JPH06216458A - Laser diode device - Google Patents

Laser diode device

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JPH06216458A
JPH06216458A JP340293A JP340293A JPH06216458A JP H06216458 A JPH06216458 A JP H06216458A JP 340293 A JP340293 A JP 340293A JP 340293 A JP340293 A JP 340293A JP H06216458 A JPH06216458 A JP H06216458A
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JP
Japan
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temperature
laser diode
circuit
resistance
thermoelectric element
Prior art date
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Application number
JP340293A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akihiro Adachi
明宏 足立
Shinichi Kaneko
進一 金子
Junichiro Yamashita
純一郎 山下
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH06216458A publication Critical patent/JPH06216458A/en
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Abstract

PURPOSE:To control the temperature of a laser diode by controlling a current flowing into a thermoelectric element based on the output of a bridge circuit the output voltage of which is changed with the temperature change of the laser diode. CONSTITUTION:Two resistor type temperature detector means 2a, 2b are connected to two arbitrary arms of a bridge circuit whereby the output voltage Vo of the bridge circuit can be expressed by a linear function of the resistance values R1, R2 of two resistors 11a, 11b, and the change of the output voltage Vo corresponds to the temperature change of a V laser diode 1. Therefore, the current of a thermoelectric element 4 is controlled on the basis of the output of the bridge circuit so that the change of the output voltage Vo becomes zero, thereby controlling the temperature of the laser diode 1. Also, a constant K can be arbitrarily set by suitably setting the ratio of resistance values R1 to R2 of the two arms other than the two arms connected to the two resistor type temperature detector means 2a, 2b in the bridge circuit.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、レーザダイオードの
発振周波数を安定に保つために必要なレーザダイオード
温度の制御回路に関するものである。この技術により発
振周波数を安定化したレーザダイオードは光周波数多重
伝送などのコヒーレント・システム用の光源として用い
られる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser diode temperature control circuit necessary for maintaining a stable oscillation frequency of a laser diode. A laser diode whose oscillation frequency is stabilized by this technique is used as a light source for coherent systems such as optical frequency multiplex transmission.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は、例えば、金子らによって「2サ
ーミスタ法によるLDモジュール中のLD温度の高安定
化」1992年電子情報通信学会秋季大会、C−166
に示されたレーザダイオードモジュールの構成説明図で
あり、図4(a)はレーザダイオードモジュールの内部
構成を示す平面図、図4(b)はA−A断面における断
面図である。図において、1はレーザダイオード、2
a、2bは温度により電気抵抗値が変る温度検出手段で
あり、3はレーザダイオード1と温度検出手段2a、2
bが設けられているチップキャリア、4はレーザダイオ
ード1を冷却または加熱するための熱電素子、5は先端
が曲面加工されていてレーザダイオード1の前面出射光
を集光して出力する光ファイバ、6は電気端子を備えた
デュアルインライン形気密容器、7はレーザダイオード
1と接続されている電気端子、8はレーザダイオード1
と電気端子7を接続しているリード線、9はリード線8
の中継用電極である。
2. Description of the Related Art FIG. 4 shows, for example, "High stabilization of LD temperature in LD module by two thermistor method" by Kaneko et al., 1992 Autumn Meeting of The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, C-166.
4A is a plan view showing the internal configuration of the laser diode module, and FIG. 4B is a sectional view taken along the line AA. In the figure, 1 is a laser diode, 2
Reference numerals a and 2b are temperature detecting means whose electric resistance value changes with temperature, and 3 is a laser diode 1 and temperature detecting means 2a and 2a.
b is a chip carrier, 4 is a thermoelectric element for cooling or heating the laser diode 1, and 5 is an optical fiber whose front end is curved to collect and output front emission light of the laser diode 1, 6 is a dual in-line type airtight container provided with an electric terminal, 7 is an electric terminal connected to the laser diode 1, and 8 is a laser diode 1
And a lead wire connecting the electric terminal 7 and 9 are lead wires 8
Is an electrode for relay of.

【0003】次に動作について説明する。図5は、図4
のレーザダイオードモジュールの温度制御の説明図であ
り、図5(a)は図4(a)のA−A断面におけるチッ
プキャリア3への熱流の経路を示す説明図、図5(b)
はチップキャリア3への熱流の熱等価回路である。ま
た、図6はチップキャリア3の温度分布を示す図であ
る。図5において、Tpはデュアルインライン形気密容
器6及び電気端子7の温度、TLDはレーザダイオード1
の温度、T1 は温度検出手段2aで検出された温度、T
2 は温度検出手段2bで検出された温度、r1 は電気端
子7から温度検出手段2aの間の熱抵抗、r2 は温度検
出手段2aから温度検出手段2bの間の熱抵抗、r3
温度検出手段2bからレーザダイオード1の間の熱抵抗
である。
Next, the operation will be described. FIG. 5 shows FIG.
5 (a) is an explanatory view of temperature control of the laser diode module of FIG. 5, FIG. 5 (a) is an explanatory view showing paths of heat flow to the chip carrier 3 in the AA cross section of FIG. 4 (a), and FIG. 5 (b).
Is a heat equivalent circuit of the heat flow to the chip carrier 3. Further, FIG. 6 is a diagram showing the temperature distribution of the chip carrier 3. In FIG. 5, Tp is the temperature of the dual in-line airtight container 6 and the electric terminal 7, and T LD is the laser diode 1.
, T 1 is the temperature detected by the temperature detecting means 2a, T 1
2 is the temperature detected by the temperature detecting means 2b, r 1 is the thermal resistance between the electric terminal 7 and the temperature detecting means 2a, r 2 is the thermal resistance between the temperature detecting means 2a and the temperature detecting means 2b, and r 3 is It is a thermal resistance between the temperature detecting means 2b and the laser diode 1.

【0004】いま、周囲温度がレーザダイオード1の設
定温度より高くなった場合について考える。チップキャ
リア3への熱は、図5(a)に示されるようにデュアル
インライン形気密容器6からリード線8を介してチップ
キャリア3に流入する。先に述べたように、チップキャ
リア3には熱抵抗があるため周囲温度とレーザダイオー
ド1の設定温度に差がある場合にはチップキャリア3に
温度分布(温度差)が生じる。このため、チップキャリ
ア3に設けた温度検出手段2a,2bの検出温度は異な
る。チップキャリア3への熱流の熱等価回路として図5
(b)を考えると、温度差は熱流の経路の熱抵抗にほぼ
比例して生じるため、図6に示されるように、デュアル
インライン形気密容器6の温度Tp、温度検出手段2a
の検出温度T1 、温度検出手段2bの検出温度T2 、お
よびレーザダイオード1の温度TLDは、それぞれの間の
熱抵抗に応じて異なる。この時レーザダイオード1の温
度TLDは、温度検出手段2aの検出温度T1 及び温度検
出手段2bの検出温度T2 に対して次式で表される。 TLD=(K・T2 −T1 )/(K−1) …(1) ここでKは以下の式で表される定数である。 K=(r2 +r3 )/r3 …(2) したがって、式(1)(2)よりレーザダイオード1の
温度TLDは、温度検出手段2aの検出温度T1 及び温度
検出手段2bの検出温度T2 により、デュアルインライ
ン形気密容器6の温度Tpの値に係わらず正確に求める
ことが出来る。なおここで熱抵抗r2 、r3 は、構造に
より決まる定数であるので、予めこれらの値を測定して
おくことにより定数Kの値は決定される。次に周囲温度
が変動した場合について示す。ここで、周囲温度が変動
する前の初期状態における温度検出手段2a、2bでの
検出温度をT10、T20とする。また、これらの値を式
(1)に代入することにより求まるレーザダイオード1
の初期温度をTLD0 と置く。周囲温度の変動により温度
検出手段2aの検出温度がΔT1 、温度検出手段2bの
検出温度がΔT2 変動した場合のレーザダイオード1の
温度変動をΔTLDとすると、ΔTLDは TLD0 +ΔTLD={K(T20+ΔT2 )−(T10+ΔT1 )}/(K−1) より次式で表せる。 ΔTLD=(K・ΔT2 −ΔT1 )/(K−1) …(3) したがって、もし K・ΔT2 −ΔT1 =0 …(4) の条件を満足することが出来ればレーザダイオード1の
温度変動ΔTLDを0に出来、初期温度TLD0 に保つこと
が出来ることが分かる。この式(4)はレーザダイオー
ドの温度を安定に保つための、温度安定条件式である。
Now, consider a case where the ambient temperature becomes higher than the set temperature of the laser diode 1. Heat to the chip carrier 3 flows into the chip carrier 3 from the dual in-line type airtight container 6 via the lead wire 8 as shown in FIG. As described above, since the chip carrier 3 has a thermal resistance, a temperature distribution (temperature difference) occurs in the chip carrier 3 when there is a difference between the ambient temperature and the set temperature of the laser diode 1. Therefore, the temperatures detected by the temperature detecting means 2a and 2b provided on the chip carrier 3 are different. As a heat equivalent circuit of the heat flow to the chip carrier 3, FIG.
Considering (b), since the temperature difference occurs almost in proportion to the thermal resistance of the path of the heat flow, as shown in FIG. 6, the temperature Tp of the dual in-line type airtight container 6 and the temperature detecting means 2a.
The detected temperature T 1 , the detected temperature T 2 of the temperature detection means 2b, and the temperature T LD of the laser diode 1 differ depending on the thermal resistance between them. At this time, the temperature T LD of the laser diode 1 is expressed by the following equation with respect to the detected temperature T 1 of the temperature detecting means 2a and the detected temperature T 2 of the temperature detecting means 2b. T LD = (K · T 2 −T 1 ) / (K−1) (1) Here, K is a constant represented by the following equation. K = (r 2 + r 3 ) / r 3 (2) Therefore, from the equations (1) and (2), the temperature T LD of the laser diode 1 is detected by the temperature T 1 detected by the temperature detector 2a and the temperature T LD detected by the temperature detector 2b. The temperature T 2 enables accurate determination regardless of the value of the temperature Tp of the dual in-line type airtight container 6. Since the thermal resistances r 2 and r 3 are constants determined by the structure, the value of the constant K is determined by measuring these values in advance. Next, the case where the ambient temperature fluctuates is shown. Here, the temperature detection means 2a in the initial state before the ambient temperature varies, the temperature detected by 2b and T 10, T 20. Further, the laser diode 1 obtained by substituting these values into the equation (1)
The initial temperature of T LD0 is set. Letting ΔT LD be the temperature variation of the laser diode 1 when the temperature detected by the temperature detecting means 2a changes by ΔT 1 and the temperature detected by the temperature detecting means 2b changes by ΔT 2 due to the ambient temperature variation, ΔT LD is T LD0 + ΔT LD = From {K (T 20 + ΔT 2 ) − (T 10 + ΔT 1 )} / (K−1), it can be expressed by the following equation. ΔT LD = (K · ΔT 2 −ΔT 1 ) / (K−1) (3) Therefore, if the condition of K · ΔT 2 −ΔT 1 = 0 (4) can be satisfied, the laser diode 1 It can be seen that the temperature fluctuation ΔT LD can be set to 0 and the initial temperature T LD0 can be maintained. This expression (4) is a temperature stability condition expression for keeping the temperature of the laser diode stable.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述したようにレーザ
ダイオード1の温度TLDは、温度検出手段2aの検出温
度T1 と温度検出手段2bの検出温度T2 を式(1)に
代入することにより正確に求まる。また温度検出手段2
aの検出温度の変動ΔT1 と温度検出手段2bの検出温
度の変動ΔT2 が式(4)を満足するように、熱電素子
4に流す電流の大きさと極性を制御することによりレー
ザダイオード1の温度TLDを高精度に安定させることが
出来る。しかし、このような制御を実際に行うためには
式(1)に示したような形式での温度検出手段が必要と
なり、式(4)に示したような演算手段を必要とすると
いう問題点があった。
As described above, the temperature T LD of the laser diode 1 is obtained by substituting the detected temperature T 1 of the temperature detecting means 2a and the detected temperature T 2 of the temperature detecting means 2b into the equation (1). Can be obtained more accurately. Further, the temperature detecting means 2
By controlling the magnitude and polarity of the current flowing through the thermoelectric element 4, the variation ΔT 1 of the detected temperature of a and the variation ΔT 2 of the detected temperature of the temperature detecting means 2b satisfy the equation (4). The temperature T LD can be stabilized with high accuracy. However, in order to actually perform such control, the temperature detecting means in the form shown in formula (1) is required, and the calculating means shown in formula (4) is required. was there.

【0006】この発明は、このような問題点を解消する
ためになされたもので、抵抗形温度検出手段を内蔵した
レーザダイオードモジュールのレーザダイオードの温度
を検出する回路を得、更にレーザダイオードの温度を高
精度に制御するための制御回路を得ることを目的とす
る。
The present invention has been made in order to solve such a problem, and provides a circuit for detecting the temperature of a laser diode of a laser diode module having a built-in resistance type temperature detecting means. It is an object of the present invention to obtain a control circuit for controlling the high precision.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明では、レ
ーザダイオードと、レーザダイオードが設けられている
チップキャリアと、チップキャリアが装着され、レーザ
ダイオードの温度を可変とする熱電素子とを備えたレー
ザダイオード装置において、上記チップキャリアの所定
の2箇所に設けた抵抗形温度検出手段を、4個の接点と
それぞれに抵抗素子が設けられる4個の回路枝を有する
ブリッジ回路の2個の回路枝の抵抗素子としてそれぞれ
配置し、上記4個の接点の内一組の対向する接点間に定
電圧を印加し、他の一組の対向する接点間の電圧差を出
力とする温度変化検出回路を備え、上記温度変化検出回
路の出力に基づいて上記熱電素子に流入する電流を制御
することにより上記レーザダイオードの温度を制御する
ものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a laser diode, a chip carrier provided with the laser diode, and a thermoelectric element mounted with the chip carrier for varying the temperature of the laser diode. In the laser diode device, the resistance-type temperature detecting means provided at two predetermined positions of the chip carrier are provided as two circuits of a bridge circuit having four contact points and four circuit branches provided with resistance elements respectively. A temperature change detection circuit, which is arranged as a branch resistance element, applies a constant voltage between a pair of opposing contacts of the four contacts, and outputs a voltage difference between the other pair of opposing contacts. The temperature of the laser diode is controlled by controlling the current flowing into the thermoelectric element based on the output of the temperature change detection circuit.

【0008】請求項2の発明では、レーザダイオード
と、レーザダイオードが設けられているチップキャリア
と、チップキャリアが装着され、レーザダイオードの温
度を可変とする熱電素子とを備えたレーザダイオード装
置において、上記チップキャリアの所定の2箇所に温度
が上昇するにつれて電気抵抗が指数関数的に減少するN
TCサーミスタと温度が上昇するにつれて電気抵抗が指
数関数的に増加するPTCサーミスタを設け、上記NT
CサーミスタとPTCサーミスタを、4個の接点とそれ
ぞれに抵抗素子が設けられる4個の回路枝を有するブリ
ッジ回路の1個の回路枝の抵抗素子として直列接続して
配置し、上記4個の接点の内一組の対向する接点間に定
電圧を印加し、他の一組の対向する接点間の電圧差を出
力とする温度変化検出回路を備え、上記温度変化検出回
路の出力に基づいて上記熱電素子に流入する電流を制御
することにより上記レーザダイオードの温度を制御する
ものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a laser diode device comprising a laser diode, a chip carrier provided with the laser diode, and a thermoelectric element for mounting the chip carrier and for varying the temperature of the laser diode. The electric resistance exponentially decreases as the temperature rises at two predetermined positions of the chip carrier N
The TC thermistor and the PTC thermistor whose electric resistance exponentially increases as the temperature rises are provided.
A C thermistor and a PTC thermistor are arranged in series as a resistance element of one circuit branch of a bridge circuit having four contact points and four circuit branches each having a resistance element, and the four contact points are arranged. A temperature change detection circuit for applying a constant voltage between one pair of opposing contact points and outputting the voltage difference between the other pair of opposing contact points as output based on the output of the temperature change detecting circuit. The temperature of the laser diode is controlled by controlling the current flowing into the thermoelectric element.

【0009】[0009]

【作用】請求項1の発明によれば、2個の抵抗形温度検
出手段をブリッジ回路の任意の2辺に接続することによ
り、ブリッジ回路の出力電圧は2個の抵抗形温度検出手
段の抵抗値の一次関数式で得られ、この出力電圧の変動
がレーザダイオードの温度変動に対応する。したがっ
て、このブリッジ回路の出力に基づいて出力電圧の変動
が0になるように熱電素子の電流を制御することにより
レーザダイオードの温度を制御することが出来る。ま
た、このブリッジ回路において2個の抵抗形温度検出手
段を接続した2辺以外の2辺の抵抗値の比を適当に設定
することにより定数Kを任意に設定することが出来るの
で、任意の定数Kを持ったレーザダイオードモジュール
に対応することが出来る。
According to the first aspect of the present invention, by connecting the two resistance type temperature detecting means to arbitrary two sides of the bridge circuit, the output voltage of the bridge circuit is the resistance of the two resistance type temperature detecting means. It is obtained by a linear function formula of the value, and the fluctuation of the output voltage corresponds to the temperature fluctuation of the laser diode. Therefore, the temperature of the laser diode can be controlled by controlling the current of the thermoelectric element so that the fluctuation of the output voltage becomes zero based on the output of the bridge circuit. Further, in this bridge circuit, the constant K can be arbitrarily set by appropriately setting the ratio of the resistance values of the two sides other than the two sides to which the two resistance-type temperature detecting means are connected, so that the constant K can be set arbitrarily. It can correspond to the laser diode module with K.

【0010】請求項2の発明によれば、温度が上昇する
につれて電気抵抗が指数関数的に減少するNTCサーミ
スタと温度が上昇するにつれて電気抵抗が指数関数的に
増加するPTCサーミスタを直列に同じ辺に接続したブ
リッジ回路の出力電圧はNTCサーミスタとPTCサー
ミスタの抵抗値の一次関数式で得られ、この出力電圧の
変動がレーザダイオードの温度変動に対応する。したが
って、このブリッジ回路の出力に基づいて出力電圧の変
動が0になるように熱電素子の電流を制御することによ
りレーザダイオードの温度を制御することが出来る。ま
た、NTCサーミスタとPTCサーミスタの温度係数の
比が定数Kに一致するのでこの比を任意に設定すること
により、任意の定数Kを持ったレーザダイオードモジュ
ールに対応することが出来る。
According to the invention of claim 2, an NTC thermistor whose electric resistance exponentially decreases as the temperature rises and a PTC thermistor whose electric resistance exponentially increases as the temperature rises are connected in series on the same side. The output voltage of the bridge circuit connected to is obtained by a linear function equation of the resistance values of the NTC thermistor and the PTC thermistor, and the fluctuation of the output voltage corresponds to the temperature fluctuation of the laser diode. Therefore, the temperature of the laser diode can be controlled by controlling the current of the thermoelectric element so that the fluctuation of the output voltage becomes zero based on the output of the bridge circuit. Further, since the ratio of the temperature coefficient of the NTC thermistor to that of the PTC thermistor matches the constant K, it is possible to correspond to the laser diode module having the arbitrary constant K by setting this ratio arbitrarily.

【0011】[0011]

【実施例】実施例1 図1はこの発明によるレーザダイオード装置の一実施例
の構成説明図である。なお、ここではレーザダイオード
装置を図11に示したレーザダイオードモジュールに適
用した場合を例に説明する。図において、2a、2bは
図11に示したレーザダイオードモジュールのレーザダ
イオード1が設置されているチップキャリア3上に配置
された抵抗形の温度検出手段、11a、11bは抵抗で
ある。これらの温度検出手段2a、2bと抵抗11a、
11bはブリッジ回路を構成しており、温度検出手段2
a、抵抗11a間の接点と温度検出手段2b、抵抗11
b間の接点の間に定電圧VI が印加されており、温度検
出手段2a、2b間の接点と抵抗11a、11b間の接
点の間の電圧差VO が出力される。12はこれらの温度
検出手段2a、2b、抵抗11a、11bにより構成さ
れた微小温度変化検出用回路、13はこの微小温度変化
検出用回路12の出力VO が入力される熱電素子制御回
路、4はこの熱電素子制御回路13に接続された熱電素
子である。
Embodiment 1 FIG. 1 is a structural explanatory view of an embodiment of a laser diode device according to the present invention. Here, a case where the laser diode device is applied to the laser diode module shown in FIG. 11 will be described as an example. In the figure, 2a and 2b are resistance type temperature detecting means arranged on the chip carrier 3 in which the laser diode 1 of the laser diode module shown in FIG. 11 is installed, and 11a and 11b are resistors. These temperature detecting means 2a, 2b and resistor 11a,
Reference numeral 11b constitutes a bridge circuit, and temperature detecting means 2
a, a contact point between the resistor 11a and the temperature detecting means 2b, the resistor 11
The constant voltage V I is applied between the contacts between the points b, and the voltage difference V O between the contacts between the temperature detecting means 2a and 2b and the contacts between the resistors 11a and 11b is output. Reference numeral 12 is a circuit for detecting a minute temperature change constituted by these temperature detecting means 2a, 2b and resistors 11a, 11b, 13 is a thermoelectric element control circuit to which the output V O of the circuit 12 for detecting a minute temperature change is inputted. Is a thermoelectric element connected to the thermoelectric element control circuit 13.

【0012】次に動作について説明する。図1において
Raは温度検出手段2aの抵抗値であり、検出する温度
をT1 、温度係数をαa とするとRa=αa ・T1 の関
係がある。Rbは温度検出手段2bの抵抗値であり、検
出する温度をT2 、温度係数をαb とするとRb=αb
・T2 の関係がある。なお、ここで温度検出手段の抵抗
値は負の値を取り得ないので温度の単位は絶対温度が用
いられる。また、R1 は抵抗11aの抵抗値、R2は抵
抗11bの抵抗値である。この時微小温度変化検出用回
路12の出力電圧VO は次式で表される。
Next, the operation will be described. In FIG. 1, Ra is the resistance value of the temperature detecting means 2a, and if the detected temperature is T 1 and the temperature coefficient is α a , there is a relation of Ra = α a · T 1 . Rb is the resistance value of the temperature detecting means 2b, and Rb = α b where T 2 is the temperature to be detected and α b is the temperature coefficient.
・ There is a relationship of T 2 . Since the resistance value of the temperature detecting means cannot take a negative value, the absolute temperature is used as the unit of temperature. Further, R 1 is the resistance value of the resistor 11a, and R 2 is the resistance value of the resistor 11b. At this time, the output voltage V O of the minute temperature change detecting circuit 12 is expressed by the following equation.

【0013】[0013]

【数1】 [Equation 1]

【0014】次に周囲温度が変動した場合について示
す。ここで、周囲温度が変動する前の初期状態における
温度検出手段2a、2bでの検出温度をT10、T20とす
る。また、これらの値を式(5)に代入することにより
求まる出力電圧VO 初期値をVO0と置く。周囲温度の変
化により温度検出手段2aの検出温度がΔT1 、温度検
出手段2bの検出温度がΔT2 変動した場合の出力電圧
の変動をΔVO とすると、ΔVOは式(5)より次式で
表される。
Next, a case where the ambient temperature changes will be described. Here, the temperature detection means 2a in the initial state before the ambient temperature varies, the temperature detected by 2b and T 10, T 20. Further, the initial value of the output voltage V O obtained by substituting these values into the equation (5) is set as V O0 . Assuming that the temperature detected by the temperature detecting means 2a changes by ΔT 1 and the temperature detected by the temperature detecting means 2b changes by ΔT 2 due to the change in ambient temperature, the change in the output voltage is ΔV O , then ΔV O is given by the following equation (5) It is represented by.

【0015】[0015]

【数2】 [Equation 2]

【0016】ここでS1 は以下に示す定数である。Here, S 1 is a constant shown below.

【0017】[0017]

【数3】 [Equation 3]

【0018】なお、ここでは以下に示す近似を用いた。The following approximation is used here.

【0019】[0019]

【数4】 [Equation 4]

【0020】この近似は通常レーザダイオードモジュー
ルで扱う温度が室温近傍でありT1及びT2 が約300
K程度であること、また温度変動ΔT1 、ΔT2 は1〜
2度程度の微小温度変動であるので妥当な近似である。
さらに、温度検出手段2a、2bは温度係数の等しいも
のを使用するとするならば、αa =αb であるので式
(6)は次式で表される。
In this approximation, the temperature usually handled by the laser diode module is near room temperature, and T 1 and T 2 are about 300.
K, and the temperature fluctuations ΔT 1 and ΔT 2 are 1 to
Since it is a minute temperature fluctuation of about 2 degrees, it is a reasonable approximation.
Further, assuming that the temperature detecting means 2a and 2b have the same temperature coefficient, since α a = α b , the equation (6) is expressed by the following equation.

【0021】[0021]

【数5】 [Equation 5]

【0022】一方、前述したようにレーザダイオードの
温度TLDを安定に保つ条件は式(4)の関係を満足する
ことである。以下にこの温度安定条件式(4)を再掲す
る。 K・ΔT2 −ΔT1 =0 …(10) ここで、この温度安定条件式(10)と微小温度変化検
出用回路12の出力電圧変動ΔVO を表す式(9)を比
較すると、式(9)の()中の式の形は温度安定条件式
(10)と同じであることが分かる。ここで抵抗11
a、11bの抵抗値R1 、R2 を、その比が次式に示す
ようにKに等しくなるように設定する。 K=R1 /R2 …(11) このように設定した微小温度変化検出用回路12の出力
電圧変動ΔVO を0にすることにより、温度安定条件式
(10)は満足されレーザダイオードの温度TLDは安定
に保たれる。具体的には熱電素子制御回路13により、
出力電圧変動ΔVO の大きさ及び符号に応じて、熱電素
子に流す電流の大きさ及び極性を切り替えることにより
行う。
On the other hand, as described above, the condition for keeping the temperature T LD of the laser diode stable is to satisfy the relation of the equation (4). The temperature stability conditional expression (4) is reproduced below. K · ΔT 2 −ΔT 1 = 0 (10) Here, when the temperature stability condition expression (10) is compared with the expression (9) representing the output voltage fluctuation ΔV O of the minute temperature change detection circuit 12, the expression (9) is obtained. It can be seen that the form of the expression in () of 9) is the same as the temperature stability condition expression (10). Resistor 11 here
The resistance values R 1 and R 2 of a and 11b are set so that the ratio becomes equal to K as shown in the following equation. K = R 1 / R 2 (11) By setting the output voltage fluctuation ΔV O of the minute temperature change detecting circuit 12 set in this way to 0, the temperature stability condition expression (10) is satisfied and the temperature of the laser diode is satisfied. T LD is kept stable. Specifically, by the thermoelectric element control circuit 13,
This is performed by switching the magnitude and polarity of the current flowing through the thermoelectric element according to the magnitude and sign of the output voltage fluctuation ΔV O.

【0023】なお、図1では温度検出手段2a、2bを
微小温度変化検出用回路12のブリッジの左側2辺に配
置した構成を示したが、温度検出手段2a、2bはブリ
ッジの4辺のどの2辺に配置した場合でも上述した関係
が得られる。
Although FIG. 1 shows the structure in which the temperature detecting means 2a and 2b are arranged on the two left sides of the bridge of the minute temperature change detecting circuit 12, the temperature detecting means 2a and 2b are located on the four sides of the bridge. The above-mentioned relationship can be obtained even when the two sides are arranged.

【0024】実施例2 図2はこの発明によるレーザダイオード装置の他の実施
例の構成説明図である。なお、ここではレーザダイオー
ド装置を図11に示したレーザダイオードモジュールに
適用した場合を例に説明する。図において、14a、1
4bは図11に示したレーザダイオードモジュールのレ
ーザダイオード1が設置されているチップキャリア3上
に配置された温度検出手段であるサーミスタ、11a、
11bは抵抗である。これらのサーミスタ14a、14
bと抵抗11a、11bはブリッジ回路を構成してお
り、サーミスタ14a、抵抗11a間の接点と、サーミ
スタ14b、抵抗11b間の接点の間に定電圧VI が印
加されており、サーミスタ14a、14b間の接点と抵
抗11a、11b間の接点の間の電圧差VO が出力され
る。12はこれらのサーミスタ14a、14b、抵抗1
1a、11bにより構成された微小温度変化検出用回
路、13はこの微小温度変化検出用回路12の出力VO
が入力される熱電素子制御回路、4はこの熱電素子制御
回路13に接続された熱電素子である。
Embodiment 2 FIG. 2 is a structural explanatory view of another embodiment of the laser diode device according to the present invention. Here, a case where the laser diode device is applied to the laser diode module shown in FIG. 11 will be described as an example. In the figure, 14a, 1
4b is a thermistor which is a temperature detecting means arranged on the chip carrier 3 on which the laser diode 1 of the laser diode module shown in FIG. 11 is installed, 11a,
11b is a resistance. These thermistors 14a, 14
b and the resistors 11a and 11b form a bridge circuit, and a constant voltage V I is applied between the contact point between the thermistor 14a and the resistor 11a and the contact point between the thermistor 14b and the resistor 11b. contact and the resistance 11a between the voltage difference V O between the contacts between 11b is output. 12 is these thermistors 14a, 14b and resistor 1
A circuit for detecting a minute temperature change constituted by 1a and 11b, and 13 is an output V O of the circuit for detecting a minute temperature change 12.
Is inputted to the thermoelectric element control circuit 4, and the thermoelectric element control circuit 4 is connected to the thermoelectric element control circuit 13.

【0025】次に動作について説明する。図1において
Taはサーミスタ14aの抵抗値、RTbはサーミスタ1
4bの抵抗値である。また、R1 は抵抗11aの抵抗
値、R2 は抵抗11bの抵抗値である。ここでサーミス
タの一般的な特性について説明する。例えばサーミスタ
が検出する温度(絶対温度)がTであるとすると、サー
ミスタの抵抗値RT は次式で表される。
Next, the operation will be described. In FIG. 1, R Ta is the resistance value of the thermistor 14a, and R Tb is the thermistor 1.
4b is the resistance value. Further, R 1 is the resistance value of the resistor 11a, and R 2 is the resistance value of the resistor 11b. Here, general characteristics of the thermistor will be described. For example, assuming that the temperature (absolute temperature) detected by the thermistor is T, the resistance value R T of the thermistor is expressed by the following equation.

【0026】[0026]

【数6】 [Equation 6]

【0027】ここでT0 は基準となる任意の温度、R0
は温度がT0 のときのサーミスタ抵抗、Bは定数であ
る。この式より、微小温度変動ΔTに対するサーミスタ
抵抗変動ΔRT は次式のように表される。
Here, T 0 is an arbitrary reference temperature, R 0
Is the thermistor resistance when the temperature is T 0 , and B is a constant. From this equation, the thermistor resistance variation ΔR T with respect to the minute temperature variation ΔT is expressed by the following equation.

【0028】[0028]

【数7】 [Equation 7]

【0029】この関係を用いて、実施例1で示したよう
にサーミスタ検出温度の変動による微小温度変化検出用
回路12の出力電圧変動ΔVO を求めると次式のように
なる。
Using this relationship, the output voltage fluctuation ΔV O of the minute temperature change detecting circuit 12 due to the fluctuation of the thermistor detected temperature as shown in the first embodiment is calculated as follows.

【0030】[0030]

【数8】 [Equation 8]

【0031】ここでS2 は定数である。一方、前述した
ようにレーザダイオードの温度TLDを安定に保つ条件
は、温度安定条件式(10)の関係を満足することであ
る。ここで、この温度安定条件式(10)と微小温度変
化検出用回路12の出力電圧変動ΔVO を表す式(1
4)を比較すると、式(14)の()中の式の形は温度
安定条件式(10)と同じであることが分かる。ここで
抵抗11a、11bの抵抗値R1 、R2 を、その比がK
に等しくなるように設定する。このように設定した微小
温度変化検出用回路12の出力電圧変動ΔVO を0にす
ることにより、温度安定条件式(10)は満足されレー
ザダイオードの温度TLDは安定に保たれる。具体的には
熱電素子制御回路13により、出力電圧変動ΔVO の大
きさ及び符号に応じて、熱電素子4に流す電流の大きさ
及び極性を切り替えることにより行う。ただし、実施例
1で示した式(9)の符号が+であるのに対し、式(1
4)の符号は−になっているので、熱電素子4を熱電素
子制御回路13に接続する場合の極性は、図1に示した
実施例1の場合と比較して逆に接続する必要がある。
Here, S 2 is a constant. On the other hand, as described above, the condition for keeping the temperature T LD of the laser diode stable is to satisfy the relationship of the temperature stability condition expression (10). Here, the temperature stability condition expression (10) and the expression (1) representing the output voltage fluctuation ΔV O of the minute temperature change detection circuit 12
Comparing 4), it can be seen that the form of the formula in () of formula (14) is the same as the temperature stability condition formula (10). Here, the resistance values R 1 and R 2 of the resistors 11a and 11b are set to K
Set to be equal to. By setting the output voltage fluctuation ΔV O of the minute temperature change detecting circuit 12 thus set to 0, the temperature stability condition (10) is satisfied and the temperature T LD of the laser diode is kept stable. Specifically, the thermoelectric element control circuit 13 switches the magnitude and polarity of the current flowing through the thermoelectric element 4 according to the magnitude and sign of the output voltage fluctuation ΔV O. However, while the sign of the expression (9) shown in the first embodiment is +, the expression (1
Since the sign of 4) is −, the polarity when connecting the thermoelectric element 4 to the thermoelectric element control circuit 13 needs to be connected reversely as compared with the case of the first embodiment shown in FIG. .

【0032】なお、図2はサーミスタ14a、14bを
微小温度変化検出用回路12のブリッジの左側2辺に配
置した構成を示したが、サーミスタ14a、14bはブ
リッジの4辺のどの2辺に配置した場合でも上述した関
係が得られる。また、サーミスタ14a、14bは温度
特性の傾向が同一のものを使用する。
Although FIG. 2 shows the structure in which the thermistors 14a and 14b are arranged on the two left sides of the bridge of the minute temperature change detecting circuit 12, the thermistors 14a and 14b are arranged on any two sides of the four sides of the bridge. Even if it does, the above-mentioned relationship can be obtained. Further, the thermistors 14a and 14b having the same tendency of temperature characteristics are used.

【0033】実施例3 図3はこの発明によるレーザダイオード装置のさらに他
の実施例の構成説明図である。なお、ここではレーザダ
イオード装置を図11に示したレーザダイオードモジュ
ールに適用した場合を例に説明する。図において、14
cは図11に示したレーザダイオードモジュールのチッ
プキャリア3上の2か所に配置された温度検出手段の内
の一方であるサーミスタであって、温度が上昇するにつ
れて電気抵抗が指数関数的に減少するNTCサーミス
タ、15は図11に示したレーザダイオードモジュール
のチップキャリア3上の2か所に配置された温度検出手
段の内の他の一方であり、温度が上昇するにつれて電気
抵抗が指数関数的に増加するPTCサーミスタ、11
a、11b、11cは抵抗である。NTCサーミスタ1
4cとPTCサーミスタ15は直列に接続されており、
4辺から成るブリッジ回路の一辺を構成している。ま
た、ブリッジ回路の他の3辺は抵抗11a、11b、1
1cにより構成されている。このブリッジ回路の抵抗1
1a、11c間の接点と、PTCサーミスタ15、抵抗
11b間の接点の間に定電圧VI が印加されており、N
TCサーミスタ14c、抵抗11c間の接点と抵抗11
a、11b間の接点の間の電圧差VO が出力される。1
2はこれらのNTCサーミスタ14c、PTCサーミス
タ15、抵抗11a、11b、11cにより構成された
微小温度変化検出用回路、13はこの微小温度変化検出
用回路12の出力VO が入力される熱電素子制御回路、
4はこの熱電素子制御回路13に接続された熱電素子で
ある。
Embodiment 3 FIG. 3 is a structural explanatory view of still another embodiment of the laser diode device according to the present invention. Here, a case where the laser diode device is applied to the laser diode module shown in FIG. 11 will be described as an example. In the figure, 14
Reference numeral c is a thermistor which is one of temperature detecting means arranged at two places on the chip carrier 3 of the laser diode module shown in FIG. 11, and the electric resistance exponentially decreases as the temperature rises. The NTC thermistor 15 is another one of the temperature detecting means arranged at two places on the chip carrier 3 of the laser diode module shown in FIG. 11, and its electric resistance is exponential as the temperature rises. PTC thermistor increasing to 11
Reference characters a, 11b, and 11c are resistors. NTC thermistor 1
4c and PTC thermistor 15 are connected in series,
It constitutes one side of a four-sided bridge circuit. The other three sides of the bridge circuit are resistors 11a, 11b, 1
1c. Resistance 1 of this bridge circuit
A constant voltage V I is applied between the contact between 1a and 11c and the contact between the PTC thermistor 15 and the resistor 11b.
Contact between TC thermistor 14c and resistor 11c and resistor 11
a, the voltage difference V O between the contacts between 11b is output. 1
Reference numeral 2 is a circuit for detecting a minute temperature change composed of these NTC thermistor 14c, PTC thermistor 15 and resistors 11a, 11b, 11c, and 13 is a thermoelectric element control to which the output V O of the circuit 12 for detecting a minute temperature change is inputted. circuit,
Reference numeral 4 is a thermoelectric element connected to the thermoelectric element control circuit 13.

【0034】次に動作について説明する。図3において
TcはNTCサーミスタ14cの抵抗値、RpはPTC
サーミスタ15の抵抗値である。また、R1 は抵抗11
aの抵抗値、R2 は抵抗11bの抵抗値、R3 は抵抗1
1cの抵抗値である。ここで、NTCサーミスタ14c
の検出する温度をT1 、またその微小変動をΔT1 とす
ると、NTCサーミスタ14cの抵抗の微小変動ΔRTc
は、実施例2で説明したように次式で表される。 ΔRTc=−αTc・ΔT1 …(15) ここでαTcは次式で表される温度係数である。 αTc=B/T0 2 …(16) 一方、PTCサーミスタ15の検出する温度をT2 とす
ると、PTCサーミスタ抵抗値の温度に対する変化のし
かたは一般にリニアであるので、PTCサーミスタ15
の抵抗値Rpは次式で表される。 Rp=αp ・T2 …(17) ここでαp は温度係数である。また、これより、検出温
度の微小変動ΔT2 に対する抵抗の微小変動ΔRpは次
式で表される。 ΔRp=αp ・ΔT2 …(18) これらの関係を用いて、実施例1で示したようにサーミ
スタ検出温度の変動による微小温度変化検出用回路12
の出力電圧変動ΔVO を求めると次式のようになる。
Next, the operation will be described. In FIG. 3, R Tc is the resistance value of the NTC thermistor 14c, and Rp is the PTC.
The resistance value of the thermistor 15. R 1 is a resistor 11
a is the resistance value, R 2 is the resistance value of the resistor 11b, and R 3 is the resistance 1
The resistance value is 1c. Here, NTC thermistor 14c
Let T 1 be the temperature detected by the sensor and ΔT 1 be the minute fluctuation thereof, and the minute fluctuation ΔR Tc of the resistance of the NTC thermistor 14c.
Is expressed by the following equation as described in the second embodiment. ΔR Tc = −α Tc · ΔT 1 (15) where α Tc is a temperature coefficient represented by the following equation. α Tc = B / T 0 2 (16) On the other hand, assuming that the temperature detected by the PTC thermistor 15 is T 2 , the PTC thermistor resistance value generally changes linearly with temperature.
The resistance value Rp of is expressed by the following equation. Rp = α p · T 2 (17) where α p is a temperature coefficient. Further, from this, the minute fluctuation ΔRp of the resistance with respect to the minute fluctuation ΔT 2 of the detected temperature is expressed by the following equation. ΔRp = α p · ΔT 2 ... (18) Using these relationships, small temperature change detecting circuit 12 due to the variation of the thermistor detection temperature as shown in Example 1
When the output voltage fluctuation ΔV O is calculated as follows.

【0035】[0035]

【数9】 [Equation 9]

【0036】ここでS3 は定数である。一方、前述した
ようにレーザダイオードの温度TLDを安定に保つ条件
は、温度安定条件式(10)の関係を満足することであ
る。ここで、この温度安定条件式(10)と微小温度変
化検出用回路12の出力電圧変動ΔVO を表す式(1
9)を比較すると、式(19)の()中の式の形は温度
安定条件式(10)と同じであることが分かる。ここで
サーミスタ14cの温度係数αTcとポジスタ15の温度
係数αp を、その比がKに等しくなるように設定する。
このように設定した微小温度変化検出用回路12の出力
電圧変動ΔVO を0にすることにより、温度安定条件式
(10)は満足されレーザダイオードの温度TLDは安定
に保たれる。具体的には熱電素子制御回路13により、
出力電圧変動ΔVO の大きさ及び符号に応じて、熱電素
子4に流す電流の大きさ及び極性を切り替えることによ
り行う。
Here, S 3 is a constant. On the other hand, as described above, the condition for keeping the temperature T LD of the laser diode stable is to satisfy the relationship of the temperature stability condition expression (10). Here, the temperature stability condition expression (10) and the expression (1) representing the output voltage fluctuation ΔV O of the minute temperature change detection circuit 12
Comparing 9), it can be seen that the form of the formula in () of formula (19) is the same as the temperature stability condition formula (10). Here, the temperature coefficient α Tc of the thermistor 14c and the temperature coefficient α p of the posistor 15 are set so that their ratio becomes equal to K.
By setting the output voltage fluctuation ΔV O of the minute temperature change detecting circuit 12 thus set to 0, the temperature stability condition (10) is satisfied and the temperature T LD of the laser diode is kept stable. Specifically, by the thermoelectric element control circuit 13,
This is performed by switching the magnitude and polarity of the current flowing through the thermoelectric element 4 according to the magnitude and sign of the output voltage fluctuation ΔV O.

【0037】なお、上述した関係は、直列に接続したN
TCサーミスタ14cとPTCサーミスタ15を微小温
度変化検出用回路12のブリッジのどの辺に配置した場
合でも得られる。
The above-mentioned relationship is based on N connected in series.
It can be obtained when the TC thermistor 14c and the PTC thermistor 15 are arranged on any side of the bridge of the circuit 12 for detecting a minute temperature change.

【0038】[0038]

【発明の効果】この発明によれば、ブリッジ回路の出力
電圧の変動をレーザダイオードの温度変動に対応させら
れるので、このブリッジ回路の出力に基づいて熱電素子
に流入する電流を制御することによりレーザダイオード
の温度を制御できる。
According to the present invention, the fluctuation of the output voltage of the bridge circuit can be made to correspond to the temperature fluctuation of the laser diode. Therefore, by controlling the current flowing into the thermoelectric element based on the output of the bridge circuit, the laser can be controlled. The temperature of the diode can be controlled.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明のレーザダイオード装置の実施例1の
構成説明図である。
FIG. 1 is a structural explanatory view of a first embodiment of a laser diode device of the present invention.

【図2】この発明の実施例2の構成説明図である。FIG. 2 is a structural explanatory view of a second embodiment of the present invention.

【図3】この発明の実施例3の構成説明図である。FIG. 3 is a structural explanatory view of a third embodiment of the present invention.

【図4】従来のレーザダイオードモジュールの構成説明
図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a configuration of a conventional laser diode module.

【図5】従来のレーザダイオードモジュールの温度制御
の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of temperature control of a conventional laser diode module.

【図6】従来のレーザダイオードモジュールのチップキ
ャリア上の温度分布を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a temperature distribution on a chip carrier of a conventional laser diode module.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザダイオード 2 温度検出手段 3 チップキャリア 4 熱電素子 5 光ファイバ 6 デュアルインライン形気密容器 7 電気端子 8 リード線 9 中継用電極 10 熱流を示す矢印 11 抵抗 12 微小温度変化検出用回路 13 熱電素子制御回路 14a サーミスタ 14b サーミスタ 14c NTCサーミスタ 15 PTCサーミスタ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser diode 2 Temperature detection means 3 Chip carrier 4 Thermoelectric element 5 Optical fiber 6 Dual in-line type airtight container 7 Electric terminal 8 Lead wire 9 Relay electrode 10 Arrow showing heat flow 11 Resistance 12 Micro temperature change detection circuit 13 Thermoelectric element control Circuit 14a Thermistor 14b Thermistor 14c NTC Thermistor 15 PTC Thermistor

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザダイオードと、レーザダイオード
が設けられているチップキャリアと、チップキャリアが
装着され、レーザダイオードの温度を可変とする熱電素
子とを備えたレーザダイオード装置において、上記チッ
プキャリアの所定の2箇所に設けた抵抗形温度検出手段
を、4個の接点とそれぞれに抵抗素子が設けられる4個
の回路枝を有するブリッジ回路の2個の回路枝の抵抗素
子としてそれぞれ配置し、上記4個の接点の内一組の対
向する接点間に定電圧を印加し、他の一組の対向する接
点間の電圧差を出力とする温度変化検出回路を備え、上
記温度変化検出回路の出力に基づいて上記熱電素子に流
入する電流を制御することにより上記レーザダイオード
の温度を制御することを特徴とするレーザダイオード装
置。
1. A laser diode device comprising a laser diode, a chip carrier provided with the laser diode, and a thermoelectric element for mounting the chip carrier and for varying the temperature of the laser diode. The resistance-type temperature detecting means provided at two positions are respectively arranged as resistance elements of two circuit branches of a bridge circuit having four contact points and four circuit branches each provided with a resistance element. A constant voltage is applied between a pair of opposing contacts of the contacts, and a temperature change detection circuit that outputs the voltage difference between the other pair of opposing contacts is provided. A laser diode device, wherein the temperature of the laser diode is controlled by controlling a current flowing into the thermoelectric element based on the above.
【請求項2】 レーザダイオードと、レーザダイオード
が設けられているチップキャリアと、チップキャリアが
装着され、レーザダイオードの温度を可変とする熱電素
子とを備えたレーザダイオード装置において、上記チッ
プキャリアの所定の2箇所に温度が上昇するにつれて電
気抵抗が指数関数的に減少するNTCサーミスタと温度
が上昇するにつれて電気抵抗が指数関数的に増加するP
TCサーミスタを設け、上記NTCサーミスタとPTC
サーミスタを、4個の接点とそれぞれに抵抗素子が設け
られる4個の回路枝を有するブリッジ回路の1個の回路
枝の抵抗素子として直列接続して配置し、上記4個の接
点の内一組の対向する接点間に定電圧を印加し、他の一
組の対向する接点間の電圧差を出力とする温度変化検出
回路を備え、上記温度変化検出回路の出力に基づいて上
記熱電素子に流入する電流を制御することにより上記レ
ーザダイオードの温度を制御することを特徴とするレー
ザダイオード装置。
2. A laser diode device comprising: a laser diode; a chip carrier provided with the laser diode; and a thermoelectric element mounted with the chip carrier for varying the temperature of the laser diode. Of the NTC thermistor whose electric resistance exponentially decreases as the temperature rises, and the electric resistance exponentially increases of P as the temperature rises.
A TC thermistor is provided, and the above-mentioned NTC thermistor and PTC
A thermistor is arranged in series as a resistance element of one circuit branch of a bridge circuit having four contact points and four circuit branches each having a resistance element, and one of the four contacts is set. Is equipped with a temperature change detection circuit that applies a constant voltage between the opposite contacts of the pair and outputs the voltage difference between the other pair of opposite contacts, and flows into the thermoelectric element based on the output of the temperature change detection circuit. A laser diode device characterized in that the temperature of the laser diode is controlled by controlling the current to be applied.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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