JPH06117903A - Liquid level detector - Google Patents

Liquid level detector

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JPH06117903A
JPH06117903A JP26612292A JP26612292A JPH06117903A JP H06117903 A JPH06117903 A JP H06117903A JP 26612292 A JP26612292 A JP 26612292A JP 26612292 A JP26612292 A JP 26612292A JP H06117903 A JPH06117903 A JP H06117903A
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JP
Japan
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liquid
liquid level
detection
detection rod
end portion
Prior art date
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Pending
Application number
JP26612292A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Tamura
晃 田村
Atsuyuki Sakai
厚之 坂井
Tashiro Arai
太四郎 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON KUATSU SYST KK
CKD Corp
Original Assignee
NIPPON KUATSU SYST KK
CKD Corp
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Publication date
Application filed by NIPPON KUATSU SYST KK, CKD Corp filed Critical NIPPON KUATSU SYST KK
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Publication of JPH06117903A publication Critical patent/JPH06117903A/en
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  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a liquid level measuring device capable of detecting a liquid level without mixing waste refuse with a liquid and capable of being used even when a tank receiving a liquid is a pressure tank. CONSTITUTION:Detection rods 20, 30 are provided in a tank 12 having a semiconductor treatment soln. 10 received therein and temp. sensors 22, 32 fitted with heaters are provided to the lower end parts of the detection rods 20, 30 and temp. sensors 24, 34 are provided to the detection rods above the sensors 22, 32. The tamp. sensors 22, 32 fitted with heaters are heated by supplying a current to the heaters of the temp. sensors 22, 32 fitted with heaters so that the detected temps. due to the temp. sensors 22, 32 fitted with heaters are largely different at the times of the contact and non-contact of the lower end parts of the detection rods 20, 30 with the semiconductor treatment soln. 10 and the detected temps. are compared with the detected temps. due to the temp. sensors 24, 34 to judge whether the liquid level of the semiconductor treatment soln. 10 is higher or lower than the lower end parts of the detection rods 20,30.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、タンク内に収納された
液体の液面レベルを検出する液面レベル検出装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid level detecting device for detecting the liquid level of a liquid contained in a tank.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、半導体製造行程において使用
されるレジスト液等の半導体処理液の量を検出する際に
は、例えば、図5に示す如く、半導体処理液60を収納
したタンク62の所定の高さ位置から高圧窒素を吹き出
すためのノズル70と、このノズル70にダイヤフラム
72の一方のガス室72aを介して高圧窒素を供給する
配管74と、同じく高圧窒素をダイヤフラム72のもう
一方のガス室72bを介して大気中に放出する配管76
と、ダイヤフラム72の各ガス室72a,72bの圧力
差によりダイヤフラム72の隔壁72cが変位したとき
オン状態となるマイクロスイッチ78とにより構成され
た複数の液面レベル検出装置80が使用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when the amount of a semiconductor processing liquid such as a resist liquid used in a semiconductor manufacturing process is detected, for example, as shown in FIG. A nozzle 70 for blowing out high-pressure nitrogen from a height position, a pipe 74 for supplying high-pressure nitrogen to the nozzle 70 through one gas chamber 72a of the diaphragm 72, and a high-pressure nitrogen gas for the other side of the diaphragm 72. Piping 76 that releases to the atmosphere through the chamber 72b
A plurality of liquid level detecting devices 80 are used, which are constituted by a micro switch 78 which is turned on when the partition 72c of the diaphragm 72 is displaced by the pressure difference between the gas chambers 72a and 72b of the diaphragm 72.

【0003】つまり、この種の液面レベル検出装置80
においては、ノズル70の先端に液面が近付くと、この
ノズル70の先端の排圧が大きくなって、ダイヤフラム
72のノズル側ガス室72aの圧力が高くなるため、隔
壁72cが図中上方に変位してマイクロスイッチ78の
接点を押し上げ、マイクロスイッチがオン状態となっ
て、液面がノズル70の先端の高さ位置にあることを検
出することができるようになるのである。なお、図5に
おいて、符号64は、タンク62から半導体処理液60
を汲み出して、半導体処理液60を使用するレジスト工
程等の半導体処理工程に供給する汲出ポンプを表してい
る。
That is, this type of liquid level detecting device 80
When the liquid surface approaches the tip of the nozzle 70, the exhaust pressure at the tip of the nozzle 70 increases and the pressure in the nozzle side gas chamber 72a of the diaphragm 72 increases, so that the partition wall 72c is displaced upward in the drawing. Then, the contact point of the micro switch 78 is pushed up, the micro switch is turned on, and it becomes possible to detect that the liquid surface is at the height position of the tip of the nozzle 70. In FIG. 5, reference numeral 64 indicates the semiconductor processing liquid 60 from the tank 62.
Is a pump for pumping the liquid to and supplying it to a semiconductor processing process such as a resist process using the semiconductor processing liquid 60.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、こうしたガス
噴射方式の液面レベル検出装置においては、ダイヤフラ
ムや高圧窒素等の高圧ガスを発生する加圧ポンプ等の可
動部が存在するため、この可動部から微小なゴミが発生
し易く、そのゴミが、ノズルから液面に向けて吹き出さ
れる高圧窒素等の高圧ガス中に混入して、レジスト液等
の半導体処理液が汚染され、半導体の不良原因となるこ
とがあった。
However, in such a gas level liquid level detecting device, there is a movable part such as a diaphragm or a pressure pump for generating a high pressure gas such as high pressure nitrogen. Cause minute dust to be generated, and the dust is mixed into high-pressure gas such as high-pressure nitrogen blown from the nozzle toward the liquid surface, and the semiconductor processing liquid such as resist liquid is contaminated. Was sometimes.

【0005】また、こうしたガス噴射方式の液面レベル
検出装置においては、ノズルからの高圧ガスの噴射圧の
変化から液面レベルを検出するため、液体の気化を防止
するために高圧に加圧された加圧タンク内では、液面レ
ベルを検出することができないといった問題もあった。
Further, in such a gas level liquid level detection device, since the liquid level is detected from the change in the injection pressure of the high pressure gas from the nozzle, it is pressurized to a high pressure in order to prevent vaporization of the liquid. There is also a problem that the liquid level cannot be detected in the pressurized tank.

【0006】また更に、こうしたガス噴射方式の液面レ
ベル検出装置においては、長期間使用を停止すると、ダ
イヤフラムが硬くなってしまい、その後使用を再開した
場合には、ダイヤフラムの動きが元に戻るまで、液面レ
ベルを正常に検出することができなくなるといった問題
もある。
Furthermore, in such a gas level liquid level detecting device, the diaphragm becomes hard after being stopped for a long time, and when the diaphragm is restarted after that, the movement of the diaphragm is restored. There is also a problem that the liquid level cannot be detected normally.

【0007】なお、こうしたガス噴射方式以外の液面レ
ベル検出装置としては、例えば大気と液体との光の反射
率の違いを利用して、プリズムを用いて液面レベルを光
学的に検出する方式のものや、タンクの静電容量を測定
することにより液面レベルを測定する方式のもの等も考
えられているが、光学式のものでは液面に接触させるプ
リズムが液体により変色して誤動作し、また静電容量式
のものでは実用化できる程度の精度が得られないといっ
たことがあり、いずれも実用化に至っていない。
As a liquid level detecting device other than the gas injection system, for example, a liquid level is optically detected using a prism by utilizing the difference in light reflectance between the atmosphere and the liquid. There is also an optical type that measures the liquid level by measuring the electrostatic capacity of the tank.However, in the optical type, the prism that comes into contact with the liquid surface changes color due to the liquid and malfunctions. In addition, there is a case where the capacitance type does not have accuracy enough for practical use, and neither of them has been put into practical use.

【0008】本発明は、こうした問題に鑑みなされたも
ので、上記のように半導体処理液等の液体内にゴミを混
入させることなく液面レベルを検出でき、しかも液体を
収納するタンクが加圧タンクであっても使用することの
できる液面レベル測定装置を提供することを目的として
いる。
The present invention has been made in view of these problems. As described above, the liquid level can be detected without mixing dust in the liquid such as the semiconductor processing liquid, and the tank for storing the liquid is pressurized. An object of the present invention is to provide a liquid level measuring device that can be used even in a tank.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めになされた請求項1に記載の液面レベル検出装置は、
液体を収納するタンク内に、液体の液面に直交する方向
に配設される長尺状の検出棒と、該検出棒の下端部及び
該下端部より上方の位置に夫々配設された一対の温度セ
ンサと、該一対の温度センサからの検出信号に基づき、
上記検出棒の下端部が液体に接触して液体の熱伝導によ
り冷却されているか否かを判定する判定回路と、を備え
たことを特徴としている。
A liquid level detecting device according to claim 1, which has been made to achieve the above object, comprises:
In a tank for storing a liquid, a long detection rod arranged in a direction orthogonal to the liquid surface of the liquid, and a pair of lower end portion of the detection rod and a position above the lower end portion, respectively. Based on the temperature sensor and the detection signals from the pair of temperature sensors,
A determination circuit for determining whether or not the lower end of the detection rod comes into contact with the liquid and is cooled by heat conduction of the liquid.

【0010】次に、請求項2に記載の液面レベル検出装
置は、液体を収納するタンク内に、液体の液面に直交す
る方向に配設される長尺状の検出棒と、該検出棒の下端
部に設けられ、加熱用のヒータを備えた温度センサと、
上記検出棒の下端部を含む任意の位置に設けられた温度
センサと、上記各温度センサからの検出信号に基づき、
上記検出棒の下端部が液体に接触して液体の熱伝導によ
り冷却されているか否かを判定する判定回路と、を備え
たことを特徴としている。
Next, a liquid level detecting device according to a second aspect of the present invention includes a long detection rod arranged in a tank for containing a liquid in a direction orthogonal to the liquid surface of the liquid, and the detection rod. A temperature sensor provided at the lower end of the rod and provided with a heater for heating,
Based on the temperature sensor provided at any position including the lower end of the detection rod, based on the detection signal from the temperature sensor,
A determination circuit for determining whether or not the lower end of the detection rod comes into contact with the liquid and is cooled by heat conduction of the liquid.

【0011】また次に、請求項3に記載の液面レベル検
出装置は、この請求項2に記載の液面レベル検出装置に
おいて、ヒータを備えた温度センサが、セラミック基板
上に、温度に応じて抵抗値が変化する抵抗パターンを形
成し、更に該抵抗パターンの間に、通電により発熱する
発熱パターンを形成することにより作製されていること
を特徴としている。
Next, in the liquid level detecting device according to the third aspect, in the liquid level detecting device according to the second aspect, a temperature sensor having a heater is provided on the ceramic substrate according to the temperature. Is formed by forming a resistance pattern whose resistance value changes, and further forming a heat generation pattern that generates heat by energization between the resistance patterns.

【0012】また、請求項4に記載の液面レベル測定装
置は、上記請求項1〜請求項3のいずれかに記載の液面
レベル検出装置において、検出棒が、液体に対する耐食
性を有する材料からなる長尺の管状部材と、同じく耐食
性を有する材料からなり、該管状部材の下端部を密閉し
て管状部材内部への液体の侵入を防止するシール部材
と、を備え、上記一対の温度センサを、上記シール部材
により密閉された上記管状部材の内部に配設してなるこ
とを特徴としている。
A liquid level measuring device according to a fourth aspect is the liquid level detecting device according to any one of the first to third aspects, wherein the detection rod is made of a material having corrosion resistance against liquid. A long tubular member, and a sealing member made of a material also having corrosion resistance, which seals the lower end of the tubular member to prevent liquid from entering the inside of the tubular member. It is characterized in that it is arranged inside the tubular member sealed by the sealing member.

【0013】また更に、請求項5に記載の液面レベル検
出装置は、この請求項4に記載の液面レベル検出装置に
おいて、検出棒の下端部に配設される温度センサを、シ
ール部材に接合してなることを特徴としている。
Furthermore, in the liquid level detecting device according to a fifth aspect of the present invention, in the liquid level detecting device according to the fourth aspect, the temperature sensor disposed at the lower end of the detection rod is used as a seal member. It is characterized by being joined.

【0014】[0014]

【作用】上記のように構成された請求項1に記載の液面
レベル検出装置においては、判定回路が、検出棒の下端
部及び該下端部より上方の位置に配設された一対の温度
センサからの検出信号に基づき、検出棒の下端部が液体
に接触して液体の熱伝導により冷却されているか否かを
判定することにより、液面レベルを検出する。
In the liquid level detecting device according to claim 1 configured as described above, the determination circuit has a pair of temperature sensors in which the determination circuit is arranged at the lower end of the detection rod and at a position above the lower end. The liquid level is detected by determining whether or not the lower end portion of the detection rod comes into contact with the liquid and is cooled by heat conduction of the liquid based on the detection signal from.

【0015】つまり、液体の温度は、通常、液体の蒸発
等により外気に比べて低く、検出棒の下端部が液体に接
触すると、その下端部の温度が液体の熱伝導により外気
より低くなるため、請求項1に記載の液面レベル検出装
置では、その下端部の温度低下を、検出棒の下端部に設
けた温度センサと下端部より上方に設けた温度センサと
からの検出信号に基づき判定することにより、液面レベ
ルが検出棒の下端部の位置より低いか否かを判断するよ
うにしているのである。
That is, the temperature of the liquid is usually lower than that of the outside air due to evaporation of the liquid or the like, and when the lower end portion of the detection rod comes into contact with the liquid, the temperature of the lower end portion becomes lower than the outside air due to heat conduction of the liquid. In the liquid level detecting device according to claim 1, the lowering of the temperature of the lower end is determined based on detection signals from a temperature sensor provided at the lower end of the detection rod and a temperature sensor provided above the lower end. By doing so, it is determined whether or not the liquid level is lower than the position of the lower end portion of the detection rod.

【0016】従って、請求項1に記載の液面レベル検出
装置によれば、液体内にゴミを混入させることなく液面
レベルを検出でき、しかも液体を収納するタンクが加圧
タンクであっても使用することができる。次に、請求項
2に記載の液面レベル検出装置においては、検出棒の下
端部に加熱用のヒータを備えた温度センサを設けると共
に、検出棒の下端部を含む任意の位置に温度センサを設
け、判定回路により、これら各温度センサからの検出信
号に基づき、検出棒の下端部が液体に接触して液体の熱
伝導により冷却されているか否かを判定して、液面レベ
ルを検出するようにされている。
Therefore, according to the liquid level detecting device of the first aspect, the liquid level can be detected without mixing dust in the liquid, and the tank for storing the liquid is a pressurized tank. Can be used. Next, in the liquid level detecting device according to claim 2, a temperature sensor having a heater for heating is provided at the lower end of the detection rod, and the temperature sensor is provided at any position including the lower end of the detection rod. Based on the detection signals from these temperature sensors, a determination circuit is provided to determine whether or not the lower end of the detection rod is in contact with the liquid and is cooled by heat conduction of the liquid, and the liquid level is detected. Is being done.

【0017】つまり、ヒータ付温度センサは、ヒータに
より加熱されるため、その検出温度は、もう一方のヒー
タを備えていない温度センサより高くなる。また、ヒー
タ付温度センサによる検出温度は、検出棒の下端部が液
体に接触していない状態から液体に接触した状態に変化
すると、ヒータによる加熱温度が液体を介して放熱され
るため、大きく低下する。そこで、請求項2に記載の液
面レベル検出装置では、この温度変化を、ヒータを備え
ていない温度センサからの検出信号を基準に判定するこ
とにより、検出棒の下端部が液体に接触しているか否か
を検出するようにしているのである。
That is, since the temperature sensor with the heater is heated by the heater, the temperature detected by the heater is higher than that of the temperature sensor not equipped with the other heater. In addition, the temperature detected by the temperature sensor with the heater drops significantly when the lower end of the detection rod changes from the state where it does not contact the liquid to the state where it contacts the liquid, because the heating temperature by the heater radiates heat through the liquid. To do. Therefore, in the liquid level detecting device according to the second aspect, the temperature change is judged on the basis of the detection signal from the temperature sensor having no heater, whereby the lower end of the detection rod comes into contact with the liquid. It is trying to detect whether or not there is.

【0018】従って、請求項2に記載の液面レベル検出
装置によれば、請求項1に記載の装置と同様、液体内に
ゴミを混入させることなく液面レベルを検出でき、しか
も液体を収納するタンクが加圧タンクであっても使用す
ることができる。なお、この請求項2に記載の液面レベ
ル検出装置において、ヒータを備えていない温度センサ
は、ヒータ付温度センサと同様に検出棒の下端部に設け
てもよく、また検出棒の下端部より上方の位置に設けて
もよい。
Therefore, according to the liquid level detecting device of the second aspect, as in the device of the first aspect, the liquid level can be detected without mixing dust in the liquid and the liquid is stored. It can be used even if the tank used is a pressurized tank. In the liquid level detecting device according to the second aspect, the temperature sensor not provided with the heater may be provided at the lower end portion of the detection rod similarly to the temperature sensor with a heater, or from the lower end portion of the detection rod. It may be provided at an upper position.

【0019】これは、このヒータを備えていない温度セ
ンサを、ヒータ付温度センサと同様に検出棒の下端部に
設けたとしても、検出棒の下端部が液体に接触すること
によって生じる検出温度の変化は、ヒータ付温度センサ
に比べて極めて小さく、この温度センサからの検出信号
を基準として、ヒータ付温度センサによる検出温度の変
化を正確に判定することができるからである。
This is because even if the temperature sensor not equipped with the heater is provided at the lower end of the detection rod as in the case of the temperature sensor with a heater, the temperature detected by the lower end of the detection rod coming into contact with the liquid is detected. This is because the change is extremely smaller than that of the temperature sensor with a heater, and the change in the temperature detected by the temperature sensor with a heater can be accurately determined based on the detection signal from this temperature sensor.

【0020】また次に、請求項3に記載の液面レベル検
出装置においては、検出棒の下端部に配設されるヒータ
付温度センサを、セラミック基板上に、温度に応じて抵
抗値が変化する抵抗パターンを形成し、更に該抵抗パタ
ーンの間に、通電により発熱する発熱パターンを形成す
ることにより構成している。
Next, in the liquid level detecting device according to the third aspect, a temperature sensor with a heater arranged at the lower end portion of the detection rod is mounted on the ceramic substrate, and the resistance value changes according to the temperature. Is formed, and a heating pattern that generates heat when energized is formed between the resistance patterns.

【0021】このため、検出棒の下端部の温度変化を抵
抗値変化として検出することができ、温度検出のための
回路構成を簡単にすることができると共に、発熱パター
ンを通電することにより温度センサとしての抵抗パター
ンを確実且つ効率良く加熱することができる。
Therefore, the temperature change at the lower end of the detection rod can be detected as a resistance value change, the circuit structure for temperature detection can be simplified, and the temperature pattern can be supplied by energizing the temperature sensor. The resistance pattern can be heated reliably and efficiently.

【0022】また、請求項4に記載の液面レベル測定装
置においては、検出棒を、管状部材とその下端部を密閉
するシール部材とにより構成し、一対の温度センサを、
シール部材により密閉された管状部材の内部に配設する
ようにされている。このため、温度センサ及びその信号
線を液体から保護するための特別な部材を設ける必要は
なく、その構成を簡素化することができる。
Further, in the liquid level measuring device according to the fourth aspect, the detection rod is composed of a tubular member and a seal member for sealing the lower end portion thereof, and a pair of temperature sensors are provided.
It is arranged to be arranged inside a tubular member sealed by a seal member. Therefore, it is not necessary to provide a special member for protecting the temperature sensor and its signal line from the liquid, and the configuration can be simplified.

【0023】また更に、請求項5に記載の液面レベル検
出装置においては、検出棒の下端部に配設される温度セ
ンサをシール部材に接合するようにされている。このた
め、温度センサを単に検出棒の内部に設けた場合に比べ
て、温度センサによる検出棒の下端部の温度の検出感度
を向上でき、温度センサにより、液体に接触している場
合と接触していない場合とで生じる温度変化を正確に検
出することが可能になる。
Furthermore, in the liquid level detecting device according to the fifth aspect, the temperature sensor arranged at the lower end of the detecting rod is joined to the seal member. Therefore, compared to the case where the temperature sensor is simply provided inside the detection rod, the temperature sensor can improve the detection sensitivity of the temperature of the lower end portion of the detection rod. It is possible to accurately detect the temperature change caused by the temperature change.

【0024】[0024]

【実施例】以下に本発明の実施例を図面と共に説明す
る。まず図1は半導体処理液10を収納したタンク12
に本実施例の液面レベル検出装置を取り付けた状態を表
す説明図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, FIG. 1 shows a tank 12 containing a semiconductor processing liquid 10.
It is explanatory drawing showing the state which attached the liquid level detection apparatus of a present Example to FIG.

【0025】図1に示す如く、タンク12には、その開
口部近傍の壁面に固定された取付け部材14を介して、
2本の検出棒20,30が取り付けられている。これら
2本の検出棒20,30の内、一方の検出棒20は、タ
ンク12内の半導体処理液10の液面レベルが、半導体
処理液10を所定の半導体処理工程に供給する汲出ポン
プ16により汲み出し可能な下限値近傍になったとき
に、その下端部が半導体処理液10に接触しなくなるよ
うに長く形成され、他方の検出棒30は、タンク12内
の半導体処理液10の液面レベルが、所定の上限値近傍
になったときに、その下端部が半導体処理液10に接触
するように短く形成されている。
As shown in FIG. 1, in the tank 12, a mounting member 14 fixed to a wall surface near the opening of the tank 12 is used.
Two detection rods 20 and 30 are attached. One of these two detection rods 20 and 30 has a liquid level of the semiconductor processing liquid 10 in the tank 12 which is supplied by a pump 16 which supplies the semiconductor processing liquid 10 to a predetermined semiconductor processing step. The lower end portion is formed long so as not to come into contact with the semiconductor processing liquid 10 when it comes close to the lower limit that can be pumped out, and the other detection rod 30 has a liquid level of the semiconductor processing liquid 10 in the tank 12. The lower end portion is formed to be short so as to come into contact with the semiconductor processing liquid 10 when approaching the predetermined upper limit value.

【0026】また、各検出棒20,30の下端部には、
夫々、ヒータ付温度センサ22,32が配設され、各検
出棒20,30の取付け部材14近傍には、夫々、温度
センサ24,34が配設されている。そして、検出棒2
0に設けられた温度センサ22,24は、信号線26を
介して、検出回路28に接続され、検出棒30に設けら
れた温度センサ32,34は、信号線36を介して、検
出回路38に接続されている。
Further, at the lower end portions of the detection rods 20 and 30,
Heater-equipped temperature sensors 22 and 32 are provided respectively, and temperature sensors 24 and 34 are provided near the attachment members 14 of the respective detection rods 20 and 30. And the detection rod 2
The temperature sensors 22 and 24 provided at 0 are connected to the detection circuit 28 via the signal line 26, and the temperature sensors 32 and 34 provided at the detection rod 30 are provided at the detection circuit 38 via the signal line 36. It is connected to the.

【0027】なお、検出回路28,38は、タンク12
内への半導体処理液10の供給を制御するコントローラ
40に設けられており、コントローラ40側で、タンク
12内の半導体処理液10の液面レベルが下限値を下回
ったとき、図示しない半導体処理液供給ポンプの駆動を
開始し、タンク12内の半導体処理液10の液面レベル
が所定の上限値に達したときに、そのポンプの駆動を停
止して、タンク12内での半導体処理液10の量を、汲
出ポンプ16により汲み出し可能な量に制御するのに使
用される。
The detection circuits 28 and 38 are used for the tank 12
The semiconductor processing liquid 10 is provided in the controller 40 that controls the supply of the semiconductor processing liquid 10 into the inside, and when the liquid level of the semiconductor processing liquid 10 in the tank 12 falls below the lower limit value on the controller 40 side, the semiconductor processing liquid not shown When the supply pump is started to drive and the liquid level of the semiconductor processing liquid 10 in the tank 12 reaches a predetermined upper limit value, the pump is stopped to drive the semiconductor processing liquid 10 in the tank 12. The quantity is used to control the quantity that can be pumped by the pump 16.

【0028】次に、各検出棒20,30の下端部に設け
られたヒータ付温度センサ22,32は、図2(a)に
示す如く、白金又はニッケルの真空蒸着によって、セラ
ミック基板41の表面に、温度に応じて抵抗値が変化す
る抵抗パターンPRS、通電により発熱する発熱パターン
PRH、及びこれら各抵抗パターンPRS,PRHの両端に接
続された電極パターンPT1〜PT4を形成することにより
作製されている。そして、抵抗パターンPRSは、図2
(b)に示す如く、10μm程度の細い直線パターンを
交互に接続することにより形成されており、発熱パター
ンPRHは、図2(a)に示す如く、その抵抗パターンP
RSを3つに分割する2箇所に、抵抗パターンPRSの間に
食い込むように形成されている。
Next, as shown in FIG. 2A, the temperature sensors 22 and 32 with heaters provided at the lower ends of the respective detection rods 20 and 30 are formed on the surface of the ceramic substrate 41 by vacuum deposition of platinum or nickel. And a resistance pattern PRS whose resistance value changes according to temperature, a heat generation pattern PRH that generates heat by energization, and electrode patterns PT1 to PT4 connected to both ends of each of these resistance patterns PRS and PRH. There is. The resistance pattern PRS is shown in FIG.
As shown in FIG. 2B, it is formed by alternately connecting thin linear patterns of about 10 μm, and the heat generation pattern PRH has its resistance pattern P as shown in FIG. 2A.
It is formed so as to bite between the resistance patterns PRS at two locations where RS is divided into three.

【0029】また、各検出棒20,30の取付け部材1
4近傍に設けられた温度センサ24,34は、ヒータ付
温度センサ22,32と同様に、白金又はニッケルの真
空蒸着によって、セラミック基板41の表面に、温度に
応じて抵抗値が変化する抵抗パターンPRSと、その両端
に接続された電極パターンPT1,PT2を形成することに
より作製されている。つまり、温度センサ24,34
は、ヒータ付温度センサ22,32のセラミック基板4
1上から、発熱パターンPRHと、この両端に接続された
電極パターンPT3,PT4を取り除くことにより作製され
ている。
The mounting member 1 for each of the detection rods 20 and 30 is also provided.
Similar to the temperature sensors with heaters 22, 32, the temperature sensors 24, 34 provided in the vicinity of 4 have a resistance pattern in which the resistance value changes depending on the temperature on the surface of the ceramic substrate 41 by vacuum deposition of platinum or nickel. It is manufactured by forming PRS and electrode patterns PT1 and PT2 connected to both ends thereof. That is, the temperature sensors 24, 34
Is the ceramic substrate 4 of the temperature sensors 22 and 32 with heaters.
It is manufactured by removing the heat generation pattern PRH and the electrode patterns PT3 and PT4 connected to both ends of the heat generation pattern PRH from above.

【0030】一方、検出棒20,30は、図3(a)に
示す如く、ガラス管43と、その下端部を密閉するため
にガラス管43内に圧入されたゴム等の弾性材からなる
圧入シール45及びその周囲を被覆するガラスシール4
7とから構成されており、上記各温度センサ22及び2
4,32及び34は、そのシールされたガラス管43内
に設けられている。
On the other hand, the detection rods 20 and 30 are, as shown in FIG. 3A, a glass tube 43 and a press-fitting member made of an elastic material such as rubber which is press-fitted into the glass tube 43 to seal the lower end portion thereof. Seal 45 and glass seal 4 covering the periphery thereof
7 and each of the temperature sensors 22 and 2 described above.
4, 32 and 34 are provided in the sealed glass tube 43.

【0031】そして、検出棒20,30の下端部に設け
られるヒータ付温度センサ22,32は、圧入シール4
5の中心に穿設された孔から突出して設けられており、
その表面が直接ガラスシール47により被覆されてい
る。このため、ヒータ付温度センサ22,32は、検出
棒20,30の下端部が半導体処理液10に接触する
と、その温度に応じて抵抗値が速やかに変化することと
なる。
The temperature sensors 22 and 32 with heaters provided at the lower ends of the detection rods 20 and 30 are the press-fit seals 4
5 is provided so as to protrude from the hole formed at the center of
The surface thereof is directly covered with the glass seal 47. Therefore, when the lower ends of the detection rods 20 and 30 come into contact with the semiconductor processing liquid 10, the resistance values of the heater-equipped temperature sensors 22 and 32 change rapidly depending on the temperature.

【0032】なお、検出棒20,30をガラス管43に
より形成し、その下端部をガラスシール47にて被覆す
るようにしたのは、検出棒20,30自体が強酸である
半導体処理液10に接触して腐食するのを防止すると共
に、ヒータ付温度センサ22,32やその信号線を半導
体処理液10から保護するためである。
The detection rods 20 and 30 are formed by the glass tube 43 and the lower end portions thereof are covered with the glass seal 47 because the detection rods 20 and 30 themselves are strong acid in the semiconductor processing liquid 10. This is for preventing contact and corrosion and for protecting the temperature sensors 22 and 32 with heaters and their signal lines from the semiconductor processing liquid 10.

【0033】そして、このように検出棒20,30自体
やヒータ付温度センサ22,32等の半導体処理液10
による腐食を防止するには、ガラスの他、強酸に対する
耐食性を有するテフロンを用いることもできる。つま
り、例えば、図3(b)に示す如く、ガラス管43の下
端部にテフロン膜49を貼り付け、これをテフロンから
なる固定部材51でガラス管43の下端部に固定するよ
うにしても、検出棒20,30自体の腐食を防止して、
ヒータ付温度センサ22,32やその信号線を半導体処
理液10から保護することができる。なお、この場合、
ヒータ付温度センサ22,32は、温度検出精度を確保
するために、テフロン膜49に固定することが望まし
い。
As described above, the semiconductor processing liquid 10 such as the detection rods 20 and 30 themselves and the temperature sensors 22 and 32 with heaters is used.
In order to prevent the corrosion due to the above, besides glass, Teflon having a corrosion resistance against a strong acid may be used. That is, for example, as shown in FIG. 3B, a Teflon film 49 may be attached to the lower end of the glass tube 43 and fixed to the lower end of the glass tube 43 with a fixing member 51 made of Teflon. Prevent the corrosion of the detection rods 20 and 30 themselves,
The temperature sensors 22 and 32 with heaters and their signal lines can be protected from the semiconductor processing liquid 10. In this case,
It is desirable that the temperature sensors 22 and 32 with heaters be fixed to the Teflon film 49 in order to ensure temperature detection accuracy.

【0034】次に、検出回路28,38には、図4に示
す如く、ヒータ付温度センサ22,32の発熱パターン
PRHからなるヒータ素子RHに直流電源Bを接続して、
このヒータ素子RHに定電流を流し、ヒータ素子RHを
発熱させる定電流回路55が備えられている。
Next, in the detection circuits 28 and 38, as shown in FIG. 4, the DC power source B is connected to the heater element RH formed of the heating pattern PRH of the temperature sensors 22 and 32 with heaters.
A constant current circuit 55 is provided which causes a constant current to flow through the heater element RH to heat the heater element RH.

【0035】また、検出回路28,38には、ヒータ付
温度センサ22,32の抵抗パターンPRSからなるセン
サ素子RS1に抵抗器R1を接続すると共に、温度セン
サ24,34の抵抗パターンPRSからなるセンサ素子R
S2に抵抗器R2を接続し、更にその両端を互いに接続
することにより、ブリッジ回路を構成し、このブリッジ
回路の両端に電源電圧Vccを印加して、センサ素子R
S1と抵抗器R1との接続点電圧V1及びセンサ素子R
S2と抵抗器R2との接続点電圧V2をコンパレータC
P1にて比較することにより、検出棒の下端部が半導体
処理液10に接触しているときにのみ、コンパレータC
P1からHighレベルの判定信号が出力されて、スイッチ
ングトランジスタTR1が導通し、この導通により、抵
抗器R3を介して発光ダイオードD1に電流が流れて、
発光ダイオードD1が発光するように構成された判定回
路57が備えられている。またこの判定回路57には、
スイッチングトランジスタTR1の導通状態を表す検出
信号VSをコントローラ40内の制御回路に出力する出
力端子も設けられている。
In the detection circuits 28 and 38, the resistor R1 is connected to the sensor element RS1 formed of the resistance pattern PRS of the temperature sensors 22 and 32 with heaters, and the sensor formed of the resistance pattern PRS of the temperature sensors 24 and 34. Element R
A resistor R2 is connected to S2, and both ends thereof are connected to each other to form a bridge circuit, and a power supply voltage Vcc is applied to both ends of the bridge circuit, and the sensor element R
Connection point voltage V1 between S1 and resistor R1 and sensor element R
The voltage V2 at the connection point between S2 and the resistor R2 is compared with the comparator C.
By comparing with P1, the comparator C can be used only when the lower end of the detection rod is in contact with the semiconductor processing liquid 10.
A high-level determination signal is output from P1 and the switching transistor TR1 becomes conductive, and due to this conduction, a current flows through the light emitting diode D1 via the resistor R3,
A determination circuit 57 configured to cause the light emitting diode D1 to emit light is provided. Further, the determination circuit 57 includes
An output terminal for outputting the detection signal VS indicating the conduction state of the switching transistor TR1 to the control circuit in the controller 40 is also provided.

【0036】すなわち、本実施例の液面レベル検出装置
は、検出棒20,30の下端部に設けたヒータ付温度セ
ンサ22,32のヒータ素子RHを通電して、ヒータ付
温度センサ22,32のセンサ素子RS1を加熱するこ
とにより、検出棒20,30の下端部が半導体処理液1
0に接触していないときのセンサ素子RS1の抵抗値
が、温度センサ24,34のセンサ素子RS2の抵抗値
に比べて大きくなるようにすると共に、検出棒20,3
0の下端部が半導体処理液10に接触した場合に、下端
部が半導体処理液10の熱伝導により冷却されることに
より、センサ素子RS1の抵抗値が、センサ素子RS2
の抵抗値近傍まで大きく減少するようにし、その抵抗変
化をコンパレータCP1により判定することにより、半
導体処理液10の液面レベルが、検出棒20,30の下
端部より高いか否かを検出するようにされている。
That is, in the liquid level detecting device of the present embodiment, the heater elements RH of the heater-equipped temperature sensors 22 and 32 provided at the lower ends of the detection rods 20 and 30 are energized, and the heater-equipped temperature sensors 22 and 32 are energized. By heating the sensor element RS1 of FIG.
The resistance value of the sensor element RS1 when not in contact with 0 is set to be larger than the resistance value of the sensor element RS2 of the temperature sensors 24 and 34, and the detection rods 20 and 3 are connected.
When the lower end portion of 0 contacts the semiconductor processing liquid 10, the lower end portion is cooled by heat conduction of the semiconductor processing liquid 10, so that the resistance value of the sensor element RS1 becomes equal to the sensor element RS2.
The resistance level of the semiconductor processing liquid 10 is greatly decreased to the vicinity of the resistance value and the liquid crystal level of the semiconductor processing liquid 10 is detected to be higher than the lower end portions of the detection rods 20 and 30. Has been

【0037】以上説明したように、本実施例の液面レベ
ル検出装置においては、検出棒20,30の下端部の温
度変化から半導体処理液10の液面レベルを検出するた
め、従来のガス噴射方式の液面レベル検出装置のよう
に、半導体処理液10内に微小なゴミが混入することは
なく、半導体の不良率を低減することができる。また、
外気の圧力に影響されることなく液面レベルを検出する
ことができるため、半導体処理液10を収納するタンク
12が加圧タンクであっても、その液面レベルを正確に
検出することが可能である。また更に、本実施例の液面
レベル検出装置には、機械的な可動部がないため、可動
部の経時変化によって検出精度が変化するといったこと
はなく、装置の信頼性を向上できる。
As described above, in the liquid level detecting device of this embodiment, the liquid level of the semiconductor processing liquid 10 is detected from the temperature change of the lower end portions of the detection rods 20 and 30, so that the conventional gas injection method is used. Unlike the liquid level detection device of the type, a minute dust is not mixed into the semiconductor processing liquid 10, and the defect rate of the semiconductor can be reduced. Also,
Since the liquid level can be detected without being affected by the pressure of the outside air, the liquid level can be accurately detected even if the tank 12 storing the semiconductor processing liquid 10 is a pressurized tank. Is. Furthermore, since the liquid level detecting device of this embodiment does not have a mechanically movable part, the detection accuracy does not change due to a change with time of the movable part, and the reliability of the device can be improved.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明の液面レベ
ル検出装置においては、検出棒の下端部が液体に接触し
ている場合と液体に接触していない場合とで生じる温度
変化から液面レベルを検出するようにしている。このた
め従来のガス噴射方式の装置のように、検出時に、液体
内にゴミが混入することはなく、上記実施例のように半
導体処理液の液面レベルの検出に使用すれば、半導体の
不良率を低減することができるようになる。また、外気
の圧力変化に影響されることなく液面レベルを検出する
ことができるため、加圧タンク内に収納された液体であ
っても液面レベルを正確に検出することが可能になる。
また更に、本発明の液面レベル検出装置においては、機
械的な可動部がないため、可動部の経時変化によって検
出精度が変化するといったことはなく、装置の信頼性を
向上できる。
As described above in detail, in the liquid level detecting device of the present invention, from the temperature change caused when the lower end of the detection rod is in contact with the liquid and when it is not in contact with the liquid. The liquid level is detected. Therefore, unlike the conventional gas injection type device, dust is not mixed in the liquid at the time of detection, and if it is used for detecting the liquid level of the semiconductor processing liquid as in the above-mentioned embodiment, the semiconductor is defective. The rate can be reduced. Further, since the liquid level can be detected without being affected by the change in the pressure of the outside air, it is possible to accurately detect the liquid level even for the liquid stored in the pressurized tank.
Furthermore, in the liquid level detecting device of the present invention, since there is no mechanically movable part, the detection accuracy does not change due to a change with time of the movable part, and the reliability of the device can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 半導体処理液を収納したタンクに実施例の液
面レベル検出装置を取り付けた状態を表す説明図であ
る。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a state in which a liquid level detecting device of an embodiment is attached to a tank containing a semiconductor processing liquid.

【図2】 実施例のヒータ付温度センサの構成を表す説
明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a temperature sensor with a heater according to an embodiment.

【図3】 実施例の検出棒の下端部付近の構成を表す断
面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a configuration near a lower end portion of a detection rod according to an embodiment.

【図4】 実施例の検出回路の構成を表す電気回路図で
ある。
FIG. 4 is an electric circuit diagram showing a configuration of a detection circuit according to an embodiment.

【図5】 従来の液面レベル検出装置の構成及びその検
出方法を説明する説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a conventional liquid surface level detection device and a detection method thereof.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…半導体処理液 12…タンク 20,30…
検出棒 22,32…ヒータ付温度センサ(RS1…センサ素
子,RH…ヒータ素子) 24,34…温度センサ(RS2…センサ素子) 2
8,38…検出回路 41…セラミック基板 PRS…抵抗パターン PRH
…発熱パターン 43…ガラス管 45…圧入シール 47…ガラス
シール 49…テフロン膜 51…固定部材 55…定電流回路 57…判定回路
10 ... Semiconductor processing liquid 12 ... Tank 20, 30 ...
Detection rods 22, 32 ... Temperature sensor with heater (RS1 ... Sensor element, RH ... Heater element) 24, 34 ... Temperature sensor (RS2 ... Sensor element) 2
8, 38 ... Detection circuit 41 ... Ceramic substrate PRS ... Resistance pattern PRH
Heat generation pattern 43 Glass tube 45 Press fit seal 47 Glass seal 49 Teflon film 51 Fixing member 55 Constant current circuit 57 Judgment circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒井 太四郎 東京都品川区西五反田5丁目20番2号 日 本空圧システム株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Tashiro Arai 5-20-2 Nishigotanda, Shinagawa-ku, Tokyo Nihon Pneumatic Systems Co., Ltd.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液体を収納するタンク内に、液体の液面
に直交する方向に配設される長尺状の検出棒と、 該検出棒の下端部及び該下端部より上方の位置に夫々配
設された一対の温度センサと、 該一対の温度センサからの検出信号に基づき、上記検出
棒の下端部が液体に接触して液体の熱伝導により冷却さ
れているか否かを判定する判定回路と、 を備えたことを特徴とする液面レベル検出装置。
1. A long detection rod disposed in a tank for storing a liquid in a direction orthogonal to a liquid surface of the liquid, and a lower end portion of the detection rod and a position above the lower end portion, respectively. Based on a pair of temperature sensors provided and a detection signal from the pair of temperature sensors, a determination circuit for determining whether or not the lower end portion of the detection rod contacts the liquid and is cooled by heat conduction of the liquid And a liquid level detecting device.
【請求項2】 液体を収納するタンク内に、液体の液面
に直交する方向に配設される長尺状の検出棒と、 該検出棒の下端部に設けられ、加熱用のヒータを備えた
温度センサと、 上記検出棒の下端部を含む任意の位置に設けられた温度
センサと、 上記各温度センサからの検出信号に基づき、上記検出棒
の下端部が液体に接触して液体の熱伝導により冷却され
ているか否かを判定する判定回路と、 を備えたことを特徴とする液面レベル検出装置。
2. A long detection rod arranged in a direction orthogonal to a liquid surface of a liquid in a tank for storing the liquid, and a heater for heating provided at a lower end portion of the detection rod. Temperature sensor, a temperature sensor provided at an arbitrary position including the lower end portion of the detection rod, and the lower end portion of the detection rod comes into contact with the liquid based on the detection signals from the temperature sensors to heat the liquid. A liquid level detection device comprising: a determination circuit for determining whether or not the liquid is cooled by conduction.
【請求項3】 上記ヒータを備えた温度センサが、セラ
ミック基板上に、温度に応じて抵抗値が変化する抵抗パ
ターンを形成し、更に該抵抗パターンの間に、通電によ
り発熱する発熱パターンを形成することにより作製され
ていることを特徴とする請求項2に記載の液面レベル検
出装置。
3. A temperature sensor equipped with the above heater, on a ceramic substrate, a resistance pattern whose resistance value changes according to temperature is formed, and between the resistance patterns, a heating pattern for generating heat by energization is formed. The liquid level detecting device according to claim 2, wherein the liquid level detecting device is manufactured by
【請求項4】 上記検出棒が、 液体に対する耐食性を有する材料からなる長尺の管状部
材と、 同じく耐食性を有する材料からなり、該管状部材の下端
部を密閉して管状部材内部への液体の侵入を防止するシ
ール部材と、 を備え、上記一対の温度センサを、上記シール部材によ
り密閉された上記管状部材の内部に配設してなることを
特徴とする請求項1〜請求項3いずれか記載の液面レベ
ル検出装置。
4. The detection rod is made of a long tubular member made of a material having corrosion resistance to liquid, and also made of a material having corrosion resistance, and the lower end portion of the tubular member is sealed so that the liquid inside the tubular member is sealed. A seal member for preventing intrusion, wherein the pair of temperature sensors are arranged inside the tubular member sealed by the seal member. Liquid level detector described.
【請求項5】 上記検出棒の下端部に配設される温度セ
ンサを、上記シール部材に接合してなることを特徴とす
る請求項4に記載の液面レベル検出装置。
5. The liquid level detecting device according to claim 4, wherein a temperature sensor disposed at a lower end portion of the detection rod is joined to the seal member.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57118125A (en) * 1981-01-14 1982-07-22 Hitachi Ltd Temperature detector
JPS6039510A (en) * 1983-08-12 1985-03-01 Ngk Insulators Ltd Liquid level detecting element
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