JPH06505800A - デジタル ガンマ線画像化装置 - Google Patents

デジタル ガンマ線画像化装置

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JPH06505800A
JPH06505800A JP4507024A JP50702492A JPH06505800A JP H06505800 A JPH06505800 A JP H06505800A JP 4507024 A JP4507024 A JP 4507024A JP 50702492 A JP50702492 A JP 50702492A JP H06505800 A JPH06505800 A JP H06505800A
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gamma radiation
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JP4507024A
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English (en)
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バッサレック,ベルンド
ハートショーン,ミシェル,エフ.
ケルシイ,チャールズ,エイ.
メットレル,フレデリック,エイ.
ウオルフェ,デイビット,エム.
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ザ ユニバーシテイ オブ ニュー メキシコ
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 デジタル ガンマ線画像化装置 l肌グ豊皇至亘 本発明は、ガンマ線画像化に関し、そして更に詳細には、検出されたガンマ線を 改良された処理をすることにより、対象体の、高められた画像を得る配置に関す る。
診断の目的で、ヒトのような対象体を照射する技術は、多く存在する。典型的に は、これらには、通常、xm照射、ガンマ線照射、核磁気共鳴画像(MHI)或 いはCTスキャンニングの使用がある。そのような配置の1つは、米国特許第4 ,571,494号に記載され、X線或いはガンマ放射線を検出するために、S i、Ge、CdTe、Hgl、或いはGaAsのような半導体材料からなる各々 の検出器要素の配置を用いる。この半導体検出器要素は、アーク状に配置される 。この放射線は、コリメータにより、その長さ方向での各検出器要素上に入射す るように構成される。即ち、ホール或いはスリットを有する放射線吸収体は、検 出器要素と放射線源の間に配置される。この配置は、検出器要素を、入射放射線 に対して本質的に等しい感度になるようにできる。
上記のような、半導体検出器を含む配置においては、画像情報が、別々に読み出 される。アンガーカメラのような(米国特許第4.672,207号参照)他の ものにおいて、入射され、平行にされた放射線は、多数の光学管により観察され る。Nal結晶中の電子へ入射ガンマ線を変換することにより生成された光は、 多くの光学管により観察される。情報のアナログ特性により、過去のシステムで は、5〜6mmのFWHMの典型的な空間解像力が得られる。約3mmのFWH Mの解像力が報告されている。
上記の配置での他の問題点は、エネルギー解像力に、見掛は上10%の限界があ ることである。これにより、画像のぼけを生じるバックグラウンド・ノイズが生 じる。核医学としては、ガンマ線が、対象体内の放射線源から発せられる場合、 そのような放射線が、対象体中に存在すると、コンプトン散乱が行なわれ得る。
ガンマ線干渉は、周知のもので、例えば、”旧gh Energy Parti cles”(ブルーノ ロッジ著、ブレンチス ホール、1952年)に説明さ れる。これらの散乱ガンマ線は、元の値より少ないエネルギーでコリメータ中に 入る。上記のような配置のNal結晶の可能なエネルギー解像能力においては、 全エネルギーのものから、このような低いエネルギー飲乱ガンマ線を分離するこ とは不可能である。この散乱されたガンマ線は、所望のものよりも多くの数のフ ォトンに相当し、そして、対象体中の元の位置に無関係に、又は強調しないので 、解像力に限界がある。
及乳Ω迷整 本発明は、空間的及びエネルギーの解像力を基本的に改良することにより、改良 された検出効率を供するものである。これは、コンプトン散乱効果を本質的に消 滅させ、そして、反応の信号処理を、光電(7オトエレクトリツク)現象にのみ 制限することにより行なわれる。効果において、画像に貢献しないフォトンを消 滅させる。従って、特に、核医学において、低減された放射線量で素早く患者を 走査することが可能になる。本発明に従って、1m nlより良好な空間解像力 と、約2%以下のエネルギー解像力が達成される。
本発明に従って、例えば、非散乱のガンマ放射線に対するエネルギー・レベルの ような規定の光電現象に相当する予め決めた時間内或いは時計サイクル内で、閾 値レベルに達しない場合、画像信号が消滅する単純な信号処理配置を通して、こ れらの改良された結果が得られる。
置皿0!畢l駕コ 同じ数字は、各々の同様の部分を代表するように、図面を参照して、説明される 。
第1.2図は、本発明の具体例に従うガンマ線画像システムの説明のブロック図 である。
第3図は、第1.2図の具体例を説明する波形図である。
第4図は、本発明の他の具体例に従ったガンマ線画像システムの説明図を示す。
及呪0圧坦l翌囚 第1図に示されるように、ヒト患者の身体のような対象体11は、体内に存在し 、コリメータ15に入るガンマ放射線源13を植え込まれている。コリメータ1 5は、周知の適する設計のものであり、ガンマ放射線が、所望の方法で、以下の ように、コリメータを通過し、2次元検出器アレイ或いはマトリックス17に向 かうことを可能にするホール或いはスリットを有する。
検出器アレイ或いはマトリックス17は、好適には、長方形成いは正方形であり 、そして、ピクセル(画素)の比較的に多数の検出器要素よりなり、例えば、正 方形アレイの各個上に256個のピクセルよりなる。例示の目的において、アレ イ17の1行が、第1図に示され、ピクセル(画素)19a、19b1.19n を有する参照数字19として識別される。コリメータに面している各ピクセル1 9a等の表面領域は、各ピクセル間に約0.2mmの間隔で、約1mm正方形で ある。各ピクセルは、好適には、横断面は正方形であるが、同様に他の断面形を 有してもよい。
各ビクセル19a等は、好適には、高い原子数を有する半導体材料から本質的に 製造され、例えば、不動態形態のHg I s或いはCdTeのような30を超 える原子数の半導体材料である。植え込まれたイオンを有するHgCdTeのよ うなp形材料の混合物もまた使用できる。また、GaAs及びPbSも適する。
純Geも使用できるが、比較できる検出効率を有するために、入射放射線の方向 での長さ寸法を持たなければならない。Geは、他の材料での最良のエネルギー 解像力を供することができる。各ピクセルは、周知の方法で、例えば、前記の米 国特許第4,571,494号に記載のような方法で構成できる。各ピクセルの 好適な軸長さは、約0.5〜約2.0mmであり得るが、一方、正確な長さは、 臨界的でない、Geに対して、約10mmの長さを使用することができる。各ピ クセルの断面積は、約1平方mmである。
ガンマ放射線が、コリメータ15中を通過すべき所望の方法は、好適には、ピク セル19a、19b1..19nのものと同じ断面形状と寸法を有する複数のホ ール或いはスリ・y)15a、15b1..15nを供することにより、達成さ れる。コリメータは、好適には、平方ホールパターンを有するpbにより製造さ れ(ピクセルの断面が平方形である場合)、その中心は、約1゜2mmの中心距 離になる。これは、1平方mmのピクセル断面積に相当し、約9.2mmのピク セルの隣接端の間の壁厚1au1は距離を有する。第1図に示されるように、コ リメータ15のホール或いはスリットの各々は、各ピクセルの軸に平行に、その 孔を有するように配置され、それにより、ガンマ放射線が、コリメータにより抑 制され、ピクセルの軸に平行の方向に、各ピクセル上に衝突するようにされる。
適する周知の設計のCCD或いは他の多重器21は、アレイ17の各行19a等 のピクセルと、適当な周知な方法で、結合され、それにより、ガンマ放射線の光 電効果により各ピクセルに蓄積された電荷が、それ自体の各々のCCD21a、 21b、、、21nに、読み出しのために供される。その読み出しは、第2図に 示されるように、平行に、行対行で行なわれ、アレイ17中のピクセルの複数の 行19−1.19−21..19−iが例示されている。各CCD装置は、アレ イの各要素中で検出された全電荷を記憶上そして、その電荷は、多重器21によ り回収され、各行の端にあるui衝器或いは他の適当な周知の記憶装置23−1 .23−2.23−nに移され、また、そこから、各行での比較器27−1.2 7−21..27−iで処理される。
CCD多重器の時計サイクル或いは速度は、・・・電荷が、1つの位置から、次 の位置に或いは究極的には緩衝器に移動される速度は・・・、十分に早くしなけ ればならず、それにより、時計サイクル中テ、2つのフォトンが1つのピクセル に入る可能性は小さいものにする。時計サイクルは、約1メガヘルツ・・・1マ イクロ秒の時間といえる。好運なことに、核医学への適用におし1て、7才トン 光束は、十分に低く、それにより、この基準を満足するようにできる。従って、 本発明により、各CCDに回収された電荷の全量は、7オトンのエネルギーに正 規に比例して(するものである。
各行のCCDにより回収され、aSS中に多重化された電荷は、適当な周知の設 計の線形増幅@25により増幅され、適当な周知の設計の比較器或いは閾値識別 器27に供される。93図、グラフaを参照して、行19−1での各CCDに対 する電荷レベルを示すパルスを、比較器に供し、更に、行19−2のCCD1こ 対して、電荷レベルを示すパルスにより、グラフCに示されるように、行なわれ 、更に、続けられる。
グラフa、Cでの点線29は、電荷レベルが達する或I/1は超えなければなら ない閾値を示す。このレベルは、コンプトン散乱に相当する電荷或いはエネルギ ー・レベルの上になるように選択され、従って、光電現象のエネルギーを伴う、 即ち、全7オトンを伴う電荷レベルのほぼ少し下になる。a値しベルの上及び下 の電荷レベルの変化は、通常、まったく小さく、それは、高11時計)(ルス速 度が、)オトン活性を少ない範囲の変化に限定し、コンプトン散乱に対するバル クは、まったく低いレベルから、閾値レベルに近いレベルにまであるためである 。
比較器或いは閾値識別器27は、光電現象のための電荷レベル、例えば、コンプ トン敵乱或いは他の低いエネルギーレベルに相当するエネルギーより低いエネル ギーを示すパルス或いは電荷レベルを消滅させる。従って、グラフaに示す、比 較器に入力された行19−1についての10個のCCD電荷レベル或いはパルス に対して、グラフbに示すように、閾値レベル29を超える第1、第5、第6、 及び第9の入力パルスに相当するパルスのみが、比較器による出力として形成さ れる。
行19−1と同様な方法により、グラフCの、閾値レベル29を超えるアレイ1 7の行19−2に対する電荷レベルのみを、比較I!27による出力として通過 させる。従って、グラフdで示されるように、行19−2では、第2、第4、第 7、第9及び第10の電荷レベル或いはパルスだけが出力される。
各行に対しての電荷レベルの順次の読み出しにおいて、比較器27は、その行の 各CCDに相当する光電エネルギー関連の電荷レベルのデジタル計数を供する。
本発明に従って、順次の読み出しは、材料に依存して、約10秒〜約10分以上 の範囲である短い時間に、行なう。アレイ17の数個の行は、各時計サイクルの 端で平行に、好適に、読み出される。これは、適する周知の設計の信号処理器或 いはコンピュータ31により行ない得る。従って、アレイ17は、256個の行 を有し、時計時間が、1マイクロ秒である場合、行は、約256マイクロ秒毎に 読み出されるためのサイクルにできる。従って、読み出し時間にわたり、即ち、 4分或いは5分にわたり、多くの画像情報は回収できる。
数分間にわたる電荷レベルに対しての計数に関して、比較器の蓄積された読み出 し出力は、アレイ17の行19−1に対しては、第3図のグラフeに示され、そ してアレイ17の行19−2に対しては、第3図のグラフfに示される。各CC Dに対する計数された光trJl象を示す数が低い程、画像が明るくなる。従っ て、本発明によるこの配置は、全エネルギーの、非、散乱のフォトンのみを、対 象体11の画像を再溝築するために使用できる#ことが分かる。
第1図に示されるように、比較1127の出力は、メモリー33中に記憶できる 。第2図に示されるように、アレイの各行に相当する数個の比較器の出力を、メ モリ一部材を備える信号処理Wk31に供し、次に、適当な周知の方法で、ディ スプレイのためのCRT35及びプリンタ37に供給する。
本発明の他の具体例に従って、第4図に示されるように、第1〜3図に関連して 前記に説明したディスクリートなビクセルを、用いた半導体アレイ或いはマトリ ックス17の代わりに、第1の複数の水平或いはX−軸の半導体ストリップ検出 器43及び該ストリップ43に重なる第2の複数の垂直或いはy−輪生導体スト リップ検出9S45を備える半導体マトリックス41を使用できる。このストリ ップは、ゲルマニウム或いは他の適する半導体材料で作られ得る。各ストリップ は、約1mm幅で、0.2mmの距離をとって分離され、各水平及び垂直のスト リップの各交差部においては、約1平方mmの横断点を備える。このストリップ は、例えば、D、 Gutknechtにより説明される方法により、即ち、[ 物理的研究での核装置及び方法] :Nuclear Instruments  and Methods in Physics Re5earch、 A2 88巻(1990)、 pp13−isに説明される方法:適する周知の方法で 製造できる。
第4図に示されるマトリックスに関しては、CCD或いは他の多重器は必要でな い。適する周知の構成の増幅器47及び比較器27は、第4図に示されるように 、各垂直な及び水平なストリップのために使用でき、マトリックス41のための 電子的処理の経路或いはチャンネルの全数は、水平のストリップの数十垂直スト リップの数に等しいものである。
操作において、画像を示す放射線パターンに対して、マトリックス41の露出の 各時間で、パルス或いは電圧は、1つの水平のストリップ及び垂直のストリップ に存在するか或いは存在しないものである。各水平ストリップ及び垂直ストリッ プからのパルス出力は、適する周知の構成の予備増幅?#47に供給され得、そ して、第1〜3図に関して説明されるような比較器27に供給される。第3図に 関して予め説明されるようなエネルギー閾値要件を満足するために、パルスは、 第3図での点線29により示される値を超えなければならない。各比較S27か らの信号は、次に、処理するため及びプリントアウトするため或いはディスプレ イのために、適する周知の構成の信号処理器或いはデータ処理器33に供給され る。
本発明の方法及び装置は、ヒト身体に関して説明したが、放射線が通過する如何 なる目標物にも、或いは、放射線を生じる目標物にも適用できる。例えば、本発 明は、防護溶接部を通しての放射線漏れを検出することに適用できる。
FIG、2 FIG、4 国際調査報告 フロントベージの続き (72)発明者 ケルシイ、チャールズ、エイ。
アメリカ合衆国、ニューメキシコ州。
87111、アルバカ−キイ、エヌ イー、カミノ リール 3116 (72)発明者 メットレル、フレデリック、エイ。
アメリカ合衆国、ニューメキシコ州。
87104 、アルバカ−キイ、エヌ、ダブリュ、、ラ マンチャ 3004 (72)発明者 ウオルフェ、ディビット、エム。
アメリカ合衆国、ニューメキシコ州。
87107 、アルバカ−キイ、エヌ、ダブリュ、、エルフェゴ ロード 25 16

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.放射線源からのガンマ線が通過する対象体の選択された画像信号を形成する 方法において、 a)固定時間中の逐次の各固定時間内で、ガンマ放射線により衝突された複数の 位置に対して、画像化されるべきガンマ放射線のエネルギー・レベルに相当する 電荷レベルを検出し、その電荷レベルは、検出できる反応を生じるに十分なもの であり、b)各固定時間内に、検出できる反応を生じるに十分な電荷レベルの中 から、予め決めた閾値レベルを超える各位置における電荷レベルのみを計数し、 その予め決めた閾値レベルは、コンプトン散乱を伴うエネルギー・レベルより少 なくとも高いエネルギーレベルに相当する光電現象の電荷レベルにほぼ等しいも のであり、 c)その固定時間で逐次に計数した電荷を、加え、対象体の像を示す選択された 信号を供し、それにより、それが、前記の固定時間の1単位の内で、閾値に達し ない場合、計数されない電荷レベル及びこのように所望でない像信号を消去する ことを特徴とする前記の画像信号の形成方法。
  2. 2.ガンマ放射線源は、対数体内にあることを特徴とする請求項1に記載の方法 。
  3. 3.各位置がガンマ放射線で衝突される方向は、各位置及びその直接隣接する位 置を示す面に本質的に垂直であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  4. 4.対象体は、ヒトである請求項2に記載の方法。
  5. 5.位置は、2次元マトリックスを形成する多数の行列に配置される請求項1に 記載の方法。
  6. 6.放射線源からのガンマ放射線が通過する対象体の選択された画像信号を供す る装置において、 a)固定時間中の逐次の各固定時間内で、ガンマ放射線により衝突された複数の 位置に対して、画像化されるべきガンマ放射線のエネルギー・レベルに相当する 電荷レベルを検出する手段を有し、 b)各回定時間内において、検出できる反応を生じるに十分な電荷レベルの中か ら、予め決めた閾値レベルを超える各位置における電荷レベルのみを計数する手 段を有し、その予め決めた閾値レベルは、コンプトン散乱を伴うエネルギー・レ ベルより少なくとも高いエネルギー・レベルに相当する光電現象の電荷レベルに ほぼ等しいものであり、 c)その固定時間中に逐次に計数した電荷を、加える手段を有し、対象体の像を 示す選択された信号を供し;それにより、それが、前記の固定時間の1単位内に 、閾値に達しない場合、不要の電荷レベル及びこのように所望でない像信号を、 電荷計数しないことにより、消去することを特徴とする前記の画像信号の形成装 置。
  7. 7.各位置において、半導体材料のピクセルを有し、該ピクセルは、2次元マト リックスを形成する多数の行列に配置されていることを特徴とする請求項6に記 載の装置。
  8. 8.前記の検出手段は、更に、ガンマ放射線をコリメートする手段を備え、ピク セルにより決められる面に本質的に垂直である方向から各ピクセルに衝突し、少 なくとも、マトリックス中の直接隣接する1つのピクセルに衝突するようにする ことを特徴とする請求項6に記載の装置。
  9. 9.更に、d)信号として、固定時間の逐次経過の間に、計数された電荷レベル を処理し、対象体の画像を構成するための基礎を供する手段を有する請求項8に 記載の装置。
  10. 10.固定時間の逐次経過の間は、ほぼ10秒乃至ほぼ10分の範囲内である請 求項9に記載の装置。
  11. 11.各ピクセル中の半導体材料は、30を超える原子数を有することを特徴と する請求項10に記載の装置。
  12. 12.各ピクセル中の半導体材料は、不動態形態のHgI■、CdTe、植え込 まれたイオンを有するHgCdTe、GaAsPbS及び純Geを含む材料の群 から選択される材料である請求項8に記載の装置。
JP4507024A 1991-02-11 1992-02-06 デジタル ガンマ線画像化装置 Pending JPH06505800A (ja)

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