JPH06295056A - Pellicle for protecting mask - Google Patents

Pellicle for protecting mask

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Publication number
JPH06295056A
JPH06295056A JP8079893A JP8079893A JPH06295056A JP H06295056 A JPH06295056 A JP H06295056A JP 8079893 A JP8079893 A JP 8079893A JP 8079893 A JP8079893 A JP 8079893A JP H06295056 A JPH06295056 A JP H06295056A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pellicle
frame
film
shape
mask
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP8079893A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Iso
英明 磯
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Nippon Precision Circuits Inc
Original Assignee
Nippon Precision Circuits Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Precision Circuits Inc filed Critical Nippon Precision Circuits Inc
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Publication of JPH06295056A publication Critical patent/JPH06295056A/en
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Abstract

PURPOSE:To prevent the breakage of the pellicle film by the deformation of the pellicle film due to variation of atmospheric pressure at the outside of the pellicle and to provide a highly reliable pellicle for protecting a mask. CONSTITUTION:A pellicle frame 11 is formed in a quadrilateral shape and a pair of two opposite sides of this quadrilateral frame 11 is formed into a U shape.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造工程
のうちのフォトリソグラフィー工程に用いられるマスク
保護用ペリクルに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pellicle for mask protection used in a photolithography process in the manufacturing process of semiconductor devices.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造工程には、フォトマス
クのパターンを半導体ウェーハに転写してパターンを形
成するフォトリソグラフィー工程が必要である。この工
程でフォトマスクのパターン面に塵埃等の異物が付着し
ていると、これがウェーハにも転写され、パターン欠陥
が生じ、結果的に半導体装置の製造歩留りが低下する。
このようなことを防ぐために、従来は、マスク保護用ペ
リクルを用いていた。
2. Description of the Related Art A semiconductor device manufacturing process requires a photolithography process for forming a pattern by transferring a pattern of a photomask onto a semiconductor wafer. If foreign matter such as dust adheres to the pattern surface of the photomask in this step, it is also transferred to the wafer, pattern defects occur, and as a result, the manufacturing yield of semiconductor devices decreases.
In order to prevent such a situation, conventionally, a mask protecting pellicle has been used.

【0003】図2は従来のマスク保護用ペリクルを模式
的に示した断面図で、21はペリクルフレーム、22は
ペリクル膜、23はフォトマスクである。ペリクルフレ
ーム21の上面には、粘着剤を用いて透光性のペリクル
膜22を張設している。ペリクルフレームの下面にも粘
着剤を塗布し、フォトマスク上にペリクルフレームを装
着している。
FIG. 2 is a sectional view schematically showing a conventional mask protecting pellicle, in which 21 is a pellicle frame, 22 is a pellicle film, and 23 is a photomask. On the upper surface of the pellicle frame 21, a translucent pellicle film 22 is stretched with an adhesive. An adhesive is also applied to the lower surface of the pellicle frame, and the pellicle frame is mounted on the photomask.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】図2に示すように従来
のマスク保護用ペリクルは、ペリクルフレーム21のペ
リクル膜22が装着される面が平坦なため、ペリクル膜
22は平坦に張設されていた。そのため、従来のマスク
保護用ペリクルは、ペリクル外部の気圧がペリクル内部
より低くなると、ペリクル膜22が凸状になるので、凸
状のペリクル膜22がフォトマスクのケースに触れて傷
ついたり、破れることがあり、フォトマスクのパターン
面への塵埃等の付着防止というペリクル本来の機能を果
さなくなるという問題点があった。
As shown in FIG. 2, in the conventional mask protecting pellicle, since the surface of the pellicle frame 21 on which the pellicle film 22 is mounted is flat, the pellicle film 22 is stretched flat. It was Therefore, in the conventional mask protecting pellicle, when the atmospheric pressure outside the pellicle becomes lower than that inside the pellicle, the pellicle film 22 becomes convex, so that the convex pellicle film 22 may be touched or damaged by the photomask case. However, there is a problem in that the pellicle's original function of preventing the adhesion of dust and the like to the pattern surface of the photomask cannot be fulfilled.

【0005】本発明の目的は、ペリクル外部の気圧の変
動に伴うペリクル膜の形状変化によるペリクル膜破損を
防止し、信頼性の高いマスク保護用ペリクルを提供する
ことである。
An object of the present invention is to provide a highly reliable mask protecting pellicle which prevents the pellicle film from being damaged due to a change in shape of the pellicle film due to a change in atmospheric pressure outside the pellicle.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明におけるマスク保
護用ペリクルは、ペリクルフレームのペリクル膜が装着
される面が凹状になっていることを特徴とするものであ
る。また、ペリクルフレームを四辺形に形成した場合
は、この四辺形のペリクルフレームのうち、1組の対向
する二辺のペリクルフレームがそれぞれU字形状になっ
ていることを特徴とするものである。
The mask protecting pellicle according to the present invention is characterized in that the surface of the pellicle frame on which the pellicle film is mounted is concave. Further, when the pellicle frame is formed in a quadrilateral shape, one set of two pellicle frames facing each other out of the quadrilateral pellicle frame has a U shape.

【0007】[0007]

【実施例】図1(A)、(B)および(C)は、実施例
のマスク保護用ペリクルを模式的に示した図である。こ
のうち(A)はペリクル外部が常圧の場合の斜視図、
(B)はペリクル外部の気圧が下がった場合の斜視図で
あり、それぞれペリクル表面の膨らみ状態を網目で示し
ている。また、(C)は(A)および(B)のc−c部
分の断面図である。
EXAMPLE FIGS. 1A, 1B and 1C are schematic views of a mask protecting pellicle of an example. Of these, (A) is a perspective view when the outside of the pellicle is at normal pressure,
(B) is a perspective view when the atmospheric pressure outside the pellicle is lowered, and each swelling state of the pellicle surface is shown by a mesh. Further, (C) is a cross-sectional view of the cc portion of (A) and (B).

【0008】本実施例が図2の従来例と異なる点は、四
辺形のペリクルフレーム11のうち、1組の対向する二
辺のペリクルフレームがそれぞれU字形状をなし、フレ
ーム中央部がフレームの最高部より0.5〜3mm程度
低くなっていることである。ペリクルフレーム11への
ペリクル膜12やフォトマスク13の設置方法は、従来
例と同様である。
This embodiment is different from the conventional example of FIG. 2 in that, in the quadrilateral pellicle frame 11, a pair of opposing two side pellicle frames each have a U-shape, and the central portion of the frame is the frame. It is about 0.5 to 3 mm lower than the highest part. The method of installing the pellicle film 12 and the photomask 13 on the pellicle frame 11 is the same as in the conventional example.

【0009】次に、図1(A)〜(C)に従って、実施
例の動作を説明する。
Next, the operation of the embodiment will be described with reference to FIGS.

【0010】ペリクル外部が常圧の場合は、ペリクル膜
12の形状変化はないので、(A)および(C)のペリ
クル膜12aのようになる。ペリクル外部の気圧が下が
った場合、ペリクル膜12は、(B)および(C)のペ
リクル膜12bのように外側に向かって膨らんだ状態に
なるが、通常の気圧変化ではペリクル膜12bがペリク
ルフレーム11の上面より高くなることはない。そこ
で、外側に向かって膨らんだ状態のペリクル膜12bが
フォトマスクのケースに触れて傷ついたり、破れること
はない。
When the outside of the pellicle is at atmospheric pressure, the shape of the pellicle film 12 does not change, so that the pellicle film 12a is as shown in (A) and (C). When the atmospheric pressure outside the pellicle decreases, the pellicle film 12 bulges outward like the pellicle film 12b of (B) and (C). It is never higher than the upper surface of 11. Therefore, the pellicle film 12b in a state of bulging outward does not touch or damage the case of the photomask.

【0011】尚、上記実施例ではペリクルフレームの形
状を四辺形としたが、これに限るものではなく、輪形等
の形状でもよい。
In the above embodiment, the shape of the pellicle frame is a quadrangle, but the shape is not limited to this and may be a ring shape or the like.

【0012】[0012]

【発明の効果】本発明では、ペリクルフレームのペリク
ル膜が装着される面が凹状になっているため(またはペ
リクルフレームを四辺形に形成した場合は、この四辺形
のペリクルフレームのうち、1組の対向する二辺のペリ
クルフレームがそれぞれU字形状になっているため)ペ
リクル外部の気圧の変動に伴うペリクル膜の形状変化に
よるペリクル膜破損を防止し、信頼性の高いマスク保護
用ペリクルを提供することができる。
According to the present invention, since the surface of the pellicle frame on which the pellicle film is mounted is concave (or when the pellicle frame is formed in a quadrilateral shape, one set of the quadrilateral pellicle frame is used). (Because the pellicle frames on the two sides facing each other are U-shaped respectively), the pellicle film is prevented from being damaged due to the shape change of the pellicle film due to the fluctuation of the atmospheric pressure outside the pellicle, and a highly reliable mask protection pellicle is provided. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例のマスク保護用ペリクルを模式
的に示した図である。
FIG. 1 is a diagram schematically showing a mask protection pellicle according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来例を模式的に示した断面図である。FIG. 2 is a sectional view schematically showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11………ペリクルフレーム 12a,12b………ペリクル膜 11 ... Pellicle frame 12a, 12b ... Pellicle film

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ペリクルフレームのペリクル膜が装着さ
れる面が凹状になっていることを特徴とするマスク保護
用ペリクル。
1. A pellicle for mask protection, wherein a surface of the pellicle frame on which the pellicle film is mounted is concave.
【請求項2】 ペリクルフレームを四辺形に形成し、前
記ペリクルフレームのうち、1組の対向する二辺のペリ
クルフレームがそれぞれU字形状になっていることを特
徴とするマスク保護用ペリクル。
2. A mask protecting pellicle characterized in that a pellicle frame is formed in a quadrilateral shape, and a pair of opposing two sides of the pellicle frame are U-shaped.
JP8079893A 1993-04-07 1993-04-07 Pellicle for protecting mask Withdrawn JPH06295056A (en)

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JP8079893A JPH06295056A (en) 1993-04-07 1993-04-07 Pellicle for protecting mask

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JP8079893A JPH06295056A (en) 1993-04-07 1993-04-07 Pellicle for protecting mask

Publications (1)

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JPH06295056A true JPH06295056A (en) 1994-10-21

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Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8079893A Withdrawn JPH06295056A (en) 1993-04-07 1993-04-07 Pellicle for protecting mask

Country Status (1)

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JP (1) JPH06295056A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011075662A (en) * 2009-09-29 2011-04-14 Toppan Printing Co Ltd Pellicle, photomask, and semiconductor device
WO2019225503A1 (en) * 2018-05-25 2019-11-28 日本特殊陶業株式会社 Pellicle frame, photomask, and method for manufacturing pellicle frame

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011075662A (en) * 2009-09-29 2011-04-14 Toppan Printing Co Ltd Pellicle, photomask, and semiconductor device
WO2019225503A1 (en) * 2018-05-25 2019-11-28 日本特殊陶業株式会社 Pellicle frame, photomask, and method for manufacturing pellicle frame
JPWO2019225503A1 (en) * 2018-05-25 2021-07-08 日本特殊陶業株式会社 Manufacturing method of pellicle frame, photomask and pellicle frame

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