JPH06324029A - Method and apparatus of analyzing and displaying chromatogram - Google Patents

Method and apparatus of analyzing and displaying chromatogram

Info

Publication number
JPH06324029A
JPH06324029A JP4100794A JP4100794A JPH06324029A JP H06324029 A JPH06324029 A JP H06324029A JP 4100794 A JP4100794 A JP 4100794A JP 4100794 A JP4100794 A JP 4100794A JP H06324029 A JPH06324029 A JP H06324029A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
peak
error
chromatogram
calculated
analysis display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4100794A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3071085B2 (en
Inventor
Masato Ito
正人 伊藤
Junkichi Miura
順吉 三浦
Yoshio Fujii
芳雄 藤井
Hiroshi Satake
尋志 佐竹
Fujio Yamada
富士夫 山田
Mitsuo Ito
三男 伊藤
Tsuneyoshi Shimane
亘由 島根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6041007A priority Critical patent/JP3071085B2/en
Publication of JPH06324029A publication Critical patent/JPH06324029A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3071085B2 publication Critical patent/JP3071085B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To display a quantitative value obtained with high accuracy and the reliability property of the peak identification by a method wherein a peak of chromatogram data is detected and identified and a quantitative value of an objective to be measured is calculated by using a peak size corresponding to the peak as a parameter as well as the error is calculated. CONSTITUTION:A liquid-conveying pump 40 conveys eluates 48, 49, 50 to a separation column 41 during the respective prescribed time in accordance with a command of a control section 44. A sampler 43 absorbs reference and unknown samples 52, 51 and conveys them to the column 41 together with the eluate 48. A component including the samples are separated and developed to be detected by a detector 42 so that a chromatogram thereof is stored in an analysis section 45. A maximum point of a prescribed range of data of the chromatogram is identified to calculate search intervals adjacent to the maximum point and not including the point are calculated, thereby obtaining a polynomial curve fitting to the chromatogram in the intervals. From a differentiated value, an inflection point is obtained and a peak holding time, the error thereof, a peak height, a peak area, a peak area percentage and the error thereof corresponding to the maximum point and the inflection point are calculated and displayed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、クロマトグラフに係
り、特にクロマトグラムの解析結果を表示する方法及び
その装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chromatograph, and more particularly to a method and apparatus for displaying a chromatogram analysis result.

【0002】[0002]

【従来の技術】クロマトグラムの定性分析に関する信頼
度を求める方法として、特開平4−212059号公報
に記載された“クロマトグラフのスペクトルデータ処理
方法”が提案されている。これは、マルチチャンネル検
出器からのUVスペクトル・データを基に、統計学的手
法であるStudentのt検定が行われ、ピーク同定の信頼
度が計算される。また、スペクトル・データとともにク
ロマトグラムの特徴量である保持時間、ピーク面積、ピ
ーク高さの各データも解析され、標準試料の特徴量との
偏差が小さいものほど、0に近づくようなサンプルスコ
アが定義され、ピーク同定の信頼度が判断される。
2. Description of the Related Art As a method for obtaining the reliability of qualitative analysis of a chromatogram, a "chromatographic spectral data processing method" described in Japanese Patent Laid-Open No. 4-212059 has been proposed. This is based on UV spectrum data from a multi-channel detector, Student's t-test which is a statistical method is performed, and the reliability of peak identification is calculated. In addition to the spectrum data, each data of retention time, peak area, and peak height, which are the characteristic amount of the chromatogram, is analyzed, and the sample score that approaches 0 as the deviation from the characteristic amount of the standard sample is smaller. It is defined and the reliability of peak identification is judged.

【0003】また、同様にピーク面積とピーク高さの比
によりピーク同定の信頼度を診断する方法が特公昭61
−54181号公報に提案されている。ここには診断に
用いる計算式が述べられている。さらに、信頼性を示す
指標とその表示方法にも触れている。
Similarly, a method of diagnosing the reliability of peak identification based on the ratio of the peak area and the peak height is disclosed in JP-B-61.
It is proposed in Japanese Patent No. 54181. Calculation formulas used for diagnosis are described here. It also touches on indicators of reliability and how to display them.

【0004】また、特開昭63−151851号公報に
記載された、クロマトグラフ用データ処理装置において
は、重なりピークの検出のため、2つのピークに分解す
る方法が記載されている。つまり、異なる2つの検出波
長により、得られたクロマトグラムの一方に、係数αが
掛けられ、これが他方のクロマトグラムから差し引かれ
る。さらに、一方のクロマトグラムに他方の係数α’が
掛けられ、これが他方のクロマトグラムから差し引かれ
る。そして、これらの結果から、第1のピークの位置及
び幅と、第2のピークの位置及び幅とが算出される。こ
の算出された第1のピーク及び第2のピークが初期値と
され、非線形最小二乗法で、完全なピーク分析が行われ
る。
Further, in the chromatograph data processing apparatus described in Japanese Patent Laid-Open No. 63-151851, there is described a method of decomposing into two peaks in order to detect overlapping peaks. That is, one of the obtained chromatograms is multiplied by the coefficient α by the two different detection wavelengths, and this is subtracted from the other chromatogram. Furthermore, one chromatogram is multiplied by the other coefficient α ′, which is subtracted from the other chromatogram. Then, from these results, the position and width of the first peak and the position and width of the second peak are calculated. The calculated first and second peaks are used as initial values, and a complete peak analysis is performed by the nonlinear least squares method.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、クロマトグ
ラフ装置を利用する操作者が、濃度等の定量値やピーク
同定の信頼度を認識することができれば、そのデータ処
理方法の信頼度のみならず、クロマトグラム分析全体の
総合的な信頼性も定量的に把握することができる。
By the way, if the operator using the chromatograph can recognize the quantitative value such as the concentration and the reliability of peak identification, not only the reliability of the data processing method, It is also possible to quantitatively understand the overall reliability of the entire chromatogram analysis.

【0006】ところが上記特開平4−212059号公
報記載のスペクトルデータ処理方法は、定性分析に関す
る信頼度を計算する方法であり、濃度(kg/m3)等の
定量分析に関する信頼度には一切触れていない。
However, the spectral data processing method described in Japanese Patent Laid-Open No. 4-212059 is a method for calculating the reliability regarding qualitative analysis, and the reliability regarding quantitative analysis such as concentration (kg / m 3 ) is not touched at all. Not not.

【0007】一方、定性分析に関する信頼度について
は、まずスペクトル・マッチングには高価なマルチチャ
ンネル検出器が必要となる。また、保持時間の近接した
ピーク群は、分子構造も類似している場合が多く、スペ
クトル・マッチングに差が現われないことがある。
On the other hand, regarding the reliability regarding the qualitative analysis, first, an expensive multi-channel detector is required for spectrum matching. In addition, the peak groups whose retention times are close to each other often have similar molecular structures, and there may be no difference in spectrum matching.

【0008】さらに、上記スペクトルデータ処理方法に
おいては、サンプル・スコアを定義しているが、統計学
的には正確な表現であるとしても、一般の操作者等に
は、信頼度としては、理解し難い数値である。クロマト
グラムの定性分析の信頼度は、より理解し易い表現方法
が望まれている。
Further, in the above spectral data processing method, the sample score is defined, but even if it is a statistically accurate expression, it is understood by a general operator as reliability. It is a difficult value. For the reliability of the qualitative analysis of the chromatogram, a more easy-to-understand expression method is desired.

【0009】また、クロマトグラムの定性分析すなわち
ピーク同定において、最も基本的な情報はリテンション
タイムであるのにもかかわらず、この時間の信頼度(誤
差)については、上記データ処理方法においては、全く
議論されていない。ピーク同定の基盤となるリテンショ
ンタイムが不確かであれば、ピーク同定自体の信頼度も
低いこととなる。したがって、クロマトグラムの定性分
析において、リテンションタイムの信頼度を算出し、算
出した信頼度に基づいて、定性分析の信頼度を算出する
事が望まれている。
Further, in the qualitative analysis of the chromatogram, that is, in the peak identification, although the most basic information is the retention time, the reliability (error) of this time is completely unknown in the above data processing method. Not discussed. If the retention time that is the basis of peak identification is uncertain, the reliability of peak identification itself will be low. Therefore, it is desired to calculate the reliability of the retention time in the qualitative analysis of the chromatogram and to calculate the reliability of the qualitative analysis based on the calculated reliability.

【0010】特に、リテンションタイムの信頼度に注意
しなければいけないのは、2つ以上のピークが重なって
いる場合である。頂点が明確に現れているピーク同志で
あっても、相互に影響し合い、真のリテンションタイム
より頂点はシフトする。この頂点の時間を、そのままリ
テンションタイムであると認識すると、大きな誤差を含
んでいるため、正しくピークを同定できないことが考え
られる。
Particularly, it is necessary to pay attention to the reliability of the retention time when two or more peaks are overlapped. Even peaks that clearly have peaks affect each other, and the peaks shift from the true retention time. If the time at this apex is recognized as the retention time as it is, it is considered that the peak cannot be correctly identified because it contains a large error.

【0011】さらに、一方のピークが他方のピークより
顕著に小さい場合、それらが重なると、いわゆるショル
ダーピークを形成する。この時、特に小さいピークのリ
テンションタイムはかなり不確かとなる。データ処理で
は、変曲点をリテンションタイムと見なしたり、あるい
は特開昭63−151851号公報に記載されているよ
うに、非線形最小二乗法を用いて、重なりピークをデー
タ処理的に分解しリテンションタイムを求めることがで
きる。どのような手法を用いても、一般にショルダーピ
ークのリテンションタイムにはかなり大きな誤差が含ま
れて求められる。
Further, when one peak is significantly smaller than the other peak, when they overlap, a so-called shoulder peak is formed. At this time, the retention time of a particularly small peak becomes quite uncertain. In the data processing, the inflection point is regarded as the retention time, or, as described in Japanese Patent Laid-Open No. 63-151851, the overlapping peaks are decomposed in the data processing by using the nonlinear least squares method, and the retention time is retained. Can be asked. Whatever method is used, the retention time of the shoulder peak is generally required to include a considerably large error.

【0012】このため、ショルダーピークは、明確なピ
ークより、ピーク同定を誤る確率が高いことが容易に考
えられる。このような観点から、リテンションタイムの
誤差を求め、ピーク同定の信頼度を計算することが重要
であることがわかる。
Therefore, it is easily conceivable that a shoulder peak has a higher probability of erroneous peak identification than a clear peak. From this point of view, it is important to obtain the retention time error and calculate the reliability of peak identification.

【0013】また、特公昭61−54181号公報に記
載されたピーク同定の信頼度診断方法においても、同様
に定量分析に関する信頼度やピーク同定におけるリテン
ションタイムの信頼度は一切述べられていない。ピーク
同定の信頼度指標も便宜上のものであり、容易に理解で
きるものとはなっていない。
Also, in the reliability diagnostic method for peak identification described in Japanese Patent Publication No. 61-54181, the reliability of quantitative analysis and the reliability of retention time in peak identification are not described at all. The reliability index for peak identification is also for convenience and is not easy to understand.

【0014】本発明の目的は、濃度等の定量値や、リテ
ンションタイム等の時間を高精度に決定し、その得られ
た数値に対する誤差を求め、定量値やピーク同定の信頼
度を計算し、表示できるクロマトグラム解析表示方法及
び表示装置を実現することである。
An object of the present invention is to determine a quantitative value such as concentration and a time such as retention time with high accuracy, obtain an error with respect to the obtained numerical value, and calculate the quantitative value and the reliability of peak identification. It is to realize a chromatogram analysis display method and a display device that can display.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、次のように構成される。
In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.

【0016】クロマトグラムデータを解析し、解析結果
を表示するクロマトグラム解析表示方法において、クロ
マトグラムデータのピークを検出するステップと、クロ
マトグラムデータのピークを同定するステップと、検出
及び同定されたピークに対応するピークサイズを変数と
して、被測定物の定量値を算出するステップと、算出さ
れた定量値の誤差を、上記変数を用いて算出するステッ
プと、算出された定量値と、定量値の誤差とを表示手段
に表示させるステップとを備える。
In the chromatogram analysis display method for analyzing chromatogram data and displaying the analysis result, a step of detecting a peak of the chromatogram data, a step of identifying a peak of the chromatogram data, and a detected and identified peak Using the peak size corresponding to as a variable, the step of calculating the quantitative value of the DUT, the step of calculating the error of the calculated quantitative value using the variable, the calculated quantitative value, and the quantitative value And a step of displaying the error on the display means.

【0017】また、クロマトグラムデータを解析し、解
析結果を表示するクロマトグラム解析表示装置におい
て、クロマトグラムデータのピークを検出するピーク検
出部と、クロマトグラムデータのピークを同定するピー
ク同定部と、検出及び同定されたピークに対応するピー
クサイズを変数として、被測定物の定量値を算出する定
量値算出部と、上記変数を用いて、算出された定量値の
誤差を算出する誤差算出部と、算出された定量値と、定
量値の誤差とを表示する表示部とを備える。
Further, in the chromatogram analysis display device for analyzing the chromatogram data and displaying the analysis result, a peak detecting section for detecting the peak of the chromatogram data, and a peak identifying section for identifying the peak of the chromatogram data, Using the peak size corresponding to the detected and identified peaks as a variable, a quantitative value calculation unit that calculates the quantitative value of the DUT, and an error calculation unit that calculates the error of the calculated quantitative value using the above variables. A display unit that displays the calculated quantitative value and the error of the quantitative value.

【0018】好ましくは、上記クロマトグラム解析表示
方法及び装置において、定量値の誤差は、クロマトグラ
ムデータのベースラインの信頼度も含めて算出する。ま
た、好ましくは、上記クロマトグラム解析表示方法及び
装置において、定量値の誤差は、互いに近接するピーク
どうしを分割する信頼度も含めて算出する。
Preferably, in the above chromatogram analysis display method and apparatus, the error in the quantitative value is calculated including the reliability of the baseline of the chromatogram data. Further, preferably, in the above-described chromatogram analysis display method and apparatus, the error of the quantitative value is calculated including the reliability of dividing peaks close to each other.

【0019】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示方法及び装置において、定量値の誤差は、統計学
的誤差も含めて算出する。また、好ましくは、上記クロ
マトグラム解析表示方法及び装置において、定量値の誤
差は、系統誤差も含めて算出する。
Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method and apparatus, the error of the quantitative value is calculated including the statistical error. Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method and apparatus, the error of the quantitative value is calculated including the systematic error.

【0020】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示方法及び装置において、定量値の誤差は、統計誤
差及び系統誤差も含めて算出する。また、好ましくは、
上記クロマトグラム解析表示方法において、ピークサイ
ズの誤差を算出するステップと、算出されたピークサイ
ズの誤差を表示手段に表示させるステップとをさらに備
える。
Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method and apparatus, the error of the quantitative value is calculated including statistical error and systematic error. Also, preferably,
The above chromatogram analysis display method further includes a step of calculating a peak size error and a step of displaying the calculated peak size error on a display means.

【0021】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示装置において、誤差算出部は、ピークサイズの誤
差を算出し、表示部は算出されたピークサイズの誤差
を、さらに表示する。また、好ましくは、上記クロマト
グラム解析表示方法及び装置において、ピークサイズ
は、ピーク高さである。
Further, preferably, in the above chromatogram analysis display device, the error calculation unit calculates the peak size error, and the display unit further displays the calculated peak size error. Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method and apparatus, the peak size is the peak height.

【0022】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示方法及び装置おいて、ピークサイズは、ピーク面
積である。また、好ましくは、上記クロマトグラム解析
表示方法及び装置において、ピークサイズは、ピーク高
さ及びピーク面積である。
Further, preferably, in the above-mentioned chromatogram analysis display method and apparatus, the peak size is a peak area. Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method and apparatus, the peak size is a peak height and a peak area.

【0023】また、クロマトグラムデータを解析し、解
析結果を表示するクロマトグラム解析表示方法におい
て、クロマトグラムデータのピークを検出するステップ
と、クロマトグラムデータのピークを同定するステップ
と、検出及び同定されたピークの保持時間を算出するス
テップと、算出されたピークの保持時間の誤差を算出す
るステップと、算出されたピークの保持時間と、この保
持時間の誤差とを表示手段に表示させるステップとを備
える。
Further, in the chromatogram analysis display method of analyzing the chromatogram data and displaying the analysis result, the steps of detecting the peak of the chromatogram data, the step of identifying the peak of the chromatogram data, and the detection and identification are performed. The step of calculating the peak retention time, the step of calculating the error of the calculated peak retention time, the step of displaying the calculated peak retention time, and the error of the retention time on the display means. Prepare

【0024】また、クロマトグラムデータを解析し、解
析結果を表示するクロマトグラム解析表示装置におい
て、クロマトグラムデータのピークを検出するピーク検
出部と、クロマトグラムデータのピークを同定するピー
ク同定部と、検出及び同定されたピークの保持時間を算
出する保持時間算出部と、算出されたピークの保持時間
の誤差を算出する誤差算出部と、算出されたピークの保
持時間と、この保持時間の誤差と表示する表示部とを備
える。
Further, in the chromatogram analysis display device for analyzing the chromatogram data and displaying the analysis result, a peak detecting section for detecting the peak of the chromatogram data, a peak identifying section for identifying the peak of the chromatogram data, A retention time calculation unit that calculates the retention time of the detected and identified peaks, an error calculation unit that calculates the error of the calculated retention time of the peak, the calculated retention time of the peak, and the error of this retention time. And a display unit for displaying.

【0025】好ましくは、上記クロマトグラム解析表示
方法及び装置において、ピークは、クロマトグラムデー
タの変曲点である。また、好ましくは、上記クロマトグ
ラム解析表示方法において、算出したピークの保持時間
及びピークの保持時間の誤差に基づいて、ピーク同定の
信頼度を算出するステップと、算出されたピーク同定の
信頼度を表示手段に表示させるステップとをさらに備え
る。
Preferably, in the above chromatogram analysis display method and apparatus, the peak is an inflection point of the chromatogram data. Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method, based on the error of the calculated retention time of the peak and the retention time of the peak, the step of calculating the reliability of peak identification, the reliability of the calculated peak identification And a step of displaying on a display means.

【0026】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示装置において、誤差算出部は、算出したピークの
保持時間及びピークの保持時間の誤差に基づいて、ピー
ク同定の信頼度を算出し、表示部は、算出されたピーク
同定の信頼度を、さらに表示する。
Further, in the above chromatogram analysis display device, preferably, the error calculation unit calculates the reliability of peak identification based on the calculated peak retention time and the error of the peak retention time, and the display unit displays Further, the calculated reliability of the peak identification is displayed.

【0027】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示方法及び装置において、算出したピークの保持時
間の誤差は、互いに近接するピークどうしを分割する信
頼度も含めて算出する。
Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method and apparatus, the error of the calculated retention time of the peak is calculated also including the reliability of dividing peaks that are close to each other.

【0028】また、クロマトグラムデータを解析し、解
析結果を表示するクロマトグラム解析表示方法におい
て、複数の数値に基づいて、クロマトグラムの特徴量を
算出するステップと、複数の数値に基づいて、これら数
値から伝搬されるクロマトグラムの特徴量の誤差を算出
するステップと、算出されたクロマトグラムの特徴量と
クロマトグラムの特徴量の誤差とを表示手段に表示させ
るステップとを備える。
Further, in the chromatogram analysis display method of analyzing the chromatogram data and displaying the analysis result, the step of calculating the characteristic amount of the chromatogram based on the plurality of numerical values, and the step of calculating the characteristic amount of the chromatogram based on the plurality of numerical values. The method further includes a step of calculating an error in the characteristic amount of the chromatogram propagated from the numerical value, and a step of displaying the calculated characteristic amount of the chromatogram and the error of the characteristic amount of the chromatogram on the display means.

【0029】また、クロマトグラムデータを解析し、解
析結果を表示するクロマトグラム解析表示装置におい
て、複数の数値に基づいて、クロマトグラムの特徴量を
算出する特徴量算出部と、複数の数値に基づいて、これ
ら数値から伝搬されるクロマトグラムの特徴量の誤差を
算出する伝搬誤差算出部と、算出されたクロマトグラム
の特徴量と、クロマトグラムの特徴量の誤差とを表示す
る表示部とを備える。
Further, in the chromatogram analysis display device for analyzing the chromatogram data and displaying the analysis result, a characteristic amount calculation unit for calculating the characteristic amount of the chromatogram based on the plurality of numerical values and a plurality of numerical values And a propagation error calculation unit that calculates an error in the feature amount of the chromatogram propagated from these numerical values, and a display unit that displays the calculated feature amount of the chromatogram and the error of the feature amount of the chromatogram. .

【0030】また、クロマトグラムデータを解析し、解
析結果を表示するクロマトグラム解析表示方法におい
て、所定の範囲内のクロマトグラムデータの極大点を同
定するステップと、同定された極大点の近辺であり、こ
の極大点を含まない探索区間を算出するステップと、算
出された探索区間内のクロマトグラムデータに適合する
多項式曲線を算出するステップと、多項式曲線の変曲点
を検出するステップと、同定及び検出された極大点及び
変曲点に対応するピーク保持時間とピーク保持時間の誤
差とピーク高さとピーク面積とピーク面積百分率とピー
ク面積百分率の誤差とを算出するピーク算出ステップ
と、算出されたピーク保持時間とピーク高さとピーク面
積とピーク面積百分率とピーク面積百分率の誤差とを表
示手段に表示させるステップとを備える。
Further, in the chromatogram analysis display method for analyzing the chromatogram data and displaying the analysis result, there are a step of identifying a maximum point of the chromatogram data within a predetermined range, and a step in the vicinity of the identified maximum point. , A step of calculating a search section that does not include this local maximum point, a step of calculating a polynomial curve that fits the chromatogram data in the calculated search section, a step of detecting an inflection point of the polynomial curve, identification and Peak retention time corresponding to the detected maximum point and inflection point, an error in peak retention time, a peak height, a peak area, a peak area, and a peak calculation step for calculating an error in the peak area percentage, and the calculated peak. The display means displays the retention time, the peak height, the peak area, the peak area percentage, and the error of the peak area percentage. Tsu and a flop.

【0031】好ましくは、上記クロマトグラム解析表示
方法において、ピーク算出ステップは、ピーク高さの誤
差と、ピーク面積の誤差を算出し、表示ステップは、ピ
ーク保持時間と、ピーク保持時間の誤差と、ピーク高さ
と、ピーク高さの誤差と、ピーク面積と、ピーク面積の
誤差と、ピーク面積百分率と、ピーク面積百分率の誤差
とを表示手段に表示させる。
Preferably, in the above chromatogram analysis display method, the peak calculation step calculates a peak height error and a peak area error, and the display step calculates a peak retention time and a peak retention time error. The peak height, the peak height error, the peak area, the peak area error, the peak area percentage, and the peak area percentage error are displayed on the display means.

【0032】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示方法において、探索区間を算出するステップと、
多項式曲線を算出するステップとの間に、算出された探
索区間内に極大点が有るか否かを判定するステップと、
探索区間内に極大点がない場合には、探索区間を所定幅
だけ拡張した探索区間を設定するステップとをさらに備
える。
Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method, a step of calculating a search section,
Between the step of calculating the polynomial curve and the step of determining whether or not there is a maximum point in the calculated search section,
When there is no maximum point in the search section, the method further includes the step of setting the search section by expanding the search section by a predetermined width.

【0033】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示方法において、同定及び検出された極大点及び変
曲点の確からしさを、確率、差、信頼区間又は信頼率で
ある指標で算出するステップと、算出された指標を表示
手段に表示させるステップとをさらに備える。
Further, preferably, in the above chromatogram analysis display method, a step of calculating the certainty of the identified maximum point and the detected inflection point by an index which is a probability, a difference, a confidence interval or a reliability rate, And a step of displaying the calculated index on the display means.

【0034】また、クロマトグラムデータを解析し、解
析結果を表示するクロマトグラム解析表示装置におい
て、試料の含有成分を検出する検出手段と、検出手段に
より検出されたクロマトグラムデータを記憶する記憶部
と、記憶部に記憶されたクロマトグラムデータの所定範
囲内のデータの極大点を同定するピーク同定部と、同定
された極大点の近辺であり、この極大点を含まない探索
区間を算出する区間算出部と、算出された探索区間内の
クロマトグラムデータに適合する多項式曲線を算出する
フィッティング部と、多項式曲線の微分値を算出し、算
出した微分値から変曲点を検出する微分特徴点探索部
と、同定された極大点及び変曲点に対応するピーク保持
時間とピーク保持時間の誤差とピーク高さとピーク面積
とピーク面積百分率とピーク面積百分率の誤差とを算出
する誤差確率算出部と、算出された上記ピーク保持時間
とピーク高さとピーク面積とピーク面積百分率とピーク
面積百分率の誤差とを表示する表示部とを備える。
Further, in the chromatogram analysis display device for analyzing the chromatogram data and displaying the analysis result, a detecting means for detecting the components contained in the sample, and a storage section for storing the chromatogram data detected by the detecting means. , A peak identification unit that identifies a local maximum point of data within a predetermined range of the chromatogram data stored in the storage unit, and a section calculation that is a vicinity of the identified local maximum point and a search section that does not include this local maximum point Section, a fitting section for calculating a polynomial curve that fits the chromatogram data in the calculated search section, and a differential feature point search section for calculating a differential value of the polynomial curve and detecting an inflection point from the calculated differential value. And the peak retention time corresponding to the identified maximum point and inflection point, the error of the peak retention time, the peak height, the peak area, and the peak area percentage. Comprises an error probability calculation unit for calculating the error of the over-click area percentage, the calculated the peak retention time and peak height and peak area and peak area percentage and the peak area percentage and a display unit for displaying an error.

【0035】好ましくは、上記クロマトグラム解析表示
装置において、誤差確率算出部は、ピーク高さの誤差と
ピーク面積の誤差とを算出し、表示部はピーク保持時間
とピーク保持時間の誤差とピーク高さとピーク高さの誤
差とピーク面積とピーク面積の誤差とピーク面積百分率
とピーク面積百分率の誤差とを表示する。
Preferably, in the above chromatogram analysis display device, the error probability calculation unit calculates the peak height error and the peak area error, and the display unit displays the peak retention time, the peak retention time error, and the peak height. And the error of the peak height, the peak area, the error of the peak area, the peak area percentage, and the error of the peak area percentage are displayed.

【0036】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示装置において、誤差確率算出部は、同定及び検出
された極大点及び変曲点の確からしさを、確率、差、信
頼区間又は信頼率である指標で算出し、表示部は、算出
された指標を表示する。
Further, preferably, in the above chromatogram analysis display device, the error probability calculation unit indicates the certainty of the identified and detected maximum points and inflection points as an index of probability, difference, confidence interval or confidence rate. And the display unit displays the calculated index.

【0037】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示装置において、誤差確率算出部は、ピーク面積を
決定するベースラインの形状により、ピーク面積の誤差
を変化させる。
Preferably, in the above chromatogram analysis display device, the error probability calculation unit changes the peak area error according to the shape of the baseline that determines the peak area.

【0038】また、好ましくは、上記クロマトグラム解
析表示装置において、誤差算出に含むべき統計学的誤差
と、系統誤差等を誤差確率算出部に入力する入力部を備
え、誤差確率算出部は、算出したピーク保持時間の誤差
と、ピーク高さの誤差と、ピーク面積の誤差と、ピーク
面積百分率の誤差とに、統計的誤差及び系統誤差を加算
して、これら誤差を算出する。
Further, preferably, in the above chromatogram analysis display device, an input unit for inputting a statistical error to be included in the error calculation, a systematic error and the like to the error probability calculation unit, and the error probability calculation unit calculates The statistical error and the systematic error are added to the error of the peak holding time, the error of the peak height, the error of the peak area, and the error of the peak area percentage to calculate these errors.

【0039】[0039]

【作用】ピーク面積、ピーク高さ等のピークサイズの誤
差の算出においては、ノイズ値を用いて計算するのが一
般的である。また、2つ以上のピークが重なっている場
合には、そのピーク面積の分割方法に依存し、誤差が変
動することが考えられる。非線形最小二乗法を用いてデ
ータ処理的にピーク分解する場合は、比較的精度良くピ
ークサイズが求まり、誤差は小さく見積もられる。ま
た、ベースラインも単純に水平なものでない場合には、
ピークサイズの精度が悪くなり、誤差は大きく見積もら
れる。
In the calculation of the peak size error such as the peak area and the peak height, the noise value is generally used. Further, when two or more peaks are overlapped, it is considered that the error varies depending on the division method of the peak areas. In the case of peak decomposition in data processing using the nonlinear least squares method, the peak size can be obtained with relatively high accuracy, and the error can be estimated to be small. Also, if the baseline is not simply horizontal,
The accuracy of the peak size becomes poor and the error is overestimated.

【0040】定量値は、一般に標準試料のピークサイズ
を基準にして、測定試料のピークサイズから求められ
る。このため、定量値の誤差は両方のピークサイズの誤
差が伝播する。これを考慮し、定量値の誤差を計算す
る。標準試料を繰り返し測定することも、濃度のことな
る標準試料を用いて検量線を精度良く求めることも、結
局は標準試料側から伝播する誤差を極力小さくしている
ことに他ならない。
The quantitative value is generally obtained from the peak size of the measurement sample with reference to the peak size of the standard sample. Therefore, the error of the quantitative value is propagated by the error of both peak sizes. In consideration of this, the error of the quantitative value is calculated. It is nothing but the repeated measurement of the standard sample, the accurate determination of the calibration curve using standard samples of different concentrations, and the minimization of the error propagated from the standard sample side.

【0041】リテンションタイムの誤差算出において
は、頂点の明確なピークでは、ノイズ値を用いてリテン
ションタイムの誤差を見積もる。平滑化処理により極大
点の時刻の誤差を見積もる方法もある。
In calculating the retention time error, the noise value is used to estimate the retention time error at a clear peak of the apex. There is also a method of estimating the time error of the maximum point by smoothing processing.

【0042】2つ以上のピークが重なっている場合に
は、非線形の最小二乗法等によりデータ処理し、ピーク
分解し、その分解された各ピークの頂点の時刻の誤差を
統計学的に計算する。
When two or more peaks are overlapped with each other, data processing is performed by a non-linear least-squares method or the like, peaks are decomposed, and the time difference between the peaks of the decomposed peaks is statistically calculated. .

【0043】また、ショルダーピークの場合には、便宜
上変曲点をリテンションタイムと見なし、その変曲点の
時刻の誤差を統計学的に計算することもできる。さら
に、計算されたリテンションタイムの誤差から以下のよ
うにして、ピーク同定の信頼度を計算する。
In the case of a shoulder peak, the inflection point can be regarded as the retention time for convenience, and the time error at the inflection point can be statistically calculated. Further, the reliability of peak identification is calculated from the calculated retention time error as follows.

【0044】ピーク同定の信頼度は、一般に標準試料の
リテンションタイムとその誤差及び測定試料のリテンシ
ョンタイムとその誤差から求められる。これらから真の
差δがありそうな区間を推定する。上記求められた推定
区間を基に、ピーク同定の信頼度を計算する。例えば便
宜上定義される信頼率(%)を求める。
The reliability of peak identification is generally obtained from the retention time of the standard sample and its error and the retention time of the measurement sample and its error. From these, the interval where the true difference δ is likely is estimated. The reliability of peak identification is calculated based on the estimated section obtained above. For example, the reliability rate (%) defined for convenience is obtained.

【0045】定量値の誤差を出力することにより、得ら
れた測定結果の信頼度が検定できる。例えば、従来のよ
うに単に10.0ppmと結果が出されても、真の値が
9.9ppmから10.1ppmにあり、高精度であるの
か、あるいは5ppmから15ppmにあり、低精度で
あるのかが判別困難であった。
The reliability of the obtained measurement result can be verified by outputting the error of the quantitative value. For example, whether the true value is from 9.9 ppm to 10.1 ppm and high accuracy, or from 5 ppm to 15 ppm and low accuracy, even if the result is simply 10.0 ppm as in the past. Was difficult to determine.

【0046】本発明においては、例えば、10.0±0.
1ppmと誤差も含めて表示されるため、測定結果の信
頼性が認識できる。同様に、リテンションタイムの誤差
に基づきピーク同定の信頼度も認識できる。
In the present invention, for example, 10.0 ± 0.
Since it is displayed with an error of 1 ppm, the reliability of the measurement result can be recognized. Similarly, the reliability of peak identification can be recognized based on the retention time error.

【0047】[0047]

【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
説明する。図1は、本発明の一実施例であるクロマトグ
ラム解析表示方法の動作を示すフローチャートである。
この図1の実施例は、イオン交換クロマトグラフによる
グリコヘモグロビンの解析に適用した例である。そし
て、図3は、上記イオン交換クロマトグラフによってグ
リコヘモグロビンを分析する液体クロマトグラフ装置の
概略構成図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a flowchart showing the operation of a chromatogram analysis display method according to an embodiment of the present invention.
The example of FIG. 1 is an example applied to analysis of glycohemoglobin by ion exchange chromatography. Then, FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a liquid chromatograph apparatus for analyzing glycohemoglobin by the ion exchange chromatograph.

【0048】まず、図3において、制御部44の指令信
号により、溶離液送液ポンプ40は、ステップワイズ溶
出を行うために溶離液A48、溶離液B49、溶離液C
50をそれぞれ1.9分間、1.0分間、0.4分間ず
つ、3.3分サイクルで切り換え、分離カラム41に送
液する。可動ニードルを有するサンプラ(サンプリング
手段)43は、ヘモグロビン(Hb)の標準試料52あ
るいは未知試料51を5μリットル吸引し、溶血希釈
し、溶離液A48と共に分離カラム41に送り込む。す
ると、試料の含有成分が分離展開され、可視吸光度検出
器42で検出される。そして、検出されたデータである
クロマトグラムは、データ解析部45に供給され、記憶
される。
First, in FIG. 3, in response to a command signal from the control unit 44, the eluent feed pump 40 performs eluent A48, eluent B49, and eluent C for stepwise elution.
50 is switched for 1.9 minutes, 1.0 minute, and 0.4 minutes in 3.3-minute cycles, respectively, and the solution is sent to the separation column 41. A sampler (sampling means) 43 having a movable needle sucks 5 μl of a hemoglobin (Hb) standard sample 52 or an unknown sample 51, hemolyzes it, and sends it to a separation column 41 together with an eluent A48. Then, the components contained in the sample are separated and developed and detected by the visible light absorption detector 42. Then, the detected data chromatogram is supplied to and stored in the data analysis unit 45.

【0049】図2は、CRT46又はプリンタ47によ
り表示される表示例であり、この表示例における表示部
D3に表示された波形は、クロマトグラムである。この
クロマトグラムにおいて、成分L−A1cと成分S−A
1cとの分離が不十分であり、成分L−A1cの部分に
ショルダーピークが含まれている。極大点をピークとみ
なしていたのでは、この成分L−A1cのショルダーピ
ークは、ピークとして同定できない。ショルダーピーク
は変曲点、つまり2次微分値が0になる点として認識さ
れる。以下、データ解析部により、次の手順に従って変
曲点が求められる。
FIG. 2 shows a display example displayed by the CRT 46 or the printer 47, and the waveform displayed on the display section D3 in this display example is a chromatogram. In this chromatogram, component L-A1c and component S-A
Separation from 1c is insufficient, and a shoulder peak is included in the portion of component L-A1c. If the maximum point is regarded as a peak, the shoulder peak of this component L-A1c cannot be identified as a peak. The shoulder peak is recognized as an inflection point, that is, a point where the secondary differential value becomes zero. Thereafter, the data analysis unit obtains an inflection point according to the following procedure.

【0050】図1のステップ1において、デジタル化さ
れたクロマトグラムが得られた時点で動作フローが起動
される。次に、ステップ2において、タイムウィンドウ
内の極大点を成分S−A1cのピークと同定する。ここ
で、極大点の時間座標を成分S−A1cのリテンション
タイムと認識する。ステップ3において、成分L−A1
cのピークの探索区間を算出する。この探索区間は、得
られた成分S−A1cのリテンションタイムts-A1c
基づいて、例えば、[tS-A1c−0.45、tS-A1c
0.15]と算出される。これは、タイムウィンドウの
中心をtS-A1c−0.30(min)、その幅±0.1
5(min)として、成分L−A1cのピークを同定す
るということである。この探索区間は、a、bを係数と
してatS-A1c+bのように、複雑化することもでき
る。
In step 1 of FIG. 1, the operation flow is started when the digitized chromatogram is obtained. Next, in step 2, the maximum point in the time window is identified as the peak of the component S-A1c. Here, the time coordinate of the maximum point is recognized as the retention time of the component S-A1c. In step 3, component L-A1
The peak search section of c is calculated. This search section is, for example, [t S-A1c −0.45, t S-A1c −, based on the retention time t s −A1c of the obtained component S-A1c.
0.15] is calculated. This is because the center of the time window is t S-A1c −0.30 (min) and its width ± 0.1.
It means that the peak of the component L-A1c is identified as 5 (min). This search section can be complicated as at S-A1c + b with a and b as coefficients.

【0051】次に、ステップ4において、極大点がある
か否かを判定する。つまり、上記探索区間での極大点の
有無を調べる。そして、極大点が無い場合には、ステッ
プ5に進む。
Next, in step 4, it is judged whether or not there is a maximum point. That is, the presence or absence of a maximum point in the search section is checked. If there is no maximum point, the process proceeds to step 5.

【0052】ステップ5において、ショルダーピークを
探索するために、クロマトグラムデータ点を3次曲線に
フィットする区間を算出し、設定する。3次曲線とした
理由は変曲点を持つ最小次の多項式だからである。一般
的には3次以上の曲線であればよい。フィット区間は上
記成分L−A1cのピークの探索区間よりやや広く、
[tS-A1c−0.55、tS-A1c−0.05]と設定す
る。または、ピーク始点の時刻t1を利用して区間を設
定することもできる。
In step 5, in order to search for a shoulder peak, a section in which chromatogram data points are fitted to a cubic curve is calculated and set. The reason why the curve is a cubic curve is that it is a polynomial of the minimum degree having an inflection point. Generally, a curve of a third order or higher may be used. The fit section is slightly wider than the search section for the peak of the component L-A1c,
The setting is [t S-A1c −0.55, t S-A1c −0.05]. Alternatively, the section can be set using the time t 1 of the peak start point.

【0053】次に、ステップ6において、上記フィット
区間内のクロマトグラムデータ点を3次多項式y3=a
3+bx2+cx+dに最小二乗法を用いてフィットす
る。そして、ステップ7において、ショルダーピークを
見つけるために多項式曲線の変曲点を捜し、次のような
判定を行う。 (1)良くフィットしたか? (2)変曲点が明確にあるか? 判定(1)のフィットの適合度は、例えば最小二乗値が
規定値以下であるか否かで判断する。判定(2)の変曲
点の明確度は、例えば同時に1次式y1=ex+fにフ
ィットし、フィット区間内で3次式y3と1次式y1に囲
まれる面積が規定値以上であるか否かで判断する。また
は、簡便に3次式y3の3次係数aの値が規定値以上で
あるか否かで判断することもできる。判定(1)または
(2)のいずれかの判定も満足しなかった場合は、成分
L−A1cはショルダーピークとしても存在しないと認
識し、ステップ16へ進んで、処理は終了となる。
Next, in step 6, the chromatogram data points in the fit section are set to the cubic polynomial y 3 = a.
Fit to x 3 + bx 2 + cx + d using the least squares method. Then, in step 7, the inflection point of the polynomial curve is searched for the shoulder peak, and the following judgment is made. (1) Did you fit well? (2) Is there an inflection point clearly? The fitness of the fit in the determination (1) is determined by, for example, whether the least squares value is equal to or less than a specified value. The degree of clarity of the inflection point in the judgment (2) is, for example, simultaneously fitting the linear expression y 1 = ex + f, and the area surrounded by the cubic expression y 3 and the linear expression y 1 is equal to or larger than the specified value in the fitting section. Judge whether or not there is. Alternatively, it can be simply determined whether or not the value of the cubic coefficient a of the cubic expression y 3 is equal to or larger than a specified value. If either of the determinations (1) and (2) is not satisfied, it is recognized that the component L-A1c does not exist even as a shoulder peak, the process proceeds to step 16, and the process ends.

【0054】ステップ7において、判定(1)及び
(2)の両方を満足した場合には、ステップ8に進む。
ステップ8において、上記ステップ6で得られた係数に
基づいて、再度フィット区間を設定し、より精密にフィ
ットする。例えば、変曲点時刻ti=−b/3aを基
に、再フィット区間を[ti−0.15、ti+0.1
5]と設定する。上記ステップ6と同様に、3次式に再
度フィットし、改めて係数a、b、c、dを得る。
If both the judgments (1) and (2) are satisfied in step 7, the process proceeds to step 8.
In step 8, the fitting section is set again based on the coefficient obtained in step 6 to fit more precisely. For example, based on the inflection point time t i = −b / 3a, the refit interval is [t i −0.15, t i +0.1.
5] is set. Similar to step 6, the cubic equation is fitted again to obtain the coefficients a, b, c and d again.

【0055】次に、ステップ9に進み、変曲点座標を算
出する。このステップ9においては、変曲点時刻t
iを、ti=−b/3aと計算する。また、時刻tiの誤
差etiは、aとbのフィット誤差をそれぞれea、eb
して、次式(1)により得られる。 eti = ti√((ea/a)2+(eb/b)2) −−− (1) ただし、ti=−b/3aである。
Next, in step 9, the inflection point coordinates are calculated. In this step 9, the inflection point time t
Calculate i as t i = −b / 3a. The error e ti of time t i is, a and b, respectively e a fit error of as e b, is obtained by the following equation (1). e ti = t i √ ((e a / a) 2 + (e b / b) 2 ) --- (1) However, t i = -b / 3a.

【0056】そして、ステップ10において、上記で得
られた時刻tiと誤差etiとに、基づいて、各成分が専
有する面積及びその誤差が算出される。次に、ステップ
11において、各成分が専有する面積の百分率及びその
誤差が算出される。ステップ13において、算出した面
積の百分率及びその誤差を図2に示すように表示させ
る。つまり、図2に示した表示例の中央部付近に、各成
分が専有する面積の百分率及びその誤差が表示される。
例えば、成分A1aであれば、0.9±0.0%、成分
A0であれば、93.3±4.7%と表示される。
Then, in step 10, the area occupied by each component and its error are calculated based on the time t i and the error e ti obtained above. Next, in step 11, the percentage of the area occupied by each component and its error are calculated. In step 13, the calculated area percentage and its error are displayed as shown in FIG. That is, the percentage of the area occupied by each component and its error are displayed near the center of the display example shown in FIG.
For example, the component A1a is displayed as 0.9 ± 0.0%, and the component A0 is displayed as 93.3 ± 4.7%.

【0057】続いて、ステップ14において、図2に示
した表示例に、各成分毎のリテンションタイム及びその
誤差が表示される。例えば、成分A1aであれば、上記
百分率及びその誤差の右横に、0.24±0.01%、
成分A0であれば、2.48±0.02%と表示され
る。次に、ステップ15において、算出した各成分の面
積及びその誤差が、図2に示した表示例に表示される。
例えば、成分A1aであれば、上記リテンションタイム
及びその誤差の右横に、13969±698、成分A0
であれば、1382244±69112と表示される。
Then, in step 14, the retention time for each component and its error are displayed in the display example shown in FIG. For example, in the case of the component A1a, 0.24 ± 0.01% is displayed on the right side of the above percentage and its error.
If it is the component A0, it is displayed as 2.48 ± 0.02%. Next, in step 15, the calculated area of each component and its error are displayed in the display example shown in FIG.
For example, in the case of the component A1a, 13969 ± 698, component A0 is displayed to the right of the retention time and its error.
If so, 1382244 ± 69112 is displayed.

【0058】なお、後述するように、算出したピークの
確率が80%〜50%の場合には、その成分を示す部分
に、ウォーニングマーク*が表示される。そして、算出
したピークの確率が50%未満となると、その成分を示
す部分に、ダウトマーク?が表示される。
As will be described later, when the calculated peak probability is 80% to 50%, a warning mark * is displayed in the portion showing the component. When the calculated probability of the peak is less than 50%, a doubt mark? Is displayed.

【0059】ステップ4において、成分L−A1cの極
大点が同定された場合は、ステップ12に進み、誤差を
算出し、ステップ10に進む。ステップ12における誤
差の算出は、極大点時刻tmの誤差etm を算出する。簡
単には、図4の(A)に示すように、予め取得したノイ
ズ値を用いて(極大値)−2×(ノイズ値)の閾値を設
定し、極大点時刻tL-A1c の左右それぞれ、t-、t+
して、その時刻がtmからより離れているほうを誤差の
限界とする。つまり、|t-−tm|と|t+−tm|の大
きいほうを誤差etmと認識する。さらに、図4の(B)
に示すように、極大点付近を一旦平滑化してから、ノイ
ズ値に対応するtmの誤差を見積ることもできる。ここ
で得られたtmとetmをステップ14でtm±etmと出力
する。
When the maximum point of the component L-A1c is identified in step 4, the process proceeds to step 12, the error is calculated, and the process proceeds to step 10. In the calculation of the error in step 12, the error e tm at the maximum point time t m is calculated. Briefly, as shown in (A) of FIG. 4, a threshold value of (maximum value) −2 × (noise value) is set by using a noise value acquired in advance, and the left and right sides of the maximum point time t L-A1c are respectively set. , T , t + , the one whose time is farther from t m is the limit of error. In other words, | - we recognize the larger the the error e tm | t -t m | a | t + -t m. Furthermore, FIG. 4 (B)
It is also possible to estimate the error of t m corresponding to the noise value after smoothing the vicinity of the maximum point as shown in FIG. The t m and e tm obtained here are output as t m ± e tm in step 14.

【0060】なお、成分L−A1cと成分S−A1cの
定量は一般的に、ピ−ク間に谷があれば谷から、なけれ
ば変曲点から、垂線を引き、面積分割する。成分L−A
1cと成分S−A1cのそれぞれが総ピ−ク面積に占め
る割合を百分率で表示する。
The components L-A1c and S-A1c are generally quantified by drawing a vertical line from the valley if there is a valley between the peaks, or from the inflection point if there is no valley. Component LA
The ratio of each of 1c and the component S-A1c to the total peak area is expressed as a percentage.

【0061】また、図2において、表示部D1には、成
分L−A1c及びS−A1cの面積の百分率及びその誤
差、成分L−A1c及びS−A1cのトータルの面積の
百分率及びその誤差、成分A1a、A1b、L−A1c
及びS−A1cのトータルの面積の百分率及びその誤差
が表示される。
In FIG. 2, the display area D1 shows the percentage of the area of the components L-A1c and S-A1c and its error, the percentage of the total area of the components L-A1c and S-A1c and its error, and the component A1a, A1b, L-A1c
And the percentage of the total area of S-A1c and its error are displayed.

【0062】また、表示部D2には、上述したように、
各成分毎の面積百分率及びその誤差、リテンションタイ
ム及びその誤差、面積及びその誤差、ウォーニングマー
ク、ダウトマーク、各成分の面積のトータル面積が表示
される。また、表示部D3には、上述したように、クロ
マトグラムとともに、各成分名と、面積の百分率及びそ
の誤差、ウォーニングマーク、ダウトマークが表示され
る。
Further, as described above, the display section D2 is
The area percentage and its error, the retention time and its error, the area and its error, the warning mark, the doub mark, and the total area of each component are displayed for each component. In addition, as described above, each component name, the percentage of area and its error, a warning mark, and a doubt mark are displayed on the display unit D3 together with the chromatogram.

【0063】図5は、図2に示した表示例とは異なる他
の表示例である。この図5の例においては、各成分の濃
度(mg/l)とその誤差は表示されているが、リテン
ションタイム及び面積については、誤差は表示されては
いない。その他の部分は、図5の例と図2の例とは、同
様である。この図5の例のように表示することも可能で
ある。
FIG. 5 shows another display example different from the display example shown in FIG. In the example of FIG. 5, the concentration (mg / l) of each component and its error are displayed, but the error is not displayed for the retention time and the area. Other parts are the same as in the example of FIG. 5 and the example of FIG. 2. It is also possible to display as in the example of FIG.

【0064】次に、変曲点探索の他の例を説明する。例
えば、アミノ酸分析には図6に示すようなNH3付近に
盛り上がる特徴的なベースライン変動がある。このクロ
マトグラムの処理も上述の実施例と同様に、変曲点探索
区間を、例えば、[t1+0.10、tNH3−0.10]
と設定する。ここで、t1は立上り点の時刻、tNH3はN
H3のリテンションタイムである。以下、上記図1の例
と同様にして、3次曲線のフィッティングを実行し、変
曲点を求め、それをベースラインの始点と認識する。
Next, another example of the inflection point search will be described. For example, amino acid analysis has a characteristic baseline fluctuation that rises near NH3 as shown in FIG. Also in the processing of this chromatogram, the inflection point search section is set to, for example, [t 1 +0.10, t NH3 −0.10] as in the above-described embodiment.
And set. Where t 1 is the time of the rising point and t NH3 is N
It is the retention time of H3. Hereinafter, similarly to the example of FIG. 1, fitting of a cubic curve is executed to find an inflection point, which is recognized as the starting point of the baseline.

【0065】さて、ここで、誤差の算出方法について整
理し、説明する。 1.変曲点の時刻誤差は、上記式(1)にあるように3
次曲線にフィットした際の係数とその係数の誤差とを用
いて計算する。これはショルダーピークのリテンション
タイムやベースラインの始点・終点の時刻誤差として用
いる。
Now, the method of calculating the error will be summarized and described. 1. The time error at the inflection point is 3
Calculation is performed using the coefficient when fitted to the next curve and the error of the coefficient. This is used as the retention time of the shoulder peak and the time difference between the start and end points of the baseline.

【0066】2.極大点の時刻誤差は、図4に示すよう
に、ノイズと対応する時間変化を計算する。または、2
次曲線等でフィットし、その係数から計算することもで
きる。これは通常の項点を持つピークのリテンションタ
イムの誤差として用いる。
2. As for the time error of the maximum point, the time change corresponding to the noise is calculated as shown in FIG. Or 2
It is also possible to fit with a quadratic curve or the like and calculate from the coefficient. This is used as an error of the retention time of a peak having a normal term.

【0067】3.ピーク面積の誤差eAは、例えば次式
(2)のように計算することができる(参照文献、Grus
hka, E.; Zamir, I. "High Performance Liquid Chroma
tography";John Wiley & Sons: New York, 1989; Chapt
er 13.)。 eA = A√(2/π)・(N/H)(1/n) −−− (2) ただし、Aは、ピーク面積、Hはピーク高さ、Nはノイ
ズ値、nはサンプリング点数である。
3. The error e A of the peak area can be calculated, for example, by the following equation (2) (reference document, Grus
hka, E .; Zamir, I. "High Performance Liquid Chroma
tography "; John Wiley & Sons: New York, 1989; Chapt
er 13.). e A = A√ (2 / π) · (N / H) (1 / n) ----- (2) where A is the peak area, H is the peak height, N is the noise value, and n is the number of sampling points. Is.

【0068】また、ピーク面積の変動要因として一番大
きいのはベースラインの引き方であるため、ベースライ
ン依存度の高いクロマトグラムほど誤差を大きく見積る
アルゴリズムを用いることもできる。図7の(A)は、
ピーク面積がベースラインに依存することなく求められ
るクロマトグラムの例であり、図7の(B)は、ベース
ラインの引き方に依存するクロマトグラムの例である。
さらに図7の(C)と(D)に示すように、重なりピー
クの分割方法によってもピーク面積は変動する。一般的
には上記式(2)のような計算で十分である。
Since the largest factor of variation in the peak area is the way of drawing the baseline, it is possible to use an algorithm that estimates a larger error for a chromatogram having a higher baseline dependency. In FIG. 7A,
FIG. 7B is an example of a chromatogram in which the peak area is obtained without depending on the baseline, and FIG. 7B is an example of a chromatogram depending on how to draw the baseline.
Further, as shown in FIGS. 7C and 7D, the peak area also varies depending on the method of dividing the overlapping peaks. Generally, the calculation like the above formula (2) is sufficient.

【0069】4.ピーク高さの誤差は(ノイズ値)の√
2倍程度に見積る。これもピーク面積同様にベースライ
ン依存性も考慮することができる。
4. The peak height error is (noise value) √
Estimate about twice. In this case as well, it is possible to consider the baseline dependency as well as the peak area.

【0070】5.未知試料の濃度等定量値の誤差e
Qは、ピーク面積ないしピーク高さの誤差が伝播する。
定量計算の比例定数を標準試料のピーク面積等により求
めている場合には次式(3)により求める。
5. Error of quantitative value such as concentration of unknown sample e
In Q , an error in peak area or peak height propagates.
When the proportional constant of the quantitative calculation is obtained from the peak area of the standard sample, etc., it is obtained from the following equation (3).

【0071】 eQ = Q√((eS/S)2+(eU/U)2) −−− (3) ただし、Qは定量値、Sは標準試料のピーク面積、eS
はSの誤差、Uは未知試料のピーク面積、eUはUの誤
差である。
E Q = Q√ ((e S / S) 2 + (e U / U) 2 ) −−− (3) where Q is the quantitative value, S is the peak area of the standard sample, and e S
Is the error of S, U is the peak area of the unknown sample, and e U is the error of U.

【0072】なお、検量線を用いて定量する場合も、同
様に、検量線からの誤差伝搬を計算できる。
When quantifying using a calibration curve, the error propagation from the calibration curve can be calculated in the same manner.

【0073】ここまでは、データ処理上の誤差を見積っ
たものであるが、その他の統計学的誤差estaを加味す
る場合には入力部54から入力し、次式(4)に従って
CRT46またはプリンタ47に出力する。
Up to this point, errors in data processing have been estimated, but if other statistical errors e sta are to be added, they are input from the input unit 54, and the CRT 46 or printer is input according to the following equation (4). Output to 47.

【0074】 eout = √(ed 2+esta 2) −−− (4) ただし、eoutは出力する誤差、edはデータ処理で算出
した誤差である。
E out = √ (e d 2 + e sta 2 ) −−− (4) where e out is an error to be output and e d is an error calculated by the data processing.

【0075】また、補正のような系統的誤差を加味する
場合にも入力操作が必要となる。このような誤差を計算
するために、入力部54から数式も入力できる。また、
各成分に対応したいろいろな誤差をテーブルに記憶し、
計算時に読出し可能である。
Further, an input operation is required also in the case of adding a systematic error such as correction. A mathematical expression can be input from the input unit 54 to calculate such an error. Also,
Store various errors corresponding to each component in the table,
It can be read at the time of calculation.

【0076】誤差は、ファジイ推論のメンバーシップ関
数を求める時にも使用できる。
The error can also be used when finding the membership function of fuzzy reasoning.

【0077】次に、保持時間とその誤差等のクロマトグ
ラム解析に得られる解析値を入力とし、任意のピークが
何という成分であろうかという同定の確率値を出力と
し、入力と出力をファジイ推論で結び付けるような、定
性分析方法の例を説明する。
Next, the analytical values obtained in the chromatogram analysis such as the retention time and its error are input, and the probability value of the identification of what component an arbitrary peak is is output, and the input and output are fuzzy inferred. An example of a qualitative analysis method that is linked by

【0078】図8の(A)に示すように、命題「1.0
0minに出現するピークはFである。」がタイムウィ
ンドウに対応する命題である。例えば、メンバーシップ
関数Wi(t)のタイムウィンドウ中心及び幅をそれぞ
れ1.00min及び0.15minとすると、関数W
i(t)は、図8の(A)のように、重心を1.00m
in、上底を±0.15min、下底を2倍の±0.3
0minの台形に設定される。一方、「測定ピークは約
0.9minに出現した。」という命題を設ける。メン
バーシップ関数rj(t)は、図8の(B)に示すよう
に、極大点の時刻と誤差をそれぞれ0.90min、
0.20minとすると、頂点0.90min、標準偏
差0.20minの正規分布に設定される。
As shown in FIG. 8A, the proposition "1.0
The peak appearing at 0 min is F. Is the proposition corresponding to the time window. For example, if the time window center and width of the membership function W i (t) are 1.00 min and 0.15 min, respectively, the function W
i (t) is the center of gravity of 1.00 m as shown in FIG.
in, upper bottom ± 0.15 min, lower bottom doubled ± 0.3
The trapezoid is set to 0 min. On the other hand, the proposition "The measured peak appeared at about 0.9 min." Is provided. As shown in FIG. 8B, the membership function r j (t) has a maximum point time and an error of 0.90 min, respectively.
When it is set to 0.20 min, a normal distribution having a vertex of 0.90 min and a standard deviation of 0.20 min is set.

【0079】測定ピークがFである確率は、図8の
(c)にあるように両方のメンバーシップ関数W
i(t)とrj(t)とを重ね合せ、重複部分を決定す
る。簡単には重複部分の最大点を一致度とし、その一致
度をFである確率と解釈する。
The probability that the measured peak is F is determined by both membership functions W as shown in FIG.
i (t) and r j (t) are superposed to determine the overlapping portion. Simply, the maximum point of the overlapping portion is set as the degree of coincidence, and the degree of coincidence is interpreted as the probability of being F.

【0080】この確率が、もし80%以下となった場合
は、CRT46ないしプリンタ47の出力結果に、図2
の表示例にウォーニングマーク*を表示する。さらに、
確率が50%以下になると図2の表示例にダウトマーク
?を表示する。
If the probability becomes 80% or less, the output result of the CRT 46 or the printer 47 will be shown in FIG.
The warning mark * is displayed in the display example of. further,
When the probability is 50% or less, doubt mark appears in the display example in Fig. Is displayed.

【0081】また、確率・統計論的な表現として、「危
険率5%で、ピーク1は成分A1aである。」と表示す
ることもできる。この場合、正規分布に従うと仮定し、
危険率を計算するのが一般的である。
As a probability / statistical expression, it is also possible to display "at a risk rate of 5%, peak 1 is component A1a." In this case, assuming a normal distribution,
It is common to calculate the risk factor.

【0082】さらに、精密に確率を求める場合には、図
9の(A)に示すように各成分A1a、A1b、F、L
−A1c、S−A1c、A0のタイムウィンドウに対応
するメンバーシップ関数を設定する。関数wiのi=
1、2、・・・6が、それぞれA1aからA0に対応す
る。関数w7は不純成分のタイムウィンドウに対応し、
図9の(B)に示すように、図9の(A)で示される関
数群を補なうような関数にする。これらの関数wiは、
台形であるが、正規分布形状を用いてもよい。オペレ−
タは、メンバ−シップ関数を適切な形に入力可能であ
る。
Further, in the case of accurately obtaining the probability, each component A1a, A1b, F, L as shown in FIG.
-Set membership functions corresponding to the time windows of A1c, S-A1c, A0. I of the function w i
1, 2, ..., 6 correspond to A1a to A0, respectively. The function w 7 corresponds to the time window of the impure component,
As shown in FIG. 9B, a function that complements the function group shown in FIG. 9A is used. These functions w i are
Although it is trapezoidal, a normal distribution shape may be used. Operation
Can input the membership function in an appropriate form.

【0083】さて、測定ピークの保持時間の誤差を考慮
したメンバーシップ関数を図9(A)のようにそれぞれ
求める。確率を求めるために次式(5)のように一致度
ijを計算し、次式(6)により確率Pijを決定する。
Now, the membership functions in consideration of the error of the retention time of the measured peak are obtained as shown in FIG. 9 (A). In order to obtain the probability, the coincidence C ij is calculated as in the following equation (5), and the probability P ij is determined by the following equation (6).

【0084】[0084]

【数1】 [Equation 1]

【0085】ただし、Pijはjピークがi成分である確
率(i=1(A1a)、2(A1b)、3(F)、4
(L−A1c)、5(S−A1c)、6(A0)、7
(不純成分))、nは、成分数である。
However, P ij is the probability that the j peak is the i component (i = 1 (A1a), 2 (A1b), 3 (F), 4
(L-A1c), 5 (S-A1c), 6 (A0), 7
(Impurity component)), and n is the number of components.

【0086】例えば、図2に示したクロマトグラムの3
番目(j=3)のピークがFである確率が決定する。ま
た、同時に不純成分IMPUの確率も決定する。円グラ
フ等で確率を割合で表示する方法もあるが、図10に示
すように、第一候補(1ST)の成分名と確率(PRO
B)、第二候補(2SD)の成分名と確率(PRO
B)、定量値(%)(QUAN(%))をテーブルとし
て出力することもできる。第二候補は第一候補の同定確
率が0.90以下の時、出力する。
For example, 3 of the chromatogram shown in FIG.
The probability that the th (j = 3) peak is F is determined. At the same time, the probability of the impure component IMPU is also determined. There is also a method of displaying the probabilities as a ratio in a pie chart or the like, but as shown in FIG. 10, the component name and the probability (PRO) of the first candidate (1ST).
B), component name and probability (PRO) of the second candidate (2SD)
B) and the quantitative value (%) (QUAN (%)) can be output as a table. The second candidate is output when the identification probability of the first candidate is 0.90 or less.

【0087】さらに、同定の信頼性を向上するために、
各検出ピークの中から2成分を任意に選び出し、予め導
かれている相関性を持っているか確認する。例えば、ピ
ーク2と3がA1bとF成分と同定されている時、ピー
ク2の保持時間t2とピーク3の保持時間t3が、tA1b
=0.90tF−0.30(min)の関係にほぼ成っ
ているか調べる。ここで、tA1bとtFは、それぞれA1
bとFの保持時間である。ここで、6成分の場合、組合
62=15通りの相関を確認する。そして、規定値よ
り外れるピークがあれば、再度、ファジイ推論を行い、
最適解を得る。なお、必要に応じて、各メンバーシップ
関数Wi(t)又はrj(t)は、面積を1に規格化する
こともできる。
Furthermore, in order to improve the reliability of identification,
Two components are arbitrarily selected from each of the detected peaks, and it is confirmed whether they have a preliminarily derived correlation. For example, when peaks 2 and 3 are identified as A1b and F components, the retention time t 2 of peak 2 and the retention time t 3 of peak 3 are t A1b
= 0.90t F −0.30 (min). Where t A1b and t F are respectively A1
It is the retention time of b and F. Here, in the case of 6 components, 6 combinations of 6 C 2 = 15 correlations are confirmed. Then, if there is a peak that deviates from the specified value, fuzzy inference is performed again,
Get the optimal solution. Note that the area of each membership function W i (t) or r j (t) can be normalized to 1 as necessary.

【0088】ピーク同定の確からしさを見積もるための
別の統計学的方法を説明する。ピーク同定とは基本的
に、標準試料中の既知ピークのリテンションタイムと未
知試料の未知ピークのリテンションタイムとを比較し、
その差の小さなものを対応させることである。この差の
精度(正確さ及び精密さ)が小さなものほど、同定誤り
を起こす危険率が低い、つまり、同定の信頼度が高いと
考えられる。このことは、統計学の手を用いて評価する
ことができる(参照文献、奥野、芳賀著「実験計画、培
風館、1969)。
Another statistical method for estimating the likelihood of peak identification is described. Peak identification is basically comparing the retention time of a known peak in a standard sample with the retention time of an unknown peak in an unknown sample,
It is to make the one with the small difference correspond. It is considered that the smaller the accuracy (precision and precision) of this difference, the lower the risk rate of causing an identification error, that is, the higher the reliability of identification. This can be evaluated using the hands of statistics (references, Okuno, Haga, "Experimental Design, Baifukan, 1969).

【0089】まず、図11のステップ70から処理が開
始される。そして、ステップ71において、標準試料中
のS−A1cピークのリテンションタイムtsとその誤
差σsとを見積もる。これは上述の図4に示した方法で
もよいし、次式(7−1)、(7−2)、(7−3)の
ように1次、2次のモーメントμ1、μ2を用いることも
できる。
First, the process is started from step 70 of FIG. Then, in step 71, the retention time t s of the S-A1c peak in the standard sample and its error σ s are estimated. This may be the method shown in FIG. 4 described above, or the first and second moments μ 1 and μ 2 are used as in the following equations (7-1), (7-2) and (7-3). You can also

【0090】[0090]

【数2】 [Equation 2]

【0091】図12に示すような、ピークの面積、重
心、分散(バリアンス)に、μ0、μ1、μ2がそれぞれ
対応する(参照文献、Abdel Salam Said 著、"Theory a
nd Mathematics of Chromatography "、Huthing社、Hei
delberg、1989)。μ1がリテンションタイム、√
(μ2/N)がリテンションタイムの誤差となる。ここ
で、Nは実際に積分したサンプリング点数である。
As shown in FIG. 12, μ 0 , μ 1 , and μ 2 correspond to the area of the peak, the center of gravity, and the variance (variance), respectively (see Reference, Abdel Salam Said, “Theory a”).
nd Mathematics of Chromatography ", Huthing, Hei
delberg, 1989). μ 1 is retention time, √
2 / N) is the retention time error. Here, N is the number of sampling points actually integrated.

【0092】また、実用的には、モーメントの方法に基
づき、ピークの半値幅や、ピーク高さの1/√(e)〜
0.607倍のところの幅からガウシアンの標準偏差σ
を求め、σ/√(N)からリテンションタイムの誤差を
見積もることができる。ここで、Nはピークを形成して
いるデータ点の数とする。リテンションタイムは適切な
区間の一次モーメントや平均値を採用してもよいが、図
4に示した方法を用いて、極大点から求めるのが適切で
ある。この実用的な方法は、重なったピークであって
も、比較的妨害を受けずに、リテンションタイムとその
誤差を見積もることができるという特徴がある。
Practically, based on the method of moments, the half-value width of the peak and the peak height 1 / √ (e)
Gaussian standard deviation σ from the width at 0.607 times
Then, the error of the retention time can be estimated from σ / √ (N). Here, N is the number of data points forming a peak. The retention time may employ the first moment or average value of an appropriate section, but it is appropriate to obtain it from the maximum point by using the method shown in FIG. This practical method is characterized in that the retention time and its error can be estimated without being relatively disturbed even if they have overlapping peaks.

【0093】以上の説明は、1つのピークにおける解析
であるが、複数回標準試料を繰り返し測定し、統計学的
誤差(偶然誤差)を採用することもできる。
Although the above explanation is about the analysis of one peak, it is also possible to repeatedly measure the standard sample a plurality of times and adopt the statistical error (random error).

【0094】次に、ステップ72において、未知試料中
のピーク5のリテンションタイムtuとその誤差σuとを
上述の実用的な方法で求める。次に、ステップ73にお
いて、tS、tu、σs、σuを用いて、信頼率95%での
sとtuとの真の差δがありそうな区間を求める。この
区間が狭ければ狭い程、また、0に近ければ近いほど、
同定の信頼度が高いとみなせる。
Next, at step 72, the retention time t u of the peak 5 in the unknown sample and its error σ u are obtained by the practical method described above. Next, in step 73, t s , t u , σ s , and σ u are used to find a section in which there is likely to be a true difference δ between t s and t u at the 95% reliability. The narrower this section is, and the closer it is to 0,
It can be considered that the reliability of identification is high.

【0095】まず、測定された差dは、d=tu−ts
ある。この差dは、図13の(C)に示すように、表示
することができる。また、差dの標準偏差の推定値sd
は、sd=√(σs 2+σu 2)で求められる。自由度f
は、2N−2となる。ここで、Nはピークを形成してい
るデータ点数である。Nは無限大∞としても、t検定す
る場合には、問題とならない。
[0095] First, the measured difference d is a d = t u -t s. This difference d can be displayed as shown in FIG. Also, the estimated value s d of the standard deviation of the difference d
Is calculated by s d = √ (σ s 2 + σ u 2 ). Degree of freedom f
Becomes 2N-2. Here, N is the number of data points forming a peak. Even if N is infinity ∞, it does not matter when t-testing.

【0096】ここで、もし、σsに上述の繰り返し測定
による偶然誤差を採用している場合は、σsとσuの自由
度を考慮し、加重平均する必要がある。このとき、サタ
スウェイトの方法で、等価自由度を計算しなければなら
ない等、計算が煩雑なので、次に説明するように、σs
かσuかを代用してしまう方法が実用的である。(r−
1)rσS 2と(N−1)Nσu 2とを比較し、その大きな
ほうが誤差分散に対して支配的であると考え、sdを大
きな方のσs又はσuとし、他方を無視してしまう。自由
度fも採用された側の自由度r−1又はN−1を用い
る。ここで、rとNは、それぞれ標準試料の繰り返し測
定の回数と、ピークを形成しているデータ点数である。
[0096] Here, if, when adopting the random error due to above repeated measurements of the sigma s, considering the degree of freedom of sigma s and sigma u, it is necessary to weighted average. At this time, the calculation is complicated, for example, the equivalent degree of freedom must be calculated by the Sataus weight method, so as explained below, σ s
The method of substituting either σ u or σ u is practical. (R-
1) Compare rσ S 2 and (N−1) Nσ u 2 , consider that the larger one is dominant for the error variance, and let s d be the larger σ s or σ u and ignore the other Resulting in. The degree of freedom f also uses the degree of freedom r-1 or N-1 on the adopted side. Here, r and N are the number of times of repeated measurement of the standard sample and the number of data points forming a peak, respectively.

【0097】次に、差dとdの標準偏差sd及び自由度
fが求められたので、ステップ74において、次式
(8)により真の差δの推定区間を計算する。 δ = d±t(f;P)sd −−− (8) ここで、t(f;P)は、統計学で用いられるt検定の
値であり、fは自由度、Pは危険率を表す。fは無限大
∞又は上述のr−1かN−1を用いる。一般に、危険率
Pは、5%、つまり、信頼率95%を用いる。例えば、
d=0.04min、sd=0.07min、t(∞;
0.05)=1.960である場合、「真の差δは、
0.04±0.14=[−0.10、0.18]の区間
にある。」という判定の信頼率が95%である。
Next, since the difference d and the standard deviation s d of d and the degree of freedom f are obtained, the estimated section of the true difference δ is calculated in step 74 by the following equation (8). δ = d ± t (f; P) s d −−− (8) where t (f; P) is the value of the t-test used in statistics, f is the degree of freedom, and P is the risk rate. Represents f uses infinity ∞ or r-1 or N-1 described above. Generally, the risk rate P is 5%, that is, the reliability rate is 95%. For example,
d = 0.04 min, s d = 0.07 min, t (∞;
0.05) = 1.960, "the true difference δ is
0.04 ± 0.14 = [− 0.10, 0.18]. The reliability of the determination of "" is 95%.

【0098】次に、ステップ75において、推定区間を
同定の確からしさとして解釈する。もし、ピーク5とS
−A1cのそれぞれのリテンションタイムに差があった
としても、高々−0.10から0.18minの区間に
ある。これは、区間内に0.00があるからピーク5を
S−A1cと同定することができる。また、ピーク5が
S−A1cではないとすると、真のリテンションタイム
の差が−0.10〜0.18min離れた不純物を誤っ
て同定している可能性もあることを意味する。別の言い
方をすれば、S−A1cピークの負側に0.10min
より離れているか、正側に0.18minより離れてい
る不純物ピークを誤って同定していることはないという
ことになる。
Next, in step 75, the estimated interval is interpreted as the likelihood of identification. If peak 5 and S
Even if there is a difference in the retention times of -A1c, the interval is at most -0.10 to 0.18 min. This is because peak 5 can be identified as S-A1c because there is 0.00 within the interval. Further, if the peak 5 is not S-A1c, it means that there is a possibility that the true retention time difference may erroneously identify the impurities separated by −0.10 to 0.18 min. In other words, 0.10 min on the negative side of the S-A1c peak.
This means that the impurity peaks farther away or more than 0.18 min apart on the positive side are not erroneously identified.

【0099】便宜上、この区間の値をリテンションタイ
ム1.34minで割ると、「S−A1cの負側に0.
07、正側に0.13の危険率で不純物を同定している
可能性がある。」と言える。さらに、「S−A1cの負
側は0.93、正側に0.87の信頼率で不純物の同定
はない。」と言える。
For the sake of convenience, the value in this section is divided by the retention time of 1.34 min.
It is possible that impurities were identified with a risk rate of 07 and 0.13 on the positive side. Can be said. Furthermore, it can be said that “there is no identification of impurities with a reliability rate of 0.93 on the negative side of S-A1c and 0.87 on the positive side”.

【0100】次に、ステップ76において、推定区間
[−0.10、0.18]か又は便宜上定義した信頼率
[0.93、0.87]をCRT46かプリンタ47
に、図12の(A)又は(B)に示すように出力する。
このようにして、統計学的にピーク同定を検定する方法
が終了する(ステップ77)。
Next, in step 76, the estimated interval [-0.10, 0.18] or the reliability rate [0.93, 0.87] defined for convenience is used as the CRT 46 or the printer 47.
Is output as shown in (A) or (B) of FIG.
This is the end of the method for statistically testing peak identification (step 77).

【0101】以上、定性分析を保持時間と誤差を用い
て、説明してきたが、ピーク面積比率を参照し同定の信
憑性を計ることもできる。ファジイ命題「A1cは3〜
15%の面積比率である。」等のルールを加え、同定確
率に寄与させる。さらに、今まで述べて来た定性・定量
分析に関するデータと信憑性である同定成分と同定確
率、及び定量値と定量誤差に留まらず、装置または試料
の信頼性もファジイ推論を用いて、確認することができ
る。例えば、命題「全ピークのトータル面積は100〜
300万μV・sである。」等のルールを設定し、信頼
性を定量化することができる。
Although the qualitative analysis has been described above by using the retention time and the error, the credibility of the identification can be measured by referring to the peak area ratio. Fuzzy proposition "A1c is 3 ~
The area ratio is 15%. , Etc., and contribute to the identification probability. Furthermore, the reliability of the device or sample is confirmed using fuzzy inference, not only the identification components and identification probabilities and the quantified values and quantified errors that are credible and the data regarding qualitative / quantitative analysis that have been described so far. be able to. For example, the proposition “Total area of all peaks is 100-
It is 3 million μV · s. , Etc., can be set to quantify the reliability.

【0102】図14は、図3に示したデータ解析部45
の機能ブロック図である。図14において、記憶部45
9は、検出器42から出力されたデータを記憶する。ピ
ーク同定部450は、記憶部459に記憶されたデータ
を読み出して、クロマトグラムのピークを同定する。区
間算出部451は、探索区間算出部451Aと、フィッ
ト区間算出部451Bとを有している。そして、探索区
間算出部451により、例えば、成分L−A1cの探索
区間が算出される。また、フィット区間算出部451B
により、データ点が3次曲線にフィットする区間が算出
される。フィッティング部452は、データ点を3次曲
線に最小二乗法を用いて、フィッティングする。また、
信憑性診断部453により、得られた数値の信憑性が診
断される。
FIG. 14 shows the data analysis unit 45 shown in FIG.
It is a functional block diagram of. In FIG. 14, the storage unit 45
9 stores the data output from the detector 42. The peak identifying section 450 reads the data stored in the storage section 459 and identifies the peak in the chromatogram. The section calculation unit 451 includes a search section calculation unit 451A and a fit section calculation unit 451B. Then, the search section calculation unit 451 calculates the search section of the component L-A1c, for example. In addition, the fit section calculation unit 451B
By this, the section in which the data points fit the cubic curve is calculated. The fitting unit 452 fits the data points to the cubic curve using the least squares method. Also,
The authenticity diagnosis unit 453 diagnoses the authenticity of the obtained numerical value.

【0103】微分特徴点探索部454は、極大点探索部
454Aと、変曲点探索部454Bとを有している。ま
た、座標算出部455は、極大点探索部454Aにより
探索された極大点の座標を算出する極大点座標算出部4
55Aと、変曲点探索部454Bにより探索された変曲
点の座標を算出する変曲点座標算出部455Bとを有し
ている。
The differential feature point searching section 454 has a maximum point searching section 454A and an inflection point searching section 454B. In addition, the coordinate calculation unit 455 calculates the maximum point coordinate calculation unit 4 that calculates the coordinates of the maximum point searched by the maximum point search unit 454A.
55A and an inflection point coordinate calculation unit 455B that calculates the coordinates of the inflection point searched by the inflection point search unit 454B.

【0104】誤差・確率算出部456は、タイム誤差算
出部456Aと、ファジイ推論部456Bと、定量値算
出部457により算出された定量値の誤差を算出する定
量値誤差算出部456Cと、同定確率算出部456D
と、を有している。そして、誤差・確率算出部456に
より、同定された極大点及び算出された変曲点に対応す
るピーク保持時間とその誤差、ピーク高さ及びその誤
差、ピーク面積とその誤差、ピーク百分率とその誤差が
算出される。また、誤差・確率算出部456のファジイ
推論部456Bは、同定及び検出された極大点及び変曲
点の確からしさを、確率、差、信頼区間又は信頼率であ
る指標で算出し、CRT46又はプリンタ47に算出し
た指標に基づいて、ウォーニングマーク*やダウトマー
ク?を表示する。さらに、データ解析部45は、上述し
たベースラインを算出するベースライン算出部458を
有している。そして、上記構成のデータ解析部45によ
り、上述したクロマトグラムの解析が実行される。
The error / probability calculation unit 456 includes a time error calculation unit 456A, a fuzzy inference unit 456B, a quantitative value error calculation unit 456C for calculating an error of the quantitative value calculated by the quantitative value calculation unit 457, and an identification probability. Calculation unit 456D
And have. Then, by the error / probability calculation unit 456, the peak holding time and its error corresponding to the identified maximum point and the calculated inflection point, the peak height and its error, the peak area and its error, the peak percentage and its error. Is calculated. In addition, the fuzzy inference unit 456B of the error / probability calculation unit 456 calculates the certainty of the identified and detected maximum points and inflection points with indexes such as probability, difference, confidence interval, or reliability rate, and the CRT 46 or the printer. Based on the index calculated in 47, warning mark * or doubt mark? Is displayed. Furthermore, the data analysis unit 45 has a baseline calculation unit 458 that calculates the above-described baseline. Then, the above-described data analysis unit 45 executes the above-described analysis of the chromatogram.

【0105】また、誤差・確率算出部456は、ピーク
面積を決定するベースラインの形状により、ピーク面積
の誤差を変化させる。さらに、誤差・確率算出部456
は、誤差算出に含むべき統計学的誤差と、系統誤差等を
入力部54から入力し、算出したピーク保持時間の誤差
と、ピーク高さの誤差と、ピーク面積の誤差と、ピーク
面積百分率の誤差とに、入力した統計的誤差及び系統誤
差を加算して、これら誤差を算出する。
The error / probability calculating unit 456 changes the error of the peak area according to the shape of the baseline that determines the peak area. Furthermore, the error / probability calculation unit 456
Is a statistical error to be included in the error calculation, a systematic error, etc. are input from the input unit 54, and the calculated peak holding time error, peak height error, peak area error, and peak area percentage The input statistical error and systematic error are added to the error to calculate these errors.

【0106】以上のように、本発明の実施例によれば、
濃度等の定量値や、リテンションタイム等の時間を高精
度に決定し、その得られた数値に対する誤差を求め、定
量値やピーク同定の信頼度を計算し、表示できるクロマ
トグラム解析表示方法及び表示装置を実現することがで
きる。
As described above, according to the embodiment of the present invention,
Chromatogram analysis display method and display that determines quantitative values such as concentration and time such as retention time with high accuracy, calculates the error for the obtained numerical values, and calculates and displays the reliability of quantitative values and peak identification The device can be realized.

【0107】なお、クロマトグラムの特徴量の誤差の算
出としては、次のような例を用いることも考えられる。
つまり、カラム効率を見積もるために理論段数を計算す
る。この場合にも、各数値の誤差が伝播し、理論段数の
誤差を生み出す。理論段数の計算式には次のような(9
−1)〜(9−4)式が知られている。 N = tR 2/μ2 −−− (9−1) N = (tR/σ)2 −−− (9−2) N = 5.54×(tR/w1/22 −−− (9−3) N = 16×(tR/w)2 −−− (9−4) ここで、Nは理論段数、tRはリテンションタイム、μ2
は2次のモーメント、σはピーク高さの60.7%の所
の半幅、w1/2は半値全幅、wは両変曲点から接線をベ
ースラインに引き、そのベースラインから切り取った幅
である。
The following example may be used to calculate the error of the characteristic amount of the chromatogram.
That is, the theoretical plate number is calculated in order to estimate the column efficiency. Also in this case, the error of each numerical value propagates, and the error of the theoretical plate number is produced. The formula for calculating the theoretical plate number is (9
Formulas -1) to (9-4) are known. N = t R 2 / μ 2 --- (9-1) N = (t R / σ) 2 --- (9-2) N = 5.54 × (t R / w 1/2) 2 - −− (9-3) N = 16 × (t R / w) 2 −−− (9-4) where N is the theoretical plate number, t R is the retention time, μ 2
Is the second moment, σ is the half width at 60.7% of the peak height, w 1/2 is the full width at half maximum, and w is the width obtained by drawing a tangent line from both inflection points to the baseline and cutting from that baseline. Is.

【0108】理論段数Nの信頼度を見積もるためには、
その誤差を求める必要がある。この場合にも各変数の誤
差をまず求め、理論段数の誤差を計算することになる。
リテンションタイムの誤差はいずれの式でも必要であ
る。その他の変数の誤差も統計学的に求めることができ
る。特に式(9−4)の場合は、変曲点からの接線を求
める場面では、標準誤差や信頼限界等を用いる多変量解
析的手法を用いることが望ましい。この他にも、分解能
Rs、キャパシティファクタk′、セレクティビティα
等のクロマトグラム特徴量の誤差を同様に求めることが
できる。
In order to estimate the reliability of the theoretical plate number N,
It is necessary to find the error. Also in this case, the error of each variable is first obtained and the error of the theoretical plate number is calculated.
The error of retention time is necessary in any equation. The error of other variables can also be calculated statistically. In particular, in the case of Expression (9-4), it is desirable to use a multivariate analytical method that uses standard error, confidence limits, etc. in the scene where the tangent line from the inflection point is obtained. In addition to this, resolution Rs, capacity factor k ′, selectivity α
The error of the chromatogram characteristic amount such as can be similarly obtained.

【0109】[0109]

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているため、次のような効果がある。濃度等の定量値
や、リテンションタイム等の時間を高精度に決定し、そ
の得られた数値に対する誤差を求め、定量値やピーク同
定の信頼度を計算し、表示できるクロマトグラム解析表
示方法及び表示装置を実現することができる。
Since the present invention is constructed as described above, it has the following effects. Chromatogram analysis display method and display that determines quantitative values such as concentration and time such as retention time with high accuracy, calculates the error for the obtained numerical values, and calculates and displays the reliability of quantitative values and peak identification The device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例であるクロマトグラム解析表
示方法の動作フローチャートである。
FIG. 1 is an operation flowchart of a chromatogram analysis display method according to an embodiment of the present invention.

【図2】クロマトグラム解析結果のCRT又はプリンタ
(プロッタ)への表示例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a display example of a chromatogram analysis result on a CRT or a printer (plotter).

【図3】グリコヘモグロビン分析装置の一例の概略構成
図である。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an example of a glycohemoglobin analyzer.

【図4】極大点時刻の誤差の求め方の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a method of obtaining an error of a maximum point time.

【図5】クロマトグラム解析結果のCRT又はプリンタ
(プロッタ)への他の表示例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing another display example of a chromatogram analysis result on a CRT or a printer (plotter).

【図6】ベースラインと変曲点の関係の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a relationship between a baseline and an inflection point.

【図7】ベースラインが定量値に与える影響の説明図で
ある。
FIG. 7 is an explanatory diagram of the influence of a baseline on a quantitative value.

【図8】メンバーシップ関数の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of a membership function.

【図9】メンバーシップ関数の他の例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing another example of a membership function.

【図10】算出されたデータのさらに他の表示例を示す
図である。
FIG. 10 is a diagram showing still another display example of calculated data.

【図11】統計学的にピーク同定を検定する方法の動作
フローチャートである。
FIG. 11 is an operational flowchart of a method for statistically testing peak identification.

【図12】2次モーメントを説明するための一例の波形
図である。
FIG. 12 is an example waveform diagram for explaining a second moment.

【図13】算出されたデータのさらに他の表示例を示す
図である。
FIG. 13 is a diagram showing still another display example of calculated data.

【図14】本発明の一実施例であるクロマトグラム解析
表示装置におけるデータ解析部の機能ブロック図であ
る。
FIG. 14 is a functional block diagram of a data analysis unit in the chromatogram analysis display device according to one embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

40 送液ポンプ 41 分離カラム 42 検出器 43 サンプラ 44 制御部 45 データ解析部 46 CRT 47 プリンタ 51 未知試料 52 標準試料 54 入力部 450 ピーク同定部 451 区間算出部 452 フィッティング部 453 信憑性診断部 454 微分特徴点探索部 455 座標算出部 456 誤差・確率算出部 457 定量値算出部 458 ベースライン算出部 459 記憶部 40 Liquid-sending pump 41 Separation column 42 Detector 43 Sampler 44 Control part 45 Data analysis part 46 CRT 47 Printer 51 Unknown sample 52 Standard sample 54 Input part 450 Peak identification part 451 Interval calculation part 452 Fitting part 453 Confidence diagnosis part 454 Differentiation Feature point search unit 455 Coordinate calculation unit 456 Error / probability calculation unit 457 Quantitative value calculation unit 458 Baseline calculation unit 459 Storage unit

フロントページの続き (72)発明者 佐竹 尋志 茨城県勝田市市毛882番地 株式会社日立 製作所計測器事業部内 (72)発明者 山田 富士夫 茨城県勝田市市毛882番地 株式会社日立 製作所計測器事業部内 (72)発明者 伊藤 三男 茨城県勝田市市毛882番地 株式会社日立 製作所計測器事業部内 (72)発明者 島根 亘由 茨城県勝田市堀口字長久保832番地2 日 立計測エンジニアリング株式会社内Front page continued (72) Inventor Hiroshi Satake 882 Ichimo, Katsuta-shi, Ibaraki Hitachi, Ltd. Measuring Instruments Division (72) Inventor Fujio Yamada 882, Ishi, Katsuta-shi, Ibaraki Hitachi Ltd. Measuring Instruments, Ltd. (72) Inventor, Mitsuo Ito, 882, Imo, Katsuta-shi, Ibaraki, Hitachi, Ltd., Measuring Instruments Division (72) Inventor, Watanabe Shimane, 832, Nagakubo, Horiguchi, Katsuta, Ibaraki

Claims (41)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 クロマトグラムデータを解析し、解析結
果を表示するクロマトグラム解析表示方法において、 クロマトグラムデータのピークを検出するステップと、 上記クロマトグラムデータのピークを同定するステップ
と、 検出及び同定されたピークに対応するピークサイズを変
数として、被測定物の定量値を算出するステップと、 上記算出された定量値の誤差を、少なくとも上記変数を
用いて算出するステップと、 上記算出された定量値と、定量値の誤差とを表示手段に
表示させるステップと、 を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示方
法。
1. A chromatogram analysis display method for analyzing chromatogram data and displaying analysis results, the step of detecting a peak of the chromatogram data, the step of identifying the peak of the chromatogram data, and the detection and identification. The step of calculating a quantitative value of the DUT using the peak size corresponding to the calculated peak as a variable, the step of calculating an error of the calculated quantitative value using at least the variable, and the calculated quantitative value. And a step of displaying the value and the error of the quantitative value on the display means.
【請求項2】 請求項1記載のクロマトグラム解析表示
方法において、上記定量値の誤差は、クロマトグラムデ
ータのベースラインの信頼度も含めて算出することを特
徴とするクロマトグラム解析表示方法。
2. The chromatogram analysis display method according to claim 1, wherein the error of the quantitative value is calculated including the reliability of the baseline of the chromatogram data.
【請求項3】 請求項1記載のクロマトグラム解析表示
方法において、上記定量値の誤差は、互いに近接するピ
ークどうしを分割する信頼度も含めて算出することを特
徴とするクロマトグラム解析表示方法。
3. The chromatogram analysis display method according to claim 1, wherein the error of the quantitative value is calculated including the reliability of dividing peaks that are close to each other.
【請求項4】 請求項1記載のクロマトグラム解析表示
方法において、上記定量値の誤差は、統計学的誤差も含
めて算出することを特徴とするクロマトグラム解析表示
方法。
4. The chromatogram analysis display method according to claim 1, wherein the quantitative value error is calculated including a statistical error.
【請求項5】 請求項1記載のクロマトグラム解析表示
方法において、上記定量値の誤差は、系統誤差も含めて
算出することを特徴とするクロマトグラム解析表示方
法。
5. The chromatogram analysis display method according to claim 1, wherein the error of the quantitative value is calculated including a systematic error.
【請求項6】 請求項1記載のクロマトグラム解析表示
方法において、上記定量値の誤差は、統計誤差及び系統
誤差も含めて算出することを特徴とするクロマトグラム
解析表示方法。
6. The chromatogram analysis display method according to claim 1, wherein the error of the quantitative value is calculated including a statistical error and a systematic error.
【請求項7】 請求項1記載のクロマトグラム解析表示
方法において、上記ピークは、クロマトグラムデータの
変曲点であることを特徴とするクロマトグラム解析表示
方法。
7. The chromatogram analysis display method according to claim 1, wherein the peak is an inflection point of chromatogram data.
【請求項8】 請求項1記載のクロマトグラム解析表示
方法において、上記ピークサイズの誤差を算出するステ
ップと、算出されたピークサイズの誤差を表示手段に表
示させるステップとを、さらに備えることを特徴とする
クロマトグラム解析表示方法。
8. The chromatogram analysis display method according to claim 1, further comprising a step of calculating the peak size error and a step of displaying the calculated peak size error on a display means. Chromatogram analysis display method.
【請求項9】 請求項1又は8記載のクロマトグラム解
析表示方法において、上記ピークサイズは、ピーク高さ
であることを特徴とするクロマトグラム解析表示方法。
9. The chromatogram analysis display method according to claim 1 or 8, wherein the peak size is a peak height.
【請求項10】 請求項1又は8記載のクロマトグラム
解析表示方法において、上記ピークサイズは、ピーク面
積であることを特徴とするクロマトグラム解析表示方
法。
10. The chromatogram analysis display method according to claim 1 or 8, wherein the peak size is a peak area.
【請求項11】 請求項1又は8記載のクロマトグラム
解析表示方法において、上記ピークサイズは、ピーク高
さ及びピーク面積であることを特徴とするクロマトグラ
ム解析表示方法。
11. The chromatogram analysis display method according to claim 1 or 8, wherein the peak size is a peak height and a peak area.
【請求項12】 クロマトグラムデータを解析し、解析
結果を表示するクロマトグラム解析表示方法において、 クロマトグラムデータのピークを検出するステップと、 上記クロマトグラムデータのピークを同定するステップ
と、 検出及び同定されたピークの保持時間を算出するステッ
プと、 上記算出されたピークの保持時間の誤差を算出するステ
ップと、 上記算出されたピークの保持時間と、この保持時間の誤
差とを表示手段に表示させるステップと、 を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示方
法。
12. A chromatogram analysis display method of analyzing chromatogram data and displaying an analysis result, the step of detecting a peak of the chromatogram data, the step of identifying the peak of the chromatogram data, and the detection and identification. Calculating the holding time of the calculated peak, calculating the error of the calculated holding time of the peak, displaying the calculated holding time of the peak, and the error of the holding time on the display means. A method for displaying and analyzing a chromatogram, comprising:
【請求項13】 請求項12記載のクロマトグラム解析
表示方法において、上記ピークは、クロマトグラムデー
タの変曲点であることを特徴とするクロマトグラム解析
表示方法。
13. The chromatogram analysis display method according to claim 12, wherein the peak is an inflection point of chromatogram data.
【請求項14】 請求項12記載のクロマトグラム解析
表示方法において、上記算出したピークの保持時間及び
ピークの保持時間の誤差に基づいて、ピーク同定の信頼
度を算出するステップと、算出されたピーク同定の信頼
度を表示手段に表示させるステップとを、さらに備える
ことを特徴とするクロマトグラム解析表示方法。
14. The chromatogram analysis display method according to claim 12, wherein the step of calculating the reliability of peak identification based on the calculated retention time of the peak and the error of the retention time of the peak, and the calculated peak. And a step of displaying the reliability of identification on a display means.
【請求項15】 請求項12記載のクロマトグラム解析
表示方法において、上記算出したピークの保持時間の誤
差は、互いに近接するピークどうしを分割する信頼度も
含めて算出することを特徴とするクロマトグラム解析表
示方法。
15. The chromatogram analysis display method according to claim 12, wherein the error of the calculated retention time of the peaks is calculated including the reliability of dividing peaks that are close to each other. Analysis display method.
【請求項16】 クロマトグラムデータを解析し、解析
結果を表示するクロマトグラム解析表示方法において、 複数の数値に基づいて、クロマトグラムの特徴量を算出
するステップと、 上記複数の数値に基づいて、これら数値から伝搬される
クロマトグラムの特徴量の誤差を算出するステップと、 上記算出されたクロマトグラムの特徴量と、クロマトグ
ラムの特徴量の誤差とを表示手段に表示させるステップ
と、 を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示方
法。
16. In a chromatogram analysis display method for analyzing chromatogram data and displaying an analysis result, a step of calculating a characteristic amount of a chromatogram based on a plurality of numerical values, and based on the plurality of numerical values, A step of calculating the error of the characteristic amount of the chromatogram propagated from these numerical values, and a step of displaying the calculated characteristic amount of the chromatogram and the error of the characteristic amount of the chromatogram on the display means. A method for displaying and analyzing a chromatogram characterized by.
【請求項17】 クロマトグラムデータを解析し、解析
結果を表示するクロマトグラム解析表示装置において、 クロマトグラムデータのピークを検出するピーク検出部
と、 上記クロマトグラムデータのピークを同定するピーク同
定部と、 検出及び同定されたピークに対応するピークサイズを変
数として、被測定物の定量値を算出する定量値算出部
と、 少なくとも上記変数を用いて、上記算出された定量値の
誤差を算出する誤差算出部と、 上記算出された定量値と、定量値の誤差とを表示する表
示部と、 を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示装
置。
17. A chromatogram analysis display device for analyzing chromatogram data and displaying an analysis result, and a peak detecting section for detecting a peak of the chromatogram data, and a peak identifying section for identifying a peak of the chromatogram data. , A quantitative value calculation unit that calculates the quantitative value of the DUT using the peak size corresponding to the detected and identified peaks as a variable, and an error that calculates the error of the calculated quantitative value using at least the above variables A chromatogram analysis display device, comprising: a calculation unit; and a display unit that displays the calculated quantitative value and an error of the quantitative value.
【請求項18】 請求項17記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記定量値の誤差は、クロマトグラ
ムデータのベースラインの信頼度も含めて算出すること
を特徴とするクロマトグラム解析表示装置。
18. The chromatogram analysis display device according to claim 17, wherein the error of the quantitative value is calculated including the reliability of the baseline of the chromatogram data.
【請求項19】 請求項17記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記定量値の誤差は、互いに近接す
るピークどうしを分割する信頼度も含めて算出すること
を特徴とするクロマトグラム解析表示装置。
19. The chromatogram analysis display device according to claim 17, wherein the error of the quantitative value is calculated also including the reliability of dividing peaks that are close to each other.
【請求項20】 請求項17記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記定量値の誤差は、統計学的誤差
も含めて算出することを特徴とするクロマトグラム解析
表示装置。
20. The chromatogram analysis display device according to claim 17, wherein the error of the quantitative value is calculated including a statistical error.
【請求項21】 請求項17記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記定量値の誤差は、系統誤差も含
めて算出することを特徴とするクロマトグラム解析表示
装置。
21. The chromatogram analysis display device according to claim 17, wherein the error of the quantitative value is calculated including a systematic error.
【請求項22】 請求項17記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記定量値の誤差は、統計誤差及び
系統誤差も含めて算出することを特徴とするクロマトグ
ラム解析表示装置。
22. The chromatogram analysis display device according to claim 17, wherein the error of the quantitative value is calculated including a statistical error and a systematic error.
【請求項23】 請求項17記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記ピークは、クロマトグラムデー
タの変曲点であることを特徴とするクロマトグラム解析
表示装置。
23. The chromatogram analysis display device according to claim 17, wherein the peak is an inflection point of chromatogram data.
【請求項24】 請求項17記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記誤差算出部は、ピークサイズの
誤差を算出し、上記表示部は、算出されたピークサイズ
の誤差を、さらに表示することを特徴とするクロマトグ
ラム解析表示装置。
24. The chromatogram analysis display device according to claim 17, wherein the error calculation unit calculates a peak size error, and the display unit further displays the calculated peak size error. Characteristic chromatogram analysis display device.
【請求項25】 請求項17又は24記載のクロマトグ
ラム解析表示装置において、上記ピークサイズは、ピー
ク高さであることを特徴とするクロマトグラム解析表示
装置。
25. The chromatogram analysis display device according to claim 17, wherein the peak size is a peak height.
【請求項26】 請求項17又は24記載のクロマトグ
ラム解析表示装置において、上記ピークサイズは、ピー
ク面積であることを特徴とするクロマトグラム解析表示
装置。
26. The chromatogram analysis display device according to claim 17 or 24, wherein the peak size is a peak area.
【請求項27】 請求項17又は24記載のクロマトグ
ラム解析表示装置において、上記ピークサイズは、ピー
ク高さ及びピーク面積であることを特徴とするクロマト
グラム解析表示装置。
27. The chromatogram analysis display device according to claim 17 or 24, wherein the peak size is a peak height and a peak area.
【請求項28】 クロマトグラムデータを解析し、解析
結果を表示するクロマトグラム解析表示装置において、 クロマトグラムデータのピークを検出するピーク検出部
と、 上記クロマトグラムデータのピークを同定するピーク同
定部と、 検出及び同定されたピークの保持時間を算出する保持時
間算出部と、 上記算出されたピークの保持時間の誤差を算出する誤差
算出部と、 上記算出されたピークの保持時間と、この保持時間の誤
差と表示する表示部と、 を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示装
置。
28. A chromatogram analysis display device for analyzing chromatogram data and displaying an analysis result, and a peak detection part for detecting a peak of the chromatogram data, and a peak identification part for identifying a peak of the chromatogram data. , A retention time calculation unit that calculates the retention time of the detected and identified peaks, an error calculation unit that calculates the error of the calculated peak retention time, the calculated peak retention time, and this retention time A chromatogram analysis display device comprising: a display unit for displaying the error of.
【請求項29】 請求項28記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記ピークは、クロマトグラムデー
タの変曲点であることを特徴とするクロマトグラム解析
表示装置。
29. The chromatogram analysis display device according to claim 28, wherein the peak is an inflection point of chromatogram data.
【請求項30】 請求項28記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記誤差算出部は、算出したピーク
の保持時間及びピークの保持時間の誤差に基づいて、ピ
ーク同定の信頼度を算出し、上記表示部は、算出された
ピーク同定の信頼度を、さらに表示することを特徴とす
るクロマトグラム解析表示装置。
30. The chromatogram analysis display device according to claim 28, wherein the error calculation unit calculates the reliability of peak identification based on the calculated peak retention time and the error of the peak retention time, The display unit further displays the calculated reliability of peak identification, which is a chromatogram analysis display device.
【請求項31】 請求項28記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記算出したピークの保持時間の誤
差は、互いに近接するピークどうしを分割する信頼度も
含めて算出することを特徴とするクロマトグラム解析表
示装置。
31. The chromatogram analysis display device according to claim 28, wherein the error in the calculated retention time of the peaks is calculated including the reliability of dividing peaks that are close to each other. Analysis display device.
【請求項32】 クロマトグラムデータを解析し、解析
結果を表示するクロマトグラム解析表示装置において、 複数の数値に基づいて、クロマトグラムの特徴量を算出
する特徴量算出部と、 上記複数の数値に基づいて、これら数値から伝搬される
クロマトグラムの特徴量の誤差を算出する伝搬誤差算出
部と、 上記算出されたクロマトグラムの特徴量と、クロマトグ
ラムの特徴量の誤差とを表示する表示部と、 を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示装
置。
32. In a chromatogram analysis display device for analyzing chromatogram data and displaying an analysis result, a characteristic amount calculation unit for calculating a characteristic amount of a chromatogram based on a plurality of numerical values, and the plurality of numerical values. Based on these, a propagation error calculation unit that calculates the error of the feature amount of the chromatogram propagated from these numerical values, and a display unit that displays the calculated feature amount of the chromatogram and the error of the feature amount of the chromatogram. A chromatogram analysis and display device comprising:
【請求項33】 クロマトグラムデータを解析し、解析
結果を表示するクロマトグラム解析表示方法において、 所定の範囲内のクロマトグラムデータの極大点を同定す
るステップと、 同定された極大点の近辺であり、この極大点を含まない
探索区間を算出するステップと、 算出された探索区間内のクロマトグラムデータに適合す
る多項式曲線を算出するステップと、 上記多項式曲線の変曲点を検出するステップと、 同定及び検出された極大点及び変曲点に対応するピーク
保持時間と、ピーク保持時間の誤差と、ピーク高さと、
ピーク面積と、ピーク面積百分率と、ピーク面積百分率
の誤差とを算出するピーク算出ステップと、 算出された上記ピーク保持時間と、ピーク高さと、ピー
ク面積と、ピーク面積百分率と、ピーク面積百分率の誤
差とを表示手段に表示させるステップと、 を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示方
法。
33. In a chromatogram analysis display method for analyzing chromatogram data and displaying an analysis result, a step of identifying a maximum point of the chromatogram data within a predetermined range, and a step of identifying a maximum point of the identified maximum point. , A step of calculating a search section that does not include the maximum point, a step of calculating a polynomial curve that fits the chromatogram data in the calculated search section, a step of detecting an inflection point of the polynomial curve, and an identification And the peak retention time corresponding to the detected maximum point and inflection point, the error of the peak retention time, and the peak height,
Peak area, peak area percentage, peak calculation step for calculating peak area percentage error, calculated peak retention time, peak height, peak area, peak area percentage, and peak area percentage error And a step of displaying and on the display means.
【請求項34】 請求項33記載のクロマトグラム解析
表示方法において、上記ピーク算出ステップは、ピーク
高さの誤差と、ピーク面積の誤差を算出し、上記表示ス
テップは、上記ピーク保持時間と、ピーク保持時間の誤
差と、ピーク高さと、ピーク高さの誤差と、ピーク面積
と、ピーク面積の誤差と、ピーク面積百分率と、ピーク
面積百分率の誤差とを表示手段に表示させることを特徴
とするクロマトグラム解析表示方法。
34. The chromatogram analysis display method according to claim 33, wherein the peak calculation step calculates a peak height error and a peak area error, and the display step includes the peak retention time and peak. Retention time error, peak height, peak height error, peak area, peak area error, peak area percentage, and peak area percentage error are displayed on the display means. Gram analysis display method.
【請求項35】 請求項33記載のクロマトグラム解析
表示方法において、上記探索区間を算出するステップ
と、多項式曲線を算出するステップとの間に、算出され
た探索区間内に極大点が有るか否かを判定するステップ
と、上記探索区間内に極大点がない場合には、上記探索
区間を所定幅だけ拡張した探索区間を設定するステップ
とをさらに備えることを特徴とするクロマトグラム解析
表示方法。
35. The chromatogram analysis display method according to claim 33, wherein there is a maximum point in the calculated search section between the step of calculating the search section and the step of calculating a polynomial curve. The chromatogram analysis display method further comprising: a step of determining whether or not there is a maximum point in the search section and a step of setting the search section by expanding the search section by a predetermined width.
【請求項36】 請求項33記載のクロマトグラム解析
表示方法において、同定及び検出された極大点及び変曲
点の確からしさを、確率、差、信頼区間又は信頼率であ
る指標で算出するステップと、算出された上記指標を表
示手段に表示させるステップとをさらに備えることを特
徴とするクロマトグラム解析表示方法。
36. The chromatogram analysis display method according to claim 33, wherein the probabilities of the identified and detected local maximum points and inflection points are calculated using indices that are probabilities, differences, confidence intervals, or reliability rates. And a step of displaying the calculated index on a display means.
【請求項37】 クロマトグラムデータを解析し、解析
結果を表示するクロマトグラム解析表示装置において、 試料の含有成分を検出する検出手段と、 上記検出手段により検出されたクロマトグラムデータを
記憶する記憶部と、 上記記憶部に記憶されたクロマトグラムデータの所定範
囲内のデータの極大点を同定するピーク同定部と、 同定された極大点の近辺であり、この極大点を含まない
探索区間を算出する区間算出部と、 算出された探索区間内のクロマトグラムデータに適合す
る多項式曲線を算出するフィッティング部と、 上記多項式曲線の微分値を算出し、算出した微分値から
変曲点を検出する微分特徴点探索部と、 上記同定された極大点及び変曲点に対応するピーク保持
時間と、ピーク保持時間の誤差と、ピーク高さと、ピー
ク面積と、ピーク面積百分率と、ピーク面積百分率の誤
差とを算出する誤差確率算出部と、 算出された上記ピーク保持時間と、ピーク高さと、ピー
ク面積と、ピーク面積百分率と、ピーク面積百分率の誤
差とを表示する表示部と、 を備えることを特徴とするクロマトグラム解析表示装
置。
37. A chromatogram analysis display device for analyzing chromatogram data and displaying an analysis result, wherein a detecting means for detecting a component contained in a sample and a storage section for storing the chromatogram data detected by the detecting means. And a peak identification section for identifying a maximum point of data within a predetermined range of the chromatogram data stored in the storage section, and a search section that is in the vicinity of the identified maximum point and does not include this maximum point. Interval calculation unit, fitting unit that calculates a polynomial curve that fits the calculated chromatogram data in the search interval, and differential feature that calculates the differential value of the above polynomial curve and detects the inflection point from the calculated differential value Point search unit, peak retention time corresponding to the identified maximum point and inflection point, error of peak retention time, peak height, and peak Error probability calculation unit that calculates the product, the peak area percentage, and the error of the peak area percentage, the calculated peak retention time, the peak height, the peak area, the peak area percentage, and the error of the peak area percentage. A chromatogram analysis display device comprising: a display unit for displaying and.
【請求項38】 請求項37記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記誤差確率算出部は、ピーク高さ
の誤差と、ピーク面積の誤差を算出し、上記表示部は、
上記ピーク保持時間と、ピーク保持時間の誤差と、ピー
ク高さと、ピーク高さの誤差と、ピーク面積と、ピーク
面積の誤差と、ピーク面積百分率と、ピーク面積百分率
の誤差とを表示することを特徴とするクロマトグラム解
析表示装置。
38. The chromatogram analysis display device according to claim 37, wherein the error probability calculation unit calculates an error of a peak height and an error of a peak area, and the display unit:
It is possible to display the peak retention time, the peak retention time error, the peak height, the peak height error, the peak area, the peak area error, the peak area percentage, and the peak area percentage error. Characteristic chromatogram analysis display device.
【請求項39】 請求項37記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記誤差確率算出部は、同定及び検
出された極大点及び変曲点の確からしさを、確率、差、
信頼区間又は信頼率である指標で算出し、上記表示部
は、算出された上記指標を表示することを特徴とするク
ロマトグラム解析表示装置。
39. The chromatogram analysis display device according to claim 37, wherein the error probability calculator calculates probability of the identified and detected maximum points and inflection points, a difference,
A chromatogram analysis display device, characterized in that it is calculated with an index that is a confidence interval or a reliability rate, and the display section displays the calculated index.
【請求項40】 請求項37記載のクロマトグラム解析
表示装置において、上記誤差確率算出部は、ピーク面積
を決定するベースラインの形状により、ピーク面積の誤
差を変化させることを特徴とするクロマトグラム解析表
示装置。
40. The chromatogram analysis display device according to claim 37, wherein the error probability calculator changes the peak area error according to the shape of the baseline that determines the peak area. Display device.
【請求項41】 請求項38記載のクロマトグラム解析
表示装置において、誤差算出に含むべき統計学的誤差
と、系統誤差等を上記誤差確率算出部に入力する入力部
を備え、上記誤差確率算出部は、算出したピーク保持時
間の誤差と、ピーク高さの誤差と、ピーク面積の誤差
と、ピーク面積百分率の誤差とに、上記統計的誤差及び
系統誤差を加算して、これら誤差を算出することを特徴
とするクロマトグラム解析表示装置。
41. The chromatogram analysis display device according to claim 38, further comprising an input unit for inputting a statistical error to be included in the error calculation, a systematic error, and the like to the error probability calculation unit, and the error probability calculation unit. Is calculated by adding the above statistical error and systematic error to the calculated peak retention time error, peak height error, peak area error, and peak area percentage error. A chromatogram analysis display device characterized by.
JP6041007A 1993-03-15 1994-03-11 Chromatogram analysis display method and apparatus Expired - Fee Related JP3071085B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6041007A JP3071085B2 (en) 1993-03-15 1994-03-11 Chromatogram analysis display method and apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5-54147 1993-03-15
JP5414793 1993-03-15
JP6041007A JP3071085B2 (en) 1993-03-15 1994-03-11 Chromatogram analysis display method and apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06324029A true JPH06324029A (en) 1994-11-25
JP3071085B2 JP3071085B2 (en) 2000-07-31

Family

ID=26380529

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6041007A Expired - Fee Related JP3071085B2 (en) 1993-03-15 1994-03-11 Chromatogram analysis display method and apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3071085B2 (en)

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0954072A (en) * 1995-08-17 1997-02-25 Shimadzu Corp Chromatograph data processing device
JPH09264889A (en) * 1996-03-28 1997-10-07 Tosoh Corp Processing method of data of measuring equipment of saccharified hemoglobin using liquid chromatography
JPH10111248A (en) * 1996-09-28 1998-04-28 Behring Diagnostics Gmbh Instrumental measuring method for measured variable changing with time
JPH11344482A (en) * 1998-06-02 1999-12-14 Jeol Ltd Mass spectrometer system
JP2000105229A (en) * 1998-09-29 2000-04-11 Hitachi Ltd Concentration calculating device
US6748333B1 (en) 1999-09-27 2004-06-08 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for chromatographic data processing, and chromatograph
WO2006134703A1 (en) * 2005-06-17 2006-12-21 Japan Health Sciences Foundation Method of data correction in liquid chromatography
US7200494B2 (en) 2001-10-30 2007-04-03 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for chromatographic data processing
JP2008151547A (en) * 2006-12-14 2008-07-03 Toyota Motor Corp Analyzer of engine exhaust gas and analysis method of exhaust gas
JP2008542767A (en) * 2005-06-08 2008-11-27 エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン Eliminate dynamic background signals in data-dependent data collection for chromatography / mass spectrometry
WO2009081965A1 (en) * 2007-12-26 2009-07-02 Arkray, Inc. Melting curve analyzing method and melting curve analyzing device
US20120048003A1 (en) * 2010-08-24 2012-03-01 GOLDEN PRODUCTS LLC, Limited Liability Company Vitamin assay methods
JP2014032133A (en) * 2012-08-06 2014-02-20 Hitachi High-Technologies Corp Manual baseline processing method
JP2018096723A (en) * 2016-12-08 2018-06-21 東ソー株式会社 Peak identifying method based on peak gravity center
JP2019174399A (en) * 2018-03-29 2019-10-10 株式会社日立ハイテクサイエンス Chromatograph data processing device, data processing method, and chromatograph
WO2020105566A1 (en) 2018-11-19 2020-05-28 キヤノン株式会社 Information processing device, information processing device control method, program, calculation device, and calculation method
WO2020129895A1 (en) * 2018-12-20 2020-06-25 キヤノン株式会社 Information processing device, method for controlling information processing device, and program
CN111595992A (en) * 2020-06-30 2020-08-28 浙江三青环保科技有限公司 Rapid peak searching method for online gas chromatographic peak
WO2020225864A1 (en) * 2019-05-08 2020-11-12 株式会社島津製作所 Analysis device
JP2021173628A (en) * 2020-04-24 2021-11-01 株式会社島津製作所 Analysis assisting device, analysis assisting method and analysis assisting program
WO2021240993A1 (en) * 2020-05-28 2021-12-02 株式会社島津製作所 Peak tracking device, peak tracking method, and peak tracking program
JPWO2021240939A1 (en) * 2020-05-29 2021-12-02
CN115856185A (en) * 2023-02-28 2023-03-28 杭州泽天春来科技有限公司 Processing method and system of analyzer and readable storage medium
US11841373B2 (en) 2019-06-28 2023-12-12 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus, method for controlling information processing apparatus, and program

Cited By (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0954072A (en) * 1995-08-17 1997-02-25 Shimadzu Corp Chromatograph data processing device
JPH09264889A (en) * 1996-03-28 1997-10-07 Tosoh Corp Processing method of data of measuring equipment of saccharified hemoglobin using liquid chromatography
JPH10111248A (en) * 1996-09-28 1998-04-28 Behring Diagnostics Gmbh Instrumental measuring method for measured variable changing with time
JPH11344482A (en) * 1998-06-02 1999-12-14 Jeol Ltd Mass spectrometer system
JP2000105229A (en) * 1998-09-29 2000-04-11 Hitachi Ltd Concentration calculating device
US6748333B1 (en) 1999-09-27 2004-06-08 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for chromatographic data processing, and chromatograph
US6907355B2 (en) 1999-09-27 2005-06-14 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for chromatographic data processing
US7403859B2 (en) 1999-09-27 2008-07-22 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for chromatographic data processing
US8204696B2 (en) 1999-09-27 2012-06-19 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for chromatographic data processing
US8078411B2 (en) 1999-09-27 2011-12-13 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for chromatographic data processing
US7200494B2 (en) 2001-10-30 2007-04-03 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for chromatographic data processing
JP2008542767A (en) * 2005-06-08 2008-11-27 エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン Eliminate dynamic background signals in data-dependent data collection for chromatography / mass spectrometry
WO2006134703A1 (en) * 2005-06-17 2006-12-21 Japan Health Sciences Foundation Method of data correction in liquid chromatography
JP5119405B2 (en) * 2005-06-17 2013-01-16 財団法人ヒューマンサイエンス振興財団 Data correction method for liquid chromatography
JP2012198245A (en) * 2005-06-17 2012-10-18 Japan Health Science Foundation Data correction method of liquid chromatography
JP2008151547A (en) * 2006-12-14 2008-07-03 Toyota Motor Corp Analyzer of engine exhaust gas and analysis method of exhaust gas
KR101251177B1 (en) * 2007-12-26 2013-04-08 아크레이 가부시키가이샤 Melting profile analysis method and melting profile analysis device
JPWO2009081965A1 (en) * 2007-12-26 2011-05-06 アークレイ株式会社 Melting curve analysis method and melting curve analyzer
US8364415B2 (en) 2007-12-26 2013-01-29 Arkray, Inc. Melting curve analyzing method and melting curve analyzing device
WO2009081965A1 (en) * 2007-12-26 2009-07-02 Arkray, Inc. Melting curve analyzing method and melting curve analyzing device
JP5542438B2 (en) * 2007-12-26 2014-07-09 アークレイ株式会社 Melting curve analysis method and melting curve analyzer
US20120048003A1 (en) * 2010-08-24 2012-03-01 GOLDEN PRODUCTS LLC, Limited Liability Company Vitamin assay methods
JP2014032133A (en) * 2012-08-06 2014-02-20 Hitachi High-Technologies Corp Manual baseline processing method
JP2018096723A (en) * 2016-12-08 2018-06-21 東ソー株式会社 Peak identifying method based on peak gravity center
JP2019174399A (en) * 2018-03-29 2019-10-10 株式会社日立ハイテクサイエンス Chromatograph data processing device, data processing method, and chromatograph
CN113056672A (en) * 2018-11-19 2021-06-29 佳能株式会社 Information processing apparatus, control method for information processing apparatus, program, calculation apparatus, and calculation method
WO2020105566A1 (en) 2018-11-19 2020-05-28 キヤノン株式会社 Information processing device, information processing device control method, program, calculation device, and calculation method
CN113196053A (en) * 2018-12-20 2021-07-30 佳能株式会社 Information processing apparatus, control method for information processing apparatus, and program
WO2020129895A1 (en) * 2018-12-20 2020-06-25 キヤノン株式会社 Information processing device, method for controlling information processing device, and program
CN113711031B (en) * 2019-05-08 2024-01-23 株式会社岛津制作所 Analysis device
WO2020225864A1 (en) * 2019-05-08 2020-11-12 株式会社島津製作所 Analysis device
JPWO2020225864A1 (en) * 2019-05-08 2021-10-21 株式会社島津製作所 Analysis equipment
CN113711031A (en) * 2019-05-08 2021-11-26 株式会社岛津制作所 Analysis device
US11841373B2 (en) 2019-06-28 2023-12-12 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus, method for controlling information processing apparatus, and program
US11829357B2 (en) 2020-04-24 2023-11-28 Shimadzu Corporation Analysis assistance device, analysis assistance method and non-transitory computer readable medium storing analysis assistance program
JP2021173628A (en) * 2020-04-24 2021-11-01 株式会社島津製作所 Analysis assisting device, analysis assisting method and analysis assisting program
WO2021240993A1 (en) * 2020-05-28 2021-12-02 株式会社島津製作所 Peak tracking device, peak tracking method, and peak tracking program
WO2021240939A1 (en) * 2020-05-29 2021-12-02 株式会社島津製作所 Data processing device, data processing method, data processing program, and analysis device
JPWO2021240939A1 (en) * 2020-05-29 2021-12-02
CN111595992A (en) * 2020-06-30 2020-08-28 浙江三青环保科技有限公司 Rapid peak searching method for online gas chromatographic peak
CN115856185A (en) * 2023-02-28 2023-03-28 杭州泽天春来科技有限公司 Processing method and system of analyzer and readable storage medium
CN115856185B (en) * 2023-02-28 2023-06-13 杭州泽天春来科技有限公司 Processing method and system of analyzer and readable storage medium

Also Published As

Publication number Publication date
JP3071085B2 (en) 2000-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3071085B2 (en) Chromatogram analysis display method and apparatus
US5124932A (en) Method for analyzing asymmetric clusters in spectral analysis
US6834530B2 (en) Odor measuring apparatus
Li et al. Psychometric hepatic encephalopathy score for diagnosis of minimal hepatic encephalopathy in China
CN108603867A (en) Blob detection method and data processing equipment
Bayat Selecting multi-rule quality control procedures based on patient risk
CN109239360B (en) Reaction curve abnormity detection method and device
EP0453036A2 (en) Analytical instrument and method of calibrating an analytical instrument
Plebani et al. Hemolysis index: quality indicator or criterion for sample rejection?
JP4951752B2 (en) Mobility normalization device, normalization method, normalization program and self-organizing map, and substance detection method, detection program, detection rule generation method and data structure
US7096715B2 (en) Odor discriminating apparatus
Clerico et al. Harmonization protocols for TSH immunoassays: a multicenter study in Italy
JP3707010B2 (en) General-purpose multicomponent simultaneous identification and quantification method in chromatograph / mass spectrometer
Cai et al. A prediction model with a combination of variables for diagnosis of lung cancer
Zaninotto et al. Understanding and managing interferences in clinical laboratory assays: the role of laboratory professionals
JP4953175B2 (en) Method for improving quantitative accuracy in chromatograph / mass spectrometer
CN111521577B (en) Infrared spectrum quantitative analysis method taking carbon dioxide peak area as reference
Kalivas Determination of optimal parameters for multicomponent analysis using the calibration matrix condition number
JP2004101416A (en) Multi-component analysis apparatus
Ying et al. Fourier transform infrared least-squares methods for the quantitative analysis of multicomponent mixtures of airborne vapors of industrial hygiene concern
Surowiec et al. Quantification of run order effect on chromatography-mass spectrometry profiling data
Finley et al. Immunochemical determination of human immunoglobulins with a centrifugal analyzer.
JP2004093446A (en) Smell measuring apparatus
Zavorsky The stability of pleural fluid pH under slushed ice and room temperature conditions
JP2002508068A (en) Method for detecting the number of multiple components in peaks, bands and signals of all types of chromatograms, electrograms and spectrograms

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080526

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 9

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090526

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 10

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100526

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110526

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110526

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 12

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120526

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120526

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 13

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130526

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees