JPH07104202A - Light beam scanner - Google Patents

Light beam scanner

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JPH07104202A
JPH07104202A JP24456693A JP24456693A JPH07104202A JP H07104202 A JPH07104202 A JP H07104202A JP 24456693 A JP24456693 A JP 24456693A JP 24456693 A JP24456693 A JP 24456693A JP H07104202 A JPH07104202 A JP H07104202A
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JP
Japan
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light beam
signal
pulse width
comparator
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP24456693A
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Japanese (ja)
Inventor
Akinori Yusa
昭紀 遊佐
Shoji Oba
荘司 大庭
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP24456693A priority Critical patent/JPH07104202A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain a stable synchronizing signal having desired pulse width in a light beam scanner utilized in a laser beam printer, etc. CONSTITUTION:As to the light beam scanner a synchronizing signal generating circuit is constituted of a comparator 10 provided with a strobing terminal 13, and a pulse width control circuit 4 constituted of a time constant circuit 5 and a bias circuit 6. The output of a photodetector 1 is inputted to the inverted terminal 12 of the comparator 10, and a reference voltage 17 is inputted to a noninverted terminal 11. The pulse width of the synchronizing signal 19 can be made constant by inputting the output of the photodetector 1 to the strobing terminal 13 through the pulse width control circuit 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電子写真方式によって
画像形成する複写機、ファクシミリ、およびレーザビー
ムプリンタ等の画像形成装置に利用される光ビーム走査
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light beam scanning device used in an image forming apparatus such as a copying machine, a facsimile, and a laser beam printer for forming an image by an electrophotographic method.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体レーザを光源とする光ビー
ム走査装置は、電子写真分野で幅広く利用されている。
2. Description of the Related Art In recent years, a light beam scanning device using a semiconductor laser as a light source has been widely used in the field of electrophotography.

【0003】以下に従来の光ビーム走査装置の概略構成
について図面を参照にしながら説明する。図4は従来の
光ビーム走査装置を示すものである。図において、21
は半導体レーザであり、ここから発射された光ビーム
は、両面非球面単レンズからなる第1の結像光学系22
を通り、スリットを有するアパーチャ23でビーム整形
された後、回転多面鏡24に到達するように構成されて
いる。この回転多面鏡24は薄い平板状の正六面体から
なり、その外周面は鏡面となっており、入射された光ビ
ームを反射するように構成されている。そしてこの反射
された光ビームは回転多面鏡24が回転することによっ
て左から右に走査され、長尺レンズからなる第2の結像
光学系25を通過して、被走査体26上に結像するよう
に構成されている。
A schematic structure of a conventional light beam scanning device will be described below with reference to the drawings. FIG. 4 shows a conventional light beam scanning device. In the figure, 21
Is a semiconductor laser, and the light beam emitted from the semiconductor laser is a first imaging optical system 22 composed of a double-sided aspherical single lens.
The beam is shaped by the aperture 23 having a slit, and then reaches the rotary polygon mirror 24. The rotary polygon mirror 24 is made of a thin plate-shaped regular hexahedron, and its outer peripheral surface is a mirror surface, and is configured to reflect an incident light beam. The reflected light beam is scanned from left to right by the rotation of the rotary polygon mirror 24, passes through the second imaging optical system 25 composed of a long lens, and forms an image on the scanned object 26. Is configured to.

【0004】次に、28は回転多面鏡24から反射され
た光ビームの光路中に設けられた結像レンズであり、反
射された光ビームの走査開始位置近傍に配設され、スリ
ットを有するアパーチャ29を介してビーム整形された
光が光検出器1に入射するように構成されている。
Next, 28 is an imaging lens provided in the optical path of the light beam reflected from the rotary polygon mirror 24, which is provided near the scanning start position of the reflected light beam and has an aperture having a slit. The light beam shaped via 29 enters the photodetector 1.

【0005】以上のように構成された光ビーム走査装置
について、以下にその動作説明をする。
The operation of the light beam scanning device constructed as described above will be described below.

【0006】半導体レーザ21から発射された光ビーム
は、第1の結像光学系22及びアパーチャ23を介して
回転多面鏡24に到達し、回転多面鏡24の回転で光ビ
ームを走査可能にしている。走査ビームの一部は結像レ
ンズ28、アパーチャ29を介して光検出器1に入射さ
れ、残りの走査ビームは第2の結像光学系25を介して
一走査毎に回転する被走査体26上に結像する。
The light beam emitted from the semiconductor laser 21 reaches the rotary polygon mirror 24 via the first imaging optical system 22 and the aperture 23, and the rotation of the rotary polygon mirror 24 makes the light beam scanable. There is. A part of the scanning beam is incident on the photodetector 1 via the imaging lens 28 and the aperture 29, and the remaining scanning beam is rotated via the second imaging optical system 25 for each scanning 26. Image on top.

【0007】ここで、被走査体26は回転多面鏡24の
回転に連動して回動させる必要があり、回転多面鏡26
により走査ビームを一走査させる毎に、被走査体26が
一走査分回動するように、回転多面鏡24と被走査体2
6は同期がとられている。
Here, the scanned object 26 must be rotated in conjunction with the rotation of the rotary polygon mirror 24.
Each time the scanning beam is scanned by one, the rotary polygon mirror 24 and the scan target 2 are arranged so that the scan target 26 rotates by one scan.
6 is synchronized.

【0008】その方法は、例えば走査ビームの一部が光
検出器1に入射される毎に光検知信号31を発生させ、
電圧比較型の比較器(図示せず)を通すことにより、波
形整形されたパルス状の同期信号を得ようとするもので
ある。
The method is, for example, to generate a photodetection signal 31 each time a part of the scanning beam is incident on the photodetector 1.
By passing through a voltage comparison type comparator (not shown), it is intended to obtain a pulse-shaped synchronizing signal having a waveform shaped.

【0009】さらに、光検出器1により光検知信号31
を発生してから回転多面鏡24が角度θだけ回転した位
置と印字開始位置とを一致させてやると、例えば画像形
成装置の基準クロックを発生させ角度θ後にビデオ信号
が発生するように構成するだけで、上述の同期信号を特
定時間遅延させてビデオクロック信号として利用できる
ので、画像形成装置の回路構成を簡素化することが可能
であった。
Further, the photodetector 1 outputs a photodetection signal 31.
When the position where the rotary polygon mirror 24 is rotated by the angle θ and the print start position are made to coincide with each other after the occurrence of, the reference clock of the image forming apparatus is generated, and the video signal is generated after the angle θ. Since the synchronization signal described above can be used as the video clock signal after delaying the synchronization signal for a specific time, the circuit configuration of the image forming apparatus can be simplified.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来構成において、光検知信号31から作られた同期信
号をビデオクロック信号として利用するためには、同期
信号のパルス幅を常に一定に保つことにより安定したビ
デオクロック信号を得ることが必要であり、そのため
に、光検知信号31のパルス幅を常に一定に保つことが
不可欠であった。
However, in the above-mentioned conventional configuration, in order to use the synchronizing signal generated from the light detection signal 31 as the video clock signal, the pulse width of the synchronizing signal is always kept constant. It is necessary to obtain a stable video clock signal, and for that reason, it is essential to always keep the pulse width of the light detection signal 31 constant.

【0011】しかし、従来構成において光検知信号31
のパルス幅を一定に保つ構成として、アパーチャ29に
設けられたスリットを利用していたが、スリットの端部
には大小差はあるもののバリが発生し、このスリット幅
を厳密に一定に保つことにより、パルス幅を一定に保つ
ことは、製造上限界があった。
However, in the conventional configuration, the light detection signal 31
The slit provided in the aperture 29 was used as a configuration for keeping the pulse width of the slit constant. However, burrs are generated at the ends of the slit, although there is a difference in size, and this slit width must be kept strictly constant. Therefore, keeping the pulse width constant has a manufacturing limit.

【0012】また、光検知信号31のパルス幅は結像レ
ンズ28、アパーチャ29、光検出器1の相対的な取り
付け位置によっても変動するとともに、光検出器1近傍
のビーム径が20×40μm程度にまで絞られているこ
とから、回転多面鏡24の鏡の面倒れによる光ビームの
位置変動によっても変動し、さらにごみなどの異物の付
着によっても回転多面鏡の各反射面ごとにパルス幅が変
動する恐れがあり、機械精度によりパルス幅を一定にす
ることには限界があった。
The pulse width of the photodetection signal 31 varies depending on the relative mounting positions of the imaging lens 28, the aperture 29 and the photodetector 1, and the beam diameter near the photodetector 1 is about 20 × 40 μm. Since it is narrowed down to, the pulse width varies depending on the position change of the light beam due to the mirror tilt of the rotary polygon mirror 24, and the pulse width of each reflecting surface of the rotary polygon mirror also due to the adhesion of foreign matter such as dust. There is a possibility that it may fluctuate, and there was a limit to making the pulse width constant due to machine precision.

【0013】本発明は上記従来の課題を解決するもの
で、安定した所望のパルス幅の同期信号を得ることがで
きる光ビーム走査装置を提供することを目的とする。
The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a light beam scanning device capable of obtaining a stable synchronizing signal having a desired pulse width.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光ビーム走査装置は、光検出手段の出力信号
より回転体と被走査体の回転同期を得るための同期信号
を発生する同期信号発生手段を、前記光検出手段の出力
信号と基準信号とを比較するための比較手段と、時定数
回路とバイアス回路からなるパルス幅制御回路で構成
し、前記比較手段に入力信号とストローブレベルとの比
較によりその出力が制御されるストローブ端子を設ける
とともに、前記光検出手段の出力信号の一部を前記パル
ス幅制御手段を介して前記ストローブ端子に入力するこ
とにより、前記光検出手段の出力信号に影響されない前
記同期信号を得るように構成されている。
In order to achieve the above object, the light beam scanning device of the present invention generates a synchronizing signal for obtaining rotational synchronization between a rotating body and a scanned body based on an output signal of a light detecting means. The synchronizing signal generating means comprises a comparing means for comparing the output signal of the light detecting means with a reference signal, and a pulse width control circuit consisting of a time constant circuit and a bias circuit, and the comparing means generates an input signal and a strobe. By providing a strobe terminal whose output is controlled by comparison with the level, and by inputting a part of the output signal of the photodetection means to the strobe terminal via the pulse width control means, It is arranged to obtain the synchronization signal independent of the output signal.

【0015】[0015]

【作用】本発明の光ビーム走査装置は、時定数回路を用
いることによって光検知信号のパルス幅の変動によら
ず、同期信号のパルス幅を一定にすることができる。
By using the time constant circuit, the light beam scanning device of the present invention can make the pulse width of the synchronizing signal constant regardless of the fluctuation of the pulse width of the light detection signal.

【0016】[0016]

【実施例】以下本発明の一実施例について図面を参照し
ながら説明する。図1は、本発明の光ビーム走査装置の
同期信号発生回路のブロック図であり、図2は各回路で
の出力波形を示す図である。図2の横軸は時間経過、縦
軸は電圧を示す。なお、図1において光検出器1が光検
知信号31を発生するまでは図4と同様であるので説明
は省略する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a synchronizing signal generating circuit of a light beam scanning device of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing an output waveform in each circuit. The horizontal axis of FIG. 2 indicates the passage of time, and the vertical axis indicates the voltage. It should be noted that in FIG. 1, the process until the photodetector 1 generates the photodetection signal 31 is the same as that in FIG.

【0017】図1において、1は光検出器であり、その
内部には受光素子2が設けられている。この受光素子2
は半導体レーザの光を受光すると、その光を光電変換し
て図2(a)で示されるようなパルス状の光検知信号3
1を発生する。この光検知信号31は増幅器3によって
増幅され、図2(b)に示されるような増幅信号16と
なる。
In FIG. 1, reference numeral 1 is a photodetector, in which a light receiving element 2 is provided. This light receiving element 2
Receives the light of the semiconductor laser, photoelectrically converts the light into a pulsed light detection signal 3 as shown in FIG.
1 is generated. The light detection signal 31 is amplified by the amplifier 3 and becomes an amplified signal 16 as shown in FIG.

【0018】次に、この増幅信号16は比較器10の反
転端子12に入力され、一方抵抗器14および15によ
って設定される基準電圧17は比較器10の非反転端子
11に入力される。この電圧比較型の比較器10は、高
速処理を必要とする光ビーム走査装置に追従するため動
作速度が高速であり、増幅信号16が基準電圧17以上
の場合にはLOWが出力され、増幅信号16が基準電圧
17未満の場合にはHIGHが出力され、図2(c)に
示すような出力波形が得られる。
The amplified signal 16 is then input to the inverting terminal 12 of the comparator 10, while the reference voltage 17 set by the resistors 14 and 15 is input to the non-inverting terminal 11 of the comparator 10. The voltage comparison type comparator 10 operates at a high speed because it follows a light beam scanning device that requires high-speed processing. When the amplified signal 16 is a reference voltage 17 or higher, LOW is output, and the amplified signal is output. When 16 is less than the reference voltage 17, HIGH is output, and an output waveform as shown in FIG. 2C is obtained.

【0019】次に、増幅信号16は比較器10の反転端
子12に入力されるのみならず、同時にパルス幅制御回
路4にも入力される。このパルス幅制御回路4は、時定
数回路5とバイアス回路6から構成され、ストローブ端
子13に接続されている。時定数回路5はコンデンサ7
と抵抗器8から構成され、バイアス回路6は抵抗器9か
ら構成されている。
Next, the amplified signal 16 is input not only to the inverting terminal 12 of the comparator 10 but also to the pulse width control circuit 4 at the same time. The pulse width control circuit 4 comprises a time constant circuit 5 and a bias circuit 6 and is connected to a strobe terminal 13. The time constant circuit 5 is a capacitor 7
And the resistor 8 and the bias circuit 6 is constituted by the resistor 9.

【0020】パルス幅制御回路4に入力した増幅信号1
6は、時定数回路5によって微分され、その微分信号は
図2(d)に示されるように、急峻に立ち上がり、コン
デンサ7と抵抗器8によって定まる一定の時定数に基づ
いて減衰する波形になる。この微分信号は、バイアス回
路6を介してパルス幅制御信号18として比較器10の
ストローブ端子13に入力される。このバイアス回路6
は、パルス幅制御信号18とストローブレベルとのマッ
チングを取り、比較器10の出力信号のパルス幅を調整
するためのものである。
Amplified signal 1 input to the pulse width control circuit 4
6 is differentiated by the time constant circuit 5, and the differentiated signal becomes a waveform that rises steeply and attenuates based on a constant time constant determined by the capacitor 7 and the resistor 8, as shown in FIG. . This differential signal is input to the strobe terminal 13 of the comparator 10 as the pulse width control signal 18 via the bias circuit 6. This bias circuit 6
Is for adjusting the pulse width of the output signal of the comparator 10 by matching the pulse width control signal 18 with the strobe level.

【0021】ここで、ストローブ端子13に入力される
パルス幅制御信号18がストローブレベル以上の電圧の
間は、比較器10の出力信号が動作し、図2(e)に示
されるような同期信号19が出力され、反対に、パルス
幅制御信号18がストローブレベル未満の電圧の間は、
比較器10の出力信号19が停止する。
Here, while the pulse width control signal 18 input to the strobe terminal 13 is at a voltage equal to or higher than the strobe level, the output signal of the comparator 10 operates and the synchronizing signal as shown in FIG. 19 is output, and conversely, while the pulse width control signal 18 is below the strobe level,
The output signal 19 of the comparator 10 stops.

【0022】そして、図2(d)に示されるようなパル
ス幅制御信号18がストローブレベルより大きくなる時
間、すなわち、図2(e)に示されるような比較器10
の出力信号19が動作する時間が、図2(c)に示すよ
うな増幅信号16と基準電圧17の比較によって発生す
るパルス幅より短くなるように、時定数回路5の時定数
や基準電圧17を適切に定めると、同期信号19のパル
ス幅は、一定の時定数に基づいて減衰するパルス幅制御
信号18で決められるようになる。
Then, the time when the pulse width control signal 18 as shown in FIG. 2 (d) becomes larger than the strobe level, that is, the comparator 10 as shown in FIG. 2 (e).
Of the time constant circuit 5 and the reference voltage 17 such that the output signal 19 of FIG. 2 becomes shorter than the pulse width generated by the comparison between the amplified signal 16 and the reference voltage 17 as shown in FIG. When the pulse width control signal 18 is properly determined, the pulse width of the synchronization signal 19 is determined by the pulse width control signal 18 that attenuates based on a constant time constant.

【0023】なお、比較器10に備えられたストローブ
端子13は、ストローブレベル以上の電圧が印加されて
いる時は比較器10の出力信号が動作し、ストローブレ
ベル未満の電圧が印加されている時は比較器10の出力
信号が停止するという機能を有しており、ストローブ端
子13の入力の動作速度は、光ビーム走査装置の処理速
度に追従することができるが、比較器10の高速な動作
速度と比べて遅いという特徴を有している。
At the strobe terminal 13 provided in the comparator 10, the output signal of the comparator 10 operates when a voltage higher than the strobe level is applied, and when the voltage lower than the strobe level is applied. Has a function of stopping the output signal of the comparator 10, and the operating speed of the input of the strobe terminal 13 can follow the processing speed of the light beam scanning device, but the high speed operation of the comparator 10 It has the characteristic of being slower than the speed.

【0024】従来、この種のストローブ端子13には常
にストローブレベル以上の電圧が印加されて比較器10
の出力信号を動作させ、半導体レーザの出力が落ちてき
た時にはストローブレベル未満の電圧を印加して、比較
器10の出力信号を停止するという役割を果たしてい
た。本実施例では、半導体レーザの信頼性が高まりスト
ローブ端子13を従来の役割で使う必要がなくなったの
で、ストローブ端子13を安定したパルス幅の同期信号
を得るために利用している。
Conventionally, a voltage higher than the strobe level is always applied to the strobe terminal 13 of this type, and the comparator 10
When the output of the semiconductor laser drops, a voltage lower than the strobe level is applied to stop the output signal of the comparator 10. In this embodiment, the reliability of the semiconductor laser is improved and it is no longer necessary to use the strobe terminal 13 in the conventional role. Therefore, the strobe terminal 13 is used to obtain a synchronization signal having a stable pulse width.

【0025】以上の説明から明らかなように、同期信号
19のパルス幅は、光検知信号31のパルス幅の変動に
よらず一定になり、安定した同期信号が得られ、しかも
時定数回路5の時定数を適切に定めることによって所望
のパルス幅の同期信号が得られることになる。
As is clear from the above description, the pulse width of the sync signal 19 becomes constant regardless of the fluctuation of the pulse width of the photodetection signal 31, a stable sync signal can be obtained, and the time constant circuit 5 has the same structure. By properly setting the time constant, a synchronization signal having a desired pulse width can be obtained.

【0026】ここで、本実施例では時定数回路5からの
微分信号をストローブ端子13に入力しているが、時定
数回路5からの微分信号を直接電圧比較型比較器の反転
端子に入力する場合と比較してみることにする。
Although the differential signal from the time constant circuit 5 is input to the strobe terminal 13 in this embodiment, the differential signal from the time constant circuit 5 is directly input to the inverting terminal of the voltage comparison type comparator. Let's compare it with the case.

【0027】図5は、本発明の一実施例の比較例におけ
るヒステリシス特性を持つ比較器のブロック図である。
図5において、光検出器からの光検知信号31を、コン
デンサ7と抵抗器8からなる時定数回路を通して微分
し、この微分信号を電圧比較型比較器10の反転端子1
2に入力する。
FIG. 5 is a block diagram of a comparator having a hysteresis characteristic in a comparative example of one embodiment of the present invention.
In FIG. 5, the photodetection signal 31 from the photodetector is differentiated through a time constant circuit composed of the capacitor 7 and the resistor 8, and the differentiated signal is inverted by the inverting terminal 1 of the voltage comparison type comparator 10.
Enter 2.

【0028】また、比較器10の非反転端子11に基準
電圧17を入力し、図5には示していないがストローブ
端子には常にストローブレベル以上の電圧を印加し、比
較器10の出力信号が常に動作するようにしている。
Further, the reference voltage 17 is input to the non-inverting terminal 11 of the comparator 10, and although not shown in FIG. 5, a voltage above the strobe level is always applied to the strobe terminal so that the output signal of the comparator 10 is Always working.

【0029】上記の比較器10は、微分信号の電圧が基
準電圧17以上の場合にはLOWが出力され、微分信号
の電圧が基準電圧17未満の場合にはHIGHが出力さ
れる。ところが、比較器10の出力波形には、図6上図
に示すようなチャタリング(出力がばたつく現象)が生
じ、1つの微分信号に対応した1つのパルスを出力した
すぐ後にパルス幅の非常に短いパルスを複数出力するた
め、同期信号として利用できないことがわかった。
The comparator 10 outputs LOW when the voltage of the differential signal is equal to or higher than the reference voltage 17, and outputs HIGH when the voltage of the differential signal is less than the reference voltage 17. However, in the output waveform of the comparator 10, chattering (a phenomenon in which the output fluctuates) as shown in the upper diagram of FIG. 6 occurs, and immediately after outputting one pulse corresponding to one differential signal, the pulse width is very short. It was found that it cannot be used as a synchronization signal because it outputs multiple pulses.

【0030】チャタリングの原因としては図6で示され
る通り、比較器10の反転端子12に入力される微分信
号の波形の緩やかな減衰波形部分に小さなリップルが観
測されているが、この波形を動作速度が高速な比較器1
0を用いて基準電圧17と比較すると、微分信号の小さ
なリップルを拾ってしまい図に示されるように同期信号
にチャタリングが発生してしまうのである。
As shown in FIG. 6, as a cause of chattering, a small ripple is observed in the gently attenuated waveform portion of the waveform of the differential signal input to the inverting terminal 12 of the comparator 10, but this waveform operates. High speed comparator 1
When 0 is used and compared with the reference voltage 17, a small ripple of the differential signal is picked up and chattering occurs in the synchronization signal as shown in the figure.

【0031】このため、図5に示すように低抵抗の抵抗
器32を挿入し出力から正帰還をかけてヒステリシス特
性を持たせるようにすれば、チャタリングを防止するこ
とは可能である。しかし、ヒステリシス特性を持たせる
ことにより、一度比較器10の出力がLOWになると、
入力電圧が比較器10のスレッショルド電圧(しきい
値)より十分低くならないと比較器10の出力はHIG
Hにはならない。したがって、比較器10の応答時間が
格段に遅くなる欠点があり、図5に示す回路は実用的で
はないのである。
Therefore, chattering can be prevented by inserting a low-resistance resistor 32 as shown in FIG. 5 and providing positive feedback from the output to give a hysteresis characteristic. However, by providing the hysteresis characteristic, once the output of the comparator 10 becomes LOW,
If the input voltage does not become sufficiently lower than the threshold voltage (threshold value) of the comparator 10, the output of the comparator 10 becomes HIG.
Not H. Therefore, the response time of the comparator 10 is remarkably slow, and the circuit shown in FIG. 5 is not practical.

【0032】本実施例では、時定数回路5による微分信
号をバイアス回路6を通してストローブ端子13に入力
するが、前述のようにストローブ端子13の入力の動作
速度は、光ビーム走査装置の処理速度に追従することが
できるが、比較器10の高速な動作速度と比べて遅いた
め、微分信号の小さなリップルを拾うことはなく比較器
10の出力信号を停止させ、安定したパルス幅の同期信
号を得ることができる。
In this embodiment, the differential signal from the time constant circuit 5 is input to the strobe terminal 13 through the bias circuit 6, but as described above, the operating speed of the input to the strobe terminal 13 is the processing speed of the light beam scanning device. Although it can follow, it is slower than the high-speed operation speed of the comparator 10, so the output signal of the comparator 10 is stopped without picking up a small ripple of the differential signal, and a stable synchronization signal with a pulse width is obtained. be able to.

【0033】なお、本実施例のように時定数回路を利用
して同期信号19のパルス幅を制御すると、時定数回路
は温度変化に弱いので、以下本実施例における時定数回
路の温度依存性に対する対策について簡単に説明する。
When the pulse width of the synchronizing signal 19 is controlled by utilizing the time constant circuit as in this embodiment, the time constant circuit is vulnerable to temperature changes. Therefore, the temperature dependence of the time constant circuit in this embodiment will be described below. A brief description of the measures against

【0034】同期信号19のパルス幅は、一般的に±7
%程度の精度が要求される。図3は、図1の回路におけ
る同期信号19のパルス幅の温度依存性の実測値であ
り、横軸に周辺温度変化、縦軸に同期信号19のパルス
幅の変化量を示す。
The pulse width of the synchronizing signal 19 is generally ± 7.
Accuracy of about% is required. FIG. 3 is an actual measurement value of the temperature dependence of the pulse width of the synchronizing signal 19 in the circuit of FIG. 1, in which the horizontal axis represents the ambient temperature change and the vertical axis represents the amount of change in the pulse width of the synchronizing signal 19.

【0035】図3において(ア)はコンデンサ7に静電
容量許容差±20%のセラミックコンデンサを用いた場
合、(イ)はコンデンサ7に静電容量許容差±10%の
セラミックコンデンサを用いた場合、(ウ)はコンデン
サ7に静電容量許容差±5%のフィルムコンデンサを用
いた場合の同期信号19のパルス幅の温度依存性を示し
たものである。
In FIG. 3, (a) uses a ceramic capacitor having a capacitance tolerance of ± 20% as the capacitor 7, and (a) uses a ceramic capacitor having a capacitance tolerance of ± 10% as the capacitor 7. In this case, (c) shows the temperature dependence of the pulse width of the synchronizing signal 19 when a film capacitor having a capacitance tolerance of ± 5% is used as the capacitor 7.

【0036】周辺温度が−20℃から+60℃まで変化
した場合、常温(20℃)に対して、(ア)は±10
%、(イ)は±5%、(ウ)は±2.5%程度のパルス
幅の変化が見られる。したがって、図1の回路におい
て、コンデンサ7に静電容量許容差±5%のフィルムコ
ンデンサ、または静電容量許容差±10%のセラミック
コンデンサを用いることにより、同期信号19の高精度
なパルス幅制御が可能となる。
When the ambient temperature changes from -20 ° C to + 60 ° C, (a) is ± 10 with respect to room temperature (20 ° C).
%, (A) is ± 5%, and (c) is about ± 2.5%. Therefore, in the circuit of FIG. 1, by using a film capacitor having a capacitance tolerance of ± 5% or a ceramic capacitor having a capacitance tolerance of ± 10% as the capacitor 7, it is possible to control the pulse width of the synchronization signal 19 with high precision. Is possible.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上のように本発明は、光検出器が発生
する光検知信号のパルス幅の変動によらず、安定したパ
ルス幅の同期信号を得ることができ、時定数回路の時定
数を適切に定めることによって所望のパルス幅の同期信
号を得ることができるため、非常に簡単な構成により、
高精度の光ビーム走査装置を実現することができる。
As described above, according to the present invention, a synchronizing signal having a stable pulse width can be obtained regardless of fluctuations in the pulse width of the photodetection signal generated by the photodetector, and the time constant of the time constant circuit can be obtained. Since it is possible to obtain a synchronization signal with a desired pulse width by appropriately setting,
A highly accurate light beam scanning device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例における同期信号発生回路の
ブロック図
FIG. 1 is a block diagram of a synchronization signal generation circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例における各回路での出力波形
を示す図
FIG. 2 is a diagram showing an output waveform in each circuit according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例における同期信号のパルス幅
の周辺温度依存性を示す図
FIG. 3 is a diagram showing the ambient temperature dependence of the pulse width of the synchronization signal in the embodiment of the present invention.

【図4】従来の光ビーム走査装置の構成を示す図FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a conventional light beam scanning device.

【図5】本発明の一実施例の比較例におけるヒステリシ
ス特性を有する比較器のブロック図
FIG. 5 is a block diagram of a comparator having a hysteresis characteristic in a comparative example of one embodiment of the present invention.

【図6】図5の回路で得られる同期信号の波形を示す図FIG. 6 is a diagram showing a waveform of a synchronization signal obtained by the circuit of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光検出器 2 受光素子 3 増幅器 4 パルス幅制御回路 5 時定数回路 6 バイアス回路 7 コンデンサ 8,9,14,15 抵抗器 10 比較器 11 非反転端子 12 反転端子 13 ストローブ端子 17 基準電圧 18 パルス幅制御信号 19 同期信号 31 光検知信号 1 Photodetector 2 Light receiving element 3 Amplifier 4 Pulse width control circuit 5 Time constant circuit 6 Bias circuit 7 Capacitors 8, 9, 14, 15 Resistor 10 Comparator 11 Non-inverting terminal 12 Inversion terminal 13 Strobe terminal 17 Reference voltage 18 Pulse Width control signal 19 Synchronization signal 31 Optical detection signal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光ビームを発生させるための光ビーム発
生手段と、 前記光ビーム発生手段から発射された光ビームを回転体
の周面に設けられた鏡面で反射させることにより走査線
を形成する光ビーム走査手段と、 前記光ビーム走査手段により走査される光ビームの光路
中に設けられた光検出手段と、 回動自在に設けられ前記光ビーム走査手段により走査さ
れた光ビームが結像光学系を介して結像される被走査体
と、 前記光検出手段の出力信号より前記回転体とを前記被走
査体の回転同期を得るための同期信号を発生する同期信
号発生手段とを備え、 前記同期信号発生手段は、前記光検出手段の出力信号と
基準信号とを比較するための比較手段と、時定数回路と
バイアス回路からなるパルス幅制御回路で構成され、 前記比較手段は入力信号とストローブレベルとの比較に
よりその出力が制御されるストローブ端子を有するとと
もに、 前記光検出手段の出力信号の一部を前記パルス幅制御手
段を介して前記ストローブ端子に入力することにより、
前記光検出手段の出力信号に影響されない前記同期信号
を得ることを特徴とする光ビーム走査装置。
1. A light beam generating means for generating a light beam, and a scanning line is formed by reflecting a light beam emitted from the light beam generating means on a mirror surface provided on a peripheral surface of a rotating body. A light beam scanning means; a light detecting means provided in the optical path of the light beam scanned by the light beam scanning means; and a light beam rotatably provided by the light beam scanning means for forming an image forming optical beam. A scanning object imaged via a system, and a synchronization signal generating means for generating a synchronization signal for obtaining rotational synchronization of the scanning object from the output signal of the light detecting means, The synchronizing signal generating means is composed of a comparing means for comparing the output signal of the light detecting means and a reference signal, and a pulse width control circuit consisting of a time constant circuit and a bias circuit, and the comparing means is an input signal. By having a strobe terminal whose output is controlled by comparison with a strobe level, and by inputting a part of the output signal of the photodetection means to the strobe terminal via the pulse width control means,
A light beam scanning device, wherein the synchronizing signal is obtained which is not influenced by an output signal of the light detecting means.
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