JPH0614528A - Substrate potential generation circuit - Google Patents
Substrate potential generation circuitInfo
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- JPH0614528A JPH0614528A JP4170955A JP17095592A JPH0614528A JP H0614528 A JPH0614528 A JP H0614528A JP 4170955 A JP4170955 A JP 4170955A JP 17095592 A JP17095592 A JP 17095592A JP H0614528 A JPH0614528 A JP H0614528A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関し、
特に基板電位発生回路に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit,
In particular, it relates to a substrate potential generation circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の半導体集積回路は図2に示すよう
に、基板電位を入力とする基板電位検知部K21と、基板
電位検知部K21からの信号をスイッチ信号として入力す
るオシュレータ部K22と、オシュレータ部K22からの信
号を入力して基板電位を出力する基板電位発生部K23と
により構成される。Q201,Q204,Q206,Q207,Q
210,Q213,Q214,Q218,Q219,Q222,Q223,Q
224はP型トランジスタ、Q202,Q203,Q205,
Q208,Q209,Q211,Q212,Q216,Q217,Q210,
Q221,Q223はN型トランジスタである。I21,I22,
I23,I24,I25,I26は、インバータである。C21,
C22は容量、R21は抵抗である。2. Description of the Related Art As shown in FIG. 2, a conventional semiconductor integrated circuit includes a substrate potential detecting section K 21 for inputting a substrate potential and an oscillator section K for inputting a signal from the substrate potential detecting section K 21 as a switch signal. 22 and a substrate potential generation unit K 23 that inputs a signal from the oscillator unit K 22 and outputs a substrate potential. Q 201 , Q 204 , Q 206 , Q 207 , Q
210 , Q 213 , Q 214 , Q 218 , Q 219 , Q 222 , Q 223 , Q
224 is a P-type transistor, Q 202 , Q 203 , Q 205 ,
Q 208 , Q 209 , Q 211 , Q 212 , Q 216 , Q 217 , Q 210 ,
Q 221 and Q 223 are N-type transistors. I 21 , I 22 ,
I 23 , I 24 , I 25 , and I 26 are inverters. C 21 ,
C 22 is a capacitance and R 21 is a resistance.
【0003】次に動作について説明する。基板電位検知
部K21からの信号は、基板電位が上昇するとともに上昇
する。すると、オシュレータ部K22のスイッチであるP
型トランジスタQ210とN型トランジスタQ211がONし
てオシュレータ部K22が作動する。基板電位発生部K23
は、オシュレータ部K22の出力を受けて基板電位を引き
下げる。基板電位がある程度まで引き下げられると、信
号Φ21は下降し、オシュレータ部K22のスイッチである
P型トランジスタQ210とN型トランジスタQ211 がO
FFしてオシュレータ部K22が止まり、それに伴い基板
電位発生部K23は、基板電位を引き下げる動作を停止さ
せる。このようにして基板電位を制御している。Next, the operation will be described. The signal from the substrate potential detector K 21 rises as the substrate potential rises. Then, the switch P of the oscillator K 22 is
The type transistor Q 210 and the N type transistor Q 211 are turned on, and the oscillator section K 22 is activated. Substrate potential generator K 23
Receives the output of the oscillator section K 22 and lowers the substrate potential. When the substrate potential is lowered to a certain level, the signal Φ 21 drops, and the P-type transistor Q 210 and the N-type transistor Q 211, which are the switches of the oscillator section K 22 , become O.
FF and stops Oshureta section K 22, the substrate potential generating portion K 23 with it stops the operation to lower the substrate potential. In this way, the substrate potential is controlled.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】従来の基板電位発生回
路では、基板電位の制御は、オシュレータ部の動作のO
N,OFFによって行われるため、基板電位は図4のよ
うになり、基板電位の変動量が大きいという問題点があ
った。In the conventional substrate potential generating circuit, the substrate potential is controlled by the operation of the oscillator section.
Since it is performed by N and OFF, the substrate potential becomes as shown in FIG. 4, and there is a problem that the amount of fluctuation of the substrate potential is large.
【0005】本発明の目的は、基板電位の変動を抑え
て、安定した基板電位を発生させるようにした基板電位
発生回路を提供することにある。An object of the present invention is to provide a substrate potential generation circuit which suppresses fluctuations in the substrate potential and generates a stable substrate potential.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る基板電位発生回路は、基板電位検知部
と、オシュレータ部と、基板電位発生部とを有する基板
電位発生回路であって、基板電位検知部は、基板電位発
生部からの基板電位信号を入力として、基板電位の検知
信号を出力するものであり、オシュレータ部は、基板電
位検知部からの信号を入力として、周波数制御により基
板電位の制御信号を出力するものであり、基板電位発生
部は、オシュレータ部からの信号を入力として、基板電
位信号を出力するものである。In order to achieve the above object, a substrate potential generating circuit according to the present invention is a substrate potential generating circuit having a substrate potential detecting section, an oscillator section, and a substrate potential generating section. The substrate potential detection unit receives the substrate potential signal from the substrate potential generation unit and outputs a substrate potential detection signal, and the oscillator unit receives the signal from the substrate potential detection unit as an input and controls the frequency. The substrate potential control unit outputs a substrate potential control signal, and the substrate potential generation unit receives the signal from the oscillator unit and outputs the substrate potential signal.
【0007】[0007]
【作用】オシュレータ部は、周波数制御により、基板電
位制御信号を出力する構成としてある。このオシュレー
タの周波数を制御することにより、基板電位の変動を小
さく抑える。The oscillator section is configured to output the substrate potential control signal by frequency control. By controlling the frequency of this oscillator, the fluctuation of the substrate potential is suppressed to a small level.
【0008】[0008]
【実施例】次に本発明について図1を参照して説明す
る。図1において、本発明の半導体集積回路は、基板電
位信号を入力とする基板電位検知部K11の出力がオシュ
レータ部K12に入力され、オシュレータ部K12の出力が
基板電位発生部K13に入力されて、基板電位発生部K13
の出力が基板電位になるように制御されている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to FIG. 1, the semiconductor integrated circuit of the present invention, the output of the substrate potential detection unit K 11 which receives the substrate potential signal is input to the Oshureta section K 12, the output of Oshureta section K 12 is the substrate potential generating portion K 13 When input, the substrate potential generator K 13
The output of is controlled to the substrate potential.
【0009】次にオシュレータ部K12の詳細について説
明する。N型トランジスタQ105は、ゲートに基板電位
検知部K11の出力信号Φ11が入力され、ソースには信号
Φ12,ドレインに接地電位がそれぞれ入力されている。
P型トランジスタQ104はソースに電源、ゲート,ドレ
インに信号Φ12が接続され、抵抗R11は信号Φ12と接地
電位に接続されている。Next, details of the oscillator section K 12 will be described. N-type transistor Q 105 is the output signal [Phi 11 is input substrate potential detection unit K 11 to the gate, the source signal [Phi 12, ground potential to the drain is inputted.
P-type transistor Q 104 is power, gate, drain signal [Phi 12 is connected to the source, the resistor R 11 is connected to the signal [Phi 12 and the ground potential.
【0010】信号Φ11はインバータI11を通って信号Φ
23になる。P型トランジスタQ118は、ソースに電源、
ゲートに信号Φ23、ドレインに信号Φ22が接続され、N
型トランジスタQ119はソースとゲートに信号Φ22、ド
レインに接地電位が接続されており、抵抗R12は電源と
信号Φ22に接続されている。The signal Φ 11 passes through the inverter I 11 and the signal Φ 11
23 . The P-type transistor Q 118 has a power source as its source,
The signal Φ 23 is connected to the gate and the signal Φ 22 is connected to the drain.
The type transistor Q 119 has a source and a gate connected to the signal Φ 22 , and a drain connected to the ground potential, and the resistor R 12 is connected to the power supply and the signal Φ 22 .
【0011】P型トランジスタQ106はソースに電源、
ゲートに信号Φ12、ドレインに信号Φ13がそれぞれ接続
され、P型トランジスタQ107はソースに信号Φ13、ゲ
ートに信号Φ21、ドレインに信号Φ14がそれぞれ接続さ
れており、N型トランジスタQ108はソースに信号
Φ104、ゲートに信号Φ22、ドレインに信号Φ15がそれ
ぞれ接続されており、N型トランジスタQ109はソース
に信号Φ15、ゲートに信号Φ22、ドレインに接地電位が
それぞれ接続されている。The P-type transistor Q 106 has a power source as its source,
The signal Φ 12 is connected to the gate, and the signal Φ 13 is connected to the drain. The P-type transistor Q 107 has the signal Φ 13 connected to the source, the signal Φ 21 connected to the gate, and the signal Φ 14 connected to the drain. A signal Φ 104 is connected to the source of 108 , a signal Φ 22 is connected to the gate, and a signal Φ 15 is connected to the drain. N-type transistor Q 109 has a signal Φ 15 at the source, a signal Φ 22 at the gate, and a ground potential at the drain. It is connected.
【0012】P型トランジスタQ110はソースに電源、
ゲートに信号Φ12、ドレインに信号Φ16がそれぞれ接続
され、P型トランジスタQ111はソースに信号Φ16、ゲ
ートに信号Φ14、ドレインに信号Φ17が接続されてお
り、N型トランジスタQ112はソースに信号Φ17、ゲー
トに信号Φ14、ドレインに信号Φ18が接続されており、
N型トランジスタQ113はソースに信号Φ18、ゲートに
信号Φ22、ドレインに接地電位が接続されている。The P-type transistor Q 110 has a power source as its source,
The signal Φ 12 is connected to the gate, and the signal Φ 16 is connected to the drain. The P-type transistor Q 111 has the source connected to the signal Φ 16 , the gate connected to the signal Φ 14 and the drain connected to the signal Φ 17, and the N-type transistor Q 112. Has a signal Φ 17 connected to the source, a signal Φ 14 connected to the gate, and a signal Φ 18 connected to the drain.
The N-type transistor Q 113 has a source connected to the signal Φ 18 , a gate connected to the signal Φ 22 , and a drain connected to the ground potential.
【0013】P型トランジスタQ114はソースに電源、
ゲートに信号Φ12、ドレインに信号Φ19が接続され、P
型トランジスタQ115はソースに信号Φ19、ゲートに信
号Φ17、ドレインに信号Φ21が接続されており、N型ト
ランジスタQ116はソースに信号Φ21、ゲートに信号Φ
17、ドレインに信号Φ20が接続されており、N型トラン
ジスタQ117はソースに信号Φ20、ゲートに信号Φ22、
ドレインに接地電位が接続されている。信号Φ21は基板
電位発生部K13の入力となる。The P-type transistor Q 114 has a power source as its source,
The signal Φ 12 is connected to the gate and the signal Φ 19 is connected to the drain, and P
The type transistor Q 115 has a source connected to a signal Φ 19 , a gate connected to a signal Φ 17 and a drain connected to a signal Φ 21, and the N-type transistor Q 116 has a source connected to a signal Φ 21 and a gate connected to a signal Φ 21 .
17 , the signal Φ 20 is connected to the drain, and the N-type transistor Q 117 has a signal Φ 20 at the source and a signal Φ 22 at the gate.
Ground potential is connected to the drain. The signal Φ 21 is input to the substrate potential generation unit K 13 .
【0014】次に動作について説明する。基板電位が上
昇すると、基板電位検知部K11の出力信号である信号Φ
11も上昇し、N型トランジスタQ105をONさせて信号
Φ12の電位を下げることによって、P型トランジスタQ
104,Q106,Q110,Q114に流れる電流を増加させる。Next, the operation will be described. When the substrate potential rises, the signal Φ which is the output signal of the substrate potential detector K 11
11 also rises, turning on the N-type transistor Q 105 and lowering the potential of the signal Φ 12 , so that the P-type transistor Q 105
The current flowing through 104 , Q 106 , Q 110 and Q 114 is increased.
【0015】同様に信号Φ11の電位が上昇すると、信号
Φ23は下降し、P型トランジスタQ118をONさせ、信
号Φ22の電位を下げることによってN型トランジスタQ
109,Q113,Q117,Q119に流れる電流を増加させる。
つまり、並列接続しているP型トランジスタQ106とP
型トランジスタQ107とN型トランジスタQ108とN型ト
ランジスタQ109や、P型トランジスタQ110とP型トラ
ンジスタQ111とN型トランジスタQ112とN型トランジ
スタQ113や、P型トランジスタQ114とP型トランジス
タQ115とN型トランジスタQ116とN型トランジスタQ
117を流れる電流が増え、信号Φ21や信号Φ14や信号Φ
17の周波数が高まる。信号Φ21の周波数が高くなると、
基板電位発生部K13の動作回数が増え、基板電位を引き
下げていく。Similarly, when the potential of the signal Φ 11 rises, the signal Φ 23 falls, turning on the P-type transistor Q 118 and lowering the potential of the signal Φ 22 to reduce the potential of the N-type transistor Q 118.
The current flowing through 109 , Q 113 , Q 117 , and Q 119 is increased.
In other words, P-type transistor Q 106 and P connected in parallel
Type transistor Q 107 , N type transistor Q 108 and N type transistor Q 109 , P type transistor Q 110 , P type transistor Q 111 , N type transistor Q 112 and N type transistor Q 113 , P type transistor Q 114 and P type transistor Q 114 Type transistor Q 115 and N type transistor Q 116 and N type transistor Q
The current flowing through 117 increases, and signal Φ 21 , signal Φ 14, and signal Φ
The frequency of 17 increases. As the frequency of the signal Φ 21 increases,
The number of operations of the substrate potential generator K 13 increases, and the substrate potential is lowered.
【0016】このように基板電位が引き下げられていく
と、基板電位検知部K11の出力信号Φ11の電位も下が
り、信号Φ23は上がってN型トランジスタQ105とP型
トランジスタQ118をそれぞれOFFさせ、信号Φ21を
上昇させて信号Φ22を下降させる。それにより前記の並
列接続しているトランジスタを流れる電流が減少して信
号Φ21の周波数も低くなって基板電位発生部の動作回数
が減る。When the substrate potential is lowered in this way, the potential of the output signal Φ 11 of the substrate potential detector K 11 is also lowered, and the signal Φ 23 is raised to turn on the N-type transistor Q 105 and the P-type transistor Q 118 , respectively. The signal is turned off, the signal Φ 21 is increased, and the signal Φ 22 is decreased. As a result, the current flowing through the transistors connected in parallel decreases, the frequency of the signal Φ 21 also decreases, and the number of operations of the substrate potential generating section decreases.
【0017】このようにして基板電位が常に基板電位発
生部K13の動作を制御して一定電位を保持することがで
きる。In this way, the substrate potential can always control the operation of the substrate potential generating section K 13 and maintain a constant potential.
【0018】[0018]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、基板電位
検知部の出力によってオシュレータ部の周波数を制御す
ることにより、基板電位発生部の動作を制御することが
でき、図3の様に一定の基板電位を保持できる。As described above, according to the present invention, the operation of the substrate potential generation unit can be controlled by controlling the frequency of the oscillator unit by the output of the substrate potential detection unit, and as shown in FIG. The substrate potential can be maintained.
【図1】本発明の一実施例を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention.
【図2】従来例を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a conventional example.
【図3】本発明による基板電位を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a substrate potential according to the present invention.
【図4】従来回路による基板電位を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a substrate potential according to a conventional circuit.
I11,I12,I13,I14,I21,I22,I23,I24,I
25,I26 インバータ C11,C12,C21,C22 容量 K11,K21 基板電位検知部 K12,K22 オシュレータ部 K13,K23 基板電位発生部 R11,R12,R21 抵抗 Q101,Q104,Q106,Q107,Q110,Q111,Q114,
Q115,Q118 ,Q120,Q121,Q121,Q201,Q204,
Q206,Q207,Q210,Q213,Q214,Q218,Q219,
Q222,Q223,Q224 P型トランジスタ Q102,Q103,Q105,Q108,Q109,Q112,Q113,
Q116,Q117,Q119,Q202,Q203,Q205,Q208,
Q209,Q211,Q212,Q215,Q216,Q217,Q210,
Q221 N型トランジスタ I11, I12, I13, I14, Itwenty one, Itwenty two, Itwenty three, Itwenty four, I
twenty five, I26 Inverter C11, C12, Ctwenty one, Ctwenty two Capacity K11, Ktwenty one Substrate potential detector K12, Ktwenty two Oscillator part K13, Ktwenty three Substrate potential generator R11, R12, Rtwenty one Resistance Q101, Q104, Q106, Q107, Q110, Q111, Q114,
Q115, Q118 , Q120, Q121, Q121, Q201, Q204,
Q206, Q207, Q210, Q213, Q214, Q218, Q219,
Q222, Q223, Q224 P-type transistor Q102, Q103, Q105, Q108, Q109, Q112, Q113,
Q116, Q117, Q119, Q202, Q203, Q205, Q208,
Q209, Q211, Q212, Q215, Q216, Q217, Q210,
Q221 N-type transistor
Claims (1)
基板電位発生部とを有する基板電位発生回路であって、 基板電位検知部は、基板電位発生部からの基板電位信号
を入力として、基板電位の検知信号を出力するものであ
り、 オシュレータ部は、基板電位検知部からの信号を入力と
して、周波数制御により基板電位の制御信号を出力する
ものであり、 基板電位発生部は、オシュレータ部からの信号を入力と
して、基板電位信号を出力するものであることを特徴と
する基板電位発生回路。1. A substrate potential detection unit, an oscillator unit,
A substrate potential generation circuit having a substrate potential generation unit, wherein the substrate potential detection unit receives a substrate potential signal from the substrate potential generation unit and outputs a detection signal of the substrate potential, and the oscillator unit is The signal from the substrate potential detector is input to output a substrate potential control signal by frequency control. The substrate potential generator receives the signal from the oscillator unit and outputs the substrate potential signal. A substrate potential generation circuit characterized by the above.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4170955A JP2912088B2 (en) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | Substrate potential generation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4170955A JP2912088B2 (en) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | Substrate potential generation circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0614528A true JPH0614528A (en) | 1994-01-21 |
JP2912088B2 JP2912088B2 (en) | 1999-06-28 |
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ID=15914481
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4170955A Expired - Fee Related JP2912088B2 (en) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | Substrate potential generation circuit |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP2912088B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7002854B2 (en) | 2000-07-25 | 2006-02-21 | Nec Electronics Corp. | Internal voltage level control circuit and semiconductor memory device as well as method of controlling the same |
-
1992
- 1992-06-29 JP JP4170955A patent/JP2912088B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7002854B2 (en) | 2000-07-25 | 2006-02-21 | Nec Electronics Corp. | Internal voltage level control circuit and semiconductor memory device as well as method of controlling the same |
US7397710B2 (en) | 2000-07-25 | 2008-07-08 | Nec Corporation | Internal voltage level control circuit and semiconductor memory device as well as method of controlling the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2912088B2 (en) | 1999-06-28 |
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