JPH0599979A - Detecting apparatus of deterioration of thyristor - Google Patents

Detecting apparatus of deterioration of thyristor

Info

Publication number
JPH0599979A
JPH0599979A JP28350291A JP28350291A JPH0599979A JP H0599979 A JPH0599979 A JP H0599979A JP 28350291 A JP28350291 A JP 28350291A JP 28350291 A JP28350291 A JP 28350291A JP H0599979 A JPH0599979 A JP H0599979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thyristor
voltage
current
comparator
positive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28350291A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Miyamoto
敦 宮本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP28350291A priority Critical patent/JPH0599979A/en
Publication of JPH0599979A publication Critical patent/JPH0599979A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Protection Of Static Devices (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)
  • Ac-Ac Conversion (AREA)

Abstract

PURPOSE:To inexpensively, easily and correctly detect the on-state of a thyristor element dependent on the temperature that has conventionally been difficult to be detected. CONSTITUTION:This apparatus is comprised of a current detector 11 which detects the current difference flowing in parallel thyristor elements, a resistance 12 which converts the current difference detected by the detector 11 to a positive or a negative voltage, a comparator 14 which outputs a 1 or -1 signal to a logic circuit 15 for judgement when the converted positive or negative voltage exceeds a predetermined absolute value, a comparator 16 which detects an alternating current voltage impressed to the thyristor and outputs a 1 or -1 signal to the logic circuit 15 depending on whether the voltage is positive or negative, and the logic circuit 15 which detects the thyristor element in the on-state based on the combination of the 1 or -1 signals input from the comparators 14 and 16. Accordingly, the thyristor element which is in the on- state can be easily detected at low costs while the element is made conductive. Even the phenomenon of the on-state dependent on the temperature can be correctly detected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、交流電圧調整器等に
使用するサイリスタ素子の劣化の有無を検出する装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for detecting the presence or absence of deterioration of a thyristor element used in an AC voltage regulator or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】高周波溶接機等の交流電圧調整器は、サ
イリスタ素子を用いて位相制御し、他の電圧に変換する
ことでなされている。その主回路と電流検出回路の一例
を図3および図4に示す。一般に交流電圧調整器は、電
流の大電流化のためサイリスタ素子を並列に用いる場合
が多く、また、電流は各相中で最大のものを検出する回
路構成となっている。交流電圧調整器等に使用するサイ
リスタ素子は、シリコンウエハの圧接力低下による接触
熱増加、ヒートサイクルによる許容ジャンクション温度
上昇等の原因により、銅、シリコン等の熱膨張の違いに
よってシリコンに曲げ応力が働き、これによってシリコ
ンに亀裂が発生し、漏れ電流が増加して劣化を生じる。
2. Description of the Related Art An AC voltage regulator such as a high frequency welding machine is made by controlling the phase using a thyristor element and converting it to another voltage. An example of the main circuit and the current detection circuit are shown in FIGS. Generally, an AC voltage regulator often uses thyristor elements in parallel to increase the current, and has a circuit configuration that detects the maximum current in each phase. Thyristor elements used in AC voltage regulators, etc. have a bending stress in silicon due to the difference in thermal expansion of copper, silicon, etc. due to the increase in contact heat due to the decrease in the pressure contact force of the silicon wafer and the increase in the allowable junction temperature due to the heat cycle. This causes cracks in the silicon, which increases the leakage current and causes deterioration.

【0003】上記サイリスタ素子の劣化は、次のような
問題点を生ずる。すなわち、各相中の電流にアンバラン
スが発生すると、電流は最大値を検出するため、相中の
合計電流はアンバランスが発生していないときに比較し
て低く抑えられる。このため、全体の出力低下を招くこ
ととなる。また、サイリスタ素子の通弧が発生し、過電
流故障となっても、サイリスタレオナード装置と異な
り、交流短絡してヒューズ断が発生しないため、故障原
因がなかなか判断できない。上記問題点のうち、全体の
出力低下については、定期的に各相中のサイリスタ電流
を測定し、異常なアンバランスがあればサイリスタ素子
を交換する等の措置を行えばよい。しかし、サイリスタ
素子の通弧については、突発的に発生するもので容易に
検知することはできない。
The deterioration of the thyristor element causes the following problems. That is, when an imbalance occurs in the current in each phase, the current detects the maximum value, so that the total current in the phase is suppressed to be lower than when the imbalance does not occur. As a result, the output of the entire device is reduced. Further, even if the thyristor element is ignited to cause an overcurrent fault, unlike the thyristor Leonard device, an AC short circuit does not cause a fuse blow, so that the cause of the fault cannot be easily determined. Among the above problems, in order to reduce the overall output, it is possible to periodically measure the thyristor current in each phase and, if there is an abnormal imbalance, take measures such as replacing the thyristor element. However, the arcing of the thyristor element occurs suddenly and cannot be easily detected.

【0004】一般にサイリスタ素子の劣化診断をする方
法としては、回路内に組込まれたサイリスタ素子を外部
に取出し、そのカソードおよびアノード間に可変直流電
源を接続して直流電圧を印加し、その直流電圧のレベル
を順次上げて行くと共に、そのときのサイリスタ素子に
流れる漏れ電流を抵抗を介して測定し、印加電圧/漏れ
電流の演算値を絶縁抵抗値として検出するものである。
この場合、劣化診断を行うには、サイリスタの定格電圧
印加時の漏れ電流の値が所定管理値以内であるときには
正常状態と、所定管理値を超えているときには劣化が生
じているものと判定する方法や、印加電圧の値に対する
漏れ電流の増加パターンによって正常状態であるか否か
を判定する方法などがある。しかしながら、上記サイリ
スタ素子の劣化診断方法においては、サイリスタ素子を
一々それが組込まれている回路から取外す必要があり、
そのために手間がかかると共に、取外し、取付けに伴い
誤接続によるトラブルが発生し易く、しかも、サイリス
タ素子の取外し時にサイリスタ素子を破損したり、取付
け時に締付け不良による過熱等のトラブルが発生し易い
等の問題点があった。
Generally, as a method for diagnosing deterioration of a thyristor element, a thyristor element incorporated in a circuit is taken out, a variable DC power source is connected between its cathode and anode, and a DC voltage is applied to the thyristor element. Is increased sequentially, the leakage current flowing in the thyristor element at that time is measured through a resistor, and the calculated value of the applied voltage / leakage current is detected as an insulation resistance value.
In this case, in order to perform the deterioration diagnosis, it is determined that the leakage current value when the rated voltage of the thyristor is applied is within the predetermined control value, and that the leakage current value is within the predetermined control value. There is a method and a method of determining whether or not the state is normal based on the increase pattern of the leakage current with respect to the value of the applied voltage. However, in the method for diagnosing deterioration of the thyristor element, it is necessary to remove each thyristor element from the circuit in which it is incorporated,
Therefore, it is troublesome, and troubles due to misconnections are likely to occur during removal and installation, and moreover, the thyristor element may be damaged during removal of the thyristor element, or troubles such as overheating due to improper tightening during installation are likely to occur. There was a problem.

【0005】上記サイリスタ素子の劣化診断方法の問題
点を解決する方法としては、回路内に接続されたサイリ
スタ素子を、その接続状態を保ちかつ非導通状態とし、
当該サイリスタ素子の両端子間に単相電圧を印加すると
共に、該単相電圧により生じた漏れ電流を変流器によっ
て非接触状態で検出し、該検出電流に基き前記サイリス
タ素子の劣化を診断する方法(特開昭62−80567
号公報)等が提案されている。
As a method for solving the above-mentioned problems of the method for diagnosing the deterioration of the thyristor element, the thyristor element connected in the circuit is kept in the connected state and made non-conductive,
A single-phase voltage is applied between both terminals of the thyristor element, and a leak current generated by the single-phase voltage is detected in a non-contact state by a current transformer, and deterioration of the thyristor element is diagnosed based on the detected current. Method (JP-A-62-80567)
No. gazette) is proposed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】前記サイリスタ素子の
通弧は、サイリスタの温度に依存しており、装置停止中
のような低温(室温)では電圧を印加しても通弧せず、
装置使用開始後徐々にサイリスタ素子の温度が上昇して
通弧し始めるという現象が多い。このため、特開昭62
−80567号公報に開示の方法のように、非導通状態
で両端子間に単相電圧を印加すると共に、該単相電圧に
より生じた漏れ電流を変流器によって非接触状態で検出
し、該検出電流に基き劣化を判定するのでは、サイリス
タ素子の劣化であると判定することが困難なときがあ
り、通弧現象を防止することができない。
The arcing of the thyristor element depends on the temperature of the thyristor, and does not arc even if a voltage is applied at a low temperature (room temperature) such as when the apparatus is stopped,
There are many phenomena in which the temperature of the thyristor element gradually rises after the start of use of the device and an arc starts. For this reason, JP-A-62
As in the method disclosed in Japanese Unexamined Patent Publication No. -80567, a single-phase voltage is applied between both terminals in a non-conducting state, and a leak current generated by the single-phase voltage is detected by a current transformer in a non-contact state, If the deterioration is determined based on the detected current, it may be difficult to determine that the thyristor element is deteriorated, and the arcing phenomenon cannot be prevented.

【0007】さらに、現状の装置では、通弧が発生して
過電流故障が生じても、ヒューズ断等が発生しないた
め、故障原因がなかなかわかり難く、長期に亘る故障と
なり、操業上の損失が極めて大きくなる。一方、装置と
しては、サイリスタゲート波形とサイリスタ電流を常に
検出し、ゲート波形が出る前に電流が検知されれば、通
弧であると検知するものもあるが、既設の装置をリプレ
ースする必要があり、コスト面から有利な方法ではな
い。
Further, in the current apparatus, even if an arc occurs and an overcurrent fault occurs, the fuse is not blown. Therefore, the cause of the fault is difficult to understand, and the fault occurs for a long time, resulting in operational loss. It becomes extremely large. On the other hand, some devices always detect the thyristor gate waveform and the thyristor current, and if the current is detected before the gate waveform appears, it detects that it is an arc, but it is necessary to replace the existing device. Yes, it is not a cost-effective method.

【0008】この発明の目的は、従来装置では検知困難
であったサイリスタ素子の通弧を安価に検出できるサイ
リスタ劣化検出装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a thyristor deterioration detecting device capable of inexpensively detecting the arcing of a thyristor element, which was difficult to detect by the conventional device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
を達成すべく鋭意検討を重ねた。その結果、回路内に接
続された各並列サイリスタ素子に流れる電流差と、該サ
イリスタに印加されている交流電圧を検出し、該検出電
流差がある絶対値を超えた場合においてその正負と交流
電圧の正負に基き、回路内の通弧サイリスタ素子を検出
できることを究明し、この発明に到達した。
Means for Solving the Problems The inventors of the present invention have made extensive studies to achieve the above object. As a result, the difference between the currents flowing in the parallel thyristor elements connected in the circuit and the AC voltage applied to the thyristor are detected, and when the detected current difference exceeds a certain absolute value, the positive and negative voltages and the AC voltage are detected. Based on the positive / negative of, it was clarified that the arc thyristor element in the circuit can be detected, and the present invention was reached.

【0010】すなわちこの発明は、交流電圧を位相制御
により他の交流電圧へ変換する交流電圧調整器におい
て、各並列サイリスタに流れる電流差を検出する電流検
出器と、該電流検出器により検出された電流差を正また
は負の電圧に変換する抵抗と、該抵抗から入力される正
または負の電圧値がある絶対値を超えると1または−1
の信号を判定論理回路へ出力する比較器と、該サイリス
タへの印加交流電圧を検出して正または負に応じて1ま
たは−1の信号を判定論理回路へ出力する比較器と、各
比較器から入力される1または−1の信号に基き通弧し
たサイリスタを判定する判定論理回路からなるサイリス
タの劣化検出装置である。
That is, according to the present invention, in an AC voltage regulator for converting an AC voltage into another AC voltage by phase control, a current detector for detecting a difference between currents flowing in each parallel thyristor and a current detector for detecting the difference. A resistor that converts the current difference into a positive or negative voltage, and 1 or -1 when the positive or negative voltage value input from the resistor exceeds a certain absolute value.
, A comparator for outputting the signal to the decision logic circuit, a comparator for detecting the AC voltage applied to the thyristor and outputting a signal of 1 or -1 to the decision logic circuit depending on whether the thyristor is positive or negative, and each comparator. It is a deterioration detecting device for a thyristor, which comprises a judgment logic circuit for judging a thyristor that has ignited based on a signal of 1 or -1 input from.

【0011】[0011]

【作用】この発明においては、各並列サイリスタ素子に
流れる電流差が電流検出器により検出され、抵抗により
正または負の電圧に変換されたのち、比較器で正または
負の電圧値がある絶対値を超えると、例えばサイリスタ
定格電流の10〜20%に相当する電流差が検出された
とき、1または−1の信号が判定論理回路に出力され
る。また、前記各並列サイリスタの交流電圧の正または
負に応じ、比較器により1または−1の信号が判定論理
回路に出力される。判定論理回路は、各比較器から入力
される電流差または交流電圧に応じた1または−1の信
号の組合わせに応じてどのサイリスタ素子が通弧したの
かを判定するのである。
According to the present invention, the difference in current flowing through each parallel thyristor element is detected by the current detector, converted into a positive or negative voltage by the resistor, and then the positive or negative voltage value is detected by the comparator as an absolute value. When the current difference corresponding to 10% to 20% of the thyristor rated current is detected, a signal of 1 or -1 is output to the decision logic circuit. Further, the comparator outputs a signal of 1 or -1 to the decision logic circuit according to the positive or negative of the AC voltage of each parallel thyristor. The decision logic circuit decides which thyristor element has fired in accordance with the combination of the signal of 1 or -1 according to the current difference or the alternating voltage input from each comparator.

【0012】したがって、この発明装置によれば、サイ
リスタ装置を非導通状態とすることなく、通常の導通状
態において並列サイリスタ素子の通弧を検出することが
できるから、従来困難であったサイリスタ装置の温度に
依存するサイリスタ素子の通弧現象を容易に検出するこ
とができる。また、この発明装置は、各並列サイリスタ
素子の電流のアンバランスを検出することに関しても有
効であり、電流のアンバランスの判定のための定期的な
検査も省略することができる。
Therefore, according to the device of the present invention, it is possible to detect the arcing of the parallel thyristor element in the normal conducting state without bringing the thyristor device into the non-conducting state. It is possible to easily detect the arcing phenomenon of the thyristor element depending on the temperature. The device of the present invention is also effective for detecting the current imbalance of each parallel thyristor element, and the periodic inspection for determining the current imbalance can be omitted.

【0013】[0013]

【実施例】図3に示すようなサイリスタ装置による交流
電圧制御回路において、主回路の並列サイリスタ素子U
−U′、X−X′に流れる電流差は、図1に示すこの発
明装置の電流検出器11により検出される。そして抵抗
12により、例えばUのサイリスタ素子に流れる電流を
正として電圧に変換される。13はフィルターで、各サ
イリスタ素子U−U′、X−X′の微妙な点弧タイミン
グのずれによる電流差が検知されないようにする働きを
有しており、例えば、商用周波数時には約1msecの
時定数を持っている。14は比較器で、入力される正ま
たは負の電圧値がある絶対値を超えると、1または−1
の信号を論理値として判定論理回路15に出力する。1
6は比較器で、U−V電圧の正または負に応じて1また
は−1の信号を判定論理回路15に出力する。判定論理
回路15は、比較器16から入力されるU−V電圧の正
または負に応じた1または−1の信号と、比較器14か
ら入力される電流差に基く正または負の電圧値がある絶
対値を超えた場合の1または−1の信号の組合わせに応
じ、図2に示す判定基準に基きどのサイリスタ素子U、
U′、X、X′が通弧したか判定するよう構成する。
EXAMPLE A parallel thyristor element U of the main circuit in an AC voltage control circuit using a thyristor device as shown in FIG.
The difference between the currents flowing through -U 'and XX' is detected by the current detector 11 of the device of the present invention shown in FIG. Then, the resistor 12 converts the current flowing in the U thyristor element into a positive voltage, for example. A filter 13 has a function of preventing a current difference due to a slight deviation of the firing timing of each thyristor element U-U ', XX' from being detected. For example, at a commercial frequency of about 1 msec. Have a constant. Reference numeral 14 is a comparator, which outputs 1 or -1 when the input positive or negative voltage value exceeds a certain absolute value.
The signal is output as a logical value to the judgment logic circuit 15. 1
Reference numeral 6 denotes a comparator which outputs a signal of 1 or -1 to the decision logic circuit 15 depending on whether the UV voltage is positive or negative. The decision logic circuit 15 determines whether the positive or negative voltage value based on the current difference input from the comparator 14 and the signal of 1 or -1 according to the positive or negative of the U-V voltage input from the comparator 16. Depending on the combination of 1 or -1 signals when a certain absolute value is exceeded, which thyristor element U, based on the criteria shown in FIG.
It is configured to determine whether U ', X, and X'have passed.

【0014】上記のとおり構成したから、例えば、サイ
リスタ素子Uが通弧すると、並列のサイリスタ素子U′
との間で電流差が発生する。このサイリスタ素子U−
U′間の電流差は、電流検出器11で検出され、抵抗1
2により正の電圧に変換されてフィルタ−13を介して
比較器14に出力される。そして比較器14は、入力さ
れる正の電圧値がサイリスタ定格電流の10〜20%に
相当する電流差が検出されると、判定論理回路15へ1
の信号を出力する。一方、U−V電圧は、正となってい
るから、比較器16から1の信号が判定論理回路15に
出力される。判定論理回路15は、比較器14から入力
される1の信号および比較器16から入力される1の信
号から、図2に従ってサイリスタ素子Uが通弧をしたと
判定することができる。上記説明は、サイリスタ素子
U、Xについて行ったが、本回路をサイリスタ素子V、
YあるいはW、Zに用いることによって、同様にどのサ
イリスタ素子が通弧したかを判定することができる。ま
た、上記説明は、並列サイリスタ素子が2つの場合につ
いて説明したが、3つ以上の並列の場合においても、同
様の回路を付加することにより判定することができる。
Because of the above-mentioned structure, for example, when the thyristor element U arcs, a parallel thyristor element U'is formed.
There is a current difference between and. This thyristor element U-
The current difference between U'is detected by the current detector 11 and the resistance 1
It is converted into a positive voltage by 2 and is output to the comparator 14 via the filter -13. Then, the comparator 14 sends 1 to the decision logic circuit 15 when a current difference corresponding to an input positive voltage value of 10 to 20% of the thyristor rated current is detected.
The signal of is output. On the other hand, since the UV voltage is positive, the signal of 1 is output from the comparator 16 to the decision logic circuit 15. The determination logic circuit 15 can determine from the 1 signal input from the comparator 14 and the 1 signal input from the comparator 16 that the thyristor element U has made an arc according to FIG. Although the above description has been given for the thyristor elements U and X, this circuit is referred to as a thyristor element V,
By using Y, W, or Z, it is possible to similarly determine which thyristor element has fired. In the above description, the case where the number of parallel thyristor elements is two has been described, but the case of three or more parallel thyristor elements can be determined by adding a similar circuit.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上述べたとおり、この発明装置によれ
ば、安価に通弧したサイリスタ素子を容易に検出するこ
とができ、サイリスタ素子の温度に依存する通弧現象を
正確に判定することができる。また、この発明装置は、
電流のアンバランスを検出することができるから、電流
のアンバランス判定のための定期的な検査を省略できる
効果もある。
As described above, according to the device of the present invention, it is possible to easily detect a thyristor element which is arced at low cost and to accurately determine the arcing phenomenon depending on the temperature of the thyristor element. it can. Further, the device of the present invention is
Since the current imbalance can be detected, there is also an effect that the periodical inspection for determining the current imbalance can be omitted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の通弧サイリスタ素子検出回路図であ
る。
FIG. 1 is a circuit diagram of an arc thyristor element detection circuit according to the present invention.

【図2】実施例における判定論理回路の通弧サイリスタ
判定の一例を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of the arc thyristor determination of the determination logic circuit in the embodiment.

【図3】交流電圧調整器の主回路図である。FIG. 3 is a main circuit diagram of an AC voltage regulator.

【図4】交流電圧調整器の主回路の電流検出回路図であ
る。
FIG. 4 is a current detection circuit diagram of a main circuit of the AC voltage regulator.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 電流検出器 12 抵抗 13 フィルター 14、16 比較器 15 判定論理回路 11 current detector 12 resistance 13 filter 14 and 16 comparator 15 decision logic circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 交流電圧を位相制御により他の交流電圧
へ変換する交流電圧調整器において、各並列サイリスタ
素子に流れる電流差を検出する電流検出器と、該電流検
出器により検出された電流差を正または負の電圧に変換
する抵抗と、該抵抗から入力される正または負の電圧値
がある絶対値を超えると1または−1の信号を判定論理
回路へ出力する比較器と、該サイリスタへの印加交流電
圧を検出して正または負に応じて1または−1の信号を
判定論理回路へ出力する比較器と、各比較器から入力さ
れる1または−1の信号に基き通弧したサイリスタ素子
を判定する判定論理回路からなるサイリスタの劣化検出
装置。
1. In an AC voltage regulator for converting an AC voltage into another AC voltage by phase control, a current detector for detecting a current difference flowing in each parallel thyristor element and a current difference detected by the current detector. To a positive or negative voltage, a comparator for outputting a 1 or -1 signal to the decision logic circuit when the positive or negative voltage value input from the resistance exceeds a certain absolute value, and the thyristor. A comparator that detects the AC voltage applied to the comparator and outputs a 1 or -1 signal to the judgment logic circuit according to whether it is positive or negative, and an arc based on the 1 or -1 signal input from each comparator. A deterioration detecting device for a thyristor comprising a judgment logic circuit for judging a thyristor element.
JP28350291A 1991-10-02 1991-10-02 Detecting apparatus of deterioration of thyristor Pending JPH0599979A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28350291A JPH0599979A (en) 1991-10-02 1991-10-02 Detecting apparatus of deterioration of thyristor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28350291A JPH0599979A (en) 1991-10-02 1991-10-02 Detecting apparatus of deterioration of thyristor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0599979A true JPH0599979A (en) 1993-04-23

Family

ID=17666381

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28350291A Pending JPH0599979A (en) 1991-10-02 1991-10-02 Detecting apparatus of deterioration of thyristor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0599979A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114002564A (en) * 2021-10-29 2022-02-01 西安交通大学 Thyristor electric-heat combined aging experimental system for simulating long-term operation condition of converter valve

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114002564A (en) * 2021-10-29 2022-02-01 西安交通大学 Thyristor electric-heat combined aging experimental system for simulating long-term operation condition of converter valve
CN114002564B (en) * 2021-10-29 2023-04-07 西安交通大学 Thyristor electric-heat combined aging experimental system for simulating long-term operation condition of converter valve

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1811645B1 (en) Power supply circuit protecting method and apparatus for the same
US5485059A (en) Lighting circuit for vehicular discharge lamp
US11967916B2 (en) Load control apparatus, automation system, electrical load, busbar system and fuse housing
US7616419B2 (en) Switchgear control apparatus
JP2000188044A (en) Phase control switching device
US6597552B1 (en) Method for preventing making on electrical short circuits existing in branches and corresponding device
JP5255747B2 (en) Phase loss detection circuit and electrical equipment
JPH03272595A (en) Detecting device for broken filament in lamp
JPH0362498A (en) Lamp burnout detecting device
KR20030080540A (en) Circuit Breaker for Detecting Overload
JPH0599979A (en) Detecting apparatus of deterioration of thyristor
JP6958146B2 (en) Arc detector
US6998735B2 (en) Controlled rectifier bridge, control system, and method for controlling rectifier bridge by disabling gate control signals
KR101019462B1 (en) Method for determining by detecting inpulse originated from arc
JPH11326393A (en) Fault detector circuit for dc current detector
US11776778B1 (en) Industrial circuit breaker
KR100815743B1 (en) Apparatus for judging faults of second resistor in windinginduction motor
JPH0731222B2 (en) Disconnection detection device for synchronous machine field winding
JP2002136148A (en) Ground fault portion discriminating method
US20230420932A1 (en) Reducing transformer inrush current
KR100753610B1 (en) Circuit for detecting burn out of rectifier in induction melting furnace
JPH11341820A (en) Voltage-type inverter
SU1304117A1 (en) Method of automatic reclosing of a.c.electric power line
JP2675661B2 (en) Light core break detector
JPH07322624A (en) Power converter