JPH064677A - Recognition judgement device - Google Patents

Recognition judgement device

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JPH064677A
JPH064677A JP4159841A JP15984192A JPH064677A JP H064677 A JPH064677 A JP H064677A JP 4159841 A JP4159841 A JP 4159841A JP 15984192 A JP15984192 A JP 15984192A JP H064677 A JPH064677 A JP H064677A
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JP
Japan
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category
threshold
feature vector
comparator
recognition
Prior art date
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Pending
Application number
JP4159841A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeo Sakagami
茂生 阪上
Susumu Maruno
進 丸野
Koji Yamamoto
浩司 山本
泰治 〆木
Taiji Shimeki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a recognition judgement device where time required for calculating an output category is short for an input feature vector and a parameter can automatically be optimized. CONSTITUTION:At the time of outputting the category to which a twodimensional input feature vector (x, y) belongs, a first threshold comparator outputs the selection signal of a second threshold comparator when a feature element (x) is smaller than a threshold t1, and outputs the selection signal of a second attribute memory B when the feature element (x) is more than the threshold t1. The threshold comparator where the selection signal coincides with the value of the peculiar selection signal or an attribute memory executes the processing of a next stage, and the threshold comparator outputs one of the two selection signals in the same way as the operation of the first threshold comparator. The attribute memory outputs the category and recognizes and outputs the category to which the input feature vector belongs by repeating the comparison of the sizes. Thus, the time required for the calculation of the output category is shortened since the output category can be obtained only by the comparison of the sizes.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、入力された画像、音
声、センサ信号などに対して、物体、音韻、状況などを
認識するための認識判断装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a recognition / judgment device for recognizing an object, a phoneme, a situation, etc. with respect to an input image, voice, sensor signal or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の従来の認識判断装置としては、
例えば特公昭63-55106あるいは米国特許第4,326,259号
に示されている。図17は、同特許に示されている従来
の認識判断装置の一部を構成するパターン種類分類装置
のブロック図である。図17に示されるように、従来の
パターン種類分類装置では、入力される1つのパターン
の信号コードであるベクトルS1, S2, ・・・・, Sj, ・・・・,
SNは、組立体1, 2, ・・・・, i, ・・・・ , Mに共通に与えら
れ、各々の組立体iは図18に示される構造を持ってい
る。図18に示される従来のパターン種類分類装置の組
立体iにおいては、入力ベクトルS1, S2, ・・・・, Sj, ・・・
・, SNの信号が重み付け段Ai1, Ai2, ・・・・, Aij, ・・・・,
AiNのマトリクスへ印加されている。重み付け段を構成
する結合素子Aijは信号Sjに伝達関数Aijを掛け、加算器
iは重み付け段の出力を加算し、中間出力Pi'を発生す
る。加算器iの出力Pi'はλiと示された段へ与えられ、
このλユニットにおいて、加算器iの出力にある選択さ
れた係数を乗ずる。この乗算結果はθpiと示されたその
次の段へ与えられる。θpi段はλ段の出力がある選択さ
れたレベルに等しいか或いはそれより大きい場合に出力
信号Piを発生する。θpi段の出力は制御素子へ禁止入力
として与えられ、制御素子はθpi段の出力が生じない時
に加算器iの出力Pi'を結合素子へフィードバックするよ
うに構成される。フィードバックされたPi'をもとに、
結合素子の伝達関数Aijは(数1)に示されるアルゴリ
ズムに基づいて修正される。
2. Description of the Related Art As a conventional recognition / judgment device of this type,
For example, it is shown in JP-B-63-55106 or U.S. Pat. No. 4,326,259. FIG. 17 is a block diagram of a pattern type classification device forming a part of the conventional recognition determination device shown in the same patent. As shown in FIG. 17, in the conventional pattern type classification device, vectors S 1 , S 2 , ..., S j ,.
S N is commonly given to the assemblies 1, 2, ..., I, ..., M, and each assembly i has the structure shown in FIG. In the assembly i of the conventional pattern type classification device shown in FIG. 18, input vectors S 1 , S 2 , ..., S j ,.
.. , the signals of S N are weighting stages A i1 , A i2 , ..., A ij , ...,
It is applied to the matrix of A iN . The coupling element A ij forming the weighting stage is obtained by multiplying the signal S j by the transfer function A ij
i adds the outputs of the weighting stages to produce an intermediate output P i '. The output P i 'of adder i is fed to the stage labeled λ i ,
In this λ unit, the output of adder i is multiplied by some selected coefficient. The result of this multiplication is applied to the next stage, denoted θ pi . The θ pi stage produces an output signal P i when the output of the λ stage is equal to or greater than some selected level. The output of the θ pi stage is provided to the control element as an inhibit input, and the control element is configured to feed back the output P i 'of the adder i to the coupling element when the output of the θ pi stage does not occur. Based on the feedback P i ',
The transfer function A ij of the coupling element is modified based on the algorithm shown in ( Equation 1).

【0003】[0003]

【数1】Aij(t) = Aij(t-1) + δAij(t) ただし、δAijは(数2)のように表される。[ Formula 1] A ij (t) = A ij (t-1) + δA ij (t) However, δA ij is expressed as in (Formula 2).

【0004】[0004]

【数2】δAij(t) = ηPi'Sj 学習の初期においては、伝達関数Aijはランダムな値を
とり、種類kに属する第1の入力パターンSk(1)に対し
て、前記(数1)及び(数2)に示した修正アルゴリズ
ムによって組立体i(i = 1, 2, ・・・・ , M)の重みAijが修
正される。その繰り返しによって組立体の1つにおいて
λ段の出力が閾値θpi以上となり、出力Piを生ずるよう
になる。
[Equation 2] δA ij (t) = ηP i 'S j In the initial stage of learning, the transfer function A ij takes a random value, and for the first input pattern S k (1) belonging to the type k, The weights A ij of the assembly i (i = 1, 2, ..., M) are corrected by the correction algorithms shown in (Equation 1) and (Equation 2). The repetition causes the output of the λ stage in one of the assemblies to be greater than or equal to the threshold θ pi , producing the output P i .

【0005】従来の認識判断装置は、このようなパター
ン種類分類装置と図19に示されるパターン種類認識装
置との従属接続によって構成される。パターン種類分類
装置の出力するPiは、パターン種類認識装置の種類kに
相当する多入力オア回路へ与えられ、出力信号rkが発生
される。
The conventional recognition judging device is constituted by a subordinate connection of such a pattern type classifying device and the pattern type recognizing device shown in FIG. P i output from the pattern type classification device is applied to a multi-input OR circuit corresponding to the type k of the pattern type recognition device, and an output signal r k is generated.

【0006】以上の動作によって、種類kに属する第1の
入力パターンSk(1)に対して、出力信号rkが発生され
る。同様に、任意の種類に属する任意の入力パターンに
対して、その種類に相当する出力信号が発生されるよう
になっている。
By the above operation, the output signal r k is generated for the first input pattern S k (1) belonging to the type k. Similarly, for any input pattern belonging to any type, an output signal corresponding to that type is generated.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以上の
ような構成では、入力ベクトルS1, S2,・・・・, Sj,・・・・,S
Nの信号が、すべての組立体i(1, 2, ・・・・, M)の結合素
子Ai1, Ai2, ・・・・, Aij,・・・・, AiNに印加され、それぞ
れ伝達関数を掛けているため、出力信号rkの算出に要す
る時間が長いという課題がある。
However, in the above configuration, the input vectors S 1 , S 2 , ..., S j ,.
N signals are applied to the coupling elements A i1 , A i2 , ..., A ij , ..., A iN of all the assemblies i (1, 2, ... Since they are respectively multiplied by the transfer function, there is a problem that it takes a long time to calculate the output signal r k .

【0008】また従来の認識判断装置の性能は、(数
2)における変数ηや、λユニットにおいて加算器の出
力に乗ずる係数や、θpi段における閾値に依存する。し
たがって、これらのパラメータの最適化のために、試行
錯誤を要するという課題がある。
Further, the performance of the conventional recognition judgment apparatus depends on the variable η in (Equation 2), the coefficient by which the output of the adder is multiplied in the λ unit, and the threshold value in the θ pi stage. Therefore, there is a problem that trial and error are required for optimizing these parameters.

【0009】本発明は、このような従来の認識判断装置
の課題に鑑み、出力信号の算出に要する時間が短く、パ
ラメータの最適化のための試行錯誤が不必要な認識判断
装置を提供することを目的とする。
In view of the above problems of the conventional recognition / judgment apparatus, the present invention provides a recognition / judgment apparatus in which the time required for calculating an output signal is short and trial and error for parameter optimization are unnecessary. With the goal.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】第1の本発明は、入力さ
れた特徴ベクトルの1つの要素と閾値との大小によって
次段の閾値比較器もしくは属性メモリを選択するM個の
閾値比較器と、入力された特徴ベクトルに対するカテゴ
リを出力するN個の属性メモリとを備えた認識判断装置
である。
The first aspect of the present invention is to provide a threshold comparator of the next stage or M threshold comparators for selecting an attribute memory according to the magnitude of one element of the input feature vector and the threshold. , A recognition determination device including N attribute memories that output categories for input feature vectors.

【0011】第2の本発明は、入力された特徴ベクトル
の1つの要素と閾値との大小によって次段の閾値比較器
もしくは属性メモリを選択するM個の閾値比較器と、入
力された特徴ベクトルに対するカテゴリを出力するN個
の属性メモリと、学習時に属性メモリが出力するカテゴ
リと与えられた教師カテゴリとが一致しないときにカテ
ゴリ不一致信号を出力する手段と、学習時に前記カテゴ
リ不一致信号に応じて前記閾値比較器が選択する次段の
閾値比較器もしくは属性メモリを変更する手段を備えた
認識判断装置である。
The second aspect of the present invention is to provide M threshold comparators for selecting a threshold comparator or an attribute memory at the next stage according to the magnitude of one element of the inputted feature vector and the threshold, and the inputted feature vector. To N attribute memories that output categories for, and a means for outputting a category mismatch signal when the categories output by the attribute memory do not match the given teacher category during learning, and in accordance with the category mismatch signals during learning. The recognition judgment device is provided with means for changing the threshold comparator of the next stage selected by the threshold comparator or the attribute memory.

【0012】[0012]

【作用】上記第1の本発明の構成によれば、特徴ベクト
ルは、まず第1の閾値比較器に入力され、第1の閾値比較
器は、特徴ベクトルの特定の要素と特定の閾値との大小
関係に応じて、次段の閾値比較器または属性メモリの選
択信号を出力する。第2から第Mの閾値比較器はそれぞれ
固有の選択信号を記憶しており、第1の閾値比較器が出
力した選択信号と固有の選択信号とが一致すれば、特徴
ベクトルの特定の要素と特定の閾値との大小関係に応じ
て、次段の閾値比較器または属性メモリの選択信号を出
力する。このような動作をN個の属性メモリのいずれか
が選択されるまで繰り返す。N個の属性メモリは、それ
ぞれ固有の選択信号を記憶しており、最終段の閾値比較
器が出力した選択信号が固有の選択信号と一致すれば、
それぞれが記憶しているカテゴリ信号を出力する。以上
のように、第1の発明は、入力された特徴ベクトルの要
素との大小比較の繰り返しによって、特徴ベクトルの属
するカテゴリを出力するもので、カテゴリの算出におい
て、伝達関数の算出等の演算を要しないので、短い時間
で出力カテゴリ信号を得ることができる。
According to the structure of the first aspect of the present invention, the feature vector is first input to the first threshold value comparator, and the first threshold value comparator compares the specific element of the feature vector with the specific threshold value. Depending on the magnitude relation, a threshold comparator of the next stage or a selection signal of the attribute memory is output. The second to Mth threshold comparators each store a unique selection signal, and if the selection signal output by the first threshold comparator and the unique selection signal match, then a specific element of the feature vector A selection signal for the threshold comparator of the next stage or the attribute memory is output according to the magnitude relation with a specific threshold. Such an operation is repeated until one of the N attribute memories is selected. Each of the N attribute memories stores a unique selection signal, and if the selection signal output from the threshold comparator at the final stage matches the unique selection signal,
The category signals stored in each are output. As described above, the first invention outputs the category to which the feature vector belongs by repeating the magnitude comparison with the elements of the input feature vector, and in the category calculation, calculations such as transfer function calculation are performed. Since it is not necessary, the output category signal can be obtained in a short time.

【0013】上記第2の本発明の学習動作は、入力され
た特徴ベクトルが属するカテゴリを算出する認識動作
と、認識動作によって得られたカテゴリと教師カテゴリ
とが一致しない場合に、閾値比較器が選択する次段の閾
値比較器もしくは属性メモリを変更する更新動作とから
なる。認識動作においては、閾値比較器によって入力さ
れた特徴ベクトルの要素との大小比較を繰り返し、属性
メモリが選択されると、その属性メモリ記憶しているカ
テゴリとして、特徴ベクトルの属するカテゴリを得る。
更新動作は、認識動作において選択された属性メモリの
カテゴリと教師カテゴリとを比較することから始まる。
認識動作で得られたカテゴリと教師カテゴリとが一致し
ない場合には、未使用の閾値比較器の1つを選択するよ
うに最終段の閾値比較器の選択信号を変更し、その未使
用の閾値比較器が認識動作で選択された属性メモリと未
使用の属性メモリの1つとを選択するようにその選択信
号を設定し、その未使用の属性メモリのカテゴリを教師
カテゴリに設定する。これによって、入力された特徴ベ
クトルに対して選択される属性メモリのカテゴリが、入
力された教師カテゴリに一致するようになる。以上のよ
うに、第2の発明によれば、その学習動作によって、入
力される特徴ベクトルと教師カテゴリに一致するカテゴ
リが出力されるように、閾値比較器の出力する選択信号
を更新することができ、パラメータの最適化が不必要と
なる。
The learning operation of the second aspect of the present invention is such that when the recognition operation for calculating the category to which the input feature vector belongs and the category obtained by the recognition operation and the teacher category do not match, the threshold comparator It consists of a threshold comparator in the next stage to be selected or an update operation for changing the attribute memory. In the recognition operation, the magnitude comparison with the elements of the feature vector input by the threshold comparator is repeated, and when the attribute memory is selected, the category to which the feature vector belongs is obtained as the category stored in the attribute memory.
The update operation starts by comparing the attribute memory category selected in the recognition operation with the teacher category.
If the category obtained by the recognition operation and the teacher category do not match, change the selection signal of the final threshold comparator so that one of the unused threshold comparators is selected. The comparator sets its selection signal so as to select the attribute memory selected in the recognition operation and one of the unused attribute memories, and sets the category of the unused attribute memory as the teacher category. As a result, the category of the attribute memory selected for the input feature vector matches the input teacher category. As described above, according to the second aspect of the present invention, the learning operation can update the selection signal output from the threshold comparator so that the category that matches the input feature vector and the teacher category is output. Yes, optimization of parameters is unnecessary.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1は、第1の本発明の一実施例の認識判
断装置の構成図である。本実施例の認識判断装置は、M
個の閾値比較器とN個の属性メモリによって構成され
る。図1において、特徴ベクトルの入力端子7は閾値比
較器1, 2, 3に接続され、その閾値比較器1,2,3の出力
は、属性メモリ4, 5, 6に入力されており、さらに、そ
の結果はカテゴリの出力端子8から出力されるようにな
っている。
FIG. 1 is a block diagram of a recognition judgment apparatus according to an embodiment of the first invention. The recognition determination device of this embodiment is M
It consists of threshold comparators and N attribute memories. In FIG. 1, the feature vector input terminal 7 is connected to threshold comparators 1, 2, and 3, and the outputs of the threshold comparators 1, 2, and 3 are input to attribute memories 4, 5, and 6. , The result is to be output from the category output terminal 8.

【0016】図2は、本実施例の認識判断装置の動作を
表すPAD図(Problem Analysis Diagram)である。図
1、図2を参照しながら、本実施例の動作の概要を説明
する。
FIG. 2 is a PAD diagram (Problem Analysis Diagram) showing the operation of the recognition determining apparatus of this embodiment. An outline of the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS.

【0017】端子7から入力された特徴ベクトル(S1,
S2, ・・・・ , Sd, ・・・・ , SD)は、第1の閾値比較器1に入
力される。第1の閾値比較器1は、特徴ベクトルの特定の
要素と特定の閾値との大小関係に応じて、次段の閾値比
較器または属性メモリの選択信号を出力する。第2から
第Mの閾値比較器はそれぞれ固有の選択信号を記憶して
おり、第1の閾値比較器1が出力した選択信号と固有の選
択信号とが一致すれば、特徴ベクトルの特定の要素と特
定の閾値との大小関係に応じて、次段の閾値比較器また
は属性メモリの選択信号を出力する。このような動作を
N個の属性メモリのいずれかが選択されるまで繰り返
す。N個の属性メモリは、それぞれ固有の選択信号を記
憶しており、最終段の閾値比較器が出力した選択信号が
固有の選択信号と一致すれば、それぞれが記憶している
カテゴリ信号を、端子8から出力する。
The feature vector (S 1 ,
S 2, ····, S d, ····, S D) is inputted to the first threshold comparator 1. The first threshold value comparator 1 outputs a selection signal of the threshold value comparator or the attribute memory at the next stage according to the magnitude relation between the specific element of the feature vector and the specific threshold value. The second to Mth threshold comparators each store a unique selection signal, and if the selection signal output by the first threshold comparator 1 and the unique selection signal match, a specific element of the feature vector According to the magnitude relationship between the threshold value and a specific threshold value, a threshold comparator of the next stage or an attribute memory selection signal is output. Such behavior
Repeat until one of the N attribute memories is selected. Each of the N attribute memories stores a unique selection signal.If the selection signal output from the threshold comparator at the final stage matches the unique selection signal, the category signal stored in each of them is changed to the terminal. Output from 8.

【0018】以上のように、本実施例は入力された特徴
ベクトルの要素との大小比較の繰り返しによって、特徴
ベクトルの属するカテゴリを出力する。以下に、本実施
例の動作を実現する上記閾値比較器1,2,3および属性メ
モリ4,5,6の構成を示し、その動作を詳細に説明する。
As described above, this embodiment outputs the category to which the feature vector belongs by repeating the magnitude comparison with the input elements of the feature vector. The configurations of the threshold value comparators 1, 2, 3 and the attribute memories 4, 5, 6 for realizing the operation of the present embodiment are shown below, and the operation thereof will be described in detail.

【0019】図3は、前述した動作を実現する本実施例
における閾値比較器の構成図である。図3において、選
択信号の記憶手段9と選択信号の入力端子15、比較器10
の入力端子に接続され、特徴ベクトルの入力端子16は、
特徴要素選択手段11に接続され、その特徴要素選択手段
11と閾値記憶手段12が比較器13に接続されている。ま
た、比較器10、13は、次段の閾値比較器または属性メモ
リの選択手段14に接続され、選択手段14は、選択信号の
出力端子17に接続されている。
FIG. 3 is a block diagram of a threshold value comparator in the present embodiment which realizes the above-mentioned operation. In FIG. 3, a selection signal storage unit 9, a selection signal input terminal 15, and a comparator 10 are provided.
Is connected to the input terminal of and the input terminal 16 of the feature vector is
Connected to the characteristic element selecting means 11, the characteristic element selecting means
11 and the threshold value storage means 12 are connected to the comparator 13. Further, the comparators 10 and 13 are connected to the selection means 14 of the threshold comparator or attribute memory at the next stage, and the selection means 14 is connected to the output terminal 17 of the selection signal.

【0020】この選択信号の記憶手段9は、それぞれの
閾値比較器に固有の選択信号を記憶している。また、比
較器10は、端子15に入力される選択信号と記憶手段9に
記憶している固有の選択信号とが一致すると、次段の閾
値比較器または属性メモリの選択手段14に出力可能信号
を出力する。特徴要素選択手段11は、特徴ベクトル入力
端子16から入力される特徴ベクトル(S1, S2, ・・・・ ,
Sd, ・・・・ , SD)から特定の次元の要素Sdを選択する。特
徴要素選択手段11が選択する次元dは、それぞれの閾値
比較器ごとに特定の値である。閾値記憶手段12は、選択
された特徴ベクトルの要素と比較すべき閾値の値を記憶
している。比較器13は、入力された特徴ベクトルの特定
の要素と、閾値との大小関係を表す信号を、次段の閾値
比較器または属性メモリの選択手段14に出力する。次段
の閾値比較器または属性メモリの選択手段14は、2つの
閾値比較器または属性メモリの選択信号を記憶してお
り、特徴ベクトルの特定の要素が閾値よりも小さいとき
には、第1の選択信号を出力し、逆に特徴ベクトルの特
定の要素が閾値以上の時には第2の選択信号を出力す
る。このようにして閾値比較器が出力する選択信号に、
固有の選択信号が等しい閾値比較器もしくは属性メモリ
が、次段の処理を行う。
The selection signal storage means 9 stores a selection signal unique to each threshold value comparator. Further, the comparator 10 outputs a signal that can be output to the threshold comparator of the next stage or the selection means 14 of the attribute memory when the selection signal input to the terminal 15 and the unique selection signal stored in the storage means 9 match. Is output. The feature element selection means 11 is configured to include feature vectors (S 1 , S 2 , ...,
S d, · · · ·, selecting an element S d of a specific dimension from S D). The dimension d selected by the characteristic element selection means 11 is a specific value for each threshold value comparator. The threshold storage unit 12 stores a threshold value to be compared with the selected feature vector element. The comparator 13 outputs a signal indicating the magnitude relationship between the specific element of the input feature vector and the threshold value to the threshold value comparator at the next stage or the selection means 14 of the attribute memory. The threshold comparator or attribute memory selection unit 14 in the next stage stores two threshold comparator or attribute memory selection signals, and when a specific element of the feature vector is smaller than the threshold value, the first selection signal. When the specific element of the feature vector is equal to or more than the threshold value, the second selection signal is output. In this way, the selection signal output by the threshold comparator is
The threshold comparator or the attribute memory having the same unique selection signal performs the next process.

【0021】図4は、前述した動作を実現する本実施例
における属性メモリの構成図である。図4において、選
択信号の記憶手段18と選択信号の入力端子21とは、比較
器19に接続され、比較器19は、カテゴリ記憶手段20に接
続され、カテゴリ出力端子22に接続されている。選択信
号の記憶手段18は、それぞれの属性メモリに固有の選択
信号を記憶している。比較器19は入力端子21から入力さ
れる選択信号と、記憶手段18が記憶している選択信号と
が一致すれば、カテゴリ記憶手段20に出力可能信号を出
力する。カテゴリ記憶手段20は、比較器19から出力可能
信号を受けると、端子22からカテゴリを表す信号を出力
する。
FIG. 4 is a block diagram of the attribute memory in this embodiment which realizes the above-mentioned operation. In FIG. 4, the selection signal storage means 18 and the selection signal input terminal 21 are connected to a comparator 19, which is connected to the category storage means 20 and to the category output terminal 22. The selection signal storage means 18 stores a selection signal unique to each attribute memory. The comparator 19 outputs the output enable signal to the category storage means 20 when the selection signal input from the input terminal 21 and the selection signal stored in the storage means 18 match. Upon receiving the output enable signal from the comparator 19, the category storage means 20 outputs a signal indicating the category from the terminal 22.

【0022】以下に、本実施例の認識判断装置の動作を
具体例を用いて説明する。図5は、2次元の特徴ベクト
ルが3つのカテゴリ"A", "B", "C"のうち、いずれに
属するかを認識する本実施例の認識判断装置の動作の例
を示す。図5では、入力される特徴ベクトルを(x, y)で
表し、入力される特徴ベクトルの要素は、それぞれ(数
3)に示す範囲に制限されているものとする。
The operation of the recognition / judgment device of this embodiment will be described below with reference to a specific example. FIG. 5 shows an example of the operation of the recognition determination apparatus of this embodiment for recognizing which of the three categories “A”, “B”, and “C” the two-dimensional feature vector belongs to. In FIG. 5, the input feature vector is represented by (x, y), and the elements of the input feature vector are limited to the ranges shown in (Equation 3).

【0023】[0023]

【数3】0 ≦ x < x0 0 ≦ y < y0 図5の認識判断装置の動作の例では、(a)に示すよう
に、(数4)、(数5)、(数6)のように特徴ベクト
ルの属するカテゴリを認識する。
[Expression 3] 0 ≤ x <x 0 0 ≤ y <y 0 In the example of the operation of the recognition determination apparatus in FIG. 5, as shown in (a), (Expression 4), (Expression 5), (Expression 6) The category to which the feature vector belongs is recognized as follows.

【0024】[0024]

【数4】 0 ≦ x < t1 かつ 0 ≦ y < t2 の時、カテゴリ"C"[Equation 4] When 0 ≤ x <t 1 and 0 ≤ y <t 2 , category "C"

【0025】[0025]

【数5】 0 ≦ x < t1 かつ t2 ≦ y < y0 の時、カテゴリ"A"[Formula 5] When 0 ≤ x <t 1 and t 2 ≤ y <y 0 , category "A"

【0026】[0026]

【数6】t1 ≦ x < x0 の時、カテゴリ"B" 図5(b)は、(数4)、(数5)、(数6)で示した認
識を行う本実施例の認識判断装置の閾値比較器が比較す
る特徴ベクトルの要素および閾値、次段の閾値比較器ま
たは属性メモリの選択信号、および属性メモリが記憶し
ているカテゴリを示している。本実施例の認識判断装置
においては、特徴ベクトルが入力されると、最初に第1
の閾値比較器が選択される。図5(b)に示したように、
第1の閾値比較器1の特徴要素選択手段11は特徴ベクトル
の要素xを選択し、閾値記憶手段12は閾値t1を記憶して
いる。第1の閾値比較器1の比較器13は、要素xと閾値t1
とを比較する。第1の閾値比較器1の次段の閾値比較器2
または属性メモリの選択手段14は、x < t1 の時は第2
の閾値比較器2の選択信号を出力し、逆に x ≧ t1 の時
は第2の属性メモリの選択信号を出力する。第2の属性メ
モリはカテゴリ"B"を示す信号を出力するので、(数
6)に示した認識が可能である。x < t1 の時に選択さ
れる第2の閾値比較器2は、特徴ベクトルの要素yと閾値t
2とを比較し、y <t2 の時には、第3の属性メモリの選
択信号を出力し、逆に y ≧ t2 の時には、第1の属性メ
モリの選択信号を出力する。第3の属性メモリがカテゴ
リ"C"を表す信号を出力し、第1の属性メモリがカテゴ
リ"A"を表す信号を出力することによって、(数4)お
よび(数5)に示した認識ができる。
When t 1 ≦ x <x 0 , category “B” FIG. 5B shows the recognition of the present embodiment which performs the recognition shown in (Expression 4), (Expression 5), and (Expression 6). The elements of the feature vector and the threshold value to be compared by the threshold value comparator of the determination device, the selection signal of the threshold value comparator of the next stage or the attribute memory, and the category stored in the attribute memory are shown. In the recognition determining apparatus of the present embodiment, when a feature vector is input, first the first
Threshold comparator is selected. As shown in FIG. 5 (b),
The characteristic element selection means 11 of the first threshold value comparator 1 selects the element x of the characteristic vector, and the threshold value storage means 12 stores the threshold value t 1 . The comparator 13 of the first threshold comparator 1 has the element x and the threshold t 1
Compare with. The threshold comparator 2 next to the first threshold comparator 1
Alternatively, the attribute memory selection means 14 determines that the second means when x <t 1 .
The selection signal of the threshold value comparator 2 is output, and conversely, when x ≧ t 1 , the selection signal of the second attribute memory is output. Since the second attribute memory outputs a signal indicating the category "B", the recognition shown in (Equation 6) is possible. The second threshold comparator 2 selected when x <t 1 is the element y of the feature vector and the threshold t.
2 is compared, and when y <t 2 , the selection signal for the third attribute memory is output, and conversely, when y ≧ t 2 , the selection signal for the first attribute memory is output. Since the third attribute memory outputs a signal representing the category "C" and the first attribute memory outputs a signal representing the category "A", the recognitions shown in (Equation 4) and (Equation 5) are realized. it can.

【0027】以上のように本実施例によれば、入力した
特徴ベクトルの要素と閾値との大小比較の繰り返しによ
って、特徴ベクトルの属するカテゴリが得られる。カテ
ゴリの算出に伝達関数の計算や加算などを要しないた
め、短い時間でカテゴリを得ることができる。
As described above, according to this embodiment, the category to which the feature vector belongs can be obtained by repeating the magnitude comparison between the input element of the feature vector and the threshold value. Since the calculation of a category does not require calculation of a transfer function or addition, the category can be obtained in a short time.

【0028】図6は、第2の本発明の第1の実施例の認識
判断装置の構成図である。本実施例の認識判断装置は、
M個の閾値比較器、N個の属性メモリおよび選択の変更手
段によって構成される。図6において、特徴ベクトルの
入力端子30は、閾値比較器23, 24, 25に接続され、その
出力端子は、属性メモリ26, 27, 28及び選択の変更手段
29に接続され、他方、教師カテゴリの入力端子31は属性
メモリ26, 27, 28に接続され、32はそのカテゴリの出力
端子である。
FIG. 6 is a block diagram of the recognition determining apparatus of the first embodiment of the second invention. The recognition determination device of this embodiment is
It is composed of M threshold comparators, N attribute memories and selection changing means. In FIG. 6, the feature vector input terminal 30 is connected to threshold comparators 23, 24, 25, and the output terminals thereof are attribute memories 26, 27, 28 and selection changing means.
29, while the teacher category input terminal 31 is connected to the attribute memories 26, 27, 28, and 32 is the category output terminal.

【0029】本実施例では、入力された特徴ベクトルの
属するカテゴリの認識に際しての動作は第1の本発明と
同様で、大小を比較するための閾値や入力される特徴ベ
クトルの要素の選択を学習によって自動的に設定できる
点が、第1の本発明に対する差異である。図7は、同実
施例の認識判断装置の学習動作を表すPAD図(Problem
Analysis Diagram)である。図6、図7を参照しなが
ら、本実施例の学習動作の概要を説明する。
In this embodiment, the operation for recognizing the category to which the input feature vector belongs is the same as that of the first aspect of the present invention, and the threshold for comparing the sizes and the selection of the elements of the input feature vector are learned. The point that can be automatically set by is the difference from the first aspect of the present invention. FIG. 7: is a PAD figure (Problem) showing the learning operation | movement of the recognition determination apparatus of the same Example.
Analysis Diagram). An outline of the learning operation of this embodiment will be described with reference to FIGS. 6 and 7.

【0030】学習動作は、入力された特徴ベクトルが属
するカテゴリを算出する認識動作と、認識動作によって
得られたカテゴリと入力された教師カテゴリとの一致/
不一致に応じて閾値などを変更する更新動作とからな
る。認識動作は、図2と図7とを比較するとわかるよう
に、第1の本発明においてカテゴリを算出する動作と同
様である。すなわち、閾値比較器によって特徴要素と閾
値との大小比較を繰り返し、属性メモリが選択される
と、その属性メモリが記憶しているカテゴリとして、特
徴ベクトルの属するカテゴリを得る。他方、更新動作
は、認識動作において選択された属性メモリにおいて、
カテゴリと教師カテゴリの入力端子31から入力された教
師カテゴリとを比較することから始まる。属性メモリ
は、それぞれの属性メモリが選択されたときの、特徴ベ
クトルの次元ごとの最大値と最小値とを記憶しており、
認識動作で得られたカテゴリと教師カテゴリとが一致す
る場合には、その次元ごとの最大値と最小値とを更新す
る。逆に、認識動作で得られたカテゴリと教師カテゴリ
とが一致しない場合には、未使用の閾値比較器の1つを
選択するように最終段の閾値比較器の選択信号を変更
し、その未使用の閾値比較器が認識動作で選択された属
性メモリと未使用の属性メモリの1つとを選択するよう
にその選択信号を設定し、その未使用の属性メモリのカ
テゴリを教師カテゴリに設定する。これによって、入力
された特徴ベクトルに対して選択される属性メモリのカ
テゴリが、入力された教師カテゴリに一致するようにな
る。
The learning operation includes a recognition operation for calculating the category to which the input feature vector belongs, and a match / match between the category obtained by the recognition operation and the input teacher category /
The update operation includes changing a threshold value or the like according to the mismatch. The recognition operation is similar to the operation of calculating the category in the first aspect of the present invention, as can be seen by comparing FIGS. 2 and 7. That is, when the attribute memory is selected by repeating the size comparison between the feature element and the threshold value by the threshold value comparator, the category to which the feature vector belongs is obtained as the category stored in the attribute memory. On the other hand, the update operation is performed in the attribute memory selected in the recognition operation,
The process starts by comparing the category with the teacher category input from the teacher category input terminal 31. The attribute memory stores the maximum value and the minimum value for each dimension of the feature vector when each attribute memory is selected,
When the category obtained by the recognition operation matches the teacher category, the maximum value and the minimum value for each dimension are updated. On the contrary, if the category obtained by the recognition operation and the teacher category do not match, the selection signal of the threshold comparator at the final stage is changed so as to select one of the unused threshold comparators, and The threshold signal for use is set to select the attribute memory selected in the recognition operation and one of the unused attribute memories, and the category of the unused attribute memory is set to the teacher category. As a result, the category of the attribute memory selected for the input feature vector matches the input teacher category.

【0031】以上のように、本実施例の認識判断装置の
学習動作においては、閾値比較器の選択信号を更新し未
使用の属性メモリのカテゴリを設定することによって、
認識動作において得られるカテゴリが教師カテゴリと一
致するようになる。以下に、本実施例の認識判断装置に
おける閾値比較器と属性メモリの構成を示し、本実施例
の認識判断装置の動作を詳細に説明する。
As described above, in the learning operation of the recognition / judgment apparatus of this embodiment, the selection signal of the threshold comparator is updated and the category of the unused attribute memory is set.
The category obtained in the recognition operation matches the teacher category. The configurations of the threshold value comparator and the attribute memory in the recognition and judgment apparatus of this embodiment are shown below, and the operation of the recognition and judgment apparatus of this embodiment will be described in detail.

【0032】図8は、本実施例の認識判断装置における
閾値比較器の構成図である。図8において、選択信号の
記憶手段33と選択信号の入力端子39は、比較器34に接続
され、特徴ベクトルの入力端子40は特徴要素選択手段35
に接続され、さらに、比較器34と閾値および次元の変更
信号の入力端子41はその特徴要素選択手段35と閾値記憶
手段36にそれぞれ接続され、さらに、特徴要素選択手段
35と閾値記憶手段36は比較器37に接続されている。ま
た、その比較器37は、次段の閾値比較器または属性メモ
リの選択手段38に接続されている。また、比較器34と選
択の変更信号の入力端子42も比較器37に接続されてい
る。43は選択信号の出力端子である。
FIG. 8 is a block diagram of the threshold value comparator in the recognition determination apparatus of this embodiment. In FIG. 8, a selection signal storage means 33 and a selection signal input terminal 39 are connected to a comparator 34, and a feature vector input terminal 40 is a feature element selection means 35.
Further, the comparator 34 and the input terminal 41 of the threshold value and the dimension change signal are connected to the characteristic element selecting means 35 and the threshold value storing means 36, respectively, and further, the characteristic element selecting means.
35 and the threshold value storage means 36 are connected to the comparator 37. Further, the comparator 37 is connected to the threshold comparator of the next stage or the selecting means 38 of the attribute memory. Further, the comparator 34 and the input terminal 42 for the selection change signal are also connected to the comparator 37. 43 is an output terminal for the selection signal.

【0033】図8に示した本実施例における閾値比較器
の認識動作は、図3の第1の本発明の閾値比較器の動作
と同様である。すなわち、選択信号の入力端子39から入
力される選択信号がそれぞれの閾値比較器に固有の選択
信号と一致すると、特徴ベクトル入力端子40から入力さ
れる特徴ベクトルの特定の要素と閾値との大小関係に応
じて、次に処理を行うべき閾値比較器もしくは属性メモ
リの選択信号を選択信号出力端子43から出力する。本実
施例における閾値比較器の、図3に示した第1の本発明
における閾値比較器に対する差異は、入力端子41から入
力される閾値および次元の変更信号によって、特徴要素
選択手段35で選択される要素および閾値記憶手段36に記
憶される閾値を設定でき、入力端子42から入力される選
択の変更信号によって、次段の閾値比較器または属性メ
モリの選択手段38が出力する選択信号を設定できる点に
ある。これらのパラメータの更新によって、閾値比較器
が選択する次段の閾値比較器もしくは属性メモリを変更
することができる。本実施例の認識判断装置は、閾値比
較器が次段の閾値比較器もしくは属性メモリを選択する
動作の繰り返しによって、入力特徴ベクトルに対する属
性メモリを選択するので、閾値比較器の選択する閾値比
較器もしくは属性メモリを変更することによって、入力
特徴ベクトルに対する属性メモリを変更することができ
る。
The recognition operation of the threshold value comparator in this embodiment shown in FIG. 8 is similar to the operation of the threshold value comparator of the first present invention in FIG. That is, when the selection signal input from the input terminal 39 of the selection signal matches the selection signal unique to each threshold value comparator, the magnitude relationship between the specific element of the feature vector input from the feature vector input terminal 40 and the threshold value. In response to this, the selection signal output terminal 43 outputs the selection signal of the threshold value comparator or the attribute memory to be processed next. The difference between the threshold comparator in the present embodiment and the threshold comparator in the first aspect of the present invention shown in FIG. 3 is selected by the feature element selecting means 35 by the threshold and dimension change signal input from the input terminal 41. The threshold value stored in the element and threshold storage means 36 can be set, and the selection change signal input from the input terminal 42 can set the selection signal output by the selection means 38 of the threshold comparator or the attribute memory in the next stage. In point. By updating these parameters, it is possible to change the threshold comparator or attribute memory at the next stage selected by the threshold comparator. The recognition determination apparatus of the present embodiment selects the attribute memory for the input feature vector by repeating the operation of the threshold comparator selecting the threshold comparator or the attribute memory at the next stage. Therefore, the threshold comparator selected by the threshold comparator is selected. Alternatively, the attribute memory for the input feature vector can be changed by changing the attribute memory.

【0034】図9に、本実施例の認識判断装置における
属性メモリの構成図を示す。図9において、選択信号の
記憶手段44は選択信号の入力端子54とともに比較器45に
接続され、特徴ベクトルの入力端子55は比較器46に接続
され、教師カテゴリの入力端子56は比較器51に接続され
ている。比較器46は、次元ごとの最大値および最小値の
変更手段47に接続され、比較器45はカテゴリ記憶手段50
と次元ごとの最大値および最小値の変更手段47に接続さ
れ、変更手段47は次元ごとの最大値および最小値の記憶
手段48に接続され、その出力端子は、比較器46と差が最
大の次元の検出手段52に接続され、比較器51とともに閾
値および次元の変更手段53に接続されている。他方、比
較器51は、反転器49を介して次元ごとの最大値および最
小値の変更手段47に接続されている。なお、カテゴリ記
憶手段50は比較器51に接続されている。そして57はカテ
ゴリ不一致信号の出力端子、58はカテゴリの出力端子、
59は閾値および次元の変更信号の出力端子である。図9
に示した本実施例の属性メモリの認識動作は、図4に示
した第1の本発明の属性メモリの動作と同様である。す
なわち、入力端子54から入力される選択信号が属性メモ
リに固有の選択信号に一致すると、入力端子58からカテ
ゴリ信号を出力する。本実施例における属性メモリの、
図4に示した第1の本発明における属性メモリに対する
差異は、それぞれの属性メモリが選択された時に入力さ
れた特徴ベクトルの次元ごとの最大値および最小値を記
憶している点と、入力される教師カテゴリと記憶してい
るカテゴリとが一致しないときには、カテゴリ不一致信
号、閾値および次元の変更信号を出力する点にある。カ
テゴリ不一致信号は、選択の変更手段29に出力され、選
択の変更手段29が選択の変更信号を出力することを可能
にする。閾値および次元の変更信号はM個の閾値比較器
に出力され、選択された閾値比較器が閾値および特徴要
素を変更することを可能にする。本実施例の属性メモリ
の学習動作については、図11、図12及び図13を用
いた学習動作の具体例の説明のところでさらに詳細に説
明する。
FIG. 9 is a block diagram of the attribute memory in the recognition / judgment device of this embodiment. In FIG. 9, the selection signal storage means 44 is connected to the comparator 45 together with the selection signal input terminal 54, the feature vector input terminal 55 is connected to the comparator 46, and the teacher category input terminal 56 is connected to the comparator 51. It is connected. The comparator 46 is connected to a maximum value and minimum value changing means 47 for each dimension, and the comparator 45 is a category storage means 50.
And the maximum value and minimum value changing means 47 for each dimension, the changing means 47 is connected to the maximum value and minimum value storing means 48 for each dimension, and its output terminal has the maximum difference with the comparator 46. It is connected to the dimension detecting means 52, and is connected to the threshold value and dimension changing means 53 together with the comparator 51. On the other hand, the comparator 51 is connected via the inverter 49 to the maximum value and minimum value changing means 47 for each dimension. The category storage means 50 is connected to the comparator 51. 57 is the category mismatch signal output terminal, 58 is the category output terminal,
Reference numeral 59 is an output terminal for a threshold value and dimension change signal. Figure 9
The operation of recognizing the attribute memory of this embodiment shown in FIG. 4 is the same as the operation of the attribute memory of the first present invention shown in FIG. That is, when the selection signal input from the input terminal 54 matches the selection signal unique to the attribute memory, the category signal is output from the input terminal 58. In the attribute memory in this embodiment,
The difference from the attribute memory in the first present invention shown in FIG. 4 is that the maximum value and the minimum value for each dimension of the feature vector input when each attribute memory is selected are input. When the stored teacher category does not match the stored category, the category mismatch signal, the threshold value, and the dimension change signal are output. The category mismatch signal is output to the selection changing means 29, which enables the selection changing means 29 to output the selection changing signal. The threshold and dimension change signals are output to the M threshold comparators, allowing the selected threshold comparators to change the thresholds and features. The learning operation of the attribute memory according to the present embodiment will be described in more detail in the description of a specific example of the learning operation with reference to FIGS. 11, 12, and 13.

【0035】図10は、本実施例の認識判断装置の選択
の変更手段29の構成図である。図10において、選択信
号の入力端子65は、最終段の閾値比較器の選択器60に接
続され、その選択器60と、未使用の閾値比較器の選択器
61とは選択信号の出力手段63に接続され、さらに選択器
61と未使用の属性メモリの選択器62は、選択信号の出力
手段63と選択の変更信号の出力手段64に接続されてい
る。また、選択信号の出力手段63には選択信号の出力端
子66が接続され、選択の変更信号の出力手段64には選択
の変更信号の出力端子67が接続されている。なお、68は
カテゴリ不一致信号の入力端子である。
FIG. 10 is a block diagram of the selection changing means 29 of the recognition and judgment apparatus of this embodiment. In FIG. 10, the selection signal input terminal 65 is connected to the selector 60 of the threshold comparator at the final stage, and the selector 60 and the selector of the unused threshold comparator are connected.
61 is connected to the selection signal output means 63, and further, a selector
61 and an unused attribute memory selector 62 are connected to a selection signal output means 63 and a selection change signal output means 64. Further, the selection signal output means 63 is connected to the selection signal output terminal 66, and the selection change signal output means 64 is connected to the selection change signal output terminal 67. Reference numeral 68 is an input terminal for the category mismatch signal.

【0036】入力端子65から入力される選択信号は、順
次、最終段の閾値比較器の選択器60に入力される。最終
段の閾値比較器の選択器60は、入力される選択信号が閾
値比較器を選択する信号か、属性メモリを選択する信号
かを識別し、属性メモリを選択する選択信号の前の選択
信号として最終段の閾値比較器の選択信号を得る。未使
用の閾値比較器の選択器61および未使用の属性メモリの
選択器62は、いずれの閾値比較器の次段の閾値比較器ま
たは属性メモリの選択手段38にも選択されるように設定
されていない、閾値比較器および属性メモリの選択信号
を記憶している。選択の変更信号の出力手段64が未使用
の閾値比較器あるいは属性メモリの選択信号を出力し、
いずれかの閾値比較器がその閾値比較器あるいは属性メ
モリを選択するように設定すると、その選択信号は、未
使用の閾値比較器の選択器61もしくは未使用の属性メモ
リの選択器62が記憶している選択信号のメモリから削除
される。選択信号の出力手段63および選択の変更信号の
出力手段64は、入力端子68から入力されるカテゴリ不一
致信号がアクティブの時に、出力端子66および出力端子
67から選択信号および選択の変更信号を出力する。本実
施例の選択の変更手段29の動作については、図11、図
12及び図13を用いた以下の学習動作の具体例の説明
の中でさらに詳細に説明する。
The selection signal input from the input terminal 65 is sequentially input to the selector 60 of the final threshold comparator. The selector 60 of the threshold comparator at the final stage identifies whether the input selection signal is a signal for selecting the threshold comparator or a signal for selecting the attribute memory, and a selection signal before the selection signal for selecting the attribute memory. As a result, the selection signal of the final threshold comparator is obtained. The unused threshold value comparator selector 61 and the unused attribute memory selector 62 are set so as to be selected by the threshold value comparator or attribute memory selecting means 38 in the next stage of any threshold value comparator. It stores the threshold comparator and the selection signal of the attribute memory. The selection change signal output means 64 outputs an unused threshold value comparator or an attribute memory selection signal,
If any threshold comparator is set to select that threshold comparator or attribute memory, the selection signal will be stored by the unused threshold comparator selector 61 or the unused attribute memory selector 62. The selected signal is deleted from the memory. The selection signal output means 63 and the selection change signal output means 64 are provided with an output terminal 66 and an output terminal when the category mismatch signal input from the input terminal 68 is active.
A selection signal and a selection change signal are output from 67. The operation of the selection changing unit 29 of this embodiment will be described in more detail in the following description of a specific example of the learning operation using FIGS. 11, 12, and 13.

【0037】本実施例の認識判断装置の学習動作を具体
例を用いて説明する。図11、図12及び図13は、2
次元の特徴ベクトルが3つのカテゴリ"A", "B", "C"
のうち、いずれに属するかを認識する本実施例の認識判
断装置の学習動作の例を示す。図11、図12及び図1
3では、入力される特徴ベクトルを(x, y)で表し、xお
よびyは、それぞれ(数3)に示す範囲に制限されてい
るものとする。学習の最初においては、第1の閾値比較
器の特徴要素選択手段35および閾値記憶手段36に設定さ
れる特徴要素および閾値は、いくらでもでよいが、図1
1、図12及び図13では、特徴要素をx、閾値を0とし
て示している。学習の最初においては、第1の閾値比較
器は、特徴要素と閾値との大小に関わらず、第1の属性
メモリの選択信号を出力するように設定されている。学
習の最初においては、M個の閾値比較器のすべての選択
信号が未使用の閾値比較器の選択器61に記憶されてお
り、N個の属性メモリのすべての選択信号が未使用の属
性メモリの選択器62に記憶されている。 図11は、次
の時点で、本実施例の認識判断装置に、2次元の特徴ベ
クトル(x1, y1)および教師カテゴリ"A"が与えられたと
きの、動作を示す。この時点では、入力される特徴ベク
トルが如何なる値であっても、第1の閾値比較器が第1の
属性メモリを選択するように設定されているので、第1
の属性メモリが選択される。この時点で、第1の属性メ
モリのカテゴリを"A"に設定し、x次元の最大値(xmax)
および最小値(xmin)をx1に設定し、y次元の最大値
(ymax)および最小値(ymin)をy1に設定する。この時点
で、第1の属性メモリの選択信号は、未使用の属性メモ
リの選択器62から削除される。
The learning operation of the recognition / judgment device of this embodiment will be described with reference to a specific example. 11, 12 and 13 are 2
Three-dimensional feature vector has three categories "A", "B", "C"
An example of the learning operation of the recognition determination device of the present embodiment for recognizing which one of them belongs will be shown. 11, 12 and 1
In 3, the input feature vector is represented by (x, y), and x and y are each limited to the range shown in (Equation 3). At the beginning of learning, the characteristic elements and the threshold values set in the characteristic element selection means 35 and the threshold value storage means 36 of the first threshold value comparator may be arbitrary, but FIG.
1, FIG. 12 and FIG. 13, the characteristic element is shown as x, and the threshold value is shown as 0. At the beginning of learning, the first threshold value comparator is set to output the selection signal of the first attribute memory regardless of the size of the feature element and the threshold value. At the beginning of learning, all the selection signals of the M threshold comparators are stored in the unused threshold comparator selector 61, and all the selection signals of the N attribute memories are stored in the unused attribute memory. Stored in the selector 62 of. FIG. 11 shows the operation when the recognition determination apparatus of this embodiment is given a two-dimensional feature vector (x 1 , y 1 ) and a teacher category “A” at the next time point. At this point, the first threshold comparator is set to select the first attribute memory regardless of the value of the input feature vector.
Attribute memory is selected. At this point, set the category of the first attribute memory to "A", and set the maximum value of x dimension (x max ).
And the minimum value (x min ) to x 1 and the maximum value in the y-dimension
Set (y max ) and minimum (y min ) to y 1 . At this point, the first attribute memory select signal is removed from the unused attribute memory selector 62.

【0038】図12は、次の時点で、本実施例の認識判
断装置に、特徴ベクトル(x2, y2)および教師カテゴリ"
B"が与えられたときの動作を示す。この時点では、入
力される特徴ベクトルが如何なる値であっても、第1の
閾値比較器が第1の属性メモリを選択するように設定さ
れているので、第1の属性メモリが選択される。第1の属
性メモリが記憶しているカテゴリ"A"は教師カテゴリ"
B"と一致しないので、第1の属性メモリの比較器51は、
カテゴリ不一致信号を出力する。同時に、第1の属性メ
モリの、差が最大の次元の検出手段52は、手段48が記憶
している次元毎の最大値もしくは最小値と、特徴ベクト
ル(x2, y2)との次元毎の差を算出し、差が最大の次元を
出力する。すなわち、x次元の差を(xmin - x2)と(x2 -
xmax)のうち大きいほうの値とし、y次元の差を(ymin -
y2)と(y2 - ymax)のうち大きいほうの値とし、x次元の
差とy次元の差で大きいほうの次元を、差が最大の次元
の検出手段52が出力する。図12の例では、(x2 - x1)
が(y2 - y1)よりも大きいので、差が最大の次元の検出
手段52は次元xを出力する。同時に差が最大の次元の検
出手段52は、差が最大となった次元における差の中央値
を閾値として出力する。図12の例では、差が最大の次
元の検出手段52は、差が最大となった次元xにおける差
(x2 - x1)の中央値(t1= (x2 + x1) / 2)を出力する。こ
のようにして、第1の属性メモリは、端子59から閾値お
よび次元の変更信号を出力する。同時に、後述する選択
の変更手段29の動作によって、第1の閾値比較器の選択
信号が出力されるのにしたがって、第1の閾値比較器の
閾値および次元がt1およびxに変更される。図12の時
点において、選択の変更手段29は、未使用となっている
第1の閾値比較器の選択信号を、端子66から選択信号と
して出力し、未使用となっている第2の属性メモリの選
択信号を、端子67から選択の変更信号として出力する。
これによって、第1の閾値比較器の第2の選択信号が、第
2の属性メモリの選択信号に変更される。この時点で、
第1の閾値比較器の選択信号は未使用の閾値比較器の選
択器から削除され、第2の属性メモリの選択信号は未使
用の属性メモリの選択器から削除される。以上の動作に
よって、図12の時点において、入力される特徴ベクト
ルに対して、(数7)に従ってカテゴリを出力する認識
判断装置が実現できる。
FIG. 12 shows that at the next time point, the recognition and judgment apparatus of the present embodiment has a feature vector (x 2 , y 2 ) and a teacher category "
The operation when B "is given is shown. At this point, the first threshold value comparator is set to select the first attribute memory regardless of the value of the input feature vector. Therefore, the first attribute memory is selected.The category "A" stored in the first attribute memory is the teacher category.
Since it does not match B ", the comparator 51 of the first attribute memory
Outputs the category mismatch signal. At the same time, in the first attribute memory, the detection means 52 for the dimension having the maximum difference is the maximum value or the minimum value for each dimension stored by the means 48, and the feature vector (x 2 , y 2 ) for each dimension. The difference is calculated and the dimension with the maximum difference is output. That is, the difference in the x dimension is (x min -x 2 ) and (x 2-
x max ), whichever is larger, and the difference in the y dimension is (y min-
The larger value of y 2 ) and (y 2 -y max ) is set as the larger value, and the larger dimension of the difference between the x-dimensional difference and the y-dimensional difference is output by the detection means 52 having the maximum difference. In the example of FIG. 12, (x 2 -x 1 )
Is larger than (y 2 -y 1 ), the detecting means 52 of the dimension having the largest difference outputs the dimension x. At the same time, the detection unit 52 for the dimension with the largest difference outputs the median value of the differences in the dimension with the largest difference as the threshold. In the example of FIG. 12, the detection means 52 of the dimension having the largest difference is the difference in the dimension x having the largest difference.
(x 2 - x 1) median (t 1 = (x 2 + x 1) / 2) and outputs a. In this way, the first attribute memory outputs the threshold value and dimension change signal from the terminal 59. At the same time, the threshold value and dimension of the first threshold value comparator are changed to t 1 and x as the selection signal of the first threshold value comparator is output by the operation of the selection changing unit 29 described later. At the time of FIG. 12, the selection changing unit 29 outputs the selection signal of the unused first threshold value comparator as a selection signal from the terminal 66, and the unused second attribute memory. The selection signal of is output from the terminal 67 as a selection change signal.
This causes the second selection signal of the first threshold comparator to
Changed to 2 attribute memory selection signal. at this point,
The selection signal of the first threshold comparator is deleted from the selector of the unused threshold comparator, and the selection signal of the second attribute memory is deleted from the selector of the unused attribute memory. With the above operation, at the time of FIG. 12, the recognition determination device that outputs the category according to (Equation 7) for the input feature vector can be realized.

【0039】[0039]

【数7】0 ≦ x < t1 の時、カテゴリ"A" t1 ≦ x < x0 の時、カテゴリ"B" 図13は、次の時点で、本実施例の認識判断装置に、特
徴ベクトル(x3, y3)および教師カテゴリ"C"が与えられ
たときの動作を示す。図13の例では、x3 <t1 で、
(数7)に従って認識されたカテゴリ"A"と教師カテゴ
リ"C"が一致しないので、第1の属性メモリはカテゴリ
不一致信号を出力する。同時に、第1の属性メモリにお
いては、差が最大の次元の検出手段52は、(x3, y3)と(x
1, y1)との差が最大の次元としてyを出力し、差の中央
値として(t2 = (y3 + y1) / 2)を出力する。ここから後
は、図7のPAD図の後半に示した更新動作が実行され
る。すなわち、最終段(第1)の閾値比較器の出力する
第1の選択信号を未使用(第2)の閾値比較器の選択信号
に変更する。未使用(第2)の閾値比較器の閾値および
特徴要素を、第1の属性メモリが出力する閾値t2および
次元yの変更信号にしたがって設定する。未使用(第2)
の閾値比較器の第1の選択信号を未使用(第3)の属性メ
モリの選択信号に設定し、第2の選択信号を第1の属性メ
モリの選択信号に設定する。未使用(第3)の属性メモ
リのカテゴリを"C"に設定し、次元毎の最大値/最小値
を(x3, y3)に設定する。この時点で、第2の閾値比較器
の選択信号は未使用の閾値比較器の選択器から削除さ
れ、第3の属性メモリの選択信号は未使用の属性メモリ
の選択器から削除される。以上の動作によって、図13
の時点において、入力される特徴ベクトルに対して、
(数4)、(数5)、(数6)に従ってカテゴリを出力
する認識判断装置が実現できる。
Equation 7] When 0 ≦ x <t 1, when the category "A" t 1 ≦ x < x 0, category "B" 13, at the next time point, the recognition judgment apparatus of the present embodiment, wherein The operation when a vector (x 3 , y 3 ) and a teacher category "C" are given is shown. In the example of FIG. 13, when x 3 <t 1 ,
Since the category "A" recognized according to (Equation 7) and the teacher category "C" do not match, the first attribute memory outputs a category mismatch signal. At the same time, in the first attribute memory, the detecting means 52 of the dimension having the largest difference is (x 3 , y 3 ) and (x
It outputs y as the dimension with the largest difference from 1 , 1 , y 1 ) and (t 2 = (y 3 + y 1 ) / 2) as the median of the differences. From this point onward, the update operation shown in the latter half of the PAD diagram of FIG. 7 is executed. That is, the first selection signal output from the final-stage (first) threshold comparator is changed to an unused (second) threshold comparator selection signal. The threshold value and the characteristic element of the unused (second) threshold value comparator are set according to the threshold value t 2 and the change signal of the dimension y output from the first attribute memory. Unused (second)
The first selection signal of the threshold comparator is set to the selection signal of the unused (third) attribute memory, and the second selection signal is set to the selection signal of the first attribute memory. Set to "C" category attribute memory unused (3), sets the maximum value / minimum value for each dimension (x 3, y 3). At this point, the selection signal of the second threshold comparator is deleted from the selector of the unused threshold comparator, and the selection signal of the third attribute memory is deleted from the selector of the unused attribute memory. By the above operation, FIG.
At the time point of, for the input feature vector,
It is possible to realize a recognition determination device that outputs categories according to (Equation 4), (Equation 5), and (Equation 6).

【0040】なお、本実施例では、認識時に属性メモリ
が選択されると、その属性メモリが手段50に記憶してい
るカテゴリを出力しているが、属性メモリが選択されて
も、入力された特徴ベクトルの要素が、手段48が記憶し
ている次元毎の最大値および最小値の範囲に含まれない
ときには、カテゴリ"未知"の信号を出力してもよい。こ
の動作を示すための、本実施例の認識判断装置の認識動
作の具体例を、図14に示す。図14においては、(数
3)で表わされる範囲の入力ベクトル(x, y)に対して、
第1の属性メモリが選択されて、第1の属性メモリは、手
段50にカテゴリ"A"を記憶しており、手段48に次元毎の
最大値および最小値として、図14に表わされるxmax,
xmin, ymax, yminを記憶しているものとする。この場
合、特徴ベクトルが、図14の斜線で示された領域、す
なわち(数8)の領域に特徴ベクトルが含まれている場
合には、カテゴリ"A"を出力し(数8)の領域に含まれ
ない場合にはカテゴリ"未知"の信号を出力してもよい。
In this embodiment, when the attribute memory is selected at the time of recognition, the attribute memory outputs the category stored in the means 50. However, even if the attribute memory is selected, it is input. When the element of the feature vector is not included in the range of the maximum value and the minimum value for each dimension stored in the means 48, a signal of category "unknown" may be output. FIG. 14 shows a specific example of the recognition operation of the recognition determination device of this embodiment to show this operation. In FIG. 14, for the input vector (x, y) in the range represented by (Equation 3),
The first attribute memory is selected, and the first attribute memory stores the category "A" in the means 50, and the means 48 stores x max as the maximum and minimum values for each dimension. ,
It is assumed that x min , y max , and y min are stored. In this case, when the feature vector includes the feature vector in the shaded area in FIG. 14, that is, the area of (Equation 8), the category “A” is output to the area of (Equation 8). If it is not included, a signal of category "unknown" may be output.

【0041】また、本実施例では、学習時に属性メモリ
が記憶しているカテゴリと教師カテゴリとが一致しない
と、図7の動作によって次段の閾値比較器の選択信号を
変更しているが、最終段の閾値比較器の閾値を変更して
もよい。この動作を示すための、本実施例の認識判断装
置の学習動作の具体例を、図15に示す。図15は、図
13の次の時点において、入力特徴ベクトル(x4, y4)に
対する教師カテゴリ"C"が与えられたときの動作を示
す。図15においては、入力特徴ベクトルの各要素と閾
値比較器の閾値との間に(数8)の大小関係が成り立つ
ので、入力特徴ベクトル(x4, y4)に対して、第1の属性
メモリが選択され、第1の属性メモリが記憶しているカ
テゴリ"A"と教師カテゴリ"C"は一致しない。
Further, in the present embodiment, if the category stored in the attribute memory does not match the teacher category during learning, the selection signal of the threshold comparator of the next stage is changed by the operation of FIG. The threshold of the threshold comparator at the final stage may be changed. FIG. 15 shows a specific example of the learning operation of the recognition determination device of this embodiment to show this operation. FIG. 15 shows the operation when the teacher category “C” is given to the input feature vector (x 4 , y 4 ) at the next time point in FIG. In FIG. 15, since the magnitude relationship of (Equation 8) is established between each element of the input feature vector and the threshold value of the threshold value comparator, the first attribute for the input feature vector (x 4 , y 4 ). The memory is selected, and the category "A" stored in the first attribute memory and the teacher category "C" do not match.

【0042】[0042]

【数8】x4 < t1 y4 ≧ t2 この場合、第2の閾値比較器の閾値t2を(数9)を満た
す閾値t2'に変更してもよい。
X 4 <t 1 y 4 ≧ t 2 In this case, the threshold value t 2 of the second threshold value comparator may be changed to the threshold value t 2 ′ that satisfies (Expression 9).

【0043】[0043]

【数9】t2' > y4 これによって、使用する閾値比較器や属性メモリの数を
増やすことなく、属性メモリが記憶しているカテゴリと
教師カテゴリとが一致させることができる。
By Equation 9] t 2 '> y 4 which can without increasing the number of threshold comparator and attributes memory used, and categories and teacher category attribute memory is stored in the match.

【0044】また、本実施例では、学習時に属性メモリ
が記憶しているカテゴリと教師カテゴリとが一致しない
と、図7の動作によって次段の閾値比較器の選択信号を
変更しているが、最終段の閾値比較器の閾値を変更して
もよい。この動作を示すための、本実施例の認識判断装
置の学習動作の具体例を、図16に示す。図16は、図
13の次の時点において、入力特徴ベクトル(x5, y5)に
対する教師カテゴリ"C"が与えられたときの動作を示
す。図16においては、入力特徴ベクトルの各要素と閾
値比較器の閾値との間に(数10)の大小関係が成り立
つので、入力特徴ベクトル(x5, y5)に対して、第1の属
性メモリが選択され、第1の属性メモリが記憶している
カテゴリ"A"と教師カテゴリ"C"は一致しない。
In this embodiment, if the category stored in the attribute memory does not match the teacher category during learning, the selection signal of the threshold comparator in the next stage is changed by the operation of FIG. The threshold of the threshold comparator at the final stage may be changed. FIG. 16 shows a specific example of the learning operation of the recognition and determination apparatus of this embodiment to show this operation. FIG. 16 shows the operation when the teacher category “C” is given to the input feature vector (x 5 , y 5 ) at the next time point in FIG. 13. In FIG. 16, since the magnitude relationship of (Equation 10) is established between each element of the input feature vector and the threshold value of the threshold value comparator, the first attribute for the input feature vector (x 5 , y 5 ). The memory is selected, and the category "A" stored in the first attribute memory and the teacher category "C" do not match.

【0045】[0045]

【数10】x5 < t1 y5 ≧ t2 この場合、第2の閾値比較器が特徴ベクトルから選択す
る要素をxに変更し、閾値t2を(数11)を満たす閾値t
3に変更してもよい。
X 5 <t 1 y 5 ≧ t 2 In this case, the element selected by the second threshold value comparator from the feature vector is changed to x, and the threshold value t 2 satisfies the threshold value t satisfying (Equation 11).
You may change to 3 .

【0046】[0046]

【数11】t3 > x5 これによって、使用する閾値比較器や属性メモリの数を
増やすことなく、属性メモリが記憶しているカテゴリと
教師カテゴリとが一致させることができる。
By Equation 11] t 3> x 5 which can without increasing the number of threshold comparator and attributes memory used, and categories and teacher category attribute memory is stored in the match.

【0047】なお、本発明の各手段は、コンピュータを
用いてソフトウェア的に実現し、あるいはそれら各機能
を有する専用のハード回路を用いて実現してもかまわな
い。
Each means of the present invention may be realized by software using a computer, or may be realized by using a dedicated hardware circuit having each of these functions.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上のように、第1の本発明は、入力さ
れた特徴ベクトルの要素との大小比較の繰り返しによっ
て、特徴ベクトルの属するカテゴリを出力することがで
き、カテゴリの算出において、伝達関数の算出等の演算
を要しないので、短い時間で出力カテゴリ信号を得るこ
とができるという長所を有する。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the category to which the feature vector belongs can be output by repeating the magnitude comparison with the input elements of the feature vector. Since an operation such as calculation of a function is not required, it has an advantage that an output category signal can be obtained in a short time.

【0049】また、第2の本発明によれば、その学習動
作によって、入力される特徴ベクトルと教師カテゴリに
一致するカテゴリが出力されるように、閾値比較器の出
力する選択信号を更新することができ、パラメータの最
適化が不必要となるという長所を有する。
According to the second aspect of the present invention, the selection signal output from the threshold comparator is updated so that the learning operation outputs a category that matches the input feature vector and the teacher category. And has the advantage that parameter optimization is unnecessary.

【0050】第2の本発明の認識動作は、第1の本発明の
認識動作と同様であるので、短い時間で出力カテゴリ信
号を得ることができるという長所ももちろん有する。
Since the recognition operation of the second aspect of the present invention is similar to the recognition operation of the first aspect of the present invention, it naturally has an advantage that an output category signal can be obtained in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1の本発明の実施例の認識判断装置の構成図
である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a recognition determination device according to an embodiment of the first invention.

【図2】同実施例の認識判断装置の動作を表すPAD図
である。
FIG. 2 is a PAD diagram showing an operation of the recognition determination device of the embodiment.

【図3】同実施例における閾値比較器の構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of a threshold value comparator in the embodiment.

【図4】同実施例における属性メモリの構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of an attribute memory in the embodiment.

【図5】同実施例の認識判断装置の動作の具体例を示す
構成図である。
FIG. 5 is a configuration diagram showing a specific example of the operation of the recognition determination device of the embodiment.

【図6】第2の本発明の第1の実施例の認識判断装置の構
成図である。
FIG. 6 is a configuration diagram of a recognition determination device according to a first embodiment of the second invention.

【図7】同実施例の認識判断装置の学習動作を表すPA
D図である。
FIG. 7 is a PA showing a learning operation of the recognition determination device of the embodiment.
FIG.

【図8】同実施例の認識判断装置における閾値比較器の
構成図である。
FIG. 8 is a configuration diagram of a threshold value comparator in the recognition determination device of the embodiment.

【図9】同実施例の認識判断装置における属性メモリの
構成図である。
FIG. 9 is a configuration diagram of an attribute memory in the recognition determination device of the embodiment.

【図10】同実施例の認識判断装置の選択の変更手段の
構成図である。
FIG. 10 is a configuration diagram of selection changing means of the recognition determination device of the embodiment.

【図11】同実施例の認識判断装置の学習動作の具体例
を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a specific example of a learning operation of the recognition determination device of the same embodiment.

【図12】同実施例の認識判断装置の学習動作の具体例
を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a specific example of a learning operation of the recognition determination device according to the embodiment.

【図13】同実施例の認識判断装置の学習動作の具体例
を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing a specific example of a learning operation of the recognition determination device according to the embodiment.

【図14】同実施例の認識判断装置の認識動作の具体例
を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing a specific example of the recognition operation of the recognition determination device of the embodiment.

【図15】同実施例の認識判断装置の学習動作の具体例
を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing a specific example of a learning operation of the recognition determination device of the example.

【図16】同実施例の認識判断装置の学習動作の具体例
を示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing a specific example of a learning operation of the recognition determination device of the example.

【図17】従来の認識判断装置を構成するパターン種類
分類装置のブロック図である。
FIG. 17 is a block diagram of a pattern type classification device that constitutes a conventional recognition determination device.

【図18】従来の認識判断装置における組立体iのブロ
ック図である。
FIG. 18 is a block diagram of an assembly i in a conventional recognition determination device.

【図19】従来の認識判断装置を構成するパターン種類
認識装置のブロック図である。
FIG. 19 is a block diagram of a pattern type recognition device that constitutes a conventional recognition determination device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1, 2, 3 ・・・・ M個の閾値比較器(手段) 4, 5, 6 ・・・・ N個の属性メモリ 11 ・・・・ 特徴要素選択器(手段) 12 ・・・・ 閾値記憶器(手段) 14 ・・・・ 次段の閾値比較器(手段)または属性メモリの
選択器(手段) 20 ・・・・ カテゴリ記憶器(手段) 23, 24, 25 ・・・・ M個の閾値比較器(手段) 26, 27, 28 ・・・・ N個の属性メモリ 29 ・・・・ 選択の変更器(手段) 35 ・・・・ 特徴要素選択器(手段) 36 ・・・・ 閾値記憶器(手段) 38 ・・・・ 次段の閾値比較器(手段)または属性メモリの
選択器(手段) 48 ・・・・ 次元毎の最大値および最小値の記憶器(手段)
1, 2, 3 ・ ・ ・ ・ M threshold comparators (means) 4, 5, 6 ・ ・ ・ ・ N attribute memories 11 ・ ・ ・ ・ Feature element selectors (means) 12 ・ ・ ・ ・ Thresholds Memory (means) 14 ・ ・ ・ ・ Next threshold comparator (means) or attribute memory selector (means) 20 ・ ・ ・ ・ Category memory (means) 23, 24, 25 ・ ・ ・ ・ M Threshold comparators (means) 26, 27, 28 ・ ・ ・ ・ N attribute memories 29 ・ ・ ・ ・ Changer (means) for selection 35 ・ ・ ・ ・ Characteristic element selector (means) 36 ・ ・ ・ ・Threshold memory (means) 38 ... Threshold comparator (means) at the next stage or attribute memory selector (means) 48 ..... Maximum value and minimum value memory (means) for each dimension

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 〆木 泰治 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Taiji Yuki, 1006 Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】入力された特徴ベクトルの1つの要素と閾
値との大小によって次段の閾値比較手段もしくは属性メ
モリを選択するM個の閾値比較手段と、入力された特徴
ベクトルに対するカテゴリを出力するN個の属性メモリ
とを備えたことを特徴とする認識判断装置。
1. A threshold comparing means of the next stage or M threshold comparing means for selecting an attribute memory according to the magnitude of one element of the inputted feature vector and the threshold, and a category for the inputted feature vector are output. A recognition and determination device comprising N attribute memories.
【請求項2】入力された特徴ベクトルの1つの要素と閾
値との大小によって次段の閾値比較手段もしくは属性メ
モリを選択するM個の閾値比較手段と、入力された特徴
ベクトルに対するカテゴリを出力するN個の属性メモリ
と、学習時に属性メモリが出力するカテゴリと与えられ
た教師カテゴリとが一致しないときにカテゴリ不一致信
号を出力する手段と、学習時に前記カテゴリ不一致信号
に応じて前記閾値比較手段が選択する次段の閾値比較手
段もしくは属性メモリを変更する手段を備えたことを特
徴とする認識判断装置。
2. A threshold comparing means of the next stage or M threshold comparing means for selecting an attribute memory according to the magnitude of one element of the inputted feature vector and the threshold, and a category for the inputted feature vector are output. N attribute memories, a means for outputting a category mismatch signal when the category output by the attribute memory does not match the given teacher category at the time of learning, and the threshold value comparing means according to the category mismatch signal at the time of learning. A recognition / judgment device comprising a threshold comparing means in the next stage for selection or a means for changing the attribute memory.
【請求項3】学習時に、前記カテゴリ不一致信号に応じ
て、前記閾値比較手段が比較する特徴ベクトルの要素を
変更する手段を備えたことを特徴とする請求項2記載の
認識判断装置。
3. The recognition / judgment device according to claim 2, further comprising means for changing an element of a feature vector to be compared by said threshold value comparison means in response to said category mismatch signal during learning.
【請求項4】学習時に、前記カテゴリ不一致信号に応じ
て、前記閾値比較手段が比較する閾値を変更する手段を
備えたことを特徴とする請求項2記載の認識判断装置。
4. The recognition / judgment apparatus according to claim 2, further comprising means for changing a threshold value to be compared by said threshold value comparing means in response to said category mismatch signal at the time of learning.
【請求項5】学習時に、属性メモリが出力するカテゴリ
と教師カテゴリとが一致するときの、特徴ベクトルの次
元毎の最大値および最小値を記憶する手段を備えたこと
を特徴とする請求項2記載の認識判断装置。
5. A means for storing the maximum value and the minimum value for each dimension of the feature vector when the category output from the attribute memory and the teacher category match at the time of learning. The recognition determination device described.
【請求項6】学習時に、前記カテゴリ不一致信号に応じ
て、前記閾値比較手段が比較する特徴ベクトルの要素
を、前記次元毎の最大値および最小値と入力特徴ベクト
ルの要素との差が、最大の次元に変更する手段を備えた
ことを特徴とする請求項5記載の認識判断装置。
6. When learning, the feature vector elements compared by the threshold value comparing means according to the category disagreement signal have the maximum difference between the maximum value and the minimum value for each dimension and the input feature vector element. 6. The recognition / judgment device according to claim 5, further comprising means for changing to the dimension of.
【請求項7】学習時に、前記カテゴリ不一致信号に応じ
て、前記閾値比較手段が比較する閾値を、前記差が最大
の次元における入力特徴ベクトルの要素と、前記差が最
大の次元における前記次元毎の最大値もしくは最小値と
の間の値に変更する手段を備えたことを特徴とする請求
項6記載の認識判断装置。
7. The threshold value compared by the threshold value comparing means according to the category non-matching signal at the time of learning is the element of the input feature vector in the dimension having the maximum difference, and the dimension in the dimension having the maximum difference. 7. The recognition and determination device according to claim 6, further comprising means for changing the value to a value between the maximum value and the minimum value.
【請求項8】認識時に、前記最大値および最小値を記憶
する手段が記憶している特徴ベクトルの次元毎の最大値
および最小値の範囲に含まれない特徴ベクトルが入力さ
れたときに、カテゴリが未知であることを表わす信号を
出力する手段を備えたことを特徴とする請求項5記載の
認識判断装置。
8. When recognizing, when a feature vector which is not included in the range of the maximum value and the minimum value for each dimension of the feature vector stored by the means for storing the maximum value and the minimum value is input, the category is input. 6. The recognition and determination device according to claim 5, further comprising means for outputting a signal indicating that is unknown.
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