JPH07105585A - Optical recording method - Google Patents

Optical recording method

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JPH07105585A
JPH07105585A JP24919093A JP24919093A JPH07105585A JP H07105585 A JPH07105585 A JP H07105585A JP 24919093 A JP24919093 A JP 24919093A JP 24919093 A JP24919093 A JP 24919093A JP H07105585 A JPH07105585 A JP H07105585A
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JP
Japan
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recording
test pattern
optical
recording method
recorded
Prior art date
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Application number
JP24919093A
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Japanese (ja)
Inventor
Fumiyoshi Kirino
文良 桐野
Takeshi Toda
戸田  剛
Hiroshi Ide
井手  浩
Hiroyuki Tsuchinaga
浩之 土永
Takeshi Maeda
武志 前田
Fumio Kugiya
文雄 釘屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPH07105585A publication Critical patent/JPH07105585A/en
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/006Overwriting
    • G11B7/0062Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media

Abstract

PURPOSE:To realize an optical disk of high reliability and very high density recording by erasing recording domains formed with a test pattern under such conditions for erasing as to form the widest magnetic domain. CONSTITUTION:In the figure, level Pr is the power for reproducing and Pas is the power for preheating. Pas is controlled to obtain a constant thermal interference quantity. Thereby, by combining an edge detecting method and a detecting method to independently detect front edges and rear edges, the edge shift amt. is controlled to a specified value or lower. Levels PW1 and PW2 are recording levels which are determined by the structure and material of the optical disk. After the recording region and read-level region in Tw are passed, the power level returns to the preheat level again. In the controlling method of test writing recording by this constitution, the recording film in the test pattern recording region shows no changes in magnetic characteristics by structural relaxation nor causes jitter or flucturation of edge shit. Thereby, an optical disk of high reliability and very high density recording can be realized.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光記録の記録方法、更
に詳しくいえば、レーザー光等の光ビームを用いてデー
タを記録、再生又は消去を行なう光記録方法に係り、特
に、書換え可能回数を向上させ、光ディスク記録の信頼
性を向上する光記録の記録方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a recording method for optical recording, and more particularly to an optical recording method for recording, reproducing or erasing data by using a light beam such as a laser beam, and in particular, rewritable The present invention relates to a recording method for optical recording that improves the number of times and improves the reliability of optical disk recording.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、書換え可能な光ディスクとして光
磁気ディスクが実用化され、現在ではその記録密度の向
上を目指して研究開発が行なわれている。光磁気記録の
実用化にとって重要なことの1つは書換え可能回数を向
上することである。通常の光磁気ディスクの使用では、
記録、消去の繰返し回数は106回以上は必要である。
特に、高密度記録を実現するために、使用環境条件の変
動や光源のレーザーパワーの変動等の情報を検出するた
めにテストパターンの記録を一定時間間隔おいて行な
い、テストパターンの再生情報からユーザデータの記
録、再生、消去の制御条件を決定することが有効であ
る。
2. Description of the Related Art In recent years, a magneto-optical disk has been put to practical use as a rewritable optical disk, and at present, research and development are being conducted with the aim of improving its recording density. One of the important things for practical use of magneto-optical recording is to improve the number of rewritable times. When using a normal magneto-optical disc,
The number of times of recording and erasing must be 10 6 or more.
In particular, in order to realize high-density recording, test pattern recording is performed at fixed time intervals in order to detect information such as fluctuations in operating environment conditions and fluctuations in laser power of the light source. It is effective to determine the control conditions for recording, reproducing and erasing data.

【0003】テストパターンの記録を一定時間間隔おい
て行なう光磁気ディスクシステムにおいて、光磁気ディ
ス7の中で最も書換え回数の多い領域はテストパターン
の記録領域である。例えば、5分に1回テスト記録を行
なうとして、ディスクの寿命を10年と仮定して、その
ディスクを使ったままの状態を仮定すると、書換え回数
は106回以上必要となる。このテストパターンの記録
領域の記録感度等が変動すると、ユーザーデータを記録
するのに正常な記録ができないことがあるので、ディス
クの信頼性が確保できない場合がある。
In a magneto-optical disk system in which test patterns are recorded at regular time intervals, the area in the magneto-optical disk 7 that has the largest number of rewrites is the test pattern recording area. For example, assuming that the test recording is performed once every 5 minutes and the life of the disc is 10 years, and the disc is used as it is, the number of times of rewriting is 10 6 or more. If the recording sensitivity or the like of the recording area of the test pattern fluctuates, the user data may not be recorded normally, so that the reliability of the disc may not be ensured.

【0004】ディスクの信頼性向上に関して、光磁気記
録媒体中を流れる熱流の動きに着目してディスクの積層
構造を最適化する記録媒体自体の改良に関する技術が特
開平2−252150号公報に記載されている。
Japanese Patent Laid-Open No. 2-252150 discloses a technique relating to the improvement of the recording medium itself, which optimizes the laminated structure of the disc by paying attention to the movement of the heat flow flowing in the magneto-optical recording medium, in order to improve the reliability of the disc. ing.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】光ディスクの記録−再
生特性及び書換え特性を大きく支配するのは、光磁気記
録媒体の積層構造や記録材料等であるが、それと合わせ
て、光ディスクを駆動する記録再生装置における光ビー
ムの与え方が重要である。光ディスクは可換媒体である
から、光ディスクへデータを記録したり、消去したりす
る場合には、トラックオフセットを考慮しなければなら
ない。例えば、ある方向にトラックオフセットして記録
したデータを消去する場合に、逆方向へトラックオフセ
ットしてしまうことが考えられる。そのため、消し残り
なく完全に消去するためには、このトラックオフセット
分を考慮した消去磁区幅を選択しなければならなかっ
た。その場合、記録磁区幅より広い磁区を形成しなけれ
ばならず、非晶質の光磁気記録膜を用いた場合、は非晶
質膜であるので、記録時や消去時の記録膜の温度が構造
緩和等を生じる温度となると、垂直磁気異方性エネルギ
ーが低下するので、記録感度の変化や記録できない部分
が生じたりする。その結果、再生信号出力が低下し、安
定に記録することはできない場合があった。
It is the laminated structure of the magneto-optical recording medium, the recording material, etc. that largely control the recording-reproducing characteristics and the rewriting characteristics of the optical disk. How to apply the light beam in the device is important. Since the optical disc is a replaceable medium, the track offset must be taken into consideration when recording or erasing data on the optical disc. For example, when erasing data recorded by performing track offset in a certain direction, track offset may occur in the opposite direction. Therefore, in order to completely erase without erasing, it is necessary to select the erase magnetic domain width in consideration of the track offset. In that case, a magnetic domain wider than the recording magnetic domain width must be formed. When an amorphous magneto-optical recording film is used, since it is an amorphous film, the temperature of the recording film at the time of recording or erasing is At a temperature at which structural relaxation occurs, the perpendicular magnetic anisotropy energy decreases, so that the recording sensitivity may change or some portions may not be recorded. As a result, the reproduction signal output is lowered, and stable recording may not be possible in some cases.

【0006】従って、本発明の目的は、光ディスクの書
換え可能回数を多くできる光記録の記録方法を提供する
ことである。本発明の他の目的は、テスト記録機能を持
つ光ディスクシステムにおいて、光ディスクのなかで最
も書換え回数の多いテスト領域に記録したデータを消去
する場合に、トラックオフセットを考慮しないで消去す
ることができる光記録の記録方法を提供することであ
る。
Therefore, an object of the present invention is to provide a recording method of optical recording capable of increasing the number of rewritable times of an optical disk. Another object of the present invention is an optical disc system having a test recording function, which can be erased without considering a track offset when erasing data recorded in a test area having the largest number of rewritings in an optical disc. It is to provide a recording method of recording.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、光ディスクを用いてユーザデータの記録、再生、消
去を行なう方法において、光ディスクを光ディスク駆動
装置に装着後、光ディスクの所定の位置にテストパター
ンを記録し、上記テストパターンを再生し、記録したテ
スト情報を抽出し、抽出されたテスト情報を分析した後
に、上記ユーザデータ(情報データ)の記録、再生、消
去のいずれかの処理を行い、上記記録されたテストパタ
ーンを上記テスト情報の抽出後に消去する。
In order to achieve the above object, in a method of recording, reproducing and erasing user data using an optical disc, a test pattern is placed at a predetermined position on the optical disc after the optical disc is mounted in an optical disc drive. Is recorded, the test pattern is reproduced, the recorded test information is extracted, the extracted test information is analyzed, and then the user data (information data) is recorded, reproduced, or erased, The recorded test pattern is erased after the test information is extracted.

【0008】ここで、テスト情報とは、光ディスクを使
用する環境の状態、例えば、使用環境温度、レーザパワ
ーの変動、光ディスク駆動装置に装入された光ディスク
の記録感度を調べ、情報データの記録、再生、消去の条
件を得るための情報である。
Here, the test information refers to the state of the environment in which the optical disc is used, for example, the operating environment temperature, the fluctuation of the laser power, the recording sensitivity of the optical disc loaded in the optical disc drive, and the recording of information data, This is information for obtaining conditions for reproduction and deletion.

【0009】テストパターンの記録は微小パルスからな
る光ビームのパルス幅又はパワーを変化させて記録す
る。テストパターンは、ユーザデータの記録、再生に用
いる変調方式において熱的干渉を評価できるパターンを
用い、特に、そのテストパターンの中に上記ユーザデー
タの変調方式における少なくとも最も短いパターンと最
も長いパターンを含ませることが好ましい。テストパタ
ーンの記録を行なうため、記録再生装置に予め標準とな
る記録条件を記憶した部分を設け、その条件を基に一定
の割合で光ビームのパワー又はパルス幅を増減させて記
録する。ユーザデータ及びテストパターンの記録波形と
して、少なくとも4つのパワーレベルをもち、1つの記
録符号に相当する部分を微小のパルスの集合体により形
成することが記録磁区形状の制御に有効である。この場
合、微小のパルスの集合体の個々のパルス幅が記録クロ
ックに同期したパルス幅を基準とすることが装置製作上
好ましい。これは、特にマーク長記録方式を用いる場合
に有効な方式である。
The test pattern is recorded by changing the pulse width or power of the light beam consisting of minute pulses. As the test pattern, a pattern that can evaluate thermal interference in a modulation method used for recording and reproducing user data is used. In particular, the test pattern includes at least the shortest pattern and the longest pattern in the user data modulation method. Preferably. In order to record the test pattern, the recording / reproducing apparatus is provided with a part in which standard recording conditions are stored in advance, and the power or pulse width of the light beam is increased or decreased at a fixed rate based on the condition to perform recording. As the recording waveform of the user data and the test pattern, it is effective to control the shape of the recording magnetic domain that at least four power levels are formed and a portion corresponding to one recording code is formed by an aggregate of minute pulses. In this case, it is preferable in terms of manufacturing the device that the individual pulse width of the aggregate of minute pulses is based on the pulse width synchronized with the recording clock. This is an effective method especially when the mark length recording method is used.

【0010】また、テストパターンの記録領域は、ディ
スク全面を複数のゾーンに分割し、1つのゾーン内にテ
ストパターンの記録を行なうテストトラックを設け、そ
こへ一定のテストパターンを記録する。好ましくは、デ
ィスクの半径方向において最も内側にあるゾーン、真中
付近にあるゾーン及び最も外側にあるゾーンへテストパ
ターンを記録し、その間にあるゾーンの記録条件は、先
の3点の結果を用いて外挿することで求めれば良い。こ
の方法は、各々のゾーンへユーザデータ又はテストパタ
ーンを記録するとき、その記録密度がいずれのゾーンで
も等しくなるように記録するいわゆるゾーンCAV方式
における最内周部分の熱の干渉を受けやすい部分に有効
である。他に、温度と光ビームのパワーとの間に成り立
つ一定の関数関係をあらかじめ記録再生装置内に記憶し
ておいて、ある1テストトラックにおけるテストパター
ンを記録した結果を用いて演算により記録条件を決定し
てもよい。
In the test pattern recording area, the entire surface of the disk is divided into a plurality of zones, a test track for recording the test pattern is provided in one zone, and a constant test pattern is recorded therein. Preferably, the test pattern is recorded in the innermost zone, the zone near the center, and the outermost zone in the radial direction of the disc, and the recording conditions of the zones in between are obtained by using the results of the preceding three points. It can be obtained by extrapolation. In this method, when user data or a test pattern is recorded in each zone, recording is performed so that the recording densities are the same in all zones, in the so-called zone CAV method, in the innermost portion, which is susceptible to heat interference. It is valid. In addition, a fixed functional relationship that holds between the temperature and the power of the light beam is stored in the recording / reproducing apparatus in advance, and the recording condition is calculated by using the result of recording the test pattern on one test track. You may decide.

【0011】上記テストパターンの消去は、光ディスク
を駆動装置の装着後、情報データの記録、再生、消去の
前後いずれでもよい。光ディスクを交換する前か、光デ
ィスクの駆動装置の電源を遮断する前でもよい。上記テ
ストパターンの消去に使用する光ビームのパワーは、テ
ストパターン記録に用いた光ビームの中で最も高いパワ
ーを用いて消去すればよい。或いは、記録したテストパ
ターンを消去するのに、テスト記録に用いた記録パルス
の中で最もパルス幅の大きな条件にて消去すれば良い。
即ち、ディスクへ記録したテストパターンの中で、最も
広い幅の磁区が完全に消去できる消去磁区が形成できる
又はテストパターンの磁区幅により消去磁区幅を合わせ
たパワーの連続光又はパルス光とする。なお、最も広い
幅の磁区が消去できる消去磁区が形成できるパワーを光
ディスクに照射する場合に、記録膜の最高到達温度が3
00℃を超えない温度にて消去することが望ましい。最
高到達温度とレーザーパワーは、光ディスクの材質、構
造が決まれば前以て決定できる。最高到達温度が重要な
のは、非晶質の光時期記録を用いた場合で、これは構造
緩和の抑制にとって有効だからである。
The test pattern may be erased after the optical disc is mounted on the drive device, and before or after the information data is recorded, reproduced, or erased. It may be before exchanging the optical disc or before turning off the power source of the optical disc drive. The power of the light beam used for erasing the test pattern may be the highest power of the light beams used for recording the test pattern. Alternatively, the recorded test pattern may be erased under the condition of the largest pulse width of the recording pulses used for the test recording.
That is, in the test pattern recorded on the disc, an erasing magnetic domain capable of completely erasing the widest magnetic domain can be formed, or continuous light or pulsed light having a power in which the erasing magnetic domain width is adjusted according to the magnetic domain width of the test pattern. When the optical disk is irradiated with power capable of forming an erasing magnetic domain capable of erasing the widest magnetic domain, the maximum temperature reached by the recording film is 3
It is desirable to erase at a temperature not exceeding 00 ° C. The maximum temperature and laser power can be determined in advance if the material and structure of the optical disc are determined. The highest temperature reached is important when using amorphous optical time recording, which is effective in suppressing structural relaxation.

【0012】[0012]

【作用】本発明の方法においては、可換記録媒体である
光ディスクへのテストパターンの記録を光ディスク駆動
装置、即ち、光記録再生装置に装着後に行ない、そのテ
ストパターンの消去を光ディスク駆動装置から外す前に
行なう。そのため、テストパターンの消去時、消去のた
めの光ビームの中心は記録されたテストパターンの中心
に沿ってトレースする。そのため、オフセットを考慮す
る必要が無くなり、トラックオフセットを考慮しない分
だけ狭い磁区幅でよいので、消去のための光ビームの幅
及び強度を押えることができ、記録膜の最高到達温度は
その分だけ低くできる。そのため、光ディスクを構成す
る非晶質膜の構造緩和温度以下で、書換え回数の多いテ
ストパターンを消去しやすくなり、光ディスクの記録感
度の変動や記録不可能部分の発生を防止でき、光ディス
クの信頼性、書換え特性を向上できる。
In the method of the present invention, the test pattern is recorded on the optical disc which is the exchangeable recording medium after it is mounted on the optical disc drive, that is, the optical recording / reproducing device, and the erasing of the test pattern is removed from the optical disc drive. Do before. Therefore, when erasing the test pattern, the center of the light beam for erasing traces along the center of the recorded test pattern. Therefore, it is not necessary to consider the offset, and the width and intensity of the light beam for erasing can be suppressed because the width of the magnetic domain can be narrowed by not considering the track offset, and the maximum temperature reached by the recording film is that much. Can be lowered. Therefore, it is easy to erase a test pattern that is frequently rewritten below the structural relaxation temperature of the amorphous film that constitutes the optical disc, and it is possible to prevent fluctuations in the recording sensitivity of the optical disc and the occurrence of unrecordable portions, and to improve the reliability of the optical disc. The rewriting characteristics can be improved.

【0013】現在、最も広く用いられている希土類元素
と鉄族元素の非晶質合金薄膜は結晶化温度は450°C
以上と高いが、本発明では前述のようにして、テストパ
ターンの記録波形や消去条件を最適化することによっ
て、記録膜の温度分布を制御でき、記録膜の最高到達温
度を300°C以下にすることができ、安定した記録が
可能となる。
Currently, the most widely used amorphous alloy thin films of rare earth elements and iron group elements have a crystallization temperature of 450 ° C.
Although high as above, in the present invention, the temperature distribution of the recording film can be controlled by optimizing the recording waveform of the test pattern and the erasing condition as described above, and the maximum temperature reached of the recording film is 300 ° C. or less. It is possible to perform stable recording.

【0014】テストパターンの記録精度が低いと、ユー
ザーデータを記録する時の精度、特に、マーク長記録を
行なう場合、マークの長さはもとよりマークの幅も精密
に制御しなければならない。光ディスクにおける記録に
おいて、高密度記録を行なう場合に重要なのは記録ドメ
イン間の熱的干渉を如何に抑制できるかという点であ
る。熱的干渉は、ディスクの積層構造、用いる材料とい
ったディスク側の要因の他に、記録パルスの波形形状と
いった装置側の要因の2つがある。ディスクの互換性を
確保する場合には、これらディスクの熱的干渉の割合を
把握し、その結果を用いて記録条件を決定することによ
り、ディスクの互換性が確保できる。テストパターンの
記録を行ない、そのテストパターンを再生して標準状態
により記録した結果からのずれを検出するのに、最も長
いパターンの信号振幅の中心値と最も短いパターンの信
号振幅の中心値との差を検出し、その差がゼロとなるよ
うに制御して記録することにより、形成される記録ドメ
イン形状を制御できる。ところで、テストパターン記録
を行ない、その結果を用いてユーザーデータを記録する
条件を決定するのは、環境温度の変動やレーザーパワー
の変動或いはディスク間の記録感度の違い等によらず常
に同一の形状の記録ドメインを形成するためである。す
なわち、テスト記録を行なうことによりトラックオフセ
ットを考慮して最大限一方向にずれて記録した記録ドメ
インを消去する場合にそれとは反対方向に最大にずれて
も、消し残りなく完全に消去できる磁区幅が得られるよ
うにレーザーパワーが設定できる。
If the recording accuracy of the test pattern is low, the accuracy in recording the user data, particularly in the case of recording the mark length, it is necessary to precisely control not only the length of the mark but also the width of the mark. In recording on an optical disk, what is important when performing high density recording is how to suppress thermal interference between recording domains. Thermal interference has two factors on the device side, such as the waveform shape of the recording pulse, in addition to the factors on the disc side such as the laminated structure of the disc and the materials used. When ensuring the compatibility of the disks, the compatibility of the disks can be ensured by grasping the ratio of the thermal interference of these disks and determining the recording condition using the result. The test pattern is recorded, the test pattern is reproduced, and the deviation from the recorded result in the standard state is detected, the center value of the signal amplitude of the longest pattern and the center value of the signal amplitude of the shortest pattern are detected. By detecting the difference and controlling the recording so that the difference becomes zero and recording, the shape of the recording domain to be formed can be controlled. By the way, the test pattern recording is performed, and the result is used to determine the condition for recording the user data. It is always the same shape regardless of the environmental temperature variation, the laser power variation or the recording sensitivity difference between the disks. This is to form the recording domain of In other words, when a test recording is performed to erase a recording domain that has been recorded with a maximum offset in one direction in consideration of the track offset, even if the recording domain is shifted in the opposite direction to the maximum, the magnetic domain width that can be completely erased without being erased. The laser power can be set so that

【0015】[0015]

【実施例】本発明を実施例を用いてさらに詳細に説明す
る。図1は、本発明による記録方法の一実施例で用いた
光ディスクの構造を示す部分断面図である。凹凸の案内
溝を有するガラスもしくはプラスチックの基板1上に、
膜厚75nmの窒化シリコン膜2、膜厚25nmのTb
FeCo膜3、膜厚20nmの窒化シリコン膜4及び膜
厚50nmのAl98Ti2膜5が順に積層されている。
光ディスクの記録媒体全面を紫外線硬化型樹脂6により
コートされている。このような単板の光磁気ディスクの
記録媒体面が互いに向き合うように2枚を接着剤等を用
いて張り合わされて構成されている。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail by way of examples. FIG. 1 is a partial sectional view showing the structure of an optical disc used in an embodiment of a recording method according to the present invention. On a glass or plastic substrate 1 having uneven guide grooves,
75 nm thick silicon nitride film 2, 25 nm thick Tb
The FeCo film 3, the silicon nitride film 4 having a film thickness of 20 nm, and the Al 98 Ti 2 film 5 having a film thickness of 50 nm are sequentially laminated.
The entire surface of the recording medium of the optical disk is coated with the ultraviolet curable resin 6. Such a single-plate magneto-optical disk is formed by laminating two recording medium surfaces so as to face each other with an adhesive or the like.

【0016】図2は、本発明による記録方法を実施する
光ディスク記録再生装置の一実施例の構成を示すブロッ
ク図である。通常の記録再生装置に加えて、試し書き器
21を有する点が特徴である。すなわち、テストパター
ン及びユーザデータの記録時には、ユーザデータ及び試
し書き器21の信号は記録波形生成器8により、図3に
示す形状の記録波形に変換され、パワーコントローラ9
をへて、レーザ駆動器10に加えられる。レーザ駆動器
10で駆動されたレーザ11からの光は、光ヘッド12
によって記録媒体である光ディスク7に記録される。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of an optical disk recording / reproducing apparatus for carrying out the recording method according to the present invention. The feature is that a test writer 21 is provided in addition to a normal recording / reproducing apparatus. That is, at the time of recording the test pattern and the user data, the user data and the signal of the trial writing device 21 are converted by the recording waveform generator 8 into the recording waveform having the shape shown in FIG.
To the laser driver 10. The light from the laser 11 driven by the laser driver 10 is emitted by the optical head 12
Is recorded on the optical disk 7 which is a recording medium.

【0017】テストパターン及び及びユーザデータの再
生時は、光ヘッド12は受光器13、再生アンプ14を
へて整形器17に加えられる。波形整形が必要なときは
波形整形器15を設け、入力切替器16で切り替えを行
うようにしている。整形器17の出力は弁別器19で識
別され、複合器20で復号され出力データビット列とな
る。
At the time of reproducing the test pattern and the user data, the optical head 12 is added to the shaper 17 via the light receiver 13 and the reproduction amplifier 14. When the waveform shaping is required, the waveform shaping device 15 is provided and the input switching device 16 is used for switching. The output of the shaper 17 is identified by the discriminator 19 and decoded by the combiner 20 to form an output data bit string.

【0018】図3は、テストパターン及びユーザデータ
の記録に用いる記録波形の一実施例を示す図である。記
録波形は4つのパワーレベルよりなり、第1のレベルP
rは再生時のパワーで1.5mWに設定した。第2のレ
ベルPasは、プリヒートパワーで、このパワーを増減
することにより、如何なる環境条件においても常に同じ
熱干渉量となる。その結果、エッジ位置検出方式と前エ
ッジ及び後エッジをそれぞれ独立に検出して最後に波形
合成するいわゆる前後エッジ独立検出方式とを組み合わ
せることにより、エッジシフト量を一定値以下に抑制で
きる。そして、第3のレベルPw1及び第4のレベルP
w2は、いずれも記録レベルで、Pw1及びPw2の値
は光ディスクの構造及び材料により決定される。記録領
域を経た後に、Twのリードレベル領域を経て、再びプ
リヒートレベルとなる。最短パターンでは、先のリード
レベルの期間がTw、プリヒートレベルの期間もTwと
なり、この他のパターンに対しては、プリヒートレベル
長を制御すれば良い。図1に示した構造の光ディスク7
に対してそれぞれのパワーの値は、Pr=1.5mW、
Pas=3.3mW、Pw1=5.8mW、そして、Pw
2=6.1mWに設定した。
FIG. 3 is a diagram showing an example of a recording waveform used for recording a test pattern and user data. The recording waveform consists of four power levels, the first level P
r is the power during reproduction and was set to 1.5 mW. The second level Pas is preheat power, and by increasing or decreasing this power, the same amount of thermal interference is always obtained under any environmental condition. As a result, the edge shift amount can be suppressed to a certain value or less by combining the edge position detection method and the so-called front and rear edge independent detection method of independently detecting the front edge and the rear edge and finally synthesizing the waveform. Then, the third level Pw1 and the fourth level P
w2 is a recording level, and the values of Pw1 and Pw2 are determined by the structure and material of the optical disc. After passing through the recording area, the read level area of Tw is passed and the preheat level is reached again. In the shortest pattern, the previous read level period is Tw and the preheat level period is Tw. For other patterns, the preheat level length may be controlled. Optical disc 7 having the structure shown in FIG.
On the other hand, the value of each power is Pr = 1.5 mW,
Pas = 3.3 mW, Pw1 = 5.8 mW, and Pw
2 = 6.1 mW was set.

【0019】符号器22の変調方式には(1,7)RL
L方式を、また、記録方式にはマーク長記録方式をそれ
ぞれ用いた。記録密度は、直径5.25インチの光ディ
スクを32のゾーンに分割し、記録時の周波数をゾーン
ごとに変化させて記録することで、いずれのゾーンにお
いても記録密度が一定となるようにした。また、記録波
形のパルス幅は、(1,7)RLL方式で最も短い2T
wのパターンを記録するときは、最内周で60nsと
し、その時のパワーはPw1のみとした。また、3Tw
のパターンに対しては、記録のモードに入ると、まず、
Pw1のレベルで60ns、そして、20nsのPas
レベルを経た後に、20nsのPw2レベルとした。こ
れ以降、パターン長が長くなると、20nsのPasレ
ベルと、20nsのPw2レベルの組合せを伸ばすだけ
で良い。これにより、2Tw〜8Twまでの7つのパタ
ーンを形成できる。
The modulation method of the encoder 22 is (1,7) RL
The L system was used, and the mark length recording system was used as the recording system. Regarding the recording density, an optical disk having a diameter of 5.25 inches was divided into 32 zones, and the recording frequency was changed by changing the recording frequency for each zone so that the recording density was constant in each zone. The pulse width of the recording waveform is 2T, which is the shortest in the (1,7) RLL system.
When recording the pattern of w, the innermost circumference was set to 60 ns, and the power at that time was set to Pw1 only. Also, 3Tw
For the pattern of, when you enter the recording mode, first,
60 ns at Pw1 level and 20 ns Pas
After passing the level, the Pw2 level of 20 ns was set. After that, when the pattern length becomes longer, it is only necessary to extend the combination of the Pas level of 20 ns and the Pw2 level of 20 ns. Thereby, 7 patterns of 2Tw to 8Tw can be formed.

【0020】そして、図1に示した構造の光ディスク7
を記録再生装置にセットして、光ディスクに対して試し
書きを行なった。試し書きに用いたパターンは、(1,
7)RLL変調方式における最短(2Tw)パターンと
最長(8Tw)パターンの繰返しパターンを記録レーザ
ーパワーを変化(±3%,±6%,±10%)させて記
録した。ここで、パワーを変化させるのに3つのパワー
レベルの比Pw1/Pw2、Pw1/Pas、Pw2/
Pasを一定に保ったままで変化させることが重要であ
る。これは、昇温過程及び降温過程の熱の流れを一定に
するためである。その時に形成された記録磁区幅は、偏
光顕微鏡観察によれば、パターンに依存しないで0.5
5〜0.85μmの間で変化した。そして、このように
して記録したデータを再生した。
Then, the optical disk 7 having the structure shown in FIG.
Was set in the recording / reproducing apparatus, and trial writing was performed on the optical disc. The pattern used for trial writing is (1,
7) Repeated patterns of the shortest (2Tw) pattern and the longest (8Tw) pattern in the RLL modulation method were recorded while changing the recording laser power (± 3%, ± 6%, ± 10%). Here, in order to change the power, the ratio of three power levels Pw1 / Pw2, Pw1 / Pas, Pw2 /
It is important to change while keeping Pas constant. This is to make the heat flow constant during the temperature raising process and the temperature lowering process. The recording magnetic domain width formed at that time was 0.5 depending on the pattern according to observation with a polarization microscope.
It varied between 5 and 0.85 μm. Then, the data recorded in this way was reproduced.

【0021】図4は、試し書きによる記録条件の変動を
検出する原理を説明する波形図である。図は最短パター
ン2Twの信号振幅の中心値と最長パターン8Twの信
号振幅の中心値の差(ΔV)の関係を示す波形図を示し
ている。図5は、変動パワーΔPと標準のパワーPop
tとの比ΔP/Poptと信号振幅の中心値の差(Δ
V)との関係を示す計測値を示す。
FIG. 4 is a waveform diagram for explaining the principle of detecting a change in recording conditions due to trial writing. The figure shows a waveform diagram showing the relationship between the central value of the signal amplitude of the shortest pattern 2Tw and the central value of the signal amplitude of the longest pattern 8Tw (ΔV). FIG. 5 shows the fluctuation power ΔP and the standard power Pop.
The difference between the ratio ΔP / Popt and the central value of the signal amplitude (Δ
The measured value which shows the relationship with V) is shown.

【0022】データを再生した後に、テストパターンを
消去した。その場合、記録したテストパターンの中で最
も高いパワーは、標準のパワーより10%高いパワー
で、それをテストパターンを消去するレーザーパワーと
して設定した。その結果、テストパターンは消し残りな
く完全に消去できた。このように、テストパターン記録
領域においては、光ディスクや記録再生装置を交換する
ことがないので、トラックオフセット量は変化しないの
で、テストパターンを消去する場合には、このオフセッ
トを考慮する必要がない。そして、このテストパターン
の記録をパワーを変化させて(±3%,±6%,±10
%)を行ない、その後に、標準状態より10%高いパワ
ーで形成した磁区幅が得られる消去パワーとして5mW
に設定して消去を繰返したところ、107回の繰返し後
にテスト記録して得た結果を用いて、ユーザーデータを
データ領域へ記録した。
After reproducing the data, the test pattern was erased. In that case, the highest power in the recorded test patterns was 10% higher than the standard power, which was set as the laser power for erasing the test patterns. As a result, the test pattern could be completely erased without being erased. In this way, in the test pattern recording area, since the optical disc and the recording / reproducing device are not exchanged, the track offset amount does not change. Therefore, when erasing the test pattern, it is not necessary to consider this offset. Then, the power of the test pattern recording is changed (± 3%, ± 6%, ± 10%).
%), And then 5 mW as the erasing power to obtain a domain width formed with a power 10% higher than in the standard state.
When erasing was repeated after setting to 1, the user data was recorded in the data area by using the result obtained by the test recording after repeating 10 7 times.

【0023】ここで消去に用いた光は、連続光である
が、パルス光でも良く、重要なのは、レーザースポット
の中心部分の最高到達温度が低い方を用いれば良い。そ
して、その時のジッタとエッジシフトを測定したとこ
ろ、ジッタは対検出窓幅比で35%であり、エッジシフ
トは±2ns以下であった。これらの値は、テストパタ
ーンの記録と消去を繰返す前と全く違いは見られなかっ
た。これに対して、テスト領域での消去条件を決定する
のに、トラックオフセットを考慮して、最大0.85μ
m幅の磁区を±0.1μmのトラックオフセットを考慮
して1.25μm幅の消去磁区幅で消去した。
The light used for erasing here is continuous light, but it may be pulsed light, and what is important is to use one having a lower maximum temperature at the center of the laser spot. Then, when the jitter and the edge shift at that time were measured, the jitter was 35% in terms of the detection window width ratio, and the edge shift was ± 2 ns or less. These values did not show any difference before the repeated recording and erasing of the test pattern. On the other hand, in determining the erase condition in the test area, considering the track offset, the maximum is 0.85μ.
The m-width magnetic domain was erased with an erasing magnetic domain width of 1.25 μm in consideration of a track offset of ± 0.1 μm.

【0024】その結果、テストパターンの記録と消去を
106回繰返した後に、テスト記録して得られた記録条
件によりユーザデータ領域に記録したところ、ジッタは
対検出窓幅比で65%(初期は35%)、エッジシフト
は±8ns(初期は±2ns以下)に増大した。これ
は、テストトラックが、高パワーにて消去されたため
に、記録膜の構造緩和により垂直磁気異方性の減少によ
り記録感度が高くなったために、見かけ上テスト記録に
よりオーバーパワーであると判断され、標準パワーより
低いパワーに記録条件を設定する。そのため、データ領
域では標準パワーより低いパワーとなるので、パワー不
足となりジッタやエッジシフトが増大したものである。
As a result, when the test pattern was recorded and erased 10 6 times and then recorded in the user data area under the recording condition obtained by the test recording, the jitter was 65% in terms of the detection window width ratio (initial value). Of 35%) and the edge shift increased to ± 8 ns (initially ± 2 ns or less). This is because the test track was erased at high power, and the recording sensitivity was increased due to the decrease in perpendicular magnetic anisotropy due to the structural relaxation of the recording film. , Set the recording condition to a power lower than the standard power. As a result, the power becomes lower than the standard power in the data area, resulting in insufficient power and increased jitter and edge shift.

【0025】しかし、データ領域の記録と消去を繰返し
た場合には、トラックオフセットを考慮しても1.0μ
m幅の消去磁区幅で消去すれば良い。ところで、1.2
5μm幅の消去磁区幅を得る場合の記録膜の最高到達温
度は340℃であるのに対して、1.0μm幅の消去磁
区幅を得る場合の記録膜の最高到達温度は290℃と5
0℃も低いと、計算機シミュレーションにより推定し
た。この消去磁区幅がテストパターン記録領域とユーザ
データ記録領域とで異なるのは、テストパターンの記録
により最適記録パワーを探索するのにあたり、標準条件
からパワーを変化させているためにオーバーパワーで記
録する領域があり、消し残りが存在するとエラーの原因
となる。
However, when recording and erasing of the data area are repeated, even if the track offset is taken into consideration, 1.0 μ
It suffices to erase with an erase domain width of m width. By the way, 1.2
The maximum attainable temperature of the recording film is 340 ° C. when obtaining an erase magnetic domain width of 5 μm, whereas the maximum attainable temperature of the recording film is 290 ° C. when obtaining an erase magnetic domain width of 1.0 μm.
It was estimated by computer simulation that the temperature was as low as 0 ° C. The erase magnetic domain width is different between the test pattern recording area and the user data recording area because the optimum recording power is searched for by recording the test pattern, and the power is changed from the standard condition so that the overwriting is performed. If there is an area and there is an unerased portion, it will cause an error.

【0026】しかし、テストパターン領域の中にはオー
バーパワーで記録した領域があるにもかかわらず、この
領域は光ディスクを交換して記録と消去を異なる記録再
生装置により行なったり、光ディスクを交換したりする
ことがないので、トラックオフセットを考慮しなくても
よい。その結果、最適の消去磁区幅はテストパターン記
録領域とデータ記録領域とで異なる。一方、テストパタ
ーンの記録を行なうのに、レーザー光のパワーを各セク
タ毎に変化させてもよく、また、1セクタの中で変化さ
せても良い。このように、レーザー光のパワーを系統的
に変化させるので、消去パワーもこの変化に同期させて
変化させても良い。このように消去することにより、さ
らに、光磁気記録膜の構造緩和等の磁気特性の変化を抑
制できるので、さらなる高信頼化を図ることができる。
However, although there is an area recorded with overpower in the test pattern area, in this area, the optical disk is exchanged to perform recording and erasing by different recording / reproducing devices, or the optical disk is exchanged. Therefore, it is not necessary to consider the track offset. As a result, the optimum erase magnetic domain width differs between the test pattern recording area and the data recording area. On the other hand, in recording the test pattern, the power of the laser light may be changed for each sector, or may be changed within one sector. Since the laser light power is systematically changed in this way, the erasing power may also be changed in synchronization with this change. By erasing in this way, it is possible to further suppress changes in magnetic characteristics such as structural relaxation of the magneto-optical recording film, so that higher reliability can be achieved.

【0027】本発明による記録方法の他の実施例につい
て述べる。この他の実施例では、テストパターンの記録
を行なうために、各レーザー光のパワーの比を一定に保
ったままでパルス幅を一律に変化させた場合である。こ
こで、昇温過程及び降温過程の熱の流れを一定にするた
めに、マルチパルスにおける各パルス幅をすべて一律に
変化させた。ここで、パルス幅を増加させた分だけ、パ
ルス間隔を減らした。このようにしてパルス間隔を変化
させることは、先のレーザーパワーを変化させた場合と
比較して、さらに精密な制御が行なえる。パルス幅を変
化させることは、平均レーザーパワー(パルス幅とパワ
ーの積)を変化させることに相当する。このパルス幅制
御法による試し書き制御を行なった。図1に示す積層構
造の光ディスクのテストトラックへテストパターンを記
録した。テストパターンには、(1,7)変調方式の最
短パターンと最長パターンの繰返しを用いた。そして、
先のパターンをパルス幅を±3%,±5%,±8%と変
化させて記録して、再生を行ない、各パターンの信号振
幅の中心値の差を検出して、その差がゼロとなる記録条
件を探した。それをその使用環境での最適な記録条件と
した。
Another embodiment of the recording method according to the present invention will be described. In another embodiment, in order to record a test pattern, the pulse width is uniformly changed while keeping the power ratio of each laser beam constant. Here, in order to make the heat flow constant during the temperature raising process and the temperature lowering process, each pulse width in the multi-pulse was uniformly changed. Here, the pulse interval was reduced by the amount by which the pulse width was increased. By changing the pulse interval in this way, more precise control can be performed as compared with the case where the laser power is changed. Changing the pulse width corresponds to changing the average laser power (product of pulse width and power). Trial writing control was performed by this pulse width control method. A test pattern was recorded on the test track of the optical disc having the laminated structure shown in FIG. As the test pattern, a repetition of the shortest pattern and the longest pattern of the (1,7) modulation method was used. And
The above pattern is recorded by changing the pulse width to ± 3%, ± 5%, ± 8% and is reproduced, and the difference between the center values of the signal amplitudes of each pattern is detected, and the difference is determined to be zero. I searched for the following recording conditions. It was set as the optimum recording condition in the usage environment.

【0028】最適記録条件が見出された後に、記録した
テストパターンを消去した。その場合、最もパルス幅が
広い条件で記録した場合が、最も広い磁区幅を有するこ
とから、この磁区幅が得られる消去条件を求め、5.5
mWのパワーで連続光を照射した。このパワーで形成さ
れる磁区幅は、0.8μmであった。ここで、テスト記
録により形成された最も広い磁区幅は、0.8μmであ
り、このパワーで消去すると、消し残りなく完全消去が
できた。このようにして、テストパターンの記録と消去
を107回繰返した後に、テストパターンの記録を行な
い、そのテストパターンからもとめた記録条件によりユ
ーザデータ領域へ記録を行なった。その時のジッタとエ
ッジシフトを測定したところ、ジッタは対検出窓幅比で
31%であり、エッジシフトは±1ns以下であった。
これらの値は、テストパターンの記録と消去を繰返す前
と全く差はなかった。
After the optimum recording condition was found, the recorded test pattern was erased. In this case, when the recording is performed under the condition that the pulse width is the widest, the recording medium has the widest magnetic domain width.
Continuous light was irradiated with a power of mW. The magnetic domain width formed by this power was 0.8 μm. Here, the widest magnetic domain width formed by test recording was 0.8 μm, and when erasing with this power, complete erasing was possible without erasing. In this way, after the recording and erasing of the test pattern were repeated 10 7 times, the test pattern was recorded and recorded in the user data area under the recording conditions obtained from the test pattern. When the jitter and the edge shift at that time were measured, the jitter was 31% in terms of the detection window width ratio, and the edge shift was ± 1 ns or less.
These values did not differ from those before repeating recording and erasing of the test pattern.

【0029】これに対して、テストパターン領域での消
去条件を決定するために、トラックオフセットを考慮し
て、最大0.85μm幅の磁区を±0.1μmのトラッ
クオフセットを考慮して1.25μm幅の消去磁区幅で
消去した。その結果、テスト記録と消去を106回繰返
した後に、テストパターン記録して得られた記録条件に
よりデータ領域に記録したところ、ジッタは対検出窓幅
比で55%(初期は31%)、エッジシフトは±6ns
(初期は±1ns以下)に増大した。これは、テストト
ラックが、高パワーにて消去されたために、記録膜の構
造緩和により垂直磁気異方性の減少により記録感度が高
くなったために、見かけ上テスト記録によりオーバーパ
ワーであると判断され、標準パワーより低いパワーに記
録条件を設定する。そのため、データ領域では標準パワ
ーより低いパワーとなるので、パワー不足となりジッタ
やエッジシフトが増大する。このように、テスト記録に
おいては、テスト記録により形成された記録ドメインを
消去する場合にはトラックオフセットを考慮しなくても
良い。
On the other hand, in order to determine the erasing conditions in the test pattern area, a magnetic domain having a maximum width of 0.85 μm is taken into consideration with a track offset of 1.25 μm in consideration of a track offset of ± 0.1 μm. Erasure of width Erased by the width of the magnetic domain. As a result, when the test recording and erasing were repeated 10 6 times and the data was recorded in the data area under the recording conditions obtained by the test pattern recording, the jitter was 55% in the detection window width ratio (initially 31%). Edge shift is ± 6ns
(Initially ± 1 ns or less). This is because the test track was erased at high power, and the recording sensitivity was increased due to the decrease in perpendicular magnetic anisotropy due to the structural relaxation of the recording film. , Set the recording condition to a power lower than the standard power. Therefore, in the data area, the power is lower than the standard power, so that the power becomes insufficient and the jitter and the edge shift increase. As described above, in the test recording, when the recording domain formed by the test recording is erased, it is not necessary to consider the track offset.

【0030】[0030]

【発明の効果】本発明によれば、記録条件をテストパタ
ーン記録により決定する試し書き記録制御法において、
テストパターンにより形成した記録磁区を消去するため
に用いたテストパターンの記録の中で最も幅の広い磁区
を形成する条件で消去することにより、テストパターン
記録領域の記録膜が構造緩和等による磁気特性の変化す
ることがないので、ジッタやエッジシフトの変動をきた
すことがないので、信頼性の高い光ディスクを実現き
る。また、試し書き記録制御法が有効に機能するので、
超高密度記録が実現できる。
According to the present invention, in the test write recording control method for determining the recording condition by the test pattern recording,
By erasing under the condition that the widest magnetic domain is formed in the recording of the test pattern used for erasing the recording magnetic domain formed by the test pattern, the recording film in the test pattern recording area has magnetic properties due to structural relaxation etc. Since it does not change, jitter and edge shift do not fluctuate, and a highly reliable optical disk can be realized. Also, since the trial writing recording control method works effectively,
Ultra high density recording can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による記録方法の一実施例で用いた光デ
ィスクの構造を示す部分断面図
FIG. 1 is a partial sectional view showing the structure of an optical disc used in an embodiment of a recording method according to the present invention.

【図2】本発明による記録方法を実施した光ディスク記
録再生装置の一実施例の構成を示すブロック図
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of an optical disc recording / reproducing apparatus for implementing the recording method according to the present invention.

【図3】本発明による記録方法の一実施例で用いた記録
に用いた波形を示す図
FIG. 3 is a diagram showing waveforms used for recording used in an example of a recording method according to the present invention.

【図4】本発明による記録方法の一実施例で用いた試し
書きによる記録条件の変動を検出する原理説明図。
FIG. 4 is an explanatory diagram of the principle of detecting a change in recording conditions due to trial writing used in an embodiment of the recording method according to the present invention.

【図5】変動パワーΔPと標準のパワーPoptとの比
ΔP/Poptと信号振幅の中心値の差(ΔV)との関
係を示す計測値を示す図
FIG. 5 is a diagram showing measured values showing a relationship between a ratio ΔP / Popt between a fluctuation power ΔP and a standard power Popt and a difference (ΔV) between central values of signal amplitudes.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:光ディスク基板 12:光ヘッド 2:窒化シリコン膜 13:受光器 3:TbFeCo膜 14:再生アンプ 4:窒化シリコン膜 15:波形等化器 5:Al98Ti2膜 16:入力切替器 6:紫外線硬化型樹脂 17:整形器 7:記録媒体 18:PLL 8:記録波形生成器 19:弁別器 9:パワー制御器 20:復号器 10:レーザ駆動器 21:試し書器 11:レーザ 22:符号器1: Optical Disc Substrate 12: Optical Head 2: Silicon Nitride Film 13: Photodetector 3: TbFeCo Film 14: Reproducing Amplifier 4: Silicon Nitride Film 15: Waveform Equalizer 5: Al 98 Ti 2 Film 16: Input Switcher 6: UV curable resin 17: shaping device 7: recording medium 18: PLL 8: recording waveform generator 19: discriminator 9: power controller 20: decoder 10: laser driver 21: trial writing device 11: laser 22: code vessel

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 土永 浩之 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 前田 武志 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 釘屋 文雄 東京都国分寺市東恋ケ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Hiroyuki Doninaga, 1-280 Higashi Koikeku, Kokubunji City, Tokyo Metropolitan Research Center, Hitachi, Ltd. (72) Takeshi Maeda 1-280 Higashi Koikeku, Tokyo Kokubunji City Hitachi, Ltd. (72) Inventor Fumio Kugiya 1-280 Higashi Koikekubo, Kokubunji City, Tokyo Inside Hitachi Central Research Laboratory

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】光ディスクを用いてユーザデータを記録、
再生、消去を行なう光記録において、上記光ディスクを
光ディスク駆動装置に装着後、光ディスクの所定の位置
にテストパターンを記録し、上記テストパターンを再生
しテスト情報を抽出し、抽出されたテスト情報を用いて
上記ユーザデータの記録、再生、消去のいずれかの処理
を行い、記録された上記テストパターンを上記テスト情
報の抽出後かつ上記光ディスクを光ディスク駆動装置か
ら取り外す前に消去することを特徴とする光記録の記録
方法。
1. User data is recorded using an optical disc,
In optical recording for reproducing and erasing, after mounting the optical disc in an optical disc drive, recording a test pattern at a predetermined position of the optical disc, reproducing the test pattern to extract test information, and using the extracted test information The user data is recorded, reproduced, or erased, and the recorded test pattern is erased after the test information is extracted and before the optical disc is removed from the optical disc drive. Recording method of record.
【請求項2】光ディスクを用いてユーザデータを記録、
再生、消去を行なう光記録において、上記光ディスクを
光ディスク駆動装置に装着後、光ディスクの所定の位置
にテストパターンを記録し、上記テストパターンを再生
しテスト情報を抽出し、抽出されたテスト情報を用いて
上記ユーザデータの記録、再生、消去のいずれかの処理
を行い、記録されたテ上記ストパターンを光ディスク駆
動装置の電源遮断前に消去することを特徴とする光記録
の記録方法。
2. An optical disk is used to record user data,
In optical recording for reproducing and erasing, after mounting the optical disc in an optical disc drive, recording a test pattern at a predetermined position of the optical disc, reproducing the test pattern to extract test information, and using the extracted test information A recording method of optical recording, characterized in that the user data is recorded, reproduced, or erased, and the recorded test pattern is erased before power-off of the optical disk drive.
【請求項3】請求項1又は2記載の光記録の記録方法に
おいて、記録したテストパターンを消去するために、上
記記録したテストパターンの中で最も広い幅の磁区が完
全に消去できる消去磁区が形成できる連続光又はパルス
光を上記光ディスクのテストパターン記録領域に照射す
ることを特徴とする光記録の記録方法。
3. The recording method for optical recording according to claim 1 or 2, wherein an erased magnetic domain, which is capable of completely erasing the widest magnetic domain in the recorded test pattern, is used to erase the recorded test pattern. A recording method for optical recording, comprising irradiating a test pattern recording area of the optical disc with continuous light or pulsed light that can be formed.
【請求項4】請求項1又は2記載の光記録の記録方法に
おいて、記録したテストパターンを消去するために、上
記記録したテストパターンの磁区幅と等しい磁区幅が得
られる連続光又はパルス光を上記光ディスクのテストパ
ターン記録領域に照射することを特徴とする光記録の記
録方法。
4. The optical recording method according to claim 1, wherein continuous light or pulsed light for obtaining a magnetic domain width equal to the magnetic domain width of the recorded test pattern is used to erase the recorded test pattern. A recording method for optical recording, comprising irradiating a test pattern recording area of the optical disc.
【請求項5】請求項1又は2記載の光記録の記録方法に
おいて、記録したテストパターンを消去するために、上
記記録したテストパターンの中で最もパルス幅の大きな
条件で形成した磁区幅と等しい磁区幅が得られる連続光
又はパルス光を上記光ディスクのテストパターン記録領
域に照射することを特徴とする光記録の記録方法。
5. The optical recording method according to claim 1 or 2, wherein the recorded test pattern is erased so as to have the same magnetic domain width as that formed under the condition of the largest pulse width in the recorded test pattern. A recording method for optical recording, comprising irradiating a test pattern recording area of the optical disc with continuous light or pulsed light capable of obtaining a magnetic domain width.
【請求項6】請求項3、4又は5記載の光記録の記録方
法において、上記、記録したテストパターンを消去する
ために光ビームを上記光ディスクのテストパターン記録
領域に照射する場合に、上記光ディスクの記録膜の最高
到達温度が300℃を超えない温度となるように上記光
ビームのパワーを設定することを特徴とする光記録の記
録方法。
6. The optical disc recording method according to claim 3, 4 or 5, wherein the optical disc is irradiated with a light beam for erasing the recorded test pattern. 2. The recording method for optical recording, wherein the power of the light beam is set so that the maximum temperature reached by the recording film does not exceed 300 ° C.
【請求項7】請求項1ないし6のいずれかに記載の光記
録の記録方法において、記録したテストパターンとし
て、上記ユーザデータの記録時に生じる最も短いパター
ンと最も長いパターンを含ませることを特徴とする光記
録の記録方法。
7. The recording method for optical recording according to claim 1, wherein the recorded test patterns include a shortest pattern and a longest pattern generated when the user data is recorded. Optical recording method.
【請求項8】請求項1ないし6のいずれかに記載の光記
録の記録方法において、光ディスク記録再生装置に標準
となる記録条件を記憶し、上記記録条件を用いて上記テ
ストパターンの記録を光ビームのレベル比を一定に保
ち、光ビームのパワー又はパルス幅を増減して記録する
ことを特徴とする光記録の記録方法。
8. The optical recording method according to claim 1, wherein standard recording conditions are stored in the optical disk recording / reproducing apparatus, and the test pattern is recorded by using the recording conditions. A recording method for optical recording, characterized in that the level ratio of the beam is kept constant and the power or pulse width of the light beam is increased or decreased for recording.
【請求項9】請求項1ないし7のいずれかに記載の光記
録の記録方法において、上記光ディスク全面を複数のゾ
ーンに分割し、1つのゾーン内にテストパターンを記録
するためのテストトラックを設け、上記テストトラック
に上記テストパターンを記録することを特徴とする光記
録の記録方法。
9. The optical recording method according to claim 1, wherein the entire surface of the optical disc is divided into a plurality of zones, and a test track for recording a test pattern is provided in one zone. A recording method for optical recording, comprising recording the test pattern on the test track.
【請求項10】請求項9記載の光記録の記録方法におい
て、上記複数のゾーンを少なくともディスクの記録領域
の最も内側、最も外側及び中央部にあるゾーンに一定の
テストパターンを記録することを特徴とする光記録の記
録方法。
10. The optical recording method according to claim 9, wherein a constant test pattern is recorded in at least the innermost zone, outermost zone and central zone of the recording area of the disc. Recording method for optical recording.
【請求項11】請求項9又は10記載の光記録の記録方
法において、上記複数のゾーンの各ゾーンへの上記ユー
ザーデータ及び上記テストパターンの記録密度がいずれ
のゾーンでも等しくなるように記録することを特徴とす
る光記録の記録方法。
11. The optical recording method according to claim 9 or 10, wherein recording is performed so that the recording density of the user data and the test pattern in each of the plurality of zones is equal in all zones. Recording method of optical recording characterized by.
【請求項12】請求項1ないし11のいずれかに記載の
光記録の記録方法において、上記ユーザーデータ及び上
記テストパターンの記録にマーク長記録方式を用い、マ
ークエッジ位置の検出に原波形スライス方式を用いるこ
とを特徴とする光記録の記録方法。
12. An optical recording method according to claim 1, wherein a mark length recording method is used for recording the user data and the test pattern, and an original waveform slice method is used for detecting a mark edge position. A recording method for optical recording, comprising:
【請求項13】請求項1ないし11のいずれかに記載の
光記録の記録方法において、上記テストパターンの記録
後、上記テストパターンのデーターを再生して標準状態
により記録した結果からのずれを検出するために、最も
長いパターンの信号振幅の中心値と最も短いパターンの
信号振幅の中心値との差を検出し、その差がゼロとなる
ように光ビームを制御して上記ユーザデータを記録する
ことを特徴とする光記録の記録方法。
13. A recording method for optical recording according to claim 1, wherein after the recording of the test pattern, the data of the test pattern is reproduced to detect a deviation from a recording result in a standard state. In order to do so, the difference between the center value of the signal amplitude of the longest pattern and the center value of the signal amplitude of the shortest pattern is detected, and the light beam is controlled so that the difference becomes zero and the user data is recorded. A recording method of optical recording characterized by the above.
【請求項14】請求項1ないし11記載のいずれかの光
記録の記録方法において、抽出されたテスト情報を用い
て上記ユーザデータの消去を行うとき、トラックオフセ
ットを考慮して最大限一方向にずれて記録した記録ドメ
インを消去する場合にそれとは反対方向に最大にずれて
も、完全に消去できる磁区幅が得られるように光ビーム
のパワーを設定することを特徴とする光記録の記録方
法。
14. The optical recording method according to claim 1, wherein when the user data is erased by using the extracted test information, the track offset is taken into consideration in at least one direction. Recording method of optical recording characterized by setting the power of the light beam so that a magnetic domain width that can be completely erased can be obtained even when the recording domain that has been misregistered and recorded is erased and shifted to the maximum in the opposite direction. .
【請求項15】請求項1ないし13記載のいずれかの光
記録の記録方法において、上記テストパターンを記録す
るために、光ディスク記録再生装置にあらかじめ標準と
なる記録条件を記憶した部分を設け、上記記録条件をも
とにレーザー光のパワーのレベル比を一定に保ったまま
で、一定の割合でレーザー光のパワー又はパルス幅を増
減させて記録することを特徴とする光記録の記録方法。
15. The optical recording method according to claim 1, wherein an optical disk recording / reproducing apparatus is provided with a portion in which standard recording conditions are previously stored in order to record the test pattern. A recording method for optical recording, characterized in that the power level or pulse width of the laser light is increased or decreased at a constant rate while the level ratio of the laser light power is kept constant based on the recording conditions.
【請求項16】請求項1ないし11記載のいずれかの光
記録の記録方法において、上記ユーザーデータ又は上記
テストパターンを記録する記録波形として、少なくとも
4つのパワーレベルを有し、かつ、1つの記録符号に相
当する部分を微小パルスの集合体より形成することを特
徴とする光記録の記録方法。
16. The optical recording method according to claim 1, wherein the recording waveform for recording the user data or the test pattern has at least four power levels and one recording. A recording method of optical recording, characterized in that a portion corresponding to a code is formed from an aggregate of minute pulses.
【請求項17】請求項16記載の光記録の記録方法にお
いて、上記微小パルスの集合体よりなる記録パルスの各
々のパルス幅を書き込みクロックに同期したパルス幅に
設定することを特徴とする光記録の記録方法。
17. The optical recording method according to claim 16, wherein the pulse width of each recording pulse consisting of the aggregate of the minute pulses is set to a pulse width synchronized with a write clock. Recording method.
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