JPH06101545B2 - Semiconductor device - Google Patents
Semiconductor deviceInfo
- Publication number
- JPH06101545B2 JPH06101545B2 JP61170519A JP17051986A JPH06101545B2 JP H06101545 B2 JPH06101545 B2 JP H06101545B2 JP 61170519 A JP61170519 A JP 61170519A JP 17051986 A JP17051986 A JP 17051986A JP H06101545 B2 JPH06101545 B2 JP H06101545B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- line drive
- drive circuit
- select line
- word select
- memory cell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関し、特にファーストイン・ファ
ーストアウト型メモリに関するものである。The present invention relates to a semiconductor device, and more particularly to a first-in / first-out type memory.
従来のリード用ワード選択線駆動回路及びライト用ワー
ド選択線駆動回路の配置について第2図に示す。この第
2図において半導体装置全体はマトリクス状に配置され
た2つのメモリセルアレイMCA1及びMCA2を有する場合を
示している。メモリセルアレイMCA1の両側にはリード用
ワード選択線駆動回路RS1及びライト用ワード選択線駆
動回路WS1が配置され、同様にメモリセルアレイMCA2の
両側にもリード用ワード選択線駆動回路RS2及びライト
用ワード選択線駆動回路WS2が配置されている。The layout of the conventional read word select line drive circuit and write word select line drive circuit is shown in FIG. In FIG. 2, the entire semiconductor device has a case where it has two memory cell arrays MCA1 and MCA2 arranged in a matrix. A read word select line drive circuit RS1 and a write word select line drive circuit WS1 are arranged on both sides of the memory cell array MCA1, and similarly, a read word select line drive circuit RS2 and a write word select are also provided on both sides of the memory cell array MCA2. A line drive circuit WS2 is arranged.
尚、リード用ワード選択線駆動回路RS1,RS2及びライト
用ワード選択線駆動回路WS1,WS2はそれぞれドライバ部D
R及びシフトレジスタ部SRを有する。更に第2図におい
て下側にはリード用ワード選択線駆動用クロック発生回
路RCKが配置され、リード用コントロール信号(クロッ
ク)RSG1及びRSG2はそれぞれリード用ワード選択線駆動
回路RS1及びRS2に接続されている。又、上側には、ライ
ト用ワード選択線駆動用クロック発生回路WCKが配置さ
れ、ライト用コントロール信号(クロック)WSG1及びWS
G2はそれぞれライト用ワード選択線駆動回路WS1及びWS2
に接続されている。The read word select line drive circuits RS1 and RS2 and the write word select line drive circuits WS1 and WS2 are respectively provided in the driver section D.
It has an R and a shift register section SR. Further, in FIG. 2, a read word select line drive clock generation circuit RCK is arranged on the lower side, and read control signals (clocks) RSG1 and RSG2 are connected to the read word select line drive circuits RS1 and RS2, respectively. There is. In addition, a write word select line drive clock generation circuit WCK is arranged on the upper side, and write control signals (clocks) WSG1 and WS
G2 is the write word select line drive circuits WS1 and WS2, respectively.
It is connected to the.
上述のように各メモリセルアレイMCA1及びMCA2それぞれ
の両側にリード用ワード選択線駆動回路及びライト用ワ
ード選択線駆動回路が配置されると、チップサイズが拡
大してしまい、更にリード用コントロール信号及びライ
ト用コントロール信号が多くなるので回路が複雑になっ
てしまうなどの不都合があった。As described above, when the read word selection line drive circuit and the write word selection line drive circuit are arranged on both sides of each memory cell array MCA1 and MCA2, the chip size is expanded, and the read control signal and write signal are further added. However, there are inconveniences such as the circuit becoming complicated because there are many control signals.
本発明の半導体装置は、マトリックス状に配置されたリ
ード用およびライト用のワード選択線とビット線とを有
する第1および第2のメモリセルアレイを有し、書き込
みおよび読み出しを非同期に行える機能を持つファース
トイン・ファーストアウト型メモリにおいて、前記第1
および第2のメモリセルアレイの両方に対するリード用
ワード選択線駆動回路と、前記第1および第2のメモリ
セルアレイの両方に対するライト用ワード選択線駆動回
路とを前記第1および第2のメモリセルアレイの間に配
置したことを特徴とする。A semiconductor device of the present invention has first and second memory cell arrays having read and write word select lines and bit lines arranged in a matrix, and has a function of asynchronously writing and reading. In the first-in first-out memory, the first
A read word select line drive circuit for both the first and second memory cell arrays and a write word select line drive circuit for both the first and second memory cell arrays between the first and second memory cell arrays. It is characterized by being placed in.
以下本発明の実施例を図について説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例による半導体装置である。第
1図において、第2図と同様、半導体装置全体はマトリ
クス状に配置された2つのメモリセルアレイMCA1,及びM
CA2を有する場合を示している。FIG. 1 shows a semiconductor device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, as in FIG. 2, the entire semiconductor device has two memory cell arrays MCA1 and MCA arranged in a matrix.
The case of having CA2 is shown.
メモリセルアレイMCA1及びMCA2の中央部にはリード用ワ
ード選択線駆動回路RS1及びライト用ワード選択線駆動
回路WS1が配置されている。尚リード用ワード選択線駆
動回路RS1及びライト用ワード選択線駆動回路WS1はそれ
ぞれドライバ部DR及びシルトレジスタ部SRを有する。更
に第1図において第2図と同様下側にはリード用ワード
選択線駆動用クロック発生回路RCKが配置されリード用
コントロール信号(クロック)RSG1は、リード用ワード
選択線駆動回路RS1に接続されている。又上側にはライ
ト用ワード選択線駆動用クロック発生回路WCKが配置さ
れライト用コントロール信号(クロック)WSG1は、ライ
ト用ワード選択線駆動回路WS1に接続されている。A read word select line drive circuit RS1 and a write word select line drive circuit WS1 are arranged in the center of the memory cell arrays MCA1 and MCA2. The read word selection line drive circuit RS1 and the write word selection line drive circuit WS1 have a driver section DR and a silt register section SR, respectively. Further, in FIG. 1, similarly to FIG. 2, a read word select line drive clock generation circuit RCK is arranged on the lower side, and a read control signal (clock) RSG1 is connected to the read word select line drive circuit RS1. There is. A write word select line drive clock generation circuit WCK is arranged on the upper side, and a write control signal (clock) WSG1 is connected to the write word select line drive circuit WS1.
以上説明したように、本発明によれば、シフトレジスタ
部SRをメモリセルMCA1及びMCA2で共用することができる
のでリード用ワード選択線駆動回路RS2及びライト用ワ
ード選択線駆動回路WS2が必要なくなる為、その分チッ
プサイズの縮少が可能になる。更にリード用ワード選択
線駆動回路RS2及びライト用ワード選択線駆動回路WS2へ
接続するリード用コントロール信号RSG2及びライト用コ
ントロール信号WSG2も必要なくなる為、回路も簡単にす
ることができる効果がある。As described above, according to the present invention, since the shift register section SR can be shared by the memory cells MCA1 and MCA2, the read word selection line drive circuit RS2 and the write word selection line drive circuit WS2 are unnecessary. Therefore, the chip size can be reduced accordingly. Further, since the read control signal RSG2 and the write control signal WSG2 connected to the read word selection line drive circuit RS2 and the write word selection line drive circuit WS2 are not necessary, the circuit can be simplified.
第1図は本発明の一実施例による半導体装置、第2図に
従来の半導体装置を示す。 MCA1,MCA2……メモリセルアレイ、RS1,RS2……リード用
ワード選択線駆動回路、WS1,WS2……ライト用ワード選
択線駆動回路、RSG1,RSG2……リード用コントロール信
号、WSG1,WSG2……ライト用コントロール信号、RCK……
リード用ワード選択線駆動用クロック発生回路、WCK…
…ライト用ワード選択線駆動用クロック発生回路。FIG. 1 shows a semiconductor device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a conventional semiconductor device. MCA1, MCA2 …… Memory cell array, RS1, RS2 …… Read word select line drive circuit, WS1, WS2 …… Write word select line drive circuit, RSG1, RSG2 …… Read control signal, WSG1, WSG2 …… Write Control signal for RCK ...
Read word select line drive clock generator, WCK ...
... Clock generation circuit for driving write word select line.
Claims (1)
びライト用のワード選択線とビット線とを有する第1お
よび第2のメモリセルアレイを有し、書き込みおよび読
み出しを非同期に行える機能を持つファーストイン・フ
ァーストアウト型メモリとしての半導体装置において、
前記第1および第2のメモリセルアレイの両方に対する
リード用ワード選択線駆動回路と、前記第1および第2
のメモリセルアレイの両方に対するライト用ワード選択
線駆動回路とを前記第1および第2のメモリセルアレイ
の間に配置したことを特徴とする半導体装置。1. A first-in having first and second memory cell arrays having read and write word selection lines and bit lines arranged in a matrix and having a function of asynchronously writing and reading.・ In the semiconductor device as a first-out type memory,
A read word select line drive circuit for both the first and second memory cell arrays;
And a write word select line drive circuit for both of the memory cell arrays, between the first and second memory cell arrays.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61170519A JPH06101545B2 (en) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61170519A JPH06101545B2 (en) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | Semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6327055A JPS6327055A (en) | 1988-02-04 |
JPH06101545B2 true JPH06101545B2 (en) | 1994-12-12 |
Family
ID=15906444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61170519A Expired - Lifetime JPH06101545B2 (en) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | Semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06101545B2 (en) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4156938A (en) * | 1975-12-29 | 1979-05-29 | Mostek Corporation | MOSFET Memory chip with single decoder and bi-level interconnect lines |
-
1986
- 1986-07-18 JP JP61170519A patent/JPH06101545B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6327055A (en) | 1988-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6091620A (en) | Multi-bank memory with word-line banking, bit-line banking and I/O multiplexing utilizing tilable interconnects | |
CN100543864C (en) | Stacked semiconductor memory device | |
US6249474B1 (en) | Semiconductor memory device for multi-bit or multi-bank architectures | |
KR970017611A (en) | Synchronous semiconductor memory device having multiple banks distributed within multiple memory arrays | |
US4796224A (en) | Layout for stable high speed semiconductor memory device | |
JP3850938B2 (en) | Semiconductor memory device | |
EP0031659B1 (en) | A semiconductor memory device having a memory matrix area and a plurality of peripheral circuits | |
US6738279B1 (en) | Multi-bank memory with word-line banking, bit-line banking and I/O multiplexing utilizing tilable interconnects | |
JPH0642536B2 (en) | Semiconductor memory device | |
JP2828955B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US6084819A (en) | Multi-bank memory with word-line banking | |
JPH01294295A (en) | Partial random access memory | |
JPH06101545B2 (en) | Semiconductor device | |
JPH0616359B2 (en) | Random access memory | |
JPH0582746A (en) | Semiconductor memory device | |
JPH08255479A (en) | Semiconductor storage device | |
US6628536B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US6278647B1 (en) | Semiconductor memory device having multi-bank and global data bus | |
JPH0245273B2 (en) | ||
JPH0695569B2 (en) | Gate array LSI device | |
JPH036596B2 (en) | ||
JP3222545B2 (en) | Semiconductor storage device | |
DE3683056D1 (en) | INTEGRATED SEMICONDUCTOR MEMORY AND INTEGRATED SIGNAL PROCESSOR WITH SUCH A MEMORY. | |
EP0811977B1 (en) | Semiconductor memory device having sense amplifier drivers disposed on center portion of cell array block | |
JPS6321279B2 (en) |