JPH06288933A - Method and device for detecting surface flaw of sheet or the like - Google Patents
Method and device for detecting surface flaw of sheet or the likeInfo
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- JPH06288933A JPH06288933A JP9887593A JP9887593A JPH06288933A JP H06288933 A JPH06288933 A JP H06288933A JP 9887593 A JP9887593 A JP 9887593A JP 9887593 A JP9887593 A JP 9887593A JP H06288933 A JPH06288933 A JP H06288933A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、編機、織機、印刷機、
ラミネート機、検反機等において、編地や織地、壁張
地、壁紙、クラフト紙、フイルム、不織布等のシート類
（以下、シート類と言う。）の疵欠点を検出する方法お
よび装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a knitting machine, a loom, a printing machine,
A method and an apparatus for detecting defects in sheets (hereinafter referred to as sheets) such as a knitted fabric, a woven fabric, a wall-covered fabric, a wallpaper, a kraft paper, a film, a non-woven fabric, etc. in a laminating machine, an inspecting machine, etc. Is.
【０００２】[0002]
【従来の技術】シート類の疵欠点の検出にはＣＣＤカメ
ラが利用されており、そのＣＣＤカメラによる疵欠点の
検出方法では、標準状態に調製されたシート類から得ら
れる基準値をコンピューターに入力しておき、被検シー
ト類から得られる測定値と基準値との差が一定限度を超
える場合に、その測定値は疵欠点を標示するものと判定
している（特開昭５８−１６０８５２、特開昭６２−２
３１０６９）。2. Description of the Related Art A CCD camera is used for detecting flaws and defects in sheets, and in the method for detecting flaws and defects by the CCD camera, a standard value obtained from sheets prepared in a standard state is input to a computer. Incidentally, when the difference between the measured value obtained from the test sheet and the reference value exceeds a certain limit, it is determined that the measured value indicates a flaw defect (Japanese Patent Laid-Open No. 58-160852). JP 62-2
31069).
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】従来技術では疵欠点の
検出に先立って、予め標準状態に調製されたシート類を
用意し、その標準状態を測定して基準値を求めておき、
被検シート類が変わるたびに基準値をコンピューターに
入力し直さなければならないのであるが、シート類の中
でも衣料品や内装材に使用される布帛のデザインは極め
て流行性に富み、その繊維素材、糸条の種類、編・織組
織、図柄・模様等の仕様は極めて多様であるから、布帛
の仕様の変化に対応し難い。又、織機や編機における疵
欠点検出方法として、切断して食み出た経糸を赤外線に
よって検出する方法があるが、特に経編機におけるよう
に緻密に整経された経糸では、切断した経糸が隣の切断
しない経糸に絡まって編み立て部位へと連れ込まれ、そ
の切断しない経糸と一緒に編み込まれて検出されないこ
ともあり、又、経糸が細くなるにつれて赤外線による検
出精度も鈍化するので疵欠点の検出に完全を期し難く、
経編機は織機に比して高速稼働するので糸切れ検出ミス
は、編地のカットロスを大きくし経済的ダメージを与え
ることになる。そこで本発明は、シート類の仕様の変化
に迅速に対応し得、検反機のみならず編機や織機、印刷
機、ラミネート機等のシート類製造装置に直接設置して
糸切れその他の表面疵欠点の早期発見に効果的な検出装
置を得ることを目的とするものである。In the prior art, prior to the detection of flaw defects, sheets prepared in a standard state were prepared in advance, and the standard state was measured to obtain a reference value.
It is necessary to re-enter the standard value into the computer every time the sheets to be inspected change, but among the sheets, the design of the fabric used for clothing and interior materials is extremely fashionable, and its fiber material, Since the specifications of yarn types, knitting / woven structures, designs / patterns, etc. are extremely diverse, it is difficult to respond to changes in the specifications of fabrics. Further, as a flaw defect detection method in a loom or a knitting machine, there is a method of detecting a warp that has been cut out and ooze out by infrared rays, but particularly in a warp that is precisely warped as in a warp knitting machine, the cut warp May be entangled with the adjacent uncut warp and taken to the knitting site, and may not be detected because it is knitted together with the uncut warp, and as the warp becomes thinner, the detection accuracy with infrared rays becomes weaker. Is difficult to detect completely,
Since the warp knitting machine operates at a higher speed than the loom, a missed yarn breakage detection increases the cut loss of the knitted fabric and causes economic damage. Therefore, the present invention can quickly respond to changes in the specifications of sheets, and can be directly installed in sheet manufacturing apparatuses such as a knitting machine, a loom, a printing machine, and a laminating machine as well as an inspecting machine to cut yarns and other surfaces. The object of the present invention is to obtain a detection device effective for early detection of flaw defects.
【０００４】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明は、（ａ） シー
ト類１１の影像１２の、シート類の幅方向をＸ軸とし長
さ方向をＹ軸とするＸ・Ｙ座標上の輝度を測定し、
（ｂ） シート類の幅方向（Ｘ）の各位置（Ｘ1 ，
Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）における輝度の測定値Ｙを、シー
ト類の幅方向の各位置毎（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）
に標示しヒストグラム化してヒストグラム曲線１３を求
め、（ｃ） そのヒストグラム曲線１３にＸ軸方向に続
く基準線１４を設定し、（ｄ） その基準線１４に交叉
するヒストグラム曲線１３の複数個の交点Ａ・Ｂ・Ｃ・
Ｄ・Ｅ………のＸ軸方向におけるリピートの規則性の有
無によってシート類の表面のの疵欠点１５を検出するこ
とを特徴とするものである。According to the present invention, (a) the brightness of an image 12 of a sheet 11 on XY coordinates with the width direction of the sheet as the X axis and the length direction as the Y axis is measured. Then
(B) Each position in the width direction (X) of the sheets (X 1 ,
X 2, X 3, the measurement value Y of the luminance in .........), each position in the width direction of the sheets (X 1, X 2, X 3, .........)
The histogram curve 13 is obtained by making a histogram on the display, and (c) a reference line 14 continuing in the X-axis direction is set on the histogram curve 13, and (d) a plurality of intersections of the histogram curve 13 intersecting the reference line 14. A ・ B ・ C ・
It is characterized in that the flaw defect 15 on the surface of the sheet is detected by the presence or absence of the regularity of the repeats in the D-E ... X-axis direction.
【０００５】本発明に係るシート類の表面疵欠点検出装
置２９は、（ａ） シート類１１の影像１２を、シート
類の幅方向をＸ軸とし長さ方向をＹ軸とするＸ・Ｙ座標
に写し出すＣＣＤカメラ１６と、（ｂ） そのＸ・Ｙ座
標上の影像１２の各位置の輝度を測定する輝度測定素子
１７と、（ｃ） その測定値Ｙをシート類の幅方向の各
位置毎（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）に標示しヒストグ
ラム化してシート類の幅方向に続くヒストグラム曲線１
３に変換するグラフ化素子１８と、（ｄ） そのヒスト
グラム曲線１３にＸ軸方向に続く基準線１４を設定する
基準設定素子１９と、（ｅ） その基準線１４の位置を
調整する基準線調整素子２０と、（ｆ） ヒストグラム
曲線１３と基準線１４を記憶し、基準線１４に交叉する
ヒストグラム曲線１３の複数個の交点Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ・
Ｅ………のＸ軸方向におけるリピートの規則性の有無を
検出するリピート判別素子２１とによって構成される。A sheet surface flaw defect detecting apparatus 29 according to the present invention comprises: (a) XY coordinates of the image 12 of the sheet 11 in which the width direction of the sheet is the X axis and the length direction is the Y axis. A CCD camera 16 which is projected on the substrate, (b) a brightness measuring element 17 for measuring the brightness of each position of the image 12 on the X and Y coordinates, and (c) the measured value Y for each position in the width direction of the sheets. (X 1 , X 2 , X 3 , ...) Marked as a histogram and continued in the width direction of the sheets
A graphing element 18 for converting into 3; (d) a reference setting element 19 for setting a reference line 14 continuing in the X-axis direction on the histogram curve 13; and (e) a reference line adjustment for adjusting the position of the reference line 14. The element 20, (f) a plurality of intersections A, B, C, D, and D of the histogram curve 13 that stores the histogram curve 13 and the reference line 14 and intersects the reference line 14.
A repeat discriminating element 21 for detecting the presence or absence of the regularity of repeats in the X-axis direction of E.
【０００６】ＣＣＤカメラ１６は、（ｇ） ２本のガイ
ドロール２２・２３の間においてシート類１１が接触し
て通過するガイドバー２４を設け、（ｈ） そのガイド
バー２４のシート類１１に接触する位置に、シート類の
幅方向（Ｘ）に続く光透過スリット２５を設け、（ｉ）
ガイドバー２４を通過するシート類１１を境とする光
透過スリット２５の片側に、光源２６を光透過スリット
２５に平行に設置し、（ｊ） 他の片側に光透過スリッ
ト２５に平行にレール上３３を設置し、（ｋ） そのレ
ール上３３を往復走行するキャリア３４に、光透過スリ
ット２５に向けて搭載するとよい。このようにＣＣＤカ
メラ１６と光源２６をガイドバー２４の前後に設置する
と、疵欠点検出装置２９がコンパクトに形成され、編機
や織機に併設して糸切れ検出に適用し易くなる。The CCD camera 16 is provided with (g) a guide bar 24 through which the sheets 11 come in contact between two guide rolls 22 and 23, and (h) the sheets 11 of the guide bar 24 are brought into contact with each other. A light transmission slit 25 continuous in the width direction (X) of the sheets at the position where
The light source 26 is installed in parallel with the light transmitting slit 25 on one side of the light transmitting slit 25 with the sheet 11 passing through the guide bar 24 as a boundary, and (j) on the rail in parallel with the light transmitting slit 25 on the other side. 33 is installed, and (k) the carrier 34 that reciprocates on the rail 33 may be mounted toward the light transmission slit 25. When the CCD camera 16 and the light source 26 are installed in front of and behind the guide bar 24 in this way, the flaw defect detecting device 29 is formed compactly, and it is easy to apply it to a knitting machine or a loom to detect yarn breakage.
【０００７】経編地では、その編目が細かく、編み込ま
れる経糸が細デニールのマルチフイラメント糸であっ
て、糸切れによって生じる疵欠点の検出が困難な場合に
は、ＣＣＤカメラ側１６にブラックライト２７を設置し
て編地１１を照らし、又、蛍光素材を経糸に付与してお
くとよい。In the warp knitted fabric, when the stitches are fine and the warp to be knitted is a fine denier multifilament yarn, and it is difficult to detect a flaw defect caused by yarn breakage, the black light 27 is provided on the CCD camera side 16. Is installed to illuminate the knitted fabric 11, and a fluorescent material may be applied to the warp.
【０００８】[0008]
【実施例】図１と図２は、経編機に併設された疵欠点検
出装置２９を図示し、３０は経糸をスイングする筬であ
り、３１はシンカー、３２はニードルであり、編地１１
は、第１ガイドロール２２と第２ガイドロール２３によ
って編み立て部位２８から引き出される。編地１１に光
を投射する蛍光灯２６は筒状のガイドバー２４の中に納
められている。筒状ガイドバー２４には軸芯方向に続く
スリット２５が付けられており、蛍光灯２６の光は反射
板３５によってスリット２５へと集められる。ＣＣＤカ
メラ１６は、そのスリット２５に平行に支架されたレー
ル上３３を走行するキャリア３４に搭載されており、ス
リット上２５を移動しつつスリット２５からの蛍光灯２
６の透過光によって編地１１の影像１２を取り出す。キ
ャリア３４にはブラックライト２７が搭載されており、
蛍光灯２６の透過光によっては編地１１の影像１２を取
り出し得ない場合に使用される。1 and 2 show a flaw defect detecting device 29 installed in a warp knitting machine, 30 is a reed for swinging a warp yarn, 31 is a sinker, 32 is a needle, and the knitted fabric 11
Is pulled out from the knitting site 28 by the first guide roll 22 and the second guide roll 23. A fluorescent lamp 26 that projects light onto the knitted fabric 11 is housed in a cylindrical guide bar 24. The cylindrical guide bar 24 is provided with a slit 25 continuing in the axial direction, and the light of the fluorescent lamp 26 is collected into the slit 25 by the reflecting plate 35. The CCD camera 16 is mounted on a carrier 34 that travels on a rail 33 that is supported in parallel with the slit 25. The CCD camera 16 moves on the slit 25 and the fluorescent lamp 2 from the slit 25 moves.
The image 12 of the knitted fabric 11 is taken out by the transmitted light of 6. The black light 27 is mounted on the carrier 34,
It is used when the image 12 of the knitted fabric 11 cannot be taken out due to the transmitted light of the fluorescent lamp 26.
【０００９】ＣＣＤカメラ内１６には、多数の光電素子
が直交するＸ軸とＹ軸とのＸ・Ｙ座標上に縦横整然と配
列されており、そのＸ軸は編地１１の幅方向に、Ｙ軸は
編地１１の長さ方向に設定されており、編地の影像１２
の細部の輝度は、それぞれＸ・Ｙ座標の点として各光電
素子に取り出されることになる。各光電素子に取り出さ
れた編地の影像１２の輝度は、輝度測定素子１７によっ
て、Ｘ・Ｙ座標上の各位置毎に測定され、黒点３６と白
点３７に２値化されて編地の幅方向の各位置毎（Ｘ1 ，
Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）に集計される。尚、慣用されるＣ
ＣＤカメラでは、縦横各５１２ドットで、それぞれ０〜
２５５階調に輝度（明るさ）が変換されるようになって
おり、所要の階調を基準にして０（階調）か２５５（階
調）に２値化すればよいことになる。In the CCD camera 16, a large number of photoelectric elements are arranged vertically and horizontally on the X and Y coordinates of the X axis and the Y axis which are orthogonal to each other, and the X axis is in the width direction of the knitted fabric 11, The axis is set in the longitudinal direction of the knitted fabric 11, and the image 12 of the knitted fabric is
The luminances of the details are extracted by the photoelectric elements as points of X and Y coordinates, respectively. The luminance of the image 12 of the knitted fabric taken out to each photoelectric element is measured by the luminance measuring element 17 at each position on the X and Y coordinates, and is binarized into a black dot 36 and a white dot 37 to obtain the knitted fabric. For each position in the width direction (X 1 ,
X 2 , X 3 , ………) Incidentally, the commonly used C
With a CD camera, it has 512 dots each in the vertical and horizontal directions,
Luminance (brightness) is converted into 255 gradations, and it is sufficient to perform binarization into 0 (gradation) or 255 (gradation) based on a required gradation.
【００１０】２値化された測定値の集計値Ｙはグラフ化
素子１８に送られ、編地の幅方向の各位置（Ｘ1 ，
Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）の順に並べられてヒストグラム化
（Ｘ軸２値投影）され、編地の幅方向に続くヒストグラ
ム曲線１３に変換されてリピート判別素子２１に記憶さ
れる。このリピート判別素子２１には、基準設定素子１
９によって、ヒストグラム曲線１３に対するＸ軸方向に
続く基準線１４が設定される。その場合、通常得られる
集計値Ｙにはバラツキがあり、ヒストグラム曲線１３の
波形が乱れることが多いので、平滑化素子４０を通し、
移動平均法によってヒストグラム曲線１３の波形を平滑
化する。The totalized value Y of the binarized measurement values is sent to the graphing element 18, and the respective positions (X 1 , X 1 ,
X 2 , X 3 , ...) are arranged in this order to form a histogram (X-axis binary projection), converted into a histogram curve 13 continuing in the width direction of the knitted fabric, and stored in the repeat discrimination element 21. The repeat discriminating element 21 includes a reference setting element 1
9 sets the reference line 14 that follows the histogram curve 13 in the X-axis direction. In this case, the normally obtained total value Y has variations and the waveform of the histogram curve 13 is often disturbed.
The waveform of the histogram curve 13 is smoothed by the moving average method.
【００１１】一般に無地物の編地１１では、単純なルー
プと隙間が繰り返されており、そのヒストグラム曲線１
３の頂点の間（３８・３８）と底点の間（３９・３９）
が接近するので、そのヒストグラム曲線１３は直線状に
なる。一方、柄物の編地１１では、その図柄・模様が形
状やサイズの異なる数種のループや隙間によって構成さ
れ一定のリピートをもって編地の幅方向に繰り返し描出
され、そのヒストグラム曲線１３の頂点の間（３８・３
８）と底点の間（３９・３９）は図柄・模様のリピート
に相応する分だけ離れることになり、又、仮に図柄・模
様の１リピート内のループや隙間の輝度が細かく複雑に
変化していても、それを全体視するときは輝度の変化が
看取されるものであるから、そのヒストグラム曲線１３
は波形曲線になる。何れにしても標準状態にある編地１
１のヒストグラム曲線１３は、編地１１の幅方向に規則
性、即ち、無地物では無限に続くリピートを持ち、柄物
では一定のリピートを持つものとして取り出され、リピ
ート判別素子２１に記憶される。Generally, in a plain fabric knitted fabric 11, a simple loop and gaps are repeated, and its histogram curve 1
Between the vertices of 3 (38 ・ 38) and the bottom point (39 ・ 39)
, The histogram curve 13 becomes linear. On the other hand, in the knitted fabric 11 of the pattern, the pattern / pattern is composed of several kinds of loops and gaps having different shapes and sizes and is repeatedly drawn in the width direction of the knitted fabric with a constant repeat, and between the vertices of the histogram curve 13. (38/3
8) and the bottom point (39/39) will be separated by the amount corresponding to the repeat of the pattern / pattern, and the brightness of loops and gaps within one repeat of the pattern / pattern will change finely and intricately. However, since the change in brightness is observed when the whole is viewed, the histogram curve 13
Becomes a wavy curve. In any case, the knitted fabric 1 in the standard condition
The histogram curve 13 of No. 1 is taken out as having regularity in the width direction of the knitted fabric 11, that is, an infinite repeat for a plain fabric and a constant repeat for a patterned fabric, and stored in the repeat discrimination element 21.
【００１２】基準線１４は、ヒストグラム曲線１３の頂
点３８と底点３９との起伏度とリピートの大きさに応
じ、（１） 編地のループが大小変化し図柄・模様のリ
ピートが大きくヒストグラム曲線１３の起伏度とリピー
トが大きい柄物では、ヒストグラムの面積平均によりヒ
ストグラム曲線１３の頂点３８と底点３９の間に、
（２） 編地のループが大小変化するが図柄・模様のリ
ピートが細かくヒストグラム曲線１３の起伏度が大きく
リピートが小さい柄物、又は、図柄・模様のリピートが
大きいが編地のループが細かく大小変化が少なくヒスト
グラム曲線１３の起伏度が小さくリピートが大きい柄
物、或いは又、図柄・模様のリピートが小さく編地のル
ープも細かい無地柄では、ヒストグラム曲線１３の頂点
３８の上側か底点３９の下側の一方又は双方に設定す
る。その設定位置は被検編地１１の仕様に応じて基準線
調整素子２０により調整されリピート判別素子２１に記
憶される。その結果、リピート判別素子２１には、
（１） 基準線１４をヒストグラム曲線１３の頂点３８
と底点３９の間に設定した場合には、基準線上１４にヒ
ストグラム曲線１３との交点Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ・Ｅ………
が一定のリピートをもって現れるものとして記憶され、
（２） 基準線１４をヒストグラム曲線１３の頂点３８
の上側か底点３９の下側の一方又は双方に設定した場合
には、基準線上１４にヒストグラム曲線１３との交点が
現れないものして記憶されることになる。The reference line 14 is (1) the loop of the knitted fabric changes in size depending on the undulation degree of the apex 38 and the bottom point 39 of the histogram curve 13 and the size of the repeat, and the repeat of the pattern / pattern is large. In the case of a patterned product having a large undulation degree of 13 and a large repeat, the area average of the histogram is used to provide a space between the vertex 38 and the bottom point 39 of the histogram curve 13,
(2) The loop of the knitted fabric changes in size, but the repeats of the pattern / pattern are fine and the histogram curve 13 has a large undulation and the repeats are small, or the repeat of the pattern / pattern is large but the loop of the knitted fabric is small and changes in size In the case of a pattern having a small number of histogram curves 13 with a small undulation and a large repeat, or a plain pattern with a small pattern / pattern repeat and a fine knitted fabric loop, either above the vertex 38 of the histogram curve 13 or below the bottom point 39. Either one or both. The set position is adjusted by the reference line adjusting element 20 according to the specifications of the test knitted fabric 11 and stored in the repeat determining element 21. As a result, the repeat discrimination element 21
(1) The reference line 14 is the apex 38 of the histogram curve 13.
And the bottom point 39, the intersection points A, B, C, D, E with the histogram curve 13 on the reference line 14 ...
Are remembered as appearing with a constant repeat,
(2) The reference line 14 is the apex 38 of the histogram curve 13.
If one or both of the upper side and the lower side of the bottom point 39 are set, it is stored as if the intersection with the histogram curve 13 does not appear on the reference line 14.
【００１３】而して、編地１１に疵欠点１５が生じる
と、疵欠点１５は意図的に形成されるものではなく従っ
て編地の幅方向に規則的に現われることはないので、
（１） 基準線１４をヒストグラム曲線１３の頂点３８
と底点３９の間に設定した場合には、その疵欠点箇所１
５に該当する箇所において基準線上１４に交叉するヒス
トグラム曲線１３の交点Ｐ・Ｑの間隔と他の交点Ａ・Ｂ
・Ｃ・Ｄ・Ｅ………の各間隔との間に不一致が生じ、
（２） 基準線１４をヒストグラム曲線１３の頂点３８
の上側か底点３９の下側の一方又は双方に設定した場合
には、その疵欠点箇所１５に該当する箇所において基準
線上１４にヒストグラム曲線１３が交点Ｐ・Ｑだけで交
叉し、それら交点Ｐ・Ｑが基準線上１４に規則的に現わ
れることはないので、それらの交点Ｐ・Ｑのリピートの
有無、つまりヒストグラム曲線１３の波形の崩れによっ
て疵欠点１５が検出されることになる。これらの交点Ｐ
・Ｑのリピートの有無は、白黒２値（３８・３９）で示
されるヒストグラム曲線１３と基準線１４との交点間Ａ
とＢ，ＣとＤ，………，ＰとＱ，………に含まれる白点
３９または黒点３８の数のリピートの規則性の有無を検
出することも出来る。When the flaws 15 occur on the knitted fabric 11, the flaws 15 are not formed intentionally and therefore do not appear regularly in the width direction of the knitted fabric.
(1) The reference line 14 is the apex 38 of the histogram curve 13.
If it is set between the bottom point 39 and the bottom point 39, the defect point 1
The interval between the intersection points P and Q of the histogram curve 13 that intersects with the reference line 14 at the location corresponding to 5 and the other intersection points A and B
・ A mismatch occurs between the C, D, E, ... intervals,
(2) The reference line 14 is the apex 38 of the histogram curve 13.
When one or both of the upper side and the lower side of the bottom point 39 are set, the histogram curve 13 crosses only on the intersection points P and Q on the reference line 14 at the spot corresponding to the flaw defect portion 15. Since Q does not appear regularly on the reference line 14, the flaw defect 15 is detected by the presence or absence of the repeat of the intersection points P and Q, that is, the collapse of the waveform of the histogram curve 13. These intersection points P
The presence / absence of Q repeats is determined by the distance A between the intersections of the histogram curve 13 and the reference line 14, which are represented by black and white binary values (38/39)
It is also possible to detect the presence or absence of the regularity of the repeat of the number of white dots 39 or black dots 38 included in B and C, D and C ,.
【００１４】図３〜６は、疵欠点検出装置２９における
編地の影像１２と検出データＹとの関係を図示し、図３
と図５は編地が無疵の場合を図示し、図４と図６は編地
が疵欠点を有する場合を図示する。これらの図面におい
て、図３（ａ）と図４（ａ）は、ＣＣＤカメラに取り入
れられた柄物の編地の２値化された影像を示す。図３
（ｂ）と図４（ｂ）は、ＣＣＤカメラに取り入れられた
編地の影像の各位置の輝度の２値化した測定値（黒点）
を幅方向の各位置毎（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）に集
計した集計値Ｙを幅方向の各位置（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，
………）の順に並べたヒストグラムの頂点を結んだヒス
トグラム曲線１３と幅方向の各位置Ｘとの関係を図示す
る。図３（ｃ）と図４（ｃ）は、それぞれ図３（ｂ）と
図４（ｂ）に図示するヒストグラム曲線１３の一部拡大
図である。図５（ａ）と図６（ａ）は、ＣＣＤカメラに
取り入れられた無地物の編地の２値化された影像を示
す。図５（ｂ）と図６（ｂ）は、ＣＣＤカメラに取り入
れられた編地の影像の各位置の輝度の２値化した測定値
（黒点）を幅方向の各位置毎（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，……
…）に集計した集計値Ｙを幅方向の各位置（Ｘ1 ，
Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）の順に並べたヒストグラムの頂点
を結んだヒストグラム曲線１３と幅方向の各位置Ｘとの
関係を図示する。図５（ｃ）と図６（ｃ）は、それぞれ
図５（ｂ）と図６（ｂ）に図示するヒストグラム曲線１
３の一部拡大図である。3 to 6 show the relationship between the image 12 of the knitted fabric and the detection data Y in the flaw defect detecting device 29, and FIG.
5 and 6 show the case where the knitted fabric is flawless, and FIGS. 4 and 6 show the case where the knitted fabric has flaw defects. In these figures, FIGS. 3 (a) and 4 (a) show the binarized image of the knitted fabric of the pattern taken into the CCD camera. Figure 3
4B and FIG. 4B are binarized measurement values (black dots) of the brightness at each position of the image of the knitted fabric taken into the CCD camera.
Is added up for each position in the width direction (X 1 , X 2 , X 3 , ...), and the totalized value Y is added for each position in the width direction (X 1 , X 2 , X 3 ,
The relationship between the histogram curve 13 connecting the vertices of the histograms arranged in the order of ... And the respective positions X in the width direction is illustrated. 3C and 4C are partially enlarged views of the histogram curve 13 illustrated in FIGS. 3B and 4B, respectively. 5 (a) and 6 (a) show a binarized image of a plain fabric knitted fabric incorporated into a CCD camera. 5 (b) and 6 (b) show the binarized measurement values (black dots) of the luminance at each position of the image of the knitted fabric taken in the CCD camera for each position in the width direction (X 1 , X). 2 , X 3 , ...
The totalized value Y aggregated in (...) is set at each position (X 1 ,
The relationship between the histogram curve 13 connecting the vertices of the histograms arranged in the order of X 2 , X 3 , ..., And each position X in the width direction is illustrated. 5 (c) and 6 (c) are histogram curves 1 illustrated in FIGS. 5 (b) and 6 (b), respectively.
It is a partially expanded view of FIG.
【００１５】[0015]
【発明の効果】本発明によると、シート類の表面の疵欠
点１５は、標準状態のシート類の影像と被検シート類の
影像との比較によってではなく、被検シート類１１の有
する編組織や織組織、プリント模様、エンボス模様等の
幅方向におけるリピート性に着目し、そのリピートの不
規則の有無によって疵欠点を検出するので、標準状態の
シート類を調製したり、その影像を疵欠点検出装置に入
力したり、被検シート類の仕様に応じて疵欠点検出装置
に入力したデータを設定し直したり取り替える必要がな
く、シート類の仕様の変化に迅速に対応し得、多種少量
生産形のシート類の検査に好適である。According to the present invention, the flaw defect 15 on the surface of the sheet is not based on the comparison between the image of the standard sheet and the image of the sheet to be inspected, but the knitting structure of the sheet 11 to be inspected. Focusing on the repeatability in the width direction of fabrics, woven fabrics, print patterns, embossed patterns, etc., and detecting flaws depending on the presence or absence of irregularities in the repeats, prepare sheets in the standard state or There is no need to input data to the detection device or to reset or replace the data input to the flaw defect detection device according to the specifications of the sheets to be inspected. It is suitable for inspection of shaped sheets.
【００１６】本発明に係る疵欠点検出装置は、上記の通
りコンパクトに構成され、機構が複雑な織機や編機等に
併設することが出来、それによって織前や編み立て部位
に生じた糸切れを即座に検出して織機や編機を停止させ
ることが出来、糸切れによる織地や編地のカットロスを
なくし布帛のコストダウンを図ることが出来る。The flaw defect detecting device according to the present invention is compactly constructed as described above, and can be installed in a loom or a knitting machine having a complicated mechanism. Can be immediately detected to stop the loom or the knitting machine, the cut loss of the woven fabric or the knitted fabric due to yarn breakage can be eliminated, and the cost of the fabric can be reduced.
【図１】本発明に係る疵欠点検出装置の要部斜視図であ
る。FIG. 1 is a perspective view of a main part of a flaw defect detection device according to the present invention.
【図２】本発明に係る疵欠点検出装置の要部側面図であ
る。FIG. 2 is a side view of a main part of the flaw defect detection device according to the present invention.
【図３】本発明に係る疵欠点検出装置におけるシート類
の影像と検出データとの関係図である。FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the images of sheets and the detection data in the flaw defect detecting apparatus according to the present invention.
【図４】本発明に係る疵欠点検出装置におけるシート類
の影像と検出データとの関係図である。FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the images of sheets and the detection data in the flaw defect detecting apparatus according to the present invention.
【図５】本発明に係る疵欠点検出装置におけるシート類
の影像と検出データとの関係図である。FIG. 5 is a diagram showing a relationship between images of sheets and detection data in the flaw defect detecting apparatus according to the present invention.
【図６】本発明に係る疵欠点検出装置におけるシート類
の影像と検出データとの関係図である。FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the images of sheets and the detection data in the flaw defect detecting apparatus according to the present invention.
【符号の説明】 １１ シート類 １２ 影像 １３ ヒストグラム曲線 １４ 基準曲線 １５ 疵欠点 １６ ＣＣＤカメラ １７ 輝度測定素子 １８ グラフ化素子 １９ 基準設定素子 ２０ 基準線調整素子 ２１ リピート判別素子 ２２ ガイドロール ２３ ガイドロール ２４ ガイドバー ２５ スリット ２６ 光源（蛍光灯） ２７ ブラックライト ２８ 編み立て部位 ２９ 疵欠点検出装置 ３０ 筬 ３１ シンカー ３２ ニードル ３３ レール ３４ キャリア ３５ 反射板 ３６ 黒点 ３７ 白点 ３８ 頂点 ３９ 底点 ４０ 平滑化素子[Explanation of symbols] 11 sheets 12 image 13 histogram curve 14 reference curve 15 flaw defect 16 CCD camera 17 brightness measuring element 18 graphing element 19 reference setting element 20 reference line adjusting element 21 repeat discriminating element 22 guide roll 23 guide roll 24 Guide bar 25 Slit 26 Light source (fluorescent lamp) 27 Black light 28 Knitting part 29 Defect detection device 30 Reed 31 Sinker 32 Needle 33 Rail 34 Carrier 35 Reflector 36 Black spot 37 White spot 38 Apex 39 Bottom spot 40 Smoothing element
Claims (6)
ト類の幅方向をＸ軸とし長さ方向をＹ軸とするＸ・Ｙ座
標上の輝度を測定し、（ｂ） シート類の幅方向（Ｘ）
の各位置（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）における輝度の
測定値Ｙを、シート類の幅方向の各位置毎（Ｘ1 ，
Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）に標示しヒストグラム化してヒス
トグラム曲線１３を求め、（ｃ） そのヒストグラム曲
線１３にＸ軸方向に続く基準線１４を設定し、（ｄ）
その基準線１４に交叉するヒストグラム曲線１３の複数
個の交点Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ・Ｅ………のＸ軸方向における
リピートの規則性の有無によってシート類の疵欠点１５
を検出することを特徴とするシート類の表面疵欠点検出
方法。1. (a) The brightness of the image 12 of the sheet 11 is measured on the XY coordinates with the width direction of the sheet as the X axis and the length direction as the Y axis, and (b) of the sheet Width direction (X)
Of the luminance value Y at each position (X 1 , X 2 , X 3 , ...), at each position in the width direction of the sheet (X 1 , X 2 ,
X 2, X 3, a histogram curve 13 and labeled histogram into .........), to set the reference line 14 that follows the X-axis direction (c) the histogram curve 13, (d)
Defects 15 of the sheet or the like depending on the presence or absence of the regularity of the repeats in the X-axis direction of the plurality of intersections A, B, C, D, E, ... Of the histogram curve 13 intersecting the reference line 14.
A method for detecting surface flaw defects of sheets, which is characterized by detecting
おいて、シート類１１に蛍光素材を付与することを特徴
とする前掲請求項１に記載のシート類の表面疵欠点検出
方法。2. The method for detecting flaws on a surface of a sheet according to claim 1, wherein the sheet 11 is provided with a fluorescent material in the method for detecting flaws on a surface of a sheet according to claim 1.
ト類の幅方向をＸ軸とし長さ方向をＹ軸とするＸ・Ｙ座
標上の輝度を測定して２値化し、（ｂ） シート類の幅
方向（Ｘ）の各位置（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）にお
ける２値化した測定値の集計値Ｙを、シート類の幅方向
の各位置毎（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）に標示しヒス
トグラム化してヒストグラム曲線１３を求め、（ｃ）
そのヒストグラム曲線１３にＸ軸方向に続く基準線１４
を設定し、（ｄ） その基準線１４に交叉するヒストグ
ラム曲線１３の複数個の交点Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ・Ｅ………
のＸ軸方向におけるリピートの規則性の有無によってシ
ート類の疵欠点１５を検出することを特徴とするシート
類の表面疵欠点検出方法。3. (a) The brightness of the image 12 of the sheet 11 on the XY coordinate system with the width direction of the sheet as the X axis and the length direction as the Y axis is measured and binarized. ) The aggregate value Y of the binarized measurement values at each position (X 1 , X 2 , X 3 , ...) In the width direction (X) of the sheets is calculated for each position in the width direction of the sheets (X 1, X 2, X 3, a histogram curve 13 and labeled histogram into .........), (c)
A reference line 14 following the X-axis direction on the histogram curve 13
Is set, and (d) a plurality of intersections A, B, C, D, E of the histogram curve 13 intersecting the reference line 14 are set.
A surface flaw defect detection method for sheets, comprising detecting flaw defects 15 of the sheets depending on whether there is regularity of repeats in the X-axis direction.
ト類の幅方向をＸ軸とし長さ方向をＹ軸とするＸ・Ｙ座
標に写し出すＣＣＤカメラ１６と、（ｂ） そのＸ・Ｙ
座標上の影像１２の各位置の輝度を測定する輝度測定素
子１７と、（ｃ） その測定値Ｙをシート類の幅方向の
各位置毎（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）に標示しヒスト
グラム化してシート類の幅方向に続くヒストグラム曲線
１３に変換するグラフ化素子１８と、（ｄ） そのヒス
トグラム曲線１３にＸ軸方向に続く基準線１４を設定す
る基準設定素子１９と、（ｅ） その基準線１４の位置
を調整する基準線調整素子２０と、（ｆ） ヒストグラ
ム曲線１３と基準線１４を記憶し、基準線１４に交叉す
るヒストグラム曲線１３の複数個の交点Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ
・Ｅ………のＸ軸方向におけるリピートの規則性の有無
を検出するリピート判別素子２１を具備することを特徴
とするシート類の表面疵欠点検出装置。4. A CCD camera 16 for projecting an image 12 of a sheet 11 on an XY coordinate system having an X axis in the width direction of the sheet and a Y axis in the length direction, and (b) the X. Y
A brightness measuring element 17 for measuring the brightness at each position of the image 12 on the coordinates, and (c) the measured value Y for each position in the width direction of the sheets (X 1 , X 2 , X 3 , ... ......). A graphing element 18 for converting the histogram into a histogram curve 13 continuing in the width direction of the sheets, and (d) a reference setting element 19 for setting a reference line 14 continuing in the X axis direction on the histogram curve 13. (E) A reference line adjusting element 20 for adjusting the position of the reference line 14, and (f) a plurality of intersections A and B of the histogram curve 13 which stores the histogram curve 13 and the reference line 14 and intersects with the reference line 14.・ C ・ D
A surface flaw defect detecting device for sheets, comprising a repeat discriminating element 21 for detecting the presence / absence of regularity of repeats in the X-axis direction of E ...
地１１を引き出す第１ガイドロール２２と、その第１ガ
イドロール２２に続く第２ガイドロール２３の間に、編
地１１が接触して通過するガイドバー２４を設け、その
ガイドバー２４の編地１１に接触する位置に、編地の幅
方向（Ｘ）に続く光透過スリット２５を設け、ガイドバ
ー２４を通過する編地１１を境とする光透過スリット２
５の片側に、光源２６を光透過スリット２５に平行に設
置し、他の片側に、光透過スリット２５に沿って平行移
動し、編地の幅方向をＸ軸とし長さ方向をＹ軸とするＸ
・Ｙ座標に編地１１の影像１２を写し出すＣＣＤカメラ
１６を設置して構成され、（ｂ） そのＸ・Ｙ座標上の
影像１２の各位置の輝度を測定する輝度測定素子１７
と、（ｃ） その測定値Ｙを編地の幅方向の各位置毎
（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3 ，………）に標示しヒストグラム化
して編地の幅方向に続くヒストグラム曲線１３に変換す
るグラフ化素子１８と、（ｄ） そのヒストグラム曲線
１３にＸ軸方向に続く基準線１４を設定する基準設定素
子１９と、（ｅ） その基準線１４の位置を調整する基
準線調整素子２０と、（ｆ） ヒストグラム曲線１３と
基準線１４を記憶し、基準線１４に交叉するヒストグラ
ム曲線１３の複数個の交点Ａ・Ｂ・Ｃ・Ｄ・Ｅ………の
Ｘ軸方向におけるリピートの規則性の有無を検出するリ
ピート判別素子２１を具備することを特徴とするシート
類の表面疵欠点検出装置。5. A knitted fabric 11 is provided between a first guide roll 22 for drawing the knitted fabric 11 from a knitting portion 28 of a warp knitting machine and a second guide roll 23 following the first guide roll 22. A knitted fabric passing through the guide bar 24 is provided with a guide bar 24 that comes into contact therewith, and a light transmission slit 25 is provided at a position where the guide bar 24 comes into contact with the knitted fabric 11 in the width direction (X) of the knitted fabric. Light transmission slit 2 with 11 as a boundary
5, the light source 26 is installed in parallel with the light transmission slit 25, and the other side is translated along the light transmission slit 25, and the width direction of the knitted fabric is the X axis and the length direction is the Y axis. Do X
-A CCD camera 16 for projecting the image 12 of the knitted fabric 11 on the Y coordinate is installed, and (b) a brightness measuring element 17 for measuring the brightness of each position of the image 12 on the X and Y coordinates.
(C) The measured value Y is marked at each position in the width direction of the knitted fabric (X 1 , X 2 , X 3 , ...), and a histogram is formed to form a histogram curve 13 continuing in the width direction of the knitted fabric. A graphing element 18 for conversion, (d) a reference setting element 19 for setting a reference line 14 following the X-axis direction on the histogram curve 13, and (e) a reference line adjusting element 20 for adjusting the position of the reference line 14. (F) The histogram curve 13 and the reference line 14 are stored, and the rule of repeat in the X-axis direction of a plurality of intersections A, B, C, D, E, ... of the histogram curve 13 intersecting the reference line 14 A surface flaw defect detecting apparatus for sheets, comprising a repeat discriminating element 21 for detecting the presence or absence of property.
おいて、編地１１を境とする光透過スリット２５のＣＣ
Ｄカメラ１６の設置された側に、編地１１を照明するブ
ラックライト２７を具備することを特徴とする前掲請求
項５に記載のシート類の表面疵欠点検出装置。6. The flaw defect detecting apparatus according to claim 5, wherein the CC of the light transmitting slit 25 is bordered by the knitted fabric 11.
The surface flaw defect detecting device for sheets according to claim 5, further comprising a black light 27 that illuminates the knitted fabric 11 on the side where the D camera 16 is installed.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9887593A JPH06288933A (en) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | Method and device for detecting surface flaw of sheet or the like |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9887593A JPH06288933A (en) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | Method and device for detecting surface flaw of sheet or the like |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06288933A true JPH06288933A (en) | 1994-10-18 |
Family
ID=14231355
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9887593A Pending JPH06288933A (en) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | Method and device for detecting surface flaw of sheet or the like |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06288933A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0926400A (en) * | 1995-07-10 | 1997-01-28 | Toyobo Co Ltd | Inspecting apparatus for woven fabric |
| JP2001353980A (en) * | 2000-06-15 | 2001-12-25 | Kyodo Printing Co Ltd | Sewing bookbinding line |
| CN109100360A (en) * | 2018-07-05 | 2018-12-28 | 福建省国业科技发展有限公司 | The method that ring signal and initial fixed character carry out flaw positioning based on |
| CN109191439A (en) * | 2018-08-20 | 2019-01-11 | 宁波市智能制造产业研究院 | A kind of target workpiece surface knife mark defect inspection method |
| CN117549666A (en) * | 2023-12-27 | 2024-02-13 | 广州市普理司科技有限公司 | Control system of reverse detection quality control machine |
-
1993
- 1993-03-31 JP JP9887593A patent/JPH06288933A/en active Pending
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| CN117549666B (en) * | 2023-12-27 | 2024-04-12 | 广州市普理司科技有限公司 | Control system of reverse detection quality control machine |
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