JPH0599983A - Testing apparatus - Google Patents
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- JPH0599983A JPH0599983A JP3353064A JP35306491A JPH0599983A JP H0599983 A JPH0599983 A JP H0599983A JP 3353064 A JP3353064 A JP 3353064A JP 35306491 A JP35306491 A JP 35306491A JP H0599983 A JPH0599983 A JP H0599983A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、周囲の条件等による試
験物の挙動等を試験する試験装置に関し、特に、電気部
品等の比較的小容積の被試験物を試験する試験装置に関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test apparatus for testing the behavior of a test object under ambient conditions and the like, and more particularly to a test apparatus for testing a test object having a relatively small volume such as an electric component.
【０００２】[0002]
【従来の技術】この種装置の典型的なものとしては、比
較的大容積の機器等を試験するためのいわゆる環境試験
装置があった。この環境試験装置は、周囲から隔絶され
た密閉構造を有しており、この密閉構造（容器）内に試
験すべき装置本体または装置ブロックを設置する。そし
て、この密閉容器内を所定の環境条件（温度、湿度等）
にするため強力な熱源及び冷熱源を必要とし、また湿度
試験を行うためにも強力な加湿手段と除湿手段を必要と
した。2. Description of the Related Art A typical example of this type of device is a so-called environmental test device for testing a device having a relatively large volume. This environmental testing device has a sealed structure isolated from the surroundings, and the device body or device block to be tested is installed in this sealed structure (container). Then, the inside of this closed container is subjected to predetermined environmental conditions (temperature, humidity, etc.)
Therefore, a strong heat source and a cold heat source were required, and a powerful humidifying means and dehumidifying means were also required to perform the humidity test.
【０００３】ところで、近年、プリント基板に実装され
た回路ブロック等の比較的小さな容積の被試験物の環境
試験をしたいと云った要求がある。この場合、上述した
大型の環境試験装置では効率が悪く不向きであった。そ
こで、従来においては、一点に冷気を吹き付けて温度を
下げるピンスポットクーラーや、ドライヤーと同様な構
成により一点に熱風を吹き付けて温度を上げる方法で行
っていた。また、別の従来の方法として、密閉容器の容
量を小さくした小型の試験装置も提案されている。By the way, in recent years, there has been a demand for an environmental test of a test object having a relatively small volume such as a circuit block mounted on a printed circuit board. In this case, the above-mentioned large-scale environmental test device is inefficient and unsuitable. Therefore, conventionally, a method has been used in which hot air is blown to one point to raise the temperature by a structure similar to a pin spot cooler or a dryer that blows cool air to one point to lower the temperature. Further, as another conventional method, a small-sized test device in which the capacity of the closed container is reduced has been proposed.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の第１の方法では、単に、冷気を吹き付けたり、
熱風を吹き付けたりするだけであるので、温度管理が何
らなされず、このため、環境条件を一定に保持すること
ができないといった不都合があった。また、第２の小型
試験装置では、小容積の被試験物に適しているとはい
え、大型の試験装置と同様に、恒温槽内部に配設された
ヒーター、温度センサあるいは冷却用ノズルと恒温槽外
部に配設されたヒーター、センサケーブルあるいは冷却
用ホースとが直結された構造、すなわち断熱容器が常時
本体に接続された構造となっているため、被試験物の形
状にあった断熱容器を選択することができず、例えば小
容積の被試験物であっても、プリント基板に実装された
ＩＣ等、回路ブロックと比較してきわめて小さくて、か
つ、大幅に試験条件が異なる被試験物の場合には、依然
として効率が悪いといった欠点がある。また、従来の試
験装置は、窓が開閉扉側に設けられているのみであるた
め、一方向からしか観察することができず、観察が部分
的なものとなり完全な観察ができないといった不都合が
あった。また、容器内の採光も窓からの部分採光に頼ら
ざるをえなく、このため容器内が観察するには充分な照
度が得られないといった問題もあった。However, in the above-mentioned first conventional method, cold air is simply blown,
Since only hot air is blown, there is no temperature control, and there is a disadvantage that environmental conditions cannot be kept constant. In addition, although the second small-sized test apparatus is suitable for a small-volume test object, the heater, the temperature sensor, or the cooling nozzle and the constant-temperature installed inside the constant-temperature bath are used in the same manner as the large-sized test apparatus. Since the heater, sensor cable or cooling hose arranged outside the tank is directly connected, that is, the heat insulating container is always connected to the main body, the heat insulating container suitable for the shape of the DUT should be used. It is not possible to select, for example, an object to be tested with a small volume, which is extremely small compared to a circuit block such as an IC mounted on a printed circuit board and whose test conditions are significantly different. In this case, there is a drawback that the efficiency is still low. Further, in the conventional test apparatus, since the window is only provided on the opening / closing door side, it is possible to observe from only one direction, and there is a disadvantage that the observation becomes partial and complete observation is not possible. It was In addition, there is a problem in that the light in the container has to rely on the partial light from the window, and therefore, sufficient illuminance cannot be obtained for observing the inside of the container.
【０００５】したがって、本発明は上記した従来の不都
合、問題あるいは欠点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、被試験物の大小あるいは試験条
件の違いによって最適な断熱容器が選択でき、もって効
率のよい試験ができる試験装置を提供することにある。
また、別の目的とするところは、容器のあらゆる角度か
ら観察できると共に、観察に充分な照度が得られるよう
にして、もって被試験物の観察を詳細にかつ完全に行え
るようにした試験装置を提供することにある。Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional inconveniences, problems or drawbacks, and an object thereof is to select an optimum heat insulating container depending on the size of the object to be tested or the difference in the test conditions. An object of the present invention is to provide a test apparatus capable of performing efficient tests.
Another object is to provide a test device that allows observation from all angles of the container, and that provides sufficient illuminance for observation so that the DUT can be observed in detail and completely. To provide.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係る試験装置は、被試験物を覆う容器と、
この容器内に配設されこの容器の内部の状態を検出する
状態検出手段と、前記容器内に配設されこの容器内を所
定の状態に維持する状態維持手段と、前記容器外に配設
され前記状態検出手段の検出情報に基づき前記状態維持
手段を作動させる制御手段と、この制御手段と前記状態
検出手段および状態維持手段とを着脱自在に結合する結
合手段とを備え、前記容器を密閉保持構造としたもので
ある。また、本発明に係る試験装置は、被試験物を覆う
容器と、この容器内に配設されこの容器の内部の状態を
検出する状態検出手段と、前記容器内に配設されこの容
器内を所定の状態に維持する状態維持手段と、前記容器
外に配設され前記状態検出手段の検出情報に基づき前記
状態維持手段を作動させる制御手段と、この制御手段と
前記状態検出手段および状態維持手段とを着脱自在に結
合する結合手段とを備え、前記容器の底面に開口部を設
けたものである。また、本発明に係る試験装置は、被試
験物を覆う容器と、この容器内に配設されこの容器の内
部の状態を検出する状態検出手段と、前記容器内に配設
されこの容器内を所定の状態に維持する状態維持手段
と、前記容器外に配設され前記状態検出手段の検出情報
に基づき前記状態維持手段を作動させる制御手段とを備
え、前記容器を透明部材で形成したものである。In order to achieve this object, a test apparatus according to the present invention comprises a container for covering an object to be tested,
State detecting means disposed inside the container for detecting an internal state of the container, state maintaining means disposed inside the container for maintaining the inside of the container in a predetermined state, and disposed outside the container. The container is hermetically held by the control means for operating the state maintaining means based on the detection information of the state detecting means, and the connecting means for detachably connecting the control means with the state detecting means and the state maintaining means. It is structured. Further, the test apparatus according to the present invention includes a container that covers the DUT, a state detection unit that is disposed in the container and detects an internal state of the container, and a state detection unit that is disposed in the container. State maintaining means for maintaining a predetermined state, control means arranged outside the container for operating the state maintaining means based on detection information of the state detecting means, the control means, the state detecting means and the state maintaining means. And a coupling means for removably coupling the container with an opening provided on the bottom surface of the container. Further, the test apparatus according to the present invention includes a container that covers the DUT, a state detection unit that is disposed in the container and detects an internal state of the container, and a state detection unit that is disposed in the container. The container is formed of a transparent member, which is provided with state maintaining means for maintaining a predetermined state and control means arranged outside the container to operate the state maintaining means based on detection information of the state detecting means. is there.
【０００７】[0007]
【作用】本発明においては、結合手段の着脱により、断
熱容器のみが交換される。また、本発明においては、容
器を透明部材で形成したので、容器内の被試験物の挙動
が監視される。In the present invention, only the heat insulating container is replaced by attaching and detaching the connecting means. Further, in the present invention, since the container is formed of the transparent member, the behavior of the DUT in the container is monitored.
【０００８】[0008]
【実施例】図１は、本発明に係る試験装置の実施例を示
す概略構成図である。図１に示す試験装置は、電気部品
等を試験するために特に適した装置に係わるものであ
る。図中、１１は温度設定器、１２は制御回路、１３は
バルブ、１４はフレキシブルパイプ、１５は断熱容器、
１６は温度センサ、１７はヒーター、２１は被試験部品
である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of a test apparatus according to the present invention. The test device shown in FIG. 1 relates to a device which is particularly suitable for testing electrical components and the like. In the figure, 11 is a temperature setter, 12 is a control circuit, 13 is a valve, 14 is a flexible pipe, 15 is a heat insulating container,
Reference numeral 16 is a temperature sensor, 17 is a heater, and 21 is a component under test.
【０００９】被試験部品２１は例えば線材等により、図
示しない電源または信号源等に接続されいわゆる実動作
が可能に構成されている。The component under test 21 is connected to a power source or a signal source (not shown) by, for example, a wire or the like, and is configured to be capable of actual operation.
【００１０】試験装置の断熱容器１５としては、例えば
５０mm立方の大きさの１面に開口扉１８が設けられたも
のを使用する。この開口扉１８を開けて被試験部品２１
を断熱容器１５内に収納し、開口扉１８を閉めることに
より被試験部品２１を密閉状態とする。As the heat insulating container 15 of the test device, for example, one having an opening door 18 provided on one surface having a size of 50 mm cubic is used. This opening door 18 is opened and the component under test 21 is opened.
Is stored in the heat insulating container 15 and the opening door 18 is closed to put the component under test 21 in a sealed state.
【００１１】この断熱容器１５内にはヒーター１７が設
置されるとともにバルブ１３を有した折り曲げ可能なフ
レキシブルパイプ１４を介して例えばＬＣＯ2 ボンベか
ら冷気が導入される構成を有している。制御回路１２に
よりこの断熱容器１５内を所定の温度（この温度は温度
設定器１１を用いて使用者が所定の温度に設定する。）
に加熱または冷却するため前記ヒーター１７またはバル
ブ１３が制御される。A heater 17 is installed in the heat insulating container 15, and cold air is introduced from, for example, an LCO 2 cylinder through a bendable flexible pipe 14 having a valve 13. A predetermined temperature is set inside the heat insulating container 15 by the control circuit 12 (this temperature is set to a predetermined temperature by the user using the temperature setting device 11).
The heater 17 or the valve 13 is controlled for heating or cooling.
【００１２】さらに、前記断熱容器１５内には状態検出
センサとしての温度センサ１６が設置されており、容器
１５内の温度を検出し、その検出結果を制御回路１２に
伝達する。制御回路１２においては、温度センサ１６の
検出結果に基づき被試験物の試験条件と合致するよう
に、ヒーター１７とバルブ１３との作動を制御する信号
を送出する。図５は、被試験物がＩＣの場合の温度サイ
クルの試験条件を示す図であり、被試験物は、試験装置
によって、断熱容器１５内において、この図に示された
時間経過に対する温度環境が保持される。Further, a temperature sensor 16 as a state detecting sensor is installed in the heat insulating container 15, detects the temperature in the container 15, and transmits the detection result to the control circuit 12. The control circuit 12 sends a signal for controlling the operation of the heater 17 and the valve 13 so as to match the test condition of the DUT based on the detection result of the temperature sensor 16. FIG. 5 is a diagram showing the test conditions of the temperature cycle when the DUT is an IC, and the DUT has a temperature environment in the heat insulating container 15 with respect to the passage of time shown in this figure by the test apparatus. Retained.
【００１３】制御回路１２と断熱容器１５内のヒーター
１７及び温度センサ１６との接続は図示しないコネクタ
により着脱自在とし、またフレキシブルパイプ１４と断
熱容器１５との接続、フレキシブルパイプ１４と冷熱源
との接続も着脱可能な図示しない接続子を介して接続す
る。そして、種々の形状及び大きさの断熱容器１５と冷
熱源とを用意する。このように構成することにより、試
験すべき電気部品に応じて断熱容器１５と冷熱源とを適
宜選択することができる。The control circuit 12 and the heater 17 and the temperature sensor 16 in the heat insulating container 15 can be connected and disconnected by a connector (not shown), and the flexible pipe 14 and the heat insulating container 15 can be connected and the flexible pipe 14 and the cold heat source can be connected. The connection is also made via a connector (not shown) that is removable. Then, the heat insulating container 15 and the cold heat source having various shapes and sizes are prepared. With this configuration, the heat insulating container 15 and the cold heat source can be appropriately selected according to the electric component to be tested.
【００１４】上述のようにして、断熱容器１５内が所定
の温度に達すると、使用者は被試験部品２１を実動作さ
せる。この被試験部品２１には、駆動回路とオシロスコ
ープ等の他の試験装置のプローブが接続されており、被
試験部品２１が所定の温度環境にある時の挙動が測定さ
れる。As described above, when the inside of the heat insulating container 15 reaches a predetermined temperature, the user actually operates the component under test 21. A drive circuit and a probe of another test device such as an oscilloscope are connected to the component under test 21, and the behavior of the component under test 21 in a predetermined temperature environment is measured.
【００１５】なお、この発明の実施例装置においては、
冷熱源としてＬＣＯ2 等を直接断熱容器１５内に導入す
る構成としたが、コンプレッサを使用する形式としても
よく、また設定する温度に応じて例えばＬＮ2、ＬＯ2を
使用することも可能である。In the apparatus of the embodiment of the present invention,
Although LCO 2 or the like is directly introduced into the heat insulating container 15 as a cold heat source, a compressor may be used, or LN 2 or LO 2 may be used depending on the set temperature. ..
【００１６】図２は本発明に係る試験装置の第２の実施
例を示す概略外観図である。この第２の実施例において
は、冷気を直接断熱容器１５内に導入するのではなく、
断熱容器１５の内面に冷気が通る冷却パイプ２３を設置
したものである。FIG. 2 is a schematic external view showing a second embodiment of the test apparatus according to the present invention. In this second embodiment, instead of directly introducing cold air into the heat insulating container 15,
A cooling pipe 23 through which cold air passes is installed on the inner surface of the heat insulating container 15.
【００１７】図３は本発明に係る試験装置の第３の実施
例の側断面図である。同図において、３０は厚肉円筒状
の断熱容器で、底面に開口部３０ａを有し、クッション
材３０ｂが取り付けられ、外側面にヒーター、センサ用
おす型コネクタ３１と冷却ホース用ステム３２が取り付
けられている。断熱容器３０内に配設された温度センサ
３３およびシートヒーター３４は、コネクタ３１から断
熱容器３０内を導出されたケーブル３３ａ、３４ａにそ
れぞれ接続されている。断熱容器３０内に配設された冷
却ノズル３５は、ステム３２から断熱容器３０内を導出
された配管３５ａの先端に取り付けられている。FIG. 3 is a side sectional view of a third embodiment of the test apparatus according to the present invention. In the figure, reference numeral 30 is a thick-walled cylindrical heat insulating container having an opening 30a on the bottom surface, a cushion material 30b attached thereto, and a heater, a male connector for sensor 31 and a stem 32 for cooling hose attached on the outer surface. Has been. The temperature sensor 33 and the seat heater 34 arranged in the heat insulating container 30 are connected to cables 33a and 34a led out of the heat insulating container 30 from the connector 31, respectively. The cooling nozzle 35 arranged in the heat insulating container 30 is attached to the tip of a pipe 35 a led out of the heat insulating container 30 from the stem 32.
【００１８】３６は、めす型コネクタで、前記おす型コ
ネクタ３１に螺合させて取り付け、解除することによっ
て取り外すことができるように構成されて、着脱自在と
なっており、ヒーター、センサケーブル３６ａが導出さ
れている。また、このヒーター、センサケーブル３６ａ
は図示しない制御回路に接続されている。３７は、冷却
ホース用ボディで、前記ステム３２にスリーブ３７ｂを
スライドさせて取り付け、取り外すときは再びスリーブ
３７ｂをスライドさせる。冷却用ボディ３７には冷却ホ
ース３７ａが導出されている。A female connector 36 is constructed so that it can be detached by screwing it onto the male connector 31 and attaching and releasing it. It is detachable, and the heater and sensor cable 36a are Has been derived. Also, this heater and sensor cable 36a
Is connected to a control circuit (not shown). Reference numeral 37 is a body for a cooling hose, in which the sleeve 37b is slid and attached to the stem 32, and when detached, the sleeve 37b is slid again. A cooling hose 37 a is led out to the cooling body 37.
【００１９】このような構成において、図３に示すよう
に電子部品をプリント基板に実装したものを試験する場
合には、試験するＩＣ３９に開口部３０ａを合わせて、
断熱容器３０を被せて行う。この場合、内径Ｄ、シート
ヒーター３４のヒーター容量あるいは冷却ホースの冷却
出力が種々異なる断熱容器３０を用意しておき、これら
の中から被試験物であるＩＣ３９の形状、容積あるいは
試験条件に合わせた断熱容器３０を選択して、めす型コ
ネクタ３６と冷却ボディ３７とにおす型コネクタ３１と
ステム３２とを取り付ける。With such a structure, when an electronic component mounted on a printed circuit board is tested as shown in FIG. 3, the opening 30a is aligned with the IC 39 to be tested.
This is performed by covering the heat insulating container 30. In this case, the heat insulating container 30 having various inner diameters D, the heater capacity of the seat heater 34 or the cooling output of the cooling hose is prepared, and the shape, the volume or the test condition of the IC 39 as the test object is selected from among these. The heat insulating container 30 is selected, and the female connector 36, the male connector 31 and the stem 32 are attached to the cooling body 37.
【００２０】このように、被試験物に合わせて断熱容器
を選択することにより、被試験物にあった効率のよい試
験を行うことができる。また、開口部を有しているの
で、プリント基板等に実装されている電子部品等の試験
を行う場合にも好適である。また、断熱容器３０は円筒
状を呈しているので、熱の伝達がよく、かつ内周面に貼
着するシートヒーター３４を折り曲げずに貼着すること
ができる。なお、本実施例では、プリント基板３８に実
装した電子部品３９の試験方法を示したが、これに限定
されず、例えばトランスやトランジスタ等の発熱部品に
隣接する個所に実装するプリント基板について、発熱部
品からプリント基板が受ける影響を調べる場合に、前述
した発熱部品の代わりに、本発明の断熱容器自体を発熱
部品としてみなして使用することができ、この場合に
は、プリント基板を装置に実装することなく試験するこ
とが可能となる。As described above, by selecting the heat insulating container according to the object to be tested, it is possible to perform an efficient test suitable for the object to be tested. In addition, since it has an opening, it is suitable for testing electronic components mounted on a printed circuit board or the like. Further, since the heat insulating container 30 has a cylindrical shape, it has good heat transfer and can be attached without bending the sheet heater 34 attached to the inner peripheral surface. Although the method of testing the electronic component 39 mounted on the printed circuit board 38 is shown in this embodiment, the present invention is not limited to this, and the printed circuit board mounted at a location adjacent to a heat generating component such as a transformer or a transistor may generate heat. When examining the influence of the components on the printed circuit board, the heat insulating container itself of the present invention can be regarded and used as the heat generating component instead of the heat generating component described above. In this case, the printed circuit board is mounted on the device. It is possible to test without.
【００２１】図４は本発明の第４の実施例の側断面図で
ある。同図において、４１は半円球状を呈した断熱容器
で、断熱容器４１は、透明ガラスあるいは透明樹脂から
なる外装部４２、内装部４３と透明ガラス繊維からなる
断熱層４５を有する真空部４４とからなり、底面に開口
部４６を有して一体成形で形成されている。断熱容器４
１の内周面には、先端が容器４１の中心部に向いた冷却
用ノズル４８が配設され、また容器４１の内周面上部に
は、温度センサ５０が、また内周面側部には透明なシー
トヒーター５１がそれぞれ貼着されている。FIG. 4 is a side sectional view of the fourth embodiment of the present invention. In the figure, 41 is a heat insulating container having a semi-spherical shape. The heat insulating container 41 includes an exterior part 42 made of transparent glass or transparent resin, a vacuum part 44 having an interior part 43 and a heat insulating layer 45 made of transparent glass fiber. And has an opening 46 on the bottom surface and is integrally formed. Insulation container 4
A cooling nozzle 48 having a tip facing the center of the container 41 is provided on the inner peripheral surface of the container 1, and a temperature sensor 50 is provided on the upper portion of the inner peripheral surface of the container 41, and on the inner peripheral surface side. A transparent sheet heater 51 is attached to each.
【００２２】これら冷却ノズル４８および温度センサ５
０、シートヒーター５１は容器４１の内周面を這わせた
冷却ホース４９およびセンサ、ヒーターケーブル５２に
接続され、スリーブ５４によって束ねられリング５６か
ら外部に導出される。円環状のクッション材からなるリ
ング５６は、アンダーカット状に形成した嵌合凸部５６
ａの弾性変形を利用して容器４１の底面部に着脱自在と
しており、容器４１に取付けることにより、容器４１を
被試験物に覆ったときに容器の密閉性を確保している。
容器４１の外部に導出された冷却ホース９およびセン
サ、ヒーターケーブル１２は、第１の実施例と同様に、
バルブ１３と制御回路１２とにそれぞれ接続されて、温
度設定器１１で設定された温度に容器４１内が制御され
る。These cooling nozzle 48 and temperature sensor 5
0, the seat heater 51 is connected to the cooling hose 49, the sensor, and the heater cable 52, which extend along the inner peripheral surface of the container 41, is bundled by the sleeve 54, and is led out from the ring 56. The ring 56 made of an annular cushion material has a fitting protrusion 56 formed in an undercut shape.
By utilizing the elastic deformation of a, it can be attached to and detached from the bottom surface of the container 41. By attaching the container 41 to the container 41, the tightness of the container is ensured when the container 41 is covered with the DUT.
The cooling hose 9, the sensor, and the heater cable 12 led out of the container 41 are the same as those in the first embodiment.
The inside of the container 41 is controlled to the temperature set by the temperature setting device 11 by being connected to the valve 13 and the control circuit 12, respectively.
【００２３】このような構成において、図４に示すよう
に電子部品をプリント基板に実装したものを試験する場
合には、試験するＩＣ３９に容器１の開口部４６を合わ
せて、リング５６をプリント基板３８上に密着させて載
置する。容器１内で試験されているＩＣ３９の挙動は容
器４１が透明部材で形成され、容器４１の内周面に貼着
されたシートヒーター５１が透明であるため、容器４１
のあらゆる角度から観察することができる。また、外部
照明が透明容器４１から採光されるので、容器４１内は
観察するのに充分な照度が得られる。また、容器４１は
半円球状をしているので、どの角度の観察位置からも被
試験物の距離がほぼ同一となると共に、観察の障害とな
る稜線がなく、このため、あらゆる角度からの観察を同
条件で行うことができる。With such a structure, when an electronic component mounted on a printed circuit board is tested as shown in FIG. 4, the opening 46 of the container 1 is aligned with the IC 39 to be tested, and the ring 56 is attached to the printed circuit board. Place it in close contact with 38. Regarding the behavior of the IC 39 being tested in the container 1, the container 41 is formed of a transparent member, and the sheet heater 51 attached to the inner peripheral surface of the container 41 is transparent.
Can be observed from all angles. Further, since the external illumination is taken from the transparent container 41, sufficient illuminance for observation can be obtained inside the container 41. Further, since the container 41 has a hemispherical shape, the distance to the DUT from the observation position at any angle is almost the same, and there is no ridge line that obstructs the observation. Can be performed under the same conditions.
【００２４】[0024]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
容器内に配設された容器内の状態を検出する状態検出手
段および容器内を所定の状態に維持する状態維持手段
と、容器外に配設された制御手段とを着脱自在に結合す
るようにしたので、被試験物の形状、容積あるいは試験
条件に応じて容器を交換でき、このため効率のよい試験
を行うことができ、特に小型の被試験物に適用されて最
適な試験装置を提供することができる。As described above, according to the present invention,
A state detecting means for detecting a state inside the container and a state maintaining means for maintaining the inside of the container in a predetermined state, and a control means arranged outside the container are detachably coupled. As a result, the container can be exchanged according to the shape, volume or test conditions of the DUT, and therefore efficient testing can be performed, and an optimal test device is provided especially for small DUTs. be able to.
【００２５】また、容器の底面に開口部を設け、被試験
物がプリント基板に実装されていても被試験物のみを試
験することができるようにしたので、効率のよい試験を
行うことができる効果がある。また、被試験物を覆う容
器を透明部材で形成したので、被試験物の挙動を容器の
あらゆる角度から観察でき、しかも、容器の外部照明が
透明容器から採光されるので、容器内は観察するのに充
分な照度が得られる効果がある。Further, since an opening is provided on the bottom surface of the container so that only the DUT can be tested even if the DUT is mounted on the printed circuit board, an efficient test can be performed. effective. Also, since the container covering the DUT is made of a transparent member, the behavior of the DUT can be observed from all angles of the container, and the external illumination of the container is illuminated from the transparent container, so the inside of the container is observed. There is an effect that sufficient illuminance can be obtained.
【図１】本発明に係る試験装置の概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a test apparatus according to the present invention.
【図２】本発明に係る試験装置の第２の実施例の概略構
成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a second embodiment of the test apparatus according to the present invention.
【図３】本発明に係る試験装置の第３の実施例の側断面
図である。FIG. 3 is a side sectional view of a third embodiment of the test apparatus according to the present invention.
【図４】本発明に係る試験装置の第４の実施例の側断面
図である。FIG. 4 is a side sectional view of a fourth embodiment of the test apparatus according to the present invention.
【図５】一般的な試験装置における温度環境試験の温度
サイクルの一例である。FIG. 5 is an example of a temperature cycle of a temperature environment test in a general test apparatus.
１２ 制御回路 １５ 断熱容器 １６ 温度センサ １７ ヒーター ２１ 被試験部品 ２３ 冷却パイプ ３０ 断熱容器 ３１ おす型コネクタ ３２ ステム ３３ 温度センサ ３４ シートヒーター ３５ 冷却ノズル ３６ めす型コネクタ ３７ ボディ ３９ ＩＣ ４１ 断熱容器 ４８ 冷却ノズル ５０ 温度センサ ５１ シートヒーター 12 Control Circuit 15 Insulation Container 16 Temperature Sensor 17 Heater 21 Parts Under Test 23 Cooling Pipe 30 Insulation Container 31 Male Connector 32 Stem 33 Temperature Sensor 34 Seat Heater 35 Cooling Nozzle 36 Female Connector 37 Body 39 IC 41 Insulation Container 48 Cooling Nozzle 50 Temperature sensor 51 Seat heater
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 飯野 欽三 神奈川県横浜市戸塚区品濃町503番10号 グラフテツク株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Kinzo Iino 503-10 Shinanomachi, Totsuka-ku, Yokohama, Kanagawa Prefecture Graphtec Co., Ltd.
Claims (3)
設されこの容器の内部の状態を検出する状態検出手段
と、前記容器内に配設されこの容器内を所定の状態に維
持する状態維持手段と、前記容器外に配設され前記状態
検出手段の検出情報に基づき前記状態維持手段を作動さ
せる制御手段と、この制御手段と前記状態検出手段およ
び状態維持手段とを着脱自在に結合する結合手段とを備
え、前記容器を密閉保持構造としたことを特徴とする試
験装置。1. A container for covering an object to be tested, a state detecting means arranged in the container for detecting an internal state of the container, and arranged in the container to maintain the inside of the container in a predetermined state. State maintaining means, control means arranged outside the container for operating the state maintaining means based on detection information of the state detecting means, and the control means and the state detecting means and the state maintaining means are detachable. A test apparatus comprising a connecting means for connecting, and having a sealed holding structure for the container.
設されこの容器の内部の状態を検出する状態検出手段
と、前記容器内に配設されこの容器内を所定の状態に維
持する状態維持手段と、前記容器外に配設され前記状態
検出手段の検出情報に基づき前記状態維持手段を作動さ
せる制御手段と、この制御手段と前記状態検出手段およ
び状態維持手段とを着脱自在に結合する結合手段とを備
え、前記容器の底面に開口部を設けたことを特徴とする
試験装置。2. A container for covering an object to be tested, a state detecting means arranged in the container for detecting an internal state of the container, and arranged in the container to maintain the inside of the container in a predetermined state. State maintaining means, control means arranged outside the container for operating the state maintaining means based on detection information of the state detecting means, and the control means and the state detecting means and the state maintaining means are detachable. A test device comprising: a connecting means for connecting, and an opening is provided on a bottom surface of the container.
設されこの容器の内部の状態を検出する状態検出手段
と、前記容器内に配設されこの容器内を所定の状態に維
持する状態維持手段と、前記容器外に配設され前記状態
検出手段の検出情報に基づき前記状態維持手段を作動さ
せる制御手段とを備え、前記容器を透明部材で形成した
ことを特徴とする試験装置。3. A container for covering an object to be tested, a state detecting means arranged in the container for detecting an internal state of the container, and arranged in the container to maintain the inside of the container in a predetermined state. And a state maintaining means arranged outside the container and a control means for activating the state maintaining means based on detection information of the state detecting means, wherein the container is formed of a transparent member. ..
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6305191 | 1991-07-15 | ||
| JP3-63051 | 1991-07-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0599983A true JPH0599983A (en) | 1993-04-23 |
Family
ID=13218150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3353064A Pending JPH0599983A (en) | 1991-07-15 | 1991-12-18 | Testing apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0599983A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08226888A (en) * | 1995-02-22 | 1996-09-03 | Japan Atom Energy Res Inst | Apparatus for inspecting structure |
| JP2007071457A (en) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Ishikawajima Inspection & Instrumentation Co | Air conditioning device for environmental test |
| JP2010249803A (en) * | 2009-03-24 | 2010-11-04 | Toyota Central R&D Labs Inc | Thermal fatigue testing device and program |
| JP2015072128A (en) * | 2013-10-01 | 2015-04-16 | 三菱電機株式会社 | Inspection device for semiconductor device and inspection method for semiconductor device |
| CN108871954A (en) * | 2018-06-26 | 2018-11-23 | 胡沛 | Device for detecting performance is used in a kind of production of power cable |
-
1991
- 1991-12-18 JP JP3353064A patent/JPH0599983A/en active Pending
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