JPH0697310B2 - Laser beam light scanning characteristic measuring device - Google Patents

Laser beam light scanning characteristic measuring device

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JPH0697310B2
JPH0697310B2 JP63231762A JP23176288A JPH0697310B2 JP H0697310 B2 JPH0697310 B2 JP H0697310B2 JP 63231762 A JP63231762 A JP 63231762A JP 23176288 A JP23176288 A JP 23176288A JP H0697310 B2 JPH0697310 B2 JP H0697310B2
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light
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彰 長谷山
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、たとえばレーザプリンタなどに使用される回
転多面鏡(ポリゴンミラー)を用いたスキャナユニット
において、回転多面鏡の動的面倒れ角度および、その回
転多面鏡で反射されスキャナユニットから出力されるレ
ーザビーム光の走査直線性を測定するレーザビーム光の
走査特性測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Industrial field of application) The present invention relates to a scanner unit using a rotary polygon mirror (polygon mirror) used in, for example, a laser printer and the like. The present invention relates to a laser beam light scanning characteristic measuring device for measuring a target surface tilt angle and a scanning linearity of a laser beam light reflected by a rotating polygon mirror and output from a scanner unit.

(従来の技術) 一般に、回転多面鏡は、多面体で構成された反射鏡であ
り、高速、高精度の光走査を必要とするレーザプリンタ
やバーコードリーダなどに多用されている。
(Prior Art) Generally, a rotary polygon mirror is a reflecting mirror formed of a polyhedron, and is widely used for a laser printer, a bar code reader, and the like that require high-speed and high-precision optical scanning.

たとえばレーザプリンタでは、レーザ発振器から出力さ
れたレーザビーム光を高速回転する回転多面鏡で反射さ
せ、その反射ビーム光で感光体ドラムの表面を直線的に
走査することにより静電潜像を形成する。この静電潜像
の鮮明度および解像度は、回転多面鏡で反射された反射
ビーム光の感光体ドラム面上(ここで結像する)での振
れ幅により影響され、感光体ドラム面に形成され静電潜
像にぬけ、むらなどが生じ、鮮明な画像が得られない。
上記反射ビーム光の感光体ドラム面上での振れ幅は、回
転多面鏡の隣り合った各鏡面間の面倒れ角度によって決
まる。
For example, in a laser printer, a laser beam light output from a laser oscillator is reflected by a rotating polygon mirror that rotates at high speed, and the reflected beam light linearly scans the surface of a photosensitive drum to form an electrostatic latent image. . The sharpness and resolution of this electrostatic latent image are influenced by the swing width of the reflected beam light reflected by the rotating polygon mirror on the surface of the photosensitive drum (image is formed here), and are formed on the surface of the photosensitive drum. A clear image cannot be obtained because the electrostatic latent image is missing or uneven.
The swing width of the reflected beam light on the photosensitive drum surface is determined by the surface tilt angle between the adjacent mirror surfaces of the rotary polygon mirror.

また、最近では、レーザ発振器、回転多面鏡および光学
系などを一体化したスキャナユニットが開発され、かつ
スキャナユニット内に面倒れ補正レンズを組込むことに
より、感光体ドラム面上での反射ビーム光の振れ幅を小
さくする方法がとられるようになった。
Further, recently, a scanner unit in which a laser oscillator, a rotary polygon mirror, an optical system, and the like are integrated has been developed, and by incorporating a surface tilt correction lens in the scanner unit, the reflected beam light on the photosensitive drum surface can be A method has been adopted to reduce the swing width.

しかし、この場合、回転多面鏡の面倒れ角度の補正はあ
る程度可能になったが、面倒れ補正レンズなどの光学系
の影響を受けて、感光体ドラム面上での反射ビーム光の
走査がその走査方向と直交方向に曲がってしまい、正確
な直線性が得られなくなる。このため、感光体ドラム面
に形成される静電潜像にぬけ、むらなどが生じ、鮮明な
画像が得られない。
However, in this case, although the surface tilt angle of the rotary polygon mirror can be corrected to some extent, the scanning of the reflected beam light on the photosensitive drum surface is affected by the optical system such as the surface tilt correction lens. Bending in a direction orthogonal to the scanning direction makes it impossible to obtain accurate linearity. For this reason, the electrostatic latent image formed on the surface of the photoconductor drum is missing or uneven, and a clear image cannot be obtained.

したがって、回転多面鏡の動的面倒れ角度および、その
回転多面鏡で反射されスキャナユニットから出力される
レーザビーム光の走査直線性を正確に知ることが、スキ
ャナユニットの性能を判定する上で極めて重要となる。
Therefore, accurately knowing the dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror and the scanning linearity of the laser beam light reflected by the rotary polygon mirror and output from the scanner unit is extremely important in determining the performance of the scanner unit. It becomes important.

従来、回転多面鏡単体での静的面倒れ角度測定にはオー
トコリメータにより測定することが知られている。この
測定方法は、回転多面鏡とそれを回転させるモータとを
組立てた後、回転多面鏡を回転させながらオートコリメ
ータで静的面倒れ角度を測定するものである。
Conventionally, it has been known to measure with an autocollimator for static surface tilt angle measurement of a rotating polygon mirror alone. In this measuring method, after a rotary polygon mirror and a motor for rotating the rotary polygon mirror are assembled, the static surface tilt angle is measured by an autocollimator while rotating the rotary polygon mirror.

また、反射ビーム光の走査直線性の測定は、上記のよう
に面倒れ角度を測定する際、回転多面鏡の回転に伴いオ
ートコリメータの高さのずれをプロットしていくことに
より、測定することができる。
In addition, the measurement of the scanning linearity of the reflected beam light should be performed by plotting the height deviation of the autocollimator as the rotary polygon mirror rotates when measuring the plane tilt angle as described above. You can

また、面倒れ角度の測定に関しては、その他、たとえば
「光技術システム設計講座」、トリケップス(株)発
行、武木田義祐著、II.レーザプリンタにおける光学系
のシステム設計」に開示されているように、レーザ光を
照射して投影し、副走査方向にスリットを用意して、そ
の中のレーザパワーの変化を知ることにより測定する方
法、あるいは簡単には、モータで回転される回転多面鏡
にレーザビーム光を照射して、その反射ビーム光を所定
距離離れたスクリーンへ導き、スクリーン上での副走査
方向の変化量を測定することにより行なう方法がある。
この場合、回転多面鏡とスクリーンとの距離はできるだ
け長い方が好ましく、10m位が測定し易いとされてい
る。
Further, as to the measurement of the tilt angle, as disclosed in, for example, “Optical Technology System Design Course”, published by Trikeps Co., Ltd., Yoshisuke Takekita, II. System design of optical system in laser printer ”. , A method of irradiating and projecting a laser beam, preparing a slit in the sub-scanning direction, and measuring it by knowing the change in the laser power in it, or simply a laser on a rotating polygon mirror rotated by a motor. There is a method of irradiating a beam of light, guiding the reflected beam of light to a screen separated by a predetermined distance, and measuring the amount of change in the sub-scanning direction on the screen.
In this case, it is preferable that the distance between the rotary polygon mirror and the screen is as long as possible, and it is said that measurement is easy at about 10 m.

しかしながら、これら従来の測定方法はいずれも測定時
間がかかり、実際の製品レベルでの測定が不可能である
という問題があり、また後者の方法は測定装置自体が大
形化するという問題がある。
However, each of these conventional measuring methods has a problem that it takes a long time to measure, and it is impossible to measure at an actual product level, and the latter method has a problem that the measuring apparatus itself becomes large.

(発明が解決しようとする課題) 本発明は、上記したように従来の測定方法では、測定時
間がかかり、実際の製品レベルでの測定が不可能であ
り、しかも測定装置が大形化するという問題点を解決す
べくなされたもので、回転多面鏡の動的面倒れ角度およ
び、その回転多面鏡で反射され、被走査面上を直線的に
走査するレーザビーム光の走査直線性を高精度、短時間
で、かつ実際の使用製品にそった形で自動的に測定する
ことができ、また測定装置自体もそれほど大形化するこ
とのないレーザビーム光の走査特性測定装置を提供する
ことを目的とする。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, according to the present invention, in the conventional measuring method, it takes a long time to measure, it is impossible to measure at an actual product level, and the measuring device becomes large. It was made to solve the problem, and the dynamic plane tilt angle of the rotating polygon mirror and the scanning linearity of the laser beam light that is reflected by the rotating polygon mirror and scans the scanned surface linearly are highly accurate. In addition, it is possible to provide a laser beam light scanning characteristic measuring device that can perform automatic measurement in a short time and in a form that conforms to the product actually used, and does not increase the size of the measuring device itself. To aim.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明に係る第1のレーザビーム光の走査特性測定装置
は、被測定面上を直線的に走査するレーザビーム光の走
査特性を測定するものにおいて、前記被走査面と同等の
位置において、前記レーザビーム光の走査方向の少なく
とも3箇所における前記走査方向と直交方向の前記レー
ザビーム光の走査位置情報をそれぞれ検出する検出手段
と、この検出手段で検出された各走査位置情報に応じて
前記レーザビーム光の走査直線性を測定する演算手段と
を具備している。
[Configuration of the Invention] (Means for Solving the Problems) A first laser beam light scanning characteristic measuring device according to the present invention measures a scanning characteristic of a laser beam light that linearly scans a surface to be measured. Detection means for detecting the scanning position information of the laser beam light in the direction orthogonal to the scanning direction at least at three positions in the scanning direction of the laser beam light at the same position as the surface to be scanned, and the detection means. And means for measuring the scanning linearity of the laser beam light according to each scanning position information detected by the means.

本発明に係る第2のレーザビーム光の走査特性測定装置
は、被走査面上を直線的に走査するレーザビーム光の走
査特性を測定するものにおいて、前記被走査面と同等の
位置において、前記レーザビーム光の走査方向と直交方
向の前記レーザとビーム光の走査位置情報を検出する検
出手段と、この検出手段を前記レーザビーム光の走査方
向に移動させる移動制御手段と、この移動制御手段によ
る前記検出手段の移動に伴い、その検出手段から得られ
る前記レーザビーム光の走査方向の少なくとも3箇所に
おける各走査位置情報に応じて前記レーザビーム光の走
査直線性を測定する演算手段とを具備している。
A second laser beam light scanning characteristic measuring device according to the present invention is a device for measuring a scanning characteristic of a laser beam light that linearly scans a surface to be scanned, and at the same position as the surface to be scanned, The detection means for detecting the scanning position information of the laser and the light beam in the direction orthogonal to the scanning direction of the laser beam light, the movement control means for moving the detection means in the scanning direction of the laser beam light, and the movement control means An arithmetic unit that measures the scanning linearity of the laser beam light in accordance with the scanning position information at least at three points in the scanning direction of the laser beam light obtained from the detection unit as the detection unit moves. ing.

本発明に係る第3のレーザビーム光の走査特性測定装置
は、被走査面上を直線的に走査するレーザビーム光の走
査特性を測定するものにおいて、前記被走査面と同等の
位置において、前記レーザビーム光の走査方向と直交方
向の前記レーザビーム光の走査位置情報を検出する検出
手段と、この検出手段を前記レーザビーム光の走査方向
に移動させる移動制御手段と、この移動制御手段におけ
る前記レーザビーム光の走査方向と直交方向の位置誤差
情報をあらかじめ得る手段と、前記移動制御手段による
前記検出手段の移動に伴い、この検出手段から得られる
前記レーザビーム光の走査方向の少なくとも3箇所にお
ける各走査位置情報を前記位置誤差情報を用いてそれぞ
れ補正する補正手段と、この補正手段で補正された各走
査位置情報に応じて前記レーザビーム光の走査直線性を
測定する演算手段とを具備している。
A third laser beam light scanning characteristic measuring device according to the present invention is for measuring a scanning characteristic of a laser beam light which linearly scans a surface to be scanned. Detection means for detecting scanning position information of the laser beam light in a direction orthogonal to the scanning direction of the laser beam light, movement control means for moving the detection means in the scanning direction of the laser beam light, and the movement control means in the movement control means. A means for previously obtaining position error information in a direction orthogonal to the scanning direction of the laser beam light, and at least three locations in the scanning direction of the laser beam light obtained from this detection means in accordance with the movement of the detection means by the movement control means. A correction unit that corrects each scanning position information by using the position error information, and a correction unit that corrects each scanning position information corrected by the correction unit. And a calculating means for measuring a scanning linearity of the laser beam.

本発明に係る第4のレーザビーム光の走査特性測定装置
は、回転多面鏡によって反射され、被走査面上を直線的
に走査するレーザビーム光の走査特性を測定するものに
おいて、前記被走査面と同等の位置において、前記レー
ザビーム光の走査方向の少なくとも1箇所における前記
走査方向と直交方向の前記回転多面鏡の各面に対応する
前記レーザビーム光の走査位置情報をそれぞれ検出する
第1の検出手段と、前記被走査面と同等の位置におい
て、前記レーザビーム光の走査方向の少なくとも3箇所
における前記走査方向と直交方向の前記レーザビーム光
の走査位置情報をそれぞれ検出する第2の検出手段と、
前記第1の検出手段で検出された各走査位置情報に応じ
て前記回転多面鏡の動的面倒れ角度を測定するととも
に、前記第2の検出手段で検出された各走査位置情報に
応じて前記レーザビーム光の走査直線性を測定する演算
手段とを具備している。
A fourth laser beam light scanning characteristic measuring device according to the present invention is a device for measuring a scanning characteristic of a laser beam light which is reflected by a rotary polygon mirror and linearly scans a surface to be scanned. A first position for detecting scanning position information of the laser beam light corresponding to each surface of the rotary polygon mirror in a direction orthogonal to the scanning direction at at least one position in the scanning direction of the laser beam light at a position equivalent to Second detecting means for detecting the scanning position information of the laser beam light in the direction orthogonal to the scanning direction at at least three positions in the scanning direction of the laser beam light at the same position as the scanning surface. When,
The dynamic surface tilt angle of the rotary polygon mirror is measured according to each scanning position information detected by the first detecting means, and the dynamic surface tilt angle of the rotating polygon mirror is measured according to each scanning position information detected by the second detecting means. And a calculation means for measuring the scanning linearity of the laser beam light.

(作用) 本発明に係る第1のレーザビーム光の走査特性測定装置
は、実際の被走査面と同等の位置において、レーザビー
ム光の走査方向の少なくとも3箇所における上記走査方
向と直交方向のレーサビーム光の走査位置情報をそれぞ
れ検出し、この検出した各走査位置情報に応じてレーザ
ビーム光の走査直線性を測定するものである。これによ
り、たとえば回転多面鏡で反射され、被走査面上を直線
的に走査するレーザビーム光の走査直線性を高精度、短
時間で、かつ実際の製品にそった形で自動的に測定する
ことができる。また、測定装置自体もそれほど大形化す
ることがなく、コンパクトに構成することができる。
(Operation) The first laser beam light scanning characteristic measuring device according to the present invention is provided with a laser beam beam scanning direction orthogonal to the laser beam light scanning direction at least at three points in the scanning direction at the same position as the actual surface to be scanned. The scanning position information of the light is detected, and the scanning linearity of the laser beam light is measured according to the detected scanning position information. Thereby, for example, the scanning linearity of the laser beam light which is reflected by the rotary polygon mirror and linearly scans the surface to be scanned is automatically measured with high accuracy in a short time and in a form conforming to the actual product. be able to. In addition, the measuring device itself does not become so large and can be configured compactly.

本発明に係る第2のレーザビーム光の走査特性測定装置
は、第1のレーザビーム光の走査特性測定装置におい
て、走査位置情報を検出するための検出手段をレーザビ
ーム光の走査方向に移動させることにより、少なくと3
箇所の走査位置情報を検出するようにしたものであり、
これにより単一の検出手段で少なくとも3箇所の走査位
置情報を検出するができる。したがって、よりコンパク
トに構成できるとともにコストの低下が図れる。
A second laser beam light scanning characteristic measuring device according to the present invention is the first laser beam light scanning characteristic measuring device, wherein a detecting means for detecting scanning position information is moved in the laser beam scanning direction. By this, at least 3
It is designed to detect the scanning position information of the location,
With this, at least three scanning position information can be detected by a single detecting means. Therefore, the structure can be made more compact and the cost can be reduced.

本発明に系る第3のレーザビーム光の走査特性測定装置
は、第2のレーザビーム光の走査特性測定装置におい
て、検出手段を移動させる移動制御手段におけるレーザ
ビーム光の走査方向と直交方向の位置誤差情報をあらか
じめ測定しておき、検出手段から得られる各走査位置情
報を上記位置誤差情報を用いてそれぞれ補正するように
したものである。これにより、たとえば移動制御手段の
移動制御によって生じる機械的な位置ずれ量などを補正
でき、また検出手段と移動制御手段との間の位置精度な
どが不要になるため、より短時間、かつ高精度で測定す
ることが可能となる。
A third laser beam light scanning characteristic measuring apparatus according to the present invention is the same as the second laser beam light scanning characteristic measuring apparatus in a direction orthogonal to the laser beam scanning direction in the movement control means for moving the detecting means. The position error information is measured in advance, and each scanning position information obtained from the detecting means is corrected using the position error information. This makes it possible to correct the amount of mechanical displacement caused by the movement control of the movement control means, and eliminates the need for positional accuracy between the detection means and the movement control means. It becomes possible to measure with.

本発明に係る第4のレーザビーム光の走査特性測定装置
は、実際の被走査面と同等の位置において、レーザビー
ム光の走査方向の少なくとも1箇所における上記走査方
向と直交方向の回転多面鏡の各面に対応するレーザビー
ム光の走査位置情報をそれぞれ検出するとともに、レー
ザビーム光の走査方向の少なくとも3箇所における上記
走査方向と直交方向のレーザビーム光の走査位置情報を
それぞれ検出し、この検出した少なくとも1箇所におけ
る回転多面鏡の各面に対応した走査位置情報に応じて回
転多面鏡の動的面倒れ角度を測定するとともに、上記検
出した少なくとも3個所における各走査位置情報に応じ
てレーザビーム光の走査直線性を測定するものである。
これにより、回転多面鏡の動的面倒れ角度および、その
回転多面鏡で反射され、被走査面上を直線的に走査する
レーザービーム光の走査直線性を同時に、しかも高精
度、短時間で、かつ実際の使用製品にそった形で自動的
に測定することができる。また、測定装置自体もそれほ
ど大型化することがなく、またコンパクトに構成するこ
とができる。
A fourth laser beam light scanning characteristic measuring device according to the present invention is a rotary polygon mirror at a position equivalent to an actual surface to be scanned, which is orthogonal to the scanning direction at least at one position in the laser beam light scanning direction. The scanning position information of the laser beam light corresponding to each surface is detected, and the scanning position information of the laser beam light in at least three positions in the scanning direction of the laser beam light is detected, and the detection is performed. The dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror is measured according to the scanning position information corresponding to each surface of the rotary polygon mirror at at least one position, and the laser beam is measured according to each scanning position information at the above-mentioned at least three positions. It measures the scanning linearity of light.
Thereby, the dynamic plane tilt angle of the rotary polygonal mirror and the scanning linearity of the laser beam light reflected by the rotary polygonal mirror and linearly scanning the surface to be scanned, with high accuracy and in a short time, In addition, it is possible to automatically measure in a form according to the actually used product. Further, the measuring device itself does not become so large, and can be made compact.

(実施例) 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
(Example) Hereinafter, one example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図において、走査用モータ11の回転軸に固定された
回転多面鏡12に、レーザ発振器13から出力されるレーザ
ビーム光をコリメータレンズ14を介して照射し、その反
射ビームLにより、Fθレンズ15および面倒れ補正レン
ズ16を介して所定の位置(実際の被走査面と同等の位
置)を直線的に走査するようになっている。
In FIG. 1, a rotary polygon mirror 12 fixed to a rotary shaft of a scanning motor 11 is irradiated with laser beam light output from a laser oscillator 13 through a collimator lens 14, and a reflected beam L thereof causes an Fθ lens. A predetermined position (a position equivalent to the actual surface to be scanned) is linearly scanned via 15 and the surface tilt correction lens 16.

ここに、走査用モータ11、回転多面鏡12、レーザ発振器
13、コリメータレンズ14、Fθレンズ15および面倒れ補
正レンズ16はスキャナユニット17として一体化されてい
る。そして、走査用モータ11はモータ駆動回路18によっ
て駆動され、レーザ発振器13はレーザ駆動回路19によっ
て駆動される。
Scanning motor 11, rotary polygon mirror 12, laser oscillator
13, the collimator lens 14, the Fθ lens 15 and the surface tilt correction lens 16 are integrated as a scanner unit 17. The scanning motor 11 is driven by the motor drive circuit 18, and the laser oscillator 13 is driven by the laser drive circuit 19.

上記所定の位置には、反射ビーム光Lを受光するために
受光部20が設けられている。受光部20は、たとえば2つ
の受光素子(たとえばピンダイオード)201,202を反射
ビーム光Lの走査方向Sと平行に並設して構成される。
受光素子201,202は、反射ビーム光Lを受光することに
より、データ読込み用信号および読込み用ストローブ信
号などを作り出す。
A light receiving unit 20 is provided at the predetermined position to receive the reflected beam light L. The light receiving section 20 is configured by arranging, for example, two light receiving elements (for example, pin diodes) 20 1 and 20 2 in parallel to the scanning direction S of the reflected beam light L.
The light receiving elements 20 1 and 20 2 receive the reflected beam light L to generate a data reading signal, a reading strobe signal, and the like.

受光部20の受光素子202の手前には、上昇することによ
って反射ビーム光Lの入射を遮断する遮光部(たとえば
カミソリの刃を持ったエッジ)21が設けられている。遮
光部21は、ステッピングモータ22によって図面に対して
上下移動されるようになっている。遮光部21の上下移動
端には、それぞれフォトセンサ231,232が設けられてい
て、上側のセンサ231はオーバラン防止用に、下側のセ
ンサ232は遮光部21が原点位置に位置したことを検知す
るためとオーバラン防止用に使用される。
The front of the light receiving element 20 2 of the light receiving portion 20, the light shielding portion 21 (e.g. the edge with a razor blade) to cut off is provided an incident of the reflected light beam L by increasing. The light blocking portion 21 is moved up and down with respect to the drawing by a stepping motor 22. Photosensors 23 1 and 23 2 are provided at the up and down moving ends of the light shielding part 21, respectively.The upper sensor 23 1 is for preventing overrun, and the lower sensor 23 2 is located at the origin position of the light shielding part 21. It is used to detect the occurrence and to prevent overrun.

ここに、受光部20、遮光部21、ステッピングモータ22お
よび各センサ231,232は、反射ビーム光Lの走査位置情
報を検出するための検出部24として一体化されている。
そして、ステッピングモータ22はモータ駆動回路25によ
って駆動され、各センサ231,232はそれぞれセンサイン
タフェイ回路26に接続されている。
Here, the light receiving unit 20, the light shielding unit 21, the stepping motor 22, and the sensors 23 1 and 23 2 are integrated as a detection unit 24 for detecting scanning position information of the reflected beam light L.
The stepping motor 22 is driven by a motor drive circuit 25, and the sensors 23 1 and 23 2 are connected to the sensor interface circuit 26, respectively.

検出部24は、図示しないガイド部材に案内されて反射ビ
ーム光Lの走査方向(図示矢印R方向)に往復移動自在
となっていて、たとえばステッピングモータ27によって
移動されるようになっている。そして、ステッピングモ
ータ27はモータ駆動回路28によって駆動される。
The detector 24 is guided by a guide member (not shown) to be reciprocally movable in the scanning direction of the reflected light beam L (direction of arrow R in the drawing), and is moved by, for example, a stepping motor 27. Then, the stepping motor 27 is driven by the motor drive circuit 28.

検出部24の移動路の両端およびその中間には、フォトセ
ンサ291〜295が設けられている。センサ291は走査開始
点側のオーバラン防止用に、センサ292は検出部24が走
査開始点に位置したことを検知するために、センサ293
は検出部24が走査中間点に位置したことを検知するため
に、センサ294は検出部24が走査終了点に位置したこと
を検知するために、センサ295は走査終了点側のオーバ
ラン防止用に使用される。そして、各センサ291〜295
それぞれセンサインタフェイス回路26に接続されてい
る。
The both ends and the middle of the movement path of the detection unit 24, the photosensor 29 1-29 5 is provided. Sensor 29 1 for overrun prevention scanning start point side, for the sensor 29 2 which detects that the detection unit 24 is positioned at the scanning start point, the sensor 29 3
To detect that the detection unit 24 is positioned at the scanning midpoint, the sensor 29 4 in order to detect that the detecting unit 24 is located at the scanning end point, the sensor 29 5 overrun prevention of scanning end point side Used for. Each sensor 29 1 to 29 5 is connected to the sensor interface circuit 26, respectively.

マイクロプロセッサ30は全体的な制御を司る制御部とし
て用いており、このマイクロプロセッサ30からパラレル
入出力インタフェイス回路31を介してモータ駆動回路1
8、レーザ駆動回路19、モータ駆動回路25,28に制御信号
を送り、走査用モータ11、レーザ発振器13、ステッピン
グモータ22,27をそれぞれ制御するようになっている。
The microprocessor 30 is used as a control unit that controls the entire control, and the motor drive circuit 1 is connected from the microprocessor 30 via the parallel input / output interface circuit 31.
8. Control signals are sent to the laser driving circuit 19 and the motor driving circuits 25 and 28 to control the scanning motor 11, the laser oscillator 13, and the stepping motors 22 and 27, respectively.

各センサ231,232,291〜295の出力信号は、それぞれセン
サインタフェイス回路26およびパラレル入出力インタフ
ェイス回路31を介してマイクロプロセッサ30に送られ
る。
The output signals of the sensors 23 1, 23 2, 29 1 to 29 5 are sent to the microprocessor 30 via the respective sensor interface circuit 26 and parallel input-output interface circuit 31.

受光部20の各受光素子201,202に反射ビーム光Lが照射
されているか否かのレーザ光オン,オフ信号は、増幅回
路32によって波形整形されて面倒れインタフェイス回路
33に送られる。面倒れインタフェイス回路33は、各受光
素子201,202の出力信号を基に信号処理し、データとし
てパラレル入出力インタフェイス回路31を介してマイク
ロプロセッサ30に送り、マイクロプロセッサ30によって
メモリ34に記憶される。
The laser light ON / OFF signal indicating whether or not the reflected beam light L is applied to each of the light receiving elements 20 1 and 20 2 of the light receiving unit 20 is waveform-shaped by the amplifier circuit 32 and the face-down interface circuit.
Sent to 33. The face-down interface circuit 33 performs signal processing based on the output signals of the respective light receiving elements 20 1 and 20 2 and sends it as data to the microprocessor 30 via the parallel input / output interface circuit 31, and the microprocessor 30 stores the memory 34. Memorized in.

なお、35はデータの再処理および補正データの入力など
を行なうためのパーソナルコンピュータ、36はパーソナ
ルコンピュータ35に接続されたCRT表示装置、37はパー
ソナルコンピュータ35に接続されたプリンタである。
Reference numeral 35 is a personal computer for reprocessing data and inputting correction data, 36 is a CRT display device connected to the personal computer 35, and 37 is a printer connected to the personal computer 35.

次に、このような構成において第2図および第3図を参
照して動作を説明する。
Next, the operation in such a configuration will be described with reference to FIGS.

第2図において、P1,P2,P3は反射ビーム光Lの走査位置
情報を検出する検出ポイントを示し、P1は走査開始点、
P2は走査中間点、P3は走査終了点に対応している。A1,A
2,A3は機械的な位置ずれがない場合の理想の基準位置
(遮光部21の原点位置に対応)を示し、それぞれ検出ポ
イントP1,P2,P3に対応している。B1,B2,B3は各検出ポイ
ントP1,P2,P3における基準位置A1,A2,A3から反射ビーム
光Lの走査点までの距離(反射ビーム光Lの走査方向S
と直交方向の走査位置情報)を示す。C1,C2,C3は基準位
置A1,A2,A3に対する各検出ポイントP1,P2,P3におけるX,
Y軸の機械的な位置ずれ量(検出部24が移動することに
よって生じるの反射ビーム光Lの走査方向Sと直交方向
の位置誤差情報)を示す。
In FIG. 2, P 1 , P 2 and P 3 indicate detection points for detecting the scanning position information of the reflected beam light L, P 1 is the scanning start point,
P 2 corresponds to the scanning midpoint and P 3 corresponds to the scanning end point. A 1 , A
Reference numerals 2 and A 3 indicate ideal reference positions (corresponding to the origin position of the light shielding portion 21) when there is no mechanical displacement, and correspond to detection points P 1 , P 2 and P 3 , respectively. B 1, B 2, B 3 is the scanning direction of the distance (the reflected light beam L from the reference position A 1, A 2, A 3 at each detection point P 1, P 2, P 3 to the scanning point of the reflected light beam L S
And (scanning position information in the orthogonal direction). C 1 , C 2 , C 3 are X, X at each detection point P 1 , P 2 , P 3 with respect to the reference position A 1 , A 2 , A 3 .
The amount of mechanical displacement of the Y axis (positional error information in the direction orthogonal to the scanning direction S of the reflected beam light L caused by the movement of the detection unit 24) is shown.

まず、測定するためのスキャナユニット17を所定の位置
に治具でセットした後、各検出ポイントP1,P2,P3ごとに
おいて検出部24の移動によって生じる機械的な位置ずれ
量C1,C2,C3を測定する。すなわち、たとえば周知のダイ
ヤルゲージなどを用いることにより、まず検出部24を検
出ポイントP1に位置さて位置ずれ量C1を測定し、次に検
出部24を検出ポイントP2に位置させて位置ずれ量C2を測
定し、次に検出部24を検出ポイントP3に位置させて位置
ずれ量C3を測定する。そして、こうして測定して得られ
た各検出ポイントP1,P2,P3ごとの位置ずれ量(位置誤差
情報)C1,C2,C3を、補正データとしてパーソナルコンピ
ュータ35を用いて入力し、メモリ34に記憶しておく。
First, after the scanner unit 17 for measurement is set in a predetermined position with a jig, the mechanical displacement amount C 1 caused by the movement of the detection unit 24 at each detection point P 1 , P 2 , P 3 Measure C 2 and C 3 . Thus, for example by using such well-known dial gauge, first measure the position now positional shift amount C 1 in the detection point P 1 of the detection unit 24, then the position deviation by a position in the detection point P 2 the detector 24 the amount C 2 measured, then positions the detector 24 to the detection point P 3 for measuring the positional deviation amount C 3 with. Then, the amount of positional deviation (positional error information) C 1 , C 2 , C 3 for each of the detection points P 1 , P 2 , P 3 obtained by measuring in this way is input as correction data using the personal computer 35. Then, it is stored in the memory 34.

その後、実際の測定動作を開始する。まず、検出部24を
検出ポイントP1に位置させて測定を行なう。すなわち、
モータ駆動回路18で走査用モータ11を駆動するととも
に、レーザ駆動回路19でレーザ発振器13を駆動する。す
ると、回転多面鏡12は回転するとともに、レーザ発振器
13からレーザビーム光が出力され、このレーザビーム光
は回転する回転多面鏡12に照射され、その反射ビーム光
Lによって図示矢印S方向に走査が行なわれる。この
際、遮光部21は第3図(a)に示すように原点位置まで
下げておく。
After that, the actual measurement operation is started. First, the detection unit 24 is positioned at the detection point P 1 and measurement is performed. That is,
The motor drive circuit 18 drives the scanning motor 11, and the laser drive circuit 19 drives the laser oscillator 13. Then, the rotating polygon mirror 12 rotates and the laser oscillator
A laser beam light is output from 13, the rotating rotary polygon mirror 12 is irradiated with this laser beam light, and the reflected beam light L scans in the direction of arrow S in the figure. At this time, the light shielding part 21 is lowered to the origin position as shown in FIG.

ここに、実際の反射ビーム光Lは、回転多面鏡12の動的
面倒れ角度によって第4図に示すように多少異なった位
置を走査する。なお、この図は回転多面鏡12が例えば8
面の場合を示している。
Here, the actual reflected beam light L scans a slightly different position as shown in FIG. 4 depending on the dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror 12. In this figure, the rotary polygon mirror 12 is, for example, 8
The case of a surface is shown.

さて、走査用モータ11の回転が安定状態となったら、マ
イクロプロセッサ30はステッピングモータ22を駆動して
遮光部21を原点位置から徐々に上げていく。すると、遮
光部21によって回転多面鏡12の各面に対応した反射ビー
ム光Lも徐々に遮断される。さらに遮光部21を上げる
と、全ての反射ビーム光Lを遮断することになる。
Now, when the rotation of the scanning motor 11 becomes stable, the microprocessor 30 drives the stepping motor 22 to gradually raise the light shielding portion 21 from the origin position. Then, the light shielding unit 21 also gradually blocks the reflected beam light L corresponding to each surface of the rotary polygon mirror 12. Further raising the light blocking portion 21 blocks all the reflected beam light L.

したがって、マイクロプロセッサ30は、この反射ビーム
光Lを遮断し始めてから完全に遮断してしまうまでの遮
光部21の移動距離、および回転多面鏡12の各面ごとの反
射ビーム光Lを遮断した遮光部21の位置情報、すなわち
遮光部21によって遮断される回転多面鏡12の各面ごとの
反射ビーム光Lの走査位置情報B1をデータとしてメモリ
34に記憶する。上記遮光部21の移動距離および反射ビー
ム光Lの走査位置情報B1は、受光部20の各受光素子201,
202から得られる信号と遮光部21を移動させるステッピ
ングモータ22の駆動パルス数とにより得られる。
Therefore, the microprocessor 30 blocks the reflected beam light L for each surface of the rotary polygon mirror 12 and the moving distance of the light blocking portion 21 from the time when the reflected beam light L is blocked until it is completely blocked. The position information of the portion 21, that is, the scanning position information B 1 of the reflected beam light L for each surface of the rotary polygon mirror 12 that is blocked by the light shielding portion 21 is stored as data.
Remember in 34. The moving distance of the light-shielding portion 21 and the scanning position information B 1 of the reflected light beam L are obtained by the respective light-receiving elements 20 1 ,
20 2 and the number of drive pulses of the stepping motor 22 that moves the light shielding unit 21.

こうして、メモリ34に必要なデータを記憶した後、マイ
クロプロセッサ30は、メモリ34の各データ(遮光部21の
移動距離および走査位置情報B1)に基づき所定の位置
(遮光部21の位置)での反射ビーム光Lの振れ幅を求め
る。この場合、マイクロプロセッサ30は、メモリ34内の
走査位置情報B1をメモリ34にあらかじめ記憶してある位
置誤差情報(位置ずれ量)C1を用いて補正し、この補正
した走査位置情報B1を用いて上記反射ビーム光Lの振れ
幅を求める演算を行なう。なお、上記補正した走査位置
情報B1はメモリ34に記憶しておく。
In this way, after storing the necessary data in the memory 34, the microprocessor 30 sets the predetermined position (the position of the light shielding part 21) based on each data of the memory 34 (moving distance of the light shielding part 21 and scanning position information B 1 ). The shake width of the reflected beam light L of is calculated. In this case, the microprocessor 30 corrects the scanning position information B 1 in the memory 34 using the position error information (position shift amount) C 1 stored in advance in the memory 34, and the corrected scanning position information B 1 Is used to calculate the swing width of the reflected beam light L. The corrected scanning position information B 1 is stored in the memory 34.

次に、マイクロプロセッサ30は、この求めた振れ幅およ
び回転多面鏡12から遮光部21までの距離に基づき所定の
演算を行なうことにより、回転多面鏡12の動的面倒れ角
度を算出する。
Next, the microprocessor 30 calculates a dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror 12 by performing a predetermined calculation based on the obtained swing width and the distance from the rotary polygon mirror 12 to the light shielding unit 21.

回転多面鏡12から遮光部21までの距離はあらかじめ判明
しており、たとえばメモリ34に記憶されているものとす
る。この場合、回転多面鏡12と遮光部21との位置関係
を、第3図(b)に示すように実際の使用製品の回転多
面鏡と感光体ドラム面との位置関係と同じにしておくこ
とにより、回転多面鏡12の感光体ドラム面上での反射ビ
ーム光Lの振れ幅を求め、回転多面鏡12の動的面倒れ角
度を算出することができる。
It is assumed that the distance from the rotary polygon mirror 12 to the light shielding unit 21 is known in advance and is stored in the memory 34, for example. In this case, the positional relationship between the rotary polygon mirror 12 and the light shielding portion 21 should be the same as the positional relationship between the rotary polygon mirror and the photosensitive drum surface of the actual product used as shown in FIG. 3 (b). Thus, the swing width of the reflected beam light L on the photosensitive drum surface of the rotary polygon mirror 12 can be obtained, and the dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror 12 can be calculated.

こうして、検出ポイントP1における測定が終了すると、
次に検出部24を検出ポイントP2,P3と順次移動させ、各
検出ポイントP2,P3においてそれぞれ上記同様な測定動
作を行なう。
Thus, when the measurement at the detection point P 1 is completed,
Then the detection unit 24 is successively moved between the detection point P 2, P 3, respectively perform the same measurement operation at each detection point P 2, P 3.

このようにして、各検出ポイントP2,P3における動的面
倒れ角度の測定が終了すると、次にマイクロプロセッサ
30は、動的面倒れ角度の測定時に得た走査位置情報B1,B
2,B3、つまりメモリ34に記憶されている補正された走査
位置情報B1,B2,B3により、スキャナユニット17から出力
される反射ビーム光Lの走査直線を測定する。すなわ
ち、たとえば第2図における検出ポイントP1,P3での反
射ビーム光Lの走査位置を直線で結び、検出ポイントP2
での反射ビーム光Lの走査位置との幾何学的な位置の差
を求めることにより、反射ビーム光Lの走査直線性を測
定する。
When the measurement of the dynamic plane tilt angle at each of the detection points P 2 and P 3 is completed in this way, the microprocessor
30 is the scanning position information B 1 , B obtained when measuring the dynamic plane tilt angle.
2 and B 3 , that is, the corrected scanning position information B 1 , B 2 and B 3 stored in the memory 34, the scanning straight line of the reflected beam light L output from the scanner unit 17 is measured. In other words, connected by a straight line for example the scanning position of the reflected light beam L at the detection point P 1, P 3 in Figure 2, the detection point P 2
The scanning linearity of the reflected beam light L is measured by obtaining the geometrical difference from the scanning position of the reflected beam light L in.

以上説明したレーザビーム光の走査特性測定装置によれ
ば、実際の被走査面と同等の位置において、レーザビー
ム光の走査方向と直交方向の回転多面鏡の各面に対応す
るレーザビーム光の走査位置情報をそれぞれ検出し、こ
の検出した回転多面鏡の各面に対応した走査位置情報に
応じた回転多面鏡の動的面倒れ角度を測定する。このと
き、レーザビーム光の走査方向の例えば3箇所(走査開
始点、走査中間点、走査終了点)においてそれぞれ動的
面倒れ角度の測定を行なうことにより、3箇所における
レーザビーム光の走査位置情報が得られるので、その3
箇所の走査位置情報に応じてスキャナユニットから出力
されるレーザビーム光の走査直線性を測定するものであ
る。
According to the laser beam light scanning characteristic measuring device described above, at the position equivalent to the actual surface to be scanned, the laser beam light scanning corresponding to each surface of the rotary polygon mirror in the direction orthogonal to the scanning direction of the laser beam light is performed. The position information is detected, and the dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror corresponding to the detected scanning position information corresponding to each surface of the detected rotary polygon mirror is measured. At this time, by measuring the dynamic surface tilt angle at each of, for example, three points (scanning start point, scanning middle point, scanning end point) in the scanning direction of the laser beam light, the scanning position information of the laser beam light at the three points is obtained. Is obtained, so 3
The scanning linearity of the laser beam light output from the scanner unit is measured according to the scanning position information of the location.

これにより、3箇所における回転多面鏡の動的面倒れ角
度および、その回転多面鏡で反射されスキャナユニット
から出力されるレーザビーム光の走査直線性を同時に、
しかも高精度、短時間で、かつ実際の使用製品にそった
形で自動的に測定することができる。また、従来に比較
して測定装置自体もそれほど大形化することがなく、コ
ンパクトに構成することができる。
Thereby, the dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror at three positions and the scanning linearity of the laser beam light reflected by the rotary polygon mirror and output from the scanner unit are simultaneously calculated.
Moreover, it is possible to perform automatic measurement with high accuracy and in a short time, and in a form that matches the actual product used. In addition, the measuring device itself does not become so large as compared with the conventional one, and can be configured compactly.

また、走査位置情報を検出するための検出部をレーザビ
ーム光の走査方向に移動させることにより、例えば3箇
所の走査位置情報をそれぞれ検出するので、単一の検出
部で3箇所の走査位置情報を検出することができる。し
たがって、よりコンパクトに構成できるとともにコスト
の低下が図れる。
Further, by moving the detection unit for detecting the scanning position information in the scanning direction of the laser beam light, for example, the scanning position information at each of the three positions is detected, so that the single detection unit can detect the scanning position information at the three positions. Can be detected. Therefore, the structure can be made more compact and the cost can be reduced.

さらに、検出部の移動によって生じるレーザビーム光の
走査方向と直交方向の機械的な位置ずれ量(位置誤差情
報)を、3箇所の検出ポイントごとにあらかじめ測定し
ておき、実際の測定時、各検出ポイントで検出した走査
位置情報を上記位置誤差情報を用いてそれぞれ補正する
ものである。
Furthermore, the mechanical displacement amount (positional error information) in the direction orthogonal to the scanning direction of the laser beam light caused by the movement of the detection unit is measured in advance at each of three detection points, and at the time of actual measurement, The scanning position information detected at the detection point is corrected using the position error information.

これにより、検出部の移動によって生じる機械的な位置
ずれ量などを補正でき、またスキャナユニットおよび検
出部などを治具に取付ける際の位置制度などが不要にな
るため、より短時間、かつ高精度で測定することが可能
となる。
This makes it possible to correct the amount of mechanical misalignment caused by movement of the detector, and eliminates the need for positional accuracy when attaching the scanner unit and detector to a jig. It becomes possible to measure with.

なお、前記実施例では、レーザビーム光の走査方向の3
箇所においてそれぞれ動的面倒れ角度の測定を行なった
が、必ずしも3箇所で行なう必要はなく、少なくとも1
個所で行なえばよい。その場合、たとえば最初に3個箇
所検出ポイントにおいてそれぞれレーザビーム光の走査
位置情報を検出することにより、レーザビーム光の走査
直線性を測定し、その後、上記検出した3箇所の走査位
置情報のうちの1つの走査位置情報により、回転多面鏡
の動的面倒れ角度の測定を行なえばよい。
It should be noted that in the above-described embodiment, 3 in the scanning direction of the laser beam is used.
The dynamic plane tilt angle was measured at each position, but it is not always necessary to measure at three positions.
You only have to do it in places. In that case, the scanning linearity of the laser beam light is measured by first detecting the scanning position information of the laser beam light at each of the three detection points, and then the scanning position information of the three positions detected above is detected. The dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror may be measured based on one piece of scanning position information.

[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、回転多面鏡の動的
面倒れ角度および、その回転多面鏡で反射され、被走査
面上を直線的に走査するレーザビーム光の走査直線性を
高精度、短時間で、かつ実際の使用製品にそった形で自
動的に測定することができ、また測定装置自体もそれほ
ど大形化することのないレーザビーム光の走査特性測定
装置を提供できる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror and the laser beam light that is reflected by the rotary polygon mirror and linearly scans the surface to be scanned. Laser beam light scanning characteristic measuring device that can measure linearity automatically with high accuracy in a short time and in a form that matches the actual product used, and the measuring device itself does not become so large. Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

図は本発明の一実施例を説明するためのもので、第1図
は全体的な構成図、第2図および第3図は動作を説明す
るための図、第4図は反射ビーム光が回転多面鏡の動的
面倒れ角度によって異なった位置を走査する様子を示す
図である。 11……走査用モータ、12……回転多面鏡、13……レーザ
発振器、17……スキャナユニット、20……受光部、201,
202……受光素子、21……遮光部、22……ステッピング
モータ、24……検出部、27……ステッピングモータ、30
……マイクロプロセッサ、31……メモリ。
The drawings are for explaining one embodiment of the present invention. FIG. 1 is a general configuration diagram, FIGS. 2 and 3 are diagrams for explaining the operation, and FIG. It is a figure which shows a mode that a different position is scanned according to the dynamic surface tilt angle of a rotary polygon mirror. 11 ... Scanning motor, 12 ... Rotating polygon mirror, 13 ... Laser oscillator, 17 ... Scanner unit, 20 ... Light receiving part, 20 1 ,
20 2 …… Light receiving element, 21 …… Shading section, 22 …… Stepping motor, 24 …… Detection section, 27 …… Stepping motor, 30
… Microprocessor, 31… memory.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被走査面上を直線的に走査するレーザビー
ム光の走査特性を測定するものにおいて、 前記被走査面と同等の位置において、前記レーザビーム
光の走査方向の少なくとも3箇所における前記走査方向
と直交方向の前記レーザビーム光の走査位置情報をそれ
ぞれ検出する検出手段と、 この検出手段で検出された各走査位置情報に応じて前記
レーザビーム光の走査直線性を測定する演算手段と を具備したことを特徴とするレーザビーム光の走査特性
測定装置。
1. A method for measuring a scanning characteristic of a laser beam light which linearly scans a surface to be scanned, the method comprising: measuring at least three positions in a scanning direction of the laser beam light at a position equivalent to the surface to be scanned. Detection means for respectively detecting scanning position information of the laser beam light in the scanning direction and orthogonal direction, and computing means for measuring the scanning linearity of the laser beam light according to each scanning position information detected by the detection means. An apparatus for measuring scanning characteristics of laser beam light, comprising:
【請求項2】被走査面上を直線的に走査するレーザビー
ム光の走査特性を測定するものにおいて、 前記被走査面と同等の位置において、前記レーザビーム
光の走査方向と直交方向の前記レーザビーム光の走査位
置情報を検出する検出手段と、 この検出手段を前記レーザビーム光の走査方向に移動さ
せる移動制御手段と、 この移動制御手段による前記検出手段の移動に伴い、そ
の検出手段から得られる前記レーザビーム光の走査方向
の少なくとも3箇所における各走査位置情報に応じて前
記レーザビーム光の走査直線性を測定する演算手段と を具備したことを特徴とするレーザビーム光の走査特性
測定装置。
2. A method for measuring a scanning characteristic of a laser beam light that linearly scans a surface to be scanned, wherein the laser beam is in a direction orthogonal to a scanning direction of the laser beam light at a position equivalent to the surface to be scanned. Detection means for detecting scanning position information of the light beam, movement control means for moving the detection means in the scanning direction of the laser beam light, and movement of the detection means by the movement control means A laser beam light scanning characteristic measuring device for measuring the scanning linearity of the laser beam light according to each scanning position information in at least three positions in the scanning direction of the laser beam light. .
【請求項3】被走査面上を直線的に走査するレーザビー
ム光の走査特性を測定するものにおいて、 前記被走査面と同等の位置において、前記レーザビーム
光の走査方向と直交方向の前記レーザビーム光の走査位
置情報を検出する検出手段と、 この検出手段を前記レーザビーム光の走査方向に移動さ
せる移動制御手段と、 この移動制御手段における前記レーザビーム光の走査方
向と直交方向の位置誤差情報をあらかじめ得る手段と、 前記移動制御手段による前記検出手段の移動に伴い、そ
の検出手段から得られる前記レーザビーム光の走査方向
の少なくとも3箇所における各走査位置情報を前記位置
誤差情報を用いてそれぞれ補正する補正手段と、 この補正手段で補正された各走査位置情報に応じて前記
レーザビーム光の走査直線性を測定する演算手段と を具備したことを特徴とするレーザビーム光の走査特性
測定装置。
3. A laser beam light for linearly scanning a surface to be scanned, wherein the scanning characteristic of the laser beam light is measured at a position equivalent to the surface to be scanned. Detecting means for detecting the scanning position information of the light beam, movement control means for moving the detecting means in the scanning direction of the laser beam light, and position error in the movement control means in the direction orthogonal to the scanning direction of the laser beam light. A means for obtaining information in advance, and each scanning position information at least at three points in the scanning direction of the laser beam light obtained from the detecting means by the movement of the detecting means by the movement controlling means, using the position error information. Correcting means for respectively correcting and measuring the scanning linearity of the laser beam light according to each scanning position information corrected by this correcting means Laser beam scanning characteristic measuring apparatus characterized by comprising a calculating means that.
【請求項4】回転多面鏡によって反射され、被走査面上
を直線的に走査するレーザビーム光の走査特性を測定す
るものにおいて、 前記被走査面と同等の位置において、前記レーザビーム
光の走査方向の少なくとも1箇所における前記走査方向
と直交方向の前記回転多面鏡の各面に対応する前記レー
ザビーム光の走査位置情報をそれぞれ検出する第1の検
出手段と、 前記被走査面と同等の位置において、前記レーザビーム
光の走査方向の少なくとも3箇所における前記走査方向
と直交方向の前記レーザビーム光の走査位置情報をそれ
ぞれ検出する第2の検出手段と、 前記第1の検出手段で検出された各走査位置情報に応じ
て前記回転多面鏡の動的面倒れ角度を測定するととも
に、前記第2の検出手段で検出された各走査位置情報に
応じて前記レーザビーム光の走査直線性を測定する演算
手段と を具備したことを特徴とするレーザビーム光の走査特性
測定装置。
4. A method for measuring a scanning characteristic of a laser beam light which is reflected by a rotary polygon mirror and linearly scans a surface to be scanned, wherein the laser beam light is scanned at a position equivalent to the surface to be scanned. First detecting means for respectively detecting scanning position information of the laser beam light corresponding to each surface of the rotary polygon mirror in a direction orthogonal to the scanning direction at at least one position in the direction, and a position equivalent to the surface to be scanned. In the scanning direction of the laser beam light, second detection means for respectively detecting the scanning position information of the laser beam light in the direction orthogonal to the scanning direction in at least three locations, and the first detection means. The dynamic plane tilt angle of the rotary polygon mirror is measured according to each scanning position information, and the above-mentioned according to each scanning position information detected by the second detecting means. Laser beam scanning characteristic measuring apparatus characterized by comprising a calculating means for measuring a scanning linearity of Zabimu light.
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