JPH0580816A - Device for evaluating line control circuit - Google Patents

Device for evaluating line control circuit

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Publication number
JPH0580816A
JPH0580816A JP3268979A JP26897991A JPH0580816A JP H0580816 A JPH0580816 A JP H0580816A JP 3268979 A JP3268979 A JP 3268979A JP 26897991 A JP26897991 A JP 26897991A JP H0580816 A JPH0580816 A JP H0580816A
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JP
Japan
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sequencer
memory
state
circuit
stored
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Application number
JP3268979A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomohiro Arakawa
智広 荒川
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Toyota Auto Body Co Ltd
Original Assignee
Toyota Auto Body Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0580816A publication Critical patent/JPH0580816A/en
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Abstract

PURPOSE:To confirm the propriety of a circuit design by means of an offline by detecting a device which is changed to specifications based on a specified format by means of a comparing means. CONSTITUTION:A ladder circuit designed in accordance with a time chart being the basic specifications is stored in a memory 8 and the memory 2 of a computer 10 with a simulation sequencer CPU at first. The computer 10 reads the specifications by inputting the specified format, the program of the ladder circuit, the input of the device, etc., which are generated based on the basic specifications to store them in the memory 2. Input condition is outputted to the sequencer by the formal calculation of the read specified format with an interface 5 in accordance with operation order to be set. Thus, the simulation sequencer is executed so that the output state of the device changed as the result is read from the memory 8. It is compared and decided whether the change matches the specifications or not and the propriety of circuit design is judged.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本願発明は、自動化ラインで使用
されるシーケンサ内に組込むプログラムであるラダー回
路の評価を行うライン制御回路の評価装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a line control circuit evaluation device for evaluating a ladder circuit which is a program incorporated in a sequencer used in an automated line.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来は、通常ラインで使用される実機を
用いてテストを行っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, tests have been conducted using an actual machine normally used in a line.

【0003】事前に評価する方法としては、シーケンサ
に1条件ずつ設定し、その結果から判断するというもの
があった。
As a method of evaluation in advance, there is a method of setting one condition for each sequencer and judging from the result.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】実機で行う従来法にお
いては、当然のことながら事前にバグを見つけることが
できないため、実機においてデバッグが完了するまで実
機を稼働することができないので、結局ラインの立上が
りが遅れるという問題があった。
In the conventional method performed on the actual machine, naturally, since the bug cannot be found in advance, the actual machine cannot be operated until the debugging is completed on the actual machine. There was a problem that the rise was delayed.

【0005】シーケンサに一条件ずつ設定する従来法に
おいては、人が毎回一条件ずつ設定し、その結果に基づ
き判定するため、同様のチェックを行う場合でも、初め
から1条件ずつ行う必要があり、膨大な時間と工数を要
した。機械系の対応がないため、判定が難しく、機械系
の応答も毎回入力すると、今度は逆にミスが発生し易く
なるという問題があった。条件は組合せその他を考慮し
て人が作成するので,複雑なタイミングやインターロッ
クの確認を充分行うことができないという問題があっ
た。
In the conventional method of setting the condition for the sequencer one by one, a person sets one condition each time, and the judgment is made based on the result. Therefore, even if the same check is performed, it is necessary to perform the condition one by one from the beginning. It took a huge amount of time and effort. Since there is no correspondence of the mechanical system, it is difficult to make a decision, and if the response of the mechanical system is also input every time, there is a problem that a mistake is likely to occur. Since the conditions are created by a person in consideration of combinations and the like, there is a problem that complicated timing and interlock cannot be sufficiently confirmed.

【0006】ライン制御回路と入出力部を含む設備を接
続する以前に、ラダー回路の自動シミュレーションチェ
ックを行うことにより、回路設計が良いかどうかをオフ
ラインで確認することができなかった。
Before connecting the line control circuit and the equipment including the input / output unit, it was not possible to confirm offline whether or not the circuit design is good by performing an automatic simulation check of the ladder circuit.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本願発明のライン制御回
路の評価装置は、基本仕様に従い設計されシーケンサ内
のラムに格納されたラダープログラムを格納するととも
に、前記基本仕様に従い一方の方向に工程・動作内容を
記載し他方の方向に動作毎の時間と動作順序を記載した
特定フォーマットを格納し、シーケンサの動作前のデバ
イス状態を記憶するメモリと、シーケンサの動作後の前
記デバイスの状態をシーケンサのラムより読み出すとと
もに、前記メモリに記憶したシーケンサの動作前の状態
とを読み出して状態が変化したデバイスを取り出し、前
記メモリに格納された特定フォーマットに基づく仕様に
対して変化しているかどうかを比較する比較手段とを備
えたものである。
A line control circuit evaluation apparatus according to the present invention stores a ladder program designed according to basic specifications and stored in a ram in a sequencer, and processes in one direction according to the basic specifications. It stores a specific format that describes the operation contents and the time and operation sequence for each operation in the other direction, stores the device state before the operation of the sequencer, and the state of the device after the operation of the sequencer. In addition to reading from the RAM, the state before the operation of the sequencer stored in the memory is read out and the device in which the state has changed is taken out, and it is compared whether or not it has changed with respect to the specifications based on the specific format stored in the memory. And means for comparison.

【0008】請求項2に記載した第2発明のライン制御
回路の評価装置は、上記第1発明に対して、特定フォー
マットに基づく仕様に反して変化しているデバイスの要
因となった回路を、各回路のオン・オフ状態を判断する
ことにより、自動的に検索する要因回路検索手段を付加
したものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a line control circuit evaluation apparatus, which is different from the first aspect of the invention in that the circuit causing the device that is changing against the specification based on the specific format is changed. A factor circuit searching means for automatically searching by judging the on / off state of each circuit is added.

【0009】請求項3に記載の第3発明のライン制御回
路の評価装置は、上記第1発明に対して、出力時点にお
いてインターロックの対象に対して強制的に不成立条件
を与えてインターロックがとられるかどうかを判断する
ことにより、インターロックを自動的にチェックするイ
ンターロックチェック手段を付加したものである。
According to a third aspect of the present invention, in the line control circuit evaluation apparatus according to the first aspect of the invention, the interlock is forcibly given a non-establishment condition for an object to be interlocked at the time of output. An interlock check means for automatically checking the interlock by determining whether or not it is taken is added.

【0010】[0010]

【作用】上記構成より成る第1発明のライン制御回路の
評価装置は、シーケンサのラムに格納されたラダープロ
グラムに従いシーケンサが動作することによりデバイス
の状態が変化すると、メモリに記憶されているシーケン
サの動作前のデバイスの状態とシーケンサのラムに記憶
されているシーケンサの動作後のデバイスの状態をとも
に読み出して状態が変化したデバイスを取り出し、前記
メモリに格納された特定フォーマットに基づき条件を生
成して仕様に対して変化しているかどうかを比較手段に
より比較することにより、仕様に対して変化しているデ
バイスを検出するものである。
According to the line control circuit evaluation apparatus of the first aspect of the present invention having the above-described structure, when the state of the device changes due to the operation of the sequencer according to the ladder program stored in the RAM of the sequencer, the sequencer stored in the memory Both the device state before operation and the device state after operation of the sequencer stored in the sequencer ram are read out, the device whose state has changed is taken out, and conditions are generated based on the specific format stored in the memory. By comparing whether or not there is a change with respect to the specification with a comparison means, a device that has changed with respect to the specification is detected.

【0011】上記構成より成る第2発明のライン制御回
路の評価装置は、特定フォーマットに基づく仕様に反し
て変化したデバイスの要因となった回路を各回路のオン
・オフ状態を判断することにより検索する。
In the line control circuit evaluation apparatus of the second aspect of the present invention having the above-mentioned configuration, the circuit causing the device that has changed against the specifications based on the specific format is searched by determining the on / off state of each circuit. To do.

【0012】上記構成より成る第3発明のライン制御回
路の評価装置は、出力時点においてインターロックの対
象に対して強制的に不成立条件を与えてインターロック
がとられるかどうかを判断する。
The line control circuit evaluation apparatus of the third invention having the above-described structure judges whether or not the interlock can be taken by forcibly giving the disabling condition to the object of the interlock at the time of output.

【0013】[0013]

【発明の効果】第1発明のライン制御回路の評価装置
は、比較手段により、特定フォーマットに基づく仕様に
対して変化しているデバイスを検出することにより、自
動的に仕様に合っているかどうかをチェックすることが
出来るので、制御回路とメカ部を含む設備を接続する以
前にラダー回路の自動シミュレーションチェックを行う
ことにより、制御回路の回路設計の良否を事前にオフラ
インで確認することができるという効果を奏する。
According to the first aspect of the present invention, the line control circuit evaluation apparatus automatically detects whether or not the specification is automatically met by detecting the device that is changing with respect to the specification based on the specific format by the comparison means. Since it is possible to check, it is possible to confirm the quality of the circuit design of the control circuit in advance by performing an automatic simulation check of the ladder circuit before connecting the equipment including the control circuit and the mechanical section. Play.

【0014】第2発明のライン制御回路の評価装置は、
特定フォーマットに基づく仕様に反して変化しているデ
バイスの要因となった回路を自動的に検索するので、適
正に動作するように要因となった回路を修正することが
できるという効果を奏する。
The evaluation device of the line control circuit of the second invention is
Since the circuit causing the device that is changing against the specifications based on the specific format is automatically searched, it is possible to correct the circuit causing the factor to operate properly.

【0015】第3発明のライン制御回路の評価装置は、
インターロックを自動的にチェックするので、人間の判
断では各種の定められた条件の成立が関連するチェック
を充分正確に行えなかったことを可能にしたという効果
を奏する。
The line control circuit evaluation apparatus of the third invention is
Since the interlock is automatically checked, there is an effect that it is possible to perform the check related to the establishment of various predetermined conditions with sufficient accuracy by human judgment.

【0016】[0016]

【実施例】以下本発明(第1〜第3発明)の実施例のラ
イン制御回路の評価装置を、図1ないし図4および、表
1および表2を用いて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An evaluation device for a line control circuit according to an embodiment of the present invention (first to third inventions) will be described below with reference to FIGS. 1 to 4 and Tables 1 and 2.

【0017】(実施例の概要)まず、実施例のライン制
御回路の評価装置の概要を、図1のシステム概念図に基
づき説明する。
(Outline of Embodiment) First, an outline of an evaluation apparatus for a line control circuit of an embodiment will be described based on the system conceptual diagram of FIG.

【0018】ラダー回路のタイムチャートである基本仕
様に基づきラダー回路の設計が行われ、ラダー回路のプ
ログラムができると、これをまずシミュレーション用シ
ーケンサのメモリにCPUを介して格納する。
When the ladder circuit is designed based on the basic specifications, which is a time chart of the ladder circuit, and the program of the ladder circuit is completed, the program is first stored in the memory of the simulation sequencer via the CPU.

【0019】次に、基本仕様に基づき、表1および表2
に示すような一方の方向に工程および動作名称および動
作内容入力デバイスXXXXの設定状態、出力デバイス
YYYYの状態を適宜記載し、他方の方向に動作毎の時
間および動作順序を記載した特定フォーマットを作成す
る。表1は数値表示した特定フォーマットの例で、表2
は数式表示した特定フォーマットの例である。
Next, based on the basic specifications, Table 1 and Table 2
Create a specific format in which the process and operation name and operation content input device XXX setting status and output device YYYY status are described in one direction as shown in Figure 1, and the time and operation sequence for each operation is described in the other direction. To do. Table 1 shows an example of a specific format displayed numerically.
Is an example of a specific format expressed as a mathematical expression.

【表1】 [Table 1]

【表2】 [Table 2]

【0020】この特定フォーマットをコンピュータのメ
モリ内に格納し、この特定フォーマットの情報に基づき
デバイス、動作順序、動作時間、インターロック、機械
系応答の入力条件を決定し、シミュレーション用シーケ
ンサに入力するとともに、メモリにも格納する。
This specific format is stored in the memory of the computer, the input conditions of the device, operation sequence, operation time, interlock, and mechanical system response are determined based on the information of this specific format and input to the simulation sequencer. , Also stored in memory.

【0021】シミュレーション用シーケンサが前記各種
入力条件に基づき動作を行い、その都度シーケンサの出
力結果をコンピュータのメモリ内に取り組む。
The simulation sequencer operates based on the various input conditions, and the output result of the sequencer is stored in the memory of the computer each time.

【0022】シーケンサの出力結果が特定フォーマット
に基づく仕様に適合するものかどうかを比較手段により
比較判断することにより、回路設計の良否を判断するも
のである。
The quality of the circuit design is judged by comparing and judging by the comparing means whether or not the output result of the sequencer conforms to the specifications based on the specific format.

【0023】(実施例の構成)実施例のライン制御回路
の評価装置は、図2に示すようなハード構成より成り、
基本仕様に基づく特定フォーマットの表計算を行いシミ
ュレーション用シーケンサへの入力条件を設定するCP
U1と、設計されたラダー回路のプログラムや、特定フ
ォーマット、特定フォーマットに基づく入力条件や、シ
ーケンサの出力結果を記憶するメモリ2と、必要な状態
および結果を適宜表示する表示装置3と、指令を入力す
るキーボード4と、から成るパソコンで構成したコンピ
ュータ10と、シーケンサとの通信を行うための媒体と
してのインターフェース5と、仕様に基づき設計された
回路プログラムが入力されシーケンサの動作演算を行う
シーケンサのCPU6と、シーケンサのCPU6とイン
ターフェース5を介してコンピュータのCPU1と連絡
する通信機構7と、回路プログラムやシーケンサ動作後
の出力結果を記憶するメモリ8とから成る。
(Structure of Embodiment) The line control circuit evaluation apparatus of the embodiment has a hardware structure as shown in FIG.
A CP that sets spreadsheets in a specific format based on the basic specifications and sets the input conditions to the simulation sequencer.
U1, a designed ladder circuit program, a specific format, an input condition based on the specific format, a memory 2 for storing an output result of a sequencer, a display device 3 for appropriately displaying a necessary state and a result, and a command. A computer 10 composed of a personal computer consisting of a keyboard 4 for inputting, an interface 5 as a medium for communicating with the sequencer, and a sequencer for inputting a circuit program designed according to the specifications and performing operation calculation of the sequencer. It comprises a CPU 6, a communication mechanism 7 that communicates with the CPU 1 of the computer via the interface 6 and the CPU 6 of the sequencer, and a memory 8 that stores the circuit program and the output result after the sequencer operation.

【0024】実施例装置の基本的考え方と設定事項を次
に示す。ラダー回路は、そのプログラムがフロッピーデ
ィスクに納められ、使用デバイス(X、Y、M等)の取
り出しや、コメントファイルの読み出しが行われる。
The basic idea and setting items of the embodiment apparatus are shown below. In the ladder circuit, the program is stored in a floppy disk, and the used device (X, Y, M, etc.) is taken out and the comment file is read out.

【0025】入力デバイスの初期設定として、電源立ち
上げ時の各デバイスの状態を設定する。
As the initial setting of the input device, the state of each device when the power is turned on is set.

【0026】機械系の応答表示をフロッピーディスクに
納め、設定する。
The response display of the mechanical system is stored in a floppy disk and set.

【0027】各デバイスの状態(シーケンサCPUラン
前)を記憶エリアAとしてメモリ2上に確保する。CP
Uラン中の各デバイスの状態を記憶エリアBとしてメモ
リ2上に確保する。シーケンサCPUラン前とCPUラ
ン後が等しくない各デバイスの状態を記憶エリアCとし
てメモリ2上に確保する。
The state of each device (before the sequencer CPU run) is secured on the memory 2 as a storage area A. CP
The state of each device during the U run is secured in the memory 2 as a storage area B. The state of each device in which the sequencer CPU run is not equal to that before the CPU run is secured in the memory 2 as the storage area C.

【0028】初期設定として、シーケンサCPU6がス
トップした状態の初期設定値を前記記憶エリアAに設定
し、初期設定値の反転状態を記憶エリアBに設定し、記
憶エリアAとBを比較し、異なるレジスタ(C)のみシ
ーケンサのメモリ8に出力する。したがって初期設定値
は全てのレジスタを出力する。
As an initial setting, an initial set value when the sequencer CPU 6 is stopped is set in the storage area A, an inverted state of the initial set value is set in the storage area B, the storage areas A and B are compared, and different. Only the register (C) is output to the memory 8 of the sequencer. Therefore, the initial setting value outputs all registers.

【0029】電源立上げ時の初期変化状態の読み込みと
して、シーケンサのCPU6がランしている状態におい
て、出力デバイスYの状態をシーケンサのメモリ8から
読み込み記憶エリアBに保存する。記憶エリアAとBよ
り、状態が変化したデバイスCを作成する。その後記憶
エリアAに記憶エリアBの内容をコピーする。
As the reading of the initial change state when the power is turned on, the state of the output device Y is read from the memory 8 of the sequencer and saved in the storage area B while the CPU 6 of the sequencer is running. The device C whose state has changed is created from the storage areas A and B. After that, the contents of the storage area B are copied to the storage area A.

【0030】特定フォーマットより、動作順序の内容を
取り出す、すなわち入力デバイスXをオンあるいはオフ
状態に設定し、出力デバイスYはオンあるいはオフ状態
の待ちの状態である。
The contents of the operation sequence are extracted from the specific format, that is, the input device X is set to the ON or OFF state, and the output device Y is in the ON or OFF state waiting state.

【0031】指定順序毎のシミュレーションとして、記
憶エリアAで動作順序ナンバより求めた入力デバイス
(X等)の部分を指定の状態に設定し、記憶エリアAと
Bとを比較し、異なるレジスタのみシーケンサのメモリ
8に出力する。
As a simulation for each designated order, a portion of the input device (X, etc.) obtained from the operation order number in the memory area A is set to a designated state, the memory areas A and B are compared, and only different registers are sequencered. To the memory 8.

【0032】シーケンサCPU6がメモリ8に従いラン
した時の出力デバイスの状態をシーケンサのメモリ8か
ら読み込みメモリ2の記憶エリアBに保存する。
The state of the output device when the sequencer CPU 6 runs according to the memory 8 is read from the memory 8 of the sequencer and saved in the storage area B of the memory 2.

【0033】シーケンサCPU6をストップさせ、シー
ケンサの演算動作を停止させておき記憶エリアAと記憶
エリアBの状態とを比較し、異なるレジスタを計算し、
記憶エリアCに保存する、その後メモリ2の記憶エリア
Aに記憶エリアBの内容をコピーする。
The sequencer CPU 6 is stopped, the arithmetic operation of the sequencer is stopped, the states of the storage area A and the storage area B are compared, different registers are calculated,
The contents of the storage area B are copied to the storage area A of the memory 2 after being stored in the storage area C.

【0034】変化したデバイスの記憶エリアCで、特定
フォーマットの情報により動作順序ナンバよりもとめた
出力デバイスY等が、動作順序ナンバより求めた特定の
状態になっているかをチェックし、判定付きで表示装置
3に表示する。上記以外の変化デバイスも順に表示す
る。
In the changed storage area C of the device, it is checked whether the output device Y or the like obtained from the operation sequence number based on the information of the specific format is in the specific state obtained from the operation sequence number, and displayed with judgment. Display on device 3. Changing devices other than the above are also displayed in order.

【0035】機械系応答の設定として、記憶エリアC
で、機械系に登録された出力デバイスYその他がある場
合は、対応する状態を記憶エリアAに設定する。
Storage area C is used for setting the mechanical system response.
Then, if there is an output device Y or other registered in the mechanical system, the corresponding state is set in the storage area A.

【0036】動作順序ナンバの行進(インクリメント)
として、先の変化したデバイスのチェック中の判定が、
現在作業中の動作順序ナンバ上の全デバイスが成立して
いた場合は、動作順序ナンバを1だけ更新させ問題が無
ければ、全動作順序ナンバが終了するまで更新し続け
る。
March of operation sequence number (increment)
As a result, the judgment made while checking the changed device is
If all devices on the operation sequence number currently being worked are satisfied, the operation sequence number is updated by 1, and if there is no problem, the update is continued until the entire operation sequence number is completed.

【0037】現在作業中の動作順序ナンバ上の部分的な
デバイスのみが仕様に対し成立していた場合、動作順序
ナンバを更新しないが、一度成立したデバイスについて
は、次のチェックからは外す。それは例えばクランプが
オンしてリミットスイッチがオンとなり、その後クラン
プがオフとなる場合のように一度成立後、条件が変化す
ることが正常の場合があるからである。
When only a partial device on the operation sequence number currently being worked is satisfied with respect to the specifications, the operation sequence number is not updated, but the device once satisfied is removed from the next check. This is because it may be normal for the condition to change after the condition is satisfied once, for example, when the clamp is turned on, the limit switch is turned on, and then the clamp is turned off.

【0038】成立しなかったデバイスが一定時間経過し
た後も成立しない場合は、要因となる回路を検索し表示
装置3に表示する。
If the device which has not been established is not established even after the elapse of a certain time, the circuit which causes the factor is searched and displayed on the display device 3.

【0039】(実施例の作用)上記構成および設定より
成る実施例装置の作用および動作を図3に示すフローチ
ャートに従い説明する。まず基本仕様であるタイムチャ
ートに従って設計されたラダー回路をシミュレーション
用シーケンサCPUを介してメモリ8およびコンピュー
タ10のメモリ2に格納する。
(Operation of Embodiment) The operation and operation of the embodiment apparatus having the above-mentioned configuration and setting will be described with reference to the flow chart shown in FIG. First, the ladder circuit designed according to the time chart which is the basic specification is stored in the memory 8 and the memory 2 of the computer 10 via the simulation sequencer CPU.

【0040】コンピュータ10は、基本仕様に基づき表
1および表2に示すように作成された特定フォーマッ
ト、ラダー回路のプログラム、デバイスの入力、インタ
ーロック入力および機械系応答入力等を入力することに
より仕様を読み込み、メモリ2に格納する。
The computer 10 inputs the specific format created as shown in Tables 1 and 2 based on the basic specifications, the ladder circuit program, the device input, the interlock input, the mechanical system response input, etc. Is read and stored in the memory 2.

【0041】メモリ2に読み込まれた特定フォーマット
の表計算により、動作順序パターン(仕様)を読み取
り、動作順序に従い、インターフェース5を介して、シ
ーケンサに入力条件を出力し、設定する。
The operation sequence pattern (specification) is read by the spreadsheet of the specific format read in the memory 2, and the input condition is output to the sequencer via the interface 5 according to the operation sequence and set.

【0042】シミュレーション用シーケンサを実行(C
PUラン)させ、その結果変化したデバイスの出力状態
をメモリ8から読み出す。
Execute the simulation sequencer (C
PU run), and the output state of the device changed as a result is read from the memory 8.

【0043】変化したデバイスを取り出し、その変化が
仕様に対応する所定のものかどうかを比較し判定する。
The changed device is taken out, and it is judged by comparing whether or not the change is a predetermined one corresponding to the specification.

【0044】一定時間経過後においても仕様に対応する
所定の状態にない場合は、出力の回路を取り出し、要因
となった回路を検索する。例えば、出力Y1がオンしな
い要因は、図4に示すように自動検索により、レジスタ
M1がオンしていないためで、同様に自動検索し、デバ
イスX4がオフでもデバイスX3はオンのため、最終的
にデバイスX5が要因であると検索するものである。上
述のようにオンしていないデバイスがMのように内部メ
モリデバイスの場合は、その内部メモリデバイスの出力
回路を取り出し、同様に対象となるデバイスについて全
てチェックを行う。ただし、オア条件の回路で一方がオ
ンしていればオンしていない回路部分については、対象
外とする。
If the predetermined state corresponding to the specifications is not reached even after the elapse of a certain period of time, the output circuit is taken out and the circuit that caused it is searched. For example, the reason why the output Y1 does not turn on is that the register M1 is not turned on by the automatic search as shown in FIG. 4, and the same automatic search is performed, and the device X3 is turned on even if the device X4 is turned off. The device X5 is searched for as the factor. As described above, when the device that is not turned on is the internal memory device like M, the output circuit of the internal memory device is taken out, and similarly all the target devices are checked. However, if one of the circuits of the OR condition is on, the circuit part that is not on is excluded.

【0045】この時必要に応じて、ラダー回路のデバイ
スX5関連の修正を行うこともできる。
At this time, if necessary, the ladder circuit related to the device X5 can be modified.

【0046】正常な場合は、特定フォーマットの動作順
序に従い、入力条件の設定、デバイスの出力状態との比
較判断を自動的に繰り返し行う。
In the normal case, the input conditions are set and the comparison with the output state of the device is automatically repeated according to the operation order of the specific format.

【0047】また途中で,変化したデバイスの出力状態
が、機械系の動作で入力条件に影響を与える場合、例え
ばクランプがオンの時にリミットスイッチがオンに自動
設定される場合、機械系応答入力に従い、自動的に対応
を検索して入力条件を設定するものである。
If the changed output state of the device influences the input condition in the operation of the mechanical system, for example, when the limit switch is automatically set to ON when the clamp is ON, the mechanical system response input is applied. , It automatically searches for correspondence and sets input conditions.

【0048】マニュアルの条件設定が有る場合は、必要
に応じて条件を設定する。
If there is a manual condition setting, the condition is set as necessary.

【0049】上述で、仕様のサイクルが終了した場合
は、インターロックを確認するために、デバイスの出力
時点で強制的に不成立条件を与えて、インターロックが
取られるかどうかを自動チェックする。この場合、必要
に応じて、インターロックの条件の見直しを行い、ラダ
ー回路を修正することもできる。
In the above, when the cycle of the specifications is completed, in order to confirm the interlock, a failure condition is forcibly given at the time of output of the device, and it is automatically checked whether or not the interlock is taken. In this case, if necessary, the interlock condition may be reviewed and the ladder circuit may be modified.

【0050】タイミングによる不具合検出を可能とする
ため、特定フォーマットの同一動作順序内で入力される
条件の順序の入れ換えを、対応する機械系の入力も含め
て実施して、結果に悪影響が無いか自動チェックする。
すなわち→→の順序で入力される条件を→→
の順序で条件を入力させた場合の結果をチェックする
ものである。すなわち、内部の状態を保持する保持回路
を有する内部メモリデバイスの組合せに係わる場合、セ
ット、リセットの出力が同一デバイスの場合、複数のデ
バイスの状態を応用命令として同一のデバイスに転送す
る場合、電源オフ時に切れずにその状態を維持するラッ
チレジスタを用いる場合、パルス命令のタイミングによ
り状態が決まるデバイスの場合や2のデバイスを用いる
回路の場合、タイマー命令によって状態が変わるデバイ
スの場合およびこのデバイスを用いる回路の場合が、動
作順序変更の組合せに該当する。
In order to make it possible to detect a defect depending on the timing, the order of the conditions input in the same operation order of the specific format is changed including the input of the corresponding mechanical system so that the result is not adversely affected. Check automatically.
That is, the conditions entered in the order of → → → →
The result is checked when the conditions are input in the order of. That is, when a combination of internal memory devices having a holding circuit that holds the internal state is involved, when the set and reset outputs are the same device, when the states of multiple devices are transferred to the same device as application instructions, the power supply When using a latch register that keeps that state without turning off when it is turned off, in a device whose state is determined by the timing of a pulse command, in a circuit which uses a second device, in a device whose state changes by a timer command, and when this device is The circuit to be used corresponds to the combination of changing the operation order.

【0051】後半の部分で述べたチェックは、いわゆる
いじわるチェックに該当するものでラダー回路の完成度
を上げるために必要に応じて適宜行われるものである。
The checks described in the latter part correspond to so-called tampering checks and are appropriately performed as necessary to improve the completion of the ladder circuit.

【0052】(実施例の効果)本実施例では、表1およ
び表2に示すように横軸に、動作順序、動作毎の時間を
とり、縦軸に工程および動作内容、入出力デバイスの状
態等を示す特定フォーマットを使用するため、基本仕様
を整理して具体化することができるので、デバッグを容
易にするとともに、動作時間その他の変更が容易にな
り、回路プログラム修正および作成が容易であるという
効果を奏する。
(Effects of the Embodiment) In this embodiment, as shown in Tables 1 and 2, the horizontal axis indicates the operation sequence and the time for each operation, and the vertical axis indicates the process, operation content, and input / output device state. Since a specific format indicating, etc. is used, the basic specifications can be organized and embodied, which facilitates debugging, changes in operating time and others, and circuit program modification and creation. Has the effect.

【0053】初期条件(初期のレジスタ状態)を予めシ
ーケンサに設定しておき、表1に示す特定フォーマット
の動作順序1よりX054の入力レジスタをオン状態
(表1および表2中「1」で示す)にするようにシーケ
ンサに与える。一定時間シーケンサを動作させ、順に動
作順序21まで繰り返し、動作順序22では、X052
の入力レジスタをオンにするような条件を与え、かつ回
路を動作させ、出力デバイスY50Cがオン状態になる
か一定時間チェックし、オン状態にならない場合は、図
3に示したように要因となる回路を検索し、要因系を出
力することができるという効果を奏する。出力デバイス
Y50Cがオン状態になったら、次の動作23を実行す
る。
The initial condition (initial register state) is set in advance in the sequencer, and the operation register 1 of the specific format shown in Table 1 indicates that the input register of X054 is in the ON state (indicated by "1" in Table 1 and Table 2). ) Give it to the sequencer. The sequencer is operated for a certain period of time, and operation sequence 21 is repeated in order. In operation sequence 22, X052
The condition that turns on the input register of 1 is given, the circuit is operated, and it is checked for a certain time whether the output device Y50C is in the ON state. If the output device Y50C is not in the ON state, it becomes a factor as shown in FIG. It is possible to search a circuit and output the factor system. When the output device Y50C is turned on, the next operation 23 is executed.

【0054】動作確認を必要としない出力Yでも、クラ
ンプとリミットスイッチのように機械的な対応が有る場
合、機械系入出力フォーマットに従い適正な入力条件を
自動的に生成し、その都度シーケンサに設定することが
できるという効果を奏する。
Even if the output Y does not require operation confirmation, if there is a mechanical correspondence such as a clamp and a limit switch, an appropriate input condition is automatically generated according to the mechanical system input / output format and set in the sequencer each time. There is an effect that can be done.

【0055】動作順序23のように、順序内に複数の入
力レジスタが有る場合は、X520とX521の入力レ
ジスタを入れ替えて、同様のチェックを自動的に行うこ
とにより、タイミングが問題になる動作順序の微妙な変
化のチェックが可能になるという効果を奏する。
When there are a plurality of input registers in the order like the operation order 23, the input registers of X520 and X521 are exchanged and the same check is automatically performed, so that the operation order in which the timing becomes a problem. The effect that it is possible to check the subtle changes in.

【0056】動作順序23において、X127の入力レ
ジスタがオンの条件(表1中「10」で表示)であるこ
とから、強制的にX127の入力レジスタをその時点で
オフさせ、動作しないか自動チェックすることにより、
保持回路などによるメモリ接点による具合をチェックす
ることができるという効果を奏する。
In the operation sequence 23, since the input register of X127 is on condition (indicated by "10" in Table 1), the input register of X127 is forcibly turned off at that point and it is automatically checked whether or not it operates. By doing
It is possible to check the condition of the memory contact by the holding circuit or the like.

【0057】上述の実施例は、説明のために一例として
示したもので、本発明としてはそれに限定されるもので
は無く、特許請求の範囲に記載の本発明の思想に反しな
い限り変更および付加が可能である。
The above-mentioned embodiment is shown as an example for the purpose of explanation, and the present invention is not limited to it. Modifications and additions are made as long as they do not violate the idea of the present invention described in the claims. Is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例のライン制御回路の評価装置のシステム
概念図である。
FIG. 1 is a system conceptual diagram of an evaluation device of a line control circuit according to an embodiment.

【図2】実施例装置のハードブロック図である。FIG. 2 is a hardware block diagram of an apparatus according to an embodiment.

【図3】実施例装置のフローチャート図である。FIG. 3 is a flowchart of an apparatus according to an embodiment.

【図4】実施例装置の要因回路の検索説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram for searching a cause circuit of the apparatus according to the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CPU 2 メモリ 3 表示装置 4 キーボード 5 インターフェース 6 シーケンサCPU 7 通信機構 8 シーケンサメモリ 1 CPU 2 memory 3 display device 4 keyboard 5 interface 6 sequencer CPU 7 communication mechanism 8 sequencer memory

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基本仕様に従い設計されシーケンサ内の
ラムに格納されたラダープログラムを格納するととも
に、前記基本仕様に従い一方の方向に工程および動作内
容を記載し他方の方向に動作毎の時間と動作順序を記載
した特定フォーマットを格納し、シーケンサの動作前後
のデバイスの状態を記憶するメモリと、動作順序に従い
シーケンサの動作後の前記デバイスの状態をシーケンサ
のラムより読み出すとともに、前記メモリに記憶したシ
ーケンサの動作前のデバイスの状態とを読み出して状態
が変化したデバイスを取り出し、前記メモリに格納され
た特定フォーマットに基づく仕様に対して変化している
かどうかを比較する比較手段とを備えたことを特徴とす
るライン制御回路の評価装置。
1. A ladder program designed according to the basic specifications and stored in a ram in a sequencer is stored, and according to the basic specifications, a process and operation contents are described in one direction and time and operation for each operation in the other direction. A memory that stores a specific format that describes the sequence and stores the state of the device before and after the sequencer operates, and reads the state of the device after the sequencer operates from the ram of the sequencer according to the operation sequence, and also stores the sequencer stored in the memory. And a comparison means for reading out the device state before the operation, taking out the device whose state has changed, and comparing whether or not the device has changed with respect to the specification based on the specific format stored in the memory. Equipment for evaluating line control circuits.
【請求項2】 請求項1に対して、特定フォーマットに
基づく仕様に反して変化しているデバイスの要因となっ
た回路を各回路のオン・オフ状態を判断することにより
自動的に検索する要因回路検索手段を付加したことを特
徴とするライン制御回路の評価装置。
2. A factor for automatically searching for a circuit, which is a factor of a device that is changing against a specification based on a specific format, by determining the on / off state of each circuit. An evaluation device for a line control circuit, characterized in that a circuit search means is added.
【請求項3】 請求項1に対して、出力時点においてイ
ンターロックの対象に対して強制的に不成立条件を与え
てインターロックがとられるかどうかを判断することに
より、インターロックを自動的にチェックするインター
ロックチェック手段を付加したことを特徴とするライン
制御回路の評価装置。
3. The interlock is automatically checked by determining whether or not the interlock can be taken by forcibly giving a failure condition to the target of the interlock at the time of output. A line control circuit evaluation device characterized in that an interlock check means is added.
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EP1134638A2 (en) * 2000-03-13 2001-09-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Simulator and simulation method

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