JPH0678538A - Ac switching circuit apparatus - Google Patents

Ac switching circuit apparatus

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JPH0678538A
JPH0678538A JP22765392A JP22765392A JPH0678538A JP H0678538 A JPH0678538 A JP H0678538A JP 22765392 A JP22765392 A JP 22765392A JP 22765392 A JP22765392 A JP 22765392A JP H0678538 A JPH0678538 A JP H0678538A
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voltage
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resistor
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Naoki Kumagai
直樹 熊谷
Yasukazu Seki
康和 関
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Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To prevent a break-through of a thyristor, by providing a self-arc- extinguishing type semiconductor element connected in parallel with the thyristor, and by making the semiconductor element turn on in the lower dV/dt value than the dV/dt-withstanding quantity of the thyristor. CONSTITUTION:In the state wherein the voltage-time-varying rate dV/dt of the voltage applied to a MOS FET (SE4) is lower than the dV/dt-withstanding quantity of a thyristor, a voltage drop (Vr) of a resistor 5, which is caused by a displacement current (Ic) flowing through the resistor 5, becomes the voltage value exceeding the ignition voltage (Vth) of the FET SE4, and a drain 4a of the FET SE4 is connected with its source 4b in a conducting way. Therefore, the bypass of a thyristor 2 is generated between an anode 2b and cathode 2a of the thyristor 2 by the FET SE4, and the potential difference between the anode 2b and cathode 2a is reduced to a small value violently. Thereby, the varying ratio of a reverse recovery current (Irr) of a thyristor 1 is decreased, and the dV/dt value applied to the thyristor 2 between its anode 2b and its cathode 2a is reduced, and in its turn, the break-through of the thyristor 2 is prevented.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、交流回路のスイッチン
グに使用されるスイッチ回路装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a switch circuit device used for switching an AC circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は、従来技術による交流回路のスイ
ッチングに使用される交流スイッチ回路装置の回路構成
図である。図4において、1および2は、それぞれカソ
ード1a,2a、アノード1b,2b、ゲート1c,2
cを有し、それぞれ相互に逆並列に接続されたうえで、
交流電源15ならびに交流負荷3に対して直列に接続さ
れ、それぞれのゲート1c,2cに接続された図示しな
いゲート回路からの指令信号に応じて交互にスイッチン
グ動作を行うことにより、交流負荷3に交流電源15に
応じた交流電力が印加されるようにするサイリスタであ
る。3aは、交流負荷3の抵抗分(R)、また、3b
は、交流負荷3のインダクタンス分(漂遊インダクタン
スを含む.)(L)である。サイリスタは、いったん点
弧されると電流がその保持電流以下にならない限り電流
の通流を持続する性質を備えた半導体素子であり、いわ
ゆる自己消弧型の半導体素子ではない。こうした性質を
備える前記したサイリスタ1,2を、交流負荷3、交流
電源15からなる交流回路に適用した場合、サイリスタ
1あるいはサイリスタ2は、交流電源15のある半波か
ら、これに対して逆方向である次の半波に切り替わる際
に、あるサイリスタ、例えばサイリスタ1に通流する電
流が低減して保持電流以下になることによりオフ状態に
される。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a circuit diagram of an AC switch circuit device used for switching an AC circuit according to the prior art. In FIG. 4, 1 and 2 are cathodes 1a and 2a, anodes 1b and 2b, and gates 1c and 2, respectively.
c, which are connected in antiparallel with each other,
The AC load 3 is connected to the AC power supply 15 and the AC load 3 in series and alternately performs a switching operation in response to a command signal from a gate circuit (not shown) connected to each of the gates 1c and 2c. It is a thyristor that applies AC power according to the power supply 15. 3a is a resistance component (R) of the AC load 3, and 3b
Is the inductance of the AC load 3 (including stray inductance) (L). The thyristor is a semiconductor element having a property of continuing the current flow until the current becomes equal to or less than the holding current once it is ignited, and is not a so-called self-extinguishing type semiconductor element. When the above-mentioned thyristors 1 and 2 having such a property are applied to an AC circuit including an AC load 3 and an AC power supply 15, the thyristor 1 or the thyristor 2 starts from a half wave of the AC power supply 15 and goes in the opposite direction. When switching to the next half-wave, the current flowing through a certain thyristor, for example, the thyristor 1 is reduced and becomes equal to or less than the holding current, so that it is turned off.

【0003】ところが、オフ状態になった直後には、サ
イリスタ1にはその導通中に伝導度変調により発生した
過剰キャリアがまだ多数残存している。この状態にある
サイリスタ1に、次の半波の逆方向の電圧が印加される
と、過剰キャリアによる逆回復電流(Irr)が流れ
る。この逆回復電流(Irr)は、サイリスタ1が逆回
復されるに従い急激に減少するが、その変化率〔d(I
rr)/dt)〕は、通常の導通時に通流する交流電流
による変化率と比較して桁違いに大きいものである。こ
の大きな逆回復電流(Irr)の変化率〔d(Irr)
/dt)〕により交流負荷3のインダクタンス(L)に
大きな跳上がり電圧〔V=L×d(Irr)/dt〕が
発生する。
However, immediately after being turned off, a large number of excess carriers generated by conductivity modulation during conduction of the thyristor 1 still remain. When a voltage in the opposite direction of the next half wave is applied to the thyristor 1 in this state, a reverse recovery current (Irr) due to excess carriers flows. This reverse recovery current (Irr) rapidly decreases as the thyristor 1 is reversely recovered, but its rate of change [d (Ir
rr) / dt)] is orders of magnitude greater than the rate of change due to the alternating current flowing during normal conduction. The rate of change of this large reverse recovery current (Irr) [d (Irr)
/ Dt)], a large jump voltage [V = L × d (Irr) / dt] is generated in the inductance (L) of the AC load 3.

【0004】この跳上がり電圧(V)は、他方のサイリ
スタ2に対しては順方向に印加され、サイリスタ2には
そのアノード2bとゲート2c間の接合容量を通じて跳
上がり電圧(V)の時間変化率(dV/dt)に応じた
変位電流が流れ、これがゲートトリガ電流となること
で、サイリスタ2に誤点弧を生じさせる。いったん点弧
するとサイリスタは電流を通流し続ける性質を備えるた
めに、交流回路を遮断状態にしようとしていても、遮断
ができないという事態になる。
This jump voltage (V) is applied to the other thyristor 2 in the forward direction, and the time change of the jump voltage (V) is applied to the thyristor 2 through the junction capacitance between the anode 2b and the gate 2c thereof. A displacement current according to the rate (dV / dt) flows, and this serves as a gate trigger current, causing the thyristor 2 to misfire. Once ignited, the thyristor has the property of allowing current to continue flowing, so even if the AC circuit is going to be cut off, it cannot be cut off.

【0005】また、跳上がり電圧(V)の値が大きくな
り、サイリスタ2の耐電圧値を越えると、この場合には
サイリスタ2を破壊してしまうこととなる。前記したこ
とは、当然サイリスタ1でも発生する。これらの問題に
対処するために設置されたものが、図4における保護回
路20である。保護回路20には、スナバコンデンサ2
1と、スナバ抵抗器22との直列回路によるスナバ回路
と、このスナバ回路に並列に接続されたサージアブソー
バ23とで構成されており、前記スナバ回路により、跳
上がり電圧(V)の時間変化率(dV/dt)を低減
し、また前記サージアブソーバ23により、過大な跳上
がり電圧(V)を吸収して低減している。
If the jump-up voltage (V) increases and exceeds the withstand voltage of the thyristor 2, the thyristor 2 will be destroyed in this case. What has been described above naturally occurs in the thyristor 1. The protection circuit 20 in FIG. 4 is installed to deal with these problems. The protection circuit 20 includes a snubber capacitor 2
1 and a snubber circuit formed by a series circuit of a snubber resistor 22 and a surge absorber 23 connected in parallel to the snubber circuit. The snubber circuit causes the jump voltage (V) to change with time. (DV / dt) is reduced, and the surge absorber 23 absorbs and reduces an excessive jumping voltage (V).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】前述した従来技術によ
る交流スイッチ回路装置においては、跳上がり電圧
(V)および跳上がり電圧(V)の時間変化率(dV/
dt)による問題を解消することはできるのであるが、
交流負荷3のインダクタンス分(L)の値が抵抗分
(R)に比較して不確かであるとか、あるいは、交流負
荷3が変更されることで交流負荷3のインダクタンス分
(L)の値が大きな値になること等に備えて、保護回路
としては、大きな容量のスナバ回路用素子やサージアブ
ソーバ23を備える必要があること、また、スナバコン
デンサ21やサージアブソーバ23は高い耐電圧値を必
要とすること等により、交流スイッチ回路装置の小型化
が妨げられていた。
In the above-mentioned conventional AC switch circuit device, the jump voltage (V) and the rate of change of the jump voltage (V) with time (dV /
Although the problem due to dt) can be solved,
The value of the inductance component (L) of the AC load 3 is more uncertain than that of the resistance component (R), or the value of the inductance component (L) of the AC load 3 is large when the AC load 3 is changed. In order to prepare for the value, etc., the protection circuit needs to have a large capacity snubber circuit element and surge absorber 23, and the snubber capacitor 21 and surge absorber 23 need high withstand voltage values. Therefore, downsizing of the AC switch circuit device has been hindered.

【0007】本発明は、前述の従来技術の問題点に鑑み
なされたものであり、その目的は、小型化された交流ス
イッチ回路装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and an object thereof is to provide a miniaturized AC switch circuit device.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明では前述の目的
は、1)サイリスタと、このサイリスタに並列に接続さ
れた前記サイリスタを保護する保護回路を備えた交流ス
イッチ回路装置において、保護回路は、前記サイリスタ
に並列に接続された自己消弧型の半導体素子を備え、こ
の自己消弧型の半導体素子は、前記サイリスタが有する
dV/dt耐量よりも低いdV/dt値において導通す
る構成とすること、また2)前記1項記載の手段におい
て、保護回路が備える自己消弧型の半導体素子は、電圧
駆動型半導体素子である構成とすること、また3)前記
2項記載の手段において、保護回路は、2個の主電極と
ゲートを有する自己消弧型の電圧駆動型半導体素子と、
この電圧駆動型半導体素子の一方の前記主電極と前記ゲ
ートとの間に接続された抵抗器を備え、前記電圧駆動型
半導体素子の前記抵抗器が接続された前記主電極は前記
サイリスタのカソードに接続され、前記電圧駆動型半導
体素子の前記抵抗器が接続されない他方の前記主電極は
前記サイリスタのアノードに接続された回路構成とし、
しかも前記抵抗器の電気抵抗値は、前記電圧駆動型半導
体素子を前記サイリスタが有する許容dV/dt値より
も低いdV/dt値において導通させる値に選定された
構成とすること、また4)サイリスタと、このサイリス
タに並列に接続された前記サイリスタを保護する保護回
路を備えた交流スイッチ回路装置において、保護回路
は、前記サイリスタに並列に接続された自己消弧型の半
導体素子を備え、この自己消弧型の半導体素子は、前記
サイリスタが有する耐電圧値よりも低い電圧値において
導通する構成とすること、また5)前記4項記載の手段
において、保護回路が備える自己消弧型の半導体素子
は、電圧駆動型半導体素子である構成とすること、また
6)前記5項記載の手段において、保護回路は、2個の
主電極とゲートを有する自己消弧型の電圧駆動型半導体
素子と、この電圧駆動型半導体素子の一方の前記主電極
と前記ゲートとの間に接続された抵抗器と、前記電圧駆
動型半導体素子の他方の前記主電極にそのカソードが接
続され前記ゲートにそのアノードが接続された定電圧ダ
イオードを備え、前記電圧駆動型半導体素子の前記抵抗
器が接続された前記主電極は前記サイリスタのカソード
に接続され、前記電圧駆動型半導体素子の前記定電圧ダ
イオードのカソードが接続された他方の前記主電極は前
記サイリスタのアノードに接続された回路構成とし、し
かも前記定電圧ダイオードの有するツェナー電圧値は、
前記サイリスタが有する耐電圧値よりも低い値に選定す
る構成とすること、また7)サイリスタと、このサイリ
スタに並列に接続された前記サイリスタを保護する保護
回路を備えた交流スイッチ回路装置において、保護回路
は、前記サイリスタに並列に接続された自己消弧型の半
導体素子を備え、この自己消弧型の半導体素子は、前記
サイリスタが有するdV/dt耐量よりも低いdV/d
t値ならびに前記サイリスタが有する耐電圧値よりも低
い電圧値において導通する構成とすること、また8)前
記7項記載の手段において、保護回路が備える自己消弧
型の半導体素子は、電圧駆動型半導体素子である構成と
すること、さらにまた9)前記8項記載の手段におい
て、保護回路は、2個の主電極とゲートを有する自己消
弧型の電圧駆動型半導体素子と、この電圧駆動型半導体
素子の一方の前記主電極と前記ゲートとの間に接続され
た抵抗器と、前記電圧駆動型半導体素子の他方の前記主
電極にそのカソードが接続され前記ゲートにそのアノー
ドが接続された定電圧ダイオードを備え、前記電圧駆動
型半導体素子の前記抵抗器が接続された前記主電極は前
記サイリスタのカソードに接続され、前記電圧駆動型半
導体素子の前記定電圧ダイオードのカソードが接続され
た他方の前記主電極は前記サイリスタのアノードに接続
された回路構成とし、前記抵抗器の電気抵抗値は、前記
電圧駆動型半導体素子を前記サイリスタが有する許容d
V/dt値よりも低いdV/dt値において導通させる
値に選定し、また前記定電圧ダイオードの有するツェナ
ー電圧値は、前記サイリスタが有する耐電圧値よりも低
い値に選定される構成とすること、で達成される。
According to the present invention, the above-mentioned objects are as follows: 1) In an AC switch circuit device equipped with a thyristor and a protection circuit connected in parallel with the thyristor, the protection circuit comprising: A self-arc-extinguishing semiconductor element connected in parallel to the thyristor is provided, and the self-arc-extinguishing semiconductor element is configured to conduct at a dV / dt value lower than the dV / dt withstand capability of the thyristor. And 2) in the means described in 1 above, the self-extinguishing type semiconductor element included in the protection circuit is a voltage-driven semiconductor element, and 3) in the means described in 2 above, the protection circuit Is a self-extinguishing voltage-driven semiconductor device having two main electrodes and a gate,
A resistor connected between the main electrode and the gate of one of the voltage-driven semiconductor elements is provided, and the main electrode to which the resistor of the voltage-driven semiconductor element is connected is connected to the cathode of the thyristor. A circuit configuration in which the other main electrode that is connected and is not connected to the resistor of the voltage-driven semiconductor element is connected to the anode of the thyristor,
Moreover, the electrical resistance value of the resistor is set to a value that allows the voltage-driven semiconductor element to conduct at a dV / dt value lower than the allowable dV / dt value of the thyristor, and 4) the thyristor. And a protection circuit for protecting the thyristor connected in parallel to the thyristor, the protection circuit comprising a self-extinguishing type semiconductor element connected in parallel to the thyristor. The arc-extinguishing semiconductor element is configured to conduct at a voltage value lower than the withstand voltage value of the thyristor, and 5) the self-arc-extinguishing semiconductor element included in the protection circuit according to the above item 4. Is a voltage-driven semiconductor element, and 6) in the means described in 5 above, the protection circuit has two main electrodes and a gate. Self-extinguishing voltage driven semiconductor element, a resistor connected between the one main electrode and the gate of the voltage driven semiconductor element, and the other main electrode of the voltage driven semiconductor element A constant voltage diode having a cathode connected to the gate and an anode connected to the gate, the main electrode connected to the resistor of the voltage-driven semiconductor element is connected to the cathode of the thyristor, and the voltage drive -Type semiconductor element has a circuit configuration in which the other main electrode connected to the cathode of the constant voltage diode is connected to the anode of the thyristor, and the Zener voltage value of the constant voltage diode is
And a protection circuit for protecting the thyristor and a protection circuit for protecting the thyristor connected in parallel with the thyristor. The circuit includes a self-arc-extinguishing semiconductor element connected in parallel to the thyristor, the self-arc-extinguishing semiconductor element having a dV / d lower than a dV / dt withstand capability of the thyristor.
The t-value and the voltage which is lower than the withstand voltage of the thyristor are used for conduction, and 8) the self-extinguishing type semiconductor element included in the protection circuit is a voltage-driven type. 9) In the means described in the above item 8, the protection circuit is a self-turn-off type voltage driving type semiconductor element having two main electrodes and a gate, and this voltage driving type. A resistor connected between the one main electrode of the semiconductor element and the gate, a cathode connected to the other main electrode of the voltage driven semiconductor element, and an anode connected to the gate. The main electrode, which is provided with a voltage diode and to which the resistor of the voltage-driven semiconductor element is connected, is connected to the cathode of the thyristor, and the constant current of the voltage-driven semiconductor element is connected. Allowable d the main electrode other having a cathode connected diodes and connected to the circuit arrangement to the anode of the thyristor, the electric resistance value of the resistor, having a voltage-driven semiconductor element is a thyristor
The voltage is selected to be conductive at a dV / dt value lower than the V / dt value, and the Zener voltage value of the constant voltage diode is selected to be lower than the withstand voltage value of the thyristor. Is achieved by.

【0009】[0009]

【作用】本発明においては、保護回路は、サイリスタに
並列に接続された電圧駆動型半導体素子のごとき自己消
弧型の半導体素子を備え、例えば、この自己消弧型の半
導体素子が2個の主電極とゲートとを有する電圧駆動型
半導体素子の場合には、その一方の主電極とゲートとの
間に抵抗器を接続し、この抵抗器が接続された前記主電
極をサイリスタのカソードに接続し、前記抵抗器が接続
されない他方の主電極をサイリスタのアノードに接続す
る回路構成とし、しかも前記抵抗器の電気抵抗値は、電
圧駆動型半導体素子をサイリスタが有する許容dV/d
t値よりも低いdV/dt値において導通させる値に選
定して、サイリスタが有するdV/dt耐量よりも低い
dV/dt値において自己消弧型の半導体素子を導通す
る構成とすることにより、サイリスタに印加されるdV
/dt値と同等のdV/dt値を、自己消弧型の半導体
素子である電圧駆動型半導体素子にも印加させる。電圧
駆動型半導体素子にdV/dtが印加されると、電圧駆
動型半導体素子の主電極とゲート間の接合容量に変位電
流が発生し、この変位電流が前記抵抗器に通流してこの
抵抗器に電圧降下を発生する。この抵抗器の値は前記の
関係に選定されているために、抵抗器に発生した電圧降
下により、電圧駆動型半導体素子はサイリスタが有する
許容dV/dt値よりも低いdV/dt値において点弧
される。電圧駆動型半導体素子がオンすると、電圧駆動
型半導体素子によるサイリスタのアノードとカソード間
をバイパスするバイパス路が閉路されることで、dV/
dt値のそれ以上の増大は抑制されることとなり、サイ
リスタの誤点弧は防止される。
In the present invention, the protection circuit includes a self-arc-extinguishing type semiconductor element such as a voltage drive type semiconductor element connected in parallel to the thyristor. In the case of a voltage-driven semiconductor element having a main electrode and a gate, a resistor is connected between one of the main electrodes and the gate, and the main electrode to which this resistor is connected is connected to the cathode of the thyristor. However, the circuit configuration is such that the other main electrode to which the resistor is not connected is connected to the anode of the thyristor, and the electrical resistance value of the resistor has an allowable dV / d that the thyristor has a voltage-driven semiconductor element.
The thyristor is configured so that the self-extinguishing type semiconductor element is made conductive at a dV / dt value lower than the t value and a dV / dt value lower than the dV / dt withstanding capability of the thyristor. DV applied to
A dV / dt value equivalent to the / dt value is also applied to the voltage-driven semiconductor element which is a self-arc-extinguishing semiconductor element. When dV / dt is applied to the voltage-driven semiconductor element, a displacement current is generated in the junction capacitance between the main electrode and the gate of the voltage-driven semiconductor element, and this displacement current flows through the resistor and the resistor A voltage drop occurs in the. Since the value of this resistor is selected according to the above relationship, the voltage-driven semiconductor element is ignited at a dV / dt value lower than the allowable dV / dt value of the thyristor due to the voltage drop generated in the resistor. To be done. When the voltage-driven semiconductor element is turned on, the bypass path that bypasses between the anode and the cathode of the thyristor by the voltage-driven semiconductor element is closed, so that dV /
Further increase of the dt value is suppressed, and false firing of the thyristor is prevented.

【0010】また、保護回路は、サイリスタに並列に接
続された電圧駆動型半導体素子のごとき自己消弧型の半
導体素子を備え、例えば、この自己消弧型の半導体素子
が2個の主電極とゲートとを有する電圧駆動型半導体素
子の場合には、この電圧駆動型半導体素子の一方の主電
極とゲートとの間に抵抗器を、また、電圧駆動型半導体
素子の他方の主電極とゲートとの間にゲート側がアノー
ドとなるように定電圧ダイオードをそれぞれ接続し、電
圧駆動型半導体素子の抵抗器が接続された前記主電極を
サイリスタのカソードに接続し、電圧駆動型半導体素子
の定電圧ダイオードのカソードが接続された前記主電極
をサイリスタのアノードに接続する回路構成とし、しか
も前記定電圧ダイオードのツェナー電圧値を、サイリス
タが有する耐電圧値よりも低い値に選定して、サイリス
タの耐電圧値よりも低い電圧値において自己消弧型の半
導体素子を導通する回路構成とすることにより、サイリ
スタに印加される電圧値と同等の電圧値を、定電圧ダイ
オードにも印加させる。この定電圧ダイオードにそのツ
ェナー電圧を越える値の電圧が印加されると、抵抗器に
電流が通流しツェナー電圧を越える分の電圧がこの抵抗
器に印加されて、これにより電圧駆動型半導体素子が点
弧される。定電圧ダイオードのツェナー電圧は前記の関
係に選定されているために、電圧駆動型半導体素子はサ
イリスタの耐電圧値よりも低い電圧値においてオンす
る。電圧駆動型半導体素子がオンすると、電圧駆動型半
導体素子によるサイリスタのアノードとカソード間をバ
イパスするバイパス路が閉路されることで、電圧値は抑
制されることとなり、サイリスタの過電圧による破壊は
防止される。
Further, the protection circuit includes a self-arc-extinguishing type semiconductor element such as a voltage drive type semiconductor element connected in parallel to the thyristor. For example, this self-extinguishing type semiconductor element has two main electrodes. In the case of a voltage drive type semiconductor element having a gate, a resistor is provided between one main electrode and the gate of this voltage drive type semiconductor element, and the other main electrode and gate of the voltage drive type semiconductor element Constant voltage diodes are connected to each other so that the gate side becomes an anode, and the main electrode to which the resistor of the voltage driven semiconductor element is connected is connected to the cathode of the thyristor, and the constant voltage diode of the voltage driven semiconductor element is connected. Has a circuit configuration in which the main electrode connected to the cathode of the thyristor is connected to the anode of the thyristor, and the zener voltage value of the constant voltage diode is set to the withstand voltage of the thyristor. A voltage value equivalent to the voltage value applied to the thyristor can be obtained by selecting a lower value and setting the circuit configuration to conduct the self-extinguishing type semiconductor element at a voltage value lower than the withstand voltage value of the thyristor. , It is also applied to the constant voltage diode. When a voltage exceeding the Zener voltage is applied to this constant voltage diode, a current flows through the resistor and a voltage exceeding the Zener voltage is applied to this resistor, whereby the voltage-driven semiconductor element is It is fired. Since the Zener voltage of the constant voltage diode is selected in the above relationship, the voltage-driven semiconductor element turns on at a voltage value lower than the withstand voltage value of the thyristor. When the voltage-driven semiconductor element is turned on, the voltage-controlled semiconductor element closes the bypass path that bypasses the anode and cathode of the thyristor, thereby suppressing the voltage value and preventing the thyristor from being damaged by overvoltage. It

【0011】さらにまた、保護回路は、サイリスタに並
列に接続された電圧駆動型半導体素子のごとき自己消弧
型の半導体素子を備え、例えば、この自己消弧型の半導
体素子が2個の主電極とゲートとを有する電圧駆動型半
導体素子の場合には、この電圧駆動型半導体素子の一方
の主電極とゲートとの間に抵抗器を、また、電圧駆動型
半導体素子の他方の主電極とゲートとの間にゲート側が
アノードとなるように定電圧ダイオードをそれぞれ接続
し、電圧駆動型半導体素子の抵抗器が接続された前記主
電極をサイリスタのカソードに接続し、電圧駆動型半導
体素子の定電圧ダイオードのカソードが接続された前記
主電極をサイリスタのアノードに接続する回路構成と
し、しかも前記抵抗器の電気抵抗値を、電圧駆動型半導
体素子をサイリスタが有する許容dV/dt値よりも低
いdV/dt値において導通させる値に選定し、また前
記定電圧ダイオードのツェナー電圧値を、サイリスタが
有する耐電圧値よりも低い値に選定して、サイリスタが
有するdV/dt耐量よりも低いdV/dt値、ならび
にサイリスタの耐電圧値よりも低い電圧値において自己
消弧型の半導体素子を導通する回路構成とすることによ
り、サイリスタに印加されるdV/dt値と同等のdV
/dt値を、自己消弧型の半導体素子である電圧駆動型
半導体素子にも印加させ、また、サイリスタに印加され
る電圧値と同等の電圧値を、定電圧ダイオードにも印加
させる。
Furthermore, the protection circuit comprises a self-extinguishing semiconductor element such as a voltage-driven semiconductor element connected in parallel with a thyristor. For example, the self-extinguishing semiconductor element has two main electrodes. In the case of a voltage drive type semiconductor device having a gate and a gate, a resistor is provided between one main electrode and the gate of this voltage drive type semiconductor device, and the other main electrode and gate of the voltage drive type semiconductor device. Constant voltage diodes are connected so that the gate side serves as an anode between them, and the main electrode to which the resistor of the voltage driven semiconductor element is connected is connected to the cathode of the thyristor, and the constant voltage of the voltage driven semiconductor element is connected. The circuit configuration is such that the main electrode, to which the cathode of the diode is connected, is connected to the anode of the thyristor, and the electrical resistance value of the resistor is set to the voltage drive type semiconductor device. The thyristor has a thyristor having a value that allows conduction at a dV / dt value lower than the allowable dV / dt value that the thyristor has, and a zener voltage value of the constant voltage diode that is lower than a withstand voltage value of the thyristor. The dV / dt value applied to the thyristor is set to have a circuit configuration that conducts the self-extinguishing type semiconductor element at a dV / dt value lower than the dV / dt withstand voltage and a voltage value lower than the withstand voltage value of the thyristor. DV equivalent to
The / dt value is also applied to the voltage-driven semiconductor element that is a self-extinguishing semiconductor element, and the voltage value equivalent to the voltage value applied to the thyristor is also applied to the constant voltage diode.

【0012】電圧駆動型半導体素子にdV/dtが印加
されると、電圧駆動型半導体素子の主電極とゲート間の
接合容量に変位電流が発生し、この変位電流が前記抵抗
器に通流してこの抵抗器に電圧降下を発生する。この抵
抗器の値は前記の関係に選定されているために、抵抗器
に発生した電圧降下により、電圧駆動型半導体素子はサ
イリスタが有する許容dV/dt値よりも低いdV/d
t値において点弧される。電圧駆動型半導体素子がオン
すると、電圧駆動型半導体素子によるサイリスタのアノ
ードとカソード間をバイパスするバイパス路が形成され
ることで、dV/dt値のそれ以上の増大は抑制される
こととなり、サイリスタの誤点弧は防止される。
When dV / dt is applied to the voltage-driven semiconductor element, a displacement current is generated in the junction capacitance between the main electrode and the gate of the voltage-driven semiconductor element, and this displacement current flows through the resistor. A voltage drop is generated across this resistor. Since the value of this resistor is selected according to the above relationship, the voltage drop generated in the resistor causes the voltage-driven semiconductor element to have dV / d lower than the allowable dV / dt value of the thyristor.
Fired at the t value. When the voltage-driven semiconductor element is turned on, a bypass path that bypasses between the anode and the cathode of the thyristor by the voltage-driven semiconductor element is formed, so that a further increase in dV / dt value is suppressed, and the thyristor is suppressed. The false ignition of is prevented.

【0013】また同時に、定電圧ダイオードにそのツェ
ナー電圧を越える値の電圧が印加されると、抵抗器に電
流が通流し電圧降下を発生して、電圧駆動型半導体素子
が点弧される。定電圧ダイオードのツェナー電圧は前記
の関係に選定されているために、電圧駆動型半導体素子
はサイリスタの耐電圧値よりも低い電圧値においてオン
する。電圧駆動型半導体素子がオンすると、電圧駆動型
半導体素子によるサイリスタのアノードとカソード間を
バイパスするバイパス路が形成されることで、電圧値は
抑制されることとなり、サイリスタの過電圧による破壊
も阻止される。
At the same time, when a voltage having a value exceeding the Zener voltage is applied to the constant voltage diode, a current flows through the resistor to cause a voltage drop and the voltage-driven semiconductor element is ignited. Since the Zener voltage of the constant voltage diode is selected in the above relationship, the voltage-driven semiconductor element turns on at a voltage value lower than the withstand voltage value of the thyristor. When the voltage-driven semiconductor element is turned on, a voltage-controlled semiconductor element forms a bypass path that bypasses between the anode and cathode of the thyristor, suppressing the voltage value and preventing the thyristor from being damaged by overvoltage. It

【0014】[0014]

【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照して詳細に
説明する。 実施例1;図2は、本発明の請求項1ないし3に対応す
る一実施例による交流スイッチ回路装置の回路構成図で
ある。図2において、図4の従来技術による交流スイッ
チ回路装置と同一部分には同じ符号を付し、その説明を
省略する。図2において、4は、自己消弧型の半導体素
子であり、電圧駆動型半導体素子でもあるMOSFET
であり、他方の主電極であるドレイン4aと、一方の主
電極であるソース4bと、ゲート4cを有し、また、素
子の構成上ドレイン4aとゲート4cとの間には接合容
量4d(Cg)が形成されている。MOSFET4は、
ゲート4cに、ドレイン4aとソース4bとの間に、そ
のMOSFET4に固有の特性値であるしきい値(サイ
リスタ1,2に印加することが許容される電圧である耐
電圧値と比較して十分小さい値である。)である点弧電
圧(Vth)が与えられると、ドレイン4aとソース4
bとの間が導通状態となり、また、ゲート4cの電位が
消失すると、ドレイン4aとソース4bとの間は自己消
弧して不導通状態となる性質を備える半導体素子であ
る。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. Embodiment 1; FIG. 2 is a circuit configuration diagram of an AC switch circuit device according to an embodiment corresponding to claims 1 to 3 of the present invention. In FIG. 2, the same parts as those of the conventional AC switch circuit device of FIG. 4 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. In FIG. 2, reference numeral 4 denotes a MOSFET which is a self-extinguishing type semiconductor element and is also a voltage drive type semiconductor element.
And has a drain 4a which is the other main electrode, a source 4b which is the one main electrode, and a gate 4c, and the junction capacitance 4d (Cg ) Has been formed. MOSFET4 is
Between the drain 4a and the source 4b, the gate 4c has a threshold value which is a characteristic value peculiar to the MOSFET 4 (sufficient in comparison with a withstand voltage value which is a voltage allowed to be applied to the thyristors 1 and 2). When the ignition voltage (Vth), which is a small value, is applied, the drain 4a and the source 4
This is a semiconductor device having a property of being electrically connected to the gate electrode b, and being in a non-conductive state by self-extinguishing the arc between the drain 4a and the source 4b when the potential of the gate 4c disappears.

【0015】5は、MOSFET4のゲート4cとソー
ス4bとの間に接続されたゲート抵抗としての抵抗器で
あり、サイリスタ2のdV/dt耐量よりも低いdV/
dt値において、MOSFET4の点弧電圧(Vth)
を越える電圧をその両端に発生させることのできる抵抗
値(Rg)に選定されている。8は、抵抗器5と並列
に、そのカソードがMOSFET4のゲート4cに接続
された定電圧ダイオードであり、ゲート4cに過電圧が
印加されるのを防止する保護用の素子であり、9は、M
OSFET4のドレイン4aとサイリスタ2のアノード
2b間に、そのカソードがMOSFET4のドレイン4
aに接続されたダイオードであり、MOSFET4に、
ソース4bからドレイン4aに向かう電圧が印加された
場合に、逆方向の電流が通流するのを阻止する保護用の
素子である。10は、前記のMOSFET4、抵抗器
5、定電圧ダイオード8、ダイオード9からなり、サイ
リスタ2に関する、過大dV/dt値に対する保護回路
であり、MOSFET4のソース4bと、ダイオード9
のアノードは、サイリスタ2のカソード2aおよびアノ
ード2bにそれぞれ接続される。
Reference numeral 5 is a resistor as a gate resistance connected between the gate 4c and the source 4b of the MOSFET 4 and having a dV / dt lower than the dV / dt withstand capability of the thyristor 2.
The ignition voltage (Vth) of the MOSFET 4 at the dt value
It is selected as a resistance value (Rg) capable of generating a voltage exceeding the above value. Reference numeral 8 is a constant voltage diode whose cathode is connected to the gate 4c of the MOSFET 4 in parallel with the resistor 5, and is a protective element for preventing an overvoltage from being applied to the gate 4c.
Between the drain 4a of the OSFET 4 and the anode 2b of the thyristor 2, the cathode is the drain 4 of the MOSFET 4.
It is a diode connected to a,
This is a protective element that blocks the flow of current in the opposite direction when a voltage is applied from the source 4b to the drain 4a. Reference numeral 10 is a protection circuit for the thyristor 2, which is composed of the MOSFET 4, the resistor 5, the constant voltage diode 8 and the diode 9 and protects the excessive dV / dt value.
The anodes of are connected to the cathode 2a and the anode 2b of the thyristor 2, respectively.

【0016】本発明では前述の構成としたので、MOS
FET4に、ドレイン4aからソース4bに向かう或る
dV/dt値を有する電圧が印加されると、接合容量4
dを通して抵抗器5に変位電流〔Ic=Cg×(dV/
dt)〕が通流し、抵抗器5に電圧降下(Vr=Rg×
Ic)を発生する。抵抗器5の持つ抵抗値(Rg)は前
記した通りの値であるので、MOSFET4に印加され
た電圧のdV/dt値が、MOSFET4の有するdV
/dt耐量よりも低いdV/dt値において、抵抗器5
に変位電流(Ic)により発生する電圧降下(Vr)
は、MOSFET4の点弧電圧(Vth)を越える電圧
値となり、MOSFET4のドレイン4aとソース4b
との間が導通状態となる。これにより、MOSFET4
によりサイリスタ2のアノード2bとカソード2a間を
バイパスするバイパス路が形成されることで、サイリス
タ2のアノード2bとカソード2a間の電位差は、極め
て小さい値に激減されて、サイリスタ1中の逆回復電流
(Irr)の変化率〔d(Irr)/dt)〕が減少
し、サイリスタ2のアノード2bとカソード2a間に加
わるdV/dt値が低減されるために、サイリスタ2に
誤点弧が発生するのを防止する。
Since the present invention has the above-mentioned configuration, the MOS
When a voltage having a certain dV / dt value from the drain 4a to the source 4b is applied to the FET 4, the junction capacitance 4
Displacement current [Ic = Cg × (dV /
dt)] flows and a voltage drop (Vr = Rg ×
Ic) is generated. Since the resistance value (Rg) of the resistor 5 is as described above, the dV / dt value of the voltage applied to the MOSFET 4 is equal to the dV of the MOSFET 4
When the dV / dt value is lower than the / dt tolerance, the resistor 5
Voltage drop (Vr) caused by displacement current (Ic)
Becomes a voltage value exceeding the ignition voltage (Vth) of the MOSFET 4, and the drain 4a and the source 4b of the MOSFET 4 are
Conduction is established between and. As a result, MOSFET4
By forming a bypass path that bypasses between the anode 2b and the cathode 2a of the thyristor 2, the potential difference between the anode 2b and the cathode 2a of the thyristor 2 is drastically reduced to an extremely small value, and the reverse recovery current in the thyristor 1 is reduced. The rate of change of (Irr) [d (Irr) / dt)] is reduced, and the dV / dt value applied between the anode 2b and the cathode 2a of the thyristor 2 is reduced, so that the thyristor 2 is erroneously ignited. Prevent.

【0017】サイリスタ1中の残存過剰キャリアが消失
するなどして、MOSFET4およびサイリスタ2への
過大dV/dtの印加状態が消失すると、抵抗器5に変
位電流(Ic)により発生する電圧降下(Vr)は、M
OSFET4の点弧電圧(Vth)を下回ることとなる
ために、自己消弧性の半導体素子であるMOSFET4
のドレイン4aとソース4bとの間は直ちに不導通状態
となり、交流スイッチ回路装置は、サイリスタ2の過大
dV/dt値に対する保護状態から正常動作状態に戻る
こととなる。なお、保護回路10は、サイリスタ1およ
びサイリスタ2毎にそれぞれ接続され、サイリスタ1に
対しても、サイリスタ2に対する動作と全く同様に動作
を行うものである。また、サイリスタ1,2への過電圧
に対する保護については、図示していないが、例えば、
前述した図4の従来例において示したサージアブソーバ
23を、それぞれの保護回路10と並列に接続して対応
するものとする。
When the excessive dV / dt applied state to the MOSFET 4 and the thyristor 2 disappears due to the disappearance of the remaining excess carriers in the thyristor 1, the voltage drop (Vr) generated in the resistor 5 by the displacement current (Ic). ) Is M
Since it becomes lower than the ignition voltage (Vth) of the OSFET 4, the MOSFET 4 which is a self-extinguishing semiconductor element.
The drain 4a and the source 4b are immediately brought into a non-conductive state, and the AC switch circuit device returns from the protection state against the excessive dV / dt value of the thyristor 2 to the normal operation state. The protection circuit 10 is connected to each of the thyristors 1 and 2, and operates for the thyristor 1 in exactly the same manner as the operation for the thyristor 2. Further, although protection against overvoltage to the thyristors 1 and 2 is not shown, for example,
The surge absorbers 23 shown in the conventional example of FIG. 4 described above are connected in parallel with the respective protection circuits 10.

【0018】実施例2;図3は、本発明の請求項4ない
し6に対応する一実施例による交流スイッチ回路装置の
回路構成図である。図3において、図2の本発明の請求
項1ないし3記載の交流スイッチ回路装置、図4の従来
技術による交流スイッチ回路装置と同一部分には同じ符
号を付し、その説明を省略する。図3において、6は、
MOSFET4のドレイン4aにそのカソードが接続さ
れ、MOSFET4のゲート4cにそのアノードが接続
された定電圧ダイオードであり、しかも定電圧ダイオー
ド6の有するツェナー電圧値は、サイリスタ2が有する
耐電圧値よりも低い値に選定されたものである。
Embodiment 2; FIG. 3 is a circuit configuration diagram of an AC switch circuit device according to an embodiment corresponding to claims 4 to 6 of the present invention. 3, the same parts as those of the AC switch circuit device according to claims 1 to 3 of the present invention shown in FIG. 2 and the AC switch circuit device according to the prior art shown in FIG. 4 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. In FIG. 3, 6 is
The zener voltage value of the constant voltage diode 6 is lower than the withstand voltage value of the thyristor 2, which is a constant voltage diode whose cathode is connected to the drain 4a of the MOSFET 4 and whose anode is connected to the gate 4c of the MOSFET 4. It has been selected as a value.

【0019】7は、MOSFET4のゲート4cとソー
ス4bとの間に接続されたゲート抵抗としての抵抗器で
あり、定電圧ダイオード6の有するツェナー電圧値を越
える値の電圧が、MOSFET4のドレイン4aとソー
ス4bとの間に印加されると、定電圧ダイオード6の有
するツェナー電圧値を越える分がこの抵抗器7に印加さ
れる。11は、前記のMOSFET4、定電圧ダイオー
ド6、抵抗器7、定電圧ダイオード8、ダイオード9か
らなり、サイリスタ2に関する、過大電圧に対する保護
回路であり、MOSFET4のソース4bと、ダイオー
ド9のアノードは、サイリスタ2のカソード2aおよび
アノード2bにそれぞれ接続される。
Reference numeral 7 is a resistor as a gate resistance connected between the gate 4c and the source 4b of the MOSFET 4, and a voltage having a value exceeding the Zener voltage value of the constant voltage diode 6 is connected to the drain 4a of the MOSFET 4. When applied between the source 4b and the source 4b, the amount exceeding the Zener voltage value of the constant voltage diode 6 is applied to the resistor 7. Reference numeral 11 is a protection circuit for the thyristor 2, which is composed of the MOSFET 4, the constant voltage diode 6, the resistor 7, the constant voltage diode 8 and the diode 9 described above, and the source 4b of the MOSFET 4 and the anode of the diode 9 are It is connected to the cathode 2a and the anode 2b of the thyristor 2, respectively.

【0020】本発明では前述の構成としたので、定電圧
ダイオード6に、カソードからアノード向かう電圧が印
加され、その電圧値が定電圧ダイオード6の有するツェ
ナー電圧値を越えると、定電圧ダイオード6にはカソー
ドからアノードに向かう電流(Id)が通流し、抵抗値
(Rg’)持つ抵抗器7に電圧降下(Vr’=Rg’×
Id)を発生する。抵抗器7に発生する電圧降下(V
r’)がMOSFET4の点弧電圧(Vth)を越える
電圧値となると、MOSFET4のドレイン4aとソー
ス4bとの間が導通状態となる。これにより、MOSF
ET4によりサイリスタ2のアノード2bとカソード2
a間をバイパスするバイパス路が形成されることで、サ
イリスタ2のアノード2bとカソード2a間の電位差
は、極めて小さい値に激減されて、サイリスタ1中の逆
回復電流(Irr)の変化率〔d(Irr)/dt)〕
が減少し、サイリスタ2が過電圧により破壊されるのを
防止する。なお本実施例の場合においては、定電圧ダイ
オード6の有するツェナー電圧値と抵抗器7に発生する
電圧降下(Vr’)の和が、サイリスタ2の耐電圧値を
下回る値に設定されるものとする。
Since the present invention has the above-mentioned structure, when the voltage from the cathode to the anode is applied to the constant voltage diode 6 and the voltage value exceeds the Zener voltage value of the constant voltage diode 6, the constant voltage diode 6 is driven. Current (Id) flowing from the cathode to the anode flows, and a voltage drop (Vr ′ = Rg ′ ×) occurs in the resistor 7 having a resistance value (Rg ′).
Id) is generated. The voltage drop (V
When r ') becomes a voltage value exceeding the ignition voltage (Vth) of the MOSFET 4, the drain 4a and the source 4b of the MOSFET 4 become conductive. This allows the MOSF
Anode 2b and cathode 2 of thyristor 2 by ET4
By forming a bypass path that bypasses between a and a, the potential difference between the anode 2b and the cathode 2a of the thyristor 2 is drastically reduced to a very small value, and the rate of change [drr] of the reverse recovery current (Irr) in the thyristor 1 is reduced. (Irr) / dt)]
Is reduced to prevent the thyristor 2 from being destroyed by overvoltage. In the case of the present embodiment, the sum of the Zener voltage value of the constant voltage diode 6 and the voltage drop (Vr ′) generated in the resistor 7 is set to a value lower than the withstand voltage value of the thyristor 2. To do.

【0021】サイリスタ1中の残存過剰キャリアが消失
するなどして、MOSFET4およびサイリスタ2への
過大電圧の印加状態が消失すると、定電圧ダイオード6
に印加される電圧は、定電圧ダイオード6の有するツェ
ナー電圧を下回ることとなり、抵抗器7に発生する電圧
降下(Vr’)が消失することとなるために、自己消弧
性の半導体素子であるMOSFET4のドレイン4aと
ソース4bとの間は不導通状態となり、交流スイッチ回
路装置は、サイリスタ2の過大電圧値に対する保護状態
から正常動作状態に戻ることとなる。なお、保護回路1
1は、サイリスタ1およびサイリスタ2毎にそれぞれ接
続され、サイリスタ1に対しても、サイリスタ2に対す
る動作と全く同様に動作を行うものである。また、サイ
リスタ1,2への過大dV/dt値に対する保護につい
ては、図示していないが、例えば、前述した図4の従来
例において示したスナバコンデンサ21と、スナバ抵抗
器22との直列回路によるスナバ回路を、それぞれの保
護回路11と並列に接続して対応するものとする。
When the excessive voltage applied state to the MOSFET 4 and the thyristor 2 disappears due to disappearance of the remaining excess carriers in the thyristor 1, the constant voltage diode 6 is released.
Since the voltage applied to the voltage is below the Zener voltage of the constant voltage diode 6 and the voltage drop (Vr ′) generated in the resistor 7 disappears, it is a self-extinguishing semiconductor element. The drain 4a and the source 4b of the MOSFET 4 become non-conductive, and the AC switch circuit device returns from the protection state against the excessive voltage value of the thyristor 2 to the normal operation state. The protection circuit 1
1 is connected to each of the thyristor 1 and the thyristor 2, and operates for the thyristor 1 in exactly the same manner as the operation for the thyristor 2. Further, although protection against excessive dV / dt values to the thyristors 1 and 2 is not shown, for example, a series circuit of the snubber capacitor 21 and the snubber resistor 22 shown in the conventional example of FIG. 4 described above is used. A snubber circuit is connected in parallel with each protection circuit 11 to correspond thereto.

【0022】実施例3;図1は、本発明の請求項7ない
し9に対応する一実施例による交流スイッチ回路装置の
回路構成図である。図1において、図2の本発明の請求
項1ないし3記載の交流スイッチ回路装置、図3の本発
明の請求項4ないし6記載の交流スイッチ回路装置、図
4の従来技術による交流スイッチ回路装置と同一部分に
は同じ符号を付し、その説明を省略する。図1におい
て、12は、前記のMOSFET4、抵抗器5、定電圧
ダイオード6、定電圧ダイオード8、ダイオード9から
なり、サイリスタ2に関する、過大dV/dt値ならび
に過大電圧の両方に対する保護回路であり、MOSFE
T4のソース4bと、ダイオード9のアノードは、サイ
リスタ2のカソード2aおよびアノード2bにそれぞれ
接続される。
Embodiment 3; FIG. 1 is a circuit configuration diagram of an AC switch circuit device according to an embodiment corresponding to claims 7 to 9 of the present invention. 1, an AC switch circuit device according to claims 1 to 3 of the present invention shown in FIG. 2, an AC switch circuit device according to claims 4 to 6 of the present invention shown in FIG. 3, and an AC switch circuit device according to the prior art shown in FIG. The same reference numerals are given to the same portions as, and the description thereof will be omitted. In FIG. 1, reference numeral 12 is a protection circuit for the thyristor 2, which is composed of the MOSFET 4, the resistor 5, the constant voltage diode 6, the constant voltage diode 8 and the diode 9, and which protects both the excessive dV / dt value and the excessive voltage. MOSFE
The source 4b of T4 and the anode of the diode 9 are connected to the cathode 2a and the anode 2b of the thyristor 2, respectively.

【0023】本発明では前述の構成としたので、保護回
路12は、前述した実施例1の保護回路10と、前述し
た実施例2の保護回路11のそれぞれの動作を合わせた
動作を行い、過大dV/dt値によるサイリスタ2の誤
点弧、および、過電圧によるサイリスタ2の破壊を、単
一の保護回路により防止する。なお、保護回路12は、
サイリスタ1およびサイリスタ2毎にそれぞれ接続さ
れ、サイリスタ1に対しても、サイリスタ2に対する動
作と全く同様に動作を行うものである。
Since the present invention has the above-mentioned configuration, the protection circuit 12 performs the combined operation of the protection circuit 10 of the first embodiment and the operation of the protection circuit 11 of the second embodiment, and is excessive. A single protection circuit prevents false firing of the thyristor 2 due to the dV / dt value and destruction of the thyristor 2 due to overvoltage. The protection circuit 12 is
The thyristor 1 and the thyristor 2 are connected to each other, and the thyristor 1 operates in exactly the same manner as the thyristor 2.

【0024】今までの説明では、電圧駆動型半導体素子
はMOSFETであるとしてきたが、これに限定される
ものでは無く、例えば、IGBTであってもよいもので
ある。また、今までの説明では、サイリスタには逆並列
接続されたものを用いるとしてきたが、双方向性サイリ
スタであってもよいものである。
In the above description, the voltage-driven semiconductor element is assumed to be a MOSFET, but the invention is not limited to this, and may be an IGBT, for example. Further, in the description so far, the thyristors used are those connected in anti-parallel, but bidirectional thyristors may be used.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明においては、保護回路を、サイリ
スタに並列に接続された電圧駆動型半導体素子のごとき
自己消弧型の半導体素子を備え、例えば、この自己消弧
型の半導体素子が2個の主電極とゲートとを有する電圧
駆動型半導体素子の場合には、その一方の主電極とゲー
トとの間に抵抗器を接続し、この抵抗器が接続された前
記主電極をサイリスタのカソードに接続し、前記抵抗器
が接続されない他方の主電極をサイリスタのアノードに
接続する回路構成とし、しかも前記抵抗器の電気抵抗値
は、電圧駆動型半導体素子をサイリスタが有する許容d
V/dt値よりも低いdV/dt値において導通させる
値に選定して、サイリスタが有するdV/dt耐量より
も低いdV/dt値において自己消弧型の半導体素子を
導通する構成とすることにより、サイリスタに印加され
るdV/dt値と同等のdV/dt値を、自己消弧型の
半導体素子である電圧駆動型半導体素子にも印加させ
て、電圧駆動型半導体素子に印加されるdV/dt値に
応じた変位電流を電圧駆動型半導体素子の主電極とゲー
ト間の接合容量に発生させ、この変位電流が前記抵抗器
に通流して発生する電圧降下の値が、電圧駆動型半導体
素子はサイリスタが有する許容dV/dt値よりも低い
dV/dt値において、電圧駆動型半導体素子の点弧電
圧(Vth)を越える値になるようにしている。電圧駆
動型半導体素子がオンすると、電圧駆動型半導体素子に
よるサイリスタのアノードとカソード間をバイパスする
バイパス路が形成されることで、dV/dt値のそれ以
上の増大は抑制されることとなり、サイリスタの誤点弧
は防止される。
According to the present invention, the protection circuit is provided with a self-arc-extinguishing semiconductor element such as a voltage-driven semiconductor element connected in parallel with a thyristor. In the case of a voltage-driven semiconductor device having a plurality of main electrodes and a gate, a resistor is connected between one of the main electrodes and the gate, and the main electrode to which the resistor is connected is connected to the cathode of the thyristor. To the anode of the thyristor and the other main electrode to which the resistor is not connected is connected to the anode of the thyristor, and the electrical resistance value of the resistor is the allowable d
By selecting a value that conducts at a dV / dt value lower than the V / dt value, and making the self-extinguishing type semiconductor element conduct at a dV / dt value lower than the dV / dt withstand capability of the thyristor. , A dV / dt value equivalent to the dV / dt value applied to the thyristor is also applied to the voltage drive type semiconductor element which is a self-extinguishing type semiconductor element, and the dV / dt value applied to the voltage drive type semiconductor element is applied. A displacement current according to the dt value is generated in the junction capacitance between the main electrode and the gate of the voltage-driven semiconductor element, and the value of the voltage drop generated by the displacement current flowing through the resistor is the voltage-driven semiconductor element. Is designed to exceed the ignition voltage (Vth) of the voltage-driven semiconductor element at a dV / dt value lower than the allowable dV / dt value of the thyristor. When the voltage-driven semiconductor element is turned on, a bypass path that bypasses between the anode and the cathode of the thyristor by the voltage-driven semiconductor element is formed, so that a further increase in dV / dt value is suppressed, and the thyristor is suppressed. The false ignition of is prevented.

【0026】保護回路を構成する素子は、保護対象であ
るサイリスタに規定されている許容dV/dt値に対応
して選定すればよく、交流負荷のインダクタンス分の値
に依存させる必要がないので、インダクタンス分が大き
い値の交流負荷に適用されるサイリスタ用であっても、
dV/dtに対する保護回路を小型にでき、これにより
小型な交流スイッチ回路装置とすることができる。
The elements constituting the protection circuit may be selected in accordance with the allowable dV / dt value specified in the thyristor to be protected, and it is not necessary to depend on the value of the inductance of the AC load. Even for thyristors applied to AC loads with large inductance,
The protection circuit for dV / dt can be downsized, and thus a small AC switch circuit device can be obtained.

【0027】また、保護回路を、サイリスタに並列に接
続された電圧駆動型半導体素子のごとき自己消弧型の半
導体素子を備え、例えば、この自己消弧型の半導体素子
が2個の主電極とゲートとを有する電圧駆動型半導体素
子の場合には、この電圧駆動型半導体素子の一方の主電
極とゲートとの間に抵抗器を、また、電圧駆動型半導体
素子の他方の主電極とゲートとの間にゲート側がアノー
ドとなるように定電圧ダイオードをそれぞれ接続し、電
圧駆動型半導体素子の抵抗器が接続された前記主電極を
サイリスタのカソードに接続し、電圧駆動型半導体素子
の定電圧ダイオードのカソードが接続された前記主電極
をサイリスタのアノードに接続する回路構成とし、しか
も前記定電圧ダイオードのツェナー電圧を、サイリスタ
が有する耐電圧値よりも低い値に選定して、サイリスタ
の耐電圧値よりも低い電圧値において自己消弧型の半導
体素子を導通する回路構成とすることにより、サイリス
タに印加される電圧値と同等の電圧値を、定電圧ダイオ
ードにも印加させて、定電圧ダイオードにそのツェナー
電圧を越える値の電圧が印加されると、抵抗器に電流が
通流してツェナー電圧を越える分の電圧がこの抵抗器に
印加され、この電圧が電圧駆動型半導体素子の点弧電圧
(Vth)を越える値になると、電圧駆動型半導体素子
がオンするようにしている。電圧駆動型半導体素子がオ
ンすると、電圧駆動型半導体素子によるサイリスタのア
ノードとカソード間をバイパスするバイパス路が形成さ
れることで、サイリスタのアノードとカソード間に印加
される電圧値は抑制されることとなり、サイリスタの過
電圧による破壊は防止される。
Further, the protection circuit is provided with a self-arc-extinguishing type semiconductor element such as a voltage driving type semiconductor element connected in parallel with the thyristor. For example, this self-extinguishing type semiconductor element has two main electrodes. In the case of a voltage drive type semiconductor element having a gate, a resistor is provided between one main electrode and the gate of this voltage drive type semiconductor element, and the other main electrode and gate of the voltage drive type semiconductor element Constant voltage diodes are connected to each other so that the gate side becomes an anode, and the main electrode to which the resistor of the voltage driven semiconductor element is connected is connected to the cathode of the thyristor, and the constant voltage diode of the voltage driven semiconductor element is connected. Has a circuit configuration in which the main electrode to which the cathode of is connected to the anode of the thyristor, and the Zener voltage of the constant voltage diode is set to the withstand voltage value of the thyristor. By selecting a value that is lower than that of the thyristor, and by using a circuit configuration that conducts the self-extinguishing type semiconductor element at a voltage value lower than the withstand voltage value of the thyristor, a voltage value equivalent to the voltage value applied to the thyristor can be obtained. , When the voltage exceeding the Zener voltage is applied to the constant voltage diode and the voltage exceeding the Zener voltage is applied to the constant voltage diode, the current flows through the resistor and the voltage exceeding the Zener voltage is applied to this resistor. When the voltage exceeds the ignition voltage (Vth) of the voltage-driven semiconductor element, the voltage-driven semiconductor element is turned on. When the voltage-driven semiconductor element is turned on, the voltage value applied between the anode and the cathode of the thyristor is suppressed by forming a bypass path that bypasses the anode and the cathode of the thyristor by the voltage-driven semiconductor element. Therefore, destruction of the thyristor due to overvoltage is prevented.

【0028】保護回路を構成する素子は、保護対象であ
るサイリスタに規定されている耐電圧値に対応して選定
すればよく、交流負荷のインダクタンス分の値に依存さ
せる必要がないので、インダクタンス分が大きい値の交
流負荷に適用されるサイリスタ用であっても、耐電圧値
に対する保護回路を小型にでき、これにより小型な交流
スイッチ回路装置とすることができる。
The elements forming the protection circuit may be selected in accordance with the withstand voltage value specified in the thyristor to be protected, and it is not necessary to depend on the value of the inductance of the AC load. Even if it is for a thyristor applied to an AC load having a large value, the protection circuit for the withstand voltage value can be downsized, and thus a small AC switch circuit device can be obtained.

【0029】さらにまた、保護回路を、サイリスタに並
列に接続された電圧駆動型半導体素子のごとき自己消弧
型の半導体素子を備え、例えば、この自己消弧型の半導
体素子が2個の主電極とゲートとを有する電圧駆動型半
導体素子の場合には、この電圧駆動型半導体素子の一方
の主電極とゲートとの間に抵抗器を、また、電圧駆動型
半導体素子の他方の主電極とゲートとの間にゲート側が
アノードとなるように定電圧ダイオードをそれぞれ接続
し、電圧駆動型半導体素子の抵抗器が接続された前記主
電極をサイリスタのカソードに接続し、電圧駆動型半導
体素子の定電圧ダイオードのカソードが接続された前記
主電極をサイリスタのアノードに接続する回路構成と
し、しかも前記抵抗器の電気抵抗値を、電圧駆動型半導
体素子をサイリスタが有する許容dV/dt値よりも低
いdV/dt値において導通させる値に選定し、また前
記定電圧ダイオードのツェナー電圧を、サイリスタが有
する耐電圧値よりも低い値に選定して、サイリスタが有
するdV/dt耐量よりも低いdV/dt値、ならびに
サイリスタの耐電圧値よりも低い電圧値において自己消
弧型の半導体素子を導通する回路構成とすることによ
り、この保護回路は、前述した2種の実施例の保護回路
それぞれの動作を合わせたサイリスタに対する保護動作
を、単一の保護回路により行えるようになることで、一
層小型な交流スイッチ回路装置とすることができるとの
効果を奏する。
Furthermore, the protection circuit is provided with a self-arc-extinguishing type semiconductor element such as a voltage-driven type semiconductor element connected in parallel with a thyristor. For example, this self-arc-extinguishing type semiconductor element has two main electrodes. In the case of a voltage drive type semiconductor device having a gate and a gate, a resistor is provided between one main electrode and the gate of this voltage drive type semiconductor device, and the other main electrode and gate of the voltage drive type semiconductor device. Constant voltage diodes are connected so that the gate side serves as an anode between them, and the main electrode to which the resistor of the voltage driven semiconductor element is connected is connected to the cathode of the thyristor, and the constant voltage of the voltage driven semiconductor element is connected. The circuit configuration is such that the main electrode, to which the cathode of the diode is connected, is connected to the anode of the thyristor, and the electrical resistance value of the resistor is set to the voltage drive type semiconductor device. DV / dt of the thyristor is selected by selecting a value for conducting at a dV / dt value lower than the allowable dV / dt value of the thyristor, and selecting the zener voltage of the constant voltage diode lower than the withstand voltage value of the thyristor. / Dt resistance dV / dt value lower than the withstand voltage value, and a voltage value lower than the withstand voltage value of the thyristor, by providing a circuit configuration that conducts the self-extinguishing type semiconductor element, this protection circuit, the above-mentioned two types of Since the protection operation for the thyristor in which the operations of the protection circuits of the embodiments are combined can be performed by the single protection circuit, it is possible to obtain a smaller AC switch circuit device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の請求項7ないし9に対応する一実施例
による交流スイッチ回路装置の回路構成図
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of an AC switch circuit device according to an embodiment corresponding to claims 7 to 9 of the present invention.

【図2】本発明の請求項1ないし3に対応する一実施例
による交流スイッチ回路装置の回路構成図
FIG. 2 is a circuit configuration diagram of an AC switch circuit device according to an embodiment corresponding to claims 1 to 3 of the present invention.

【図3】本発明の請求項4ないし6に対応する一実施例
による交流スイッチ回路装置の回路構成図
FIG. 3 is a circuit configuration diagram of an AC switch circuit device according to an embodiment corresponding to claims 4 to 6 of the present invention.

【図4】従来例による交流スイッチ回路装置の回路構成
FIG. 4 is a circuit configuration diagram of an AC switch circuit device according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 サイリスタ 1a カソード 1b アノード 2 サイリスタ 2a カソード 2b アノード 4 自己消弧型(電圧駆動型)半導体素子(MOSF
ET) 4a 他方の主電極(ドレイン) 4b 一方の主電極(ソース) 4c ゲート 4d 接合容量 5 抵抗器 6 定電圧ダイオード 7 抵抗器 10 保護回路 11 保護回路 12 保護回路 Ic 変位電流
1 Thyristor 1a Cathode 1b Anode 2 Thyristor 2a Cathode 2b Anode 4 Self-extinguishing type (voltage drive type) semiconductor element (MOSF
ET) 4a Other main electrode (drain) 4b One main electrode (source) 4c Gate 4d Junction capacitance 5 Resistor 6 Constant voltage diode 7 Resistor 10 Protection circuit 11 Protection circuit 12 Protection circuit Ic Displacement current

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】サイリスタと、このサイリスタに並列に接
続された前記サイリスタを保護する保護回路を備えた交
流スイッチ回路装置において、保護回路は、前記サイリ
スタに並列に接続された自己消弧型の半導体素子を備
え、この自己消弧型の半導体素子は、前記サイリスタが
有するdV/dt耐量よりも低いdV/dt値において
導通することを特徴とする交流スイッチ回路装置。
1. An AC switch circuit device comprising a thyristor and a protection circuit connected in parallel with the thyristor for protecting the thyristor, wherein the protection circuit is a self-arc-extinguishing semiconductor connected in parallel with the thyristor. An AC switch circuit device comprising an element, wherein the self-extinguishing type semiconductor element conducts at a dV / dt value lower than a dV / dt withstand capability of the thyristor.
【請求項2】請求項1記載の交流スイッチ回路装置にお
いて、保護回路が備える自己消弧型の半導体素子は、電
圧駆動型半導体素子であることを特徴とする交流スイッ
チ回路装置。
2. The AC switch circuit device according to claim 1, wherein the self-extinguishing type semiconductor element provided in the protection circuit is a voltage drive type semiconductor element.
【請求項3】請求項2記載の交流スイッチ回路装置にお
いて、保護回路は、2個の主電極とゲートを有する自己
消弧型の電圧駆動型半導体素子と、この電圧駆動型半導
体素子の一方の前記主電極と前記ゲートとの間に接続さ
れた抵抗器を備え、前記電圧駆動型半導体素子の前記抵
抗器が接続された前記主電極は前記サイリスタのカソー
ドに接続され、前記電圧駆動型半導体素子の前記抵抗器
が接続されない他方の前記主電極は前記サイリスタのア
ノードに接続される回路構成とし、しかも前記抵抗器の
電気抵抗値は、前記電圧駆動型半導体素子を前記サイリ
スタが有する許容dV/dt値よりも低いdV/dt値
において導通させる値に選定されたものであることを特
徴とする交流スイッチ回路装置。
3. The AC switch circuit device according to claim 2, wherein the protection circuit includes a self-extinguishing voltage-driven semiconductor element having two main electrodes and a gate, and one of the voltage-driven semiconductor elements. A resistor connected between the main electrode and the gate, the main electrode connected to the resistor of the voltage-driven semiconductor element is connected to the cathode of the thyristor, the voltage-driven semiconductor element The other main electrode to which the resistor is not connected is connected to the anode of the thyristor, and the electric resistance value of the resistor has an allowable dV / dt that the thyristor has the voltage-driven semiconductor element. An AC switch circuit device characterized by being selected as a value for conducting at a dV / dt value lower than the value.
【請求項4】サイリスタと、このサイリスタに並列に接
続された前記サイリスタを保護する保護回路を備えた交
流スイッチ回路装置において、保護回路は、前記サイリ
スタに並列に接続された自己消弧型の半導体素子を備
え、この自己消弧型の半導体素子は、前記サイリスタが
有する耐電圧値よりも低い電圧値において導通すること
を特徴とする交流スイッチ回路装置。
4. An AC switch circuit device comprising a thyristor and a protection circuit connected in parallel with the thyristor for protecting the thyristor, wherein the protection circuit is a self-extinguishing semiconductor connected in parallel with the thyristor. An AC switch circuit device comprising an element, wherein the self-extinguishing type semiconductor element conducts at a voltage value lower than a withstand voltage value of the thyristor.
【請求項5】請求項4記載の交流スイッチ回路装置にお
いて、保護回路が備える自己消弧型の半導体素子は、電
圧駆動型半導体素子であることを特徴とする交流スイッ
チ回路装置。
5. The AC switch circuit device according to claim 4, wherein the self-extinguishing type semiconductor element provided in the protection circuit is a voltage drive type semiconductor element.
【請求項6】請求項5記載の交流スイッチ回路装置にお
いて、保護回路は、2個の主電極とゲートを有する自己
消弧型の電圧駆動型半導体素子と、この電圧駆動型半導
体素子の一方の前記主電極と前記ゲートとの間に接続さ
れた抵抗器と、前記電圧駆動型半導体素子の他方の前記
主電極にそのカソードが接続され前記ゲートにそのアノ
ードが接続された定電圧ダイオードを備え、前記電圧駆
動型半導体素子の前記抵抗器が接続された前記主電極は
前記サイリスタのカソードに接続され、前記電圧駆動型
半導体素子の前記定電圧ダイオードのカソードが接続さ
れた他方の前記主電極は前記サイリスタのアノードに接
続される回路構成とし、しかも前記定電圧ダイオードの
有するツェナー電圧値は、前記サイリスタが有する耐電
圧値よりも低い値に選定されたものであることを特徴と
する交流スイッチ回路装置。
6. The AC switch circuit device according to claim 5, wherein the protection circuit includes a self-extinguishing voltage-driven semiconductor element having two main electrodes and a gate, and one of the voltage-driven semiconductor elements. A resistor connected between the main electrode and the gate, and a constant voltage diode whose cathode is connected to the other main electrode of the voltage-driven semiconductor element and whose anode is connected to the gate, The main electrode to which the resistor of the voltage driven semiconductor element is connected is connected to the cathode of the thyristor, and the other main electrode to which the cathode of the constant voltage diode of the voltage driven semiconductor element is connected is the A circuit configuration connected to the anode of the thyristor, and the zener voltage value of the constant voltage diode is lower than the withstand voltage value of the thyristor. AC switch circuit device which is characterized in that which has been selected.
【請求項7】サイリスタと、このサイリスタに並列に接
続された前記サイリスタを保護する保護回路を備えた交
流スイッチ回路装置において、保護回路は、前記サイリ
スタに並列に接続された自己消弧型の半導体素子を備
え、この自己消弧型の半導体素子は、前記サイリスタが
有するdV/dt耐量よりも低いdV/dt値ならびに
前記サイリスタが有する耐電圧値よりも低い電圧値にお
いて導通することを特徴とする交流スイッチ回路装置。
7. An AC switch circuit device comprising a thyristor and a protection circuit connected in parallel with the thyristor for protecting the thyristor, wherein the protection circuit is a self-extinguishing semiconductor connected in parallel with the thyristor. This self-extinguishing type semiconductor element is characterized in that it conducts at a dV / dt value lower than the dV / dt withstand capability of the thyristor and at a voltage value lower than the withstand voltage value of the thyristor. AC switch circuit device.
【請求項8】請求項7記載の交流スイッチ回路装置にお
いて、保護回路が備える自己消弧型の半導体素子は、電
圧駆動型半導体素子であることを特徴とする交流スイッ
チ回路装置。
8. The AC switch circuit device according to claim 7, wherein the self-extinguishing type semiconductor element included in the protection circuit is a voltage-driven semiconductor element.
【請求項9】請求項8記載の交流スイッチ回路装置にお
いて、保護回路は、2個の主電極とゲートを有する自己
消弧型の電圧駆動型半導体素子と、この電圧駆動型半導
体素子の一方の前記主電極と前記ゲートとの間に接続さ
れた抵抗器と、前記電圧駆動型半導体素子の他方の前記
主電極にそのカソードが接続され前記ゲートにそのアノ
ードが接続された定電圧ダイオードを備え、前記電圧駆
動型半導体素子の前記抵抗器が接続された前記主電極は
前記サイリスタのカソードに接続され、前記電圧駆動型
半導体素子の前記定電圧ダイオードのカソードが接続さ
れた他方の前記主電極は前記サイリスタのアノードに接
続された回路構成とし、前記抵抗器の電気抵抗値は、前
記電圧駆動型半導体素子を前記サイリスタが有する許容
dV/dt値よりも低いdV/dt値において導通させ
る値に選定され、また前記定電圧ダイオードの有するツ
ェナー電圧値は、前記サイリスタが有する耐電圧値より
も低い値に選定されたものであることを特徴とする交流
スイッチ回路装置。
9. The AC switch circuit device according to claim 8, wherein the protection circuit includes a self-extinguishing voltage-driven semiconductor element having two main electrodes and a gate, and one of the voltage-driven semiconductor elements. A resistor connected between the main electrode and the gate, and a constant voltage diode whose cathode is connected to the other main electrode of the voltage-driven semiconductor element and whose anode is connected to the gate, The main electrode to which the resistor of the voltage driven semiconductor element is connected is connected to the cathode of the thyristor, and the other main electrode to which the cathode of the constant voltage diode of the voltage driven semiconductor element is connected is the A circuit configuration connected to the anode of the thyristor, wherein the electrical resistance value of the resistor is greater than the allowable dV / dt value of the voltage-driven semiconductor element included in the thyristor. An AC switch characterized in that it is selected as a value for conducting at a low dV / dt value, and that the zener voltage value of the constant voltage diode is selected to be lower than the withstand voltage value of the thyristor. Circuit device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006050697A (en) * 2004-08-02 2006-02-16 Kyoto Denkiki Kk Ac power regulator
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