JPH06177486A - Light-emitting element and manufacture thereof - Google Patents

Light-emitting element and manufacture thereof

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JPH06177486A
JPH06177486A JP32684092A JP32684092A JPH06177486A JP H06177486 A JPH06177486 A JP H06177486A JP 32684092 A JP32684092 A JP 32684092A JP 32684092 A JP32684092 A JP 32684092A JP H06177486 A JPH06177486 A JP H06177486A
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light emitting
light
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etching
micro
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晃 石橋
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Abstract

PURPOSE:To reduce the number of manufacturing processes by enabling the integration of a light-emitting element such as a semiconductor laser diode, a light-emitting diode, etc., in the light-emitting element. CONSTITUTION:At least a first clad layer 2, an active layer 3 and a second clad layer 4 are formed onto a base body 1, a micro-trench 7 is formed while being oppositely faced to an optical outgoing end face 10 consisting of an etching end face, and the side face 7S of the micro-trench 7 is used as an external reflecting mirror.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えば面発光型構成の
半導体レーザダイオード(LD)、発光ダイオード(L
ED)等の発光素子とその製造方法に係わる。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a surface emitting semiconductor laser diode (LD) and a light emitting diode (L).
The present invention relates to a light emitting device such as ED) and a manufacturing method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体レーザダイオードや発光ダイオー
ドは、光ディスク、光ファイバー通信用光源等として広
く実用化されており、更に高コヒーレンス化や高出力化
等の特性の向上と共に、光変調器などの機能デバイスと
のモノリシック集積化が進められている。特に近年、光
コンピュータ等における並列光情報処理、或いは大容量
並列光伝送などへの応用を考えて、大規模な2次元集積
化の実現が望まれている。
2. Description of the Related Art Semiconductor laser diodes and light emitting diodes have been widely put to practical use as optical sources for optical disks, optical fiber communication, etc., and further improved in characteristics such as higher coherence and higher output, and functional devices such as optical modulators. Monolithic integration with is being promoted. In recent years, in particular, in consideration of application to parallel optical information processing in optical computers or the like, or large-capacity parallel optical transmission, realization of large-scale two-dimensional integration is desired.

【0003】しかしながら、従来構成の半導体レーザは
劈開により共振器端面を形成しているためモノリシック
な集積が不可能であり、またエッチングにより共振器端
面を形成する場合もその垂直な共振器端面からの光を外
部に取り出すためには劈開が必要となり、同様に集積化
を行えない。これに対して2次元集積化が可能な半導体
レーザとして、基体面に垂直な方向にレーザ光を出射す
る面発光型のレーザが注目されている。
However, the semiconductor laser of the conventional structure cannot be monolithically integrated because the cavity facet is formed by cleavage, and when the cavity facet is formed by etching, the cavity facet is perpendicular to the cavity facet. Cleavage is required to take out the light to the outside, and integration cannot be performed similarly. On the other hand, as a semiconductor laser that can be two-dimensionally integrated, a surface-emitting type laser that emits laser light in a direction perpendicular to the surface of the substrate is drawing attention.

【0004】このような面発光レーザとしては、例えば
通常の半導体レーザの発光端面に対向して、基体に対し
45°の角度をなすミラー面を設け、このミラー面に反
射させてレーザ光を基体面に対し垂直な方向に取り出す
構成が採られる。そしてこのような面発光レーザをモノ
リシック構成として形成するには、一般にRIE(反応
性イオンエッチング)、RIBE(反応性イオンビーム
エッチング)、イオンミリング等の異方性のドライエッ
チングを利用することにより、例えば基体上に形成した
半導体層に対して基体に垂直な方向からと、45°程度
の斜め方向からとの2回の異方性エッチングを行うこと
によってレーザ光出射端面とミラー面とを形成すること
ができ、これによりモノリシックに集積された面発光レ
ーザを得ることができる。
As such a surface emitting laser, for example, a mirror surface is provided facing the light emitting end surface of a normal semiconductor laser and forming an angle of 45 ° with respect to the substrate. The structure is taken out in a direction perpendicular to the body surface. In order to form such a surface emitting laser as a monolithic structure, anisotropic dry etching such as RIE (reactive ion etching), RIBE (reactive ion beam etching), or ion milling is generally used. For example, the laser light emitting end surface and the mirror surface are formed by performing anisotropic etching twice on the semiconductor layer formed on the base body in a direction perpendicular to the base body and in an oblique direction of about 45 °. As a result, a surface emitting laser monolithically integrated can be obtained.

【0005】しかしながらこの方法による場合、光出射
端面をエッチング形成した後、選択マスクを形成して2
回目の結晶成長、選択エッチングが必要であることから
工数が大となって生産性に劣り、また歩留りの低下をも
招来して光集積化を阻む原因となっている。
However, according to this method, after the light emitting end face is formed by etching, a selective mask is formed and
Since the second crystal growth and selective etching are required, the number of steps is large, the productivity is poor, and the yield is reduced, which is a cause of hindering optical integration.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、半導体レー
ザダイオードや発光ダイオード等の発光素子において、
その集積化が可能な構成とその製造方法を提供する。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention provides a light emitting device such as a semiconductor laser diode or a light emitting diode.
Provided are a structure that can be integrated and a manufacturing method thereof.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、その一例の略
線的拡大断面図を図1に示すように、基体1上に少なく
とも第1のクラッド層2、活性層3及び第2のクラッド
層4を設け、エッチング端面より成る光出射端面10に
対向してマイクロトレンチ7を形成して、このマイクロ
トレンチ7の側面7Sを外部反射ミラーとして構成す
る。
According to the present invention, as shown in a schematic enlarged cross-sectional view of an example thereof, at least a first cladding layer 2, an active layer 3 and a second cladding are formed on a substrate 1. The layer 4 is provided, the microtrench 7 is formed so as to face the light emitting end surface 10 formed of the etching end surface, and the side surface 7S of the microtrench 7 is configured as an external reflection mirror.

【0008】また本発明は、上述の構成において、外部
反射ミラーを、少なくともその一部を曲面により構成す
る。
According to the present invention, in the above structure, at least a part of the external reflection mirror is formed by a curved surface.

【0009】また更に本発明は、その一例の略線的拡大
断面図を図2に示すように、上述の構成において、マイ
クロトレンチ7内に透明材料9を埋め込む構成とする。
Further, according to the present invention, as shown in an enlarged schematic sectional view of an example thereof, the transparent material 9 is embedded in the micro-trench 7 in the above-mentioned configuration.

【0010】更に本発明は、その一例の製造工程図を図
3A〜Cに示すように、基体1上に少なくとも第1のク
ラッド層2、活性層3及び第2のクラッド層4を形成し
た後、マスク層6を用いて所定のパターンにエッチング
を行い、そのエッチング端面に対向してマイクロトレン
チ7を形成し、このマイクロトレンチ7の側面7Sを外
部反射ミラーとして構成する。
Further, according to the present invention, as shown in FIGS. 3A to 3C, which are manufacturing process diagrams of an example thereof, after forming at least the first cladding layer 2, the active layer 3 and the second cladding layer 4 on the substrate 1. The mask layer 6 is used to perform etching in a predetermined pattern, the micro-trench 7 is formed so as to face the etching end face, and the side surface 7S of the micro-trench 7 is configured as an external reflection mirror.

【0011】[0011]

【作用】上述したように本発明においては、図1に示す
如くエッチング端面を形成する際のエッチングによって
同時にマイクロトレンチ7を形成し、その側面7Sを外
部反射ミラーとして構成することから、劈開等の素子分
離を行うことなく基体1に対しほぼ垂直な方向に光出射
される発光素子を得ることができて、このような面発光
型の発光素子を集積化することが可能となり、またその
製造に当たって1回のエッチングにより形成し得ること
から、製造工程数の低減化をはかって生産性の向上をは
かり、また歩留りの向上をはかることができる。
As described above, in the present invention, as shown in FIG. 1, the micro-trench 7 is simultaneously formed by etching at the time of forming the etching end face, and the side surface 7S thereof is configured as an external reflection mirror. It is possible to obtain a light emitting element that emits light in a direction substantially perpendicular to the substrate 1 without performing element separation, and it becomes possible to integrate such a surface emitting type light emitting element, and in manufacturing the same. Since it can be formed by one-time etching, it is possible to reduce the number of manufacturing steps, improve productivity, and improve yield.

【0012】またこのような構成において、外部反射ミ
ラーとする側面7Sを、少なくともその一部を曲面とし
て構成することによって、指向性の少ない発光素子を得
ることができる。
Further, in such a structure, by forming at least a part of the side surface 7S to be the external reflection mirror as a curved surface, it is possible to obtain a light emitting element having a small directivity.

【0013】更にまた、マイクロトレンチ7を埋込むよ
うに透明材料9を被着形成することによって、この透明
材料9を例えば凹レンズとして出射光を拡大させ、指向
性の少ない発光素子を得ることができる。
Furthermore, by depositing the transparent material 9 so as to fill the micro-trench 7, the transparent material 9 is used as, for example, a concave lens to expand the emitted light, and a light emitting element having a small directivity can be obtained. .

【0014】[0014]

【実施例】以下本発明実施例を図面を参照して詳細に説
明する。先ず図1に示す本発明の一実施例を図3A〜C
の工程図を参照してその製造方法と共に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. First, one embodiment of the present invention shown in FIG.
The manufacturing method will be described with reference to the process chart of FIG.

【0015】この場合、図3Aに示すように、n型のI
nP等より成る基体1上に、順次例えばn型のGaIn
P等より成る第1のクラッド層2、AlGaInP等よ
り成る活性層3、p型のGaInP等より成る第2のク
ラッド層4を順次MOCVD(有機金属による化学的気
相成長法)等によりエピタキシャル成長し、更にこの場
合Au等より成るp型の電極5Aをスパッタリング等に
より例えば全面的に被着し、この上にフォトレジスト等
のマスク層6を塗布して全面的に被着する。
In this case, as shown in FIG. 3A, n-type I
On the substrate 1 made of nP or the like, for example, n-type GaIn
A first clad layer 2 made of P or the like, an active layer 3 made of AlGaInP or the like and a second clad layer 4 made of p-type GaInP or the like are sequentially epitaxially grown by MOCVD (Chemical Vapor Deposition Method using Metal Organic Metals) or the like. Further, in this case, the p-type electrode 5A made of Au or the like is deposited on the entire surface by sputtering or the like, and a mask layer 6 such as a photoresist is applied on the entire surface to be deposited.

【0016】そして図3Bに示すように、共振器を構成
する部分を覆う所定のパターンにマスク層6を露光、現
像等によりパターニングし、更にこのマスク層6をマス
クとしてRIE等の異方性エッチングにより電極5Aを
パターニングする。
Then, as shown in FIG. 3B, the mask layer 6 is patterned by exposure, development, etc. in a predetermined pattern covering the portion constituting the resonator, and anisotropic etching such as RIE is performed using the mask layer 6 as a mask. The electrode 5A is patterned by.

【0017】そして更に図3Cに示すように、電極5A
をマスクとしてセルフアラインで第2のクラッド層4、
活性層3及び第1のクラッド層2のエッチングを行い、
エッチング端面より成る光出射端面10を形成すると共
に、これと同時にマイクロトレンチ7を形成する。そし
てこの後基体1の裏面に電極5Bをスパッタリング等に
より被着形成してレーザダイオード又は発光ダイオード
等の発光素子を得ることができる。
And further, as shown in FIG. 3C, electrode 5A
The second cladding layer 4 is self-aligned using
Etching the active layer 3 and the first cladding layer 2,
A light emitting end face 10 composed of an etching end face is formed, and at the same time, a micro trench 7 is formed. Then, after that, the electrode 5B is deposited on the back surface of the substrate 1 by sputtering or the like to obtain a light emitting element such as a laser diode or a light emitting diode.

【0018】このマイクロトレンチ7は例えばRIB
E、又は高電圧下のRIE等により形成することができ
る。マイクロトレンチ7を生じやすい条件としては、例
えば比較的高いエネルギービームを用いることが上げら
れる。即ち高電圧下のエッチングを行い、エッチングビ
ームの縦方向即ち基体1の表面に垂直な方向の指向性を
大とすることにより実現できる。また、比較的高い真空
度とすることも要求され、導入ガス量を小としてエッチ
ングを行うことによってイオン間の散乱をなくし、ビー
ム指向性を大とすることができて、マイクロトレンチ7
を形成することができる。
The micro-trench 7 is, for example, RIB.
It can be formed by E or RIE under a high voltage. As a condition in which the micro-trench 7 is likely to occur, it is possible to use a relatively high energy beam, for example. That is, it can be realized by performing etching under a high voltage and increasing the directivity of the etching beam in the vertical direction, that is, in the direction perpendicular to the surface of the substrate 1. Further, a relatively high degree of vacuum is also required, and by carrying out etching with a small amount of introduced gas, it is possible to eliminate the scattering of ions and to increase the beam directivity.
Can be formed.

【0019】このマイクロトレンチ7が発生する原因と
しては、RIEやRIBE等のエッチングの際に、真空
装置内において基体1が他部とはほぼ電気的に独立して
載置されることから、プラズマ発生中に基体1の表面に
空間電荷層が発生して電位が生じ、真空装置内に導入さ
れる反応ガスがこれに作用することによって生じるもの
と思われる。尚、通常の半導体装置の製造工程において
はこのようなマイクロトレンチが不必要に生じないよう
にしているものであるが、本発明はこの現象を積極的に
利用するものである。
The cause of the formation of the micro-trench 7 is that the base 1 is placed in the vacuum apparatus substantially independently of other portions during etching such as RIE and RIBE. It is considered that a space charge layer is generated on the surface of the substrate 1 during generation to generate an electric potential, and the reaction gas introduced into the vacuum device acts on this to generate the electric potential. It should be noted that such microtrenches are prevented from being unnecessarily generated in the normal semiconductor device manufacturing process, but the present invention positively utilizes this phenomenon.

【0020】また、マイクロトレンチ7の大きさとして
は、例えばこのレーザダイオードの出射光のビームスポ
ットが1〜2μmφ程度であることから、その深さdを
2〜3μm程度以上とし、幅も2〜3μm程度以上とす
ることが望ましい。
As for the size of the micro-trench 7, for example, since the beam spot of the emitted light of this laser diode is about 1 to 2 μmφ, the depth d is about 2 to 3 μm or more and the width is 2 to 2 μm. It is desirable that the thickness is about 3 μm or more.

【0021】この例においては、RF(高周波)パワー
密度を2kW/130cm2 、導入ガスとしてArを2
8cc、CH4 を2ccのガス量とし、真空度を2.5
mTorrと比較的低圧下としてRIEを行い、図1に
示すように深さdが2〜3μm程度のマイクロトレンチ
7を光出射端面10と同時に形成することができた。
In this example, the RF (high frequency) power density is 2 kW / 130 cm 2 , and the introduced gas is 2 Ar.
8 cc, CH 4 with 2 cc gas amount, vacuum degree 2.5
RIE was performed under a relatively low pressure of mTorr, and the micro-trench 7 having a depth d of about 2 to 3 μm could be formed at the same time as the light emitting end face 10 as shown in FIG.

【0022】このとき、マイクロトレンチ7の側面7S
が基体1の主面に対して成す角度θを45°程度となる
ようにそのエッチング時間を制御することにより、光出
射端面10から出射されるレーザ光又はLED光等の出
射光をこの側面7Sを外部反射ミラーとして反射させた
反射光LO が、基体1の主面に対しほぼ垂直な上方向に
出射されることとなる。この場合少なくともマイクロト
レンチ7の最深部が活性層3より下部の第1のクラッド
層2に達するようにその深さを制御することが必要であ
る。また上述の角度θは45°程度が好ましいが、これ
に限るものではない。
At this time, the side surface 7S of the micro trench 7
By controlling the etching time such that the angle θ formed by the main surface of the substrate 1 is about 45 °, the emitted light such as laser light or LED light emitted from the light emitting end face 10 is emitted from the side surface 7S. reflected light L O which is reflected as external reflection mirror, so that the emitted substantially upward direction perpendicular to the main surface of the substrate 1. In this case, it is necessary to control the depth so that at least the deepest part of the microtrench 7 reaches the first cladding layer 2 below the active layer 3. Further, the above-mentioned angle θ is preferably about 45 °, but is not limited to this.

【0023】そして更にこの場合、マイクロトレンチ7
の側面7Sの少なくとも一部を曲面とすることによっ
て、指向性の低い発光素子を得ることができて、例えば
空間伝送等に利用することによってこの発光素子から得
られる光の受光範囲を大とすることができる。
Further, in this case, the micro trench 7
By forming at least a part of the side surface 7S of the light emitting element into a curved surface, a light emitting element with low directivity can be obtained, and by utilizing it for space transmission, for example, the light receiving range of the light emitting element can be increased. be able to.

【0024】また更に図2に示すように、マイクロトレ
ンチ7内に透明材料9を埋め込む構成とし、この透明材
料9の表面を例えば凹状に形成することにより、凹レン
ズを構成し、指向性の低い発光素子を形成することがで
き、同様に受光範囲を広範囲にできる発光素子を形成す
ることができる。
Further, as shown in FIG. 2, a transparent material 9 is embedded in the micro-trench 7, and a concave lens is formed by forming the surface of the transparent material 9 into a concave shape, for example. An element can be formed, and similarly, a light emitting element whose light receiving range can be widened can be formed.

【0025】このような透明材料9の形成方法として
は、例えば図4Aに示すように、フォトレジスト等より
成る透明材料9を全面的に被着した後、比較的弱い露光
用光を用いて図4Bにおいて斜線を付して示すようにそ
の表面部分のみを露光し、現像を施して、図4Cに示す
ようにマイクロトレンチ7内のみにこの透明材料9を埋
込むことができる。この場合その表面は自然発生的に凹
部状に形成され、凹レンズを構成することができる。図
4A〜図4Cにおいて図1と対応する部分には同一符号
を付して重複説明を省略する。
As a method of forming such a transparent material 9, for example, as shown in FIG. 4A, after a transparent material 9 made of photoresist or the like is entirely applied, a relatively weak exposure light is used. 4B, only the surface portion of the transparent material 9 is exposed and developed as shown by hatching, and the transparent material 9 can be embedded only in the micro trench 7 as shown in FIG. 4C. In this case, the surface is spontaneously formed into a concave shape, so that a concave lens can be formed. 4A to 4C, parts corresponding to those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

【0026】透明材料9としては、その他樹脂等の光透
過性の材料であれば良く、またその表面が自然に凹部状
となるような材料であれば同様に受光範囲の広い発光素
子を構成することができる。
As the transparent material 9, any other light-transmissive material such as resin may be used. If the surface of the transparent material 9 is naturally recessed, a light emitting element having a wide light receiving range is similarly constructed. be able to.

【0027】尚、上述の例においては電極5Aを光出射
端面10を形成するパターンと同一のパターンとして形
成したが、その他例えば端面10を形成した後、通常の
フォトリソグラフィ等の適用によって形成することもで
きる。
Although the electrode 5A is formed in the same pattern as the pattern for forming the light emitting end face 10 in the above-mentioned example, it may be formed by applying ordinary photolithography or the like after the end face 10 is formed. You can also

【0028】また本発明は上述の実施例に限定されるこ
となく、その材料構成等において各種の変形変更が可能
であることはいうまでもない。
Further, it is needless to say that the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and various modifications and changes can be made in the material constitution and the like.

【0029】[0029]

【発明の効果】上述したように本発明によれば光出射端
面と外部反射ミラーとを同時にエッチング形成すること
ができるため、製造工程数の低減化をはかって生産性の
向上をはかり、歩留りの向上をはかることができる。
As described above, according to the present invention, the light emitting end face and the external reflection mirror can be simultaneously formed by etching, so that the number of manufacturing steps can be reduced and the productivity can be improved and the yield can be improved. You can improve.

【0030】また、この外部反射ミラーを構成するマイ
クロトレンチの側面の少なくとも一部を曲面とすること
によって、指向性の少ない発光素子を得ることができ
る。
Further, by forming at least a part of the side surface of the micro-trench forming the external reflection mirror into a curved surface, it is possible to obtain a light emitting element having a small directivity.

【0031】更にまた、マイクロトレンチを透明材料に
よって埋込むことによってこの部分を保護することがで
き、また凹レンズ状とすることによって指向性の少ない
発光素子を得ることができ、例えば空間伝送等に利用す
ることによって受光範囲を広くすることができる。
Furthermore, by filling the micro-trench with a transparent material, this portion can be protected, and by forming a concave lens, a light emitting element with less directivity can be obtained. By doing so, the light receiving range can be widened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明実施例の略線的拡大断面図である。FIG. 1 is a schematic enlarged cross-sectional view of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明実施例の略線的拡大断面図である。FIG. 2 is a schematic enlarged cross-sectional view of an embodiment of the present invention.

【図3】本発明実施例の製造工程図である。FIG. 3 is a manufacturing process diagram of an example of the present invention.

【図4】本発明実施例の製造工程図である。FIG. 4 is a manufacturing process diagram of an example of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基体 2 第1のクラッド層 3 活性層 4 第2のクラッド層 5A 電極 5B 電極 6 マスク層 7 マイクロトレンチ 7S 側面 1 Base 2 First clad layer 3 Active layer 4 Second clad layer 5A electrode 5B electrode 6 Mask layer 7 Micro trench 7S Side surface

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基体上に少なくとも第1のクラッド層、
活性層及び第2のクラッド層が設けられ、エッチング端
面より成る光出射端面に対向してマイクロトレンチが形
成され、上記マイクロトレンチの側面が外部反射ミラー
とされて成ることを特徴とする発光素子。
1. At least a first cladding layer on a substrate,
A light emitting device comprising an active layer and a second cladding layer, a microtrench formed opposite to a light emitting end face composed of an etching end face, and a side surface of the microtrench serving as an external reflection mirror.
【請求項2】 上記外部反射ミラーは、少なくともその
一部が曲面により構成されることを特徴とする上記請求
項1に記載の発光素子。
2. The light emitting device according to claim 1, wherein at least a part of the external reflection mirror is formed of a curved surface.
【請求項3】 上記マイクロトレンチ内に透明材料が埋
め込まれて成ることを特徴とする上記請求項1又は2に
記載の発光素子。
3. The light emitting device according to claim 1, wherein a transparent material is embedded in the micro trench.
【請求項4】 基体上に少なくとも第1のクラッド層、
活性層及び第2のクラッド層を形成した後、 マスク層を用いて所定のパターンにエッチングを行い、
そのエッチング端面に対向してマイクロトレンチを形成
し、 上記エッチング端面に対向する上記マイクロトレンチの
側面を外部反射ミラーとすることを特徴とする発光素子
の製造方法。
4. At least a first cladding layer on the substrate,
After forming the active layer and the second cladding layer, the mask layer is used to perform etching in a predetermined pattern,
A method of manufacturing a light emitting device, comprising forming a micro trench facing the etching end face, and using a side surface of the micro trench facing the etching end face as an external reflection mirror.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017028125A (en) * 2015-07-23 2017-02-02 日本電信電話株式会社 Semiconductor laser element

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