JPH06138113A - Gas chromatograph analyzer - Google Patents

Gas chromatograph analyzer

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Publication number
JPH06138113A
JPH06138113A JP28741992A JP28741992A JPH06138113A JP H06138113 A JPH06138113 A JP H06138113A JP 28741992 A JP28741992 A JP 28741992A JP 28741992 A JP28741992 A JP 28741992A JP H06138113 A JPH06138113 A JP H06138113A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
sample
passes
valve
carrier
Prior art date
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Pending
Application number
JP28741992A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasushiro Gomi
保城 五味
Akira Machino
彰 町野
Tadashi Hirano
正 平野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Gas Chemicals Co Ltd
Tokyo Gas Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Gas Chemicals Co Ltd
Tokyo Gas Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Gas Chemicals Co Ltd, Tokyo Gas Co Ltd filed Critical Tokyo Gas Chemicals Co Ltd
Priority to JP28741992A priority Critical patent/JPH06138113A/en
Publication of JPH06138113A publication Critical patent/JPH06138113A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To provide a gas chromatograph analyzer, which can prevent the leakage of gas and the mixing of oxygen and/or moisture. CONSTITUTION:In a gas chromatograph analyzer 20 including a system, wherein sample gas G to be analyzed passes, and a system wherein carrier gas passes, two system are surrounded by a tightly sealing case 26, and purging mechanisms 28 and 30, which replace the atmosphere in the case with a purging gas, are provided. A branching mechanism 22 branches a branching system from the carrier-gas passing system. A connecting mechanism 24 connects the branching system to the system through which sample-gas G passes. these mechanisms are also provided.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はガスの検出に関し、より
詳細には、ガスクロマトグラフ分析装置の改良に関す
る。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to gas detection and, more particularly, to improvements in gas chromatograph analysis equipment.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、半導体製造プロセスにおいて
は、材料ガスとしてアルシン、ホスフィン、シラン等の
毒性ガスを使用している。これらのガスはバランスガス
と呼ばれる窒素、アルゴン、水素等で所定の濃度に希釈
されて使用されるケース、数種の材料ガスを混合させて
使用されるケースも多い。そのため、材料ガスとバラン
スの混合率の管理、確認が重要である。また、シランガ
スなどの材料ガスは酸素、水分などとの反応性が高いた
め、空気などの汚染物質の混入防止が大切である。その
ため、インライン・ガスの分析が必要となる訳である。
2. Description of the Related Art For example, in a semiconductor manufacturing process, toxic gases such as arsine, phosphine and silane are used as a material gas. In many cases, these gases are used after being diluted with nitrogen, argon, hydrogen, etc., which are called balance gases, to a predetermined concentration, or mixed with several kinds of material gases. Therefore, it is important to control and check the mixing ratio of the material gas and the balance. Further, since a material gas such as silane gas has a high reactivity with oxygen, moisture, etc., it is important to prevent contamination of contaminants such as air. Therefore, in-line gas analysis is required.

【0003】しかし、その様な材料ガスを分析する検知
器は定電位電解式のセンサを用いるタイプのものが多
い。そのため、検知対象外のガスに対しても反応する事
があり、また、100ppm以上の濃度のガスは測定で
きない。
However, a detector for analyzing such a material gas is often of a type using a potentiostatic electrolysis type sensor. Therefore, it may react with a gas other than the detection target, and a gas having a concentration of 100 ppm or more cannot be measured.

【0004】これに対して、複数の化合物の分別が可能
で、且つ、高濃度のガスも分析できるというガスクロマ
トグラフィーの基本原理に着目した装置が提案されてお
り、図3、4はその様な従来のガスクロマトグラフ装置
を示している。分析すべき試料ガス(図3、4では矢印
Gで示されている)は供給ライン(入り口ライン)IL
より導入され、電磁弁1、試料ガス注入装置2、入り側
ジョイント3を介して試料極カラム4に供給される。そ
して、カラム4にて試料ガスは分離され、出側ジョイン
ト5を介して検出器6に送られる。検出器6では含有さ
れるガスに対応して電気的な変化を生じ、該電気的な変
化は記録計8で記録されて、ガス濃度が測定される。そ
の後、排出ラインOLからガスクロマトグラフ装置外へ
排出される。以上の一連の処理が、試料ガスが通過する
系統において行われる。
On the other hand, an apparatus has been proposed which focuses on the basic principle of gas chromatography, which allows separation of a plurality of compounds and analysis of high-concentration gas, and FIGS. 1 shows a conventional gas chromatograph device. The sample gas to be analyzed (indicated by the arrow G in FIGS. 3 and 4) is the feed line (inlet line) IL.
It is further introduced and supplied to the sample electrode column 4 via the solenoid valve 1, the sample gas injection device 2, and the inlet side joint 3. Then, the sample gas is separated in the column 4 and sent to the detector 6 via the outlet joint 5. The detector 6 causes an electrical change corresponding to the contained gas, and the electrical change is recorded by the recorder 8 to measure the gas concentration. Then, the gas is discharged to the outside of the gas chromatograph from the discharge line OL. The above series of processing is performed in the system through which the sample gas passes.

【0005】キャリヤーガスが通過する系統は次の通り
である。すなわち、キャリヤーガスはキャリヤーガスボ
ンベ9を供給源とし、減圧弁10、乾燥剤が充填された
乾燥剤容器11を介して、三方ジョイント12へ送られ
る。ここで、図示はされていないが、三方ジョイント1
2に至るまでの配管系には、多数の継手(ジョイント)
が設けられている。
The system through which the carrier gas passes is as follows. That is, the carrier gas is sent from the carrier gas cylinder 9 to the three-way joint 12 through the pressure reducing valve 10 and the desiccant container 11 filled with the desiccant. Here, although not shown, the three-way joint 1
There are many joints in the piping system up to 2.
Is provided.

【0006】試料極カラム4等を通過させるキャリヤー
ガスは、三方ジョイント12を通過し入り側ジョイント
3の方へ送られ、カラム4、出側ジョイント5、検出器
6を介して排出ラインOLからガスクロマトグラフ装置
外へ排出される。一方、対照極カラム15等を通過する
キャリヤーガスは三方ジョイント12から入り側ジョイ
ント14、対照極カラム15、出側ジョイント16、検
出器6を介して、対照極カラム用の排出ラインROLか
ら排出される。図3、4において、三方ジョイント12
の下流側で試料極カラム4を含むライン(試料極側ライ
ン)は符号GLで示し、対照極側カラム15を含むライ
ン(対照極側ライン)は符号RLで示してある。なお、
図3において符号18は恒温槽、符号19は電源を示し
ている。
The carrier gas passing through the sample electrode column 4 and the like passes through the three-way joint 12 and is sent toward the inlet side joint 3, and passes through the column 4, the outlet side joint 5 and the detector 6 from the exhaust line OL to the gas chromatograph. It is discharged outside the tograph device. On the other hand, the carrier gas passing through the control electrode column 15 and the like is discharged from the three-way joint 12 through the inlet side joint 14, the control electrode column 15, the output side joint 16, and the detector 6 from the control electrode column discharge line ROL. It 3 and 4, the three-way joint 12
The line including the sample electrode column 4 (sample electrode side line) on the downstream side of the reference numeral GL is indicated by the reference symbol GL, and the line including the control electrode side column 15 (reference electrode side line) is indicated by the reference symbol RL. In addition,
In FIG. 3, reference numeral 18 indicates a constant temperature bath, and reference numeral 19 indicates a power source.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】この種の材料ガスの分
析で最も注意しなければならない事は、その毒性、反応
性(空気と接触するだけで燃え出すものもある)が強い
事から、低濃度の材料ガスでも、除害措置を施さない状
態では決して放出しない事、材料ガスを配管に導入する
際に、或いは配管を取り外す際には、配管内を完全に真
空にするか或いは不活性ガスで置換し、材料ガスと空気
とは決して接触させない事、分析が行われる事により組
成の変化したガスや或いは汚染されたガスを、製造ライ
ン等の供給源には決して逆流させない事、真空ポンプで
高濃度の材料ガスを吸引すると真空ポンプが汚染されて
開放時に危険をもたらすので、残留したガスについて
は、不活性ガス注入による加圧、除外措置側への排出を
繰り返し、材料ガス濃度を十分に低下させた後に吸引し
なければならない事、を厳守しなければならない。
The most important thing to note in the analysis of this type of material gas is its low toxicity and reactivity (some of which burn out only when it comes into contact with air). Even if the material gas is at a concentration, it should never be released unless detoxification measures are taken.When introducing the material gas into the pipe or removing the pipe, completely evacuate the inside of the pipe or use an inert gas. , And never contact the material gas with air, and do not allow the gas whose composition has changed or the polluted gas to flow back to the supply source such as the production line by the analysis. If a high-concentration material gas is sucked, the vacuum pump will be contaminated and pose a danger when opened.For residual gas, pressurization by injecting an inert gas and discharging to the exclusion measure side will be repeated. Degree that must be sucked into after sufficiently lowered, must adhere to.

【0008】しかし、図3、4に関連して説明したガス
クロマトグラフ装置を用いた場合には、キャリヤーガス
が通過する配管及びカラム(分離管)に用いられている
ジョイント部分や、試料ガスの注入口等から、試料ガス
すなわち毒性ガスが大気中に漏洩する可能性が存在す
る。
However, when the gas chromatograph apparatus described with reference to FIGS. 3 and 4 is used, the joint portion used for the pipe and column (separation pipe) through which the carrier gas passes, and the sample gas injection. There is a possibility that sample gas, that is, toxic gas, may leak into the atmosphere from the inlet or the like.

【0009】また、キャリヤーガスが通過する配管及び
カラム(分離管)に用いられているジョイント部分や、
試料ガスの注入口等から、大気中の酸素や水分がキャリ
ヤーガス中に(微量に)混入するという問題も存在す
る。すなわち、試料ガス中に包含されるモノシランの様
な酸素や水分との反応性の高い化合物は、配管内に混入
した酸素や水分と反応してしまう。その結果、例えばモ
ノシランの場合にはSiO2 の様な化合物を生成し、生
成された化合物が配管の一部に蓄積され、やがては配管
を閉塞してしまうのである。更に、配管内で反応が起こ
る事によって、定量分析が不可能になると言う問題も生
じる。
Further, a joint portion used for a pipe and a column (separation pipe) through which the carrier gas passes,
There is also a problem that oxygen and water in the atmosphere are mixed (in a trace amount) into the carrier gas through the sample gas inlet or the like. That is, a compound such as monosilane contained in the sample gas, which has high reactivity with oxygen and water, reacts with oxygen and water mixed in the pipe. As a result, for example, in the case of monosilane, a compound such as SiO2 is produced, the produced compound is accumulated in a part of the pipe, and eventually the pipe is blocked. Further, a reaction occurs in the pipe, which causes a problem that quantitative analysis becomes impossible.

【0010】本発明は上記した従来技術の問題点に鑑み
て提案されたもので、ジョイント部分や注入口からの試
料ガスの漏洩や、酸素及び/叉は水分の混入を防止する
事が出来るガスクロマトグラフ分析装置の提供を目的と
している。
The present invention has been proposed in view of the above-mentioned problems of the prior art, and it is possible to prevent leakage of the sample gas from the joint portion and the injection port, and the mixture of oxygen and / or water into the gas chromatograph. The purpose is to provide a topograph analyzer.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明のガスクロマトグ
ラフ分析装置は、分析するべき試料ガスが通過する系統
と、キャリヤーガスが通過する系統とを含むガスクロマ
トグラフ分析装置において、前記2系統を密閉ケースで
包囲し、該ケース内の雰囲気をパージガスにより置換す
るためのパージ機構を備えている。
A gas chromatograph analysis apparatus of the present invention is a gas chromatograph analysis apparatus including a system through which a sample gas to be analyzed passes and a system through which a carrier gas passes, wherein the two systems are closed cases. And a purge mechanism for replacing the atmosphere in the case with a purge gas.

【0012】ここで、パージガスとしては不活性ガスや
キャリヤーガス等が利用できる。そして、キャリヤーガ
スとしてはヘリウムやアルゴン等の不活性ガスを用いる
事が好ましい。
Here, an inert gas, a carrier gas or the like can be used as the purge gas. Then, it is preferable to use an inert gas such as helium or argon as the carrier gas.

【0013】また、本発明のガスクロマトグラフ分析装
置は、分析するべき試料ガスが通過する系統と、キャリ
ヤーガスが通過する系統とを含むガスクロマトグラフ分
析装置において、キャリヤーガスが通過する系統から分
岐系統を分岐する分岐機構と、分岐系統を試料ガスが通
過する系統に接続する接続機構とを含んでいる。
Further, the gas chromatograph analysis apparatus of the present invention is a gas chromatograph analysis apparatus including a system through which a sample gas to be analyzed passes and a system through which a carrier gas passes, and a branch system from a system through which the carrier gas passes. It includes a branching mechanism for branching and a connecting mechanism for connecting the branching system to a system through which the sample gas passes.

【0014】更に、本発明のガスクロマトグラフ分析装
置は、分析するべき試料ガスが通過する系統と、キャリ
ヤーガスが通過する系統とを含むガスクロマトグラフ分
析装置において、前記2系統を密閉ケースで包囲し、該
ケース内の雰囲気をパージガスにより置換するためのパ
ージ機構と、キャリヤーガスが通過する系統から分岐系
統を分岐する分岐機構と、分岐系統を試料ガスが通過す
る系統に接続する接続機構とを含んでいる。
Further, the gas chromatograph analysis apparatus of the present invention is a gas chromatograph analysis apparatus including a system through which a sample gas to be analyzed passes and a system through which a carrier gas passes, wherein the two systems are enclosed by a closed case, A purge mechanism for replacing the atmosphere in the case with a purge gas, a branch mechanism for branching a branch system from a system through which the carrier gas passes, and a connection mechanism for connecting the branch system to a system through which the sample gas passes. There is.

【0015】[0015]

【作用】上記した様な構成を具備する本発明のガスクロ
マトグラフ分析装置によれば、分析するべき試料ガスが
通過する系統及びキャリヤーガスが通過する系統を密閉
ケースで包囲し、該ケース内の雰囲気をパージ機構によ
り置換する様に構成されているので、仮に、キャリヤー
ガスが通過する配管及びカラム(分離管)に用いられて
いるジョイント部分や試料ガスの注入口等から、試料ガ
スすなわち毒性ガスが漏洩したとしても、密閉ケースに
より包囲されているので大気中に拡散してしまう恐れは
無い。そして、該ケース内は不活性ガス等のパージガス
が供給され、不必要な酸素や水分をパージするように機
能している。そして、ジョイント部分や試料ガス注入口
から不活性ガスが系内に混合しても、試料ガス等と反応
する事は無いので、反応生成物による配管の閉塞の恐れ
もない。
According to the gas chromatograph analysis apparatus of the present invention having the above-mentioned structure, the system through which the sample gas to be analyzed and the system through which the carrier gas passes are surrounded by a sealed case, and the atmosphere in the case is surrounded. Since it is configured to be replaced by a purging mechanism, the sample gas, that is, the toxic gas is temporarily discharged from the joint part used in the pipe and column (separation pipe) through which the carrier gas passes and the sample gas inlet. Even if it leaks, it is surrounded by a closed case, so there is no danger of it being diffused into the atmosphere. Then, a purge gas such as an inert gas is supplied into the case, and functions to purge unnecessary oxygen and moisture. Further, even if the inert gas is mixed into the system through the joint portion or the sample gas inlet, it does not react with the sample gas or the like, so that there is no fear that the reaction product will block the pipe.

【0016】また、本発明のガスクロマトグラフ分析装
置では、分岐機構及び接続機構によりジョイント部分等
をほとんど経由せずにキャリヤーガスをキャリヤーガス
供給源から試料ガスの分析を行う部分に導入する事が出
来、また、試料ガスが通過する系統に導入されたキャリ
ヤーガスの分析を行う事もできる。つまり、試料ガスが
通過する系統内を流れるキャリヤーガスとキャリヤーガ
ス供給源からキャリヤーガスが通過する系統内を流れる
キャリヤーガスとが同時に分析機構に導入されるので、
分析結果から、キャリヤーガスが通過する系統における
ジョイント部分等から何等かの不純物、例えば酸素や水
分等、が混入したか否かが判定されるのである。
Further, in the gas chromatograph analyzer of the present invention, the branching mechanism and the connecting mechanism allow the carrier gas to be introduced from the carrier gas supply source to the portion for analyzing the sample gas almost without passing through the joint portion or the like. Also, the carrier gas introduced into the system through which the sample gas passes can be analyzed. That is, since the carrier gas flowing in the system through which the sample gas passes and the carrier gas flowing in the system through which the carrier gas passes from the carrier gas supply source are simultaneously introduced into the analysis mechanism,
From the analysis result, it is determined whether or not some impurities such as oxygen and water are mixed in from the joint portion or the like in the system through which the carrier gas passes.

【0017】ここで、分岐機構及び接続機構により試料
ガスが通過する系統内にキャリヤーガスを流すことがで
きるので、試料ガスが通過する系統内に残留した試料ガ
スをキャリヤーガスでパージすることができるのであ
る。また、試料ガスが通過する系統内を流れるキャリヤ
ーガスとキャリヤーガス供給源からキャリヤーガスが通
過する系統内を流れるキャリヤーガスとが同時に分析機
構に導入されるので、分析結果から、試料ガスが通過す
る系統内のパージが十分なされているかあるいは試料ガ
スが通過する系統内におけるジョイント部からの不純物
例えば酸素や水分等が混入したか否かが判定されるので
ある。
Since the carrier gas can be made to flow in the system through which the sample gas passes by the branching mechanism and the connecting mechanism, the sample gas remaining in the system through which the sample gas passes can be purged with the carrier gas. Of. Further, since the carrier gas flowing in the system through which the sample gas passes and the carrier gas flowing in the system through which the carrier gas passes from the carrier gas supply source are simultaneously introduced into the analysis mechanism, the sample gas passes from the analysis result. It is determined whether the purge in the system is sufficient or whether impurities such as oxygen and water from the joint portion in the system through which the sample gas passes are mixed.

【0018】この様に、本発明によれば、試料ガスがガ
スクロマトグラフ分析装置外に漏洩して外部環境を汚染
する事や、装置内に侵入した酸素や水分等と反応して配
管閉塞の原因となる化合物を生成する恐れが防止され
る。また、キャリヤーガスあるいは試料ガスを供給する
系統等に酸素や水分が侵入・混合しても、あるいは、試
料ガスを供給する系統等にパージしきれなかった試料ガ
スが残留しても、その旨を判断できる。更に、試料ガス
が系統内に残留していても、その系統内にキャリヤーガ
スを流す事により残留した試料ガスを容易にパージする
事が出来るのである。
As described above, according to the present invention, the sample gas leaks to the outside of the gas chromatograph analyzer to contaminate the external environment, or reacts with oxygen or water entering the device to cause the clogging of the pipe. The risk of producing a compound that is In addition, even if oxygen or water enters or mixes with the carrier gas or sample gas supply system, or if the sample gas that could not be purged remains in the sample gas supply system, etc. I can judge. Further, even if the sample gas remains in the system, it is possible to easily purge the residual sample gas by flowing the carrier gas in the system.

【0019】なお、上記パージ機構において、ケース内
部を置換してケース外に排出されたパージガスは、仮に
試料である毒性ガスを含有していたとしても、ケース内
は常時置換されて環境を汚染しないレベルまで希釈され
ているので、そのまま系外に排出しても問題は無い。し
かし、より好ましい態様として、パージされた気体中に
含有される有毒成分を処理するための機構をパージ機構
の排出系に設ければ良い。
In the purging mechanism described above, the purge gas that replaces the inside of the case and is discharged to the outside of the case does not pollute the environment even if it contains a toxic gas that is a sample. Since it is diluted to the level, there is no problem if it is discharged out of the system as it is. However, as a more preferable embodiment, a mechanism for treating toxic components contained in the purged gas may be provided in the discharge system of the purge mechanism.

【0020】[0020]

【実施例】次に、図1、2を参照して本発明の実施例を
説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to FIGS.

【0021】図1、2は本発明の1実施例を示してい
る。但し、図3、4と共通する部材には同一の符号を付
してある。図1、2に示すガスクロマトグラフ分析装置
20は、減圧弁10と乾燥剤容器11との間に三方ジョ
イント22を介装してあり、キャリヤーガスボンベ9か
らの配管は三方ジョイント22から試料ガス供給ライン
ILに介装された三方コック24に分岐している。
1 and 2 show an embodiment of the present invention. However, the same members as those in FIGS. 3 and 4 are denoted by the same reference numerals. The gas chromatograph analyzer 20 shown in FIGS. 1 and 2 has a three-way joint 22 interposed between the pressure reducing valve 10 and the desiccant container 11, and the pipe from the carrier gas cylinder 9 is connected to the sample gas supply line from the three-way joint 22. It branches to the three-way cock 24 interposed in the IL.

【0022】また、図1において符号26(点線)で示
すパージケースにより配管系の大部分(特に多数の継ぎ
手或いはジョイントが配置されている乾燥剤容器11か
ら三方ジョイント12に亘る部分も含む)が包囲されて
いる。パージケース26の内部には、パージガス供給口
28から不活性ガス(パージガス)が導入される。一
方、既にパージケース26内に存在する不活性ガスは排
出口30から外部へ送出され、パージガスの置換が行わ
れる。なお、図1では明確に図示されていないが、排出
口30の下流側に毒性ガス処理機構を設け、有毒成分の
漏洩が発生しても環境汚染が為されないように構成する
事が出来る。ここで、図1では不活性ガスがケース内を
常時置換しているが、不活性ガスの供給及び排出は一定
時間のみとし、通常時にはパージケース26内に不活性
ガスが充填されているだけにしても良い。
Further, most of the piping system (particularly including the part extending from the desiccant container 11 where many joints or joints are arranged to the three-way joint 12) is provided by the purge case indicated by reference numeral 26 (dotted line) in FIG. Be surrounded. An inert gas (purge gas) is introduced into the purge case 26 from the purge gas supply port 28. On the other hand, the inert gas already present in the purge case 26 is sent to the outside from the exhaust port 30 and the purge gas is replaced. Although not clearly shown in FIG. 1, a toxic gas treatment mechanism may be provided on the downstream side of the discharge port 30 to prevent environmental pollution even if leakage of toxic components occurs. Here, in FIG. 1, the inside of the case is constantly replaced with the inert gas, but the supply and discharge of the inert gas are performed only for a certain period of time, and the purge case 26 is normally filled with the inert gas only in a normal time. May be.

【0023】明確には図示されていないが、乾燥剤容器
11から三方ジョイント12に至る配管部分には、流量
調整のために圧力ゲージ、流量計等の機器が設けられて
いる。そして、これらの機器と配管とを接続するため
に、ジョイント部分が数多く設けられているのである。
Although not clearly shown in the drawing, the pipe portion from the desiccant container 11 to the three-way joint 12 is provided with equipment such as a pressure gauge and a flow meter for adjusting the flow rate. And many joint parts are provided in order to connect these devices and piping.

【0024】なお図1において、符号32は排出ライン
OL−2に介装された電磁弁を示している。
In FIG. 1, reference numeral 32 indicates a solenoid valve interposed in the discharge line OL-2.

【0025】次に、図1、2で示す実施例の作用につい
て説明する。
Next, the operation of the embodiment shown in FIGS. 1 and 2 will be described.

【0026】試料ガスの分析の態様は、図3、4を参照
して前述したのと同様である。この場合、三方コック2
4は試料ガスGを試料ガス注入装置2側へ通過せしめ
る。ここで、試料ガスGが流れる配管系を含む各種機器
はパージケース26により完全に包囲されているので、
仮に配管系の一部から試料ガスGが漏洩しても、分析装
置20の外部に漏出する恐れは無い。また、パージケー
ス26内には不活性ガス等のパージガスが充満している
ため、仮に配管系内にパージガスが侵入したとしても、
試料ガスG等と化学反応を起こしてSiO2 等の化合物
を生成してしまう事は無く、配管を閉塞する事もない。
The mode of analyzing the sample gas is the same as that described above with reference to FIGS. In this case, three-way cock 2
4 allows the sample gas G to pass to the sample gas injection device 2 side. Here, since various devices including the piping system through which the sample gas G flows are completely surrounded by the purge case 26,
Even if the sample gas G leaks from a part of the piping system, there is no possibility of leaking to the outside of the analyzer 20. Further, since the purge case 26 is filled with a purge gas such as an inert gas, even if the purge gas enters the piping system,
It does not cause a chemical reaction with the sample gas G or the like to generate a compound such as SiO2, and does not block the pipe.

【0027】更に、図1、2の実施例によれば、配管系
に外部からの酸素や水分等が侵入した場合に、それを検
出する事が可能である。その様な検出に際しては、減圧
弁10を出た直後のキャリヤーガスを三方ジョイント2
2で分岐して、三方コック24、試料ガス注入装置2を
介して試料極側ラインGLに導入し、試料極カラム4で
分離して、検出器6で分析する。そして、分析結果を記
録計8に入力する。
Further, according to the embodiment shown in FIGS. 1 and 2, it is possible to detect the invasion of oxygen or water from the outside into the piping system. In such a detection, the carrier gas immediately after leaving the pressure reducing valve 10 is connected to the three-way joint 2
It is branched at 2, introduced into the sample electrode side line GL via the three-way cock 24 and the sample gas injection device 2, separated by the sample electrode column 4, and analyzed by the detector 6. Then, the analysis result is input to the recorder 8.

【0028】ここで、キャリヤーガス供給ボンベ9から
入り側ジョイント3に至る配管系に酸素や水分等不純物
が混入していなければ、対称極カラム15に導入された
キャリヤーガスの分析結果(記録計8に入力済み)のク
ロマトグラム上には波形が表れない。しかし、酸素や水
分等が配管系に混入していれば、クロマトグラム上に波
形が表れるはずである。従って、図示しない判断機構に
おいて、上述の分析結果を基に、キャリヤーガス供給ボ
ンベ9から入り側ジョイント3に至る配管内に酸素や水
分、その他の不純物が混合しているか否かが判断でき
る。また、試料ガスが通過する系統内を流れるキャリヤ
ーガスとキャリヤーガス供給源からキャリヤーガスが通
過する系統内を流れるキャリヤーガスとが同時に分析機
構に導入されるので、分析結果から、試料ガスが通過す
る系統内のパージが十分なされているかあるいは試料ガ
スが通過する系統内におけるジョイント部からの不純物
例えば酸素や水分等が混入したか否かが判定されるので
ある。
Here, if impurities such as oxygen and water are not mixed in the piping system from the carrier gas supply cylinder 9 to the inlet joint 3, the analysis result of the carrier gas introduced into the symmetric pole column 15 (recorder 8 No waveform appears on the chromatogram of (already entered in). However, if oxygen and water are mixed in the piping system, a waveform should appear on the chromatogram. Therefore, a determination mechanism (not shown) can determine whether oxygen, water, or other impurities are mixed in the pipe from the carrier gas supply cylinder 9 to the inlet joint 3 based on the above analysis result. Further, since the carrier gas flowing in the system through which the sample gas passes and the carrier gas flowing in the system through which the carrier gas passes from the carrier gas supply source are simultaneously introduced into the analysis mechanism, the sample gas passes from the analysis result. It is determined whether the purge in the system is sufficient or whether impurities such as oxygen and water from the joint portion in the system through which the sample gas passes are mixed.

【0029】次に、図5、6を参照して、図1の実施例
と好適に組み合わせられる希釈器について説明する。
Next, with reference to FIGS. 5 and 6, a diluter suitably combined with the embodiment of FIG. 1 will be described.

【0030】図1で説明した実施例において、供給ライ
ンILには半導体製造用のガスがそのまま送られてくる
場合もあるが、多くの場合は所定の倍率で希釈した状態
でガスクロマトグラフ分析装置20へ供給される。その
様な、希釈した状態で分析装置20へ試料ガスGが供給
される態様が、図5に示されている。図5において、半
導体製造設備等の様な、分析すべきガスを大量に発生す
る原料ガス発生源が符号Sで示されている。そして、原
料ガス発生源Sから発生したガスOGは、元弁38、ラ
イン39を介して希釈器40へ送られる。ここで、希釈
器40側へ送られなかったガスOGは、パージ弁42、
ライン44を経て処理機構46に供給されて、除害処理
が為される。
In the embodiment described with reference to FIG. 1, the gas for semiconductor production may be sent to the supply line IL as it is, but in many cases, the gas chromatograph analyzer 20 is diluted with a predetermined ratio. Is supplied to. FIG. 5 shows such a mode in which the sample gas G is supplied to the analyzer 20 in a diluted state. In FIG. 5, a source gas generation source that generates a large amount of a gas to be analyzed, such as a semiconductor manufacturing facility, is indicated by symbol S. Then, the gas OG generated from the source gas generation source S is sent to the diluter 40 via the main valve 38 and the line 39. Here, the gas OG that has not been sent to the diluter 40 side is purged by the purge valve 42,
It is supplied to the processing mechanism 46 through the line 44 and is subjected to detoxification processing.

【0031】希釈器40において、後述する態様で希釈
処理が為され、試料ガスGとして供給ラインILを介し
てガスクロマトグラフ分析装置20へ供給される。ここ
で、符号48は計装エア源、50は不活性ガス源、52
は真空引き用の真空ポンプを示している。なお、試料ガ
スGとして分析装置20へ供給されなかったガスは、ラ
イン54を介して処理機構46に送られ、前述と同様に
除害処理が為される。
In the diluter 40, a diluting process is performed in a manner described later, and the sample gas G is supplied to the gas chromatograph analyzer 20 through the supply line IL. Here, reference numeral 48 is an instrumentation air source, 50 is an inert gas source, 52
Indicates a vacuum pump for vacuuming. The gas that has not been supplied to the analyzer 20 as the sample gas G is sent to the processing mechanism 46 via the line 54 and is subjected to the detoxification process as described above.

【0032】分析装置20で分析された試料ガスG及び
試料ガス注入装置2(図1)のパージに用いられた不要
な試料ガスGは、排出ラインOL、OL−2(図1参
照:なお、図5では1本のラインにまとめて表現してあ
る)を介して処理機構46に送られ、除害処理が為され
る。
The sample gas G analyzed by the analyzer 20 and the unnecessary sample gas G used for purging the sample gas injection device 2 (FIG. 1) are exhaust lines OL, OL-2 (see FIG. 1; In FIG. 5, the lines are collectively represented by one line) and are sent to the processing mechanism 46 for detoxification processing.

【0033】次に図6を参照して、希釈器40について
説明する。希釈を行う前の段階では、原料ガス遮断弁A
V−6、AV1−A、原料ガス注入流量調整弁PCV−
1、原料ガス注入弁AV1−B、ベント弁AV−3、真
空計保護弁AV−4、真空吸引弁AV−5、不活性ガス
注入流量調整弁PCV−2、不活性ガス注入弁AV2−
A、試料ガス供給弁AV2−B、試料ガス減圧弁REG
−1、試料ガス供給弁MV−3は全て閉鎖している。こ
れに対して、原料ガス導入弁MV−1、不活性ガス導入
弁MV−2は常開である。なお、図6において、符号C
V−1はベント逆止弁、PG−1は原料ガス圧力表示
器、PT−1及びPT−2は圧力変換器、PG−2は不
活性ガス圧力表示器、CV−2は不活性ガス逆止弁、R
EG−2は計装エア減圧弁、PG−3は計装エア圧力表
示器、SLはシリンダ(図6においては例えば容量50
0CC)、を示している。
Next, the diluter 40 will be described with reference to FIG. At the stage before dilution, the raw material gas cutoff valve A
V-6, AV1-A, raw material gas injection flow rate adjusting valve PCV-
1, raw material gas injection valve AV1-B, vent valve AV-3, vacuum gauge protection valve AV-4, vacuum suction valve AV-5, inert gas injection flow rate adjusting valve PCV-2, inert gas injection valve AV2-
A, sample gas supply valve AV2-B, sample gas pressure reducing valve REG
-1, Sample gas supply valve MV-3 are all closed. On the other hand, the source gas introduction valve MV-1 and the inert gas introduction valve MV-2 are normally open. In addition, in FIG.
V-1 is a vent check valve, PG-1 is a source gas pressure indicator, PT-1 and PT-2 are pressure converters, PG-2 is an inert gas pressure indicator, and CV-2 is an inert gas reverse valve. Stop valve, R
EG-2 is an instrumentation air pressure reducing valve, PG-3 is an instrumentation air pressure indicator, SL is a cylinder (for example, a capacity of 50 in FIG. 6).
0CC).

【0034】この状態で、真空計保護弁AV−4及び真
空吸引弁AV−5を開放し、真空ポンプ52を作動させ
て、シリンダSL内の真空吸引を行う。そして、原料ガ
ス注入弁AV1−B、原料ガス遮断弁AV1−A、AV
−6、原料ガス注入流量調整弁PCV−1を開放し、シ
リンダーSL内を0.1Torrまで減圧する。その
後、この段階で開放した弁のうち、真空計保護弁AV−
4以外の弁を再び閉鎖する。そして、設定圧まで原料ガ
スを注入する。
In this state, the vacuum gauge protection valve AV-4 and the vacuum suction valve AV-5 are opened and the vacuum pump 52 is operated to perform vacuum suction in the cylinder SL. Then, the raw material gas injection valve AV1-B, the raw material gas cutoff valve AV1-A, AV
-6. The raw material gas injection flow rate adjusting valve PCV-1 is opened to reduce the pressure in the cylinder SL to 0.1 Torr. Then, among the valves opened at this stage, the vacuum gauge protection valve AV-
Close valves other than 4 again. Then, the source gas is injected up to the set pressure.

【0035】設定圧まで原料ガスを注入する際には、原
料ガス注入弁AV1−B、原料ガス遮断弁AV1−A、
AV−6を開放し、原料ガス注入流量調整弁PCV−1
を絞りつつ原料ガスを注入する。そして、圧力変換器P
T−1の出力をチェックして、設定圧力PSOURCEに近づ
くと共に原料ガス注入流量調整弁PCV−1の開度を絞
っていく。そして、設定圧力PSOURCEに到達した時点
で、調整弁PCV−1、弁AV−6、AV1−A、AV
1−Bを閉鎖する。なお、調整弁PCV−1の開度の制
御方式は、例えばPID制御方式による。
When the source gas is injected up to the set pressure, the source gas injection valve AV1-B, the source gas cutoff valve AV1-A,
AV-6 is opened, and raw material gas injection flow rate adjusting valve PCV-1
The raw material gas is injected while squeezing. And the pressure transducer P
The output of T-1 is checked, and the opening of the raw material gas injection flow rate adjusting valve PCV-1 is reduced as the pressure approaches the set pressure PSOURCE. Then, when the set pressure PSOURCE is reached, the adjustment valve PCV-1, valves AV-6, AV1-A, AV
1-B is closed. The control method of the opening degree of the adjusting valve PCV-1 is, for example, the PID control method.

【0036】次に、不活性ガスをシリンダSLに注入す
る。その際には、先ず、弁AV2−A、調整弁PCV−
2を開放し、圧力変換器PT−2の出力をチェックしつ
つ、調整弁PCV−2の開度を絞っていく。ここで、調
整弁PCV−2の開度の制御方式は、例えばPID制御
方式による。そして、シリンダSLに注入された不活性
ガスが設定圧力PN2に達した時点で、調整弁PCV−
2、弁AV2−Aを閉鎖する。これにより、原料ガスは
PN2/PSOURCE倍の希釈が行われ、適正に希釈された試
料ガス(図1−5の符号G)となる。
Next, an inert gas is injected into the cylinder SL. In that case, first, the valve AV2-A and the adjusting valve PCV-
2 is opened, the output of the pressure converter PT-2 is checked, and the opening of the regulating valve PCV-2 is narrowed. Here, the control method of the opening degree of the regulating valve PCV-2 is, for example, the PID control method. Then, when the inert gas injected into the cylinder SL reaches the set pressure PN2, the regulating valve PCV-
2. Close the valve AV2-A. As a result, the source gas is diluted with PN2 / PSOURCE times, and becomes a properly diluted sample gas (reference numeral G in FIG. 1-5).

【0037】つぎに、供給ラインILを介してガスクロ
マトグラフ分析装置20に試料ガスGを供給する。この
際には、弁AV2−B、MV−3は開放され、試料ガス
減圧弁REG−1は所定の供給圧に設定する。
Next, the sample gas G is supplied to the gas chromatograph analyzer 20 through the supply line IL. At this time, the valves AV2-B and MV-3 are opened, and the sample gas pressure reducing valve REG-1 is set to a predetermined supply pressure.

【0038】なお、希釈されないガスについては、弁A
V−3、CV−1を介してライン54に排出する。
For undiluted gas, valve A
It is discharged to the line 54 via V-3 and CV-1.

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明の作用効果を以下に列挙する。The effects of the present invention are listed below.

【0040】(1) 試料ガス(毒性ガス)が漏洩した
としても、密閉ケース(パージケース)により包囲され
ているので大気中に拡散してしまう恐れは無く、環境汚
染を惹起する恐れも無い。
(1) Even if the sample gas (toxic gas) leaks, since it is surrounded by the closed case (purge case), there is no risk of diffusion into the atmosphere and no risk of causing environmental pollution.

【0041】(2) 密閉ケース(パージケース)内は
不活性ガス等のパージガスが供給され、不必要な酸素や
水分をパージするように機能しており、且つ、不活性ガ
スが系内に混合しても、試料ガス等と反応せず、化合物
生成による配管の閉塞の恐れもない。
(2) A purge gas such as an inert gas is supplied into the closed case (purge case) to function to purge unnecessary oxygen and moisture, and the inert gas is mixed in the system. However, it does not react with the sample gas or the like, and there is no fear of clogging of the pipe due to compound formation.

【0042】(3) ジョイント部分等をほとんど経由
せずに供給されたキャリヤーガスの分析を行う事が出来
るので、分析結果を基に、ジョイント部分等から水分や
酸素が侵入・混合しているのか否かが判定できる。ま
た、試料ガスが通過する系統内に残留した試料ガスをキ
ャリヤーガスでパージし、パージが十分なされているか
否かが判定できる。
(3) Since the carrier gas supplied can be analyzed with almost no passage through the joint, etc., based on the analysis results, is it possible that moisture and oxygen enter and mix from the joint, etc.? Whether or not it can be determined. Further, the sample gas remaining in the system through which the sample gas passes can be purged with the carrier gas, and it can be determined whether or not the purging is sufficient.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の1実施例を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1の構成を更に簡略化して示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of FIG. 1 in a further simplified form.

【図3】従来のガスクロマトグラフ分析装置を示すブロ
ック図。
FIG. 3 is a block diagram showing a conventional gas chromatograph analyzer.

【図4】図3で示す従来のガスクロマトグラフ分析装置
の構成を簡略化して示すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram showing a simplified configuration of the conventional gas chromatograph analyzer shown in FIG.

【図5】ガスクロマトグラフ分析装置と希釈器との接続
態様を示すブロック図。
FIG. 5 is a block diagram showing a connection mode between a gas chromatograph analysis device and a diluter.

【図6】図5で示す希釈器の詳細を説明するブロック
図。
FIG. 6 is a block diagram illustrating details of the diluter shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

G・・・試料ガス IL・・・供給ライン 1・・・電磁弁 2・・・試料ガス注入装置 3・・・入り側ジョイント 4・・・試料極カラム 5・・・出側ジョイント 6・・・検出器 8・・・記録計 OL、ROL、OL−2・・・排出ライン 9・・・キャリヤーガスボンベ 10・・・減圧弁 11・・・乾燥剤容器 12、22・・・三方ジョイント 14・・・入り側ジョイント 15・・・対照極カラム 16・・・出側ジョイント GL・・・試料極側ライン RL・・・対照極側ライン 18・・・恒温槽 19・・・電源 20・・・ガスクロマトグラフ分析装置 24・・・三方コック 26・・・パージケース 28・・・パージガス供給口 30・・・排出口 32・・・電磁弁 S・・・原料ガス発生源 OG・・・原料ガス発生源から発生したガス 38・・・元弁 39・・・ライン 40・・・希釈器 42・・・パージ弁 44、54・・・ライン 46・・・処理機構 48・・・計装エア源 50・・・不活性ガス源 52・・・真空引き用の真空ポンプ AV1−A、AV−6・・・原料ガス遮断弁 PCV−1・・・原料ガス注入流量調整弁 AV1−B・・・原料ガス注入弁 AV−3・・・ベント弁 AV−4・・・真空計保護弁 AV−5・・・真空吸引弁 PCV−2・・・不活性ガス注入流量調整弁 AV2−A・・・不活性ガス注入弁 AV2−B・・・試料ガス供給弁 REG−1・・・試料ガス減圧弁 MV−3・・・試料ガス供給弁 MV−1・・・原料ガス導入弁 MV−2・・・不活性ガス導入弁 CV−1・・・ベント逆止弁 PG−1・・・原料ガス圧力表示器 PT−1、PT−2・・・圧力変換器 PG−2・・・不活性ガス圧力表示器 CV−2・・・不活性ガス逆止弁 REG−2・・・計装エア減圧弁 PG−3・・・計装エア圧力表示器 SL・・・シリンダ G ... Sample gas IL ... Supply line 1 ... Solenoid valve 2 ... Sample gas injection device 3 ... Entry side joint 4 ... Specimen pole column 5 ... Exit side joint 6 ...・ Detector 8 ・ ・ ・ Recorder OL, ROL, OL-2 ・ ・ ・ Exhaust line 9 ・ ・ ・ Carrier gas cylinder 10 ・ ・ ・ Reducing valve 11 ・ ・ ・ Drying agent container 12, 22 ・ ・ ・ Three-way joint 14 ・・ ・ Inlet side joint 15 ・ ・ ・ Control electrode column 16 ・ ・ ・ Ejection side joint GL ・ ・ ・ Sample electrode side line RL ・ ・ ・ Control electrode side line 18 ・ ・ ・ Constant temperature bath 19 ・ ・ ・ Power supply 20 ・ ・ ・Gas chromatograph analyzer 24 ... 3-way cock 26 ... Purge case 28 ... Purge gas supply port 30 ... Discharge port 32 ... Electromagnetic valve S ... Source gas generation source OG ... Source gas generation Gas generated from the source 38 ... Main valve 39 ... Line 40 ... Diluter 42 ... Purge valve 44, 54 ... Line 46 ... Processing mechanism 48 ... Instrumentation air source 50 ... Inert Gas source 52 ... Vacuum pump for vacuuming AV1-A, AV-6 ... Raw material gas shutoff valve PCV-1 ... Raw material gas injection flow rate control valve AV1-B ... Raw material gas injection valve AV- 3 ... Vent valve AV-4 ... Vacuum gauge protection valve AV-5 ... Vacuum suction valve PCV-2 ... Inert gas injection flow rate adjustment valve AV2-A ... Inert gas injection valve AV2 -B ... Sample gas supply valve REG-1 ... Sample gas pressure reducing valve MV-3 ... Sample gas supply valve MV-1 ... Source gas introduction valve MV-2 ... Inert gas introduction valve CV-1 ... Vent check valve PG-1 ... Raw material gas pressure indicator PT-1, PT- 2 ... Pressure converter PG-2 ... Inert gas pressure indicator CV-2 ... Inert gas check valve REG-2 ... Instrumentation air pressure reducing valve PG-3 ... Instrumentation Air pressure indicator SL ・ ・ ・ Cylinder

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 分析するべき試料ガスが通過する系統
と、キャリヤーガスが通過する系統とを含むガスクロマ
トグラフ分析装置において、前記2系統を密閉ケースで
包囲し、該ケース内の雰囲気をパージガスにより置換す
るためのパージ機構を備えた事を特徴とするガスクロマ
トグラフ分析装置。
1. A gas chromatograph analyzer including a system through which a sample gas to be analyzed passes and a system through which a carrier gas passes, wherein the two systems are enclosed by a sealed case, and the atmosphere in the case is replaced by a purge gas. A gas chromatograph analyzer characterized by being equipped with a purging mechanism for performing.
【請求項2】 分析するべき試料ガスが通過する系統
と、キャリヤーガスが通過する系統とを含むガスクロマ
トグラフ分析装置において、キャリヤーガスが通過する
系統から分岐系統を分岐する分岐機構と、分岐系統を試
料ガスが通過する系統に接続する接続機構とを含むこと
を特徴とするガスクロマトグラフ分析装置。
2. A gas chromatograph analyzer including a system through which a sample gas to be analyzed passes and a system through which a carrier gas passes, and a branch mechanism for branching a branch system from the system through which the carrier gas passes and a branch system. A gas chromatograph analyzer, comprising: a connection mechanism connected to a system through which the sample gas passes.
【請求項3】 分析するべき試料ガスが通過する系統
と、キャリヤーガスが通過する系統とを含むガスクロマ
トグラフ分析装置において、前記2系統を密閉ケースで
包囲し、該ケース内の雰囲気をパージガスにより置換す
るためのパージ機構と、キャリヤーガスが通過する系統
から分岐系統を分岐する分岐機構と、分岐系統を試料ガ
スが通過する系統に接続する接続機構とを含むことを特
徴とするガスクロマトグラフ分析装置。
3. A gas chromatograph analyzer including a system through which a sample gas to be analyzed passes and a system through which a carrier gas passes, wherein the two systems are surrounded by a sealed case, and the atmosphere in the case is replaced with a purge gas. A gas chromatograph analysis apparatus, comprising: a purging mechanism for operating the carrier gas, a branch mechanism for branching a branch system from a system through which a carrier gas passes, and a connection mechanism for connecting the branch system to a system through which a sample gas passes.
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