JPH06102167A - 液中不純物測定装置 - Google Patents

液中不純物測定装置

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JPH06102167A
JPH06102167A JP4275369A JP27536992A JPH06102167A JP H06102167 A JPH06102167 A JP H06102167A JP 4275369 A JP4275369 A JP 4275369A JP 27536992 A JP27536992 A JP 27536992A JP H06102167 A JPH06102167 A JP H06102167A
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JP
Japan
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temperature
impurities
drying
liquid
atomizing
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Pending
Application number
JP4275369A
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English (en)
Inventor
Nobuhiko Fukushima
信彦 福嶋
Seiichi Inagaki
精一 稲垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON KAGAKU KOGYO KK
Nomura Micro Science Co Ltd
Nippon Chemical Industrial Co Ltd
Original Assignee
NIPPON KAGAKU KOGYO KK
Nomura Micro Science Co Ltd
Nippon Chemical Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 不純物濃度測定装置において低沸点の不純物
を測定できるようにすること。 【構成】 高圧空気を乾燥器12によって乾燥させ、低
温に温度制御された温度制御部20を介して乾燥管22
よりアトマイザ16からの液滴を乾燥させる。又乾燥管
12を通過した気体を高温の温度制御部21を介して乾
燥管23よりアトマイザ16からの液滴を乾燥させる。
制御部28によってバルブ14,24と15,25とを
切換えることにより、低温で乾燥させた場合の低沸点の
不純物と、高沸点の不純物とを独立して発生させる。そ
してCNC27を用いて夫々の不純物濃度を測定できる
ようにしたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は超純水等の液体中に含ま
れている微量の不揮発性不純物の濃度を測定する液中不
純物測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体、特に超LSIのウエハ処理過程
等の製造工程では洗浄工程が必要であり、洗浄時には不
純物を含まない超純水が用いられる。しかるに洗浄に用
いる超純水中に微量の微粒子や微生物,不揮発性不純物
等が含まれていると、洗浄後のウエハ上に不純物が残留
して析出し、微細なパターンの欠陥の原因となる。従っ
て超LSI等の半導体素子の製品の歩留りを向上するた
めには、超純水の純度を向上させることが要求されてい
る。
【0003】このような液中不純物を測定する測定装置
が例えば特開昭62−222145号に示されている。図2はこ
の不純物濃度測定装置の概略を示す図であり、容器1内
に被測定流体が保持されており、ポンプ2によってアト
マイザ3に送られる。又コンプレッサ4によって外部の
空気が吸引され、フィルタ5を介してアトマイザ3に送
られる。アトマイザ3は空気をダクトの開放端に吹き付
けることによって所定の粒径分布を有する液滴を発生さ
せている。そしてこれを加熱器6によって加熱する。こ
うすれば粒径分布の形状は一定でも液体に含まれる不揮
発性不純物の量に応じて粒子径が異なる分布の残渣群が
得られる。この残渣には固体成分だけでなく蒸発しなか
った液体成分も含まれる。これを所定の特性を有するC
NCカウンタ7を用いて残渣の数を計数することによっ
て不純物濃度を測定表示器8によって表示するものであ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来の液中不純物測定装置では、加熱器によって液滴
を高温で加熱するため沸点が低いアルコール等の不純物
も蒸発してしまい、残渣として残留することがない。図
3はこの被測定流体である超純水中の不純物の分布の一
例を示す図である。本図において超純水中の不純物には
図示のように微粒子,生菌,微量イオン,シリカ,有機
物や溶存酸素が含まれる。しかるに従来の液中不純物測
定装置では、低沸点の有機物が蒸発してしまうため図中
矢印Aで示すように高沸点の有機物は検出することがで
きるが、低沸点の有機物を含んだ不純物濃度を測定する
ことができないという欠点があった。
【0005】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、短時間で低沸点、高沸点の不純
物濃度を独立して測定できるようにすることを技術的課
題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は被測定液体を清
浄な高圧乾燥気体により所定の粒径分布を有する微小な
液滴群に霧化する霧化手段と、霧化手段より得られる微
小液滴を第1の設定温度の気体と混合することによって
乾燥させ、不揮発性不純物を析出させる第1の蒸発乾燥
手段と、霧化手段より得られる微小液滴を第1の設定温
度より高い第2の設定温度の気体と混合することによっ
て乾燥させ、不揮発性不純物を析出させる第2の蒸発乾
燥手段と、第1又は第2の蒸発乾燥手段より得られる析
出した微粒子の粒径を拡大し、所定の感度で粒子数を計
数する凝縮核カウンタと、第1,第2の蒸発乾燥手段を
切換える切換手段と、を具備することを特徴とするもの
である。
【0007】
【作用】このような特徴を有する本発明によれば、切換
手段によって第1の蒸発乾燥手段に切換えた状態で析出
した微粒子の粒径を拡大し、粒子数を計数して不純物濃
度を測定している。又第2の蒸発乾燥手段により第2の
設定温度以下の沸点を有する不純物を析出させて不純物
濃度を測定している。こうすれば低沸点の不純物を含む
全ての不純物濃度と高沸点の不純物濃度とを独立して測
定することができる。又その差によって低沸点の不純物
濃度が測定できることとなる。
【0008】
【実施例】図1は本発明の一実施例による液中の不純物
濃度測定装置の全体構成を示すブロック図である。本図
において圧力の高い空気をこの装置内に供給するために
ポンプ11が設けられる。ポンプ11より得られた空気
は乾燥器12,フィルタ13を介して一対のバルブ1
4,15及びアトマイザ16に供給される。アトマイザ
16には容器17よりダクトを介して測定対象となる液
体が供給される。アトマイザ16はポンプ11によって
得られた空気を使用して測定対象となる液を霧化する霧
化手段である。又バルブ14,15は後述する制御部に
よって交互に開閉が切換えられ、その流出側には流量計
18,19が夫々接続される。流量計18,19の流出
側には夫々温度制御部20,21が接続される。温度制
御部20は乾燥した空気の温度を第1の所定温度、例え
ば常温から50℃の範囲のいずれかの温度に制御するもの
である。又温度制御部21は流入する清浄な空気を第2
の所定温度、例えば 120℃又は 140℃の高温で安定な温
度になるように制御するものである。
【0009】これらの温度制御された空気は夫々乾燥管
22,23に与えられる。乾燥管22,23は例えば円
筒状の部材であって、その一端にアトマイザ16からの
噴霧液滴群、その近傍に乾燥した空気が流入するよう構
成され、これらを混合することによって液滴を蒸発・乾
燥させるものである。この乾燥管22,23は外部温度
の影響を受けないように断熱するものとし、乾燥管の外
周を断熱材で覆うようにしてもよい。ここで温度制御部
20,乾燥管22はアトマイザ16から得られる微小な
液滴を第1の設定温度で空気と混合することによって乾
燥させ、不揮発性不純物を析出させる第1の蒸発乾燥手
段であり、温度制御部21と乾燥管23とは微小な液滴
を第2の設定温度の気体と混合することによって乾燥さ
せ、不揮発性不純物を析出させる第2の蒸発乾燥手段を
構成している。
【0010】乾燥管22,23の流出側には夫々バルブ
24,25が設けられる。バルブ24,25も後述する
制御部より択一的に開閉されるものであって、その流出
側はいずれもメッシュ26に連結される。メッシュ26
は微小な粒子のブラウン運動によって特定の粒子径以下
の粒子をメッシュ内に付着させるフィルタであり、特定
粒径以上の粒子が凝縮核カウンタ(CNC)27に与え
られる。CNC27はこの微粒子を核として水又はアル
コール蒸気を付着させ粒径を拡大し、レーザ光の散乱等
によって粒子数を計数する装置である。このCNC27
より測定される粒子数は制御部28に与えられる。制御
部28はこの粒子数に応じて容器17内の液体の不純物
濃度を計測し、表示器29に表示するものである。又制
御部28には設定部30が接続される。設定部30はバ
ルブ14,15,24,25の開閉を設定するものであ
り、この入力信号が制御部28に与えられる。制御部2
8はこの信号に応じてバルブ14と24を開放し、バル
ブ15と25を閉じることによって低温の乾燥管22を
動作させる状態と、及びバルブ15,25を開放し1
4,24を閉じることによって高温の乾燥管23を動作
させる状態とに切換えるものであって、バルブ14,1
5,24,25と共に切換手段を構成している。
【0011】さて容器17内の液体に含まれる不純物は
図3に示すように微粒子や生菌,イオン,シリカに加え
て有機物(TOC),溶存酸素等が含まれる。この有機
物の中にはメタノール(沸点64.7℃),イソプロピルア
ルコール(沸点82.3℃)のように低沸点の有機物等の不
純物、酢酸(沸点 117.9℃)のように中間の沸点のも
の、オイレン酸(沸点 223℃)のように高沸点の不純物
が含まれる。従って高温の空気を用いて霧化した液滴を
乾燥させる場合には、低沸点の不純物は蒸発してしまい
測定対象とすることができなくなる。そこでこの発明で
は低沸点の不純物も測定できるようにバルブを用いて切
換えるようにしたものである。低温の空気によって乾燥
させる第1の乾燥管からの不純物濃度を測定する場合に
は、図3の例えばBに示す不純物が検出対象となる。又
高温の乾燥管23を通過する不純物濃度を測定する場合
には、図3(A)に示す不純物濃度が測定できる。この
ため低温の乾燥管22を用いる場合と高温の乾燥管23
を用いる場合の不純物濃度の差が、低沸点の不揮発性不
純物の濃度であると推定できることとなる。
【0012】ここで本実施例では温度制御部20,21
の設定温度を一定にするようにしているが、この温度設
定を外部から自由に設定できるようにしてもよい。こう
すれば設定温度の範囲に含まれる沸点を有する不純物の
濃度がバルブを切換えたときに得られる濃度差として得
られることとなる。
【0013】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、蒸発乾燥手段の温度を切換えることによって低沸
点,高沸点の不純物濃度と高沸点の不純物濃度とを独立
して測定することができる。従ってその差は低沸点の不
純物濃度となる。従って本発明によれば、低沸点を含む
不純物濃度を知ることができるだけでなく、不純物の分
布に対する知見を得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による液中不純物測定装置の
構成を示すブロック図である。
【図2】従来の液中不純物測定装置の構成を示す概略ブ
ロック図である。
【図3】液中不純物の分布を示すグラフである。
【符号の説明】
11 ポンプ 12 乾燥器 13 フィルタ 14,15,24,25 バルブ 16 アトマイザ 17 容器 18,19 流量計 20,22 温度制御部 22,23 乾燥管 26 メッシュ 27 CNC 28 制御部 29 表示器 30 設定部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定液体を清浄な高圧乾燥気体により
    所定の粒径分布を有する微小な液滴群に霧化する霧化手
    段と、 前記霧化手段より得られる微小液滴を第1の設定温度の
    気体と混合することによって乾燥させ、不揮発性不純物
    を析出させる第1の蒸発乾燥手段と、 前記霧化手段より得られる微小液滴を前記第1の設定温
    度より高い第2の設定温度の気体と混合することによっ
    て乾燥させ、不揮発性不純物を析出させる第2の蒸発乾
    燥手段と、 前記第1又は第2の蒸発乾燥手段より得られる析出した
    微粒子の粒径を拡大し、所定の感度で粒子数を計数する
    凝縮核カウンタと、 前記第1,第2の蒸発乾燥手段を切換える切換手段と、
    を具備することを特徴とする不純物濃度測定装置。
JP4275369A 1992-09-18 1992-09-18 液中不純物測定装置 Pending JPH06102167A (ja)

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JP4275369A JPH06102167A (ja) 1992-09-18 1992-09-18 液中不純物測定装置

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JP4275369A JPH06102167A (ja) 1992-09-18 1992-09-18 液中不純物測定装置

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JPH06102167A true JPH06102167A (ja) 1994-04-15

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JP4275369A Pending JPH06102167A (ja) 1992-09-18 1992-09-18 液中不純物測定装置

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JP (1) JPH06102167A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012037318A (ja) * 2010-08-05 2012-02-23 Japan Organo Co Ltd 液中粒子の計測装置及び計測方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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