JPH07105663B2 - Amplifier - Google Patents

Amplifier

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JPH07105663B2
JPH07105663B2 JP2031841A JP3184190A JPH07105663B2 JP H07105663 B2 JPH07105663 B2 JP H07105663B2 JP 2031841 A JP2031841 A JP 2031841A JP 3184190 A JP3184190 A JP 3184190A JP H07105663 B2 JPH07105663 B2 JP H07105663B2
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佐藤  修
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旭光学工業株式会社
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  • Exposure Control For Cameras (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば一眼レフカメラの分割測光センサ等か
らの出力電圧を増幅する装置に関する。
The present invention relates to a device for amplifying an output voltage from, for example, a split photometric sensor of a single-lens reflex camera or the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、一眼レフカメラ等の受光センサとして分割測光セ
ンサを使用したものが多数見受けられるようになった。
この分割測光センサを用いる理由として、ファインダー
画面内を複数に分割して独立に測光することにより、各
ゾーンでの明るさを測光することができ、きめ細かな露
出制御が行なえるというメリットがある。このため最近
の分割測光センサの分割数は増加する傾向にある。しか
しながら分割数が増えると、センサに対応するアンプの
数、ひいては接続する配線ライン数も増加し、ノイズが
発生しやすくなること等の問題が発生する。そこで分割
測光センサ内部にアンプ回路、コントロール回路等を集
積したいわゆる分割測光ICが提案されている。このよう
な分割測光ICによれば、出力は電圧の形で取り出され、
反転増幅器により増幅された後、A/D変換されてマイク
ロコンピュータに入力されて処理されていた。
In recent years, a large number of single-lens reflex cameras and the like that use a split photometric sensor as a light-receiving sensor have been found.
The reason for using this split photometric sensor is that by dividing the viewfinder screen into a plurality of areas and independently performing photometry, the brightness in each zone can be measured, and fine exposure control can be performed. For this reason, the number of divisions of recent split photometric sensors tends to increase. However, if the number of divisions increases, the number of amplifiers corresponding to the sensor, and eventually the number of wiring lines to be connected, also increases, which causes a problem that noise easily occurs. Therefore, a so-called split photometric IC has been proposed in which an amplifier circuit, a control circuit, and the like are integrated inside the split photometric sensor. According to such a split photometric IC, the output is taken out in the form of voltage,
After being amplified by an inverting amplifier, it was A / D converted and input to a microcomputer for processing.

さて分割測光ICの出力電圧は、受光素子に接続される対
数圧縮用のダイオードの温度特性の影響を受ける。そこ
で従来、反転増幅器に接続される抵抗として、入力側に
正温度係数抵抗(ポジスタ)、帰還側に例えば金属皮膜
抵抗が設けられ、これにより反転増幅器の出力の温度係
数が0に定められている。
The output voltage of the split photometric IC is affected by the temperature characteristics of the logarithmic compression diode connected to the light receiving element. Therefore, conventionally, as the resistors connected to the inverting amplifier, a positive temperature coefficient resistor (positor) is provided on the input side and a metal film resistor, for example, is provided on the feedback side, whereby the temperature coefficient of the output of the inverting amplifier is set to zero. .

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

上述のように受光素子をIC内に組み込んだ構成におい
て、反転増幅器のゲインは、金属皮膜抵抗とポジスタの
抵抗値の比によって定まり、このゲインを調整する場
合、ポジスタが高価であるため、金属皮膜抵抗の抵抗値
を変化させざるを得ない。ところが、このように金属皮
膜抵抗の抵抗値を可変にするためには、多数の抵抗を設
ける必要がある。すなわち反転増幅器を構成するICの外
部に多数の要素を接続しなければならず、装置全体の構
成が複雑になるという問題があった。
In the configuration in which the light receiving element is incorporated in the IC as described above, the gain of the inverting amplifier is determined by the ratio of the resistance of the metal film resistance to the resistance value of the posistor, and when the gain is adjusted, the posistor is expensive. There is no choice but to change the resistance value of the resistor. However, in order to make the resistance value of the metal film resistance variable, it is necessary to provide a large number of resistances. That is, a large number of elements must be connected to the outside of the IC that constitutes the inverting amplifier, which causes a problem that the configuration of the entire device becomes complicated.

本発明は、簡単な構成を有し、温度補償を維持しつつA/
D変換器に合致したゲインを得ることができ、また、温
度測定器としても利用可能な増幅装置を提供することを
目的とする。
The present invention has a simple structure, and A /
It is an object of the present invention to provide an amplifying device which can obtain a gain matching a D converter and can also be used as a temperature measuring device.

〔問題を解決するための手段〕[Means for solving problems]

出力電圧が所定の温度特性を有する電圧発生回路と、所
定の基準電圧を出力する基準電圧発生源と、上記出力電
圧と基準電圧の差分を増幅するオペアンプと、このオペ
アンプの出力側に接続され、上記出力電圧とは逆の温度
特性を有する抵抗と、該オペアンプの入力側に接続さ
れ、抵抗値が可変であるゲイン設定手段と、上記オペア
ンプの正相入力端子と逆相入力端子と電圧発生回路と基
準電圧発生源とを相互に導通させて、上記オペアンプの
入力側に所定の大きさの抵抗を付与する手段とを備えた
ことを特徴としている。
A voltage generation circuit whose output voltage has a predetermined temperature characteristic, a reference voltage generation source which outputs a predetermined reference voltage, an operational amplifier which amplifies the difference between the output voltage and the reference voltage, and which is connected to the output side of this operational amplifier, A resistor having a temperature characteristic opposite to that of the output voltage, a gain setting means connected to the input side of the operational amplifier and having a variable resistance value, a positive-phase input terminal, a negative-phase input terminal of the operational amplifier, and a voltage generation circuit. And a reference voltage generating source are electrically connected to each other to provide a resistance of a predetermined magnitude on the input side of the operational amplifier.

〔実施例〕〔Example〕

以下図示実施例により本発明を説明する。 The present invention will be described below with reference to illustrated embodiments.

第2図は光学系の構成例を示し、撮影レンズ11の後方に
はミラー12が配設され、このミラー12の上方には、ピン
ト板13とペンタプリズム14が設けられる。撮影レンズ11
を通過した光は、ミラー12とペンタプリズム14によって
反射され、測光センサ15とアイピース16へ送られる。測
光センサ15の前には、ピント板13上の像を測光センサ15
の受光面上に結像するためのレンズ17が設けられる。
FIG. 2 shows an example of the configuration of an optical system. A mirror 12 is provided behind the taking lens 11, and a focusing plate 13 and a pentaprism 14 are provided above the mirror 12. Shooting lens 11
The light that has passed through is reflected by the mirror 12 and the pentaprism 14 and sent to the photometric sensor 15 and the eyepiece 16. In front of the photometric sensor 15, the image on the focus plate 13
A lens 17 for forming an image on the light receiving surface of is provided.

第3図はファインダにおける撮影画面21を示し、この撮
影画面21内には第1測光範囲22と第2の測光範囲23とが
形成される。本実施例において、第1の測光範囲22は長
方形を有し、第2の測光範囲23はこの長方形の中央に位
置し円形を呈する。測光センサ15内に設けられる受光素
子は、第4図に示すように、第1の測光範囲22に対応し
た第1の受光面24と、第2の測光範囲23に対応した第2
の受光面25とを有し、これらの受光面24、25は相互に分
離されている。すなわち、本実施例において受光素子は
2つに分割されており、測光センサ15は、いわゆる2分
割測光ICである。
FIG. 3 shows a photographing screen 21 in the finder, and in the photographing screen 21, a first photometric range 22 and a second photometric range 23 are formed. In the present embodiment, the first photometric range 22 has a rectangular shape, and the second photometric range 23 is located in the center of this rectangular shape and has a circular shape. As shown in FIG. 4, the light receiving element provided in the photometric sensor 15 includes a first light receiving surface 24 corresponding to the first photometric range 22 and a second light receiving surface 24 corresponding to the second photometric range 23.
And a light-receiving surface 25 of the light-receiving surface 24, and the light-receiving surfaces 24 and 25 are separated from each other. That is, in this embodiment, the light receiving element is divided into two, and the photometric sensor 15 is a so-called two-division photometric IC.

第1図は、測光センサ15内に設けられる測光回路30と、
増幅回路40の構成を示す。増幅回路40は、測光回路30と
同じ温度環境に設けられ、この測光回路30の出力電圧V
LOGを、温度補償しつつ増幅し図示しないA/D変換器へ出
力する。
FIG. 1 shows a photometric circuit 30 provided in the photometric sensor 15,
The structure of the amplifier circuit 40 is shown. The amplifier circuit 40 is provided in the same temperature environment as the photometric circuit 30, and the output voltage V
The LOG is amplified with temperature compensation and output to an A / D converter (not shown).

測光回路30において、オペアンプ31の各入力端子には受
光素子32が接続され、またこのオペアンプ31の入力およ
び出力端子にはダイオード33、34が接続される。すなわ
ち、これらのオペアンプ31とダイオード33、34は対数圧
縮回路を構成し、受光素子32の検出信号は対数圧縮され
た電圧V0として出力される。なお、ダイオード34は出力
電圧V0のクランプ用ダイオードである。一方オペアンプ
35の各入力端子には、オペアンプ31の出力端子と、定電
流源36とがそれぞれ接続され、またオペアンプ35の入力
および出力端子にはダイオード37が接続される。すなわ
ちこのオペアンプ35とダイオード37により、レベルシフ
ト回路が構成される。
In the photometric circuit 30, the light receiving element 32 is connected to each input terminal of the operational amplifier 31, and the diodes 33 and 34 are connected to the input and output terminals of the operational amplifier 31. That is, the operational amplifier 31 and the diodes 33 and 34 form a logarithmic compression circuit, and the detection signal of the light receiving element 32 is output as a logarithmically compressed voltage V 0 . The diode 34 is a diode for clamping the output voltage V 0 . On the other hand operational amplifier
The output terminal of the operational amplifier 31 and the constant current source 36 are connected to each input terminal of the amplifier 35, and the diode 37 is connected to the input and output terminals of the operational amplifier 35. That is, the operational amplifier 35 and the diode 37 form a level shift circuit.

本実施例において、測光センサ15は上述したように2分
割測光センサであり、オペアンプ31とダイオード33、34
からなる対数圧縮回路は各受光素子32毎に、すなわち2
個設けられる。これらの2個の対数圧縮回路は、図示し
ないCPUからのコントロール信号により制御されて選択
され、ひとつの対数圧縮回路出力が増幅回路40に接続さ
れる。なお、第1図において対数圧縮回路はひとつだけ
示されている。
In this embodiment, the photometric sensor 15 is a two-division photometric sensor as described above, and includes an operational amplifier 31 and diodes 33, 34.
The logarithmic compression circuit consisting of
Individually provided. These two logarithmic compression circuits are selected by being controlled by a control signal from a CPU (not shown), and one logarithmic compression circuit output is connected to the amplifier circuit 40. Note that only one logarithmic compression circuit is shown in FIG.

さて、オペアンプ31の正相入力端子に供給される基準電
圧をVS1、ダイオード33に作用する電圧をV33とすると、
オペアンプ31の出力電圧V0は、 である。ここで、Kはボルツマン定数、Tは絶対温度、
qは定数、IPはダイオード33における電流値、i0はダイ
オード33に流れる一定電流値、V(i0)はダイオードに
電流i0が流れた時の電圧値である。また、測光回路30か
ら出力される電圧VLOGは、ダイオード37に作用する電圧
をV37とすると、 であり、これに(1)式を代入すると、 となる。
Now, assuming that the reference voltage supplied to the positive-phase input terminal of the operational amplifier 31 is V S1 and the voltage acting on the diode 33 is V 33 ,
The output voltage V 0 of the operational amplifier 31 is Is. Where K is Boltzmann's constant, T is absolute temperature,
q is a constant, the current in I P the diode 33, i 0 is a constant value of current flowing through the diode 33, V (i 0) is the voltage value when the current i 0 flows through the diode. Further, the voltage V LOG output from the photometric circuit 30, a voltage acting on the diode 37 when the V 37, And substituting equation (1) into this, Becomes

すなわち測光回路30の出力電圧VLOGは、第5図に示すよ
うにVS1を基準として正の値をとり、受光素子32が検出
する光量が多くなる(IP大)ほどVS1に近づく。なお第
5図において、基準電圧VS1は2Vに定められている。
That is, the output voltage V LOG of the photometric circuit 30 takes a positive value with reference to V S1 as shown in FIG. 5, and the closer the light amount detected by the light receiving element 32 is (I P is large), the closer to V S1 . In FIG. 5, the reference voltage V S1 is set to 2V.

また(2)式から理解されるように、測光回路30からの
出力電圧VLOGは、温度変化の影響を受ける。この温度に
よる影響を除去するとともに、A/D変換器に合致したゲ
インによって出力電圧VLOGを増幅するため、この出力電
圧VLOGは増幅回路40に入力される。
Further, as understood from the equation (2), the output voltage V LOG from the photometric circuit 30 is affected by the temperature change. This output voltage V LOG is input to the amplifier circuit 40 in order to eliminate the influence of this temperature and to amplify the output voltage V LOG with a gain matched with the A / D converter.

増幅回路40においてオペアンプ41には、後述するよう
に、正温度特性抵抗と、アナログスイッチの開閉によっ
て抵抗値を変化させることのできるゲイン設定回路とが
接続され、このゲイン設定回路は複数の抵抗を有する。
なお、以下の説明において「抵抗」の語句の後の括弧内
に示される記号は、その抵抗の値を示す。
As will be described later, a positive temperature characteristic resistor and a gain setting circuit capable of changing the resistance value by opening and closing an analog switch are connected to the operational amplifier 41 in the amplifier circuit 40, and this gain setting circuit has a plurality of resistors. Have.
In the following description, the symbol shown in parentheses after the phrase "resistance" indicates the resistance value.

さて、オペアンプ41の正相入力端子は、2つの抵抗(R1
/2)を介して測光回路30に接続され、逆相入力端子は抵
抗(R1)を介して、基準電圧VS1を出力する電圧源に接
続される。またオペアンプ41の正相入力端子は、相互に
直列に接続された抵抗(R0、R、2R、4R、8R)に接続さ
れ、抵抗(8R)は後述するオペアンプ42の正相入力端子
と、基準電圧VREFを出力する電圧源とに接続される。同
様にオペアンプ41の逆相入力端子は、相互に直列に接続
された抵抗(R0、R、2R、4R、8R)に接続され、抵抗
(8R)はこのオペアンプ41の出力端子に接続される。正
相入力端子側の抵抗(R、2R、4R、8R)にはアナログス
イッチSW1〜SW4が接続され、逆相入力端子側の抵抗
(R、2R、4R、8R)にはアナログスイッチSW5〜SW8が接
続される。これらのアナログスイッチSW1〜SW8は、CPU
からのコントロール信号によってON−OFF制御され、こ
れにより抵抗(R、2R、4R、8R)の接続関係が制御され
てオペアンプ41すなわち増幅器のゲインが調整される。
Now, the positive-phase input terminal of the operational amplifier 41 has two resistors (R 1
/ 2) to the photometric circuit 30 and the negative-phase input terminal is connected to the voltage source that outputs the reference voltage V S1 via the resistor (R 1 ). The positive-phase input terminal of the operational amplifier 41 is connected to resistors (R 0 , R, 2R, 4R, 8R) connected in series with each other, and the resistor (8R) is connected to the positive-phase input terminal of the operational amplifier 42 described later. It is connected to a voltage source that outputs the reference voltage V REF . Similarly, the negative-phase input terminal of the operational amplifier 41 is connected to resistors (R 0 , R, 2R, 4R, 8R) connected in series with each other, and the resistor (8R) is connected to the output terminal of the operational amplifier 41. . Analog switches SW1 to SW4 are connected to the resistors (R, 2R, 4R, 8R) on the positive phase input terminal side, and analog switches SW5 to SW8 are connected to the resistors (R, 2R, 4R, 8R) on the negative phase input terminal side. Are connected. These analog switches SW1 to SW8 are CPU
ON / OFF control is performed by a control signal from, thereby controlling the connection relationship of the resistors (R, 2R, 4R, 8R) and adjusting the gain of the operational amplifier 41, that is, the amplifier.

オペアンプ41の出力端子には、正温度特性を有する抵抗
(R3)が接続され、この抵抗(R3)はオペアンプ42の逆
相入力端子に接続される。この抵抗(R3)により、オペ
アンプ41からの出力電圧に対して温度補正が施され、こ
の出力電圧の温度係数が0となる。
The output terminal of the operational amplifier 41, resistor having a positive temperature characteristic (R 3) is connected, the resistor (R 3) is connected to a negative-phase input terminal of the operational amplifier 42. With this resistor (R 3 ), temperature correction is performed on the output voltage from the operational amplifier 41, and the temperature coefficient of this output voltage becomes zero.

オペアンプ42の正相入力端子には、基準電圧VREFが供給
される。このオペアンプ42はトランジスタ43を介して図
示しないA/D変換器に接続され、またトランジスタ43とA
/D変換器との間には抵抗(R4)が接続される。このオペ
アンプ42とトランジスタ43と抵抗(R3、R4)からなる回
路により、オペアンプ41の出力電圧はレベルシフトされ
るとともに、所定のゲインで増幅される。
The reference voltage V REF is supplied to the positive-phase input terminal of the operational amplifier 42. This operational amplifier 42 is connected to an A / D converter (not shown) via a transistor 43, and the transistor 43 and A
A resistor (R 4 ) is connected to the / D converter. The output voltage of the operational amplifier 41 is level-shifted and amplified by a predetermined gain by a circuit including the operational amplifier 42, the transistor 43, and the resistors (R 3 , R 4 ).

以上の構成により増幅回路40は、測光回路30の出力電圧
を増幅するとともに温度補正を施すことができる。また
この増幅回路40は、このような増幅および温度補償機能
の他、温度測定器としての機能も有しており、次に、そ
のための構成について説明する。
With the above configuration, the amplifier circuit 40 can amplify the output voltage of the photometric circuit 30 and perform temperature correction. Further, the amplifier circuit 40 has a function as a temperature measuring device in addition to the amplifying and temperature compensating functions, and a configuration therefor will be described next.

すなわち、オペアンプ41の各入力端子に接続された抵抗
(R1/2)と抵抗(R1)との間はアナログスイッチSW9を
介して接続され、またオペアンプ41の正相入力端子と抵
抗(8R)との間はアナログスイッチSW10と抵抗(R5)を
介して接続される。これらのアナログスイッチSW9およ
びSW10は、増幅回路40が通常の増幅器として作用する場
合には非導通の状態にあるが、増幅回路40が温度測定器
として作用する場合には導通状態に定められる。このア
ナログスイッチSW9、SW10のON−OFF制御はCPUにより行
われる。
That is, while the resistor connected to the input terminal of the operational amplifier 41 and (R 1/2) and a resistor (R 1) is connected via the analog switch SW9, also the resistance to the positive phase input terminal of the operational amplifier 41 (8R ) Is connected via an analog switch SW10 and a resistor (R 5 ). These analog switches SW9 and SW10 are in a non-conducting state when the amplifying circuit 40 acts as a normal amplifier, but are set in a conducting state when the amplifying circuit 40 acts as a temperature measuring device. ON / OFF control of the analog switches SW9 and SW10 is performed by the CPU.

次に、増幅回路40が増幅器として作用する場合の動作に
ついて説明する。
Next, the operation when the amplifier circuit 40 acts as an amplifier will be described.

この場合、アナログスイッチSW9、SW10はそれぞれ開放
されており、またアナログスイッチSW1〜SW8のうちの所
定のものが閉成される。なお、アナログスイッチSW1とS
W5は常に同時に開放または閉成され、同様に、アナログ
スイッチSW2とSW6、SW3とSW7、SW4とSW8が、それぞれ対
になってON−OFF制御される。
In this case, the analog switches SW9 and SW10 are open, and a predetermined one of the analog switches SW1 to SW8 is closed. Note that the analog switches SW1 and S
W5 is always opened or closed at the same time, and similarly, the analog switches SW2 and SW6, SW3 and SW7, and SW4 and SW8 are ON-OFF controlled in pairs.

第6図は、増幅回路40が増幅器として作用する場合にお
ける等価回路を示したものである。この図において、抵
抗(R2)は、アナログスイッチSW1〜8のON−OFF制御に
よって定まる抵抗(R、2R、4R、8R)の合成抵抗値と、
抵抗(R0)との合計値である。まず、オペアンプ41の出
力電圧RT1を求める。
FIG. 6 shows an equivalent circuit when the amplifier circuit 40 acts as an amplifier. In this figure, a resistance (R 2 ) is a combined resistance value of resistances (R, 2R, 4R, 8R) determined by ON-OFF control of analog switches SW1 to SW8,
It is the sum of the resistance (R 0 ). First, the output voltage R T1 of the operational amplifier 41 is obtained.

VS1+(RT1−VS1)R1/(R1+R2) =VLOG+(VREF−VLOG)R1/(R1+R2) したがって、 RT1=VREF+(R2/R1)(VLOG−VS1) となる。これに、上記(2)式を代入すると、 したがって、増幅回路40の出力電圧ROUTは、 となる。V S1 + (R T1 -V S1 ) R 1 / (R 1 + R 2 ) = V LOG + (V REF -V LOG ) R 1 / (R 1 + R 2 ) Therefore, R T1 = V REF + (R 2 / R 1 ) (V LOG −V S1 ). Substituting equation (2) into this, Therefore, the output voltage R OUT of the amplifier circuit 40 is Becomes

ここでR1、R2はIC内の拡散抵抗であり、同一の温度係数
を有し、IP、ICCは同一の温度係数を有する。また抵抗
(R3)は正温度係数を有し、抵抗(R4)の温度係数は0
である。したがって、出力電圧ROUTの温度係数は、 となる。R1、R2が相互に同一の温度係数を有し、また
IP、ICCが相互に同一の温度係数を有することから、
(ΔR2/ΔR1)および(ΔICC/ΔIP)はそれぞれ定数で
ある。したがって、出力電圧ROUTの温度係数は、定数C
を用いて書くと となる。
Here, R 1 and R 2 are diffusion resistances in the IC and have the same temperature coefficient, and I P and I CC have the same temperature coefficient. The resistance (R 3 ) has a positive temperature coefficient, and the temperature coefficient of the resistance (R 4 ) is 0.
Is. Therefore, the temperature coefficient of the output voltage R OUT is Becomes R 1 and R 2 have the same temperature coefficient with each other, and
Since I P and I CC have the same temperature coefficient,
(ΔR 2 / ΔR 1 ) and (ΔI CC / ΔI P ) are constants. Therefore, the temperature coefficient of the output voltage R OUT is a constant C
When written using Becomes

したがって、R3とTの温度係数が等しいと、すなわち、
抵抗(R3)の温度係数が+3333ppm/℃(301/300に相当
する)であると、(ΔT/ΔR3)は一定となり、出力電圧
ROUTの温度係数は0となる。すなわち、抵抗(R3)とし
てこのような温度特性を有するものを選定することによ
り、増幅回路40の出力値は、温度の影響を受けなくな
る。
Therefore, if R 3 and T have the same temperature coefficient, that is,
If the temperature coefficient of resistance (R 3 ) is + 3333ppm / ° C (corresponding to 301/300), (ΔT / ΔR 3 ) becomes constant and the output voltage
The temperature coefficient of R OUT becomes zero. That is, by selecting the resistor (R 3 ) having such temperature characteristics, the output value of the amplifier circuit 40 is not affected by the temperature.

次に、増幅回路40のゲインについて説明する。Next, the gain of the amplifier circuit 40 will be described.

ここで、8ビットのA/D変換器を想定し、その分解能
が、 4000mV/255=15.686mV/step とすると、ゲインGとして、 G=15.686mV/(17.79/8)mV=7.053 が必要である。ただし、17.79mVは明るさが1Ev変化した
時のVLOGの出力電圧変化量であり、すなわち(17.79/
8)mVは1/8Ev値に対応する。本実施例では、前段のオペ
アンプ41において約2.35倍のゲインを、また後段のオペ
アンプ42において約3倍のゲインを持たせている。ただ
し、抵抗値の誤差、A/D変換における基準電圧のバラツ
キに基づく分解能のバラツキを考慮し、前段のオペアン
プ41のゲインは、アナログスイッチSW1〜SW8のON−OFF
制御によってプログラマブルに変更できるように構成さ
れている。すなわち、このオペアンプ41におけるゲイン
PGは、 PG=(225+2×Gain Code)/100(倍) であり、Gain CodeはCPUから入力され、0〜15の値をと
る。したがって、ゲイン幅としては PG=2.25〜2.55(倍) の間で、0.02倍(2/100)ずつの間隔で変化させること
ができる。
Here, assuming an 8-bit A / D converter and its resolution is 4000 mV / 255 = 15.686 mV / step, G = 15.686 mV / (17.79 / 8) mV = 7.053 is required as gain G. is there. However, 17.79mV is the output voltage change amount of V LOG when the brightness changes by 1 Ev, that is, (17.79 /
8) mV corresponds to 1/8 Ev value. In this embodiment, the operational amplifier 41 in the preceding stage has a gain of about 2.35 times, and the operational amplifier 42 in the subsequent stage has a gain of about 3 times. However, considering the error of resistance value and the variation of resolution based on the variation of reference voltage in A / D conversion, the gain of the operational amplifier 41 in the previous stage is set to ON-OFF of analog switches SW1 to SW8.
It is configured to be programmable and changeable by control. That is, the gain in this operational amplifier 41
PG is PG = (225 + 2 × Gain Code) / 100 (times), and Gain Code is input from CPU and takes a value of 0-15. Therefore, the gain range can be changed between PG = 2.25 and 2.55 (times) and at intervals of 0.02 times (2/100).

上述したように、増幅回路40は温度測定器としても利用
できる。第7図は、アナログスイッチSW9、SW10を閉成
した場合における増幅回路40、すなわち温度測定回路の
等価回路を示す。この場合抵抗(R2)の大きさは、アナ
ログスイッチSW1〜SW8のON−OFF制御によって定まる抵
抗(R、2R、4R、8R)の合成抵抗値と抵抗(R0)との合
計値であり、 R2=R0+{(R,2R,4R,8R)の合成抵抗値} となる。
As described above, the amplification circuit 40 can also be used as a temperature measuring device. FIG. 7 shows an equivalent circuit of the amplifier circuit 40, that is, the temperature measuring circuit when the analog switches SW9 and SW10 are closed. In this case, the size of the resistance (R 2 ) is the sum of the combined resistance of the resistances (R, 2R, 4R, 8R) and the resistance (R 0 ) determined by the ON-OFF control of the analog switches SW1 to SW8. , R 2 = R 0 + {composite resistance value of (R, 2R, 4R, 8R)}.

まず、RT1の値を求める。First, the value of R T1 is calculated.

VS1+(RT1−VS1)R1/(R1+R2) =VS1+(VREF−VS1)(R1/2)/(R1/2+R2//5) したがって、 ただし、 R2//5=R2・R5/(R2+R5) である。 V S1 + (R T1 -V S1 ) R 1 / (R 1 + R 2) = V S1 + (V REF -V S1) (R 1/2) / (R 1/2 + R 2 // 5) Accordingly, However, R 2 // 5 = R 2 · R 5 / (R 2 + R 5 ).

R1、R2、R5はIC内の抵抗であり、またVREF、VS1は基準
電圧であることから、それぞれ温度係数は0であり、し
たがってRT1は温度係数を持たない。
Since R 1 , R 2 , and R 5 are resistors in the IC, and V REF and V S1 are reference voltages, the temperature coefficient of each is 0, and thus R T1 has no temperature coefficient.

増幅回路40の出力電圧Routは、 となる。The output voltage R out of the amplifier circuit 40 is Becomes

ここでR3は正温度特性を有するので、ROUTは負の温度係
数を有することとなる。したがって、増幅回路40は、温
度に応じた電圧ROUTを出力することとなり、この回路40
は温度測定器として用いられる。
Since R 3 has a positive temperature characteristic here, R OUT has a negative temperature coefficient. Therefore, the amplifier circuit 40 outputs the voltage R OUT according to the temperature.
Is used as a temperature measuring device.

ここで例えばR1=100kΩ、R2=235kΩ、R3=5.1kΩ、R4
=15kΩ、R5=100kΩとすると、(5)式および(6)
式より、 RT1=4.788(V) ROUT=2.318(V) となり、ROUTの温度係数は、 となる。したがって、8ビットのA/D変換器の場合、分
解能が1LSB=15.686mVであることから、本実施例におけ
る温度測定器によると、2℃の温度変化により、1LSBだ
けA/D変換値が変化することとなる。
Here, for example, R 1 = 100 kΩ, R 2 = 235 kΩ, R 3 = 5.1 kΩ, R 4
= 15kΩ and R 5 = 100kΩ, equation (5) and (6)
From the equation, R T1 = 4.788 (V) R OUT = 2.318 (V), and the temperature coefficient of R OUT is Becomes Therefore, in the case of an 8-bit A / D converter, the resolution is 1 LSB = 15.686 mV. Therefore, according to the temperature measuring device of this embodiment, a temperature change of 2 ° C changes the A / D conversion value by 1 LSB. Will be done.

以上説明したように、本実施例の増幅回路40は、通常の
増幅器として用いられるばかりでなく、温度測定器とし
ても利用できるが、オペアンプ41のゲインの設定は、増
幅器として使用する時、および温度測定器として使用す
る時において、相互に異なり、したがって予め調整して
おく必要がある。このため、この調整のためのデータを
CPUのRAMに格納しておかなければならない。このため一
つの手段としてはマイコンの外付けとしてE2PROMを付加
し、調整段階において予め調整データをE2PROMに書き込
んでおき、実動作時にE2PROMより所定のデータを読み込
んできてRAMに格納するという方法等が考えられる。
As described above, the amplifier circuit 40 of the present embodiment can be used not only as an ordinary amplifier but also as a temperature measuring device. When used as a measuring device, they are different from each other and therefore need to be adjusted in advance. Therefore, the data for this adjustment
Must be stored in the RAM of the CPU. For this reason, one means is to add an E 2 PROM as an external device to the microcomputer, write the adjustment data to the E 2 PROM in advance during the adjustment stage, and then read the specified data from the E 2 PROM during actual operation and store it in RAM. A method of storing it is possible.

以上述べたように、本実施例の増幅装置は、外付け部品
としては、基本的には抵抗(R3)と抵抗(R4)のみであ
り、その他の部品はICに内蔵される。したがって、従来
のように多数の外付け部品を用いることなく、温度補償
と所定のゲイン設定を同時に確保することができ、装置
全体を簡単化し、かつ安価にすることが可能となる。
As described above, the amplifying device of this embodiment basically has only the resistance (R 3 ) and the resistance (R 4 ) as external parts, and the other parts are built in the IC. Therefore, the temperature compensation and the predetermined gain setting can be secured at the same time without using a large number of external parts as in the conventional case, and the entire apparatus can be simplified and the cost can be reduced.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上のように本発明の増幅装置は、温度補償を維持しつ
つ、A/D変換器に合致したゲインを得ることができ、し
かも外付け部品が少ないので構成が非常に簡単である、
という効果が奏する。また本発明の増幅装置は、温度測
定器としても利用することができる。
As described above, the amplification device of the present invention, while maintaining the temperature compensation, can obtain the gain matched with the A / D converter, and the configuration is very simple because there are few external parts,
The effect is produced. The amplification device of the present invention can also be used as a temperature measuring device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例に係る増幅装置を示す回路
図、 第2図はカメラの光学系の構成例を示す図、 第3図はファインダにおける測光範囲を示す図、 第4図は受光素子を示す図、 第5図はEv値に対する測光センサの出力電圧の変化を示
すグラフ、 第6図は増幅器を示す回路図、 第7図は温度測定器を示す回路図である。 30……測光回路 40……増幅回路 R3……正温度特性抵抗
FIG. 1 is a circuit diagram showing an amplifier device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of an optical system of a camera, FIG. 3 is a diagram showing a photometric range in a finder, and FIG. FIG. 5 is a diagram showing a light receiving element, FIG. 5 is a graph showing a change in output voltage of the photometric sensor with respect to an Ev value, FIG. 6 is a circuit diagram showing an amplifier, and FIG. 7 is a circuit diagram showing a temperature measuring device. 30 …… Metering circuit 40 …… Amplifying circuit R 3 …… Positive temperature characteristic resistance

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】出力電圧が所定の温度特性を有する電圧発
生回路と、所定の基準電圧を出力する基準電圧発生源
と、上記出力電圧と基準電圧の差分を増幅するオペアン
プと、このオペアンプの出力側に接続され、上記出力電
圧とは逆の温度特性を有する抵抗と、該オペアンプの入
力側に接続され、抵抗値が可変であるゲイン設定手段
と、上記オペアンプの正相入力端子と逆相入力端子と電
圧発生回路と基準電圧発生源とを相互に導通させて、上
記オペアンプの入力側に所定の大きさの抵抗を付与する
手段とを備えたことを特徴とする増幅装置。
1. A voltage generating circuit whose output voltage has a predetermined temperature characteristic, a reference voltage generating source which outputs a predetermined reference voltage, an operational amplifier which amplifies a difference between the output voltage and the reference voltage, and an output of this operational amplifier. A resistor having a temperature characteristic opposite to that of the output voltage, a gain setting means connected to the input side of the operational amplifier and having a variable resistance value, and a positive phase input terminal of the operational amplifier and a negative phase input. An amplifying device comprising: a terminal, a voltage generating circuit, and a reference voltage generating source, which are electrically connected to each other to apply a resistance of a predetermined magnitude to the input side of the operational amplifier.
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