JPH0613143U - Vacuum tweezers - Google Patents

Vacuum tweezers

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JPH0613143U
JPH0613143U JP051231U JP5123192U JPH0613143U JP H0613143 U JPH0613143 U JP H0613143U JP 051231 U JP051231 U JP 051231U JP 5123192 U JP5123192 U JP 5123192U JP H0613143 U JPH0613143 U JP H0613143U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
main body
suction
vacuum
hole
vacuum tweezers
Prior art date
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Pending
Application number
JP051231U
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
時彦 末弘
Original Assignee
コマツ電子金属株式会社
九州コマツ電子株式会社
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Publication date
Application filed by コマツ電子金属株式会社, 九州コマツ電子株式会社 filed Critical コマツ電子金属株式会社
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Publication of JPH0613143U publication Critical patent/JPH0613143U/en
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案は、確実かつ迅速に半導体ウェハなど
の微細な物体を把持することのできる真空ピンセットを
提供することを目的とする。 【構成】 本考案の真空ピンセットは、真空吸引可能な
貫通孔1bを備えた筒状の本体1と、前記本体の先端に
配設され、本体の軸心に対して15度以下に傾けられ、
少なくとも吸着領域が暗色に着色された吸着部1aとを
具備し、本体から真空吸引を行うことにより対象物を把
持できるように構成されている。また本考案の第2の真
空ピンセットは、真空吸引可能な貫通孔を備えた筒状の
本体と、本体の貫通孔に連通するように前記本体に対し
て着脱自在に装着され、かつ本体の軸心に対して15度
以下に傾けられ、少なくとも吸着領域が暗色に着色され
た吸着部を先端に具備した把持部とを具備し、本体から
真空吸引を行うことにより把持部先端で対象物を把持で
きるように構成されている。
(57) [Summary] [Object] An object of the present invention is to provide a vacuum tweezers capable of reliably and quickly gripping a fine object such as a semiconductor wafer. A vacuum tweezers of the present invention is provided with a cylindrical main body 1 having a through hole 1b capable of vacuum suction and a tip end of the main body, and is inclined at 15 degrees or less with respect to the axis of the main body.
At least the adsorption area is provided with an adsorption portion 1a colored in dark color, and is configured to be able to grip an object by performing vacuum suction from the main body. The second vacuum tweezers of the present invention are detachably attached to the cylindrical body having a through hole capable of vacuum suction and detachably attached to the body so as to communicate with the through hole of the body. A gripping part that is tilted at an angle of 15 degrees or less with respect to the heart and that has at least a suction part whose suction area is colored in dark color at the tip, and grips an object with the tip of the gripping part by performing vacuum suction from the main body. It is configured to be able to.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、真空ピンセットに係り、特に半導体ウェハなどの微細で衝撃に弱 いものを把持するための真空ピンセットに関する。 The present invention relates to a vacuum tweezers, and more particularly to a vacuum tweezers for gripping a fine and shock-resistant object such as a semiconductor wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

半導体ウェハは、半導体デバイスの出発材料となることからその品質には極 めて厳しいものが要求され、物性のみならず表面のわずかな傷、くもりや埃もデ バイスの性能や歩留まりに大きな影響を与えることから、出荷前に1枚毎にその 表面状態を集光ランプに照らして目視で検査するという方法が取られている。 Since semiconductor wafers are the starting material for semiconductor devices, their quality is extremely strict, and not only physical properties but also slight scratches on the surface, cloudiness and dust have a great influence on device performance and yield. Therefore, before shipping, the method of visually inspecting the surface condition of each sheet by illuminating it with a condenser lamp is adopted.

【0003】 このため、半導体ウェハの裏面を吸着して、表面側から目視するという方法が 取られるが、この裏面吸着には真空ピンセットが用いられている(実開平3−1 7632号、実開平2−60247号)。For this reason, a method of adsorbing the back surface of the semiconductor wafer and visually observing from the front surface side is adopted, and vacuum tweezers are used for this back surface adsorption (Actual No. 3-17632, No. 2-60247).

【0004】 検査は容器内に数mm間隔で並ぶ半導体ウェハを1枚ごとにす速く、全数あるい は抜き取りで取り出し、目視検査後別の容器あるいは同一容器におさめていくと いう作業が暗室に近い雰囲気中で行われる。この目視検査はわずかな表面欠陥で も検出できるように集光ランプの照度を約50万ルックスにして行うものである 。For inspection, semiconductor wafers are lined up in the container at intervals of several millimeters one by one, and all the wafers are taken out or extracted, and after visual inspection, they are put in another container or the same container in a dark room. It takes place in a close atmosphere. This visual inspection is performed with the illuminance of the condenser lamp set at about 500,000 lux so that even slight surface defects can be detected.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

ところで、従来の真空ピンセットは無色透明の合成樹脂製のものであったが このように暗室で約50万ルックスに近い照度に集光しているため、従来の無色 透明の真空ピンセットで裏面を吸着して表面を照らすと、真空ピンセットの吸着 面に近い部分も同時に照らされることになり、真空ピンセットから光が乱反射さ れる。この乱反射により半導体ウェハの一部も白く光り、その光った部分にたま たま表面欠陥があるような場合はその表面欠陥を検出することができず、みのが すことになり、欠陥ウェハをデバイス工程に出荷してしまうことがあった。 By the way, the conventional vacuum tweezers were made of colorless and transparent synthetic resin, but because the illuminance is close to about 500,000 lux in the dark room in this way, the conventional colorless and transparent vacuum tweezers adsorb the back surface. Then, when the surface is illuminated, the part of the vacuum tweezers close to the suction surface is also illuminated at the same time, and light is diffusely reflected from the vacuum tweezers. Due to this diffuse reflection, a part of the semiconductor wafer also shines white, and if there are occasional surface defects in the shining part, the surface defects cannot be detected, and the wafer becomes defective. Sometimes it was shipped to the process.

【0006】 また、従来の真空ピンセットは、図4に示すように吸着面11aの軸心に対す る傾きが15度を越えていたため、容器内に数mm間隔で配列されたウェハをす速 く取り出し、また検査後再び容器内に納める作業において真空ピンセットが容器 の壁や隣のウェハに接触したり、またウェハ間に入りきらずに吸着面全体がウェ ハにかからなくてウェハを落下させることがあった。Further, in the conventional vacuum tweezers, as shown in FIG. 4, since the inclination of the suction surface 11a with respect to the axis is more than 15 degrees, the wafers arranged in the container at intervals of several mm can be quickly removed. When the wafer is taken out and put in the container again after the inspection, the vacuum tweezers may contact the wall of the container or the next wafer, or the whole suction surface may not fall on the wafer and the wafer may drop. was there.

【0007】 本考案は前記実情に鑑みてなされたもので、確実かつ迅速に半導体ウェハなど の微細な物体を把持することのできる真空ピンセットを提供することを目的とす る。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a vacuum tweezers that can reliably and quickly grip a fine object such as a semiconductor wafer.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

本考案の真空ピンセットは、真空吸引可能な貫通孔を備えた筒状の本体と、 前記本体の先端に配設され、本体の軸心に対して15度以下に傾けられ、少なく とも吸着領域が暗色に着色された吸着部とを具備し、本体から真空吸引を行うこ とにより対象物を把持できるように構成されている。 The vacuum tweezers of the present invention are provided with a cylindrical main body having a through hole capable of vacuum suction, and are arranged at the tip of the main body and are tilted by 15 degrees or less with respect to the axis of the main body, and have at least a suction area It is provided with a dark colored adsorption portion, and is configured to be able to grasp an object by performing vacuum suction from the main body.

【0009】 また本考案の第2の真空ピンセットは、真空吸引可能な貫通孔を備えた筒状の 本体と、本体の貫通孔に連通するように前記本体に対して着脱自在に装着され、 かつ本体の軸心に対して15度以下に傾けられ、少なくとも吸着領域が暗色に着 色された吸着部を先端に具備した把持部とを具備し、本体から真空吸引を行うこ とにより把持部先端で対象物を把持できるように構成されている。A second vacuum tweezers of the present invention is detachably attached to a main body of a cylinder having a through hole capable of vacuum suction, and detachably attached to the main body so as to communicate with the through hole of the main body. The gripping part is provided with a suction part that is inclined at an angle of 15 degrees or less with respect to the axis of the main body and has at least a suction part whose suction area is colored in dark color at the tip, and by performing vacuum suction from the main body, the tip of the gripping part. It is configured to be able to grip an object.

【0010】[0010]

【作用】[Action]

上記構成によれば、吸着領域が暗色に着色されているため、50万ルックス の照度の光が当たっても乱反射することがないためウェハなどを把持した場合に も白く光ったりすることなく確実に把持できるため、半導体ウェハなどの表面欠 陥も見逃すことなく良好に検査を行うことができる。 According to the above configuration, since the adsorption area is colored in dark color, there is no irregular reflection even when exposed to light with an illuminance of 500,000 lux, so even when a wafer is held, it does not shine white. Since it can be gripped, it is possible to perform a good inspection without missing surface defects such as semiconductor wafers.

【0011】 また吸着部が15度以下の角度で傾けられているため、容器から取り出したり 納めたりする作業において半導体ウェハの吸着を良好に行うことができ吸着不良 による落下等を防ぐことができる。Further, since the suction portion is tilted at an angle of 15 degrees or less, the semiconductor wafer can be favorably sucked during the work of taking it out of the container or putting it in the container, and it is possible to prevent the semiconductor wafer from falling due to a suction failure.

【0012】 さらに考案の第2によれば本体部が吸着部に対して着脱自在に取り付けられて いるため、必要に応じて傾斜角度の異なるものに取り替えることができ極めて作 業が簡単となる。Further, according to the second aspect of the invention, since the main body is detachably attached to the suction portion, it can be replaced with one having a different inclination angle as required, which greatly simplifies the operation.

【0013】[0013]

【実施例】【Example】

以下、本考案の実施例について、図面を参照しつつ詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0014】 本考案の第1の実施例の真空ピンセットは図1(a) ,(b) および (c)に示すよ うに、黒色のアクリル樹脂で一体的に形成された半径2mmφの貫通孔1bを具備 した直径6mmの中空円筒状の本体1とこの先端に、この本体の軸心に対してθ= 7〜8度となるように傾斜せしめられた吸着面1aとを具備し、本体1内に形成 された貫通孔1bを介して真空吸引部(図示せず)に接続されるようになってい る。この本体および先端部の吸着部を構成するアクリル樹脂の黒色とはJISZ 8721でいう明度Vが0であるものとする。ここで図1(b) および(c) は図1 (a) のA−A断面図およびB−B断面図である。As shown in FIGS. 1 (a), 1 (b) and 1 (c), the vacuum tweezers according to the first embodiment of the present invention has a through hole 1b with a radius of 2 mmφ integrally formed of black acrylic resin. In the main body 1, there is provided a hollow cylindrical main body 1 having a diameter of 6 mm and a suction surface 1a inclined at an end of the main body 1 such that θ = 7 to 8 degrees with respect to the axis of the main body. It is adapted to be connected to a vacuum suction section (not shown) through a through hole 1b formed in the. The black color of the acrylic resin constituting the main body and the suction portion of the tip portion means that the lightness V according to JIS Z 8721 is 0. Here, FIGS. 1 (b) and 1 (c) are a sectional view taken along the line AA and a sectional view taken along the line BB in FIG. 1 (a).

【0015】 このようにこの真空ピンセットによれば半導体ウェハを容器から取り出したり 納めたりする作業において、良好かつ確実に半導体ウェハの吸着を行うことがで き吸着不良による落下等を防ぐことができる。As described above, according to the vacuum tweezers, the semiconductor wafer can be satisfactorily and surely sucked in the work of taking out or putting in the semiconductor wafer from the container, and the drop due to the suction failure can be prevented.

【0016】 また黒色のアクリル樹脂で構成されているため、50万ルックスの照度の光が 当たっても乱反射することなく、ウェハ近傍が白く光ったりすることなく確実に 把持できるため、半導体ウェハの小さな表面欠陥も見逃すことなく良好に検査を 行うことができる。Further, since it is made of black acrylic resin, it does not undergo diffuse reflection even when exposed to light with an illuminance of 500,000 lux, and it can be reliably held without shining white in the vicinity of the wafer. Good inspection can be performed without overlooking surface defects.

【0017】 次に本考案の第2の実施例について説明する。Next, a second embodiment of the present invention will be described.

【0018】 この真空ピンセットは図2(a) ,(b) および (c)に示すように、先端に、軸心 に対してθ=14度となるように傾斜せしめられた吸着面2aを備えかつ、半径 2mmφの貫通孔2bを具備しさらに他端部にざぐりが形成され雄ねじ2cが形成 された直径6mmの暗色の合成樹脂製の把持部2と、この雄ねじ2cに雌ねじ3b を係合させ、貫通孔3aが吸着部の貫通孔2bに連通するように形成された無色 透明の合成樹脂製の本体部3とから構成されている。As shown in FIGS. 2 (a), 2 (b) and 2 (c), this vacuum tweezer is provided with a suction surface 2a which is inclined so that θ = 14 degrees with respect to the axial center at the tip. Also, a 6 mm diameter dark synthetic resin grip 2 having a through hole 2b with a radius of 2 mmφ and a male screw 2c formed at the other end and a male screw 2c is engaged with the female screw 3b. , And a main body 3 made of a colorless and transparent synthetic resin formed so that the through hole 3a communicates with the through hole 2b of the adsorption portion.

【0019】 そしてこの本体部3内に形成された貫通孔3aを介して真空吸引部(図示せず )に接続されるようになっている。ここで図2(b) および(c) は図2(a) のA− A断面図およびB−B断面図である。Then, it is adapted to be connected to a vacuum suction section (not shown) through a through hole 3 a formed in the main body section 3. Here, FIGS. 2B and 2C are a sectional view taken along the line AA and a sectional view taken along the line BB of FIG. 2A, respectively.

【0020】 このようにこの真空ピンセットによっても前記第1の実施例の真空ピンセット と同様、半導体ウェハを容器から取り出したり納めたりする作業において、良好 かつ確実に半導体ウェハの吸着を行うことができ吸着不良による落下等を防ぐこ とができる。さらに先端の吸着部2を吸着面の傾斜角が異なるように複数個形成 しておき、使用状況すなわち半導体ウェハがどの程度密接して配置されているか によって、取り替えるようにすれば、さらに扱いが容易となる。As described above, even with the vacuum tweezers of the first embodiment, the vacuum tweezers can perform good and reliable suction of the semiconductor wafer in the work of taking out or putting in the semiconductor wafer from the container. It is possible to prevent falling due to defects. Further, if a plurality of suction portions 2 at the tip are formed so that the inclination angles of the suction surfaces are different, and the suction portions 2 are replaced depending on the usage condition, that is, how closely the semiconductor wafers are arranged, it is easier to handle. Becomes

【0021】 図3はこの全体を色を含めて示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing the whole including colors.

【0022】 なお、前記実施例では本体部3は無色透明の合成樹脂にしたが、他の材質を用 いてもよいことはいうまでもない。さらに吸着部の材質についてもJISZ87 21でいう明度Vが4以下であればよく、アクリル樹脂に限定されることなく、 フッ素樹脂あるいはポリアセタール樹脂等を用いても良い。Although the main body 3 is made of colorless and transparent synthetic resin in the above embodiment, it goes without saying that other materials may be used. Further, regarding the material of the adsorption portion, the lightness V according to JIS Z8721 may be 4 or less, and the material is not limited to acrylic resin, and fluororesin or polyacetal resin may be used.

【0023】 さらにまた、この吸着部はネジ止めに限定されることなく、本体にビス止めを 行うことによりあるいは本体に嵌め込む等他の方法でとりつけるようにしてもよ いことはいうまでもない。Further, it is needless to say that the suction portion is not limited to being screwed and may be attached by screwing the body or by another method such as fitting the body. .

【0024】 また、吸着面は軸心に対して15度以下となるように形成されるが7度から8 度が最も望ましい。Further, the suction surface is formed so as to be 15 degrees or less with respect to the axial center, but it is most preferable to be 7 degrees to 8 degrees.

【0025】[0025]

【考案の効果】[Effect of device]

以上説明してきたように、本考案によれば、反射を抑制することができ、取 扱いの容易な真空ピンセットを提供することを目的とする。 As described above, according to the present invention, it is an object of the present invention to provide a vacuum tweezer which can suppress reflection and is easy to handle.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の第1の実施例の真空ピンセットを示す
FIG. 1 is a view showing a vacuum tweezers according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本考案の第2の実施例の真空ピンセットを示す
FIG. 2 is a view showing a vacuum tweezers according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本考案の第2の実施例の真空ピンセットを示す
FIG. 3 is a view showing a vacuum tweezers according to a second embodiment of the present invention.

【図4】従来例の真空ピンセットを示す図FIG. 4 is a diagram showing a conventional vacuum tweezers.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 本体 1a 吸着面 1b 貫通孔 2 把持部 2a 吸着面 2b 貫通孔 2c 雄ねじ 3 本体部 3b 雌ねじ 3a 貫通孔 1 Main Body 1a Adsorption Surface 1b Through Hole 2 Grip 2a Adsorption Surface 2b Through Hole 2c Male Screw 3 Main Body 3b Female Screw 3a Through Hole

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 真空吸引可能な貫通孔を備えた筒状の本
体と、前記本体の先端に配設され、本体の軸心に対して
15度以下に傾けられ、少なくとも吸着領域が暗色に着
色された吸着部とを具備し、本体から真空吸引を行うこ
とにより対象物を把持できるように構成されたことを特
徴とする真空ピンセット。
1. A cylindrical main body having a through hole capable of vacuum suction and a tip end of the main body, which is inclined at an angle of 15 degrees or less with respect to the axis of the main body, and at least the adsorption area is colored dark. Vacuum tweezers configured to hold an object by performing vacuum suction from the main body.
【請求項2】 真空吸引可能な貫通孔を備えた筒状の本
体と、本体の貫通孔に連通するように前記本体に対して
着脱自在に装着され、かつ本体の軸心に対して15度以
下に傾けられ、少なくとも吸着領域が暗色に着色された
吸着部を先端に具備した把持部とを具備し、本体から真
空吸引を行うことにより把持部先端で対象物を把持でき
るように構成されたことを特徴とする真空ピンセット。
2. A cylindrical main body having a through hole capable of vacuum suction, and a body detachably attached to the main body so as to communicate with the through hole of the main body, and 15 degrees with respect to the axis of the main body. It has a gripping part that is inclined below and has at least a suction part whose suction area is colored in dark color at its tip, and is configured to be able to grip an object with the tip of the gripping part by performing vacuum suction from the main body. Vacuum tweezers characterized in that.
JP051231U 1992-07-21 1992-07-21 Vacuum tweezers Pending JPH0613143U (en)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5636148B2 (en) * 1977-12-30 1981-08-21
JPS62188630A (en) * 1985-12-10 1987-08-18 レシフ(ソシエテ・アノニム) Manufacture of nose section particularly for vacuum handlingsystem and nose section formed by said manufacture

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