JPH0683048A - Positive photosensitive resin composition - Google Patents

Positive photosensitive resin composition

Info

Publication number
JPH0683048A
JPH0683048A JP4819993A JP4819993A JPH0683048A JP H0683048 A JPH0683048 A JP H0683048A JP 4819993 A JP4819993 A JP 4819993A JP 4819993 A JP4819993 A JP 4819993A JP H0683048 A JPH0683048 A JP H0683048A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
positive photosensitive
photosensitive resin
reaction
alkali
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4819993A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3091802B2 (en
Inventor
Eiji Yoda
英二 依田
Hitoshi Yuasa
仁士 湯浅
Yutaka Otsuki
裕 大月
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Oil Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Oil Corp filed Critical Nippon Oil Corp
Priority to JP4819993A priority Critical patent/JP3091802B2/en
Publication of JPH0683048A publication Critical patent/JPH0683048A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3091802B2 publication Critical patent/JP3091802B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a positive photosensitive resin compsn. excellent in compatibility with an alkali-soluble resin and showing excellent stability as a soln. or electrodeposition liquid by incorporating a specified positive photosensitive compd. as the essential component. CONSTITUTION:This positive photosensitive resin compsn. contains (a) quinone diazide phenol resin expressed by formula and (b) alkali-soluble resin as the essential components. In formula, R<1> is an alkyl group of 1-4 carbon number, R<2> is a bivalent hydrocarbon residue having 5-16 carbon number, D1, D2, D3 are hydrogen atoms or quinone diazide units. When a resin having carboxylic acid groups is used as the alkali-soluble resin, the obtd. positive photosensitive resin compsn. is suitable for an electrodeposition coating. Further, the obtd. coating film of this positive photosensitive resin by electrodepostion has excellent adhesion property to a substrate and can be formed into a fine wiring pattern.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線基板、集
積回路等の製造に際して用いることができる新規なポジ
型感光性樹脂組成物に関し、更に詳しくは、製造が容易
であり、他の樹脂との相溶性に優れ、基板との密着性に
優れた塗膜を形成する新規なポジ型感光性樹脂組成物に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a novel positive photosensitive resin composition that can be used in the production of printed wiring boards, integrated circuits, etc. More specifically, it is easy to produce and is compatible with other resins. The present invention relates to a novel positive-type photosensitive resin composition that forms a coating film having excellent compatibility with and excellent adhesion to a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近の電子機器の発展に伴い、保持体と
してのプリント配線基板にも高密度化、高集積化、微細
回路化が求められているため、基板への部品の装着に
は、基板の表裏の導通の役割を有する穴径の小さなスル
ーホールを配設した、基板表面実装方式が採用されてい
る。該スルーホールとは、内壁に金属がめっきされてお
り、表裏層回路を相互に接続し、且つ搭載部品を固定す
るための穴である。
2. Description of the Related Art With the recent development of electronic equipment, a printed wiring board as a holder is required to have high density, high integration, and fine circuits. Therefore, when mounting parts on the board, A substrate surface mounting method is used in which through holes each having a small hole diameter and having a role of conduction between the front and back of the substrate are arranged. The through hole is a hole in which metal is plated on the inner wall, the front and back layer circuits are connected to each other, and mounting components are fixed.

【0003】該スルーホール及び微細な回路配線を有す
るプリント配線基板を、エッチングにより作製する場合
には、スルーホールの内壁の金属メッキ層もエッチング
液から保護する必要がある。しかしながら、現在広く用
いられている、感光性フィルムとしてドライフィルムを
ラミネートする方法では、フィルム膜厚が一般に50μ
m程度と厚いため、露光、現像して形成される回路パタ
ーンがシャープでなく、微細な回路パターンを作成でき
ず、また金属表面に感光性フィルムを均一にラミネート
することが困難であるため、特に穴径の小さなスルーホ
ール部分において、その内壁の金属メッキ層を保護する
ことができないという問題がある。
When the printed wiring board having the through holes and fine circuit wiring is produced by etching, it is necessary to protect the metal plating layer on the inner wall of the through hole from the etching solution. However, the method of laminating a dry film as a photosensitive film which is widely used at present has a film thickness of generally 50 μm.
Since the thickness is about m, the circuit pattern formed by exposure and development is not sharp, a fine circuit pattern cannot be formed, and it is difficult to uniformly laminate the photosensitive film on the metal surface. There is a problem that the metal plating layer on the inner wall cannot be protected in the through hole portion having a small hole diameter.

【0004】またエッチングレジストを均一に塗布する
ことができる電着法によりレジストを形成した場合にお
いても、光硬化性樹脂を主成分とする現行のネガ型電着
フォトレジストを用いた場合、スルーホール内への光照
射量が不足するためスルーホール内の硬化が不十分とな
り、内壁の金属メッキ層をエッチング液から保護するこ
とは困難であるという問題がある。
Even when the resist is formed by the electrodeposition method capable of uniformly coating the etching resist, the through-hole is formed when the current negative-type electrodeposition photoresist containing a photocurable resin as a main component is used. There is a problem that it is difficult to protect the metal plating layer on the inner wall from the etching solution due to insufficient curing of the inside of the through hole because the amount of light irradiation to the inside is insufficient.

【0005】上記欠点を克服するために、露光部分が現
像液に溶解し、未露光部が保護層となり、更には電着塗
装により基板に均一に塗布することができるポジ型電着
フォトレジストの開発が進められており、種々提案され
ている。すなわち該ポジ型フォトレジストでは、光照射
部は溶剤可溶性となり、レジストが溶解除去され、また
未照射部は溶剤不溶性であるために除去されずに保護層
として残るため、光の届きにくいスルーホール内壁に光
を照射させることなく保護層を形成させることができ
る。
In order to overcome the above-mentioned drawbacks, a positive type electro-deposition photoresist in which an exposed part is dissolved in a developing solution and an unexposed part becomes a protective layer and can be uniformly applied to a substrate by electrodeposition coating Development is in progress and various proposals have been made. That is, in the positive photoresist, the light-irradiated portion becomes soluble in the solvent and the resist is dissolved and removed, and the unirradiated portion remains as a protective layer without being removed because it is insoluble in the solvent. It is possible to form the protective layer without irradiating the surface with light.

【0006】前記ポジ型フォトレジストとしては、感光
剤成分としてキノンジアジド基を有する化合物を用い、
現像液にアルカリ水溶液を用いるレジストが、感度、解
像度ともに優れているので、注目されている。前記キノ
ンジアジド基を有するポジ型フォトレジストが、アルカ
リ水溶液に対して溶解を促進する基と、キノンジアジド
基とを、一つの樹脂中に含む樹脂である場合には、精製
が困難であり、工業的でないため、キノンジアジド基を
有する樹脂若しくは化合物と、アルカリ水溶液に対して
溶解を促進する樹脂との樹脂組成物が用いられている。
該樹脂組成物において、キノンジアジド基を有する樹脂
若しくは化合物と、溶解を促進する基を有する樹脂と
を、良好な感度などを得ることが出来る適正な割合で混
合してポジ型感光性樹脂組成物とする場合に、両方の相
溶性を向上させることが高解像性を実現するうえでもっ
とも重要である。
As the positive photoresist, a compound having a quinonediazide group is used as a photosensitizer component.
A resist using an alkaline aqueous solution as a developing solution has attracted attention because it has excellent sensitivity and resolution. When the positive photoresist having a quinonediazide group is a resin containing a group that promotes dissolution in an alkaline aqueous solution and a quinonediazide group in one resin, purification is difficult and not industrial Therefore, a resin composition of a resin or compound having a quinonediazide group and a resin that promotes dissolution in an alkaline aqueous solution is used.
In the resin composition, a resin or compound having a quinonediazide group and a resin having a group that promotes dissolution are mixed at an appropriate ratio to obtain good sensitivity and the like, and a positive photosensitive resin composition is obtained. In this case, improving the compatibility of both is the most important for achieving high resolution.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、現在、
工業的に製造可能なキノンジアジド化合物は、アルカリ
可溶性樹脂、特にカルボキシル基を有する樹脂、例えば
アクリル樹脂との相溶性が悪いため、ポジ型フォトレジ
スト溶液及びポジ型フォトレジスト電着液の安定性が悪
く、解像度が劣るという問題があり、実用上満足できる
性能を有していないのが現状である。
However, at the present time,
Industrially-manufacturable quinonediazide compounds have poor compatibility with alkali-soluble resins, particularly resins having a carboxyl group, such as acrylic resins, so that the stability of positive photoresist solutions and positive photoresist electrodeposition solutions is poor. However, there is a problem that the resolution is inferior, and it does not have the performance that is practically satisfactory.

【0008】本発明の目的は、アルカリ可溶性樹脂とポ
ジ型フォトレジストとが相溶性に優れ、溶液若しくは電
着液とした際の安定性に優れ、更には解像度に優れるポ
ジ型感光性樹脂組成物を提供することにある。
The object of the present invention is to provide a positive-type photosensitive resin composition which is excellent in compatibility between an alkali-soluble resin and a positive-type photoresist, stability in a solution or electrodeposition solution, and further excellent in resolution. To provide.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明者らは上記の課題
を解決するため鋭意研究を重ねた結果、特定のポジ型感
光性化合物を必須成分とするポジ型感光性樹脂組成物を
開発することにより上記の課題を満たすことに成功し、
本発明を完成するに至った。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have developed a positive type photosensitive resin composition containing a specific positive type photosensitive compound as an essential component. By succeeding in meeting the above issues,
The present invention has been completed.

【0010】すなわち、本発明は(a)一般式化2で示
されるキノンジアジド化フェノール樹脂(以下、「キノ
ンジアジド化フェノール樹脂(1)」という)及び、
(b)アルカリ可溶性樹脂(以下、「アルカリ可溶性樹
脂(2)」という)を必須成分として含むことを特徴と
するポジ型感光性樹脂組成物を提供することにある。
That is, the present invention comprises (a) a quinonediazide-phenolic resin represented by the general formula 2 (hereinafter referred to as "quinonediazide-phenolic resin (1)"), and
(B) To provide a positive photosensitive resin composition characterized by containing an alkali-soluble resin (hereinafter referred to as “alkali-soluble resin (2)”) as an essential component.

【0011】[0011]

【化2】 [Chemical 2]

【0012】以下、本発明を更に詳細に説明する。The present invention will be described in more detail below.

【0013】本発明のポジ型感光性樹脂組成物は、特定
のキノンジアジド化フェノール樹脂及びアルカリ可溶性
樹脂を必須成分として含有することを特徴とする。
The positive photosensitive resin composition of the present invention is characterized by containing a specific quinonediazide-modified phenol resin and an alkali-soluble resin as essential components.

【0014】本発明において必須成分として用いる前記
特定のキノンジアジド化フェノール樹脂は、前記一般式
化2で表わされるキノンジアジド化フェノール樹脂
(1)である。該キノンジアジド化フェノール樹脂
(1)において、R1の炭素数が5以上の場合、R2の炭
素数が17以上の場合、mが11以上又はnが3以上の
場合には製造が困難である。
The specific quinone diazide phenolic resin used as an essential component in the present invention is the quinone diazide phenolic resin (1) represented by the general formula 2. In the quinonediazide phenol resin (1), when R 1 has 5 or more carbon atoms, R 2 has 17 or more carbon atoms, and when m is 11 or more or n is 3 or more, the production is difficult. .

【0015】前記キノンジアジド化フェノール樹脂
(1)としては、具体的には例えば、下記構造式化3〜
10(式中m及びxは、0〜10の数を示す。また
1、t2及びt3は同一若しくは異なる数であり、1〜
3の数を示す。)で表わされる樹脂等を好ましく挙げる
ことができる。
Specific examples of the quinonediazide-modified phenol resin (1) include those represented by the following structural formulas 3 to 3.
10 (in the formula, m and x represent a number of 0 to 10. Further, t 1 , t 2 and t 3 are the same or different numbers, and 1 to
The number of 3 is shown. The resin and the like represented by) can be preferably mentioned.

【0016】[0016]

【化3】 [Chemical 3]

【0017】[0017]

【化4】 [Chemical 4]

【0018】[0018]

【化5】 [Chemical 5]

【0019】[0019]

【化6】 [Chemical 6]

【0020】[0020]

【化7】 [Chemical 7]

【0021】[0021]

【化8】 [Chemical 8]

【0022】[0022]

【化9】 [Chemical 9]

【0023】[0023]

【化10】 [Chemical 10]

【0024】前記キノンジアジド化フェノール樹脂
(1)を調製するには、例えば、下記一般式化11で表
わされるフェノール樹脂と、下記化学式化12〜14
(式中Xは、水素原子、フッ素原子、塩素原子、臭素原
子又はヨウ素原子を示す)で表わされるキノンジアジド
化合物とを反応させることにより製造することができ
る。
To prepare the quinonediazide-modified phenol resin (1), for example, a phenol resin represented by the following general formula 11 and the following chemical formulas 12 to 14 are prepared.
(In the formula, X represents a hydrogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom or an iodine atom) and can be produced by reacting with a quinonediazide compound.

【0025】[0025]

【化11】 [Chemical 11]

【0026】[0026]

【化12】 [Chemical 12]

【0027】[0027]

【化13】 [Chemical 13]

【0028】[0028]

【化14】 [Chemical 14]

【0029】前記フェノール樹脂は、ルイス酸触媒の存
在下、下記一般式化15で示されるフェノール類と、炭
素−炭素二重結合を少なくとも2個有する炭素数5〜1
6の不飽和炭化水素とを共重合させることにより製造す
ることができる。
The phenol resin has 5 to 1 carbon atoms having at least two carbon-carbon double bonds with a phenol represented by the following general formula 15 in the presence of a Lewis acid catalyst.
It can be produced by copolymerizing 6 with the unsaturated hydrocarbon.

【0030】[0030]

【化15】 [Chemical 15]

【0031】前記フェノール樹脂の原料成分として用い
ることができる前記フェノール類としては、具体的には
例えば、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾー
ル、p−クレゾール、t−ブチルフェノール、2,4−
ジメチルフェノール、2,6−ジメチルフェノール、ヒ
ドロキノン、カテコール、メチルハイドロキノン、ピロ
ガロール及びこれらの混合物等からなる群より選択され
る化合物を好ましく挙げることができ、特に得られる樹
脂の特性、精製の容易さあるいは経済性の点でフェノー
ル、クレゾール類、キシレノール類、多価フェノール類
(置換基を含んでいても良い)を用いることが好まし
い。また前記フェノール類の代わりにナフトール類を用
いることもできる。
Specific examples of the phenols that can be used as the raw material component of the phenol resin include phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, t-butylphenol and 2,4-.
Preferable examples include compounds selected from the group consisting of dimethylphenol, 2,6-dimethylphenol, hydroquinone, catechol, methylhydroquinone, pyrogallol, and mixtures thereof. Particularly, the characteristics of the obtained resin, easiness of purification or From the economical point of view, it is preferable to use phenol, cresols, xylenols, and polyphenols (which may contain a substituent). Further, naphthols can be used instead of the above phenols.

【0032】前記フェノール樹脂のもう一方の原料成分
として用いることができる、前記不飽和炭化水素は、炭
素−炭素二重結合を少なくとも2個有する炭素数5〜1
6の不飽和炭化水素であれば、特に限定されるものでは
ないが、例えば、ブタジエン、イソプレン、ピペリレン
等の鎖状の共役ジエン化合物;シクロペンタジエン、メ
チルシクロペンタジエン等の環状共役ジエン化合物;α
−テルピネン、β−テルピネン、リモネン等の環状テル
ペン類及びこれらの混合物からなる群より選択される化
合物のディールス・アルダー反応生成物等を好ましく挙
げることができ、具体的には例えば、下記化学式化16
〜化28で表わされる化合物等を好ましく挙げることが
でき、中でも特に下記化学式化19で示される化合物を
好ましく挙げることができる。
The unsaturated hydrocarbon which can be used as the other raw material component of the phenol resin has 5 to 1 carbon atoms having at least two carbon-carbon double bonds.
It is not particularly limited as long as it is an unsaturated hydrocarbon of 6, but for example, chain conjugated diene compounds such as butadiene, isoprene and piperylene; cyclic conjugated diene compounds such as cyclopentadiene and methylcyclopentadiene; α
-The Diels-Alder reaction product of a compound selected from the group consisting of cyclic terpenes such as terpinene, β-terpinene, and limonene, and a mixture thereof can be preferably mentioned. Specifically, for example, the following chemical formula 16
Compounds represented by Chemical Formulas 28 to 28 are preferable, and compounds represented by Chemical Formula 19 below are particularly preferable.

【0033】[0033]

【化16】 [Chemical 16]

【0034】[0034]

【化17】 [Chemical 17]

【0035】[0035]

【化18】 [Chemical 18]

【0036】[0036]

【化19】 [Chemical 19]

【0037】[0037]

【化20】 [Chemical 20]

【0038】[0038]

【化21】 [Chemical 21]

【0039】[0039]

【化22】 [Chemical formula 22]

【0040】[0040]

【化23】 [Chemical formula 23]

【0041】[0041]

【化24】 [Chemical formula 24]

【0042】[0042]

【化25】 [Chemical 25]

【0043】[0043]

【化26】 [Chemical formula 26]

【0044】[0044]

【化27】 [Chemical 27]

【0045】[0045]

【化28】 [Chemical 28]

【0046】前記ディールス・アルダー反応生成物は、
いずれもEPDM(エチレン・プロピレン・ジエン・メ
チレンゴム)の第三成分である5−エチリデンノルボル
ネンの製造プラントの中間原料又は副生物で、工業的に
安価に入手することができる化合物である。
The Diels-Alder reaction product is
All of them are intermediate raw materials or by-products of the production plant of 5-ethylidene norbornene, which is the third component of EPDM (ethylene propylene diene methylene rubber), and are compounds that can be obtained industrially at low cost.

【0047】また、前記不飽和炭化水素としては、シク
ロペンタジエン、メチルシクロペンタジエン等の環状ジ
エン化合物を、単独もしくは2種類以上混合して用いる
こともできる。
As the unsaturated hydrocarbon, a cyclic diene compound such as cyclopentadiene or methylcyclopentadiene may be used alone or in combination of two or more kinds.

【0048】前記フェノール類と前記不飽和炭化水素と
の仕込み割合は、フェノール類を、前記不飽和炭化水素
に対して0.8〜12倍モル当量とするのが好ましく、
さらに好ましくは1〜8倍モル当量である。フェノール
類の仕込み割合が、0.8倍モル当量より少ない場合に
は、不飽和炭化水素の単独重合が併発し、12倍モル当
量より多いと未反応のフェノール類の回収に多大の労力
を要するので好ましくない。
The ratio of the phenols and the unsaturated hydrocarbons charged is preferably 0.8 to 12 times the molar equivalent of the phenols with respect to the unsaturated hydrocarbons,
More preferably, it is 1 to 8 times the molar equivalent. If the charging ratio of phenols is less than 0.8 times the molar equivalent, homopolymerization of unsaturated hydrocarbons will occur simultaneously, and if it is more than 12 times the molar equivalents, much labor will be required to recover unreacted phenols. It is not preferable.

【0049】前記フェノール樹脂の製造に際して用いる
前記ルイス酸触媒としては、具体的には例えば、三フッ
化ホウ素;三フッ化ホウ素のエーテル錯体、水錯体、ア
ミン錯体、フェノール錯体又はアルコール錯体等の三フ
ッ化ホウ素錯体;三塩化アルミニウム、ジエチルアルミ
ニウムモノクロリド等のアルミニウム化合物;塩化鉄;
四塩化チタン;硫酸;フッ化水素;トリフルオロメタン
スルホン酸等を好ましく使用することができ、特に活性
と触媒の除去の容易さの点から三フッ化ホウ素、三フッ
化ホウ素・エーテル錯体、三フッ化ホウ素・フェノール
錯体、三フッ化ホウ素・水錯体、三フッ化ホウ素・アル
コール錯体、三フッ化ホウ素・アミン錯体が好ましく、
さらには三フッ化ホウ素、三フッ化ホウ素・フェノール
錯体が最も好ましい。
Specific examples of the Lewis acid catalyst used in the production of the phenolic resin include boron trifluoride; boron trifluoride ether complex, water complex, amine complex, phenol complex or alcohol complex. Boron fluoride complex; aluminum compounds such as aluminum trichloride and diethylaluminum monochloride; iron chloride;
Titanium tetrachloride, sulfuric acid, hydrogen fluoride, trifluoromethanesulfonic acid and the like can be preferably used, and in particular, boron trifluoride, boron trifluoride / ether complex, and trifluoride from the viewpoint of activity and easy removal of the catalyst. Boron fluoride / phenol complex, boron trifluoride / water complex, boron trifluoride / alcohol complex, boron trifluoride / amine complex are preferable,
Further, boron trifluoride and boron trifluoride / phenol complex are most preferable.

【0050】前記ルイス酸触媒の使用量は、特に限定さ
れず、使用する触媒により異なるが、例えば三フッ化ホ
ウ素・フェノール錯体の場合は不飽和炭化水素100重
量部に対して0.1〜20重量部、好ましくは0.5〜
10重量部である。
The amount of the Lewis acid catalyst used is not particularly limited and varies depending on the catalyst used. For example, in the case of boron trifluoride / phenol complex, it is 0.1-20 per 100 parts by weight of unsaturated hydrocarbon. Parts by weight, preferably 0.5-
10 parts by weight.

【0051】前記フェノール樹脂を調製するには、溶剤
を使用しても使用しなくても反応を行なうことができ、
溶剤を使用しない場合は前記フェノール類を当量以上、
好ましくは3〜12倍当量用いるのが好ましい。また前
記フェノール樹脂を調製する際に用いることができる溶
剤としては、反応を阻害しない溶剤であれば特に制限さ
れるものではないが、特に好ましい溶剤としては、ベン
ゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素化合物等
が挙げられる。
To prepare the phenolic resin, the reaction can be carried out with or without a solvent,
When the solvent is not used, the above phenols are equivalent or more,
It is preferable to use 3 to 12 times equivalent amount. The solvent that can be used when preparing the phenol resin is not particularly limited as long as it does not inhibit the reaction, but particularly preferable solvents are aromatic carbonization such as benzene, toluene and xylene. Examples thereof include hydrogen compounds.

【0052】前記フェノール樹脂を製造する際の重合温
度は、使用するルイス酸触媒の種類により異なるが、例
えば三フッ化ホウ素・フェノール錯体を用いる場合に
は、通常20〜170℃、好ましくは50〜150℃で
ある。反応温度が170℃を超えると触媒が分解したり
副反応が生じ、また20℃未満の場合には、反応が遅延
し、経済的に不利であるので好ましくない。
The polymerization temperature at the time of producing the above-mentioned phenol resin varies depending on the kind of the Lewis acid catalyst used, but when boron trifluoride / phenol complex is used, it is generally 20 to 170 ° C., preferably 50 to 170 ° C. It is 150 ° C. When the reaction temperature exceeds 170 ° C, the catalyst is decomposed or a side reaction occurs, and when it is less than 20 ° C, the reaction is delayed and it is economically disadvantageous, which is not preferable.

【0053】また前記フェノール樹脂の製造に際して
は、反応を円滑に進行させるために、系内の水分をでき
るだけ少なくすることが好ましく、特に100重量pp
m以下に保つことが好ましい。更には、前記不飽和炭化
水素と前記フェノール類とを反応させる際に、前記不飽
和炭化水素を逐次的に添加しながら重合を行う方法は、
反応を円滑に進行させ、また前記不飽和炭化水素の単独
重合を防止し、反応熱を除去することができるので好ま
しい方法である。
In the production of the above-mentioned phenol resin, it is preferable to reduce the water content in the system as much as possible in order to make the reaction proceed smoothly.
It is preferable to keep m or less. Furthermore, when reacting the unsaturated hydrocarbon and the phenols, a method of performing polymerization while sequentially adding the unsaturated hydrocarbon,
This is a preferred method because it allows the reaction to proceed smoothly, prevents the unsaturated hydrocarbon from homopolymerizing, and removes the heat of reaction.

【0054】前記フェノール類と前記不飽和炭化水素と
の共重合反応終了後、前記ルイス酸触媒を除去した後、
濃縮することによりフェノール樹脂を得ることができ
る。該ルイス酸触媒を除去する方法は、使用する触媒の
種類により異なるが、三フッ化ホウ素・フェノール錯体
の場合には、触媒の1〜10倍モル量の水酸化カルシウ
ム、水酸化マグネシウムなどを添加して、触媒を失活さ
せた後、該触媒を濾過することにより行なうことができ
る。濾過に際しては、溶剤を添加したり、濾過物の温度
を上げるなどの処理をすることにより作業性を良くする
ことが望ましい。
After completion of the copolymerization reaction of the phenols and the unsaturated hydrocarbon, after removing the Lewis acid catalyst,
A phenol resin can be obtained by concentrating. The method for removing the Lewis acid catalyst varies depending on the type of the catalyst used, but in the case of boron trifluoride / phenol complex, 1 to 10 times the molar amount of calcium hydroxide, magnesium hydroxide or the like is added. Then, after deactivating the catalyst, the catalyst can be filtered. At the time of filtration, it is desirable to improve workability by adding a solvent or performing a treatment such as raising the temperature of the filtrate.

【0055】本発明において用いるキノンジアジド化フ
ェノール樹脂(1)を調製する際における、前記キノン
ジアジド化合物と前記フェノール樹脂との仕込み割合
は、前記キノンジアジド化合物を、前記フェノール樹脂
の水酸基1個当り0.1〜1.0倍モル当量、好ましく
は0.3〜1.0倍モル当量とするのが好ましい。前記
仕込み量が、前記0.1〜1.0倍モル当量の場合に
は、感光性レジストとしての充分な感度が得られない。
In preparing the quinonediazide-modified phenolic resin (1) used in the present invention, the charging ratio of the quinonediazide compound to the phenolic resin is 0.1 to 0.1% of the quinonediazide compound per one hydroxyl group of the phenolic resin. The molar equivalent is 1.0 times, preferably 0.3 to 1.0 times. When the charged amount is 0.1 to 1.0 times the molar equivalent, sufficient sensitivity as a photosensitive resist cannot be obtained.

【0056】前記キノンジアジド化合物とフェノール樹
脂とを反応させる際の反応条件としては、双方を溶解し
得る不活性な有機溶媒と塩基との存在下において、反応
温度通常10〜80℃、好ましくは20〜60℃で、反
応時間を通常10分〜50時間、好ましくは1〜15時
間とするのが好ましい。この際用いることができる前記
不活性な有機溶媒としては、例えばジオキサン、アセト
ン、テトラヒドロフラン、メチルエチルケトン、メチル
イソブチルケトン、ベンゼン、トルエン、キシレン等を
好ましく挙げることができる。また前記塩基としては、
例えば炭酸ナトリウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリ
ウム、炭酸カリウムなどのアルカリ金属塩;トリエチル
アミン、トリエタノールアミン、トリブチルアミン、ジ
メチルベンジルアミン、ピリジン等のアミン類等を好ま
しく挙げることができる。
The reaction conditions for reacting the quinonediazide compound with the phenol resin are as follows: in the presence of an inert organic solvent capable of dissolving both and a base, the reaction temperature is usually 10 to 80 ° C., preferably 20 to At 60 ° C., the reaction time is usually 10 minutes to 50 hours, preferably 1 to 15 hours. Preferred examples of the inert organic solvent that can be used in this case include dioxane, acetone, tetrahydrofuran, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, benzene, toluene, xylene and the like. Further, as the base,
Preferable examples include alkali metal salts such as sodium carbonate, sodium hydroxide, potassium hydroxide and potassium carbonate; amines such as triethylamine, triethanolamine, tributylamine, dimethylbenzylamine and pyridine.

【0057】前記反応終了後においては、反応により副
生した塩を濾過して除去した後、反応液を大量の純水中
に滴下し、キノンジアジド化フェノール樹脂(1)を析
出させる等して得ることができ、更に数回水洗し、濾
過、乾燥する等して精製することができる。
After completion of the reaction, the salt produced as a by-product of the reaction is removed by filtration, and then the reaction solution is dropped into a large amount of pure water to precipitate the quinonediazide phenol resin (1). It can be purified by further washing with water several times, filtering, and drying.

【0058】本発明のポジ型感光性樹脂組成物におい
て、もう一方の必須成分として用いる前記アルカリ可溶
性樹脂(2)としては、アルカリに対する溶解性を有す
る樹脂であれば特に限定されないが、具体的には例え
ば、フェノール性水酸基を有する樹脂、カルボキシル基
を有する樹脂等を好ましく挙げることができ、特にカル
ボキシル基を有する樹脂が、ポジ型感光性樹脂組成物を
基板上に塗布する際に、電着塗装法を用いることができ
るので好ましい。
In the positive type photosensitive resin composition of the present invention, the alkali-soluble resin (2) used as the other essential component is not particularly limited as long as it is a resin having solubility in alkali, but specifically Can preferably include, for example, a resin having a phenolic hydroxyl group, a resin having a carboxyl group, and the like. In particular, when the resin having a carboxyl group is applied to the substrate with the positive photosensitive resin composition, electrodeposition coating is performed. It is preferable because the method can be used.

【0059】前記フェノール性水酸基を有する樹脂とし
ては、例えばノボラックフェノール樹脂、ビスフェノー
ルA型フェノール樹脂、ポリビニルフェノール樹脂等を
好ましく挙げることができる。
Preferred examples of the resin having a phenolic hydroxyl group include novolac phenol resin, bisphenol A type phenol resin, polyvinylphenol resin and the like.

【0060】また前記カルボキシル基を有する樹脂とし
ては、アクリル酸及び/又はメタクリル酸と、エチレン
性不飽和結合を有するモノマーとを共重合して得られる
(メタ)アクリル系樹脂;マレイン酸、無水マレイン
酸、フマール酸又はこれらの混合物と、エチレン性不飽
和結合を有するモノマーとを共重合して得られるマレイ
ン酸系共重合体;マレイン化ポリブタジエン等を好まし
く挙げることができる。
As the resin having a carboxyl group, a (meth) acrylic resin obtained by copolymerizing acrylic acid and / or methacrylic acid with a monomer having an ethylenically unsaturated bond; maleic acid, maleic anhydride Preferable examples include maleic acid-based copolymers obtained by copolymerizing an acid, fumaric acid or a mixture thereof with a monomer having an ethylenically unsaturated bond; maleated polybutadiene and the like.

【0061】前記(メタ)アクリル系樹脂又はマレイン
酸系共重合体において、原料成分として用いる前記エチ
レン性不飽和結合を有するモノマーとしては、メチルア
クリレート、メチルメタクリレート、エチルアクリレー
ト、エチルメタクリレート、ブチルアクリレート、ブチ
ルメタクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、
2−エチルヘキシルメタクリレート等のアルキル(メ
タ)アクリレート;スチレン、α−メチルスチレン、ビ
ニルトルエン、t−ブチルスチレン等のエチレン性不飽
和結合を有する芳香族化合物;エチレン、プロピレン等
のα−オレフィン;ブタジエン、イソプレン等のジエン
化合物等を好ましく用いることができる。
In the (meth) acrylic resin or the maleic acid copolymer, the monomer having an ethylenically unsaturated bond used as a raw material component is methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, butyl acrylate, Butyl methacrylate, 2-ethylhexyl acrylate,
Alkyl (meth) acrylates such as 2-ethylhexyl methacrylate; aromatic compounds having an ethylenically unsaturated bond such as styrene, α-methylstyrene, vinyltoluene, t-butylstyrene; α-olefins such as ethylene and propylene; butadiene; A diene compound such as isoprene can be preferably used.

【0062】前記(メタ)アクリル系樹脂又はマレイン
酸系共重合体を製造するには、通常のラジカル重合開始
剤を用いて公知の重合法により得ることができる。該重
合開始剤としては、過酸化ベンゾイル、t−ブチルオキ
シド、クメンハイドロパーオキシドなどの過酸化物、ア
ゾビスイソブチロニトリル、アゾビスシアノ吉草酸など
のアゾ化合物、過硫酸カリウム、過硫酸アンモニウム、
過酸化水素などの無機ラジカル開始剤等を好ましく挙げ
ることができる。
The (meth) acrylic resin or the maleic acid copolymer can be produced by a known polymerization method using an ordinary radical polymerization initiator. Examples of the polymerization initiator include peroxides such as benzoyl peroxide, t-butyl oxide and cumene hydroperoxide, azo compounds such as azobisisobutyronitrile and azobiscyanovaleric acid, potassium persulfate and ammonium persulfate,
Preferable examples include inorganic radical initiators such as hydrogen peroxide.

【0063】前記(メタ)アクリル系樹脂又はマレイン
酸系共重合体を製造する際の各原料モノマーの仕込み量
は、特に制限されるものではなく、ポジ型感光性樹脂組
成物に必要とされる酸価に応じて適宜選択することがで
きるが、例えば(メタ)アクリル系樹脂の場合、アクリ
ル酸及び/又はメタクリル酸100重量部に対し、エチ
レン性不飽和結合を有するモノマーを通常100〜20
00重量部、好ましくは150〜1500重量部とする
のが望ましい。一方マレイン酸系共重合体の場合、前記
マレイン酸、無水マレイン酸、フマール酸又はこれらの
混合物100重量部に対し、エチレン性不飽和結合を有
するモノマーを通常100〜2000重量部、好ましく
は150〜1500重量部とするのが望ましい。
The amount of each raw material monomer charged in producing the (meth) acrylic resin or the maleic acid copolymer is not particularly limited, and is required for the positive photosensitive resin composition. Although it can be appropriately selected depending on the acid value, for example, in the case of (meth) acrylic resin, 100 to 20 parts by weight of acrylic acid and / or methacrylic acid is usually added to a monomer having an ethylenically unsaturated bond in an amount of 100 to 20.
It is desirable that the amount is 00 parts by weight, preferably 150 to 1500 parts by weight. On the other hand, in the case of a maleic acid-based copolymer, 100 to 2000 parts by weight of a monomer having an ethylenically unsaturated bond is usually added to 100 parts by weight of the maleic acid, maleic anhydride, fumaric acid or a mixture thereof, preferably 150 to It is preferably 1500 parts by weight.

【0064】前記マレイン酸系共重合体をアルカリ可溶
性樹脂(2)として用いる場合にはキノンジアジド化フ
ェノール樹脂(1)との相溶性を改良し、塗膜の軟化点
を上昇させ、更には酸価を調整する目的で、マレイン酸
系共重合体が有する酸無水基及び/又はジカルボキシル
基の一部を、アルコール付加、水付加及び/又はイミド
化して用いることもでき、この際イミド化、アルコール
付加及び水付加の全ての反応を行なう場合において、各
反応の順序は特に制限されない。ここで、酸無水基は、
水により容易に開環してジカルボキシル基となり、また
ジカルボキシル基は、加熱により容易に脱水し酸無水基
となる。
When the maleic acid-based copolymer is used as the alkali-soluble resin (2), the compatibility with the quinonediazide phenol resin (1) is improved, the softening point of the coating film is increased, and the acid value is further increased. For the purpose of adjusting, a part of the acid anhydride group and / or dicarboxyl group possessed by the maleic acid-based copolymer can be used after alcohol addition, water addition and / or imidization, in which case imidization, alcohol When all the reactions of addition and water addition are performed, the order of each reaction is not particularly limited. Here, the acid anhydride group is
The ring is easily opened by water to become a dicarboxyl group, and the dicarboxyl group is easily dehydrated by heating to become an acid anhydride group.

【0065】前記イミド化は、1級アミン化合物、例え
ばアニリン、ベンジルアミン、4−メチルベンジルアミ
ン、1−アミノインデン等の芳香環を含むアミン化合物
等を上記マレイン酸系共重合体に反応させる等して行な
うことができ、反応温度は、通常0〜300℃、好まし
くは50〜200℃で行うことができる。
In the imidization, a primary amine compound, for example, an amine compound containing an aromatic ring such as aniline, benzylamine, 4-methylbenzylamine and 1-aminoindene is reacted with the maleic acid copolymer. The reaction temperature is usually 0 to 300 ° C, preferably 50 to 200 ° C.

【0066】また前記イミド化反応により酸無水基及び
/又はジカルボキシル基をイミド化する割合は、アルカ
リ可溶性樹脂(2)に要求される酸価、塗膜の軟化点等
に応じて適宜選択でき、例えばマレイン酸系共重合体が
有する酸無水基及び/又はジカルボキシル基1個あたり
通常0.1〜0.8個、好ましくは0.2〜0.7個程
度をイミド化すればよい。
The imidization ratio of the acid anhydride group and / or dicarboxyl group by the imidization reaction can be appropriately selected according to the acid value required for the alkali-soluble resin (2), the softening point of the coating film, and the like. For example, usually 0.1 to 0.8, preferably about 0.2 to 0.7, may be imidized per one acid anhydride group and / or dicarboxyl group of the maleic acid-based copolymer.

【0067】前記アルコール付加は、例えばメタノー
ル、エタノール、プロパノール、ブタノール、ベンジル
アルコール等のアルコール類及び/又はメチルセロソル
ブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、フェニルセ
ロソルブ等のセロソルブ類を上記マレイン酸系共重合体
に反応させる等して行うことができる。該アルコール付
加反応の反応温度は、通常0〜300℃、好ましくは5
0〜200℃である。
For the alcohol addition, for example, alcohols such as methanol, ethanol, propanol, butanol and benzyl alcohol and / or cellosolves such as methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve and phenyl cellosolve are reacted with the maleic acid copolymer. It can be done by, for example. The reaction temperature of the alcohol addition reaction is usually 0 to 300 ° C., preferably 5
It is 0 to 200 ° C.

【0068】また前記アルコール付加反応により、アル
コール付加する割合は、目的とするアルカリ可溶性樹脂
(2)に要求される酸価等に応じて適宜選択でき、例え
ばマレイン酸系共重合体が有する酸無水基及び/又はジ
カルボキシル基1個あたり通常0.1〜1.2個、好ま
しくは0.2〜1.0個程度のアルコールを付加すれば
よい。
The proportion of alcohol added by the alcohol addition reaction can be appropriately selected according to the acid value required for the desired alkali-soluble resin (2), and for example, the acid anhydride contained in the maleic acid-based copolymer. Usually, 0.1 to 1.2, preferably 0.2 to 1.0 alcohol is added to each group and / or dicarboxyl group.

【0069】上記イミド化反応及びアルコール付加反応
に際しては、各反応成分に対する反応性がなく、且つ各
反応成分を溶解する溶媒を用いて行なうのが好ましい。
この際用いることができる溶媒としては、例えばトルエ
ン、キシレン等の芳香族炭化水素類;メチルエチルケト
ン、メチルイソブチルケトン等のケトン類;酢酸エチル
等のエステル類;ジエチレングリコールジメチルエーテ
ル、トリエチレングリコールジメチルエーテル等の水酸
基を有しないエーテル類;ジアセトンアルコール等の3
級アルコール類等が好ましく挙げられる。
The imidization reaction and alcohol addition reaction are preferably carried out using a solvent which has no reactivity with each reaction component and dissolves each reaction component.
Examples of the solvent that can be used at this time include aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; ketones such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone; esters such as ethyl acetate; hydroxyl groups such as diethylene glycol dimethyl ether and triethylene glycol dimethyl ether. Ethers that do not have; 3 such as diacetone alcohol
Preferred examples thereof include secondary alcohols.

【0070】また前記水付加は、水を添加することによ
り酸無水基を開環させる付加反応であるが、特に水を添
加して反応を行なわなくとも、イミド化又はアルコール
付加により生成する水、後述の水分散時に加える水によ
り行なうこともできる。該水付加反応により、残余の酸
無水基をすべて開環して、カルボキシル基とすることが
できる。
The above-mentioned water addition is an addition reaction in which the acid anhydride group is opened by adding water. However, water produced by imidization or alcohol addition without addition of water, It is also possible to use water added during the water dispersion described below. By the water addition reaction, all the remaining acid anhydride groups can be ring-opened to form carboxyl groups.

【0071】またカルボキシル基を有する樹脂として用
いることができる前記マレイン化ポリブタジエンとして
は、公知の方法、特に特公昭46−11195号公報等
に詳述される方法で製造されたマレイン化ポリプタジエ
ン等を好ましく用いることができ、具体的には例えば、
分子量が通常300〜30,000、好ましくは500
〜50,000、ヨウ素価が通常50〜500、好まし
くは100〜470で、且つ炭素−炭素二重結合を有す
るポリブタジエンに、マレイン酸若しくは無水マレイン
酸等を、該ポリブタジエン100g当たり、通常0.0
5〜0.7モル、好ましくは0.1〜0.5モル反応さ
せたマレイン化ポリブタジエンを好ましく挙げることが
できる。この際、ポリブタジエンにマレイン酸若しくは
無水マレイン酸等を付加させる反応は、通常100〜3
00℃の温度で混合することによって行うことができ、
また該反応の際にゲル化を防止するために、必要に応じ
てフェニレンジアミン類、ピロガロール類、ナフトール
類等を反応系内に添加することもできる。
As the maleated polybutadiene that can be used as a resin having a carboxyl group, maleated polybutadiene and the like produced by a known method, particularly the method described in Japanese Patent Publication No. 46-11195 and the like are preferable. Can be used, and specifically, for example,
The molecular weight is usually 300 to 30,000, preferably 500.
To 50,000, iodine value is usually 50 to 500, preferably 100 to 470, and maleic acid or maleic anhydride is added to polybutadiene having a carbon-carbon double bond, usually 0.0 per 100 g of the polybutadiene.
Maleated polybutadiene reacted with 5 to 0.7 mol, preferably 0.1 to 0.5 mol can be preferably mentioned. At this time, the reaction for adding maleic acid, maleic anhydride or the like to polybutadiene is usually 100 to 3
Can be done by mixing at a temperature of 00 ° C,
Further, in order to prevent gelation during the reaction, phenylenediamines, pyrogallols, naphthols and the like can be added to the reaction system, if necessary.

【0072】また該マレイン化ポリブタジエンには、必
要に応じて、前記マレイン酸系共重合体と同様にイミド
化、アルコール付加および/または水付加を行うことが
できる。この際、イミド化する割合又はアルコール付加
する割合は、アルカリ可溶性樹脂(2)に要求される酸
価、塗膜の軟化点等に応じて適宜選択でき、例えばイミ
ド化の場合には、マレイン化ポリブタジエンが有する酸
無水基および/またはコハク酸単位1個あたり通常0.
1〜0.8個、好ましくは0.2〜0.7個をイミド化
すればよい。また例えばアルコール付加する場合、前記
マレイン化ポリブタジエンが有する酸無水基および/ま
たはコハク酸単位1個あたり通常0.1〜1.2個、好
ましくは0.2〜1.0個程度のアルコールを付加すれ
ばよい。
If necessary, the maleated polybutadiene can be imidized, alcohol-added and / or water-added in the same manner as the maleic acid-based copolymer. At this time, the imidization ratio or the alcohol addition ratio can be appropriately selected according to the acid value required for the alkali-soluble resin (2), the softening point of the coating film, and the like. The acid anhydride group and / or succinic acid unit possessed by polybutadiene is usually 0.
1-0.8, preferably 0.2-0.7, may be imidized. In addition, for example, in the case of alcohol addition, usually 0.1 to 1.2, preferably 0.2 to 1.0 alcohol is added per acid anhydride group and / or succinic acid unit of the maleated polybutadiene. do it.

【0073】本発明において必須成分として用いる前記
アルカリ可溶性樹脂(2)の数平均分子量は、500〜
10,000が好ましい。数平均分子量が500未満の
場合には保護層の強度が低く、10,000を超える場
合には光照射部の現像液に対する溶解性が悪化するので
好ましくない。
The number average molecular weight of the alkali-soluble resin (2) used as an essential component in the present invention is 500 to
10,000 is preferred. When the number average molecular weight is less than 500, the strength of the protective layer is low, and when it exceeds 10,000, the solubility of the light-irradiated portion in the developer is deteriorated, which is not preferable.

【0074】また前記アルカリ可溶性樹脂(2)の酸価
は、40〜250mgKOH/gの範囲が好ましい。酸
価が40mgKOH/g未満の場合には光照射部の現像
液に対する溶解性が悪くなり、250mgKOH/gを
超える場合には光未照射部も現像液に対して溶解するの
で好ましくない。
The acid value of the alkali-soluble resin (2) is preferably 40 to 250 mgKOH / g. If the acid value is less than 40 mgKOH / g, the solubility of the light-irradiated portion in the developing solution will be poor, and if it exceeds 250 mgKOH / g, the non-irradiated portion will also be dissolved in the developing solution, which is not preferable.

【0075】本発明のポジ型感光性樹脂組成物におい
て、必須成分として用いる前記キノンジアジド化フェノ
ール樹脂(1)とアルカリ可溶性樹脂(2)との配合割
合は、前記アルカリ可溶性樹脂(2)100重量部に対
し、キノンジアジド化フェノール樹脂(1)を通常5〜
100重量部、好ましくは10〜50重量部である。キ
ノンジアジド化フェノール樹脂(1)の配合割合が、5
重量部未満の場合には光照射部に生じるカルボン酸量が
減少し、弱アルカリ系現像液による現像が困難となり、
100重量部を超える場合には塗膜のひび割れ等を起こ
し易くなるので好ましくない。
In the positive photosensitive resin composition of the present invention, the mixing ratio of the quinonediazide phenol resin (1) and the alkali-soluble resin (2) used as essential components is 100 parts by weight of the alkali-soluble resin (2). On the other hand, the quinonediazide-modified phenol resin (1) is usually 5 to
It is 100 parts by weight, preferably 10 to 50 parts by weight. The compounding ratio of the quinonediazide phenol resin (1) is 5
When the amount is less than weight part, the amount of carboxylic acid generated in the light irradiation part decreases, and development with a weak alkaline developer becomes difficult,
If it exceeds 100 parts by weight, cracking of the coating film is likely to occur, which is not preferable.

【0076】本発明のポジ型感光性樹脂組成物を使用す
るには、例えば溶剤で該ポジ型感光性樹脂組成物を溶解
した後、基板上に塗布する等してポジ型感光性塗膜を形
成し、ついでえられた塗膜に所定のパターンマスクを通
して、露光した後、現像する等して用いることができ
る。この際用いることができる溶剤としては、エチルセ
ルソルブ、プロピルセルソルブ、ブチルセルソルブ、ジ
アセトンアルコールなどのアルコール類;エチレングリ
コールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチ
ルエーテルなどのエーテル類;メチルエチルケトン、メ
チルイソブチルケトンなどのケトン類;エトキシエチル
アセテート、フェノキシエチルアセテートなどのエステ
ル類;メチルピロリドン、ジメチルホルムアミドなどの
アミド類等を好ましく挙げることができる。また基板上
に塗布する方法としては、スクリーン印刷、スプレー塗
装、浸漬塗装あるいはスピンナーなどで塗布する方法が
ある。特にスピンナーによる方法は膜厚を薄くでき、高
感度且つ基材との密着性に優れたレジストを得ることが
でき集積回路の製造に好適である。
To use the positive type photosensitive resin composition of the present invention, for example, the positive type photosensitive resin composition is dissolved in a solvent and then coated on a substrate to form a positive type photosensitive coating film. It can be used by forming the film, then exposing the resulting film through a predetermined pattern mask, exposing it, and developing it. Solvents that can be used at this time include alcohols such as ethyl cellosolve, propyl cellosolve, butyl cellosolve and diacetone alcohol; ethers such as ethylene glycol dimethyl ether and diethylene glycol dimethyl ether; ketones such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone. Preferable examples thereof include esters such as ethoxyethyl acetate and phenoxyethyl acetate; amides such as methylpyrrolidone and dimethylformamide. Further, as a method for coating on the substrate, there are methods such as screen printing, spray coating, dip coating and spinner. In particular, the method using a spinner is suitable for manufacturing integrated circuits because the film thickness can be reduced and a resist having high sensitivity and excellent adhesion to a substrate can be obtained.

【0077】また、本発明のポジ型感光性樹脂組成物に
おいて、アルカリ可溶性樹脂(2)としてカルボキシル
基を含有する樹脂を用いた場合には、アルカリで中和し
て水に分散又は溶解させてポジ型感光性樹脂水溶液と
し、浸漬塗装あるいは電着塗装により金属層上に塗布す
ることができる。この際前記中和の方法は、特に限定さ
れないが、例えば、ポジ型感光性樹脂組成物中のカルボ
キシル基に対し、通常0.2〜1.0モル当量、好まし
くは0.3〜0.8モル当量のトリメチルアミン、トリ
エチルアミン、ジメチルエタノールアミンなどの有機ア
ミンを添加し、中和する方法が通常使用され、中和温度
も特に限定されず、通常0〜120℃で行うことができ
るが、常温付近が最も好ましい。
In the positive photosensitive resin composition of the present invention, when a resin containing a carboxyl group is used as the alkali-soluble resin (2), it is neutralized with an alkali and dispersed or dissolved in water. It can be applied as a positive type photosensitive resin aqueous solution onto the metal layer by dip coating or electrodeposition coating. At this time, the neutralization method is not particularly limited, but is usually 0.2 to 1.0 molar equivalent, preferably 0.3 to 0.8, with respect to the carboxyl group in the positive photosensitive resin composition. A method of adding a molar equivalent of an organic amine such as trimethylamine, triethylamine, dimethylethanolamine and the like to neutralize is usually used, and the neutralization temperature is not particularly limited, and it can be usually performed at 0 to 120 ° C. Is most preferred.

【0078】上記中和による水への分散、溶解を更に容
易にし、得られる水溶液、水分散液の安定性を向上させ
る目的で、水溶性でありしかもポジ型感光性樹脂組成物
を溶解し得る有機溶剤を添加することもできる。該有機
溶剤としては、エチルセルソルブ、プロピルセルソル
ブ、ブチルセルソルブ、エチレングリコールジメチルエ
ーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジア
セトンアルコール、メチルエチルケトンなどを挙げるこ
とができる。この際、該有機溶剤の配合割合は、ポジ型
感光性樹脂組成物100重量部に対して、通常10〜1
00重量部、好ましくは20〜80重量部であるのが好
ましい。またさらに電着後の乾燥時におけるフロー性を
向上させる目的で、疎水性であり、且つポジ型感光性樹
脂組成物を溶解し得る疎水性有機溶剤を加えることがで
きる。該疎水性有機溶剤としては、ヘキシルセロソル
ブ、フェニルセロソルブ、プロピレングリコールモノフ
ェニルエーテル、アセトフェノン、アセトナフトン、ベ
ンジルアセトン、酢酸ベンジル、安息香酸メチル、安息
香酸エチル、安息香酸ブチル、シクロヘキサノン、フェ
ノキシエチルアセテート等を好ましく挙げることができ
る。この際該疎水性有機溶剤の配合割合は、ポジ型感光
性樹脂組成物100重量部に対して、通常10〜100
重量部、好ましくは15〜80重量部であるのが好まし
い。
For the purpose of further facilitating the dispersion and dissolution in water by the above neutralization and improving the stability of the resulting aqueous solution and dispersion, the positive photosensitive resin composition which is water-soluble can be dissolved. It is also possible to add an organic solvent. Examples of the organic solvent include ethyl cellosolve, propyl cellosolve, butyl cellosolve, ethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diacetone alcohol, and methyl ethyl ketone. At this time, the mixing ratio of the organic solvent is usually 10 to 1 with respect to 100 parts by weight of the positive photosensitive resin composition.
It is preferably 00 parts by weight, preferably 20 to 80 parts by weight. Further, a hydrophobic organic solvent which is hydrophobic and can dissolve the positive photosensitive resin composition can be added for the purpose of improving the flowability during drying after electrodeposition. As the hydrophobic organic solvent, hexyl cellosolve, phenyl cellosolve, propylene glycol monophenyl ether, acetophenone, acetonaphthone, benzylacetone, benzyl acetate, methyl benzoate, ethyl benzoate, butyl benzoate, cyclohexanone, phenoxyethyl acetate and the like are preferable. Can be mentioned. At this time, the blending ratio of the hydrophobic organic solvent is usually 10 to 100 relative to 100 parts by weight of the positive photosensitive resin composition.
It is preferable that the amount is 15 parts by weight, preferably 15 to 80 parts by weight.

【0079】本発明のポジ型感光性樹脂組成物におい
て、前記水に分散または溶解したポジ型感光性樹脂水溶
液を用いて画像形成するには、例えば、まず、前記ポジ
型感光性樹脂水溶液を電着液とし、電着塗装法により基
板上に塗布する。ついで、形成されたポジ型感光性塗膜
に所定のパターンマスクを通して、露光した後、現像す
る等して行なうことができる。
In the positive photosensitive resin composition of the present invention, in order to form an image using the positive photosensitive resin aqueous solution dispersed or dissolved in water, for example, first, the positive photosensitive resin aqueous solution is charged. It is used as a liquid for coating and is applied on the substrate by an electrodeposition coating method. Next, the formed positive type photosensitive coating film can be exposed to light through a predetermined pattern mask and then developed.

【0080】前記電着塗装法としては、例えばスルーホ
ールを含む基板の全表面が導電性金属層で被覆された基
板を陽極として、電着液に浸漬し、直流電流を流す等し
て行なうことができる。
The electrodeposition coating method is carried out, for example, by immersing the substrate in which the entire surface of the substrate including through holes is coated with a conductive metal layer as an anode, immersing it in an electrodeposition solution, and applying a direct current. You can

【0081】また前記ポジ型感光性塗膜の膜厚は、液
温、通電時間、電流密度などにより容易にコントロール
でき、目的に応じて適当な膜厚とすることができる。具
体的には例えば、標準的な5〜20μmの膜厚を得る電
着条件としては、液温25℃、通電時間0.05〜10
分、電流密度0.1〜5.0mA/cm2(定電流)で
ある。
The film thickness of the positive type photosensitive coating film can be easily controlled by the liquid temperature, the energizing time, the current density, etc., and can be set to an appropriate film thickness according to the purpose. Specifically, for example, as the electrodeposition conditions for obtaining a standard film thickness of 5 to 20 μm, the liquid temperature is 25 ° C. and the energization time is 0.05 to 10
The current density is 0.1 to 5.0 mA / cm 2 (constant current).

【0082】電着塗装後、該電着液より基板を引き上
げ、水洗後、乾燥する。この際の乾燥温度は50〜12
0℃が好ましい。50℃より温度が低いと充分に乾燥せ
ず、120℃より高いとキノンジアジド基の分解が生じ
るため好ましくない。
After electrodeposition coating, the substrate is pulled up from the electrodeposition liquid, washed with water and dried. The drying temperature at this time is 50 to 12
0 ° C is preferred. If the temperature is lower than 50 ° C., it is not dried sufficiently, and if the temperature is higher than 120 ° C., decomposition of the quinonediazide group occurs, which is not preferable.

【0083】また露光に際して用いることができる光源
としては、紫外線等の活性光線を照射することができる
ものであれば特に限定されず、例えば高圧水銀灯、超高
圧水銀灯、キセノンランプ、メタルハライドランプ等を
好ましく用いることができる。
The light source that can be used for the exposure is not particularly limited as long as it can irradiate active rays such as ultraviolet rays. For example, a high pressure mercury lamp, an ultrahigh pressure mercury lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, etc. are preferable. Can be used.

【0084】更に前記現像は、弱アルカリ水溶液のスプ
レーによる吹き付け、もしくは弱アルカリ水溶液への浸
漬等により行なうことができる。該弱アルカリ水溶液と
しては、露光部を溶解し、未露光部を溶解しないもので
あれば特に制限されず、例えば炭酸ナトリウム、炭酸カ
リウム、メタケイ酸ナトリウム、メタケイ酸カリウム、
水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アンモニア水、テ
トラメチルアンモニウムハイドロオキサイド等を挙げる
ことができ、この際水素イオン濃度は、通常pH8〜1
3程度であるのが好ましい。
Further, the development can be carried out by spraying a weak alkaline aqueous solution with a spray, dipping in a weak alkaline aqueous solution, or the like. The weak alkaline aqueous solution is not particularly limited as long as it dissolves the exposed part and does not dissolve the unexposed part, and examples thereof include sodium carbonate, potassium carbonate, sodium metasilicate, and potassium metasilicate.
Examples thereof include sodium hydroxide, potassium hydroxide, aqueous ammonia, tetramethylammonium hydroxide, and the like, and the hydrogen ion concentration is usually pH 8 to 1
It is preferably about 3.

【0085】通常プリント配線板の場合は、ついで基板
上に露出した銅箔部分を塩化第2銅、塩化第2鉄等によ
りエッチングし、最後に水酸化ナトリウム、水酸化カリ
ウム等の強アルカリにより未露光部のポジ型感光性塗膜
を剥離して回路パターンを得ることができる。
In the case of a normal printed wiring board, the copper foil portion exposed on the substrate is then etched with cupric chloride, ferric chloride or the like, and finally with a strong alkali such as sodium hydroxide or potassium hydroxide. A circuit pattern can be obtained by peeling off the positive photosensitive coating film in the exposed area.

【0086】[0086]

【発明の効果】本発明のポジ型感光性樹脂組成物は、精
製が容易であり、且つ溶剤の如何にかかわらずアルカリ
可溶性樹脂(2)との相溶性の良好なキノンジアジド化
フェノール樹脂(1)を感光性成分として用いているの
で、高感度である。更にアルカリ可溶性樹脂(1)とし
てカルボン酸基を有する樹脂を用いた場合は、電着塗装
法に特に適したポジ型感光性樹脂組成物である。また電
着したポジ型感光性樹脂塗膜は、基板に対する密着性に
優れ、微細な配線パターンを形成でき、更には電着液と
した際に優れた長期安定性を示す。
The positive-type photosensitive resin composition of the present invention is easy to purify, and has good compatibility with the alkali-soluble resin (2) regardless of the solvent, and is a quinonediazide phenol resin (1). Since it is used as a photosensitive component, it has high sensitivity. Furthermore, when a resin having a carboxylic acid group is used as the alkali-soluble resin (1), the positive photosensitive resin composition is particularly suitable for the electrodeposition coating method. Further, the electrodeposited positive photosensitive resin coating film has excellent adhesion to the substrate, can form a fine wiring pattern, and exhibits excellent long-term stability when used as an electrodeposition liquid.

【0087】[0087]

【実施例】以下に本発明を実施例により具体的に説明す
るが、本発明は以下の実施例に限定されるものではな
い。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to the following examples.

【0088】[0088]

【合成例1】フェノール樹脂(F−1)の合成 フェノール1500gとトルエン300gとを、還流冷
却器及びリービッヒコンデンサーを備える5リットル反
応器に仕込み、170℃に加熱して、トルエン250g
を留出し、系内の水分を60ppmとした。次いで反応
系を80℃まで冷却し、三フッ化ホウ素・フェノール錯
体12gを添加した後、反応温度80℃に制御しなが
ら、水分が20ppmのジシクロペンタジエン300g
を2.5時間かけて徐々に滴下した。滴下終了後80℃
で0.5時間反応を行った。反応終了後、協和化学工業
社製のマグネシウム化合物、商品名「KW−1000」
36gを添加し、30分間撹拌して触媒を失活させた
後、セライトを敷き詰めた濾紙を用いて反応液を濾過し
た。得られた透明な濾液を240℃で減圧蒸留し、下記
一般式化29で示されるフェノール樹脂(F−1)を5
60g得た。各種分析結果を以下に示す。
[Synthesis Example 1] Synthesis of phenol resin (F-1) 1500 g of phenol and 300 g of toluene were charged into a 5 liter reactor equipped with a reflux condenser and a Liebig condenser, heated to 170 ° C., and 250 g of toluene.
Was distilled off, and the water content in the system was adjusted to 60 ppm. Next, the reaction system was cooled to 80 ° C., 12 g of boron trifluoride / phenol complex was added, and then 300 g of dicyclopentadiene having a water content of 20 ppm while controlling the reaction temperature to 80 ° C.
Was gradually added dropwise over 2.5 hours. 80 ℃ after dropping
The reaction was carried out for 0.5 hours. After completion of the reaction, magnesium compound manufactured by Kyowa Chemical Industry Co., Ltd., trade name "KW-1000"
After adding 36 g and stirring for 30 minutes to deactivate the catalyst, the reaction liquid was filtered using a filter paper covered with Celite. The resulting clear filtrate was distilled under reduced pressure at 240 ° C. to give 5 parts of phenol resin (F-1) represented by the following general formula 29.
60 g was obtained. The results of various analyzes are shown below.

【0089】[0089]

【化29】 [Chemical 29]

【0090】得られたフェノール樹脂(F−1)は軟化
点が96℃であった。またフェノール性水酸基の含有量
を無水酢酸でアセチル化した後、逆滴定により求めたと
ころ、フェノール性水酸基当量は173g/eqであっ
た。
The softening point of the obtained phenol resin (F-1) was 96 ° C. Further, the content of phenolic hydroxyl groups was acetylated with acetic anhydride and then determined by back titration to find that the equivalent of phenolic hydroxyl groups was 173 g / eq.

【0091】1H−NMR分析では、δ6.5〜7.5
ppmに芳香環に結合したプロトンが、またδ0.8〜
2.5ppmにナフテン環のプロトンが観測され、二重
結合に結合したプロトンの吸収は認められなかった。ま
1H−NMR分析において、δ6.5〜8ppmとδ
0.8〜2.5ppmとのピーク面積比よりフェノール
性水酸基の含有量を求めたところ、滴定による結果と同
じくフェノール性水酸基当量は173g/eqであっ
た。更に、13C−NMR分析では、フェノールが二重結
合にエーテル付加した場合に生じる158ppmの炭素
のシグナルが観測されないことからフェノールはいずれ
もアルキレーションで付加していることがわかる。さら
にGPC分析によりこの樹脂の数平均分子量を求めたと
ころ430であった。
In 1 H-NMR analysis, δ 6.5-7.5.
Protons bound to the aromatic ring in ppm, again δ 0.8 ~
The proton of the naphthene ring was observed at 2.5 ppm, and the absorption of the proton bound to the double bond was not observed. Further, in 1 H-NMR analysis, δ 6.5 to 8 ppm and δ
When the content of the phenolic hydroxyl group was determined from the peak area ratio of 0.8 to 2.5 ppm, the phenolic hydroxyl group equivalent was 173 g / eq, which was the same as the result of the titration. Further, in the 13 C-NMR analysis, a signal of 158 ppm of carbon generated when phenol was ether-added to the double bond was not observed, which shows that all the phenols are added by alkylation. Further, the number average molecular weight of this resin was determined by GPC analysis to be 430.

【0092】[0092]

【合成例2】フェノール樹脂(F−2)の合成 フェノールの代わりにo−クレゾールを1600g用い
た以外は、合成例1と同様に反応を行い、下記一般式化
30で表わされるフェノール樹脂(F−2)560gを
得た。
[Synthesis Example 2] Synthesis of phenol resin (F-2) Except that 1600 g of o-cresol was used instead of phenol, the reaction was performed in the same manner as in Synthesis Example 1 and the phenol resin (F -2) 560 g was obtained.

【0093】[0093]

【化30】 [Chemical 30]

【0094】得られたフェノール樹脂(F−2)は、軟
化点が92℃で、滴定により求めたフェノール性水酸基
当量は187g/eqであった。1H−NMR分析で
は、二重結合に結合したプロトンの吸収は認められなか
った。また、ピーク面積比よりフェノール性水酸基の含
有量を求めたところ、滴定による結果と同じくフェノー
ル性水酸基当量は187g/eqであった。さらにGP
C分析によりこの樹脂の数平均分子量を求めたところ4
70であった。
The obtained phenol resin (F-2) had a softening point of 92 ° C. and a phenolic hydroxyl group equivalent determined by titration was 187 g / eq. In 1 H-NMR analysis, absorption of protons bound to the double bond was not observed. Further, when the content of the phenolic hydroxyl group was determined from the peak area ratio, the phenolic hydroxyl group equivalent was 187 g / eq, which was the same as the result of the titration. Further GP
When the number average molecular weight of this resin was determined by C analysis, it was 4
It was 70.

【0095】[0095]

【合成例3】フェノール樹脂(F−3)の合成 フェノール1600gとトルエン300gとを、還流冷
却器及びリービッヒコンデンサーを備えた5リットル反
応器に仕込み、170℃に加熱して、トルエン250g
を留出し、系内の水分を70ppmとした。次いで、反
応系を80℃まで冷却し、三フッ化ホウ素・フェノール
錯体28gを添加した後、反応温度80℃に制御しなが
ら水分が20ppmのテトラヒドロインデン400gを
2時間かけて徐々に滴下した。滴下終了後、140℃で
3時間反応を行い、反応終了後、協和化学工業(株)製
のマグネシウム化合物、商品名「KW−1000」78
gを添加し、30分撹拌して触媒を失活させ、続いてセ
ライトを敷き詰めた濾紙を用いて反応液を濾過した。得
られた透明な濾液を230℃で減圧蒸留し、下記一般式
化31で示されるフェノール樹脂(F−3)410gを
得た。
[Synthesis Example 3] Synthesis of phenol resin (F-3) 1600 g of phenol and 300 g of toluene were charged into a 5 liter reactor equipped with a reflux condenser and a Liebig condenser, heated to 170 ° C, and 250 g of toluene.
Was distilled off and the water content in the system was adjusted to 70 ppm. Next, the reaction system was cooled to 80 ° C., 28 g of boron trifluoride / phenol complex was added, and 400 g of tetrahydroindene having a water content of 20 ppm was gradually added dropwise over 2 hours while controlling the reaction temperature at 80 ° C. After completion of the dropping, the reaction was carried out at 140 ° C. for 3 hours, and after completion of the reaction, a magnesium compound manufactured by Kyowa Chemical Industry Co., Ltd., trade name “KW-1000” 78.
g was added, the catalyst was deactivated by stirring for 30 minutes, and then the reaction solution was filtered using a filter paper covered with Celite. The obtained transparent filtrate was distilled under reduced pressure at 230 ° C. to obtain 410 g of a phenol resin (F-3) represented by the following general formula 31.

【0096】[0096]

【化31】 [Chemical 31]

【0097】得られたフェノール樹脂(F−3)は軟化
点が105℃であった。また、フェノール樹脂(F−
3)の水酸基当量は195g/eqであった。
The softening point of the obtained phenol resin (F-3) was 105 ° C. In addition, phenol resin (F-
The hydroxyl equivalent of 3) was 195 g / eq.

【0098】[0098]

【合成例4】フェノール樹脂(F−4)の合成 テトラヒドロインデンの代わりにビニルシクロヘキセン
を用いた以外は、合成例3と同様に反応を行い、下記一
般式化32で表わされるフェノール樹脂(F−4)39
0gを得た。
[Synthesis Example 4] Synthesis of Phenolic Resin (F-4) The reaction was performed in the same manner as in Synthesis Example 3 except that vinylcyclohexene was used instead of tetrahydroindene, and the phenol resin (F- 4) 39
0 g was obtained.

【0099】[0099]

【化32】 [Chemical 32]

【0100】得られたフェノール樹脂(F−4)は、軟
化点が104℃で、フェノール性水酸基当量は196g
/eqであった。
The phenol resin (F-4) thus obtained had a softening point of 104 ° C. and a phenolic hydroxyl group equivalent of 196 g.
It was / eq.

【0101】[0101]

【合成例5】フェノール樹脂(F−5)の合成 テトラヒドロインデンの代わりにビニルノルボルネンを
用いた以外は、合成例3と同様に反応を行い、下記一般
式化33で表わされるフェノール樹脂(F−5)380
gを得た。
[Synthesis Example 5] Synthesis of phenol resin (F-5) Except that vinyl norbornene was used instead of tetrahydroindene, the reaction was performed in the same manner as in Synthesis Example 3, and the phenol resin (F- 5) 380
g was obtained.

【0102】[0102]

【化33】 [Chemical 33]

【0103】得られたフェノール樹脂(F−5)は、軟
化点が109℃で、フェノール性水酸基当量は200g
/eqであった。
The phenol resin (F-5) thus obtained had a softening point of 109 ° C. and a phenolic hydroxyl group equivalent of 200 g.
It was / eq.

【0104】[0104]

【合成例6】フェノール樹脂(F−6)の合成 ジシクロペンタジエンの代わりにブタジエンとジシクロ
ペンタジエンのディールス・アルダー反応物300gを
用いた以外は、合成例3と同様にして反応を行い、下記
一般式化34及び化35で示されるフェノール樹脂の混
合物(F−6)560gを得た。
[Synthesis Example 6] Synthesis of phenol resin (F-6) The reaction was performed in the same manner as in Synthesis Example 3 except that 300 g of a Diels-Alder reaction product of butadiene and dicyclopentadiene was used in place of dicyclopentadiene, and the following reaction was performed. 560 g of a mixture (F-6) of the phenol resin represented by the general formulas 34 and 35 was obtained.

【0105】[0105]

【化34】 [Chemical 34]

【0106】[0106]

【化35】 [Chemical 35]

【0107】得られた共重合物(F−6)は、軟化点が
110℃で、フェノール性水酸基当量は205g/eq
であった。
The copolymer (F-6) thus obtained had a softening point of 110 ° C. and a phenolic hydroxyl group equivalent of 205 g / eq.
Met.

【0108】[0108]

【合成例7】フェノールの代わりにカテコールを用いた
以外は、合成例1と同様に反応を行ない、下記一般式化
36で表わされるフェノール樹脂(F−7)560gを
得た。
[Synthesis Example 7] The reaction was performed in the same manner as in Synthesis Example 1 except that catechol was used instead of phenol to obtain 560 g of a phenol resin (F-7) represented by the following general formula 36.

【0109】[0109]

【化36】 [Chemical 36]

【0110】得られたフェノール樹脂(F−7)は、軟
化点115℃で、フェノール性水酸基当量は94g/e
qであった。
The obtained phenol resin (F-7) had a softening point of 115 ° C. and a phenolic hydroxyl group equivalent of 94 g / e.
It was q.

【0111】[0111]

【合成例8】ポリブタジエン(日本石油化学(株)製、
商品名「B−1000」、数平均分子量1000、ヨウ
素価430、1,2結合 65%)1000g、無水マ
レイン酸751g、ゲル化防止剤として「アンチゲン6
C」(住友化学(株)製、商品名)5.0g及びキシレ
ン10gを、還流冷却管及び窒素吹き込み管を備える3
リットルのセパラブルフラスコに仕込み、窒素気流下、
190℃で5時間反応させた。つぎに未反応の無水マレ
イン酸、キシレンを留去してマレイン化ポリブタジエン
重合体を得た。
[Synthesis Example 8] Polybutadiene (manufactured by Nippon Petrochemical Co., Ltd.,
Product name "B-1000", number average molecular weight 1000, iodine value 430, 1,2 bond 65%) 1000 g, maleic anhydride 751 g, "Antigen 6
C "(Sumitomo Chemical Co., Ltd., trade name) 5.0 g and xylene 10 g, equipped with a reflux cooling pipe and a nitrogen blowing pipe 3
Charge in a liter separable flask, under a nitrogen stream,
The reaction was carried out at 190 ° C for 5 hours. Then, unreacted maleic anhydride and xylene were distilled off to obtain a maleated polybutadiene polymer.

【0112】得られたマレイン化ポリブタジエン重合体
の全酸価を測定したところ、480mgKOH/gであ
った。ついで得られた全酸価480mgKOH/gのマ
レイン化ポリブタジエン500g、ジエチレングリコー
ルジメチルエーテル250gを還流冷却管付き2リット
ルセパラブルフラスコに仕込み均一に溶解させた後、窒
素気流下、130℃でベンジルアミン148gを30分
で滴下した。滴下終了後、溶液を165℃に昇温し、同
温度に保持しつつ7時間反応を続け、ジカルボキシル
基、イミド基を含有したアルカリ可溶性樹脂溶液を得
た。得られた樹脂溶液は、不揮発分が72重量%で、溶
液100g当り169ミリグラム当量のカルボキシル基
を有していた。
The total acid value of the obtained maleated polybutadiene polymer was measured and found to be 480 mgKOH / g. Then, 500 g of maleic polybutadiene having a total acid value of 480 mg KOH / g and 250 g of diethylene glycol dimethyl ether were charged into a 2 liter separable flask equipped with a reflux condenser and uniformly dissolved, and then benzylamine 148 g of 30 was added at 130 ° C. under a nitrogen stream. Dropped in minutes. After completion of the dropping, the solution was heated to 165 ° C., and the reaction was continued for 7 hours while maintaining the same temperature to obtain an alkali-soluble resin solution containing a dicarboxyl group and an imide group. The obtained resin solution had a nonvolatile content of 72% by weight and had 169 mg equivalent of carboxyl groups per 100 g of the solution.

【0113】[0113]

【合成例9】還流冷却管付き5リットルのセパラブルフ
ラスコに、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルフ
ォニルクロライド269g、ジオキサン1900gおよ
び合成例1で合成したフェノール樹脂(F−1)216
gを仕込み、溶解後、30℃に保ちつつトリエチルアミ
ン101gを2時間かけて滴下した。
[Synthesis Example 9] In a 5-liter separable flask equipped with a reflux condenser, 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl chloride (269 g), dioxane (1900 g) and the phenol resin (F-1) 216 synthesized in Synthesis Example 1 were mixed.
After g was charged and dissolved, 101 g of triethylamine was added dropwise over 2 hours while maintaining the temperature at 30 ° C.

【0114】さらに30℃に保ちながら5時間反応を続
け、TLCで1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
フォニルクロライドの消失を確認した後、トリエチルア
ミンの塩酸塩を濾過によって除去し、反応液を20倍量
の純水に滴下して樹脂を析出させた。得られた樹脂を濾
過、水洗後、乾燥して、下記一般式化37に示されるナ
フトキノンジアジド化フェノール樹脂(N−1)を得
た。
The reaction was continued for 5 hours while maintaining the temperature at 30 ° C., and after confirming the disappearance of 1,2-naphthoquinonediazide-5-sulfonyl chloride by TLC, the hydrochloride of triethylamine was removed by filtration, and the reaction solution was diluted 20 times. The amount of pure water was added dropwise to precipitate the resin. The obtained resin was filtered, washed with water, and dried to obtain a naphthoquinonediazide-modified phenol resin (N-1) represented by the following general formula 37.

【0115】[0115]

【化37】 [Chemical 37]

【0116】得られた樹脂のIR分析では、2166c
m-1,2120cm-1にジアジド基に起因する鋭いピー
クが2本観察され、フェノールのOHに起因するピーク
は減少していた。またイオウの元素分析によりナフトキ
ノンジアジド基を分析したところ2.23ミリグラム当
量/gであった。
By IR analysis of the obtained resin, 2166c
m- 1, 2120cm- 1 sharp peak caused by diazide groups are observed two on, the peak attributable to the phenol OH was reduced. When the naphthoquinonediazide group was analyzed by elemental analysis of sulfur, it was found to be 2.23 mg equivalent / g.

【0117】[0117]

【合成例10〜15】フェノール樹脂(F−1)を、夫
々表1に示すフェノール樹脂(F−2)〜(F−7)と
し、表1に示す仕込み量で用いた以外は、合成例9と同
様に反応及び分析を行い、夫々表1に示すキノンジアジ
ド化フェノール樹脂(N−2)〜(N−7)を得た。結
果を表1に示す。
[Synthesis Examples 10 to 15] Synthetic Examples 10-15 except that the phenol resins (F-1) were changed to the phenol resins (F-2) to (F-7) shown in Table 1, respectively, and the charged amounts shown in Table 1 were used. Reaction and analysis were performed in the same manner as in Example 9 to obtain quinonediazide-modified phenolic resins (N-2) to (N-7) shown in Table 1, respectively. The results are shown in Table 1.

【0118】[0118]

【表1】 [Table 1]

【0119】[0119]

【実施例1】合成例8で合成したアルカリ可溶性樹脂溶
液111g、合成例9で合成した感光性樹脂(N−1)
20g及びフェノキシエチルアセテート35gを混合
し、相溶させた後、トリエチルアミン7.5gを加え十
分に中和した。ついで、固形分が10重量%になるよう
に脱イオン水を加え、ポジ型感光性樹脂組成物の電着液
を得た。
Example 1 111 g of the alkali-soluble resin solution synthesized in Synthesis Example 8 and the photosensitive resin (N-1) synthesized in Synthesis Example 9
After mixing 20 g and 35 g of phenoxyethyl acetate and making them compatible, triethylamine 7.5 g was added and fully neutralized. Then, deionized water was added so that the solid content was 10% by weight to obtain an electrodeposition liquid of the positive photosensitive resin composition.

【0120】次にスルーホールを有するプリント配線用
銅張り積層基板を、得られた電着液に、陽極として浸漬
して、2mA/cm2の直流電流を20秒間印加し、水
洗した後、100℃で5分間乾燥して、膜厚7μmのポ
ジ型感光性樹脂組成物の電着塗膜を得た。ついでポジパ
ターンのフォトマスクを通して、超高圧水銀灯を用いて
波長365nm、露光量300mJ/cm2の紫外線を
照射し、さらに1.0重量%炭酸ソーダ水溶液で30
℃、60秒のスプレー現像を行った。得られた保護層の
ラインはパターンのライン幅と同じであり、ピンホー
ル、保護層の剥離や割れは観察されなかった。ついで塩
化第二鉄溶液で銅をエッチングした後、40℃の4重量
%メタケイ酸ソーダに60秒浸漬して保護層を除去した
ところ、30μmの回路パターンが得られ、欠陥はまっ
たく認められなかった。この際、スルーホール内部の銅
はエッチング液から保護され完全に残っていた。また該
電着液を3ヶ月間室温で放置したところ、樹脂成分の沈
降はなく、繰り返し使用しても異常は観察されなかっ
た。
Next, the copper clad laminate for printed wiring having through holes was dipped in the obtained electrodeposition solution as an anode, a direct current of 2 mA / cm 2 was applied for 20 seconds, and after washing with water, 100 After drying at 5 ° C. for 5 minutes, an electrodeposition coating film of a positive photosensitive resin composition having a film thickness of 7 μm was obtained. Then, through a photomask having a positive pattern, ultraviolet rays having a wavelength of 365 nm and an exposure dose of 300 mJ / cm 2 were irradiated using an ultra-high pressure mercury lamp, and further 30% with a 1.0 wt% sodium carbonate aqueous solution.
Spray development was carried out at 60 ° C. for 60 seconds. The line of the obtained protective layer was the same as the line width of the pattern, and pinholes and peeling or cracking of the protective layer were not observed. Then, after etching the copper with a ferric chloride solution, the protective layer was removed by immersing the copper in 4 wt% sodium metasilicate at 40 ° C. for 60 seconds, and a circuit pattern of 30 μm was obtained, and no defects were recognized. . At this time, the copper inside the through hole was protected from the etching solution and completely remained. When the electrodeposition liquid was left at room temperature for 3 months, no resin component was precipitated and no abnormality was observed even after repeated use.

【0121】[0121]

【実施例2】東亜合成(株)製アクリル樹脂、商品名
「S−4030」(ブチルセロソルブ溶液、固形分濃度
60重量%)111g、合成例10で合成した樹脂(N
−2)20gを混合し相溶させた後、トリエチルアミン
7.5gを加え十分に中和した。ついで、固形分が10
重量%になるように脱イオン水を加え、ポジ型感光性樹
脂組成物の電着液を得た。
Example 2 Acrylic resin manufactured by Toagosei Co., Ltd., trade name “S-4030” (butyl cellosolve solution, solid content concentration 60% by weight) 111 g, resin synthesized in Synthesis Example 10 (N
-2) After mixing 20 g and making them compatible, triethylamine 7.5 g was added and fully neutralized. Then, the solid content is 10
Deionized water was added so as to make the weight% to obtain an electrodeposition liquid of the positive photosensitive resin composition.

【0122】電着、露光および現像は、実施例1と同様
に行った。得られた保護層のラインはパターンのライン
幅と同じであり、ピンホール、保護層の剥離や割れは観
察されなかった。ついで実施例1と同様にエッチングし
た後、40℃の4重量%メタケイ酸ソーダに60秒浸漬
して保護層を除去したところ、30μmの回路パターン
が得られ、欠陥はまったく認められなかった。この時、
スルーホール内部の銅はエッチング液から保護され完全
に残っていた。またこの電着液を3ヶ月間室温で放置し
たが樹脂成分の沈降はなく、繰り返し使用しても異常は
観察されなかった。
Electrodeposition, exposure and development were carried out in the same manner as in Example 1. The line of the obtained protective layer was the same as the line width of the pattern, and pinholes and peeling or cracking of the protective layer were not observed. Then, after etching in the same manner as in Example 1, when the protective layer was removed by immersing in 4 wt% sodium metasilicate at 40 ° C. for 60 seconds, a circuit pattern of 30 μm was obtained and no defects were recognized. At this time,
The copper inside the through hole was protected from the etching solution and remained completely. The electrodeposition liquid was allowed to stand at room temperature for 3 months, but no resin component was precipitated and no abnormality was observed even after repeated use.

【0123】[0123]

【実施例3〜6】樹脂(N−1)の代わりに、樹脂(N
−3)(実施例3)、樹脂(N−4)(実施例4)、樹
脂(N−5)(実施例5)、樹脂(N−6)(実施例
6)を夫々用いた以外は、実施例1と同様にして電着液
を調製した。得られた電着液を用いて実施例1と同様に
電着を行ったのち、露光、現像を行った。
Examples 3 to 6 Instead of the resin (N-1), the resin (N
-3) (Example 3), Resin (N-4) (Example 4), Resin (N-5) (Example 5), Resin (N-6) (Example 6) were used, respectively. An electrodeposition solution was prepared in the same manner as in Example 1. Electrodeposition was performed using the obtained electrodeposition solution in the same manner as in Example 1, followed by exposure and development.

【0124】樹脂(N−3)〜(N−6)のいずれを用
いた場合も、得られた保護層のラインはパターンのライ
ン幅と同じであり、ピンホール、保護層の剥離や割れは
観察されなかった。ついで塩化第二鉄溶液で銅をエッチ
ングした後、40℃の4重量%メタケイ酸ソーダに60
秒浸漬して保護層を除去したところ30μmの回路パタ
ーンが得られ、欠陥はまったく認められなかった。この
時、いずれの場合もスルーホール内部の銅はエッチング
液から保護され完全に残っていた。またこの電着液を3
ヶ月間室温で放置したがいずれも樹脂成分の沈降はな
く、繰り返し使用しても異常は観察されなかった。
When any of the resins (N-3) to (N-6) was used, the line of the obtained protective layer was the same as the line width of the pattern, and pinholes and peeling or cracking of the protective layer were not observed. Not observed. Then, after etching the copper with a ferric chloride solution, 60% with 4 wt% sodium metasilicate at 40 ° C.
When the protective layer was removed by immersing for 2 seconds, a circuit pattern of 30 μm was obtained, and no defect was recognized. At this time, in any case, the copper inside the through hole was protected from the etching solution and completely remained. In addition, 3 times this electrodeposition solution
After being left at room temperature for a month, none of the resin components precipitated, and no abnormality was observed even after repeated use.

【0125】[0125]

【実施例7】ノボラックフェノール樹脂(水酸基当量1
10)80g、合成例9で合成した樹脂(N−1)20
g及びジエチレングリコールジメチルエーテル100g
を混合し、相溶させた後、スピンナーを使用してシリコ
ン酸化膜ウエハー上に塗布した後、100℃で5分間乾
燥し、膜厚が2μmのポジ型感光性樹脂組成物の塗膜を
得た。
Example 7 Novolac phenolic resin (hydroxyl equivalent 1
10) 80 g, resin (N-1) 20 synthesized in Synthesis Example 9
g and 100 g of diethylene glycol dimethyl ether
Are mixed and made compatible with each other, and then coated on a silicon oxide film wafer using a spinner and then dried at 100 ° C. for 5 minutes to obtain a coating film of a positive photosensitive resin composition having a film thickness of 2 μm. It was

【0126】次いでポジパターンを有するフォトマスク
を通して、超高圧水銀灯を用いて波長365nm、露光
量100mJ/cm2の紫外線を照射し、23℃の2.
38重量%テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイ
ド水溶液に70秒浸漬して現像を行ったところ、1.0
μm幅のラインの保護層が得られ、ピンホール、保護層
の剥離や割れは観察されなかった。
Then, through a photomask having a positive pattern, ultraviolet rays having a wavelength of 365 nm and an exposure amount of 100 mJ / cm 2 were irradiated using an ultrahigh pressure mercury lamp, and the temperature was raised to 23 ° C. at 2.
When developed by immersing in a 38 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution for 70 seconds, 1.0
A protective layer having a line with a width of μm was obtained, and pinholes and peeling or cracking of the protective layer were not observed.

【0127】[0127]

【実施例8】ノボラックフェノール樹脂(水酸基当量1
10)80g、合成例15で合成した樹脂(N−7)1
2g及び酢酸エチルセロソルブ200gを混合し、相溶
させた後、スピンナーを使用してシリコン酸化膜ウエハ
ー上に塗布した後、100℃で5分間乾燥し、膜厚が1
μmのポジ型感光性樹脂組成物の塗膜を得た。
Example 8 Novolac phenolic resin (hydroxyl equivalent 1
10) 80 g, Resin (N-7) 1 synthesized in Synthesis Example 15
After mixing 2 g and 200 g of ethyl cellosolve and making them compatible with each other, they were coated on a silicon oxide film wafer using a spinner and then dried at 100 ° C. for 5 minutes to give a film thickness of 1
A coating film of the positive photosensitive resin composition having a thickness of μm was obtained.

【0128】次いでポジパターンを有するフォトマスク
を通して、超高圧水銀灯を用いて波長365nm、露光
量70mJ/cm2の紫外線を照射し、23℃の2.3
8重量%テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド
水溶液に70秒間浸漬して現像を行なったところ、1.
0μm幅のラインの保護層が得られた。
Then, through a photomask having a positive pattern, ultraviolet rays having a wavelength of 365 nm and an exposure amount of 70 mJ / cm 2 were irradiated using an ultrahigh pressure mercury lamp, and the temperature was 2.3 ° C. at 2.3 ° C.
When development was performed by immersing in an 8 wt% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution for 70 seconds, 1.
A protective layer of 0 μm wide lines was obtained.

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年5月10日[Submission date] May 10, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】請求項1[Name of item to be corrected] Claim 1

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【化1】 [Chemical 1]

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0011[Correction target item name] 0011

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0011】[0011]

【化2】 [Chemical 2]

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0025[Name of item to be corrected] 0025

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0025】[0025]

【化11】 [Chemical 11]

フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 3/00 F 6921−4E Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H05K 3/00 F 6921-4E

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 (a)下記一般式化1で示されるキノン
ジアジド化フェノール樹脂及び、(b)アルカリ可溶性
樹脂を必須成分として含むことを特徴とするポジ型感光
性樹脂組成物。 【化1】
1. A positive photosensitive resin composition comprising (a) a quinonediazide-modified phenol resin represented by the following general formula 1 and (b) an alkali-soluble resin as essential components. [Chemical 1]
JP4819993A 1992-03-23 1993-03-09 Positive photosensitive resin composition Expired - Fee Related JP3091802B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4819993A JP3091802B2 (en) 1992-03-23 1993-03-09 Positive photosensitive resin composition

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4-65327 1992-03-23
JP6532792 1992-03-23
JP4819993A JP3091802B2 (en) 1992-03-23 1993-03-09 Positive photosensitive resin composition

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0683048A true JPH0683048A (en) 1994-03-25
JP3091802B2 JP3091802B2 (en) 2000-09-25

Family

ID=26388430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4819993A Expired - Fee Related JP3091802B2 (en) 1992-03-23 1993-03-09 Positive photosensitive resin composition

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3091802B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JP3091802B2 (en) 2000-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5368977A (en) Positive type photosensitive quinone diazide phenolic resin composition
JP2585070B2 (en) Image forming method
EP0265387B1 (en) Method of forming images
TWI442182B (en) Sensitive radiation linear resin composition
JPH05214048A (en) Photocurable resin composition and photocurable resin composition for solder resist
US6451498B1 (en) Photosensitive composition
US4946757A (en) Positive type 1,2 quinone diazide containing photosensitive resinous composition with acrylic copolymer resin
US3923522A (en) Photosensitive composition
KR910007229B1 (en) Method of forming photosetting film
US5232816A (en) Positive type photosensitive resinous composition comprising a resin copolymer having at least a phosphoric acid ester monomer
JP3091802B2 (en) Positive photosensitive resin composition
CA1334897C (en) Electrodeposition coating composition and image-forming method using the same
JP2700933B2 (en) Resin composition for permanent protective film and method for producing permanent protective film
JP2847321B2 (en) Positive photoresist composition
JP3789137B2 (en) Photosensitive composition
US5523383A (en) Photocurable resin composition for the preparation of a printed wiring board and process for the preparation of photocurable resin
JPH04356051A (en) Photosensitive thermosetting resin composition and method of pattern forming
JP2689354B2 (en) Through-hole wiring board manufacturing method
US5427888A (en) Positive photosensitive resin composition comprising a polymer having carbon-carbon double bonds, a maleic acid group and a maleimide group
US5521053A (en) Photocurable resin composition for the preparation of a printed wiring board
CA2050574A1 (en) Photocurable resin composition
JP2877868B2 (en) Photocurable resin composition
JP2000187325A (en) Ultraviolet sensitive positive resin composition and resist pattern forming method by using same
JP2024091110A (en) Resist resin composition, method for producing resist film, patterned resist film, and dry film
JPH03223316A (en) Photocurable resin composition

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees