JPH0675293B2 - Optical pickup device - Google Patents

Optical pickup device

Info

Publication number
JPH0675293B2
JPH0675293B2 JP15725588A JP15725588A JPH0675293B2 JP H0675293 B2 JPH0675293 B2 JP H0675293B2 JP 15725588 A JP15725588 A JP 15725588A JP 15725588 A JP15725588 A JP 15725588A JP H0675293 B2 JPH0675293 B2 JP H0675293B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
laser light
receiving element
laser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP15725588A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH025232A (en
Inventor
敏也 長浜
圭男 吉田
幸夫 倉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP15725588A priority Critical patent/JPH0675293B2/en
Priority to EP94201533A priority patent/EP0612064B1/en
Priority to DE68928420T priority patent/DE68928420T2/en
Priority to DE68919922T priority patent/DE68919922T2/en
Priority to KR1019890008718A priority patent/KR930005785B1/en
Priority to CA000603765A priority patent/CA1324516C/en
Priority to EP89306387A priority patent/EP0348221B1/en
Publication of JPH025232A publication Critical patent/JPH025232A/en
Priority to US08/053,334 priority patent/US5408450A/en
Publication of JPH0675293B2 publication Critical patent/JPH0675293B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、コンパクトディスクプレーヤや光ビデオディ
スクプレーヤ等に用いられる光ピックアップ装置に関す
るものである。
The present invention relates to an optical pickup device used in a compact disc player, an optical video disc player, or the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

コンパクトディスクプレーヤ等に用いられる光ピックア
ップ装置において、回折素子を利用することにより光学
系の部品点数を削減する技術が従来より開発されてい
る。
2. Description of the Related Art In an optical pickup device used for a compact disc player or the like, a technique for reducing the number of components of an optical system by utilizing a diffraction element has been developed.

このような従来の光ピックアップ装置は、例えば第3図
に示すように、記録担体16による情報の再生を行うため
に、レーザ光源となる半導体レーザ11と、回折素子12・
13と、コリメートレンズ14と、対物レンズ15と、受光素
子17とを備えている。
In such a conventional optical pickup device, for example, as shown in FIG. 3, a semiconductor laser 11 serving as a laser light source and a diffraction element 12
It includes a collimating lens 14, an objective lens 15, and a light receiving element 17.

受光素子17は、半導体レーザ11の側方に配置され、第4
図に示すように6つの受光部17a〜17fからなる。このう
ち、受光部17a〜17dは、再生信号およびフォーカス誤差
信号を検出する一方、受光部17e・17fは、トラッキング
誤差信号を検出する。
The light receiving element 17 is arranged beside the semiconductor laser 11 and has a fourth
As shown in the figure, it comprises six light receiving parts 17a to 17f. Of these, the light receiving units 17a to 17d detect the reproduction signal and the focus error signal, while the light receiving units 17e and 17f detect the tracking error signal.

半導体レーザ11から出射されたレーザ光は、回折素子12
によって回折され、3スポット法における再生信号およ
びフォーカス誤差信号を検出するためのメインビーム
と、トラッキング誤差信号を検出するための2つのサブ
ビームとに分離される。この分離された3つのレーザ光
は、回折素子13によってさらに回折され、コリメートレ
ンズ14を通過し、対物レンズ15によって記録担体16上に
集光される。このとき、メインビームは、記録担体16上
のピットに集光され、サブビームは、メインビームが集
光されたピットのトラック方向に沿った前後位置に集光
される。
The laser light emitted from the semiconductor laser 11 is reflected by the diffraction element 12
Are separated by a main beam for detecting a reproduction signal and a focus error signal in the three-spot method and two sub-beams for detecting a tracking error signal. The three separated laser beams are further diffracted by the diffractive element 13, pass through the collimator lens 14, and are focused on the record carrier 16 by the objective lens 15. At this time, the main beam is focused on the pit on the record carrier 16, and the sub-beam is focused on the front and rear positions along the track direction of the pit on which the main beam is focused.

メインビームおよびサブビームは、記録担体16上に集光
されると同時に反射され、対物レンズ15およびコリメー
トレンズ14を通過し、回折素子13によって回折される。
そして、レインビームは、受光部17a〜17dに集光され、
2つのサブビームは、受光部17e・17fに集光される。受
光部17e・17fは、受光した光の光量に応じて出力する
が、その出力信号をSe・Sfとすると、トラッキング誤差
信号は(Se−Sf)の演算によって検出される。
The main beam and the sub beam are condensed on the record carrier 16 and are reflected at the same time, pass through the objective lens 15 and the collimator lens 14, and are diffracted by the diffraction element 13.
Then, the rain beam is condensed on the light receiving units 17a to 17d,
The two sub beams are focused on the light receiving units 17e and 17f. The light receiving units 17e and 17f output according to the light amount of the received light, and if the output signal is Se · Sf, the tracking error signal is detected by the calculation of (Se−Sf).

3スポット法に基づいて正しくトラッキングされている
ときは、受光部17e・17fに入射する光量が等しくなり、
両受光上記出力信号Se・Sfも等しくなるのでトラッキン
グ誤差信号は0となる。逆に、トラッキングが正しく行
われていないときは、受光部17e・17fに入射する光量が
異なり、出力信号Se・Sfも異なるので、トラッキング誤
差信号が0にならない。このときは、トラッキング誤差
信号が0になるようにトラッキングを行う。
When the tracking is performed correctly based on the 3-spot method, the light amounts incident on the light receiving units 17e and 17f become equal,
Since the output signals Se and Sf for both light receptions are also equal, the tracking error signal becomes zero. On the contrary, when the tracking is not performed correctly, the amount of light incident on the light receiving units 17e and 17f is different and the output signals Se and Sf are also different, so that the tracking error signal does not become zero. At this time, tracking is performed so that the tracking error signal becomes zero.

ところで、光ピックアップ装置のレーザ光源から出射さ
れるレーザ光の遠視野像は、第5図に示すように、光軸
を中心として光軸に直交してPN接合面11bに並行な方向
の短径と、これに直交する方向の長径とを有する楕円形
であるため、記録担体16上に集光されるレーザ光も楕円
形となる。このとき、半導体レーザ11に対して受光素子
17が設置される位置に応じて記録担体16上に集光される
光スポットの状態が異なる。
By the way, as shown in FIG. 5, the far-field pattern of the laser light emitted from the laser light source of the optical pickup device is, as shown in FIG. 5, a minor axis in a direction perpendicular to the optical axis and parallel to the PN junction surface 11b. And an elliptical shape having a major axis in a direction orthogonal to this, the laser light focused on the record carrier 16 is also an elliptical shape. At this time, the light receiving element for the semiconductor laser 11
The state of the light spot focused on the record carrier 16 varies depending on the position where the 17 is installed.

例えば、受光素子17を、半導体レーザ11のPN接合面11b
と、発光点11aおよび受光素子17の中心を結ぶ直線との
なす角をθとすると、この角度θが0°あるいは180°
となる位置に受光素子17が設置された場合、記録担体16
に集光される光スポットは、トラック方向(ピット列方
向)に対して直交する方向に長い楕円形となり、光スポ
ットが隣のトラックにかかるため、誤ったトラッキング
誤差信号を検出するおそれがある。また、上記の角度θ
が90°あるいは270°となる位置に受光素子17が設置さ
れた場合、記録担体16に集光される光スポットは、トラ
ック方向(ピット列方向)と同じ方向に長い楕円形とな
り、ピットの長さを読み取る分解能が悪化する。このた
め、受光素子17は、再生信号の質を考慮して角度θが90
°の整数倍以外の位置に設置されていた。
For example, the light receiving element 17 may be replaced by the PN junction surface 11b of the semiconductor laser 11.
And the angle between the light emitting point 11a and the straight line connecting the centers of the light receiving elements 17 is θ, this angle θ is 0 ° or 180 °.
If the light receiving element 17 is installed at the position where
The light spot focused on is in the shape of an ellipse that is long in the direction orthogonal to the track direction (pit row direction), and the light spot impinges on the adjacent track, which may cause the detection of an erroneous tracking error signal. In addition, the angle θ
When the light receiving element 17 is installed at a position where the angle is 90 ° or 270 °, the light spot focused on the record carrier 16 becomes an ellipse that is long in the same direction as the track direction (pit row direction), and the pit length is long. The resolution for reading the depth deteriorates. Therefore, the light receiving element 17 has an angle θ of 90 degrees in consideration of the quality of the reproduction signal.
It was installed at a position other than an integral multiple of °.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

ところが、上記従来の光ピックアップ装置では、半導体
レーザ11より出射された光の一部は、回折素子12・13、
光学系を固定する部材、または、それらを保持するため
のホルダー等によって反射されて、情報の再生等に無関
係ないわゆる迷光となる。特に、回折素子12・13の反射
による迷光は、広範囲に広がるため、その一部が受光素
子17に入射し出力信号として検出されてしまう。
However, in the above conventional optical pickup device, a part of the light emitted from the semiconductor laser 11 is generated by the diffraction elements 12 and 13,
The so-called stray light, which is irrelevant to the reproduction of information, is reflected by a member for fixing the optical system or a holder for holding them. In particular, stray light due to the reflection of the diffraction elements 12 and 13 spreads over a wide range, so that part of it enters the light receiving element 17 and is detected as an output signal.

この迷光は、第4図に示すように、半導体レーザ11の出
射光と同様に光強度が楕円状に分布しているため、受光
素子17を角度θが90°の整数倍以外となる位置に設置す
ると、受光部17e・17fに入射する迷光量が異なり、トラ
ッキング誤差信号にオフセットを生じる。即ち、第4図
に示すような受光素子17の配置によれば、正しくトラッ
キングされているにもかかわらず、受光部17e・17fの出
力信号Se・Sfは、(Se<Sf)となって、トラッキング誤
差信号(Se−Sf)は0にならないため、誤った位置にト
ラッキングを行うという問題点を有していた。
As shown in FIG. 4, this stray light has an elliptical distribution of the light intensity like the emitted light of the semiconductor laser 11, so that the light receiving element 17 is placed at a position where the angle θ is other than an integral multiple of 90 °. When installed, the amount of stray light incident on the light receiving units 17e and 17f differs, and an offset occurs in the tracking error signal. That is, according to the arrangement of the light receiving element 17 as shown in FIG. 4, the output signals Se and Sf of the light receiving portions 17e and 17f are (Se <Sf) even though they are correctly tracked. Since the tracking error signal (Se-Sf) does not become 0, there is a problem that tracking is performed at an incorrect position.

また、ピックアップの小型化ならびに軽量化のために
は、半導体レーザ11に受光素子17を近づける必要がある
が、回折素子12・13による迷光の光強度は、半導体レー
ザの出射光と同様にガウス分布をしているため、半導体
レーザに受光素子が近づくほどその影響を受けてオフセ
ット量が大きくなるという問題点を有していた。
Further, in order to reduce the size and weight of the pickup, it is necessary to bring the light receiving element 17 closer to the semiconductor laser 11, but the light intensity of the stray light due to the diffraction elements 12 and 13 is the same as that of the emitted light of the semiconductor laser. Therefore, there is a problem that as the light receiving element is closer to the semiconductor laser, the offset amount is increased due to the influence thereof.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

本発明に係る光ピックアップ装置は、上記の課題を解決
するために、ビーム断面が楕円形状のレーザ光を出射す
るレーザ光源と、上記レーザ光の光軸外に設けられ記録
担体からの反射光を検出する受光素子と、レーザ光源か
ら記録担体までの光路中に設けられレーザ光源から出射
されたレーザ光を3スポット法における3方向のレーザ
光に分離し、その一部をビーム断面形状を変えずにレー
ザ光源に反射すると共に、記録担体からの反射光を上記
受光素子に導く回折素子とを備え、上記受光素子を、レ
ーザ光の断面の短径と、レーザ光の光軸および受光素子
の中心を結ぶ直線とのなす角が90°の整数倍以外となる
位置に配設した光ピックアップ装置において、上記受光
素子の中心の両側に、トラッキング誤差を検出する2つ
の受光部が、合トラック時に入射する光量が等しくなる
ように、レーザ光源から出射されるレーザ光の光軸から
の距離を互いに異ならせて配置されていることを特徴と
している。
In order to solve the above problems, the optical pickup device according to the present invention provides a laser light source that emits a laser beam having an elliptical beam cross section and a reflected light from a record carrier that is provided outside the optical axis of the laser beam. The light receiving element for detection and the laser light emitted from the laser light source, which is provided in the optical path from the laser light source to the record carrier, are separated into three-direction laser light in the three-spot method, and part of the laser light is not changed And a diffractive element that reflects the reflected light from the record carrier to the light receiving element while reflecting to the laser light source, and the light receiving element is provided with the minor axis of the cross section of the laser light, the optical axis of the laser light and the center of the light receiving element In an optical pickup device arranged at a position other than an integral multiple of 90 ° formed by a straight line connecting two lines, two light receiving portions for detecting tracking error are provided on both sides of the center of the light receiving element. It is characterized in that the laser light emitted from the laser light source is arranged so that the distances from the optical axis are different from each other so that the amounts of light incident at the time of locking are equal.

〔作用〕[Action]

上記の構成によれ、トラッキング誤差を検出する2つの
受光部は、合トラック時に入射する光量が等しくなるよ
うにレーザ光源から出射されるレーザ光の光軸からの距
離を互いに異ならせて配置されているので、正しくトラ
ッキングが行われているときに不均一な光強度分布を有
する迷光を受光した場合でも、2つの受光部での受光量
を等しくすることができる。これにより、2つの受光部
における受光量の差から求められるトラッキング誤差信
号にオフセットを生じることがなく正確なトラッキング
を行うことができる。
According to the above configuration, the two light receiving portions for detecting the tracking error are arranged such that the distances from the optical axis of the laser light emitted from the laser light source are different from each other so that the light quantities incident on the combined track become equal. Therefore, even when stray light having a non-uniform light intensity distribution is received during correct tracking, the light receiving amounts of the two light receiving portions can be made equal. As a result, accurate tracking can be performed without causing an offset in the tracking error signal obtained from the difference in the amount of light received by the two light receiving units.

また、受光素子の配置する位置を変更する場合は、その
位置において受光する迷光量を考慮して上記受光部の有
効受光面積を設定すれば良いので、受光素子をレーザ光
源に近づけることができ、光ピックアップ装置の小型化
ならびに軽量化を図ることができる。
Further, when changing the position where the light receiving element is arranged, the effective light receiving area of the light receiving section may be set in consideration of the amount of stray light received at that position, so the light receiving element can be brought close to the laser light source, It is possible to reduce the size and weight of the optical pickup device.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の一実施例を第1図および第2図に基づいて説明
すれば、以下の通りである。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2.

第1図に示すように、光ピックアップ装置における半導
体レーザ1の前方には、回折素子2・3、コリメートレ
ンズ4および対物レンズ5が配置され、この半導体レー
ザ1から出射されたレーザ光を記録担体6に導くように
なっている。
As shown in FIG. 1, a diffraction element 2 and 3, a collimator lens 4 and an objective lens 5 are arranged in front of the semiconductor laser 1 in the optical pickup device, and the laser light emitted from the semiconductor laser 1 is a record carrier. It is designed to lead to 6.

回折素子2は、半導体レーザ1から出射されたレーザ光
を、0次回折光と±1次回折光とに分離する。回折素子
3は、回折素子2と同様に、レーザ光を0次回折光と±
1次回折光とに分離し、記録担体6からの反射光に対し
て非点収差を与えて光軸外の受光素子7へ導くようにな
っている。
The diffraction element 2 separates the laser light emitted from the semiconductor laser 1 into 0th-order diffracted light and ± 1st-order diffracted light. Like the diffractive element 2, the diffractive element 3 converts the laser light into 0th-order diffracted light and
The first-order diffracted light is separated, and the reflected light from the record carrier 6 is given astigmatism to be guided to the light-receiving element 7 off the optical axis.

上記の半導体レーザ1から出射されたレーザ光のビーム
断面は、例えば第2図に示すように、半導体レーザ1の
PN接合面1bに平行な方向の短径と、これに直交する方向
の長径とを有する楕円形となっている。このため、上記
受光素子7は、半導体レーザ1の側方位置、即ち、第2
図に示すように、レーザ光の断面の短径、即ち半導体レ
ーザ1のPN接合面1bと、レーザ光の光軸、即ち発光点1a
およひ受光素子7の中心を結ぶ直線とのなす角をθとし
たとき、この角度θが90°の整数倍以外となる位置に設
置されている。
The beam cross section of the laser light emitted from the semiconductor laser 1 is, for example, as shown in FIG.
It has an elliptical shape having a minor axis in a direction parallel to the PN junction surface 1b and a major axis in a direction orthogonal to the minor axis. Therefore, the light receiving element 7 is located at the lateral position of the semiconductor laser 1, that is, at the second position.
As shown in the figure, the minor axis of the cross section of the laser light, that is, the PN junction surface 1b of the semiconductor laser 1, and the optical axis of the laser light, that is, the light emitting point 1a
Further, when an angle formed by a straight line connecting the centers of the light receiving elements 7 is θ, the angle θ is set at a position other than an integral multiple of 90 °.

また、受光素子7は、半導体レーザ1の側方に配置さ
れ、第2図に示すように6つの受光部7a〜7fからなる。
このうち、受光部7a〜7dは、正方形の受光部が対角線に
よって分割された4つの受光部をなし、記録担体6から
の反射光の光強度によって再生信号およびフォーカス誤
差信号を検出する。また、受光部7e・7fは、それぞれ受
光部7a〜7dの両側に設けられ、記録担体6からの反射光
の光量によってトラッキング誤差信号を検出する。この
受光部7e・7fは、合トラック時に入射する光量が等しく
なるように、半導体レーザ1から出射されるレーザ光の
光軸からの距離を互いに異ならせて配置されている。
Further, the light receiving element 7 is arranged on the side of the semiconductor laser 1 and comprises six light receiving portions 7a to 7f as shown in FIG.
Of these, the light receiving units 7a to 7d form four light receiving units in which a square light receiving unit is divided by diagonal lines, and detect a reproduction signal and a focus error signal based on the light intensity of the reflected light from the record carrier 6. The light receiving portions 7e and 7f are provided on both sides of the light receiving portions 7a to 7d, respectively, and detect the tracking error signal based on the light amount of the reflected light from the record carrier 6. The light receiving portions 7e and 7f are arranged so that the distances from the optical axis of the laser light emitted from the semiconductor laser 1 are different from each other so that the amounts of light incident on the combined tracks become equal.

上記の構成において、半導体レーザ1から出射されたレ
ーザ光は、回折素子2によって回折され、3スポット法
における0次回折光(以下メインビーム)と±1次回折
光(以下サブビーム)とに分離される。この分離された
3つのビームは、回折素子3によってさらに回折され、
各ビームの0次回折光がコリメートレンズ4を通過し、
対物レンズ5によって記録担体6上に集光される。この
とき、レインビームはピット上に集光され、サブビーム
は、メインビームが集光された位置に対してトラック方
向に大きく、かつラジアル方向に僅かにずれて集光され
る。
In the above configuration, the laser light emitted from the semiconductor laser 1 is diffracted by the diffractive element 2 and separated into 0th-order diffracted light (hereinafter referred to as main beam) and ± 1st-order diffracted light (hereinafter referred to as sub-beam) in the three-spot method. These three separated beams are further diffracted by the diffractive element 3,
The 0th-order diffracted light of each beam passes through the collimator lens 4,
It is focused on the record carrier 6 by the objective lens 5. At this time, the rain beam is focused on the pit, and the sub-beam is focused in the track direction with a large amount with respect to the position where the main beam is focused, and with a slight shift in the radial direction.

メインビームおよびサブビームは、記録担体6に集光さ
れると同時に反射され、対物レンズ5およびコリメート
レンズ4を通過し、回折素子3によって回折され、各ビ
ームの1次回折光が受光素子7に導かれる。また、メイ
ンビームは、受光素子7の受光部7a〜7dに導かれ、これ
ら受光部7a〜7dを分割する対角線の交点に集光される一
方、サブビームは、受光素子7の受光部7e・7fに導かれ
て集光される。
The main beam and the sub beam are condensed on the record carrier 6 and reflected at the same time, pass through the objective lens 5 and the collimator lens 4, are diffracted by the diffraction element 3, and the first-order diffracted light of each beam is guided to the light receiving element 7. . Further, the main beam is guided to the light receiving portions 7a to 7d of the light receiving element 7 and is condensed at the intersection of the diagonal lines dividing these light receiving portions 7a to 7d, while the sub-beam is the light receiving portions 7e and 7f of the light receiving element 7. Is guided to and condensed.

受光部7a〜7dは、受光した光の光量を光電変換して出力
するが、受光部7a〜7fの各出力信号をSa〜Sfとすると、
フォーカス信号は、非点収差法に基づき〔(Sa+Sc)−
(Sb+Sd)〕の演算によって検出される。また、トラッ
キング誤差信号は、3スポット法に基づき(Se−Sf)の
演算によって検出され、さらに、再生信号は、(Sa+Sb
+Sc+Sd)の演算によって検出される。
The light receiving units 7a to 7d photoelectrically convert the light amount of the received light and output the light. However, when each output signal of the light receiving units 7a to 7f is Sa to Sf,
The focus signal is based on the astigmatism method [(Sa + Sc)-
(Sb + Sd)]. The tracking error signal is detected by the calculation of (Se-Sf) based on the three-spot method, and the reproduction signal is (Sa + Sb).
+ Sc + Sd) is detected.

3スポット法に基づいて正しくトラッキングが行われて
いる場合は、受光部7e・7fが受光する光量は等しくなる
必要があるが、受光部7e・7fは、記録担体6の反射光以
外に回折素子2・3からの反射光等の迷光も受光してお
り、この反射光の光強度分布が第2図に示すように、楕
円状となって均一でないために受光部7e・7fの両出力信
号に差が生じてトラッキング誤差信号にオフセットを生
じる。このため、受光素子7が配置された位置において
受光部7e・7fが受光する光の光量が等しくなるように、
受光部7e・7fを半導体レーザ1から出射さるレーザ光の
光軸からの距離を互いに異ならせて配置し、トラッキン
グ誤差信号にオフセットが生じないようにしている。
When the tracking is performed correctly based on the three-spot method, the light amounts received by the light receiving units 7e and 7f need to be equal. However, the light receiving units 7e and 7f include diffraction elements other than the reflected light of the record carrier 6. Stray light such as reflected light from 2 and 3 is also received, and since the light intensity distribution of this reflected light is elliptical and not uniform, both output signals of the light receiving parts 7e and 7f are shown. To produce an offset in the tracking error signal. Therefore, the light amounts of the light received by the light receiving portions 7e and 7f are equalized at the position where the light receiving element 7 is arranged,
The light receiving parts 7e and 7f are arranged so that the distances from the optical axis of the laser light emitted from the semiconductor laser 1 are different from each other so that no offset occurs in the tracking error signal.

また、受光素子7の配置する位置を変更する場合は、そ
の位置において受光する迷光量を考慮して上記受光部7e
・7fの有効受光面積を設定すれば良いので、受光素子7
を半導体レーザ1に近づけることができ、光ピックアッ
プ装置の小型化ならびに軽量化を図ることができる。
Further, when changing the position where the light receiving element 7 is arranged, the light receiving section 7e is considered in consideration of the amount of stray light received at that position.
・ It is enough to set the effective light receiving area of 7f.
Can be brought closer to the semiconductor laser 1, and the size and weight of the optical pickup device can be reduced.

なお、本実施例においては、フォーカス誤差検出法に非
点収差法を用いているが、本発明はこれに限らず他のフ
ォーカス誤差検出法を用いてもよい。
Although the astigmatism method is used as the focus error detection method in the present embodiment, the present invention is not limited to this, and other focus error detection methods may be used.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、ビ
ーム断面が楕円形状のレーザ光を出射するレーザ光源
と、上記レーザ光の光軸外に設けられ記録担体からの反
射光を検出する受光素子と、レーザ光源から記録担体ま
での光路中に設けられレーザ光源から出射されたレーザ
光を3スポット法における3方向のレーザ光に分離し、
その一部をビーム断面形状を変えずにレーザ光源に反射
すると共に、記録担体からの反射光を上記受光素子に導
く回折素子とを備え、上記受光素子を、レーザ光の断面
の短径と、レーザ光の光軸および受光素子の中心を結ぶ
直線とのなす角が90°の整数倍以外となる位置に配設し
た光ピックアップ装置において、上記受光素子の中心の
両側に、トラッキング誤差を検出する2つの受光部が、
合トラック時に入射する光量が等しくなるように、レー
ザ光源から出射されるレーザ光の光軸からの距離を互い
に異ならせて配設されている構成である。
As described above, the optical pickup device according to the present invention includes a laser light source that emits laser light having an elliptical beam cross section, and a light receiving element that is provided outside the optical axis of the laser light and that detects reflected light from a record carrier. And separating the laser light emitted from the laser light source provided in the optical path from the laser light source to the record carrier into laser light in three directions in the three-spot method,
While reflecting a part of it to the laser light source without changing the beam cross-sectional shape, and a diffraction element for guiding the reflected light from the record carrier to the light-receiving element, the light-receiving element, the minor axis of the cross section of the laser beam, In an optical pickup device arranged at a position other than an integral multiple of 90 ° formed by a straight line connecting the optical axis of laser light and the center of the light receiving element, a tracking error is detected on both sides of the center of the light receiving element. Two light receiving parts
The laser light emitted from the laser light source is arranged so that the distances from the optical axis are different from each other so that the amounts of light incident on the combined tracks become equal.

これにより、トラッキング誤差を検出する2つの受光部
が受光する迷光量が等しくなるので、トラッキング誤差
信号にオフセットが生じなくなる。したがって、良好な
トラッキング誤差信号を得ることができ、3スポット法
の信頼性を容易に向上できるという効果を奏する。
As a result, the amounts of stray light received by the two light-receiving units that detect the tracking error become equal, so that no offset occurs in the tracking error signal. Therefore, it is possible to obtain a good tracking error signal and easily improve the reliability of the three-spot method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図および第2図は本発明の一実施例を示すものであ
って、第1図は光ピックアップ装置の構成を示す説明
図、第2図は受光素子の構成および受光素子とレーザ光
源との位置関係を示す説明図である。 第3図ないし第5図は従来例を示すものであって、第3
図は光ピックアップ装置の構成を示す説明図、第4図は
受光素子の構成および受光素子とレーザ光源との位置関
係を示す説明図、第5図はレーザ光源の出射光の遠視野
像を示す説明図である。 1は半導体レーザ、2・3は回折素子、6は記録担体、
7は受光素子、7a〜7fは受光部である。
1 and 2 show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is an explanatory view showing the structure of an optical pickup device, and FIG. 2 is a structure of a light receiving element and a light receiving element and a laser light source. It is explanatory drawing which shows the positional relationship. FIGS. 3 to 5 show a conventional example.
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the configuration of the optical pickup device, FIG. 4 is an explanatory diagram showing the configuration of the light receiving element and the positional relationship between the light receiving element and the laser light source, and FIG. 5 is a far-field image of the light emitted from the laser light source. FIG. 1 is a semiconductor laser, 2 and 3 are diffraction elements, 6 is a record carrier,
Reference numeral 7 is a light receiving element, and 7a to 7f are light receiving portions.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ビーム断面が楕円形状のレーザ光を出射す
るレーザ光源と、上記レーザ光の光軸外に設けられ記録
担体からの反射光を検出する受光素子と、レーザ光源か
ら記録担体までの光路中に設けられレーザ光源から出射
されたレーザ光を3スポット法における3方向のレーザ
光に分離し、その一部をビーム断面形状を変えずにレー
ザ光源に反射すると共に、記録担体からの反射光を上記
受光素子に導く回折素子とを備え、上記受光素子を、レ
ーザ光の断面の短径と、レーザ光の光軸および受光素子
の中心を結ぶ直線とのなす角が90°の整数倍以外となる
位置に配設した光ピックアップ装置において、 上記受光素子の中心の両側に、トラッキング誤差を検出
する2つの受光部が、合トラック時に入射する光量が等
しくなるように、レーザ光源から出射されるレーザ光の
光軸からの距離を互いに異ならせて配置されていること
を特徴とする光ピックアップ装置。
1. A laser light source that emits laser light having an elliptical beam cross section, a light-receiving element that is provided outside the optical axis of the laser light and that detects reflected light from a record carrier, and a laser light source to a record carrier. The laser light emitted from the laser light source provided in the optical path is separated into the three-direction laser light in the three-spot method, and a part of the laser light is reflected by the laser light source without changing the beam cross-sectional shape and reflected from the record carrier. A diffractive element that guides light to the light receiving element is provided, and the light receiving element is an integral multiple of 90 ° formed by the minor axis of the cross section of the laser light and the straight line connecting the optical axis of the laser light and the center of the light receiving element. In an optical pickup device disposed at a position other than the above, two light receiving portions for detecting a tracking error are provided on both sides of the center of the light receiving element so that the amounts of light incident on the combined track become equal. That they are disposed at different each other a distance from the optical axis of the laser beam emitted from the optical pickup apparatus according to claim.
JP15725588A 1988-06-23 1988-06-23 Optical pickup device Expired - Lifetime JPH0675293B2 (en)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15725588A JPH0675293B2 (en) 1988-06-23 1988-06-23 Optical pickup device
CA000603765A CA1324516C (en) 1988-06-23 1989-06-23 Optical pickup apparatus
DE68928420T DE68928420T2 (en) 1988-06-23 1989-06-23 Optical scanner
DE68919922T DE68919922T2 (en) 1988-06-23 1989-06-23 Optical scanner.
KR1019890008718A KR930005785B1 (en) 1988-06-23 1989-06-23 Optical pick-up device
EP94201533A EP0612064B1 (en) 1988-06-23 1989-06-23 An optical pickup apparatus
EP89306387A EP0348221B1 (en) 1988-06-23 1989-06-23 An optical pickup apparatus
US08/053,334 US5408450A (en) 1988-06-23 1993-04-28 Optical pickup apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15725588A JPH0675293B2 (en) 1988-06-23 1988-06-23 Optical pickup device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH025232A JPH025232A (en) 1990-01-10
JPH0675293B2 true JPH0675293B2 (en) 1994-09-21

Family

ID=15645654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15725588A Expired - Lifetime JPH0675293B2 (en) 1988-06-23 1988-06-23 Optical pickup device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0675293B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH025232A (en) 1990-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
USRE35332E (en) Optical pickup device with diffraction device
KR930000040B1 (en) Optical head device
JPS5856236A (en) Optical track position detector
JPH0582658B2 (en)
EP0612064B1 (en) An optical pickup apparatus
US5231621A (en) Focus detector which serves to split off a portion of a detected light beam only when the detected light beam is not refocused at an expected refocus point
JPH05307759A (en) Optical pickup
JPH073700B2 (en) Optical head device
EP0475523A1 (en) Device for optically scanning an information plane
JPH04372728A (en) Optical pickup
JPH0675293B2 (en) Optical pickup device
JPH056564A (en) Tracking error detecting system in optical disk reader
JPH0529969B2 (en)
JPH0675292B2 (en) Optical pickup device
JP2595937B2 (en) Optical head device
JP2734685B2 (en) Photodetector adjustment method and focus error detection device
JP2616722B2 (en) Optical head device
JPS5984352A (en) Device for detecting focal error
JP2858202B2 (en) Optical pickup
KR900008405B1 (en) Optical head device
JP2788723B2 (en) Optical spot position error detection device
JPH0677335B2 (en) Optical pickup device
JP2644110B2 (en) Optical recording / reproducing device
JP3544785B2 (en) Optical recording / reproducing device
JP2633979B2 (en) Optical pickup

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080921

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 14

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080921