JPH06222831A - Fault diagnostic device based on observation of vibration waveform - Google Patents

Fault diagnostic device based on observation of vibration waveform

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JPH06222831A
JPH06222831A JP5010514A JP1051493A JPH06222831A JP H06222831 A JPH06222831 A JP H06222831A JP 5010514 A JP5010514 A JP 5010514A JP 1051493 A JP1051493 A JP 1051493A JP H06222831 A JPH06222831 A JP H06222831A
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controller
phase delay
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清司 下村
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信久 赤羽
Jinichi Kikuchi
仁一 菊池
Katsutoshi Niwada
勝利 庭田
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Tohoku Electric Power Co Inc
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Abstract

PURPOSE:To provide a vibration waveform observation type fault diagnosing device which can easily and quickly diagnose the faults. CONSTITUTION:A fault diagnosing device 1 contains the connectors M1 and M2 which can be freely attached to or detached from the input/output terminals of a controlled object and a regulator of control system or orher diagnosed device. A storage 15 stores the constant of each diagnosed device. A characteristic calculator means 20 detects the angle frequency omega of the surge signals that can appear on both connectors M1 and M2 and then calculates the gain and the phase delay of a device at the angle omega by using the stored constant of the device connected between both connectors M1 and M2. A measuring means 21 measures the gain and the phase delay between the signals of both connectors, and a deciding means 22 calculates the ratios between the measured value and the calculated value of the gain and the phase delay, respectively. Then, a fact that the device causes the oscillation is diagnosed when either one of both ratios is larger than the prescribed threshold value. If it is diagnosed that there is no factor of oscillation in the device, it is decided that the parameter value of the regulator causes the oscillation.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、振動波形観測による異
常診断装置に関し、とくに調節計によりフィードバック
制御する制御量に不所望の振動が生じた時に、外乱を加
えることなく当該振動の波形観測のみにより発振原因を
診断する振動波形観測による異常診断装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an abnormality diagnosing device by observing vibration waveforms, and in particular, when an undesired vibration occurs in a control amount which is feedback-controlled by a controller, it is possible to observe the waveform of the vibrations without adding disturbance. The present invention relates to an abnormality diagnosis device for observing the cause of oscillation by observing a vibration waveform.

【0002】[0002]

【従来の技術】調節計を含む制御系において、計器又は
機器の不調等のため制御量にハンティングとよばれる振
動の生ずることがあるが、場合によってはその振動の持
続を暫時放置することもあった。例えば図4に示す火力
発電所の排ガスの熱回収設備における蒸気流を調節計3
と弁7で調節する装置では、この蒸気流の調節が一種の
補機であるので、振動が僅かであってボイラーや主発電
機等の主機の運転に直接の支障がない時は、適当な計画
停止の時期まで放置されることがあった。しかし、補機
における制御量の振動は、主機の安全運転の阻害要因と
なり得るので、早急にその原因を究明し、不調機器の更
新や制御系の再調整等の措置を講じ、振動を除去する必
要がある。
2. Description of the Related Art In a control system including a controller, vibration called "hunting" may occur in a controlled variable due to malfunction of an instrument or a device. In some cases, the vibration may be left for a while. It was For example, the controller 3 controls the steam flow in the heat recovery equipment for exhaust gas of a thermal power plant shown in FIG.
In the device that adjusts with the valve 7 and the valve 7, since the adjustment of the steam flow is a kind of auxiliary machine, when vibration is slight and there is no direct hindrance to the operation of the main machine such as the boiler or the main generator, it is appropriate. It was sometimes left unattended until the scheduled shutdown. However, the vibration of the control amount in the auxiliary machine can be a factor that hinders the safe operation of the main machine, so immediately investigate the cause, take measures such as updating the malfunctioning equipment and re-adjusting the control system, and eliminate the vibration. There is a need.

【0003】従来は、この種の振動の原因究明に適する
装置がないために、経験を積んだ技術者が、振動の状態
を目視で観察し、調節計のパラメータを変更するか、或
いは機器の異常個所を推定し、必要な調整や交換を行う
ことにより処置していた。
Conventionally, since there is no apparatus suitable for investigating the cause of this type of vibration, an experienced engineer visually observes the state of vibration and changes the parameters of the controller or the equipment. It was treated by estimating the abnormal point and making necessary adjustments and replacements.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、前記従来の処
置には、経験を積んだ熟練技術者が必要であること、
試行錯誤の反復が避けられず処置に長時間を要する傾
向があること、主として技術者の勘による処置の面が
強いので、推定の誤りに起因する振動の再発が短期間に
発生しがちであること等の問題点があった。
However, the above-mentioned conventional treatment requires an experienced technician,
Repeated trial and error tends to be unavoidable, and it takes a long time to perform the treatment. Since the treatment mainly by an engineer's intuition is strong, the recurrence of vibration due to incorrect estimation tends to occur in a short period of time. There was such a problem.

【0005】従って、本発明の目的は熟練者を要さずし
かも迅速な処置を可能とする振動波形観測による異常診
断装置を提供するにある。
Therefore, it is an object of the present invention to provide an abnormality diagnosis device by observing a vibration waveform, which requires no skilled person and enables rapid treatment.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者は制御量の発振
原因の検出に当って次の3点に注目した。即ち、(1) 振
動の主な原因は制御系内の機器のゲイン及び位相遅れの
過大にあること、(2) 制御系内の任意の2点間のゲイン
及び位相遅れを測定できる簡便な測定装置がないこと、
(3) 運転中の機器の特性を直接に測定できる簡便な測定
装置がないこと。
The inventor has paid attention to the following three points in detecting the cause of oscillation of the controlled variable. That is, (1) The main cause of vibration is the excessive gain and phase delay of the equipment in the control system, and (2) Simple measurement that can measure the gain and phase delay between any two points in the control system. Lack of equipment,
(3) There is no simple measuring device that can directly measure the characteristics of the equipment in operation.

【0007】本発明は、制御系内の任意の2点に着脱自
在に接続できる接続子を有する簡易な診断装置により、
運転中の制御対象及び関連機器の特性値を測定すると共
に接続された2点間のゲイン及び位相遅れの大きさを求
め、発振原因を診断することに成功したものである。
The present invention provides a simple diagnostic device having a connector which can be detachably connected to any two points in a control system.
It succeeds in diagnosing the cause of oscillation by measuring the characteristic values of the controlled object and related equipment during operation, and obtaining the magnitudes of gain and phase delay between two connected points.

【0008】図1及び図4を参照するに、本発明者によ
る振動波形観測による異常診断装置1は、調節計3と制
御対象9を含む制御系内の任意の2点に分離自在に接続
される第1接続子M1及び第2接続子M2;調節計3、制御
対象9、及び制御系内の機器8(図6参照)の各々が有
する定数の初期値、ゲインの変化のしきい値(thg)及
び位相遅れの変化のしきい値(thp)を記憶する記憶装
置15;第1及び第2接続子M1、M2上の信号に存在する振
動の波形の角周波数(ω)を検出し且つ両接続子間に接
続された機器の前記定数の初期値と前記角周波数とから
当該機器の前記角周波数におけるゲイン及び位相遅れを
算出する特性算出手段20;前記第1接続子M1上の信号と
第2接続子M2上の信号との間の前記角周波数におけるゲ
イン及び位相遅れを測定する測定手段21;並びに算出さ
れたゲイン及び位相遅れと測定されたゲイン及び位相遅
れとの比をそれぞれ求め、且つそれらの比の何れかが当
該機器の対応する前記ゲインの変化のしきい値(thg
又は位相遅れの変化のしきい値(thp)以上である時は
当該機器を前記振動の発振原因であるとする判定手段22
を備えてなる構成を用いる。
Referring to FIGS. 1 and 4, an abnormality diagnosing device 1 for observing a vibration waveform by the present inventor is detachably connected to any two points in a control system including a controller 3 and a controlled object 9. The first connector M1 and the second connector M2, which are the controller 3, the control target 9, and the device 8 (see FIG. 6) in the control system, each of which has an initial constant value and a gain change threshold value ( th g ) and the storage device 15 for storing the threshold value (th p ) of the change in the phase delay; the angular frequency (ω) of the vibration waveform existing in the signals on the first and second connectors M1 and M2 is detected. And a characteristic calculating means 20 for calculating a gain and a phase delay at the angular frequency of the device from the initial value of the constant of the device connected between the two connectors and the angular frequency; on the first connector M1 Measuring the gain and phase lag at said angular frequency between the signal and the signal on the second connector M2 Measuring means 21 for calculating the gain and phase lag and the ratio of the calculated gain and phase lag to the measured gain and phase lag, and any one of the ratios (the threshold of the gain change corresponding to the device). th g )
Alternatively, when it is equal to or larger than the threshold value (th p ) of the change in the phase delay, it is determined that the device is the cause of the vibration.
Is used.

【0009】好ましくは、調節計3、制御対象9、及び
制御系内機器8の何れをも発振原因でないとした時は、
調節計3のパラメータが発振原因であるとする。また、
記憶装置15に記憶する定数に、調節計3の比例帯、積分
時間、微分時間、及び制御対象9のゲイン、時定数、む
だ時間の初期値(PB0、TI0、TD0、K0、T0、L0)を含
める。
[0009] Preferably, when none of the controller 3, the controlled object 9 and the device 8 in the control system causes oscillation,
It is assumed that the parameter of the controller 3 is the cause of oscillation. Also,
The constants stored in the storage device 15 include the proportional band of the controller 3, the integration time, the differential time, the gain of the control target 9, the time constant, and the initial value of the dead time (PB 0 , T I0 , T D0 , K 0 , T 0 , L 0 ) are included.

【0010】調節計3および制御対象9以外の機器が制
御系に含まれる場合には、調節計3以外の全ての機器を
一括するか又は複数の隣接機器を一括して、むだ時間付
き一次遅れ等価回路で近似することができる。即ち、制
御系内の隣接複数機器,例えば調節計3以外の全ての機
器を異常診断装置1の第1及び第2接続子の間に接続
し、特性算出手段20が検出する振動波形の角周波数
(ω)と測定手段21が測定する前記角周波数におけるゲ
インと記憶装置15内の調節計3の定数とを用い、前記複
数機器に対応するむだ時間付き一次遅れ等価回路の等価
ゲイン(Ke)、等価時定数(Te)、及び等価むだ時間
(Le)を算出する等価定数算出手段23を設けることが
できる。この場合、特性算出手段20による前記両接続子
M1、M2間の等価回路のゲイン及び位相遅れの算出を、前
記等価ゲイン(Ke)、等価時定数(Te)、及び等価む
だ時間(Le)を用いて行うことができる。
When a device other than the controller 3 and the controlled object 9 is included in the control system, all the devices other than the controller 3 or a plurality of adjacent devices are batched together and a first-order delay with dead time is provided. It can be approximated by an equivalent circuit. That is, a plurality of adjacent devices in the control system, for example, all devices other than the controller 3 are connected between the first and second connectors of the abnormality diagnosing device 1, and the angular frequency of the vibration waveform detected by the characteristic calculating means 20. Using (ω) and the gain at the angular frequency measured by the measuring means 21 and the constant of the controller 3 in the storage device 15, the equivalent gain (K e ) of the first-order delay equivalent circuit with dead time corresponding to the plurality of devices. , Equivalent time constant (T e ) and equivalent dead time (L e ) may be provided. In this case, the both connectors by the characteristic calculating means 20
The gain and phase delay of the equivalent circuit between M1 and M2 can be calculated using the equivalent gain (K e ), the equivalent time constant (T e ), and the equivalent dead time (L e ).

【0011】[0011]

【作用】本発明の原理を次の順序で説明する。 A.判断基準 B.ゲイン及び位相遅れの計算値 C.ゲイン及び位相遅れの測定値 D.動作の流れ図The principle of the present invention will be described in the following order. A. Criteria B. Calculated value of gain and phase delay C. Measured values of gain and phase delay D. Operation flow chart

【0012】A.[判断基準] 制御量の持続振動の原因を診断するため、一方で当該振
動の角周波数ωを測定した後調節計3及び制御対象9の
当該角周波数ωにおけるゲイン又は位相遅れを関連定数
の初期値に基づいて計算値として算出し、他方で振動持
続時のゲイン又は位相遅れを測定により実測値として求
め、実測値が計算値から著しく離れ、それらの比が所定
のしきい値を超えている時は調節計又は制御対象に発振
原因があるとする。調節計及び制御対象のゲイン又は位
相遅れに異常がない時は、調節計のパラメータの値に発
振原因があるとする。
A. [Judgment Criteria] In order to diagnose the cause of the sustained vibration of the controlled variable, on the other hand, after measuring the angular frequency ω of the vibration, the gain or phase delay of the controller 3 and the controlled object 9 at the angular frequency ω is set to the initial value of the related constant. Calculated as a calculated value based on the value, and on the other hand, the gain or phase delay during vibration continuation is obtained as a measured value by measurement, and the measured value deviates significantly from the calculated value, and their ratio exceeds a predetermined threshold value. At this time, it is assumed that the controller or the controlled object has an oscillation cause. When there is no abnormality in the gain or phase delay of the controller and the controlled object, it is assumed that the parameter value of the controller has an oscillation cause.

【0013】B.[ゲイン及び位相遅れの計算値] B−1 [調節計のゲインの計算値] 図9の調節計3の伝達関数Gc(s)は次式で与えられる。B. [Calculated Value of Gain and Phase Delay] B-1 [Calculated Value of Controller Gain] The transfer function Gc (s) of the controller 3 in FIG. 9 is given by the following equation.

【0014】[0014]

【数1】 [Equation 1]

【0015】ここに、 Kp0 比例ゲインの初期値 TI0 積分時間の初期値 TD0 微分時間の初期値 η 微分ゲイン s ラプラス演算子 Gc(s) 調節計の伝達関数Where Kp 0 initial value of proportional gain T I0 initial value of integration time T D0 initial value of differential time η differential gain s Laplace operator Gc (s) transfer function of controller

【0016】s=jωとおいて(1)式を周波数伝達関数に書
換えれば(2)式となる。
If s = jω and Eq. (1) is rewritten as a frequency transfer function, Eq. (2) is obtained.

【0017】[0017]

【数2】 [Equation 2]

【0018】(2)式から角周波数ωにおけるゲイン|Gc
(jω)|は次のように求めることができる。
From equation (2), the gain at angular frequency ω | Gc
(jω) | can be obtained as follows.

【0019】[0019]

【数3】 [Equation 3]

【0020】図11は、本発明の異常診断装置1の第1及
び第2接続子M1、M2を図9のように持続振動中の調節計
3の入出力端に接続した時の両接続子上の振動波形を示
す。この振動の角周波数ω0は、同図の制御量PVの隣接
ピークの時間T10、T12から次のように求められる。
FIG. 11 shows both connectors when the first and second connectors M1 and M2 of the abnormality diagnosing device 1 of the present invention are connected to the input and output ends of the controller 3 during continuous vibration as shown in FIG. The vibration waveform above is shown. The angular frequency ω 0 of this vibration is obtained as follows from the times T 10 and T 12 of the adjacent peaks of the controlled variable PV shown in FIG.

【0021】[0021]

【数4】 [Equation 4]

【0022】(1)式に用いた比例ゲインの初期値Kp0、積
分時間の初期値TI0、微分時間の初期値TD0、微分ゲイン
η、及び上式のω0を(3)式に代入すれば、角周波数ω0
の持続振動下における調節計のゲインの計算値|Gc(j
ω0)|0が求められる。
The proportional gain initial value Kp 0 used in the equation (1), the integration time initial value T I0 , the differential time initial value T D0 , the differential gain η, and ω 0 in the above equation are converted into the equation (3). Substituting, angular frequency ω 0
Calculated value of controller gain under continuous vibration | Gc (j
ω 0 ) | 0 is obtained.

【0023】B−2 [調節計の位相遅れの計算値] (2)式から調節計の角周波数ωにおける位相遅れΦ{Gc
(jω)}は次のように求められる。
B-2 [Calculated value of phase lag of controller] From equation (2), phase lag Φ {Gc at the angular frequency ω of the controller.
(jω)} is calculated as follows.

【0024】[0024]

【数5】 [Equation 5]

【0025】上記調節計ゲインの計算値算出に用いた比
例ゲインの初期値Kp0、積分時間の初期値TI0、微分時間
の初期値TD0、微分ゲインη、及び(4)式のω0を(5)式に
代入すれば、角周波数ω0の持続振動下における調節計
の位相遅れの計算値Φc0を求めることができる。
The initial value Kp 0 of the proportional gain used for calculating the calculated value of the controller gain, the initial value T I0 of the integration time, the initial value T D0 of the differential time, the differential gain η, and ω 0 of the equation (4). By substituting into equation (5), the calculated value Φc 0 of the phase lag of the controller under continuous oscillation of angular frequency ω 0 can be obtained.

【0026】B−3 [制御対象のゲインの計算値] 図10の制御対象9の伝達関数Gp(s)は次式で与えられ
る。
B-3 [Calculated Value of Gain of Controlled Object] The transfer function Gp (s) of the controlled object 9 of FIG. 10 is given by the following equation.

【0027】[0027]

【数6】 [Equation 6]

【0028】ここに、 K 制御対象のゲイン T 制御対象の時定数 L 制御対象のむだ時間 s ラプラス演算子 Gp(s) 制御対象の伝達関数Where K is the gain of the controlled object T is the time constant of the controlled object L is the dead time of the controlled object s Laplace operator Gp (s) is the transfer function of the controlled object

【0029】指数関数Ke-Lsをマクローリン展開して整
理すれば(6)式は近似的に次の様に書ける。
If the exponential function Ke -Ls is expanded by the Maclaurin expansion and rearranged, the equation (6) can be approximately written as follows.

【0030】[0030]

【数7】 [Equation 7]

【0031】s=jωとおいて(7)式を周波数伝達関数に書
換えれば(8)式となる。
When s = jω and Eq. (7) is rewritten as a frequency transfer function, Eq. (8) is obtained.

【0032】[0032]

【数8】 [Equation 8]

【0033】制御対象が角周波数ω0で振動する時のゲ
インの計算値|Gp(jω0)|0は、(8)式から次のように
求められる。
The calculated value | Gp (jω 0 ) | 0 of the gain when the controlled object oscillates at the angular frequency ω 0 is obtained from the equation (8) as follows.

【0034】[0034]

【数9】 [Equation 9]

【0035】ところで、制御対象9は複数の個別機器8
の組合わせからなる場合がある。図6(A)は、2つの個別
機器8を有する制御対象9aの初期値K0、時定数の初期値
T0、及びむだ時間の初期値L0を、通常の制御動作時と同
様に接続した本発明の異常診断装置1によって測定する
方法を示す。即ち、弁7を無負荷に保った状態で、図6
(B)に示すように調節計3から階段状の出力ΔMを制御
対象9aに加え、これに応ずる制御対象9aからの出力にお
けるむだ時間L、最大ゲインΔPV1/ΔMV、及び最大ゲ
インまでの時定数T1を、それぞれ制御対象9aのむだ時間
の初期値L0、ゲインの初期値K0、及び時定数の初期値T0
の近似値とすることができる。なお、この図の測定方法
は、複数の個別機器8からなるものだけでなく、任意の
構成の制御対象9に適用することができる。
By the way, the controlled object 9 is a plurality of individual devices 8
It may consist of a combination of. FIG. 6 (A) shows an initial value K 0 of a controlled object 9a having two individual devices 8 and an initial value of a time constant.
A method of measuring T 0 and the initial value L 0 of the dead time by the abnormality diagnosis device 1 of the present invention connected in the same manner as in the normal control operation will be described. That is, with the valve 7 kept unloaded, as shown in FIG.
As shown in (B), the stepwise output ΔM from the controller 3 is added to the controlled object 9a, and the dead time L, the maximum gain ΔPV1 / ΔMV, and the time constant up to the maximum gain in the output from the controlled object 9a corresponding to this are added. T 1 is the initial value L 0 of the dead time of the controlled object 9 a, the initial value K 0 of the gain, and the initial value T 0 of the time constant.
Can be an approximate value of. In addition, the measurement method of this figure is applicable not only to the plurality of individual devices 8 but also to the controlled object 9 of any configuration.

【0036】こうして求めたむだ時間初期値L0、ゲイン
初期値K0、時定数初期値T0、及び前記(4)式のω0を(9)
式に代入すれば、制御対象9又は9aの角周波数ω0にお
けるゲイン計算値|Gp(jω0)|0を算出することができ
る。
The dead time initial value L 0 , the gain initial value K 0 , the time constant initial value T 0 , and ω 0 in the equation (4) obtained in this way are given by (9)
By substituting into the equation, the gain calculation value | Gp (jω 0 ) | 0 at the angular frequency ω 0 of the controlled object 9 or 9a can be calculated.

【0037】B−4 [制御対象の位相遅れの計算値] 制御対象9の角周波数ω0における位相遅れの計算値Φp
0を、時定数初期値T0による位相遅れΦpTとむだ時間初
期値L0による位相遅れΦpLとの和として次の様に求める
ことができる。
B-4 [Calculated value of phase delay of controlled object] Calculated value of phase delay Φp of the controlled object 9 at the angular frequency ω 0
0 can be obtained as the sum of the phase delay Φp T due to the time constant initial value T 0 and the phase delay Φp L due to the dead time initial value L 0 as follows.

【0038】[0038]

【数10】 [Equation 10]

【0039】C.[ゲイン及び位相遅れの測定値] C−1 [調節計のゲインの測定値] 異常診断装置1の第1及び第2接続子M1、M2を図9の様
に調節計の入出力端に接続した時の両接続子における波
形を示す図11において、調節計の入力である偏差Eは、
調節計3の筐体3a内にあるので、直接に異常診断装置1
へ入力することはできない。しかし、偏差Eは直流の設
定値SVと振動する制御量PVとの差であるから、偏差Eの
変化分は振動する制御量PVの位相を反転するか又はπ
(ラジアン)だけずらしたものとなる。よって、調節計3
の角周波数ω0におけるゲインの測定値|Gc(jω0)|m
を、図9(A)の接続により測定した図11の操作量変化分
ΔMVと制御量の変化分ΔPVとの比として次の様に求める
ことができる。
C. [Measurement value of gain and phase delay] C-1 [Measurement value of gain of controller] Connect the first and second connectors M1 and M2 of the abnormality diagnosis device 1 to the input / output terminals of the controller as shown in FIG. In Fig. 11 showing the waveforms at both connectors when the
Since it is inside the housing 3a of the controller 3, the abnormality diagnostic device 1 is directly
Cannot be entered into. However, since the deviation E is the difference between the DC set value SV and the oscillating control amount PV, the change in the deviation E inverts the phase of the oscillating control amount PV or π.
(Radian) Only shifted. Therefore, controller 3
Gain value at angular frequency ω 0 of | Gc (jω 0 ) | m
Can be obtained as follows as a ratio of the manipulated variable change ΔMV of FIG. 11 measured by the connection of FIG. 9A and the control change ΔPV.

【0040】[0040]

【数11】 [Equation 11]

【0041】C−2 [調節計の位相遅れの測定値] 調節計3の角周波数ω0における位相遅れの測定値Φcm
は入力としての偏差Eと出力としての操作量MVとの相差
角であるから、図9(A)の接続により測定した図11にお
ける偏差Eの特定ピーク時刻t11とこれに対応する操作
量MVの特定ピーク時刻t21との間の位相差として次のよ
うに求められる。
C-2 [Measured value of phase lag of controller] Measured value of phase lag at angular frequency ω 0 of controller 3 Φ cm
Is the phase difference angle between the deviation E as an input and the manipulated variable MV as an output. Therefore, the specific peak time t 11 of the deviation E in FIG. 11 measured by the connection in FIG. 9A and the manipulated variable MV corresponding thereto Is obtained as follows as a phase difference from the specific peak time t 21 of

【0042】[0042]

【数12】 [Equation 12]

【0043】C−3 [制御対象のゲインの測定値] 図10の制御対象9の角周波数ω0におけるゲインの測定
値|Gp(jω0)|mは、同図の接続により測定した図12お
ける入力としての操作量の変化分ΔMVと出力としての制
御量の変化分ΔPVとの比として次の様に求めることがで
きる。
C-3 [Measured value of gain of controlled object] The measured value of gain | Gp (jω 0 ) | m at the angular frequency ω 0 of the controlled object 9 of FIG. 10 is measured by the connection of FIG. The ratio of the change amount ΔMV of the manipulated variable as an input to the change amount ΔPV of the control amount as an output can be obtained as follows.

【0044】[0044]

【数13】 [Equation 13]

【0045】C−4 [制御対象の位相遅れの測定値] 制御対象9の角周波数ω0における位相遅れの測定値Φp
mは入力としての操作量MVと出力としての制御量PVとの
相差角であるから、図10の接続により測定した図12にお
ける操作量MVの特定ピーク時刻t20とこれに対応する制
御量PVの特定ピーク時刻t11との間の位相差として次の
ように求められる。
C-4 [Measured value of phase delay of controlled object] Measured value of phase delay Φp of controlled object 9 at angular frequency ω 0
Since m is the phase difference angle between the manipulated variable MV as the input and the controlled variable PV as the output, the specific peak time t 20 of the manipulated variable MV in FIG. 12 measured by the connection in FIG. 10 and the controlled variable PV corresponding thereto. The phase difference between the specific peak time t 11 and the specific peak time t 11 is calculated as follows.

【0046】[0046]

【数14】 [Equation 14]

【0047】D.[動作の流れ図] 本発明の一実施例の異常診断動作を、図16ないし図18の
流れ図によって説明する。 ステップ134: (3)及び(4)式による調節計3のゲインの
計算値|Gc(jω0)|0の算出と(5)式による調節計3の
位相遅れ計算値Φc0の算出 ステップ135: (11)式による調節計3のゲインの測定値
|Gc(jω0)|mの測定と(12)式による調節計3の位相遅
れの測定値Φcmの測定 ステップ136: (9)式による制御対象9のゲインの計算値
|Gp(jω0)|0の算出と(10)式による制御対象9の位相
遅れ計算値Φp0の算出 ステップ137: (13)式による制御対象9のゲインの測定
値|Gp(jω0)|mの測定と(14)式による制御対象9の位
相遅れの測定値Φpmの測定
D. [Flowchart of Operation] The abnormality diagnosis operation of the embodiment of the present invention will be described with reference to the flowcharts of FIGS. Step 134: Calculation of the calculated gain | Gc (jω 0 ) | 0 of the controller 3 by the equations (3) and (4) and calculation of the calculated phase delay Φc 0 of the controller 3 by the equation (5) Step 135 : Measured value of gain of controller 3 | Gc (jω 0 ) | m by equation (11) and measured value of phase delay of controller 3 by equation (12) Φc m Step 136: Equation (9) Calculation of the gain of the controlled object 9 by | Gp (jω 0 ) | 0 and calculation of the phase delay calculated value Φp 0 of the controlled object 9 by the equation (10) Step 137: Gain of the controlled object 9 by the equation (13) Of the measured value | Gp (jω 0 ) | m and the measured value of the phase delay Φp m of the controlled object 9 according to Eq. (14).

【0048】先ず、調節計3が発振原因であるか否かを
判断する。即ち、次の(15)式及び(16)式のゲインの
計算値と実測値との比及び位相遅れの計算値と実測値と
の比が、それぞれ所定のゲイン変化のしきい値thcg及び
位相遅れ変化のしきい値thcp以上であるか否かによって
ステップ138ないし141で判断する。
First, it is determined whether or not the controller 3 is the cause of oscillation. That is, the ratio between the calculated value of the gain and the measured value of the following equations (15) and (16) and the ratio of the calculated value of the phase delay and the measured value are respectively the threshold value thc g of the predetermined gain change and It determines at step 138 to 141 depending whether the threshold value thc p or more phase delay change.

【0049】[0049]

【数15】 [Equation 15]

【0050】[0050]

【数16】 [Equation 16]

【0051】その後、制御対象9が発振原因であるか否
かを、次の(17)式及び(18)式のゲインの計算値と実
測値との比及び位相遅れの計算値と実測値との比が、所
定のゲイン変化のしきい値thpg及び位相遅れ変化のしき
い値thpp以内であるか否かに基づいてステップ144ない
し147で判断する。
Then, it is determined whether or not the controlled object 9 is the cause of oscillation by the ratio of the calculated value of the gain and the measured value of the following equations (17) and (18) and the calculated value of the phase delay and the measured value. Is determined in steps 144 to 147 based on whether or not the ratio is within a predetermined gain change threshold thp g and phase delay change threshold thp p .

【0052】[0052]

【数17】 [Equation 17]

【0053】[0053]

【数18】 [Equation 18]

【0054】最後に、発振原因が調節計と制御対象との
何れにもないと判断した場合に、調節計のパラメータの
設定値に発振原因があるとする。この場合、本発明外の
方法によりパラメータを検討し必要に応じその設定値を
修正する。
Finally, when it is determined that the cause of oscillation is neither in the controller nor in the controlled object, it is assumed that the parameter set values of the controller have an oscillation cause. In this case, the parameter is examined by a method other than the present invention, and the set value is corrected if necessary.

【0055】本発明者は、図4の圧力制御の場合に、本
発明の異常診断装置1で上記しきい値thcg、thcp、thpg
及びthppをそれぞれ1.4、1.4、1.3、及び1.3として、電
空変換器5における異常動作やポジショナー6内の可動
部分に発振原因があることを運転中断なしに迅速に検出
し、重大事故に至り得る異常を効率よく検出することに
成功した。
[0055] The present inventors, in the case of pressure control in FIG. 4, the threshold value thc g in abnormality diagnosis apparatus 1 of the present invention, thc p, thp g
And thp p are set to 1.4, 1.4, 1.3, and 1.3, respectively, to quickly detect abnormal operation in the electropneumatic converter 5 and the cause of oscillation in the movable part of the positioner 6 without interruption, leading to a serious accident. We succeeded in efficiently detecting the anomaly obtained.

【0056】従って、本発明の目的である「熟練者を要
さずしかも迅速な処置を可能とする振動波形観測による
異常診断装置」の提供が達成される。
Therefore, the object of the present invention is to provide the "abnormality diagnostic apparatus by vibration waveform observation that enables rapid treatment without requiring an expert".

【0057】[0057]

【実施例】図18は、比例帯PBの最適化を含む実施例の流
れ図を示す。ここに「最適化」とは、図6の2つの個別
機器8の組合わせ又は図8の線形要素8aと非線形要素8b
との組合わせ等からなる複合的な制御対象9aに対する総
合的な等価ゲインKe、等価時定数Te、及び等価むだ時
間Leが知られている場合に、制御量PVに対する設定値S
Vをステップ状に変化させた時に「所要の評価基準」を
満たす制御応答が得られるようなPID制御の調節計3
の比例ゲインKp(=(y/PB)、yは定数で基準化すれば1、
PBは比例帯)、積分時間TI、及び微分時間TDを設定する
ことをいう。各種の最適化手法が知られているが、いわ
ゆるChien, Hrones, Reswick(Chien等)法によれば、
「所要の評価基準」を「行き過ぎなし、整定時間最小」
としてPID制御する場合の最適化比例ゲインKpop、最
適化比例帯PBop、最適化積分時間TIop、及び最適化微分
時間TDopは次のようになる(広井和男著、「実戦ディジ
タル制御技術」、57頁「PIDパラメータの最適調整と
複合ループ制御」、工業技術社1992年10月刊)。
EXAMPLE FIG. 18 shows a flow chart of an example including optimization of the proportional band PB. Here, “optimization” means a combination of the two individual devices 8 in FIG. 6 or a linear element 8a and a non-linear element 8b in FIG.
When the comprehensive equivalent gain K e , the equivalent time constant T e , and the equivalent dead time L e for the complex controlled object 9a including the combination with the above are known, the set value S for the controlled variable PV is known.
Controller for PID control so that a control response that satisfies the "required evaluation criteria" can be obtained when V is changed stepwise 3
Proportional gain of Kp (= (y / PB), y is 1 if standardized by a constant,
(PB is a proportional band), the integration time T I , and the derivative time T D are set. Although various optimization methods are known, according to the so-called Chien, Hrones, Reswick (Chien, etc.) method,
"Required evaluation criteria" is "No overshoot, minimum settling time"
In the case of PID control as, the optimized proportional gain Kp op , the optimized proportional band PB op , the optimized integration time T Iop , and the optimized differential time T Dop are as follows (Kazuo Hiroi, “Practical digital control technology” , "Page 57," Optimum adjustment of PID parameters and complex loop control ", Kogyo Gijutsu, October 1992).

【0058】[0058]

【数19】 [Formula 19]

【0059】図1の最適化手段24は、例えば上式などに
よってPIDパラメータの最適化値を算出するものであ
る。本発明者は、こうして求めた最適化比例帯PBopが、
測定開始前の調節計3に対し記憶装置15に設定した初期
値の比例帯PB0に比して一定の範囲内にない場合には、
制御対象9に発振原因があることを実験的に見出した。
図示例における上記一定の範囲は、0.5PB0<PBop<2PB0
である。制御対象9に発振原因があるときに、最適化比
例帯PBopが一定範囲外の異常な値を示すのは、飽和特性
が大になったか又は位相遅れが大になったためである。
The optimizing means 24 of FIG. 1 calculates the optimized value of the PID parameter by the above equation, for example. The inventor has found that the optimized proportional band PB op thus obtained is
When the controller 3 before the start of measurement is not within a certain range compared to the proportional band PB 0 of the initial value set in the storage device 15,
It was experimentally found that the controlled object 9 has a cause of oscillation.
In the illustrated example, the constant range is 0.5PB 0 <PB op <2PB 0
Is. When the controlled object 9 has a cause of oscillation, the optimized proportional band PB op shows an abnormal value outside the fixed range because the saturation characteristic becomes large or the phase delay becomes large.

【0060】なお、(19)式における振動時の等価ゲイン
e、等価時定数Te、及び等価むだ時間Leは次のよう
にして数値計算により定めることができる。(1)式の伝
達関数をもつ調節計3と(6)式の伝達関数をもつ制御対
象9とを接続した系の一巡伝達関数G0(s)は次のように
書ける。
The equivalent gain K e during vibration, the equivalent time constant T e , and the equivalent dead time L e in the equation (19) can be determined by numerical calculation as follows. The open loop transfer function G 0 (s) of the system in which the controller 3 having the transfer function of the equation (1) and the controlled object 9 having the transfer function of the equation (6) are connected can be written as follows.

【0061】[0061]

【数20】 [Equation 20]

【0062】上式のe-Lesの項は、(6)式から(7)式を誘
導する場合のようにマクローリン級数により近似するこ
とができる。羃項を級数に置換えた近似式において、調
節計3の定数Kp0、TI0、TD0、及びηが既知であるの
で、未知係数はKe、Te、Leの三つのみである。他方、境
界条件として、(i)測定可能な周波数ωで振動するこ
と、(ii)持続振動をすること、(iii)減衰振動の場合で
あっても減衰率を図22に示される振動周期PCと制御量PV
のピーク値の変化の測定値から定められること、(iv)ゲ
インを(13)式と同様な手法で測定できること等があるの
で、これらの未知係数Ke、Te、Leを数値計算により求め
ることができる。
The e- Les term in the above equation can be approximated by the Maclaurin series as in the case of deriving the equation (6) from the equation (6). In the approximation formula in which the power term is replaced by a series, the constants Kp 0 , T I0 , T D0 , and η of the controller 3 are known, so there are only three unknown coefficients K e , T e , and L e. . On the other hand, as boundary conditions, (i) vibrating at a measurable frequency ω, (ii) performing continuous vibration, and (iii) damping vibration And control amount PV
The unknown coefficient K e , T e , and L e can be determined by numerical calculation, because it can be determined from the measured value of the change in the peak value of, and (iv) the gain can be measured by the same method as in Eq. (13). You can ask.

【0063】本発明者は、上記のようにして求めた振動
時の等価ゲインKe、等価時定数Te、及び等価むだ時間
eを(19)式に代入して最適化比例帯PBopを定め、図18
のステップ149及び150の判断を行って、制御対象9に発
振原因があることを有効に診断できることを実験的に確
認した。
The present inventor substitutes the equivalent gain K e , the equivalent time constant T e , and the equivalent dead time L e at the time of vibration obtained as described above into the equation (19) to optimize the proportional band PB op. Figure 18
It was experimentally confirmed that the existence of the oscillation cause in the controlled object 9 can be effectively diagnosed by making the determinations in steps 149 and 150.

【0064】上記手法は、振動時の等価ゲインKe、等
価時定数Te、及び等価むだ時間Leに対応する正常動作
時の系の等価ゲイン、等価時定数、及び等価むだ時間の
決定を可能にする。本発明者は、こうして求めた制御系
の等価定数により上記(19)式等によるPID制御の最適
化が、例えば流量制御の安定化、駆動動力の低減等に極
めて有効であることを見出した。
The above method determines the equivalent gain, equivalent time constant, and equivalent dead time of the system during normal operation corresponding to the equivalent gain K e during vibration, the equivalent time constant T e , and the equivalent dead time L e. to enable. The present inventor has found that the optimization of the PID control by the above equation (19) and the like is extremely effective for stabilizing the flow rate control, reducing the driving power, and the like, based on the thus obtained equivalent constants of the control system.

【0065】本発明の一実施例の動作を図13ないし図21
の流れ図に従って説明する。異常診断装置1の使用方法
を総括的に図13に示す。診断実施のためには、ステップ
100に示すステップ応答テストによる初期データの作成
が必要である。制御対象9がステップ101で運転に入っ
た後、ステップ102で制御量PVに持続振動が認められた
時は、異常診断装置1によって制御量PVの持続振動の波
形をステップ103で観察し、ステップ104で発振原因を診
断し、診断結果に基づく処理をステップ105で行えば、
ステップ106の運転再開ができる。
The operation of one embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
It will be described according to the flowchart of FIG. The method of using the abnormality diagnosis device 1 is generally shown in FIG. Steps to perform diagnostics
Initial data needs to be created by the step response test shown in 100. After the controlled object 9 starts to operate in step 101, when the sustained vibration is observed in the controlled variable PV in step 102, the waveform of the sustained vibration of the controlled variable PV is observed by the abnormality diagnosis device 1 in step 103, and the step If the cause of oscillation is diagnosed in 104 and the processing based on the diagnosis result is performed in step 105,
The operation of step 106 can be restarted.

【0066】図14以降の動作を説明するに、ステップ11
0で制御対象側の機器に番号を設定すると共にそれらの
特性の初期値を記憶し、ステップ111において調節計3
で実行中の設定値SV、PID値、オーバーシュート量等の
定数、及び測定回数uや測定開始時刻等を異常診断装置
1の記憶装置15に設定する。個別機器に対する診断の要
否をステップ112で判断する。個別機器の測定に進む場
合には、図19のステップ113で測定対象の個別機器8の
個数などに対応する測定回数nを測定ごとに更新し、測
定中でないことをステップ114で確認する。ステップ115
において、測定した角周波数ω0とゲイン初期値
(K0)、時定数初期値(T0)、及びむだ時間初期値
(L0)を式(9)及び(10)に代入して当該個別機器8の振
動時ゲインの計算値|Gp(jω0)|0と振動時位相遅れの
計算値Φp0を求める。ここで用いるゲイン初期値
(K0)、時定数初期値(T0)、及びむだ時間初期値
(L0)は、例えば図3(A)のように被測定個別機器8を
異常診断装置1と基準出力装置4へ接続し、先ず基準出
力装置4により、図3(B)にΔInで示す基準入力を個別
機器8に加え、図3(B)のゲイン測定値(K0)、時定数
測定値(T0)、むだ時間測定値(L0)を異常診断装置1
によって求める。なお、基準出力装置4は、調節計3の
マニュアルMV値で代用することが可能である。また、個
別機器8が調節計3である場合には、その特性の初期値
を図2の回路により求めてもよい。ただし、図2の回路
の本来の目的は機能チェックにある
To explain the operation after FIG. 14, step 11
At 0, a number is set for the device on the controlled side and the initial values of those characteristics are stored, and at step 111, the controller 3
The set values SV, PID values, constants such as the overshoot amount, the number of measurements u, the measurement start time, and the like that are being executed are set in the storage device 15 of the abnormality diagnosis device 1. In step 112, it is determined whether or not the diagnosis of the individual device is necessary. When proceeding to the measurement of the individual device, the number of times of measurement n corresponding to the number of the individual devices 8 to be measured or the like is updated for each measurement in step 113 of FIG. 19, and it is confirmed in step 114 that the measurement is not in progress. Step 115
At, the measured angular frequency ω 0 and gain initial value (K 0 ), time constant initial value (T 0 ), and dead time initial value (L 0 ) are substituted into equations (9) and (10), and The calculated value | Gp (jω 0 ) | 0 of the vibration gain of the device 8 and the calculated value Φp 0 of the vibration phase delay are obtained. The gain initial value (K 0 ), the time constant initial value (T 0 ), and the dead time initial value (L 0 ) used here are, for example, as shown in FIG. To the reference output device 4, first, by the reference output device 4, a reference input indicated by ΔIn in FIG. 3 (B) is added to the individual device 8, and the gain measurement value (K 0 ) and the time constant of FIG. 3 (B) are set. Measured value (T 0 ) and dead time measured value (L 0 )
Ask by. The reference output device 4 can be replaced by the manual MV value of the controller 3. When the individual device 8 is the controller 3, the initial value of the characteristic may be obtained by the circuit of FIG. However, the original purpose of the circuit of FIG. 2 is to check the function.

【0067】後続ステップ116で、図12に示すような角
周波数ωの正弦波とみなし得る振動波形入力MVを、異常
診断装置1の第1接続子M1と被測定個別機器8の入力と
の接続点へ印加し、それに応じて被測定個別機器8の出
力に生ずる波形PVを異常診断装置1の第2接続子M2によ
って観察し、両波形の振幅ΔPV、ΔMV及び対応ピークの
時間差(t11-t20)を測定し、式(13)及び(14)に代入して
当該個別機器8の振動時ゲインの測定値|Gp(jω0)|m
と位相遅れの測定値Φpmを求める。
In the subsequent step 116, the vibration waveform input MV, which can be regarded as a sine wave having an angular frequency ω as shown in FIG. 12, is connected to the first connector M1 of the abnormality diagnosis device 1 and the input of the individual device under test 8. It is applied to the point, observed by the second connector M2 output abnormality diagnosis apparatus waveforms PV occurring in 1 of the measured individual device 8 accordingly, the both waveforms amplitude Pv, .DELTA.MV and time difference corresponding peak (t 11 - t 20 ), and substitute it into the equations (13) and (14) to measure the vibration gain of the individual device 8 | Gp (jω 0 ) | m
And the measured value of the phase delay Φ p m .

【0068】個別機器の特性測定には、調節計3の場合
に図2の接続と信号を使い、ポジショナー6の場合に図
4の接続及び図5の信号を用いてもよい。複数の個別機
器の総合特性を調べる場合には、図6の接続と信号とを
使うことができる。図7は調節計3を単一の線形要素8a
に接続する制御系を示し、図8は線形要素8aと非線形要
素8bとの組合わせに接続する制御系を示す。
For the characteristic measurement of the individual device, the connection and signal of FIG. 2 may be used in the case of the controller 3, and the connection of FIG. 4 and the signal of FIG. 5 may be used in the case of the positioner 6. When investigating the overall characteristics of a plurality of individual devices, the connections and signals of FIG. 6 can be used. FIG. 7 shows the controller 3 with a single linear element 8a.
FIG. 8 shows a control system connected to a combination of the linear element 8a and the non-linear element 8b.

【0069】ステップ117で、当該個別機器8の上記振
動時ゲインの計算値|Gp(jω0)|0と測定値|Gp(j
ω0)|mとの比を求め、次いでステップ118でその比が所
定のしきい値thpg以上であれば当該機器8を発振原因あ
りと判断し、ステップ119へ進み適当な対策を講ずる。
ステップ120において、当該個別機器8の上記振動時位
相遅れの計算値Φp0とその測定値Φpmとの比を求め、ス
テップ121でその比が所定のしきい値thpp以上であれば
当該機器を発振原因ありと判断し、ステップ119へ進み
適当な対策を講ずる。ステップ118及びステップ121で発
振原因ありと判断されなかった場合には、ステップ122
で当該個別機器8は発振原因でないと判断され、ステッ
プ123で全数測定完了か否かを判断し、未完了であれば
ステップ124で測定回数nを1だけ増加させた後、図19
の上記ステップ113の前へ戻る。ステップ123で全数測定
完了と判断した場合には、図21のステップ125で次の測
定続行の要否を判断し、続行の場合に、この例では最適
調整の始点である図14の上記ステップ110の前へ戻る。
In step 117, the calculated value | Gp (jω 0 ) | 0 and the measured value | Gp (j
The ratio with ω 0 ) | m is determined, and if the ratio is equal to or greater than the predetermined threshold value thp g in step 118, it is determined that the device 8 causes oscillation, and the process proceeds to step 119 to take appropriate measures.
In step 120, the ratio between the calculated value Φ p 0 of the phase delay during vibration of the individual device 8 and the measured value Φ p m thereof is obtained, and in step 121, if the ratio is equal to or greater than a predetermined threshold thp p , the device concerned. Is determined to be the cause of oscillation, and the process proceeds to step 119 and appropriate measures are taken. If it is not determined that there is an oscillation cause in steps 118 and 121, step 122
Then, it is determined that the individual device 8 is not the cause of oscillation, and it is determined in step 123 whether or not the total number of measurements has been completed. If not, the number of measurements n is incremented by 1 in step 124, and then FIG.
Return to the above step 113 of. If it is determined in step 123 that all measurements have been completed, it is determined in step 125 of FIG. 21 whether or not the next measurement should be continued, and in the case of continuation, the step 110 in FIG. Return to the front.

【0070】最適調整の場合も発振原因であるか否かの
判断手法は個別要素の場合と同様でるが、調節計3の比
例ゲイン、積分時間、及び微分時間を最適化するため
に、制御系内にある調節計3以外のすべての機器を考慮
した総合的な等価ゲインKe、等価時定数Te、及び等価
むだ時間Leを用いている点で相違する。ステップ130で
最適調整値の算出回数uを記録し、さらにステップ131
で異常診断装置1が測定中でないことを確認の上、ステ
ップ132で上記(20)式を用い調節計3以外のすべての機
器を含む総合的制御対象9a(図6、図8)の等価ゲイン
e、等価時定数Te、及び等価むだ時間Leを求める。
ステップ133で、これらの等価定数に基づき上記(19)式
等による最適化比例帯PBop、最適化積分時間TIop、最適
化微分時間TDopを定める。以下、ステップ134からステ
ップ150までは作用の項で説明したように発振原因を調
節計3、制御対象9、調節計3のパラメータと分けるよ
うに診断する。
In the case of optimum adjustment, the method of determining whether or not the cause of oscillation is the same as in the case of individual elements, but in order to optimize the proportional gain, integral time and derivative time of the controller 3, the control system The difference is that a total equivalent gain K e , an equivalent time constant T e , and an equivalent dead time L e in consideration of all devices other than the controller 3 therein are used. In step 130, the number of times u of calculation of the optimum adjustment value is recorded, and in step 131
After confirming that the abnormality diagnosing device 1 is not under measurement in step 132, in step 132, using the above equation (20), the equivalent gain of the comprehensive controlled object 9a (Figs. 6 and 8) including all devices other than the controller 3 is calculated. K e , the equivalent time constant T e , and the equivalent dead time L e are obtained.
In step 133, the optimized proportional band PB op , the optimized integration time T Iop , and the optimized differential time T Dop are determined by the above equation (19) based on these equivalent constants. Hereinafter, in steps 134 to 150, the cause of oscillation is diagnosed so as to be divided into the controller 3, the controlled object 9, and the parameters of the controller 3 as described in the section of the operation.

【0071】ステップ151は、制御対象9の制御量PVに
おける不所望の振動の原因が、本発明による振動波形観
測による異常診断装置1による診断の結果、調節計3の
パラメータにあるとされた場合の処置を示すものであ
る。即ち、制御量PVの発振を抑える方向のパラメータ修
正を施す。処置終了後、最適化値の所定算出回数uの終
了か否かをステップ152で判断し、終わっていない場合
には、ステップ153で最適調整の回数uを1だけ増加さ
せた後ステップ130へ戻って上記動作を繰返す。所定算
出回数uが終わっている場合には、ステップ125へ進み
測定を終了するか否かを例えば図1の手動入力装置16か
ら行う。測定を続ける場合には、操作はステップ110の
前へ戻る。
Step 151 is a case where the cause of the undesired vibration in the controlled variable PV of the controlled object 9 is the parameter of the controller 3 as a result of the diagnosis by the abnormality diagnosis device 1 by the vibration waveform observation according to the present invention. It shows the treatment of. That is, the parameters are corrected so as to suppress the oscillation of the controlled variable PV. After the treatment is completed, it is judged in step 152 whether or not the predetermined number of times u of calculation of the optimized value has ended. If not, the number u of optimum adjustment is increased by 1 in step 153 and then the process returns to step 130. Then, the above operation is repeated. When the predetermined number of times of calculation u has been completed, the process proceeds to step 125 to determine whether or not to end the measurement, for example, from the manual input device 16 in FIG. To continue the measurement, the operation returns to before step 110.

【0072】図1の実施例において、異常診断装置1の
各接続子M1、M2はそれぞれ空気接続端P1及び電気接続端
E1を有し、空気接続端P1における空気圧信号は圧力発信
器10によって電気信号に変えられる。空電切換スイッチ
14が、接続子E1又はP1からの入力信号を選択的にA/D
変換器11に加え、ここでディジタル化した信号がノイズ
除去フィルター12を介して中央制御装置13に達し処理さ
れる。記憶装置15は、流れ図に関連して以上説明した処
理で使用される所定事項を記憶する。出力装置17は、例
えばプリンタであって上記の各種演算の結果を選択的に
出力する。表示装置18は、手動入力装置16からの入力や
記憶装置15の内容の表示等に使われ、ペン記録計19は第
1接続子M1、第2接続子M2における波形等をペン書きで
記録するものである。
In the embodiment of FIG. 1, each of the connectors M1 and M2 of the abnormality diagnosing device 1 has an air connection end P1 and an electrical connection end, respectively.
With E1, the pneumatic signal at the air connection P1 is converted into an electrical signal by the pressure transmitter 10. Static switch
14 selectively A / D the input signal from the connector E1 or P1
In addition to the converter 11, the digitized signal here reaches the central control unit 13 via the noise elimination filter 12 and is processed there. The storage device 15 stores predetermined items used in the processing described above with reference to the flowchart. The output device 17 is, for example, a printer, and selectively outputs the results of the various calculations described above. The display device 18 is used for input from the manual input device 16 and for displaying the contents of the storage device 15, and the pen recorder 19 records the waveform and the like at the first connector M1 and the second connector M2 by writing with a pen. It is a thing.

【0073】[0073]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
る振動波形観測による異常診断装置は、二つの接続子を
制御系内の任意の2点に接続し波形観測のみによって発
振原因の診断をするので、次の顕著な効果を奏する。
As described in detail above, the abnormality diagnosis apparatus for observing the vibration waveform according to the present invention connects the two connectors to any two points in the control system and diagnoses the cause of oscillation only by observing the waveform. Therefore, the following remarkable effects are obtained.

【0074】(1) 制御系の発振を迅速に除去し、制御を
安定化させることができる。火力発電機等のプラントの
主機に付随する補機における発振(ハンチング)は、主
機の運転に支障がない限り問題とされなかったが、発振
原因を容易に検出し発振を除くことにより主機又はプラ
ントの総合運転効率を改善することができる。例えば、
火力発電所ではボイラーから煙突への排ガスの熱エネル
ギーをボイラーへの空気の予熱に利用して回収している
が、煙突出口における排ガス温度の温度上昇1oCは、主
機が出力250MWの発電機である場合に重油消費量で約0.4
4KL/日の増加に相当し、従来記録された3−4oCの振幅
のハンチングも年間では発電機ごとに数十万円の損失に
なると報告されている。排ガス熱回収装置へ吸込まれる
空気に対する図4の予熱蒸気の流量におけるハンチング
は、補機の制御量の振動であるが、これを除去すること
によりかなりの省エネルギーを図ることができる。
(1) Oscillations of the control system can be quickly eliminated and the control can be stabilized. Oscillations (hunting) in auxiliary equipment that accompanies the main engine of a thermal power generator or the like were not a problem as long as the operation of the main engine was not hindered, but by easily detecting the cause of oscillation and eliminating the oscillation, the main engine or plant The overall operating efficiency of can be improved. For example,
Although the thermal power plant is recovered thermal energy of the exhaust gas from the boiler to the chimney using a preheating of air to the boiler, the temperature rise 1 o C of exhaust gas temperature in the chimney outlet, generator main engine output 250MW Fuel oil consumption is about 0.4
Corresponding to an increase of 4 KL / day, the hunting with the amplitude of 3-4 o C recorded previously is reported to be a loss of several hundred thousand yen per generator per year. Although hunting in the flow rate of the preheated steam in FIG. 4 with respect to the air sucked into the exhaust gas heat recovery apparatus is a vibration of the control amount of the auxiliary machine, it is possible to considerably save energy by removing it.

【0075】(2) 検査用信号等の外乱を印加しないで診
断するので、制御に支障を与えずに通常運転継続のまま
測定・診断することができる。
(2) Since diagnosis is performed without applying disturbance such as inspection signals, measurement / diagnosis can be performed while continuing normal operation without affecting control.

【0076】(3) 接続子を制御回路の各所へクリップ等
で選択的に結合できるので、接続子における波形観測に
より、発振原因を迅速に検出することができる。一例と
して、従来手法では数日間の検査によっても検出できな
かった発振原因を、本発明の異常診断装置の使用により
約2時間で見出すことができた。
(3) Since the connector can be selectively coupled to each part of the control circuit by a clip or the like, the cause of oscillation can be quickly detected by observing the waveform of the connector. As an example, the cause of oscillation that could not be detected by the conventional method even after several days of inspection could be found in about 2 hours by using the abnormality diagnosis device of the present invention.

【0077】(4) ハンチングの原因の検出を簡単な操作
で、未熟練者でも容易に実施できる。
(4) The detection of the cause of hunting can be easily performed by an unskilled person with a simple operation.

【0078】(5) 異なる発振原因のそれぞれに対し適切
な対策の表示を行い、いわゆるエキスパート・システム
とすることができる。
(5) Appropriate measures can be displayed for each of the different causes of oscillation to provide a so-called expert system.

【0079】(6) 構造が簡単であって、小型化及び可搬
化が容易である。
(6) The structure is simple, and the miniaturization and portability are easy.

【0080】(7) PID制御の定数の最適化手段を容易に
組込み、制御量のオーバーシュート防止及び整定時間の
短縮を簡単に行い、制御の質を向上させることができ
る。たとえ補機における制御の最適化であっても上記の
ように主機又はプラントの総合運転効率を一層改善する
ことができる。
(7) It is possible to easily incorporate a means for optimizing the constant of PID control, prevent overshoot of the control amount and shorten the settling time easily, and improve the quality of control. Even if the control of the auxiliary machine is optimized, the overall operation efficiency of the main machine or the plant can be further improved as described above.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】は、本発明の異常診断装置のブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram of an abnormality diagnosis device of the present invention.

【図2】は、調節計の特性試験回路の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a characteristic test circuit of a controller.

【図3】は、個別機器の特性試験回路の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a characteristic test circuit of an individual device.

【図4】は、ポジショナーの特性試験回路の説明図であ
る。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a positioner characteristic test circuit.

【図5】は、ポジショナーの特性試験回路内の信号波形
の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of signal waveforms in the characteristic test circuit of the positioner.

【図6】は、複数の個別機器の組合わせの特性試験回路
の説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a characteristic test circuit of a combination of a plurality of individual devices.

【図7】は、調節計と線形要素とからなる系の説明図で
ある。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a system including a controller and a linear element.

【図8】は、調節計と線形及び非線形要素とからなる系
の説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram of a system including a controller and linear and nonlinear elements.

【図9】は、調節計の異常診断時の接続の説明図であ
る。
FIG. 9 is an explanatory diagram of connection at the time of abnormality diagnosis of the controller.

【図10】は、制御対象の異常診断時の接続の説明図で
ある。
FIG. 10 is an explanatory diagram of connection at the time of abnormality diagnosis of a control target.

【図11】は、調節計の異常診断時の信号波形を示すグ
ラフである。
FIG. 11 is a graph showing a signal waveform at the time of abnormality diagnosis of the controller.

【図12】は、制御対象の異常診断時の信号波形を示す
グラフである。
FIG. 12 is a graph showing a signal waveform at the time of abnormality diagnosis of a control target.

【図13】は、本発明の異常診断装置の動作の総括的流
れ図である。
FIG. 13 is a general flow chart of the operation of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図14】は、本発明の異常診断装置の動作流れ図の第
1部分図である。
FIG. 14 is a first partial view of an operation flow chart of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図15】は、本発明の異常診断装置の動作流れ図の第
2部分図である。
FIG. 15 is a second partial view of the operation flow chart of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図16】は、本発明の異常診断装置の動作流れ図の第
3部分図である。
FIG. 16 is a third partial view of the operation flow chart of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図17】は、本発明の異常診断装置の動作流れ図の第
4部分図である。
FIG. 17 is a fourth partial view of the operation flow chart of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図18】は、本発明の異常診断装置の動作流れ図の第
5部分図である。
FIG. 18 is a fifth partial view of the operation flow chart of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図19】は、本発明の異常診断装置の動作流れ図の第
6部分図である。
FIG. 19 is a sixth partial view of the operation flowchart of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図20】は、本発明の異常診断装置の動作流れ図の第
7部分図である。
FIG. 20 is a seventh partial view of the operation flow chart of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図21】は、本発明の異常診断装置の動作流れ図の第
8部分図である。
FIG. 21 is an eighth partial view of an operation flowchart of the abnormality diagnosis device of the present invention.

【図22】は、制御量の応答特性の減衰の説明図であ
る。
FIG. 22 is an explanatory diagram of attenuation of response characteristic of control amount.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 異常診断装置 3 調節計 4 基準出力装置 5 電空変換器 6 ポジショナー 7 弁 8 個別機器 9 制御対象 10 圧力発信器 11 A/D変換器 12 ノイズ除去フィルター 13 中央処理装置 14 空電切換スイッチ 15 記憶装置 16 手動入力装置 17 出力装置 18 表示装置 19 ペン記録計 20 特性算出手段 21 測定手段 22 判定手段 23 等価定数算出手
段、 24 最適化手段。
1 Abnormality diagnosis device 3 Controller 4 Reference output device 5 Electro-pneumatic converter 6 Positioner 7 Valve 8 Individual device 9 Control target 10 Pressure transmitter 11 A / D converter 12 Noise elimination filter 13 Central processing unit 14 Pneumatic switching switch 15 Storage device 16 Manual input device 17 Output device 18 Display device 19 Pen recorder 20 Characteristic calculating means 21 Measuring means 22 Judging means 23 Equivalent constant calculating means, 24 Optimizing means.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 下村 清司 青森県八戸市大字河原木字宇兵衛河原1の 1 東北電力株式会社八戸火力発電所内 (72)発明者 赤羽 信久 東京都杉並区成田西3丁目20番8号 大倉 電気株式会社内 (72)発明者 菊池 仁一 東京都杉並区成田西3丁目20番8号 大倉 電気株式会社内 (72)発明者 庭田 勝利 青森県八戸市石堂二丁目1番33号 北日本 計装制御株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Kiyoshi Shimomura 1-1 Uhei Kawara, Kawara-ki, Hachinohe City, Aomori Prefecture Tohoku Electric Power Co., Inc. Hachinohe Thermal Power Station (72) Nobuhisa Akabane Narita Nishi 3-chome, Suginami-ku, Tokyo No. 8 Okura Electric Co., Ltd. (72) Inventor Jinichi Kikuchi 3-20-8 Narita Nishi, Suginami-ku, Tokyo Okura Electric Co., Ltd. (72) Masaru Niwata 2-31 Ishido, Hachinohe-shi, Aomori Prefecture No. Northern Japan Instrumentation Control Co., Ltd.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 調節計と制御対象を含む制御系内の任意
の2点に分離自在に接続される第1及び第2接続子;前
記調節計、制御対象、及び制御系内機器の各々が有する
定数の初期値、ゲインの変化のしきい値(thg)及び位
相遅れの変化のしきい値(thp)を記憶する記憶装置;
前記第1及び第2接続子上の信号に存在する振動の波形
の角周波数(ω)を検出し且つ両接続子間に接続された
機器の前記定数の初期値と前記角周波数とから当該機器
の前記角周波数におけるゲイン及び位相遅れを算出する
特性算出手段;前記第1接続子上の信号と第2接続子上
の信号との間の前記角周波数におけるゲイン及び位相遅
れを測定する測定手段;並びに前記算出されたゲイン及
び位相遅れと測定されたゲイン及び位相遅れとの比をそ
れぞれ求め、且つそれらの比の何れかが当該機器の対応
する前記ゲインの変化のしきい値(thg)又は位相遅れ
の変化のしきい値(thp)以上である時は当該機器を前
記振動の発振原因であるとする判定手段を備えてなる振
動波形観測による異常診断装置。
1. A first connector and a second connector which are detachably connected to any two points in a control system including a controller and a controlled object; each of the controller, the controlled object, and equipment in the controlled system. A storage device for storing an initial value of a constant, a gain change threshold value (th g ) and a phase delay change threshold value (th p );
A device for detecting the angular frequency (ω) of the waveform of vibration existing in the signals on the first and second connectors and from the initial value of the constant of the device connected between the connectors and the angular frequency. Characteristic calculating means for calculating a gain and a phase delay at the angular frequency; a measuring means for measuring a gain and a phase delay at the angular frequency between a signal on the first connector and a signal on the second connector; And a ratio between the calculated gain and phase delay and the measured gain and phase delay, respectively, and any one of these ratios corresponds to the threshold value of change in the gain of the device (th g ) or An abnormality diagnosis apparatus for observing a vibration waveform, comprising a determination means for determining that the device is the cause of oscillation of the vibration when the phase delay variation threshold (th p ) or more.
【請求項2】 請求項1の異常診断装置において、前記
調節計、制御対象、及び制御系内機器を何れも発振原因
でないとした時は調節計のパラメータが発振原因である
としてなる振動波形観測による異常診断装置。
2. The abnormality waveform diagnosing apparatus according to claim 1, wherein when the controller, the controlled object, and the device in the control system are not the cause of oscillation, the parameter of the controller is the cause of oscillation. Abnormality diagnosis device.
【請求項3】 請求項1の異常診断装置において、前記
記憶装置に記憶する定数に前記調節計の比例帯、積分時
間、微分時間、及び前記制御対象のゲイン、時定数、む
だ時間の初期値(PB0、TI0、TD0、K0、T0、L0)を含
めてなる振動波形観測による異常診断装置。
3. The abnormality diagnosing device according to claim 1, wherein the constants stored in the storage device include a proportional band of the controller, an integration time, a differential time, and an initial value of a gain, a time constant, and a dead time of the controlled object. (PB 0 , T I0 , T D0 , K 0 , T 0 , L 0 ).
【請求項4】 請求項1、2又は3の異常診断装置にお
いて、前記制御系内の隣接する2以上の複数機器を前記
第1及び第2接続子の間に接続した時に、前記特性算出
手段が検出する振動波形の角周波数と前記測定手段が測
定する前記角周波数におけるゲインと前記記憶装置内の
前記調節計の定数とを用い、前記複数機器をむだ時間付
き一次遅れ等価回路で近似する場合の該等価回路の等価
ゲイン(Ke)、等価時定数(Te)、及び等価むだ時間
(Le)を算出する等価定数算出手段を設け、前記特性
算出手段による前記両接続子間の等価回路のゲイン及び
位相遅れの算出を、前記等価ゲイン(Ke)、等価時定
数(Te)、及び等価むだ時間(Le)を用いて行ってな
る振動波形観測による異常診断装置。
4. The abnormality diagnosing device according to claim 1, 2 or 3, wherein when two or more adjacent devices in the control system are connected between the first and second connectors, the characteristic calculating means. When the angular frequency of the vibration waveform detected by the and the gain at the angular frequency measured by the measuring means and the constant of the controller in the storage device are used to approximate the plurality of devices by a first-order lag equivalent circuit with dead time Equivalent gain (K e ), equivalent time constant (T e ), and equivalent dead time (L e ) of the equivalent circuit are provided with equivalent constant calculation means, and the characteristic calculation means is used to equalize between the two connectors. An abnormality diagnosing device by observing a vibration waveform, wherein the gain and phase delay of a circuit are calculated using the equivalent gain (K e ), the equivalent time constant (T e ), and the equivalent dead time (L e ).
【請求項5】 請求項1の異常診断装置において、前記
調節計の応答特性に対する所定評価基準を満たすような
調節計比例ゲイン(Kp)の最適化値(Kpop)を前記制御
対象のゲインの初期値(K0)、時定数の初期値
(T0)、及びむだ時間の初期値(L0)から算出する最
適化手段を設けてなる振動波形観測による異常診断装
置。
5. The abnormality diagnostic device according to claim 1, wherein an optimized value (Kp op ) of the controller proportional gain (Kp) that satisfies a predetermined evaluation criterion for the response characteristic of the controller is set to the gain of the control target. An abnormality diagnosing apparatus for observing a vibration waveform, which is provided with an optimizing means for calculating from an initial value (K 0 ), an initial value of a time constant (T 0 ) and an initial value of a dead time (L 0 ).
【請求項6】 請求項4の異常診断装置において、前記
調節計の応答特性に対する所定評価基準を満たすような
調節計比例帯(PB)の最適化値(PBop)を前記調節計以
外の全ての機器からなる回路に対する等価ゲイン
(Ke)、等価時定数(Te)、及び等価むだ時間
(Le)から算出する最適化手段を設け、前記判定手段
により前記比例帯最適化値(PBop)と前記調節計の比例
帯初期値(PB0)との比が所定範囲内にない時は前記調
節計以外の全ての機器からなる回路に発振原因があると
してなる振動波形観測による異常診断装置。
6. The abnormality diagnosing device according to claim 4, wherein the optimized value (PB op ) of the controller proportional band (PB) that satisfies a predetermined evaluation standard for the response characteristic of the controller is set for all of the controllers. An optimization means for calculating the equivalent gain (K e ), the equivalent time constant (T e ), and the equivalent dead time (L e ) with respect to the circuit including the device is provided, and the proportional band optimization value (PB) is provided by the determination means. op ) and the proportional band initial value (PB 0 ) of the controller are not within the specified range, it is considered that there is an oscillation cause in the circuit consisting of all devices other than the controller. apparatus.
【請求項7】 請求項5又は6の異常診断装置におい
て、前記調節計の応答特性に対する前記所定評価基準
を、調節計入力信号の階段状変化に応ずる制御対象の制
御量の変化における行過ぎが20%以下及び整定時間最小
としてなる振動波形観測による異常診断装置。
7. The abnormality diagnosing device according to claim 5 or 6, wherein the predetermined evaluation criterion for the response characteristic of the controller is an overshoot in a change in a controlled variable of a controlled object in response to a stepwise change in a controller input signal. Abnormality diagnosis device by observing vibration waveforms with 20% or less and minimum settling time.
【請求項8】 調節計と制御対象を含む制御系内の任意
の機器を請求項1の異常診断装置の2接続子の間に接続
し、前記2接続子上に角周波数ωの振動がある時の該角
周波数ωにおける当該機器のゲイン及び位相遅れの算出
値を前記記憶装置内の当該機器の定数の初期値から前記
特性算出手段によって求め、前記判定手段により、前記
特性算出手段で算出したゲイン及び位相遅れと前記測定
手段で測定したゲイン及び位相遅れとの比をそれぞれ求
め且つそれらの比の何れかが当該機器の対応する前記ゲ
インの変化のしきい値(thg)又は位相遅れの変化のし
きい値(thp)以上である時は当該機器を発振原因であ
るとしてなる振動波形観測による異常診断方法。
8. An arbitrary device in a control system including a controller and an object to be controlled is connected between two connectors of the abnormality diagnosis device according to claim 1, and there is vibration of an angular frequency ω on the two connectors. The calculated values of the gain and phase delay of the device at the angular frequency ω at the time are obtained by the characteristic calculation means from the initial values of the constants of the device in the storage device, and calculated by the characteristic calculation means by the determination means. The ratio between the gain and the phase delay and the gain and the phase delay measured by the measuring means are respectively obtained, and one of the ratios is the threshold (th g ) or the phase delay of the gain change corresponding to the device. Abnormality diagnosis method by observing the vibration waveform that causes the device to oscillate when it is above the change threshold (th p ).
【請求項9】 調節計と制御対象を含む制御系内の2以
上の隣接複数機器を請求項4の異常診断装置の2接続子
の間に接続し、前記記憶装置に前記複数機器の綜合ゲイ
ンの変化のしきい値(thg)又は位相遅れの変化のしき
い値(thp)を記憶し、前記2接続子上に角周波数ωの
振動がある時の該角周波数ωにおける当該複数機器によ
るゲイン及び位相遅れの算出値を前記等価定数算出手段
で算出した当該複数機器の等価ゲイン(Ke)、等価時
定数(Te)、及び等価むだ時間(Le)から前記特性算
出手段によって求め、前記判定手段により、前記特性算
出手段で算出したゲイン及び位相遅れと前記測定手段で
測定したゲイン及び位相遅れとの比をそれぞれ求め且つ
それらの比の何れかが当該複数機器の前記綜合ゲインの
変化のしきい値(thg)又は位相遅れの変化のしきい値
(thp)以上である時は当該複数機器を発振原因である
としてなる振動波形観測による異常診断方法。
9. A plurality of adjacent plural devices in a control system including a controller and a controlled object are connected between two connectors of the abnormality diagnosis device according to claim 4, and a total gain of the plural devices is stored in the storage device. Change threshold (th g ) or phase delay change threshold (th p ) is stored, and the plurality of devices at the angular frequency ω when there is vibration of the angular frequency ω on the two connectors. By the equivalent gain (K e ), the equivalent time constant (T e ), and the equivalent dead time (L e ) of the plurality of devices calculated by the equivalent constant calculation means by the equivalent constant calculation means. Then, the determining means determines the ratio between the gain and the phase delay calculated by the characteristic calculating means and the gain and the phase delay measured by the measuring means, respectively, and any one of the ratios is the total gain of the plurality of devices. Change threshold (th g ) Or a phase delay change threshold value (th p ) or more, an abnormality diagnosis method by observing vibration waveforms that causes multiple devices to oscillate.
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