293B1 (en) * 2001-12-28 2004-10-15 에이치아이티 주식회사 Glow discharge cell with hollow cathode ray tube of spectrometry analyzing system
JP2016027327A (en) * 2014-06-27 2016-02-18 株式会社堀場製作所 Glow discharge emission analysis device, sample holder and glow discharge generation method

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2483289B (en) * 2010-09-03 2012-10-17 Thermo Fisher Scient Ecublens Sarl Improved spark chamber for optical emission analysis

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4921680A (en) * 1972-06-23 1974-02-26
JPS50128584A (en) * 1974-03-29 1975-10-09
JPS6237871A (en) * 1985-08-10 1987-02-18 Sanyo Electric Co Ltd Non-acqueous electrolyte cell
JPH0434454A (en) * 1990-05-30 1992-02-05 Mita Ind Co Ltd Image forming device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4921680A (en) * 1972-06-23 1974-02-26
JPS50128584A (en) * 1974-03-29 1975-10-09
JPS6237871A (en) * 1985-08-10 1987-02-18 Sanyo Electric Co Ltd Non-acqueous electrolyte cell
JPH0434454A (en) * 1990-05-30 1992-02-05 Mita Ind Co Ltd Image forming device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100453293B1 (en) * 2001-12-28 2004-10-15 에이치아이티 주식회사 Glow discharge cell with hollow cathode ray tube of spectrometry analyzing system
JP2016027327A (en) * 2014-06-27 2016-02-18 株式会社堀場製作所 Glow discharge emission analysis device, sample holder and glow discharge generation method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2723455B2 (en) 1998-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3065362B2 (en) Glow discharge spectrometer, glow discharge spectral analysis method, and glow discharge power supply assembly
US6686998B2 (en) Method and apparatus for glow discharges with liquid microelectrodes
KennetháMarcus Inter-Laboratory note. Direct insertion probe for radiofrequency powered glow discharge mass spectrometry
Lazik et al. Electrical and optical characteristics of a radio frequency glow discharge atomic emission source with dielectric sample atomization
JPH10241625A (en) Plasma ion source mass spectrometer and method
EP0407030B1 (en) Method and apparatus for analysing solid samples
Saprykin et al. Characterization and optimization of a radiofrequency glow discharge ion source for a high resolution mass spectrometer
JP2723455B2 (en) Glow discharge emission spectrometer
WO1985004015A1 (en) Glow discharge tube for analysis
Pisonero et al. A radiofrequency glow-discharge-time-of-flight mass spectrometer for direct analysis of glasses
US6967334B2 (en) Ion source and ion beam device
Bengtson Developments in glow discharge optical emission spectrometry. Invited lecture
Su et al. Study of a pulsed glow discharge ion source for time-of-flight mass spectrometry
JPH07325035A (en) Glow discharge analyzer
US4367427A (en) Glow discharge lamp for qualitative and quantitative spectrum analysis
Absalan et al. Effect of discharge conditions on the sputtering and spatial distribution of atoms in a radiofrequency glow discharge atomizer for atomic absorption spectrometry
JP3603121B2 (en) Glow discharge tube support and glow discharge emission spectrometer using the same
JP2001091465A (en) Glow discharge emission spectral analysis method
JP3273102B2 (en) Glow discharge emission spectroscopy
JPH09329552A (en) Glow discharge emission spectral analyzer
Raghani et al. A miniature planar magnetron glow discharge source for analysis of submicroliter volume aqueous samples using atomic emission spectroscopy
JP3345188B2 (en) Glow discharge emission spectroscopy method and apparatus
US4250433A (en) Vacuo spark generator for the spectrographic analysis of samples
RU2487434C1 (en) Mass-spectral device for quick and direct analysis of samples
Lopez-Urrutia et al. Absolute transition probabilities of Cu II lines

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees