JPH06273323A - 赤外吸収スペクトルａｔｒ測定用試料固定方法 - Google Patents
赤外吸収スペクトルａｔｒ測定用試料固定方法Info
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- JPH06273323A JPH06273323A JP6222293A JP6222293A JPH06273323A JP H06273323 A JPH06273323 A JP H06273323A JP 6222293 A JP6222293 A JP 6222293A JP 6222293 A JP6222293 A JP 6222293A JP H06273323 A JPH06273323 A JP H06273323A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定用試料固定の
際、高屈折率材料と試料との密着性を良好にする。 【構成】 高屈折率材料と試料を重ねて２枚の板で挟
み、その２枚の板をゴム膜で介したガス圧または液圧に
よって押しつける事によって、試料を高屈折率材料に均
一な力で密着させることを特徴とする赤外吸収スペクト
ルＡＴＲ測定用試料固定方法。
際、高屈折率材料と試料との密着性を良好にする。 【構成】 高屈折率材料と試料を重ねて２枚の板で挟
み、その２枚の板をゴム膜で介したガス圧または液圧に
よって押しつける事によって、試料を高屈折率材料に均
一な力で密着させることを特徴とする赤外吸収スペクト
ルＡＴＲ測定用試料固定方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は新規な赤外吸収スペクト
ルＡＴＲ測定用試料固定方法に関するものである。更に
詳しくは、本発明は赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定用高
屈折率材料を破損する危険を最小限に押さえ、簡便に試
料をセット可能な赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定用試料
固定方法に関するものである。
ルＡＴＲ測定用試料固定方法に関するものである。更に
詳しくは、本発明は赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定用高
屈折率材料を破損する危険を最小限に押さえ、簡便に試
料をセット可能な赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定用試料
固定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】赤外吸収スペクトルは、数個程度の原子
団及び巨視的な数の原子集団の振動モードによる赤外線
の吸収スペクトルを測定したものであり、特に有機物質
の分子構造の同定に広く用いられてきた。
団及び巨視的な数の原子集団の振動モードによる赤外線
の吸収スペクトルを測定したものであり、特に有機物質
の分子構造の同定に広く用いられてきた。
【０００３】赤外吸収スペクトル測定技術の内赤外吸収
スペクトルＡＴＲ法は、「ＦＴ−ＩＲの基礎と実際」
（株式会社東京化学同人発行、１９９１年第１版第５刷
発行、ｐ．６７〜ｐ．８２）に記されているように、膜
状、板状の試料の表面近傍の測定を可能にする。そのた
めに、鋼板上の有機塗膜等の表面解析手段として広く用
いられてきた。赤外吸収スペクトルＡＴＲ法の一般的な
測定方法は次の通りである。試料を特定の性質を有す
る板状の材料に密着させる。この材料板から試料へ赤
外線を入射させ、界面で全反射を起こさせる。入射光
強度に対する反射光強度比を測定する。
スペクトルＡＴＲ法は、「ＦＴ−ＩＲの基礎と実際」
（株式会社東京化学同人発行、１９９１年第１版第５刷
発行、ｐ．６７〜ｐ．８２）に記されているように、膜
状、板状の試料の表面近傍の測定を可能にする。そのた
めに、鋼板上の有機塗膜等の表面解析手段として広く用
いられてきた。赤外吸収スペクトルＡＴＲ法の一般的な
測定方法は次の通りである。試料を特定の性質を有す
る板状の材料に密着させる。この材料板から試料へ赤
外線を入射させ、界面で全反射を起こさせる。入射光
強度に対する反射光強度比を測定する。
【０００４】用いられる板状の材料は、界面での全反射
を起こさせるために高屈折率を有しており、かつ赤外吸
収スペクトルの測定波長域の光に対する吸光係数が小さ
い事等が求められる。この様な条件を満足する材料とし
て、ＫＲＳ−５、Ｇｅ結晶、Ｓｉ結晶等が一般に推賞さ
れている。
を起こさせるために高屈折率を有しており、かつ赤外吸
収スペクトルの測定波長域の光に対する吸光係数が小さ
い事等が求められる。この様な条件を満足する材料とし
て、ＫＲＳ−５、Ｇｅ結晶、Ｓｉ結晶等が一般に推賞さ
れている。
【０００５】この様な材料の欠点として力学的に弱く、
破損し易い事が従来より知られている。ところが赤外吸
収スペクトルＡＴＲ測定方法を再現性良くかつ定量的に
行うためには、高屈折率材料と試料とを均一にかつでき
るだけ完全に密着させる必要がある。これを実現するた
めに、図３に模式的に示したように、高屈折率材料１３
と測定する試料１２とを２枚の板１４と板１５で挟み込
み、これらの板をネジ１６で締め付けて試料１２と高屈
折率材料１３との密着性を確保するという簡単な方法が
従来より行われてきた。このため試料１２のセッティン
グの段階で、ネジ１６の締め付けの不均一または試料１
２の平面性の欠如の為に、高屈折率材料１３に不均一な
力がかかり、しばしばその破損に至る。特に試料１２が
有機塗膜を塗布した鋼板であった場合等、試料の剛性が
高くかつ試料１２が完全な平板でなく反りがある等の場
合には、試料１２のセッティング時に高屈折率材料１３
に不均質な力がかかり易く従ってその破損に至る頻度が
非常に高いものとなる。一般に赤外吸収スペクトルＡＴ
Ｒ法に用いられる高屈折率材料は高価であり、赤外吸収
スペクトルＡＴＲ測定にかかるコストが高いものにな
る。
破損し易い事が従来より知られている。ところが赤外吸
収スペクトルＡＴＲ測定方法を再現性良くかつ定量的に
行うためには、高屈折率材料と試料とを均一にかつでき
るだけ完全に密着させる必要がある。これを実現するた
めに、図３に模式的に示したように、高屈折率材料１３
と測定する試料１２とを２枚の板１４と板１５で挟み込
み、これらの板をネジ１６で締め付けて試料１２と高屈
折率材料１３との密着性を確保するという簡単な方法が
従来より行われてきた。このため試料１２のセッティン
グの段階で、ネジ１６の締め付けの不均一または試料１
２の平面性の欠如の為に、高屈折率材料１３に不均一な
力がかかり、しばしばその破損に至る。特に試料１２が
有機塗膜を塗布した鋼板であった場合等、試料の剛性が
高くかつ試料１２が完全な平板でなく反りがある等の場
合には、試料１２のセッティング時に高屈折率材料１３
に不均質な力がかかり易く従ってその破損に至る頻度が
非常に高いものとなる。一般に赤外吸収スペクトルＡＴ
Ｒ法に用いられる高屈折率材料は高価であり、赤外吸収
スペクトルＡＴＲ測定にかかるコストが高いものにな
る。
【０００６】図３に模式的に示したような従来の方法で
試料のセッティングを行ったときには、高屈折率材料の
破損による測定コストアップという問題以外にも、以下
に述べるような様々な問題が起こってくる。 試料のセッティング時のネジの締め付けは、非常に注
意して均一に力が掛かるように行う必要があり、その作
業に熟練を必要としかつ時間がかかる。 試料と高屈折率材料との密着性を確保している力の大
きさが把握できない。そのために、たとえネジの締め付
けが理想的に均一に行われたとしても、剛性が高くかつ
反りがある試料の場合に締め付けの力が強すぎて高屈折
率材料の破損に至るか、もしくはその力が弱すぎて十分
な密着性が確保されない。どちらにしても最適な締め付
けの力を定量的に把握する事ができない。さらには、赤
外吸収スペクトルＡＴＲ測定に際して測定の定量性を確
保する上で不可欠な、試料と高屈折率材料との密着性の
再現性が保障されない。
試料のセッティングを行ったときには、高屈折率材料の
破損による測定コストアップという問題以外にも、以下
に述べるような様々な問題が起こってくる。 試料のセッティング時のネジの締め付けは、非常に注
意して均一に力が掛かるように行う必要があり、その作
業に熟練を必要としかつ時間がかかる。 試料と高屈折率材料との密着性を確保している力の大
きさが把握できない。そのために、たとえネジの締め付
けが理想的に均一に行われたとしても、剛性が高くかつ
反りがある試料の場合に締め付けの力が強すぎて高屈折
率材料の破損に至るか、もしくはその力が弱すぎて十分
な密着性が確保されない。どちらにしても最適な締め付
けの力を定量的に把握する事ができない。さらには、赤
外吸収スペクトルＡＴＲ測定に際して測定の定量性を確
保する上で不可欠な、試料と高屈折率材料との密着性の
再現性が保障されない。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の赤外
吸収スペクトルＡＴＲ測定方法のサンプルセッティング
時における欠点、即ちセッティングに熟練を要し時間が
かかる、高屈折率材料を破損し易い、高屈折率材料と試
料との密着性に関して再現性が保障されない為に測定結
果の定量性に関して再現性に欠ける等を解決する赤外吸
収スペクトルＡＴＲ測定用試料固定方法を提供する事を
目的とする。
吸収スペクトルＡＴＲ測定方法のサンプルセッティング
時における欠点、即ちセッティングに熟練を要し時間が
かかる、高屈折率材料を破損し易い、高屈折率材料と試
料との密着性に関して再現性が保障されない為に測定結
果の定量性に関して再現性に欠ける等を解決する赤外吸
収スペクトルＡＴＲ測定用試料固定方法を提供する事を
目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、赤外吸収スペ
クトルＡＴＲ測定時に試料を高屈折率材料に密着させる
方法において、前記高屈折率材料１枚を前記試料２枚に
よってサンドイッチ状に重ねて、または前記高屈折率材
料１枚と前記試料１枚を単に重ねて２枚の板で挟み、更
にその２枚の板をゴム膜を介したガス圧または液圧によ
って押しつける事によって、試料を高屈折率材料に均一
な力で密着させる事を特徴とする赤外吸収スペクトルＡ
ＴＲ測定用試料固定方法である。
クトルＡＴＲ測定時に試料を高屈折率材料に密着させる
方法において、前記高屈折率材料１枚を前記試料２枚に
よってサンドイッチ状に重ねて、または前記高屈折率材
料１枚と前記試料１枚を単に重ねて２枚の板で挟み、更
にその２枚の板をゴム膜を介したガス圧または液圧によ
って押しつける事によって、試料を高屈折率材料に均一
な力で密着させる事を特徴とする赤外吸収スペクトルＡ
ＴＲ測定用試料固定方法である。
【０００９】
【作用】本発明者は、赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定方
法において試料を高屈折率材料に密着させる作業に際
し、ガス圧または液圧を応用する事によって簡便に、ま
た高価な高屈折率材料を破損する事なく、さらには均一
に再現性良く試料と高屈折率材料との密着性を確保する
事が可能となり、定量的に再現性の良い測定が実現でき
る事を見いだして本発明を完成した。
法において試料を高屈折率材料に密着させる作業に際
し、ガス圧または液圧を応用する事によって簡便に、ま
た高価な高屈折率材料を破損する事なく、さらには均一
に再現性良く試料と高屈折率材料との密着性を確保する
事が可能となり、定量的に再現性の良い測定が実現でき
る事を見いだして本発明を完成した。
【００１０】本発明で用いられる高屈折率材料はＫＲＳ
−５、Ｇｅ結晶、Ｓｉ結晶等一般に赤外吸収スペクトル
ＡＴＲ法で用いられるものが適用可能である。測定試料
は膜状、平板状のものであり、例えば鋼板状表面に塗布
した有機塗膜等が測定可能である。
−５、Ｇｅ結晶、Ｓｉ結晶等一般に赤外吸収スペクトル
ＡＴＲ法で用いられるものが適用可能である。測定試料
は膜状、平板状のものであり、例えば鋼板状表面に塗布
した有機塗膜等が測定可能である。
【００１１】図１に模式的に示したように、測定試料１
は測定すべき面を高屈折率材料２に接触させ、部品３と
部品５の間に挟み込む。その時、部品３には４本の足４
が付いており、この足４が部品５の４個の穴に各々入り
込む構造になっている。従って、部品３と部品５は相対
的に試料面または高屈折率材料の試料との接触面に対し
て垂直方向にのみ可動となっている。
は測定すべき面を高屈折率材料２に接触させ、部品３と
部品５の間に挟み込む。その時、部品３には４本の足４
が付いており、この足４が部品５の４個の穴に各々入り
込む構造になっている。従って、部品３と部品５は相対
的に試料面または高屈折率材料の試料との接触面に対し
て垂直方向にのみ可動となっている。
【００１２】部品７は部品３をガス圧または液圧によっ
て押すためのものである。部品３上部の試料測定面と平
行な面と接触する部品７の面には、使用するガスまたは
液体を実質上透過させないゴム膜９が張ってあり、この
ゴム膜９がガス圧または液圧によって下方に膨らむ事に
よって部品３を下方に押す構造となっている。
て押すためのものである。部品３上部の試料測定面と平
行な面と接触する部品７の面には、使用するガスまたは
液体を実質上透過させないゴム膜９が張ってあり、この
ゴム膜９がガス圧または液圧によって下方に膨らむ事に
よって部品３を下方に押す構造となっている。
【００１３】ここで、ゴム膜９が膨らむ事によって部品
３を部品５に対して押す、即ち試料１と高屈折率材料２
とを部品３と部品５によってある一定の圧力によって挟
み込むためには、ゴム膜９が膨らむ事によって部品７と
部品５との相対位置が実質的に変化しない事が必要であ
る。このことを実現するために、部品７と部品５の相対
位置を固定するための枠８が設置されている。枠８は、
測定試料１と高屈折率材料２、部品３と部品５そして部
品７がセットされた後に装着される。枠８の下部にはネ
ジ６が付いている。このネジを調節する事で、ゴム膜９
と部品３及び部品３と試料１、試料１と高屈折率材料２
そして試料１と部品５とを軽く接触させ固定する。ガス
圧または液圧は導入管１０を経由し、そして空間部１１
を介してゴム膜９に伝達される。部品３、部品５は、試
料１と高屈折率材料２との均一な密着を実現するため
に、十分な剛性を有している事が必要である。
３を部品５に対して押す、即ち試料１と高屈折率材料２
とを部品３と部品５によってある一定の圧力によって挟
み込むためには、ゴム膜９が膨らむ事によって部品７と
部品５との相対位置が実質的に変化しない事が必要であ
る。このことを実現するために、部品７と部品５の相対
位置を固定するための枠８が設置されている。枠８は、
測定試料１と高屈折率材料２、部品３と部品５そして部
品７がセットされた後に装着される。枠８の下部にはネ
ジ６が付いている。このネジを調節する事で、ゴム膜９
と部品３及び部品３と試料１、試料１と高屈折率材料２
そして試料１と部品５とを軽く接触させ固定する。ガス
圧または液圧は導入管１０を経由し、そして空間部１１
を介してゴム膜９に伝達される。部品３、部品５は、試
料１と高屈折率材料２との均一な密着を実現するため
に、十分な剛性を有している事が必要である。
【００１４】図１及び図２には２枚の試料１によって高
屈折率材料２をサンドイッチ状に挟んだ様子が模式的に
描かれているが、試料１が１枚しかない場合にも、試料
１と高屈折率材料２を単に接触させて部品３と部品５で
挟み込む事によって赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定が可
能である。
屈折率材料２をサンドイッチ状に挟んだ様子が模式的に
描かれているが、試料１が１枚しかない場合にも、試料
１と高屈折率材料２を単に接触させて部品３と部品５で
挟み込む事によって赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定が可
能である。
【００１５】ただし、試料１が１枚しかない場合には高
屈折率材料と部品３または部品５が直接接触する事とな
り、部品３または部品５の表面による赤外線の吸収が起
こる可能性がある。もしくは試料が非常に薄く、実質上
高屈折率材料の面上に非常に薄い（例えば、数１０nm程
度の）薄膜として存在する場合にも、同様に部品３及び
部品５の表面による赤外線の吸収が起こる可能性があ
る。従って部品３と部品５の、試料１または高屈折率材
料２と接触する面は赤外線を吸収しないようなものであ
る事が望ましい。
屈折率材料と部品３または部品５が直接接触する事とな
り、部品３または部品５の表面による赤外線の吸収が起
こる可能性がある。もしくは試料が非常に薄く、実質上
高屈折率材料の面上に非常に薄い（例えば、数１０nm程
度の）薄膜として存在する場合にも、同様に部品３及び
部品５の表面による赤外線の吸収が起こる可能性があ
る。従って部品３と部品５の、試料１または高屈折率材
料２と接触する面は赤外線を吸収しないようなものであ
る事が望ましい。
【００１６】ゴム膜９を通じて試料面にかける圧力は
０．１〜１０kgf/cm2 程度の範囲で、試料に応じて選択
する事が可能である。圧力の発生は、例えば以下のよう
な簡単な方法によって行う事が可能である。まず図４に
模式的に示したように、１００kgf/cm2 程度の圧力を有
する不活性ガスのボンベ１７を用意する。そのガスボン
ベに、主減圧弁１８（最大目盛りが２００kgf/cm2 程度
のもの）、副減圧弁１９（最大目盛りが５０kgf/cm2 程
度のもの）、そして更にその下流に２つのニードルバル
ブ２０と２１を設置する。ゴム膜９にかける圧力源とし
ては、これら２つのニードルバルブ２０と２１の間にか
かる圧力を利用する事になる。すなわち、２つのニード
ルバルブ２０と２１の間にかかる圧力が導入管１０を通
してゴム膜９にかかる圧力に等しくなる。ここで、圧力
調整中に過剰な圧力がゴム膜９にかかる事を防ぐ目的
で、導入管１０と２つのニードルバルブ２０と２１の間
はストップバルブ２２を設置して連結する事が好まし
い。最初はガスボンベ１７、主減圧弁１８、副減圧弁１
９、ニードルバルブ２０とニードルバルブ２１、そして
ストップバルブ２２の全てを閉にしておく。まずガスボ
ンベ１７を開にし、次いで主減圧弁１８を開き主減圧弁
１８と副減圧弁１９との間に数１０kgf/cm2 程度の圧力
をかける。次に副減圧弁１９を開き、最終的にサンプル
面にかける圧力に応じて、副減圧弁１９と上流のニード
ルバルブ２０との間に１kgf/cm2 〜１０kgf/cm2 程度の
圧力をかける。さらに、下流のニードルバルブ２１を全
開にする。次いで上流のニードルバルブ２０を徐々に開
き、ゴム膜９に掛けるべき圧力の１０％〜２０％程度に
相当する圧力を、２つのニードルバルブ２０と２１との
間にかける。ここで、２つのニードルバルブ２０と２１
との間の圧力は圧力計２３によって測定する。そして、
下流のニードルバルブ２１を徐々に閉じて２つのニード
ルバルブ２０と２１の間の圧力を、ゴム膜９にかけるべ
き圧力に等しくする。最後にストップバルブ２２を開に
してゴム膜９に所定の圧力をかける。
０．１〜１０kgf/cm2 程度の範囲で、試料に応じて選択
する事が可能である。圧力の発生は、例えば以下のよう
な簡単な方法によって行う事が可能である。まず図４に
模式的に示したように、１００kgf/cm2 程度の圧力を有
する不活性ガスのボンベ１７を用意する。そのガスボン
ベに、主減圧弁１８（最大目盛りが２００kgf/cm2 程度
のもの）、副減圧弁１９（最大目盛りが５０kgf/cm2 程
度のもの）、そして更にその下流に２つのニードルバル
ブ２０と２１を設置する。ゴム膜９にかける圧力源とし
ては、これら２つのニードルバルブ２０と２１の間にか
かる圧力を利用する事になる。すなわち、２つのニード
ルバルブ２０と２１の間にかかる圧力が導入管１０を通
してゴム膜９にかかる圧力に等しくなる。ここで、圧力
調整中に過剰な圧力がゴム膜９にかかる事を防ぐ目的
で、導入管１０と２つのニードルバルブ２０と２１の間
はストップバルブ２２を設置して連結する事が好まし
い。最初はガスボンベ１７、主減圧弁１８、副減圧弁１
９、ニードルバルブ２０とニードルバルブ２１、そして
ストップバルブ２２の全てを閉にしておく。まずガスボ
ンベ１７を開にし、次いで主減圧弁１８を開き主減圧弁
１８と副減圧弁１９との間に数１０kgf/cm2 程度の圧力
をかける。次に副減圧弁１９を開き、最終的にサンプル
面にかける圧力に応じて、副減圧弁１９と上流のニード
ルバルブ２０との間に１kgf/cm2 〜１０kgf/cm2 程度の
圧力をかける。さらに、下流のニードルバルブ２１を全
開にする。次いで上流のニードルバルブ２０を徐々に開
き、ゴム膜９に掛けるべき圧力の１０％〜２０％程度に
相当する圧力を、２つのニードルバルブ２０と２１との
間にかける。ここで、２つのニードルバルブ２０と２１
との間の圧力は圧力計２３によって測定する。そして、
下流のニードルバルブ２１を徐々に閉じて２つのニード
ルバルブ２０と２１の間の圧力を、ゴム膜９にかけるべ
き圧力に等しくする。最後にストップバルブ２２を開に
してゴム膜９に所定の圧力をかける。
【００１７】試料１と高屈折率材料２を前述したように
セットし、所定の圧力をかけて均一な密着性を確保した
状態で赤外吸収スペクトル測定装置にセットし、測定装
置の試料室内を窒素ガス等で十分置換した後に、通常の
方法に従ってスペクトルの測定を行う。尚、バックグラ
ウンドの測定は試料１を抜いた状態で高屈折率材料２の
みをセットして、同様にして事前に測定しておく。
セットし、所定の圧力をかけて均一な密着性を確保した
状態で赤外吸収スペクトル測定装置にセットし、測定装
置の試料室内を窒素ガス等で十分置換した後に、通常の
方法に従ってスペクトルの測定を行う。尚、バックグラ
ウンドの測定は試料１を抜いた状態で高屈折率材料２の
みをセットして、同様にして事前に測定しておく。
【００１８】赤外吸収スペクトル測定終了後は、図１及
び図２に模式的に示した治具にセットした試料１を赤外
吸収スペクトル測定装置からはずす。図１及び図２に模
式的に示した治具から試料１をはずす手順は以下の通り
である。まず、上流側のニードルバルブ２０を完全に閉
にする。次いで下流側のニードルバルブ２１を全開にし
て２つのニードルバルブ２０と２１との間の圧力を常圧
に戻す。このときストップバルブ２２が開になっている
事を確認する。ネジ６をゆるめて枠８をはずし、最後に
部品７と部品３をはずして試料１と高屈折率材料２を取
り外す。
び図２に模式的に示した治具にセットした試料１を赤外
吸収スペクトル測定装置からはずす。図１及び図２に模
式的に示した治具から試料１をはずす手順は以下の通り
である。まず、上流側のニードルバルブ２０を完全に閉
にする。次いで下流側のニードルバルブ２１を全開にし
て２つのニードルバルブ２０と２１との間の圧力を常圧
に戻す。このときストップバルブ２２が開になっている
事を確認する。ネジ６をゆるめて枠８をはずし、最後に
部品７と部品３をはずして試料１と高屈折率材料２を取
り外す。
【００１９】
【実施例】以下に本発明の内容を具体的に説明するため
の実施例と比較例を示す。 （実施例１）厚さ約１mmの鋼板上に塗布した、厚さ約２
０μｍのポリエステルとメラミン樹脂との混合有機被膜
を２０mm×３０mmの大きさに切りだした試料を２枚用意
した。これらの試料の有機被膜の赤外吸収スペクトルＡ
ＴＲ法による赤外吸収スペクトルを測定するために、高
屈折率材料として大きさが２０mm×５０mm、厚さが３mm
のゲルマニウム結晶（Ｇｅ結晶）を用意した。
の実施例と比較例を示す。 （実施例１）厚さ約１mmの鋼板上に塗布した、厚さ約２
０μｍのポリエステルとメラミン樹脂との混合有機被膜
を２０mm×３０mmの大きさに切りだした試料を２枚用意
した。これらの試料の有機被膜の赤外吸収スペクトルＡ
ＴＲ法による赤外吸収スペクトルを測定するために、高
屈折率材料として大きさが２０mm×５０mm、厚さが３mm
のゲルマニウム結晶（Ｇｅ結晶）を用意した。
【００２０】まずバックグラウンドを測定するために、
Ｇｅ結晶を図１または図２に模式的に示した部品３と部
品５の間にセットした。次いで部品３の上に部品７をセ
ットし、更に全体を枠８にセットしてネジ６によってが
たがない程度に軽くＧｅ結晶を部品３と部品５に接触さ
せた。次いでガスボンベの圧力を利用してゴム膜に約
０．５kgf/mm2 の圧力をかけた。ゴム膜９が部品３を押
している面積は４０mm×５０mmで、Ｇｅ結晶と部品３も
しくは部品５が接触している面積が２０mm×５０mmであ
ったので、実質試料をＧｅ結晶に押しつけている圧力は
約１．０kgf/mm2であった。このバックグラウンド測定
のためのセッティングで、Ｇｅは破損しなかった。Ｇｅ
結晶をセットした治具をフーリエ変換赤外吸収スペクト
ル測定装置にセットし、試料室内を約３０分間窒素ガス
置換を行った。その後に４００cm-1〜４０００cm-1の範
囲でエミッションモードで、バックグラウンドの測定を
行った。
Ｇｅ結晶を図１または図２に模式的に示した部品３と部
品５の間にセットした。次いで部品３の上に部品７をセ
ットし、更に全体を枠８にセットしてネジ６によってが
たがない程度に軽くＧｅ結晶を部品３と部品５に接触さ
せた。次いでガスボンベの圧力を利用してゴム膜に約
０．５kgf/mm2 の圧力をかけた。ゴム膜９が部品３を押
している面積は４０mm×５０mmで、Ｇｅ結晶と部品３も
しくは部品５が接触している面積が２０mm×５０mmであ
ったので、実質試料をＧｅ結晶に押しつけている圧力は
約１．０kgf/mm2であった。このバックグラウンド測定
のためのセッティングで、Ｇｅは破損しなかった。Ｇｅ
結晶をセットした治具をフーリエ変換赤外吸収スペクト
ル測定装置にセットし、試料室内を約３０分間窒素ガス
置換を行った。その後に４００cm-1〜４０００cm-1の範
囲でエミッションモードで、バックグラウンドの測定を
行った。
【００２１】次に、試料の測定のためにＧｅ結晶を上述
の２枚の試料ではさみ、図１または図２に模式的に示し
た部品３と部品５の間にセットした。ここで、有機被膜
に関する赤外吸収スペクトルを測定するために有機被膜
とＧｅ結晶を接触させた。そして、部品３の上に部品７
をセットし、更に全体を枠８にセットしてネジ６によっ
てがたがない程度に軽く試料をＧｅ結晶に接触させた。
次いでガスボンベの圧力を利用してゴム膜に約３kgf/mm
2 の圧力をかけた。ゴム膜９が部品３を押している面積
は４０mm×５０mmで、試料面の面積が２０mm×３０mmで
あったので実質試料をＧｅ結晶に押しつけている圧力は
約１０kgf/mm2 であった。
の２枚の試料ではさみ、図１または図２に模式的に示し
た部品３と部品５の間にセットした。ここで、有機被膜
に関する赤外吸収スペクトルを測定するために有機被膜
とＧｅ結晶を接触させた。そして、部品３の上に部品７
をセットし、更に全体を枠８にセットしてネジ６によっ
てがたがない程度に軽く試料をＧｅ結晶に接触させた。
次いでガスボンベの圧力を利用してゴム膜に約３kgf/mm
2 の圧力をかけた。ゴム膜９が部品３を押している面積
は４０mm×５０mmで、試料面の面積が２０mm×３０mmで
あったので実質試料をＧｅ結晶に押しつけている圧力は
約１０kgf/mm2 であった。
【００２２】この試料セッティングの手続きはこの試料
に対して１０度行ったが、Ｇｅ結晶を破損する事なく行
う事ができた。更に、同一種の試料であるが別に切りだ
した１０枚の試料に対しても、試料にかかる圧力が３３
kgf/cm2 まではＧｅ結晶を破損する事なく試料のセッテ
ィングを完了する事ができた。
に対して１０度行ったが、Ｇｅ結晶を破損する事なく行
う事ができた。更に、同一種の試料であるが別に切りだ
した１０枚の試料に対しても、試料にかかる圧力が３３
kgf/cm2 まではＧｅ結晶を破損する事なく試料のセッテ
ィングを完了する事ができた。
【００２３】試料をセットした治具を、上述のフーリエ
変換赤外吸収スペクトル測定装置にセットし、試料室内
を約３０分間窒素ガス置換を行った。その後に４００cm
-1〜４０００cm-1の範囲で、エミッションモードでの有
機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを測定した。
変換赤外吸収スペクトル測定装置にセットし、試料室内
を約３０分間窒素ガス置換を行った。その後に４００cm
-1〜４０００cm-1の範囲で、エミッションモードでの有
機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを測定した。
【００２４】この様にして得られたエミッションモード
での有機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを上述のエミッ
ションモードでのバックグラウンドでわり算を行って、
通常の透過スペクトル、更にはその対数を取る事によっ
てアブソープションモードでの通常の吸収スペクトルを
得た。
での有機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを上述のエミッ
ションモードでのバックグラウンドでわり算を行って、
通常の透過スペクトル、更にはその対数を取る事によっ
てアブソープションモードでの通常の吸収スペクトルを
得た。
【００２５】この様な吸収スペクトルの測定を、同一の
２枚の試料を用いて、試料のセッティングの段階から１
０回繰り返して、吸収スペクトル測定の定量性に関する
再現性の試験を行った。ただし、試料にかけた圧力は約
１０kgf/cm2 で統一した。その結果、ポリエステル由来
の主ピークである１７００cm-1付近のシグナルの吸光係
数の１０回の測定値は、１０回の測定の平均に対して±
４．５％以内の変動であった。また、メラミン樹脂由来
の主ピークである１５５０cm-1付近のシグナルの吸光係
数の１０回の測定値は、１０回の測定の平均に対して±
６．３％以内の変動であった。さらには、ポリエステル
由来の１７００cm-1付近のシグナルの吸光係数に対す
る、メラミン樹脂由来の１５５０cm-1付近のシグナルの
吸光係数の比の１０回の測定値は、１０回の平均に対し
て±３％以内の変動に留まった。
２枚の試料を用いて、試料のセッティングの段階から１
０回繰り返して、吸収スペクトル測定の定量性に関する
再現性の試験を行った。ただし、試料にかけた圧力は約
１０kgf/cm2 で統一した。その結果、ポリエステル由来
の主ピークである１７００cm-1付近のシグナルの吸光係
数の１０回の測定値は、１０回の測定の平均に対して±
４．５％以内の変動であった。また、メラミン樹脂由来
の主ピークである１５５０cm-1付近のシグナルの吸光係
数の１０回の測定値は、１０回の測定の平均に対して±
６．３％以内の変動であった。さらには、ポリエステル
由来の１７００cm-1付近のシグナルの吸光係数に対す
る、メラミン樹脂由来の１５５０cm-1付近のシグナルの
吸光係数の比の１０回の測定値は、１０回の平均に対し
て±３％以内の変動に留まった。
【００２６】（実施例２）実施例１で使用したものと同
様の、厚さ約１mmの鋼板上に塗布した、厚さ約２０μｍ
のポリエステルとメラミン樹脂との混合有機被膜を２０
mm×３０mmの大きさに切りだした試料を１枚用意した。
この試料の有機被膜の赤外吸収スペクトルＡＴＲ法によ
る赤外吸収スペクトルを測定するために、実施例１と同
様に高屈折率材料として大きさが２０mm×５０mm、厚さ
が３mmのゲルマニウム結晶（Ｇｅ結晶）を用意した。
様の、厚さ約１mmの鋼板上に塗布した、厚さ約２０μｍ
のポリエステルとメラミン樹脂との混合有機被膜を２０
mm×３０mmの大きさに切りだした試料を１枚用意した。
この試料の有機被膜の赤外吸収スペクトルＡＴＲ法によ
る赤外吸収スペクトルを測定するために、実施例１と同
様に高屈折率材料として大きさが２０mm×５０mm、厚さ
が３mmのゲルマニウム結晶（Ｇｅ結晶）を用意した。
【００２７】実施例１と同様に、まずバックグラウンド
を測定するために、Ｇｅ結晶を図１または図２に模式的
に示した部品３と部品５の間にセットした。次いで部品
３の上に部品７をセットし、更に全体を枠８にセットし
てネジ６によってがたがない程度に軽くＧｅ結晶を部品
３と部品５に接触させた。次いでガスボンベの圧力を利
用してゴム膜に約０．５kgf/mm2 の圧力をかけた。ゴム
膜９が部品３を押している面積は４０mm×５０mmで、Ｇ
ｅ結晶と部品３もしくは部品５が接触している面積が２
０mm×５０mmであったので、実質試料をＧｅ結晶に押し
つけている圧力は約１．０kgf/mm2 であった。このバッ
クグラウンド測定のためのセッティングで、Ｇｅは破損
しなかった。
を測定するために、Ｇｅ結晶を図１または図２に模式的
に示した部品３と部品５の間にセットした。次いで部品
３の上に部品７をセットし、更に全体を枠８にセットし
てネジ６によってがたがない程度に軽くＧｅ結晶を部品
３と部品５に接触させた。次いでガスボンベの圧力を利
用してゴム膜に約０．５kgf/mm2 の圧力をかけた。ゴム
膜９が部品３を押している面積は４０mm×５０mmで、Ｇ
ｅ結晶と部品３もしくは部品５が接触している面積が２
０mm×５０mmであったので、実質試料をＧｅ結晶に押し
つけている圧力は約１．０kgf/mm2 であった。このバッ
クグラウンド測定のためのセッティングで、Ｇｅは破損
しなかった。
【００２８】実施例１と同様に、Ｇｅ結晶をセットした
治具をフーリエ変換赤外吸収スペクトル測定装置にセッ
トし、試料室内を約３０分間窒素ガス置換を行った。そ
の後に４００cm-1〜４０００cm-1の範囲でエミッション
モードで、バックグラウンドの測定を行った。
治具をフーリエ変換赤外吸収スペクトル測定装置にセッ
トし、試料室内を約３０分間窒素ガス置換を行った。そ
の後に４００cm-1〜４０００cm-1の範囲でエミッション
モードで、バックグラウンドの測定を行った。
【００２９】次に、試料の測定のためにＧｅ結晶と上述
の１枚の試料を接触させ、図１または図２に模式的に示
した部品３と部品５の間にセットした。ここで、有機被
膜に関する赤外吸収スペクトルを測定するために有機被
膜とＧｅ結晶を接触させた。そして、部品３の上に部品
７をセットし、更に全体を枠８にセットしてネジ６によ
ってがたがない程度に軽く試料をＧｅ結晶に接触させ
た。次いでガスボンベの圧力を利用してゴム膜に約４kg
f/mm2 の圧力をかけた。ゴム膜９が部品３を押している
面積は４０mm×５０mmで、試料面の面積が２０mm×３０
mmであったので実質試料をＧｅ結晶に押しつけている圧
力は約１３．２kgf/mm2 であった。
の１枚の試料を接触させ、図１または図２に模式的に示
した部品３と部品５の間にセットした。ここで、有機被
膜に関する赤外吸収スペクトルを測定するために有機被
膜とＧｅ結晶を接触させた。そして、部品３の上に部品
７をセットし、更に全体を枠８にセットしてネジ６によ
ってがたがない程度に軽く試料をＧｅ結晶に接触させ
た。次いでガスボンベの圧力を利用してゴム膜に約４kg
f/mm2 の圧力をかけた。ゴム膜９が部品３を押している
面積は４０mm×５０mmで、試料面の面積が２０mm×３０
mmであったので実質試料をＧｅ結晶に押しつけている圧
力は約１３．２kgf/mm2 であった。
【００３０】この試料セッティングの手続きはこの試料
に対して１０度行ったが、Ｇｅ結晶を破損する事なく行
う事ができた。更に、同一種の試料であるが別に切りだ
した５枚の試料に対しても、試料にかかる圧力が３３kg
f/cm2 まではＧｅ結晶を破損する事なく試料のセッティ
ングを完了する事ができた。
に対して１０度行ったが、Ｇｅ結晶を破損する事なく行
う事ができた。更に、同一種の試料であるが別に切りだ
した５枚の試料に対しても、試料にかかる圧力が３３kg
f/cm2 まではＧｅ結晶を破損する事なく試料のセッティ
ングを完了する事ができた。
【００３１】試料をセットした治具を、上述のフーリエ
変換赤外吸収スペクトル測定装置にセットし、試料室内
を約３０分間窒素ガス置換を行った。その後に４００cm
-1〜４０００cm-1の範囲で、エミッションモードでの有
機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを測定した。
変換赤外吸収スペクトル測定装置にセットし、試料室内
を約３０分間窒素ガス置換を行った。その後に４００cm
-1〜４０００cm-1の範囲で、エミッションモードでの有
機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを測定した。
【００３２】この様にして得られたエミッションモード
での有機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを上述のエミッ
ションモードでのバックグラウンドでわり算を行って、
通常の透過スペクトル、更にはその対数を取る事によっ
てアブソープションモードでの通常の吸収スペクトルを
得た。
での有機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを上述のエミッ
ションモードでのバックグラウンドでわり算を行って、
通常の透過スペクトル、更にはその対数を取る事によっ
てアブソープションモードでの通常の吸収スペクトルを
得た。
【００３３】この様な吸収スペクトルの測定を、同一の
２枚の試料を用いて、試料のセッティングの段階から１
０回繰り返して、吸収スペクトル測定の定量性に関する
再現性の試験を行った。ただし、試料にかけた圧力は約
１３．２kgf/cm2 で統一した。その結果、ポリエステル
由来の主ピークである１７００cm-1付近のシグナルの吸
光係数の１０回の測定値は、１０回の測定の平均に対し
て±３．９％以内の変動であった。また、メラミン樹脂
由来の主ピークである１５５０cm-1付近のシグナルの吸
光係数の１０回の測定値は、１０回の測定の平均に対し
て±５．８％以内の変動であった。さらには、ポリエス
テル由来の１７００cm-1付近のシグナルの吸光係数に対
する、メラミン樹脂由来の１５５０cm-1付近のシグナル
の吸光係数の比の１０回の測定値は、１０回の平均に対
して±２．７％以内の変動に留まった。
２枚の試料を用いて、試料のセッティングの段階から１
０回繰り返して、吸収スペクトル測定の定量性に関する
再現性の試験を行った。ただし、試料にかけた圧力は約
１３．２kgf/cm2 で統一した。その結果、ポリエステル
由来の主ピークである１７００cm-1付近のシグナルの吸
光係数の１０回の測定値は、１０回の測定の平均に対し
て±３．９％以内の変動であった。また、メラミン樹脂
由来の主ピークである１５５０cm-1付近のシグナルの吸
光係数の１０回の測定値は、１０回の測定の平均に対し
て±５．８％以内の変動であった。さらには、ポリエス
テル由来の１７００cm-1付近のシグナルの吸光係数に対
する、メラミン樹脂由来の１５５０cm-1付近のシグナル
の吸光係数の比の１０回の測定値は、１０回の平均に対
して±２．７％以内の変動に留まった。
【００３４】（比較例）実施例１と同様に、厚さ約１mm
の鋼板上に塗布した、厚さ約２０μｍのポリエステルと
メラミン樹脂との混合有機被膜を２０mm×３０mmの大き
さに切りだした試料を２枚用意した。これらの試料の有
機被膜の赤外吸収スペクトルＡＴＲ法による赤外吸収ス
ペクトルを測定するために、高屈折率材料として大きさ
が２０mm×５０mm、厚さが３mmのゲルマニウム結晶（Ｇ
ｅ結晶）を用意した。
の鋼板上に塗布した、厚さ約２０μｍのポリエステルと
メラミン樹脂との混合有機被膜を２０mm×３０mmの大き
さに切りだした試料を２枚用意した。これらの試料の有
機被膜の赤外吸収スペクトルＡＴＲ法による赤外吸収ス
ペクトルを測定するために、高屈折率材料として大きさ
が２０mm×５０mm、厚さが３mmのゲルマニウム結晶（Ｇ
ｅ結晶）を用意した。
【００３５】Ｇｅ結晶と試料をセットするための治具と
して図３に模式的に示した従来タイプのものを用いた。
まずバックグラウンドを測定するためにＧｅ結晶を部品
１４と部品１５ではさみ更にネジ１６によって徐々に締
め付けた。このセッティングではＧｅ結晶は破損しなか
った。Ｇｅ結晶をセットした治具をフーリエ変換赤外吸
収スペクトル測定装置にセットし、試料室内を約３０分
間窒素ガス置換を行った。その後に４００cm-1〜４００
０cm-1の範囲でエミッションモードで、バックグラウン
ドの測定を行った。
して図３に模式的に示した従来タイプのものを用いた。
まずバックグラウンドを測定するためにＧｅ結晶を部品
１４と部品１５ではさみ更にネジ１６によって徐々に締
め付けた。このセッティングではＧｅ結晶は破損しなか
った。Ｇｅ結晶をセットした治具をフーリエ変換赤外吸
収スペクトル測定装置にセットし、試料室内を約３０分
間窒素ガス置換を行った。その後に４００cm-1〜４００
０cm-1の範囲でエミッションモードで、バックグラウン
ドの測定を行った。
【００３６】次いで、試料の測定のためにＧｅ結晶を上
述の２枚の試料ではさみ、図３に模式的に示した部品１
４と部品１５の間にセットした。ここで、有機被膜に関
する赤外吸収スペクトルを測定するために有機被膜とＧ
ｅ結晶を接触させた。そしてネジ１６によって徐々に締
め付けたところ、Ｇｅ結晶が破損してしまった。これは
切りだした試料板にわずかに反りがあった事と、４本の
ネジ１６の締め付け具合がアンバランスになったためと
考えられる。そこで別に切りだした試料と新しいＧｅ結
晶を用意して上に述べたのと同様にＧｅ結晶と試料をセ
ットし、ネジ１６によって締め付ける力を非常に弱くし
てＧｅ結晶の破損を防止し、不完全ながらＧｅ結晶と試
料との接触を保った。
述の２枚の試料ではさみ、図３に模式的に示した部品１
４と部品１５の間にセットした。ここで、有機被膜に関
する赤外吸収スペクトルを測定するために有機被膜とＧ
ｅ結晶を接触させた。そしてネジ１６によって徐々に締
め付けたところ、Ｇｅ結晶が破損してしまった。これは
切りだした試料板にわずかに反りがあった事と、４本の
ネジ１６の締め付け具合がアンバランスになったためと
考えられる。そこで別に切りだした試料と新しいＧｅ結
晶を用意して上に述べたのと同様にＧｅ結晶と試料をセ
ットし、ネジ１６によって締め付ける力を非常に弱くし
てＧｅ結晶の破損を防止し、不完全ながらＧｅ結晶と試
料との接触を保った。
【００３７】この様に試料をセットした治具を、上述の
フーリエ変換赤外吸収スペクトル測定装置にセットし、
試料室内を約３０分間窒素ガス置換を行った。その後に
４００cm-1〜４０００cm-1の範囲で、エミッションモー
ドでの有機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを測定した。
フーリエ変換赤外吸収スペクトル測定装置にセットし、
試料室内を約３０分間窒素ガス置換を行った。その後に
４００cm-1〜４０００cm-1の範囲で、エミッションモー
ドでの有機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを測定した。
【００３８】この様にして得られたエミッションモード
での有機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを上述のエミッ
ションモードでのバックグラウンドでわり算を行って、
通常の透過スペクトル、更にはその対数を取る事によっ
てアブソープションモードでの通常の吸収スペクトルを
得た。
での有機塗膜表面の赤外吸収スペクトルを上述のエミッ
ションモードでのバックグラウンドでわり算を行って、
通常の透過スペクトル、更にはその対数を取る事によっ
てアブソープションモードでの通常の吸収スペクトルを
得た。
【００３９】この様な吸収スペクトルの測定を、同一の
２枚の試料を用いて、試料のセッティングの段階から１
０回繰り返して、吸収スペクトル測定の定量性に関する
再現性の試験を行った。ただし、試料にかけた圧力は知
る事ができなかった。また、Ｇｅ結晶の破損を防止する
ためにネジ１６の締め付けの程度は非常に弱くした。そ
の結果、ポリエステル由来の主ピークである１７００cm
-1付近のシグナルの吸光係数の１０回の測定値は、１０
回の測定の平均に対して±３０％程度の変動であった。
また、メラミン樹脂由来の主ピークである１５５０cm-1
付近のシグナルの吸光係数の１０回の測定値は、１０回
の測定の平均に対して±２５％程度の変動であった。さ
らには、ポリエステル由来の１７００cm-1付近のシグナ
ルの吸光係数に対する、メラミン樹脂由来の１５５０cm
-1付近のシグナルの吸光係数の比の１０回の測定値は、
１０回の平均に対して±１０％程度の変動を有してお
り、定量性の再現性に欠ける結果となった。この結果
は、Ｇｅ結晶の破損を防止するために、Ｇｅ結晶に対し
て試料を押し付ける力を弱く設定せざるを得ず、かつ試
料セッティング毎のＧｅ結晶と試料との接触条件が一定
でなかった事を反映している。
２枚の試料を用いて、試料のセッティングの段階から１
０回繰り返して、吸収スペクトル測定の定量性に関する
再現性の試験を行った。ただし、試料にかけた圧力は知
る事ができなかった。また、Ｇｅ結晶の破損を防止する
ためにネジ１６の締め付けの程度は非常に弱くした。そ
の結果、ポリエステル由来の主ピークである１７００cm
-1付近のシグナルの吸光係数の１０回の測定値は、１０
回の測定の平均に対して±３０％程度の変動であった。
また、メラミン樹脂由来の主ピークである１５５０cm-1
付近のシグナルの吸光係数の１０回の測定値は、１０回
の測定の平均に対して±２５％程度の変動であった。さ
らには、ポリエステル由来の１７００cm-1付近のシグナ
ルの吸光係数に対する、メラミン樹脂由来の１５５０cm
-1付近のシグナルの吸光係数の比の１０回の測定値は、
１０回の平均に対して±１０％程度の変動を有してお
り、定量性の再現性に欠ける結果となった。この結果
は、Ｇｅ結晶の破損を防止するために、Ｇｅ結晶に対し
て試料を押し付ける力を弱く設定せざるを得ず、かつ試
料セッティング毎のＧｅ結晶と試料との接触条件が一定
でなかった事を反映している。
【００４０】以上のように、本発明の方法によれば、ポ
リエステル由来の１７００cm-1付近のシグナルのメラミ
ン樹脂由来の１５５０cm-1付近のシグナルの吸光係数の
比の１０回の測定値の平均値に対する変動は±３％程度
であり、比較例の±１０％程度に比べて１／３であり、
極めて再現性が高い。
リエステル由来の１７００cm-1付近のシグナルのメラミ
ン樹脂由来の１５５０cm-1付近のシグナルの吸光係数の
比の１０回の測定値の平均値に対する変動は±３％程度
であり、比較例の±１０％程度に比べて１／３であり、
極めて再現性が高い。
【００４１】
【発明の効果】本発明の赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定
用試料固定方法は、高屈折率材料と試料との接触を与え
るセッティングが容易であり、かつ試料を高屈折率材料
に押し付ける力が均一であり更にそのセッティングの再
現性に優れている。そのために、試料セッティングを含
めた測定時間の短縮、高価な高屈折率材料を破損する事
がないための赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定にかかるコ
ストの低減、そして測定の定量性の再現性の大幅な改善
に寄与するものである。
用試料固定方法は、高屈折率材料と試料との接触を与え
るセッティングが容易であり、かつ試料を高屈折率材料
に押し付ける力が均一であり更にそのセッティングの再
現性に優れている。そのために、試料セッティングを含
めた測定時間の短縮、高価な高屈折率材料を破損する事
がないための赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定にかかるコ
ストの低減、そして測定の定量性の再現性の大幅な改善
に寄与するものである。
【図１】本発明の方法に用いる治具の側面からみた模式
図。
図。
【図２】図１に示す治具の前面からみた模式図。
【図３】従来の固定方法の例を示す模式図。
【図４】図１に示した治具に圧力を供給するためのライ
ンの模式図。
ンの模式図。
１ 試料 ２ 高屈折率材料 ３ 部品 ４ 足 ５ 部品 ６ ネジ ７ 部品 ８ 枠 ９ ゴム膜 １０ 導入管 １１ 空間部 １２ 試料 １３ 高屈折率材料 １４ 板 １５ 板 １６ ネジ １７ ガスボンベ １８ 主減圧弁 １９ 副減圧弁 ２０ ニードルバルブ ２１ ニードルバルブ ２２ ストップバルブ ２３ 圧力計
Claims (2)
- 【請求項１】 赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定時に試料
を高屈折率材料に密着させる方法において、前記高屈折
率材料１枚の上下面に前記試料を密着させ、次いで、そ
の上下面を板状部品で挟み、更に前記板状部品の上下面
のいずれか１面をゴム膜を介したガス圧または液圧によ
って押し、試料を高屈折率材料に均一な力で密着させる
事を特徴とする赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定用試料固
定方法。 - 【請求項２】 赤外吸収スペクトルＡＴＲ測定時に試料
を高屈折率材料に密着させる方法において、前記高屈折
率材料１枚の上下面のいずれか１面に前記試料を密着さ
せ、次いで、その上下面を板状部品で挟み、更に前記板
状部品の上下面のいずれか１面をゴム膜を介したガス圧
または液圧によって押し、試料を高屈折率材料に均一な
力で密着させる事を特徴とする赤外吸収スペクトルＡＴ
Ｒ測定用試料固定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6222293A JPH06273323A (ja) | 1993-03-22 | 1993-03-22 | 赤外吸収スペクトルａｔｒ測定用試料固定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6222293A JPH06273323A (ja) | 1993-03-22 | 1993-03-22 | 赤外吸収スペクトルａｔｒ測定用試料固定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06273323A true JPH06273323A (ja) | 1994-09-30 |
Family
ID=13193914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6222293A Withdrawn JPH06273323A (ja) | 1993-03-22 | 1993-03-22 | 赤外吸収スペクトルａｔｒ測定用試料固定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06273323A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6507396B1 (en) * | 1998-06-18 | 2003-01-14 | Herman Philip Godfried | Spectroscopic analyzing arrangement |
-
1993
- 1993-03-22 JP JP6222293A patent/JPH06273323A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6507396B1 (en) * | 1998-06-18 | 2003-01-14 | Herman Philip Godfried | Spectroscopic analyzing arrangement |
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