JPH0653806A - Displacement detecting sensor - Google Patents
Displacement detecting sensorInfo
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- JPH0653806A JPH0653806A JP22500492A JP22500492A JPH0653806A JP H0653806 A JPH0653806 A JP H0653806A JP 22500492 A JP22500492 A JP 22500492A JP 22500492 A JP22500492 A JP 22500492A JP H0653806 A JPH0653806 A JP H0653806A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は被検出物体の接近による
変位を非接触で検知するための変位検出センサに関する
ものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a displacement detecting sensor for non-contact detection of displacement due to approach of an object to be detected.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来高周波発振型の近接スイッチでは発
振コイルを設けた発振回路を有し、一定周波数で発振さ
せており、金属体の接近により発振の振幅や周波数が変
化することに基づいて物体を検出するようにしている。
例えば図11に示す近接スイッチでは、発振回路101
に発振コイル102を設け一定の周波数で発振させてお
り、その出力は検波回路103に与えられる。検波回路
103ではその出力を検波して直流レベルの信号に変換
し、リニアライザ104によって直線化して距離に対応
した信号を得ている。そして比較回路105においてこ
の信号を使用者が設定した設定値で弁別することによっ
て、特定の距離までに物体が近接した場合に出力するよ
うにしている。2. Description of the Related Art A conventional high-frequency oscillation type proximity switch has an oscillation circuit provided with an oscillation coil and oscillates at a constant frequency. I am trying to detect.
For example, in the proximity switch shown in FIG. 11, the oscillation circuit 101
An oscillating coil 102 is provided to oscillate at a constant frequency, and its output is given to a detection circuit 103. The detection circuit 103 detects the output, converts it into a DC level signal, and linearizes it by a linearizer 104 to obtain a signal corresponding to the distance. Then, in the comparison circuit 105, this signal is discriminated based on the set value set by the user, so that the signal is output when the object comes close to a specific distance.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来の近接スイッチでは、物体の到来による発振コイ
ル102のコンダクタンスの変化よりも温度変化による
ものの方が大きい。従って温度による影響をなくすため
に、発振回路101の帰還回路部にサーミスタ等の温度
補償素子107を接続し、温度補償を行うようにしてい
る。しかし発振コイル102のコンダクタンスの温度特
性のばらつきや、サーミスタの定数のばらつきが影響す
るため、温度に対して高精度に補償された近接スイッチ
を得ることは難しいという欠点があった。In such a conventional proximity switch, however, the change in temperature is larger than the change in the conductance of the oscillation coil 102 due to the arrival of an object. Therefore, in order to eliminate the effect of temperature, a temperature compensating element 107 such as a thermistor is connected to the feedback circuit section of the oscillation circuit 101 to perform temperature compensation. However, variations in the conductance temperature characteristics of the oscillation coil 102 and variations in the thermistor constants have an effect, which makes it difficult to obtain a proximity switch that is highly accurately compensated for temperature.
【0004】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであって、発振コイルの温度特性のばら
つきやサーミスタの温度のばらつき等の影響がなく、高
精度で物体の変位を検知すると共に、その精度を表示す
ることができる変位センサを提供することを目的とす
る。The present invention has been made by paying attention to such a conventional problem, and is capable of accurately displacing an object without being affected by variations in the temperature characteristics of the oscillation coil and the thermistor. An object of the present invention is to provide a displacement sensor that can detect and display the accuracy.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、発振コイルを
有し該発振コイルへの被検出物体の接近によって発振周
波数が変化する第1の発振回路と、第1の発振回路の温
度の変化によって発振周波数が変化する第2の発振回路
と、第1,第2の発振回路の発振周波数を計数する第
1,第2の計数手段と、使用温度範囲での第1の発振回
路の各温度に対応した第2の計数手段より得られるべき
演算値を算出して第1の計数テーブルを生成し、使用温
度範囲での第1の発振回路の各温度に対応して第1,第
2の計数手段より得られる計数値を夫々第2,第3の計
数テーブルとして生成し、第2及び第3の計数テーブル
のデータを比例配分することによって第1のテーブルの
各温度での演算値に対応した第1の計数手段より得られ
るべき演算値を算出し、各演算値から第1の計数手段の
基準計数値NR を減算し、各温度での補正値ΔNの第4
の計数テーブルを算出することにより、得られた第1,
第4の計数テーブルを補正テーブルデータとする補正テ
ーブルメモリと、補正テーブルによって第2の計数手段
の計数値MT に対応する補正値ΔNを比例配分によって
算出する温度補正処理部と、温度補正処理部より得られ
る補正値ΔNと基準値NR とを加算する加算手段と、第
1の計数手段の計数値Nsから加算手段の加算値(ΔN
+NR )を減算する減算手段と、減算手段より得られる
距離データNdに基づいて基準位置NR からの絶対値の
レベルに対応した測定精度を表示する表示手段と、を具
備することを特徴とするものである。According to the present invention, there is provided a first oscillation circuit having an oscillation coil, the oscillation frequency of which changes when an object to be detected approaches the oscillation coil, and a temperature change of the first oscillation circuit. A second oscillating circuit whose oscillating frequency changes according to the first and second oscillating circuits, first and second counting means for counting the oscillating frequencies of the first and second oscillating circuits, and respective temperatures of the first oscillating circuit in the operating temperature range To calculate a calculation value to be obtained by the second counting means corresponding to the first counting table, and to generate the first counting table, and to generate the first counting table corresponding to each temperature of the first oscillation circuit in the operating temperature range. The count values obtained by the counting means are respectively generated as second and third count tables, and the data of the second and third count tables are proportionally distributed to correspond to the calculated values at each temperature of the first table. The calculated value to be obtained from the first counting means The reference count N R of the first counting means is subtracted from the arithmetic value, the fourth correction value ΔN at each temperature
By calculating the counting table of
A correction table memory that uses the fourth counting table as correction table data, a temperature correction processing unit that calculates a correction value ΔN corresponding to the count value M T of the second counting means by proportional distribution using the correction table, and a temperature correction process. Addition means for adding the correction value ΔN obtained from the section and the reference value N R, and the addition value (ΔN of the addition means from the count value Ns of the first counting means
+ N R ), and a display unit for displaying the measurement accuracy corresponding to the level of the absolute value from the reference position N R based on the distance data Nd obtained by the subtraction unit. To do.
【0006】[0006]
【作用】このような特徴を有する本願の請求項1,2の
発明によれば、第2の計数手段より得られるべき演算値
をまず演算によって算出して第1の計数テーブルを生成
している。そして第1の発振回路の温度を使用範囲内で
連続して変化させ、各温度に対応して第1,第2の計数
手段から得られる計数値を第2,第3の計数テーブルと
している。そして第2,第3の計数テーブルのデータの
比例配分によって、第1の計数テーブルの各温度での計
数値に対応した第1の計数手段より得られるべき演算値
を算出し、基準計数値NR を減算することによって補正
値ΔNの第4のテーブルを得ている。このΔNの第4の
計数テーブルと第1の計数テーブルとを補正テーブルデ
ータとして補正テーブルを生成している。そしてこの補
正テーブルを用い、第2の計数手段から得られる計数値
MT によりそのときの温度に対応した補正値ΔNを得て
いる。そして基準値NR と加算し第1の計数手段からの
計数値NS より減算することによって温度に依存しない
距離情報Ndを得ている。更にこのデータNdの出力に
基づいて基準位置からの変位に対応した変位検出センサ
の精度を判別して、その判別結果を表示手段によって表
示している。According to the inventions of claims 1 and 2 having the above characteristics, the first count table is generated by first calculating the calculation value to be obtained by the second counting means. . Then, the temperature of the first oscillation circuit is continuously changed within the use range, and the count values obtained from the first and second counting means corresponding to each temperature are used as second and third counting tables. Then, by calculating the proportional distribution of the data of the second and third counting tables, the calculated value to be obtained from the first counting means corresponding to the counted value at each temperature of the first counting table is calculated, and the reference count value N The fourth table of the correction value ΔN is obtained by subtracting R. A correction table is generated by using the fourth counting table of ΔN and the first counting table as correction table data. Then, using this correction table, the correction value ΔN corresponding to the temperature at that time is obtained from the count value M T obtained from the second counting means. Then, the distance information Nd that does not depend on the temperature is obtained by adding it to the reference value N R and subtracting it from the count value N S from the first counting means. Further, the accuracy of the displacement detection sensor corresponding to the displacement from the reference position is discriminated based on the output of this data Nd, and the discrimination result is displayed by the display means.
【0007】[0007]
【実施例】図1は本発明の一実施例による変位検出セン
サの全体構成を示すブロック図である。本図においてこ
の変位検出センサはセンサ部1とその他の電子回路部2
から構成される。センサ部1には図示のように発振コイ
ル3を有する第1の発振回路4と温度検出素子、例えば
サーミスタ5が設けられる。ここでセンサ部1はその前
面に発振コイル3を有しており、物体が近接したときに
物体までの距離によって発振周波数fS が変化するもの
とする。1 is a block diagram showing the overall construction of a displacement detecting sensor according to an embodiment of the present invention. In this figure, this displacement detection sensor is shown as a sensor unit 1 and other electronic circuit unit 2
Composed of. The sensor unit 1 is provided with a first oscillating circuit 4 having an oscillating coil 3 and a temperature detecting element such as a thermistor 5 as shown in the figure. Here, it is assumed that the sensor unit 1 has an oscillating coil 3 on its front surface, and that when the object approaches, the oscillating frequency f S changes depending on the distance to the object.
【0008】さて電子回路部2にはサーミスタ5を1つ
の抵抗とする第2のCR発振回路6が設けられている。
このCR発振回路6の発振周波数をfT とする。これら
の発振回路4及びCR発振回路6の出力は夫々分周回路
7,8に与えられる。分周回路7,8は夫々発振周波数
を1/Ks、1/Kt分周するもので、この分周値K
s,Ktは設定できるものとする。そして分周出力は夫
々カウンタ9及び10に与えられる。又電子回路部2内
には、一定の周波数、例えば10MHz及び4000Hzのクロ
ック周波数を有する基準クロック発振器11を有してお
り、夫々のクロック信号はカウンタ9及び10に与えら
れる。カウンタ9及び10は分周出力をゲート信号とし
てこの基準クロック発振器11のクロック数を計数する
カウンタであり、分周回路7,8及び基準クロック発振
器11と共に夫々第1,第2の計数手段を構成してい
る。ここでカウンタ9の計数値をNS とし、カウンタ1
0の計数値をNT とし、これらの出力はマイクロコンピ
ュータ12に与えられる。マイクロコンピュータ12に
は後述する補正用のテーブルである温度補正テーブルメ
モリ13,リニア補正テーブルメモリ14が接続され
る。これらのメモリ13,14は例えばE2 PROMに
よって構成される。マイクロコンピュータ12はこの温
度補正用テーブルによって温度補正処理を行い、変位デ
ータに変換すると共に、リニア補正テーブルによってこ
れを直線化する。そして設定部15によって設定された
位置データとの比較を行い、表示部16によって表示す
ると共に出力部17より出力するものである。The electronic circuit section 2 is provided with a second CR oscillator circuit 6 having the thermistor 5 as one resistance.
The oscillation frequency of the CR oscillation circuit 6 and f T. The outputs of the oscillator circuit 4 and the CR oscillator circuit 6 are given to the frequency dividing circuits 7 and 8, respectively. The frequency dividing circuits 7 and 8 divide the oscillation frequency by 1 / Ks and 1 / Kt, respectively.
s and Kt can be set. The frequency-divided outputs are given to the counters 9 and 10, respectively. Further, the electronic circuit section 2 has a reference clock oscillator 11 having a constant frequency, for example, a clock frequency of 10 MHz and 4000 Hz, and the respective clock signals are given to the counters 9 and 10. The counters 9 and 10 are counters for counting the number of clocks of the reference clock oscillator 11 by using the frequency-divided output as a gate signal, and constitute the first and second counting means together with the frequency dividing circuits 7 and 8 and the reference clock oscillator 11, respectively. is doing. Here, the count value of the counter 9 is set to N S , and the counter 1
The count value of 0 is N T, and these outputs are given to the microcomputer 12. The microcomputer 12 is connected to a temperature correction table memory 13 and a linear correction table memory 14, which are tables for correction described later. These memories 13 and 14 are composed of E 2 PROM, for example. The microcomputer 12 performs temperature correction processing using this temperature correction table, converts it into displacement data, and linearizes it using a linear correction table. Then, it is compared with the position data set by the setting unit 15, and is displayed on the display unit 16 and is output from the output unit 17.
【0009】次にマイクロコンピュータ12内の詳細な
機能ブロックについて図2を参照しつつ説明する。マイ
クロコンピュータ12内には、カウンタ10からの計数
値MT を補正する温度補正テーブルメモリ13に基づい
て、基準温度に対する現在の温度のパルス数での補正値
ΔNを算出する温度補正処理部21が設けられる。又パ
ルス数の基準値NR を出力する基準値出力部22が設け
られている。この基準値NR は本実施例では 25600とす
る。このΔNとパルス数の基準値NR とは加算手段23
に与えられる。加算手段23はこれらを加算するもので
あって、その出力は減算手段24に与えられる。減算手
段24はカウンタ9の計数値NS から加算値NR +ΔN
を減算するものであって、Nd(=NS −(NR +Δ
N))が算出される。そしてこのNdが変位情報として
変位算出処理部25に与えられる。変位算出処理部25
はこれを直線化するものであって、基準位置からの変位
情報±Δdが得られる。この変位情報は減算手段26及
び比較部27に与えられる。比較部27には後述するよ
うに、Δdが基準位置の所定の幅内か否かを判別するた
めの閾値が設定されており、この変位検出センサの精度
を判別するものである。そしてその判別出力は表示部1
6に与えられる。又設定部15には使用者が設定する基
準位置の位置情報がIN1として設定される。減算手段
26はこの±Δdの変位情報から設定部15で設定され
た設定値IN1を減算する減算手段である。こうすれば
設定位置からの変位情報に変換されることとなって、こ
の値が表示部16に表示される。又この設定位置からの
変位が入力値IN2と比較部28によって比較され、比
較出力が出力部17に与えられる。Next, detailed functional blocks in the microcomputer 12 will be described with reference to FIG. In the microcomputer 12, a temperature correction processing unit 21 that calculates a correction value ΔN in the number of pulses of the current temperature with respect to the reference temperature based on the temperature correction table memory 13 that corrects the count value M T from the counter 10. It is provided. A reference value output unit 22 that outputs a reference value N R of the number of pulses is provided. This reference value N R is set to 25600 in this embodiment. This ΔN and the reference value N R of the pulse number are added by the adding means 23.
Given to. The adding means 23 adds these, and the output thereof is given to the subtracting means 24. The subtracting means 24 calculates the addition value N R + ΔN from the count value N S of the counter 9.
For subtracting Nd (= N S − (N R + Δ
N)) is calculated. Then, this Nd is given to the displacement calculation processing unit 25 as displacement information. Displacement calculation processing unit 25
Is for linearizing this, and displacement information ± Δd from the reference position is obtained. This displacement information is given to the subtraction unit 26 and the comparison unit 27. As will be described later, a threshold value for determining whether or not Δd is within a predetermined width of the reference position is set in the comparison unit 27, and determines the accuracy of this displacement detection sensor. The discrimination output is displayed on the display unit 1.
Given to 6. Further, the position information of the reference position set by the user is set as IN1 in the setting unit 15. The subtracting means 26 is a subtracting means for subtracting the set value IN1 set by the setting unit 15 from the displacement information of ± Δd. By doing so, the displacement information from the set position is converted, and this value is displayed on the display unit 16. Further, the displacement from the set position is compared with the input value IN2 by the comparison unit 28, and the comparison output is given to the output unit 17.
【0010】次に温度補正処理部21での処理について
詳細に説明する。本実施例ではまずセンサ部1の温度
は、センサ部1内のサーミスタ5によって検出される。
CR発振回路6はサーミスタ5の抵抗Rに対応した発振
周波数で発振することとなる。従って発振周波数からセ
ンサ部1の温度情報を得ることができる。さてサーミス
タ5の任意の温度Tでの抵抗値Rは、次式によって定ま
る。 R=R0expB(1/T−1/T0 ) ・・・(1) T :任意の温度(°K) R :温度Tでの抵抗値 T0 :基準温度(°K) R0 :基準温度T0 における抵抗値 B :B定数Next, the processing in the temperature correction processing section 21 will be described in detail. In this embodiment, first, the temperature of the sensor unit 1 is detected by the thermistor 5 in the sensor unit 1.
The CR oscillation circuit 6 oscillates at an oscillation frequency corresponding to the resistance R of the thermistor 5. Therefore, the temperature information of the sensor unit 1 can be obtained from the oscillation frequency. Now, the resistance value R of the thermistor 5 at an arbitrary temperature T is determined by the following equation. R = R 0 expB (1 / T-1 / T 0 ) ... (1) T: arbitrary temperature (° K) R: resistance value at temperature T T 0 : reference temperature (° K) R 0 : Resistance value B at reference temperature T 0 : B constant
【0011】ここで温度補正処理に用いる温度補正テー
ブルの作成について説明する。CR発振回路6の発振周
波数はサーミスタ5の抵抗値R、即ち温度及び固有のB
定数によって変化する。本実施例ではサーミスタ5の個
別のデータ及び発振コイル3の固有のばらつきによるカ
ウンタ9の計数値をデータとして取込み、これに基づい
て補正を行っている。図3はこれらの個別の素子のデー
タに基づいて温度補正テーブル13を作成するための補
正テーブル生成装置30を示すブロック図である。本図
において図1と同一符号の各ブロックは図1と同一のも
のであって、各変位センサ毎に固有の発振コイル3,サ
ーミスタ5を有するセンサ部1自体を恒温槽31に入れ
る。恒温槽31の温度は制御部32によって制御されて
いる。そして所定の温度での発振周波数fS ,fT に夫
々対応したカウンタ9,10の計数値NS 及びNT を求
める。そしてカウンタ9,10からの出力をデータ書込
部33を介してデータメモリ34に書込む。データメモ
リ34はE2 PROMによって構成されている。The creation of the temperature correction table used in the temperature correction process will be described. The oscillation frequency of the CR oscillation circuit 6 is the resistance value R of the thermistor 5, that is, the temperature and the characteristic B.
It depends on the constant. In this embodiment, the individual data of the thermistor 5 and the count value of the counter 9 due to the peculiar variation of the oscillation coil 3 are fetched as data, and the correction is performed based on this. FIG. 3 is a block diagram showing a correction table generation device 30 for creating the temperature correction table 13 based on the data of these individual elements. In this figure, each block having the same reference numeral as in FIG. 1 is the same as that in FIG. 1, and the sensor unit 1 itself having the oscillation coil 3 and the thermistor 5 unique to each displacement sensor is placed in the constant temperature bath 31. The temperature of the constant temperature bath 31 is controlled by the controller 32. Then, the count values N S and N T of the counters 9 and 10 corresponding to the oscillation frequencies f S and f T at the predetermined temperature are obtained. Then, the outputs from the counters 9 and 10 are written in the data memory 34 via the data writing unit 33. The data memory 34 is composed of an E 2 PROM.
【0012】さて恒温槽31で正確に規定できる温度を
例えば−10℃及び+60℃とすると、MT テーブル算
出部35はこの温度での発振周波数からサーミスタ5の
抵抗値を算出し、これによってB定数を算出する。こう
すれば任意の温度でのサーミスタ5の抵抗値を計算によ
って求めることができる。[0012] Referring now to accurately temperature, for example -10 ° C. and + 60 ℃ definable in a thermostat 31, M T table calculating section 35 calculates the resistance value of the thermistor 5 from the oscillation frequency at this temperature, whereby B Calculate the constant. In this way, the resistance value of the thermistor 5 at an arbitrary temperature can be calculated.
【0013】次にこの変位センサが使用可能な全ての温
度、本実施例では−30℃〜78℃までの温度につい
て、例えば2℃刻みでのサーミスタの温度に対する抵抗
値を求める。そして各抵抗値からCR発振回路6の発振
周波数及びこの発振周波数に対応したカウンタ10の計
数値MT を計算によって算出する。そして各温度でのM
T 値をデータメモリ36内のMT テーブルエリアに書込
む。図4(a)はこうして演算によって求められたMT
値の変化を示す第1の計数テーブルである。ここでMT
テーブル算出部35は第2の計数手段から得られる各温
度での演算値を算出する第1の計数テーブル算出手段で
ある。Next, for all the temperatures at which this displacement sensor can be used, in this embodiment, from -30 ° C to 78 ° C, the resistance value with respect to the temperature of the thermistor in steps of 2 ° C is determined. Then, the oscillation frequency of the CR oscillation circuit 6 and the count value M T of the counter 10 corresponding to this oscillation frequency are calculated from each resistance value. And M at each temperature
The T value is written in the M T table area in the data memory 36. FIG. 4A shows the M T thus calculated.
It is a 1st counting table which shows the change of a value. Where M T
The table calculation unit 35 is a first counting table calculation unit that calculates a calculation value at each temperature obtained from the second counting unit.
【0014】さて図3に示すように恒温槽31にセンサ
部1を実際に入れて制御部32を動作させ、温度を変化
させる。図6は物体までの距離dに対するカウンタ9の
計数値NS の変化を示すグラフである。本図に示すよう
に物体までの距離dのうち検知領域を 100%として、そ
の1/2までの距離(50%)を基準距離dR としてい
る。この基準距離dR における基準温度、本実施例では
24℃のNS 値を基準値NR とする。NR は 25600パル
スとなるように設定する。例えば基準クロック発振器1
1の第1のクロック周波数が10MHzに設定されている
場合は、分周数Ksを変化させて分周回路7の出力パル
ス幅を2.56msとする。こうして得られた基準値NR を図
2に示す基準値出力部22から出力できるようにしてお
く。又この基準温度でのMT 値を例えば8000パルスとな
るように設定する。この場合には分周回路8の分周数K
T を変化させて出力パルス幅を2秒とし、基準クロック
発振器11の4000Hzの第2のクロック周波数を計数する
ことによって、8000のパルス数を得ている。Now, as shown in FIG. 3, the sensor unit 1 is actually put in the constant temperature bath 31 and the control unit 32 is operated to change the temperature. FIG. 6 is a graph showing changes in the count value N S of the counter 9 with respect to the distance d to the object. As shown in this figure, the detection area of the distance d to the object is 100%, and the distance (50%) to 1/2 of the detection area is the reference distance d R. The reference temperature at this reference distance d R, which is the N S value of 24 ° C. in this embodiment, is used as the reference value N R. Set N R to be 25,600 pulses. For example, reference clock oscillator 1
When the first clock frequency of 1 is set to 10 MHz, the frequency division number Ks is changed to set the output pulse width of the frequency division circuit 7 to 2.56 ms. The reference value N R thus obtained can be output from the reference value output unit 22 shown in FIG. Further, the M T value at this reference temperature is set to be 8000 pulses, for example. In this case, the frequency dividing number K of the frequency dividing circuit 8
By changing T to make the output pulse width 2 seconds and counting the second clock frequency of 4000 Hz of the reference clock oscillator 11, the number of pulses of 8000 is obtained.
【0015】そして恒温槽31にセンサ部1を入れた状
態で恒温槽31の温度を連続して変化させることによっ
て、−30℃〜78℃までの各温度で例えば2℃刻みで
MT値及びNS 値を得る。そしてこのデータを図5
(a)及び(b)に示すようにデータメモリ34に書込
む。尚このときの温度は厳密に規定しておらず、MT 値
に対するNS 値の関係を知るために用いられる。ここで
データ書込部33は発振回路3の使用範囲の各温度での
第1,第2の計数手段により得られる計数値NS ,MT
を、第2,第3の計数テーブルとして生成する第2の計
数テーブル生成手段を構成している。又こうして得られ
る図5(a)及び(b)のテーブルは第2,第3のテー
ブルとなっている。Then, by continuously changing the temperature of the thermostatic bath 31 with the sensor unit 1 placed in the thermostatic bath 31, the MT value and the M T value in steps of 2 ° C. at each temperature from −30 ° C. to 78 ° C. Get the N S value. And this data is shown in Figure 5.
Data is written in the data memory 34 as shown in (a) and (b). Note the temperature at this time is not strictly defined, is used to know the relationship N S values for M T values. Here, the data writing unit 33 uses the count values N S and M T obtained by the first and second counting means at each temperature in the operating range of the oscillator circuit 3.
To constitute a second counting table generating means. The tables of FIGS. 5A and 5B thus obtained are the second and third tables.
【0016】さてNS テーブル算出部37はこうして得
られた図5のMT 及びNS のテーブルと図4(a)に示
す計算で求めたMT のテーブルから、各温度でのNS 値
を算出し、データメモリ36に書込む。即ち図4(a)
のMT テーブルの各MT 値に対応してその前後のMT 値
を図5(a)のテーブルから捜し出す。そして比例演算
によって図4(a)の各MT 値に対応するNS 値を図4
(b)に示すように算出する。又ΔNテーブル算出部3
8はこうして求められた各温度でのNS 値と基準温度、
ここでは24℃でのNS 値(=NR =25600)との差から
ΔNを演算によって求め、これを図4(c)に示すΔN
テーブル(第4のテーブル)としてデータメモリ36に
書込む。ここでNS テーブル算出部37は図5(a),
(b)に示す計数テーブルのデータを比例配分すること
によって図4(a)のテーブルの各温度での演算値に対
応した第1の計数手段より得られるべき演算値を算出す
る第3の計数テーブル算出手段であり、NS テーブル算
出部38はこのテーブルから基準計数値NR を減算する
ことによって補正値ΔNの第4のテーブルを算出するΔ
Nテーブル算出手段を構成している。[0016] Now N S table calculating unit 37 from the table of M T obtained in thus obtained was calculated as shown in the table and figure M T and N S in FIG. 5 4 (a), N S value at each temperature Is calculated and written in the data memory 36. That is, FIG. 4 (a)
Corresponding to each M T value of the M T table of FIG. 5, the M T values before and after that are searched for from the table of FIG. Then, the N S value corresponding to each M T value in FIG.
It is calculated as shown in (b). Also, the ΔN table calculation unit 3
8 is the N S value at each temperature thus obtained and the reference temperature,
Here, ΔN is calculated from the difference from the N S value (= N R = 25600) at 24 ° C., which is shown in FIG. 4 (c).
The data is written in the data memory 36 as a table (fourth table). Here, the N S table calculation unit 37 is shown in FIG.
A third count for calculating the calculated value to be obtained by the first counting means corresponding to the calculated value at each temperature in the table of FIG. 4A by proportionally distributing the data of the counting table shown in FIG. 4B. The N S table calculating unit 38, which is a table calculating means, calculates a fourth table of the correction value ΔN by subtracting the reference count value N R from this table Δ
It constitutes N table calculation means.
【0017】こうして図4(a),(c)に示すように
各温度でのMT に対応したΔN値を書込んだ一対のテー
ブルを、図1,2に示す温度補正テーブルメモリ13の
E2PROMにデータを転送して温度補正テーブルとし
て用いる。尚ここでは図4(b)に示すように一旦各温
度に対応したNS 値を求めてテーブルを形成し、この値
から所定の基準値NR を減算して、図4(c)に示すΔ
Nのテーブルを生成するようにしているが、比例配分の
後、直接ΔNのテーブルを生成するようにしてもよいこ
とはいうまでもない。Thus, as shown in FIGS. 4 (a) and 4 (c), a pair of tables in which the ΔN values corresponding to M T at each temperature are written are stored in E of the temperature correction table memory 13 shown in FIGS. 2 Data is transferred to PROM and used as a temperature correction table. Note here forms a table for the N S value once corresponding to each temperature, as shown in FIG. 4 (b), by subtracting a predetermined reference value N R from this value, shown in FIG. 4 (c) Δ
Although the N table is generated, it goes without saying that the ΔN table may be directly generated after the proportional distribution.
【0018】図6において曲線Aは基準温度での距離d
に対するNS 値の変化を示すグラフであり、この曲線は
特定のあらかじめ多数の変位センサからのデータによっ
て求めた曲線をそのまま用いるものとする。そしてこの
基準温度より高い温度では距離dに対するパルス数NS
は例えば曲線Bに示すように変化し、低温では曲線Cに
示すように変化する。このためΔNをNS から減算する
ことによって基準値からの差Ndを算出し、曲線Aに変
換して修正されたパルス数Ndに基づいて距離のデータ
を得るようにしている。In FIG. 6, the curve A is the distance d at the reference temperature.
Is a graph showing the change of the N S value with respect to, and the curve obtained by using data from a large number of specific displacement sensors is used as it is. Then, at a temperature higher than the reference temperature, the number of pulses N S with respect to the distance d
Changes as shown by the curve B, and changes as shown by the curve C at low temperatures. Therefore, the difference Nd from the reference value is calculated by subtracting ΔN from N S , and converted to the curve A to obtain the distance data based on the corrected pulse number Nd.
【0019】ここで曲線B,Cは温度に対応して上下に
シフトするが、いずれも曲線Aに平行であるものとして
ΔNを算出している。しかし図6に示すように基準距離
dRでは正確にΔNが算出できるが、基準距離dR から
離れればこれらの曲線が平行でないため誤差が徐々に大
きくなっていく。従って基準距離dR の前後の所定幅、
例えば図7にハッチングで示すように、基準距離dR の
前後では補正誤差が少なく、この基準距離dR から離れ
るに従って誤差の範囲が大きくなっていく。比較部27
はΔdの値により、例えば40%〜60%の範囲を高精度領
域(FINE領域)、0〜40%及び60〜100 %の範囲を
中精度領域(ROUGH領域)とし、 100%以上のとこ
ろを動作はしても低精度な領域(NG領域)として判別
している。Here, the curves B and C shift up and down according to the temperature, but ΔN is calculated assuming that they are both parallel to the curve A. However, as shown in FIG. 6, ΔN can be accurately calculated at the reference distance d R , but if the distance is far from the reference distance d R, these curves are not parallel and the error gradually increases. Therefore, a predetermined width before and after the reference distance d R ,
For example, as shown by hatching in FIG. 7, less correction error before and after the reference distance d R, the range of error becomes larger as the distance from the reference distance d R. Comparison unit 27
Depending on the value of Δd, for example, the range of 40% to 60% is the high precision region (FINE region), the range of 0 to 40% and 60 to 100% is the medium precision region (ROUGH region), and 100% or more is Even if the operation is performed, it is determined as a low-precision area (NG area).
【0020】図8は距離dに対する温度補正されたパル
ス数Ndの変化を示すグラフである。このグラフは複数
の変位センサのデータに基づいて得られた規定の曲線を
用いて、これにあてはめることによって距離情報dを得
るものとする。そしてNdの256が1%の変化とし、こ
の距離に応じたデータを図9に示すようにリニア補正テ
ーブル14内に保持しておく。この補正テーブルは、例
えば曲線の傾きが小さい部分では 0.5%単位で距離デー
タd10,d11・・・が順次テーブルT1に記録されてい
る。又基準距離dR より距離が近い部分では図示のよう
にテーブルT2,テーブルT3,T4・・・により順次
距離が記録されている。実際の基準距離dR からの距離
Δdは次式(2)によって求まる。FIG. 8 is a graph showing changes in the number Nd of temperature-corrected pulses with respect to the distance d. This graph uses a prescribed curve obtained based on the data of a plurality of displacement sensors, and by fitting this to the distance information d. Then, 256 of Nd is changed by 1%, and data corresponding to this distance is held in the linear correction table 14 as shown in FIG. In this correction table, for example, in a portion where the curve has a small inclination, distance data d 10 , d 11, ... Are sequentially recorded in the table T1 in 0.5% units. Further, in the portion where the distance is shorter than the reference distance d R , the distance is sequentially recorded by the table T2, the tables T3, T4, ... The distance Δd from the actual reference distance d R is obtained by the following equation (2).
【数1】 ここでPは基準位置からのデータ数である。式(2)の
第1項はnが0〜P−1までの変位の総和であり、第2
項はその変位内でのパルス数Ndに対する距離の比例配
分値を示している。[Equation 1] Here, P is the number of data from the reference position. The first term of the equation (2) is the sum of displacements when n is 0 to P-1,
The term indicates the proportional distribution value of the distance with respect to the pulse number Nd within the displacement.
【0021】こうして得られた±Δdの値と設定部15
で設定された値IN2とを比較部28によって比較す
る。そしてユーザが設定した位置との関係によって物体
までの検知信号を出力している。The value of ± Δd thus obtained and the setting unit 15
The comparison unit 28 compares the value IN2 set in step 1. Then, the detection signal up to the object is output according to the relationship with the position set by the user.
【0022】次に本実施例の動作について説明する。ま
ず変位検出センサのセンサ部1を物体までの測定領域に
配置する。そして発振コイル3に物体が接近した場合に
は、その物体までの距離dに対応した発振周波数fS で
発振回路4が発振することとなる。又このときの温度に
対応した発振周波数fT でCR発振回路6が発振する。
従ってその温度に対応したカウンタ10の計数値MT が
求められる。このMTを図4(a),(c)に示す温度
補正テーブルメモリ13によって補正し、ΔNの比例配
分値を得ることによってセンサ部1のこの温度でのΔN
が得られる。こうしてΔNとNR とを加算手段23によ
って加算し、減算手段24でNS との差を求めることに
よって、温度や各変位センサの素子に依存しない距離d
だけに対応したパルス数Ndが得られる。そしてこの値
を図8,図9に示すように変換テーブルに基づいて変換
することによって、直線化された位置情報Δdが得られ
る。このΔdは変位センサに固有の基準値dR からの変
位を示しているため、設定部15によってユーザが設定
した位置IN1からの変位に変換する。そしてこの値を
表示部16によって表示すると共に、ユーザの基準位置
からの変位を比較部28によって比較し、所定変位まで
の距離に対する出力を得るようにしている。Next, the operation of this embodiment will be described. First, the sensor unit 1 of the displacement detection sensor is arranged in the measurement area up to the object. When an object approaches the oscillating coil 3, the oscillating circuit 4 oscillates at the oscillating frequency f S corresponding to the distance d to the object. Further, the CR oscillation circuit 6 oscillates at the oscillation frequency f T corresponding to the temperature at this time.
Therefore, the count value M T of the counter 10 corresponding to the temperature is obtained. Figure 4 The M T (a), corrected by the temperature correction table memory 13 shown in (c), ΔN at the temperature of the sensor unit 1 by obtaining a proportional distribution values of .DELTA.N
Is obtained. In this way, ΔN and N R are added by the adding means 23, and the subtracting means 24 obtains the difference from N S to obtain a distance d that does not depend on the temperature or the element of each displacement sensor.
The pulse number Nd corresponding to Then, by converting this value based on the conversion table as shown in FIGS. 8 and 9, the linearized position information Δd can be obtained. Since this Δd indicates the displacement from the reference value d R specific to the displacement sensor, it is converted into the displacement from the position IN1 set by the user by the setting unit 15. Then, this value is displayed on the display unit 16 and the displacement from the user's reference position is compared by the comparison unit 28 to obtain an output for the distance to the predetermined displacement.
【0023】そしてΔdの範囲によって比較部27によ
り前述したように「FINE」,「ROUGH」,「N
G」の領域判別を行い、表示部16によって同様に表示
している。Then, depending on the range of Δd, "FINE", "ROUGH", "N" are inputted by the comparison unit 27 as described above.
The area of “G” is discriminated, and the same is displayed on the display unit 16.
【0024】図10(a)は使用者が設定した基準位置
IN1からの変位がIN2を越えているか否かによっ
て、図示のような一対の出力OUT1,OUT2を出力
するようにしたものである。この場合には比較部28は
IN1からの変位の絶対値がIN2を越えているかどう
かを識別する。又図10(b)に示すように基準位置I
N1、及びこれより遠い位置IN2を設定し、これによ
って一対の出力OUT1,OUT2を出力するようにし
てもよい。FIG. 10A shows a pair of outputs OUT1 and OUT2 as shown in the figure depending on whether the displacement from the reference position IN1 set by the user exceeds IN2. In this case, the comparison unit 28 identifies whether or not the absolute value of the displacement from IN1 exceeds IN2. Further, as shown in FIG. 10B, the reference position I
N1 and the position IN2 farther from this may be set, and a pair of outputs OUT1 and OUT2 may be output accordingly.
【0025】尚本実施例では第2の発振回路に接続され
る温度センサとしてサーミスタを用いているが、サーミ
スタに限らず種々の温度センサを用いることができるこ
とはいうまでもない。In this embodiment, the thermistor is used as the temperature sensor connected to the second oscillation circuit, but it goes without saying that various temperature sensors can be used instead of the thermistor.
【0026】又本実施例では比較部によって測定誤差の
精度を段階的に表示するようにしているが、Δdの絶対
値によって表示誤差のレベルをより詳細に表示すること
ができることはいうまでもない。又本実施例では変位算
出処理部25の出力に基づいて精度を判別するようにし
ているが、これを直線化する前のNdの値に基づいて精
度を判別することも可能である。Further, in this embodiment, the accuracy of the measurement error is displayed stepwise by the comparison unit, but it goes without saying that the level of the display error can be displayed in more detail by the absolute value of Δd. . Further, in the present embodiment, the accuracy is determined based on the output of the displacement calculation processing unit 25, but it is also possible to determine the accuracy based on the value of Nd before linearization.
【0027】[0027]
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、温度の補償を各変位センサに固有の温度検出手段と
発振コイルの温度に対する変化を含めた補正テーブルメ
モリを作成し、このデータに基づいて補正を行ってい
る。従って発振コイルや温度センサのばらつきによる温
度補償の誤差がなく、正確に物体の変位を測定すること
ができる。そしてこの誤差の範囲を判定し表示するた
め、その位置での表示がどの程度の誤差かを正確に認識
することができるという効果が得られる。As described above in detail, according to the present invention, a compensation table memory including temperature compensation means unique to each displacement sensor and a variation with respect to the temperature of the oscillating coil is prepared for temperature compensation, and this data is stored in the compensation table memory. Is corrected based on. Therefore, there is no temperature compensation error due to variations in the oscillation coil and the temperature sensor, and the displacement of the object can be accurately measured. Since the range of this error is determined and displayed, there is an effect that it is possible to accurately recognize how much error is displayed at that position.
【図1】本発明の一実施例による変位検出センサの全体
構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of a displacement detection sensor according to an embodiment of the present invention.
【図2】本実施例のマイクロコンピュータの機能ブロッ
クを示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing functional blocks of a microcomputer of this embodiment.
【図3】本実施例による補正テーブルメモリ13を作成
するための補正テーブル生成装置の構成を示すブロック
図である。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a correction table generation device for creating a correction table memory 13 according to the present embodiment.
【図4】(a)は本実施例によって演算に求めたMT テ
ーブル、(b)はこれに対応するパルス数Nd、(c)
は補正値ΔNを示すテーブルである。4A is an M T table obtained by calculation according to the present embodiment, FIG. 4B is a pulse number Nd corresponding thereto, and FIG.
Is a table showing the correction value ΔN.
【図5】(a)はこの変位検出センサの使用温度範囲で
の恒温槽にセンサ部を挿入したときに得られる各温度で
のMT 値を示すテーブル、(b)はその場合のNT 値を
示すテーブルである。5 (a) is a table showing the M T values at each temperature obtained when inserting the sensor unit in a thermostat at temperature range of the displacement detection sensor, (b) is in that case N T It is a table showing a value.
【図6】本実施例の距離に対するパルス数NS の変化を
示すグラフである。FIG. 6 is a graph showing changes in the number of pulses N S with respect to the distance in this example.
【図7】物体までの距離に対する測定誤差及び誤差範囲
の表示を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a display of a measurement error and an error range with respect to a distance to an object.
【図8】本実施例の距離dに対する温度補償されたNd
値の変化を示すグラフである。FIG. 8 is a temperature-compensated Nd with respect to the distance d in the present embodiment.
It is a graph which shows change of a value.
【図9】本実施例のNdに対するリニアライズするため
の変換テーブルを示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a conversion table for linearizing Nd in the present embodiment.
【図10】本実施例の距離に対する出力の対応を示す図
である。FIG. 10 is a diagram showing a correspondence of output with respect to distance in the present embodiment.
【図11】従来の高周波発振型近接スイッチの構成を示
すブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing a configuration of a conventional high frequency oscillation type proximity switch.
1 センサ部 2 電子回路部 3 発振コイル 4 発振回路 5 サーミスタ 6 CR発振回路 7,8 分周回路 9,10 カウンタ 11 基準クロック発振器 12 マイクロコンピュータ 13 温度補正テーブルメモリ 14 リニア補正テーブルメモリ 15 設定部 16 表示部 17 出力部 21 温度補正処理部 22 加算手段 23 基準値出力部 24,26 減算手段 25 変位算出処理部 27,28 比較部 30 補正テーブル生成装置 31 恒温槽 32 制御部 33 データ書込部 34,36 データメモリ 35 MT テーブル算出部 37 NS テーブル算出部 38 ΔNテーブル算出部1 Sensor Section 2 Electronic Circuit Section 3 Oscillation Coil 4 Oscillation Circuit 5 Thermistor 6 CR Oscillation Circuit 7, 8 Frequency Division Circuit 9, 10 Counter 11 Reference Clock Oscillator 12 Microcomputer 13 Temperature Correction Table Memory 14 Linear Correction Table Memory 15 Setting Section 16 Display unit 17 Output unit 21 Temperature correction processing unit 22 Addition unit 23 Reference value output unit 24, 26 Subtraction unit 25 Displacement calculation processing unit 27, 28 Comparison unit 30 Correction table generating device 31 Constant temperature bath 32 Control unit 33 Data writing unit 34 , 36 data memory 35 M T table calculation unit 37 N S table calculation unit 38 ΔN table calculation unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小形 昭光 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Akimitsu Ogata 10 Odoroncho, Hanazono Doudocho, Ukyo-ku, Kyoto City, Kyoto Prefecture
Claims (2)
出物体の接近によって発振周波数が変化する第1の発振
回路と、 前記第1の発振回路の温度の変化によって発振周波数が
変化する第2の発振回路と、 前記第1,第2の発振回路の発振周波数を計数する第
1,第2の計数手段と、 使用温度範囲での前記第1の発振回路の各温度に対応し
た前記第2の計数手段より得られるべき演算値を算出し
て第1の計数テーブルを生成し、使用温度範囲での前記
第1の発振回路の各温度に対応して前記第1,第2の計
数手段より得られる計数値を夫々第2,第3の計数テー
ブルとして生成し、前記第2及び第3の計数テーブルの
データを比例配分することによって前記第1のテーブル
の各温度での演算値に対応した前記第1の計数手段より
得られるべき演算値を算出し、各演算値から前記第1の
計数手段の基準計数値NR を減算し、各温度での補正値
ΔNの第4の計数テーブルを算出することにより、得ら
れた前記第1,第4の計数テーブルを補正テーブルデー
タとする補正テーブルメモリと、 前記補正テーブルによって前記第2の計数手段の計数値
MT に対応する補正値ΔNを比例配分によって算出する
温度補正処理部と、 前記温度補正処理部より得られる補正値ΔNと基準値N
R とを加算する加算手段と、 前記第1の計数手段の計数値Nsから前記加算手段の加
算値(ΔN+NR )を減算する減算手段と、 前記減算手段より得られる距離データNdに基づいて基
準位置NR からの絶対値のレベルに対応した測定精度を
表示する表示手段と、を具備することを特徴とする変位
検出センサ。1. A first oscillating circuit which has an oscillating coil and whose oscillating frequency changes when an object to be detected approaches the oscillating coil; and an oscillating frequency which changes due to a temperature change of the first oscillating circuit. A second oscillating circuit, first and second counting means for counting oscillating frequencies of the first and second oscillating circuits, and the first oscillating circuit corresponding to each temperature of the first oscillating circuit in a working temperature range. The first counting table is generated by calculating the calculation value to be obtained by the second counting means, and the first and second counting means are associated with each temperature of the first oscillation circuit in the operating temperature range. The obtained count values are respectively generated as second and third count tables, and the data of the second and third count tables are proportionally distributed to correspond to the calculated values at each temperature of the first table. Should be obtained from the first counting means The calculated value is calculated, the reference count value N R of the first counting means is subtracted from each calculated value, and the fourth count table of the correction value ΔN at each temperature is calculated to obtain the first count value. A correction table memory that uses the first and fourth counting tables as correction table data; and a temperature correction processing unit that calculates a correction value ΔN corresponding to the count value M T of the second counting means by proportional distribution using the correction table. , The correction value ΔN and the reference value N obtained from the temperature correction processing unit
R and R , subtraction means for subtracting the addition value (ΔN + N R ) of the addition means from the count value Ns of the first counting means, and a reference based on the distance data Nd obtained by the subtraction means. A displacement detection sensor, comprising: a display unit that displays the measurement accuracy corresponding to the level of the absolute value from the position N R.
記発振コイルから物体までの距離dに対して直線化する
変位算出処理部を有し、 前記表示手段は、 前記変位算出処理部より得られる変位データが変位の基
準位置の前後の所定幅内かその範囲外によって変位検出
の精度を判別する比較部と、 前記比較手段の出力を表示する表示部と、を具備するこ
とを特徴とする変位検出センサ。2. A displacement calculation processing unit that linearizes an output Nd obtained by the subtraction unit with respect to a distance d from the oscillation coil to an object, and the display unit is obtained by the displacement calculation processing unit. A displacement comprising: a comparison unit that determines the accuracy of displacement detection depending on whether displacement data is within a predetermined width before or after a reference position of displacement or outside the range; and a display unit that displays an output of the comparison unit. Detection sensor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22500492A JPH0653806A (en) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Displacement detecting sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22500492A JPH0653806A (en) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Displacement detecting sensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0653806A true JPH0653806A (en) | 1994-02-25 |
Family
ID=16822576
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22500492A Pending JPH0653806A (en) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Displacement detecting sensor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0653806A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109560803A (en) * | 2017-09-25 | 2019-04-02 | 欧姆龙株式会社 | Proximity sensor |
JP2019062269A (en) * | 2017-09-25 | 2019-04-18 | オムロン株式会社 | Method for manufacturing proximity sensor and system for manufacturing proximity sensor |
-
1992
- 1992-07-31 JP JP22500492A patent/JPH0653806A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109560803A (en) * | 2017-09-25 | 2019-04-02 | 欧姆龙株式会社 | Proximity sensor |
JP2019062268A (en) * | 2017-09-25 | 2019-04-18 | オムロン株式会社 | Proximity sensor |
JP2019062269A (en) * | 2017-09-25 | 2019-04-18 | オムロン株式会社 | Method for manufacturing proximity sensor and system for manufacturing proximity sensor |
CN109560803B (en) * | 2017-09-25 | 2023-01-17 | 欧姆龙株式会社 | Proximity sensor |
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