JPH0696459A - Light pickup - Google Patents

Light pickup

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Publication number
JPH0696459A
JPH0696459A JP4269165A JP26916592A JPH0696459A JP H0696459 A JPH0696459 A JP H0696459A JP 4269165 A JP4269165 A JP 4269165A JP 26916592 A JP26916592 A JP 26916592A JP H0696459 A JPH0696459 A JP H0696459A
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JP
Japan
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light
beam splitter
ratio
monitor
polarization ratio
Prior art date
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Pending
Application number
JP4269165A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichiro Ishii
浩一郎 石井
Yuji Mabe
雄二 間辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0696459A publication Critical patent/JPH0696459A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To obtain high accuracy in outgoing power control by executing stably monitoring without being affected the change in the polarization ration of a laser light source beam with high accuracy, in a light pickup. CONSTITUTION:An optical element of a polarizing plate 8, etc., increasing the polarization ratio of a passing beam is provided on the incident side of a beam splitter 3 distributing a part of an outgoing going from a semiconductor laser element 1 to a photodetector 7 for a monitor. Then, even when the polarization ratio of the light outgoing from the semiconductor laser element 1 is changed, the intensity ratio between the light made incident on the photodetector 7 for monitor and the outgoing light from an objective lens 5 is not changed substantially, and thus, stable and highly accurate monitoring performance is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は光学的記録再生装置等に
用いられる光ピックアップに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup used in an optical recording / reproducing device or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、光学的記録再生装置において
は、光記録媒体(例えば、光ディスクや光磁気ディス
ク)にレーザ光を照射し、媒体上に微小なスポットを形
成することによって情報が記録され、また媒体からの前
記スポットの反射光あるいは透過光を受光素子で光電変
換することによって記録された情報が再生される。
2. Description of the Related Art Generally, in an optical recording / reproducing apparatus, information is recorded by irradiating an optical recording medium (for example, an optical disc or a magneto-optical disc) with a laser beam to form a minute spot on the medium. Further, the recorded information is reproduced by photoelectrically converting the reflected light or the transmitted light of the spot from the medium by the light receiving element.

【0003】かかる光学的記録再生装置における従来の
光ピックアップ、すなわちレーザ光を照射し、その照射
光量をモニタする部分について図面を参照して説明する
と、図5は従来の光ピックアップの概略構成図であり、
同図(a)は記録媒体の記録面に正対した方向から見た
正面図、同図(b)はその右側面図である。図5におい
て、半導体レーザ素子1からの出射光はコリメータレン
ズ2によって平行光となった後、ビームスプリッター3
を通過してミラー4により反射され、対物レンズ5によ
って光記録媒体6上に光スポットを集光させる。
A conventional optical pickup in such an optical recording / reproducing apparatus, that is, a portion for irradiating a laser beam and monitoring the irradiation light amount will be described with reference to the drawings. FIG. 5 is a schematic configuration diagram of the conventional optical pickup. Yes,
1A is a front view seen from the direction directly facing the recording surface of the recording medium, and FIG. 1B is a right side view thereof. In FIG. 5, the light emitted from the semiconductor laser device 1 is collimated by the collimator lens 2 and then collimated.
And is reflected by the mirror 4, and the objective lens 5 focuses the light spot on the optical recording medium 6.

【0004】このとき、対物レンズ5からの出射光のパ
ワーを高精度に制御するために、半導体レーザ素子1か
らのレーザ光の光強度をモニタする。そのため、図5に
示されているように、モニタ用ビームスプリッター3に
よって半導体レーザ素子1からの光の一部をモニタ用光
検出器7に振り分けて、この検出器7からの出力をもと
に対物レンズ5からの出射光のパワー制御を行ってい
る。
At this time, in order to control the power of the light emitted from the objective lens 5 with high accuracy, the light intensity of the laser light from the semiconductor laser element 1 is monitored. Therefore, as shown in FIG. 5, a part of the light from the semiconductor laser device 1 is distributed to the monitor photodetector 7 by the monitor beam splitter 3, and based on the output from the detector 7, The power of the light emitted from the objective lens 5 is controlled.

【0005】ここで、モニタ用ビームスプリッター3は
偏光ビームスプリッターであり、偏光膜によって入射光
のP偏光成分とS偏光成分とを透過光と反射光とに振分
ける機能を果たすものである。一般にこの偏光膜は、P
偏光成分に対しては高い透過率と低い反射率を示すもの
であり、またS偏光成分に対しては逆に低い透過率と高
い反射率を示すものである。したがって、半導体レーザ
素子1からの出射光に含まれるP偏光成分の大部分とS
偏光成分の一部とが対物レンズ5側へ振分けられ、S偏
光成分の大部分とP偏光成分の一部が光検出器7側に振
分けられる。
The monitor beam splitter 3 is a polarization beam splitter, and has a function of distributing the P-polarized component and the S-polarized component of incident light into transmitted light and reflected light by a polarizing film. Generally, this polarizing film is
It exhibits a high transmittance and a low reflectance for the polarized component and, conversely, a low transmittance and a high reflectance for the S polarized component. Therefore, most of the P-polarized component contained in the light emitted from the semiconductor laser device 1 and S
Part of the polarized component is distributed to the objective lens 5 side, and most of the S polarized component and part of the P polarized component are distributed to the photodetector 7 side.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光ピッ
クアップにおいては、モニタ用ビームスプリッター3に
上記のような偏光膜を用いているため、光源からの光の
P偏光成分とS偏光成分との強度比である偏光比が変化
すると、モニタ用ビームスプリッター3を透過する光
と、モニタ用光検出器7側に反射される光との強度比も
変化してしまう。
In the above-mentioned conventional optical pickup, since the polarizing film as described above is used for the beam splitter 3 for monitoring, the P-polarized component and the S-polarized component of the light from the light source are separated. When the polarization ratio, which is the intensity ratio, changes, the intensity ratio between the light transmitted through the monitor beam splitter 3 and the light reflected on the monitor photodetector 7 side also changes.

【0007】また、光源として使われる半導体レーザ素
子1は、出射パワーを変えていくと偏光比も変化してし
まい、そのうえ、この変化の様子は使用する半導体レー
ザ素子の個々でばらつきが大きいという性質がある。
Further, in the semiconductor laser device 1 used as a light source, the polarization ratio also changes as the emission power is changed, and the state of this change varies widely among the semiconductor laser devices used. There is.

【0008】このため、従来の構成によるモニタ方式で
は、高精度なモニタ性能が得られないという問題点があ
った。例えば、P偏光成分の透過率が85%で反射率が
15%、S偏光成分の透過率が1%で反射率が99%の
モニタ用ビームスプリッター3を使用した場合、光源の
偏光比が20の場合(P偏光成分の強度とS偏光成分の
強度との比が20:1の場合)には、表1に示されるよ
うにモニタ用ビームスプリッター3を透過した光と反射
した光の強度比は4.3となる。
For this reason, the conventional monitoring method has a problem in that highly accurate monitoring performance cannot be obtained. For example, when a monitor beam splitter 3 having a P-polarized component transmittance of 85% and a reflectance of 15% and an S-polarized component transmittance of 1% and a reflectance of 99% is used, the polarization ratio of the light source is 20%. In the case of (the ratio of the intensity of the P-polarized component and the intensity of the S-polarized component is 20: 1), as shown in Table 1, the intensity ratio of the light transmitted through the monitor beam splitter 3 and the reflected light is shown. Is 4.3.

【0009】[0009]

【表1】 [Table 1]

【0010】一方、光源の偏光比が200の場合(P偏
光成分の強度とS偏光成分の強度との比が200:1の
場合)には、表2に示されているようにモニタ用ビーム
スプリッター3を透過した光と反射した光の強度比は
5.5となる。
On the other hand, when the polarization ratio of the light source is 200 (when the ratio of the intensity of the P-polarized component and the intensity of the S-polarized component is 200: 1), the monitor beam as shown in Table 2 is used. The intensity ratio between the light transmitted through the splitter 3 and the reflected light is 5.5.

【0011】[0011]

【表2】 [Table 2]

【0012】このように、従来は光源の偏光比が変化す
ることによりモニタ用光検出器7に入射する光と対物レ
ンズ5から出射する光との強度比が変化することから、
安定で高性能なモニタ性能が得られないという問題が生
じていた。
As described above, conventionally, since the polarization ratio of the light source changes, the intensity ratio between the light incident on the monitor photodetector 7 and the light emitted from the objective lens 5 changes.
There has been a problem that stable and high-performance monitor performance cannot be obtained.

【0013】本発明は、かかる従来の欠点を解決するた
めになされたものであり、その目的はレーザ光源光の偏
光比の変化の影響を受けずに安定で高精度のモニタ性能
を得ることができ、高精度に出射パワーを制御できる光
ピックアップを提供することである。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional drawbacks, and an object thereof is to obtain stable and highly accurate monitor performance without being affected by the change in the polarization ratio of the laser light source light. It is to provide an optical pickup that can control the emission power with high accuracy.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明による光ピックア
ップは、前述の課題を達成するために、レーザ光源かか
らの光の偏光比を高める光学素子と、該光学素子で偏光
比を高められた光の一部を振分けるビームスプリッタ
と、このビームスプリッタにより振分けられた光を検出
する光検出器とを備えている。
In order to achieve the above-mentioned object, the optical pickup according to the present invention has an optical element for increasing the polarization ratio of light from a laser light source, and the polarization ratio is increased by the optical element. A beam splitter that distributes a part of the light and a photodetector that detects the light distributed by the beam splitter are provided.

【0015】[0015]

【作用】本発明の光ピックアップにおいて、レーザ光源
かからの光の偏光比を高める光学素子としたは例えば偏
光板を使用することができる。この偏光板をレーザ光源
とビームスプリッターとの間に設けることにより、レー
ザ光源からの光の偏光比を高めてからビームスプリッタ
ーでモニタ用に振分ける。
In the optical pickup of the present invention, a polarizing plate can be used as an optical element for increasing the polarization ratio of the light from the laser light source. By providing this polarizing plate between the laser light source and the beam splitter, the polarization ratio of the light from the laser light source is increased and then the light is distributed by the beam splitter for monitoring.

【0016】例えば、前記光学素子として、消光比、即
ち、オープンニコル(平行ニコル)での透過光量をクロ
スニコル(直交ニコル)での透過光量で割った値が10
00の偏光板を用いれば、レーザ光源からの光そのもの
の偏光比が20程度でも、偏光板を透過した後の光の偏
光比は20000程度にまで改善できる。
For example, as the optical element, an extinction ratio, that is, a value obtained by dividing the amount of transmitted light in open Nicols (parallel Nicols) by the amount of transmitted light in crossed Nicols (orthogonal Nicols) is 10.
If the polarizing plate of No. 00 is used, even if the polarization ratio of the light itself from the laser light source is about 20, the polarization ratio of the light after passing through the polarizing plate can be improved to about 20000.

【0017】この場合、前述と同様にP偏光成分の透過
率が85%で反射率が15%、S偏光成分の透過率が1
%で反射率が99%のモニタ用ビームスプリッターを用
い、このビームスプリッターの入射側に消光比1000
の偏光板を介装した場合、レーザ光源光そもものの偏光
比が20のときは、表3に示されているようにモニタ用
ビームスプリッターを透過した光と反射した光との強度
比は5.7となる。
In this case, similarly to the above, the transmittance of the P-polarized component is 85%, the reflectance is 15%, and the transmittance of the S-polarized component is 1.
%, A monitor beam splitter with a reflectance of 99% is used, and an extinction ratio of 1000 is provided on the incident side of the beam splitter.
When the polarization ratio of the laser light source itself is 20 when the polarizing plate of No. 2 is interposed, the intensity ratio between the light transmitted through the monitor beam splitter and the reflected light is 5 as shown in Table 3. It becomes 7.

【0018】[0018]

【表3】 [Table 3]

【0019】また、レーザ光源光そもののの偏光比が2
00に変化した場合にも、表4に示されているようにモ
ニタ用ビームスプリッターを透過した光と反射した光と
の強度比は5.7となる。
The polarization ratio of the laser light source itself is 2
Even when the value changes to 00, the intensity ratio between the light transmitted through the monitor beam splitter and the reflected light is 5.7, as shown in Table 4.

【0020】[0020]

【表4】 [Table 4]

【0021】このように、偏光板などの光学素子をビー
ムスプリッターの入射側に介装し、レーザ光源からの光
の偏光比を高くすることにより、レーザ光源における出
射光の偏光比が変化しても、モニタ用光検出器に入射す
る光と対物レンズ5から出射される光との強度比は実質
的に変化せず、これにより安定で高精度なモニタ性能を
得ることが可能であり、出射パワーの制御も高精度とな
る。
In this way, by interposing an optical element such as a polarizing plate on the incident side of the beam splitter and increasing the polarization ratio of the light from the laser light source, the polarization ratio of the emitted light from the laser light source changes. However, the intensity ratio between the light incident on the monitor photodetector and the light emitted from the objective lens 5 does not substantially change, and thus stable and highly accurate monitor performance can be obtained. Power control is also highly accurate.

【0022】[0022]

【実施例】本発明の幾つかの実施例を図面と共に説明す
ると、先ず始めに、図1は本発明の第1実施例による光
ピックアップの概略構成を示す光学系の配置図であり、
同図(a)は記録媒体の記録面に正対した方向から見た
正面図、同図(b)はその右側面図である。尚、図1に
おいて、図5の構成と同等部分には同一符号を付してあ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Several embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, FIG. 1 is a layout diagram of an optical system showing a schematic configuration of an optical pickup according to a first embodiment of the present invention.
1A is a front view seen from the direction directly facing the recording surface of the recording medium, and FIG. 1B is a right side view thereof. In FIG. 1, the same parts as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals.

【0023】図1において、本発明の第1実施例による
光ピックアップは光記録媒体6に対して情報の記録又は
再生を行うものであり、半導体レーザ素子1、コリメー
タレンズ2、ビームスプリッター3、ミラー4、対物レ
ンズ5、及び受光素子7を含んでいる。これらの構成要
素の機能と配置は図5に示した従来例と同様であるので
説明を省略する。本実施例による光ピックアップが従来
のものと異なる点は、半導体レーザ素子1とビームスプ
リッター3との間に偏光板8が配置されている点であ
る。
In FIG. 1, the optical pickup according to the first embodiment of the present invention records or reproduces information on or from an optical recording medium 6, and includes a semiconductor laser element 1, a collimator lens 2, a beam splitter 3, and a mirror. 4, an objective lens 5, and a light receiving element 7. The functions and arrangements of these constituent elements are the same as those of the conventional example shown in FIG. The optical pickup according to this embodiment is different from the conventional one in that a polarizing plate 8 is arranged between the semiconductor laser device 1 and the beam splitter 3.

【0024】この偏光板8を透過することで、半導体レ
ーザ素子1から出射された光の偏光比が改善される。例
えば、前述のように、偏光板8に消光比が1000のも
のを用いれば、半導体レーザ素子1からの光そのものの
偏光比が20程度でも、偏光板8を透過後の光の偏光比
は20000程度にまで改善できる。
By passing through this polarizing plate 8, the polarization ratio of the light emitted from the semiconductor laser device 1 is improved. For example, as described above, if the extinction ratio of 1000 is used for the polarizing plate 8, even if the polarization ratio of the light itself from the semiconductor laser device 1 is about 20, the polarization ratio of the light after passing through the polarizing plate 8 is 20000. Can be improved to a certain degree.

【0025】このように消光比1000の偏光板8を使
用して半導体レーザ素子1からの光の偏光比を1000
倍に高めると、先の表3及び表4に示したように、半導
体レーザ素子1の出射光の偏光比が変化しても、ビーム
スプリッター3でモニタ用光検出器7に振り分けられて
入射する光と対物レンズ5から出射される光との強度比
は実質的に変化せず、これにより安定で高精度なモニタ
性能が得られる。
Thus, the polarization ratio of the light from the semiconductor laser device 1 is set to 1000 by using the polarizing plate 8 having the extinction ratio of 1000.
If it is doubled, as shown in Tables 3 and 4 above, even if the polarization ratio of the emitted light of the semiconductor laser device 1 changes, the beam splitter 3 distributes the incident light to the monitor photodetector 7 and makes it incident. The intensity ratio between the light and the light emitted from the objective lens 5 does not substantially change, so that stable and highly accurate monitor performance can be obtained.

【0026】図2は本発明の第2実施例による光ピック
アップの概略構成を示す光学系の配置図であり、同図
(a)は記録媒体の記録面に正対した方向から見た正面
図、同図(b)はその右側面図である。尚、図2におい
て、図1の構成と同等部分には同一符号を付してある。
FIG. 2 is a layout diagram of an optical system showing a schematic configuration of an optical pickup according to a second embodiment of the present invention. FIG. 2A is a front view seen from a direction directly facing a recording surface of a recording medium. FIG. 3B is a right side view thereof. In FIG. 2, the same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.

【0027】図2において、本発明の第2実施例による
光ピックアップは、図1に示した第1実施例における偏
光板8の代わりに、偏光ビームスプリッター9を配置し
た構成となっている。
In FIG. 2, the optical pickup according to the second embodiment of the present invention has a configuration in which a polarizing beam splitter 9 is arranged instead of the polarizing plate 8 in the first embodiment shown in FIG.

【0028】偏光ビームスプリッター9は、P偏光をほ
ぼ100%透過させ、S偏光をほぼ100%反射させる
光学素子であり、偏光板8と同様な機能を有している。
このため、半導体レーザ素子1からの光を偏光ビームス
プリッター9に入射させて透過させることによりその偏
光比を高めることができる。これにより、第1実施例と
同様に、半導体レーザ素子1の出射光の偏光比が変化し
てもモニタ用光検出器7に入射する光と対物レンズ5か
ら出射される光との強度比は実質的に変化することがな
く、従って安定で高精度なモニタ性能が得られるもので
ある。
The polarization beam splitter 9 is an optical element that transmits almost 100% of P-polarized light and reflects almost 100% of S-polarized light, and has the same function as the polarizing plate 8.
Therefore, the polarization ratio can be increased by making the light from the semiconductor laser device 1 incident on the polarization beam splitter 9 and transmitting the light. As a result, similarly to the first embodiment, even if the polarization ratio of the emitted light of the semiconductor laser device 1 changes, the intensity ratio between the light incident on the monitoring photodetector 7 and the light emitted from the objective lens 5 is There is substantially no change, and therefore stable and highly accurate monitor performance can be obtained.

【0029】図3は本発明の第3実施例による光ピック
アップの概略構成を示す光学系の配置図であり、同図
(a)は記録媒体の記録面に正対した方向から見た正面
図、同図(b)はその右側面図である。尚、図3におい
て、図1の構成と同等部分には同一符号を付してある。
FIG. 3 is a layout view of an optical system showing a schematic configuration of an optical pickup according to a third embodiment of the present invention. FIG. 3A is a front view seen from the direction directly facing the recording surface of the recording medium. FIG. 3B is a right side view thereof. In FIG. 3, the same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.

【0030】図3において、本発明の第3実施例による
光ピックアップは、図1に示した第1実施例における偏
光板8の代わりに、グラン・トムソンプリズム10を配
置した構成となっている。
In FIG. 3, an optical pickup according to the third embodiment of the present invention has a structure in which a Glan-Thompson prism 10 is arranged instead of the polarizing plate 8 in the first embodiment shown in FIG.

【0031】グラン・トムソンプリズム10は、光の複
屈折性を利用して偏光板8と同等な機能を持たせること
のできる光学素子である。この場合、グラン・トムソン
プリズム10の消光比は10000以上を得ることがで
きる。半導体レーザ素子1からの光をグラントムソンプ
リズム10に入射させて透過させることで、透過光の偏
光比をほぼ10000倍に高めることができる。これに
より、第1及び第2実施例と同様に安定で高精度なモニ
タ性能が得られるものである。
The Glan-Thompson prism 10 is an optical element that can utilize the birefringence of light and have a function equivalent to that of the polarizing plate 8. In this case, the extinction ratio of the Gran-Thomson prism 10 can be 10,000 or more. By making the light from the semiconductor laser device 1 incident on the Glan-Thompson prism 10 and transmitting the light, the polarization ratio of the transmitted light can be increased to about 10,000 times. As a result, similar to the first and second embodiments, stable and highly accurate monitor performance can be obtained.

【0032】図4は本発明の第4実施例による光ピック
アップの概略構成を示す光学系の配置図であり、同図
(a)は記録媒体の記録面に正対した方向から見た正面
図、同図(b)はその右側面図である。尚、図4におい
て、図1の構成と同等部分には同一符号を付してある。
FIG. 4 is a layout diagram of an optical system showing a schematic configuration of an optical pickup according to a fourth embodiment of the present invention. FIG. 4A is a front view seen from the direction directly facing the recording surface of the recording medium. FIG. 3B is a right side view thereof. In FIG. 4, the same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.

【0033】図4において、本発明の第4実施例による
光ピックアップは、図1に示した第1実施例における偏
光板8の代わりに、半導体レーザ素子1からの入射光軸
に対して入射面を傾けたビーム整形プリズム11を配置
し、このプリズム11の入射面にS偏光のみを反射させ
る膜を設けた構成となっている。
In FIG. 4, an optical pickup according to a fourth embodiment of the present invention has an incident surface with respect to an incident optical axis from the semiconductor laser element 1 instead of the polarizing plate 8 in the first embodiment shown in FIG. The beam shaping prism 11 that is tilted is disposed, and a film that reflects only S-polarized light is provided on the incident surface of the prism 11.

【0034】一般に半導体レーザ素子1の出射光の強度
分布形状は楕円形であるため、これを用いるにあたって
は、光強度分布の形状を略円形に整形する必要がある。
そのため、本実施例においては、図4に示されているよ
うなビーム整形プリズム11を用いることでこの光強度
分布の形状の整形を行っている。図4(a)に明らかな
ように、半導体レーザ素子1からの光は、コリメータレ
ンズ2によって平行化された後、約60度前後の入射角
でビーム整形プリズム11に入射される。このビーム整
形プリズム11の入射面には、S偏光のみを反射させる
偏光膜がコートされており、これによってビーム整形プ
リズム11を透過した光の偏光比を高めるようにしてあ
る。
In general, the intensity distribution shape of the emitted light of the semiconductor laser device 1 is an ellipse, and therefore when using this, it is necessary to shape the light intensity distribution into a substantially circular shape.
Therefore, in the present embodiment, the shape of this light intensity distribution is shaped by using the beam shaping prism 11 as shown in FIG. As is apparent from FIG. 4A, the light from the semiconductor laser device 1 is collimated by the collimator lens 2 and then incident on the beam shaping prism 11 at an incident angle of about 60 degrees. The incident surface of the beam shaping prism 11 is coated with a polarizing film that reflects only S-polarized light, thereby increasing the polarization ratio of the light transmitted through the beam shaping prism 11.

【0035】例えば、ビーム整形プリズム11のガラス
としてBK7を用い、光の入射角を65度程度とする
と、いわゆるVコートと呼ばれる二層膜をプリズム11
の入射面にコートすることにより、S偏光成分の約50
%を除去することができる。このようにしてモニタ用ビ
ームスプリッター3に入射される光の偏光比を高くする
ことができ、前述の各実施例と同様に、安定で高精度な
モニタ性能を得ることが可能となるものである。
For example, when BK7 is used as the glass of the beam shaping prism 11 and the incident angle of light is about 65 degrees, a two-layer film called a so-called V coat is formed on the prism 11.
By coating the incident surface of the
% Can be removed. In this way, the polarization ratio of the light incident on the monitor beam splitter 3 can be increased, and stable and highly accurate monitor performance can be obtained, as in the above-described embodiments. .

【0036】[0036]

【発明の効果】以上にのべたように、本発明によれば、
レーザ光源からの光の偏光比を高める光学素子をビーム
スプリッターの入射側に介装することにより、光検出器
へ光を振り分けるビームスプリッターが偏光比に依存す
る特性をもっていても、レーザ光源における偏光比の変
化に関わらず常に安定で高精度のモニタが可能となり、
光ピックアップの射出光のパワー制御の高精度化に有効
であるという効果が得られるものである。
As described above, according to the present invention,
By inserting an optical element that increases the polarization ratio of the light from the laser light source on the incident side of the beam splitter, even if the beam splitter that distributes the light to the photodetector has a characteristic that depends on the polarization ratio, the polarization ratio in the laser light source It is possible to constantly monitor with high accuracy regardless of changes in
It is possible to obtain the effect that it is effective in improving the accuracy of the power control of the light emitted from the optical pickup.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例による光ピックアップの概
略構成を示す光学系の配置図であり、(a)は記録媒体
の記録面に正対した方向から見た正面図、(b)はその
右側面図である。
1A and 1B are layout diagrams of an optical system showing a schematic configuration of an optical pickup according to a first embodiment of the present invention, FIG. 1A is a front view seen from a direction directly facing a recording surface of a recording medium, and FIG. Is a right side view thereof.

【図2】本発明の第2実施例による光ピックアップの概
略構成を示す光学系の配置図であり、(a)は記録媒体
の記録面に正対した方向から見た正面図、(b)はその
右側面図である。
2A and 2B are arrangement diagrams of an optical system showing a schematic configuration of an optical pickup according to a second embodiment of the present invention, FIG. 2A is a front view seen from a direction directly facing a recording surface of a recording medium, and FIG. Is a right side view thereof.

【図3】本発明の第3実施例による光ピックアップの概
略構成を示す光学系の配置図であり、(a)は記録媒体
の記録面に正対した方向から見た正面図、(b)はその
右側面図である。
3A and 3B are layout diagrams of an optical system showing a schematic configuration of an optical pickup according to a third embodiment of the present invention, FIG. 3A is a front view seen from a direction directly facing a recording surface of a recording medium, and FIG. Is a right side view thereof.

【図4】本発明の第4実施例による光ピックアップの概
略構成を示す光学系の配置図であり、(a)は記録媒体
の記録面に正対した方向から見た正面図、(b)はその
右側面図である。
4A and 4B are arrangement diagrams of an optical system showing a schematic configuration of an optical pickup according to a fourth embodiment of the present invention, FIG. 4A is a front view seen from a direction directly facing a recording surface of a recording medium, and FIG. Is a right side view thereof.

【図5】従来の光ピックアップの概略構成を示す光学系
の配置図であり、(a)は記録媒体の記録面に正対した
方向から見た正面図、(b)はその右側面図である。
5A and 5B are arrangement diagrams of an optical system showing a schematic configuration of a conventional optical pickup, FIG. 5A is a front view seen from a direction directly facing a recording surface of a recording medium, and FIG. 5B is a right side view thereof. is there.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ素子 2 コリメータレンズ 3 ビームスプリッター 4 ミラー 5 対物レンズ 6 光記録媒体 7 光検出器 8 偏光板 9 偏光ビームスプリッター 10 集光レンズ 11 グラン・トムソンプリズム 12 ビーム整形プリズム 1 Semiconductor Laser Element 2 Collimator Lens 3 Beam Splitter 4 Mirror 5 Objective Lens 6 Optical Recording Medium 7 Photodetector 8 Polarizing Plate 9 Polarizing Beam Splitter 10 Condensing Lens 11 Gran-Thomson Prism 12 Beam Shaping Prism

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光源からの光を記録媒体に照射す
る光ピックアップにおいて、前記レーザ光源からの光の
偏光比を高める光学素子と、該光学素子で偏光比を高め
られた光の一部を振分けるビームスプリッタと、このビ
ームスプリッタにより振分けられた光を検出する光検出
器とを備えたことを特徴とする光ピックアップ。
1. An optical pickup for irradiating a recording medium with light from a laser light source, comprising: an optical element for increasing the polarization ratio of the light from the laser light source; and a part of the light with the polarization ratio increased by the optical element. An optical pickup comprising: a beam splitter for distributing the light; and a photodetector for detecting the light distributed by the beam splitter.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002185073A (en) * 2000-10-04 2002-06-28 Pioneer Electronic Corp Laser light intensity controller
US7745770B2 (en) 2005-08-30 2010-06-29 Panasonic Corporation Light intensity controller and optical pickup device

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