JPH06341825A - Calibration method of protrusion-detection head unit as well as method and apparatus for detection of protrusion using this method - Google Patents

Calibration method of protrusion-detection head unit as well as method and apparatus for detection of protrusion using this method

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JPH06341825A
JPH06341825A JP6659694A JP6659694A JPH06341825A JP H06341825 A JPH06341825 A JP H06341825A JP 6659694 A JP6659694 A JP 6659694A JP 6659694 A JP6659694 A JP 6659694A JP H06341825 A JPH06341825 A JP H06341825A
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JP
Japan
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head unit
output voltage
peripheral speed
protrusion
disk
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Pending
Application number
JP6659694A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Kawaguchi
浩 川口
Takashi Nakakita
俊 中北
Shinji Honma
真司 本間
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide the calibration method, of a protrusion hu, in which the dispersion of an output voltage from a head unit mhu can be calibrated, to provide its inspection method and to provide its apparatus. CONSTITUTION:A protrusion hu whose levitating characteristic is already known is selected and used as a master head unit(mhu), a protrusion hu which is used for a protrusion inspection is used as a protrusion hu to be measured, a disk whose face roughness is prescribed is used as a reference disk, the head of the mhu and the protrusion hu to be measured are loaded sequentially on the face of the reference disk which turns, they are levitated, the peripheral speed (v) of a track on the reference disk is changed, the output voltage em of the unit mhu and the output voltage es of the protrusion hu to be measured are used as functions of the peripheral speed (v), the characteristic of the output voltages is measured, the characteristic is linearly made to approximate on the orthogonal coordinates of the output voltage and the peripheral speed, a straight line em=-av+b and a straight line es=-a'v+b' are found, b/b' and b/ab' are found from them, the gain of an amplifier is corrected with reference to the output signal of the protrusion hu to be measured when the protrusion hu to be measured is used for the protrusion inspection, and the peripheral speed of a rotary disk to be measured is corrected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、磁気ディスクの突起
検査装置における、突起検出ヘッドユニットの検出特性
にばらつきがあっても信頼性の高い測定データを得るこ
とができる突起検出ヘッドユニットの較正方法と、この
較正方法を用いる突起検査方法および突起検査装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of calibrating a projection detecting head unit in a magnetic disk projection inspecting apparatus capable of obtaining highly reliable measurement data even if the detection characteristics of the projection detecting head unit vary. And a projection inspection method and a projection inspection apparatus using this calibration method.

【0002】[0002]

【従来の技術】情報記録媒体の1つである磁気ディスク
(以下単にディスク)は、アルミニュームまたはガラス
ディスクをベースとし、その表面に磁性膜を塗布して製
作される。磁性膜の面は、突起などの凹凸がない平滑な
平面であることが必要とされる。そのために表面研磨が
行われる。しかし、研磨によってもなお残留する突起が
ある。所定以上の高さの突起が所定数以上残留するとこ
れに磁気ヘッドが衝突して損傷し、また、アクセスする
データにエラーが発生する虞れがある。このような危険
を防止するために磁気ディスクの突起検査装置により突
起検査が行われ、その結果、なお、所定の高さ以上の突
起が所定数以上残留しているときはディスクの再研磨が
行われる。
2. Description of the Related Art A magnetic disk (hereinafter simply referred to as a disk), which is one of the information recording media, is manufactured by coating a magnetic film on the surface of an aluminum or glass disk as a base. The surface of the magnetic film is required to be a smooth flat surface having no protrusions and depressions. Therefore, surface polishing is performed. However, there are still protrusions remaining after polishing. If a predetermined number or more of projections with a height of a predetermined value or more remain, the magnetic head may collide with the projections and be damaged, and an error may occur in the data to be accessed. In order to prevent such a danger, a protrusion inspection device for a magnetic disk performs a protrusion inspection, and as a result, when more than a predetermined number of protrusions with a predetermined height or more remain, the disk is re-polished. Be seen.

【0003】突起検査装置の突起検出ヘッドユニット
(以下単にヘッドユニット)には、当初は、水晶を使用
するピエゾ素子が用いられてきたが、ピエゾ素子は検出
感度や飽和特性に難点があって、また小型化が難しいた
め、検出感度と飽和特性が優れている超音波圧電センサ
(以下超音波センサ)が着目されている。この発明の発
明者によりこの超音波センサを使用したヘッドユニット
が製作され、特願平3−334319号「磁気ディスク
の突起検出装置」,特願平3−334320号「磁気デ
ィスクの突起検出回路」としてこれに関する発明を特許
出願している。
A projection detecting head unit (hereinafter simply referred to as a head unit) of a projection inspecting apparatus originally used a piezo element using quartz, but the piezo element has drawbacks in detection sensitivity and saturation characteristics. Since it is difficult to miniaturize, attention is paid to an ultrasonic piezoelectric sensor (hereinafter, referred to as an ultrasonic sensor) which has excellent detection sensitivity and saturation characteristics. A head unit using this ultrasonic sensor was manufactured by the inventor of the present invention. Japanese Patent Application No. 3-334319 "Magnetic disk protrusion detection device", Japanese Patent Application No. 3-334320 "Magnetic disk protrusion detection circuit". Has filed a patent application for an invention relating to this.

【0004】図4は、この特許出願にかかるヘッドユニ
ットの概要を示す。3は、ヘッドユニットであり、薄膜
ヘッドとしてのスライダー31と、これを先端に固定し
たサスペンションばね32、その後端をクランプして支
持する支持アーム33、および支持アーム33の適当な
箇所に固定された超音波センサ34とにより構成され
る。超音波センサ34は、チタン酸バリウム、またはチ
タン酸ジルコン鉛の多結晶セラミックスよりなり、その
厚さ寸法により定まる固有振動数を有している。
FIG. 4 shows an outline of a head unit according to this patent application. Reference numeral 3 denotes a head unit, which is fixed to a slider 31 as a thin film head, a suspension spring 32 that fixes the slider 31 at the tip, a support arm 33 that clamps and supports the rear end of the slider 31, and an appropriate position of the support arm 33. And an ultrasonic sensor 34. The ultrasonic sensor 34 is made of barium titanate or lead zirconate titanate polycrystalline ceramics, and has a natural frequency determined by its thickness.

【0005】突起検査においては、回転するディスク1
のトラックTR に対してヘッドユニット3のヘッドをロ
ーディングすると、エアフローによりスライダー31が
所定の浮上量δHだけ浮上する。そして、トラックTR
上に存在する突起にスライダー31が衝突するとこれが
振動する。この振動は、サスペンションばね32を経て
支持アーム33に伝達され、超音波センサ34がそれが
持つ固有振動数で振動して電圧信号(衝突検出信号)を
発生してそれを出力する。
In the projection inspection, the rotating disk 1
When the head of the head unit 3 is loaded on the track TR, the slider 31 floats by a predetermined flying height δH due to the air flow. And truck TR
When the slider 31 collides with the protrusion existing above, the slider 31 vibrates. This vibration is transmitted to the support arm 33 via the suspension spring 32, and the ultrasonic sensor 34 vibrates at its natural frequency to generate a voltage signal (collision detection signal) and output it.

【0006】図5は、その突起検査装置の構成図を示し
ている。検査対象のディスク1は、回転機構2のスピン
ドル21に装着され、モータ(M1 )22により回転駆
動される。ディスク1の表面(上側)と裏面(下側)の
両面に対してヘッドユニット3A,3B(ヘッドユニッ
ト3Bは前記出願の実施例では設けられていないが、こ
れについては後述する。)がそれぞれ設けられ、これら
の支持アーム33,33は、それぞれキャリッジ部4の
キャリッジ機構41にクランプされている。モータ(M
2 )42が回転されると、スライダー31は、ディスク
1の半径方向に移動し、各トラックTR ごとに逐次に停
止するか、連続移動してスパイラル状にディスク1を走
査する。通常は、各スライダー31の浮上量δHを全ト
ラックTR に対して一定とするため、メモリ(MEM)
8a に、キャリッジ制御プログラムと周速制御プログラ
ムとを格納し、両プログラムをMPU8が実行してキャ
リッジ制御回路6と周速制御回路7を動作させる。その
結果、前者によりモータM2 が、後者によりモータM1
がそれぞれ回転して逐次に停止しあるいはスパイラル状
態に走査するスライダー31に対してディスク1の各ト
ラックTR の周速が一定とされて突起検査が行われる。
FIG. 5 shows a block diagram of the projection inspection apparatus. The disk 1 to be inspected is mounted on a spindle 21 of a rotating mechanism 2 and is rotationally driven by a motor (M1) 22. Head units 3A and 3B (the head unit 3B is not provided in the embodiment of the above-mentioned application, but this will be described later) are provided on both the front surface (upper side) and the back surface (lower side) of the disk 1. The support arms 33, 33 are clamped to the carriage mechanism 41 of the carriage unit 4, respectively. Motor (M
2) When the slider 42 is rotated, the slider 31 moves in the radial direction of the disk 1 and stops sequentially for each track TR, or continuously moves to scan the disk 1 in a spiral shape. Normally, since the flying height .delta.H of each slider 31 is made constant for all tracks TR, memory (MEM)
The carriage control program and the peripheral speed control program are stored in 8a, and the MPU 8 executes both programs to operate the carriage control circuit 6 and the peripheral speed control circuit 7. As a result, the motor M2 is driven by the former and the motor M1 is driven by the latter.
Is rotated to sequentially stop or scan in a spiral state, and the circumferential speed of each track TR of the disk 1 is made constant, and the projection inspection is performed.

【0007】各ヘッドユニット3A,3Bが突起に衝突
したときにそれぞれの超音波センサ34,34から出力
される衝突検出信号は、それぞれ突起検出部5に入力さ
れ、そのレベルが所定の閾値と比較されることで突起検
出が行われる。その結果得られる突起検出信号P(図6
(e) 参照)は、MPU8により処理されて衝突位置や衝
突回数としてメモリ(MEM)8a にデータとして記憶
されて管理される。そして、それらが突起の測定データ
として測定後にプリンタ(PRT)9により出力され
る。
Collision detection signals output from the ultrasonic sensors 34, 34 when the head units 3A, 3B collide with the projections are input to the projection detection units 5, and their levels are compared with a predetermined threshold value. By doing so, the protrusion is detected. The resulting protrusion detection signal P (see FIG. 6)
(See (e)) is processed by the MPU 8 and is stored and managed as data in the memory (MEM) 8a as a collision position and the number of collisions. Then, these are output as the measurement data of the protrusion by the printer (PRT) 9 after the measurement.

【0008】図6(a) は、前記の突起検出部5の構成図
である。超音波センサ34またはピエゾ素子が出力する
衝突検出信号Vf 図(b) 参照)は、アンプ51により増
幅されて帯域フィルタ(BPF)52により不要な成分
が除去されて波形Vfcの信号(図(c) 参照)にされる。
それが検波回路53により包絡線検波されて波形VfLの
信号になり(図(d) 参照)、次にコンパレータ55で適
当なスライス電圧Svと比較されてデジタル化されて、
同図(e) の突起検出信号Pが得られる。突起検出信号P
は、その発生タイミングに応じてバッファメモリ(BM
EM)57の所定の位置に記憶され、適時にMPU8が
この記憶されたデータを読出しあるいはMPU8に転送
されて処理される。
FIG. 6 (a) is a block diagram of the protrusion detecting section 5 described above. The collision detection signal Vf output from the ultrasonic sensor 34 or the piezo element is amplified by the amplifier 51 and unnecessary components are removed by the bandpass filter (BPF) 52, and the signal of the waveform Vfc (see FIG. ) See).
The signal is envelope-detected by the detection circuit 53 and becomes a signal of the waveform VfL (see FIG. (D)), which is then compared with an appropriate slice voltage Sv by the comparator 55 and digitized,
The protrusion detection signal P shown in FIG. Projection detection signal P
Of the buffer memory (BM
The data is stored in a predetermined position of the EM) 57, and the MPU 8 reads the stored data or is transferred to the MPU 8 and processed at a suitable time.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】さて、前記のヘッドユ
ニット3を構成する、スライダー31、サスペンション
ばね32、支持アーム33には、その重量や弾性特性な
どによりそれぞれ固有の振動周波数を持ち、これにはば
らつきがあるし、その振動にもムラがある。超音波セン
サ34に自体にも、厚さのばらつきにより本来の固有振
動数に対して偏差がある。そのため、あるトラックの周
速vに対する浮上特性と、衝突により発生する衝突検出
信号Vf の出力電圧はヘッドユニット3ごとに相違し、
その出力電圧特性にばらつきが発生する。
The slider 31, the suspension spring 32, and the support arm 33, which compose the head unit 3, have their own vibration frequencies due to their weight and elastic characteristics. Has variations and its vibrations are also uneven. The ultrasonic sensor 34 itself also has a deviation from the original natural frequency due to variation in thickness. Therefore, the flying characteristics with respect to the peripheral speed v of a certain track and the output voltage of the collision detection signal Vf generated by a collision are different for each head unit 3,
The output voltage characteristics vary.

【0010】一方、突起検査にあっては、突起との衝突
によりスライダー31や超音波センサ34などの破損や
特性劣化がしばしば発生する。劣化したり、破損したと
きにはヘッドユニット3ごと交換される。しかし、交換
されたヘッドは、出力電圧特性にばらつきがある関係か
ら交換前のヘッドユニットで検出した同一の大きさの突
起が検出できなかったり、ときには検出されたりする検
出ムラが発生し、突起検査の信頼性が低下する。特に、
高密度記憶化の方向にある磁気ディスク記憶装置では、
突起検査の結果が装置の信頼性と密接に関係し、より高
さの低い突起まで高い信頼性で検出できることが要求さ
れる。
On the other hand, in the projection inspection, the slider 31 and the ultrasonic sensor 34 are often damaged or the characteristics are deteriorated due to the collision with the projection. When the head unit 3 is deteriorated or damaged, the head unit 3 is replaced. However, due to the variation in the output voltage characteristics of the replaced head, unevenness in detection that the same size protrusion detected by the head unit before replacement could not be detected or was sometimes detected, and the protrusion inspection Reliability is reduced. In particular,
In the magnetic disk storage device in the direction of high density storage,
The result of the protrusion inspection is closely related to the reliability of the apparatus, and it is required that even a protrusion having a lower height can be detected with high reliability.

【0011】前記の出願の実施例に対して、裏面側にも
ヘッドユニット(ヘッドユニット3B)を設けた例を先
に説明したが、表裏にヘッドを設けた場合にこれらヘッ
ドユニットの特性を揃えることが表裏同時検査における
検査の信頼性向上に欠かせない。これら表裏のヘッドユ
ニットの特性が揃っていなければ、表裏を別々に同じヘ
ッドユニットで検査しなければらなず、一度装着したデ
ィスクを取り外して裏返して装着する処理が必要になり
検査効率が低下する。
Although an example in which a head unit (head unit 3B) is provided on the back surface side has been described above with respect to the embodiment of the above-mentioned application, when the heads are provided on the front and back sides, the characteristics of these head units are made uniform. That is essential for improving the reliability of the inspection in the front and back simultaneous inspection. If the front and back head units do not have the same characteristics, the front and back heads must be separately inspected by the same head unit, and it is necessary to remove the disks that have been mounted once and turn them over to mount them, thus reducing the inspection efficiency.

【0012】この発明の目的は、このような従来技術の
問題点を解決するものであって、信頼性の高い検査デー
タを得るために、ヘッドユニットの出力電圧のばらつき
を効率的に較正することができる突起ヘッドユニットの
較正方法を提供することにある。この発明の他の目的
は、表裏にヘッドユニットを設けて表裏同時の突起検査
が可能で、信頼性の高い検査データを効率よく得ること
ができる突起ヘッドユニットの較正方法を提供すること
にある。この発明のさらに他の目的は、前記の突起ヘッ
ドユニットの較正方法を用い、ヘッドユニットが交換さ
れても信頼性の高い検査データを得ることができる突起
検査方法および突起検査装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to efficiently calibrate variations in the output voltage of the head unit in order to obtain highly reliable inspection data. Another object of the present invention is to provide a method of calibrating a protruding head unit capable of performing the above. Another object of the present invention is to provide a method for calibrating a projection head unit, which is capable of simultaneously performing projection inspection on the front and back by providing head units on the front and back and efficiently obtaining highly reliable inspection data. Still another object of the present invention is to provide a projection inspection method and a projection inspection device which can obtain highly reliable inspection data even when the head unit is replaced by using the above-mentioned projection head unit calibration method. is there.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るためのこの発明の突起ヘッドユニットユニットの較正
方法、突起検査方法および突起検査装置の特徴は、浮上
特性が分かっている突起ヘッドユニットを選択してマス
ターヘッドユニットとし、突起検査に使用する任意の突
起ヘッドユニットを測定ヘッドユニットとして、所定の
面粗さを持つディスクを基準ディスクとして、回転する
この基準ディスクの面に前記マスターヘッドユニットの
ヘッドと前記測定ヘッドユニットとを順次ローディング
して浮上させ、前記基準ディスクのトラックの周速vを
変化させて前記マスターヘッドユニットの出力電圧em
と前記測定ヘッドユニットの出力電圧es とをそれぞれ
前記周速vの関数としてそれぞれの出力電圧特性を測定
してそれぞれの出力電圧特性を出力電圧−周速の直交座
標上において直線近似して直線em =−av+bと直線
es =−a’v+b’とを求め、前記直線em =−av
+bと直線es =−a’v+b’からb/b’とa’b
/ab’とを求めて、前記測定ヘッドユニットを突起検
査に使用するときに前記測定ヘッドユニットの出力信号
に対してそれを増幅するアンプのゲインをb/b’によ
り補正し、検査対象となる回転するディスクのトラック
の周速をa’b/ab’により補正するものである。た
だし、a,a’は傾き、b,b’は出力電圧軸上の切片
である。
The features of the method for calibrating the projection head unit unit, the projection inspection method, and the projection inspection apparatus according to the present invention for achieving the above object are that the projection head unit is known to have a floating characteristic. The master head unit is selected, and any projection head unit used for projection inspection is used as a measurement head unit. A disk having a predetermined surface roughness is used as a reference disk. The head and the measuring head unit are sequentially loaded and floated, and the peripheral speed v of the track of the reference disk is changed to output the output voltage em of the master head unit.
And the output voltage es of the measuring head unit are measured as respective functions of the peripheral speed v to measure respective output voltage characteristics, and the respective output voltage characteristics are linearly approximated on the orthogonal coordinates of the output voltage-peripheral speed to obtain a straight line em. = -Av + b and the straight line es = -a'v + b ', the straight line em = -av
From + b and straight line es = -a'v + b ', b / b' and a'b
/ Ab 'is obtained, and when the measurement head unit is used for the projection inspection, the gain of the amplifier that amplifies the output signal of the measurement head unit is corrected by b / b' to be the inspection target. The peripheral speed of the track of the rotating disk is corrected by a'b / ab '. However, a and a'are slopes and b and b'are intercepts on the output voltage axis.

【0014】[0014]

【作用】このような補正が有効であることを説明するた
めに、まず、ヘッドユニットの特性のばらつきについて
図7により説明する。図7(a) は、トラックTR の周速
v(横軸)に対する、スライダー31の浮上量δHと、
ヘッドユニット3の出力電圧e(実効値換算)の特性曲
線を示している。点線の位置は、所定の面粗さのディス
クにおける最大突起の検出位置に対応していて、そのと
きの浮上量がpであり、スライダー31が位置するトラ
ックの周速がvp である。
In order to explain that such correction is effective, first, the variation in the characteristics of the head unit will be described with reference to FIG. FIG. 7A shows the flying height δH of the slider 31 with respect to the circumferential speed v (horizontal axis) of the track TR,
The characteristic curve of the output voltage e (effective value conversion) of the head unit 3 is shown. The position of the dotted line corresponds to the detection position of the maximum protrusion on the disk having a predetermined surface roughness, the flying height at that time is p, and the peripheral speed of the track on which the slider 31 is located is vp.

【0015】なお、出力電圧e−周速vの特性の測定
は、所定の面粗さを持つ基準ディスクに対して周速vを
一定にして最外周トラックから最内周トラックまで螺旋
走査をして出力電圧の実効値を測定し、その平均値をそ
の周速に対する電圧値とし、前記の周速の一定値vを順
次増加あるいは減少させて測定を行った結果である。こ
こでの測定トラックの範囲は、必ずしも最外周から最内
周のトラックの範囲でなくてもよく、ある程度の高さの
突起が検出される一定の範囲のトラックであればよい。
The output voltage e-peripheral speed v is measured by spiral scanning from the outermost track to the innermost track with the peripheral speed v kept constant with respect to a reference disk having a predetermined surface roughness. The results are obtained by measuring the effective value of the output voltage by using the average value as the voltage value for the peripheral speed, and gradually increasing or decreasing the constant value v of the peripheral speed. The range of the measurement track here does not necessarily have to be the range of the track from the outermost circumference to the innermost circumference, and may be a certain range of tracks in which a protrusion having a certain height is detected.

【0016】さて、ヘッドの浮上量δHは、周速vの増
加に従って上昇し、この浮上量δHにおいて最大突起に
一致する点pにおいてこれに対する周速がvP になる。
突起は、周速vP か、それ以下で検出されてヘッドユニ
ットに出力電圧eが発生する。周速vが低下するに従っ
て出力電圧は、ほぼ直線的に上昇し、やがてピークとな
り、周速vがさらに低下するとやや複雑な特性の曲線に
なる。これに対して周速vP 以上では突起は、検出され
ないが、ノイズ成分が残留する。なお、突起検査では、
通常、周速vP 以上の周速が採用され、ヘッドユニット
のヘッドの浮上量もp以上で行われる。最大突起の位置
は、出力電圧特性の測定上において出力電圧eがノンリ
ニアになる手前のこの特性上での測定限界値を示してい
る。
The flying height .delta.H of the head rises as the peripheral speed v increases, and the peripheral speed corresponding to this is vP at the point p which coincides with the maximum protrusion in the flying height .delta.H.
The protrusion is detected at a peripheral speed vP or lower, and an output voltage e is generated in the head unit. As the peripheral speed v decreases, the output voltage increases almost linearly, reaches a peak, and when the peripheral speed v further decreases, the output voltage becomes a slightly complicated curve. On the other hand, the protrusion is not detected at the peripheral speed vP or higher, but the noise component remains. In the projection inspection,
Normally, a peripheral speed equal to or higher than the peripheral speed vP is adopted, and the flying height of the head of the head unit is also equal to or higher than p. The position of the maximum protrusion indicates the measurement limit value on this characteristic before the output voltage e becomes non-linear when measuring the output voltage characteristic.

【0017】図7(b) は、任意の2個のヘッドユニット
Hq とHr を採り、それぞれの周速vに対する浮上量δ
Hと出力電圧eの特性曲線eq ,er を示している。特
性がばらつくために両ヘッドユニットHq ,Hr のヘッ
ドの浮上量δHq ,δHr 、およびそれぞれの出力電圧
eq ,er は、図示のように相違する。ヘッドユニット
Hq は、浮上量δHq において点qで最大突起検出位置
になり、ヘッドユニットHr は、浮上量δHr において
点rで最大突起検出位置になる。これらに対する周速v
q ,vr もそれぞれ相違している。
In FIG. 7 (b), two arbitrary head units Hq and Hr are taken, and the flying height δ for each peripheral speed v.
The characteristic curves eq and er of H and the output voltage e are shown. The flying heights .delta.Hq and .delta.Hr of the heads of the two head units Hq and Hr and the respective output voltages eq and er are different as shown in the figure because of variations in characteristics. The head unit Hq becomes the maximum protrusion detection position at the point q at the flying height δHq, and the head unit Hr becomes the maximum protrusion detection position at the point r at the flying height δHr. Peripheral speed v for these
q and vr are also different.

【0018】そこで、所定の高さの突起を正確に検査す
るには、前記のような各ヘッドユニットの出力電圧eの
ばらつきを一定の基準値を設けてそれになるように較正
することが必要である。この較正の仕方として、本願発
明では、出力電圧eの特性曲線eq ,er の山から谷に
移るほぼ直線形状の部分の特性に着目する。この部分を
重ね合わせれば、特性曲線eq ,er の最大突起の検出
点q,rの位置もほぼ同じ位置か、近傍の位置になり、
それぞれのヘッドユニットを同じ特性のヘッドユニット
として使用可能である。そこで、あらかじめ、突起検査
装置に基準の面粗さを有する基準ディスクを装着してこ
れを回転させ、浮上特性が分かっているマスターヘッド
ユニットとある測定ヘッドユニットの、前記基準ディス
クにおけるトラックの周速v対出力電圧eの特性(出力
電圧特性)をそれぞれ測定する。
Therefore, in order to accurately inspect a protrusion having a predetermined height, it is necessary to calibrate the variation of the output voltage e of each head unit as described above by providing a constant reference value. is there. As a method of this calibration, in the present invention, attention is paid to the characteristics of the substantially linear portion of the characteristic curves eq and er of the output voltage e that move from the peaks to the valleys. If this part is overlapped, the positions of the detection points q and r of the maximum protrusions of the characteristic curves eq and er will be almost the same position or in the vicinity thereof.
Each head unit can be used as a head unit having the same characteristics. Therefore, in advance, a reference disk having a reference surface roughness is attached to the protrusion inspection device, and the reference disk is rotated to rotate the peripheral speed of a track on the reference disk of a master head unit and a measurement head unit whose flying characteristics are known. The characteristics of v vs. output voltage e (output voltage characteristics) are measured.

【0019】次に両ヘッドユニットの出力電圧特性にお
ける直線的な傾斜部分を出力電圧e−周速vのe−v直
交座標上において直線近似する。それぞれの直線の方程
式をem =−av+b、es =−a’v+bとして求
め、両近似直線方程式より、ゲイン補正値KG =b/
b’と、周速補正値KS =a’b/ab’とを算出す
る。これら補正値により一方の近似直線を他方の近似直
線に一致させるように補正する。このようにすれば、そ
れぞれの出力電圧の特性曲線の山から谷に移るほぼ直線
形状の部分の特性が一致して、その最大突起の検出点の
位置もほぼ同じ位置にくる。
Next, the linear slope portion of the output voltage characteristics of both head units is linearly approximated on the ev orthogonal coordinates of the output voltage e-the peripheral speed v. The equations of the respective straight lines are obtained as em = -av + b and es = -a'v + b, and the gain correction value KG = b /
b'and the peripheral speed correction value Ks = a'b / ab 'are calculated. With these correction values, one approximate straight line is corrected so as to match the other approximate straight line. By doing so, the characteristics of the substantially linear portions that move from the peaks to the valleys of the characteristic curves of the respective output voltages coincide with each other, and the position of the detection point of the maximum protrusion also comes to the substantially same position.

【0020】このような補正によりヘッドユニットの特
性のばらつきを吸収し、それぞれの出力電圧特性を揃え
て突起検査に使用することで、突起検査の信頼性あるい
は測定効率を向上させることができる。例えば、突起検
査装置においては、ある測定ヘッドユニットについて測
定された各補正値KG ,KS を、あらかじめ作成された
ゲイン補正プログラムと周速補正制御プログラムとにそ
れぞれ設定しておき、これらプログラムを実行してこの
測定ヘッドユニットにより突起検査をする際に、ヘッド
ユニットの出力電圧を増幅するアンプのゲインを補正値
KG により補正し、検査ディスク上のトラックの周速を
補正値KS により補正する。
By correcting the characteristics of the head unit by such a correction and using the same output voltage characteristics for the projection inspection, the reliability of the projection inspection or the measurement efficiency can be improved. For example, in the projection inspection apparatus, the respective correction values KG and KS measured for a certain measurement head unit are set in a gain correction program and a peripheral speed correction control program which are created in advance, and these programs are executed. When a protrusion is inspected by the lever measuring head unit, the gain of the amplifier that amplifies the output voltage of the head unit is corrected by the correction value KG, and the peripheral speed of the track on the inspection disk is corrected by the correction value KS.

【0021】これによりこの測定ヘッドユニットの出力
電圧特性es がマスターヘッドユニットの出力電圧の特
性em に較正されて、突起検査は、マスターヘッドユニ
ットの出力電圧特性em で行える。これにより、突起検
査の際に周速が揃うようなヘッドユニットを2つ選択す
ることが容易にでき、このようなヘッドユニットを表裏
に設けて表裏同時に突起検査をすることが可能である。
また、他のヘッドユニットに交換したとしても特性を揃
えられるので信頼性の高い突起検査が可能になる。
As a result, the output voltage characteristic es of the measuring head unit is calibrated to the output voltage characteristic em of the master head unit, and the protrusion inspection can be performed with the output voltage characteristic em of the master head unit. Accordingly, it is possible to easily select two head units having the same peripheral speed during the protrusion inspection, and it is possible to provide such head units on the front and back sides and perform the protrusion inspection simultaneously on the front and back sides.
Further, even if the head unit is replaced with another head unit, the characteristics can be made uniform, so that highly reliable projection inspection can be performed.

【0022】[0022]

【実施例】図1は、マスターヘッドユニットHm とある
測定ヘッドユニットHS の山から谷の部分へ移る直線的
な傾斜部分Sを中心とする出力電圧特性を示していて、
その横軸は周速vであり、その縦軸はヘッドユニット3
の出力電圧eであり、両ヘッドユニットの出力電圧の特
性がそれぞれem ,es である。一点鎖線で示す部分が
それぞれの近似直線Lm ,LS である。近似直線Lm
(直線方程式直線em =−av+b),LS (直線方程
式es =−a’v+b’)は、マスターヘッドユニット
Hm と測定ヘッドユニットHS の出力電圧を周側vを変
化させて測定される特性のデータから、測定ヘッドユニ
ットHS の山から谷の部分へ移る部分の測定データから
得ることができる。このとき、a,a’は両直線の傾き
である。b,b’は両直線の出力電圧軸(縦軸)との交
点、すなわち、縦軸の切片であって、両ヘッドユニット
の周側ゼロのときの理論値としての出力電圧eに対応す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows an output voltage characteristic centered on a linear inclined portion S of a master head unit Hm and a certain measuring head unit HS which moves from a peak to a valley.
The horizontal axis is the peripheral speed v, and the vertical axis is the head unit 3
Output voltage e of the respective head units, and the output voltage characteristics of both head units are em and es, respectively. The portions indicated by alternate long and short dash lines are the approximate straight lines Lm and LS. Approximate straight line Lm
(Straight line equation straight line em = -av + b), LS (Straight line equation es = -a'v + b ') is data of characteristics measured by changing the output voltage of the master head unit Hm and the measuring head unit HS on the circumferential side v. Can be obtained from the measurement data of the portion of the measuring head unit HS that moves from the peak to the valley. At this time, a and a'are the inclinations of both straight lines. b and b ′ are intersections of the output voltage axes (vertical axis) of both straight lines, that is, intercepts of the vertical axis, and correspond to the output voltage e as a theoretical value when the circumferential sides of both head units are zero.

【0023】また、これらからb/b’とa’b/a
b’とを算出することができ、このb/b’は、縦軸上
の切片b,b’の比率になっている。これは、両ヘッド
ユニットHm ,HS の感度の比率になるので、両ヘッド
ユニットに対するヘッドユニットの信号を増幅するアン
プのゲインで一致させることができる。同様に、両近似
直線Lm ,LS の横軸(周速軸)との各交点b/aと
b’/a’は、横軸上の切片であり、これらの比a’b
/ab’は、両ヘッドユニットHm ,HS に対する周速
vm とvs の比率になっている。そこで、測定ヘッドユ
ニット側の周速を変更することで、b’/a’の点をb
/aの点を一致させることができる。
From these, b / b 'and a'b / a
b ′ can be calculated, and this b / b ′ is the ratio of the intercepts b and b ′ on the vertical axis. Since this is the ratio of the sensitivities of both head units Hm and HS, the gains of the amplifiers for amplifying the signals of the head units for both head units can be matched. Similarly, the intersections b / a and b '/ a' of the two approximation straight lines Lm and LS with the horizontal axis (peripheral velocity axis) are intercepts on the horizontal axis, and their ratio a'b.
/ Ab 'is the ratio of the peripheral speeds vm and vs to both head units Hm and HS. Therefore, by changing the peripheral speed on the measurement head unit side, the point b '/ a' can be changed to b
The points of / a can be matched.

【0024】ここに、b/b’をゲイン補正係数KG と
し、これにより突起検査の際にマスターヘッドユニット
Hm について設定されるアンプ51のゲインGs に対し
てヘッドユニットHS を使用したときにb’をbに一致
させるようにゲイン補正(較正)をする。a’b/a
b’は、周速補正係数Ks とし、これにより突起検査の
際にマスターヘッドユニットHm について設定される検
査ディスクのトラックの周速vs に対してヘッドユニッ
トHS の使用したときにb’/a’をb/aに一致させ
るように周速補正(較正)をする。これにより測定ヘッ
ドユニットの出力電圧特性をほぼマスターヘッドユニッ
トの特性に合わせることができる。なお、ここでは、ア
ンプ51は、MPU8の制御信号でその利得が制御され
る可変利得アンプが採用される。
Here, b / b 'is defined as a gain correction coefficient KG, so that when the head unit HS is used for the gain Gs of the amplifier 51 set for the master head unit Hm at the time of projection inspection, b'is used. Gain correction (calibration) is performed so as to match with b. a'b / a
b'is a peripheral velocity correction coefficient Ks, which allows b '/ a' when the head unit HS is used with respect to the peripheral velocity vs of the track of the inspection disk set for the master head unit Hm during the protrusion inspection. The peripheral speed is corrected (calibrated) so that is equal to b / a. As a result, the output voltage characteristic of the measuring head unit can be almost matched with the characteristic of the master head unit. Here, the amplifier 51 is a variable gain amplifier whose gain is controlled by the control signal of the MPU 8.

【0025】以上が原理である。実際のヘッドユニット
の較正方法としては、まず、浮上特性が分かっているで
きるだけ特性のよいヘッドユニットを選択してマスター
ヘッドユニットHm とする。突起検査に使用する任意の
ヘッドユニットを測定ヘッドユニットHS とする。そし
て、所定基準の面粗さを有する基準ディスクを別途製作
して用意する。この基準ディスクを図5に示すスピンド
ル21に装着して、例えば、図2に示す、ヘッドユニッ
トの出力電圧(実効値)を測定できる装置によりアンプ
51のゲインをあらかじめ定められた設定値GO に設定
して周速vを変化させて両ヘッドユニットHm ,HS の
出力電圧特性em ,es をそれぞれ測定する。なお、測
定の仕方は前記したとおり、周速を一定として螺旋走査
により行い出力電圧の実効値の平均値を得て、前記の一
定値が増加あるいは減少されることで変更されて次の螺
旋走査を行い、出力電圧の実効値の平均値を得て、この
ような測定を順次繰り返すことで周速の変化に応じた出
力電圧を得る。
The above is the principle. As an actual method of calibrating the head unit, first, a head unit having known flying characteristics and having the best characteristics is selected and used as the master head unit Hm. An arbitrary head unit used for the projection inspection is referred to as a measurement head unit HS. Then, a reference disk having a predetermined reference surface roughness is separately manufactured and prepared. This reference disk is mounted on the spindle 21 shown in FIG. 5, and the gain of the amplifier 51 is set to a predetermined set value GO by a device shown in FIG. 2 which can measure the output voltage (effective value) of the head unit. Then, the peripheral speed v is changed and the output voltage characteristics em and es of both head units Hm and HS are measured. As described above, the measurement method is performed by spiral scanning with the peripheral speed kept constant to obtain the average value of the effective value of the output voltage, and the constant value is increased or decreased to be changed to the next spiral scanning. Then, the average value of the effective value of the output voltage is obtained, and such measurement is sequentially repeated to obtain the output voltage according to the change of the peripheral speed.

【0026】得られた両ヘッドユニットHm ,HS の出
力電圧特性em ,es からこれらの山から谷の部分へ移
る部分の測定データに従って、この部分を直線近似して
直線を求める。こうして求めた直線em =−av+bと
es =−a’v+b’からゲイン補正係数KG =b/
b’と周速補正係数KS =a’b/ab’とを得て、こ
れを前記測定ヘッドユニットの補正係数として前記測定
ヘッドユニットに与えて管理する。このような補正係数
の管理を測定ヘッドユニットごとに行う。なお、マスタ
ーヘッドユニットの測定は、em =−av+bが一度得
られれば、基準ディスクを変更しない限りは、以後の測
定は不要である。
From the output voltage characteristics em and es of both head units Hm and HS thus obtained, a straight line is obtained by linearly approximating this portion according to the measured data of the portion from the peak to the valley. From the straight lines em = -av + b and es = -a'v + b 'thus obtained, the gain correction coefficient KG = b /
b'and the peripheral speed correction coefficient Ks = a'b / ab 'are obtained, and these are given to the measuring head unit as the correction coefficient of the measuring head unit for management. Such correction coefficient management is performed for each measurement head unit. In the measurement of the master head unit, once em = -av + b is obtained, the subsequent measurement is unnecessary unless the reference disk is changed.

【0027】こうして各ヘッドユニットを補正係数とと
もに管理すれば、ある測定ヘッドユニットで突起検査を
しているときに、その測定ヘッドユニットAによる突起
検査の際に設定された現在のアンプのゲインGA と周速
vA とに対して他の測定ヘッドユニットBを交換したと
きに前の測定ヘッドユニットAのゲイン補正係数KGAと
周速補正係数KSAとが分かっていて、今回の測定ヘッド
ユニットBのゲイン補正係数KGBと周速補正係数KSBと
が分かっていれば、ヘッドユニットの出力電圧を増幅す
るアンプの設定すべきゲインGB は、GB =GA ×KGB
/KGAで求めることができる。また、トラックに対して
設定すべき周速vB は、vB =vA ×KSB/KSAで求め
ることができる。
If each head unit is managed together with the correction coefficient in this way, when a protrusion is inspected by a certain measuring head unit, the current gain GA of the amplifier set at the time of the protrusion inspection by the measuring head unit A and When the other measuring head unit B is replaced with the peripheral speed vA, the gain correction coefficient KGA and the peripheral speed correction coefficient KSA of the previous measuring head unit A are known. If the coefficient KGB and the peripheral speed correction coefficient KSB are known, the gain GB to be set by the amplifier for amplifying the output voltage of the head unit is GB = GA × KGB
You can ask for it with / KGA. Further, the peripheral speed vB to be set for the track can be obtained by vB = vA × KSB / KSA.

【0028】こうしてゲイン補正と周速補正とをして補
正された状態で突起検査を行うようにすれば、それは、
検査に使用する図1におけるヘッドユニットHS の出力
電圧特性がヘッドユニットHm の出力電圧特性にほぼ等
しく較正されたことになり、その出力電圧es が近似直
線LS に対応するほぼ図示の一点鎖線の電圧es'にな
る。なお、ほぼ同じ周速補正値のヘッドユニットを2つ
表裏に設ければ、ゲイン値についてはアンプ対応に独立
に設定可能であるので、表裏同時検査ができる。また、
基準の面粗さを有する基準ディスクとは、その面粗さを
基準とするために別途製作してもよいが、一般のディス
クを基準として使用しても差し支えはない。
In this way, if the projection inspection is performed in the corrected state by the gain correction and the peripheral speed correction,
The output voltage characteristic of the head unit HS in FIG. 1 used for the inspection is calibrated to be substantially equal to the output voltage characteristic of the head unit Hm, and the output voltage es thereof corresponds to the approximate straight line LS and is represented by a dashed line. becomes es'. If two head units having substantially the same peripheral speed correction value are provided on the front and back sides, the gain values can be set independently for each amplifier, so that simultaneous front and back inspection can be performed. Also,
The reference disk having the reference surface roughness may be separately manufactured to use the reference surface roughness as a reference, but a general disk may be used as a reference.

【0029】図2は、この発明による較正方法を適用し
た突起検査装置を示していて、その構成は、図5の突起
検査装置にヘッドユニットの出力電圧特性を測定する測
定回路を追加し、ヘッドユニットの出力電圧(実効値)
の測定データをメモリに記憶して各補正係数を算出し、
これを測定ヘッドユニット対応に管理できるようにした
ものである。また、図5のメモリ8a には、ゲイン補正
プログラム80と周速補正制御プログラム81とが設け
られていて、ヘッドユニットからの信号を増幅するアン
プ51のゲインの設定と突起検査の際に設定される各ト
ラックの周速補正とが自動的に行われるようになってい
る。周速補正制御プログラム81は、先に従来技術にお
いて説明した周速制御プログラムに周速補正機能を加え
たものである。また、従来技術において説明したキャリ
ッジ制御プログラムはメモリ8aに格納されているが、
これは図示していない。
FIG. 2 shows a projection inspection apparatus to which the calibration method according to the present invention is applied. The configuration is such that a measurement circuit for measuring the output voltage characteristic of the head unit is added to the projection inspection apparatus of FIG. Unit output voltage (effective value)
The measurement data of is stored in the memory and each correction coefficient is calculated,
This is designed to be managed in correspondence with the measuring head unit. Further, the memory 8a of FIG. 5 is provided with a gain correction program 80 and a peripheral speed correction control program 81, which are set at the time of setting the gain of the amplifier 51 for amplifying the signal from the head unit and the projection inspection. The peripheral speed correction of each track is automatically performed. The peripheral speed correction control program 81 is obtained by adding the peripheral speed correction function to the peripheral speed control program previously described in the prior art. Further, although the carriage control program described in the prior art is stored in the memory 8a,
This is not shown.

【0030】なお、図2の突起検査装置にあっては、図
5に示すディスク1とこれを回転させる回転機構2、そ
してキャリッジ部4とが図5のものと同じであるためこ
れらの部分を省略してある。また、プログラム80,8
1は、それぞれMPUを使用している関係でプログラム
と言っているが、前記したように、実際の補正は、あら
かじめメモリ8a に記憶されている突起検査の際のマス
ターヘッドユニットについてのゲイン値GS や周速vs
あるいは現在の設定値に対して補正値を乗算したり、除
算するだけのものであって、特別な処理プログラムでは
ない。補正に関しては単なる数値演算処理で足りるので
その詳細は割愛する。このほかこれらのプログラムの処
理としては、演算結果に応じた制御値をMPU8からア
ンプ51や周速制御回路7に送出するものであるが、こ
れは単なる一般的な出力処理である。
In the projection inspection apparatus of FIG. 2, the disk 1, the rotation mechanism 2 for rotating the disk 1 and the carriage section 4 shown in FIG. 5 are the same as those in FIG. Omitted. In addition, programs 80, 8
1 is called a program because it uses the MPU, but as described above, the actual correction is the gain value GS for the master head unit at the time of the projection inspection stored in the memory 8a in advance. Or peripheral speed vs
Alternatively, the present setting value is only multiplied by the correction value or is divided, and is not a special processing program. As for the correction, a simple numerical calculation process is sufficient, so the details are omitted. In addition, as the processing of these programs, a control value according to the calculation result is sent from the MPU 8 to the amplifier 51 and the peripheral speed control circuit 7, but this is merely a general output processing.

【0031】54は、出力電圧測定回路であって、実効
値検出回路54a とA/D変換回路(A/D)54b と
メモリ54c とからなる。測定ヘッドユニット34の出
力は、アンプ51で増幅されBPF52を介して実効値
検出回路54a に加えられる。なお、このときのアンプ
51のゲインは、あらかじめ定められた測定時のゲイン
設定値GO になるようにMPU8の制御により設定され
ている。実効値検出回路54a は、衝突検出信号を整流
する整流回路とこの回路の出力の平均値を採る平均値回
路とからなり、平均値回路で実効値が得られる。ここ
で、検出された実効値(電圧値)は、A/D54b に加
えられA/D変換される。メモリ54c は、A/D変換
値を受けて各変換値を各アドレスに順次記憶する。A/
D54b は、MPU8からの制御信号に応じてA/D変
換を行い、その結果をメモリ54cに送出する。メモリ
54c は、MPU8からの制御信号に応じてアドレスを
更新して受けたデータを記憶する。
Reference numeral 54 is an output voltage measuring circuit, which comprises an effective value detecting circuit 54a, an A / D conversion circuit (A / D) 54b and a memory 54c. The output of the measurement head unit 34 is amplified by the amplifier 51 and applied to the effective value detection circuit 54a via the BPF 52. The gain of the amplifier 51 at this time is set by the control of the MPU 8 so as to be a predetermined gain setting value G0 for measurement. The effective value detection circuit 54a is composed of a rectifying circuit for rectifying the collision detection signal and an average value circuit for taking an average value of the output of this circuit, and the effective value is obtained by the average value circuit. Here, the detected effective value (voltage value) is added to the A / D 54b and A / D converted. The memory 54c receives the A / D conversion value and sequentially stores each conversion value at each address. A /
The D54b performs A / D conversion according to the control signal from the MPU 8 and sends the result to the memory 54c. The memory 54c updates the address according to the control signal from the MPU 8 and stores the received data.

【0032】MPU8は、e−v特性測定プログラム8
2を実行して各トラックの周速が一定になるような制御
値を速制御回路7に与え、ディスク全面(ここでは最外
周から最内周の範囲の意味)に亙り螺旋走査をして、同
時にA/D54b とメモリ54c とに制御信号を送出す
る。その結果として、ディスク全面で周速vを一定にし
た測定データがメモリ54c に記憶され、MPU8は、
メモリ54c からこの測定データを読出してその平均値
を算出してこれを周速制御回路7に与えた周速値に応じ
てメモリ8a に記憶する。次に前記の一定の周速値を増
加(あるいは減少)させて、前記の螺旋走査を行い、メ
モリ54c からその測定データを読出してその平均値を
算出してこれを周速制御回路7に与えた増加あるいは減
少させた周速値に応じてメモリ8a に記憶する。このよ
うな測定を繰り返す結果として周速を変化させ、ヘッド
ユニット出力電圧特性eを周速vの関数としてメモリ8
aに記憶する。なお、以上の場合、A/D54b の変換
値を実時間でMPU8が受けられるようにすればメモリ
54c は、必ずしも必要ではない。
The MPU 8 is an ev characteristic measuring program 8
2 is given to the speed control circuit 7 so that the peripheral speed of each track is constant, and spiral scanning is performed over the entire surface of the disk (here, the range from the outermost circumference to the innermost circumference). At the same time, control signals are sent to the A / D 54b and the memory 54c. As a result, the measurement data in which the peripheral speed v is constant over the entire surface of the disk is stored in the memory 54c, and the MPU 8
The measured data is read from the memory 54c, the average value thereof is calculated, and the average value is stored in the memory 8a according to the peripheral speed value given to the peripheral speed control circuit 7. Next, the spiral speed is increased (or decreased), the spiral scan is performed, the measured data is read from the memory 54c, the average value thereof is calculated, and this is given to the peripheral speed control circuit 7. It is stored in the memory 8a according to the increased or decreased peripheral speed value. As a result of repeating such measurement, the peripheral speed is changed, and the head unit output voltage characteristic e is stored in the memory 8 as a function of the peripheral speed v.
Remember in a. In the above case, the memory 54c is not always necessary if the converted value of the A / D 54b can be received by the MPU 8 in real time.

【0033】突起検出装置の全体的な動作としては、マ
スターヘッドユニットHm がキャリッジ部4に装着され
て、MPU8がe−v特性測定プログラム82を実行し
てMPU8の制御によりアンプ51のゲインが設定値G
O に設定されて、ゲインGOの下に周速一定の螺旋走査
が外周から内周のトラックあるいはその逆に行われ、周
速値を変えてそれが繰り返されて行われることでマスタ
ーヘッドユニットHmの出力電圧の実効値が周速vの関
数として採取される。次に測定ヘッドユニットHS がキ
ャリッジ部4に装着されて同様にMPU8の制御により
前記ゲインGOの下にヘッドユニットHs の出力電圧の
実効値が周速vの関数として前記の全面螺旋走査が行わ
れて採取される。その結果、メモリ8a には各測定デー
タem ,es が記憶される。
As for the overall operation of the projection detecting apparatus, the master head unit Hm is mounted on the carriage unit 4, the MPU 8 executes the ev characteristic measuring program 82, and the gain of the amplifier 51 is set by the control of the MPU 8. Value G
The master head unit Hm is set to O and a spiral scan with a constant peripheral speed is performed under the gain GO and the spiral speed is changed from the outer track to the inner track and vice versa. The effective value of the output voltage is sampled as a function of the peripheral speed v. Next, the measuring head unit HS is mounted on the carriage unit 4, and similarly, by the control of the MPU 8, the full spiral scan is performed under the gain GO as the effective value of the output voltage of the head unit Hs as a function of the peripheral speed v. Collected. As a result, the measurement data em and es are stored in the memory 8a.

【0034】次にMPU8は、似直線算出処理プログラ
ム83を実行してメモリ8a に記憶された各測定データ
em ,es から最大突起に対応する周速vp より低い周
速の範囲の測定データを読出してこれを出力電圧e−周
速vの直交座標のデータに展開して複数点のデータから
近それぞれの近似直線をLm ,Ls を演算処理(一般的
な座標値による直線演算)により求める。その結果とし
てこれらに対する直線方程式em =−av+b、es =
−a’v+b’が得られ、これらがメモリ8a に記憶さ
れる。
Next, the MPU 8 executes the similar straight line calculation processing program 83 to read out the measured data in the range of peripheral speed lower than the peripheral speed vp corresponding to the maximum protrusion from the measured data em and es stored in the memory 8a. Then, this is expanded into data of rectangular coordinates of output voltage e-peripheral speed v, and approximated straight lines Lm and Ls are calculated from the data of a plurality of points by calculation processing (straight line calculation by general coordinate values). As a result, the linear equations for these em = -av + b, es =
-A'v + b 'are obtained and stored in the memory 8a.

【0035】こうして記憶された各直線のデータから前
記の較正方法に従ってゲイン補正係数KG =b/b’と
周速補正係数KS =a’b/ab’とを得て、これを測
定ヘッドユニットの補正係数としてあらかじめ入力され
ているその測定ヘッドユニットに与えた識別番号の下に
メモリ8a の補正値テーブル84に記憶し、次の測定ヘ
ッドユニットについて同様な測定を行い、同様にその識
別番号で測定結果の補正値をテーブル84に記憶する。
複数の測定ヘッドユニットについてゲイン補正係数KG
と周速補正係数KS とのデータが得られたときには、そ
れらを、例えばフロッピーディスク等に記憶しておく。
The gain correction coefficient KG = b / b 'and the peripheral speed correction coefficient KS = a'b / ab' are obtained from the data of each straight line thus stored according to the above-mentioned calibration method, and these are obtained from the measuring head unit. It is stored in the correction value table 84 of the memory 8a under the identification number given to the measuring head unit which is previously input as the correction coefficient, the same measurement is performed for the next measuring head unit, and the same measurement is carried out with the identification number. The resulting correction value is stored in the table 84.
Gain correction coefficient KG for multiple measurement head units
And the peripheral velocity correction coefficient KS are obtained, they are stored in, for example, a floppy disk.

【0036】ある測定ヘッドユニットが使用されるとき
には、そのゲイン補正係数KG と周速補正係数KS が前
記のフロッピーディスクから読み出され、突起検査装置
において設定されるべきアンプ51のゲインGB とトラ
ックの周速vB とが、その前に使用された測定ヘッドユ
ニットのゲインGA と周速vA 、そしてゲイン補正係数
KG と周速補正係数KS との関係において前述したよう
に除算と乗算とにより算出されて設定される。また、こ
の場合に、補正の対象となるゲインや周速は、測定ヘッ
ドユニットが装着される都度、突起検査としてマスター
ヘッドユニットに対して割当てられている基準ゲイン値
GS や基準周速vs に対して補正係数KG と周速補正係
数KS が乗算されて算出されてもよい。
When a certain measuring head unit is used, its gain correction coefficient KG and peripheral speed correction coefficient KS are read from the floppy disk, and the gain GB of the amplifier 51 and the track of the amplifier 51 to be set in the projection inspection apparatus are set. The peripheral speed vB is calculated by the division and multiplication as described above in the relationship between the gain GA of the measuring head unit used before and the peripheral speed vA, and the gain correction coefficient KG and the peripheral speed correction coefficient KS. Is set. Further, in this case, the gain and the peripheral speed to be corrected correspond to the reference gain value GS and the reference peripheral speed vs that are assigned to the master head unit as the protrusion inspection each time the measuring head unit is mounted. It may be calculated by multiplying the correction coefficient KG by the peripheral speed correction coefficient KS.

【0037】ところで、ヘッドユニット34がピエゾセ
ンサのときには、BPF52の帯域は、100kHz〜
300kHz程度であり、超音波センサの場合には、3
00kHz〜600kHz程度のものが使用される。ま
た、各測定ヘッドユニットHS の固有振動数のばらつき
があるので、このばらつきに対して、帯域フィルタ(B
PF)52の通過帯域を切り換えるようにし、この切換
をキーホードからの指示に応じてMPU8の制御信号で
行うとよい。
By the way, when the head unit 34 is a piezo sensor, the band of the BPF 52 is 100 kHz to 100 kHz.
It is about 300 kHz, and in the case of an ultrasonic sensor, 3
A frequency of about 00 kHz to 600 kHz is used. Further, since there is a variation in the natural frequency of each measuring head unit HS, the bandpass filter (B
The pass band of the PF) 52 may be switched, and this switching may be performed by the control signal of the MPU 8 according to an instruction from the key board.

【0038】図2の突起検査装置は、本来は、測定ヘッ
ドユニットを交換する都度、その測定ヘッドユニットの
較正を行って突起検査を行うことができる。そこで、そ
の処理について図3のフローチャートに従って説明す
る。 まず、(a) の準備処理において
は、基準となるマスターヘッドユニットの出力電圧特性
em =−av+bを測定により採取してメモリ8a に記
憶する。すなわち、所定の面粗さの基準ディスクを検査
装置のスピンドル21に装着し、キャリッジ機構41に
浮上量の分かっているマスターヘッドユニットHm をク
ランプする(ステップ100)。そして、アンプ51の
ゲインをGO に設定して、ディスク1を回転させる(ス
テップ101)。キャリッジ制御プログラムによりヘッ
ドユニット34を移動させて基準ディスクにローディン
グし、ある周速値で螺旋走査を行い、この周速vを変化
させて螺旋走査を行い、これを繰り返して各周速に対す
る出力電圧em を測定する。この場合においてBPF5
2の適切な帯域を選択する必要があるときには、キーボ
ードよりMPU8に指示してBPF52の帯域を選択し
た後に前記の出力電圧特性em を測定してメモリ8a に
記憶する(ステップ102)。測定したデータから近似
直線Lm を算出してその直線方程式em =−av+bを
メモリ8a に記憶する(ステップ103)。
The projection inspection apparatus shown in FIG. 2 can originally perform the projection inspection by calibrating the measurement head unit each time the measurement head unit is replaced. Therefore, the processing will be described with reference to the flowchart of FIG. First, in the preparation process of (a), the output voltage characteristic em = -av + b of the master head unit serving as a reference is sampled by measurement and stored in the memory 8a. That is, a reference disk having a predetermined surface roughness is mounted on the spindle 21 of the inspection device, and the master head unit Hm of known flying height is clamped on the carriage mechanism 41 (step 100). Then, the gain of the amplifier 51 is set to G0 and the disk 1 is rotated (step 101). The head control unit 34 is moved by the carriage control program to be loaded on the reference disk, spiral scanning is performed at a certain peripheral speed value, the peripheral speed v is changed to perform spiral scanning, and this is repeated to output voltage for each peripheral speed. Measure em. In this case BPF5
When it is necessary to select the appropriate band 2, the MPU 8 is instructed by the keyboard to select the band of the BPF 52, and then the output voltage characteristic em is measured and stored in the memory 8a (step 102). An approximate straight line Lm is calculated from the measured data, and the linear equation em = -av + b is stored in the memory 8a (step 103).

【0039】次に(b) の検査で測定ヘッドユニットを交
換する場合において、前記のマスターヘッドユニットH
m の特性を測定したときの基準ディスクを検査装置のス
ピンドル21に装着し、キャリッジ機構41に交換され
る測定ヘッドユニットHS をクランプする(ステップ1
04)。アンプ51のゲインをGO に設定して、ディス
ク1を回転させる(ステップ105)。キャリッジ制御
プログラムによりヘッドユニット34を移動させて基準
ディスクにローディングし、周速vを変化させて各周速
に対する出力電圧es を測定する。この場合においてB
PF52の適切な帯域を選択する必要があるときには、
キーボードよりMPU8に指示して選択た後に前記の出
力電圧特性es を測定してメモリ8a に記憶する(ステ
ップ106)。測定したデータから近似直線LS を算出
して、その直線方程式es =−a’v+b’が求められ
る(ステップ107)。
Next, in the case of replacing the measuring head unit in the inspection of (b), the master head unit H
The reference disk used for measuring the characteristic of m is mounted on the spindle 21 of the inspection device, and the measuring head unit HS exchanged with the carriage mechanism 41 is clamped (step 1).
04). The gain of the amplifier 51 is set to G0 and the disk 1 is rotated (step 105). The head unit 34 is moved by the carriage control program to load it on the reference disk, and the peripheral speed v is changed to measure the output voltage es for each peripheral speed. In this case B
When it is necessary to select an appropriate band of PF52,
After the MPU 8 is instructed and selected by the keyboard, the output voltage characteristic es is measured and stored in the memory 8a (step 106). An approximate straight line LS is calculated from the measured data, and the linear equation es = -a'v + b 'is obtained (step 107).

【0040】次に、直線方程式es =−a’v+b’と
ステップ103で得た直線方程式em =−av+bとに
基づきゲイン補正係数KG =b/b’を算出してゲイン
補正プログラム80に設定して、同様に、周速補正係数
KS =a’b/ab’を算出して周速補正制御プログラ
ム81に設定する(ステップ108)。検査が検査開始
されると(ステップ109)、MPU8によりゲイン補
正プログラム80が実行されてマスターヘッドユニット
Hm により突起検査をする際に割当られている基準のゲ
インGS にゲイン補正係数KG が乗算され、その結果得
られた値がゲイン設定値としてアンプ51に設定される
(ステップ110)。また、MPU8により周速補正制
御プログラム81が実行されてマスターヘッドユニット
Hm により突起検査をする際に割当られている基準の周
速vs に周速補正係数KS が乗算されて、その結果得ら
れた値が各トラックの周速値となるようにヘッドユニッ
トが位置決めされるトラックに応じて周速制御回路7に
制御値が設定される(ステップ111)。そして、測定
ヘッドユニットHS により検査ディスクの突起が検査さ
れる(ステップ112)。
Next, the gain correction coefficient KG = b / b 'is calculated based on the linear equation es = -a'v + b' and the linear equation em = -av + b obtained in step 103 and set in the gain correction program 80. Similarly, the peripheral speed correction coefficient KS = a'b / ab 'is calculated and set in the peripheral speed correction control program 81 (step 108). When the inspection is started (step 109), the MPU 8 executes the gain correction program 80 and the master head unit Hm multiplies the reference gain GS assigned when the protrusion inspection is performed by the gain correction coefficient KG, The value obtained as a result is set in the amplifier 51 as a gain setting value (step 110). Further, the peripheral speed correction control program 81 is executed by the MPU 8 and the peripheral speed correction coefficient Ks is multiplied by the reference peripheral speed vs assigned when the master head unit Hm inspects the protrusion, and the result is obtained. A control value is set in the peripheral speed control circuit 7 according to the track on which the head unit is positioned so that the value becomes the peripheral speed value of each track (step 111). Then, the projection of the inspection disk is inspected by the measuring head unit HS (step 112).

【0041】この補正により測定ヘッドユニットの検出
電圧es は、実質的にマスターヘッドユニットの出力電
圧em の特性に較正されて突起検査が行われる。このよ
うにこの較正方法を突起検査装置に組み込むことにより
突起検査装置は、どの測定ヘッドユニットを使用しても
マスターヘッドユニットの特性にほぼ対応する測定ヘッ
ドユニットで突起検査を行うことができる。したがっ
て、ほぼ補正値が同一周速になるヘッドユニットを選択
して表裏にこれらのヘッドユニットを設けてそれぞれの
ヘッドユニットに対応する補正ゲインを設定して表裏同
時の検査をしても突起検査の信頼性が高い。
By this correction, the detection voltage es of the measuring head unit is substantially calibrated to the characteristic of the output voltage em of the master head unit, and the projection inspection is performed. In this way, by incorporating this calibration method into the projection inspection apparatus, the projection inspection apparatus can perform the projection inspection with the measurement head unit that substantially corresponds to the characteristics of the master head unit, whichever measurement head unit is used. Therefore, even if head units with almost the same peripheral speed are selected, these head units are provided on the front and back sides, and the correction gains corresponding to the respective head units are set and the inspection is performed simultaneously on the front and back sides, Highly reliable.

【0042】なお、この場合に、周速補正係数KS が2
倍以上の値になるような場合には、統計的にみて極端な
特性のヘッドユニットであるので、それは較正すること
なく、不良ヘッドユニットとして扱う。また、ゲイン補
正が10倍以上になるようなヘッドユニットについても
同様である。また、ステップ104において、マスター
ヘッドユニットを測定したときの基準ディスクがない場
合には、別の基準ディスクを採用してもよい。その場合
には、ステップ100からステップ103の検査前の準
備段階の工程を再び経ればよい。
In this case, the peripheral speed correction coefficient KS is 2
When the value is twice or more, it is a head unit having statistically extreme characteristics, so it is treated as a defective head unit without calibration. The same applies to a head unit whose gain correction is 10 times or more. Further, if there is no reference disk when the master head unit is measured in step 104, another reference disk may be adopted. In that case, the steps of the preparatory step before the inspection in steps 100 to 103 may be performed again.

【0043】以上説明してきたが、実施例では、ヘッド
ユニットの出力電圧の実効値の測定においては、周速を
一定にして全面的な螺旋走査をしているが、この測定に
おける螺旋走査の範囲は、複数のトラックに亙るもので
あってもよい。また、1トラックに多数の突起があり、
その突起の高さが統計的に高いものから低いものまで存
在するような場合には、1トラックの走査で実効値の測
定を終了させてもよい。さらに、螺旋走査でなく、各ト
ラック対応に停止して複数のトラックを走査しその実効
値の平均値を出力電圧として採用してもよい。また、実
施例では、ヘッドユニットを表裏に設けた場合について
も説明しているが、この発明は、ヘッドユニットを表裏
いずれかに一方に設けてあればよく、必ずしも表裏に設
ける必要はない。
As described above, in the embodiment, in the measurement of the effective value of the output voltage of the head unit, the entire peripheral surface is spirally scanned with the peripheral speed kept constant. May span multiple tracks. Also, there are many protrusions on one track,
When the height of the protrusion is statistically high or low, the measurement of the effective value may be completed by scanning one track. Further, instead of the spiral scanning, it is also possible to stop corresponding to each track, scan a plurality of tracks, and employ the average value of the effective values as the output voltage. Further, in the embodiment, the case where the head unit is provided on the front and back sides is also described, but in the present invention, the head unit may be provided on either one of the front and back sides, and is not necessarily provided on the front and back sides.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明にあっては、マスターヘッドユニットと測定ヘッドユ
ニットとの出力電圧特性における直線的な傾斜部分を出
力電圧e−周速vの直交座標上において直線近似してそ
れぞれの直線の方程式をem =−av+b、es =−
a’v+bとして求め、両近似直線方程式より、ゲイン
補正値KG =b/b’と、周速補正値KS =a’b/a
b’とを算出し、これら補正値により一方の近似直線を
他方の近似直線に一致させるように補正するので、ヘッ
ドユニットの特性のばらつきが吸収でき、それぞれのヘ
ッドユニットの出力電圧特性を揃えて突起検査に使用す
ることとができる。
As is apparent from the above description, in the present invention, the linear slope portion in the output voltage characteristics of the master head unit and the measurement head unit is defined as the orthogonal coordinate of the output voltage e-the peripheral speed v. The above equation is approximated to a straight line and the equation of each straight line is em = -av + b, es =-
a'v + b, and the gain correction value KG = b / b 'and the peripheral speed correction value KS = a'b / a are obtained from both approximate linear equations.
Since b'is calculated and one of the approximate straight lines is corrected by these correction values so as to match the other approximate straight line, variations in the characteristics of the head units can be absorbed, and the output voltage characteristics of the respective head units are made uniform. It can be used for projection inspection.

【0045】その結果、突起検査の信頼性あるいは測定
効率を向上させることができる。また、突起検査の際に
周速が揃うようなヘッドユニットを2つ選択することが
容易にでき、このようなヘッドユニットを表裏に設けて
表裏同時に突起検査をすることが可能である。さらに、
他のヘッドユニットに交換したとしても特性を揃えられ
るので信頼性の高い突起検査が可能になる。
As a result, the reliability of the projection inspection or the measurement efficiency can be improved. Further, it is possible to easily select two head units whose peripheral speeds are uniform during the projection inspection, and it is possible to provide such head units on the front and back sides and perform the projection inspection on the front and back sides at the same time. further,
Even if the head unit is replaced with another head unit, the characteristics can be made uniform, so that reliable projection inspection can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、この発明によるヘッドユニットの較正
方法の原理を説明するヘッドユニットについての周速に
対する出力電圧の特性図である。
FIG. 1 is a characteristic diagram of an output voltage with respect to a peripheral speed of a head unit for explaining the principle of a head unit calibration method according to the present invention.

【図2】図2は、この発明によるヘッドユニットの較正
方法を適用した突起検査装置の一実施例のブロック図の
波形図である。
FIG. 2 is a waveform diagram of a block diagram of an embodiment of a projection inspection apparatus to which the head unit calibration method according to the present invention is applied.

【図3】図3は、図2に対する突起検査手順の説明図で
あって、図(a) は、マスターヘッドユニットについての
近似直線採取のフローチャート、図(b) は、検査のフロ
ーチャートである。
3A and 3B are explanatory views of a protrusion inspection procedure for FIG. 2, wherein FIG. 3A is a flowchart of approximate straight line sampling for a master head unit, and FIG. 3B is a flowchart of inspection.

【図4】図4は、USSN7,977,634の発明を
説明するための概要図である。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the invention of USSN 7,977,634.

【図5】図5は、図4の発明を適用した突起検査装置に
おいて表裏に突起検出ヘッドユニットを設けた場合のブ
ロック図である。
5 is a block diagram in the case where projection detection head units are provided on the front and back sides in the projection inspection apparatus to which the invention of FIG. 4 is applied.

【図6】図6は、従来の突起検出部のブロック図であ
る。
FIG. 6 is a block diagram of a conventional protrusion detection unit.

【図7】図7は、ヘッドユニットの特性図であって、
(a) は、周速に対する浮上量と出力電圧の特性図、(b)
は、任意の2個のヘッドユニットについての周速に対す
る浮上量と出力電圧のばらつきを示す特性図である。
FIG. 7 is a characteristic diagram of a head unit,
(a) is a characteristic diagram of flying height and output voltage with respect to peripheral speed, (b)
FIG. 4 is a characteristic diagram showing variations in flying height and output voltage with respect to peripheral speeds for arbitrary two head units.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ディスク、2…回転機構、3,3A,3B…ヘッド
ユニット、4…突起検出部、6…キャリッジ制御回路、
7…周速制御回路、8…MPU、8a …メモリ(ME
M)、9…プリンタ、22…モータ(M1 )、31…ス
ライダー、32…サスペンションばね、33…支持アー
ム、34…超音波圧電センサ、41…キャリッジ機構、
42…モータ(M2 )、54…出力電圧測定回路、54
a …実効値検出回路、54b …A/D変換回路、54c
…メモリ(MEM)、80…ゲイン補正プログラム、8
1…周速補正プログラム、82…e−v特性測定プログ
ラム、83…近似直線算出プログラム、84…補正テー
ブル。
1 ... Disk, 2 ... Rotation mechanism, 3, 3A, 3B ... Head unit, 4 ... Protrusion detection section, 6 ... Carriage control circuit,
7 ... Peripheral speed control circuit, 8 ... MPU, 8a ... Memory (ME
M), 9 ... Printer, 22 ... Motor (M1), 31 ... Slider, 32 ... Suspension spring, 33 ... Support arm, 34 ... Ultrasonic piezoelectric sensor, 41 ... Carriage mechanism,
42 ... Motor (M2), 54 ... Output voltage measuring circuit, 54
a ... Effective value detection circuit, 54b ... A / D conversion circuit, 54c
... Memory (MEM), 80 ... Gain correction program, 8
1 ... peripheral speed correction program, 82 ... ev characteristic measurement program, 83 ... approximate straight line calculation program, 84 ... correction table.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】浮上特性が分かっている突起検出ヘッドユ
ニットを選択してマスターヘッドユニットとし、所定の
面粗さを持つディスクを基準ディスクとして、回転する
この基準ディスクの面に前記マスターヘッドユニットの
ヘッドをローディングして浮上させ、前記基準ディスク
のトラックの周速vを変化させて前記マスターヘッドユ
ニットの出力電圧em を前記周速vの関数としてその出
力電圧特性を測定し、この出力電圧特性を出力電圧−周
速の直交座標上において直線近似して直線em=−av
+b(ただし、aは傾き、bは出力電圧軸の切片であ
る)を求める段階と、 突起検査に使用する任意の突起検出ヘッドユニットを測
定ヘッドユニットとしてこの測定ヘッドユニットのヘッ
ドを前記基準ディスクの面にローディングして浮上さ
せ、前記基準ディスクのトラックの周速vを変化させて
前記測定ヘッドユニットの出力電圧es を前記周速vの
関数としてその出力電圧特性を測定し、この出力電圧特
性を前記直交座標上において直線近似して直線es =−
a’v+b’(ただし、a’は傾き、b’は出力電圧軸
の切片である)を求める段階と、 前記直線em =−av+bと直線es =−a’v+b’
からb/b’とa’b/ab’とを求める段階とを備
え、 前記測定ヘッドユニットを突起検査に使用するときに前
記測定ヘッドユニットの出力信号に対してこれを増幅す
るゲインを前記b/b’により補正し、検査対象となる
回転するディスクのトラックの周速を前記a’b/a
b’により補正することを特徴とする突起検出ヘッドユ
ニットの較正方法。
1. A protrusion detection head unit whose flying characteristics are known is selected as a master head unit, and a disk having a predetermined surface roughness is used as a reference disk. The head is loaded and levitated, the peripheral speed v of the track of the reference disk is changed, the output voltage em of the master head unit is measured as a function of the peripheral speed v, and its output voltage characteristic is measured. Output voltage-peripheral speed is approximated to a straight line on a rectangular coordinate and a straight line em = -av
+ B (where a is the slope, and b is the intercept of the output voltage axis), and the head of this measurement head unit is used as the measurement head unit for any projection detection head unit used for the projection inspection. Then, the peripheral speed v of the track of the reference disk is changed and the output voltage es of the measuring head unit is measured as a function of the peripheral speed v to measure its output voltage characteristic. A straight line is approximated to a straight line es =-on the rectangular coordinates.
a'v + b '(where a'is the slope and b'is the intercept of the output voltage axis), and the straight line em = -av + b and the straight line es = -a'v + b'
From b / b 'and a'b / ab' are obtained, the gain for amplifying the output signal of the measurement head unit when the measurement head unit is used for the projection inspection is set to the b / B 'is corrected, and the peripheral speed of the track of the rotating disk to be inspected is a'b / a
A method for calibrating a protrusion detection head unit, characterized in that it is corrected by b '.
【請求項2】前記周速の変化に対する出力電圧特性の測
定は、所定のトラックの範囲で一定の周速で走査をして
出力電圧の平均値を得て前記一定の周速に対する出力電
圧とし、前記一定の周速を順次変化させることによる請
求項1記載の突起検出ヘッドユニットの較正方法。
2. The measurement of the output voltage characteristic with respect to the change of the peripheral speed is performed by scanning at a constant peripheral speed in a predetermined track range to obtain an average value of the output voltage to obtain the output voltage with respect to the constant peripheral speed. The method for calibrating the protrusion detection head unit according to claim 1, wherein the constant peripheral speed is sequentially changed.
【請求項3】前記所定のトラックの範囲は最内周トラッ
クから最外周トラックまでの範囲であり、前記走査は螺
旋走査であり、前記基準ディスクのヘッドユニットロー
ディング面は表面および裏面のいずれかであり、前記マ
スターヘッドユニットおよび前記測定ヘッドユニットの
出力電圧はアンプに入力されて増幅された出力信号の実
効値が測定され、前記アンプのゲインはぞれぞれの測定
において実質的に同じ値に設定され、前記直線近似は前
記出力電圧特性の特性の山から谷の部分へ移る部分の値
により行われ、前記ゲインと周速の補正は、前記測定ヘ
ッドユニットが使用される1つ前の他のヘッドユニット
の値に対して乗算または除算および乗算をすることで行
われる請求項3記載の突起検出ヘッドユニットの較正方
法。
3. The predetermined track range is from the innermost track to the outermost track, the scan is a spiral scan, and the head unit loading surface of the reference disk is either a front surface or a back surface. The output voltage of the master head unit and the measuring head unit is input to an amplifier and the effective value of the amplified output signal is measured, and the gain of the amplifier is substantially the same in each measurement. The linear approximation is performed by the value of the portion of the characteristic of the output voltage characteristic that shifts from the peak to the valley, and the gain and the peripheral speed are corrected by the other than the one before the measurement head unit is used. 4. The method for calibrating the protrusion detection head unit according to claim 3, wherein the method is performed by multiplying or dividing the value of the head unit of 1.
【請求項4】浮上特性が分かっている突起ヘッドユニッ
トを選択してマスターヘッドユニットとし、突起検査に
使用する任意の突起ヘッドユニットを測定ヘッドユニッ
トとして、所定の面粗さを持つディスクを基準ディスク
として、回転するこの基準ディスクの面に前記マスター
ヘッドユニットのヘッドと前記測定ヘッドユニットとを
順次ローディングして浮上させ、前記基準ディスクのト
ラックの周速vを変化させて前記マスターヘッドユニッ
トの出力電圧em と前記測定ヘッドユニットの出力電圧
es とをそれぞれ前記周速vの関数としてそれぞれの出
力電圧特性を測定してそれぞれの出力電圧特性を出力電
圧−周速の直交座標上において直線近似して直線em =
−av+bと直線es =−a’v+b’とを求め、前記
直線em=−av+bと直線es =−a’v+b’から
b/b’とa’b/ab’とを求めて、前記測定ヘッド
ユニットを突起検査に使用するときに前記測定ヘッドユ
ニットの出力信号に対してそれを増幅するアンプのゲイ
ンをb/b’により補正し、検査対象となる回転するデ
ィスクのトラックの周速をa’b/ab’により補正す
る突起検査装置。ただし、a,a’は傾き、b,b’は
出力電圧軸上の切片である。
4. A disc having a predetermined surface roughness is used as a master disc by selecting a protrusion head unit whose flying characteristics are known as a master head unit, and using an arbitrary protrusion head unit used for protrusion inspection as a measurement head unit. The head of the master head unit and the measuring head unit are sequentially loaded on the surface of the rotating reference disk to float and the peripheral speed v of the track of the reference disk is changed to output the output voltage of the master head unit. em and the output voltage es of the measuring head unit are each measured as a function of the peripheral speed v, and each output voltage characteristic is measured, and each output voltage characteristic is linearly approximated on the orthogonal coordinate of the output voltage-peripheral speed. em =
-Av + b and straight line es = -a'v + b 'are obtained, b / b' and a'b / ab 'are obtained from the straight line em = -av + b and straight line es = -a'v + b', and the measuring head is obtained. When the unit is used for the protrusion inspection, the gain of the amplifier for amplifying the output signal of the measuring head unit is corrected by b / b ', and the peripheral speed of the track of the rotating disk to be inspected is a'. A projection inspection device that corrects by b / ab '. However, a and a'are slopes and b and b'are intercepts on the output voltage axis.
【請求項5】突起検出ヘッドユニットの出力を増幅する
アンプと、このアンプからの信号を受けてこの信号に基
づき突起との衝突を検出する検出回路と、検査ディスク
が装着されこれを回転させるスピンドルと、このスピン
ドルの回転を制御する制御装置とを有し、前記突起検出
ヘッドユニットのヘッドを前記検査ディスクの面にロー
ディングして浮上させて突起を検出する突起検査装置に
おいて、 前記突起検出ヘッドユニットに対応して求められたゲイ
ン補正係数と、前記突起検出ヘッドユニットに対応して
求められた周速補正係数とを有する制御回路を備え、前
記アンプのゲインを前記ゲイン補正係数により補正し、
前記スピンドルの回転数を前記周速補正係数により補正
して突起を検出するものであって、 前記のゲイン補正係数は、出力電圧−周速の直交座標上
において直線em =−av+bと直線es =−a’v+
b’からb/b’(ただし、em ,es は、突起検出ヘ
ッドユニット出力電圧は出力電圧,vは周速、a,a’
は傾き、b,b’は出力電圧軸の切片である)として求
められ、周速補正係数は、a’b/ab’として求めら
れるものであり、 前記直線em =−av+bは、浮上特性が分かっている
突起検出ヘッドユニットを選択してマスターヘッドユニ
ットとし、所定の面粗さを持つディスクを基準ディスク
として、回転するこの基準ディスクの面に前記マスター
ヘッドユニットのヘッドをローディングして浮上させ、
前記基準ディスクのトラックの周速vを変化させて前記
マスターヘッドユニットの出力電圧em を前記周速vの
関数としてその出力電圧特性を測定し、この出力電圧特
性を前記直交座標上において直線近似して求められるも
のであり、 前記直線es =−a’v+b’は、前記突起検出ヘッド
ユニットを測定ヘッドユニットとしてこの測定ヘッドユ
ニットのヘッドを前記基準ディスクの面にローディング
して浮上させ、前記基準ディスクのトラックの周速vを
変化させて前記測定ヘッドユニットの出力電圧es を前
記周速vの関数としてその出力電圧特性を測定し、この
出力電圧特性を前記直交座標上において直線近似して求
められるものである突起検出装置。
5. An amplifier for amplifying the output of a projection detecting head unit, a detection circuit for receiving a signal from this amplifier and detecting a collision with the projection based on this signal, and a spindle on which an inspection disk is mounted and which rotates the disk. And a controller for controlling the rotation of the spindle, which detects the protrusion by loading the head of the protrusion detection head unit onto the surface of the inspection disk and causing the head to float to detect the protrusion. A gain correction coefficient obtained corresponding to, and a peripheral speed correction coefficient obtained corresponding to the protrusion detection head unit is provided with a control circuit, the gain of the amplifier is corrected by the gain correction coefficient,
The number of revolutions of the spindle is corrected by the peripheral speed correction coefficient to detect a protrusion, and the gain correction coefficient has a straight line em = -av + b and a straight line es = on the output voltage-peripheral speed orthogonal coordinates. -A'v +
b'to b / b '(where em and es are the output voltage of the protrusion detection head unit, the v is the peripheral speed, and a and a'are
Is a slope, b and b'are intercepts of the output voltage axis), and the peripheral speed correction coefficient is a'b / ab '. The straight line em = -av + b has a flying characteristic of A known protrusion detection head unit is selected as a master head unit, a disk having a predetermined surface roughness is used as a reference disk, and the head of the master head unit is loaded on the surface of the rotating reference disk to float.
The output voltage characteristic of the output voltage em of the master head unit is measured as a function of the peripheral speed v by changing the peripheral speed v of the track of the reference disk, and the output voltage characteristic is linearly approximated on the orthogonal coordinates. The straight line es = −a′v + b ′ is obtained by loading the head of the measuring head unit on the surface of the reference disk and using the protrusion detecting head unit as the measuring head unit to float the reference disk. The peripheral voltage v of the track is changed, the output voltage es of the measuring head unit is measured as a function of the peripheral speed v, the output voltage characteristic is measured, and the output voltage characteristic is linearly approximated on the orthogonal coordinates. Protrusion detection device that is one.
JP6659694A 1993-04-08 1994-03-10 Calibration method of protrusion-detection head unit as well as method and apparatus for detection of protrusion using this method Pending JPH06341825A (en)

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JP (1) JPH06341825A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009289332A (en) * 2008-05-29 2009-12-10 Fujitsu Ltd Reference disk and head inspection method

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JP2009289332A (en) * 2008-05-29 2009-12-10 Fujitsu Ltd Reference disk and head inspection method

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