JPH0672921B2 - Blast furnace charge profile meter - Google Patents

Blast furnace charge profile meter

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JPH0672921B2
JPH0672921B2 JP62065353A JP6535387A JPH0672921B2 JP H0672921 B2 JPH0672921 B2 JP H0672921B2 JP 62065353 A JP62065353 A JP 62065353A JP 6535387 A JP6535387 A JP 6535387A JP H0672921 B2 JPH0672921 B2 JP H0672921B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、高炉炉口部における装入物のレベル高さ分布
即ち装入物のプロフィールを測定する装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an apparatus for measuring a level height distribution of a charge, that is, a profile of a charge in a blast furnace throat.

(従来技術とその問題点) この種のプロフィール測定装置は第7図に示すようにFM
レーダを設けたランスBを高炉内で移動させながらマイ
クロ波を装入物Cに投射し、複数の点で装入物Cの表面
とランスBとの距離を測定して、装入物のブ呂フィール
を測定するものである。
(Prior art and its problems) This kind of profile measuring device is shown in FIG.
While moving the lance B provided with a radar in the blast furnace, a microwave is projected onto the charging material C, and the distance between the surface of the charging material C and the lance B is measured at a plurality of points to measure the charging material. It measures the lu feeling.

高炉装入物のマイクロ波反射率は低いので、高精度のプ
ロフィール測定は困難であり、従来第7図に示すような
測定データのチェック法が提唱されている。
Since the microwave reflectance of the blast furnace charge is low, it is difficult to measure the profile with high accuracy, and a method for checking the measurement data as shown in FIG. 7 has been proposed.

即ち第7図に示すように炉壁から炉心までのフル・スパ
ンを幾つかのブロックに分け、ブロック(ai)で得られ
たデータよりレベル変化率を計算し、次のブロック(ai
)の測定値のチェックに使用する。
That is, as shown in Fig. 7, the full span from the reactor wall to the core is divided into several blocks, and the level change rate is calculated from the data obtained in block (ai).
+ 1) of used to check the measured values.

処理はブロックai内の位置データx1,x2…x8とレベル・
データy1,y2…y8より最小二乗法により傾きamを次式に
従って変化率を演算する。
The processing is performed with position data x 1 , x 2 ... x 8 in the block ai and level
The rate of change is calculated from the data y 1 , y 2 ... y 8 by the method of least squares according to the following equation.

次に現在の位置データxnからレベルを上の結果を用いて
予測する y=a(x−xn−a)+n−a そして、両者を比較して偏差がある範囲内にある場合に
プロフィールを表わすデータを出力させる。
Then y n = a m predicted using the result of the top-level from the current position data xn (x n -x n-a ) + n-a and, in the range where there is a deviation by comparing the two In this case, the data representing the profile is output.

従来技術では、一定距離だけ手前のレベル測定結果より
そのレベル変化率を計算し、現在のデータのチェックを
行うものであり、以下の問題点がある。
In the prior art, the level change rate is calculated from the level measurement result in front of a certain distance, and the current data is checked, which has the following problems.

(1) 測定における最初のブロックにおけるデータは
チェックできず、測定値のバラツキがそのまま残留する (2) 上記のチェックされていない区間のデータを用
いて次の区間のデータをチェックすること (3)干渉現象等である区間内でのレベル変化率の誤差
が大きくなった場合、他のデータにその影響を及ぼすこ
と 以上の理由により、従来技術では測定精度を悪化させる
場合も考えられ、信頼性に乏しい。
(1) The data in the first block in the measurement cannot be checked, and the variations in the measured values remain (2) The data in the next section should be checked using the data in the above unchecked section (3) When the error of the level change rate in the section such as interference phenomenon becomes large, it affects other data.For the above reasons, the measurement accuracy may be deteriorated in the conventional technology. poor.

(発明が解決すべき問題点) この発明は上述のように従来の技術ではプロフィールの
測定精度が低いという問題を解決するためになされたも
のであって、正確で、かつ精度の高い測定結果が得られ
るプロフィール計を提供することを目的とするものであ
る。
(Problems to be Solved by the Invention) The present invention has been made to solve the problem that the profile measurement accuracy is low in the conventional technique as described above. The purpose is to provide an obtained profile meter.

(問題点を解決する手段) この発明は、FMレーダを高炉内の装入物上方で移動させ
る手段と、FMレーダの高炉内における測定点位置を検出
する手段と、各測定点において得られるビート信号から
装入物までの距離を演算する距離演算手段とを備え、高
炉内の装入物のプロフィールを検出する高炉の装入物プ
ロフィール計において、ビート信号が入力され、ビート
信号の高周波成分を通過させる高域通過フィルタと、ビ
ート信号が入力され、ビート信号の低周波成分を通過さ
せる低域通過フィルタと、高域通過フィルタを通過した
高周波成分の振幅と低域通過フィルタを通過した低周波
成分の振幅との比(高周波成分/低周波成分)を検出す
る振幅比検出回路とを備え、上記振幅比が所定の閾値以
上の上記距離演算手段からの出力を用いて、装入物のプ
ロフィールを求めるようにしたことを特徴とする高炉の
装入物プロフィール計を提供するものである。
(Means for Solving Problems) The present invention relates to means for moving an FM radar above a charge in a blast furnace, means for detecting a measurement point position of the FM radar in the blast furnace, and beats obtained at each measurement point. In a blast furnace charge profile meter for detecting the profile of the charge in the blast furnace, which is provided with a distance calculation means for calculating the distance from the signal to the charge, a beat signal is input and the high frequency component of the beat signal is detected. High-pass filter to pass, low-pass filter to which beat signal is input, low-frequency component of beat signal is passed, amplitude of high-frequency component passed to high-pass filter and low-frequency passed to low-pass filter An amplitude ratio detection circuit for detecting the ratio of the component to the amplitude (high frequency component / low frequency component), and using the output from the distance calculation means in which the amplitude ratio is a predetermined threshold value or more, There is provided a charge profile meter blast furnace, characterized in that so as to obtain a profile of the object.

(実施例) 本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。第2図
に本発明の装置構成を示す。本装置は、炉径方向に走査
可能なランス1とランス1の駆動装置2とランス1の先
端部に搭載したマイクロ波レーダ3とその信号処理装置
4より成る。ランス1は、駆動装置2により炉6内を半
径方向に移動させることにより、炉内の任意の測定位置
を選択できる。第4図に示すように、ランス1を炉6内
で移動させることにより測定位置は複数個を選択でき、
これより装入物のレベル高さの分布を測定可能である。
(Example) An example of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 2 shows the device configuration of the present invention. This device comprises a lance 1 that can scan in the furnace radial direction, a driving device 2 for the lance 1, a microwave radar 3 mounted on the tip of the lance 1, and a signal processing device 4 for the microwave radar 3. The lance 1 can select an arbitrary measurement position in the furnace by moving the inside of the furnace 6 in the radial direction by the driving device 2. As shown in FIG. 4, by moving the lance 1 in the furnace 6, a plurality of measurement positions can be selected,
From this, it is possible to measure the level distribution of the charge.

第3図にマイクロ波レーダの構成を示す。レーダ3は、
フランジ3aを介してランス1の先端に固定される。レー
ダは、マイクロ波の送・受信を兼用するリフレクト・ホ
ーンアンテナ8とマイクロ波回路を収納するジャケット
10から成る。炉6内の粉塵がアンテナ内へ侵入すること
を防止するため、アンテナ8の開口部8aを防塵可能にシ
ールするマイクロ波窓9を設けている。マイクロ波窓9
としては、例えば石英ガラスを用いることができる。ま
た、炉内の高温からマイクロ波回路を保護するために回
路部分はジャケット10内に収納されジャケット10は水冷
パイプ11を介して送られる水による水冷方式となってい
る。なお12はマイクロ波回路部分に関する電気信号送受
用のケーブルを示す。
FIG. 3 shows the configuration of the microwave radar. Radar 3
It is fixed to the tip of the lance 1 via the flange 3a. The radar is a jacket that houses a reflect horn antenna 8 that also serves to transmit and receive microwaves and a microwave circuit.
Composed of 10. In order to prevent dust in the furnace 6 from entering the antenna, a microwave window 9 for sealing the opening 8a of the antenna 8 in a dust-proof manner is provided. Microwave window 9
For example, quartz glass can be used. Further, in order to protect the microwave circuit from the high temperature in the furnace, the circuit portion is housed in a jacket 10, and the jacket 10 is a water cooling system using water sent through a water cooling pipe 11. Reference numeral 12 indicates a cable for transmitting and receiving electric signals relating to the microwave circuit part.

第1図において例えばガン・ダイオードを用いたマイク
ロ波発振器13より発振されたマイクロ波は、分波器14,
スタブ・チューナ15を経てアンテナ8より送信される。
送入物から反射され再びアンテナ8で受信されたマイク
ロ波は、スタブ・チューナ15,分波器14を経て混合検波
器16に入る。一方、スタブ・チューナ15で反射した送信
波の一部も同様に混合検波器16へ入る。混合検波器16で
送信波と受信波は混合検波され、送入物のレベル高さに
対応するビート信号を生じる。一実施例において使用し
たマイクロ波発振周波数は、24.1GHz,発振パワーは約10
mWである。40はレベル高さ測定部である。混合検波器16
から得られたビート波は増幅器18を介してレベル高さ測
定部40の混合器41に印加される。正弦波発振器45から印
加される周波数f1なる正弦波と混合され、この混合波は
高域通過フィルタ42に通されて、混合波の上側帯波Wuが
分離され出力される。
In FIG. 1, for example, the microwave oscillated from the microwave oscillator 13 using a Gunn diode is
The signal is transmitted from the antenna 8 via the stub tuner 15.
The microwave reflected from the input material and received by the antenna 8 again enters the mixing detector 16 through the stub tuner 15 and the demultiplexer 14. On the other hand, a part of the transmission wave reflected by the stub tuner 15 also enters the mixing detector 16. The mixed wave detector 16 mix-detects the transmitted wave and the received wave to generate a beat signal corresponding to the level height of the incoming material. The microwave oscillation frequency used in one example was 24.1 GHz, and the oscillation power was about 10
mW. 40 is a level height measuring unit. Mixed detector 16
The beat wave obtained from the above is applied to the mixer 41 of the level height measuring unit 40 via the amplifier 18. The mixed wave is mixed with a sine wave having a frequency f 1 applied from the sine wave oscillator 45, and the mixed wave is passed through a high pass filter 42 to separate and output the upper sideband Wu of the mixed wave.

いまビート波Wdの電圧波形をEb、正弦波発振器45の出力
電圧波形をEr1とすると E=Asin(2πft+φ) (2) A:ビート信号の電圧振幅 f: 〃 中心周波数 φ: 〃 初期位相 Er1=A1sin(2πf1t+φ) (3) で表される。また前記、上側帯波Wuの電圧波形は(4)
式で表される。
If the voltage waveform of the beat wave Wd is Eb and the output voltage waveform of the sine wave oscillator 45 is Er 1 , then E b = A b sin (2πf b t + φ b ) (2) A b : Beat signal voltage amplitude f b : 〃 Center frequency φ b : 〃 initial phase Er 1 = A 1 sin (2πf 1 t + φ 1 ) (3) The voltage waveform of the upper sideband Wu is (4)
It is represented by a formula.

=Asin{2π(f+f1)t+φ+φ
(4) 上記のようにして得られた上側帯波Wuは混合器43に印加
され、正弦波発振器47から印加される周波数f2なる正弦
波と混合され、この混合波は低域通過フィルタ44に通さ
れて、この混合波の下側帯波WLが分離され出力される。
E u = A u sin {2π (f b + f 1 ) t + φ 1 + φ b }
(4) The upper band wave Wu obtained as described above is applied to the mixer 43 and mixed with the sine wave having the frequency f 2 applied from the sine wave oscillator 47, and this mixed wave is passed through the low pass filter 44. The lower sideband WL of this mixed wave is separated and output.

正弦波発振器47の出力電圧波形Er2は Er2=A2sin(2πf2t+φ) (5) で表される。The output voltage waveform Er 2 of the sine wave oscillator 47 is represented by Er 2 = A 2 sin (2πf 2 t + φ 2 ) (5).

したがって、上記混合波の下側帯波WLの電圧波形は
(6)式で示される。
Therefore, the voltage waveform of the lower sideband WL of the mixed wave is expressed by the equation (6).

=Asin{2π(f+f1−f2)t +φ+φ−φ} (6) A=kAA1A k:混合器の変換定数 ここで、T1=1/(f1−f2)と定義し、φ′=φ+φ
−φと置き換えると、(6)式は次式のように変形さ
れる。
E L = A L sin {2π (f b + f 1 −f 2 ) t + φ b + φ 1 −φ 2 } (6) A L = kA b A 1 A u k: conversion constant of mixer Here, T 1 = 1 / (f 1 −f 2 ), φ ′ = φ b + φ 1
Replacing with −φ 2 , the equation (6) is transformed into the following equation.

(7)式と(2)式とを比較すると、下側帯波WLはもと
のビート波Wbにおいて初期位相項を周期T1で直線的に変
調したものである。
Comparing the equations (7) and (2), the lower band wave WL is obtained by linearly modulating the initial phase term in the original beat wave Wb with the period T 1 .

低域通過フィルタ44で得られた(7)式で示される下側
帯波WLはフィルタ48で高調波が除去されて、さらに波形
整形回路49で(7)式で表わされる下側帯波WLのゼロク
ロス点に対応したパルスを生じる。ここでは一例として
上記側帯波が−から+へ立ち上るゼロクロス点をとる。
The lower band wave WL shown by the formula (7) obtained by the low-pass filter 44 has its harmonics removed by the filter 48, and the waveform shaping circuit 49 further causes the zero crossing of the lower band wave WL represented by the formula (7). Produces a pulse corresponding to the point. Here, as an example, the zero cross point where the sideband rises from − to + is taken.

このパルスはカウンタ50に印加され、位相変調周期T1
瓦って計数され、上記下側帯波の波の数が計数される。
This pulse is applied to the counter 50, counted in the phase modulation period T 1, and the number of waves of the lower sideband is counted.

このカウンタ50の計数結果ΣNは距離演算回路51に印加
され、送信波WSの周波数変調周期T2の1周期あたりの、
下側帯波WLの波の数n(8)式により演算され、さらに
(9)式にもとづいて測距対象までの距離dが演算され
る。
The counting result ΣN of the counter 50 is applied to the distance calculation circuit 51, and the frequency of the frequency modulation period T 2 of the transmission wave WS per cycle is
The number n of waves of the lower side band WL is calculated by the equation (8), and further the distance d to the object to be measured is calculated based on the equation (9).

n=ΣN/m (8) m=T1/T2 T1:位相変調周期 T2:周波数変調周期 d=n×c/8△F (9) △F:送信波WSのFM最大周波数偏移 c:光速 60はビート信号の高周波成分と低周波数成分の振幅比を
測定する振幅比測定回路であり、次に示す回路を備えて
いる。増幅したビート信号は、高域通過フィルタ61と低
域通過フィルタ62により各々ビート信号の高周波成分と
低周波成分に分離する。
n = ΣN / m (8) m = T 1 / T 2 T 1 : Phase modulation period T 2 : Frequency modulation period d = n × c / 8 ΔF (9) ΔF: FM maximum frequency deviation of transmitted wave WS Transition c: The speed of light 60 is an amplitude ratio measurement circuit that measures the amplitude ratio of the high frequency component and the low frequency component of the beat signal, and includes the following circuit. The amplified beat signal is separated into a high frequency component and a low frequency component of the beat signal by a high pass filter 61 and a low pass filter 62, respectively.

各成分は、絶対値演算回路63,64と平均値演算回路65,66
により、その平均振幅を求める。両者は、除算器67へ入
力され、その比が定数kと比較器68により比較される。
その結果は、距離演算回路51へ入力され、振幅比が大な
る時、距離データを出力する。
Each component has an absolute value calculation circuit 63, 64 and an average value calculation circuit 65, 66.
Then, the average amplitude is obtained. Both are input to the divider 67, and the ratio is compared with the constant k by the comparator 68.
The result is input to the distance calculation circuit 51, and when the amplitude ratio is large, the distance data is output.

上記構成装置を用いてランス1を高炉内で所定の複数の
位置へ移動して、装入物のレベルをそれぞれの位置で測
定し、そのレベルを距離演算回路51から求めて各位置で
その装入物のレベルをプロットする。これによって装入
物のプロフィールが得られる。第6図は従来のプロフィ
ール計による測定データをプロットしたものであり、装
入物によるマイクロ波の干渉効果により測定データにか
なりばらつきがある。
The lance 1 is moved to a plurality of predetermined positions in the blast furnace by using the above-described apparatus, the level of the charged material is measured at each position, and the level is obtained from the distance calculation circuit 51 and the level is measured at each position. Plot the level of input. This gives a profile of the charge. FIG. 6 is a plot of measurement data obtained by a conventional profile meter, and the measurement data varies considerably due to the interference effect of microwaves due to the charge.

一方、本発明の装置を用いて、ビート信号の高周波成分
の低周波成分に対する振幅比を求め、その比がある閾値
より小さいデータを除く回路を備えて実験した結果を第
5図に示す。本発明によれば第6図のものに比べばらつ
きが小さくなり、誤差の軽減効果が顕著であることが確
認できた。
On the other hand, FIG. 5 shows the result of an experiment using the apparatus of the present invention, in which an amplitude ratio of a high frequency component of a beat signal to a low frequency component is obtained, and a circuit for removing data whose ratio is smaller than a certain threshold value is provided. According to the present invention, it was confirmed that the variation was smaller than that of FIG. 6 and the effect of error reduction was remarkable.

(発明の効果) 以上詳述したように、この発明はFMレーダを用いた測距
装置によって、高炉の装入物のプロフィールを測定する
に際し、ビート波の高域成分を低域成分との振幅比を求
め、所定値以上のデータをプロフィールを表わすデータ
として用いるようにしたから、 (1) すべての距離測定データがその測定時間内のビ
ート信号の周波数スペクトル分布によりチェックされ
る。
(Effect of the Invention) As described in detail above, according to the present invention, when measuring the profile of the charge of the blast furnace by the range finder using the FM radar, the high frequency component of the beat wave and the amplitude of the low frequency component are compared with each other. Since the ratio is obtained and the data having the predetermined value or more is used as the data representing the profile, (1) all the distance measurement data are checked by the frequency spectrum distribution of the beat signal within the measurement time.

(2) 高周波成分の低周波成分に対する比を求め、そ
れによりチェックを行っているので、レーダ回路内の不
要反射波が高炉内ダストのレーダアンテナ部への付着等
により変化しても信頼性の高い測定が可能となり保全性
が高まる。などの効果があり、結果的にバラツキの少な
い正確なプロフィールデータが得られる。
(2) The ratio of the high frequency component to the low frequency component is calculated and the check is performed by using it. Therefore, even if the unwanted reflected wave in the radar circuit changes due to the adhesion of dust in the blast furnace to the radar antenna part, the reliability is improved. High measurement is possible and maintainability is improved. As a result, accurate profile data with little variation can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明のプロフィール計の一実施例を示すブ
ロック図、第2図は第1図のプロフィール計が適用され
るFMレーダ測定装置の構成を示す正面図、第3図はFMレ
ーダ部の詳細を示す断面図、第4図は本発明装置の測定
方法を示す断面図、第5図は本発明のプロフィール計に
より得られた測定結果を示すグラフ、第6図は従来のプ
ロフィール計により得られた測定結果を示すグラフ、第
7図はFMレーダによる高炉装入物のレベル高さ測定方法
を示す図である。 1……ランス、8……アンテナ、16……混合検波器、40
……レベル高さ検出回路、 51……距離演算回路、61……高域通過フィルタ、62……
低域通過フィルタ、67……除算器、 68……比較器。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the profile meter of the present invention, FIG. 2 is a front view showing the configuration of an FM radar measuring apparatus to which the profile meter of FIG. 1 is applied, and FIG. 3 is an FM radar section. 4 is a sectional view showing the measurement method of the device of the present invention, FIG. 5 is a graph showing the measurement results obtained by the profile meter of the present invention, and FIG. 6 is a conventional profile meter. Fig. 7 is a graph showing the obtained measurement results, and Fig. 7 is a view showing a method for measuring the level height of the blast furnace charge by the FM radar. 1 ... lance, 8 ... antenna, 16 ... mixed detector, 40
...... Level height detection circuit, 51 …… Distance calculation circuit, 61 …… High-pass filter, 62 ……
Low pass filter, 67 …… divider, 68 …… comparator.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】FMレーダを高炉内の装入物上方で移動させ
る手段と、FMレーダの高炉内における測定点位置を検出
する手段と、 各測定点において得られるビート信号から装入物までの
距離を演算する距離演算手段とを備え、 高炉内の装入物のプロフィールを検出する高炉の装入物
プロフィール計において、 ビート信号が入力され、ビート信号の高周波成分を通過
させる高域通過フィルタと、ビート信号が入力され、ビ
ート信号の低周波成分を通過させる低域通過フィルタ
と、高域通過フィルタを通過した高周波成分の振幅と低
域通過フィルタを通過した低周波成分の振幅との比(高
周波成分/低周波成分)を検出する振幅比検出回路とを
備え、上記振幅比が所定の閾値以上の上記距離演算手段
からの出力を用いて、装入物のプロフィールを求めるよ
うにしたことを特徴とする高炉の装入物プロフィール
計。
1. A means for moving an FM radar above a charge in a blast furnace, a means for detecting a measurement point position of the FM radar in the blast furnace, and a beat signal obtained at each measurement point to a charge. In a blast furnace charge profile meter that detects the profile of the charge in the blast furnace, equipped with a distance calculation means that calculates the distance, and a high-pass filter that receives the beat signal and passes the high-frequency component of the beat signal. , The ratio of the amplitude of the high-frequency component passing through the high-pass filter to the amplitude of the low-frequency component passing through the low-pass filter, and the low-pass filter that receives the beat signal and passes the low-frequency component of the beat signal ( An amplitude ratio detection circuit for detecting a high frequency component / a low frequency component), and using the output from the distance calculation means having the amplitude ratio of a predetermined threshold value or more, the profile of the charge is obtained. A blast furnace charging profile meter characterized by the above.
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