JPH06162944A - Mounting structure of inner beam shield and inner magnetic shield on mask and mounting method therefor - Google Patents

Mounting structure of inner beam shield and inner magnetic shield on mask and mounting method therefor

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JPH06162944A
JPH06162944A JP31191492A JP31191492A JPH06162944A JP H06162944 A JPH06162944 A JP H06162944A JP 31191492 A JP31191492 A JP 31191492A JP 31191492 A JP31191492 A JP 31191492A JP H06162944 A JPH06162944 A JP H06162944A
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Japan
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shield
mask
magnetic shield
internal
hole
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JP31191492A
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Japanese (ja)
Inventor
Junichi Ogawa
順一 小川
Masami Tsuchiya
正美 土屋
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Original Assignee
Sony Corp
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  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the shielding effect of both an inner magnetic shield and an inner beam shield by aligning the joint end of the inner magnetic shield with the joint end of the inner beam shield, and specifying an angle formed with the two shields. CONSTITUTION:An inner beam shield 15 and an inner magnetic shield 16 are welded to each other in such a way as keeping the bent sections thereof aligned with each other. In mounting the shields 15 and 16 on a mask 4, an angle formed therewith is specified at a value between 85 and 90 degrees. According to this construction, an overscan beam 11 is first reflected with the inner beam shield 15 and further reflected with the inner magnetic shield 16, thus traveling in a direction opposite to the mask 4. Consequently, the beam 11 does not reach a phosphor screen and the deterioration of color purity can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は内部ビームシールドと内
部磁気シールドとのマスクへの取り付け構造及びその取
り付け方法に係り、特に、磁気シールド効果とオーバー
スキャン時のビームシールド効果を向上させる内部ビー
ムシールドと内部磁気シールドとのマスクへの取り付け
構造及びその取り付け方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a structure for attaching an internal beam shield and an internal magnetic shield to a mask and a method for attaching the mask, and more particularly to an internal beam shield for improving the magnetic shield effect and the beam shield effect during overscan. The present invention relates to a structure for attaching a mask and an internal magnetic shield to a mask and a method for attaching the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】カラー受像管として用いる陰極線管(C
RT)は、図5に示すようにパネル1とファンネル2で
外囲され、パネル1側から順に蛍光面3,色選別機構体
としてのマスク4,及びマスク4のフレームに付設され
た内部ビームシールド(InnerBeam Shield:IBS)
5,内部磁気シールド(Inner Magnetic Shield:IM
S)6,及び電子ビーム10を放射する電子銃7などを
その内部に備えている。
2. Description of the Related Art A cathode ray tube (C
RT) is surrounded by a panel 1 and a funnel 2 as shown in FIG. 5, and an internal beam shield attached to the frame of the phosphor screen 3, the mask 4 as a color selection mechanism, and the mask 4 in order from the panel 1 side. (InnerBeam Shield: IBS)
5, Inner Magnetic Shield (IM)
S) 6, and an electron gun 7 for emitting the electron beam 10 and the like are provided therein.

【0003】CRTにおける内部磁気シールド(IM
S)6は、電子銃7から放射された電子ビーム10の軌
道を外部磁気から保護するために設けられる。一方内部
ビームシールド(IBS)5は、電子ビーム10が蛍光
体スクリーン3の有効画面外を走査(オーバースキャ
ン)された場合にその電子ビーム10がマスク4あるい
は上記内部磁気シールド6などに当たり、その反射電子
が蛍光面3に当たるのを防止するために設けられる。
Internal magnetic shield (IM
S) 6 is provided to protect the trajectory of the electron beam 10 emitted from the electron gun 7 from external magnetism. On the other hand, the internal beam shield (IBS) 5 reflects the electron beam 10 hitting the mask 4 or the internal magnetic shield 6 when the electron beam 10 is scanned (overscanned) outside the effective screen of the phosphor screen 3. It is provided to prevent electrons from hitting the phosphor screen 3.

【0004】図6は内部磁気シールド(IMS)6にオ
ーバースキャンビーム11が当たった場合の反射状況を
説明する部分模式図(IMS説明図)であり、図6に示
すように電子ビームの軌道をより接して覆うように配設
された内部磁気シールド6に当たったオーバースキャン
ビーム11はそこで内面反射を起こし、反射電子が蛍光
面3に当たり、色純度を悪化させることになる。
FIG. 6 is a partial schematic diagram (IMS explanatory diagram) for explaining the reflection state when the overscan beam 11 hits the internal magnetic shield (IMS) 6, and the trajectory of the electron beam is shown in FIG. The overscan beam 11 that hits the inner magnetic shield 6 arranged so as to come into contact with and cover it more closely causes internal reflection, and the reflected electrons hit the fluorescent screen 3 to deteriorate the color purity.

【0005】また図7は、内部ビームシールド(IB
S)5の役割を説明する模式図(IBS説明図)であ
り、オーバースキャンビーム11がマスクに当たるのを
防止する。
FIG. 7 shows an internal beam shield (IB
(S) is a schematic diagram (IBS explanatory diagram) for explaining the role of 5 and prevents the overscan beam 11 from hitting the mask.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】陰極線管における上記
内部磁気シールドと内部ビームシールドは、従来別々に
設計されていた。磁気シールドによる反射電子及びオー
バースキャンによる電子ビームはそれぞれに考慮はされ
るが、内部磁気シールドと内部ビームシールドの間での
反射が存在し、それぞれ単体では問題にならない状態で
も反射電子が蛍光面へ到達して問題となる場合がある。
The internal magnetic shield and the internal beam shield in the cathode ray tube have conventionally been designed separately. Although the reflected electrons due to the magnetic shield and the electron beam due to overscan are considered for each, there is reflection between the internal magnetic shield and the internal beam shield, and even if each alone does not cause a problem, the reflected electrons are reflected to the fluorescent screen. It may reach and become a problem.

【0007】図8及び図9はそれぞれ内部磁気シールド
効果が少ない場合のIMS取り付け構造の模式図及び内
部磁気シールドを電子ビームに近付けてIMS効果を増
大させた場合のIMS取り付け構造の模式図である。特
に、図9(a)及び図9(b)は内部ビームシールド5
が内部磁気シールド6よりそれぞれ右側及び左側へずれ
ている状態の場合である。この図9(a),(b)の場
合はいずれも電子ビーム10が内部ビームシールド5と
内部磁気シールド6に反射して図5に示した蛍光面3へ
到達し、上述した如く画像の色純度を低下させる。なお
図10(a)及び図10(b)は、上記図9(a)及び
図9(b)の状態における電子ビームの反射現象を説明
するための図である。図中角度αは、電子銃中心から蛍
光面への垂線と最外電子ビームとのなす角度であり、角
度βはIMS又はIBSの成形曲げ角度である。
8 and 9 are a schematic diagram of an IMS mounting structure in the case where the internal magnetic shield effect is small and a schematic diagram of the IMS mounting structure in the case of increasing the IMS effect by bringing the internal magnetic shield close to the electron beam. . In particular, FIGS. 9A and 9B show the inner beam shield 5
Is in the state of being deviated from the inner magnetic shield 6 to the right and left sides, respectively. In both cases (a) and (b) of FIG. 9, the electron beam 10 is reflected by the internal beam shield 5 and the internal magnetic shield 6 and reaches the fluorescent screen 3 shown in FIG. Reduce purity. 10 (a) and 10 (b) are diagrams for explaining the electron beam reflection phenomenon in the states of FIGS. 9 (a) and 9 (b). In the figure, an angle α is an angle formed by the perpendicular line from the center of the electron gun to the fluorescent screen and the outermost electron beam, and an angle β is a bending angle of the IMS or IBS.

【0008】オーバースキャンを考慮した場合、角度α
はある範囲の値をとるので、角度βを一義的には決めら
れない。従って、これらの図から90+α−2β=0な
る条件が満足される必要がある。しかしながら実際はα
が40度前後の値をとるため、βは65度程度の角度を
要することになり、実効的でない。
Considering overscan, the angle α
Takes a value in a certain range, so the angle β cannot be uniquely determined. Therefore, from these figures, the condition of 90 + α-2β = 0 needs to be satisfied. However, in reality α
Is about 40 degrees, β requires an angle of about 65 degrees, which is not effective.

【0009】また、トリニトロンCRT用のテンション
マスクでは、上記内部ビームシールドと内部磁気シール
ドとを溶接した状態でマスクのフレームへ溶接すること
により取り付けられていた。しかし、この溶接による取
り付け方法では、アパーチャーグリル(AG)の張力を
劣化させたり、IMSの取り付け歩留、精度が低下し
た。
Further, in the tension mask for the Trinitron CRT, the internal beam shield and the internal magnetic shield are attached by welding to the frame of the mask in a welded state. However, this welding-based mounting method deteriorates the tension of the aperture grille (AG) and lowers the IMS mounting yield and accuracy.

【0010】そこで本発明は、カラー陰極線管において
電子ビームを外部磁気から遮蔽保護する磁気シールドと
オーバースキャン時の電子ビームを遮蔽するビームシー
ルドのそれぞれの効果を同時に向上させる、内部ビーム
シールドと内部磁気シールドとのマスクへの取り付け構
造及び例えばアパーチャーグリル等を用いるテンション
マスクへの負荷をかけない有効な取り付け方法を提供す
ることを目的とする。
Therefore, according to the present invention, in the color cathode ray tube, the effect of the magnetic shield for shielding and protecting the electron beam from external magnetism and the effect of the beam shield for shielding the electron beam at the time of overscan are simultaneously improved. It is an object of the present invention to provide a structure for mounting a mask on a shield and an effective mounting method that does not apply a load to a tension mask using an aperture grill or the like.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題は本発明によれ
ば、色選別機構体としてのマスクを有し、且つ該マスク
のフレームに内部磁気シールドと内部ビームシールドと
を取り付けてなるカラー陰極線管において、前記内部磁
気シールドと内部ビームシールドとの接合端が一致して
おり、且つ該2つのシールドによって形成される角度が
85〜90度であることを特徴とする内部ビームシール
ドと内部磁気シールドとのマスクへの取り付け構造によ
って解決される。
According to the present invention, there is provided a color cathode ray tube having a mask as a color selecting mechanism and having an inner magnetic shield and an inner beam shield attached to a frame of the mask. The inner beam shield and the inner magnetic shield are characterized in that the joint ends of the inner magnetic shield and the inner beam shield coincide with each other, and the angle formed by the two shields is 85 to 90 degrees. It is solved by the structure of attaching to the mask.

【0012】更に上記課題は、カラー陰極線管の色選別
機構体としてのマスクの対向する少なくとも一対のフレ
ームの各々に、第1の孔を有する薄板を付設して、内部
ビームシールドと内部磁気シールドの接合面あるいは該
内部磁気シールドのみの接合面に設けた第2の孔及び前
記第1の孔にバネ性係止手段を挿入することによって内
部ビームシールドと内部磁気シールドとをマスクに取り
付けることを特徴とする内部ビームシールドと内部磁気
シールドとのマスクへの取り付け方法によって解決され
る。
Further, the above-mentioned problem is to attach a thin plate having a first hole to each of at least a pair of opposing frames of a mask as a color selection mechanism of a color cathode ray tube so that an inner beam shield and an inner magnetic shield are provided. The inner beam shield and the inner magnetic shield are attached to the mask by inserting a spring-like locking means into the second hole and the first hole provided in the joint surface or the joint surface of only the inner magnetic shield. It is solved by a method of attaching the inner beam shield and the inner magnetic shield to the mask.

【0013】[0013]

【作用】本発明によればカラー陰極線管において、内部
磁気シールド(IMS)と内部ビームシールド(IB
S)とがその自由端の反対側の接合端が一致しており、
しかも上記2つのシールド(遮蔽板)のなす角度が85
〜90度となっているため、図2に示すように、全ての
オーバースキャンビーム11はIBS15とIMS16
とに反射して有効画面側(パネル側)に到達しない。
According to the present invention, in a color cathode ray tube, an internal magnetic shield (IMS) and an internal beam shield (IB) are used.
S) and the joint end on the opposite side of the free end are the same,
Moreover, the angle formed by the two shields is 85.
As shown in FIG. 2, all of the overscan beams 11 have an IBS 15 and an IMS 16 because they are at about 90 degrees.
Reflects and does not reach the effective screen side (panel side).

【0014】特に、上記IMS16と、上記陰極線管の
有効画面を構成する電子ビームの最端軌道とがほぼ平行
をなすように取り付けてあることがより好適である。
In particular, it is more preferable that the IMS 16 and the cathode 16 are mounted so that the most end orbit of the electron beam forming the effective screen of the cathode ray tube is substantially parallel.

【0015】更に本発明によれば、上記の如く所定の角
度と接合端条件を有するIMSとIBS溶接構造がその
溶接部に設けられた孔と、マスクのフレームに付設(溶
接)されたSTCプレート等の薄板20に設けられた孔
に、クリップ等のバネ性係止手段18を挿入嵌合させる
ことにより、マスクへ取り付けられているので、マスク
が大きな負荷をかける溶接を要せず、取り付け方法が簡
便でしかも確実に取り付けることができる。
Further, according to the present invention, the STC plate attached (welded) to the hole of the mask and the hole provided in the welded portion of the IMS and IBS welded structure having the predetermined angle and the joint end condition as described above. Since the mask is attached to the mask by inserting and fitting the spring-like locking means 18 such as a clip into the hole provided in the thin plate 20, the mask does not require welding with a large load, and the attachment method However, it is simple and can be attached securely.

【0016】[0016]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0017】図1は本発明に係る内部ビームシールドと
内部磁気シールドとのマスクへの取り付け構造の一実施
例を示す模式図である。図1において、内部ビームシー
ルド15と内部磁気シールド16とは、それぞれの曲折
部を一致(接合端一致)するようにして溶接により接合
なされており、マスクへの取り付け方法を示す図2に拡
大して示すように、そのなす角度は85〜90度に規定
されている。なお、内部磁気シールド16は有効画面へ
の電子ビームの最端軌道に対して従来と同様に略平行に
なっている。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of a structure for attaching an internal beam shield and an internal magnetic shield to a mask according to the present invention. In FIG. 1, the inner beam shield 15 and the inner magnetic shield 16 are joined by welding so that the bent portions of the inner beam shield 15 and the inner magnetic shield 16 coincide with each other (joint ends match). As shown by, the angle formed is defined as 85 to 90 degrees. The internal magnetic shield 16 is substantially parallel to the endmost trajectory of the electron beam to the effective screen, as in the conventional case.

【0018】このように構成されるので、図2に拡大し
て示したように、本発明の内部磁気シールドと内部ビー
ムシールドとの組み立て構造(反射防止シールド)によ
るマスクへの取り付け構造ではオーバースキャンビーム
11はまず内部ビームシールド15で反射され、更に内
部磁気シールド16で反射してマスク4に対して反対方
向に向かうことになり、蛍光面3へは到達せず色純度の
劣化を起こさない。
With this structure, as shown in the enlarged view of FIG. 2, the structure for mounting the internal magnetic shield and the internal beam shield (antireflection shield) according to the present invention on the mask is overscanned. The beam 11 is first reflected by the internal beam shield 15 and further reflected by the internal magnetic shield 16 and travels in the opposite direction to the mask 4, so that the beam 11 does not reach the fluorescent screen 3 and the color purity does not deteriorate.

【0019】また本実施例では、上記反射防止シールド
のマスクへの取り付けは、図2に示したように、反射防
止シールドの内部ビームシールド15と内部磁気シール
ド16との接合部に設けた孔と、クリップ孔付きSTC
プレート20(温度補正板:図4で詳細に示す)のクリ
ップ孔とを合わせクリップ18をその孔に通して取り付
ける。なお、STCプレート20は厚さが1〜2mm程
度と孔も開けやすく、しかもマスクのフレーム部には溶
接により堅固に溶接接合されている。
Further, in this embodiment, the antireflection shield is attached to the mask by a hole provided at the joint between the internal beam shield 15 and the internal magnetic shield 16 of the antireflection shield, as shown in FIG. , STC with clip hole
The plate 20 (temperature compensating plate: shown in detail in FIG. 4) is aligned with the clip hole, and the clip 18 is attached through the hole. The STC plate 20 has a thickness of about 1 to 2 mm and is easy to open a hole, and is firmly welded and joined to the frame portion of the mask by welding.

【0020】図3は、上述した反射防止磁気シールドの
うちの特に内部磁気シールド(IMS)のみを示して、
マスクのフレームに溶接したSTCプレートへのクリッ
プ取り付けを説明するための斜視図である。図3に示す
ようにマスク4のフレームAメンバー21aには、アパ
ーチャーグリル(AG)4aが架張溶接されており、更
にフレームBメンバー21bがAG4aに張りを持たせ
るようにフレームAメンバー21aに溶接されている。
フレームBメンバー21bの表面には、クリップ孔20
aを有するSTCプレート20が設けられ、IMS16
のクリップ孔16aをSTCのクリップ孔20aに合わ
せて(IMS16をP方向に移動して)クリップ挿入方
向(矢印Q)に4ヶ所クリップを挿入してSTCプレー
ト20とIMS16とを固定する。なお図3中、23は
マスクをパネルへ固定するためのスプリングであり、ス
プリングホルダー24でフレームAメンバー21a、フ
レームBメンバー21bに固定されており、25はHV
コンタクターである。
FIG. 3 shows only the internal magnetic shield (IMS) of the antireflection magnetic shields described above.
It is a perspective view for explaining the clip attachment to the STC plate welded to the frame of the mask. As shown in FIG. 3, an aperture grille (AG) 4a is stretched and welded to the frame A member 21a of the mask 4, and the frame B member 21b is welded to the frame A member 21a so as to give tension to the AG 4a. Has been done.
The clip hole 20 is provided on the surface of the frame B member 21b.
an STC plate 20 having a
The STC plate 20 and the IMS 16 are fixed to each other by aligning the clip holes 16a of 4 with the STC clip holes 20a (moving the IMS 16 in the P direction) and inserting clips at four places in the clip insertion direction (arrow Q). In FIG. 3, reference numeral 23 is a spring for fixing the mask to the panel, which is fixed to the frame A member 21a and the frame B member 21b by a spring holder 24, and 25 is an HV.
It is a contactor.

【0021】図4にはマスク側のクリップ孔の例を示す
図であり、特に、(a)は図3に示したクリップ孔付き
STCプレートを示し、(b)はクリップ孔付きホルダ
ープレートを示したものである。すなわち、図4(b)
に示すように、STCプレート20を用いない型式のマ
スクの場合には、それぞれ47のスプリングホルダーを
伸長させてクリップ孔24bを設け、図2及び図3に示
した方法と同様にして反射磁気シールドをクリップ止め
する。
FIG. 4 is a view showing an example of a clip hole on the mask side. Particularly, (a) shows the STC plate with the clip hole shown in FIG. 3, and (b) shows the holder plate with the clip hole. It is a thing. That is, FIG. 4 (b)
As shown in FIG. 5, in the case of a mask of a type that does not use the STC plate 20, 47 spring holders are extended to provide clip holes 24b, and the reflective magnetic shield is formed in the same manner as shown in FIGS. Clip on.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば内
部磁気シールドを、電子ビームのオーバースキャンがあ
っても有効配置のビームシールドで防止できるため、色
純度を損なうことなく磁気シールド効果を有効に発揮で
きる。しかもCRTのマスクへの取り付けもSTCプレ
ートとクリップ止めが可能となり、溶接接合による不具
合を解決することもできる。
As described above, according to the present invention, since the internal magnetic shield can be prevented by the effectively arranged beam shield even when the electron beam is overscanned, the magnetic shield effect can be obtained without impairing the color purity. It can be used effectively. Moreover, the CRT can be attached to the mask by clipping with the STC plate, and problems due to welding and joining can be solved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る内部ビームシールド(IBS)と
内部磁気シールド(IMS)とのマスクへの取り付け構
造の一実施例模式図である。
FIG. 1 is a schematic view of an embodiment of a structure for attaching an internal beam shield (IBS) and an internal magnetic shield (IMS) to a mask according to the present invention.

【図2】図1の一部拡大図である。FIG. 2 is a partially enlarged view of FIG.

【図3】IMSとSTCプレートとのクリップ取り付け
方法を説明するための斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view for explaining a clip attachment method of an IMS and an STC plate.

【図4】クリップ孔の例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example of a clip hole.

【図5】従来の陰極線管説明図である。FIG. 5 is an explanatory view of a conventional cathode ray tube.

【図6】IMS説明図である。FIG. 6 is an IMS explanatory diagram.

【図7】IBS説明図である。FIG. 7 is an IBS explanatory diagram.

【図8】IMS効果が少ないIMS取り付け構造の模式
図である。
FIG. 8 is a schematic diagram of an IMS mounting structure having a small IMS effect.

【図9】IMS効果を増大させたIMS取り付け構造の
模式図である。
FIG. 9 is a schematic diagram of an IMS mounting structure with increased IMS effect.

【図10】電子ビームの反射現象図である。FIG. 10 is a reflection phenomenon diagram of an electron beam.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 パネル 2 ファンネル 3 蛍光面 4 マスク 4a アパーチャーグリル(AG) 5,15 内部ビームシールド(IBS) 6,16 内部磁気シールド(IMS) 7 電子銃 10 電子ビーム 11 オーバースキャンビーム 16a IMSクリップ孔 20 STCプレート 20a STCクリップ孔 21a フレームAメンバー 21b フレームBメンバー 23 スプリング 24 スプリングホルダー 24a クリップ孔付きスプリングホルダー 24b クリップ孔 25 HVコンタクター 1 Panel 2 Funnel 3 Fluorescent Screen 4 Mask 4a Aperture Grill (AG) 5,15 Internal Beam Shield (IBS) 6,16 Internal Magnetic Shield (IMS) 7 Electron Gun 10 Electron Beam 11 Overscan Beam 16a IMS Clip Hole 20 STC Plate 20a STC clip hole 21a Frame A member 21b Frame B member 23 Spring 24 Spring holder 24a Spring holder with clip hole 24b Clip hole 25 HV contactor

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【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年6月21日[Submission date] June 21, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図2[Name of item to be corrected] Figure 2

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図2】 [Fig. 2]

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 色選別機構体としてのマスクを有し、且
つ該マスクのフレームに内部磁気シールドと内部ビーム
シールドとを取り付けてなるカラー陰極線管において、 前記内部磁気シールドと内部ビームシールドとの接合端
が一致しており、且つ該2つのシールドによって形成さ
れる角度が85〜90度であることを特徴とする内部ビ
ームシールドと内部磁気シールドとのマスクへの取り付
け構造。
1. A color cathode ray tube comprising a mask as a color selection mechanism, and an inner magnetic shield and an inner beam shield attached to a frame of the mask, wherein the inner magnetic shield and the inner beam shield are joined together. A structure for attaching an inner beam shield and an inner magnetic shield to a mask, wherein the ends are coincident with each other and an angle formed by the two shields is 85 to 90 degrees.
【請求項2】 前記内部磁気シールドと、前記陰極線管
の有効画面を構成する電子ビームの最端軌道とが平行を
なすように取り付けてあることを特徴とする請求項1記
載の内部ビームシールドと内部磁気シールドとのマスク
への取り付け構造。
2. The internal beam shield according to claim 1, wherein the internal magnetic shield and the innermost beam shield of the cathode ray tube are attached so as to be in parallel with an endmost orbit of an electron beam forming an effective screen. Mask mounting structure with internal magnetic shield.
【請求項3】 カラー陰極線管の色選別機構体としての
マスクの対向する少なくとも一対のフレームの各々に、
第1の孔を有する薄板を付設して、内部ビームシールド
と内部磁気シールドの接合面あるいは該内部磁気シール
ドのみの接合面に設けた第2の孔及び前記第1の孔にバ
ネ性係止手段を挿入することによって内部ビームシール
ドと内部磁気シールドとをマスクに取り付けることを特
徴とする内部ビームシールドと内部磁気シールドとのマ
スクへの取り付け方法。
3. Each of at least a pair of opposing frames of a mask as a color selection mechanism of a color cathode ray tube,
A thin plate having a first hole is additionally provided, and a second hole provided on a joint surface between the inner beam shield and the inner magnetic shield or a joint surface of only the inner magnetic shield and the spring-like locking means in the first hole. A method of attaching an internal beam shield and an internal magnetic shield to a mask by inserting the internal beam shield and the internal magnetic shield into the mask.
【請求項4】 前記第1の孔を有する薄板が温度補正用
プレートであることを特徴とする請求項3記載の内部ビ
ームシールドと内部磁気シールドとのマスクへの取り付
け方法。
4. The method of attaching an internal beam shield and an internal magnetic shield to a mask according to claim 3, wherein the thin plate having the first hole is a temperature compensating plate.
【請求項5】 前記第1の孔を有する薄板がスプリング
ホルダープレートであることを特徴とする請求項3記載
の内部ビームシールドと内部磁気シールドとのマスクへ
の取り付け方法。
5. The method of attaching an inner beam shield and an inner magnetic shield to a mask according to claim 3, wherein the thin plate having the first hole is a spring holder plate.
【請求項6】 前記バネ性係止手段がクリップであるこ
とを特徴とする請求項3記載の内部ビームシールドと内
部磁気シールドとのマスクへの取り付け方法。
6. The method of attaching an internal beam shield and an internal magnetic shield to a mask according to claim 3, wherein the spring-like locking means is a clip.
JP31191492A 1992-11-20 1992-11-20 Mounting structure of inner beam shield and inner magnetic shield on mask and mounting method therefor Pending JPH06162944A (en)

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JP31191492A JPH06162944A (en) 1992-11-20 1992-11-20 Mounting structure of inner beam shield and inner magnetic shield on mask and mounting method therefor

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100751309B1 (en) * 2001-07-06 2007-08-22 삼성에스디아이 주식회사 Cathode ray tube

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