JPH0643973B2 - Automatic optical axis adjusting device for goniometer of X-ray diffractometer - Google Patents

Automatic optical axis adjusting device for goniometer of X-ray diffractometer

Info

Publication number
JPH0643973B2
JPH0643973B2 JP62315128A JP31512887A JPH0643973B2 JP H0643973 B2 JPH0643973 B2 JP H0643973B2 JP 62315128 A JP62315128 A JP 62315128A JP 31512887 A JP31512887 A JP 31512887A JP H0643973 B2 JPH0643973 B2 JP H0643973B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base
goniometer
rotation
optical axis
adjustment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62315128A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH01156643A (en
Inventor
繁 宗川
勝彦 清水
修 平島
登 大沢
繁松 浅野
浩 川崎
政隆 坂田
和幸 吉沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rigaku Denki Co Ltd
Original Assignee
Rigaku Denki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rigaku Denki Co Ltd filed Critical Rigaku Denki Co Ltd
Priority to JP62315128A priority Critical patent/JPH0643973B2/en
Publication of JPH01156643A publication Critical patent/JPH01156643A/en
Publication of JPH0643973B2 publication Critical patent/JPH0643973B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、X線回折装置のゴニオメータの光軸を自動的
に調整する自動光軸調整装置に関する。
The present invention relates to an automatic optical axis adjusting device for automatically adjusting the optical axis of a goniometer of an X-ray diffractometer.

[従来の技術] X線回折装置のゴニオメータの光軸調整には次に述べる
幾つかの段階がある。
[Prior Art] The optical axis adjustment of a goniometer of an X-ray diffractometer has several steps described below.

(a) 検出器アームの回転角(2θ)をゼロにしたとき
に、発散スリットと、試料台の回転軸線(以下、試料軸
という)と、検出器アーム上にある受光スリットとが一
直線上に来るようにする調整。この調整はゴニオメータ
の製造段階で既に調整ずみのものである。
(a) When the rotation angle (2θ) of the detector arm is set to zero, the divergence slit, the rotation axis of the sample table (hereinafter referred to as the sample axis), and the light-receiving slit on the detector arm are aligned. Adjustments to come. This adjustment has already been adjusted at the manufacturing stage of the goniometer.

(b) ゴニオメータ光軸上にX線焦点が来るように、X
線焦点とゴニオメータとの相対的位置関係を定める調
整。この調整は、ゴニオメータ基台を微小回転させて、
X線検出器の出力が最大となるように調整される。
(b) The X-ray focus should be on the optical axis of the goniometer.
Adjustment that determines the relative positional relationship between the line focus and the goniometer. This adjustment is done by rotating the goniometer base slightly.
The output of the X-ray detector is adjusted to be maximum.

(c) 2θ=ゼロの確認。この確認は次のように実施さ
れる。検出器アームを2θ=ゼロの付近で微小回転させ
てピークプロファイルを求め、検出ピークの半価幅の中
点をゼロピークの位置とする。次に、このゼロピークの
位置と、検出器アーム台のゼロマークの位置とのずれ
が、所定の角度範囲内に治まっていることを確認する。
所定の角度範囲内に治まっていなければ、上述の(b) の
調整からやり直すことになる。
(c) Confirmation of 2θ = zero. This confirmation is performed as follows. The detector arm is slightly rotated in the vicinity of 2θ = zero to obtain the peak profile, and the midpoint of the half width of the detected peak is set as the zero peak position. Next, it is confirmed that the deviation between the position of the zero peak and the position of the zero mark on the detector arm base is settled within a predetermined angle range.
If the angle is not within the predetermined angle range, the adjustment from (b) above will be performed again.

(d) 試料台の回転角(θ)=ゼロの調整。この調整
は、試料台をθ=ゼロの付近で微小回転させて、X線検
出器の出力が最大となるように調整される。その際、光
軸調整治具を試料台に取り付ける。この治具の基準平面
は、試料軸を含む平面内にあり、θ=ゼロの付近で基準
平面は入射X線に平行となる。
(d) Adjustment of the rotation angle (θ) of the sample table = zero. In this adjustment, the sample stage is finely rotated in the vicinity of θ = zero so that the output of the X-ray detector is maximized. At that time, the optical axis adjusting jig is attached to the sample table. The reference plane of this jig is in the plane including the sample axis, and the reference plane becomes parallel to the incident X-ray near θ = 0.

以上の光軸調整のうち、本考案は、(b)(c)(d)の光軸調
整を自動化しようとするものである。従来は、(b) の調
整では、調整ねじなどを利用してゴニオメータ基台を手
動で微小回転させている。また、(c)(d)の調整では、2
θ回転モータとθ回転モータとを利用して、X線検出器
アーム台と試料台とをモータ駆動で回転させているが、
これらのモータに対しては調整作業者がその都度回転指
示を与えていた。
Among the above optical axis adjustments, the present invention is intended to automate the optical axis adjustments of (b) (c) (d). Conventionally, in the adjustment of (b), the goniometer base is manually rotated minutely by using an adjusting screw or the like. Also, in the adjustment of (c) (d), 2
Although the θ rotation motor and the θ rotation motor are used to rotate the X-ray detector arm base and the sample base by motor drive,
An adjusting operator gave a rotation instruction to these motors each time.

[発明が解決しようとする問題点] 上述した従来の光軸調整では、次のような問題点があ
る。
[Problems to be Solved by the Invention] The above-described conventional optical axis adjustment has the following problems.

ゴニオメータ基台の微小回転調整は、すべて手作業で行
う必要があり非常に手間が掛かる。2θ=ゼロの確認と
θ=ゼロの調整は、回転動作だけはモータ駆動である
が、X線強度を確認しながらモータに回転指示を与える
のはやはり調整作業者の仕事である。したがって、光軸
調整の間はX線回折装置に手がかかることに変わりはな
い。
The fine rotation adjustment of the goniometer base must be done by hand, which is very troublesome. The confirmation of 2θ = zero and the adjustment of θ = zero are performed only by rotating the motor, but it is still the task of the adjusting operator to give a rotation instruction to the motor while confirming the X-ray intensity. Therefore, the X-ray diffractometer is inevitably troublesome during the adjustment of the optical axis.

そこで、このような光軸調整を自動化する要望が高まっ
てきており、本発明の目的は、このような要望を満たし
得る、X線回折装置のゴニオメータの自動光軸調整装置
を提供することにある。
Therefore, there is an increasing demand for automating such optical axis adjustment, and an object of the present invention is to provide an automatic optical axis adjusting apparatus for a goniometer of an X-ray diffraction apparatus, which can satisfy such requirements. .

[問題点を解決するための手段] まず、ゴニオメータ基台を自動的に微小回転させる機構
が必要である。さらに、所定のプログラムに従って、ま
た、検出されたX線強度に応じて、3個のモータ(基台
回転モータ、2θ回転モータ、θ回転モータ)を独立に
回転させる必要があり、そのための制御装置も必要であ
る。そこで、本発明による、X線回折装置のゴニオメー
タの自動光軸調整装置は、 X線源に対して回転可能なゴニオメータ基台と、前記ゴ
ニオメータ基台に対して回転可能であってX線検出器が
取り付けられているX線検出器アーム台と、前記ゴニオ
メータ基台に対して回転可能な試料台とを有するX線回
折装置において、 (a) 基台回転モータと、 (b) 2θ回転モータと、 (c) θ回転モータと、 (d) 前記基台回転モータの回転を前記ゴニオメータ基
台に伝達する第1伝動機構と、 (e) 前記2θ回転モータの回転を前記X線検出器アー
ム台に伝達する第2伝動機構と、 (f) 前記θ回転モータの回転を前記試料台に伝達する
第3伝動機構と、 (g) 前記X線検出器の出力のピーク情報に基づいて、
前記基台回転モータと前記2θ回転モータと前記θ回転
モータとを独立に制御する制御装置と、 と有することを特徴とする。
[Means for Solving Problems] First, a mechanism for automatically making a minute rotation of the goniometer base is required. Furthermore, it is necessary to independently rotate the three motors (base rotation motor, 2θ rotation motor, θ rotation motor) according to a predetermined program and according to the detected X-ray intensity, and a control device therefor. Is also necessary. Therefore, an automatic optical axis adjusting device for a goniometer of an X-ray diffractometer according to the present invention includes a goniometer base rotatable with respect to an X-ray source and an X-ray detector rotatable with respect to the goniometer base. In an X-ray diffractometer having an X-ray detector arm base to which is attached and a sample base rotatable with respect to the goniometer base, (a) a base rotary motor and (b) a 2θ rotary motor (C) a θ rotation motor, (d) a first transmission mechanism that transmits the rotation of the base rotation motor to the goniometer base, (e) the rotation of the 2θ rotation motor the X-ray detector arm base Based on peak information of the output of the X-ray detector, (f) a third transmission mechanism that transmits the rotation of the θ rotation motor to the sample stage,
A control device that independently controls the base rotation motor, the 2θ rotation motor, and the θ rotation motor.

このように、ゴニオメータ基台とX線検出器アーム台と
試料台とを、それぞれ別個にモータ駆動できるようにし
たことにより、光軸調整の自動化が可能になった。
As described above, the goniometer base, the X-ray detector arm base, and the sample base can be separately driven by motors, whereby the optical axis adjustment can be automated.

光軸調整のためには、上述の三つの被駆動部分はいずれ
も精度良く微小回転させる必要があり、したがって、そ
のための三つのモータはこのような要求を満たすような
モータとする必要がある。好ましくは、これらのモータ
として、パルスモータを利用できる。
In order to adjust the optical axis, all of the above-mentioned three driven parts must be minutely rotated with high precision, and therefore the three motors for that purpose must be motors that satisfy such requirements. Preferably, a pulse motor can be used as these motors.

第1伝動機構としては、ウォーム・ウォームホイール伝
動機構など各種の機構を利用できるが、以下の実施例で
説明するように、偏心カム機構を利用するのが最適であ
る。第2伝動機構と第3伝動機構についても各種の伝動
機構を採用できるが、従来のゴニオメータと同様に、ウ
ォーム・ウォームホイール伝動機構をそのまま利用する
のが便利である。
Although various mechanisms such as a worm / worm wheel transmission mechanism can be used as the first transmission mechanism, it is optimal to use an eccentric cam mechanism as described in the following embodiments. Although various transmission mechanisms can be adopted for the second transmission mechanism and the third transmission mechanism, it is convenient to use the worm / worm wheel transmission mechanism as it is, like the conventional goniometer.

上述の三つのモータを、所定のプログラムに従って制御
するには、マイクロコンピュータを利用するのが最適で
ある。
A microcomputer is optimally used to control the above-mentioned three motors according to a predetermined program.

[実施例] 以下、本発明の一実施例を次の順序で説明する。[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below in the following order.

イ.X線回折装置の全体構成 ロ.自動光軸調整装置の制御系 ハ.ゴニオメータ基台の回転駆動機構 ニ.光軸調整治具 ホ.自動光軸調整装置の動作手順 イ.X線回折装置の全体構成 第1図は本考案の一実施例を備えたX線回折装置の概略
平面図であり、第2図はその一部を断面にした正面図で
ある。フレーム10には、ターゲット12を有するX線
管14が固定され、ターゲット12上のX線焦点16か
らX線が発生する。このX線管14がX線回折装置のX
線源を構成している。X線管14にはX線シャッター1
5が取り付けられている。
I. Overall configuration of X-ray diffractometer b. Control system of automatic optical axis adjuster c. Rotation drive mechanism of goniometer base D. Optical axis adjustment jig e. Operation procedure of automatic optical axis adjustment device a. Overall Structure of X-Ray Diffraction Apparatus FIG. 1 is a schematic plan view of an X-ray diffraction apparatus equipped with an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a front view showing a part of the section. An X-ray tube 14 having a target 12 is fixed to the frame 10, and X-rays are generated from an X-ray focus 16 on the target 12. This X-ray tube 14 is the X of the X-ray diffractometer.
It constitutes the radiation source. The X-ray tube 14 has an X-ray shutter 1
5 is attached.

フレーム10にはプレート18が固定され、このプレー
ト18の上に、回転可能なゴニオメータ基台20が載っ
ている。ゴニオメータ基台20の上には、さらに、これ
と相対回転可能な試料台22および検出器アーム台24
が載っている。検出器アーム台24には検出器アーム2
6が固定され、検出器アーム26にはX線検出器28が
固定される。
A plate 18 is fixed to the frame 10, and a rotatable goniometer base 20 is mounted on the plate 18. On the goniometer base 20, further, a sample base 22 and a detector arm base 24, which are rotatable relative to the base 20, are provided.
Is listed. The detector arm 2 is attached to the detector arm base 24.
6 is fixed, and the X-ray detector 28 is fixed to the detector arm 26.

発散スリット30はゴニオメータ基台20に固定され、
散乱防止スリット32と受光スリット34は検出器アー
ム26に固定される。そして、検出器アーム26の回転
角2θをゼロにしたときには、発散スリット30、試料
軸36、散乱防止スリット32、受光スリット34が一
直線38の上に来るように光軸調整がなされている。試
料軸36は、試料台22の回転中心であり、検出器アー
ム台24の回転中心とも一致する。
The divergence slit 30 is fixed to the goniometer base 20,
The anti-scattering slit 32 and the light receiving slit 34 are fixed to the detector arm 26. Then, when the rotation angle 2θ of the detector arm 26 is set to zero, the optical axis is adjusted so that the divergence slit 30, the sample shaft 36, the scattering prevention slit 32, and the light receiving slit 34 are on the straight line 38. The sample shaft 36 is the center of rotation of the sample table 22 and also coincides with the center of rotation of the detector arm table 24.

試料台22は、パルスモータ(θ回転モータ)40によ
って回転駆動される。すなわち、試料台22にはウォー
ムホイール42が固定され、パルスモータ40の回転軸
には、ウォームホイール42と噛み合うウォーム44が
固定される。検出器アーム台24も、ウォームホイール
46とウォーム48とを介してパルスモータ50によっ
て回転駆動される。試料台22と検出器アーム台24
は、1対2の回転比で連動可能であり、かつ、それぞれ
の単独回転も可能である。自動光軸調整には単独回転を
利用する。パルスモータ40と50は五相パルスモータ
である。
The sample table 22 is rotationally driven by a pulse motor (θ rotation motor) 40. That is, the worm wheel 42 is fixed to the sample table 22, and the worm 44 that meshes with the worm wheel 42 is fixed to the rotation shaft of the pulse motor 40. The detector arm base 24 is also rotationally driven by the pulse motor 50 via the worm wheel 46 and the worm 48. Sample stand 22 and detector arm stand 24
Can be interlocked at a rotation ratio of 1: 2, and can also be independently rotated. Single rotation is used for automatic optical axis adjustment. The pulse motors 40 and 50 are five-phase pulse motors.

ゴニオメータ基台20を微小回転させる機構について
は、以下の「ハ.ゴニオメータ基台の回転駆動機構」の
項で詳しく説明する。
The mechanism for minutely rotating the goniometer base 20 will be described in detail in the section “C. Rotational drive mechanism of the goniometer base” below.

ロ.自動光軸調整装置の制御系 第3図は自動光軸調整装置の制御系を示す。X線検出器
28には高圧電源52が接続され、X線検出信号は増幅
器を経て波高分析器54に入力される。所定の強度範囲
の信号は計数計56でカウントされ、そのカウント値
は、制御装置58の入力インターフェース60に入力さ
れる。キーボード62からは自動光軸調整の開始指令が
入力される。このキーボード62は、自動光軸調整以外
にも、試料測定の際の各種データや作業指示を入力する
のにも使用されるものである。
B. Control System of Automatic Optical Axis Adjustment Device FIG. 3 shows a control system of the automatic optical axis adjustment device. A high voltage power supply 52 is connected to the X-ray detector 28, and the X-ray detection signal is input to a wave height analyzer 54 via an amplifier. The signals in the predetermined intensity range are counted by the counter 56, and the count value is input to the input interface 60 of the control device 58. A command for starting automatic optical axis adjustment is input from the keyboard 62. The keyboard 62 is used not only for automatic optical axis adjustment but also for inputting various data and work instructions when measuring a sample.

制御装置58は、CPU64、ROM66、RAM6
8、入力インターフェース60、出力インターフェース
70を含む。なお、パルスモータのためのモータドライ
バ72,74,76も制御装置58に含めることにす
る。ROM66には、自動光軸調整のためのプログラム
が格納されている。CPU64からの指令は、出力イン
ターフェース70を介して、モータドライバ72,7
4,76、CRTディスプレイ78、X線シャッター電
磁ソレノイド80に送られる。モータドライバ72,7
4,76からの出力パルス信号は、3個のパルスモー
タ、すなわち基台回転モータ82、2θ回転モータ5
0、θ回転モータ40にそれぞれ送られる。
The control device 58 includes a CPU 64, a ROM 66, a RAM 6
8 includes an input interface 60 and an output interface 70. The motor drivers 72, 74, 76 for the pulse motors are also included in the control device 58. A program for automatic optical axis adjustment is stored in the ROM 66. A command from the CPU 64 is sent to the motor drivers 72, 7 via the output interface 70.
4, 76, CRT display 78, X-ray shutter electromagnetic solenoid 80. Motor driver 72,7
The output pulse signals from 4, 76 are three pulse motors, that is, the base rotary motor 82, the 2θ rotary motor 5
0 and θ rotation motors 40 respectively.

ハ.ゴニオメータ基台の回転駆動機構 第1図において、プレート18には粗調整ブロック84
が載っている。この粗調整ブロック84は、プレート1
8に対して相対移動でき、一対の粗調整ねじ86,88
によって第1図の左右方向に移動させることができる。
すなわち、左の粗調整ねじ86をゆるめて、右の粗調整
ねじ88を締め付ければ、粗調整ブロック84は左に移
動し、逆の操作をすれば粗調整ブロック84は右に移動
する。粗調整ブロック84にはまた、粗調整ブロック8
4を固定するためのロツクねじ90,92が取り付けら
れている。
C. Rotational Drive Mechanism of Goniometer Base In FIG. 1, a rough adjustment block 84 is provided on the plate 18.
Is listed. This rough adjustment block 84 is used for the plate 1
8 relative to each other, and a pair of coarse adjustment screws 86, 88
Can be moved to the left and right in FIG.
That is, if the left coarse adjustment screw 86 is loosened and the right coarse adjustment screw 88 is tightened, the coarse adjustment block 84 moves to the left, and if the reverse operation is performed, the coarse adjustment block 84 moves to the right. The coarse adjustment block 84 also includes the coarse adjustment block 8
Locking screws 90 and 92 for fixing 4 are attached.

粗調整ブロック84にはパルスモータ(基台回転モー
タ)82が固定される。このパルスモータ82は、五相
パルスモータであって、1パルス当たり0.72゜だけ
回転でき、500パルスで一回転する。第4図に拡大し
て示すように、パルスモータ82の出力軸94には偏心
カム96が固定される。なお、第2図では粗調整ブロッ
ク84の図示を省略してある。偏心カム96は円形輪郭
98を有し、円形輪郭98の中心と回転中心とは距離ε
だけ偏心している。輪郭を円形にしたのは、精度の良い
機械加工が容易だからである。また、出力軸94を偏心
カム96に固定するための軸穴も、機械加工は容易であ
る。
A pulse motor (base rotation motor) 82 is fixed to the coarse adjustment block 84. The pulse motor 82 is a five-phase pulse motor, which can rotate by 0.72 ° per pulse, and makes one rotation in 500 pulses. As shown enlarged in FIG. 4, an eccentric cam 96 is fixed to the output shaft 94 of the pulse motor 82. The rough adjustment block 84 is not shown in FIG. The eccentric cam 96 has a circular contour 98, and the distance between the center of the circular contour 98 and the center of rotation is ε.
Only eccentric. The contour is circular because it is easy to perform accurate machining. Further, the shaft hole for fixing the output shaft 94 to the eccentric cam 96 is also easy to machine.

ゴニオメータ基台20にはカム従動子100が固定され
る。カム従動子100には溝102が形成され、この溝
102の対向壁面104,106は、偏心カム96の円
形輪郭98と接触する。このような溝102も、精度良
く機械加工できる。溝102の幅は、偏心カム96の円
形輪郭98の直径とほとんど同じであるが、厳密には、
円形輪郭98の直径よりわずかに広くなっている。偏心
カム96の円形輪郭98も、カム従動子100の溝10
2も、精度良く機械加工できるので、これらの間の隙間
はほとんどなくすことができる。
The cam follower 100 is fixed to the goniometer base 20. A groove 102 is formed in the cam follower 100, and the opposing wall surfaces 104 and 106 of the groove 102 come into contact with the circular contour 98 of the eccentric cam 96. Such a groove 102 can also be machined with high precision. The width of the groove 102 is almost the same as the diameter of the circular contour 98 of the eccentric cam 96, but strictly speaking,
It is slightly wider than the diameter of the circular contour 98. The circular contour 98 of the eccentric cam 96 is also the groove 10 of the cam follower 100.
Since No. 2 can also be machined with high precision, the gap between them can be almost eliminated.

この実施例では、パルスモータ82の出力軸の中心から
試料軸36までの距離L(第1図参照)は220mmに
設定されている。また、偏心カム96の偏心量ε(第4
図参照)は0.8mmに設定されている。
In this embodiment, the distance L (see FIG. 1) from the center of the output shaft of the pulse motor 82 to the sample shaft 36 is set to 220 mm. Further, the eccentricity amount ε of the eccentric cam 96 (fourth
(See the figure) is set to 0.8 mm.

次に、この駆動機構の動作を説明する。第1図におい
て、まず、予備調整として、粗調整ブロック84の調整
をしておく。粗調整ねじ86,88を手動で操作して、
粗調整ブロック84を左右にわずかに移動させて、ゴニ
オメータ基台20の大まかな回転位置を決めておく。粗
調整ブロック84を移動させれば、パルスモータ82と
偏心カム96とカム従動子100とを介して、ゴニオメ
ータ基台20を回転させることができる。検出器28の
X線強度を参考にしながら、このような大まかな調整は
簡単にできる。大まかな調整が済んだら、ロツクねじ9
0,92を締め付けて粗調整ブロック84をプレート1
8に固定する。なお、このような大まかな調整は、たび
たび実施する必要はなく、通常の光軸調整では、後述の
自動光軸調整作業だけ実施すれば済む。
Next, the operation of this drive mechanism will be described. In FIG. 1, first, as a preliminary adjustment, the coarse adjustment block 84 is adjusted. Manually operate the coarse adjustment screws 86, 88,
The rough adjustment block 84 is slightly moved to the left and right to determine the rough rotation position of the goniometer base 20. By moving the rough adjustment block 84, the goniometer base 20 can be rotated via the pulse motor 82, the eccentric cam 96, and the cam follower 100. Such a rough adjustment can be easily performed with reference to the X-ray intensity of the detector 28. After rough adjustment, lock screw 9
Tighten 0 and 92 to attach the coarse adjustment block 84 to the plate 1.
Fix at 8. It should be noted that such a rough adjustment does not need to be carried out frequently, and in the normal optical axis adjustment, only the automatic optical axis adjustment work described later is sufficient.

次に、パルスモータ82の回転角αと、ゴニオメータ基
台20の回転角βとの関係を、第5図を参照して説明し
ておく。
Next, the relationship between the rotation angle α of the pulse motor 82 and the rotation angle β of the goniometer base 20 will be described with reference to FIG.

今、偏心カム96が第5図の実線で示す状態にあるとき
を基準位置とし、この状態の回転角をゼロと定めること
にする。パルスモータが時計回りに角度αだけ回転する
と、偏心カム96も同じ角度だけ回転する。このとき、
カム従動子100は距離dだけ左に移動し、その移動距
離は、 d=ε・sinα (1) となる。カム従動子100はゴニオメータ基台に固定さ
れているので、ゴニオメータ基台20は角度βだけ回転
し、その回転角は近似的に、 β=sin-1(d/L) (2) となる。
Now, when the eccentric cam 96 is in the state shown by the solid line in FIG. 5, the reference position is set, and the rotation angle in this state is set to zero. When the pulse motor rotates clockwise by the angle α, the eccentric cam 96 also rotates by the same angle. At this time,
The cam follower 100 moves to the left by a distance d, and the moving distance is d = ε · sin α (1). Since the cam follower 100 is fixed to the goniometer base, the goniometer base 20 rotates by the angle β, and the rotation angle is approximately β = sin −1 (d / L) (2).

パルスモータは、1パルス当たり0.72゜(Δα)だ
け回転するので、上述の(1)(2)式から、1パルス当たり
のゴニオメータ基台の回転角(Δβ)が求まる。ただ
し、一定のΔαに対しても、距離dの変化量Δdは、偏
心カムの位置に依存して変化することになる。たとえば
α=0゜の付近ではΔdは大きく、α=90゜の付近で
はΔdは小さい。今、Δdの平均的な値Δdavを考え
ることにする。パルスモータを半回転させるには250
パルスを必要とし、このとき、カム従動子は2ε=1.
6mmだけ移動する。したがって、カム従動子は、パル
スモータに1パルス供給される毎に、 Δdav=1.6/250=0.0064mm だけ平均的に移動することになる。このときのゴニオメ
ータ基台の回転角は、上述の(2) 式において、L=22
0mmとして、 Δβav=0.00167゜ となる。
Since the pulse motor rotates by 0.72 ° (Δα) per pulse, the rotation angle (Δβ) of the goniometer base per pulse can be obtained from the above equations (1) and (2). However, even with a constant Δα, the change amount Δd of the distance d changes depending on the position of the eccentric cam. For example, Δd is large in the vicinity of α = 0 °, and Δd is small in the vicinity of α = 90 °. Now consider the average value of Δd Δd av . 250 to rotate the pulse motor half a turn
Pulse is required, and the cam follower then has 2ε = 1.
Move 6 mm. Therefore, the cam follower moves on average by Δd av = 1.6 / 250 = 0.0064 mm every time one pulse is supplied to the pulse motor. The rotation angle of the goniometer base at this time is L = 22 in the above equation (2).
If 0 mm, Δβ av = 0.00167 °.

このようにして求めた、1パルス当たりのゴニオメータ
基台の平均回転角Δβavを用いて、ゴニオメータの回
転調整に関連する数値を以下の第1表に示す。
Table 1 below shows the numerical values related to the rotation adjustment of the goniometer, using the average rotation angle Δβ av of the goniometer base per pulse thus obtained.

この表で、合格角度差とは、この範囲内であればどの位
置にゴニオメータ基台があっても光軸調整が正しく行わ
れたとみなされる角度範囲のことをいう。この駆動機構
では、パルスモータの最小動作は、合格角度差の6分の
1であり、十分な調整精度を有することがわかる。ピー
ク半価幅とは、回転調整を実施するときに現れるゼロピ
ークの標準的な半価幅である。
In this table, the acceptable angle difference means an angle range within which the optical axis adjustment is considered to have been performed correctly regardless of the position of the goniometer base. In this drive mechanism, the minimum operation of the pulse motor is ⅙ of the acceptable angle difference, and it can be seen that the drive motor has sufficient adjustment accuracy. The peak half width is the standard half width of the zero peak that appears when performing rotation adjustment.

第6図は、この駆動機構の動作を図示したものである。
第6図(a)は、カム従動子の移動量dをパルスモータ
の回転角α(偏心カムの回転角も同じ)の関数として表
したものであり、上述の(1) 式の通り、正弦関数となっ
ている。
FIG. 6 illustrates the operation of this drive mechanism.
FIG. 6 (a) shows the movement amount d of the cam follower as a function of the rotation angle α of the pulse motor (the rotation angle of the eccentric cam is the same). It is a function.

第6図(b)は、データムスイッチのタイムチャートで
ある。データムスイッチは、パルスモータの回転の基準
位置を定める役割を果たし、パルスモータが1回転する
間に、特定の位置で1回だけONする。このONの位置
を、パルスモータ回転角α=ゼロと定めている。すなわ
ち、パルスモータが1回転する毎にパルスモータの回転
角はゼロに戻ることになる。実際は、パルスモータの回
転角は、パルスモータに供給するパルス数を制御装置で
カウントして測定されており、データムスイッチがON
になると、このカウント数がゼロにリセットされる。
FIG. 6 (b) is a time chart of the datum switch. The datum switch plays a role of defining a reference position for rotation of the pulse motor, and is turned on only once at a specific position during one rotation of the pulse motor. The ON position is defined as the pulse motor rotation angle α = zero. That is, every time the pulse motor makes one rotation, the rotation angle of the pulse motor returns to zero. Actually, the rotation angle of the pulse motor is measured by counting the number of pulses supplied to the pulse motor with the control device, and the datum switch is turned on.
Then, this count is reset to zero.

ニ.光軸調整治具 第7a図および第7b図は、自動光軸調整作業に使用さ
れる光軸調整治具の二つの状態を示す。第7a図におい
て、この治具108は試料台に取り付けられるもので、
その片面には、幅2mmの細長い二つの基準平面11
0,112が形成され、その間114は、基準平面11
0,112よりも0.5mmだけ低くなっている。この
治具108を試料台に取り付けるには、基準平面11
0,112の下半分を試料台の基準面に当接させればよ
く、このとき、二つの基準平面110,112は、試料
軸を含む平面内に位置決めされるようになっている。
D. Optical Axis Adjustment Jig FIGS. 7a and 7b show two states of the optical axis adjustment jig used in the automatic optical axis adjustment work. In FIG. 7a, this jig 108 is attached to the sample table.
On its one side, there are two elongated reference planes 11 with a width of 2 mm.
0 and 112 are formed, and in the meantime, 114 is the reference plane 11.
It is 0.5 mm lower than 0 and 112. To attach the jig 108 to the sample table, the reference plane 11
The lower half of 0, 112 may be brought into contact with the reference surface of the sample table, and at this time, the two reference planes 110, 112 are positioned within the plane including the sample axis.

この治具108には貫通穴116が形成される。この貫
通穴116は、基準平面110,112に対して垂直な
方向に貫通している。貫通穴116の、貫通方向に垂直
な断面寸法は、12mm×20mmである。貫通穴11
6の断面寸法は、発散スリットからやって来るX線11
8を何の障害もなく通過させ得るだけの大きさとなって
いる。第7a図は、ゴニオメータ基台の位置調整と2θ
=ゼロの調整をする場合の、治具108の状態を示す。
第7b図はθ=ゼロの調整をする場合の治具108の状
態を示す。
Through holes 116 are formed in the jig 108. The through hole 116 penetrates in a direction perpendicular to the reference planes 110 and 112. The cross-sectional dimension of the through hole 116 perpendicular to the through direction is 12 mm × 20 mm. Through hole 11
The cross-sectional size of 6 is X-ray 11 coming from the divergence slit.
It is large enough to pass 8 without any obstacles. Figure 7a shows the position adjustment of the goniometer base and 2θ.
= Shows the state of the jig 108 when adjusting zero.
FIG. 7b shows the state of the jig 108 when adjusting θ = 0.

ホ.自動光軸調整装置の動作手順 以下、第8図から第12図までのフローチャートを参照
して自動光軸調整装置の動作を説明する。
E. Operation Procedure of Automatic Optical Axis Adjustment Device The operation of the automatic optical axis adjustment device will be described below with reference to the flowcharts of FIGS. 8 to 12.

第8図は自動光軸調整作業の前後の手順を示す。自動光
軸調整作業に入る前には、まず、スリット系および試料
台に光軸調整用の部品を取り付ける(ステップ12
0)。すなわち、発散スリットボックスには、開き幅
0.05mmの発散スリットを取り付け、散乱防止スリ
ットボックスには、アルミニウム製の吸収板を取り付
け、受光スリットボックスには、開き幅0.15mmの
受光スリットを取り付ける。試料台には上述の光軸調整
治具108を取り付ける。ここまでは、作業者が手動で
行う。次に、キーボードから自動光軸調整の指示を与え
ると、所定のプログラムに従って自動光軸調整作業が実
施される(ステップ122)。自動光軸調整作業が終了
したら、作業者は、スリット系および試料台に回折測定
用の部品を取り付ける(ステップ124)。すなわち、
発散スリットボックスには、開き角1゜の発散スリット
を取り付け、散乱防止スリットボックスには、開き角1
゜の散乱防止スリットを妃り付け、受光スリットボック
スには、開き幅0.3mmの受光スリットを取り付け
る。試料台には試料板を取り付ける。
FIG. 8 shows the procedure before and after the automatic optical axis adjustment work. Before starting the automatic optical axis adjustment work, first, attach the optical axis adjustment parts to the slit system and the sample table (step 12).
0). That is, a divergence slit with an opening width of 0.05 mm is attached to the divergence slit box, an aluminum absorption plate is attached to the scattering prevention slit box, and a light receiving slit with an opening width of 0.15 mm is attached to the light receiving slit box. . The above-mentioned optical axis adjusting jig 108 is attached to the sample table. Up to this point, the operator manually does this. Next, when an instruction for automatic optical axis adjustment is given from the keyboard, the automatic optical axis adjustment work is carried out according to a predetermined program (step 122). When the automatic optical axis adjustment work is completed, the worker attaches the diffraction measurement parts to the slit system and the sample stage (step 124). That is,
The divergence slit box has a divergence slit with an opening angle of 1 °, and the scattering prevention slit box has an opening angle of 1 °.
A scattering prevention slit of ° is attached, and a light-receiving slit with an opening width of 0.3 mm is attached to the light-receiving slit box. Attach the sample plate to the sample table.

第9図は自動光軸調整手順の概要を示す。まず、θ回転
モータを早送りして試料台をθ=−90゜の位置にする
(ステップ126)。こうすると、入射X線は光軸調整
治具の貫通穴を通過することになる。次に、X線管を2
0kV,5mAの条件で作動させる(ステップ12
8)。そして、X線シャッターを開く(ステップ13
0)。それから、ゴニオメータ基台位置の調整(ステッ
プ132)、2θ=ゼロの確認(ステップ134)、θ
=ゼロの調整(ステップ136)を順に実施する。最後
に、X線シャッターを閉じて(ステップ138)、光軸
調整が終了する。
FIG. 9 shows an outline of the automatic optical axis adjustment procedure. First, the θ rotation motor is fast-forwarded to bring the sample stage to the position of θ = −90 ° (step 126). In this case, the incident X-ray will pass through the through hole of the optical axis adjusting jig. Next, 2 X-ray tubes
Operate under the conditions of 0 kV and 5 mA (step 12
8). Then, open the X-ray shutter (step 13).
0). Then, the goniometer base position adjustment (step 132), 2θ = zero confirmation (step 134), θ
= Zero adjustment (step 136) is sequentially performed. Finally, the X-ray shutter is closed (step 138), and the optical axis adjustment is completed.

第10a図から第10c図まではゴニオメータ基台位置
の調整の手順を詳細に示す。まず、2θ=−3゜〜+3
゜の範囲で、X線強度を測定しながら検出器アーム台を
スキャンする(ステップ140)。そのとき、2θの値
とX線強度を記憶する(ステップ142)。次に、上述
のスキャンの範囲内にピークがあるか判定する(ステッ
プ144)。ピークがないときは、CRTディスプレイ
にエラーメッセージを表示して(ステップ146)、自
動光軸調整を中止する。ピークがあれば、そのピークが
2θ=±0.18゜の範囲内にあるか判定する(ステッ
プ148)。この範囲は、上述の第1表に示したよう
に、ゴニオメータ基台の最大動作範囲内に設定されてい
る。この範囲内にピークが無ければCRTディスプレイ
にエラーメッセージを表示して(ステップ150)、自
動光軸調整を中止する。ピークがこの範囲内にあれば、
ピーク151の半価幅δの2分の1を計算し記憶する
(ステップ152)。次に、ピークの位置がプラス側か
マイナス側かを判定する(ステップ154)。マイナス
側のピーク153のときは、そのまま第10b図の手順
に進む。プラス側のピーク155のときは、α=270
゜となるように偏心カムを早送りする(ステップ15
6)。なお、偏心カムは最初はα=0゜の位置に設定さ
れている。α=270゜にするには、パルスモータ82
(第4図)に375パルスを供給すれば良い。このよう
にすると、第5図において、カム従動子100は最も右
側に来た状態となり、プラス側のピーク155はマイナ
ス側に移動する。このように、ゴニオメータ基台を調整
するときは、ピークが常にマイナス側からゼロに近付い
ていくようにし、光軸調整の再現性を高めている。
10a to 10c show in detail the procedure for adjusting the goniometer base position. First, 2θ = −3 ° to +3
In the range of °, the detector arm base is scanned while measuring the X-ray intensity (step 140). At that time, the value of 2θ and the X-ray intensity are stored (step 142). Next, it is determined whether or not there is a peak within the above-mentioned scan range (step 144). If there is no peak, an error message is displayed on the CRT display (step 146) and the automatic optical axis adjustment is stopped. If there is a peak, it is determined whether the peak is within the range of 2θ = ± 0.18 ° (step 148). This range is set within the maximum operating range of the goniometer base, as shown in Table 1 above. If there is no peak in this range, an error message is displayed on the CRT display (step 150) and the automatic optical axis adjustment is stopped. If the peak is in this range,
Half the half-value width δ of the peak 151 is calculated and stored (step 152). Next, it is determined whether the position of the peak is on the plus side or the minus side (step 154). When the peak 153 is on the negative side, the process directly proceeds to the procedure of FIG. 10b. When the peak 155 on the plus side is α = 270
Fast-forward the eccentric cam so that
6). The eccentric cam is initially set at the position of α = 0 °. To set α = 270 °, the pulse motor 82
It is sufficient to supply 375 pulses to (Fig. 4). By doing so, in FIG. 5, the cam follower 100 comes to the rightmost position, and the peak 155 on the plus side moves to the minus side. In this way, when adjusting the goniometer base, the peak is always made to approach zero from the negative side to improve the reproducibility of the optical axis adjustment.

次に、第10b図で、2θ=(O+δ/2)゜となるよ
うに、検出器アーム台を早送りする(ステップ15
8)。そして、偏心カムをゆっくりスキャンする(ステ
ップ160)。すると、マイナス側のピーク153はゆ
っくりとプラス側へ移動することになり、2θ=(O+
δ/2)゜の位置で観測していると、X線強度が徐々に
大きくなってくる。そして、X線強度が、これまで観測
された最大強度すなわちピーク高さh、の40%に達し
たか判定する(ステップ162)。達しない場合は偏心
カムの回転を続ける。40%に達したら、偏心カムを停
止する(ステップ164)。その時点で、検出器アーム
台を移動させて、2θ=(O+δ/2)゜の位置でのX
線強度Iと、2θ=(O−δ/2)゜の位置でのX線
強度Iとを観測して記憶する(ステップ166)。次
に、IとIとの差が十分小さいことを確認する。す
なわち、(|I−I|)/(I+I)≦0.0
5を判定する(ステップ168)。差が十分小さけれ
ば、ゴニオメータ基台の位置調整が完了したことにな
り、2θ=ゼロの確認(ステップ134)に進む。その
際、ゴニオメータ基台20を電磁ロックでプレート18
に固定する。IとIとの差が十分小さくなければ、
第10図cに移って、IがIより大きいか判定する
(ステップ170)。ピークはマイナス側から近付いて
いるので、通常は、IはIより大きく、そのとき
は、偏心カムを1パルス分だけ微小回転させる(ステッ
プ172)。すると、ピークはわずかにプラス側に移動
し、この状態で、もう一度、第10図bのステップ16
6に戻る。なお、光軸調整作業中にX線源の強度が変化
するようなときは、ステップ170の判定は必ずしもY
ESにならない。すなわち、最大強度測定時のX線源の
強度と比べて、ステップ162の測定の際のX線源の強
度の方が小さくなっていると、Iの方がIより大き
くなることがある。このときは、偏心カムを488パル
ス分だけ回転させてやる(ステップ174)。すなわ
ち、500−488=12パルス分だけ、ピークをマイ
ナス側に戻してやったことになる。そして、再度、ステ
ップ166からやり直す。いずれにしても、最終的には
ステップ168の判定がYESとなって、ゴニオメータ
基台の調整が完了する。
Next, in FIG. 10b, the detector arm base is fast-forwarded so that 2θ = (O + δ / 2) ° (step 15).
8). Then, the eccentric cam is slowly scanned (step 160). Then, the negative peak 153 slowly moves to the positive side, and 2θ = (O +
When observed at the position of δ / 2) °, the X-ray intensity gradually increases. Then, it is determined whether the X-ray intensity reaches 40% of the maximum intensity observed so far, that is, the peak height h (step 162). If not reached, the eccentric cam continues to rotate. When it reaches 40%, the eccentric cam is stopped (step 164). At that point, move the detector arm base to move X at the position of 2θ = (O + δ / 2) °.
The line intensity I p and the X-ray intensity I m at the position of 2θ = (O−δ / 2) ° are observed and stored (step 166). Next, it is confirmed that the difference between I p and I m is sufficiently small. That is, (| I p −I m |) / (I p + I m ) ≦ 0.0
5 is determined (step 168). If the difference is sufficiently small, it means that the position adjustment of the goniometer base has been completed, and the process proceeds to the confirmation of 2θ = 0 (step 134). At that time, the goniometer base 20 is electromagnetically locked to the plate 18
Fixed to. If the difference between I p and I m is not small enough,
Turning to FIG. 10 c, I m is determined greater than I p (step 170). Since the peak is approaching from the minus side, I m is usually larger than I p , and at that time, the eccentric cam is slightly rotated by one pulse (step 172). Then, the peak moves slightly to the plus side, and in this state, the step 16 in FIG.
Return to 6. If the intensity of the X-ray source changes during the optical axis adjustment work, the determination in step 170 is not necessarily Y.
Not ES. That is, when the intensity of the X-ray source at the time of measurement in step 162 is smaller than the intensity of the X-ray source at the time of maximum intensity measurement, I p may be higher than I m. . At this time, the eccentric cam is rotated by 488 pulses (step 174). That is, the peak is returned to the minus side by 500-488 = 12 pulses. Then, the process starts again from step 166. In any case, finally, the determination in step 168 becomes YES, and the adjustment of the goniometer base is completed.

次に、第11図に移って、2θ=ゼロの確認を行う。ま
ず、2θ=−0.12゜〜+0.12゜の範囲で、X線
強度を測定しながら検出器アーム台をスキャンする(ス
テップ176)。そのとき記憶されたピーク・プロファ
イルから、ピーク位置を決定し、これを記憶する(ステ
ップ178)。このピーク位置のところが2θ=ゼロの
位置である。したがって、次に検出器アーム台を回転さ
せて、2θをピーク位置のところにもってくる(ステッ
プ180)。これで、検出器アーム台は正確に2θ=ゼ
ロの位置に設定された。そして、θ=ゼロの調整(ステ
ップ136)に移る。
Next, moving to FIG. 11, it is confirmed that 2θ = 0. First, the detector arm base is scanned while measuring the X-ray intensity in the range of 2θ = −0.12 ° to + 0.12 ° (step 176). The peak position is determined from the peak profile stored at that time and stored (step 178). The position of this peak is the position of 2θ = 0. Therefore, the detector arm base is then rotated to bring 2θ to the peak position (step 180). The detector arm pedestal is now set to the exact 2θ = 0 position. Then, the process proceeds to the adjustment of θ = zero (step 136).

第12図は、θ=ゼロの調整手順を示す。まず、試料台
を、現在の位置(θ=−90゜)から+10゜まで、早
送りで回転させ、ピークの予備測定を行う(ステップ1
82)。次に、観測されたピーク位置の付近で、すなわ
ちθ=(ピーク位置±0.02゜)の範囲で、試料台を
ゆっくりスキヤンする(ステップ184)。そして、ピ
ーク位置を決定しこれを記憶する(ステップ186)。
このピーク位置がθ=ゼロの位置となる。これで、θ=
ゼロの調整が完了し、第9図のステップ138に戻る。
FIG. 12 shows the adjustment procedure for θ = 0. First, the sample stage is rotated from the current position (θ = −90 °) to + 10 ° by fast-forwarding, and preliminary measurement of the peak is performed (step 1
82). Next, in the vicinity of the observed peak position, that is, in the range of θ = (peak position ± 0.02 °), the sample stage is slowly scanned (step 184). Then, the peak position is determined and stored (step 186).
This peak position is the position where θ = zero. Now, θ =
The zero adjustment is completed, and the process returns to step 138 in FIG.

[発明の効果] 以上説明したように本発明は、ゴニオメータ基台とX線
検出器アーム台と試料台とをそれぞれ、基台回転モータ
と2θ回転モータとθ回転モータとによって駆動し、こ
れらのモータを制御装置によって独立に制御できるよう
にしたので、ゴニオメータの光軸調整を自動化できる効
果がある。
As described above, according to the present invention, the goniometer base, the X-ray detector arm base, and the sample base are driven by the base rotation motor, the 2θ rotation motor, and the θ rotation motor, respectively. Since the motor can be independently controlled by the control device, there is an effect that the optical axis adjustment of the goniometer can be automated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例を備えるX線回折装置の概略
平面図、 第2図はその一部を断面にした正面図、 第3図は本発明の一実施例の制御系のブロック図、 第4図はこの実施例で使用するゴニオメータ基台駆動機
構の要部の斜視図、 第5図はこの駆動機構の動作説明図、 第6図はこの駆動機構の動作線図、 第7a図と第7b図はこの実施例で使用する光軸調整治
具の二つの使用状態を示す斜視図、 第8図は自動光軸調整作業の前後の手順を示すフローチ
ャート、 第9図は自動光軸調整の概略手順を示すフローチャー
ト、 第10a図から第10c図まではゴニオメータ基台の位
置調整手順を示すフローチャート、 第11図は2θ=ゼロの確認手順を示すフローチャー
ト、 第12図はθ=ゼロの調整手順を示すフローチャートで
ある。 14……X線管 20……ゴニオメータ基台 22……試料台 24……X線検出器アーム台 28……X線検出器 40……θ回転モータ 42,46……ウォームホイール 44,48……ウォーム 50……2θ回転モータ 58……制御装置 96……偏心カム 100……カム従動子
FIG. 1 is a schematic plan view of an X-ray diffractometer having an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a front view of a part of which is shown in cross section, and FIG. 3 is a block diagram of a control system of an embodiment of the present invention. 4 and 5 are perspective views of a main part of a goniometer base drive mechanism used in this embodiment, FIG. 5 is an operation explanatory view of this drive mechanism, FIG. 6 is an operation diagram of this drive mechanism, and 7a. FIG. 7 and FIG. 7b are perspective views showing two usage states of the optical axis adjusting jig used in this embodiment, FIG. 8 is a flowchart showing a procedure before and after the automatic optical axis adjusting work, and FIG. 10 is a flowchart showing a procedure for adjusting the position of the goniometer base, FIG. 11 is a flowchart showing a procedure for confirming 2θ = 0, and FIG. 12 is θ = 0. 6 is a flowchart showing the adjustment procedure of FIG. 14 …… X-ray tube 20 …… Goniometer base 22 …… Sample stand 24 …… X-ray detector arm stand 28 …… X-ray detector 40 …… θ rotation motor 42,46 …… Warm wheel 44,48… … Worm 50 …… 2θ rotation motor 58 …… Control device 96 …… Eccentric cam 100 …… Cam follower

フロントページの続き (72)発明者 平島 修 東京都昭島市松原町3―9―12 理学電機 株式会社拝島工場内 (72)発明者 大沢 登 東京都昭島市松原町3―9―12 理学電機 株式会社拝島工場内 (72)発明者 浅野 繁松 東京都昭島市松原町3―9―12 理学電機 株式会社拝島工場内 (72)発明者 川崎 浩 東京都昭島市松原町3―9―12 理学電機 株式会社拝島工場内 (72)発明者 坂田 政隆 東京都昭島市松原町3―9―12 理学電機 株式会社拝島工場内 (72)発明者 吉沢 和幸 東京都昭島市松原町3―9―12 理学電機 株式会社拝島工場内 (56)参考文献 特開 平1−127940(JP,A) 特開 昭47−45987(JP,A) 特公 昭52−41075(JP,B2)Front page continued (72) Inventor Osamu Hirashima 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo Inside the Haijima Plant of Rigaku Denki Co., Ltd. (72) Noboru Osawa 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo Rigaku Electric Co., Ltd. Haijima Inside the factory (72) Inventor Shigematsu Asano 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo Inside Rigaku Denki Co., Ltd. (72) Inventor Hiroshi Kawasaki 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo Inside Rigaku Denki Co., Ltd. Haijima factory (72) Inventor Masataka Sakata 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo Inside Rijima Electric Co., Ltd. Haijima factory (72) Inventor Kazuyuki Yoshizawa 3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo Inside Rijima Electric Haijima factory (56 ) References JP-A 1-127940 (JP, A) JP-A 47-45987 (JP, A) JP-B 52-41075 (JP, B2)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】X線源に対して回転可能なゴニオメータ基
台と、前記ゴニオメータ基台に対して回転可能であって
X線検出器が取り付けられているX線検出器アーム台
と、前記ゴニオメータ基台に対して回転可能な試料台と
を有するX線回折装置において、 (a) 基台回転モータと、 (b) 2θ回転モータと、 (c) θ回転モータと、 (d) 前記基台回転モータの回転を前記ゴニオメータ基
台に伝達する第1伝動機構と、 (e) 前記2θ回転モータの回転を前記X線検出器アー
ム台に伝達する第2伝動機構と、 (f) 前記θ回転モータの回転を前記試料台に伝達する
第3伝動機構と、 (g) 前記X線検出器の出力のピーク情報に基づいて、
前記基台回転モータと前記2θ回転モータと前記θ回転
モータとを独立に制御する制御装置と、 と有することを特徴とする、ゴニオメータの自動光軸調
整装置。
1. A goniometer base rotatable with respect to an X-ray source, an X-ray detector arm base rotatable with respect to the goniometer base and having an X-ray detector attached thereto, and the goniometer. An X-ray diffraction apparatus having a sample stage rotatable with respect to a base, comprising: (a) a base rotation motor, (b) a 2θ rotation motor, (c) a θ rotation motor, and (d) the base A first transmission mechanism that transmits the rotation of a rotation motor to the goniometer base; (e) a second transmission mechanism that transmits the rotation of the 2θ rotation motor to the X-ray detector arm base; and (f) the θ rotation. A third transmission mechanism for transmitting the rotation of the motor to the sample stage, and (g) based on the peak information of the output of the X-ray detector,
An automatic optical axis adjusting device for a goniometer, comprising: a control device that independently controls the base rotation motor, the 2θ rotation motor, and the θ rotation motor.
JP62315128A 1987-12-15 1987-12-15 Automatic optical axis adjusting device for goniometer of X-ray diffractometer Expired - Lifetime JPH0643973B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62315128A JPH0643973B2 (en) 1987-12-15 1987-12-15 Automatic optical axis adjusting device for goniometer of X-ray diffractometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62315128A JPH0643973B2 (en) 1987-12-15 1987-12-15 Automatic optical axis adjusting device for goniometer of X-ray diffractometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01156643A JPH01156643A (en) 1989-06-20
JPH0643973B2 true JPH0643973B2 (en) 1994-06-08

Family

ID=18061743

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62315128A Expired - Lifetime JPH0643973B2 (en) 1987-12-15 1987-12-15 Automatic optical axis adjusting device for goniometer of X-ray diffractometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0643973B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012177688A (en) * 2011-01-31 2012-09-13 Rigaku Corp X-ray diffraction device

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2833834B2 (en) * 1990-07-10 1998-12-09 日本電子株式会社 Goniometer in X-ray analyzer
JP5971763B2 (en) 2013-04-17 2016-08-17 株式会社リガク X-ray optical component device and X-ray analyzer
JP6270214B2 (en) 2013-11-25 2018-01-31 株式会社リガク Optical axis adjustment method for X-ray analyzer and X-ray analyzer
JP6270215B2 (en) 2013-11-25 2018-01-31 株式会社リガク Optical axis adjustment device for X-ray analyzer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012177688A (en) * 2011-01-31 2012-09-13 Rigaku Corp X-ray diffraction device

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01156643A (en) 1989-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS60237307A (en) Laser length measuring machine
US4364122A (en) X-Ray diffraction method and apparatus
US4382680A (en) Apparatus and process for sweeping a flat optical light plane
JPH0643973B2 (en) Automatic optical axis adjusting device for goniometer of X-ray diffractometer
US4297031A (en) Apparatus and process for sweeping a flat optical light plane
JPH0318352A (en) X-ray diagnosing device
JPH07107516B2 (en) Automatic optical axis adjuster for goniometer of X-ray diffractometer
CN114459390B (en) Lathe tailstock coaxiality precision detection device and detection method
EP0118932B1 (en) X-ray analysis apparatus
JP3221619B2 (en) X-ray diffractometer
EP1371957B1 (en) Spectrometer
US6061120A (en) Infrared microscope
JP2899057B2 (en) Automatic optical axis adjuster for sample fixed X-ray diffractometer
JPS62190453A (en) Lattice constant measuring instrument
Jenkins et al. Considerations in the design of goniometers for use in X-ray powder diffractometers
JP2899056B2 (en) Optical axis adjustment method and apparatus for sample fixed X-ray diffractometer
JP3847913B2 (en) Crystal orientation determination device
JP2515504Y2 (en) Goniometer optical axis adjustment jig for X-ray diffractometer
US4288710A (en) Drive mechanism
JPH0654265B2 (en) 2-axis swing X-ray stress measurement device
JP2001311705A (en) X-ray diffraction device
JP2002148220A (en) X-ray diffractometer and x-ray adjustment method
JPS58217257A (en) Method and apparatus for high-precision parallelism processing
JPH0760471A (en) Shaping apparatus of beam shape of laser beam machine
JPS6064238A (en) X-ray analyzing apparatus using electron beam