JPH0684223A - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

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Publication number
JPH0684223A
JPH0684223A JP4238044A JP23804492A JPH0684223A JP H0684223 A JPH0684223 A JP H0684223A JP 4238044 A JP4238044 A JP 4238044A JP 23804492 A JP23804492 A JP 23804492A JP H0684223 A JPH0684223 A JP H0684223A
Authority
JP
Japan
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light
diffraction grating
optical element
optical
error signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP4238044A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideo Maeda
英男 前田
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
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Publication of JPH0684223A publication Critical patent/JPH0684223A/en
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Abstract

PURPOSE:To make an optical pickup compact and light in weight much more by effectively using duplex diffraction grating structure at a maximum. CONSTITUTION:On the optical path of a light source 21 and a condensing means 23, an optical element 25 for separation is provided while forming a diffraction grating 25b on a substrate 25a, and an optical element 24 for polarized light separation is provided while forming a transmitting area 24b to simply transmit light from the light source and high-density diffraction grating areas 24c and 24d to diffract/transmit respective reflected beams, which are reflected from a magneto-optical recording medium 22 and separated by the optical element 25 for separation, on a substrate 24a. Further, a signal detecting means is provided to detect a magneto-optical signal based on difference between the quantity of diffracted light and the quantity of transmitted light in the high-density diffraction grating areas 24c and 24d, to detect a focusing error signal based on the light diffracted or transmitted by the high-density diffraction grating areas 24c and 24d, and to detect a track error signal based on the light diffracted or transmitted by the high-density diffraction grating areas 24c and 24d.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光源からの光を光磁気
記録媒体に照射して情報の記録又は再生を行う光磁気記
録再生装置の光ピックアップに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup of a magneto-optical recording / reproducing apparatus which irradiates a magneto-optical recording medium with light from a light source to record or reproduce information.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、この種の光情報記録再生装置に
おいて、アクセス時間を速めるためには光学式ヘッド
(光ピックアップ)の小型・軽量化が重要である。この
点、従来のようにトラック誤差信号検出、フォーカス誤
差信号検出及び光磁気信号検出を各々別個の光学系によ
り行うと、多くの光学部品を必要とし、複雑ともなり、
重量的にも重くなってアクセス時間の遅いものとなって
しまう。
2. Description of the Related Art Generally, in this type of optical information recording / reproducing apparatus, it is important to reduce the size and weight of an optical head (optical pickup) in order to shorten the access time. In this respect, if track error signal detection, focus error signal detection, and magneto-optical signal detection are performed by separate optical systems as in the conventional case, many optical components are required, and it becomes complicated,
It also becomes heavy and the access time becomes slow.

【0003】そこで、光ピックアップ中に高密度な回折
格子(グレーティング)を利用することにより、光ピッ
クアップの小型・軽量化を図ることが考えられている。
しかし、この方式の場合、高密度回折格子であるため、
光源に用いる半導体レーザの波長変動により回折光の回
折角度が大きく変化してしまう。また、フォーカス誤差
信号検出用の受光素子とトラック誤差信号検出用の受光
素子とが大きく離れており、組立て調整の難しいものと
なる。
Therefore, it is considered to use a high-density diffraction grating (grating) in the optical pickup to reduce the size and weight of the optical pickup.
However, in the case of this method, since it is a high-density diffraction grating,
The diffraction angle of the diffracted light largely changes due to the wavelength variation of the semiconductor laser used as the light source. Further, the light receiving element for detecting the focus error signal and the light receiving element for detecting the track error signal are widely separated, which makes assembly and adjustment difficult.

【0004】このようなことから、光信号検出素子を複
合一体化構成するため、半導体レーザの波長変動があっ
ても回折角度変化を大幅に軽減し得る2重回折格子(デ
ュアルグレーティング)を光分離光学素子として用いた
光ピックアップが本出願人により提案されている。その
概要を図10より説明する。これは、コリメートレンズ
と検出レンズとを1つのレンズで兼用させた点をポイン
トとするものである。まず、半導体レーザ1から出射さ
れたレーザ光は偏光ビームスプリッタ2に入射し、反射
偏向されてコリメートレンズ3側に向かう。ここに、偏
光ビームスプリッタ2は光磁気ディスク4におけるカー
回転による偏光成分が全て検出光学系に導かれるような
偏光特性を付与し、見掛け上のカー回転角を増大させる
ためのものである(もっとも、見掛け上のカー回転角の
増大を期待しない場合であれば、偏光特性を殆ど有しな
い無偏光ビームスプリッタでもよい)。偏光ビームスプ
リッタ2で偏向されコリメートレンズ3でコリメートさ
れた光は、さらにビーム整形プリズム対5でビーム断面
が円になるように整形された後(ビーム整形プリズム対
5の横に図示する断面形状参照)、対物レンズ6で光磁
気ディスク4上に集光照射される。
In view of the above, since the optical signal detecting element is formed into a composite integrated structure, a double diffraction grating (dual grating) that can significantly reduce the change in the diffraction angle even if the wavelength of the semiconductor laser changes is used as the optical element. The present applicant has proposed an optical pickup used as a separation optical element. The outline will be described with reference to FIG. This is based on the point that one lens serves as both the collimator lens and the detection lens. First, the laser light emitted from the semiconductor laser 1 enters the polarization beam splitter 2, is reflected and deflected, and travels toward the collimator lens 3 side. Here, the polarization beam splitter 2 is for imparting polarization characteristics such that all polarization components due to Kerr rotation in the magneto-optical disk 4 are guided to the detection optical system, and increases the apparent Kerr rotation angle ( , If it is not expected to increase the apparent Kerr rotation angle, a non-polarizing beam splitter having almost no polarization characteristics may be used). The light deflected by the polarization beam splitter 2 and collimated by the collimator lens 3 is further shaped by the beam shaping prism pair 5 so that the beam cross section becomes a circle (see the cross-sectional shape shown next to the beam shaping prism pair 5). ), The objective lens 6 focuses and irradiates the magneto-optical disk 4.

【0005】光磁気ディスク4からの反射光は再び対物
レンズ6、ビーム整形プリズム対5及びコリメートレン
ズ3を透過した後、さらに、偏光ビームスプリッタ2を
も透過し、デュアルグレーティング7に入射する。ここ
に、このデュアルグレーティング7は入射側に等ピッチ
の高密度回折格子8、出射側に変調ピッチの回折格子9
を、同一基板10の両面に一体化させて形成した透過型
のものであり、光磁気ディスク4側からの反射光の光軸
上(対物レンズ6の光軸上)に所定角度傾けて配置させ
たものである。ここに、光磁気ディスク4からの反射光
をデュアルグレーティング7に入射させる際、1/2波
長板11を透過させることにより、偏光方向をデュアル
グレーティング7における透過光と回折光との強度が同
じとなるようにすれば、最も効果的に光磁気信号を得る
ことができる。
The reflected light from the magneto-optical disk 4 passes through the objective lens 6, the beam shaping prism pair 5 and the collimating lens 3 again, and further through the polarizing beam splitter 2, and enters the dual grating 7. The dual grating 7 has a high-density diffraction grating 8 with an equal pitch on the incident side and a diffraction grating 9 with a modulation pitch on the emitting side.
Is a transmissive type integrally formed on both sides of the same substrate 10, and is arranged at a predetermined angle on the optical axis of reflected light from the magneto-optical disk 4 side (on the optical axis of the objective lens 6). It is a thing. Here, when the reflected light from the magneto-optical disk 4 is incident on the dual grating 7, it is transmitted through the half-wave plate 11 so that the transmitted light and the diffracted light in the dual grating 7 have the same intensity. If so, the magneto-optical signal can be obtained most effectively.

【0006】このようなデュアルグレーティング7の出
射側には、1次光=回折光12を受光するトラック誤差
信号検出用の2分割受光素子13と、0次光=透過光1
4を受光するフォーカス誤差信号検出用の4分割受光素
子15とが設けられている(図面では、分割状態を明示
するため、便宜上、これらの受光素子13,15を平面
的に示す)。
On the exit side of such a dual grating 7, a two-divided light receiving element 13 for detecting a track error signal for receiving the first-order light = diffracted light 12 and a zero-order light = transmitted light 1
A four-division light receiving element 15 for detecting a focus error signal for receiving four is provided (in the drawing, these light receiving elements 13 and 15 are shown in a plan view for the sake of convenience in order to clearly show the divided state).

【0007】このような構成において、デュアルグレー
ティング7への入射光は、プッシュプル法によりトラッ
ク誤差信号検出に供される回折光12と、回折格子9の
変調ピッチにより片方向収束されて非点収差法によるフ
ォーカス誤差信号検出に供される透過光14とに分離さ
れる。よって、デュアルグレーティング7からの透過光
14を受光する4分割受光素子15を用いた非点収差法
によりフォーカス誤差信号が検出される。また、回折光
12を受光する2分割受光素子13を用いたプッシュプ
ル法によりトラック誤差信号が検出される。さらに、光
磁気ディスク4上の光磁気信号はこれらの受光素子1
3,15の各々の検出出力の差分をとることにより求め
られる。
In such a structure, the incident light on the dual grating 7 is converged in one direction by the diffracted light 12 used for detecting the track error signal by the push-pull method and the modulation pitch of the diffraction grating 9 to be subjected to astigmatism. And the transmitted light 14 used for detection of the focus error signal by the method. Therefore, the focus error signal is detected by the astigmatism method using the four-division light receiving element 15 that receives the transmitted light 14 from the dual grating 7. Further, the track error signal is detected by the push-pull method using the two-division light receiving element 13 that receives the diffracted light 12. Further, the magneto-optical signal on the magneto-optical disk 4 is transmitted to the light receiving elements 1
It is obtained by taking the difference between the detection outputs of 3 and 15.

【0008】このようなデュアルグレーティング7を用
いた方式ないしは構成によれば、次のような利点があ
る。第1に、半導体レーザ1のレーザ光に波長変動があ
ったとしても、デュアルグレーティング7から出射され
る回折光12は殆ど変化が生ぜず、波長変動の影響を受
けにくいものとなる。第2に、トラック誤差信号検出用
の2分割受光素子13とフォーカス信号検出用の4分割
受光素子15とを非常に近接させて配置させることがで
きる。同時に、これらの受光素子13,15間の配設距
離も各々の格子定数を適宜変更設定・調整することで、
適宜可変設定し得るものとなる。よって、組立てに際し
ては、予め用意された受光素子13又は15に対して他
方の受光素子15又は13のみを調整する1回の調整で
済む簡単なものとなる。第3に、受光素子13が紙面に
対して鉛直方向に位置するような可能性がなく、受光素
子15とともに紙面上に位置するように配置させること
ができる点でも有利なものとなる。第4に、部品点数の
少ない小型・軽量の光ピックアップとなり、高速動作が
可能なものとなる。第5に、デュアルグレーティング7
に入射する光の断面形状が円形であるので、フォーカス
感度が向上することになり、受光素子15までの距離を
短くすることができる。このことは、光ピックアップの
小型化に寄与するのみならず、波長変動により生ずる回
折角変化による受光素子15上での光スポットの位置変
動の幅がより小さなものとなることを意味する。
According to the system or the configuration using the dual grating 7 as described above, there are the following advantages. First, even if the laser light of the semiconductor laser 1 has a wavelength variation, the diffracted light 12 emitted from the dual grating 7 hardly changes and is hardly affected by the wavelength variation. Secondly, the two-division light receiving element 13 for detecting the track error signal and the four-division light receiving element 15 for detecting the focus signal can be arranged very close to each other. At the same time, the arrangement distance between these light receiving elements 13 and 15 can also be set and adjusted by appropriately changing and adjusting each lattice constant.
It can be appropriately variably set. Therefore, at the time of assembly, the adjustment is performed only once by adjusting only the other light receiving element 15 or 13 with respect to the light receiving element 13 or 15 prepared in advance. Thirdly, there is no possibility that the light receiving element 13 is positioned in the vertical direction with respect to the paper surface, and the light receiving element 13 and the light receiving element 15 can be arranged so as to be positioned on the paper surface, which is also advantageous. Fourth, it is a compact and lightweight optical pickup with a small number of parts, which enables high-speed operation. Fifth, dual grating 7
Since the cross-sectional shape of the light incident on is circular, the focus sensitivity is improved, and the distance to the light receiving element 15 can be shortened. This not only contributes to downsizing of the optical pickup, but also means that the width of the positional fluctuation of the light spot on the light receiving element 15 due to the change of the diffraction angle caused by the wavelength fluctuation becomes smaller.

【0009】なお、光学系構成としては、図11に示す
ように半導体レーザ1の位置とデュアルグレーティング
7以降の位置とを入替えてもよく、要は、光ディスク装
置のレイアウトに従って決定すればよい。
As the optical system configuration, the position of the semiconductor laser 1 and the position after the dual grating 7 may be interchanged as shown in FIG. 11, and the point is to determine it according to the layout of the optical disk device.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
デュアルグレーティング7を利用した光ピックアップ構
成にあっても、対物レンズ6・デュアルグレーティング
7間には例えば偏光ビームスプリッタ2等の光学素子を
必要とするため、部品点数、小型化等の点でまだ改良の
余地がある。
However, even in the optical pickup configuration using the dual grating 7 as described above, an optical element such as the polarization beam splitter 2 is required between the objective lens 6 and the dual grating 7. Therefore, there is still room for improvement in terms of the number of parts and miniaturization.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】光源からの光を集光手段
を介して光磁気記録媒体に照射し情報の記録又は再生を
行う光磁気記録再生装置の光ピックアップにおいて、前
記光源と前記集光手段との光路上に、回折格子を基板に
形成した分離用光学素子と、前記光源からの光を単に透
過させる透過領域と前記光磁気記録媒体から反射されて
前記分離用光学素子で分離された各々の反射光を回折・
透過させる高密度回折格子領域とを基板に形成した偏光
分離用光学素子とを設け、前記高密度回折格子領域によ
る少なくとも1つの回折光と透過光との光量差に基づき
光磁気信号を検出し、前記高密度回折格子領域による少
なくとも1つの回折光又は透過光に基づきフォーカス誤
差信号を検出し、前記高密度回折格子領域による少なく
とも1つの回折光又は透過光に基づきトラック誤差信号
を検出する信号検出手段とを設けた。
In an optical pickup of a magneto-optical recording / reproducing apparatus for irradiating a magneto-optical recording medium with light from a light source through a converging means, the light source and the condensing light are collected. A separation optical element having a diffraction grating formed on a substrate, a transmission region for simply transmitting light from the light source, and a reflection optical element separated from the magneto-optical recording medium on the optical path with the means. Diffract each reflected light
A polarization separating optical element having a high-density diffraction grating region to be transmitted formed on a substrate is provided, and a magneto-optical signal is detected based on a light amount difference between at least one diffracted light and the transmitted light by the high-density diffraction grating region, Signal detecting means for detecting a focus error signal based on at least one diffracted light or transmitted light by the high-density diffraction grating region and detecting a track error signal based on at least one diffracted light or transmitted light by the high-density diffraction grating region. And.

【0012】[0012]

【作用】2重回折格子を実質的に構成する分離用光学素
子と偏光分離用光学素子とが、信号検出系に対する機能
のみならず、ビームスプリッタ機能をも持つため、必要
とする光学部品が少ないものとなり、一層の小型・軽量
化が図れ、アクセス速度を向上させることができる。
Since the separation optical element and the polarization separation optical element that substantially form the double diffraction grating have not only the function for the signal detection system but also the beam splitter function, the required optical components are The number is small, the size and weight can be further reduced, and the access speed can be improved.

【0013】[0013]

【実施例】請求項1記載の発明の一実施例を図1ないし
図4に基づいて説明する。まず、光源となる半導体レー
ザ21が光磁気ディスク(光磁気記録媒体)22に対す
る対物レンズ(集光手段)23の光軸上に設けられ、こ
れらの半導体レーザ21・対物レンズ23間の光路上に
本実施例の特徴とする偏光分離機能回折格子(偏光分離
用光学素子)24とビームスプリッタ機能回折格子(分
離用光学素子)25とが順に配設されている。ビームス
プリッタ機能回折格子25は基板25a上に回折格子2
5b(格子ピッチΛbとする)を形成したものである。
ここに、回折格子25bに対して半導体レーザ21から
の光の偏光方向が図2(a)に示すように45°をなす
ように、回折格子25bと半導体レーザ21との方向合
わせがなされる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. First, a semiconductor laser 21 serving as a light source is provided on the optical axis of an objective lens (focusing means) 23 with respect to a magneto-optical disk (magneto-optical recording medium) 22, and on the optical path between these semiconductor laser 21 and objective lens 23. A polarization separation function diffraction grating (polarization separation optical element) 24 and a beam splitter function diffraction grating (separation optical element) 25, which characterize this embodiment, are arranged in order. The beam splitter function diffraction grating 25 includes the diffraction grating 2 on the substrate 25a.
5b (grating pitch Λb) is formed.
Here, the diffraction grating 25b and the semiconductor laser 21 are aligned so that the polarization direction of the light from the semiconductor laser 21 with respect to the diffraction grating 25b forms 45 ° as shown in FIG. 2 (a).

【0014】また、偏光分離機能回折格子24は図2
(b)に示すように基板24aの中心部に前記半導体レ
ーザ21からの光を単に透過させる透過領域24bを残
して両側に高密度回折格子領域24c,24d(格子ピ
ッチΛpとする)を形成したものである。これらの高密
度回折格子領域24c,24dは前記光磁気ディスク2
2から反射され回折格子25bで分離された回折光が各
々入射し得る位置に形成されている。よって、高密度回
折格子領域24c,24dにより回折光と透過光とによ
る4つの分離光が生ずるが、各々の分離光に対して各々
受光素子26a〜26dが配設され、信号検出手段26
が構成されている。ここに、受光素子26aは高密度回
折格子領域24cからの透過光を受光するもので、図3
中に示すように4分割受光素子とされている。受光素子
26bは高密度回折格子領域24dからの回折光を受光
するもので、図3中に示すように2分割受光素子とされ
ている。受光素子26cは高密度回折格子領域24cか
らの回折光を受光するもので、図3中に示すように2分
割受光素子とされている。受光素子26dは高密度回折
格子領域24dからの透過光を受光するもので、図3中
に示すように4分割受光素子とされている。
Further, the polarization separation function diffraction grating 24 is shown in FIG.
As shown in (b), high-density diffraction grating regions 24c and 24d (having a grating pitch Λp) are formed on both sides, leaving a transmission region 24b that simply transmits light from the semiconductor laser 21 at the center of the substrate 24a. It is a thing. These high-density diffraction grating regions 24c and 24d are used for the magneto-optical disk 2 described above.
The diffracted lights reflected from the beam No. 2 and separated by the diffraction grating 25b are formed at positions where they can respectively enter. Therefore, the high-density diffraction grating regions 24c and 24d generate four separated lights of diffracted light and transmitted light. The light receiving elements 26a to 26d are provided for the respective separated lights, and the signal detecting means 26 is provided.
Is configured. Here, the light receiving element 26a receives the transmitted light from the high-density diffraction grating region 24c.
As shown in the figure, it is a four-division light receiving element. The light receiving element 26b receives the diffracted light from the high-density diffraction grating region 24d, and is a two-divided light receiving element as shown in FIG. The light receiving element 26c receives the diffracted light from the high-density diffraction grating region 24c, and is a two-divided light receiving element as shown in FIG. The light receiving element 26d receives the transmitted light from the high-density diffraction grating region 24d, and is a four-division light receiving element as shown in FIG.

【0015】このような構成において、半導体レーザ2
1から出射された光は偏光分離機能回折格子24の透過
領域24bを透過した後、ビームスプリッタ機能回折格
子25に入射する。このビームスプリッタ機能回折格子
25を透過した光(一部の光は回折格子25bにより回
折されるが、この回折光は使用しない)は対物レンズ2
3により光磁気ディスク22上に集光照射される。な
お、対物レンズ23に対する入射前にコリメートレンズ
によりコリメートするようにしてもよい。
In such a structure, the semiconductor laser 2
The light emitted from No. 1 passes through the transmission region 24b of the polarization separation function diffraction grating 24, and then enters the beam splitter function diffraction grating 25. The light transmitted through the beam splitter function diffraction grating 25 (a part of the light is diffracted by the diffraction grating 25b, but this diffracted light is not used) is the objective lens 2
The light is focused and irradiated onto the magneto-optical disk 22 by the laser beam No. 3. It should be noted that the collimator lens may collimate the light before it enters the objective lens 23.

【0016】光磁気ディスク22には情報が光カー効果
などの原理に基づき書込まれているので、光磁気ディス
ク22からの反射光は情報に従って偏光面が回転される
ことになる。このような情報を含む反射光は再び対物レ
ンズ23を経た後、ビームスプリッタ機能回折格子25
に入射し、回折格子25bにより回折され、偏光分離機
能回折格子24の各高密度回折格子領域24c,24d
に入射する。ここに、カー回転角は±1°程度であるの
で、略45°の偏光面で入射し、S偏光とP偏光との両
成分を持つものとなる。これらの回折光は、各々高密度
回折格子領域24c,24dにより回折光と透過光とに
分離される。この時、高密度回折格子の特性により、回
折光はS偏光、透過光はP偏光が支配的であるため、こ
れらの高密度回折格子領域24c,24dにより偏光分
離されることになる。このように偏光分離された回折光
ないしは透過光が各々の受光素子26a〜26dにより
受光検知されることにより、光磁気信号検出、フォーカ
ス誤差信号検出、トラック誤差信号検出に供される。
Since information is written on the magneto-optical disk 22 based on the principle of the Kerr effect or the like, the plane of polarization of the reflected light from the magneto-optical disk 22 is rotated according to the information. The reflected light including such information passes through the objective lens 23 again, and then the beam splitter function diffraction grating 25.
To the high-density diffraction grating regions 24c and 24d of the polarization separation function diffraction grating 24.
Incident on. Here, the Kerr rotation angle is about ± 1 °, so that the light enters with a plane of polarization of about 45 ° and has both components of S-polarized light and P-polarized light. These diffracted lights are separated into diffracted lights and transmitted lights by the high-density diffraction grating regions 24c and 24d, respectively. At this time, due to the characteristic of the high-density diffraction grating, the S-polarized light is dominant in the diffracted light and the P-polarized light is dominant in the transmitted light, so that the high-density diffraction grating regions 24c and 24d separate the polarized light. The diffracted light or transmitted light thus polarized and separated is received and detected by each of the light receiving elements 26a to 26d, and is used for magneto-optical signal detection, focus error signal detection, and track error signal detection.

【0017】今、回折光の次数をm、波長をλ、ビーム
スプリッタ機能回折格子25からの回折角をθ1 、偏光
分離機能回折格子24からの回折角をθ2 (図4参照)
とすると、回折角等の関係は下記の(1)(2)式 sinθ1 =m・λ/Λb …………………(1) sinθ1 +sinθ2 =λ/Λp …………………(2) で表される。例えば、m=1,λ=830nm,Λb=
2.43μm,Λp=0.7μmとすると、θ1 =20
°,θ2 =57.5°となる。
Now, the order of the diffracted light is m, the wavelength is λ, the diffraction angle from the beam splitter function diffraction grating 25 is θ 1 , and the diffraction angle from the polarization separation function diffraction grating 24 is θ 2 (see FIG. 4).
Then, the relationship of the diffraction angle etc. is expressed by the following equations (1) and (2) sin θ 1 = m · λ / Λb …………………… (1) sin θ 1 + sin θ 2 = λ / Λp ……………… ... (2) For example, m = 1, λ = 830 nm, Λb =
If 2.43 μm and Λp = 0.7 μm, θ 1 = 20
And θ 2 = 57.5 °.

【0018】よって、受光素子26a,26dに入射す
る光はP偏光が支配的であり、受光素子26b,26c
に入射する光はS偏光が支配的となる。今、これらの受
光素子26a〜26dの各受光領域を図3中に示すよう
に、A1 ,B1 ,C1 ,D1,E2 ,F2 ,E3 ,F3
4 ,B4 ,C4 ,D4 とすると、光磁気信号は Mo1 =(E2+F2+E3+F3)−(A1+B1+C1+D1
+A4+B4+C4+D4) Mo2 =(E2+F2)−(A1+B1+C1+D1) の何れかの式で求めることができる。
Therefore, the P-polarized light is predominant in the light incident on the light receiving elements 26a and 26d, and the light receiving elements 26b and 26c.
S-polarized light is predominant in the light incident on. Now, the respective light receiving regions of these light receiving elements 26a~26d as shown in FIG. 3, A 1, B 1, C 1, D 1, E 2, F 2, E 3, F 3,
Assuming A 4 , B 4 , C 4 , and D 4 , the magneto-optical signal is Mo 1 = (E 2 + F 2 + E 3 + F 3 ) − (A 1 + B 1 + C 1 + D 1
+ A 4 + B 4 + C 4 + D 4 ) Mo 2 = (E 2 + F 2 ) − (A 1 + B 1 + C 1 + D 1 ).

【0019】また、トラック誤差信号については、2分
割受光素子構成の受光素子24b又は24cの検出信号
を用いたプッシュプル法により求めればよい。フォーカ
ス誤差信号については、4分割受光素子構成の受光素子
24a又は24dの検出信号を用いた非点収差法により
求めればよい。
Further, the track error signal may be obtained by the push-pull method using the detection signal of the light receiving element 24b or 24c having the two-divided light receiving element structure. The focus error signal may be obtained by the astigmatism method using the detection signal of the light receiving element 24a or 24d having the four-division light receiving element configuration.

【0020】このように本実施例によれば、2重回折格
子機能を発揮する偏光分離機能回折格子24とビームス
プリッタ機能回折格子25との組合せ構造が、偏光分離
機能のみによる検出系への寄与に加えて入射光と反射光
とを分離する通常の分離機能を持つので、検出系と光源
系とを同一サイドに配設する等、より一層の小型・軽量
化を図ることができる。よって、光ピックアップとして
一層アクセス速度を向上させることができる。
As described above, according to the present embodiment, the combined structure of the polarization splitting function diffraction grating 24 and the beam splitter function diffraction grating 25 exhibiting the double diffraction grating function is applied to the detection system having only the polarization splitting function. In addition to contribution, it has a normal separation function of separating incident light and reflected light, so that the detection system and the light source system are arranged on the same side, and the size and weight can be further reduced. Therefore, the access speed of the optical pickup can be further improved.

【0021】つづいて、請求項2記載の発明の一実施例
を図5ないし図7により説明する。前記実施例で示した
部分と同一部分は同一符号を用いて示す(以下の実施例
でも同様とする)。本実施例は、前記実施例におけるフ
ォーカス誤差信号の検出方式を明らかにするものであ
る。フォーカス誤差信号の検出には、前述したように従
来よりよく知られている非点収差法を用いるが、その原
理を図5及び図6により説明する。光ディスクaからの
反射光を対物レンズbを通過させた後、検出レンズcと
斜め配置の平行平板dとを通して4分割受光素子eに受
光させると、合焦、非合焦状態に応じて非点収差を生ず
る。即ち、光ディスクaが対物レンズbに近づいた時に
は図6(a)に示すように伸びた形となり、合焦状態で
は同図(b)に示すように略円形となり、光ディスクa
が対物レンズbから遠ざかると同図(c)に示すように
扁平となる。よって、4分割受光素子eの各受光領域を
A,B,C,Dで示すものとすれば、フォーカス誤差信
号Foは、 Fo=(A+C)−(B+C) で求められる。
Next, an embodiment of the invention described in claim 2 will be described with reference to FIGS. The same parts as those shown in the above-mentioned embodiments are designated by the same reference numerals (the same applies to the following embodiments). This embodiment clarifies the detection method of the focus error signal in the above embodiment. As described above, the astigmatism method, which is well known in the related art, is used to detect the focus error signal, and the principle thereof will be described with reference to FIGS. 5 and 6. After the reflected light from the optical disk a passes through the objective lens b and then is received by the four-division light receiving element e through the detection lens c and the obliquely arranged parallel flat plate d, astigmatism is obtained depending on the focused or unfocused state. Aberration occurs. That is, when the optical disk a approaches the objective lens b, the optical disk a has an extended shape as shown in FIG. 6A, and in the focused state, it has a substantially circular shape as shown in FIG. 6B.
Is flattened away from the objective lens b, as shown in FIG. Therefore, if each light receiving area of the four-divided light receiving element e is indicated by A, B, C, and D, the focus error signal Fo can be calculated by Fo = (A + C)-(B + C).

【0022】このような非点収差法を本実施例に適用す
る場合を考えると、光ディスクaを光磁気ディスク2
2、対物レンズbを対物レンズ23、検出レンズcを回
折格子25b、平行平板dを基板25a又は24a、4
分割受光素子eを受光素子26a又は26dに各々置換
えればよい。これにより、偏光分離機能回折格子24と
ビームスプリッタ機能回折格子25とを用いた新規な光
ピックアップ構成における非点収差法によるフォーカス
誤差信号Foの検出が行われる。
Considering the case where such an astigmatism method is applied to this embodiment, the optical disk a is replaced by the magneto-optical disk 2.
2, the objective lens b is the objective lens 23, the detection lens c is the diffraction grating 25b, and the parallel plate d is the substrate 25a or 24a.
The divided light receiving element e may be replaced with the light receiving element 26a or 26d. As a result, the focus error signal Fo is detected by the astigmatism method in the novel optical pickup configuration using the polarization separation function diffraction grating 24 and the beam splitter function diffraction grating 25.

【0023】ついで、請求項3記載の発明の一実施例を
説明する。本実施例は、前記実施例をさらに改良したも
のである。即ち、前記実施例による場合、回折格子25
bからの収束光が基板25a又は24aなる平行平板を
通過することで発生する非点収差を利用するものであ
り、特別な構造を要しないものの、非点収差の状態を最
適化させるには、基板25a又は24aの厚さをコント
ロールする必要があり、高い作製精度が要求される。こ
のような点を考慮し、本実施例では、非点収差発生法と
して知られているシリンドリカルレンズを用いる方法を
適用するようにしたものである。このためには、図5に
おける平行平板dをシリンドリカルレンズに置換えれば
よい。図1で考えれば、回折格子25b又は高密度回折
格子領域24c,24dの何れかについて、そのピッチ
分布にチャーピング処理を施すことにより、シリンドリ
カルレンズ機能を持たせればよい。この際、焦点距離は
2光束干渉法や電子ビーム描画法等により任意に設計作
製できるチャーピングの度合いにより設定すればよい。
また、非点収差には前述したように基板25a又は24
aの厚みも当然に寄与するので、本実施例のシリンドリ
カルレンズ機能との両方の機能で有効に非点収差を発生
させることができる。フォーカス誤差信号Fo自体は前
述した式により求めればよい。この場合も、受光素子と
しては、受光素子26a,26dの何れか一方のみを用
いるようにしてもよい。
Next, an embodiment of the invention described in claim 3 will be described. This embodiment is a modification of the above embodiment. That is, in the case of the above embodiment, the diffraction grating 25
The convergent light from b utilizes the astigmatism generated by passing through the parallel flat plate made of the substrate 25a or 24a, and does not require a special structure, but in order to optimize the astigmatism state, It is necessary to control the thickness of the substrate 25a or 24a, and high manufacturing accuracy is required. In consideration of such a point, in the present embodiment, a method using a cylindrical lens, which is known as an astigmatism generation method, is applied. For this purpose, the parallel plate d in FIG. 5 may be replaced with a cylindrical lens. Considering FIG. 1, the pitch distribution of either the diffraction grating 25b or the high-density diffraction grating regions 24c and 24d may be subjected to a chirping process so as to have a cylindrical lens function. At this time, the focal length may be set according to the degree of chirping that can be arbitrarily designed and manufactured by the two-beam interference method, the electron beam drawing method, or the like.
In addition, astigmatism causes the substrate 25a or 24 as described above.
Since the thickness of a naturally contributes, astigmatism can be effectively generated by both the cylindrical lens function and the function of the present embodiment. The focus error signal Fo itself may be obtained by the above-mentioned formula. Also in this case, only one of the light receiving elements 26a and 26d may be used as the light receiving element.

【0024】さらに、請求項4及び5記載の発明の一実
施例を図8及び図9により説明する。本実施例は、半導
体レーザ21の波長変動が大きいために回折角の変動が
フォーカス誤差信号Foに与える影響を無視できない場
合に、波長変動に強い検出系となるように工夫したもの
である。このためには、受光素子26a〜26dの配列
構成(どれを無分割/2分割/4分割とするかの組合
せ)を図8(a)に示すようにすればよい。即ち、受光
素子26a〜26dを順に、2分割、4分割、4分割、
2分割受光素子とすればよい。これは、2重回折格子の
特徴として既に知られているように、1回だけ回折した
光よりも、2回回折した光のほうが波長変動による回折
角の変動が小さいので、2回回折光の受光位置に位置す
る受光素子26b,26cを4分割受光素子としたもの
である。
Further, an embodiment of the invention described in claims 4 and 5 will be described with reference to FIGS. 8 and 9. The present embodiment is devised so that the detection system is strong against wavelength fluctuations when the influence of fluctuations of the diffraction angle on the focus error signal Fo cannot be ignored because the wavelength fluctuations of the semiconductor laser 21 are large. To this end, the arrangement configuration of the light receiving elements 26a to 26d (combination of which is to be non-divided / divided / divided / divided) may be set as shown in FIG. That is, the light receiving elements 26a to 26d are sequentially divided into two, four, four,
It may be a two-divided light receiving element. As is already known as a characteristic of the double diffraction grating, this is because the light diffracted twice has a smaller variation in the diffraction angle due to the wavelength variation than the light diffracted only once. The light-receiving elements 26b and 26c located at the light-receiving position of 4 are divided into four light-receiving elements.

【0025】ここに、トラック誤差信号Trに関して
も、その検出は、1回のみの回折光よりも2回の回折光
を利用するほうがよいので、トラック誤差信号Trの検
出をも考慮した場合には、同図(b)に示すように、受
光素子26b,26cの何れか一方、例えば、受光素子
26b側を2分割受光素子としてトラック誤差信号Tr
の検出に供するようにしてもよい。この場合、受光素子
26a,26dは無分割形式のものでよい。
As for the tracking error signal Tr, it is better to use the diffracted light twice than the diffracted light only once. Therefore, when the detection of the tracking error signal Tr is also taken into consideration. As shown in FIG. 6B, one of the light receiving elements 26b and 26c, for example, the light receiving element 26b side is used as a two-divided light receiving element, and the track error signal Tr
May be used for detection. In this case, the light receiving elements 26a and 26d may be of the undivided type.

【0026】もっとも、トラック誤差信号について考え
た場合、波長変動があっても、波長変動によるスポット
の移動は、図9に示すように、2分割受光素子fの分割
線方向に生ずるので、フォーカス誤差信号に比べて殆ど
影響ないと考えられるので、実質的には図8(a)に示
すような配列構成でよい。
Considering the track error signal, however, even if there is wavelength variation, the spot movement due to wavelength variation occurs in the direction of the dividing line of the two-divided light receiving element f, as shown in FIG. Since it is considered that it has almost no effect as compared with the signal, the arrangement configuration shown in FIG.

【0027】さらに、請求項6記載の発明の一実施例を
説明する。一般に、ライトワンスなどの光情報記録媒体
に対する光ピックアップにあっては、元々、偏光分離性
が要求されないが、本発明の対象とする光磁気ディスク
22にあって光磁気信号Moを再生検出するためには、
充分な偏光分離が要求される。このためには、高密度回
折格子をより高密度にする必要がある。しかし、例えば
m=1の時にはθ1 を大きくできないので、高密度回折
格子の格子ピッチΛpを小さくできない。これは、θ1
を大きくするとθ2 があまりにも大きくなってこの回折
光を受光する受光素子が残りの他の受光素子と大きく離
れた配置となって、目的とする小型化等の要請に反する
からである。よって、格子ピッチΛpを小さくできず、
一層の高密度化には限界がある。
Further, an embodiment of the invention described in claim 6 will be described. Generally, in an optical pickup for an optical information recording medium such as a write-once, originally, the polarization separation property is not required, but since the magneto-optical signal Mo is reproduced and detected in the magneto-optical disk 22 which is an object of the present invention. Has
Sufficient polarization separation is required. For this purpose, it is necessary to make the high-density diffraction grating have a higher density. However, for example, when m = 1, θ 1 cannot be increased, so that the grating pitch Λp of the high-density diffraction grating cannot be decreased. This is θ 1
This is because when θ is increased, θ 2 becomes too large, and the light receiving element that receives this diffracted light is arranged far away from the other other light receiving elements, which violates the desired reduction in size and the like. Therefore, the lattice pitch Λp cannot be reduced, and
There is a limit to further densification.

【0028】そこで、本実施例では、回折格子25bで
発生する2次光を高密度回折格子領域24c,24dに
入射させるように構成することにより、高密度回折格子
を一層高密度化した場合であっても、かけ離れた位置と
なることなく、回折光を適正位置で受光し得るものと
し、小型化を維持できるようにしたものである。
Therefore, in the present embodiment, the secondary light generated in the diffraction grating 25b is made to enter the high-density diffraction grating regions 24c and 24d, thereby making it possible to increase the density of the high-density diffraction grating. Even if there is, the diffracted light can be received at an appropriate position without being separated from each other, and the miniaturization can be maintained.

【0029】例えば、m=2の場合には、λ=830n
m,Λb=2.43μmの際に、m=1の時の角度θ2
=57.5°を確保し得る格子ピッチΛpは0.544
μmとなり、一層高密度化し得ることが判る。これによ
り、充分な偏光分離機能が確保される。
For example, when m = 2, λ = 830n
When m and Λb = 2.43 μm, the angle θ 2 when m = 1
= 57.5 °, the lattice pitch Λp is 0.544.
It can be seen that the density can be further increased and the density can be further increased. This ensures a sufficient polarization separation function.

【0030】[0030]

【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、光源と集
光手段との光路上に、回折格子を基板に形成した分離用
光学素子と、光源からの光を単に透過させる透過領域と
光磁気記録媒体から反射されて前記分離用光学素子で分
離された各々の反射光を回折・透過させる高密度回折格
子領域とを基板に形成した偏光分離用光学素子とを設
け、これらの回折光や透過光を用いて信号検出手段によ
り光磁気信号、フォーカス誤差信号、トラック誤差信号
を検出するように構成したので、2重回折格子に信号検
出系に対する機能のみならず、ビームスプリッタ機能を
も持たせることができ、よって、必要とする光学部品を
極力少ないものとすることができ、光ピックアップの一
層の小型・軽量化を図ることができ、アクセス速度を向
上させることができる。
According to the first aspect of the present invention, a separating optical element having a diffraction grating formed on a substrate is provided on an optical path between the light source and the light collecting means, and a transmitting region for simply transmitting light from the light source. A high-density diffraction grating region for diffracting / transmitting each reflected light reflected from the magneto-optical recording medium and separated by the separating optical element, and a polarization separating optical element formed on a substrate are provided. Since it is configured to detect the magneto-optical signal, the focus error signal, and the track error signal by the signal detection means using the transmitted light or the transmitted light, the double diffraction grating has not only the function for the signal detection system but also the beam splitter function. Therefore, the number of required optical components can be minimized, the size and weight of the optical pickup can be further reduced, and the access speed can be improved. .

【0031】この際、請求項2記載の発明によれば、信
号検出手段によるフォーカス誤差信号検出を、分離用光
学素子の回折格子による回折光がその基板又は偏光分離
用光学素子の基板を通過することにより生ずる非点収差
を受光素子で検出する非点収差法によるものとしたの
で、請求項1記載の光ピックアップに適した簡便なフォ
ーカス誤差信号検出方式を確立することができる。
In this case, according to the second aspect of the invention, the focus error signal is detected by the signal detecting means, and the diffracted light by the diffraction grating of the separating optical element passes through the substrate or the substrate of the polarization separating optical element. Since the astigmatism caused thereby is detected by the astigmatism method with the light receiving element, a simple focus error signal detection method suitable for the optical pickup according to claim 1 can be established.

【0032】特に、請求項3記載の発明によれば、信号
検出手段によるフォーカス誤差信号検出を、分離用光学
素子の回折格子又は偏光分離用光学素子の高密度回折格
子領域の少なくとも一方にチャーピング処理を施して得
られるシリンドリカルレンズ機能に基づき生ずる非点収
差を受光素子で検出する非点収差法によるものとしたの
で、焦点距離を2光束干渉法等により任意に設計作製し
得るチャーピングの度合いにより設定できるものとな
り、請求項1記載の光ピックアップに適したフォーカス
誤差信号検出系として任意性の高いものとすることがで
きる。
In particular, according to the third aspect of the invention, the focus error signal detection by the signal detecting means is chirped in at least one of the diffraction grating region of the separation optical element or the high-density diffraction grating region of the polarization separation optical element. Since the astigmatism method that detects the astigmatism caused by the cylindrical lens function obtained by processing is detected by the light receiving element, the degree of chirping can be designed and produced by the two-beam interference method or the like for the focal length. The focus error signal detection system suitable for the optical pickup according to the first aspect can be highly optional.

【0033】また、請求項4記載の発明によれば、これ
らの発明において、信号検出手段によるフォーカス誤差
信号検出を、分離用光学素子の回折格子と偏光分離用光
学素子の高密度回折格子とにより回折された光を用いる
ものとしたので、光源に波長変動があっても安定したフ
ォーカス誤差信号検出系を確立することができる。
According to the invention described in claim 4, in these inventions, the focus error signal detection by the signal detection means is performed by the diffraction grating of the separation optical element and the high-density diffraction grating of the polarization separation optical element. Since the diffracted light is used, a stable focus error signal detection system can be established even if the wavelength of the light source varies.

【0034】同様に、請求項5記載の発明によれば、こ
れらの発明において、信号検出手段によるトラック誤差
信号検出を、分離用光学素子の回折格子と偏光分離用光
学素子の高密度回折格子とにより回折された光を用いる
ものとしたので、光源に波長変動があっても安定したト
ラック誤差信号検出系を確立することができる。
Similarly, according to the invention described in claim 5, in these inventions, the track error signal detection by the signal detecting means is performed by the diffraction grating of the separation optical element and the high-density diffraction grating of the polarization separation optical element. Since the light diffracted by is used, it is possible to establish a stable track error signal detection system even if the wavelength of the light source varies.

【0035】さらに、請求項6記載の発明によれば、こ
れらの発明において、分離用光学素子の回折格子から偏
光分離用光学素子の高密度回折領域へ入射させる光を、
前記回折格子の2次以上の回折光としたので、高密度回
折を支障なく高密度化することができ、よって、充分な
偏光分離機能を確保することができる。
Further, according to the invention described in claim 6, in these inventions, the light incident from the diffraction grating of the separation optical element to the high-density diffraction region of the polarization separation optical element is
Since the diffracted light of the second or higher order of the diffraction grating is used, high-density diffraction can be performed without difficulty, and a sufficient polarization separation function can be ensured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】請求項1記載の発明の一実施例をイメージ的に
示す概略斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view conceptually showing an embodiment of the invention according to claim 1. FIG.

【図2】回折格子及び高密度回折格子領域の格子の様子
を示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a state of a diffraction grating and a grating in a high-density diffraction grating region.

【図3】受光素子の配列等を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing an arrangement and the like of light receiving elements.

【図4】回折角を説明するための概略正面図である。FIG. 4 is a schematic front view for explaining a diffraction angle.

【図5】請求項2記載の発明の一実施例を説明するため
の非点収差法の原理的構成図である。
FIG. 5 is a principle configuration diagram of an astigmatism method for explaining an embodiment of the invention described in claim 2;

【図6】その受光素子の受光状態を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a light receiving state of the light receiving element.

【図7】非点収差法の本実施例への適用形態を示す概略
斜視図である。
FIG. 7 is a schematic perspective view showing an application form of the astigmatism method to the present embodiment.

【図8】請求項4及び5記載の発明の一実施例を示す受
光素子の配列等を示す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing an arrangement of light receiving elements and the like showing an embodiment of the invention described in claims 4 and 5;

【図9】トラック誤差信号のスポット移動を示す平面図
である。
FIG. 9 is a plan view showing spot movement of a track error signal.

【図10】従来例を示す光学系構成図である。FIG. 10 is a configuration diagram of an optical system showing a conventional example.

【図11】その別の構成例を示す光学系構成図である。FIG. 11 is an optical system configuration diagram showing another configuration example thereof.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 光源 22 光磁気記録媒体 23 集光手段 24 偏光分離用光学素子 24a 基板 24b 透過領域 24c,24d 高密度回折格子領域 25 分離用光学素子 25a 基板 25b 回折格子 Reference Signs List 21 light source 22 magneto-optical recording medium 23 condensing means 24 polarization separation optical element 24a substrate 24b transmission region 24c, 24d high density diffraction grating region 25 separation optical element 25a substrate 25b diffraction grating

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源からの光を集光手段を介して光磁気
記録媒体に照射し情報の記録又は再生を行う光磁気記録
再生装置の光ピックアップにおいて、前記光源と前記集
光手段との光路上に、回折格子を基板に形成した分離用
光学素子と、前記光源からの光を単に透過させる透過領
域と前記光磁気記録媒体から反射されて前記分離用光学
素子で分離された各々の反射光を回折・透過させる高密
度回折格子領域とを基板に形成した偏光分離用光学素子
とを設け、前記高密度回折格子領域による少なくとも1
つの回折光と透過光との光量差に基づき光磁気信号を検
出し、前記高密度回折格子領域による少なくとも1つの
回折光又は透過光に基づきフォーカス誤差信号を検出
し、前記高密度回折格子領域による少なくとも1つの回
折光又は透過光に基づきトラック誤差信号を検出する信
号検出手段を設けたことを特徴とする光ピックアップ。
1. An optical pickup of a magneto-optical recording / reproducing apparatus for irradiating a magneto-optical recording medium with light from a light source through a converging means to record or reproduce information. On the road, a separating optical element having a diffraction grating formed on a substrate, a transmissive region that simply transmits light from the light source, and each reflected light reflected by the magneto-optical recording medium and separated by the separating optical element. A high-density diffraction grating region for diffracting / transmitting light, and a polarization separation optical element formed on a substrate, and at least 1 of the high-density diffraction grating region is provided.
A magneto-optical signal is detected based on a light amount difference between two diffracted light beams and a transmitted light beam, and a focus error signal is detected based on at least one diffracted light beam or transmitted light beam by the high-density diffraction grating region. An optical pickup comprising signal detection means for detecting a track error signal based on at least one diffracted light or transmitted light.
【請求項2】 信号検出手段によるフォーカス誤差信号
検出を、分離用光学素子の回折格子による回折光がその
基板又は偏光分離用光学素子の基板を通過することによ
り生ずる非点収差を受光素子で検出する非点収差法によ
るものとしたことを特徴とする請求項1記載の光ピック
アップ。
2. The astigmatism generated by the diffracted light by the diffraction grating of the separating optical element passing through the substrate or the substrate of the polarization separating optical element is detected by the light receiving element in the focus error signal detection by the signal detecting means. The optical pickup according to claim 1, wherein the astigmatism method is used.
【請求項3】 信号検出手段によるフォーカス誤差信号
検出を、分離用光学素子の回折格子又は偏光分離用光学
素子の高密度回折格子領域の少なくとも一方にチャーピ
ング処理を施して得られるシリンドリカルレンズ機能に
基づき生ずる非点収差を受光素子で検出する非点収差法
によるものとしたことを特徴とする請求項1記載の光ピ
ックアップ。
3. A cylindrical lens function obtained by performing a chirping process on at least one of the diffraction grating of the separation optical element or the high-density diffraction grating area of the polarization separation optical element, in order to detect the focus error signal by the signal detection means. 2. The optical pickup according to claim 1, wherein the astigmatism caused by the astigmatism is detected by a light receiving element.
【請求項4】 信号検出手段によるフォーカス誤差信号
検出を、分離用光学素子の回折格子と偏光分離用光学素
子の高密度回折格子とにより回折された光を用いるもの
としたことを特徴とする請求項1,2又は3記載の光ピ
ックアップ。
4. The focus error signal detection by the signal detection means uses light diffracted by the diffraction grating of the separation optical element and the high-density diffraction grating of the polarization separation optical element. Item 1. The optical pickup according to Item 1, 2 or 3.
【請求項5】 信号検出手段によるトラック誤差信号検
出を、分離用光学素子の回折格子と偏光分離用光学素子
の高密度回折格子とにより回折された光を用いるものと
したことを特徴とする請求項1,2,3又は4記載の光
ピックアップ。
5. The tracking error signal detection by the signal detection means uses light diffracted by the diffraction grating of the separation optical element and the high-density diffraction grating of the polarization separation optical element. The optical pickup according to item 1, 2, 3 or 4.
【請求項6】 分離用光学素子の回折格子から偏光分離
用光学素子の高密度回折領域へ入射させる光を、前記回
折格子の2次以上の回折光としたことを特徴とする請求
項1,2,3,4又は5記載の光ピックアップ。
6. The light incident from the diffraction grating of the separation optical element to the high-density diffraction region of the polarization separation optical element is diffracted light of the second or higher order of the diffraction grating. The optical pickup described in 2, 3, 4 or 5.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1028418A1 (en) * 1999-02-12 2000-08-16 Pioneer Corporation Light guide path element and optical pickup
US6327110B1 (en) * 1997-03-21 2001-12-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical system, position detecting apparatus, magnetic recording apparatus, and lens with aperture
US6434092B1 (en) 1998-12-24 2002-08-13 Nec Corporation Optical head for land and groove recording
US6819637B1 (en) 1999-12-14 2004-11-16 Fujitsu Limited Magneto-optical apparatus and optical head

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