JPH06347210A - Hologram cassette for hologram interferometer device - Google Patents

Hologram cassette for hologram interferometer device

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JPH06347210A
JPH06347210A JP16335193A JP16335193A JPH06347210A JP H06347210 A JPH06347210 A JP H06347210A JP 16335193 A JP16335193 A JP 16335193A JP 16335193 A JP16335193 A JP 16335193A JP H06347210 A JPH06347210 A JP H06347210A
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light
hologram
optical element
cassette
hologram optical
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Shigenori Oi
重徳 大井
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Fuji Photo Optical Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To absorb light transmitted through a hologram optical element and prevent any harm by fitting a lid body with a light absorption function and a light diffusion function. CONSTITUTION:A lid body 32 is provided and is sealed to a cassette body opposingly while it is separated by a specific spacing for a reflection prevention type light absorption layer formation surface 34b of a hologram optical element 34. For example, a black paint is applied to the inner surface of the lid body 32 to achieve a light absorption function, the paint is applied, and then a satinized diffusion surface is obtained, thus enabling light to be absorbed by the light absorption diffusion surface 32a, even if light is transmitted on the light absorption layer formation surface 34b of the optical element 34. Also, even if light is not completely absorbed by the light absorption diffusion surface 32a, reflected light is not regularly reflected and is irregularly reflected, thus preventing any harm for an interference fringe image.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レンズ,平行平面板,
ミラーその他の精密光学部品等の被測定物体の表面状態
を測定するためのホログラム干渉計装置において、被検
物の種類に応じて交換して装着されるホログラムカセッ
トに関するものである。
The present invention relates to a lens, a plane-parallel plate,
The present invention relates to a hologram interferometer device for measuring the surface state of an object to be measured such as a mirror and other precision optical components, which is related to a hologram cassette that is exchangeably mounted according to the type of the object to be inspected.

【0002】[0002]

【従来の技術】レンズその他の被検物の表面形状を非接
触で精密に測定するために干渉計が用いられる。この干
渉計の代表的なものとしては、図9に示したようなフィ
ゾー型の干渉計がある。
2. Description of the Related Art An interferometer is used to accurately measure the surface shape of a lens or other test object without contact. A typical example of this interferometer is a Fizeau interferometer as shown in FIG.

【0003】図中において、1は装置本体を示し、この
装置本体1は、本体ケーシング1aと、この本体ケーシ
ング1aの下面に垂設した筒体部1bとを有する。本体
ケーシング1aには、筒体部1bと平行にHe−Neレ
ーザ等からなるレーザ光源2が取り付けられる構成とな
っている。本体ハウジング1a内には、反射ミラー3,
発散レンズ4及びピンホール5を備え、レーザ光源2か
らのレーザビームは、反射ミラー3によって90°曲折
せしめられて、発散レンズ4を通り、この発散レンズ4
の集光位置に配置したピンホール5を通過後に発散して
そのスポット径を広げながら、ビームスプリッタ6に反
射して再び90°方向を転換して、筒体部1bの軸線方
向に沿ってレーザ光源2から出射方向とは反対方向に向
けて進行し、コリメータレンズ7により平行光束化され
て、その前方に設けた基準レンズ8に入射される。
In the figure, reference numeral 1 denotes an apparatus main body, and the apparatus main body 1 has a main body casing 1a and a cylindrical portion 1b which is vertically provided on a lower surface of the main body casing 1a. A laser light source 2 made of a He-Ne laser or the like is attached to the main body casing 1a in parallel with the cylindrical body portion 1b. In the body housing 1a, the reflection mirror 3,
The diverging lens 4 and the pinhole 5 are provided, and the laser beam from the laser light source 2 is bent by 90 ° by the reflecting mirror 3 and passes through the diverging lens 4 to reach the diverging lens 4
After passing through the pinhole 5 arranged at the condensing position, the spot diameter is expanded and the spot diameter is expanded, and the light is reflected by the beam splitter 6 to change the direction of 90 ° again, and the laser beam is emitted along the axial direction of the cylindrical portion 1b. The light travels from the light source 2 in the direction opposite to the emission direction, is collimated by the collimator lens 7, and enters the reference lens 8 provided in front of it.

【0004】基準レンズ8は、その入射面8aとは反対
面が例えば球面形状の基準面8bとなっており、入射面
8aは反射防止コーティングが施されている。基準レン
ズ8に入射されたレーザビームはその基準面8bで一部
が反射し、大部分はこの基準レンズ8を透過してその前
方位置にセットされている被検レンズ9の被検面9aに
入射され、その一部がこの被検面9aで反射する。そし
て、この被検面9aからの反射光と基準レンズ8の基準
面8bからの反射光とが干渉し合って干渉縞が生じる。
このように干渉縞を有する反射光はコリメータレンズ7
及びビームスプリッタ6を透過して、スクリーン10及
び干渉縞結像用レンズ11を介して撮像手段12に入射
され、この撮像手段12により干渉縞の撮影が行われ、
その映像がモニタ装置に表示できるようになっている。
The reference lens 8 has, for example, a spherical reference surface 8b opposite to the incident surface 8a, and the incident surface 8a is provided with an antireflection coating. A part of the laser beam incident on the reference lens 8 is reflected by the reference surface 8b, and most of the laser beam is transmitted through the reference lens 8 and is incident on the surface 9a to be inspected of the lens 9 to be inspected set at the front position thereof. It is incident and a part of it is reflected by the surface 9a to be tested. Then, the reflected light from the test surface 9a and the reflected light from the reference surface 8b of the reference lens 8 interfere with each other to generate an interference fringe.
The reflected light having the interference fringes as described above is collimated by the collimator lens 7
And the beam splitter 6, and enters the image pickup means 12 through the screen 10 and the interference fringe image forming lens 11, and the image pickup means 12 photographs the interference fringes.
The image can be displayed on the monitor device.

【0005】また、近年においては、コンピュータ合成
ホログラムを用いることによって、測定対象となる被検
物の表面状態の測定を行うホログラム干渉計が実用化さ
れている。コンピュータ合成ホログラムは、ガラス基板
上にフォトレジスト膜を塗布し、このフォトレジスト膜
を電子ビームで走査させることによって、物体波と参照
波との干渉縞と同等のホログラムパターンを露光した
後、それを現像することにより干渉縞を顕在化させた光
学素子である。このホログラム光学素子における干渉縞
に参照波と同じ再生波を入射すると、物体波が再生でき
る。このホログラムを用いた干渉法によれば、特殊な形
状の検査・測定が可能なこと等から、今後広い用途が考
えられる。
Further, in recent years, a hologram interferometer for measuring the surface state of an object to be measured by using a computer-synthesized hologram has been put into practical use. Computer-synthesized holograms are formed by applying a photoresist film on a glass substrate and scanning the photoresist film with an electron beam to expose a hologram pattern equivalent to the interference fringes of the object wave and the reference wave, and then exposing the hologram pattern. It is an optical element in which interference fringes are made visible by developing. When the same reproduction wave as the reference wave is incident on the interference fringes in this hologram optical element, the object wave can be reproduced. According to the interferometry method using this hologram, it is possible to inspect and measure a special shape, so that it can be widely used in the future.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、前述した図
9の干渉計装置を用いたホログラム干渉計装置として、
本出願人は図10に示した構成のものを開発した。
By the way, as a hologram interferometer apparatus using the interferometer apparatus of FIG. 9 described above,
The applicant has developed the structure shown in FIG.

【0007】このホログラム干渉計装置においても、前
述した干渉計装置の装置本体1と同様の構成のものが用
いられる。ただし、被検レンズ9に応じた基準レンズ8
は用いない。即ち、このホログラム干渉計装置では、基
準レンズ8を取り外した装置本体1を、レーザ光源2
と、このレーザ光源2からのレーザ光を平行光束化して
出射し、また入射光を干渉縞の観察機構に導く光路を備
えた光源部と、撮像手段12等の観察部とを内蔵した光
源・観察部ユニットとしての機能を発揮する機構として
用いるので、以下においては、この光源・観察部ユニッ
トを1Lの符号を用いる。
Also in this hologram interferometer device, the same structure as the device body 1 of the interferometer device described above is used. However, the reference lens 8 according to the lens 9 to be inspected
Is not used. That is, in this hologram interferometer device, the device body 1 from which the reference lens 8 is removed is used as the laser light source 2
And a light source section having an optical path for collimating the laser light from the laser light source 2 and emitting the parallel light flux and for guiding the incident light to the observation mechanism of the interference fringes, and an observing section such as the image pickup means 12. Since the light source / observation unit is used as a mechanism that exhibits the function of the observation unit, the reference numeral 1L will be used in the following description.

【0008】而して、この光源・観察部ユニット1Lに
よって、レーザ光源2からのレーザ光はコリメータレン
ズ7により平行光束化された状態で出射される。この平
行光は、まず第1の反射ミラー20に反射し、次いで第
2の反射ミラー21に反射させることによって、レーザ
光の光路を上方に向ける。そして、第2の反射ミラー2
1からのレーザ光を第3の反射ミラー22により一旦折
り返した上で、さらにこの第3の反射ミラー22で折り
返されたレーザ光を第4の反射ミラー23に反射させる
ようにしている。第4の反射ミラー23には、ホログラ
ム光学素子24が対向配設されている。このホログラム
光学素子24にレーザ光が入射されると、正反射光と回
折光とに分けられる。正反射光の光路には、この正反射
光に対して垂直となる基準反射面25aを有する基準反
射板25が配設される。
By the light source / observation unit 1L, the laser light from the laser light source 2 is emitted by the collimator lens 7 in the form of a parallel light flux. The parallel light is first reflected by the first reflection mirror 20 and then reflected by the second reflection mirror 21, so that the optical path of the laser light is directed upward. And the second reflecting mirror 2
The laser light from No. 1 is once returned by the third reflection mirror 22, and then the laser light returned by the third reflection mirror 22 is reflected by the fourth reflection mirror 23. A hologram optical element 24 is arranged opposite to the fourth reflecting mirror 23. When laser light is incident on the hologram optical element 24, it is divided into specular reflection light and diffracted light. A reference reflection plate 25 having a reference reflection surface 25a perpendicular to the regular reflection light is arranged in the optical path of the regular reflection light.

【0009】一方、回折光の光路には被検物26が配置
される。ここで、被検物26がシリンドリカルレンズや
シリンドリカルミラー等のシリンドリカル光学素子であ
るとすると、ホログラム光学素子24のホログラムパタ
ーンは、平行な直線状に配列した格子模様とする。そし
て、このホログラム光学素子24の格子方向を被検物2
6におけるシリンドリカル面26aの母線方向に向け、
かつ回折光が中心軸線で集光される位置に配置する。
On the other hand, an object 26 is placed in the optical path of the diffracted light. Here, assuming that the object 26 to be inspected is a cylindrical optical element such as a cylindrical lens or a cylindrical mirror, the hologram pattern of the hologram optical element 24 is a lattice pattern in which parallel holograms are arranged. Then, the grating direction of the hologram optical element 24 is set to the object 2
6 toward the generatrix direction of the cylindrical surface 26a,
Moreover, it is arranged at a position where the diffracted light is condensed on the central axis.

【0010】以上のように構成することによって、光源
・観察部ユニット1Lにおけるレーザ光源2からのレー
ザ光束は、送光用光学系を構成する発散レンズ4,ピン
ホール5を通過した後に、ビームスプリッタ6に反射し
て、コリメータレンズ7により平行光束化させた後に、
第1〜第4の反射ミラー20〜23を経てホログラム光
学素子24に入射される。そして、ホログラム光学素子
24から出る回折光は被検物26のシリンドリカル面か
らなる被検面26aの中心軸線上の位置で一旦集光され
た後に発散して、この被検面26aに照射されて、被検
面26aで反射して、ホログラム光学素子24に戻る。
この被検物26からの戻り光はホログラム光学素子24
で反射して、元の平行光となってコリメータレンズ7に
向かう。一方、ホログラム光学素子24からの正反射光
は基準反射板25の基準反射面25aで反射して、戻り
光はホログラム光学素子24において再び反射してコリ
メータレンズ7に向かう。
With the above-described structure, the laser light flux from the laser light source 2 in the light source / observation unit 1L passes through the diverging lens 4 and the pinhole 5 forming the optical system for light transmission, and then the beam splitter. After being reflected by 6 and made into a parallel light flux by the collimator lens 7,
The light enters the hologram optical element 24 via the first to fourth reflection mirrors 20 to 23. Then, the diffracted light emitted from the hologram optical element 24 is once condensed at a position on the central axis of the test surface 26a formed of the cylindrical surface of the test object 26, and then diverges and is irradiated onto the test surface 26a. , Is reflected by the surface to be inspected 26a and returns to the hologram optical element 24.
The return light from the test object 26 is the hologram optical element 24.
The light is reflected by and becomes the original parallel light, and goes to the collimator lens 7. On the other hand, the regular reflection light from the hologram optical element 24 is reflected by the reference reflection surface 25 a of the reference reflection plate 25, and the return light is reflected again by the hologram optical element 24 and travels toward the collimator lens 7.

【0011】従って、ホログラム光学素子24のパター
ンによる物体波光が基準反射板25からの参照波光と重
なり合って相互に干渉作用を及ぼして、干渉縞が形成さ
れることになる。この光はビームスプリッタ6を透過し
て、コリメータレンズ7の後側焦点位置に設けた干渉縞
結像用結像レンズ11を介して撮像手段12の結像面に
干渉縞が結像する。ここで、ホログラム光学素子24の
作用によって平面波と被検物26における被検面26a
に対応する非球面波との変換が行われ、干渉縞は平行光
同士の干渉の結果生成されたものであるから、極めて明
瞭な干渉縞模様が撮像手段12により撮像される。従っ
て、この被検面26aの形状を極めて高い精度で測定す
ることができる。
Therefore, the object wave light due to the pattern of the hologram optical element 24 overlaps with the reference wave light from the standard reflection plate 25 and exerts an interference action with each other to form interference fringes. This light is transmitted through the beam splitter 6, and an interference fringe is imaged on an image forming surface of the image pickup means 12 via an interference fringe image forming imaging lens 11 provided at a rear focal position of the collimator lens 7. Here, by the action of the hologram optical element 24, the plane wave and the test surface 26a of the test object 26 are measured.
Is converted into an aspherical wave and the interference fringes are generated as a result of the interference between the parallel lights, so that an extremely clear interference fringe pattern is imaged by the imaging means 12. Therefore, the shape of the test surface 26a can be measured with extremely high accuracy.

【0012】撮像手段12に結像される干渉縞画像を明
瞭に、しかもノイズ等のない鮮明な状態で取得するに
は、できるだけ外光の影響を受けないようにしなければ
ならない。ただし、被検物26は順次交換して装着する
必要があるから、この被検物26がセットされる部位は
外部に露出した状態に保持しなければならない。従っ
て、このホログラム光学素子から被検物に至る僅かな部
分を除いて、光路をハウジング等によって覆うようにす
るのが好ましい。しかも、装置構成の小型化、コンパク
ト化等の観点からは、ハウジングはできるだけ小さい形
成することが要求される。
In order to obtain an interference fringe image formed on the image pickup means 12 clearly and in a clear state without noise, it is necessary to avoid the influence of outside light as much as possible. However, since it is necessary to sequentially replace and mount the test object 26, the site where the test object 26 is set must be kept exposed to the outside. Therefore, it is preferable to cover the optical path with a housing or the like except for a small portion from the hologram optical element to the object to be inspected. Moreover, the housing is required to be formed as small as possible from the viewpoint of miniaturization and compactness of the device configuration.

【0013】ところで、ホログラム光学素子は、ガラス
等の透明な板体にホログラムパターンを形成してなるも
のであって、このホログラムパターンはそれに入射され
た光を反射するが、パターンが形成されていない部位は
光が透過する。通常、ホログラムパターンが形成された
面の反対側の面は光の反射を防止し、かつ光を吸収する
コーティングからなる反射防止型光吸収層が形成される
が、このようなコーティングを施したとしても、ある程
度の光がこの反射防止型光吸収層を透過する。ここで、
従来技術のものにあっては、ホログラム光学素子を透過
した光を制御する機構を備えてはおらず、このために、
例えば光路を外部から遮断するためのハウジングの内面
等に反射する等して、この反射光が有害光として光路に
入り込むことになり、このためにゴーストが発生する
等、干渉縞が乱れて被検物の正確な測定が不可能となる
ことがある。
By the way, the hologram optical element is formed by forming a hologram pattern on a transparent plate such as glass, and this hologram pattern reflects the light incident thereon, but the pattern is not formed. Light is transmitted through the part. Normally, the surface opposite to the surface on which the hologram pattern is formed is provided with an antireflection type light absorbing layer which is a coating that prevents reflection of light and absorbs light. However, some light passes through the antireflection light absorption layer. here,
The prior art does not have a mechanism for controlling the light transmitted through the hologram optical element.
For example, the reflected light is reflected on the inner surface of the housing for blocking the optical path from the outside, and the reflected light enters the optical path as harmful light, which causes ghosts, etc. Accurate measurement of objects may not be possible.

【0014】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あって、ホログラム光学素子を透過した光を確実に吸収
し、かつ無害化することをその目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and its object is to reliably absorb the light transmitted through the hologram optical element and render it harmless.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、レーザ光源からのレーザ光を平行光
束化して出射し、このレーザ光をホログラム光学素子に
入射して、正反射光と回折光とに分けて、この正反射光
を基準反射板に、また回折光を被検物に照射することに
よって、物体光と参照光とを生成して、この2つの波面
の間で生じる干渉縞に基づいて被検物の表面状態を測定
するものであって、前記ホログラム光学素子を枠状のカ
セット本体に固定的に装着し、このホログラム光学素子
のホログラムパターンの形成面とは反対側の面に反射を
防止し、かつ光吸収機能を発揮するコーティングからな
る反射防止型光吸収層形成面となし、前記カセット本体
には、ホログラム光学素子の反射防止型光吸収層形成面
に対面するように、光吸収機能を有し、かつ光を拡散機
能を持った光吸収拡散面を形成した蓋体を装着する構成
としたことをその特徴とするものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a laser beam from a laser light source which is collimated and emitted, and the laser beam is incident on a hologram optical element for regular reflection. Light is divided into light and diffracted light, and the specularly reflected light is applied to the reference reflector and the diffracted light is applied to the test object to generate object light and reference light, and between these two wavefronts. A method for measuring the surface condition of a test object based on the generated interference fringes, wherein the hologram optical element is fixedly mounted on a frame-shaped cassette body, and the hologram optical element is opposite to the surface on which the hologram pattern is formed. The antireflection type light absorbing layer forming surface formed of a coating that prevents reflection and exhibits a light absorbing function is provided on the side surface, and the cassette body faces the antireflection type light absorbing layer forming surface of the hologram optical element. To do It has a light absorption function, and is to its characterized in that the light has a structure for attaching the lid to form a light-absorbing diffusion surface having a diffusion function.

【0016】[0016]

【作用】レーザ光源からのレーザ光が平行光束化され
て、ホログラム光学素子に入射されるが、このホログラ
ム光学素子のホログラムパターン形成面において、一部
はこの面を透過する。この透過光は反対側の面に設けた
反射防止型光吸収層によって直接反射するのが防止され
ると共に吸収されることになる。ただし、この反射防止
型光吸収層形成面で光を完全には吸収させることはでき
ず、ある程度はこの反射防止型光吸収層形成面を透過す
る。反射防止型光吸収層形成面を透過した光は蓋体に当
るが、この蓋体のホログラム光学素子に対向する面は光
吸収機能を備え、かつ光を拡散させる光吸収拡散面とな
っているから、反射防止型光吸収層形成面を通過した光
は大半がこの光吸収拡散面で吸収され、またたとえこの
面に反射したとしても、乱反射してほぼ均一に拡散する
ことになって干渉縞画像に対しては無害化される。
The laser light from the laser light source is collimated and enters the hologram optical element, and a part of the hologram pattern forming surface of the hologram optical element passes through this surface. This transmitted light is prevented from being directly reflected and absorbed by the antireflection type light absorption layer provided on the opposite surface. However, light cannot be completely absorbed by the antireflection type light absorption layer forming surface, and the light is transmitted to the antireflection type light absorption layer forming surface to some extent. The light transmitted through the antireflection type light absorption layer forming surface hits the lid body, and the surface of the lid body facing the hologram optical element has a light absorption function and is a light absorption diffusion surface for diffusing the light. Therefore, most of the light that has passed through the antireflection type light absorption layer forming surface is absorbed by this light absorbing and diffusing surface, and even if reflected on this surface, it is diffusely reflected and diffused almost uniformly, resulting in interference fringes. It is rendered harmless to images.

【0017】而して、ホログラム光学素子は、そのホロ
グラムパターン形成面のみが外部に露出しており、これ
以外の側面部及び反射防止型光吸収層形成面はカセット
本体と蓋体とによりカバーされているので、傷が付いた
り、汚れ,塵埃が付着する等の不都合はない。特に、被
検物に応じてホログラム光学素子を交換して用いる場合
に、ホログラム光学素子が蓋体で覆われていると、その
取り扱いが極めて容易になり、着脱時にホログラム光学
素子の表面を損傷させたり、汚損させたりするおそれが
なくなる。
Thus, in the hologram optical element, only the hologram pattern forming surface is exposed to the outside, and the other side surfaces and the antireflection type light absorbing layer forming surface are covered by the cassette body and the lid. Therefore, there is no inconvenience such as scratches, dirt, dust, etc. In particular, when the hologram optical element is exchanged and used according to the object to be inspected, if the hologram optical element is covered with a lid, the handling becomes extremely easy and the surface of the hologram optical element is damaged during attachment / detachment. There is no danger of it becoming dirty or soiled.

【0018】[0018]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1にホログラムカセットの分解斜視図
を、図2に組み立てた状態の平面図、図3に組立状態の
断面をそれぞれ示し、また図4にはホルダ部材の平面
図、図5にはその正面図をそれぞれ示す。さらに、図6
はホログラムカセットをホルダ部材に装着した状態の正
面図を示す。これらの図において、30はホログラムカ
セット、50はホルダ部材である。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. 1 is an exploded perspective view of the hologram cassette, FIG. 2 is a plan view of the assembled state, FIG. 3 is a sectional view of the assembled state, FIG. 4 is a plan view of the holder member, and FIG. 5 is a front view thereof. Are shown respectively. Furthermore, FIG.
Shows a front view of a state in which a hologram cassette is mounted on a holder member. In these figures, 30 is a hologram cassette, and 50 is a holder member.

【0019】ホログラムカセット30は、枠状に形成し
たカセット本体31と、蓋体32とを備えており、カセ
ット本体31は、枠状の部材からなり、その開口部31
aには、ホログラム光学素子34が装着されるようにな
っている。このホログラム光学素子34を開口部31a
の内部に装着した状態に保持するために、その底部には
内向きに突出する受け部31bが全周にわたって形成さ
れており、また、4箇所の角隅部には、ホログラム光学
素子34の装着を容易ならしめるために、切り欠き部3
1cが形成されている。
The hologram cassette 30 is provided with a frame-shaped cassette body 31 and a lid 32. The cassette body 31 is made of a frame-shaped member and has an opening 31.
The hologram optical element 34 is attached to a. This hologram optical element 34 is provided with an opening 31a.
In order to maintain the state of being mounted inside, the inwardly projecting receiving portion 31b is formed over the entire circumference, and the hologram optical element 34 is mounted at four corners. Notch 3 to facilitate the
1c is formed.

【0020】ホログラム光学素子34は、その一側面に
被検物の表面形状に応じた物体波と参照波との間で生じ
る干渉縞と同等のホログラムパターンが形成されたホロ
グラムパターン形成面34aとなっており、またその反
対側面には反射を防止し、かつ光を吸収するコーティン
グが施された反射防止型光吸収層形成面34bとなって
いる。そして、このホログラム光学素子34は、熱や外
力等によって変形やゆがみ等が生じないようにするため
に、かなりの肉厚を持たせている。ホログラム光学素子
34をカセット本体31に装着するに当っては、ホログ
ラムパターン形成面34aを基準面としての受け部31
b側に向けた状態に収容させるようになし、この受け部
31bとの間を接着剤を用いて固着している。そして、
ホログラム光学素子34をカセット本体31を組み込ん
だ状態で、このカセット本体31に蓋体32を当接させ
て、4箇所の角隅部にビス35を締着することによっ
て、ホログラムカセット30がアセンブルされる。
The hologram optical element 34 serves as a hologram pattern forming surface 34a on one side of which a hologram pattern equivalent to the interference fringes generated between the object wave and the reference wave according to the surface shape of the object is formed. Further, an antireflection type light absorption layer forming surface 34b is provided on the opposite side surface thereof with a coating for preventing reflection and absorbing light. The hologram optical element 34 has a considerable thickness so as not to be deformed or distorted by heat or external force. When mounting the hologram optical element 34 on the cassette body 31, the receiving portion 31 having the hologram pattern forming surface 34a as a reference surface is used.
It is arranged so as to be accommodated in the state of being directed to the b side, and is fixed to the receiving portion 31b with an adhesive. And
In a state where the hologram optical element 34 is incorporated in the cassette body 31, the lid body 32 is brought into contact with the cassette body 31 and the screws 35 are fastened to the four corners to assemble the hologram cassette 30. It

【0021】このようにしてアセンブルされたホログラ
ムカセット30は、ホルダ部材50に着脱可能に取り付
けられるようになっている。このホルダ部材50は、例
えば干渉計ユニットのハウジングに固定した支持部51
に枠体部52を連設してなるものである。ホログラムカ
セット30はこの枠体部52の上部に接合されて、前後
に設けた一対のボルト53,53を用いて固定されるよ
うになっている。
The hologram cassette 30 thus assembled is detachably attached to the holder member 50. The holder member 50 includes, for example, a support portion 51 fixed to a housing of the interferometer unit.
The frame body portion 52 is continuously connected to the. The hologram cassette 30 is joined to the upper part of the frame body portion 52 and fixed by using a pair of bolts 53, 53 provided at the front and rear.

【0022】ここで、ホログラム光学素子34は、カセ
ット本体31内において正確に位置決めされなければな
らないが、ホログラム光学素子34は、そのホログラム
パターン形成面34aが直接カセット本体31の受け部
31bに当接しているから、この受け部31bを正確に
平坦になるように加工して基準面となすことによって、
ホログラム光学素子34を傾きがなく、正確に平面度を
出した状態に固定することができる。一方、水平方向の
位置を正確に決めするために、開口31aの内周壁31
dを位置決め壁として利用している。
Here, the hologram optical element 34 must be accurately positioned in the cassette body 31, but the hologram optical element 34 has its hologram pattern forming surface 34a directly contacting the receiving portion 31b of the cassette body 31. Therefore, by processing the receiving portion 31b so as to be accurately flat to form a reference surface,
It is possible to fix the hologram optical element 34 in a state in which there is no inclination and the flatness is accurately obtained. On the other hand, in order to accurately determine the horizontal position, the inner peripheral wall 31 of the opening 31a is
d is used as a positioning wall.

【0023】そして、ホログラムカセット30をホルダ
部材50の枠体部52に接合させ、このホログラムカセ
ット30に一対設けた挿通孔36にボルト53を挿通さ
せて、このボルト53を枠体部52に形成したねじ孔5
4に螺挿することによって、ホログラムカセット30は
ホルダ部材50に連結固定される。この際に、ホログラ
ムカセット30の位置調整を行うために、枠体部52に
は、その左右の部位に、位置決めピン55,55が突設
されており、またホログラムカセット30側には、位置
決めピン55が挿嵌されるピン挿入孔37が形成されて
いる。
Then, the hologram cassette 30 is joined to the frame body portion 52 of the holder member 50, and the bolts 53 are inserted through the insertion holes 36 provided in the hologram cassette 30 to form the frame body portion 52. Screw hole 5
The hologram cassette 30 is fixedly connected to the holder member 50 by being screwed into the holder 4. At this time, in order to adjust the position of the hologram cassette 30, positioning pins 55, 55 are projectingly provided on the left and right parts of the frame body portion 52, and the positioning pins are provided on the hologram cassette 30 side. A pin insertion hole 37 into which 55 is fitted is formed.

【0024】ホログラム光学素子34がホログラムカセ
ット30に対して位置がずれた状態に装着されている場
合に、その位置補正機構を備えている。この位置ずれ補
正機構は、図7及び図8に示した構成となっている。即
ち、カセット本体31の底面には位置調整用凹部38が
設けられており、この位置調整用凹部38には、調整プ
レート39が嵌め込まれている。そして、前述したカセ
ット側位置決め部としてのピン挿入孔37はこの調整プ
レート39に形成されている。また、調整プレート39
には、このピン挿入孔37の両側にねじ孔40,40が
形設されている。さらに、カセット本体31には、ねじ
挿通孔41,41が穿設されており、かつその上面側に
はプレート固定ねじ42,42を収容するためのねじ収
容用凹部43,43が設けられて、プレート固定ねじ4
2の頭部がカセット本体31の上面から突出しないよう
にしている。プレート固定ねじ42は、ねじ収容用凹部
43側からねじ挿通孔41に挿通されて、位置調整用凹
部38内に嵌め込んだ調整プレート39のねじ孔40に
螺挿することによって、調整プレート39を位置調整用
凹部38の内面に圧接するように固定する構成となって
いる。
When the hologram optical element 34 is mounted in a position displaced from the hologram cassette 30, a position correcting mechanism is provided. This misregistration correction mechanism has the configuration shown in FIGS. 7 and 8. That is, the bottom surface of the cassette body 31 is provided with a position adjusting recess 38, and an adjusting plate 39 is fitted into the position adjusting recess 38. Then, the pin insertion hole 37 as the above-mentioned cassette side positioning portion is formed in the adjustment plate 39. In addition, the adjustment plate 39
The screw holes 40, 40 are formed on both sides of the pin insertion hole 37. Further, the cassette body 31 is provided with screw insertion holes 41, 41, and the upper surface side thereof is provided with screw accommodating recesses 43, 43 for accommodating the plate fixing screws 42, 42. Plate fixing screw 4
The second head does not protrude from the upper surface of the cassette body 31. The plate fixing screw 42 is inserted from the screw accommodating recess 43 side into the screw insertion hole 41, and is screwed into the screw hole 40 of the adjusting plate 39 fitted in the position adjusting recess 38, whereby the adjusting plate 39 is removed. The position adjusting recess 38 is fixed so as to be in pressure contact with the inner surface of the position adjusting recess 38.

【0025】ねじ挿通孔41の孔径は、プレート固定ね
じ42の外径より大きく形成されており、また調整プレ
ート39の外形寸法は位置調整用凹部38より小さいも
のであり、従ってこの調整プレート39を位置調整用凹
部38内に嵌め込んだ時に、前後及び左右に所定量だけ
移動可能な状態となっている。ただし、調整プレート3
9の厚みは位置調整用凹部38の深さと同じか、または
それより薄くなっている。この調整プレート39を任意
の方向に動かすことによって、ホルダ部材50の枠体部
53に設けた位置決めピン55が挿嵌されるピン挿入孔
37の位置を調整できるようになっている。しかも、挿
通孔36の孔径もボルト53の外径より大きくなってお
り、従ってホログラムカセット30自体をホルダ部材5
0に対して多少位置をずらせた状態にしても固定できる
ようになっている。なお、蓋体32には、その内面にモ
ルトプレン等の柔軟部材からなるパッド44が固着して
設けられており、蓋体32をカセット本体31に取り付
けた時に、このパッド44はホログラム光学素子34が
受け部31bに押圧されるようになっている。
The hole diameter of the screw insertion hole 41 is formed larger than the outer diameter of the plate fixing screw 42, and the outer dimension of the adjusting plate 39 is smaller than that of the position adjusting recess 38. When it is fitted into the position adjusting recess 38, it can be moved forward and backward and left and right by a predetermined amount. However, adjustment plate 3
The thickness of 9 is the same as or thinner than the depth of the position adjusting recess 38. By moving the adjusting plate 39 in an arbitrary direction, the position of the pin insertion hole 37 into which the positioning pin 55 provided in the frame portion 53 of the holder member 50 is inserted can be adjusted. Moreover, the hole diameter of the insertion hole 36 is also larger than the outer diameter of the bolt 53, so that the hologram cassette 30 itself is held by the holder member 5.
It can be fixed even if it is slightly displaced from 0. A pad 44 made of a flexible material such as moltoprene is fixedly provided on the inner surface of the lid body 32. When the lid body 32 is attached to the cassette body 31, the pad 44 is attached to the hologram optical element 34. It is adapted to be pressed by the receiving portion 31b.

【0026】以上のように構成することによって、被検
物に応じて、その表面状態を測定するのに適したホログ
ラム光学素子34が装着されているホログラムカセット
30をホルダ部材50に装着するだけで、例えば球面レ
ンズ,非球面レンズや、シリンドリカルレンズやミラー
等の精密光学素子というように、種類の異なる被検物
や、同じ種類の被検物であっても、曲率半径や有効径等
が異なるものの測定が可能となる。従って、ホログラム
カセット30を被検物に応じて交換することによって、
各種の被検物の表面状態の正確な測定が可能となり、ホ
ログラム光学素子34以外の各部材を各種の被検物の測
定を行うのに共用できることになる。
With the above structure, the hologram cassette 30 to which the hologram optical element 34 suitable for measuring the surface condition of the object to be measured is attached is simply attached to the holder member 50. , Different types of test objects such as spherical lenses, aspherical lenses, precision optical elements such as cylindrical lenses and mirrors, and test objects of the same type have different radii of curvature and effective diameters. It becomes possible to measure things. Therefore, by replacing the hologram cassette 30 according to the object to be inspected,
It is possible to accurately measure the surface condition of various test objects, and each member other than the hologram optical element 34 can be commonly used for measuring various test objects.

【0027】ホログラム光学素子34には、図10にお
いて説明したように、レーザ光を平行光束化されて、斜
め下方から照射されるようになっている。そして、この
ホログラム光学素子34のホログラムパターン形成面3
4aに入射された光は、一部が反射し、一部が透過した
反射防止型光吸収層形成面34bに至る。ここで、反射
防止型光吸収層形成面34bは、反射防止及び光吸収機
能を備えているので、この透過光の反射光路方向に戻る
おそれはないだけでなく、その大半は反射防止型光吸収
層形成面34bに吸収されることになる。しかしなが
ら、この反射防止型光吸収層形成面34bによっても完
全には吸収されず、ある程度はこの反射防止型光吸収層
形成面34bも通過する。この反射防止型光吸収層形成
面34bを通過した光が光路に入り込むと、ゴーストの
発生等により干渉縞画像の画質が低下する。
As described with reference to FIG. 10, the hologram optical element 34 is adapted to collimate the laser beam and irradiate it obliquely from below. Then, the hologram pattern forming surface 3 of the hologram optical element 34.
Part of the light incident on 4a is reflected, and part of the light is transmitted to the antireflection light absorption layer forming surface 34b. Here, since the antireflection type light absorption layer forming surface 34b has antireflection and light absorption functions, not only is there a possibility that the transmitted light will not return to the reflected light path direction, but most of the antireflection type light absorption layer does not absorb light. It will be absorbed by the layer forming surface 34b. However, it is not completely absorbed even by this antireflection type light absorption layer forming surface 34b, and also passes through this antireflection type light absorption layer forming surface 34b to some extent. When the light passing through the antireflection type light absorption layer forming surface 34b enters the optical path, the image quality of the interference fringe image is deteriorated due to the generation of ghosts and the like.

【0028】以上のことを考慮して、本発明において
は、ホログラム光学素子34の反射防止型光吸収層形成
面34bからの透過光を外部に出さないようにするため
に、蓋体32が設けられており、この蓋体32は、ホロ
グラム光学素子34の反射防止型光吸収層形成面34b
に対して所定の間隔だけ離間させた状態にして対面する
状態にしてカセット本体31に固着されている。従っ
て、反射防止型光吸収層形成面34bを通過した光はホ
ログラムカセット30から外部に出ることはない。ただ
し、蓋体32の内面に反射すると、ホログラム光学素子
34側に反射することになる。そこで、この蓋体32の
内面には、例えば黒色塗料を塗布することによって、光
吸収機能を持たせるようにしている。しかも、このよう
に塗料を塗布した上で、例えばサンドブラスト等の手段
で梨地化させた拡散面となし、もってたとえ反射するに
しても、乱反射させて拡散させるようにした光吸収拡散
面32aとなっている。
In consideration of the above, in the present invention, the lid 32 is provided in order to prevent the transmitted light from the antireflection type light absorption layer forming surface 34b of the hologram optical element 34 from being emitted to the outside. The lid 32 is provided on the antireflection light absorption layer forming surface 34b of the hologram optical element 34.
Is fixed to the cassette body 31 so as to face each other with a predetermined gap therebetween. Therefore, the light that has passed through the antireflection light absorption layer forming surface 34b does not go out of the hologram cassette 30. However, when reflected on the inner surface of the lid 32, it is reflected on the hologram optical element 34 side. Therefore, the inner surface of the lid 32 is coated with, for example, black paint so as to have a light absorbing function. Moreover, after the coating material is applied in this manner, it becomes a diffusing surface that is made satinized by means such as sand blasting, and even if it is reflected, it becomes a light absorbing and diffusing surface 32a that diffuses and diffuses. ing.

【0029】このように、蓋体32の内面を光吸収拡散
面32aとすることによって、ホログラム光学素子34
の反射防止型光吸収層形成面34bを光が通過したとし
ても、この光吸収拡散面32aによって吸収される。ま
た、たとえ光吸収拡散面32aで完全に吸収されない場
合でも、反射する光は正反射ではなく乱反射による拡散
によって、干渉縞画像に対しては無害化されることにな
る。
In this way, by making the inner surface of the lid 32 the light absorption / diffusion surface 32a, the hologram optical element 34 is formed.
Even if the light passes through the antireflection type light absorption layer forming surface 34b, it is absorbed by the light absorption / diffusion surface 32a. Even if the light absorption / diffusion surface 32a is not completely absorbed, the reflected light is not harmonized by regular reflection but diffused by diffuse reflection, so that the interference fringe image is rendered harmless.

【0030】しかも、ホログラム光学素子34は被検物
に対向させて設ける必要があり、この被検物を試料台に
載置するようにした場合には、ホログラム光学素子34
を、ホログラムパターン形成面34aを下方に向けるよ
うに装着され、反射防止型光吸収層形成面34bは上方
に向くが、このように上方を向いた反射防止型光吸収層
形成面34bを蓋体32で覆うことは、その保護が図ら
れて、表面に傷が付いたり、汚れたりするおそれはな
い。また、ホログラムカセット30の交換を行う際に
は、ホログラム光学素子34が嵌め込まれているカセッ
ト本体31と蓋体32とを手で把持することができるの
で、この交換作業を極めて容易に行うことができ、手や
治具等をホログラムパターン形成面34aに接触させな
い限り、多少不用意な取り扱いをしたとしても、格別問
題とはならない。
Moreover, the hologram optical element 34 must be provided so as to face the object to be inspected, and when the object to be inspected is mounted on the sample table, the hologram optical element 34 is provided.
Is mounted so that the hologram pattern forming surface 34a faces downward, and the antireflection type light absorbing layer forming surface 34b faces upward, but the antireflection type light absorbing layer forming surface 34b which faces upward in this way is covered. Covering with 32 protects the surface, and there is no possibility that the surface will be scratched or soiled. Further, when the hologram cassette 30 is replaced, the cassette body 31 into which the hologram optical element 34 is fitted and the lid 32 can be gripped by hand, and therefore this replacement work can be performed very easily. It is possible, and as long as a hand, a jig, or the like is not brought into contact with the hologram pattern forming surface 34a, there is no particular problem even if a little care is taken.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ホログ
ラム光学素子を枠状のカセット本体に固定的に装着し、
このホログラム光学素子のホログラムパターンの形成面
とは反対側の面に反射を防止し、かつ光吸収機能を発揮
するコーティングを施すことによって反射防止型光吸収
層となし、かつ前記カセット本体には、この反射防止型
光吸収層を施した面に対面するように、光吸収機能を有
し、しかも光を拡散させる光吸収拡散面を形成した蓋体
を装着する構成としたので、ホログラム光学素子を通過
する光は大半がこの光吸収拡散面で吸収されると共に、
反射したとしても、乱反射してほぼ均一に拡散すること
になるので、干渉縞自体に対しては格別有害なものとは
ならず、しかもこのようにホログラム光学素子は蓋体で
覆われているので、このホログラム光学素子を損傷や、
汚損,塵埃の付着等を防止でき、特に被検物に応じてホ
ログラム光学素子を交換する際における取り扱いに至便
である等の効果を奏する。
As described above, according to the present invention, the hologram optical element is fixedly mounted on the frame-shaped cassette body,
The surface of the hologram optical element opposite to the surface on which the hologram pattern is formed prevents reflection, and forms a reflection preventing type light absorbing layer by applying a coating exhibiting a light absorbing function, and the cassette body has Since the lid having the light absorbing function and having the light absorbing / diffusing surface for diffusing light is mounted so as to face the surface provided with the antireflection light absorbing layer, the hologram optical element is Most of the light passing through is absorbed by this light absorption and diffusion surface,
Even if it is reflected, it will be diffusely reflected and diffused almost uniformly, so it is not particularly harmful to the interference fringe itself, and since the hologram optical element is covered with the lid in this way, , Damage this holographic optical element,
It is possible to prevent contamination, adhesion of dust and the like, and it is particularly convenient to handle the hologram optical element when it is replaced according to the object to be inspected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示すホログラムカセットの
分解斜視図である。
FIG. 1 is an exploded perspective view of a hologram cassette showing an embodiment of the present invention.

【図2】ホログラムカセットの組立状態の平面図であ
る。
FIG. 2 is a plan view of a hologram cassette in an assembled state.

【図3】図2のX−X断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line XX of FIG.

【図4】ホルダ部材の平面図である。FIG. 4 is a plan view of a holder member.

【図5】図4の正面図である。FIG. 5 is a front view of FIG.

【図6】ホログラムカセットとホルダ部材との組立状態
の断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of an assembled state of the hologram cassette and the holder member.

【図7】ホログラム光学素子の位置ずれ補正機構の構成
説明図である。
FIG. 7 is a structural explanatory view of a positional deviation correction mechanism of a hologram optical element.

【図8】図6のY−Y断面図である。8 is a sectional view taken along line YY of FIG.

【図9】フィゾー型干渉計の原理説明図である。FIG. 9 is a diagram illustrating the principle of a Fizeau interferometer.

【図10】ホログラム干渉計の原理説明図である。FIG. 10 is a diagram illustrating the principle of a hologram interferometer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

30 ホログラムカセット 31 カセット本体 31a 開口部 31b 受け部 32 蓋体 32a 光吸収拡散面 34 ホログラム光学素子 34a ホログラムパターン形成面 34b 反射防止型光吸収層形成面 36 挿通孔 37 ピン挿通孔 38 位置調整用凹部 39 調整プレート 40 ねじ孔 41 固定ねじ挿通孔 42 プレート固定ねじ 50 ホルダ部材 52 枠体部 53 ボルト 54 ねじ孔 55 位置決めピン 30 hologram cassette 31 cassette body 31a opening 31b receiving portion 32 lid 32a light absorption / diffusion surface 34 hologram optical element 34a hologram pattern formation surface 34b antireflection type light absorption layer formation surface 36 insertion hole 37 pin insertion hole 38 position adjustment recess 39 Adjustment plate 40 Screw hole 41 Fixing screw insertion hole 42 Plate fixing screw 50 Holder member 52 Frame part 53 Bolt 54 Screw hole 55 Positioning pin

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光源からのレーザ光を平行光束化
して出射し、このレーザ光をホログラム光学素子に入射
して、正反射光と回折光とに分けて、この正反射光を基
準反射板に、また回折光を被検物に照射することによっ
て、物体光と参照光とを生成して、この2つの波面の間
で生じる干渉縞に基づいて被検物の表面状態を測定する
ものにおいて、前記ホログラム光学素子を枠状のカセッ
ト本体に固定的に装着し、このホログラム光学素子のホ
ログラムパターンの形成面とは反対側の面に反射を防止
し、かつ光吸収機能を発揮するコーティングからなる反
射防止型光吸収層形成面となし、前記カセット本体に
は、ホログラム光学素子の反射防止型光吸収層形成面に
対面するように、光吸収機能を有し、かつ光を拡散機能
を持った光吸収拡散面を形成した蓋体を装着する構成と
したことを特徴とするホログラム干渉計装置用ホログラ
ムカセット。
1. A laser beam from a laser light source is collimated and emitted, and the laser beam is incident on a hologram optical element to be separated into specular reflected light and diffracted light, and the specular reflected light is used as a reference reflector. In addition, by irradiating the test object with the diffracted light, the object light and the reference light are generated, and the surface state of the test object is measured based on the interference fringes generated between the two wavefronts. The hologram optical element is fixedly mounted on a frame-shaped cassette main body, and the hologram optical element is made of a coating that prevents reflection on the surface opposite to the surface on which the hologram pattern is formed and exhibits a light absorbing function. The cassette body has a light absorption function and a light diffusion function so as to face the antireflection light absorption layer formation surface of the hologram optical element. Light absorption and diffusion surface A hologram cassette for a hologram interferometer device, characterized in that a lid having the above-mentioned structure is attached.
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